关系效应研究

霍尔效应测试系统 HET 是依据范德堡法测量材料的电运输性能参数:载流子浓度迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括 Si、ZnO、SiGe、Sic，GaAs，InGaAs，InP，GaN(N型&P型均可测量)，广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。产品特点-采用高精密度恒流源和电压表，确保仪器测试的良好准确度和高稳定性，性能优越 -自动控制磁场方向的改变，更加便捷准确 -样品装夹快速方便，且使用能够解决欧姆接触的样品芯片 -产品采用一体化、精密化设计，融入人性化的设计理念，不仅测量精确而且操作方便 -用户界面操作简单，功能齐全的软件平台带给客户友好的操作体验，使测试过程更加方便快捷应用功能-载流子类型鉴定:通过测量霍尔系数，可以确定电流携带者的类型，是正电荷的空穴还是负电荷的电子，从而获得半导体或导体的电子结构和能带特性 -载流子浓度测量:霍尔系数与载流子浓度之间存在关系，因此通过测量霍尔系数，可以估计材料中载流子的浓度 -迁移率评估:霍尔系数还可以用来计算载流子的迁移率，即电荷载流子在材料中移动的能力，从而对材料的电导率和电子迁移性等方面的深入研究 -材料电性能评估:通过了解材料的电子结构、载流子类型、浓度和迁移率等信息，可以更全面地评估材料的电性能，为电子器件和电路设计提供重要参考

亚历山大效应光谱高温仪可精确测量1000K到100,000 K的高温到超高温,同时可为研发需要测定辐射体的发射光谱，是迄今为止唯一可以直接测量4000 K以上高温的仪器．一、原理简介　　亚历山大宝石效应可被分为四种类型。类型一:变色与黑体温度变化相应，在不同的光源下，色彩与温度变化。类型二:亚历山大宝石效应与两种光源的谱差种类相应。类型三:亚历山大宝石效应与色彩温度的变化及谱差种类均相应。类型四:亚历山大宝石效应与白炽光和荧光之间极大的色彩温度差相应。　　用亚历山大宝石效应方法来测量温度是以类型一亚历山大宝石效应的CIELAB色彩空间中温度与色彩角的关系为基础的。图1显示了在CIELAB色彩空间 中亚历山大宝石晶体沿a晶轴的色彩角与温度之间的关系。合成亚历山大宝石晶体的色彩角大约在温度是2856 K时为335度，红紫色；而在温度6500 K时为162度，蓝绿色。2856K与6500 K时的色彩角度差大约为173度。 温度和色彩角之间的关系可用数学方法来测定。温度是色彩角的函数：这里，h是CIELAB色彩空间的色彩角。 　　当辐射体的辐射光线穿过晶体时，晶体色彩会随着辐射体温度变化而变化。亚历山大宝石效应的色彩角只取决于辐射体的温度，而与该辐射体的光谱功率分布无关。这个特性是利用亚历山大效应测量任何辐射体温度的基础。因此可以准确测量任何辐射体的温度，不管该辐射体的光谱功率分布是何种类型。 二、系统构成　　系统由光学观测系统或光探针，频谱仪、计算机及带有数字亚历山大宝石效应滤波器的温度测量软件构成。 图2 系统构成LASP spectropyrometer软件: 图3:LASP spectropyrometer屏幕界面1. 光谱显示：被测波长范围380 -760 nm辐射体的相对光谱功率分布。相对光谱功率分布的标准值为波长560nm时100。2. 温度显示：显示被测辐射体的温度。3. 积分时间：进行每次测量的时间，单位为ms。　4. 采样平均：每次测量的采样平均数。5. 最大信号：在波长范围中测量到的最大信号。注意：最大信号不应超过3000。最大信号超过3000会引起信号饱和。6. 光谱校正：输入校正值校正光谱。7. 光谱校正指令：将输入的校正值应用于相对光谱功率分布。8. 温度监测：监测被测辐射体的温度，不显示辐射体的相对光谱功率分布。9. 温度测量：测量被测辐射体的温度，带有相对光谱功率分布。10. 温标选择：在开氏、摄氏及华氏温度之间选择温标。三、应用领域　　1.测量等离子枪温度2.测量电弧及放电超高温度3.测量铝合金中化学元素浓度温度及激光光谱4.为多晶硅设备的温控提供支持5.优化高性能内燃机的混合燃料比例、温度及排放6.测定合金炉的光谱并对其温度进行调控7.对炼钢炉的碳浓度进行控制四、规格LASP 0260 800 - 1200 KLASP 1260 1000 - 2500 KLASP 2260 1800 - 5000 KLASP 3260 3000 - 10000 KLASP 4260 5000 - 50000 KLASP 5260 10000 - 100000 K探测器种类:1. 光学观测系统2. 积分球3. 准直透镜4. 电准直仪光谱波长范围：380 - 760 nm温度测量精度：黑体及灰体: 0.5%非灰体（光谱校正后）: 1.0%温度分辨率: 1 K光谱分辨率: 1 nm温标：开氏温度，摄氏温度及华氏温度

仪器组成： 多功能数字多道、放射源模拟器、相对论效应平台 用户自备电脑一台(Win7以上 64位系统)相对论效应实验: 测量快速电子的动能和动量； 验证快速电子的动量与动能的关系符合相对论效应。相对论平台： 模拟磁场环境、模拟探测器和可移动的模拟放射源放射源移动结构参数： 1)数字式闭环步进驱动器 2)精密滚珠丝杆滑台 3)行程：300mm 4)重复定位精度：0.01mm 5)分辨率：0.02mm 6)扭矩：2N.M

霍尔效应测试仪主要用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、导电类型等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试仪是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。ECOPIA公司的HMS系列霍尔效应测量系统主要由恒电流源、范德堡法则终端转换器、低温(77K)测量系统及磁场强度输入系统组成，拥有研究半导体材料霍尔效应所有的部件和配置，是一套非常成熟的仪器系统。同时HMS系列仪器获得多项霍尔效应测量系统、测量方法的专利，代表了霍尔效应测量的全球品质及合理的产品价格，并为全球客户所认可。该产品2004年7月通过CE认证。产品特点：1、 可靠的精度及重现性恒电流源(1nA~20mA)采用六级电流范围设置，将可以接收的误差降到最低；范德堡法则转换使用非接触装置有效降低仪器噪声；软硬件有针对性的设计，确保每个实验数据均为多次测试的平均值，使仪器拥有非常好的数据重现性。2、 产品小型化及操作简单化小尺寸的磁场强度输入系统使用永磁体和液氮低温测量系统(77K)，确保仪器操作非常简单；两种不同尺寸的传统样品板(20*20mm、6*6mm)及带弹簧夹片的样品板(SPCB)，使得不同尺寸不同材料的薄膜样品更容易测量，区别于传统样品板的弹簧夹片样品板使得霍尔电极制作更方便且对样品损伤更小。3、 I-V曲线及I-R曲线测量采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压及电流-电阻关系，并以此评判样品的欧姆接触好坏、了解样品的基本的电学特性。4、 多样的实验结果实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)、电阻的纵横比率(Vertical/Horizontal ratio of resistance)等等。产品组成：主机(精密恒电流源+范德堡法则终端转换器) / 磁体包(包括样品板) / 软件等。[HMS-3000软件界面一][HMS-3000软件界面二(I-V和I-R曲线测量)]产品规格：1、 主要仪器参数 输入电流：1nA ~ 20mA；电阻率：10exp(-5) ~ 10exp7 Ω.cm；载流子浓度：10exp7 ~ 10exp21 cm-3；迁移率：1 ~ 10exp7 cm2/Volt.sec；磁场强度：0.37T, 0.55T, 1T, 0.25~1T变场磁体；样品测量板：PCB样品板，SPCB弹簧样品板，晶圆样品板等；样品尺寸：5mmX5mm ~ 20mmX20mm (可选配30mm或2inch大样品板)；测量温度：常温，77K液氮浴；2、 软件操作环境 XP / Win7 / Win8 / Win10环境下3、 实验结果体载流子浓度、表面载流子浓度；迁移率 霍尔系数；电阻率,方块电阻；磁致电阻；电阻的纵横比率；4、 仪器尺寸和重量主机尺寸：360×300×105 mm (W×H×D) 磁体Kit尺寸：200×120×110 mm (W×H×D)；净重：7.7千克；5、 测量材料Si, SiGe, SiC, ZnO, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO等所有半导体薄膜(P型和N型)；参考用户：HMS-3000霍尔效应仪国内科研用户超过了100台。清华大学、北京大学、复旦大学、上海交大、中国科大、浙江大学、哈工大、电子科大、西北工大、湖南大学、中南大学、上海大学、中科院物理所、半导体所、长春光机所、兰州化物所、上海技物所、苏州纳米所...

