各向异性层

英国Edinburghinstruments，一个由科学家群体组成的研发团队，专注于生产和研发高性能研究级光谱仪的公司。产品线覆盖从紫外可见到近红外区域，从稳态光谱测量到瞬态光谱测量，以及激光闪光光解光谱仪等等。这是爱丁堡苏格兰工厂全新打造的新一代紧凑型一体化荧光光谱仪。这款仪器基于高标准进行设计，具有高灵敏度，快速数据获取，操作简单的特点，同时还有丰富的样品支架可以进行选择。拥有爱丁堡仪器在荧光光谱仪上超过35年的制造经验，FS5可以为您提供您所能想到的各种测试需求。FS5为中档价位的荧光光谱仪在全球分析和研究市场上设立了一个全新的标准，针对不同的应用方向，我们都有相应测量模式可以进行选择。? 单光子计数的超高灵敏度 ? 高动态范围和数据获取速度? 独特的软件——为荧光光谱仪量身定做? 升级的可选模式 PSP——纯光谱，极低的杂散光，无高级散射光干扰 NIR——可扩展光谱范围至1650nm POL——测量荧光各向异性和偏振度 MCS——完成微秒到秒级的寿命测试 TCSPC——完成皮秒到微秒的寿命测试? 极其丰富的样品支架选项 FS5 – TCSPC 荧光寿命升级除了拥有FS5标准荧光测试功能以外，这款升级还能实现皮秒、纳秒到微秒范围的寿命测量（10μs）。FS5-TCSPC型号需要皮秒脉冲二极管和LED作为激发光源，我们只需要简单地将光源连接到FS5-TCSPC特制的样品仓中，这个样品仓与所有样品支架相兼容。寿命测试的时候不需要单独的激光驱动和数据分析模块。软件完全兼容所有的测试功能，提供重卷积和曲线拟合。皮秒激光二极管（EPL）和皮秒脉冲发光二极管（EPLED）都是单一波长输出。我们至少需要一个或者一个以上的皮秒脉冲光源来激发样品，激发波长根据用户的具体应用方向进行选择。TCSPC寿命测试可以使用FS5标准的检测器，可以实现150ps-10us的测量。当我们使用快速响应检测器的时候可以优化仪器响应函数，可实现低至50ps的寿命测量。FS5 – NIR 近红外光谱区域扩展进行近红外波长测试的扩展，在目前的紧凑型荧光光谱仪中只有FS5能够实现。通过接入第二个近红外的检测器，FS5轻松地实现测试波长范围的扩展，而无需牺牲紫外可见区的灵敏度。有多种近红外检测器可以进行选择：FS5-NIR额外扩展一个制冷侧窗PMT和近红外光栅可以达到1100nm；FS5-NIR+可以升级电制冷的近红外PMT和近红外光栅实现远至1650nm的测试。这两种升级选项全部基于单光子计数技术以实现很高的灵敏度，并且能与任何寿命升级选项相兼容。FS5-POL 荧光偏振度和各向异性的测量偏振荧光升级选项包括位于激发和发射侧的由软件控制的自动偏振片。借助于偏振片可以完成偏振荧光和荧光各向异性的测量。测量可以自动计算得到各向异性曲线，包含原始数据和G因子校正的数据。如果和TCSPC联用，可以进行时间分辨的荧光各向异性分析。FS5-POL 标准配置紫外可见区，我们还可以选配近红外偏振片使发射侧的偏振测量范围扩展到1650nm。FS5-MCS 微秒级到秒级寿命测试 FS5-MCS除了拥有FS5所有的标配功能以外，还可以实现10μs的长寿命测量，特别适用于强发光的荧光粉和稀土样品。标准的连续氙灯光源和脉冲闪烁氙灯光源之间的切换由软件自动控制完成。测量模式也同时会在标准的光子计数和时间分辨光子计数之间进行切换。如果需要长时间进行寿命测试的时候连续氙灯会通过软件自动关闭，这会节省氙灯的能量，增加使用的寿命。几乎针对所有应用，FS5都有相应的样品支架可供用户进行选择。这些附件的安装使用十分简单方便。绝大多数的附件安装只需要十几秒的时间就可以完成。专用的Fluoracle软件可以自动识别每一个样品支架，用户使用界面十分友好，操作十分便捷。

一, 热辅助磁记录介质的非接触HAMR/TAMR评估系统 BH-802HM产生磁场±6.5T的热（Thermal）辅助磁记录介质（HAMR或TAMR）非接触评估系统。热辅助磁记录介质的非接触HAMR/TAMR评估系统 BH-802HM,热辅助磁记录介质的非接触HAMR/TAMR评估系统 BH-802HM通用参数光源二极管激光器 (408nm)测量克尔效应极向克尔效应激光光斑直径φ1mm磁场平面外方向：Max. ±65kOe (±6.5T)磁盘大小3.5寸盘测量示例二, 垂直磁各向异性评价系统 BH-R810在固定磁场方向下具有旋转样品架的角度依赖性分析系统。垂直磁各向异性评价系统 BH-R810,垂直磁各向异性评价系统 BH-R810通用参数光源二极管激光器 (408nm)测量克尔效应极向克尔效应激光光斑直径φ1mm磁场Max. ±20kOe (±2T)*适用磁场角：0°～90°样本量10 ×10mm (t1mm)*仅切割样品测量示例

DRX-II-PS快速导热系数测定仪该导热仪采用先进的瞬变平面热源法及纵向热流技术，具有方便、快捷、精确的特点，可用来测量各种不同类型材料的热导率、热扩散率以及热熔，适用的热导系数范围0.005-500W/MK之间，适用样品类型：固体、粉末、涂层、薄膜、液体、各向异性材料等多种不同形式材料。主要特点：1. 直接测量瞬态热传播，测试时间在分秒之间。2. 不会和静态法一样受到接触热阻的影响 3. 无须特别的样品制备，只需相对平整的样品表面4. 可用于固体、粉末、涂层、薄膜、液体、各向异性材料等热物性参数的测定。主要技术参数：1、导热系数范围: 0.005—500 W/mK2、温度范围: 室温—40℃/130℃/200℃/1000℃供选择；3、材料类型: 金属、合金、陶瓷、矿石、复合材料、硅片、聚合物、粘结剂、纸、织物、印刷电路板、推进剂… … 塑料插件等。4、测试模块：基本、薄膜、平板、各向异性、单面、比热5、探头尺寸：Φ2- Φ30 mm，特定要求：Φ50--Φ100mm 6、样品类型: 固体、粉末、薄膜、涂层、液体、各向异性材料等7、精度: ± 3% 8、测试时间：5~160s 9、操作采用全自动热分析测试软件，快速准确对样品进行试验过程参数分析和报告输出。主要配置:1.测试主机 一台, 2.测试软件 一套3.智能仪表说明书 一份. 4.产品合格证 一份5.产品说明书 一份. *6.计算机（打印机）用户自备7：不同环境温度的测试架（根据温度要求配）

DRX-II-PS 瞬变平面热源法导热仪 该导热系数仪采用先进的瞬变平面热源法及纵向热流技术，具有方便、快捷、精确的特点，可用来测量各种不同类型材料的热导率、热扩散率以及热熔，适用样品类型：固体、粉末、涂层、薄膜、各向异性材料等多种不同形式材料。参照标准GB5598-85,GB3399-82,GB11205-89. 适应ASTM D5470，但它也使用热结构-函数分析以使结果更精确，符合MIL-I-49456A，绝缘片材，导热树脂，热导玻纤等。主要特点1. 直接测量瞬态热传播，测试时间在分秒之间。2. 不会和静态法一样受到接触热阻的影响3. 无须特别的样品制备，只需相对平整的样品表面4. 可用于固体、粉末、涂层、薄膜、各向异性材料等热物性参数的测定。主要技术参数：1、导热系数范围: 0.005--500 W/mK； 2、温度范围:室温—40℃/130℃/300℃/1000℃可选；3、材料类型: 金属、合金、陶瓷、矿石、复合材料、硅片、聚合物、粘结剂、纸、织物、印刷电路板、推进剂… … 塑料插件等4、模块：基本、薄膜、平板、各向异性、单面、比热5、样件厚度：（0.1～5）mm； 6、测量时间：1-160秒7、精度: ± 3% 8、重复性：3%9电源：AC 220V,功率≤500W；10. 可与通用计算机通讯，能实现自动测试并进行试验参数分析及报告输出；主要配置: 1.导热仪主机 一台, 2. 测试软件 一套， 3. 计算机 一台4：环境温度测试箱及测试架（根据客户要求配）

