光谱性质研究

Finder Vista“微曼”系列显微共聚焦激光拉曼光谱仪 性能特点：● 更高系统灵敏度：采用大通光口径影像校正光谱仪和进口低噪声科学级CCD。● 适合多种样品，可在显微光路与宏光路之间自由切换。● 高重复性：光路设计结构稳固，全自动，一体化设计，软件控制电动切换光路，切换后无需重新校准。● 模块升级选项：可提供功能升级模块，满足多方面科研需求。● 易操作：软件窗口操作模式，简单易用产品简介：Finder Vista“微曼”系列拉曼光谱仪是卓立汉光公司研发的具有更高性能显微共聚焦激光拉曼光谱仪，基于新一代显微共聚焦光学系统，搭配高品质影像校正光谱仪和进口CCD探测器，所有部件一体化集成，最大限度的确保了仪器性能的稳定性，从而可以获得样品的有关化学成分、晶体结构、分子间相互作用以及分子取向等各种拉曼光谱的信息，广泛适用于高等院校、科研院所的物理和化学实验研究，如化合物官能团分析 、分子动力学研究 、碳纤维/碳纳米管拉曼光谱分析 、表面分析\单层薄膜分析、聚合物组织结构分析、细胞组织研究、刑侦鉴定、考古学、地质学等多学科领域。Finder Vista“微曼”系列显微共聚焦激光拉曼光谱仪，除了可以实现拉曼光谱测量功能外，还可以通过增加功能附件，实现拉曼光谱成像、PL荧光及成像、荧光寿命测量等功能，欢迎洽询。参数规格表：主型号Finder Vista拉曼光谱范围60-5,000 cm-1（典型值）分辨率≤0.9cm-1（@585.25nm）激光器标配：532nm（≥100mW，TEM00）选配：266nm、325nm、633nm、785nm等显微镜标配：正置显微镜空间分辨率水平1μm，垂直2μm探测器类型TE深制冷型背感光CCD（LDC-DD技术）有效像元2000×256像元尺寸15×15μm量子效率95%@780nm*规格参数为532nm激光条件下的典型值，依据所选激发波长的改变会有所改变，详情请洽询！测试实例：（Sulfur:激发波长：532nm）

FI-RXF200 是新推出的一款研究型傅里叶变换红外光谱仪，能更好地满足科研用户不同的需求。FI-RXF200 拥有优于 0.25cm-1 光谱分辨率、光谱范围可扩展到 12800-350cm-1，可选择光源和检测器的自动切换，同时兼容各种内置、外置型附件，FI-RXF200 推动国产红外光谱仪向科研级迈上了一个新的台阶。 产品特点优异的光谱分辨率FI-RXF200 全光谱分辨率优于 0.25cm-1，拥有极高的信噪比，并可以升级到更高的光谱分辨率，可以适用于绝大部分科研需求。宽光谱扩展功能FI-RXF200 傅里叶变换红外光谱仪可以通过光学组件的自动切换，将标准的中红外谱区(8000-350cm-1)扩展到近红外谱区(12800-4000cm-1)，可以实现在同一台主机上进行中、近红外谱区的分析研究，拓展了研究范围。傅立叶变换近红外光谱仪具有独特的优势：通常情况下，样品无需稀释即可进行测量，由于玻璃在近红外波段是透明的，样品可以直接放置在玻璃瓶中进行分析。高性能设计FI-RXF200 傅里叶变换红外光谱仪专为科研实验室需求而设计，它集操作简单、高性能设计和高性价比等优点于一身。标准配置室温型DLaTGS 检测器，也可以选配液氮冷却 MCT 检测器、半导体制冷 MCT 检测器、液氮制冷锑化铟检测器、半导体制冷铟镓砷检测器等各种高灵敏度探测器，有效应对科研用户各种需求的高灵敏度和高光通量。FI-RXF200 所有检测器，均基于最新的双通道模数转换器及 32 位动态范围，使仪器的电子噪声值达到更低。简单灵活的软件功能FI-RXF200 傅里叶变换红外光谱仪采用全中文内核和界面，所有的操作和分析评价功能均可用于处理批量文件。并集成了全自动采集功能、在线实时反应监测软件，适用于化工制药的合成反应、催化反应、电化学反应等中间反应过程的动态机理研究。 主要技术参数项目标准配置可选配置光谱分辨率≤0.25cm-1光谱范围8000-350cm-112800-4000cm-1光源陶瓷光源钨丝灯分束器镀锗KBr石英分束器、CaF2 分束器、硒化锌分器等 检测器 标配：室温 DLaTGS选配：液氮制冷型MCT 半导体制冷 MCT 检测器、液氮制冷锑化铟检测器、液氮制冷锗检测器、半导体制冷铟镓砷检测器等样品腔透射样品腔选配：发射红外口、外置样品腔，UHV 的真空密封外接腔等波数精度≤0.01 cm-1信噪比≥45,000:1透过率精度≤0.1%T干涉仪立体角镜干涉仪 外接附件和样品仓可选附件● 热分析红外联用模块● 气相红外联用附件● 外接样品仓，可以抽真空或氮气吹扫● 联接UHV 的真空密封外接腔● 2 厘米-20 米各种规格气体池● 积分球附件● 原位透射附件● 原位漫反射附件● 显微红外附件● ATR 附件和镜反射附件 FI-RXF200 傅里叶变换红外光谱仪应用方向优异制药及生命科学蛋白质构象及浓度定量对水溶液中药物成分和赋形剂的高灵敏度的定量分析微生物鉴定与热分析联用对医药产品的挥发性、稳定性进行表征聚合物和化学制品与热分析联用对挥发过程和分解过程进行检测和表征实验室条件下的反应过程的监控（配套中红外 ATR 光纤探头）表面分析超薄膜和单分子层薄膜的检测和表征腐蚀过程的表征材料科学建筑材料发射率的检测红外窗片、镜面等光学材料的特性评价采用光声光谱对黑色材料进行研究半导体硅业各种非金属膜厚的测量质量控制中碳/氧杂质的测定土壤分析土壤中养分和有机质的评估土壤特性研究

设计精良VERTEX 70v 光谱仪采用 RockSolid™ 永久准直高性能干涉仪，能满足从常规分析测量到高端科研领域的各种应用需求。采用 UltraScan™ 真正准直专利干涉仪的 VERTEX 80 和 VERTEX 80v 是针对业内最前沿的科研应用设计的，它具备极高的光谱分辨率、能实现目前业内最高水平的快速扫描和步进扫描测量，能在最广的光谱范围内提供卓越的性能。VERTEX 70v 及 VERTEX 80v 全真空系列光谱仪彻底杜绝了大气吸收对红外测量的干扰，进一步提高光谱质量。杰出的性能- 最高的光谱分辨率- 最高的信噪比- 最高的动镜扫描速度- 全真空、可吹扫或密封干燥式光学台克服大气干扰- 最多的软件可控外光路扩展接口- 分束器更换简单快捷、无需重新调整干涉仪，实现紫外、可见光、近红外及远红外/太赫兹波段的谱区扩展- 全自动识别所有光学配件及测量附件- 强大的步进扫描/慢扫描功能满足光谱的时间分辨及各种调制应用- 极具远见性的设计可满足当前及未来的各种拓展需求谱区扩展VERTEX 80 和 VERTEX 80v 可覆盖从远红外或太赫兹10cm-1（VERTEX 80v 可达 5 cm-1）开始，经中红外、近红外、可见光到紫外光区 50,000 cm-1 的光谱区域。其高端的预准直光学配件及真正准直的 UltraScan™ 傅立叶干涉仪使扩展光谱区域变得十分简易。通过采用全自动分束器更换器 BMS-c，您可以在不中断红外谱仪真空的情况下实现从太赫兹到紫外的整个光谱区域的自动切换。该全自动更换器可以同时容纳四个不同的分束器，其极具远见的设计可以用来升级已安装完备的 VERTEX 80v 光谱仪。另外，如果结合外接探测器扩展腔，客户可以至多同时安装 5 个不同类型的检测器（室温、液氮制冷或液氦制冷），并均由软件操控，保证客户在各个光谱区域都能选择最合适的检测器。RockSolidTM 傅立叶红外干涉仪布鲁克 RockSol id™ 高性能傅立叶干涉仪是VERTEX 70v 产品稳定、可靠的核心因素。该干涉仪采取镀金镜面和30°入射角改良设计，以实现最高的通光效率和灵敏度，同时也极大限度地消除了偏振作用。其永久准直的设计保证了数据的高质量，使仪器的稳定性得到了保障，并摒弃了调整带来的滞后。数字化的电子元件保证了干涉仪的精准控制，使谱仪具备极高的灵敏度和长久的稳定性。采用 DigiTect 技术的检测器大大降低了电子噪音，使 VERTEX 70v 傅立叶红外光谱仪成为日常分析和科学研究的理想选择。优异的光谱分辨率VERTEX 70v 光谱仪标准的光谱分辨率优于0.4 cm-1，该分辨率可以满足绝大多数固体、液体以及低温下晶体样品的测量。针对特殊的实验要求，例如常温下气态样品的测量，VERTEX 70v 系列光谱仪的分辨率可以升至 0.16 cm-1，通常情况下，该类光谱图典型的半峰宽不会小于 0.2 cm-1。最高的光谱分辨率标准配置下的 VERTEX 80 光谱仪可以提供优于0.2 cm-1（已采用切趾函数）的光谱分辨率。针对需要顶级分辨率的高端应用，VERTEX 80 光谱仪可以提供优于0.06 cm-1的分辨率。该高分辨率即便在高波数区也能实现，比如：在可见光区分辨能力ν/Δν（定义为波数/半峰宽）可以优于 300,000:1。该指标由布鲁克独家提供，其他制造商仅能提供其光谱仪在中红外光谱区位于2000 cm-1 的光谱分辨率。众所周知，高波数区测试对光谱分辨能力和光学精准度的要求更为苛刻，布鲁克VERTEX 80在高波数区的杰出表现再次体现了布鲁克光谱仪的精良制作和公司严谨的精神。

超快光谱超快光谱探测技术被认为是自量子力学诞生以来，能够在相应非常短的时间尺度内探索微观量子性质的最有利工具之一，在研究超导材料的机理、非平衡物理及新奇量子态的诱导、量子态的外场调控等方面同样具有重要作用。很多新材料的研发需要借助超快光谱探测技术手段进行，如半导体磁性材料、超导体、绝缘体、复杂材料、太阳能电池等。在生物科学领域，NA、RNA等生物大分子在光激发后的反应过程和动力学过程，生物大分子的结构和生理机能探索，生物医学领域的基因工程等研究也需要超快光谱探测技术。显微超快光谱可以在微观尺度上探测样品的超快分子动力学过程，例如二维材料中边缘态动力学，载流子分布及扩散，光催化材料中的催化热点研究等等。卓立汉光的超快光谱测试系统，根据用户需求基于RTS显微系统，灵活搭建飞秒激光器、条纹相机、荧光寿命成像、飞秒瞬态吸收成像等超快模块，为超快化学及激发态动力学理论研究以及超快化学、物理和生物等交叉学科的研究提供更全面的数据支撑。超快光谱测试系统特点基于飞秒/皮秒激光器搭建，利用高能超短脉冲激发分子内部的动力学过程，监测过程中释放的超快荧光及瞬态吸收信号。激发光源可以自由切换，荧光显微系统使用高精度样品位移台，实现荧光寿命成像及荧光强度成像。条纹相机、光谱仪、显微镜构成联合诊断系统，提供超快空间-强度-时间分辨参数。飞秒瞬态吸收成像部分基于宽场显微镜搭建，可进行高通量快速成像。 超快光谱测试系统技术参数 荧光寿命成像光谱扫描范围200-900nm最小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-10μs空间分辨率≤1μm@100X物镜@405nm皮秒脉冲激光器条纹相机光谱测量范围200-900nm时间分辨率≤5ps, (最小档位时间范围+光谱仪光路系统)测量时间窗口范围500ps-100us(十档可选)工作模式静态模式，高频同步模式以及低频触发模式系统光谱分辨率0.2nm@1200g/mm单次成谱范围≥100nm@ 150g/mm宽场飞秒瞬态吸收成像成像空间分辨率500 nm载流子迁移定位精度30nm时间分辨率500 fs (100 fs激光脉冲条件下）时间延迟线0-4 ns/0-8 ns显微镜模块倒置显微镜，上方为开放空间，后期可兼容低温模块、探针台、电学调控、磁场等特殊实验场景测量模式点泵浦+宽场探测（载流子迁移）宽场泵浦+宽场探测（载流子分布）仪器工作模式反射/散射新型二维材料中的边缘物理态研究（飞秒瞬态吸收成像系统）二维WS2中激子分布情况，激子寿命研究。从图中可以看出，二维WS2材料中多层的边缘具有更高激子密度和更长激子寿命。 ASE超快发光过程监测（条纹相机） 钙钛矿样品中的放大自发辐射（Ampl i f i ed Spontaneous Emission，ASE）发光过程研究。条纹相机可以监测到随着激光功率逐渐增大，样品从单纯的荧光发射（左图）变成荧光与ASE混合发光（中图），最后到只有ASE发光（右图）的全部过程。 钙钛矿荧光寿命成像（荧光寿命成像系统）钙钛矿样品不同寿命组分的寿命成像和相对振幅成像图。从图中可以看到两个寿命组分及其相对含量在样品中的分布情况。