霍尔效应实验，YMP-6106B 简介置于磁场中的载流体，如果电流方向与磁场垂直，则在垂直于电流和磁场的方向会产生一附加的横向电场，这个现象被称为霍尔效应。YMP-6106B型霍尔效应实验采用一个长方体状半导体样品放置于均匀电磁场中，在这个矩形样品中横向通以电流，那么因为霍尔效应而在这个样品的垂直于电流和磁场的方向上产生一个一定大小的电势差，即为霍尔电压。特点基于光学轨道结构，霍尔探头在磁场中的位置二维可调换向开关改变霍尔电流和磁场方向，用“对称测量法”消除附加不等位电势的影响可升级为数字化实验实验内容了解霍尔效应实验原理以及有关霍尔器件对材料要求的知识学习用“对称测量法”消除副效应的影响，测量试样的UH - IS和UH - IM曲线确定试样的导电类型、载流子浓度以及迁移率能量在电磁场中传输特性实验，YGP-6201 简介YGP-6201型实验装置采用磁耦合谐振式原理，传输效率优于感应式磁场耦合传输，并且电能传输不受空间非磁性障碍物的影响。本实验装置设计有一对谐振线圈，通过高频交流电源给一个线圈通电作为发射线圈，产生磁场能量。另外一个线圈作为接收线圈，接收后转化为电能输出，最后驱动风扇或者LED灯。本实验可以改变两个线圈距离，线圈相对角度，负载电阻和传输介质等，来研究影响传输效率的因素。特点丰富的测试模块，可基于光学轨道灵活安装功能强大的一体化实验电源，涵盖实验所需的全部输入输出信号轻便美观的谐振线圈，可90o左右旋转风扇与LED双重演示，能量传输效果直观明显可升级为数字化实验实验内容两线圈互感系数及耦合系数的实验近似测定输出功率、传输效率与负载电阻关系测定输出功率、传输效率与线圈距离关系测定输出功率、传输效率与线圈相对角度关系测定输出功率、传输效率与不同介质中电源频率关系测定演示不同负载下的传输效率电学综合实验，YGP-6204简介电学综合实验是供高校物理实验室进行电学元件伏安特性测量、光电元件特性测量，电桥原理及应用、RLC 电路原理及应用、集成放大器原理及其应用等实验而设计的开放式教学实验仪器。该仪器配套有工作电源、数字电压传感器、数字电流传感器、数字微电流传感器、光传感器、温度传感器、各种待测元件、各种控制电路元件等。以上系列设计性、综合性、开放性实验的开设，不仅可以让学生深入了解经典的电学现象和原理，还可以了解目前主流的电子信息技术和产品，深入理解其工作原理和产品特性，使学生可以接触到电子信息技术领域的前沿的科技，并对其未来的发展空间产生想象和兴趣。特点独立模块设计，积木式拼搭组合，充分调动学生的动手能力模块底部采用可视化透明材料，方便观察元器件模块采用可拆卸结构，方便更换元器件配置无线电压传感器、无线电流传感器、无线微电流传感器和数据分析软件传感器采样频率最高可达1KHz，每组数据的采集量可达到100000组以上；采样精度达到0.5%，数字化采集实验数据并实时分析，使得物理定律显而易见实验内容1、电学元件伏安特性的测量；2、光敏元件的应用；3、热敏元件的应用；4、电表的改装与校准；5、单臂电桥原理及应用；6、双臂电桥原理及应用；7、非平衡电桥原理及应用；8、RLC 电路的暂态过程研究；9、RLC电路的谐振特性研究；10、整流、滤波及稳压电路；11、集成放大器及其应用；12、应用电路实验。RLC电路实验，YGP-6207简介YGP-6207 RLC电路实验包括RLC电路的暂态过程研究、RLC谐振电路特性研究等内容。学习的知识点有RL、RC、RLC电路中电流、电压的暂态过程特征，指数衰减时间常数定义和测量方法，衰减振荡周期和时间常数定义和测量方法，RC微分电路的用法和参数选择，RC积分电路的用法和参数选择以及RLC电路稳态、谐振、幅频特性、相频特性、高通电路、低通电路、上限频率、下限频率、截止频率、通频带宽度、谐振频率、电感性、电容性、品质因数、选频、共地、电压谐振、电流谐振、相位差的测量等。本实验装置可实现RLC电路实验的分层次教学，完成其中的基础内容、提升内容、进阶内容以及高阶内容。特点独立模块设计，积木式拼搭组合，充分调动学生的动手能力模块底部采用可视化透明材料，方便观察元器件模块采用可拆卸结构，方便更换元器件使用电压传感器测量时间常数非常容易二极管伏安特性曲线使用软件的曲线拟合功能很容易验证曲线是否呈指数实验内容观测RC、RL、RLC串联电路的幅频/相频特性以及品质因数Q观察RC、RL串联电路的暂态过程，测量其指数衰减时间常数观测不同Q值下RLC串联电路的幅频特性测试；RLC并联电路的幅频/相频特性测试；设计RC低通滤波电路和高通滤波电路观察RLC串联电路的暂态过程及其阻尼振荡规律设计二阶RC滤波电路研究RLC并联电路的暂态行为、设计积分或微分电路等设计整流滤波电路、LC三阶低通滤波电路、无阻尼振荡电路等对电路暂态过程进行计算机显示等直流电桥实验，YGP-6209简介YGP-6209直流电桥实验学习的知识点有直流电桥测电阻，交换（换臂）法，倍率选取、电桥灵敏度测量，电阻率测量等。该实验装置可完成直流电桥实验的基础内容、提升内容、进阶内容以及高阶内容，实现分层次教学。特点独立模块设计，积木式拼搭组合，充分调动学生的动手能力模块底部采用可视化透明材料，方便观察元器件模块采用可拆卸结构，方便更换元器件采用微电流传感器替代传统检流计，实现分层次教学实验内容自组电桥，选择合适的倍率、测量不同未知(中值）电阻的阻值，测出电桥的灵敏度考虑电桥比率臂阻值、检流计灵敏度对整个电桥灵敏度及测量精度的影响，计算未知电阻的不确定度，写出结果表达式搭建双臂直流电桥，依据双臂电桥原理及测量方法，测量金属棒的阻值；测量其长度、直径，计算金属棒的电阻率结合工程技术，研究直流电桥的应用，如：温控、光控电路等结合现代科学技术，利用传感器、数据采集、虚拟技术等，将电桥电压采集到计算机中，在软件方面设计应用更多精彩，请关注下方！

游泳行为是鱼类最基本的生命活动, 是其逃避敌害、猎食、迁徙、求偶和躲避灾害环境的重要手段。衡量鱼类运动能力的一项重要指标是临界游泳速度Ucrit，它与鱼类的生存和捕食成功概率有密切关系。鱼类游泳能力研究系统广泛用于Ucrit测试、游泳行为、强迫运动、鱼游运动等方面的研究。 功能特点 l 一站式方案，包括游泳室和自动化水流速度控制、校准的所有软硬件；l 不同的规格（Mini、大型及超大型）的游泳室能够满足重量1g - 15kg的鱼类的研究要求；l 水流速度的调节范围可达0.7 - 200 cm/s；l 水流速度的控制计算机化的，达到实验要求的准确性。 技术参数 系统包含游泳室、控制软件AutoSwim，可选配流速校准模块。u 游泳室：游泳室可根据鱼的重量、体积选择不同型号的游泳室，具体配置如下，其中SW10000、SW10030属于Mini游泳室，SW10050-SW10200属于大型游泳室，SW10250、SW10300属于超大型游泳室。 u 控制软件AutoSwim：用于自动控制游泳室的水流速度——只需要1部电脑即可同时控制多达7个游戏室。该系统能够实现水流速度的校准、转换、校正和控制，单位和方式任选（如以BL/sec为单位的游泳速度），可对Solid Blocking效应（鱼等水生动物自身阻碍水流引起的水流速度变化）进行校正，并且能够创建自动化的用户自定义程序。 u 流速校准模块（选配）根据游泳室的类型，流速测量模块分成两种：Mini游泳室选用DPTV流量跟踪系统，通过视频跟踪加入到流动水体里、激光照射下的绿色荧光微球体来测量水流速度；大型及超大型呼吸室选用手持式流速计，包括主机和探头，量程为0.01 - 3 m/s。 应用案例：1. 著名的卡罗琳学院的神经科学系在2018年PANS杂志上发表了题为《Adult spinal motoneurons change their neurotransmitter phenotype to control locomotion》的文章，文中使用了5L的游泳室测量了成年斑马鱼的临界游泳速度Ucrit，并利用该系统对其进行游泳训练，用以研究脊髓运动神经元如何通过改变神经元递质表型控制运动。 2. 美国国家海洋和大气局（NOAA）西南渔业科学中心的Bjorkstedt为研究海洋酸化和低氧对于幼年岩鱼的游泳能力的影响，使用了90L的游泳室（呼吸室体积70×20×20cm）及流速测量模块。该研究将测量得到的临界游泳速度Ucrit当做综合衡量游泳速度和耐力的指标。为了比较不同体长的鱼的相对游泳能力，使用了BL/sec当作Ucrit的单位。