产品名称：Hot Disk 2500S 导热系数仪品牌：Hot Disk 型号：2500S 产地：瑞典报价：面议 仪器简介：瑞典Hot Disk公司主要开发、制造并销售基于瞬变平面热源技术（TPS）的热导率、热扩散率和比热容的导热系数仪。TPS技术被全世界众多实验室的研究人员所采用，国外众多的国家实验室和公司研发部门，以及国内多个重点院校和科研机构是我们的用户。Hot Disk导热系数仪被广泛应用在电力、汽车、材料、生物制药等领域。Hot Disk公司提供给客户多种探头、软件、设备及支持，可用于各种不同类型材料的热传导性能的测量，并不断致力于提高测试方法的便利性和结果的精确性。技术参数：1、导热系数范围: 0.005—500 W/mK2、温度范围: 10 K—1000 K3、材料类型: 金属、合金、陶瓷、矿石、复合材料、硅片、聚合物、粘结剂、纸、织物、印刷电路板、推进剂… … 4、测试模块：基本、薄膜、平板、各向异性、单面、比热5、探头尺寸：2- 29.40 mm6、样品类型: 固体、粉末、薄膜、涂层、液体、各向异性材料等7、精度: ± 3%8、其他测试：同时可测量材料的热扩散系数、体积热容（其精度分别：± 5%、± 7%）主要特点：1. 直接测量瞬态热传播，测试时间在分秒之间，可以节约大量的时间2. 不会和静态法一样受到接触热阻的影响3. 无须特别的样品制备，只需相对平整的样品表面4. 可用于固体、粉末、涂层、薄膜、液体、各向异性材料等热物性参数的测定

产品名称： Hot Disk热常数分析仪 TPS 2500S品牌：Hot Disk 型号：TPS 2500S产地：瑞典报价：面议 仪器简介：瑞典Hot Disk公司主要开发、制造并销售基于瞬变平面热源技术（TPS）的热导率、热扩散率和比热容的导热系数仪。TPS技术被全世界众多实验室的研究人员所采用，国外众多的国家实验室和公司研发部门，以及国内多个重点院校和科研机构是我们的用户。Hot Disk导热系数仪被广泛应用在电力、汽车、材料、生物制药等领域。Hot Disk公司提供给客户多种探头、软件、设备及支持，可用于各种不同类型材料的热传导性能的测量，并不断致力于提高测试方法的便利性和结果的精确性。技术参数：1、导热系数范围: 0.005—500 W/mK2、温度范围: 10 K—1000 K3、材料类型: 金属、合金、陶瓷、矿石、复合材料、硅片、聚合物、粘结剂、纸、织物、印刷电路板、推进剂… … 4、测试模块：基本、薄膜、平板、各向异性、单面、比热5、探头尺寸：2- 29.40 mm6、样品类型: 固体、粉末、薄膜、涂层、液体、各向异性材料等7、精度: ± 3%8、其他测试：同时可测量材料的热扩散系数、体积热容（其精度分别：± 5%、± 7%）主要特点：1. 直接测量瞬态热传播，测试时间在分秒之间，可以节约大量的时间2. 不会和静态法一样受到接触热阻的影响3. 无须特别的样品制备，只需相对平整的样品表面4. 可用于固体、粉末、涂层、薄膜、液体、各向异性材料等热物性参数的测定

仪器简介： 瑞典Hot Disk公司主要开发、制造并销售基于瞬变平面热源技术（TPS）的热导率、热扩散率和比热容的导热系数仪。TPS技术被全世界众多实验室的研究人员所采用，国外众多的国家实验室和公司研发部门，以及国内多个重点院校和科研机构是我们的用户。 Hot Disk导热系数仪被广泛应用在电力、汽车、材料、生物制药等领域。Hot Disk公司提供给客户多种探头、软件、设备及支持，可用于各种不同类型材料的热传导性能的测量，并不断致力于提高测试方法的便利性和结果的精确性。技术参数： 1、导热系数范围: 0.005-2000 W/mK 2、温度范围: 30K-1000℃ 3、材料类型: 金属、合金、陶瓷、矿石、复合材料、硅片、聚合物、粘结剂、 纸、织物、印刷电路板、推进剂 4、测试模块：基本、薄膜、平板、各向异性、单面、比热 5、探头尺寸：2- 29.40 mm 6、样品类型: 固体、粉末、薄膜、涂层、液体、各向异性材料等 7、精度 3% 8、其他测试：同时可测量材料的热扩散系数、体积热容（其精度分别：5%、 7%）主要特点： 1. 直接测量瞬态热传播，测试时间在分秒之间，可以节约大量的时间 2. 不会和静态法一样受到接触热阻的影响 3. 无须特别的样品制备，只需相对平整的样品表面 4. 可用于固体、粉末、涂层、薄膜、液体、各向异性材料等热物性参数的测定

反应式离子蚀刻机 性能特点 Capability Features: 用于失效分析的剥层分析解决方案群，世界顶尖反应式离子蚀刻机，物理沉移系统，原子层化学气相沉积系统.RIE/PE and RIE-ICP FA system这些灵活的失效分析工具可以实现从钝化层的去除到各项异性的氧化物的去除，从小管芯或已封装的器件到300mm直径的晶片整个范围的工艺. 去除氮化物钝化层后 刻蚀金属间介质后 四层金属暴露 金属间介质后的失效分析优点:- 工艺灵活，既可采用RIE/PE，也可采用ICP- 先进的管芯工艺：采用等离子体加速器的刻蚀速率比标准的RIE工艺快20倍产品范围：- 可以处理300mm晶片的RIE/PE双模式设备- 快速低损伤的模具刻蚀装置- 处理200mm晶片的双模式设备- 填充用的正硅酸乙酯（TEOS）工艺应用:- 各向同性的聚酰亚胺的去除（RIE或ICP模式）- 各向同性的氮化物（钝化层）的去除（PE或ICP模式）- 各向异性的氧化物（金属间介质/层间介质）的去除（RIE或ICP模式）- 各向异性的低K值氧化物的去除（RIE或ICP模式）- 金属支架的去除（RIE或ICP模式）- 多晶硅的去除（RIE模式）- 铝或铜的去除（ICP模式）

仪器简介：瑞典Hot Disk公司主要开发、制造并销售基于瞬变平面热源技术（TPS）的热导率、热扩散率和比热容的导热系数仪。TPS技术被全世界众多实验室的研究人员所采用，国外众多的国家实验室和公司研发部门，以及国内多个重点院校和科研机构是我们的用户。Hot Disk导热系数仪被广泛应用在电力、汽车、材料、生物制药等领域。Hot Disk公司提供给客户多种探头、软件、设备及支持，可用于各种不同类型材料的热传导性能的测量，并不断致力于提高测试方法的便利性和结果的精确性。技术参数：1、导热系数范围: 0.005—2000 W/mK2、温度范围: 30 K—1000℃3、材料类型: 金属、合金、陶瓷、矿石、复合材料、硅片、聚合物、粘结剂、纸、织物、印刷电路板、推进剂……4、测试模块：基本、薄膜、平板、各向异性、单面、比热5、探头尺寸：2- 29.40 mm6、样品类型: 固体、粉末、薄膜、涂层、液体、各向异性材料等7、精度: ± 3%8、其他测试：同时可测量材料的热扩散系数、体积热容（其精度分别：± 5%、± 7%）主要特点： 1. 直接测量瞬态热传播，测试时间在分秒之间，可以节约大量的时间2. 不会和静态法一样受到接触热阻的影响3. 无须特别的样品制备，只需相对平整的样品表面4. 可用于固体、粉末、涂层、薄膜、液体、各向异性材料等热物性参数的测定

技术参数：该导热系数仪基于纵向热流技术，具有方便、快捷、精确的特点，可用来测量各种不同类型材料的热导率、热扩散率以及热熔，适用的热导系数范围0.5-100W/MK之间适用样品类型：固体、粉末、涂层、薄膜、液体、各向异性材料等多种不同形式材料。参照标准GB5598-85,GB11205-89.MIL-I-49456A，ASTMD 5470-06等.绝缘片材，导热树脂，热导玻纤等。液体需要特定装置 技术参数： 1.导热系数范围：0.5-100W/MK，精度3%,精度&le ± 3%,重复性&le ± 1% 2.可实现对比热分析测定，热扩散系数分析测试， .热扩散率测量精度：5%；.比热测量精度：7% 4.测量温度范围20-300℃。 5.要求配有完整的测试系统及软件平台。 6.操作采用全自动热分析测试软件，快速准确对样品进行试验过程参数分析和报告输出。 7. 可配接不同的接头满足多种环境下的检测。 8.固体样品要求在直径15~50mm,厚度在1~50mm。主要特点：导热系数仪基于纵向热流技术，具有方便、快捷、精确的特点，可用来测量各种不同类型材料的热导率、热扩散率以及热熔，适用的热导系数范围0.5-100W/MK之间适用样品类型：固体、粉末、涂层、薄膜、液体、各向异性材料等多种不同形式材料。参照标准GB5598-85,GB11205-89.MIL-I-49456A，ASTMD 5470-06等.绝缘片材，导热树脂，热导玻纤等。液体需要特定装置

