含硫基体

消解罐基体含量过高

貌似地质行标要出来了！其中ms测金一项，方法中写到直接进1%硫脲基体，各位大神怎么看？！目前小弟一直进样0.1%的硝酸基体，对于这个1%硫脲基体很是忐忑啊！

请问：有机分析中基体加标是什么含义？怎么进行操作？谢谢

下午配置再校准溶液时，更改了线上几种元素的含量（工作需要），但是再校准的浓度没有改变，和之前的一样；于是再次运行曲线，待测液的锌含量就无法测量，基本全为负数，再次重新配置也不见好转，请各位专家帮帮忙~ 改变的条件有：1.更改曲线上元素（不包括锌，非再校准）含量 2.基体的铁含量减小，原来体系TFe=60% .现在只加了40%左右 3.原体系最后定容前加10ml HCl,现在只在溶解基体时加酸，然后就直接定容 请问 溶液酸度、铁基体等等会对ICP测量锌含量产生哪些影响，如果不是这些因素，还能是哪些原因导致？ 请赐教http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09511.gif

使用直读光谱仪读出的基体的含量一般是用1减去其它元素后得到的，这样明显存在很大误差，请教一下各位专家，这个基体含量如何搞定呢？

HJ 584-2010环境空气苯系物的测定中规定用二硫化碳做解吸液，而现在标样所中所出售的苯系物的标准溶液都是甲醇基体的，买回来后用二硫化碳稀释可以吗？对结果有什么影响

想用基体匹配法测镍板等镍含量在99.96％以上的杂质含量，哪有卖纯度更高的镍呀？有知道的请指教！急！

遇到一个棘手的问题，样品直径20um，铜基体，镀层是钯金，如何测定钯在样品中的含量？

请问有谁知道基体含量对所测元素的影响吗，比如说标样铁基是92％，待测样品铁基是96％

如何知道两种矿石所含的基体（采用XRF法）要求：请设计方案。谢谢

CPSIA测试基体中的铅可以包含镀层中的？在它的SOP中看到的： with no paint or similar surface coating, but including any electroplated coating which is considered to be part of the substrate

近日发现一个问题，希望大家解惑，石墨炉测定样品中Pb，Cd含量时，常常要使用基体改进剂，而且最好是优级纯规格，发现磷酸二氢铵、硝酸镁等杂质含量中：重金属（以Pb计）0.0005%，然后问题就来了，0.0005%即5ppm，我配成浓度0.1%的溶液，Pb含量就是5ppb进样量5ul，标液5ppb、10ppb等进样20ul的话难道不会影响吸光度么？更何况还有空白呢？空白就是5ppb了……

原本是写给研究生们看的，顺手贴上来。 待测元素以外的元素，称为基体。例如海水中的Cu Zn Pb是待测元素，而海水中的主要溶质Na Mg K Ca盐是基体。 基体会对待测元素信号产生不同程度的抑制或增强作用，称为基体效应(matrix effect)。例如1ppb U的纯溶液在ICP-MS上能产生8万cps信号，但1ppb U的盐溶液（含有0.1wt% NaNO3）只能产生6万cps信号——NaNO3基体抑制了U元素的激发。又例如，向As Se待测溶液中添加几滴甲醇或乙醇，测试信号能增强10%-30%——有机质基体增强了As Se元素的激发。 标准物质与待测样品 基体匹配(matrix-matched)是ICP-MS获得准确可靠测试结果的先决条件。标准加入法(Standard Additon) 向待测样品中加入适量的多元素混标，以【加标的待测样品】作为std1 std2 std3……因此符合基体匹配的要求。 在实际分析测试时，外标法(External Calibration)更为普及：使用的一系列多元素混标（例如1、5、20、100ppb）建立工作曲线，这些多元素混标是不带基体的纯溶液。然而，待测样品通常是有基体的，例如岩石粉末经过 HF+HNO3 消解后得到的溶液，K Na Ca Mg Al Fe这些主量元素都是基体。这样一来，标准物质与待测样品之间就存在基体差异了。 为了减缓基体效应，ICP-MS上机溶液的总溶解性盐度( TDS=Total Dissolved Solids)必须小于0.2wt%。例如 50mg全岩粉末被消解后，加水定重到50g（被稀释1000倍，盐度为0.1 wt%）或者100g（被稀释2000倍，盐度为0.05 wt%）。上机测试时再使用三通加入内标(Internal Standard)。虽然待测元素、内标元素都受到基体效应影响，但它们的元素比值却是相对稳定的。例如 基体效应抑制待测元素Co，使其信号只有纯溶液的85%；基体效应同样会抑制内标元素Sc，使其信号只有纯溶液的83%；但 Co/Sc=0.85/0.83=1.024，元素比值基本接近1。 因此对于ICP-MS湿法测试而言，稀溶液+内标法 能在很大程度上减缓基体效应。