霍尔效应测试仪主要用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、导电类型等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试仪是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。ECOPIA公司的HMS系列霍尔效应测量系统主要由恒电流源、范德堡法则终端转换器、低温(77K)测量系统及磁场强度输入系统组成，拥有研究半导体材料霍尔效应所有的部件和配置，是一套非常成熟的仪器系统。同时HMS系列仪器获得多项霍尔效应测量系统、测量方法的专利，代表了霍尔效应测量的全球品质及合理的产品价格，并为全球客户所认可。该产品2004年7月通过CE认证。产品特点：1、 可靠的精度及重现性恒电流源(1nA~20mA)采用六级电流范围设置，将可以接收的误差降到最低；范德堡法则转换使用非接触装置有效降低仪器噪声；软硬件有针对性的设计，确保每个实验数据均为多次测试的平均值，使仪器拥有非常好的数据重现性。2、 产品小型化及操作简单化小尺寸的磁场强度输入系统使用永磁体和液氮低温测量系统(77K)，确保仪器操作非常简单；两种不同尺寸的传统样品板(20*20mm、6*6mm)及带弹簧夹片的样品板(SPCB)，使得不同尺寸不同材料的薄膜样品更容易测量，区别于传统样品板的弹簧夹片样品板使得霍尔电极制作更方便且对样品损伤更小。3、 I-V曲线及I-R曲线测量采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压及电流-电阻关系，并以此评判样品的欧姆接触好坏、了解样品的基本的电学特性。4、 多样的实验结果实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)、电阻的纵横比率(Vertical/Horizontal ratio of resistance)等等。产品组成：主机(精密恒电流源+范德堡法则终端转换器) / 磁体包(包括样品板) / 软件等。[HMS-3000软件界面一][HMS-3000软件界面二(I-V和I-R曲线测量)] 产品规格：1、 主要仪器参数 输入电流：1nA ~ 20mA；电阻率：10exp(-5) ~ 10exp7 Ω.cm；载流子浓度：10exp7 ~ 10exp21 cm-3；迁移率：1 ~ 10exp7 cm2/Volt.sec；磁场强度：0.37T, 0.55T, 1T, 0.25~1T变场磁体；样品测量板：PCB样品板，SPCB弹簧样品板，晶圆样品板等；样品尺寸：5mmX5mm ~ 20mmX20mm (可选配30mm或2inch大样品板)；测量温度：常温，77K液氮浴；2、 软件操作环境 XP / Win7 / Win8 / Win10环境下3、 实验结果体载流子浓度、表面载流子浓度；迁移率 霍尔系数；电阻率,方块电阻；磁致电阻；电阻的纵横比率；4、 仪器尺寸和重量主机尺寸：360×300×105 mm (W×H×D) 磁体Kit尺寸：200×120×110 mm (W×H×D)；净重：7.7千克；5、 测量材料Si, SiGe, SiC, ZnO, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO等所有半导体薄膜(P型和N型)；参考用户：HMS-3000霍尔效应仪国内科研用户超过了100台。 清华大学、北京大学、复旦大学、上海交大、中国科大、浙江大学、哈工大、电子科大、西北工大、湖南大学、中南大学、上海大学、中科院物理所、半导体所、长春光机所、兰州化物所、上海技物所、苏州纳米所、华南理工、天合光能...

一、产品概述：霍尔效应测试仪是一种用于测量材料霍尔效应的仪器，主要用于评估半导体和导体的电学特性。该设备能够准确测量材料在外部磁场下的电导率、霍尔电压和载流子浓度等参数，广泛应用于材料科学和电子工程领域。二、设备用途/原理：设备用途霍尔效应测试仪主要用于半导体材料的研究与开发、电气元件的性能测试以及材料的电学特性评估。它帮助研究人员了解材料的载流子类型、浓度及迁移率，为新材料的设计和应用提供重要数据支持。工作原理霍尔效应测试仪的工作原理基于霍尔效应现象。当电流通过材料时，施加垂直于电流方向的磁场会在材料中产生霍尔电压。通过测量霍尔电压和已知的电流及磁场强度，仪器能够计算出材料的霍尔系数、载流子浓度和迁移率等电学参数。这一过程通常涉及精密的电流和磁场控制，以确保测量的准确性和重复性。三、主要技术指标：1. 系统功能：用于测量半导体材料的电阻率/电导率、流动性、散装/片状载体浓度、掺杂类型、霍尔系数、磁阻、垂直/水平阻力比的半导体高性能霍尔系统。模块化设计理念，允许轻松升，该系统适用于各种材料，包括硅和化合物半导体和金属氧化物膜等2. 该系统具有低电阻率和高电阻率测量功能，具有双重温度功能和一个可选的低温恒温器，可扩展该系统温度范围从90K到500K3. 方块电阻量程：10-4 Ω/sq ~ 106Ω/sq4. 载流子浓度量程：106 ~ 1021 cm-35. 载流子迁移率量程：1 ~ 107 cm6. 四个微调探针座，探针直接形成ohm接触，无需焊线或制作PCB板7. 大样品测量直径：25mm

扫描隧道显微镜，YMP-6113 描述扫描隧道显微镜(STM)，使人类首次能够实时地观察单个原子在物质表面的排列状态和与表面电子行为有关的物化性质，并因此获1986年诺贝尔物理学奖。YMP-6113扫描隧道显微镜采用特有的卧式探头结构，克服了原有粗调与微调逼近机构的垂直蠕动，使仪器性能更加稳定可靠。特点特有的卧式探头结构，克服了原有粗调与微调逼近机构的垂直蠕动独特的USB视频显微监控系统，可实现微探针操作与进给过程的可视化高精度压电陶瓷扫描传感器，保证扫描图像的保真性强大的图形软件与功能，支持纳米级三维立体成像和截面线显示功能操作便捷、高速扫描、高稳定性与抗干扰能力黑体辐射实验装置，YMP-6115简介黑体是一种完全的温度辐射体，其辐射能力只与本身温度有关。YMP-6115黑体辐射实验装置使用稳压溴钨灯光源模拟黑体，通过改变电源电流，获得不同色温下的黑体辐射。利用近红外光栅光谱仪测量不同色温的黑体辐射曲线，从而验证维恩位移定律、普朗克定律和斯忒藩-玻尔兹曼定律。采用开放式的结构设计，学生可以直观的观看内部光路和结构组成，帮助学生理解和掌握实验原理。同时采用铟镓砷探测器，确保在800nm-2500nm光谱范围内具有较高的信噪比和灵敏度。特点模块设的设计，方便学生掌握设计原理和测量原理；设计使用了高品质铟镓砷探测器和高性能的电路系统，使整套实验装置具有很好的信噪比和灵敏度；智能化的软件设计，每个实验模块按照实验原理和流程引导式的操作，让学生将主要精力用于实验本身，而非学习软件操作。实验内容理解和掌握光栅光谱仪的基本原理以及建立传递函数的原理和方法，并为光栅光谱仪建立传递函数。理解、掌握和验证普朗克定律理解、掌握和验证验证斯特潘-玻尔兹曼定律理解、掌握和验证验证维恩位移定律测量一般光源的辐射能量曲线（拓展）光电效应实验装置，YMP-6104系列简介YMP-6104型光电效应实验以高压汞灯作为实验光源，利用汞灯5条特征谱线（365nm、405nm、436nm、546、577nm），经过干涉滤光片后变成单色光，然后通过选择不同的光阑（2mm、4mm、8mm）后，最后转化为一束固定光斑大小的窄带单色光。这束单色光照在光电管上，在光电管的阳极与阴极之间加载直流电压后产生光电流，然后经过微电流放大器对所产生的光电流进行检测放大。通过研究不同的光照波长，光阑孔径和光强三者之间的关系，从中验证爱因斯坦的光电效应理论。特点采用一体化左轮设计滤光片-光阑采用窄带干涉滤光镜片滤出真正的单色光采用光学导轨和光学滑座，保证光路的同轴性实验方式多种多样：手动记录、USB通信、蓝牙通信和WIFI通信实验内容测量光电管在不同频率的光照下的截止电压，通过截止电压与频率的关系计算得到普朗克常数h。通过改变不同滤光片、不同光阑、不同距离，来研究光电管的伏安特性。弗兰克赫兹实验装置，YMP-6102系列简介YMP-6102弗兰克-赫兹实验证明原子内部结构存在分立的定态能级，这个事实直接证明了原子具有玻尔所设想的那种“完全确定的、互相分立的能量状态”，是对玻尔的原子量子化模型的第一个决定性的证据。直接证明了原子发生跃变时吸收和发射的能量是分立的、不连续的，证明了原子能级的存在，从而证明了玻尔理论的正确。因而获得了1925年诺贝尔物理学奖。本实验装置通过含有氩原子的四级真空电子管在旁热式灯丝的加热下产生大量的电子云，电子云通过第一栅极的筛选，然后在加速级的加速下，与氩原子发生碰撞，进行了能量交换，并且激发氩原子的能级跃迁，剩余有较大能量的电子还能冲过第二栅极反向拒斥电压而达到板极形成板极电流，该电流被微电流放大器测量得到，从而获得电流与电压的变化曲线。特点使用氩气管，无需加热；波形数6个，使用寿命超过2000小时弗兰克=赫兹管的安装方式有多个版本可供选择，使得实验更加直观可视。实验方式多种多样：手动记录、传感器采样、USB通信、蓝牙通信和WIFI通信。可升级为数字化实验实验内容记录氩原子的弗兰克-赫兹曲线计算普朗克常量h核磁共振实验装置，YMP-6105简介YMP-6105型核磁共振实验装置通过边限振荡器，将测试样品放在探测线圈中，样品和探测线圈都置于电磁场中。当边限振荡器的振荡频率接近样品的共振频率时，射频磁场能量被样品所吸收，边限振荡器停止振荡，振荡器的输出信号会突然降低，因此我们可以探测到核磁共振信号并且得到样品的g因子。特点强度可调的匀强电磁场实验共振信号清晰采用光学轨道结构，探头二维可调可拓展测量自备样品实验内容了解核磁共振的基本原理观察液体样品中氢核及固体样品中氟核共振现象利用扫场法核磁共振实验计算氢核和氟核的g因子更多精彩内容，请关注下方！

