光电响应

仪器简介：DSR100系列探测器光谱响应度测量系统，是适应不断增长的材料科学对检测设备的需求而诞生的。它结合了北京卓立汉光仪器有限公司给多家科研单位定制的探测器光谱响应测量系统的特点和经验，采用国家标准计量方法进行测试，是光电探测器、器件、光电转换材料科研和检验的必备工具。技术参数：型号 DSR100UV-A DSR100UV-B DSR100IR-A DSR100IR-B波长范围 200~2500nm 1~14&mu m测试光斑\光斑模式 均匀平行光斑 汇聚光斑 均匀平行光斑 汇聚光斑尺寸 Ф2~20mm Ф0.3~3mm Ф2~20mm Ф0.3~3mm 光源 光源 氘灯/溴钨灯复合光源 溴钨灯/碳化硅复合光源光强稳定性 &le 0.8% &le 2%光源切换方式 软件自动切换 软件自动切换三光栅单色仪 光 谱分辨率 ＜0.1nm（435.8nm@1200g/mm光栅） ＜2.5nm (2615nm@75g/mm光栅)扫描间隔 最小可至0.005nm输出波长带宽 ＜5nm ＜10nm多级光谱滤除装置 根据波长自动选择滤光片，消除多级光谱杂散光 　光调制频率 4~400Hz数据采集装置灵敏度 锁相放大器 2nV；直流数据采集可选标准探测器 标准硅探测器 （标定200~1100nm） 标准热释电探测器（标定1~14mm）光谱响应度测量重复性* &le ± 1.5% &le ± 5%光路中心高 305mm仪器尺寸 1500mm× 1200mm× 560mm控制机柜 标准4U控制柜，含计算机主要特点：◆ 宽光谱范围（200~2500nm或1~14&mu m可选），适用面广宽光谱范围意味着适用于各种不同样品，如响应在日盲区的深紫外探测器、响应在可见光的太阳能电池、响应在近红外的光纤传感器、响应在中远红外的红外光电传感器，都可以在DSR100上测量光谱响应度。◆ 开机即用的Turnkey系统设计，维护简单系统采用替代法的测量原理，设计成开机即用的turnkey模式，用户不需要在实验前对系统进行复杂的调试，日常维护也十分简单。◆ 调制法测量技术，提升测量结果信噪比DSR100系统采用调制法测量技术。调制法是目前国家计量单位采用的标准方法，通过选频放大的技术，可以大幅度抑制杂散光或环境噪声对测量精度带来的负面影响。DSR100系统针对弱信号采集专门设计了独特的前置放大电路，同时采用高性能的锁相放大器进行调制法测量。锁相放大器测量灵敏度达到2nV，动态范围达到100dB。通过提高测量灵敏度并且抑制噪声，DSR100系统可以从背景噪声中提取非常微弱的光电探测器响应信号。◆ 全反射光路设计，优化光斑质量由于各种光电探测器的光谱响应范围不同，因此好的探测器光谱响应度测量系统应该是宽光谱范围的，这样才能具备较强的通用性。在宽光谱范围的光学设计中，采用反射式的光路设计要比透射式得到更高品质的光束质量和均匀光斑。在透射式的光学系统中，影响光束质量和光斑品质的重要因素是色差，色差源自于不同波长的单色光在光学材料中的折射率不同，波长范围越宽，色差越明显。而在反射式的光学系统中，由于根本不涉及折射，所以不存在色差的问题。因此采用反射式光路，成像质量大大优于透射式光路，从而可以得到更高均匀度的平行光斑，或者更小尺寸的汇聚光斑。◆ 高稳定性光源，降低背景噪声影响尽管采用调制法可以降低系统杂散光和背景噪声对测量的影响，但光源本身的波动依然无法消除。因此，在采用调制法的系统中，光源稳定性反而成为系统噪声的主要来源。DSR100采用高稳定性的光源来保证系统的高重复性。右图是典型的光源相对强度的稳定度测量数据。◆ 全自动测量流程1)自动化测量流程得到高重复性样品的重复定位精度很大程度上决定了测量重复性，电动平移台重复定位精度10um，远远高于手动样品定位2)自动化测量流程降低了操作人员的要求按软件文字提示即可正确操作系统进行测量，不需要对操作人员进行复杂的培训，特别适合工业客户做检测用3)自动化测量流程提高时间利用率系统在预设方案后即自动运行测量流程，可提高操作人员时间利用率◆ 大空间样品仓，四壁可拆卸，方便系统调试特别设计的四壁方便拆卸的样品仓，给实验人员足够大的空间进行样品安装和调试。同时，也能容纳一些特殊体积的探测器，比如液氮制冷的探测器、条纹变相管等。实验人员的可操作性大大增强。◆ 激光监视光路选项，CCD图像监控，可对极小面积的光电探测器进行精确定位◆ 标准测量软件，数据导出格式支持第三方软件DSR100系统的软件保存所有测试第一手原始数据，可供实验人员导出成txt、xls等常见格式的文档，以便后期分析处理。

DSR300系列微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑，实现百微米级探测器的*对光谱祥响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是微纳器件研究的优选。 功能：? 光谱响应度? 外量子效率? 单色光/变功率IV；? 不同辐照度IT曲线（分辨率200ms）? 不同偏压下的IT曲线? LBIC，Mapping? 线性度测试? 响应速率测试 微纳器件光谱响应度测试系统主要技术参数显微镜头标配：10倍超长工作距离物镜，工作距离大于17mmNA值：0.42光谱范围：350-800nm选配：1，50倍超长工作距离消色差物镜，工作距离大于17mmNA值：0.42光谱范围：480-1800nm 2，15倍紫外物镜，工作距离大于8.5mmNA值：0.32光谱范围：250-700nm 3，50倍超长工作距离紫外物镜，工作距离大于12mmNA值：0.42光谱范围：240-500nm 4，40倍反射式长工作距离工作距离大于7.8mmNA值：0.5光谱范围：200nm-20um光斑中心空心光源选配光源1、半导体激光器波长：405nm，532nm，633nm，808nm，980nm可选不稳定性：＜1% 2、皮秒脉冲激光器波长：375nm，405nm，488nm，785nm，976nm可选脉宽：100ps频率：1-20M Hz 3、氙灯光源光谱范围：250nm-1800nm不稳定性：＜1% 4、超连续白光激光光源光谱范围：400-2400nm频率：0.01MHz-200MHz脉宽：100ps光谱仪焦距：300mm；相对孔径：f/3.9；光学结构：C-T；光谱仪分辨率：0.1nm；倒线色散：2.7nm；波长准确度：±0.2nm波长重复性：±0.1nm扫描步距：0.005nm狭缝规格：圆孔抽拉式固定狭缝，孔径：0.2mm,0.5mm,1mm,1.5mm,2mm,2.5mm,3mm；三光栅塔台；光栅配置：1-120-300、1-060-500、1-030-1250，光栅尺寸：68×68mm6档自动滤光片轮，光谱范围200-2000nm；内置电动机械快门，软件控制快门开关；杂散光抑制比：10-5探针台配置4个探针座，配20/10微米针尖探针2米三同轴电缆，漏电流小于1pA。真空吸附样品台。探针座：ＸＹＺ方向12ｍｍ调节行程，0.75uｍ调节分辨率，0-30°调节探针角度。LBIC MaappingXY方向行程50mm，分辨率5um。数釆v 锁相放大器斩波频率：20Hz~1KHz；频率6位显示，2.4英寸屏，320×240液晶显示；电压输入模式：单端输入或差分输入；电压、电流两种输入模式； 满量程灵敏度：1nV至1V；电流输入增益：106或108V/A；动态储备：＞100dB；时间常数范围：10μs至3ks； v keithley2612B量程：100nA/1A最小信号：1nA本地噪音：100pa分辨率：100fa通道数：2 v keithley2636B量程：1nA/1A最小信号：10pA本地噪音：1pa分辨率：10fa通道数：2制冷样品台温度范围：-196℃-600℃，（-196℃需要选择专用冷却系统）全程温度精度/温度性：0.1℃/＜0.01℃光孔直径：2.4mm样品区域面积：直径22mm两个样品探针，1个LEMO接头（可增加至1探针）工作距离：4.5-12.5mm气密样品腔室，可充入保护性气体独立温度控制响应速率测试示波器型号：MDO32模拟带宽100MHz采样率5GS/s记录长度10M时间范围：uS-S，需要配合调制激光器使用时间范围：10nS-S,需要配合皮秒脉冲激光器使用 三维可调高稳定探针台结构，方便样品位置调节。内置三路半导体激光器或者两路光纤激光器，外置一路激光光路。可以引入可调单色光源，进行全光谱范围的光谱响应度测试。测试功能曲线：40um光斑@550nm@50倍物镜200um光纤 70um光斑@550nm@50倍物镜400um光纤5um光斑@375nm皮秒激光器@40倍物镜 紫外增强氙灯和EQ99光源的单色光能量曲线，使用40倍反射式物镜，300mm焦距光谱仪，光谱仪使用1200刻线300nm闪耀光栅，光斑直径大小80um。

薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS10-Film适用范围： 非晶硅薄膜电池、CIGS 薄膜电池、CdTe 薄膜电池、非晶/ 微晶双结薄膜电池、非晶/ 微晶/微晶锗硅三结薄膜电池等光谱范围：300~1700nm电池结构：单结、多结太阳电池可测参数：光谱响应度、外量子效率、反射率、透射率、内量子效率、短路电流密度可测样品面积：300mm×300mm● 集成一体化turnkey系统● 大面积薄膜电池测试专用● 超大样品室，光纤传导● 背面电极快速连接● 反射率、内外量子效率同步测试● 快速高效售后服务 SCS10-Film系统规格 光源150W高稳定性氙灯，光学稳定度≤0.4%，光纤传导测试光斑尺寸2mm~10mm可调单色仪三光栅DSP扫描单色仪波长范围300nm~1700nm波长准确度±0.2nm（@1200g/mm,500nm)扫描间隔最小可达0.1nm，默认设置10nm输出波长带宽0.1nm~10nm可调，默认设置5nm多级光谱滤除装置根据波长自动切换，消除多级光谱的影响光调制频率4~400Hz标准探测器进口Si光电探测器，含校正测试报告数据采集装置灵敏度直流模式：100nA；交流模式：2nV测量重复精度0.6%( 400~1000nm范围0.3%)测量速度单次光谱响应扫描 1min 完整流程扫描 5min(扫描间隔10nm）样品加持探针样品台，156mm×156mm，特殊样品台可定制*Mapping扫描速度：20点/s（@0.5mm step）分辨率：0.5mm仪器尺寸主机：；样品室：控制机柜：800mm×600mm×1300mm计算机及软件系统含工控计算机、显示器、鼠标、键盘，正版windows 7操作系统，系统软件安装光盘

仪器简介：硅光电探测器（Si）&mdash &mdash &mdash 室温型探测器，波长范围：200-1100nm技术参数：型号列表及主要技术指标：技术指标＼型号名称 DSi200 紫敏硅探测器 DSi300 硅探测器 进口紫外增强型 国产低暗电流型有效接收面积(mm2) 100(&Phi 11.28) 100(10× 10)波长范围(nm) 200-1100 300-1100峰值波长(nm) ------- 800± 20峰值波长响应度(A/W) 0.52 0.4254nm的响应度(A/W) 0.14(0.09) -------响应时间(&mu s) 5.9 -------工作温度范围(℃) -10～+60 -------储存温度范围(℃) -20～+70 -------分流电阻RSH(M&Omega ) 10(5) -------等效噪声功率NEP (W/&radic Hz) 4.5× 10-13 -------暗电流(25℃；-1V) ------- 1X10-8&mdash 5× 10-11 A结电容(pf) 4500 3000(-10V)信号输出模式 电流 电流输出信号极性 正（P） 正（P）主要特点：■ DSi200/DSi300硅光电探测器硅光电探测器（Si）&mdash &mdash &mdash 室温型探测器，波长范围：200-1100nm两种型号的探测器室的外观相同，其中：◆ DSi200型内装进口紫敏硅光电探测器◆ DSi300型内装国产低暗电流硅光电探测器◆ 推荐配合I-V放大器（型号：ZAMP）使用 硅光电探测器使用建议：◆ DSi200/DSi300均为电流输出模式的光电探测器，在接入示波器、锁相放大器等要求电压输入的信号处理器前，建议采用I-V跨导放大器ZAMP（Page85做为前级放大并转换为电压信号，标明可输入电流信号的信号处理器可直接接入信号，但仍建议增加前置放大器以提高探测灵敏度；◆ DSi200/DSi300配合DCS103数据采集系统（Page95）使用时，建议采用I-V跨导放大器以提高探测灵敏度；◆ DSi200/DSi300配合DCS300PA数据采集系统（Page95）使用时，由于DCS300PA双通道已集成信号放大器，故可不再需要另行选配前置放大器。

CCD光谱响应测量系统，半导体光谱响应测量系统 该系统可以测量光谱响应特性光电转换装置、光强控制机制和特殊的光学系统，使该系统能够在恒定的光强下，在样品表面连续照射均匀度高的单色光。规格：目标样品:CMOS传感器板/数码相机机身波长范围:300 - 1300 nm光源:氙灯/卤素灯有效照射面积:10×10mm(可选40×40mm)辐照强度:恒定能量10 - 50μW /cm2

二维平移光谱响应度测试探针台产品说明：TLRH系列二维平移光谱响应测试探针台是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑，实现百微米级探测器的绝对光谱响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是半导体微纳器件研究的优选。产品特点：&bull 半圆形探针架，可放置6个DC探针座&bull 漏电精度100fA（吉时利2636B实测）&bull 整体位移精度3μm&bull 1微米以上电极/PAD使用&bull 兼容高倍率电子显微镜/体式显微镜/金相显微镜等&bull 探针台整体位移分辨率3μm，样品XYZR四维调节&bull 用于科研院校搭建测试系统，例：材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统全系列 搭配显微镜XY精密移动功能，可以选配多种位移行程以及驱动形式通用参数：样品台尺寸8英寸样品台行程110X110mm位移精度3um漏电精度100fA线缆规格三同轴线缆探针座精度3um显微镜移动25*25mm接口方式三同轴接口背电极可以引出背电极驱动方式精密研磨丝杆位移维度XY整体位移行程X:100mm Y:100mm分辨率0.003mm直线度0.002mm驱动误差20°功能应用：&bull 光谱响应度；&bull 单色光/变功率IV；&bull 不同辐照度IT曲线；&bull 不同偏压下的IT曲线；&bull 光电流Mapping曲线测试；&bull 线性度测试；&bull 响应速率测试；&bull 瞬态光电压；&bull 瞬态光电流；产品示意图：产品选型：产品型号样品台尺寸样品台位移精度探针座位移精度漏电流精度TLRHF-044英寸3um3um100fATLRHF-066英寸3um3um100fATLRHF-088英寸3um3um100fATLRHF-1212英寸3um3um100fA实验附件及常规测试步骤：光学隔振平台(台面600mm*600mm)、一台计算机(标准VGA接口和USB接口)、吉时利2400数字源表（含软件）等。测试时连接探针台和数字源表，探针接被测物体，通过显微镜观察确定两根探针是否紧贴被测物表面，待连接导通后打开源表软件，选好参数即可出该触点的I-V性能曲线。应用领域：半导体材料光电检测、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、测量表面电阻率测试、精密仪器生产检测、航空航天实验等。谱量光电可根据客户实际应用需求，定制配套探针台系统，以达更好的测试效果及更高的性价比，具体信息可联系详询。

二维平移光谱响应度测试探针台产品说明：TLRH系列二维平移光谱响应测试探针台是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑，实现百微米级探测器的绝对光谱响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是半导体微纳器件研究的优选。产品特点：&bull 半圆形探针架，可放置6个DC探针座&bull 漏电精度100fA（吉时利2636B实测）&bull 整体位移精度3μm&bull 1微米以上电极/PAD使用&bull 兼容高倍率电子显微镜/体式显微镜/金相显微镜等&bull 探针台整体位移分辨率3μm，样品XYZR四维调节&bull 用于科研院校搭建测试系统，例：材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统全系列 搭配显微镜XY精密移动功能，可以选配多种位移行程以及驱动形式通用参数：样品台尺寸4英寸样品台行程110X110mm位移精度3um漏电精度100fA线缆规格三同轴线缆探针座精度3um显微镜移动25*25mm接口方式三同轴接口背电极可以引出背电极驱动方式精密研磨丝杆位移维度XY整体位移行程X:100mm Y:100mm分辨率0.003mm直线度0.002mm驱动误差20°测试案列功能应用：&bull 光谱响应度；&bull 单色光/变功率IV；&bull 不同辐照度IT曲线；&bull 不同偏压下的IT曲线；&bull 光电流Mapping曲线测试；&bull 线性度测试；&bull 响应速率测试；&bull 瞬态光电压；&bull 瞬态光电流；产品示意图：产品选型：产品型号样品台尺寸样品台位移精度探针座位移精度漏电流精度TLRHF-044英寸3um3um100fATLRHF-066英寸3um3um100fATLRHF-088英寸3um3um100fATLRHF-1212英寸3um3um100fA实验附件及常规测试步骤：光学隔振平台(台面600mm*600mm)、一台计算机(标准VGA接口和USB接口)、吉时利2400数字源表（含软件）等。测试时连接探针台和数字源表，探针接被测物体，通过显微镜观察确定两根探针是否紧贴被测物表面，待连接导通后打开源表软件，选好参数即可出该触点的I-V性能曲线。应用领域：半导体材料光电检测、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、测量表面电阻率测试、精密仪器生产检测、航空航天实验等。谱量光电可根据客户实际应用需求，定制配套探针台系统，以达更好的测试效果及更高的性价比，具体信息可联系详询。