电化学由于其在电池、燃料电池、腐蚀、合成和催化等各个领域的广泛应用而受到越来越多的关注。在电化学系统中，会发生各种复杂的过程，包括物质的吸附、解吸和扩散，表面重建，电荷转移，表面和物种之间化学键的形成或断裂以及发生在电化学界面化学反应等。因此，电化学界面的结构决定了整个电化学系统的电化学响应以及材料的性质和性能电化学的研究主要涉及电化学界面的结构、性质和性能之间的内在关系，以促进电化学设备的合理设计。电化学表征技术主要基于电信号的测量，包括电流和电势，这些方法可以根据电化学理论分析电信号来获得丰富的信息，包括界面性质的热力学和动力学信息、表面上反应物的数量以及电极的反应性。然而，由于反应物的化学指纹信息缺乏，很难在没有经验的情况下确定化学结构。另外，从整个电极表面的响应测量得到的电信号，是针对整个电极的，对于非均匀电极的结构和性能无法进行研究。因此，需要开发具有丰富化学信息和高空间分辨率（低至几个纳米）的原位表征方法，以全面了解电化学界面和过程。 电化学-针尖增强拉曼光谱（ EC-TERS）是一种具有纳米尺度空间分辨率分子指纹信息的技术，可以用于实现上述目标。 EC-TERS联用优势● 分子水平的一致性：拉曼光谱可以提供分子水平的信息，可以检测到电化学界面上的单个分子。这使得我们能够研究电化学反应的瞬间变化。● 高空间分辨率：通过使用针尖增强拉曼光谱（TERS）技术，可以在纳米探针上实现高空间分辨率。这使得我们能够研究界面的局部结构。● 可以在液体环境下工作：拉曼光谱可以在液体环境下进行测量，这对于研究电化学修饰过程非常重要。传统的电化学表征技术通常需要在干燥的条件下进行测量，而拉曼光谱可以在多孔溶液中直接进行测量。● 化学指纹信息：拉曼光谱可以提供化学指纹信息，通过分析拉曼光谱的峰位和强度，可以研究反应的中间体、吸附物和反应产物。● 非破坏性测量：拉曼光谱是一种非破坏性测量技术，不需要对样品进行特殊处理或标记。这使得我们能够对电化学界面进行实时监测。EC-TERS方案电化学-针尖增强拉曼光谱测试系统系统采用倒置显微镜结构，底部激发，底部拉曼信号收集。兼容常规拉曼测试、常规电化学拉曼测试，针尖增强拉曼测试。电化学池位于XY压电位移台上，可以进行纳米级的步进移动； 探针链接XYZ压电位移台，可进行三维精细调节；从而实现探针-激光-样品三位一体。 电化学-针尖增强拉曼光谱测试系统技术参数 光谱分辨率2cm-1激发光源532nm激光器，100mW633nm激光器，15mW光谱仪焦距320mm，配置3块光栅探测器≥2000*256像素，300-1000nm响应，峰值效率高于90%，芯片深度制冷到-60℃常规拉曼空间分辨率1um@XY方向

FlashSENS激光闪光光解光谱仪FlashSENS 激光闪光光谱仪是卓立汉光公司开发的用于研究分子激发态行为，特别是反应历程的分析工具。该系统使用的激光闪光光解技术是基于动力学和瞬态光谱的检测，用来研究光化学、光生物学、光物理学体系中通过激光激发诱导产生的单重态、三重态的激发态分子，价键重排后的自由基和电子（质子）转移产生的正、负离子等瞬态中间体，探讨这些瞬态中间体的产生和衰退时间及各种性质和影响因素。FlashSENS 激光闪光光谱仪应用领域涵盖光化学（photochemistry）、光生物学（photobiology）、光物理学（photophysics）等多学科领域，主要应用包括： 分子内、分子间能量转移、电荷转移 电子能级跃迁、振动弛豫 电荷（空穴）转移（注入）时间 多激子效应(MEG)和俄歇复合 激发态吸收 染料敏化太阳能电池电子转移 半导体材料光催化电子转移 非线性光吸收 半导体载流子动力学 双光子或多光子吸收 单线态-三线态电子交换 单碳纳米管的光物理 量子点的能量转移和电子迁移的竞争 配合物同分异构体分析 CdSe/PbS量子点的非线性吸收 富勒烯衍生物太阳能电池性能 金属配位化合物的光物理 …… 激光闪光光解光谱仪系统特点： ■ 一体化的光学调校，系统性能更稳定■ 时间分辨率：7ns （可选：3ns Ultra Fast） ■ 内置超连续白光作为探测光，相比传统脉冲氙灯光源具有更高的探测效率■ 探测光点：5mm ■ 探测光光谱范围：190-2100nm ■ 适合于固体、液体等多种样品形态的样品架和测量光路■ 全自动测量操作，开机即用，操作简便■ 可升级至瞬态光电流、瞬态光电压测试系统 激光闪光光解光谱仪技术规格： SZ900-KM SZ900-SM 测量模式动力学测量模式光谱测量模式光谱范围300-1100nm 200-850nm 灵敏度* 0.05mOD 0.00024OD 泵浦激光单波长Nd:YAG激光器，1064nm，532nm，355nm，266nm 可调谐OPO激光器UV-NIR，210-2400nm 探测光源类型基于LDLS的超连续白光光源模式连续光谱范围190-2100nm 单色仪/光谱仪型号Omni-λ300i 焦距300mm 狭缝0.01-3mm连续可调，自动控制光谱范围330-2400nm（可扩展） 光谱分辨率优于0.1nm@1200g/mm 优于0.6nm@300g/mm 探测器类型标准硅探测器铟镓砷探测器ICCD 光谱范围300-1100nm 900nm~1600nm 180-850nm 暗电流0.5nA0.1nA 带宽45MHz 10MHz门宽- 7ns （可选3ns Ultra Fast）有效像素- 960*256像面尺寸- 25*6.7mm制冷温度- -25°C激光闪光光解光谱仪系统选型表 型号说明SZ900-KM 动力学测量模式，标准硅探测器，系统不包括激光器SZ900-SM 光谱测量模式，ICCD，系统不包括激光器SZ900-KSM 动力学+光谱双测量模式，标准硅探测器、InGaAs任选一种+ICCD，系统不包括激光器

石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统西班牙Das Nano公司成立于2012年，是一家提供高安全别打印设备，太赫兹无损检测设备以及个人身份安全验证设备的高科技公司。ONYX是其在全球范围内推出的一款针对石墨烯、半导体薄膜和其他二维材料大面积太赫兹无损表征的测量设备。ONYX采用先进的脉冲太赫兹时域光谱技术，实现了从科研及到工业的大面积石墨烯及二维材料的无损和高分辨，快速的电学性质测量，为石墨烯和二维材料科研和产业化研究提供了强大的支持。与传统四探针测量法相比，ONYX无损测量样品质量空间分布与拉曼，AFM，SEM相比，ONYX能够快速表征超大面积样品背景介绍太赫兹辐射( T射线)通常指的是频率在0. 1～10THz、波长在30μm-3mm之间的电磁波，其波段在微波和红外之间，属于远红外和亚毫米波范畴。该频段是宏观经典理论向微观量子理论的过度区，也是电子学向光子学的过渡区。在20世纪80年代中期以前，由于缺乏有效的产生方法和探测手段，科学家对于该波段电磁辐射性质的了解和研究非常有限，在相当长的一段时期,很少有人问津。电磁波谱中的这一波段(如下图) ，以至于形成远红外和亚毫米波空白区,也就是太赫兹空白区（THz gap）。太赫兹波段显著的特点是能够穿透大多数介电材料（如塑料、陶瓷、药品、缘体、纺织品或木材），这为无损检测（NDT）开辟了一个可能的新。同时，许多材料在太赫兹频率上呈现出可识别的频率指纹特性，使得太赫兹波段能够实现对许多材料的定性和定量研究。太赫兹波的这两个特性结合在一起，使其成为一种全新的材料研究手段。而且其光子能量低，不会引起电离，可以做到真正的无损检测。 ONYX工作原理 ONYX是一套实现石墨烯、半导体薄膜和其他二维材料全面积无损表征的测量系统，能够满足测试面积从科研（mm2）到晶元（cm2）以及工业（m2）的不同要求。与其他大面积样品的测量方法（如四探针法）相比，ONYX能够直观得到样品导电性能的空间分布。与拉曼、扫描电镜和透射电镜等微观方法相比，微米的空间分辨率能够实现对大面积样品的快速表征。ONYX采用先进的脉冲太赫兹时域光谱THz-TDS技术，产生皮秒量的短脉太赫兹冲辐射。穿透性强的太赫兹辐射穿透进样品达到各个界面，均会产生一个小反射波可以被探测器捕获，获得太赫兹脉冲的电场强度的时域波形。对太赫兹时域波形进行傅里叶变换,就可以得到太赫兹脉冲的频谱。分别测量通过试样前后(或直接从试样激发的)太赫兹脉冲波形,并对其频谱进行分析和处理,就可获得被测样品介电常数，吸收吸收以及载流子浓度等物理信息。再利用步进电机完成其扫描成像，得到其二维的电学测量结果。ONYX主要参数及特点样品大小: 10x10mm-200x200mm 全面的电导率和电阻率分析样品100%全覆盖测量高分辨率：50μm完全非接触无损无需样品制备载流子迁移率, 散射时间, 浓度分析 可定制样品测量面积(m2量)超快测量速度： 12cm2/min软件功能丰富，界面友好全自动操作图1 太赫兹光谱范围及信噪比ONYX主要功能→ 直流电导率（σDC）→ 载流子迁移率, μdrift→ 直流电阻率, RDC→ 载流子浓度, Ns→ 载流子散射时间，τsc→ 表面均匀性ONYX应用方向石墨烯材料：→ 单层/多层石墨烯 → 石墨烯溶液→ 掺杂石墨烯→ 石墨烯粉末→ 氧化石墨烯→ SiC外延石墨烯其他二维材料： → PEDOT→ Carbon Nanotubes→ ITO→ NbC→ IZO→ ALD-ZnO石墨烯光伏薄膜材料半导体薄膜电子器件PEDOT钨纳米线GaN颗粒Ag 纳米线ONYX测试数据1. 10x10mm CVD制备的石墨烯在不同分辨率下的电导率结果 2.10 x10mm CVD制备的石墨烯不同电学参数测量结果 3.利用ONYX测量ALD沉积在硅基底上的TiN电导率测量结果 应用案例■ 全球《石墨烯电学测量方法标准化指导手册》近期，欧洲计量创新与研究计划（EMPIR）的项目 “GRACE-石墨烯电学特性测量的新方法”发布了全球关于石墨烯电学特性测量方法的标准化指导手册。“GRACE-石墨烯电学特性测量新方法”项目是由英国实验室(NPL)主导，与意大利计量研究所、西班牙Das-nano 公司等合作，旨在开发石墨烯电学特性的新型测量方法，以及未来石墨烯电学测量的标准化制定。 图一 石墨烯电学测量方法标准化指导手册(发送邮件至info@qd-china.com获取完整版资料) 石墨烯由于其特优异的电学特性，在未来有望成为大规模应用于电子工业及能源领域的新材料。但是，目前受限于：1）如何制备大面积高质量石墨烯，且具有均匀和可重复的电气和电子性能；2）无论是作为科研用的实验样品还是在生产线中的批量化生产，对其电学性质的准确且可重复的表征方法目前尚不完善，缺乏正确实施此类测量方法的指导手册及测量标准。针对目前面临的问题和挑战，EMPIR 的“石墨烯电学特性测量新方法”项目对现有测量方法进行了总结和规范指导，更重要的是开发了石墨烯电学特性的快速高通量，非接触测量的新方法，并用现有技术对其进行了验证，取得了很好的一致性。 西班牙Das-Nano公司参与了“GRACE-石墨烯电学特性测量新方法”项目中基于THz-TDS的全新非接触测量方法的开发及测量标准的制定。基于该技术，Das-Nano推出了一款可以实现大面积（8英寸wafer）石墨烯和其他二维材料的100%全区域无损非接触快速电学测量系统-ONYX。ONYX采用一体化的反射式太赫兹时域光谱技术（THz-TDS）弥补了传统接触测量方法（如四探针法- Four-probe Method，范德堡法-Van Der Pauw和电阻层析成像法-Electrical Resistance Tomography）及显微方法（原子力显微镜-AFM, 共聚焦拉曼-Raman，扫描电子显微镜-SEM以及透射电子显微镜-TEM）之间的不足和空白。ONYX可以快速测量从0.5 mm2到~m2的石墨烯及其他二维材料的电学特性，为科研和工业化提供了一种颠覆性的检测手段[1,2]。更多详细信息请点击：欧洲计量创新与研究计划（EMPIR）发布全球《石墨烯电学测量方法标准化指导手册》参考文献：[1] Cultrera, A., Serazio, D., Zurutuza, A. et al. Mapping the conductivity of graphene with Electrical Resistance Tomography. Sci Rep 9, 10655 (2019).[2] Melios, C., Huang, N., Callegaro, L. et al. Towards standardisation of contact and contactless electrical measurements of CVD graphene at the macro-, micro- and nano-scale. Sci Rep 10, 3223 (2020). ONYX发表文章1. P Bogild et al. Mapping the electrical properties of large-area graphene. 2D Mater. 4 (2017) 042003.2. S Fernández et al. Advanced Graphene-Based Transparent Conductive Electrodes for Photovoltaic Applications. Micromachines 2019, 10, 402.3. David M. A. Mackenzie et al. Quality assessment of terahertz time-domain spectroscopy transmission and reflection modes for graphene conductivity mapping. OPTICS EXPRESS 9220, Vol. 26, No. 7, 2 Apr 2018. 4. A Cultrera et al. Mapping the conductivity of graphene with Electrical Resistance Tomography. Scientific Reports , (2019) 9:10655.ONYX用户单位重要客户合作伙伴参与项目