【系统概述】开路涡度相关系统是一个研究近地层通量观测的研究级系统。它运用涡度协方差技术，来研究大气与下垫面之间的物质交换和能量交换，可以测量显热通量、潜热通量、动量通量、摩擦风速以及CO2/H2 O通量。近地层是指0至100m以下气层（包括粘性次层），这一层大气受下垫面不均匀影响，有明显的湍流特征。近地层通量主要观测水汽和碳通量，并同时进行近地层大气温度、风、湿度、辐射、气压、降水量、蒸发量、土壤温度、土壤湿度、土壤热通量、地下水位，通过计算可得到显热和潜热热量、动量通量及物质通量等要素观测，以获取不同代表性下垫面区域近地层动力、热力结构及其各类能量收支、物质交换等多圈层相互作用过程综合信息。近地层通量观测核心是了解水循环和碳循环过程机理、变化趋势以及调控管理的综合研究。开路涡度相关法是一种研究应用微气象法进行生态系统对地-气间显热、潜热、动量通量和CO2通量影响的长期观测的技术和方法。通过获取典型生态系统地-气间显热、潜热、动量通量和CO2通量的长期观测数据，为气象部门开展气候系统模式的研究提供基础数据；为全面系统地开展典型生态系统中生态过程与小气候、地-气相互作用及水热平衡特征、大气-生态-小气候-水文-土壤相互作用及影响机制的研究提供基础数据；为短期气候趋势预测、气候变化影响评估等工作提供基础性资料。 【系统主要特点】l SDM同步测量技术：对于通量观测而言，各变量的同步是首要基础，若不同步，会导致计算得到的通量结果严重低估；EC3000采用了CSI公司的SDM同步测量技术，在测量阶段就已保证了各变量的同步性。l 完美设计：符合空气动力学设计，一定程度减小了仪器自身对风的影响。l 温度补偿：无需加热装置实现温度补偿。l 一体化设计：保证分析仪与超声风速仪测量的是同一界面，减少系统误差。l 低功耗：适合于太阳能板供电l 最大输出频率50HZ（在25HZ带宽时）l 倾斜窗口设计：不易积水、堆积扎瓦，降低了窗口污染对测量的影响l 出厂标定：各种浓度的CO2和水汽环境下、各种温度和压力环境下进行出厂标定。l 数据诊断：各种诊断参数来确定数据可靠性。

美国MMR塞贝克效应系统 热电材料的研究在能量保存和能源替代方面有着重要的作用, 而热电系数是热电材料的主要参数之一. 通过研究不同温度下的热电系数并配合理论模型可得到载流子类型和能带结构信息等. 主要应用于能源效率, 替代能源, 汽车和燃料消耗等研究. 美国MMR塞贝克效应系统主要参数： 待测样品与参考样品增益不匹配度： 0.1%样品长度：2~10mm电压分辨率：50nV最多可重复测量次数: 128 (自动取平均值)温度：70~730K；80~580K；70~580K；80~730K；室温~730K（可选） 美国MMR塞贝克效应系统优势： 比较法测量，测量更准确温度连续可调，从低温到高温腔体体积小，可伸入到磁场 可增加霍尔效应测量模块

塞曼效应实验，YMP-6101 简介YMP-6101塞曼效应实验以汞光源的546.1nm光谱线为研究对象，汞光源经过干涉滤光片后形成单色光，经过聚光透镜和偏振镜片，通过法布里-珀罗（F-P）标准具，形成干涉圆环，最后通过光学镜头和CMOS相机在电脑上形成干涉图像。本实验装置包含一个可调恒流电源和电磁铁，通过调节电流的大小控制磁场的强弱。在垂直于磁场方向，当磁场足够强时，汞原子内部的能级开始分裂，电子根据跃迁定则，产生新的谱线，在标准具产生干涉圆环，通过CCD相机和软件，我们就可以直观的观测到一个干涉圆环分裂成9个干涉圆环。而这些谱线是偏振的，通过旋转偏振器，可以在不同角度观测到不同数量的干涉圆环。而当平行于磁场方向进行观测时，可以观测分裂的谱线是圆偏振的。特点可进行垂直于磁场方向和平行于磁场的塞曼效应可调恒流源和电磁铁产生~1.2T的匀强磁场，保证运输和实验安全精度高达1/100λ的法布里-珀罗标准具，可获得K级至K-2级的9条分裂谱线，线条清晰锐利实验内容学习和掌握塞曼效应的原理和实验方法学习和掌握线偏振光概念和垂直于磁场方向的塞曼效应（Л分量 和σ分量）计算电子荷子比e/m学习和掌握圆偏振光概念和平行于磁场方向的塞曼效应学习和掌握特斯拉计的工作原理，使用特斯拉计和传感器测量电磁场与电流的关系通过塞曼效应测量电磁场强度激光原理实验实验，YTR-6301简介YTR-6301是一套全开腔结构的气体激光实验装置。通过调整谐振腔的光学元件，使它们处于同一光轴上，光将在谐振腔内振荡放大，从而输出激光。还可以验证激光的线偏振特性，以及通过F-P共焦球面扫描干涉仪观测不同长度谐振腔的纵模间隔。特点全开腔式结构设计，谐振腔的腔镜、激光管和谐振腔光程均可调，有助于学生们了解激光器的基本结构主激光管加装有机玻璃管，全面保护激光管和接线柱的安全按照工业级别要求设计生产的机械部件，保证输出激光和实验的稳定性光功率计用于调整和优化谐振腔，保证激光输出功率最大实验内容激光器的基本组成与结构的认识学会调节激光谐振腔并输出激光测量不同长度谐振腔下的纵模间隔激光偏振性的验证密立根油滴实验，YMP-6117简介YMP-6117密立根油滴实验通过控制均匀电场中的带电油滴，使用CCD成像系统，观察并测量带电油滴在均匀电场和重力场中的运动，从而计算得到整颗油滴的带电量。重复对许多油滴进行实验之后，密立根发现所有油滴的总电荷值皆为同一数字的倍数，因此认定此数值为单一电子的电荷：e = 1.602 x 10^-19 C。本实验装置按运动方式分类，油滴法测电子电荷分为平衡测量法和动态测量法。实验系统由主机、CCD成像系统、油滴盒、喷雾器等部件组成，其中主机包括可控高压电源、计时装置、A/D采样、数据通信等单元模块。特点采用高清高速的CCD成像系统实验主机和油滴盒分离，确保油雾与控制电路隔离实验软件可以显示电压、计时并自动处理实验数据实验内容学习用油滴实验测量电子电荷的原理和方法。验证电荷的不连续性以及测量基本电荷电量e。了解CCD光学成像系统的工作原理。通过对油滴的选择、耐心地跟踪和测量，培养学生严谨的态度和一丝不苟的科学实验方法。金属电子逸出功实验，YMP-6108简介YMP-6108型实验装置通过测量金属钨的电子逸出功，将钨丝作为“理想”二极管的阴极材料，阳极做成与阴极共轴的金属圆环，把阴极发射端限制在温度均匀的一定长度内而又可以近似的把电极看成是无限长的无边缘效应的理想状态。为了避免阴极的冷端效应（两端温度较低）和电场不均匀等边缘效应，在阳极两端各加装一个保护（补偿）电极，它们与阳极同电位但与阳极绝缘。当钨丝通电发光发热后，金属内部部分热电子获得大于逸出功的能量，从金属表面逃逸形成热电子发射电流。根据金属中电子能量遵从费米-狄拉克量子统计分布规律，获得热电子发射电流公式，从而计算逸出功（WorkFunction）。特点理想真空二极管透明直观阳极电流测量准确稳定，阳极电压输出高效精准增加螺线管线圈和配套电源可升级为理想真空二极管综合实验装置可升级为数字化实验实验内容了解费米—狄拉克量子统计规律理解热电子发射规律和掌握电子逸出功的测量方法用里查逊直线法分析阴极材料(钨)的电子逸出功拉曼光谱分析实验，YTR-6306简介拉曼光谱是分子振动的“指纹谱”，不同的物质分子具有不同的振动频率，因此常作为物质识别的重要依据。YTR-6306实验装置由多模窄线宽激光器出射激光，通过拉曼探头聚焦于样品，与样品作用后产生的拉曼信号由探头收集经光纤传输至光纤光谱仪后得到样品最终的拉曼光谱。特点模块化设计，更易于学生了解和掌握拉曼光谱系统的原理和组成按照工业和科研标准进行设计和生产，不但可以用于实验教学也可以用于科学研究专业的样品池和支架，易于学生操作专业的操作软件，引导式操作，简单易于掌握实验内容学习和掌握拉曼光谱的基本原理学习和掌握拉曼光谱测量的原理、基本组成和主要的工作原理和使用方法学习和掌握如何搭建和使用拉曼光谱测量系统学习和掌握如何测量CCl4溶液和乙醇样品的拉曼光谱学习和应用拉曼光谱对塑料样品进行鉴别测量和分析各类自备固体和液体样品的拉曼光谱更多详情,请关注！