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二维平移光谱响应度测试探针台产品说明：TLRH系列二维平移光谱响应测试探针台是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑，实现百微米级探测器的绝对光谱响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是半导体微纳器件研究的优选。产品特点：&bull 半圆形探针架，可放置6个DC探针座&bull 漏电精度100fA（吉时利2636B实测）&bull 整体位移精度3μm&bull 1微米以上电极/PAD使用&bull 兼容高倍率电子显微镜/体式显微镜/金相显微镜等&bull 探针台整体位移分辨率3μm，样品XYZR四维调节&bull 用于科研院校搭建测试系统，例：材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统全系列 搭配显微镜XY精密移动功能，可以选配多种位移行程以及驱动形式通用参数：样品台尺寸6英寸样品台行程110X110mm位移精度3um漏电精度100fA线缆规格三同轴线缆探针座精度3um显微镜移动25*25mm接口方式三同轴接口背电极可以引出背电极驱动方式精密研磨丝杆位移维度XY整体位移行程X:100mm Y:100mm分辨率0.003mm直线度0.002mm驱动误差20°测试案列功能应用：&bull 光谱响应度；&bull 单色光/变功率IV；&bull 不同辐照度IT曲线；&bull 不同偏压下的IT曲线；&bull 光电流Mapping曲线测试；&bull 线性度测试；&bull 响应速率测试；&bull 瞬态光电压；&bull 瞬态光电流；产品示意图：产品选型：产品型号样品台尺寸样品台位移精度探针座位移精度漏电流精度TLRHF-044英寸3um3um100fATLRHF-066英寸3um3um100fATLRHF-088英寸3um3um100fATLRHF-1212英寸3um3um100fA实验附件及常规测试步骤：光学隔振平台(台面600mm*600mm)、一台计算机(标准VGA接口和USB接口)、吉时利2400数字源表（含软件）等。测试时连接探针台和数字源表，探针接被测物体，通过显微镜观察确定两根探针是否紧贴被测物表面，待连接导通后打开源表软件，选好参数即可出该触点的I-V性能曲线。应用领域：半导体材料光电检测、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、测量表面电阻率测试、精密仪器生产检测、航空航天实验等。谱量光电可根据客户实际应用需求，定制配套探针台系统，以达更好的测试效果及更高的性价比，具体信息可联系详询。

高度集成双光束一体化设计光谱响应测量系统，自动程序化控制测量，整合了Natural卤光灯光谱、Constant Energy恒定能量和Content Photon恒定光子测量模式，用来测试各种不同的电池器件光谱响应SR/光电转换效率IPCE。主要特点高度集成一体化设计双光束技术：测试样品的同时实时检测光强变化光照模式：卤光灯光谱、恒定光功率、恒定光通量一键实现自动化测试无需繁琐的参数设置，操作便捷蓝牙通讯可远程实现所有控制一个电源键实现系统开机100%信号处理技术+快速傅里叶转换自动化样品安装台，样品精密对准技术规格测量方式：IPCE和SR波长范围：340nm~1000nm光源：3400K 卤光灯光照模式：卤光灯光谱、恒定光功率、恒定光通量样品接收到的单色光功率：1~100uW(400~1000nm范围)测量技术：双光束技术，同步样品信号和检测器信号快速采集处理滤光片：多达5个高阶滤光片偏置光：LED白光光源，输出功率软件可控用户界面：人性化设计，操作简单便捷，测试数据txt输出通讯方式：蓝牙设备功率要求：100~240VAC（50~60Hz）设备尺寸：91cm×47cm×29cm重量：20kg软件控制界面IPCE测试光谱响应SR测试IV Data分析FFT傅里叶转换光照模式：Natural卤光灯光谱● 照射光功率光照模式：Constant Energy 恒定光功率● 绿线为10uW的恒定光功率光照模式：Constant Photon 恒定光通量● 绿色线为1.0E13 /s 恒定光通量

产品简介：探测器是采用具有光电效应的材料制作的光电转换器件。由于不同类型的材料具有不同的光谱选择特性，因此探测器光谱响应测试对探测器的生产、检测、应用和研究等都有重要的意义。SSC-DSR探测器光谱响应测试系统可以方便、简捷地对探测器的光谱性能进行检测。系统符合国家计量技术规范 JJF 1150-2006《光电探测器相对光谱响应度校准规范》规定的测试方法和测试要求，是探测器光谱响应测试的首选设备。测试项目：绝对光谱响应曲线（A/W或V/W）；相对光谱响应曲线；内/外量子效率曲线（%）；等效噪声功率（NEP） 比探测率（D*） 响应时间（s）；线性度，以及暗电流（A）。偏置电压下的光谱响应度及外量子效率，指定波长下的I-V特性测试。主要特点：1. 光谱范围宽，适用面广 宽光谱范围可适用于各种不同样品，如响应在日盲区的深紫外探测器；响应在可见光的太阳能电池；响应在近红外的光纤传感器；响应在中远红外的光电传感器，都可以在本系统上测量光谱响应度。2. 监视光路，方便样品定位 采用监视光路，使用高精度显微镜配合CCD 相机实现对微小器件的可视化控制，可清楚观察暗室内测试光斑与样品有效区域的位置关系，配合精密位移台实现样品精确定位。3. “TurnKey”理念，“OneKey”应用，系统集成度高。 秉承“交付即使用”的“TurnKey”理念，我们将系统设计为高度集成结构。在保留模块化系统兼容性高和升级空间大的前提下，将众多调整环节整合，达到无需多加调整即可使用。为免除定标的繁琐操作，本系统采用替代法进行测试。替代法作为现行的国家级计量部门通用的测试方法，与传统方法相比避免了对系统中各相关部件分别定标的繁琐以及多项误差的引入，具有更准确，更方便的特点。4. 针对不同器件的结构特点，配置不同的测试模式，配合两种不同的光路形式。4.1.有效面积小的样品，需要通过照度法进行响应度的测试。采用积分球匀质光路设计，光均匀度高。 在宽光谱范围的光学设计中，采用积分球实现光的匀质输出是一种常用的手段。积分球内设置合理的挡板可有效防止入射光的直接出射，保证输出光的匀质要求。4.2.有效面积大的样品，可采用通量法进行响应度的测试。采用全反射式成像光路，可提高光利用率，增大测试信噪比。 在宽光谱范围的光学设计中，反射式光路要比透射式光路具有更高的成像质量。透射式光学系统中影响成像的重要因素是色差，其来源是不同波长的辐射在光学材料中的折射率不同，波长范围越宽，色差越明显。在反射式的光学系统中，由于不涉及折射，所以不存在色差。因此采用反射式光路，成像质量会优于透射式光路。反射式汇聚光斑成像光路示意图测试系统暗箱内部测试系统样品室采用暗箱避光设计结构，同时便于取放样品或进行调整操作。样品室内上方为主光光源出光口，出光口角度出厂前已调整好，可准确照射在样品及探测器上；通过CCD相机对暗箱内进行可视化控制，可清楚的观测光斑效果，使样品精准定位；下方为可调整样品台，样品台可按需定制为手动或电控驱动，搭配我公司多种的探针台或其他配件。这种模块化的灵活搭配方式，适合工业、科研用户建立多种类样品的测试平台。系统参数：光谱范围200nm~2500nm内可选波长准确性±0.2nm光谱分辨率±0.1nm光谱带宽0.2nm~10nm可调光电源电流漂移＜0.04%/h系统重复性1%系统框图：系统软件：a) 集成分光系统、滤光片轮、数据采集器等参数设置功能b) 测量项目选择，扫描参数设置c) 自动扫描、信号放大、A/D、数据采集d) 粗大误差的自动去除，通过统计学的数据处理手段进一步提高了系统测试结果的准确性e) 多组数据对比功能f) 图、表文件自动生成与显示g) 多种格式的数据和图片备份和打印输出功能相关组件：氘灯光源氘灯光源主要用于紫外，可到真空紫外界限195nm，并且波长越短，亮度越高，在360nm以下比一般卤钨灯的辐亮度高。氘灯光源室内置长寿命氘灯灯泡，用户可自行更换。可用作独立的紫外光源，荧光光源的激发光源，或与我公司生产的单色仪、光谱仪、样品室、滤光片轮等配套使用组成各种应用系统。 卤钨灯光源卤钨灯光源室内置德国OSRAM原装进口灯泡及灯座，使用寿命长，用户可自行更换灯泡。光源具有色温高，光效高，光通稳定的特点，灯泡寿命终止时的光通量为开始时的95~98%，可基本保持恒定。输出光通量波动仅为0.12%~0.2%。该光源可与我公司生产的单色仪、样品室、滤光片轮等配套使用组成各种应用系统，也可单独作为照明光源使用。 氙灯光源氙灯光源室内置德国OSRAM原装进口高压短弧氙灯，亮度高于国产灯源数倍，寿命长，更换方便。光源室的F/#连续可调，且高压触发器置于光源室内部，避免光源室与电源之间传递高压造成安全隐患。关闭电源后，风冷系统继续工作保证光源室和电源充分冷却以延长各零组件寿命。 光栅扫描单色仪光栅扫描单色仪，配置滤光片轮，消除二次色散设计，有效抑制杂散光；单色仪采用多光栅塔台式分光结构，可根据需求灵活配置多块光栅；集成式软件可自动控制光栅转换、滤光片更换和波长扫描，实现全自动宽光谱测试；单色仪产品可与我公司光源、探测器等产品灵活组合搭建，广泛应用于我公司各光谱测试系统。 光学斩波器光学斩波器是一种高精密的光学设备，主要作用是将连续光调制成为有固定频率的光，同时输出调制频率；通常是与锁相放大器配合使用；光学斩波器一般由如下几个部件构成：控制单元、斩波装置、斩波片和连接线等 锁相放大器锁相放大器是用来检测极微弱的AC信号（可低至nV级）的高灵敏数据采集器，即使在噪声高于信号数千倍的情况下，也可得到精确的测量；锁相放大器是使用PSD相位敏感检测器的技术，只有存在于特定参考频率的信号可被挑选出来，而其他频率的噪声则不会被检出。系统需求确认表：SSC-DSR系统需求确认表(****单位****老师），请勾选填写后发到邮箱ssc@shinsco.cn1光谱范围（nm）（200-2500nm）2测试内容绝对光谱响应、量子效率、等效噪声功率NEP、暗电流pA级、最大反向电压，短路电流，开断电阻，暗电流-反向电压，暗电流-环境温度，响应温度系数，增益，一致性（Mapping)3样品种类（光电二极管、雪崩二极管等）4样品材质（硅、铟镓砷、锗等）5样品极数（二级、三级）7样品封装方式（裸片、TO5、TO8等）8光敏面尺寸9是否需要电偏置电偏置电压范围（V）10测试模式（交流、直流、交/直流切换；电动、手动）11附件需求（平台，电脑，打印机，备用灯泡等）12是否提供电池样品、照片或尺寸图等13其他要求根据不同的需求进行配置，报价区间25-80万元左右。应用案例：江苏某高校探测器光谱响应测试系统深圳某高校探测器光谱响应测试系统大连某高校探测器光谱响应测试系统长春某高校探测器光谱响应测试系统中国航天某院探测器光谱响应测试系统新疆某高校探测器光谱响应测试系统