EddyCus TF map 2525 薄膜电阻和薄膜厚度测试仪 方阻测试仪 薄膜电阻测试仪TF lab系列产品是一款适合实验室研发或成品检测使用的薄膜面电阻（方块电阻）及薄膜厚度测量的仪器。特点非接触成像高解析度成像（25 至1,000,000 点）缺陷成像封装层的地图参数薄膜电阻（欧姆/平方）金属层厚度（nm、μm）金属基板厚度（nm、μm）各向异性缺陷完整性评定应用建筑玻璃（LowE）触摸屏和平板显示器OLED和LED应用智能玻璃的应用透明防静电铝箔光伏半导体除冰和加热应用电池和燃料电池包装材料材料金属薄膜和栅格导电氧化物纳米线膜石墨烯、CNT（碳纳米管）、石墨打印薄膜导电聚合物（PEDOT:PSS）其他导电薄膜及材料规格参数测量技术：非接触式涡流传感器基板：例如：薄膜、玻璃、晶圆，等等最大扫描面积：10 inch / 254 x 254 mm（根据要求可以更大）边缘效应修正/排除：对于标准尺寸，排除2 mm的边缘最大样品厚度/传感器间隙：2 / 5 / 10 / 25 mm（由最厚的样本确定）薄膜电阻的范围：低 0.0001 - 10 Ohm / sq 2 至 8 % 精度标准 1 - 1,000 Ohm / sq 2 至 8 % 精度高 10 - 10,000 Ohm / sq 4 至 8 % 精度金属膜的厚度测量（例如：铝、铜）：2 nm - 2 mm (与薄膜电阻一致)扫描间距：1 / 2 / 5 / 10 mm （根据要求的其它尺寸）每单位时间内测量点（二次形）：5分钟内10,000个测量点30分钟内1,000,000 个测量点扫描时间：4 inch / 100 x 100 mm，在0.5至5分钟内（1-10mm 间距）8 inch / 200 x 200 mm，在1.5至15分钟内（1-10mm 间距）装置尺寸（宽/厚/深）：549 x 236 x 786(836) mm / 23.6 x 9.05 x 31.5 inch重量： 27 kg可用特色：薄膜电阻成像各向异性电阻传感器

SURAGUS 2525方阻测试仪 薄膜电阻和厚度测试仪TF lab系列产品是一款适合实验室研发或成品检测使用的薄膜面电阻（方块电阻）及薄膜厚度测量的仪器。特点非接触成像高解析度成像（25 至1,000,000 点）缺陷成像封装层的地图参数薄膜电阻（欧姆/平方）金属层厚度（nm、μm）金属基板厚度（nm、μm）各向异性缺陷完整性评定应用建筑玻璃（LowE）触摸屏和平板显示器OLED和LED应用智能玻璃的应用透明防静电铝箔光伏半导体除冰和加热应用电池和燃料电池包装材料材料金属薄膜和栅格导电氧化物纳米线膜石墨烯、CNT（碳纳米管）、石墨打印薄膜导电聚合物（PEDOT:PSS）其他导电薄膜及材料规格参数测量技术：非接触式涡流传感器基板：例如：薄膜、玻璃、晶圆，等等最大扫描面积：10 inch / 254 x 254 mm（根据要求可以更大）边缘效应修正/排除：对于标准尺寸，排除2 mm的边缘最大样品厚度/传感器间隙：2 / 5 / 10 / 25 mm（由最厚的样本确定）薄膜电阻的范围：低 0.0001 - 10 Ohm / sq 2 至 8 % 精度标准 1 - 1,000 Ohm / sq 2 至 8 % 精度高 10 - 10,000 Ohm / sq 4 至 8 % 精度金属膜的厚度测量（例如：铝、铜）：2 nm - 2 mm (与薄膜电阻一致)扫描间距：1 / 2 / 5 / 10 mm （根据要求的其它尺寸）每单位时间内测量点（二次形）：5分钟内10,000个测量点30分钟内1,000,000 个测量点扫描时间：4 inch / 100 x 100 mm，在0.5至5分钟内（1-10mm 间距）8 inch / 200 x 200 mm，在1.5至15分钟内（1-10mm 间距）装置尺寸（宽/厚/深）：549 x 236 x 786(836) mm / 23.6 x 9.05 x 31.5 inch重量： 27 kg可用特色：薄膜电阻成像各向异性电阻传感器

穆勒矩阵测量系统所属类别： ?光学检测设备所属品牌：美国Hinds Instruments公司 产品简介穆勒矩阵测量系统 高速高精度穆勒矩阵测量系统 150XT 型穆勒矩阵椭偏仪是Hinds公司研发的一款高速高精度穆勒矩阵测量系统，在不到一秒内即可实时测得穆勒矩阵16组参数或者其他样品完整偏振特性。由Hinds公司研发的这款产品对于科研研究，工业测量，光学组件偏振特性测量，制造业生产/质检等领域都有着广泛应用可能。整套系统报包含完整软件支持，可以直接绘制出各种各样光学、生物、化学样品的线性相位延迟，圆偏相位延迟（或旋光），线性二向色性偏振衰减，圆二向色性偏振衰减图样。 Hinds. Hinds Instruments 穆勒矩阵测量系统，穆勒矩阵测量，Exicor，Mueller Polarimeter ，150XT,穆勒椭偏仪 速高精度穆勒矩阵测量系统通过使用光弹调制器和相应偏振测量技术， 150XT 型穆勒矩阵椭偏仪在不到一秒内即可实时测得穆勒矩阵16组参数或者其他样品完整偏振特性。由Hinds公司研发的这款高速高精度穆勒矩阵测量系统对于科研研究，工业测量，光学组件偏振特性测量，制造业生产/质检等领域都有着广泛应用可能。这套穆勒矩阵测量系统报包含完整软件支持，可以直接绘制出各种各样光学、生物、化学样品的线性相位延迟，圆偏相位延迟（或旋光），线性二向色性偏振衰减，圆二向色性偏振衰减图样。产品特点? 前所未有的穆勒矩阵探测精度（全矩阵）? 穆勒矩阵16组参数同步测量? 样品所有光学偏振特性同步测量? 高重复精度? 高速测量? 系统光路固定（光路部分无移动组件，更稳定）? 对不同尺寸待测样品同样支持测量扫描? 光弹偏振测量技术? 简易，人性化操作软件界面 产品应用：科研/工业研发? 品控/质检测量? 如下各种样品的全偏振特性的精确测量：1. 科研级复杂内部结构光学组件2. 各种双折射/倍频晶体3. 复杂层级LCD4. 同晶晶体5. 各向异性晶体6. 化学和生物光学各向异性材料7. 由磁场/电场引起的各向异性样品 规格参数 穆勒矩阵 (不同参数，灵敏度不同) 约 3.533 mm 厚度 C切割石英板状样品沿X-Y轴15°旋转（0.5°步长）穆勒矩阵测量原始数据