霍尔效应测试仪　　霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 Hall8800霍尔效应测试仪介绍　　该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。　　主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则　　仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。　　除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。　　Hall8800可说是一套功能强大、应用广泛的系统，再加上平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。　　目前广泛应有于半导体厂商。　　主要特点　　1、高精密度电流源　　输出电流之精确度可达2nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。　　2、高精密度电表　　使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。　　3、外型精简、操作简单　　外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。　　4、I-V曲线　　采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。　　5、单纯好用之操作画面　　使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。　　6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。　　技术参数　　磁场强度：0.65T/1T 　　常温和液氮温度(77K)下测量 　　输出电流：2nA-100mA 　　迁移率(cm2/Volt-sec):1-107　　阻抗:10-6 to 107　　载流子浓度(cm-3):107 - 1021　　样品夹具：　　Hall8800弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)；　　测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量)　　仪器尺寸(WxDxH)：260*220*180 mm　　仪器重量：6kg

霍尔效应测试仪　　霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 Hall8800霍尔效应测试仪介绍　　该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。　　主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则　　仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。　　除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。　　Hall8800可说是一套功能强大、应用广泛的系统，再加上平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。　　目前广泛应有于半导体厂商。　　主要特点　　1、高精密度电流源　　输出电流之精确度可达2nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。　　2、高精密度电表　　使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。　　3、外型精简、操作简单　　外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。　　4、I-V曲线　　采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。　　5、单纯好用之操作画面　　使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。　　6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。　　技术参数　　磁场强度：0.65T/1T 　　常温和液氮温度(77K)下测量 　　输出电流：2nA-100mA 　　迁移率(cm2/Volt-sec):1-107　　阻抗:10-6 to 107　　载流子浓度(cm-3):107 - 1021　　样品夹具：　　Hall8800弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)；　　测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量)　　仪器尺寸(WxDxH)：260*220*180 mm　　仪器重量：6kg

产品介绍:磁光柯尔效应量测仪 LSMC-750是一种基于磁光效应原理设计的超高灵敏度磁强计，是研究磁性薄膜、磁性微结构的局部磁特性的理想测量工具。由于样品磁光柯尔效应的磁性信号主要来自于光斑照射的区域，因此磁光柯尔效应测量系统具有良好的局域性，可以实现在微米区域内材料磁特性的研究。此外以偏振激光束作为“探针”，不会对样品造成损伤，被广泛的应用于磁性纳米技术、磁性薄膜、磁性微结构等磁学领域。磁光柯尔效应量测仪 LSMC-750特点：磁仪创新搭配，减少人力操作及运算时间；温度范围在室温至900 K范围内连续可调；可排除掉光源功率变化的影响，提高系统的量测精度和稳定性。磁光柯尔效应量测仪 LSMC-750参数：磁场强度2T光源LED(90 W)入射光偏振方向P型/S型柯尔效应测量类型L-MOKE/T-MOKE灵敏度0.001°可测样品大小10×10mm物镜×50尺寸47 cm*42 cm*16 cm磁光柯尔效应量测仪 LSMC-750产品系统描述：1.磁场系统 1-1. 电磁铁 ( 气隙小于10mm时，磁场强度可达1.2T ) 1-2. 电源供应器 ( 功率750 Watts ) 1-3. 内建高斯计 ( 量测范围 : 30k 高斯到 1 高斯 )2.光学与影像系统 2-1. 侦测雷射光点大小约2 um 且可侦测局部小区域内的磁滞回线 2-2. 自动成套光学系统，不需繁杂的调校过程，只要放好样品调整焦距，就可以开始使用程式自动量测3. 控制系统 3-1. 内建计算机 (附微软作业系统) 3-2. 内建软件介面，容易操作执行数据量测及分析( 可自动量测磁滞回线，自动找出材料之初始磁化曲线、矫顽场…等参数，亦可自动执行及量测去磁过程。) 3-3. 内建高精度数据量测系统4. 其他 4-1. 液晶显示器 4-2. 键盘及鼠标测试结果：

距离地面200~600km之间的低地球轨道（Low Earth Orbit, LEO）空间，是对地观测卫星，气象卫星，空间站等航天器的主要运行区域，但由于地球轨道环境存在原子氧、紫外辐射、粒子辐射、高真空、等离子体、热循环以及微流星体与空间碎片的风险，对航天器的使用寿命和稳定性存在严重威胁，其中原子氧、紫外辐射、高真空 、真空热循环对航天器表面材料会产生严重的损伤效应，影响材料尺寸稳定性、物理性能及机械性能。 一、原子氧作为LEO环境中的主要组分，它具有很强的氧化性。当飞行器以轨道速度在LEO中运行时，原子氧以4~5eV的动能撞击飞行器材料表面。原子氧与材料之间的相互作用会造成表面材料剥蚀及材料性能退化，它对有机材料的腐蚀作用还会产生可凝聚的气体生成物，进而航天器的光学仪器及其它设备。 加拿大SimulTek公司的原子氧效应地面模拟实验舱LEO-ESS1. 采用二氧化碳激光器加热分解产生原子氧束，可同时满足能量为5eV和通量为3~5×1015 atoms/cm2 /s的严苛条件，其试验结果与LEO飞行暴露试验结果符合程度很高，被认为是目前实现定性和定量进行原子氧效应地面模拟的有效手段。二、同时，为了研究各种空间环境的协同作用，SimulTek公司开发了低地球轨道环境效应模拟实验舱，和行星环境模拟试验舱（火星、月球环境），可以对多种航天器候选材料进行低轨道环境效应的研究。 研究项目包含：1.超高真空导致材料尺寸稳定性和污染问题的研究2.紫外辐射/电子辐射/质子辐射导致材料表面质量损失以及变色等光学性能变化的研究3.热循环导致材料产生微小裂纹以及热应力作用下材料力学性能变化的研究4.原子氧对材料表面腐蚀导致材料尺寸变化，质量损失，力学性能退化的研究5.研究材料损伤理论、性能演化理论、寿命预测理论、防护理论以及加速试验原理

塞贝克效应测量系统SB1000数字塞贝克效应控制器在设计时考虑到用户和易用性，使用低温系统(液氮低温恒温器)或瞬态信号技术的热级系统，集成到真空环境中，为80 K - 700 K宽温度范围内的塞贝克系数测量提供了可靠的平台。以上翻译结果来自有道神经网络翻译（YNMT） 通用场景应用程序热电动势测量温度依赖导电样本提供的信息大部分航空公司的标志,电荷传导机制与合适的理论模型,材料的能带结构的信息。的知识塞贝克系数是一个关键因素优化热电材料和找到正确的应用程序。灵敏度高,结构变化使热电动势测量一个优秀的技术结构研究阶段条件对给定材料的电荷传输性质。特性高精度的塞贝克系数测量高信噪比和快速数据采集差分测量算法宽温度范围(80 K - 700 K)统计数据分析实时热电压瞬态测量用户友好的、自动测量设置典型变量温度塞贝克效应测量系统(SMS)一个典型变量温度塞贝克效应测量系统包括:DC600可编程温度控制器和SB1000塞贝克效应测量控制器液氮低温恒温器和集成放大电路到真空环境中聚酰亚胺薄膜(80 K - 400 K)或陶瓷(200 K - 700 K)样品安装阶段真空泵和真空配件用两个探针或四个探针测量技术测量电导率的四个焊接针Dell Optiplex 3000 Tower desktop com