DSR300系列微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑，实现百微米级探测器的*对光谱祥响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是微纳器件研究的优选。 功能：? 光谱响应度? 外量子效率? 单色光/变功率IV；? 不同辐照度IT曲线（分辨率200ms）? 不同偏压下的IT曲线? LBIC，Mapping? 线性度测试? 响应速率测试 微纳器件光谱响应度测试系统主要技术参数显微镜头标配：10倍超长工作距离物镜，工作距离大于17mmNA值：0.42光谱范围：350-800nm选配：1，50倍超长工作距离消色差物镜，工作距离大于17mmNA值：0.42光谱范围：480-1800nm 2，15倍紫外物镜，工作距离大于8.5mmNA值：0.32光谱范围：250-700nm 3，50倍超长工作距离紫外物镜，工作距离大于12mmNA值：0.42光谱范围：240-500nm 4，40倍反射式长工作距离工作距离大于7.8mmNA值：0.5光谱范围：200nm-20um光斑中心空心光源选配光源1、半导体激光器波长：405nm，532nm，633nm，808nm，980nm可选不稳定性：＜1% 2、皮秒脉冲激光器波长：375nm，405nm，488nm，785nm，976nm可选脉宽：100ps频率：1-20M Hz 3、氙灯光源光谱范围：250nm-1800nm不稳定性：＜1% 4、超连续白光激光光源光谱范围：400-2400nm频率：0.01MHz-200MHz脉宽：100ps光谱仪焦距：300mm；相对孔径：f/3.9；光学结构：C-T；光谱仪分辨率：0.1nm；倒线色散：2.7nm；波长准确度：±0.2nm波长重复性：±0.1nm扫描步距：0.005nm狭缝规格：圆孔抽拉式固定狭缝，孔径：0.2mm,0.5mm,1mm,1.5mm,2mm,2.5mm,3mm；三光栅塔台；光栅配置：1-120-300、1-060-500、1-030-1250，光栅尺寸：68×68mm6档自动滤光片轮，光谱范围200-2000nm；内置电动机械快门，软件控制快门开关；杂散光抑制比：10-5探针台配置4个探针座，配20/10微米针尖探针2米三同轴电缆，漏电流小于1pA。真空吸附样品台。探针座：ＸＹＺ方向12ｍｍ调节行程，0.75uｍ调节分辨率，0-30°调节探针角度。LBIC MaappingXY方向行程50mm，分辨率5um。数釆v 锁相放大器斩波频率：20Hz~1KHz；频率6位显示，2.4英寸屏，320×240液晶显示；电压输入模式：单端输入或差分输入；电压、电流两种输入模式； 满量程灵敏度：1nV至1V；电流输入增益：106或108V/A；动态储备：＞100dB；时间常数范围：10μs至3ks； v keithley2612B量程：100nA/1A最小信号：1nA本地噪音：100pa分辨率：100fa通道数：2 v keithley2636B量程：1nA/1A最小信号：10pA本地噪音：1pa分辨率：10fa通道数：2制冷样品台温度范围：-196℃-600℃，（-196℃需要选择专用冷却系统）全程温度精度/温度性：0.1℃/＜0.01℃光孔直径：2.4mm样品区域面积：直径22mm两个样品探针，1个LEMO接头（可增加至1探针）工作距离：4.5-12.5mm气密样品腔室，可充入保护性气体独立温度控制响应速率测试示波器型号：MDO32模拟带宽100MHz采样率5GS/s记录长度10M时间范围：uS-S，需要配合调制激光器使用时间范围：10nS-S,需要配合皮秒脉冲激光器使用 三维可调高稳定探针台结构，方便样品位置调节。内置三路半导体激光器或者两路光纤激光器，外置一路激光光路。可以引入可调单色光源，进行全光谱范围的光谱响应度测试。测试功能曲线：40um光斑@550nm@50倍物镜200um光纤 70um光斑@550nm@50倍物镜400um光纤5um光斑@375nm皮秒激光器@40倍物镜 紫外增强氙灯和EQ99光源的单色光能量曲线，使用40倍反射式物镜，300mm焦距光谱仪，光谱仪使用1200刻线300nm闪耀光栅，光斑直径大小80um。

薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS10-Film适用范围： 非晶硅薄膜电池、CIGS 薄膜电池、CdTe 薄膜电池、非晶/ 微晶双结薄膜电池、非晶/ 微晶/微晶锗硅三结薄膜电池等光谱范围：300~1700nm电池结构：单结、多结太阳电池可测参数：光谱响应度、外量子效率、反射率、透射率、内量子效率、短路电流密度可测样品面积：300mm×300mm● 集成一体化turnkey系统● 大面积薄膜电池测试专用● 超大样品室，光纤传导● 背面电极快速连接● 反射率、内外量子效率同步测试● 快速高效售后服务 SCS10-Film系统规格 光源150W高稳定性氙灯，光学稳定度≤0.4%，光纤传导测试光斑尺寸2mm~10mm可调单色仪三光栅DSP扫描单色仪波长范围300nm~1700nm波长准确度±0.2nm（@1200g/mm,500nm)扫描间隔最小可达0.1nm，默认设置10nm输出波长带宽0.1nm~10nm可调，默认设置5nm多级光谱滤除装置根据波长自动切换，消除多级光谱的影响光调制频率4~400Hz标准探测器进口Si光电探测器，含校正测试报告数据采集装置灵敏度直流模式：100nA；交流模式：2nV测量重复精度0.6%( 400~1000nm范围0.3%)测量速度单次光谱响应扫描 1min 完整流程扫描 5min(扫描间隔10nm）样品加持探针样品台，156mm×156mm，特殊样品台可定制*Mapping扫描速度：20点/s（@0.5mm step）分辨率：0.5mm仪器尺寸主机：；样品室：控制机柜：800mm×600mm×1300mm计算机及软件系统含工控计算机、显示器、鼠标、键盘，正版windows 7操作系统，系统软件安装光盘

适用电池：单晶硅、多晶硅太阳能电池；交流分析模式下的材料性能分析测试项目：绝对光谱响应，外量子效率，光谱透过率，光谱反射率（选配），内量子效率（选配）、标准太阳 AM1.5G 照射下的短路电流密度、表面均匀度等。 1）外量子效率测试： 利用太阳电池光谱响应的测量，可以得出太阳电池的量子效率 η(λ)，2）光谱反射率测试：将单色仪输出的单色光输入积分球，分别将已知光谱漫反射率的标准白板和被测太阳能电池放到积分球的一个开口处，测量积分球另一开口处的探测器的输出光谱电流，通过比对得到绝对光谱反射率曲线。3）光谱透过率测试：测试样品室内放入样品和不放入样品时标准探测器的光谱电流/电压值，相比得到样品的透过率，可以测量太阳能电池的光谱透过率，也可以测量玻璃的光谱透过率4）内量子效率测试：扣除反射率对外量子效率的影响部分就得到了内量子效率。 测试原理光源在不同波长的辐射能量不同，探测器在不同波长的响应度也不同，因此，所测得的响应电流也会有较大的不同。假设系统噪声 N 不变，响应电流 S 大时，系统信噪比（S/N）大，不会影响测量精度，如果响应电流很小，甚至小于系统噪声，使 S/N1，此时测量的精度就会受到极大影响。为解决这个问题，系统采用了相关检测法，利用信号在时间上的相关性，把深埋于噪声中的周期信号提取出来。具体做法是：将光源经过斩波器调制成具有固定频率（参考频率）的周期信号，则探测器也输出具有相同频率的电信号，经过锁相放大器将含有参考频率的电信号检出，而其它频率的信号（噪声）则被抑制掉，从而提高了系统的信噪比，保证了测量准确度。主要技术指标：指标参数适用电池单晶硅、多晶硅、半导体材料控制模式软件控制、全自动扫描、自动消除误差、自动扣除背景光谱范围200-1100nm扫描间隔≥1nm连续可调光谱扫描全自动、连续测试结果重复性0.3%（短路电流）工作模式交流模式AC、斩波频率5-1000Hz温控台：温控范围5-40℃（±0.5℃），选配偏置光源可选配2路单色仪焦距300mm、150mm可选 实测光谱响应曲线 实测量子效率曲线