接触角度的测量超出了单个行业、学科或应用的范围。事实上，可以说，每一个企业、每一个产品，以及与现实世界相关的每一项创新，都取决于材料的润湿特性，无论是直接还是切线。奇怪的是，尽管它在世界上无处不在，接触角度并不是一个家庭术语。事实上，大多数人从来没有听说过它，不明白为什么它是重要的，并很少理解为什么人们要如此精确地测量它。而ramé-hart 接触角仪几乎能满足您的所有需求。转北航田东亮课题组《ACS Nano》：在温度响应各向异性阵列表面控制液体传输方向上取得新进展液体的定向输运在无动力液体输送、制备单向阀装置等方面具有广泛的应用前景。研究人员通过改变表面的化学成分和多尺度结构特征，结合表面能和拉普拉斯压力梯度的影响，制备了各向异性浸润性表面，并使其具有快速、连续的自主性单向输水性能。但是，基于各向异性微结构的排列实现对液体运输方向的调控仍具有一定的挑战。针对这些问题，田东亮副教授课题组提出了一种通过调整各向异性微结构的排列方式控制液体传输方向的策略，并通过温度响应材料修饰实现了表面液体浸润方向动态调控，同时揭示了其作用机理。该课题组制备了一种涂覆着疏水性PMMA膜的各向异性V阵列（PMMA-VPM），与亲水性PVA膜相比，疏水性PMMA膜可以增强V阵列的各向异性润湿和稳定性。通过改变V阵列的排列参数：平行和交错结构，可以在+X或-X方向上对液滴进行定向可控的浸润（图1）。图1. 各向异性的V阵列(VPM)表面对液滴的定向浸润。(a) 涂覆PMMA膜和PVA膜的VPM表面制备示意图。(b-i) 不同结构VPM表面的浸润行为：(b-e)平行结构和(f-i)交错结构的示意图、SEM图像、涂覆PMMA膜和涂覆PVA膜的接触角(CA)照片。在PMMA-VPM表面进一步加入温度响应分子PNIPAAm，构建了温度响应VPM（PMMA/PNIPAAm/TiO2-VPM）表面。通过改变温度成功控制了浸润方向：液滴在15℃时（TTLCST）呈现亲水双向浸润，在55℃时（TTLCST）呈现疏水单向浸润（图2）。基于温度响应VPM表面的各向异性浸润，进一步研究了其液体的动态浸润行为（图3）。可以发现，通过调节温度可以切换液体的各向异性和各向同性浸润，从而调节液体的运动方向。基于以上特性，在温度响应VPM表面设计了微流体通道，实现了不同温度下对液体的单向和双向输运（图4）。 图2. 温度响应VPM（PMMA/PNIPAAm/TiO2-VPM）表面对液滴的可控浸润。不同温度下，温度响应VPM表面的(a, b)SEM图、(c,d)示意图及CA照片。表明液滴在15℃时是亲水的双向浸润，在55℃时是疏水的单向浸润。 图3. 不同温度下，温度响应VPM表面的动态浸润行为。(a,b)平行结构。(c,d)交错结构。当55℃时, 液体在(a)平行和(c)交错结构VPM表面呈现方向相反的各向异性润湿。当15℃时，液体在(b)平行和(d)交错结构的VPM表面都呈现各向同性润湿。 图4. 温度响应VPM表面在微流体通道中的定向液体输运。(a,b) 平行结构。液体在55℃时沿+X方向单向输运，在15℃时变为双向输运。(c,d) 交错结构。液体在55℃时沿-X方向单向输运，在15℃时变为双向输运。结果表明，当VPM表面以不同方式排列，TTLCST时液体呈现双向输运（+X和-X方向），TTLCST时液体呈现单向输运（+X或-X方向）。该研究重要意义在于，在排列方式可调的温度响应VPM表面，实现了可切换方向的液体输运。结果表明，通过改变V阵列的结构参数，可以控制液滴的浸润方向（+X或-X方向）。同时还可以通过调整温度来控制液滴的单向和双向输运（+X/-X和±X方向）。这项工作在机械工程领域，如在非动力输送系统、自动润滑、生命流体医疗器械等微流控设备中具有广阔的应用前景。以上相关成果发表在ACS NANO (10.1021/acsnano.9b09137)上。论文的 DI一作者为北京航空航天大学化学学院博士生张秋雅，通讯作者为田东亮副教授。MODEL 790 产品资料 样品台尺寸：2 x 3 in (51 x 76mm)样品尺寸：可达到12 in (300mm) deep x unlimited接触角范围：0-- 180°接触角分辨率：0.1°接触角精度：+/- 0.10°摄像机：GigE Interface, 210 fps 背光设置：可变光纤照明样品台：高精度3维样品台仪器尺寸：19 x 20 x 10 in (480x500x250mm)仪器重量：55 lbs / 25 kg（不包括电源）电源：110或220 VAC耗材：光纤灯100-00-FOB包含: 1. 自动分配系统 2. 振荡器 3. 自动倾斜装置 4. 环境试验室/温度控制器 5. 珀尔帖效应环境室 6. 光学头顶成象仪 7. 环境测试固定装置Model 500 Rame-hart surface tension gradient The Marangoni Effect 动态接触角 张力仪 张力计 接触角低于5° 接触角测量方法 润湿性能 清洁度 湿润性 疏水性 粘着 美国ramé-hart Model 500 接触角仪 表面和界面张力 表面能量 表面膨胀弹性 表面膨胀弹性和粘度 角度计 静态接触角 马朗戈尼效应

荧光寿命成像和相关分析软件SymPhoTime 64是一款集数据采集和分析为一身的软件，它被用来控制，，及升级系统这三种显微共聚焦系统，和其他设备。该软件需要在位操作系统下工作，拥有简单易懂的用户操作界面。结构清晰，功能强大，使用户可以更高效的获取数据分析结果，并可以通过模式更加直观的管理数据。最后，通过基于语言的用户自定义编译脚本功能，用户可以任意改变分析和测量的具体步骤。特点：功能强大的64位数据采集和分析软件单点，2D，和3D的TTTR数据采集，包含有可在线预览FLIM，FCS，time trace和TCSPC数据的功能FLIM、快速FLIM和FLIM-FRETFCS、FCCS、FLCS、PIE-FCS，符合相关，总相关分析FRET、PIE-FRET荧光随时间的分析及单分子荧光爆发现象分析各向异性分析TCSPC寿命拟合，包括先进的误差分析基于"STUPSLANG"语言的用户自定义编译脚本功能应用：荧光寿命成像和相关分析软件SymPhoTime 64可以被用于时间分辨共聚焦数据采集实验，如：时间分辨荧光荧光寿命成像(FLIM)磷光寿命成像(PLIM)荧光相关光谱(FCS)荧光寿命相关光谱(FLCS)荧光共振能量转移(FRET)超分辨显微(STED)双聚焦荧光相关光谱(2fFCS)脉冲交错激发(PIE)单分子探测/光谱学Pattern Matching分析时间分辨磷光(TRPL)TRPL成像镧化物上转换反聚束参数：数据采集可联用TCSPC模块HydraHarp 400, PicoHarp 300, TimeHarp 260, MultiHarp 150，TimeHarp 200 (仅数据导入)可联用荧光系统MicroTime 200 MicroTime 100激光扫描显微系统 (LSM)，支持Nikon, Olympus或 Zeiss品牌 单独的 TCSPC 模块 通过TCP/IP接口远程控制 (支持ZEN和 NIS Elements)探测通道数量1 到 8 detectors采集模式单点采集，多点采集，2D成像(XY，XZ，YZ)，3D成像(XYZ)，定时成像(XYT)，用于调节系统时使用的示波器模式采集预览FLIM, FCS, FLCS 和FCCS, Time Trace, TCSPC柱状图 最多同时在线显示4种数据自动化测量Z轴逐层成像, 定时成像, 图片缝合, 多点测量硬件控制PDL 828 "Sepia II" 激光驱动器 E-710, E-725, E-727和宽范围扫描仪控制器(Physik Instrumente)MicroTime 200的快门系统 MicroTime 200 中宽视场荧光相机IDS uEye USB3数据分析总体特点时间门控 BinningTCSPC binning TCSPC拟合(1到5多指数衰减拟合)最小平方拟合, 最大可能性估算拟合, IRF解卷积拟合，尾部拟合，自举误差分析TCSPC曲线的全局化分析图形化交互界面成像FLIM, FLIM-FRET, 荧光强度FRET, 各向异性成像, (时间门控) 荧光强度成像Pattern Matching, 快速Pattern Matching 可调寿命颜色分配及对比度 特定区域分析 (ROI)用于相位分析的 Bin输出（通过荧光动力学实验室开发的第三方软件Globals）相关分析FCS, FCCS, FLCS, PIE–FCS STED-FCS, STED-FLCS FCS 拟合 (拟合模型: 扩散常数, 三重态, 构象分析, 质子化, 高斯PSF, 用户自定义, 自举误差分析) 全局分析 FCS校准 反聚束/符合相关，总相关FRETPIE (脉冲交错激发) 渗滤校正 FLIM-FRETSTEDSTED, 门控STED, STED-FLIM, 交错脉冲 STED及共聚焦, 分辨率估计荧光强度Trace分子闪烁(On/Off 柱状图), 计数率柱状图 (PCH), 爆发量柱状图, 强度门控制TCSPC, 荧光寿命 Traces, 寿命柱状图, BIFL稳态各向异性包含物镜校正系数导出数据格式BMP, ASCII, TIFF, BIN用户自定义脚本译 (STUPSLANG)用户自定分析步骤, 拟合功能, 多条件筛选 整合控制外部其他器件

品牌：卡尔蔡司型号：Axio Scope A1 pol　制造商：德国卡尔蔡司公司经销商：北京普瑞赛司仪器有限公司产地：德国联系方式： ZEISS一百多年的骄人历史从发明世界上首台显微镜开始。一个世纪后的今天，ZEISS仍致力于为用户研发最具创造力的显微镜系列产品。通过我们不断改进的显微技术，我们正在为全世界的用户开拓一条探索微观世界的道路。今天的显微镜与以往相比，它们的成像质量更好、效率更高、机械性能更加稳定，并且更加环保。 总体描述：偏光显微镜是用于研究透明与不透明各向异性材料的一种显微镜。偏光显微镜将普通光改变为偏振光进行镜检，以鉴别某一物质是单折射（各向同行）或双折射性（各向异性）。双折射性是晶体的基本特性。因此，偏光显微镜被广泛地应用在矿物、高分子、纤维、玻璃、半导体、化学等领域，在生物学和植物学也有应用。蔡司研究级偏光显微镜Axio Scope A1 pol的诞生源于蔡司精湛的光学技艺与客户利益的完美结合，开创了专业偏光显微镜全新标准。Axio Scope A1pol能够给用户提供最优秀的成像质量的同时也能够实现用户经济利益的最大化，并且为用户日后的研发水平的提高提供了足够大的升级空间。这是基于用户利益的设计理念，Axio Scope A1 pol已经成为业内最具竞争力的显微镜产品。 产品特点：1、 采用世界上最优秀的无限远双重色彩校正及反差增强型（ICCS）光学系统，系统进行了充分的无应力处理，为用户的偏光观察提供最锐利的图像。2、 采用5种上部部件和3种下部部件及两个立柱组合方式，可根据您对材料检测的要求和经济成本进行任意灵活的组合，可实现对透明材料、不透明材料以及荧光材料的分析，同时具有强大的升级空间，保证您未来的检测要求。3、6孔对中物镜转盘，为物镜提供了更大的操作空间，省去了调整物镜和转盘的时间，大大提高了工作效率和图像效果。4、精湛的锥光观察技术，可采用多种方式进行锥光观察，满足您不同层次的不同要求。5、业界最大式样高度可达到380毫米的，给您提供非凡的操作空间。6、贴近用户的灵活性，设备的部件升级无需专业人员，用户可自行操作完成。 技术参数：光学系统：ICCS光学系统 镜体：FEM设计ACR编码 1、物镜：5X、10X、20X、50X 2、目镜：10X 3、物镜转盘：6孔对中物镜转盘 4、数字化图像分析工作站：计算机、打印机、数字摄像头、软件5、可配冷热台 6、可配显微分光光度计（测量反射率）