研究级影像校正光栅光谱仪SR303i是专门针对弱光应用而开发的研究级、高性能、带有影像校正功能的通用型光栅光谱仪。可以根据实验需求选择不同的光耦合方式。可匹配Andor的CCD、ICCD、EMCCD以及InGaAs阵列探测器等，很容易搭建一套世界上灵敏度最高的光谱系统。同时Andor Solis软件提供友好的用户界面，所有的控制均可通过软件控制完成，避免手动操作带来的误差。研究级影像校正光栅光谱仪主要特点：l 优化的超环面反射镜，完美的光谱影像校正，多通道光谱研究的最佳解决方案l 无与伦比的波长准确度（0.04nm）和重复精度（0.004nm），远远领先于同类商品l 出色的杂散光抑制比（2.2×10-5），实验结果更加真实和可靠l 三光栅塔轮设计，即插即用，无需重新做光学校正，实验操作更加方便l 独特的12mm宽度的动态狭缝，完美匹配各种显微镜，同时得到微区光谱和图像信息l 功能强大的可视化软件控制，实时反馈和显示光谱等信息 SR-303i研究级影像校正光栅光谱仪技术参数指标：型号SR300i输入输出口焦距长度303mm通光孔径（F/#）F/4焦平面尺寸28mm×14mm波长精度±0.04nm光谱分辨率0.05nm@2400l/mm,300nm 0.1nm@1200l/mm,500nm 波长重复精度4pm杂光抑制比2.2×10-5光栅尺寸68mm×68mm配置选项：SR-303i-A电动狭缝输入口，1个CCD输出口SR-303i-A -SIL电动狭缝输入口，1个CCD输出口，镀银选项SR-303i-B电动狭缝输入口，2个CCD输出口SR-303i-B-SIL电动狭缝输入口，1CCD输出口，镀银选项附件选项：光纤、法兰、动态狭缝、快门、光栅、可调底脚

HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球leader，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见，或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒，或更长的寿命范围。HORIBA Scientific提供的研究级荧光寿命光谱仪有模块化或紧凑型设计，可按应用需求定制光谱仪。Fluorocube将全新的迷你化光源和检测技术与成熟的TCSPC电子系统，及自动化操作结合起来，提供 灵活和界面友好的光子计数寿命系统。主要特点：灵敏度高：单光子计数技术准确性好：计时电路无需校正灵活性强：可选多种光源，寿命响应范围宽模块化：可以根据需要定制模块配件方便性：全电脑控制，易于操作

MCG-1000光谱仪是浙大三色与德国知名光学公司共同研发，在德国生产的研究级快速光谱辐射计。内部光学系统采用德国蔡司公司的专利陶瓷结构，探测器采用当前国际上最高精度的科学级CCD（日本HAMAMATSU制造），分光器为平场校正的凹面光栅，具有极宽的光谱范围（200nm~980nm），毫秒级的测量速度和研究级的测量精度。该设备既具有低杂散光性能，又能一次紫外可见全谱快速测量，广泛应用于测量光源或物体的光谱功率分布、色温、色品坐标、主波长、峰值波长、色纯度、色容差、显色指数、光通量、辐射功率等光度、色度量的快速高精度测量。

前言精准农业是近年来国际农业科学研究的热点领域，也是当今世界农业发展的新潮流。研究人员希望通过精准农业技术体系的使用降低生产成本, 提高和稳定农产品产量和质量, 增加经济收入, 减少环境污染。 土壤中的盐分、水分、有机质含量、土壤压实度、质地结构等，均不同程度影响土壤电导率变化。通过测定土壤电导率，可为分析产量、评价土壤生产能力、制定精准施肥处方提供重要依据。传统的样方抽样调查不仅费时费力，还由于抽样密度过低不能真实反应地块土壤特性的时空变化，对于大尺度调查而言与机动车辆相结合的拖曳式土壤电导率测量系统无疑是最佳选择。 该系统既可以由拖拉机或皮卡进行拖曳作业（需选配支架），又可安装在播种机等农机具上——在耕种作业的同时完成对农用地的勘查，灵活而便捷；随后推出附加土壤温度和湿度传感器的升级版iSCAN+系统（温度和湿度是种子发芽和出苗非常重要的影响因子）。 通过实地原位测量土壤电导EC、OM值、温度和湿度值，利用GPS定位和数据处理测绘软件（收费数据处理服务），绘制出土壤理化性质分布图，全面分析反映土壤质地、盐碱度、持水能力、阳离子交换能力、根系深度等。适用于精准农业、土壤调查和碳汇农业（土壤碳储量估算）的研究示范及土地管理和土地利用规划等领域。 2017-2018年VERIS公司在美国选取4个州共计15块土地利用iSCAN系统进行勘测，并与手持式设备数据进行比对，得到非常好的线性相关结果。 上图为堪萨斯州40公顷地块勘查地图 主要特点1. iSCAN可同时测绘土壤EC值、OM值，iSCAN+则多了土壤表层温度和湿度值2. 原野现场测绘：随着机载系统在原野前行，即时获取电导及地理坐标（经纬度），每公顷可以测量120-240个样点数据3. 直接接触法测量EC（Electrical Conductivity），测量基本不受周边电磁影响，也不需要校准，反映土壤质地、盐度特性4. VIS-NIR双波段光谱传感器，可经由Veris数据处理中心进行数据处理提供土壤有机质OM（Organic Matter）值，反映土壤氮矿化、土壤水渗透、根系生长以及土壤持水能力 上图为经由VERIS数据中心处理后得到的地图 技术指标1. OpticMapper双波段VIS-NIR传感器，原位测绘植物枯落物下层土壤表层光谱反射2. 可见光波长：660nm；近红外波长：940nm；光源：LED3. 光谱检测器：5.76mm光敏二极管4. 除通过双波段VIS-NIR光谱传感器高密度原位测绘分析土壤OM值及其分布图外，可一次同时测量绘制EC，iSCAN+可附加土壤温度和湿度传感器，并可实时记录显示测量数据和分布图5. Garmin GPS 15X：差分GPS定位精度，优于3米6. 电子器件：NMEA 4X密封，军工级防水接口7. 数采：80 pin PIC 微处理器，1Hz采集率，背光显示器，电源12VDC，5A8. 测绘软件SoilViewer：即时显示EC值及光谱反射，并将地理位置信息（经纬度）及测量值下载到计算机上并自动制作二维分布图（光谱反射需经由Veris数据处理中心进行处理分析形成SOM值）9. EC测绘，可形成0－60cm的表层土壤电导测绘图10. OM测量深度：38－76mm11. 长度：农机版145cm；拖曳版259cm12. 宽度：农机版31cm 拖曳版127cm13. 高度：110cm14. 重量：147 kg15. 测量速度：可达24km/hr16. 工作温度：-20－70°C软件界面 产地美国选配技术方案1) 可选配高光谱成像以评估土壤微生物呼吸作用2) 可选配红外热成像研究土壤水分、温度变化对呼吸影响3) 可选配ECODRONE无人机平台搭载高光谱和红外热成像传感器进行时空格局调查研究部分参考文献1. Adamchuk, V.I., J.W. Hummel, M.T. Morgan, S.K. Upadhyaya. 2004. On-the-go soil sensors for precision agriculture. Comput. Electron. Agric. 44:71–91.2. Christy, C.D. 2008. Real-Time Measurement of Soil Attributes Using On-the-go Near Infrared Reflectance Spectroscopy. Computers and Electronics in Agriculture. 61:1. pp.10-193. Kitchen, N.R., S.T. Drummond, E.D. Lund, K.A. Sudduth, G.W. Buchleiter. 2003. Soil electrical conductivity and other soil and landscape properties related to yield for three contrasting soil and crop systems. Agron. J. 95:483–495.4. Kweon, G., E.D. Lund, and C.R. Maxton. 2013. Soil organic matter and cation-exchange capacity sensing with on-the-go electrical conductivity and optical sensors. Geoderma 199:80–89.5. Lund, E.D. 2008. Soil electrical conductivity. p.137-146. In: S. Logsdon et al. (ed.) Soil Science Step by Step Field Analysis. SSSA, Madison, WI.6. Lund, E.D., C.R. Maxton, T.J. Lund. 2015. Assuring data quality and providing actionable maps using a multi-sensor system. Proceedings of Global Workshop on Proximal Soil Sensing. Hangzhou China. 266-278.7. Eric Lund, Chase Maxton. 2019. Comparing Organic Matter Estimations Using Two Farm Implement Mounted Proximal Sensing Technologies. 5TH GLOBAL WORKSHOP ON PROXIMAL SOIL SENSING. P35-40.8. José Paulo Molin, Tiago Rodrigues Tavares. 2019. SENSOR SYSTEMS FOR MAPPING SOIL FERTILITY ATTRIBUTES: CHALLENGES, ADVANCES, AND PERSPECTIVES IN BRAZILIAN TROPICAL SOILS. Eng. Agríc. vol.39.

TeraSpecta: 化学表征的强有力的新型技术ARP TeraSpectra 光谱仪基于太赫兹时域光谱(THz-TDS)技术，采用专利EO 树枝状光源，在室温下可产生0-35THz 的稳定太赫兹辐射。用户可使用前端工作界面建立时间窗口捕捉发生在不同进程的分子事件，并在整个太赫兹频段探测分子。TeraSpectra 能针对固体、液体或者气体中的纯物质和混合物质成分分析低至飞摩尔或万亿分之一。仪器能探测对其他光谱辐射不透明或者缺少发色的分子。它同样用来识别分子的精细结构诸如小至单氢原子的原子替代或者多中心手性。通过调节时间窗口，太赫兹光谱能捕捉解离与结合动力学过程，从中间态的形成至配位键结合成分子、大复合体、胶体、颗粒甚至固体表面等。此外，扫描反射光谱仪可以测量固体基质诸如皮肤与多孔材料吸收组分的深度和动力学。时域太赫兹光谱介绍 THz-TDS 时域太赫兹光谱是在飞秒至几十皮秒时畴实施的光谱测量技术。相应的傅里叶变换应测量的太赫兹脉冲经过傅立叶变换，产生太赫兹光谱。其光谱取决于样品对太赫兹光的幅度和相位的影响。该技术提供了远超于传统傅里叶红外光谱或者拉曼光谱的信息，后者仅是幅度的改变。太赫兹光可在室温下产生与探测，如此以来该技术可以探测天然态下的分析系统（诸如生物系统），而无需电离辐射。太赫兹光谱原理当太赫兹辐射与分子相互作用时，将会激发诸多共振诸如分子振动与声子振动等等，导致THz 光子被特定的相互作用或者事件影响。能量或者频率的变化体现了分子本质相互作用的信息。红外与拉曼光谱也能获取类似信息，但是不像太赫兹光谱那样可以探测诸多的共振态，因为太赫兹光子对整个分子的振动态都很敏感，而不仅仅是某个键或者某个态。分子振动范围可涵盖从简单的双原子分子的耦合运动至大的官能团分子的多原子的复杂运动。一般来说，每个原子有6 个自由度，所以一个有N 个原子组成的分子会有6N 个振动态，这些结构都容易被太赫兹光谱探测。THz-TDS 光谱相对于其他形式的光谱具有明显独特的优势。在太赫兹波段，材料具有独特的指纹光谱特性，意味着太赫兹光可以有效识别他们。例如聚合爆炸物，多晶型物质如活性药物组分与拥有单个或多个手性中心的手性物质。许多材料对太赫兹光都透明，而对其他波长的光都是不透明的。所以可通过不透明的干扰层，如包装或织物可以轻易探测样品。能够对不透明材料的或者隐藏的界面和缺陷下的样品进行光谱或成像分析。太赫光不像X 射线或者紫外光导致样品的电离，所以利用太赫兹光的测量无损无接触，对生物样品安全无害。产品技术特点描述TeraSpectra 是在室温下实现从100GHz 至35THz 的全部太赫兹波段无间隙测量的新一代研究级商业化THz-TDS 光谱仪。该产品的独特优势在于专利光源与探测器技术（EO 树枝状）的应用。使用两个二极管激光泵浦的树枝状高功率光源，光分为两个光束：一束光保持静止，而另外一束光扫描产生干涉图，表征样品与太赫兹光的相互作用。使用这种技术，可以探测平均功率大于5mW 的100GHz 至35THz 范围的信号。TeraSpectra 可用于测量使用其它光谱技术与不使用EO 树枝技术的太赫兹仪器无法获取的样品的合成与化学特征信息。作为一个高灵敏度的仪器，可以用来识别与探测一个分子与另外一个分子结合或解离。不像拉曼与红外光谱，太赫兹光能穿透与探测更深的能级。可以在低至飞摩尔或亿万分之一的浓度识别分子信号与痕迹分析。其它诸如共聚物与催化也能在分子水平上进行分析。因为测量的时间窗口也可改变，可以用来测量分子的动力学快慢事件。例如，慢的事件诸如蛋白-蛋白作用、酶反应或者其它任何由化学、温度或者其它环境刺激引起的生物过程都能通过太赫兹光谱响应分析研究。TeraSpectra 高性能技术参数 参数TeraSpectra1时间分辨率33 飞秒时间范围至 100 皮秒频率范围100GHZ to ~35 THz专利技术Next gen. EO 树状源源功率5 毫瓦探测灵敏度~ 100 飞摩尔操作环境室温空气环境模式透射/反射高性能产品特色得益于下一代枝状太赫兹源技术，使得TeraSpectra 太赫兹光谱仪具有最高性能的同时，大大降低了成本。并且摒弃了笨重的激光源与繁杂的光路调节，使用户专注于应用而非仪器调节和维护高功率专利光源拓展了光谱测量范围，使得探测诸多样品与应用成为可能。透射与反射测量模式固体, 液体与气体样品高信噪比非标记表征.室温环境操作高稳定， ~1&rdquo 直径光束均匀照射。光束可聚焦（可选）温度与环境控制样品仓（可选） 请在资料中心下载更为详细的产品资料，或直接登陆公司网站：。