优势特点1)符合 ASTM E1021-12，IEC60904-8，GB/T6495.8-2002 等国内外最新测试标准。2）“一键式”全自动化测试，自动切换标准件和被测件，测试过程无需任何人工参与。3）高稳定、大功率、长寿命连续单色光照明，保证准确性和重复性。4）高稳定、长寿命连续白光偏置，保证准确性和重复性。5）分光系统，保证良好的波长准确度和重复性，消除多级谱的影响，杂散光小。6）样品室采用全反射式光路，避免透射元件的多重反射造成测试不准确。7）采用美国 Keithley数字表，保证信号测试准确性和高采集速度。产品应用适用电池：染料敏化类太阳电池或其他可采用直流方法测试的单结太阳电池。测试数据：绝对光谱响应、量子效率或光电转化效率 IPCE 以及标准太阳 AM1.5G、短路电流密度详细介绍依据染料敏化电池工作基本原理，染料敏化电池需要经过一系列的氧化-还原反应才能实现将光转化为电。染料敏化电池中染料的氧化-还原反应是由一系列复杂的反应所构成，其氧化-还原速率直接影响该电池的稳定性、转换效率和响应速度。氧化-还原速率则受到染料种类、染料浓度、电解质种类、电解质离子扩散速度等多种因素的影响。一般情况下，形成稳定的转换体系所需要的时间在“秒”量级上，也就是说染敏类电池的响应速度是比较慢，如果采用调制的交流测试模式，频率需低到 1Hz 以下，实践中很难实现。因此，直流测试模式更适用于染料敏化电池的 IPCE 测试。IPCE 测试与 I-V 测试不同，是将单色光照射于电池表面，并且要准确的测试出该单色光的强度。因此在 IPCE 测试中，需要可以进行光强标定的标准器件，且要求单色光照射在标准器件和被测样品时的强度一致。因此在测试过程中，单色光的光斑，应同时小于标准器件和被测样品的有效区域，以保证测试结果的准确性。而染料敏化电池的结构特点又决定了只有处于光照下的区域才产生敏化反应，而导电带和电解液却是完全分布于整个电池的有效区域，因此会加大电子被复合的几率，从而导致电池表现为输出电流降低。为保证 IPCE 测试的准确性，应在测试过程中保证电池的全部有效区域处于工作状态，以减少“内耗”情况的发生，而最有效的办法就是在测量时给电池加上偏置光。参考相关国内外标准和测试经验，确定偏置光的强度在约 0.5 个 SUN（AM1.5）的水平最适合。规格参数指标参数适用电池染料敏化类太阳电池或其他可采用直流方法测试的单结太阳电池控制模式软件控制、全自动扫描、自动消除误差、自动扣除背景光谱范围200-1100nm扫描间隔≥1nm连续可调光谱扫描全自动、连续测试结果重复性0.3%（短路电流）工作模式直流模式DC斩波频率5-1000Hz温控台：温控范围5-40℃（±0.5℃），选配偏置光源标配1路，进口白光/氙灯单色仪焦距300mm、150mm可选

该测试系统为自动测试系统，具有测试快速准确、操作简单、可靠性高度特点，能实现了200-250nm范围内绝对光谱响应度、量子效率、归一化探测率、信号电压、噪声电压、响应时间等参数随波长、频率、外加偏压的变化曲线的全自动测试。技术指标 光谱范围：200-2500nm（可根据实际需要选择）光电源电流漂移： 0.04%/h波长准确度：± 02nm光谱分辨率：± 0.1nm光谱带宽：0.2-10nm 可调光斑：15mm,各点不均匀性1%偏压源：电压：200uV-505V；电流：20fA-200mA系统噪声： 2mV系统重复性： 2%激光监视光路：CCD 图像监视，可对极小光电探测器进行精确定位。

半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 产品介绍：载流子表征的最佳工具本系统针对光电器件 (探测器或光伏器件) 进行光电转换过程的响应行为测量与分析。利用一单色 (单波长) 的光源，对其进行连续脉冲或是周期性的光强调制后，照射到光电器件产生光生电流或是光生电压讯号，并对此进行频域或时域的测量与分析，得到光电器件光电转换过程的重要参数。包含频率响应、爬升/下降时间、LDR线型动态范围、瞬态光电压 (TPV) 、瞬态光电流 (TPC) 等光电转换能力评价参数。用以了解光电器件内部结构与载流子动力学、内部材料组成、器件结构与载流子动力学之关系。作为光电器件特性评价与性能改进的参考。半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 特色：光强线性度测量与分析频率响应测量 0~40MHz可选雷射模块系统波长雷射光调变控制频率响应测量与分析截止频率 (Cut Frequency) 计算分析Rise/ Fall time 测量与分析TPC/TPV 测量与分析高动态光强变化光学调变模块，可自动调变强度 6 个数量级半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 规格TPC/TPV 量测功能雷射波长：半导体器件测试仪器光电器件响应测量与分析仪PD-RS 应用：有机光传感器 (OPD, Organic Photodiode)钙钛矿光传感器 (PPD, Perovskite Photodiode)量子点光传感器 (QDPD, Quantum Dots Photodiode)新型材料光传感器实证Cs2Pb(SCN)2Br2 单晶光电器件性能表征2021 年 Advanced Materials 期刊报导了第一种无机阳离子拟卤化物二维相钙钛矿单晶 Cs2Pb(SCN)2Br2。作者使用 PD-RS 系统对单晶光电器件进行多种的光电转换响应行为进行测量与分析。其中包含：变光强 IV 曲线测试。变光强光电流与响应度变化测试。定电压下光电转换爬升与下降时间测试。恒定光强脉冲光的时间相关光电流响应测试。TPC/TPV 瞬态光电流/光电压测试。 恒定光强脉冲光的光电流时间响应PD-RS 系统具备高速调制能力的激光器 (爬升/下降时间 5ns)，在恒定光强脉冲光条件下，可以对器件进行光电流时间响应测试，并且分析光电器件的爬升/下降时间的分析。以了解光电器件最快的时间响应极限特征。变光强光电流与响应度变化测试 (LDR) PD-RS 具备 120 dB 光强动态范围测试能力。在软件自动化的测试光电流的变化，绘制出待测器件的线性动态范围响应图 (LDR, Linearity Dynamic Range)。LDR 试评估光电器件特性的一项重要指标。由光电流与光强的测试可以得到响应度 (mA/W) 变化，是常用于表征光电器件优劣的参数。

产品关键词：噪声、探测器瞬态响应时间、探测器上升下降时间、比探测率D*、3dB、噪声等效功率NEP、线性动态范围LDR、响应度R、噪声频谱密度、光电器件瞬态特性（时域/频域测试）暗电流、光电流、开关比、外部量子效率（EQE）、噪声电流、响应带宽3db截止频率▌ 产品简介FineDet 990是东谱科技针对光电转换器件开发的综合性能测试平台，适用于光电导、光伏、光探测器等各种类型的器件。FineDet 990作为行业中第一款匹配全场景的光电转换器件综合性能测试平台，具有丰富的测试功能，可以得到这些器件全面的性能参数，包括光谱响应参数（光谱响应度、内量子效率、外量子效率、探测率等）、瞬态响应参数（响应时间、3dB截止频率等）、噪声测试参数（热噪声、散粒噪声、1/f噪声、噪声等效功率等）、伏安测试参数（IV单点测试、IV分段扫描、IV循环扫描等）、稳定性测试参数等。▌ 产品特点匹配全场景的光电转换器件综合性能测试平台□ 测试功能丰富：√ 太阳能电池/光探测器光谱响应度标定系统；√ 太阳能电池/光探测器量子效率测量系统；√ 光探测器噪声测量系统；√ 太阳能电池/光探测器伏安特性测量系统；√ 光探测器瞬态响应测量系统□ 设备集成度高，主机集成单色仪、光学调制部件、电学检测部件等，使用便捷，测试效率高；□ 配置高清可视化系统，通过摄像头方便看到测试光照射器件情况，调整样品的光斑照射位置；□ SolarYield测试软件，参数设置、数据采集、位置调整、能量标定、存储等均通过软件完成。具有模块化适配特征□ 针对太阳能电池，可以选配AM1.5G光谱响应测试模块；□ 针对微小器件，可以选配显微探针测试模块；□ 针对变温场景，可以选配MagicK变温测试模块；□ 针对空气老化样品，可以选用HiSam多功能测试夹具。▌ 产品功能□ 外量子EQE、IPCE、内量子IQE、□ 光谱响应度；□ 噪声测试参数（热噪声、散粒噪声、1/f噪声、噪声等效功率等）；□ 伏安测试参数（IV单点测试、IV分段扫描、IV循环扫描等）、□ 探测率、比探测率等；□ 瞬态响应参数（线性动态范围LDR、响应时间、3dB截止频率、瞬态光电流TPC、瞬态光电压TPV等）；□ 稳定性测试参数等。▌ 规格型号▌ 产品应用□ 光电导器件□ 太阳能电池器件√ 硅基太阳能电池√ 有机太阳能电池√ 钙钛矿太阳能电池√ 铜铟镓硒太阳能电池√ 碲化镉太阳能电池等 光探测器√ 光电二极管√ 光电晶体管等 光催化器件 其它光电转换器件。▌ 测试案例