便携式塞曼效应汞分析仪产品介绍： 便携式塞曼效应汞分析仪采用高频塞背景校正技术（ZAAS-HFM），基于原子蒸气对254nm共振发射线吸收的原理，进行汞分析检测。 便携式塞曼效应汞分析仪可配备不同模块，实现固、液、气多种样品检测，适用于分析/监测大气、水、土壤、烟道气、应急泄露事故、有害废物、生物材料、职业环境检测等。相关检测方法符合国际标准方法：美国EPA METHODsw-846 ，EPA 1631方法，欧盟标准EN 1483,13806，EU15852,国家标准GB 7468-87，EPA Method 7473燃烧热解法，EPA Method 30B吸附管法，美国ASTM D7622-10标准。 产品简介： • RA-915M分析仪用于监测室内外环境空气和天然气中的汞含量• 该分析仪可用于解决环境问题，石油矿田勘探，工程工艺控制，职业健康安全及科学研究等领域中中的汞检测分析• RA-915M可通过添加模块化分析附件，使分析仪可以方便地测定烟道气、饮用水、天然水和废水、土壤、食品、饲料、生物样品、石油及其加工产品中的汞含量产品特点： • 操作简单，全自动化，自行校准• 通用型设计，满足实验室内的常规检测和野外的动态检测• 检出限低，抗干扰力强• 实时检测大气和天然气• 固体，液体直接进样（需附件），无需前处理，无需金丝富集，无需试剂及压缩气体• 多样化友好界面，可通过自带操作面板使用，也可连接电脑使用• 宽泛检测范围，可达四个数量级• 配备内置存储器，储存可长达122小时的数据• 内置电池满足8小时的连续检测需求 应用领域： • 生态调查 对环境空气和大气中汞含量的监控 对居住地及工作地环境中的汞的监测 汞排放源和污染区域的生态调查• 脱汞方法监测 连续监测模式，可在移动状态下连续监测室内外汞含量 实时监测各种方法或试剂的脱汞过程 脱汞方法和过程的质量保证• 地质和地球化学调查 自然界汞循环的研究 矿藏勘探

产品详情 美国MMR 霍尔效应测量系统 H5000 美国 MMR 公司，与斯坦福大学合作开发了专利的致冷器，其具有世界上最小的震动(埃米级别)、宽控温范围(70~730K)及高温度稳定性(0.1K)，并将其应用在以下测量系统，提高了系统的整体性能。 各个系统均采用模块设计，客户可根据实际要求配置系统，也方便日后升级。 霍尔效应测量系统主要用于研究光电材料的电学特性，利用范德堡测量技术测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。整套系统主要包括控制器、样品室、磁场三部分。 主要参数： 1. 样品固定方式：弹簧探针或引线治具2. 温度：70~730K；80~580K；70~580K；80~730K；室温~730K（可选）3. 磁场：5000Gauss 永磁铁，5000Gauss 电磁场， 1.4T 电磁场（可选）4. 温度稳定度：=0.1K5. 温度响应：1K/sec6. 致冷片：10X14 mm7. 电阻率：10-4~1013 Ohm*cm8. 载流子迁移率：1~107 cm2/volt*sec9. 载流子浓度：103~1019cm-310. 电流范围：1 pA~100mA11. 电压范围：+/-2.4V，最小可测到 6X10-6 V12. 电阻范围：10 m Ohms~ 10G Ohms 参考客户： Standford Univ, University of Cambridge, AT&&Bell Labs, NASA, IBM, Intel, AMD，中科院，深圳大学，华南理工大学，上海光机所，上海微系统所，四川大学，上海交通大学，常州大学，东北大学，厦门大学，新疆理化研究所，北京物理所等。

磁光克尔效应测量系统JMTS-816磁光克尔效应测量系统产品概述：磁光克尔效应装置是一种基于磁光效应原理设计的超高灵敏度磁强计，是研究磁性薄膜、磁性微结构的理想测量工具。旋转磁光克尔效应（RotMOKE）是在磁光克尔效应测量基础上的一种类似于转矩测量各向异性的实验方法，可以定量的得到样品的磁各向异性的值。但由于电磁铁磁场大小的限制，只适合于测量磁各向异性的易轴在膜面内而且矫顽场不太大的磁性薄膜材料。结合源表可以进行样品的磁输运性能测量。RotMOKE具有以下特点：测量精度高、测量时间短；非接触式测量，是一种无损测量；测量范围为一个点，可以测量同一样品不同部位的磁化情况；可以产生平滑、稳定的受控磁场，并且磁场平滑过零。应用领域：广泛应用于诸如磁性纳米技术、自旋电子学、磁性薄膜、磁性随机存储器、GMR/TMR等磁学领域。可测试材料：记录磁头，磁性薄膜，特殊磁介质，磁场传感器 磁光克尔效应测量系统产品特点：1测量灵敏度高，稳定性好，噪音低2非接触式测量，是一种无损测量3可以测量同一样品厚度不等的楔形磁性薄膜4可以将样品放到真空中原位测量5可以测量同一样品不同部位的磁化情况6纵向、横向和极向克尔效应测试7三百六十度电动旋转样品，可测试样品各向异性8手动左右和上下位移样品，可测试样品表面不同点的克尔效应9样品座有电接口，可加入磁电耦合测试。磁光克尔效应测量系统技术指标:1 样品尺寸：大Φ10mm的圆 2 克尔角分辨率（δ）：0.001度；3椭偏率分辨率（ε）：0.1%；4小光斑（Φ）：10微米；5 大磁场：单维0.26特斯拉；6 样品电动角度步进0.1度，手动位移步进10微米；7噪音：1%。磁光克尔效应测量系统技术参数：1光学平台： 刚性隔震，不锈钢贴面，1200*800*800mm，M6螺孔，25mm阵距，150mm台板厚度，带脚轮。台面平整度0.1/1000mm，平台载荷300Kg，固有频率≤2.5Hz，阻尼比0.12~0.13R/S。2矢量电磁铁：锦正茂二维矢量电磁铁，每维大磁场0.26T，极面直径30mm，磁场间隙40mm，中心10mm正方体内均匀区1%。3电磁铁电源：锦正茂单相双极性恒流，大10A，小分辨率0.1mA，稳定性50ppm/h，对应小分辨率0.1Gauss。 4激光器： Newport 632.8nm，2mW，2%稳定度，噪音1% rms（30Hz~10MHz），通过聚焦透镜光斑小为10μm的圆。5起偏/检偏器：格兰-汤普森棱镜，外径25.4mm，通光孔径10mm，消光比5*10^-5，角度范围14~16°，波长范围350~2300nm。6聚焦透镜：K9双凸，设计波长633nm，外径25.4mm，焦距150mm，焦距误差±0.5%，面精度X方向λ/4，Y方向λ/2。7四分之一波片：?25.4mm，波长632.8nm，投射波前畸变λ/8，相位延迟精度λ/100。8光电传感器：15mm2感应面积，0.21A/W响应度，暗电流1nA，对430~900nm波长光敏感，分流电阻200Mohm。9电流放大器：1pA/V大增益，1MHz带宽，大输入±5mA，大输出±5V，增益精度为输出的±0.05% 10高精度电压表：六位半，小分辨率0.1μV，90天准确度达到0.002%，四位半精度下最快2000 readings/second11手动位移和电动旋转样品杆： XYZ三维位移，XY行程25mm，Z行程13mm，转动360度，样品座为直径11mm的圆，上有电接头。12计算机： 联想商用，集成多串口卡。

美国MMR公司，与斯坦福大学合作开发了专利的致冷器，其具有世界上最小的震动(埃米级别)、宽控温范围(70~730K)及高温度稳定性(0.1K)，并将其应用在以下测量系统，提高了系统的整体性能。 各个系统均采用模块设计，客户可根据实际要求配置系统，也方便日后升级。其主要客户有Standford Univ, University of Cambridge, AT&&Bell Labs, NASA, IBM, Intel, AMD，中科院等。霍尔效应测量系统主要用于研究光电材料的电学特性，利用范德堡测量技术测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。整套系统主要包括控制器、样品室、磁场三部分。主要参数：1. 样品固定方式：弹簧探针或引线治具2. 温度：70~730K；80~580K；70~580K；80~730K；室温~730K（可选）3. 磁场：5000Gauss永磁铁，5000Gauss电磁场， 1.4T电磁场（可选）4. 温度稳定度：=0.1K5. 温度响应：1K/sec 6. 致冷片：10X14 mm7. 电阻率：10-4~1013 Ohm*cm8. 载流子迁移率：1~107 cm2/volt*sec9. 载流子浓度：103~1019cm-310. 电流范围：1 pA~100mA11. 电压范围：+/-2.4V，最小可测到6X10-6 V12. 电阻范围：10 m Ohms~ 10G OhmsTel: 86 21 62083715

