反射测量

经常看到表征红外光学材料的光学性能的时候就会出现两张图：红外透过率和红外反射率。这个反射率就是常说的这个R，1=R+T+A。理论计算R=（1-n）^2 /(1+n)^2. 我想问一下红外反射率也是用红外光谱测量的吗？是反射角为多少的时候测量的？垂直入射的时候吗？看文献上从来都没有解释过。另外还有一个问题，反射光谱是怎么测量的，测得的数据就是反射率吗？补充一下测试的光学材料都是镜面抛光的。

请教大家一个问题，比如一个光学玻璃元件镀了增透膜或减反膜，设计反射率＜0.1%，那么这种极低反射率如何测量呢？

为什么使用可见光谱仪测量大角度倾斜入射光的反射率时，得到的测量结果会不准确呢？我知道S,P分量的反射率随着角度不同会有变化，但光谱仪应该是两个分量都检测，偏振对测量的影响具体是在哪里呢？加上偏振片，为什么能使得测量结果得到准确的修正呢？

求教高手：分光光度计添加一个反射附件（有反射角或积分球）用来测量薄膜样品的表面反射率已经是一个逐渐广泛应用的手段了。问题是：使用有角度的反射附件或积分球时，是用基准镜或副白板做参比样品还是使用与样品有关的基片做参比？

各种材质的红外漫发射率如何测量，你所知道的红外漫反射率最好的材质是什么？对这方面有掌握，并能支持项目的请私信我你的电话

请问下 用紫外可见光谱仪测试的时候，为什么加个积分球就可以用来测反射率？测量固体或胶体样品的时候，样品池里面是不是自带的那个就是积分球？可以给我说一下测量反射率的原理吗？ 非常感谢

求教_如何测量薄膜的绝对红外吸收（1-反射比-透射比）

[font=宋体][font=宋体]漫反射测量，需要注意探测器和光源，一般采用[/font][font=Times New Roman]4[/font][/font][font='Times New Roman']5[/font][font=宋体]度角度的排列，在这种排列方式下，光源和探测器可以组合采集到较丰富的光谱信息；由于漫反射的光线散射特性，往往需要进行很多次的重复扫描以提高采样精度。[/font]

[b][font='Times New Roman'][font=宋体]：[/font][/font][/b][font=宋体]参比光谱用来对比实际测得光谱信息，可以滤除光谱信息的不确定因素。因此无论漫反射还是透射测量，参比光谱最佳的使用方式是，与样品在同一时间，同一系统里面检测，但实际过程中是做不到这些的，只能做到先检测参比光谱，然后紧接着检测样品光谱，根据设备、环境的稳定性，可以在若干次的样品光谱检测中使用同一个参比光谱。[/font]

请问哪位大侠有关于使用带有积分球的分光光度计测量光学薄膜的反射率的材料？

我的样品是由单分散胶体球形成的有序排列的胶体晶体，呈固态块状，各面在自然光下有反射光泽，但是因为样品较厚不透光，因此不能用透射谱测，所以请教各位，哪里有可以测量不透光材料反射谱的UV-VIS分光光度计，最好是在北京，谢谢大家！

本人急需测量样品的微区紫外－可见－近红外反射（或者透射）光谱，样品为附着于基片（玻璃或者石英片）上的膜。微区大小为几十微米。请教各位大虾：有没有紫外－可见分光光度计可以测量微区的光谱性质，并且测量的波长范围可以达到近红外区。或者有哪种仪器具有相关的附件可以达到这种要求（本人现在采用的紫外－可见分光光度计是日立公司的UV-4100型。）请各位大虾指教。先谢过了！

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=69229]近红外漫反射测量血糖含量[/url] 个人感觉不错 和大家分享

欢迎大家前来与ppddppdd老师一起就材料红外光谱技术知识的相关问题进行探讨！活动时间：2014年07月16日——2014年07月25日【线上讲座241期】材料红外光谱透射比、反射比、发射率的高精度测量方法 主讲人：ppddppdd--IR版面专家 活动时间：2014年07月16日——2014年07月25日 热烈欢迎ppddppdd老师光临红外光谱版面进行讲座！http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif提要一、透射比绝对测量二、反射比绝对测量三、吸收比绝对测量四、发射率绝对测量五、透射，反射，吸收，发射的相对测量方法http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif欢迎大家前来与ppddppdd老师一起就红外光谱技术相关的内容进行探讨交流！以上资料为ppddppdd老师所著,未经ppddppdd老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间：2014年07月16日--07月25日答疑时间: 2014年07月16日--07月25日特邀佳宾：IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员：仪器论坛全体注册用户活动细则：1、请大家就材料红外光谱技术知识的相关问题进行提问，直接回复本帖子即可，自即日起提问截至日期2014年07月25日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励（1-50分不等），提问的也有奖励3、提问格式：为了规范大家的提问格式，请按下面的规则来提问 ：ppddppdd老师您好！我有以下问题想请教，请问：……http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif说明：本讲座内容仅用于个人学习，请勿用于商业用途，由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结，但是也凝聚着笔者大量心血，版权归ppddppdd老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的，理解片面、错误之处肯定是有，欢迎大家指正。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif

目前市面上的印品检测用[url=http://www.xrite.cn/][color=#000000]色差仪[/color][/url]一般都有多种反射测量模式可供选择，M0：非偏振，无虑镜包含紫外线；MI：表示D50；M2表示不包含UV的滤镜，M3表示偏振镜。至于如何选择，则需要根据客户要求设置或者保证色差仪与其它色彩管理软件、仪器的颜色设置相匹配，目前纸类包装印刷行业流行的是M1模式，因为其采用的是标准的日光光源，而非M0的模拟日光光源，当然测量模式的设置在整个色彩管理流程中必须统一。

望老师指点:我司用的是PE公司的SPECTRUM1000型FT-IR红外光谱仪,配置的16度镜反射附件测量镀膜玻璃的红外反射率(我们通常测量范围为2.5微米---40微米),与国家计量院的数据相比,我司测的数据总是要高于国家计量院的数据(反射率约高5%),不知道是什么原因,望老师指点.

我想测量絮体结构的一些变化特性，请教目前国内有哪些单位有聚焦光束反射这种仪器的啊

因为生产颜色玻,璃需要测量其L*a*b,透/反射率,请问:有哪种分光光度计能实现这些功能?有类似Lamda-900的国产仪器吗?

我是新手，我做出的薄膜的反射谱为什么跟透射谱是一样的？连纵坐标的数值都是一样的，请问是什么原因？是设置的问题还是其它？麻烦哪位大虾告诉我一下，十分感谢。我的薄膜是在玻璃基片上，与玻璃基片一起测量。仪器型号是cintra 10e。是不是固体的反射必须用积分球才能测啊？

转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL 级以下）、用样量少（Μl、ng级）、准确高度（可用内标法）、简便、快速，而且要进行无损分析，成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段，在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看，与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较，TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内，能谱仪（XRF）和波谱仪（WXRF）在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面，都明显比TXRF差。在表面分析领域内，尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中，TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理：TXRF利用全反射技术，会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏率，避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应，大大缩减了定量分析的工作量和工作时间，同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限（MDL）可由公式计算： (2)这里， 是木底计数率，t为测量计数时间，M为被测量元素质量，l代表被测量元素产生的特征峰净计数率，S=I/M就是系统灵敏度，由公式可以看出，提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处，因而MDL很低。

最近纠结漫反射的问题，查了好些资料，昨晚终于在一本名叫《近代傅里叶变换红外光谱技术及应用》上卷中看到了一点关于漫反射的介绍，个人觉得不错，就把其中的一些知识誊抄上来，希望有更多信息的版友继续跟进。漫反射原理：当光线照射到样品上，一部分光在样品表面产生镜面反射，另一部分光经折射进入样品内部，在样品内部与样品分子作用而发生反射、折射、散射和吸收现象，最后光线由样品表面辐射出来，辐射出来的光由于散向空间各个方向而被称为漫反射。由于漫反射光曾进入样品内部与样品分子发生作用，因此漫反射光将载有样品分子的结构信息，这是漫反射光谱技术工作的基础。漫反射特点：漫反射与镜面反射共存；漫反射光强度弱；漫反射吸收光谱图与透射法测得吸收光谱图形状基本一致。漫反射光谱的测量：漫反射技术主要用于测量粉末样品和混浊的液体。对粉末样品几乎不需要样品制备，由于上述优点，在煤、矿等难于用压片法测量的样品的IR研究中得到广泛应用。将待测样品在合适的基质中稀释，能够有效地消除镜面反射和避免产生吸收峰饱和现象，从而获得较高质量的漫反射谱。稀释基质常用KCl和KBr等，比例在1：20至1：10之间。漫反射的定量分析：利用K-M方程可以实现漫反射的定量研究，具体公式为：f(R∞)=（1-R∞）2/2R∞=K/S；R∞代表样品层无限厚时的反射率（实际上几个毫米就能满足），K为样品的吸光系数，S为样品的散射系数，由于K与粉末样品浓度C呈正比，由此有f(R∞)与C呈正比，可以进行定量分析。大家对于K-M方程有何看法，此处为什么不用Beer-Lamber定律，他们有何关联呢？http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09511.gif