优势特点1）大功率连续光源，输出光谱平缓无尖峰，保证测量重复性；2）配备偏置光源和偏置滤光片；3）专利分光系统，保证良好的波长准确度和重复性，消除多级谱的影响，杂散光小；4）相关检测法处理弱信号，有效提高信噪比，保证测量精度；5）独特样品夹具设计，适合各种规格的薄膜电池，夹持方便，电极接触好，对弱信号测试干扰小；6）完整的全自动化专用系统软件。产品应用对于多结电池，在测量其中一节电池时，需要对其它节电池进行偏置光照射，使其处于完全导通的状态，一般来讲，需要根据电池光谱响应的范围来选择偏置光的波段，在哪个波段电池有响应，就选哪个波段的光来导通电池，这样被测节电池所产生的电流才可以顺利输出。标准配置只含一个偏置光源，用户可以根据需要选配两个偏置光源，每个偏置光源可以独立工作，对于三结以上的太阳能电池可以采用分别偏置的方法来测量，解决了免某些波段的滤光片很难配套的问题，这在目前市场上的太阳能测试系统中属于比较独特的设计。详细介绍太阳能电池的光谱响应和量子效率对分析太阳能电池的工艺问题以及研究电池片的性能有重要的参考价值。CEL-QPCE2030多结薄膜太阳能电池光谱性能测试系统可以将多结薄膜太阳能电池各节的绝对光谱响应（Spectral Response）和量子效率(Quantum Efficiency)分别测出来，并计算得到整个电池片的绝对光谱响应和量子效率。同时还可以分别计算顶电池和底电池的电流密度，以及电池总的电流密度（AM1.5G 条件下）。规格参数指标参数适用电池单结、双结、三结, 多结薄膜太阳能电池控制模式软件控制、全自动扫描、自动消除误差、自动扣除背景光谱范围200-1700nm扫描间隔≥1nm连续可调光谱扫描全自动、连续测试结果重复性0.3%（短路电流）工作模式直流模式DC、交流模式AC斩波频率5-1000Hz温控台：温控范围5-40℃（±0.5℃），选配偏置光源可选配2路,氙灯/卤素灯单色仪焦距300mm、150mm可选偏置电压±3V，设置精度：±1mV偏置滤光片短波通 3 片（进口），长波通 4 片

英国Photek公司生产的基于MCP的PMT具有超快的响应时间，光谱响应100nm-900nm，同时提供日盲型和多阳极PMT选择。PMT应用方向：1.快速光电探测2.激光雷达3.荧光光谱分析4.粒子&辐射探测5.单光子计数荧光检测6.时间校正 光子计数对于不同波长的探测，Photek也可提供不同光窗可光阴极以适应用户对不同波长的探测。光窗材料和阴极材料对应的波长上/下限见下图。

适用电池：单晶硅、多晶硅太阳能电池；交流分析模式下的材料性能分析测试项目：绝对光谱响应，外量子效率，光谱透过率，光谱反射率（选配），内量子效率（选配）、标准太阳 AM1.5G 照射下的短路电流密度、表面均匀度等。 1）外量子效率测试： 利用太阳电池光谱响应的测量，可以得出太阳电池的量子效率 η(λ)，2）光谱反射率测试：将单色仪输出的单色光输入积分球，分别将已知光谱漫反射率的标准白板和被测太阳能电池放到积分球的一个开口处，测量积分球另一开口处的探测器的输出光谱电流，通过比对得到绝对光谱反射率曲线。3）光谱透过率测试：测试样品室内放入样品和不放入样品时标准探测器的光谱电流/电压值，相比得到样品的透过率，可以测量太阳能电池的光谱透过率，也可以测量玻璃的光谱透过率4）内量子效率测试：扣除反射率对外量子效率的影响部分就得到了内量子效率。 测试原理光源在不同波长的辐射能量不同，探测器在不同波长的响应度也不同，因此，所测得的响应电流也会有较大的不同。假设系统噪声 N 不变，响应电流 S 大时，系统信噪比（S/N）大，不会影响测量精度，如果响应电流很小，甚至小于系统噪声，使 S/N1，此时测量的精度就会受到极大影响。为解决这个问题，系统采用了相关检测法，利用信号在时间上的相关性，把深埋于噪声中的周期信号提取出来。具体做法是：将光源经过斩波器调制成具有固定频率（参考频率）的周期信号，则探测器也输出具有相同频率的电信号，经过锁相放大器将含有参考频率的电信号检出，而其它频率的信号（噪声）则被抑制掉，从而提高了系统的信噪比，保证了测量准确度。主要技术指标：指标参数适用电池单晶硅、多晶硅、半导体材料控制模式软件控制、全自动扫描、自动消除误差、自动扣除背景光谱范围200-1100nm扫描间隔≥1nm连续可调光谱扫描全自动、连续测试结果重复性0.3%（短路电流）工作模式交流模式AC、斩波频率5-1000Hz温控台：温控范围5-40℃（±0.5℃），选配偏置光源可选配2路单色仪焦距300mm、150mm可选 实测光谱响应曲线 实测量子效率曲线

光电探测器是光电系统的核心组成部分，其种类的选择和器件的性能特点直接影响着光电系统的性能。不同光电探测器敏感光波长的范围和程度是有差异的。所以在选择合适的探测器前必须清楚该探测器的光谱响应特性。探测器光谱响应检测设备主要由单色仪和标准探测器组成，通过替代法先测试标准探测器的光谱响应特性然后再换上被测探测器进行测试，通过对比标准探测器的值就可以得到被测探测器的光谱响应特性。OL750光谱响应测试系统主要由单色仪，标准探测器以及控制系统组成。单色仪主要负责把复合光分成单色光再通过探测器测出能量值，从而得到被测光源的光谱分布。所以单色仪作为一个分光系统，它的分光能力以及对杂散光的抑制就显得尤为重要，目前还是主要选用光栅作为分光元件，配合准直镜以及滤光片就可以得到较纯的单色光，另外为了提高整套系统的分光能力，通常会把两个单色仪连接起来形成双单色仪结构。这种二次分光设计不仅可以大大提高单色光的纯度而且可以有效地抑制杂散光，提高测试的精度。 图1-1 1、2、9、10 ----准直镜 6、7----光栅塔轮 3、11----反射镜 5、13、14----狭缝 4----斩波器 12---滤光片 光从单色仪的入口狭缝进入，入口狭缝出安装了一个光学斩波器，它可以直流信号变成交流信号方便后续信号的处理。然后后需通过准直镜把发散光准直成平行光束，因为只有当光线平行照射到光栅上才能得到最纯的单色光，而且也可以把杂散光减少到最低，准直镜可以通过控制器精确地调整位置，然后再经过光栅分光。如图1-1所示，光栅塔轮是一个三角形结构，有三个边，每边可以放置一片光栅所以总计可以放置三片，通过控制系统可以精确地控制塔轮旋转达到分光的效果。3片光栅的分光波段总和就是整套单色仪的分光范围，一般来说3片光栅已经足以覆盖很大的波长范围，但如果需要分光的波段超过了这个范围则需手动更换光栅。经一次光栅分光后还要再准直然后进行二次分光，提高单色光的纯度。当然这个时候的光并非是单色光，最后还要经过滤光片轮滤掉其它波段的杂散光。滤光片轮可以装11片二阶滤光片，通过控制器控制选择合适的滤光片。整套系统除了元器件的选择，对于它们的控制要求也十分高，两个光栅塔轮必须同时精确地旋转，斩波器、滤波轮以及准直镜都要精确地控制。这样就能得到高纯度的单色光提高结果的精确性。得到单色光之后用标准探测器把光信号转换成电信号，因为标准探测器都是经过标定的，它的光电转换效率是明确的，所以就可以依据收集到的电信号来计算出光信号的大小。从而确定光源经过分光系统后到达探测器时的能量值。对于探测器的选择，灵敏度和信噪比是较重要的指标，首先不同的材料对不同波段的光源响应是不一样的，所以一定要选用相对灵敏度较高的探测器。对于紫外和可见波段一般会选用硅探测器。 设备参数光栅光谱范围：200nm-30um 波长精度：±0.05% 波长重复性：±0.01% 线色散倒数：2nm/mm 带宽：0.25-10nm 杂散光：≤10-8 光栅尺寸：68mmX68mm 焦长：254 nm (f/4) 斩波器频率：可设置，10-500HZ 控制接口：RS-422 非线性误差：0.1% 硅探测器：（光谱范围：0.2μm-1.1μm，噪声不大于：2×10-14(Watts)）； 硫化铅探测器：（光谱范围：1.0μm ~3.2μm, 噪声不大于：1×10-12(Watts)）；

优势特点1）多种高稳定光源（氙灯、钨灯、氘灯等）可选，保证宽光谱范围测量；2）高精度光学分光系统，消慧差设计，保证良好的波长准确度和重复性，杂散光小；配自动滤光片轮，消除多级光谱影响。3）交流、直流测量方式，电磁屏蔽，超强弱信号处理能力，高信噪比，保证测量精度。4）专用定制样品室及专利样品架，夹持方便，电极接触好，对弱信号测试干扰小。5）自主研发弱信号控制器，内含前置放大器，信号自动切换，完成各类信号的切换。6）配置多种规格偏置滤光片用于测量。7）自动快门控制主光和偏光的开闭，方便测试。8）恒温、变温设备，方便对电池片进行温度控制。9）真空吸附样品测试台，可定制专属测试台。10）光路监视功能，有效扣除光源不稳定带来的测试误差，提高测试精度。11）完整的全自动化专用系统软件：12）软件集成了分光系统、多级谱滤除装置、弱信号切换、A/D、采集、处理等设备的选择和参数设置13）软件自动扫描、数据计算，及计算结果的图、表文件自动生成与显示，多种格式的数据和图片备份和打印输出功能，多组数据对比功能14）软件系统误差的自动去除，系统误差、线性误差、周期误差、T误差的自动校验。产品应用CEL-QPCE1000全能型太阳能电池光谱响应系统（QE/IPCE），主要用分析半导体材料、太阳能电池的各种性能，如光谱反射率（Spectral Reflectivity）、量子效率(Quantum Efficiency) 或IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency)、光谱透过率（Transmissivity）、、短路电流密度（Current Density）等。 1）适用电池：（单结、双结、三结）、单晶硅、多晶硅、染料敏化、非晶硅、微晶硅、砷化镓、铟镓磷、磷化铟、锗、碲化镉、铜铟硒、铜铟镓硒、有机太阳电池、聚合物太阳电池。2）测量项目：绝对光谱响应，光谱透过率，光谱反射率，短路电流密度，内、外量子效率等 光谱响应曲线：不同波长的光辐射转换成电能的效率光谱反射率曲线：减反膜和制绒的整体效果的反应外量子效率曲线：光子转化为电能的总效率内量子效率曲线：剔除了反射光的影响，真实反应光电转化的效率规格参数指标参数适用电池单晶硅、多晶硅、染料敏化、有机太阳电池控制模式软件控制、全自动扫描、自动消除误差、自动扣除背景光谱范围200-2500nm（可选）扫描间隔≥1nm连续可调光谱扫描全自动、连续测试结果重复性0.3%（短路电流）工作模式交流模式AC、直流模式DC斩波频率5-1000Hz温控台：温控范围5-40℃（±0.5℃），选配偏置光源配置两路、可对三结以上复杂薄膜电池的测试单色仪可选配配置双单色仪、双光路监视

