宏观缺陷进行

布莱特（BRIGHT）MAS600宏观影像仪 MAS600宏观影像仪设备设采用LED发光组、全景深观察及拍摄、自动跟踪对焦、具有实时图像处理功能。镜体可正负倾斜90度拍照，特殊样品，镜体可手持拍照。基本功能?汽车行业、船泊行业、轴承行业、机械加工行业、制造行业、特殊设备制造行业、电器及电力行业?主要用于分析用户产品失效后的整体形貌及缺陷 产品特点1，采用白光LED发光组，长寿命冷光源照明，确保样品不会被热破坏2，配备高分辨率彩色SCMOS传感器芯片3，全景深观察及拍摄，立体感强，色彩还原佳4，自动跟踪对焦，可手动变焦，进行局部放大，定格拍照5，具有实时图像处理功能，灵活可见光图像合成功能，可做图象旋转调整,图像局部放大功能6，对待测图像进行加强效果RGB三原色色彩、亮度、对比度、Gamma值等调整7，聚焦手轮，电动调节聚焦状态8，LED环形光照明9，镜体可正负倾斜90度拍照10，特殊样品，镜体可手持拍照 主要技术参数 图像传感器5.0MP彩色SCMOS传感器，最高显示分辨率可达500万像素变焦能力22倍可变范围最小观察范围1.5mmX1mm最大观察范围330mmX240mm 输出接口USB3.0电力输入24VDC立柱高度600mm 软件界面软件主界面 实例图片

钢研纳克钢管视觉表面缺陷自动检测系统：由高速CCD相机系统、同步成像光源系统、存储及图形分析服务器系统、景深自动调节的检测平台系统及软件等组成，可实现二维+三维表面缺陷连续自动检测、分类评级和记录。可以快速且有效检测裂纹、凹坑、折叠、压痕、结疤等各类缺陷，能够适应于复杂的现代钢铁工业生产环境，能够完美替代目视检测，达到无人化生产的水平。 图1 钢管视觉表检系统 图2 CCD高速相机系统1.特点独特二维+三维成像技术：二维+三维集成成像，不仅能准确检测开口缺陷深度，而且深度很浅的细小缺陷也能有效检测。二维、三维结合技术解决了目前三维检测系统只能检出有一定深度缺陷、无法检测表面深度较浅但危害性较大的缺陷的问题。相机景深自动调整技术：能够对不同规格的工件进行自动调整，实现大景深变化背景下的高清成像。卷积神经网络缺陷算法：基于深度学习的表面缺陷检测算法，能够在复杂背景下有效地减少计算时间快速的采集缺陷特征，具有领先的缺陷检出率及分类准确率。2.主要功能在线缺陷实时检测：系统在线检测折叠、凹坑、裂纹等钢管外表面常见自然缺陷缺陷高速识别：快速分析获取缺陷数量、大小、位置（在长度、宽度方向上位置）、类型等信息，显示宽度缺陷模式缺陷分类统计：可按缺陷种类、长度、深度、位置、面积、等进行分类及合格率统计。实时图像拍照：实时过钢图像以及每根钢管记录的图像的“回放”功能，可进行多个终端显示图像回放。机器自学习：系统检出的缺陷和人工核对后，进行对应缺陷的样本训练，形成机器自学习，提高同类缺陷的识别准确率3.检测效果图3 图软件主界面图4 系统分析界面图5 缺陷样本自动标注常见缺陷 划伤 辊印 结疤 裂纹图6 检测到的常见表面缺陷目前该产品已在钢管生产线投入使用，解决了长期困扰客户的表面缺陷实时检测的难题。详情可咨询钢研纳克无损检测，电话： 手机：，E-mail：

[ 产品简介 ]蔡司大视野宏观变倍显微镜Axio Zoom.V16集传统体视显微镜和研究级荧光显微镜特点于一身，可获得10倍于常规体视显微镜的荧光亮度。借助适用于大尺寸样品观察的特点，可在荧光模式下观察完整的模式生物体。[ 产品特点 ]&bull 优秀的人机学设计，提高观察舒适度&bull 变倍比16：1，最大分辨率1700LP/mm&bull 单孔位或2孔位物镜转盘&bull 可接ApoTome.3, 实现光切荧光成像&bull Z轴精度350nm &bull eZoom 技术智能透射光控制[ 应用领域 ]&bull 生物学 &bull 医学和兽医学 &bull 微生物学&bull 植物学&bull 昆虫学&bull 海洋生物学&bull 地质学和古生物学&bull 刑侦痕检和文检&bull 工业QA/QC果蝇胚胎的双色图像鉴定人类细胞，分离并运输到PCR管火花塞大面积拼图，反射明场