磁光克尔效应系统-NanoMOKE3英国Durham公司是依托于英国Durham大学的高科技企业。与Durham大学强大的磁光学研究相对应，Durham公司的Russell Cowburn教授（英国剑桥大学卡文迪许实验室主任，英国皇家科学院院士）设计并制造了灵敏度能到10-12emu且间距动态磁畴观测的磁光克尔效应系统——NanoMOKE3。NanoMOKE3是新一代超高灵敏度磁强计和克尔显微镜。在NanoMOKE2巨大成功的基础上，Nano-MOKE3在一套系统中集成了高品质激光磁强计和动态克尔显微镜。对于纵向、横向以及向磁光克尔效应都非常灵敏，使得NanoMOKE3成为研究磁性薄膜以及磁性微结构理想的测量工具。广泛应用于诸如磁性纳米技术、自旋电子学和磁性薄膜等磁学领域。NanoMOKE3具有高的灵敏度和强大的测量功能，同时系统灵巧的设计以及专用的操作软件让复杂的实验过程变得简单，使您能够快速的实现自己珍贵的研究思路、获得可靠实验数据。NanoMOKE3进行了全新的升，增加了超快速的CCD，更加方便您的测试。主要技术指标： 温度范围：4.2-500 K 大磁场： 5000 Oe 推荐样品大小：1-2.5 cm 小克尔转角检出角：0.5 mdeg 小反射率变化率检出量：0.02% 主要特点：1、非常高的灵敏度和稳定性，非常低的噪音，可以探测到低至 10-12 emu 的磁矩。2、高度聚焦的激光，激光束斑达到 2 μm，可以轻松进行样品的局部或单个结构的性能检测。3、先进的样品定位技术。光路中集成光学显微镜以观测激光束斑的聚焦点和大小；扫描克尔显微镜可以探测样品的交流磁化率图像以及反射率图像，帮助用户选择样品的精细测量区域。4、灵活开放的系统设计。所有的光学器件都安装在一个标准光学平台上，允许用户对光学器件进行调整，满足自己的科研需要。5、任意的磁场波形控制。可以选配多种电磁体：四磁体、偶磁体以及螺线管磁体，能够轻松地在样品表面产生各种复杂的磁场。6、简单易用的专用操作控制软件 LX Pro。该软件基于微软的 Windows 系统，能够自动完成所有实验以及实验数据的处理。几种不同测试手段对比： 测试手段SQUIDVSMMFMMOKE样品要求液体,粉末,块材,薄膜液体,粉末,块材,薄膜薄膜，表面抛光的块材薄膜，表面抛光的块体测量内容MT，MHMT，MH磁畴图像磁滞回线，磁畴图像，材质分布测试精度非常高较高较高M不可定量，灵敏度高，磁畴形貌不及MFM宏观/微观宏观磁性宏观磁性微观微观磁畴不能不能静态静态/动态磁畴各向异性可以转角测试不能测试不可以可以NanoMOKE3丰富的测试功能：单点loop功能区域mapping功能Rastering磁畴成像功能高速CCD磁畴成像功能反射率成像功能原理变化磁场下对单点快速进行向或纵向克尔信号扫描测量在变化磁场下，对待测区域内各点进行loop测量，然后对loop面积积分进而得出区域各点磁性性质，进而获得磁性分布图在固定磁场下以矩阵扫描的方式对区域内各点进行克尔信号测量在固定磁场下，用快速扫描的激光照在待测区域，通过光学CCD对整个待测区域的所有点的克尔信号测量在进行其他测的同时，获得样品表面的反射光强信号。获得同磁畴形貌同一区域的外观形貌特点不同温度下，直接获得克尔信号随磁场变化的Loop不同温度下，获得区域磁性分布信息，可以进行向或纵向克尔效应的测量不同温度下，获得区域磁畴分布信息，可以进行向或纵向克尔效应的测量不同温度下，快速获取磁畴分布信息，可以进行向或纵向克尔效应的测量无需时间专门测量，跟其他形貌图形同时获得应用可判断易/难磁化轴，矫顽力，磁学性质获得区域各点的磁性信息、可用于研究各向异性。变温测量区域静态磁畴、动态磁畴的测量。变温变场测量快速观测静态磁畴和动态磁畴与磁畴形貌做对比分析，进行光功率扰动磁畴图像修正，判断克尔信号的噪声等精度利用光电转换器测量，精度非常高利用光电转换器测量，精度非常高利用光电转换器测量，精度非常高利用CCD转换器利用光电转换器测量，精度非常高部分测试数据：Pattern，磁畴和动态磁畴的观测： ◆ 使用快速的rastering模式来探测样品表面的Pattern ◆ 通过测试Loop功能来检测样品的难/易轴 ◆ 不同的颜色代表不同的磁畴，利用NanoMOKE3可以观测动态磁畴 ◆ 不同的颜色代表不同的磁性能，从中我们可以检测样品的mapping各项异性 开放灵活的设计：我公司为客户提供多种拓展选件，预留光源输入窗，可使用其他光源；另外配备了低温和高磁场下的磁光克尔效应测试选件，下图为我公司为客户配备的Montana恒温器。在软件上的接口同样丰富，用户可以轻松的完成与其他实验设备的对接和控制。

磁光克尔效应系统-NanoMOKE3英国Durham公司是依托于英国Durham大学的高科技企业。与Durham大学强大的磁光学研究相对应，Durham公司的Russell Cowburn教授（英国剑桥大学卡文迪许实验室主任，英国皇家科学院院士）设计并制造了灵敏度能到10-12emu且间距动态磁畴观测的磁光克尔效应系统——NanoMOKE3。NanoMOKE3是新一代超高灵敏度磁强计和克尔显微镜。在NanoMOKE2巨大成功的基础上，Nano-MOKE3在一套系统中集成了高品质激光磁强计和动态克尔显微镜。对于纵向、横向以及向磁光克尔效应都非常灵敏，使得NanoMOKE3成为研究磁性薄膜以及磁性微结构理想的测量工具。广泛应用于诸如磁性纳米技术、自旋电子学和磁性薄膜等磁学领域。NanoMOKE3具有高的灵敏度和强大的测量功能，同时系统灵巧的设计以及专用的操作软件让复杂的实验过程变得简单，使您能够快速的实现自己珍贵的研究思路、获得可靠实验数据。NanoMOKE3进行了全新的升，增加了超快速的CCD，更加方便您的测试。主要技术指标： 温度范围：4.2-500 K 大磁场： 5000 Oe 推荐样品大小：1-2.5 cm 小克尔转角检出角：0.5 mdeg 小反射率变化率检出量：0.02% 主要特点：1、非常高的灵敏度和稳定性，非常低的噪音，可以探测到低至 10-12 emu 的磁矩。2、高度聚焦的激光，激光束斑达到 2 &mu m，可以轻松进行样品的局部或单个结构的性能检测。3、先进的样品定位技术。光路中集成光学显微镜以观测激光束斑的聚焦点和大小；扫描克尔显微镜可以探测样品的交流磁化率图像以及反射率图像，帮助用户选择样品的精细测量区域。4、灵活开放的系统设计。所有的光学器件都安装在一个标准光学平台上，允许用户对光学器件进行调整，满足自己的科研需要。5、任意的磁场波形控制。可以选配多种电磁体：四磁体、偶磁体以及螺线管磁体，能够轻松地在样品表面产生各种复杂的磁场。6、简单易用的专用操作控制软件 LX Pro。该软件基于微软的 Windows 系统，能够自动完成所有实验以及实验数据的处理。几种不同测试手段对比： 测试手段SQUIDVSMMFMMOKE样品要求液体,粉末,块材,薄膜液体,粉末,块材,薄膜薄膜，表面抛光的块材薄膜，表面抛光的块体测量内容MT，MHMT，MH磁畴图像磁滞回线，磁畴图像，材质分布测试精度非常高较高较高M不可定量，灵敏度高，磁畴形貌不及MFM宏观/微观宏观磁性宏观磁性微观微观磁畴不能不能静态静态/动态磁畴各向异性可以转角测试不能测试不可以可以NanoMOKE3丰富的测试功能：单点loop功能区域mapping功能Rastering磁畴成像功能高速CCD磁畴成像功能反射率成像功能原理变化磁场下对单点快速进行向或纵向克尔信号扫描测量在变化磁场下，对待测区域内各点进行loop测量，然后对loop面积积分进而得出区域各点磁性性质，进而获得磁性分布图在固定磁场下以矩阵扫描的方式对区域内各点进行克尔信号测量在固定磁场下，用快速扫描的激光照在待测区域，通过光学CCD对整个待测区域的所有点的克尔信号测量在进行其他测的同时，获得样品表面的反射光强信号。获得同磁畴形貌同一区域的外观形貌特点不同温度下，直接获得克尔信号随磁场变化的Loop不同温度下，获得区域磁性分布信息，可以进行向或纵向克尔效应的测量不同温度下，获得区域磁畴分布信息，可以进行向或纵向克尔效应的测量不同温度下，快速获取磁畴分布信息，可以进行向或纵向克尔效应的测量无需时间专门测量，跟其他形貌图形同时获得应用可判断易/难磁化轴，矫顽力，磁学性质获得区域各点的磁性信息、可用于研究各向异性。变温测量区域静态磁畴、动态磁畴的测量。变温变场测量快速观测静态磁畴和动态磁畴与磁畴形貌做对比分析，进行光功率扰动磁畴图像修正，判断克尔信号的噪声等精度利用光电转换器测量，精度非常高利用光电转换器测量，精度非常高利用光电转换器测量，精度非常高利用CCD转换器利用光电转换器测量，精度非常高部分测试数据：Pattern，磁畴和动态磁畴的观测： ◆ 使用快速的rastering模式来探测样品表面的Pattern ◆ 通过测试Loop功能来检测样品的难/易轴 ◆ 不同的颜色代表不同的磁畴，利用NanoMOKE3可以观测动态磁畴 ◆ 不同的颜色代表不同的磁性能，从中我们可以检测样品的mapping各项异性 开放灵活的设计：我公司为客户提供多种拓展选件，预留光源输入窗，可使用其他光源；另外配备了低温和高磁场下的磁光克尔效应测试选件，下图为我公司为客户配备的Montana恒温器。在软件上的接口同样丰富，用户可以轻松的完成与其他实验设备的对接和控制。