蒲公英液相检测--菊苣酸图谱分离度解决菊苣酸的化合物性质中文名：菊苣酸英文名：Cichoric acid分子式：C22H18O12分子量：474.374CAS号：70831-56-0 结构式： 菊苣酸是中药蒲公英的主要成分，虽然蒲公英是一种较为常见的药材，但是在中国药典（2020版）液相检测中，修改了蒲公英液相检测方法，菊苣酸出峰时与杂质的分离效果不是很理想，影响实验结果，很多品牌的色谱柱均不能解决该问题，给实验室分析工作带来诸多不便。 喆分色谱在实验过程中经过不断的努力尝试，调整色谱填料键合工艺以及微调方法的基础上解决了菊苣酸与杂质分离不好的问题，让以检测菊苣酸为目标化合物的众多产品多了一个优良的色谱柱选择。 本文建立了检测蒲公英的液相方法，采用Zafex Acutfex PW-C18(250*4.6mm，5um)，让菊苣酸在液相检测中与杂质的分离效果极其明显清晰可见，峰型良好，满足药典系统适应性，优化了该品种检测。2、适用范围 本检测适用于中药材蒲公英以及菊苣酸作为含量测定项的中成药和保健品的含量测定。3、色谱柱规格： 色谱柱：Zafex Acutfex PW-C18 规格：250*4.6mm，5um 货号：X1825465004、液相条件：按照高效液相色谱法（通则0512）测定 色谱条件与系统适用性实验 以十八烷基硅烷键合硅胶为填充剂；以甲醇为流动相A；以0.1%甲酸水溶液为流动相B；按下表中的规定进行梯度洗脱；柱温为30℃，流速为1.0mL/min，检测波长为327nm.理论板数按菊苣酸峰计算应不低于5000. 6、结论 通过以上实验对比可以看出，Zafex Acutfex PW-C18液相检测色谱图，完全符合中国药典要求，与其他品牌的色谱柱的出峰与杂质的分离效果图对比，喆分色谱柱更适合药典方法蒲公英的液相检测，为客户提供一个更好的选择。

耐可视研究级偏光显微镜NP900应用范围广，可靠性高的科研级偏光显微镜传统的偏光显微镜应用于地质学、矿物学、金相学和地质勘探中，但是随着各个学科研究的不断深入，越来越多的领域都对偏光显微镜提出需求，不仅包括建筑、材料分析、半导体生产和检测等工业领域，也包括法医学、医学检验、生物研究等自然科学领域。应用范围广，可靠性高的科研级偏光显微镜传统的偏光显微镜应用于地质学、矿物学、金相学和地质勘探中，但是随着各个学科研究的不断深入，越来越多的领域都对偏光显微镜提出需求，不仅包括建筑、材料分析、半导体生产和检测等工业领域，也包括法医学、医学检验、生物研究等自然科学领域。这些新领域对偏光显微镜提出新需求，需要成像清晰度更高、对比度更强、使用效率更高的可定制型显微镜。而维翰的NP900科研级偏光显微镜作为一款功能强大，使用舒适的偏光显微镜，是您科学研究及日常检验的可靠伙伴。常规应用结石、尿酸晶体检测、关节炎检测淀粉性质鉴定、药品成分鉴定各材料的各向异性纤维、液晶等鉴定矿物、结晶体、合金等的分析提供多种类型的补偿器NP900可使用多种光补偿器，它可以强化微弱双折射物质的讯号，使他们更容易被看见。同时，补偿器也可用于定性测量，能够确定多种水平延迟。无应力光学部件使成像更准确随着偏正光研究的不断加深，对数据的准确性和可重复性的要求越来越高，物镜及聚光镜作为显微镜中的重要部件对成像的效果起到至关重要的作用。而作为偏光显微镜，需要成像清晰度高，无应力光学部件也是必不可少的一项，这确保了观察到的双折射现象是来自样品而不是光学元件。中心可调6孔物镜转换器中心可定位转盘，让每个物镜都可以方便快捷地调整到光路的中心。物镜转盘可配备6个物镜并具有不同放大倍率，获取丰富样品信息。高精度圆形旋转载物台台面大、旋转方便，可45°定位旋转中心可调。双层机械移动尺可以轻松安装在旋转载物台上，样品移动更容易，显微操作更搞效。中间镜筒内置勃氏镜，可在正像镜检与锥光镜检之间快速切换，干涉图像调节靖确、快速。0—360º 转动式检偏装置，提供了无与伦必的图像对比度。可变倾角三目观察头可调节倾斜角度的观察头，可以在更舒适的姿势下进行操作。蕞大限度的减少长时间工作带来的肌肉紧张与不适。转盘式观察模块变换装置z多可放置6个观察模块的转盘式结构，在提供充分扩展能力的同时又可以快速的进行切换。只需轻轻一拨，方便快捷，提高工作效率。图像分析系统研究工作环境要求工具可以适应每个人不同的工作流程。NOVA Basic显微图像分析软件可以让采集、处理、测量和显微镜之间无缝衔接。NOVA Basic可以同时为当今流行的操作系统提供观测工具。

FI-RXF200 是新推出的一款研究型傅里叶变换红外光谱仪，能更好地满足科研用户不同的需求。FI-RXF200 拥有优于 0.25cm-1 光谱分辨率、光谱范围可扩展到 12800-350cm-1，可选择光源和检测器的自动切换，同时兼容各种内置、外置型附件，FI-RXF200 推动国产红外光谱仪向科研级迈上了一个新的台阶。 产品特点优异的光谱分辨率FI-RXF200 全光谱分辨率优于 0.25cm-1，拥有极高的信噪比，并可以升级到更高的光谱分辨率，可以适用于绝大部分科研需求。宽光谱扩展功能FI-RXF200 傅里叶变换红外光谱仪可以通过光学组件的自动切换，将标准的中红外谱区(8000-350cm-1)扩展到近红外谱区(12800-4000cm-1)，可以实现在同一台主机上进行中、近红外谱区的分析研究，拓展了研究范围。傅立叶变换近红外光谱仪具有独特的优势：通常情况下，样品无需稀释即可进行测量，由于玻璃在近红外波段是透明的，样品可以直接放置在玻璃瓶中进行分析。高性能设计FI-RXF200 傅里叶变换红外光谱仪专为科研实验室需求而设计，它集操作简单、高性能设计和高性价比等优点于一身。标准配置室温型DLaTGS 检测器，也可以选配液氮冷却 MCT 检测器、半导体制冷 MCT 检测器、液氮制冷锑化铟检测器、半导体制冷铟镓砷检测器等各种高灵敏度探测器，有效应对科研用户各种需求的高灵敏度和高光通量。FI-RXF200 所有检测器，均基于最新的双通道模数转换器及 32 位动态范围，使仪器的电子噪声值达到更低。简单灵活的软件功能FI-RXF200 傅里叶变换红外光谱仪采用全中文内核和界面，所有的操作和分析评价功能均可用于处理批量文件。并集成了全自动采集功能、在线实时反应监测软件，适用于化工制药的合成反应、催化反应、电化学反应等中间反应过程的动态机理研究。 主要技术参数项目标准配置可选配置光谱分辨率≤0.25cm-1光谱范围8000-350cm-112800-4000cm-1光源陶瓷光源钨丝灯分束器镀锗KBr石英分束器、CaF2 分束器、硒化锌分器等 检测器 标配：室温 DLaTGS选配：液氮制冷型MCT 半导体制冷 MCT 检测器、液氮制冷锑化铟检测器、液氮制冷锗检测器、半导体制冷铟镓砷检测器等样品腔透射样品腔选配：发射红外口、外置样品腔，UHV 的真空密封外接腔等波数精度≤0.01 cm-1信噪比≥45,000:1透过率精度≤0.1%T干涉仪立体角镜干涉仪 外接附件和样品仓可选附件● 热分析红外联用模块● 气相红外联用附件● 外接样品仓，可以抽真空或氮气吹扫● 联接UHV 的真空密封外接腔● 2 厘米-20 米各种规格气体池● 积分球附件● 原位透射附件● 原位漫反射附件● 显微红外附件● ATR 附件和镜反射附件 FI-RXF200 傅里叶变换红外光谱仪应用方向优异制药及生命科学蛋白质构象及浓度定量对水溶液中药物成分和赋形剂的高灵敏度的定量分析微生物鉴定与热分析联用对医药产品的挥发性、稳定性进行表征聚合物和化学制品与热分析联用对挥发过程和分解过程进行检测和表征实验室条件下的反应过程的监控（配套中红外 ATR 光纤探头）表面分析超薄膜和单分子层薄膜的检测和表征腐蚀过程的表征材料科学建筑材料发射率的检测红外窗片、镜面等光学材料的特性评价采用光声光谱对黑色材料进行研究半导体硅业各种非金属膜厚的测量质量控制中碳/氧杂质的测定土壤分析土壤中养分和有机质的评估土壤特性研究

仪器简介：NTEGRA Spectra 是一款独特的集成了扫描探针显微镜、激光共聚焦/荧光显微镜和拉曼光谱仪的系统。其强大的TERS效应，可在得到拉曼光谱的同时获得高达50nm的成像分辨率。只有NTEGRA Spectra能在软件、硬件等技术方面为集成Renishaw的拉曼光谱系统提供完美的方案，以便用户能在分子水平上用不同的技术手段来分析、研究样品。这样的集成，能让用户极大的提高工作效率，将更多的时间用于数据采集和分析，而无需为繁琐的仪器操作而苦恼。所以，可以负责任的说：真正的集成是远远优于简单的组合的。 激光共聚焦显微镜/拉曼光谱仪系统 NTEGRA Spectra 系统集成了激光扫描共焦光谱仪、光学显微镜和常规的扫描探针显微镜。该系统能用于发光光谱和拉曼散射的三维成像、所有的SPM功能，包括纳米压痕、纳米加工和纳米刻蚀等。.扫描探针显微镜除了光学检测外，NTEGRA Spectra还可使用SPM的方法来研究样品，诸如：AFM、MFM、STM、SNOM、力谱等等。这样独特的集成了光学方法和扫描探针方法合二为一的系统，为用户完成复杂的实验变成可能，用户可从实验中得到样品的光学分布信息、化学性质、力学性质、电学性质和磁学性质等。 用超越激光衍射极限的系统来研究样品NTEGRA Spectra 在检测样品时，能提供超越激光光学衍射的光学分辨率。近场光学显微镜和TERS系统能让用户得到光学性质分布图（激光传输、散射和偏振等）的同时获得拉曼散射光谱和高达50nm的XY方向分辨率。技术参数：共聚焦显微镜光学模块 正置或倒置光学显微镜观测系统 可见光谱测量 (390-800nm) 激发光路中配置手动式格兰-泰勒起偏棱镜 390-1000nm 检测光路中配置电动式格兰-泰勒检偏棱镜 390-1000nm 三轴定位电动式1/2波片 光束分离器 可选配倏逝激发系统（用于TERS） 光学分辨率 XY： 200nm Z：500nm 扫描模块 最大样品质量：1000g 最大扫描范围：100x100x25 um XYZ三维全量程闭环控制扫描系统 XY方向非线性度：0.03 % （典型值） Z方向噪音水平：0.2 nm （典型值） XY方向噪音水平：0.5 nm（典型值）共聚焦针孔 直径0~1.5mm可调，步进0.5 um注：无论样品是否透明，都可用我们的共聚焦显微镜在空气或液体环境中对其进行研究。拉曼光谱仪 光谱仪焦长 520 mm 激光器波长* 441, 488, 514, 532, 633 nm 杂散光抑制 10-5，（20nm 用632nm激光器 ）平场面积 28 mm x 10 mm 光谱分辨率 0.025 nm (1200 l/mm光栅**) 端口 1输入，2输出 光栅座 4孔转盘（3 个光栅+&ldquo 直接成像&rdquo 模式用的反射镜） 探测器 CCD：光谱响应范围：200&ndash 1000 nm，电冷装置冷却至&ndash 80° C，500nm时95% 量子效率 用于光子计数的APD***：光谱相应范围：400&ndash 1000 nm，暗计数=25/秒，提供高达1GHz计算速度的PCI 卡。 * 标准配置中包括一套488 nm激光器，其他波长激光器可选配 ** 可选配其他光栅。小阶梯光栅具有最高的光谱分辨率 ***可选用PMT扫描近场光学显微镜 功能模式：剪切力成像/SNOM反射模式，透射模式，荧光模式（选配） 激光模块 耦合装置：X-Y-Z 定位器，定位精度1 um V型槽光纤固定器 装配40x物镜 光纤传输系统 KineFlexTM 光束衰减器：可配多种减光镜 剪切力成像 样品尺寸：最大直径100mm，最大厚度15mm XY二维样品移动平台：样品定位范围5x5mm，样品定位精度5um XYZ三维全量程闭环控制扫描系统 样品扫描式 针尖扫描式 扫描范围 100x100x25 um 100x100x7 um 非线性度 XY 0.03 %（典型值） 0.15% 噪音水平 Z 0.2 nm（典型值） 0.04nm（典型值），=0.06nm 噪音水平 XY 0.5 nm（典型值） 0.2 nm（典型值），=0.3 nm 石英音叉基频 190 kHz 光纤孔径 100nm 可同时采集的数据通道 反射模式 透射模式/荧光模式 PMT 光谱响应范围：185-850 nm 灵敏度：3x1010，420 nm时 隔振系统 主动式：0.7-1000 Hz 被动式：大于1 kHz 扫描探针显微镜 功能模式：AFM（接触+半接触+非接触）/侧向力模式/相位成像模式/力调制模式/粘滞力成像/磁力显微镜/静电力显微镜/扫描电容显微镜/扫描开尔文探针显微镜/扩展电阻成像模式/刻蚀：AFM（力和电流） 样品尺寸* 最大直径100mm，最大厚度15mm 扫描范围 50x50x5 um 闭环控制系统** XYZ三维全量程闭环控制扫描系统，采用电容传感器 非线性度 XY 0.15% 噪音水平 Z 0.06 nm（典型值），=0.07nm 噪音水平 XY 0.1 nm（典型值），=0.2 nm (XY 50 um) *扫描头部可单独使用，此时对样品尺寸和重量无限制 **内置的电容传感器拥有极低的噪音水平，即使降到50x50 nm的区域也可以用闭环控制来扫描主要特点：AFM探针和激光光斑完美的同步协调。AFM探针可在纳米级的精度上定位于激光光斑中&mdash 在TERS中，这是必要的条件。在激光扫描和样品扫描的6个轴中，全部采用全量程闭环控制系统。高数值孔径的光学物镜和SPM系统紧密的集成在一起，让系统的光学稳定性达到前所未有的高度&mdash 为长程和微弱的信号而设计。反射模式的激光光路可用于激光共聚焦成像。电冷至-70° C的CCD，用于光谱探测和成像。也可选用APD来进行光子计数。在激发通道和检测通道中，用户可灵活方便的配置偏光光路。多功能的集成软件控制系统，所有的系统模块包括AFM、光路系统和机械系统都由统一的软件来控制。激光器、光栅、针孔等等，都可由软件来切换或调节。NT-MDT可根据用户需求定制不同使用需求的TERS系统。