基本介绍：热常数分析仪MP-1（TPS）遵循ISO22007-2标准，用千固体、膏体、液体、粉末、板材、薄膜、各向异性材料等热导率、热扩散率和比热的精确测量。广泛应用于保温材料、塑料、橡胶、导热凝胶、导热硅脂、陶瓷、纤维、复材等领域。基本参数：方法瞬态热平面源（TPS）材料固体、糊剂和粉末方向3D/1D:各向异性、板材、薄膜热导率(W/m&bull K)0.005～1800W/m&bull K样品尺寸*5 x 5 mm ～无上限样品厚度*0.01 mm～无上限其他属性热扩散率|比热|热逸散(蓄热系数)率温度范围-160～1000℃准确率优于5%可重复性优于1%标准ISO 22007-2:2015*尺寸取决于不同传感器模块。

OLIS DSM 172 UV/Vis/NIROlis DSM 172 CD 系统是一款用途极为广泛的分光光度计，可针对圆二色性 (CD)、扫描发射荧光、荧光偏振 (POF)、圆偏振发光 (CPL) 或荧光检测 CD (FDCD) 进行配置。样品室是“偏振工具箱”，它独特地提供了定位偏振器和光弹性模块的自由，不仅用于 CD，而且在支持各向异性的位置。这些二次测量支持使用电光方法研究处于激发态的分子，该方法直接获得 L 型荧光偏振和各向异性，无需 G 因子校正，以及荧光检测圆二色性 (FDCD)。这种独特的多功能 CD 采用棱镜光栅单色器，通量为 185-2600 nm，加上发射通道（您选择 UV/Vis 或 NIR）和偏振工具箱样品室。吸光度和 CD 至 1700 nm。圆偏振发光、荧光和荧光发射 185 至 870 nm（可扩展至 NIR）和激发 185-2600 nm 的偏振。要从 180 度测量（CD 和吸光度）转换为 90 度测量（CPL 和荧光），请打开相应的软件图标并将偏振器和调制器放置在样品 (CD) 之前或样品 (CPL) 之后。应用领域：光谱扫描&动力学圆二色性光谱扫描&动力学荧光强度光谱扫描&动力学荧光各向异性光谱扫描&动力学圆偏振发光光谱扫描&动力学荧光检测圆二色性技术规格：直接获取abs(L)和abs(R)单光束和双光束吸光度和圆二色性标准范围： 185 – 800 nm，可扩展至 NIR无校准、无漂移、基线平坦超过 5 个数量级的线性优质棱镜+光栅 Cary 14/17 单色器支持升级：CLARiTY磷光寿命珀尔帖热控制停止流动漫反射镜面反射薄膜支架自动滴定仪DeSa永磁体OLIS-DSM-172.pdf

产品详情德国Sentech拥有宽光谱范围的光谱椭偏仪SENresearch 4.0新的SENresearch 4.0设计用于光谱椭偏仪，在宽的光谱范围从190nm（深紫外）到3,500 nm（近红外）。每一台SENresearch 4.0都是客户特定的椭偏光谱解决方案。SENresearch 4.0可以配置用于全穆勒矩阵、各向异性、广义椭偏、散射测量等。使用步进扫描分析器原理实现测量结果。 宽光谱范围和高光谱精度SENresearch 4.0 光谱椭偏仪覆盖宽的光谱范围，从190 nm(深紫外)到3500 nm(近红外)。傅立叶红外光谱仪FTIR提供了高光谱分辨率用以分析厚度高达200μm的厚膜。 没有光学器件运动(步进扫描分析器原理)为了获得测量结果，在数据采集过程中没有光学器件运动。步进扫描分析器(SSA)原理是SENresearch 4.0光谱椭偏仪的一个独特特性。 双补偿器2C全穆勒矩阵测量通过创新的双补偿器2C设计扩展了步进扫描分析器SSA原理，允许测量全穆勒矩阵。该设计是可现场升级和实现成本效益的附件。 SpectraRay/4综合椭偏仪软件SpectraRay/4 是用于先进材料分析的全功能软件包。SpectraRay/4 包括用于与引导图形用户界面进行研究的交互模式和用于常规应用的配方模式。 SENresearch 4.0 是SENTECH新的光谱椭偏仪。每一台SENresearch 4.0光谱椭偏仪都是根据客户具体配置的光谱范围、选项和现场可升级附件而制造的。 SENresearch 4.0 使用快速的傅立叶红外光谱仪FTIR测量至2500 nm或3500 nm的近红外光谱。它提供了宽的光谱范围，具有的信噪比，可选择的光谱分辨率。可测量硅薄膜厚度高达200μm。傅立叶红外光谱仪FTIR的测量速度与二极管阵列配置相比，也可选择高达1700纳米。 新的金字塔形状的自动角度计具有从20度到100度的角度范围。光学编码器确保精度和角度设置的长期稳定性。光谱椭偏仪手臂可以独立移动，用于散射测量和角度分辨透射测量。 SENresearch 4.0 根据步进扫描分析器(SSA)原理进行操作。SSA将强度测量与机械运动分离，从而允许分析更加粗糙的样品。所有光学部件在数据采集期间都处于静止状态。此外，SENresearch 4.0 包括用于自动扫描和同步应用的快速测量模式。 定制的SENresearch 4.0椭偏仪可以配置用于标准和高级应用。例如介电层堆叠、纹理表面、光学和结构(3D)各向异性样品。为各种各样的应用提供了预定义的配方。 SpectraRay/4 是SENresearch 4.0光谱椭偏仪的综合软件。它包括两种操作模式：配方模式和交互模式。配方模式允许轻松执行常规应用程序。交互式模式通过交互式图形用户界面引导通过椭偏测量。 SpectraRay/4 提供了光谱椭偏仪测量和分析的所有工具。

加拿大C-Therm公司的Trident导热仪，可采用Flex TPS配置，通过瞬态平面源的柔性双面传感器，给予测试灵活性。用户可自由设置测试时间和功率参数，测定固体、液体、粉末、胶体的导热系数、热扩散系数和比热，并配有专门测试薄板、薄膜以及各向异性材料的模块，适应ISO 22007-2:2015, GB/T 32064-2015标准。 除瞬态平面源TPS方法外，Trident还可另外选择搭载MTPS改良瞬态平面热源法和TLS探针法。 技术参数：可选测试方法： 瞬态平面源（Flex TPS）、改良瞬态平面热源法（MTPS）和探针法（TLS Needle）导热系数：0-2000 W/mK热扩散系数：0-1200 mm2/s比热：0-5 MJ/m3K吸热系数：0 - 40,000 Ws?/m2K精确度：优于5%重复性：优于1%测试时间：0.8 – 180秒测试材料种类：块状材料，复合材料，薄膜材料，薄板材料，各向异性材料 如想了解更多关于应用、参数和报价的信息，欢迎来电或留言咨询。