FSD200μ自动宏观缺陷检测系统简介睿励微电子设备(上海)有限公司生产的自动宏观缺陷检测系统（FSD200u），具有快速，准确，可靠和低成本等优点，可用于工艺及产品质量检测，从而提高硅片制造的良率和品质。系统特性FSD200u适用于150mm至200mm硅片，两系统均可用于有图案及无图案硅片(Patterned and Un-patterned Wafers)。可用于硅片进厂(IQC)和出厂的检验(OQC) 、化学机械抛光（CMP）、光刻(Photolithography）、刻蚀（Etch）、薄膜(Thin Film) 、硅穿孔 (TSV) 集成封装等工艺，检测出各个工艺过程里关键的缺陷。可高速扫描硅片的全表面，自动存储硅片全景图像、缺陷分类，和输出缺陷检测结果。大量减低工程判断耗费时间，强化工艺监控 (SPC)，并结合硅片成品管理(Ink-out)。

FSD300自动宏观缺陷检测系统简介睿励微电子设备(上海)有限公司生产的自动宏观缺陷检测系统（FSD300），具有快速，准确，可靠和低成本等优点，可用于工艺及产品质量检测，从而提高硅片制造的良率和品质。系统特性FSD300适用于300mm硅片，两系统均可用于有图案及无图案硅片(Patterned and Un-patterned Wafers)。可用于硅片进厂(IQC)和出厂的检验(OQC) 、化学机械抛光（CMP）、光刻(Photolithography）、刻蚀（Etch）、薄膜(Thin Film) 、硅穿孔 (TSV) 集成封装等工艺，检测出各个工艺过程里关键的缺陷。可高速扫描硅片的全表面，自动存储硅片全景图像、缺陷分类，和输出缺陷检测结果。大量减低工程判断耗费时间，强化工艺监控 (SPC)，并结合硅片成品管理(Ink-out)。

Candela8520表面缺陷检测系统Candela8520第二代集成式光致发光和表面检测系统，设计用于对碳化硅和氮化镓衬底上的外延缺陷进行高级表征。采用统计制程控制(SPC)的方法来进行自动晶圆检测，可显著降低由外延缺陷导致的良率损失，最大限度地减少金属有机化学气相沉积(MOCVD)反应器的工艺偏差，并增加MOCVD反应器的正常运行时间。产品说明Candela 8520检测系统采用专有的光学技术，可同时测量两个入射角的散射强度。 它可以捕捉到形貌变化、表面反射率、相位变化和光致发光，从而对各种关键缺陷进行自动检测与分类。Candela 8520为氮化镓晶圆提供表面和光致发光的缺陷检测，对氮化镓位错、凹坑和孔洞进行检测和分类，用于氮化镓反应器的缺陷控制。其功率应用包括基于碳化硅的透明晶圆检查和晶体缺陷分类，如基面位错、微管、堆叠层错缺陷、条形堆叠层错缺陷、晶界和位错，以及对三角形、胡萝卜形、滴落物和划痕等形貌缺陷进行检测。功能检测宽带隙材料上的缺陷，包括直径达200毫米的碳化硅和氮化镓（衬底和外延)支持各种晶圆厚度对微粒、划痕、裂纹、沾污、凹坑、凸起、KOH蚀刻、胡萝卜形与表面三角形缺陷、基平面位错、堆叠层错、晶界、位错和其他宏观外延干扰进行检测应用案例衬底质量控制衬底供应商对比入厂晶圆质量控制(IQC)出厂晶圆质量控制(OQC)CMP（化学机械抛光工艺）/抛光工艺控制晶圆清洗工艺控制外延工艺控制衬底与外延缺陷关联外延反应器供应商的对比工艺机台监控行业工艺设备监控其他高端化合物半导体器件选项SECS-GEM信号灯塔金刚石划线校准标准离线软件光学字符识别(OCR)光致发光

Candela 8720表面缺陷检测系统Candela 8720先进的集成式表面和光致发光(PL)缺陷检测系统可以捕获各种关键衬底和外延缺陷。采用统计制程控制(SPC)的方法来进行自动晶圆检测，可显著降低由外延缺陷导致的良率损失，最大限度地减少金属有机化学气相沉积(MOCVD)反应器的工艺偏差，并增加MOCVD反应器的正常运行时间。产品说明Candela 8720晶圆检测系统采用专有的光学技术，可同时测量两个入射角的散射强度。它可以捕捉到形貌变化、表面反射率、相位变化和光致发光，从而对各种关键缺陷进行自动检测与分类。应用包括射频、功率和高亮度LED的氮化镓检测，能够检测裂纹、晶体位错、小丘、微坑、滑移线、凸点和六角凸点以及外延缺陷。8720检测系统还可用于其他高端化合物半导体工艺材料的缺陷检测，例如用于LED、垂直腔面发射激光器和光子学应用的砷化镓和磷化铟。 功能对直径达200毫米的高端化合物半导体材料进行缺陷检测。支持各种晶圆厚度适用于宏观和微观缺陷，如裂纹、多量子阱扰动、微粒、划痕、凹坑、凸起和沾污缺陷 应用案例衬底质量控制衬底供应商对比入厂晶圆质量控制(IQC)出厂晶圆质量控制(OQC)CMP（化学机械抛光工艺）/抛光工艺控制晶圆清洗工艺控制外延工艺控制衬底与外延缺陷关联外延反应器供应商的对比工艺机台监控 行业高亮度LED、微型LED包括AR|VR氮化镓的射频和氮化镓的功率应用通信（5G、激光雷达、传感器）其他高端化合物半导体器件 选项SECS-GEM信号灯塔金刚石划线金刚石划线校准标准离线软件光学字符识别(OCR)光致发光