VERTEX 70v 光谱仪采用 RockSolid™ 永久准直高性能干涉仪，能满足从常规分析测量到高端科研领域的各种应用需求。采用 UltraScan™ 真正准直专利干涉仪的 VERTEX 80 和 VERTEX 80v 是针对业内最前沿的科研应用设计的，它具备极高的光谱分辨率、能实现目前业内最高水平的快速扫描和步进扫描测量，能在最广的光谱范围内提供卓越的性能。VERTEX 70v 及 VERTEX 80v 全真空系列光谱仪彻底杜绝了大气吸收对红外测量的干扰，进一步提高光谱质量。杰出的性能- 最高的光谱分辨率- 最高的信噪比- 最高的动镜扫描速度- 全真空、可吹扫或密封干燥式光学台克服大气干扰- 最多的软件可控外光路扩展接口- 分束器更换简单快捷、无需重新调整干涉仪，实现紫外、可见光、近红外及远红外/太赫兹波段的谱区扩展- 全自动识别所有光学配件及测量附件- 强大的步进扫描/慢扫描功能满足光谱的时间分辨及各种调制应用- 极具远见性的设计可满足当前及未来的各种拓展需求谱区扩展VERTEX 80 和 VERTEX 80v 可覆盖从远红外或太赫兹10cm-1（VERTEX 80v 可达 5 cm-1）开始，经中红外、近红外、可见光到紫外光区 50,000 cm-1 的光谱区域。其高端的预准直光学配件及真正准直的 UltraScan™ 傅立叶干涉仪使扩展光谱区域变得十分简易。通过采用全自动分束器更换器 BMS-c，您可以在不中断红外谱仪真空的情况下实现从太赫兹到紫外的整个光谱区域的自动切换。该全自动更换器可以同时容纳四个不同的分束器，其极具远见的设计可以用来升级已安装完备的 VERTEX 80v 光谱仪。另外，如果结合外接探测器扩展腔，客户可以至多同时安装 5 个不同类型的检测器（室温、液氮制冷或液氦制冷），并均由软件操控，保证客户在各个光谱区域都能选择最合适的检测器。RockSolidTM 傅立叶红外干涉仪布鲁克 RockSol id™ 高性能傅立叶干涉仪是VERTEX 70v 产品稳定、可靠的核心因素。该干涉仪采取镀金镜面和30°入射角改良设计，以实现最高的通光效率和灵敏度，同时也极大限度地消除了偏振作用。其永久准直的设计保证了数据的高质量，使仪器的稳定性得到了保障，并摒弃了调整带来的滞后。数字化的电子元件保证了干涉仪的精准控制，使谱仪具备极高的灵敏度和长久的稳定性。采用 DigiTect 技术的检测器大大降低了电子噪音，使 VERTEX 70v 傅立叶红外光谱仪成为日常分析和科学研究的理想选择。优异的光谱分辨率VERTEX 70v 光谱仪标准的光谱分辨率优于0.4 cm-1，该分辨率可以满足绝大多数固体、液体以及低温下晶体样品的测量。针对特殊的实验要求，例如常温下气态样品的测量，VERTEX 70v 系列光谱仪的分辨率可以升至 0.16 cm-1，通常情况下，该类光谱图典型的半峰宽不会小于 0.2 cm-1。

纳秒到秒级时域范围内的瞬态吸收光谱 LP980是一款经典的先进的激光闪光光解光谱仪,赋予激光诱导的拉曼光谱（LIR）与击穿光谱（LIBS）新功能。 LP980激光闪光光解仪是英国爱丁堡公司最新一代革新产品，不仅为广大科研工作者带来了最新的瞬态吸收技术，还创新引入激光诱导荧光，激光诱导拉曼以及激光诱导击穿光谱三种光谱技术。将研究分子光物理化学性质的瞬态吸收与荧光技术，研究分析结构的瞬态拉曼技术以及研究元素的激光诱导击穿光谱技术有机结合在一起，全方面评价分子的光物理与化学性质，并进行元素分析。LP980是目前国际市场上首款实现全面的分子信息表征技术与元素信息表征技术的一款仪器，填补了国际技术的新空白。 LP980激光闪光光解仪一台仪器实现四台仪器功能，它的成功研制将进一步引领科学仪器的发展方向。 LP980不仅实现了瞬态吸收，瞬态荧光，拉曼技术与激光诱导击穿光谱的联用技术从理论方法到产品实践的跨越。 主机设计上还引入爱丁堡公司的众多独特创新。优化设计的双样品仓分别用于瞬态吸收，瞬态荧光，基态与激发态拉曼以及激光诱导击穿光谱的测试；独特的三光栅塔轮单色仪，实现紫外可见到近红外的自动测试；标配的自动滤光片轮自动排除二级衍射峰；新颖的150W氙灯探测光源，具有100A的脉冲电流，强度高，为长寿命测试提供更稳定的背景信号；该仪器灵敏度达到了目前国际领先水平。更让人惊叹的是，这么高尖端的科学仪器超高自动化，强大的软件实现不同光谱技术的测试与切换，控制主机所有操纵部分以及高强度的泵浦激光器。特点双样品舱-泵浦探测技术检测化学与生物的瞬态物种，激光诱导检测荧光与磷光寿命(低至ns)检测限- OD 0.002(快检测选项)， OD 0.0005(慢检测模式)自动滤光片塔轮用于消除二级衍射峰新的150W氙灯光源，100A脉冲电流-高光强，高SNR，为长寿测试提供更稳定的背景信号内部激光光束调整-防止外部光束干扰强大的综合软件包用于计算机全面控制仪器的所有组成与测试丰富的测试附件

设计精良VERTEX 70v 光谱仪采用 RockSolid™ 永久准直高性能干涉仪，能满足从常规分析测量到高端科研领域的各种应用需求。采用 UltraScan™ 真正准直专利干涉仪的 VERTEX 80 和 VERTEX 80v 是针对业内最前沿的科研应用设计的，它具备极高的光谱分辨率、能实现目前业内最高水平的快速扫描和步进扫描测量，能在最广的光谱范围内提供卓越的性能。VERTEX 70v 及 VERTEX 80v 全真空系列光谱仪彻底杜绝了大气吸收对红外测量的干扰，进一步提高光谱质量。杰出的性能- 最高的光谱分辨率- 最高的信噪比- 最高的动镜扫描速度- 全真空、可吹扫或密封干燥式光学台克服大气干扰- 最多的软件可控外光路扩展接口- 分束器更换简单快捷、无需重新调整干涉仪，实现紫外、可见光、近红外及远红外/太赫兹波段的谱区扩展- 全自动识别所有光学配件及测量附件- 强大的步进扫描/慢扫描功能满足光谱的时间分辨及各种调制应用- 极具远见性的设计可满足当前及未来的各种拓展需求谱区扩展VERTEX 80 和 VERTEX 80v 可覆盖从远红外或太赫兹10cm-1（VERTEX 80v 可达 5 cm-1）开始，经中红外、近红外、可见光到紫外光区 50,000 cm-1 的光谱区域。其高端的预准直光学配件及真正准直的 UltraScan™ 傅立叶干涉仪使扩展光谱区域变得十分简易。通过采用全自动分束器更换器 BMS-c，您可以在不中断红外谱仪真空的情况下实现从太赫兹到紫外的整个光谱区域的自动切换。该全自动更换器可以同时容纳四个不同的分束器，其极具远见的设计可以用来升级已安装完备的 VERTEX 80v 光谱仪。另外，如果结合外接探测器扩展腔，客户可以至多同时安装 5 个不同类型的检测器（室温、液氮制冷或液氦制冷），并均由软件操控，保证客户在各个光谱区域都能选择最合适的检测器。RockSolidTM 傅立叶红外干涉仪布鲁克 RockSol id™ 高性能傅立叶干涉仪是VERTEX 70v 产品稳定、可靠的核心因素。该干涉仪采取镀金镜面和30°入射角改良设计，以实现最高的通光效率和灵敏度，同时也极大限度地消除了偏振作用。其永久准直的设计保证了数据的高质量，使仪器的稳定性得到了保障，并摒弃了调整带来的滞后。数字化的电子元件保证了干涉仪的精准控制，使谱仪具备极高的灵敏度和长久的稳定性。采用 DigiTect 技术的检测器大大降低了电子噪音，使 VERTEX 70v 傅立叶红外光谱仪成为日常分析和科学研究的理想选择。优异的光谱分辨率VERTEX 70v 光谱仪标准的光谱分辨率优于0.4 cm-1，该分辨率可以满足绝大多数固体、液体以及低温下晶体样品的测量。针对特殊的实验要求，例如常温下气态样品的测量，VERTEX 70v 系列光谱仪的分辨率可以升至 0.16 cm-1，通常情况下，该类光谱图典型的半峰宽不会小于 0.2 cm-1。最高的光谱分辨率标准配置下的 VERTEX 80 光谱仪可以提供优于0.2 cm-1（已采用切趾函数）的光谱分辨率。针对需要顶级分辨率的高端应用，VERTEX 80 光谱仪可以提供优于0.06 cm-1的分辨率。该高分辨率即便在高波数区也能实现，比如：在可见光区分辨能力ν/Δν（定义为波数/半峰宽）可以优于 300,000:1。该指标由布鲁克独家提供，其他制造商仅能提供其光谱仪在中红外光谱区位于2000 cm-1 的光谱分辨率。众所周知，高波数区测试对光谱分辨能力和光学精准度的要求更为苛刻，布鲁克VERTEX 80在高波数区的杰出表现再次体现了布鲁克光谱仪的精良制作和公司严谨的精神。

仪器简介 ANASYS公司长期致力于纳米热学分析领域，开发出了多种新颖的、易操作的研究和分析仪器。基于多年累积的纳米热学专利技术，ANASYS又推出了一款最新的测试技术仪器&mdash &mdash Nano-IR纳米级红外光谱仪。突破了传统的傅里叶红外光谱（FT-IR）及衰减全反射红外光谱（ATR-IR）的分辨局限，让用户可以获得纳米尺度上的红外光谱分析、热分析、扫描探针成像和热力学性能测试。技术参数主要技术参数光谱范围：1200-1600cm-1光谱分辨率：16cm-1最大图像尺寸：100&mu m× 100&mu m光谱采集时间：&le 1min主要特点①　与&ldquo 远场&rdquo 光学相比，改技术的特点在于吸收的辐射可以通过尖端近场的尖端得到测量。②　PTIR技术可以实现纳米级红外并获得样品的化学性质。③　接触共振获得样品的力学性质。④　通过原子力显微镜（AFM）获得高分辨率的样品三维相貌图。⑤　纳米热学分析获得样品的热量传输温度。⑥　Nano-IR操作软件能够自动的跟踪并且可以让用户便捷的获得样品任 意位置的红外吸收光谱。