面内热导率测试系统 AU-TRSD103面内热导率测试系统 AU-TRSD103简介：面内热导率测试系统 AU-TRSD103 基于“泵浦-探测”原理，结合了频域热反射、空间域热反射、稳态温升法、方脉冲热源法的优点，具有强大的热物性综合测试能力，能够测量从薄膜到块体材料的热导率、比热容和界面热阻。系统自动化程度高，操作简便，特别利于大批量快速测量。&bull 可测参数多&bull 可测范围广&bull 测量精度高&bull 操作简便&bull 支持定制&bull 终身技术支持 面内热导率测试系统 AU-TRSD103基本原理：基于光学的交流量热法&bull 样品表面镀100 nm厚的金属膜做温度传感层；&bull 经调制的泵浦光周期性加热样品；&bull 探测光测量距离泵浦光不同位置处的温度响应的幅值与相位；&bull 由相位差信号和归一化幅值信号同时拟合样品面内热导率和光斑尺寸；&bull 热导率测量误差≤ 5%，光斑尺寸测量误差≤ 2%。100 nm Ti/silica：面内热导率测试系统 AU-TRSD103亮点1. 泵浦与探测光均采用连续激光，极大地降低了系统成本；2. 无需修正泵浦光的参考相位，使得操作更简单，测量更可靠；3. 采用平衡探测器，极大减小了低频噪音，加快了数据采集速度，完成一个样品的测量仅需≤ 2分钟；4. 独特的数据分析方法能同时拟合光斑尺寸，降低了光斑尺寸误差对测量结果的影响；5. 独特的数据分析方法使得测量信号仅对待测样品的面内热导率和比热容敏感，而无需准确知道金属传感层的参数或样品的纵向热导率，因此极大提高了测量精度；6. 可测的面内热导率范围不受限制；7. 采用微米级的光斑尺寸，因此可测径向尺寸为亚毫米级别的小尺寸样品。面内热导率测试系统 AU-TRSD103应用领域：①材料研究与开发②能源领域③电子器件研究…… 标配系统测量能力：1. 无需知道样品的纵向热导率，可独立测量样品的面内各向异性热导率张量，面内热导率测量范围0.5 &minus 5000 W/(mK)，测量误差≤ 5%；2. 无需知道样品的比热容，可独立测量样品的平均热导率，测量范围0.05 &minus 5000 W/(mK)，测量误差≤10%；3. 对各向同性样品，可同时测量其热导率与体积比热容，热导率测量范围0.05 &minus 5000 W/(mK)， 比热容测量范围0.1 &minus 10 MJ/(m³ K)，测量误差≤ 10%；4. 可测薄膜样品从100 nm到无限厚；5. 可测小尺寸样品，径向直径≥ 0.05 mm；6. 要求样品表面粗糙度≤ 15 nm。升级系统额外测量能力：7. 热导率和比热容的成像，分辨率达1 μm；8. 界面热阻测量 系统基本情况：1. 系统占光学桌面积60 cm X 60 cm，封装于黑匣中，防尘又安全。2. 自动化实验测量，全程软件操作，无需开箱进行复杂的手动调节。3. 双色泵浦-探测系统，标配的探测光波长为785 nm。4. 泵浦光调制频率的标配范围为DC-5 MHz，可升级到50 MHz或150 MHz。5. 采用平衡光电探测器提高信噪比，加快数据采集速度。6. 自动校准泵浦相位（仅频域热反射法需要）和探测光的噪音。7. ccd 显微成像系统清楚观察样品表面和光斑位置。 系统配置：电源需求：110/220 VAC, 50/60 Hz, 15 Amp激光波长：泵浦638 nm，探测785 nm（标配，可根据用户需求选配）激光功率：泵浦100 mW，探测20 mW（标配，可根据用户需求选配）调制频率范围：标配DC-5 kHz，可升级到5 MHz、50 MHz或200 MHz显微镜头：标配10x，对应激光光斑1/e² 直径约～15μm，可增配50x，20x，5x，2x镜头及自动切换模块样品聚焦：标配手动调节，可增配PID反馈调节自动聚焦 模块测温范围：标配室温，可增配80-500 K、300-1200 K、4-300 K等不同温区的变温模块热物性扫描：标配无，可选配，扫描范围200μm×200μm，步进分辨率1 nm显微成像：标配，可观察样品表面状况及激光光斑位置软件：全自动数据测量与分析处理、数据导出、报告生成 测量要求：首先要确定样品的金属传感层的金属材料在SDTR的探测光束的波长处有较高的热反射系数，对于常见的金属材料的热反射系数见下图(b)；同时还要考虑传感层的金属材料对SDTR泵浦光有较高的吸收系数(a)。图：常见金属材料对光的吸收系数(a)和热反射系数(b)对于SDTR的样品还要保证表面光滑均匀，这样不仅方便照射至样品的探测光束能更好地被反射至探测器中，还能使在SDTR同一次测试扫描的空间范围内不会因表面粗糙度的不均匀而带来较大的数据误差，至少保证在一次的SDTR测试的扫描空间范围内的粗糙度是均匀的；这也限制了样品的理论尺寸下限，该范围的大小跟聚焦在样品处的光斑大小相关，例如泵浦和探测光斑直径若为10μm，则该范围约为直径100μm的圆形区域，但为了方便样品的放置实际测试样品的大小可根据需求可更大，但不能小于该尺寸下限。 此外对于样品的金属传感层的热导率也有要求，如果金属传感层具有比样品层高很多的热导率，热量将在传播到样品之前就在金属层的面内热传导，而不是样品层。在这种情况下，相位对金属层面内热导率的敏感度会增加，而对样品层的面内热导率的敏感度将降低。所以不利于面内热导率的测量，会导致测量结果与实际的有较大的差异。如果要保证对样品的面内热导率较高的测量精度（或者较高的敏感性），则建议金属层的热导率不高于样品层的10倍，这限制了对于某一种金属作为传感层时能测得的样品层热导率下限，比如以Al膜(240W/(Km))作为传感层时测试样品的的热导率建议不低于24W/(Km)；如果要测试热导率低于该值的样品建议更换较低热导率的传感层，并且尽可能保证其他对于样品传感层的要求(例如较高的探测光波长热反射系数和泵浦光波长的吸收系数、粗糙度)。 应用案例： 光学交流量热法测量面内热导率可测热导率范围1~2000 W/(mK)，误差均小于5%以蓝宝石、单晶 硅为例：&bull 测得蓝宝石热导率为= 38 ± 1.49 W/(mK)，误差为3.9%&bull 测得单晶硅热导率为= 147 ± 4.88 W/(mK)，误差为3.3% 光学交流量热法测量面内各向异性热导率张量 面内各向异性材料以石英晶体为例：&bull 光学交流量热法不要求激光光斑有严格的圆度即能准确测量面内热导率张量，相较于文献中较新的光斑偏移频域热反射法(BO-FDTR)*测量更准确可靠。*L. Tang and C. Dames, Int. J. Heat Mass Transfer 164, 120600 (2021).关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学 、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

HREELS我们的精密倒视LEED光学具有所有特高压结构，不使用玻璃纤维或聚合物涂层线束。完整的型号和选项，包括低电流(nA, pA) MCP型号。所有光学采用4网格结构的AES兼容。精密结构与4栅格钨光学微型直径1.59厘米的电子枪103度可用视角0.5%能量分辨率可伸缩光学(标准2英寸和高达4英寸的缩回)安装法兰有完整的视口和电子馈线完全兼容特高压(不使用聚合物涂层或玻璃纤维绝缘电线)低噪音，高性能俄歇电子与集成锁定放大器MCP版本的pA和nA电流水平全范围的选择，包括低轮廓快门，CCD相机和软件，6英寸和8英寸外径法兰模型主要技术指标：能量分辨率0.7meV,角度分辨率0.08度 （当入射电子能量为7.4eV时，对应的动量分辨率约为0.002A-1）主要功能：高分辨电子能量损失谱（HREELS）可以测量电子的带边结构、声子和表面等离激元等准粒子及其各向异性特征，是探索表面低维体系中新原理、新性质的不可替代的重要方法。本实验室研制的HREELS谱仪将半球形电子能量分析器与新型单色电子源相结合，能够高效率的测得动量、能量二维的电子能量损失谱图。而且本仪器具备和角分辨光电子能谱仪的兼容性，可以同时给出电子能带与声子等准粒子分布的本征数据。新型HREELS谱仪是研究材料表面电子与晶格相互作用、低维纳米结构表面等离激元衰减特性等的强大工具。

HREELS我们的精密倒视LEED光学具有所有特高压结构，不使用玻璃纤维或聚合物涂层线束。完整的型号和选项，包括低电流(nA, pA) MCP型号。所有光学采用4网格结构的AES兼容。精密结构与4栅格钨光学微型直径1.59厘米的电子枪103度可用视角0.5%能量分辨率可伸缩光学(标准2英寸和高达4英寸的缩回)安装法兰有完整的视口和电子馈线完全兼容特高压(不使用聚合物涂层或玻璃纤维绝缘电线)低噪音，高性能俄歇电子与集成锁定放大器MCP版本的pA和nA电流水平全范围的选择，包括低轮廓快门，CCD相机和软件，6英寸和8英寸外径法兰模型主要技术指标：能量分辨率0.7meV,角度分辨率0.08度 （当入射电子能量为7.4eV时，对应的动量分辨率约为0.002A-1）主要功能：高分辨电子能量损失谱（HREELS）可以测量电子的带边结构、声子和表面等离激元等准粒子及其各向异性特征，是探索表面低维体系中新原理、新性质的不可替代的重要方法。本实验室研制的HREELS谱仪将半球形电子能量分析器与新型单色电子源相结合，能够高效率的测得动量、能量二维的电子能量损失谱图。而且本仪器具备和角分辨光电子能谱仪的兼容性，可以同时给出电子能带与声子等准粒子分布的本征数据。新型HREELS谱仪是研究材料表面电子与晶格相互作用、低维纳米结构表面等离激元衰减特性等的强大工具。