如题，不知各位有没有测过硫酸锌中的Ca、Mg元素，请教老师：基体（Zn）对Ca、Mg的测试有干扰么？

是湖南大学的硕士学位论文，从万方下载的，页面是散的，没有合并成一个文件。【 摘　要 】 该文采用聚氨酯海绵为基体材料,以次磷酸钠为还原剂,在碱性化学镀镍溶液中对低磷化学镀镍磷合金工艺进行了详细的研究.同时,该文还采取线性电位扫描研究方法,对化学镀镍沉积过程中磷析出的可能机理进行了初步的探讨.在制备泡沫镍材料的过程中,首先要求在聚氨酯海绵基体上低磷化学镀镍制备导电层.该文针对聚氨酯海绵基体的特殊性,研究并确定了合适的前处理工艺和镀层成分镍和磷分析的分光光度法.降低化学镀镍镀层磷含量的主要方法是选择合适的络合剂.对于以聚氨酯海绵为基体的化学镀镍,研究认为,三乙醇胺是较好的选择.该研究采用正交试验方法,筛选并确定了镀层磷含量为1.5﹪的最佳低磷化学镀镍配方,并研究了硫酸镍浓度、次磷酸钠浓度、三乙醇胺浓度和温度对镀层磷含量的影响.[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=34322]聚氨酯海绵基体低磷化学镀镍工艺及机理研究[/url]

用ICP测试重金属,基体匹配应当是最能消除干扰的方法吧,我想问一下,基体匹配是不是就是将标准曲线溶液的基体和样品的基体大致相同啊? 如果是这样的话,那要测试钢(含铁量很高)中的铅等元素,岂不是要消耗大量的铁标液? 我这里只有1000PPM的铁标液,不知道哪里有更高浓度的便宜的铁等标液?搞点来做基体匹配.

[em06] 各位高手，我今天上午刚刚做样品发现的问题，一个Al的基体样品，测量Pb，但是220.353的测量值只有18mg/l，283.306和405.781的测量值却到30mg/l，我检查谱线，没有问题，背景扣过，也没有任何作用，不知哪位有经验的解释一下？另外，我用的是PE的仪器。

1测定血铅的原子分光光度法稀释剂和基体改进剂的选择作者：黄捷玲梁志华余泽文职业与健康2007, 23(1)2标准加入法在能力验证考核酱油铅含量中的应用作者：罗红辉王纪阳刘萱清 期 刊:光谱实验室 年，卷(期)： 2009, 26(4)3石墨炉原子吸收光谱法测定食品级磷酸中铅者:尹继先张艳超期 刊：理化检验-化学分册年，卷(期)：2007, 43(10)4基体改进石墨炉原子吸收直接测定海水中的痕量重金属作者：沈慧敏祝旭初期 刊：中国环境监测年，卷(期)：2007, 23(5)5以钯-硝酸镁为基体改进剂石墨炉原子吸收光谱法测定高盐食品中的铅作者： 王会存施良期 刊：中国卫生检验杂志年，卷(期)：2006, 16(7)

我们的标准曲线每点都是基体匹配的,那我想请问,我的样品是高纯的金属,测的是在基体匹配下的含量,还是净含量,我是新手,望解答,我的样品没有样品空白,谢谢仪器是老热电的

请问基体匹配是要把所有的元素都匹配吗？比如检测硫酸铜溶液，基体一定得是硫酸铜吗？

在做基体空白时要用不含被测元素的基体空白，请问在哪里买？好象标物中心有是吗？用5%的硝酸代替行吗？

用石墨炉法测定植物油中铅的含量，许多朋友说都应该加入基体改进剂，可是标准上没有设计到这个，请问各位大侠，什么时候应该叫基体改进剂呢？应该怎么加？以何为基体改进剂？谢谢~~~

基体干扰检查是分析中的最重要、最需要技巧的工作之一。硝酸、盐酸、氢氟酸、高氯酸、硫酸及磷酸是样品处理中常用的酸，这些酸所产生的基体效应与酸的性质及浓度有关。影响酸基体效应的因素有哪些？欢迎讨论

最近做高硅基体中的元素分析，发现用水做外标法看高硅基体中硼元素含量比用高硅基体的样品做标加法得出的硼元素数据高，按理论说是基体抑制作用，但是实验的结果是增加了。不知道是否是哪里出错了？请各位指点一二。谢谢

我想用ICP-AES测量铸铁中含量很少的As和Pb，在测量过程中遇到有干扰，想用基体匹配消除基体效应，请问各位高手基体匹配具体怎么做呢？我测量的是铸铁中的稀有元素，那我是不是向标液里面加入纯铁？

最近做金中Be含量,为了以后方便,特研究一下分离金和不分离金,两种状态下Be测量的结果.发现有些谱线在两种情况下,测量值一致,而一些却差很远,大家说说这是不是基体效应造成的? 如果是基体效应,基体是怎样影响谱线测量的?