台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。 Hall8686可说是一套功能强大、应用广泛的系统，Hall8686是在Hall8800的基础上增加了温度控制的功能，成为部分高端科研客户的理想选择。SWIN一直秉承平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。目前广泛应有于台湾半导体厂商。主要特点1、高精密度电流源 输出电流之精确度可达1nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。 2、高精密度电表 使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。 3、外型精简、操作简单 外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。 4、I-V曲线 采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。 5、单纯好用之操作画面 使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。 6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。技术参数磁场强度：0.53T 温度测试范围：77K-423K，77K-623K可选， 温度准确度+/-0.5度；输出电流：1nA-100mA 迁移率(cm2/Volt-sec):1-107 阻抗(Ohms.cm):10-5 to 107 载流子浓度(cm-3):107 - 1021 样品尺寸：5-15mm，厚度1mm样品夹具：Hall8686弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)； 测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量) 仪器尺寸(WxDxH)：400*360*200 mm仪器重量：15kg

台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。 Hall8686可说是一套功能强大、应用广泛的系统，Hall8686是在Hall8800的基础上增加了温度控制的功能，成为部分高端科研客户的理想选择。SWIN一直秉承平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。目前广泛应有于台湾半导体厂商。主要特点1、高精密度电流源 输出电流之精确度可达1nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。 2、高精密度电表 使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。 3、外型精简、操作简单 外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。 4、I-V曲线 采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。 5、单纯好用之操作画面 使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。 6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。技术参数磁场强度：0.53T 温度测试范围：77K-423K，77K-623K可选， 温度准确度+/-0.5度；输出电流：1nA-100mA 迁移率(cm2/Volt-sec):1-107 阻抗(Ohms.cm):10-5 to 107 载流子浓度(cm-3):107 - 1021 样品尺寸：5-15mm，厚度1mm样品夹具：Hall8686弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)； 测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量) 仪器尺寸(WxDxH)：400*360*200 mm仪器重量：15kg

Zeeman效应仪器设备型号：HO-ED-S-04AHolmarc的新型CCD仪器是为当今世界各个实验室Zeeman效应研究提供了解决方案。本仪器利用一个普通低压汞灯发出的绿色光线，而这个低压汞灯由FP校准器进行校准。一台配备计算机的 相机可以抓取从 校准器发射的 光谱分离的 影像。学生们可以通过电脑监视器观测实时影像。这个实验用于研究由热汞原子发射出来的绿色光线的磁场效应。在没有磁场的地方，光线射出，这些光线的波长幅度很窄，集中在546.1nm。当原子被放置在磁场中，情况发生了变化。与单一光谱不同，汞原子射出的绿光有数条光谱线组成，并取决于磁场的尺寸。关键性能汞灯做光源，无需使用特殊的，价格昂贵的镉灯。普通而常见的光源可以帮助学生们更好地理解Zeemen效应。一个CCD相机可以抓取来自校准器的光谱实时影像，这些影像可以在一个计算机显示器上进行观测。这些图像可以保存在电脑中，用以对不同磁场条件下的Zeemen效应做出分析与计算。本仪器维护非常方便。所有的部件都可以在当地购的。实验的目的是测量测量电场内各个光谱线的不同以及在零区域的单一光谱。这些波长的差别被称为Zeemen分离。另外，电场内各个光谱线的极化现象可以通过本实验得到研究。 实验列表校准利用霍尔探头高斯计，测量电流，用以校准磁场通过外磁场来测量原子能量级的变化，实验结果可以与理论预测进行比较通过使用平面偏振片来研究在外加电场条件下射出光线的极化现象。

韩国Ecopia霍尔效应测量系统HMS3000，HMS5000 韩国Ecopia霍尔效应测量系统主要用于研究半导体材料/光电材料的电学特性，可以测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型 主要参数：样品固定方式：弹簧探针或引线治具温度：70~730K；80~580K；70~580K；80~730K；室温~730K（可选）磁场：5000Gauss永磁铁，5000Gauss电磁场， 1.4T电磁场（可选）温度稳定度：=0.05K温度响应：1K/sec致冷片：10X14 mm电阻率：10-6~1013 Ohm*cm载流子迁移率：10-2~109 cm2/volt*sec载流子浓度：102~1022cm-3电流范围：0.1 pA~10mA电压范围：+/-2.5V，最小可测到6X10-6 V电阻范围：10 m Ohms~ 10G Ohms常用型号：HMS3000， HMS5000

霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 Hall8800霍尔效应测试仪介绍　　该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。　　主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则　　仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。　　除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。　　Hall8800可说是一套功能强大、应用广泛的系统，再加上平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。　　目前广泛应有于半导体厂商。　　主要特点　　1、高精密度电流源　　输出电流之精确度可达2nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。　　2、高精密度电表　　使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。　　3、外型精简、操作简单　　外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。　　4、I-V曲线　　采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。　　5、单纯好用之操作画面　　使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。　　6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。　　技术参数　　磁场强度：0.65T/1T 　　常温和液氮温度(77K)下测量 　　输出电流：2nA-100mA 　　迁移率(cm2/Volt-sec):1-107　　阻抗:10-6 to 107　　载流子浓度(cm-3):107 - 1021　　样品夹具：　　Hall8800弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)；　　测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量)　　仪器尺寸(WxDxH)：260*220*180 mm　　仪器重量：6kg

涡动协方差 / 涡动相关技术是目前微气象学领域中唯一能直接测定生物圈与大气间 物质与能量通量的标准方法，也是国际通量 观测网络主要采用的技术。利用该技术可以直接监测大气层 - 生物圈之间的二氧化碳， 能量，水汽以及热量交换通量。 涡动相关系统传感器主要有两部分组成，第一部分是三维超声风速仪，第二部分 是气体分析仪。除此之外，涡动相关系统还 包含数据采集单元、供电单元、通信单元等。 数据采集单元负责整个系统的测量、采集、 数据运算及存储。超声风速仪传感器输出三维风速、超声虚温和系统运行相关的诊断数 据，气体分析仪输出水汽和二氧化碳气体浓度数据。这两种高速传感器获得的数据构成 涡动相关系统的原始数据，通过计算风速脉 动与物质量脉动的协方差得到动量通量、潜 热通量、感热 / 显热通量、CO2 通量、摩擦 风速、莫宁奥布长度等，这些物理量用于研究近地面层大气湍流运动特征、能量平衡特 征、水循环过程以及生态系统净碳交换特征。 珠海安尼莱科技有限公司生产的分体式三维超声 UA330（图3）、水汽分析仪 HMA60、（图4） CO2 分析仪 CN310 （图5）组成一套完整的国产化涡动相关系统，是国外涡动相关系统设备的 整体替代方案。

仪器简介：该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。 VDP6800可说是一套功能强大、应用广泛的系统，再加上平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。 目前广泛应有于大学，研究所和半导体厂商。技术参数：磁场强度：0.65T/1T 常温和液氮温度(77K)下测量 输出电流：2nA-100mA 迁移率(cm2/Volt-sec):1-107 阻抗(Ohms.cm):10-6 to 107 载流子浓度(cm-3):107 - 1021 样品夹具： VDP6800弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)； 测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量) 仪器尺寸(WxDxH)：260*220*180 mm 仪器重量：6kg主要特点：1、高精密度电流源 输出电流之精确度可达2nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。 2、高精密度电表 使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。 3、外型精简、操作简单 外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。 4、I-V曲线 采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。 5、单纯好用之操作画面 使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。 6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。7、可与四点探针公用系统