EddyCus® TF 系列 (thin-film) 是非接触式的实时测量薄膜电阻的检测设备，它利用非接触式涡旋电流检测技术。该系统也可用于表征薄膜，玻璃内部的导电层，晶圆以及金属箔片。此产品应用如下:薄膜电阻测量: 0,1 mOhm/sq to 3.000 Ohm/sq金属膜厚度测量: 5 nm to 500 microns电导率扫描绘图: 1% IACS (0,6 MS/m)URAGUS 2525 方阻测试仪 薄膜电阻和厚度测试仪TF lab系列产品是一款适合实验室研发或成品检测使用的薄膜面电阻（方块电阻）及薄膜厚度测量的仪器。特点非接触成像 高解析度成像（25 至1,000,000 点）缺陷成像封装层的地图参数 薄膜电阻（欧姆/平方）金属层厚度（nm、μm）金属基板厚度（nm、μm）各向异性 缺陷完整性评定应用建筑玻璃（LowE）触摸屏和平板显示器OLED和LED应用智能玻璃的应用透明防静电铝箔 光伏半导体除冰和加热应用电池和燃料电池包装材料 材料金属薄膜和栅格导电氧化物 纳米线膜石墨烯、CNT（碳纳米管）、石墨打印薄膜导电聚合物（PEDOT:PSS）其他导电薄膜及材料规格参数测量技术：非接触式涡流传感器基板：例如：薄膜、玻璃、晶圆，等等 最大扫描面积：10 inch / 254 x 254 mm（根据要求可以更大）边缘效应修正/排除：对于标准尺寸，排除2 mm的边缘最大样品厚度/传感器间隙：2 / 5 / 10 / 25 mm（由最厚的样本确定）薄膜电阻的范围：低 0.0001 - 10 Ohm / sq 2 至 8 % 精度标准 1 - 1,000 Ohm / sq 2 至 8 % 精度高 10 - 10,000 Ohm / sq 4 至 8 % 精度金属膜的厚度测量（例如：铝、铜）：2 nm - 2 mm (与薄膜电阻一致)扫描间距：1 / 2 / 5 / 10 mm （根据要求的其它尺寸）每单位时间内测量点（二次形）：5分钟内10,000个测量点30分钟内1,000,000 个测量点扫描时间：4 inch / 100 x 100 mm，在0.5至5分钟内（1-10mm 间距）8 inch / 200 x 200 mm，在1.5至15分钟内（1-10mm 间距） 装置尺寸（宽/厚/深）：549 x 236 x 786(836) mm / 23.6 x 9.05 x 31.5 inch重量： 27 kg可用特色：薄膜电阻成像各向异性电阻传感器

介绍：MP-V 导热系数测量平台，可准确测量固体、液体、膏状物和粉末的热导率、热扩散率、比热和热逸散。平台由四种方法组合而成，包括瞬态平面热源法（TPS，ISO 22007-2，ISO 22007-7/ GB/T 32064），瞬态热丝法（THW，ASTM D7896-19），改良式瞬态平面热源法（MTPS，ISO22007-7）和瞬态热线法-探针式（TLS，ASTM D5334-22a，D5930, IEEE-442）。特点：瞬态方法在理论上有相似之处，但在主要设计上具有特定的差异。传感器与电源和感应电路电连接，电流通过传感器，使温度升高并随时间记录变化。产生的热量根据材料热传输特性的速率扩散到样品中。iTransient智慧化检测流程，实现测试和分析的自动化。原始数据可永久保留，以利于結果的确认及分析。只需将样品命名，一键启动后，iTransient会完成测试及数据分析的工作。方法：MP-V 可用于测试导热系数、热扩散系数、比热和热逸散系数，其主要的测试方法包括瞬态平面热源法(TPS) 和瞬态热丝法(THW)，分别符合ISO以及ASTM国际标准测试法，也专为个别主要的应用设计而成。不论哪种测试方法，皆为 ”绝对测试法”，因此测试结果是根据原始数据计算，不需校准以及介质，方可直接进行测试。瞬态平面热源法 (TPS, ISO 22007-2, ISO 22007-7 / GB/T 32064)TPS（双螺旋）传感器放置在两块相同材质与尺寸的样品之间（如图1所示）。此方法中，样品假定为半无限体，Thermtest独家 iTPS 功能可协助判定测试所需时间与功率 (MP-V可选的测试时间范围为2 至 160 秒)。此外， 多样的传感器尺寸可供选择，以灵活应变不同的样品尺寸。其他可选的测试模组包括各向异性、薄膜和比热。瞬态热丝法 (THW, ASTM D7896-19)THW传测器插入液体样品置具中（如图2所示）。小直径的传测器线丝和短测试时间，可有效减少对流的影响，且提升准确度。因此，THW方法被公认且广泛被用于液体测试。改良式瞬态平面热源法 (MTPS, ISO 22007-7)MTPS 传测器（如图3所示）遵循与 TPS 相同的工作原理。此传测器配置用于非对称（单面）测试，非常适合只有单件样品可用或者不易分割之大件样品的情况。测试模组包括块体、各向异性、板材和一维，以用于不同表征的材料。瞬态热线法-探针式 (TLS, ASTM D5334-22a, D5930, IEEE-442)TLS传测器（如图4所示）由细电热丝和温度感测器所组成。测试时，只需将传测器完全没入待测样品中。 图1 图2 图3 图4方法瞬态平面热源（TPS）瞬态热丝法（THW）材料固体、膏状物和粉末液体方向3D / 1D: 各向异性、板材、薄膜整体热导率 (W/m&bull K)0.01 ～ 500 W/m&bull K0.01～2 W/mK样品尺寸*10 x 10 mm ～无上限20 mL样品厚度*0.05 mm ～无上限N/A其他属性热扩散率 | 比热 | 热逸散(蓄热系数)率热扩散率 | 比热温度范围-75～300℃-50～100℃准确率优于5%优于2%可重复性优于1%优于1%标准ISO 22007-2, ISO 22007-7/ GB/T 32064ASTM D7896-19方法改良式瞬态平面热源法（MTPS）瞬态热线法（TLS）材料固体、膏状物和粉末土壤和高分子聚合物方向3D / 1D: 各向异性、板材、薄膜整体热导率 (W/m&bull K)0.03 ～ 500 W/m&bull K0.1～8 W/mK样品尺寸*25 x 25 mm ～无上限50mm～无上限样品厚度*0.1 mm ～无上限100mm～无上限其他属性热扩散率| 比热 | 热逸散(蓄热系数)率N/A温度范围-50～200℃-40～100℃准确率优于5%优于5%可重复性优于2%优于2%标准ISO 22007-7ASTM D5334-22a, D5930, IEEE-442

磁光克尔效应测量系统JMTS-816磁光克尔效应测量系统产品概述：磁光克尔效应装置是一种基于磁光效应原理设计的超高灵敏度磁强计，是研究磁性薄膜、磁性微结构的理想测量工具。旋转磁光克尔效应（RotMOKE）是在磁光克尔效应测量基础上的一种类似于转矩测量各向异性的实验方法，可以定量的得到样品的磁各向异性的值。但由于电磁铁磁场大小的限制，只适合于测量磁各向异性的易轴在膜面内而且矫顽场不太大的磁性薄膜材料。结合源表可以进行样品的磁输运性能测量。RotMOKE具有以下特点：测量精度高、测量时间短；非接触式测量，是一种无损测量；测量范围为一个点，可以测量同一样品不同部位的磁化情况；可以产生平滑、稳定的受控磁场，并且磁场平滑过零。应用领域：广泛应用于诸如磁性纳米技术、自旋电子学、磁性薄膜、磁性随机存储器、GMR/TMR等磁学领域。可测试材料：记录磁头，磁性薄膜，特殊磁介质，磁场传感器 磁光克尔效应测量系统产品特点：1测量灵敏度高，稳定性好，噪音低2非接触式测量，是一种无损测量3可以测量同一样品厚度不等的楔形磁性薄膜4可以将样品放到真空中原位测量5可以测量同一样品不同部位的磁化情况6纵向、横向和极向克尔效应测试7三百六十度电动旋转样品，可测试样品各向异性8手动左右和上下位移样品，可测试样品表面不同点的克尔效应9样品座有电接口，可加入磁电耦合测试。磁光克尔效应测量系统技术指标:1 样品尺寸：大Φ10mm的圆 2 克尔角分辨率（δ）：0.001度；3椭偏率分辨率（ε）：0.1%；4小光斑（Φ）：10微米；5 大磁场：单维0.26特斯拉；6 样品电动角度步进0.1度，手动位移步进10微米；7噪音：1%。磁光克尔效应测量系统技术参数：1光学平台： 刚性隔震，不锈钢贴面，1200*800*800mm，M6螺孔，25mm阵距，150mm台板厚度，带脚轮。台面平整度0.1/1000mm，平台载荷300Kg，固有频率≤2.5Hz，阻尼比0.12~0.13R/S。2矢量电磁铁：锦正茂二维矢量电磁铁，每维大磁场0.26T，极面直径30mm，磁场间隙40mm，中心10mm正方体内均匀区1%。3电磁铁电源：锦正茂单相双极性恒流，大10A，小分辨率0.1mA，稳定性50ppm/h，对应小分辨率0.1Gauss。 4激光器： Newport 632.8nm，2mW，2%稳定度，噪音1% rms（30Hz~10MHz），通过聚焦透镜光斑小为10μm的圆。5起偏/检偏器：格兰-汤普森棱镜，外径25.4mm，通光孔径10mm，消光比5*10^-5，角度范围14~16°，波长范围350~2300nm。6聚焦透镜：K9双凸，设计波长633nm，外径25.4mm，焦距150mm，焦距误差±0.5%，面精度X方向λ/4，Y方向λ/2。7四分之一波片：?25.4mm，波长632.8nm，投射波前畸变λ/8，相位延迟精度λ/100。8光电传感器：15mm2感应面积，0.21A/W响应度，暗电流1nA，对430~900nm波长光敏感，分流电阻200Mohm。9电流放大器：1pA/V大增益，1MHz带宽，大输入±5mA，大输出±5V，增益精度为输出的±0.05% 10高精度电压表：六位半，小分辨率0.1μV，90天准确度达到0.002%，四位半精度下最快2000 readings/second11手动位移和电动旋转样品杆： XYZ三维位移，XY行程25mm，Z行程13mm，转动360度，样品座为直径11mm的圆，上有电接头。12计算机： 联想商用，集成多串口卡。