整天听人说基体干扰，基质干扰这类的，可你真的追问什么是基体，恐怕没几个人能说明白。 特地找了找定义：待测元素以外的元素都是基体，注意基体是包括溶剂里的酸和水里面的元素的。基体干扰分两部分：物理性干扰和质谱干扰。后者通常导致假阳性，隶属于专属性内容，之前写过多篇文章，本文重点说的是物理性干扰。 物理性干扰的影响：信号的显著增强或抑制；精密度差，结果漂移；维护需求增大。 [url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICPMS[/color][/url]去定量的前提是：运行线性与样品过程中维持一个统一的等离子环境。但是ICP环境肯定受基体的影响而发生一些改变，电离能越高的元素，越容易受到影响。而改变ICP环境的常见两种情况就是高盐与高碳基体。 高C基体往往会增强高电离能元素的信号，主要原因是：雾化效应，液滴大小，等离子的能量分别变化。高盐基体则是起到了相反的作用，原因主要是：雾化效应，电离抑制，空间电荷效应。一般来说，As，Hg，Cd，Se比容易受到影响，但是每个基体的影响都有所差异，并非是教条的规律，一切从实际出发，具体问题基体分析才是王道。 雾化效应：发生在雾化气与蠕动泵部分，相关的样品粘度，吸取速率，雾化效率，液滴形成，以及蒸发速率这些因素都会影响产生气溶胶的数量与质量。这里我们要记住的一个重点：酸浓度高的溶液表面张力与粘度要低一些，形成的液滴比较大一些。虽然不是所有元素都有简单的大小关系，但我们一般会保持线性酸度与样品溶液一致来避免酸度带来的基体干扰。 电离效应：简单说就是容易电离的基体元素把ICP能量都抢走了，造成了高电离能元素的信号抑制。当然低电离能基体元素如果浓度过高，他们也会存在抑制，元素电离度必然会随着浓度增大而减小。千万不要认为进去ICP就能电离，也不要只是记住了理想整态下元素的电离度。 空间电荷效应：高浓度的基体元素使其他元素传输效率下降。特别是在高浓度重质量数元素下，轻质量元素的这种效应更为明显。 再说个概念：总溶解固体含量TDS，它是指溶解的技术和盐的含量，一般不超过0.2%。这也是我们一般称固体药品100mg到50ml去做前处理的原因。 实际上很多样品，就是需要高基体进样。我们一般有几个对策： 1.基体匹配与标准加入法。这种方法是让线性去接近样品基体甚至与样品基体一致。效果不错但有点小麻烦。 2. 稀释与消解。如果限度足够大的话，就能保证足够的稀释倍数，再严重的基体干扰都会被消除。当然，缺点也正是很多时候并不能稀释那么多倍数。消解可以降低样品的粘度，将有机物分解或部分分解成为小分子，是要给予充分重视的环节。 3. 内标校正。除了标准加入法之外，其实没有一种方法可以真的让基体效应消除。内标校正的含义是：既然基体效应难以消除，那我就找一个与待测元素行为相似的内标去尽可能的消除基体干扰的影响。这种方法是最普遍，最重要的方法。 当然，有很多特殊的例子，比如说某些基体会选择性得络和某些元素。除了以上三种对策，可能还要去考虑进样的细节处理问题，并且调节一些仪器参数配合解决。

什么是基体改进剂呢？测定土壤中铅含量你们扣的是自吸还是氘灯呢？

我实验室的样品比较简单，就是测铜基体中的铅。AAS火焰法，消解定容后样品情况，铜含量10g/L，铅含量大概0.5mg/L。目前的操作：一 标线制作：是用1%硝酸溶液为基体加标液做标线 二 样品测定：试样溶解后，扣除试样空白(用纯水代替试样，其他消解过程一样)，测样品浓度。发现的问题：回收率一般只有90%左右。如果用标准加入法做的法结果会偏大，平均下来大10%。问题一：标液是否必须用相同浓度的铜基体？问题二：试样空白是否要用纯铜代替？问题三：这种情况下，标准曲线的结果和标准加入法的结果哪个更可信？ 如果是标准加入法可信的话，能否用标准曲线法做出来的数乘以110%，因为实际操作中每次用标准加入法太麻烦。以上几个问题其实是相关的，也许解决了一个其他两个就不是问题，恳请高手指点。