请问反射仪和光泽仪有什么不同。光泽仪是以折射率为1.567的黑玻璃定义为各种测试角度光泽100，带测试样品的反射光光强和标准的比值即为光泽测定结果。测试角有20度、60度、85度。反射仪是以光谱漫反射比均为100%的理想表面的白度定义为反射率100，光谱漫反射比为零的绝对黑表面定义为反射率零，也是计算待测样品和标准的比值来表示反射测量结果。测试角一般为45度。那这样且不是可以这样理解：反射仪就是一种有着特殊标准板、特殊测试角度的光泽仪？如果能这样理解，且不是反射仪可以用光泽仪来替代？学得很肤浅，请大家不吝赐教！

来自奥地利、美国和瑞士的科学家组成的国际科研团队，研制出了首个中红外波长范围超级反射镜，有望用于测量微量温室气体或用于切割和焊接的工业激光器等领域。研究论文发表于最新一期《自然通讯》杂志。在可见光波长范围内，现有金属反射镜的反射率为99%。在近红外范围，专用反射镜涂层的反射率高达99.9997%；但迄今最好的中红外反射镜的反射率为99.99%，光子丢失率是近红外超反射镜的33倍。人们一直希望将超反射镜技术扩展到中红外领域，以促进很多领域取得重大进展，如测量与气候变化有关的微量气体、分析生物燃料，以及提升广泛应用于工业和医疗领域的切割激光器和激光手术刀的性能等。此次，研究团队研制出的中红外超反射镜的反射率高达99.99923%。为制造出中红外超级反射镜，研究团队结合传统薄膜涂层技术与新型半导体材料和方法，开发出一种新涂层工艺。为此，他们先研制出直径为25毫米的硅基板，然后让高反射半导体晶体结构在10厘米的砷化镓晶片上生长，接着将其分成更小的圆形反射镜，再将这些反射镜安装到硅基板上，得到了超级反射镜并证明了其性能。[b]研究人员指出，这款新型超反射镜的一个直接应用是显著提高中红外气体分析光学设备的灵敏度，可准确计量微量环境标志物，如一氧化碳等。[/b][来源：科技日报]

如题，在线检测的采集器精确固定在样品上方，距离样品1-2厘米的位置。被测样品会平稳的运动，一分钟在10米到1000米之间的速度运动。采集的样品是直径为4厘米左右的圆形区域。光源呈45度照射到样品。反射光0度从光纤准直镜接收到光谱仪。高速取样在电脑显示色彩空间数据。样品不动的情况下保证数值的重复性误差很精确原理只能是这样来采集光谱。其他的办法实在是找不到了。看起来这种方法好实现。但是会存在很多很多问题。1.光源，传统的卤素灯光源能量很稳定，但是用在非接触测量时候会出现能量不够，长时间工作灯的寿命降低。一般都是几千个小时。在线检测用一般一开都是N月。2.校正，校正的前提是保证光源在绝对稳定状态下才能有效的校正白板反射数值。卤素灯排除后就实在没办法让光谱仪长时间使用而校正的问题。3.色彩数据，这个数据一般不会和实验室做对比，但是用什么方法来准确反映出颜色偏向也是个难题如果用闪光式的脉冲氙灯来做光源的话。由于氙灯的特性。每次闪光的能量又不能控制。实在是找不到别的有效的办法来代替光源。如果使用氙灯的话。能量值能稳定的控制在很精确。伴随光谱仪还有采集时间和时序的问题。种种问题。实在得不到有效解决。但是也真实的见过真有这种类型的测色仪。他们是如何做到的

请问各位专家，如何实现对不同入射角时反射率的测量？主要是如何改变入射角？

如题！近期看到大量的测涂料或者粉末的太阳光谱反射率数据图表，使用仪器为UV/VIS/NIR分光光度计，本人不太了解分光度计的应用原理，印象里不是吸光度和浓度成正比吗？这个仪器能够测光谱反射率吗？有高手给扫下盲吧！特别是粉末的反射率影响因素颇多，是咋测出来的？

红外-漫反射-OPUS我现在在做红外测试，仪器是布鲁克的，软件是OPUS，有几个问题一直不解，想请教大家：1、测量样品时背景可以调动以前的背景吗？怎么调动？2、OPUS测得的谱图怎么用origin直接打开？？3、样品颜色的深浅对透射、漫反射的测试有什么影响？4、有什么软件可以修改谱图？去掉某些不要的峰？或者增加某些峰？5、干涉图有什么用？能转化为透射？吸收？K-M图吗？6、漫反射测量时，纵坐标采用K-M，OPUS有K-M校正这一功能吗？7、做漫反射时，1000以下峰不好，老师说1000一下可能没有信号，怎么检查有没有信号呢？？希望大神给予指导！！！特别是5、6、7三题！！