仪器简介：中阶梯光栅光谱仪，不同于常规的C-T结构的光栅光谱仪。它使用特殊的中阶梯光栅作为分光器件，在2D方向上将不同波长、不同级次的单色光区分开来，配用标准的成像CCD或ICCD作为探测器件，可以一次性地将特定波长范围内的信号拍摄下来，借由软件的分析功能，还原出完整的光谱曲线。中阶梯光栅光谱仪中无转动部件，使用简单，无需扫描，无需进行光谱曲线的&ldquo 接合&rdquo ，即可获得一段完整的光谱。 ME5000中阶梯光栅光谱仪，是进行LIBS, LIF, Plasma等实验的有力实验工具。根据需要获取的信号性质不同，可以选配不同的探测器。若只需要进行稳态光谱的测量，则使用CCD即可；若需要获取时间分辨的光谱，则ICCD是绝佳的搭配对象。 ME5000中阶梯光栅光谱仪的主要应用领域为： 透射/反射/吸收光谱 燃烧研究 差分光学吸收光谱 （DOAS） 激光剥离 激光诱导解离光谱 （LIBS） 激光诱导荧光光谱 （LIF） 激光诱导等离子体光谱 （LIPS） 激光探测与测距/激光雷达 （LIDAR） 片状激光诱导荧光 （PLIF） 等离子光谱研究 脉冲激光沉积 Raman光谱 单光子光谱 时间分辨荧光光谱 （TRF） 时间分辨共振Raman光谱 物质成分分析技术参数：ME5000的主要技术参数为： 焦距长度（mm）195F/#F/7焦平面尺寸（mmXmm）13.3X13.3线色散倒数（nm/mm）wavelength/213.2杂散光抑制比1.5X10-4波长精度（nm）± 0.05波长范围（nm）230-975分辨本领（wavelength/Delta wavelength）5000光学相邻级次的串扰1X10-2波长采样通道数26000 主要特点：ME5000具有非常突出的技术优势： - 软件温度校正功能，根据温度传感器的输出，由软件自动校正光谱精度 - 提供恒定光谱分辨因子 - 无需光栅扫描即可一次性得到230-975nm全谱数据 - 一体化设计，内部无机械部分，稳定性高 - 采用双棱镜分开不同级次的光，减小不同级次的串扰，串扰1%

背景技术及优势 表面光电压是固体表面的光生伏特效应，是光致电子跃迁的结果。 1876年，W.GAdam就发现了这一光致电子跃迁现象 1948年才将这一光生伏特效应作为光谱检测技术应用于半导体材料的特征参数和表面特性研究上，这种光谱技术称为表面电压技术（Surface Photovoltaic Technique，简称SPV）或表面光电压谱（Surface Photovoltaic Spectroscopy，简称SPS）。表面光电压技术是一种研究 半导体特征参数的极佳途径，这种方法是通过对材料光致表面电压的改变进行分析来获得相关信息的。 1970年，表面光伏研究获得重大突破，美国麻省理工学院Gates教授的研究小组在用低于禁带宽度能量的光照射CdS表面时，历史性的第一次获得入射光波长与表面光电压的谱图，以此来确定表面态的能级，从而形成了表面光电压这一新的研究测试手段。 SPV技术是最灵敏的固体表面性质研究的方法之一，其特点是操作简单、再现性好、不污染样品，不破坏样品形貌，因而被广泛应用于解析光电材料光生电荷行为的研究中。 SPV技术所检测的信息主要是样品表层（一般为几十纳米）的性质，因此不受基底或本体的影响，这对光敏表面的性质及界面电子转移过程的研究显然很重要。由于表面电压技术的原理是基于检测由入射光诱导的表面电荷的变化，其检测灵敏度很高，而借助场诱导表面光电压谱技术可以用来测定半导体的导电类型（特别是有机半导体的导电类型）、半导体表面参数，研究纳米晶体材料的光电特性，了解半导体光激发电荷分离和电荷转移过程，实现半导体的谱带解释，并为研究符合体系的光敏过程和光致界面电荷转移过程提供可行性方法。 由于SPV技术的诸多优点，SPV技术得到了广泛的应用，尤其是今年来随着激光光源的应用、微弱信号检测水平的提高和计算机技术的进展，SPV技术应用的范围得到了很大的扩展。主要应用：半导体材料的光生电压性能的测试分析、可开展光催化等方面的机理研究，应用于太阳能电池、光解水制氢等方面的研究，可用于研究光生电荷的性质，如：光生电荷扩散方向；解析光生电荷属性等。主要代表材料有TiO2、ZnO、CdS、GaAs、CdTe、CdSe等。表面光电压谱的技术参数1)光电压谱测量：最小电压10nV；功能材料的光电性质，可开展光催化等方面的机理研究；2)光电流谱测量：最小电流10 pA；研究功能材料光电流性质，可应用于太阳能电池、光解水制氢等方面的研究；3)光伏相位谱分析：相检测范围：-180°至+180°；可用于研究光生电荷的性质，如：光生电荷扩散方向；解析光生电荷属性等；4)表面光电压、光电流、相位谱分析的光谱波长范围：200-1600nm，可以全光谱连续扫描，光谱分辨率0.1nm，波长准确度±0.1nm；5)可以实现任意定波长下，不同强度光照下的表面光电压、光电流、相位谱分析，实现光谱分析的多元化；6)光路设计一体化、所有光路均在暗室中或封闭光路中进行，无外界杂光干扰；7)光源配置：氙灯光源（200/300-1100nm）；卤素灯光源（400-1600nm）；氘灯光源（190-400nm）；8)氙灯光源500W，点光源（2-6mm），可以实现变焦，实现软件反控调节光的输入功率，可以实现250W-500W连续可调，USB接口控制，完成5）的测试分析；9)单色仪：出入口可平行或垂直，焦距300mm，相对孔径：F/4.8，光学结构：非对称水平Czerny-Tuner光路，光栅面积55*55mm，最小步距0.0023nm，光谱范围200-1600nm；10)配置全自动6档滤光片轮，消除各种杂散光尤其600nm,标配滤光片3片，范围185-1600nm；11)锁相放大器（斯坦福）： a.mHz-102.4kHz频率范围； b.大于100dB动态存储； c.5ppm/oC的稳定性； d.0.01度相位分辨率； e.时间常数10us-30ks； f.同步参考源信号； g.GPIB及RS232接口； h.9转25串口线； i.USB转232串口线12)斩波器（斯坦福）: a.具有电压控制输入，四位数字频率显示，十段频率控制，和两种可选工作模式的参考输出； b.4Hz—3.7kHz斩波频率； c.单光束和双光束调制； d.低相位抖动频和差频参考信号输出； e.USB转232串口线；13)专用控制软件，数据记载，数据保存，应用于表面光电压谱的数据反馈，可以反控单色仪、锁相放大器（SR810、SR830、7265、7225）、斩波器、光源，根据需求自行修改参数，可根据需求进行源数据导出；14)主要配件： a.光学导轨及滑块； b.封闭的光学光路系统； c.标准的光学暗室； d.光电压及光电流池； e.外电场调系统； f.电流-电压转换器； g.计算机（选配）； h.光学平台（选配）。 表面光电压谱的测量方法示意图（1.氙灯光源；2.单色仪；3.斩波器（斯坦福）；4.汇聚透镜；5.反射镜；6频率调制光；7锁相放大器（斯坦福）；8计算机含控制软件） SPV表面光电压谱 样品池结构及数据分析 SPC表面光电流谱 样品池结构及数据分析 Scheme of thesurface photovoltage (SPV) setup applied for the measurements on multilayered sample of CdTe and CdSe NCs. Excitons are created upon light excitation, which diffuse through the structure and may reach andbecome separated at the type II CdTe/CdSe interface. The random diffusionof separated charges creates an electric field measured as the SPV signal U by two transparent outer FTO electrodes in a capacitor arrangement.

仪器简介：NTEGRA Spectra 是一款独特的集成了扫描探针显微镜、激光共聚焦/荧光显微镜和拉曼光谱仪的系统。其强大的TERS效应，可在得到拉曼光谱的同时获得高达50nm的成像分辨率。只有NTEGRA Spectra能在软件、硬件等技术方面为集成Renishaw的拉曼光谱系统提供完美的方案，以便用户能在分子水平上用不同的技术手段来分析、研究样品。这样的集成，能让用户极大的提高工作效率，将更多的时间用于数据采集和分析，而无需为繁琐的仪器操作而苦恼。所以，可以负责任的说：真正的集成是远远优于简单的组合的。 激光共聚焦显微镜/拉曼光谱仪系统 NTEGRA Spectra 系统集成了激光扫描共焦光谱仪、光学显微镜和常规的扫描探针显微镜。该系统能用于发光光谱和拉曼散射的三维成像、所有的SPM功能，包括纳米压痕、纳米加工和纳米刻蚀等。.扫描探针显微镜除了光学检测外，NTEGRA Spectra还可使用SPM的方法来研究样品，诸如：AFM、MFM、STM、SNOM、力谱等等。这样独特的集成了光学方法和扫描探针方法合二为一的系统，为用户完成复杂的实验变成可能，用户可从实验中得到样品的光学分布信息、化学性质、力学性质、电学性质和磁学性质等。 用超越激光衍射极限的系统来研究样品NTEGRA Spectra 在检测样品时，能提供超越激光光学衍射的光学分辨率。近场光学显微镜和TERS系统能让用户得到光学性质分布图（激光传输、散射和偏振等）的同时获得拉曼散射光谱和高达50nm的XY方向分辨率。技术参数：共聚焦显微镜光学模块 正置或倒置光学显微镜观测系统 可见光谱测量 (390-800nm) 激发光路中配置手动式格兰-泰勒起偏棱镜 390-1000nm 检测光路中配置电动式格兰-泰勒检偏棱镜 390-1000nm 三轴定位电动式1/2波片 光束分离器 可选配倏逝激发系统（用于TERS） 光学分辨率 XY： 200nm Z：500nm 扫描模块 最大样品质量：1000g 最大扫描范围：100x100x25 um XYZ三维全量程闭环控制扫描系统 XY方向非线性度：0.03 % （典型值） Z方向噪音水平：0.2 nm （典型值） XY方向噪音水平：0.5 nm（典型值）共聚焦针孔 直径0~1.5mm可调，步进0.5 um注：无论样品是否透明，都可用我们的共聚焦显微镜在空气或液体环境中对其进行研究。拉曼光谱仪 光谱仪焦长 520 mm 激光器波长* 441, 488, 514, 532, 633 nm 杂散光抑制 10-5，（20nm 用632nm激光器 ）平场面积 28 mm x 10 mm 光谱分辨率 0.025 nm (1200 l/mm光栅**) 端口 1输入，2输出 光栅座 4孔转盘（3 个光栅+&ldquo 直接成像&rdquo 模式用的反射镜） 探测器 CCD：光谱响应范围：200&ndash 1000 nm，电冷装置冷却至&ndash 80° C，500nm时95% 量子效率 用于光子计数的APD***：光谱相应范围：400&ndash 1000 nm，暗计数=25/秒，提供高达1GHz计算速度的PCI 卡。 * 标准配置中包括一套488 nm激光器，其他波长激光器可选配 ** 可选配其他光栅。小阶梯光栅具有最高的光谱分辨率 ***可选用PMT扫描近场光学显微镜 功能模式：剪切力成像/SNOM反射模式，透射模式，荧光模式（选配） 激光模块 耦合装置：X-Y-Z 定位器，定位精度1 um V型槽光纤固定器 装配40x物镜 光纤传输系统 KineFlexTM 光束衰减器：可配多种减光镜 剪切力成像 样品尺寸：最大直径100mm，最大厚度15mm XY二维样品移动平台：样品定位范围5x5mm，样品定位精度5um XYZ三维全量程闭环控制扫描系统 样品扫描式 针尖扫描式 扫描范围 100x100x25 um 100x100x7 um 非线性度 XY 0.03 %（典型值） 0.15% 噪音水平 Z 0.2 nm（典型值） 0.04nm（典型值），=0.06nm 噪音水平 XY 0.5 nm（典型值） 0.2 nm（典型值），=0.3 nm 石英音叉基频 190 kHz 光纤孔径 100nm 可同时采集的数据通道 反射模式 透射模式/荧光模式 PMT 光谱响应范围：185-850 nm 灵敏度：3x1010，420 nm时 隔振系统 主动式：0.7-1000 Hz 被动式：大于1 kHz 扫描探针显微镜 功能模式：AFM（接触+半接触+非接触）/侧向力模式/相位成像模式/力调制模式/粘滞力成像/磁力显微镜/静电力显微镜/扫描电容显微镜/扫描开尔文探针显微镜/扩展电阻成像模式/刻蚀：AFM（力和电流） 样品尺寸* 最大直径100mm，最大厚度15mm 扫描范围 50x50x5 um 闭环控制系统** XYZ三维全量程闭环控制扫描系统，采用电容传感器 非线性度 XY 0.15% 噪音水平 Z 0.06 nm（典型值），=0.07nm 噪音水平 XY 0.1 nm（典型值），=0.2 nm (XY 50 um) *扫描头部可单独使用，此时对样品尺寸和重量无限制 **内置的电容传感器拥有极低的噪音水平，即使降到50x50 nm的区域也可以用闭环控制来扫描主要特点：AFM探针和激光光斑完美的同步协调。AFM探针可在纳米级的精度上定位于激光光斑中&mdash 在TERS中，这是必要的条件。在激光扫描和样品扫描的6个轴中，全部采用全量程闭环控制系统。高数值孔径的光学物镜和SPM系统紧密的集成在一起，让系统的光学稳定性达到前所未有的高度&mdash 为长程和微弱的信号而设计。反射模式的激光光路可用于激光共聚焦成像。电冷至-70° C的CCD，用于光谱探测和成像。也可选用APD来进行光子计数。在激发通道和检测通道中，用户可灵活方便的配置偏光光路。多功能的集成软件控制系统，所有的系统模块包括AFM、光路系统和机械系统都由统一的软件来控制。激光器、光栅、针孔等等，都可由软件来切换或调节。NT-MDT可根据用户需求定制不同使用需求的TERS系统。