Ⅰ.Model: QTEST HIFINITY 5太阳电池光谱响应/量子效率(QE)/IPCE 测试系统 Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement SystemQTEST HIFINITY 5可以测试太阳能电池的光谱响应，IPCE，量子效率等特性，具有AC 交流测试模式，DC 直流测试模式，EQE 外量子效率；能满足各种硅电池，薄膜电池，染料敏化电池及光电器件的光谱响应测试。可扩展为光解水制氢测试系统。 规格参数:光谱测量范围:基本测量范围: 300-1100nm 选项1.紫外可扩展至选项200nm 选项2.红外可扩展至选项1800nm 选项3.红外可扩展至选项2500nm系统测量精度: 优于 0.15% (在信号满刻度的情况下)系统测量准确度: 200 λ 400 nm 优于 2.0% 400 λ 450 nm 优于 0.8% 450 λ 950 nm 优于 0.7% 950 λ 990 nm 优于 2.0% 990 λ 1100 nm 优于 6.0%系统测量模式： 交直流模式可完全自动切换，两种模式亦可单独选配。 模式1.交流模式 信号采集为数字锁相放大器； 模式2.直流模式 信号采集为数字多用表。光源： 标准配置： 150W钨灯（光谱范围300-2500nm）； 选 配：30W氘灯（光谱范围185nm-400nm）。如果两种灯都配置的情况下测试时可自动切换。 AC模式参数： 灵敏度：2 nV to 1 V， 电流输入：106 or 108 V/A， 频率范围：1mHz~102kHzDC 调制频率：4 Hz to 3.7 kHzDC模式参数： 电流灵敏度: 10 nA 直流电压灵敏度:100 nV 标准配置为交直流双模工作方式（两种模式可自动切换) 选配1.可减为直流测试模工作方式 选配2.可减为交流测试模块工作方式5具备额外的信号输出接口，可以使用为其他外置放大器提供信号。测量样品载台： 可任意变换放置姿态，实现入射光相对与样品由上至下，由下至上，水平入射等多种入射方式。 样品电极接触的信号导出，如探针，鳄鱼夹，极板等多种方式组成，样品可采用负压吸附装载，可适合各种有照光面与背光面电极的样品。标准探测器与样品之间的切换： 选配1.标准探测器与样品之间自动切换。 选配2.样品控温制冷。偏置光： 选配1.白光偏置。 选配2.多结电池测试偏置。波长分辨率: 0.1nm杂散光: 10-5狭缝宽度: 标准配置： 2.4mmx 4.0mm 选 配： 0.6mmx 4.0mm, 1.2mmx 4.0mm（其他尺寸可按用户要求定制。） 根据使用者需要可选配：偏置电压；小尺寸样品针孔；内量子测试模块；积分球；标准白板；内量子支架。 控制: 自动扫描、电动狭缝、光栅更换、滤光轮控制、数据采集。数据: 光谱校准、曲线绘制、数据分析、数据保存、打印报告。

适用电池：染料敏化类太阳电池、钙钛矿电池或其他可采用直流方法测试的单结太阳电池、及相关直流法测试的半导体材料。测试数据：绝对光谱响应、量子效率或光电转化效率 IPCE 以及标准太阳 AM1.5G、短路电流密度 1）符合 ASTM E1021-12，IEC60904-8，GB/T6495.8-2002 等国内外最新测试标准。2）“一键式”全自动化测试，自动切换标准件和被测件，测试过程无需任何人工参与。3）高稳定、大功率、长寿命连续单色光照明，保证准确性和重复性。4）高稳定、长寿命连续白光偏置，保证准确性和重复性。5）分光系统，保证良好的波长准确度和重复性，消除多级谱的影响，杂散光小。6）样品室采用全反射式光路，避免透射元件的多重反射造成测试不准确。7）采用美国 Keithley数字表，保证信号测试准确性和高采集速度。 工作原理：依据染料敏化电池工作基本原理，染料敏化电池需要经过一系列的氧化-还原反应才能实现将光转化为电。染料敏化电池中染料的氧化-还原反应是由一系列复杂的反应所构成，其氧化-还原速率直接影响该电池的稳定性、转换效率和响应速度。氧化-还原速率则受到染料种类、染料浓度、电解质种类、电解质离子扩散速度等多种因素的影响。一般情况下，形成稳定的转换体系所需要的时间在“秒”量级上，也就是说染敏类电池的响应速度是比较慢，如果采用调制的交流测试模式，频率需低到 1Hz 以下，实践中很难实现。因此，直流测试模式更适用于染料敏化电池的 IPCE 测试。IPCE 测试与 I-V 测试不同，是将单色光照射于电池表面，并且要准确的测试出该单色光的强度。因此在 IPCE 测试中，需要可以进行光强标定的标准器件，且要求单色光照射在标准器件和被测样品时的强度一致。因此在测试过程中，单色光的光斑，应同时小于标准器件和被测样品的有效区域，以保证测试结果的准确性。而染料敏化电池的结构特点又决定了只有处于光照下的区域才产生敏化反应，而导电带和电解液却是完全分布于整个电池的有效区域，因此会加大电子被复合的几率，从而导致电池表现为输出电流降低。为保证 IPCE 测试的准确性，应在测试过程中保证电池的全部有效区域处于工作状态，以减少“内耗”情况的发生，而最有效的办法就是在测量时给电池加上偏置光。参考相关国内外标准和测试经验，确定偏置光的强度在约 0.5 个 SUN（AM1.5）的水平最适合。实测光谱响应曲线实测量子效率曲线规格参数指标参数适用电池染料敏化类太阳电池、钙钛矿电池或其他可采用直流方法测试的单结太阳电池、及相关直流法测试的半导体材料控制模式软件控制、全自动扫描、自动消除误差、自动扣除背景光谱范围200-1100nm扫描间隔≥1nm连续可调光谱扫描全自动、连续测试结果重复性0.3%（短路电流）工作模式直流模式DC斩波频率5-1000Hz温控台：温控范围5-40℃（±0.5℃），选配偏置光源标配1路，进口白光/氙灯单色仪焦距300mm、150mm可选

产品概述eLAS激光气体分析仪及系统是基于可调谐半导体激光吸收光谱（TDLAS）技术原理，对特定波长的气体吸收谱线进行扫描分析，并结合数字化的锁相放大器及长光程气室等先进技术实现气体的浓度测量。为目前国际先进的气体测量方法之一，该仪表具有灵敏度高、响应速度快、不受背景气体干扰、非接触式测量等特点，为实时准确地反映H2S变化提供了可靠保证。产品特点光谱多波长扫描，可消除CH4、CO2的交叉干扰可靠的长光程检测池设计，保证测量精度快速的响应时间非接触测量，使用寿命10年安装维护简单，使用成本低典型应用天然气管道硫化氢检测焚烧烟气硫化氢监测化工过程工艺控制恶臭气体监测

Moku: Pro的频率响应分析仪Moku:Pro频率响应分析仪描述Moku:Pro的频率响应分析仪使您能够使用10 mHz到300 mHz的正弦输出扫频功能，同时在幅度和相位测量系统的频率响应。在整个频率范围内，噪声底值为- 135dBm。Moku:Pro配备四个输入和四个输出端口，支持差分或比率测量。允许您在每次扫描32到512点之间进行选择，并配置稳定和平均时间，以平衡总持续扫描时间和信噪比。Moku:Pro的频谱分析仪允许您观察输入信号在DC和300 MHz之间的频率域与超低噪声地板。同时查看4个通道，分辨率带宽低至2.2 Hz，Min跨度为100 Hz。频谱分析仪还具有四个500兆赫正弦波发生器。Moku:Pro频率响应分析仪特征参数• 线性或对数扫频正弦输出。• 数学频道添加，减去，乘或除响应函数，因为他们是获得的。• 使用游标和标记测量关键指标。• 可配置测量平均和稳定时间• 解调高达15次谐波Moku:Pro频率响应分析仪标准参数输入特性参数测量特征参数保存数据Moku频率响应分析仪 常见用途频率响应分析仪是测量被测系统频率特性的仪器。早期频率特性的测量是用信号源、电压表、频率计、相位计、示波器等单机组成，仪器操作复杂，易受干扰，测量精度低。进入60年代，国外开发出以数字相关滤波为核心技术的频率响应分析仪，提高了测量精度。随着技术发展，智能化、数字化程度不断提高，测量功能、精度得到了快速发展，拓宽了仪器应用范围。目前，频率响应分析仪广泛地应用于航空航天、军工、机械制造的振动分析，大型机械的故障监测与诊断，自控系统、伺服系统的设计与调试，电子元件、压电元件的阻抗与谐振测试，高压电网滤波器调试，桩基检测，自动控制系统科研与教学等领域。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、先进激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