Minilock-Phantom III具有预真空室的反应离子刻蚀机可适用于单个基片或带承片盘的基片(3”- 300mm尺寸)，为实验室和试制线生产环境提供最先进的刻蚀能力。它也具有多尺寸批处理功能(4x3” 3x4” 7x2”)。系统有多达七种工艺气体可以用于刻蚀各种薄膜，如氧化硅、氮化硅、多晶硅、铝、砷化镓、铬、铜、磷化铟和钛。该反应室还可以用于去除光刻胶和有机材料。可选配静电吸盘(E-chuck)，以便更有效地在刻蚀工艺中让基片保持冷却。该E-chuck使用氦压力控制器，及在基片背面保持一个氦冷却层，从而达到控制基片温度的作用。该设备可选配一个电感耦合等离子(ICP)源，其使得用户可以创建高密度等离子，从而提高刻蚀速率和各向异性等刻蚀性能。基片通过预真空室装入。其避免与工艺室以及任意残余刻蚀副产品接触，从而提高了用户安全性。预真空室还使得工艺室始终保持在真空下，从而隔绝外部湿气，防止反应室内可能发生的腐蚀。

1. 产品概述RIE-10NR是一种新型的低成本、高性能的全自动反应离子蚀刻系统，它能满足非腐蚀性气体化学苛刻的工艺要求。计算机化的触摸屏为参数控制和存储提供了一个用户友好的界面。该系统可实现精确的侧壁轮廓控制和材料间的高蚀刻选择性。RIE-10NR具有时尚、紧凑的设计，需要小的洁净室空间。2. 设备用途/原理Si、SiO2、SiN、Poly-Si、GaAs、Mo、Pt、Polyimide等各种材料的蚀刻。故障分析中的选择性层蚀刻。光阻剂的灰化、剥离和除尘。表面改性（润湿性和附着力的改善）。3. 设备特点大加工范围：ø 220 mm (ø 3" x 5, ø 4" x 3, ø 8" x 1)。高选择性各向异性蚀刻满足苛刻的工艺要求。全自动 "一键式 "操作，可完全手动操作。计算机触摸屏为参数控制和存储提供了一个用户友好的界面。自动压力控制，可精确控制工艺压力，不受气体流量影响。干式泵和系统布局便于维护。可靠和耐用的系统，全球安装了400多个系统。

可变角度光散射仪（广角动/静态光散射仪）用于颗粒表征。LS Spectrometer是一种可变多角度光散射仪器（V-MALS）。在LS Spectrometer中，检测器安装在可移动的臂上，可以对几乎任何角度进行精确调整，从而提高测量灵敏度。LS Spectrometer结合专利的调制三维技术（Modulated 3D）（无稀释测量）和CORENN（改进的聚集检测），实现了市场上全面的纳米颗粒表征。- 它能测量什么？&bull 颗粒大小&bull 多分散性&bull 颗粒形状&bull 粘度&bull 分子量&bull 样品结构- 可变多角度光散射（V-MALS）与带有固定角度传感器的多角度光散射（MALS）仪器不同，LS Spectrometer的检测器安装在样品池周围的旋转臂上，因此可以精确可变地调整到10°至150°之间的任何选定散射角。这有助于显著提高颗粒大小、聚集检测、第二维里系数、颗粒形状或分子量等参数测量的灵敏度。 - 无稀释样品测量-调制三维技术（Modulated 3D）DLS和SLS技术都是基于仅检测到单次散射光的假设。然而，随着颗粒浓度的增加，多重散射增加并逐渐主导信号。这在DLS和SLS中都引入了无法检测的系统误差。无论重复测量多长时间或多少次，都无法消除或检测到此错误。为了克服这个问题，LS Instruments开发了可选的调制三维技术，可以有效抑制多重散射。调制三维互相关技术使用两个激光束同时进行两个散射实验，虽然单次散射的贡献是相同的，但在两个实验中多重散射的贡献不同。通过对信号进行互相关，从而抑制了多重散射。三维 LS Spectrometer是一款同时为DLS和SLS提供该技术的仪器。- 算法用于改进复杂样品中的聚集和颗粒检测CORENN算法是一种新的机器学习算法，用于从DLS测量中提取粒度分布（PSD）。CORENN是一种利用先进的信号近似技术和对信号噪声的独特理论估计的DLS反演算法，可以得到极其可靠的结果。这种稳健的方法使最终用户能够从真实的DLS实验中获得真实的粒度分布（PSD）。下图显示了4nm和45nm的颗粒混合物的DLS测量结果，只有CORENN算法能够准确得到这两个分布。- 用去偏振动态光散射（Depolarized DLS）表征各向异性粒子这是一种可以轻松地表征各向异性粒子的技术，并越来越受到科学家的关注：一组两个偏振器可以通过简单的DLS测量来表征样品的旋转动力学和各向异性粒子的纵横比。- 温度控制我们强大的温度循环器使您能够精确控制样品中的温度。与其他循环器相比，它显著减少了加热和冷却时间。它可以通过LsLab软件进行预编程，以实现不同温度下的一系列测量。- 样品转角仪许多适用于光散射的凝胶状样品显示出非遍历（non-ergodic）行为，从而导致测量误差。LS Instruments公司开发了一种样品转角仪，可以用适当的速度旋转非遍历样品，以获得正确的结果。此外，样品转角仪也可用于使样品偏离旋转中心，从而能够使用方形样品池，样品中散射光的光程可以减少到小于200微米，这显著减少了多重散射。

加拿大C-Therm的创新传感器技术赢得过Manning Innovation Awards和R&D100创新奖，为全球诸多国际知名企业、科研机构和院校所采用。 C-Therm推出的Trident热导率测量仪，可广泛应用于石油、化工、航空航天、建材、汽车等领域的研究中。Trident主机可选配三种测试方法，用于测试不同材料（绝热材料、聚合物、复合材料、热界面材料等等）在不同状态（固体、液体、粉末、膏体）、不同性质（各向同性与各向异性）以及不同温度范围下的导热系数、吸热系数、热扩散系数以及比热等热物性参数。 MTPS改良瞬态平面热源法 导热系数范围：0 ~ 500 W/mK 热扩散系数范围：0 ~ 300 mm2/s 比热范围：up to 5 MJ/m3K 吸热系数范围：5 ~ 40,000 Ws1/2/m2K 国际标准：ASTM D7984测试材料种类：绝热材料（包括气凝胶等），聚合物，复合材料，热界面材料TIM，热电材料，相变材料PCM，传热流体，粉末材料，含能材料，膏体 Flex TPS瞬态平面热源法 导热系数范围：0 ~ 2000 W/mK 热扩散系数范围：0 ~ 1200 mm2/s比热范围：up to 5 MJ/m3K国际标准：ISO 22007-2.2, GB/T 32064 测试材料种类：块状材料，复合材料，薄膜材料，薄板材料，各向异性材料 Needle TLS探针法导热系数范围：0.1 ~ 6 W/mK国际标准：ASTM D5334, D5930, IEEE 442测试材料种类： 颗粒材料，粉末，熔融高分子，泥浆，凝胶，胶体和土壤等 如想了解更多关于应用、参数和报价的信息，欢迎来电或留言咨询。