优势特点表面光电压是固体表面的光生伏特效应，是光致电子跃迁的结果。1876年，W.GAdam就发现了这一光致电子跃迁现象 1948年才将这一光生伏特效应作为光谱检测技术应用于半导体材料的特征参数和表面特性研究上，这种光谱技术称为表面电压技术（Surface Photovoltaic Technique，简称SPV）或表面光电压谱（Surface Photovoltaic Spectroscopy，简称SPS）。表面光电压技术是一种研究半导体特征参数的极佳途径，这种方法是通过对材料光致表面电压的改变进行分析来获得相关信息的。1970年，表面光伏研究获得重大突破，美国麻省理工学院Gates教授的研究小组在用低于禁带宽度能量的光照射CdS表面时，历史性的第一次获得入射光波长与表面光电压的谱图，以此来确定表面态的能级，从而形成了表面光电压这一新的研究测试手段。SPV技术是最灵敏的固体表面性质研究的方法之一，其特点是操作简单、再现性好、不污染样品，不破坏样品形貌，因而被广泛应用于解析光电材料光生电荷行为的研究中。SPV技术所检测的信息主要是样品表层（一般为几十纳米）的性质，因此不受基底或本体的影响，这对光敏表面的性质及界面电子转移过程的研究显然很重要。由于表面电压技术的原理是基于检测由入射光诱导的表面电荷的变化，其检测灵敏度很高，而借助场诱导表面光电压谱技术可以用来测定半导体的导电类型（特别是有机半导体的导电类型）、半导体表面参数，研究纳米晶体材料的光电特性，了解半导体光激发电荷分离和电荷转移过程，实现半导体的谱带解释，并为研究符合体系的光敏过程和光致界面电荷转移过程提供可行性方法。 半导体激光器从某一稳定工作状态过渡到另一稳定工作状态的过程中所出现的瞬态现象，或对阶跃电流的响应。主要有激射延迟、张弛振荡和自脉动。这些现象限制着半导体激光器振幅调制或频率调制的性能，特别是最高调制速率。 瞬态表面光电压谱给出了不同样品光生电荷分离的动力学信息, 正向光伏信号代表光生电子由表面向内部转移。 通常半导体材料的瞬态光伏分为漂移和扩散过程，分别对应短时间范围和长时间范围的光伏信号。产品应用光生载流子动力学主要测试技术，载流子动力学测试技术主要有电学和谱学两类.电学方法主要是光电化学，测量方式又分时间域和频率域.时间域方法主要有瞬态光电压（TPV）和瞬态光电流（TPC）,频率域方法主要有电化学阻抗谱（EIS）和光强度调制光电压谱（IPVS）和光强度调制光电流谱（IMPS）等.谱学方法主要是瞬态吸收光谱和瞬态荧光光谱。这里主要介绍时间域的光电化学测量方法（以TPV为例）。瞬态吸收光谱是研究半导体光生载流子动力学过程和反应历程的强有力手段之一,它可以获得半导体体内光生载流子产生、俘获、复合、分离过程的重要微观信息。半导体激光器从某一稳定工作状态过渡到另一稳定工作状态的过程中所出现的瞬态现象，或对阶跃电流的响应。主要有激射延迟、张弛振荡和自脉动。这些现象限制着半导体激光器振幅调制或频率调制的性能，特别是最高调制速率。瞬态表面光电压谱给出了不同样品光生电荷分离的动力学信息, 正向光伏信号代表光生电子由表面向内部转移。 通常半导体材料的瞬态光伏分为漂移和扩散过程，分别对应短时间范围和长时间范围的光伏信号。详细介绍瞬态表面光电压实验光源为激光器, 激光脉冲半宽为5 ns, 激光波长为355 nm. 脉冲激光经棱镜分光后被分别射入光电倍增管和样品池中，激光强度通过渐变圆形中性滤光片进行调节. 光电倍增管记录参比信号, 样品信号经放大器(100 MΩ的输入阻抗, 1 kΩ输出阻抗的放大器)放大进入500MHz 的数字示波器(Tektronix)进行记录。 样品池由具有良好屏蔽电磁噪音的材料制成。样品池内部结构由上至下分别为: 铂网电极(直径为5 mm, 透光率为70%), 云母(厚度约10 μm), 被测样品, FTO电极。瞬态光电压研究光生电子的传输行为，其光电压响应包括上升和衰退两部分，光电压上升部分在物理上对应于Ti O?电极导电基底电子浓度增加（类似于电容充电过程），此过程由光生电子扩散到达基底引起，光电压下降部分主要对应于电子离开导电基底的复合过程（类似于电容放电过程）。规格参数1) 瞬态表面光电压谱光生载流子动力学；瞬态光电压研究光生电子的传输行为 2)可分析样品为催化剂粉末材料,采用三明治结构样品池3) ※可分析样品为光电器件，在溶液状态下分析TPV信号，测试样品的表面光电压信号和电子扩散长度；4)※Nd:YAG激光器：脉冲宽度：8ns @1064 nm, 7ns@532 nm, 6nm@355 nm，6nm@266 nm；光斑尺寸：7 mm 激光输出能量：200 mJ@1064 nm, 100 mJ@532 nm, 40 mJ@355 nm，20mJ@266 nm 频率1~20Hz；稳定性3%，RMS1ns 5)前置放大器，2通道，DC~350MHZ带宽，升降时间1ns，噪音6.4nv/HZ；6)数字荧光示波器，500 MHz 带宽，2 条模拟通道，所有通道上实时采样率高达 5 GS/s，所有通道记 10k 记录长度，3,600 wfms/s 连续波形捕获速率，高级触发套件，前面板 USB 主机端口，可以简便地存储和传送测量数据25 种自动测量标配 FFT，多语言用户界面，自动检测异常波形， 接口支持有源探头、差分探头和电流探头，自动定标和确定单位，配备 USB 主控端口，可以轻松将测量信息存储和传输到个人计算机中，个人计算机通信软件使您能够轻松将屏幕图像和波形数据拖入独立桌面应用程序或直接拖入 Microsoft Word 和 Excel。7)※光功率计，测试波长范围190-11000nm，功率范围0-2000mw，四挡量程自动分辨，可切换光功率密度，配合软件实时数据采集，软件还内置了量子效率计算功能，可以根据参数自动计算出光源强度和产氢效率，计算输出：光催化反应产氢速率mol/s ，入射光子数，平均产氢量子产率百分比，平均光-氢能量转化效率百分比。8)配置不锈钢粉末样品池，石英溶液样品池各一套，分别用于粉末样品和器件样品分析。9)所有光路均置于封闭暗箱内，无外届光源影响分析测试，内部配有导轨、反射镜、精密升降台平台，可以实现水平光路，也可以实现垂直光路。10)系统包含光学平台（900*1200mm）、暗箱、品牌电脑、控制及数据采集软件。11)※专用瞬态定制软件，专用的硬件、软件降噪算法，实时采集并分析数据出谱图，分别完成粉末样品和溶液样品的分析。12)安装、调试及技术培训，培训内容包括仪器的技术原理、操作、数据处理、基本维护等。

AFM-拉曼耦联配置 HORIBA Scientific拉曼技术可与扫描探针显微镜（SPM）进行耦合，构建一个功能强大且灵活的AFM-拉曼平台。研究人员可根据期望的AFM-拉曼工作模式来选择合适的仪器。 所有具备激光扫描技术的配置都可以通过对扫描探针上的激光反射进行快速成像或者根据针尖增强拉曼散射信号对热点进行成像，因而该配置能够准确、可靠地将激光定位到SPM探针针尖上。 高通量的光信号收集和检测硬件保证在快速扫描的同时采集每一点的SPM信号和拉曼光谱。将您的所有需求集成到一个强大的系统中我们所提供的完美解决方案使用直接光路耦合，对其进行优化以实现高通量。该平台可以把原子力显微镜（AFM）、近场光学技术（SNOM,NSOM）、扫描隧道显微镜（STM）和共焦光学光谱仪（拉曼和荧光成像）耦合到一台多功能的仪器中，以实现针尖增强拉曼散射（TERS）或共点测量。AFM和其他SPM技术可提供分子级别分辨率下的形貌、力学、热能、电磁场和近场光学特性。共焦拉曼光谱和成像可提供纳米材料在亚微米空间分辨率下的详细化学信息。同步测量的独特平台，有助于您获得可靠且位置高度重合的图像。结合高性能和易用性，HORIBA将会根据您所选择的SPM制造商提供一个可靠、全功能的解决方案针尖增强拉曼光谱(TERS)的光学、机械和软件都是经过优化设计的，同时有HORIBA在拉曼光谱几十年的经验做技术支持，您可以自信地使用这一技术。一个工具多种可能：AFM-拉曼有助于您提高效率快速找到纳米对象 由于纳米材料具有特殊的化学属性，拉曼峰信号较强，因此在光学显微镜下不可见的纳米材料可以通过超快速拉曼成像进行搜索和定位。在找到样品后，我们可以对感兴趣的位置进行形貌、机械、电学和热能分析。交叉验证您的数据 拉曼光谱可以证实材料的某些特性，例如前面研究的石墨烯，AFM形貌的对比度较差而难以确定层厚，拉曼则可以从另外一个角度去获得相同的信息，此外拉曼还提供更多有关结构和缺陷的信息，此信息只有具备原子分辨率的AFM才能提供。获得感兴趣纳米结构的化学信息 在表征纳米结构时，有时只获得物理性质是不够的。高分辨的拉曼共焦成像可提供详细的化学成分信息，这是其他SPM传感器无法实现的。探索TERS（针尖增强拉曼散射）领域 TERS（或纳米拉曼）可以综合两种技术之优势：可获得空间分辨率低至2nm（一般低至10nm）的化学特异性拉曼光谱成像。该技术可用于表征从纳米管到DNA等各种样品。 多种光学配置HORIBA的AFM-拉曼平台支持多种光学方案底部耦联：针对透明样品顶部耦联：针对共点拉曼或倾斜针尖的TERS侧向耦联：测定不透明样品的TERS的优异解决方案可提供多端口和并排配置注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或healer等相关用途

超快光谱超快光谱探测技术被认为是自量子力学诞生以来，能够在相应非常短的时间尺度内探索微观量子性质的最有利工具之一，在研究超导材料的机理、非平衡物理及新奇量子态的诱导、量子态的外场调控等方面同样具有重要作用。很多新材料的研发需要借助超快光谱探测技术手段进行，如半导体磁性材料、超导体、绝缘体、复杂材料、太阳能电池等。在生物科学领域，NA、RNA等生物大分子在光激发后的反应过程和动力学过程，生物大分子的结构和生理机能探索，生物医学领域的基因工程等研究也需要超快光谱探测技术。显微超快光谱可以在微观尺度上探测样品的超快分子动力学过程，例如二维材料中边缘态动力学，载流子分布及扩散，光催化材料中的催化热点研究等等。卓立汉光的超快光谱测试系统，根据用户需求基于RTS显微系统，灵活搭建飞秒激光器、条纹相机、荧光寿命成像、飞秒瞬态吸收成像等超快模块，为超快化学及激发态动力学理论研究以及超快化学、物理和生物等交叉学科的研究提供更全面的数据支撑。超快光谱测试系统特点基于飞秒/皮秒激光器搭建，利用高能超短脉冲激发分子内部的动力学过程，监测过程中释放的超快荧光及瞬态吸收信号。激发光源可以自由切换，荧光显微系统使用高精度样品位移台，实现荧光寿命成像及荧光强度成像。条纹相机、光谱仪、显微镜构成联合诊断系统，提供超快空间-强度-时间分辨参数。飞秒瞬态吸收成像部分基于宽场显微镜搭建，可进行高通量快速成像。 超快光谱测试系统技术参数 荧光寿命成像光谱扫描范围200-900nm最小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-10μs空间分辨率≤1μm@100X物镜@405nm皮秒脉冲激光器条纹相机光谱测量范围200-900nm时间分辨率≤5ps, (最小档位时间范围+光谱仪光路系统)测量时间窗口范围500ps-100us(十档可选)工作模式静态模式，高频同步模式以及低频触发模式系统光谱分辨率0.2nm@1200g/mm单次成谱范围≥100nm@ 150g/mm宽场飞秒瞬态吸收成像成像空间分辨率500 nm载流子迁移定位精度30nm时间分辨率500 fs (100 fs激光脉冲条件下）时间延迟线0-4 ns/0-8 ns显微镜模块倒置显微镜，上方为开放空间，后期可兼容低温模块、探针台、电学调控、磁场等特殊实验场景测量模式点泵浦+宽场探测（载流子迁移）宽场泵浦+宽场探测（载流子分布）仪器工作模式反射/散射新型二维材料中的边缘物理态研究（飞秒瞬态吸收成像系统）二维WS2中激子分布情况，激子寿命研究。从图中可以看出，二维WS2材料中多层的边缘具有更高激子密度和更长激子寿命。 ASE超快发光过程监测（条纹相机） 钙钛矿样品中的放大自发辐射（Ampl i f i ed Spontaneous Emission，ASE）发光过程研究。条纹相机可以监测到随着激光功率逐渐增大，样品从单纯的荧光发射（左图）变成荧光与ASE混合发光（中图），最后到只有ASE发光（右图）的全部过程。 钙钛矿荧光寿命成像（荧光寿命成像系统）钙钛矿样品不同寿命组分的寿命成像和相对振幅成像图。从图中可以看到两个寿命组分及其相对含量在样品中的分布情况。