iLAS-700激光原位气体分析仪（单端） iLAS-700系列原位式激光气体分析仪采用了可调谐激光吸收光谱技术（Tunable Diode Laser Absorption Spectroscopy，简称TDLAS）， 可以在多种复杂工况下在线分析 O2、 CO、NH3 、CO2、CH4 、H2O、HCl、HF 等在内的多种气体（注：单个分析仪只能分析 1 ～ 2 个组分），被测气体浓度涵盖常量到微量。 该气体分析仪具有灵敏度高、响应速度快、不受背景气体干扰、 非接触式光学测量等特点，可应用于工业领域气体排放监测、过程控制等场景，为实时准确地反映气体浓度变化提供可靠保证。 产品优势采用原位测量，无需预处理系统， 直接分析过程气体，无取样损失变化测量管道截面平均浓度，更接近真实工况实时响应快，提供真实气体浓度变化非接触光学测量，适应于高温，高压，多粉尘等极端条件采用“单线光谱”技术，测量不受背景气体交叉干扰； 采用单端方式测量， 光路无需复杂调节典型应用高炉煤气安全监控转炉煤气回收热风炉烟气监测加热炉燃烧优化反应釜氧量分析电力、水泥、环 保等行业的微量 CO 检测分析；环保、化工等行业的微量 HCl 和 HF 分析。

仪器简介：供电测试和电子分析 Solartron FRA产品的成功可以归功于下列应用的开发：电子放大器设计，电压控制振荡器，集成电路设计，相闭合回路 和开关式电源，这些已经用于电信和卫星系统。Solartron FRA还用于开发高密度磁盘激光控制特征和机器人模拟技术 (主要是在日本)。电信 传递函数包括电对电－类似于电源测试，即在我们的FRA频 率范围如模拟开关中的开关单元。新的听筒技术的开发即音 频输出到电子输出－分析麦克风电路和可替代的电子输出到 音频输出。决定产品有效性的常规标准被用于电信工业来确 定产品用于传递函数分析的可行性。工业上使用的电源也要 进行测试。新用途 目前我们的市场包括火箭推进器控制系统、卫星系统设计、 新桥梁设计制造研究、伺服系统的参数和性能分析如用于迪 斯尼乐园&ldquo 星球之旅&rdquo 的模拟从而确保大小和相位裕度能够 保持在合适的范围之内；至于建筑结构研究，只是Solartron FRA单元用途的一小部分。最近的关于FRA的应用涉及边缘 科学研究的如下文所述：强调制光电流光谱(IMPS) IMPS的目的是测定出现在半导体/电解质结合处的光电流的 响应。当半导体被照射，激发内部电子通过禁能隙，使电子 跃迁到导带和价带空穴 。使用外电路，通过记录这一反应过程中的光电流竞争过程即可以测出这些光激发载体信号，包 括电荷转移与重组，二者均为一级反应。这就导致了光激发 与响应之间的特性滞后(即相移)。IMPS的主要任务是测定光 电流的频率响应，以便推导出动力学信息。半导体中的激发 态可以通过使用强调制光源如声光调幅器＋激光，或具有特 定发射波长的发光二极管(LED)来照射材料而获得。电压调制微波反射(PMMR) PMMR技术是当电位被调制时，用来监测半导体电极的微波 反射。材料的微波反射与其电导率成正比。因电导率依赖于 载荷子密度，该技术可以直接监测界面孔与电子密度的变 化。半导体系统中，当得到关于电荷的形成和衰变的基本信 息后，就可以获得关于反应动力学的直接信息。光电化学阻抗光谱(PEIS) 该技术非常类似于IMPS，只是不是调制光，而是电压变化 之后测试阻抗。技术参数：发生器波形：正弦波，方波，三角波频率：10uHz-65kHz幅度：10mV-10.23V分辨率：1/1023主要特点：1250 系列频率响应分析仪 1250系列频响分析仪FRA为增益及相位的测量提供了 一些精确的解决方法。待测设备由正弦波来激励并在系统中分析一、二点或 更多点处的响应。然后将这些响应与激励正弦波相关去确定相对于发生器的幅度及相位。由测得的两信号 的比值就可用于求得系统的传递函数。该过程抑制所有谐波并且通过增加积分时间将即使那 些被淹没在噪声中的信号也能被精确地测量出来。1250系列中300V的量程对燃料电池堆及各种机动车 和住宅电源用的高压电池组的测量特别有用。1250系列频响分析仪的主要特性包括 ● 交流幅度范围-10mV 到10V 用于电源测试● 分析量程- 300V 也即用于自动测试系统ATS 电站 振动测试● 噪声抑制能力● 同步器选项可使发生器及载波器的信号按照频率及 相位加以锁定● 有能力分析非线性系统● 多通道分析● 1254频响分析仪有4个平行通道● 面板或软件(Visual Basic)控制操作● 调制/解调卡与交流载波系统互联控制系统 频响分析仪的标准应用是产生一个信号并将该信号接 到转换器，去激发待测系统，然后将系统响应经传感器反馈到分析仪进行测试分析。用于空气动力学测试 这些转换器安置于待测系统上，并将响应信号经过传感器再反馈到频响分析仪使体系得以表征。其典型应 用包括：● 自动化测试系统● 电源测试

仪器简介：供电测试和电子分析 Solartron FRA产品的成功可以归功于下列应用的开发：电子放大器设计，电压控制振荡器，集成电路设计，相闭合回路 和开关式电源，这些已经用于电信和卫星系统。Solartron FRA还用于开发高密度磁盘激光控制特征和机器人模拟技术 (主要是在日本)。电信 传递函数包括电对电－类似于电源测试，即在我们的FRA频 率范围如模拟开关中的开关单元。新的听筒技术的开发即音 频输出到电子输出－分析麦克风电路和可替代的电子输出到 音频输出。决定产品有效性的常规标准被用于电信工业来确 定产品用于传递函数分析的可行性。工业上使用的电源也要 进行测试。新用途 目前我们的市场包括火箭推进器控制系统、卫星系统设计、 新桥梁设计制造研究、伺服系统的参数和性能分析如用于迪 斯尼乐园&ldquo 星球之旅&rdquo 的模拟从而确保大小和相位裕度能够 保持在合适的范围之内；至于建筑结构研究，只是Solartron FRA单元用途的一小部分。最近的关于FRA的应用涉及边缘 科学研究的如下文所述：强调制光电流光谱(IMPS) IMPS的目的是测定出现在半导体/电解质结合处的光电流的 响应。当半导体被照射，激发内部电子通过禁能隙，使电子 跃迁到导带和价带空穴 。使用外电路，通过记录这一反应过程中的光电流竞争过程即可以测出这些光激发载体信号，包 括电荷转移与重组，二者均为一级反应。这就导致了光激发 与响应之间的特性滞后(即相移)。IMPS的主要任务是测定光 电流的频率响应，以便推导出动力学信息。半导体中的激发 态可以通过使用强调制光源如声光调幅器＋激光，或具有特 定发射波长的发光二极管(LED)来照射材料而获得。电压调制微波反射(PMMR) PMMR技术是当电位被调制时，用来监测半导体电极的微波 反射。材料的微波反射与其电导率成正比。因电导率依赖于 载荷子密度，该技术可以直接监测界面孔与电子密度的变 化。半导体系统中，当得到关于电荷的形成和衰变的基本信 息后，就可以获得关于反应动力学的直接信息。光电化学阻抗光谱(PEIS) 该技术非常类似于IMPS，只是不是调制光，而是电压变化 之后测试阻抗。技术参数：发生器波形：正弦波，方波，三角波频率：10uHz-65kHz幅度：10mV-10.23V分辨率：1/1023主要特点：1250 系列频率响应分析仪 1250系列频响分析仪FRA为增益及相位的测量提供了 一些精确的解决方法。待测设备由正弦波来激励并在系统中分析一、二点或 更多点处的响应。然后将这些响应与激励正弦波相关去确定相对于发生器的幅度及相位。由测得的两信号 的比值就可用于求得系统的传递函数。该过程抑制所有谐波并且通过增加积分时间将即使那 些被淹没在噪声中的信号也能被精确地测量出来。1250系列中300V的量程对燃料电池堆及各种机动车 和住宅电源用的高压电池组的测量特别有用。1250系列频响分析仪的主要特性包括 ● 交流幅度范围-10mV 到10V 用于电源测试● 分析量程- 300V 也即用于自动测试系统ATS 电站 振动测试● 噪声抑制能力● 同步器选项可使发生器及载波器的信号按照频率及 相位加以锁定● 有能力分析非线性系统● 多通道分析● 1254频响分析仪有4个平行通道● 面板或软件(Visual Basic)控制操作● 调制/解调卡与交流载波系统互联控制系统 频响分析仪的标准应用是产生一个信号并将该信号接 到转换器，去激发待测系统，然后将系统响应经传感器反馈到分析仪进行测试分析。用于空气动力学测试 这些转换器安置于待测系统上，并将响应信号经过传感器再反馈到频响分析仪使体系得以表征。其典型应 用包括：● 自动化测试系统● 电源测试