电化学由于其在电池、燃料电池、腐蚀、合成和催化等各个领域的广泛应用而受到越来越多的关注。在电化学系统中，会发生各种复杂的过程，包括物质的吸附、解吸和扩散，表面重建，电荷转移，表面和物种之间化学键的形成或断裂以及发生在电化学界面化学反应等。因此，电化学界面的结构决定了整个电化学系统的电化学响应以及材料的性质和性能电化学的研究主要涉及电化学界面的结构、性质和性能之间的内在关系，以促进电化学设备的合理设计。电化学表征技术主要基于电信号的测量，包括电流和电势，这些方法可以根据电化学理论分析电信号来获得丰富的信息，包括界面性质的热力学和动力学信息、表面上反应物的数量以及电极的反应性。然而，由于反应物的化学指纹信息缺乏，很难在没有经验的情况下确定化学结构。另外，从整个电极表面的响应测量得到的电信号，是针对整个电极的，对于非均匀电极的结构和性能无法进行研究。因此，需要开发具有丰富化学信息和高空间分辨率（低至几个纳米）的原位表征方法，以全面了解电化学界面和过程。 电化学-针尖增强拉曼光谱（ EC-TERS）是一种具有纳米尺度空间分辨率分子指纹信息的技术，可以用于实现上述目标。 EC-TERS联用优势● 分子水平的一致性：拉曼光谱可以提供分子水平的信息，可以检测到电化学界面上的单个分子。这使得我们能够研究电化学反应的瞬间变化。● 高空间分辨率：通过使用针尖增强拉曼光谱（TERS）技术，可以在纳米探针上实现高空间分辨率。这使得我们能够研究界面的局部结构。● 可以在液体环境下工作：拉曼光谱可以在液体环境下进行测量，这对于研究电化学修饰过程非常重要。传统的电化学表征技术通常需要在干燥的条件下进行测量，而拉曼光谱可以在多孔溶液中直接进行测量。● 化学指纹信息：拉曼光谱可以提供化学指纹信息，通过分析拉曼光谱的峰位和强度，可以研究反应的中间体、吸附物和反应产物。● 非破坏性测量：拉曼光谱是一种非破坏性测量技术，不需要对样品进行特殊处理或标记。这使得我们能够对电化学界面进行实时监测。EC-TERS方案电化学-针尖增强拉曼光谱测试系统系统采用倒置显微镜结构，底部激发，底部拉曼信号收集。兼容常规拉曼测试、常规电化学拉曼测试，针尖增强拉曼测试。电化学池位于XY压电位移台上，可以进行纳米级的步进移动； 探针链接XYZ压电位移台，可进行三维精细调节；从而实现探针-激光-样品三位一体。 电化学-针尖增强拉曼光谱测试系统技术参数 光谱分辨率2cm-1激发光源532nm激光器，100mW633nm激光器，15mW光谱仪焦距320mm，配置3块光栅探测器≥2000*256像素，300-1000nm响应，峰值效率高于90%，芯片深度制冷到-60℃常规拉曼空间分辨率1um@XY方向

产品关键词：电吸收谱、电场诱导吸收光谱、电荷注入吸收光谱、EIEAS、CIEAS、电荷调制吸收谱、斯塔克效应、带隙测定、激子态、量子阱子带跃迁、电场诱导效应、注入电荷诱导效应▌ 产品简介电吸收光谱仪（EAS）是一种通过测量样品在施加电场时对光的吸收变化来研究半导体和其他材料属性的技术。通过电吸收光谱，可以得到吸收系数与电场的一阶、二阶等高阶效应的样品信息。其中，斯塔克效应（Box1）是典型导致电吸收信号产生的物理效应，此外还可以用来研究电荷调制吸收谱等。Excion 包括电场诱导吸收光谱（EIEAS）和电荷注入吸收光谱（CIEAS）两大模块功能，方便用户灵活研究电场诱导效应和注入电荷诱导效应。 Excion 是全球范围内首套电吸收光谱商业化设备，由东谱科技的科研人员和工程师携手来自剑桥大学、香港城市大学、中山大学、华南理工大学的专家成员联合研发而成。 从应用方向上，EAS 具有广泛的应用范围，特别是在半导体物理和光电子学领域。以下是一些EAS应用的关键领域和方向： （1）带隙测定：EAS可用于测量半导体的带隙。在外加电场作用下，靠近带边的吸收起始点会发生移动，从而允许精确确定带隙能量。 （2）激子态：在半导体中，激子——电子和空穴的束缚态——可以使用 EAS 进行研究。外加电场可以改变这些激子存在所需的能量，这表现为吸收光谱的变化。（3）量子阱子带跃迁(intersubband transition)：对于像量子阱、线和点这样的量子限制结构，EAS 可以用来观察子带间的跃迁，这对于理解材料的尺寸对电子性质的影响非常重要。 （4）材料质量评估：EAS可以帮助检测半导体样品中的杂质和缺陷。吸收光谱的变化可能表明存在影响电子结构的缺陷或杂质。（5）光电子器件特性表征：在开发LED、光电探测器和太阳能电池等器件时，EAS可以提供有关材料在工作状态下的行为的理解。这包括研究电场对光发射或吸收过程效率的影响。 （6）调制器和开关：基于半导体的光调制器和开关依赖于斯塔克效应，这可以通过EA光谱学来表征和优化。（7）非线性光学特性：具有非线性光学特性的材料可以使用EAS进行研究，以了解它们如何与强电场相互作用，这对于光信号处理和通信应用至关重要。 （8）量子信息处理：在新兴的量子计算领域，EAS可以协助设计和分析可能作为量子比特（qubits）或其他量子光学组件的半导体结构。 总之，EA光谱学的应用使研究人员和工程师能够深入了解材料的电子属性，有助于推进材料科学的发展，并优化光电子器件，服务于包括半导体、电信、能源、照明及显示和量子计算等在内的各个行业。Excion电吸收光谱仪的一般使用流程如下：（1）样品准备： 将半导体或其他材料的薄膜样品准备好，并附上电接触点，以便在其上施加电场。常见的方式是把样品制备成三明治结构。（2）施加电场： 向样品施加直流或低频电场，可以在软件灵活设置电场的大小、频率、偏置值等。（3）光吸收测量： 在EIEAS 或CIEAS的模式下，设置扫描波长、扫描电场频率、扫描电场大小等测试变量，进行变量依赖的光吸收测量。（4）数据分析： 通过比较有无电场时的吸收光谱，可以观察到对应于材料中不同电子态之间转换的吸收变化。施加电场可能会导致吸收峰的位移，表明电子在能级间转换所需能量的变化。Excion 提供了数据平滑、分峰、一阶导、二阶导、指数拟合、多项式拟合等丰富的数据分析功能。（5）数据导出：Excion提供便捷的数据导出功能，可以导出TXT/CSV等文本格式的数据。（6）数据解释：用户从Excion获得的数据可以用来研究半导体材料的各种性质，包括带隙（价带和导带之间的能量差）、带边缘附近的态密度、内建电场以及可能影响电子结构的缺陷或杂质的存在等等。Excion凭借其高灵敏度与精确度、多功能性、易用性、高通量检测、耐用性、完善的技术支持与售后服务等优点，成为工业和科研领域的理想选择。▌ 产品特点□ 多功能性：Excion 开发借鉴了最前沿的电吸收科研与工业应用研究成果，集成了EIEAS和CIEAS两种原理模式，集成了透射与反射两种光路检测模式，还可以进行多达8种以上的物理变量扫描与单点检测测试；□ 高灵敏度与精确度：Excion 采用了最新的调制、传感与检测技术，能够捕捉到极其微小的变化，其测量结果具有高度的可靠性和重复性，确保了数据的准确性；□ 宽光谱范围：这款光谱仪覆盖了从紫外到近红外（200-2500nm）的广泛波段，适用于多种不同的电吸收光谱分析需求；□ 高通量检测：人工智能的设计理念，极高程度的自动化设计，高速数据采集系统使得 Excion 能够迅速完成光谱扫描，大大提高了工作效率和实验通量；□ 易于操作：Excion的用户界面设计直观易懂，即使是非专业人员也能轻松上手，具有典型的“Plug & Play”和“Turn-key”特征。；□ 稳定性与可靠性：Excion采用高质量的零部件和精密的制造工艺，引入了完善的错误处理与设计，确保了仪器长期稳定运行，减少了维护成本；□ 完善的技术支持与售后服务：我们为 Excion 提供全面的技术支持和保修服务，确保用户在使用过程中无后顾之忧。▌ 测量模式测量模式□ 单点测量；□ 扫描测量；波长扫描频率扫描相位扫描光源强度扫描电场强度扫描注入电流扫描温度扫描：变温测试原理模式 电场诱导吸收光谱（EIEAS）电荷注入吸收光谱（CIEAS）电荷调制吸收谱等电吸收谱▌ 功能参数Excion电吸收光谱仪功能原理功能EIEASCIEAS 光路功能模块透射式反射式 泵浦光模块有/无（405/450/520/980nm可选） 检测波长功能模块200-300 nm 300-1100 nm1100-1800 nm 1800-2500 nm 变温功能模块常温变温4 K-300 K78 K-300 K 室温-500 K 可视化模块有/无 电学信号模块1频率10 mHz~105 KHz电压AC,0-20V DC,0-10V.电场制样决定电流 制样决定模块2频率45 Hz-999.9Hz电压AC,0-350V DC,0-±500V 电场制样决定电流 制样决定波长范围 200-2500nm(选配) 最小步进波长 ±0.1 nm (典型值) 波长调节方式 自动检测深度6阶 检测灵敏度 10&minus 4 OD 软件 功能1. Excion软件包2. 测试与分析功能▌ 产品应用□ 带隙测定；□ 激子态研究；□ 量子阱子带跃迁；□ 材料质量评估；□ 光电子器件特性表征；□ 调制器和开关；□ 非线性光学特性；□ 量子信息处理等。

简介：采用旋盖结构取放样品。变温区间大，适合不同材料的光学性质研究（见附录11.3）。窗口可更换不同材质的窗片，同时腔体可根据光谱仪不同厂家型号订制安装板；配套：A2402（光谱仪圆腔安装板）、A2404（光学平台圆腔支架）、A2501（XYZ轴位移台）；制冷方式：无温度范围（℃）：-196到600℃显示精度（℃）：0.1控温精度：0.1℃样品区域：30*35mm最大加热速率：50℃/min最大冷却速率：-40℃/min正面观察窗口大小：φ41mm背面观察窗口大小：φ25mm外观尺寸：90*120*40mm腔体净重：200g备注：选配光纤接口

高端圆二色光谱仪 J-1700特点 J-1700专为更苛刻的近红外CD应用而设计。除了增强的远紫外线能力，研究人员探测分子在NIR光谱区域的手性活性现在有能力获得波长高达2500 nm的数据。 InGaAs检测器具有900-2500nm的波长范围，而PMT范围从163-950nm。自动检测器互换允许研究人员获得远紫外和近红外测量，而不必手动切换检测器。将光栅单色仪添加到双棱镜单色仪设置提供低杂散光和高光强度，产生在大光谱范围内具有高信噪比的CD信号。 NIR-CD应用从金属配位络合物的构象和手性研究到纳米材料的调谐手性性质不同。另外，磁性圆二色性（MCD）可以与NIR-CD结合使用以探测发色团的电子结构以及诱导化合物中的手性。规格&bull 自动检测器切换： PMT(紫外-可见), InGaAs (近红外), InSb (选配) &bull 自动光源切换： 150W 或450W 氙灯(紫外-可见) ，150W钨灯 (近红外) &bull 单色器系统自动调整：双棱镜+光栅分光可选附件 帕尔贴温度控制 积分球（漫反射）附件 波长扩展 微量样品池 自动滴定 荧光圆二色 荧光附件 旋光色散附件 停留附件（快速反应动力学） 线二色 高通量圆二色 磁圆二色附件 液相圆二色联用流通池附件