Candela 8420表面缺陷检测系统Candela 8420是一种表面缺陷检测系统，它使用多通道检测和基于规则的缺陷分类，对不透明、半透明和透明晶圆(如砷化镓、磷化铟、钽酸锂、铌酸锂、玻璃、蓝宝石和其他化合物半导体材料)提供微粒和划痕检测。 8420表面缺陷检测系统采用了专有的OSA（光学表面分析仪）架构，可以同时测量散射强度、形貌变化、表面反射率和相位变化，从而对各种关键缺陷进行自动检测与分类。只需几分钟即可完成全晶圆检测，并生成高分辨率图像和自动化检测报告，同时附带缺陷分类和晶圆图。产品说明Candela 8420晶圆检测系统可以检测不透明、半透明和透明晶圆（包括玻璃、单面抛光蓝宝石、双面抛光蓝宝石）的表面缺陷和微粒；滑移线；砷化镓和磷化铟的凹坑和凸起；表面haze map；以及钽酸锂、铌酸锂和其他先进材料的缺陷。8420表面检测系统用于化合物半导体工艺控制（晶圆清洁、外延前后）。其先进的多通道设计提供了比单通道技术更高的灵敏度。CS20R配置的光学器件经过优化，可用于检测化合物半导体材料，包括光敏薄膜。功能检测直径达200毫米不透明、半透明和透明化合物半导体材料上的缺陷手动模式支持扫描不规则晶圆支持各种晶圆厚度适用于微粒、划痕、凹坑、凸起和沾污等宏观缺陷应用案例衬底质量控制衬底供应商对比入厂晶圆质量控制(IQC)出厂晶圆质量控制(OQC)CMP（化学机械抛光工艺）/抛光工艺控制晶圆清洁工艺控制外延工艺控制衬底与外延缺陷关联外延反应器供应商的对比工艺机台监控行业包括垂直腔面发射激光器在内的光子学LED通信（5G、激光雷达、传感器）其他化合物半导体器件选项SECS-GEM信号灯塔金刚石划线校准标准离线软件光学字符识别(OCR)CS20R配置用于检测光敏薄膜

AWL系列晶圆检查系统SOPTOP全新半导体工业检测产品——AWL系列晶圆检查系统，兼具稳定性和安全性，能够安全可靠的传送晶圆，适合于前道到后道工程的晶圆检查。一个晶圆在经过一系列复杂工序后最终变成多个IC单元，期间晶圆需要依赖搬运机在处理站之间执行快速、精确的传送作业。纳米级厚度的晶圆很容易在传送过程中损坏，而且还须确保在工序中晶圆表面不得有脏污、缺陷等。SOPTOP拥有 AWL046、AWL068、AWL812三种机型，多类配置，分别可适用于 4/6 英寸，6/8英寸、8/12英寸的晶圆检测，适应范围广、搭配灵活 。可自由设置的检查模式，充分符合人机工程学设计，操作舒适、简便。360°宏观检查AWL系列具有宏观检查手臂，可以实现晶面宏观检查、晶背宏观检查 1 的 360°旋转，更为容易发现伤痕和微尘。通过操作杆可随意将晶圆倾斜观察。晶面最大倾斜角度70°，晶背 1 最大倾斜角度 90°，晶背 2最大倾斜角度 160°，利用旋转功能、倾斜角度，完全可以目视检查整个晶圆正反面及边缘。人机工程学设计LCD 显示屏，可为操作者提供更直观的视觉体验，可清晰的显示当前检查项目及次序，调试参数一目了然。手动快速释放真空载物台可提高操作者的舒适度和工作效率。精密微观检查采用专业半复消色差金相物镜，可满足明场、暗场、DIC、偏光等多种观察方式。全新电动控制系统，可排查 μm 级异常，诸如孔未开出，短路，断路，沾污，气泡，残留等。

输电供电线路电力金具耐张线夹的缺陷便携式X光射线检测探伤的必要性有哪些：耐张线夹是三跨架空线路中广泛使用的电力金具。在耐张线夹的安装过程中，需要在高处进行多处压接，不仅安装难度大，宏观上也难以观察压接质量，且压接不良会导致防滑槽漏压、铝线散股和芯线未压接等缺陷。保障用电安全，了解耐张线夹的典型缺陷，明确耐张线夹上缺陷的分布位置和产生原因，针对不同缺陷出现的概率提出处理建议是十分重要的工作。耐张线夹主要的压接部件为铝管、钢锚、防滑槽、芯线和铝线等。大数据分析后最易出现的是防滑槽未压紧、防滑槽漏压以及铝线散股这三类缺陷。数量较少的缺陷为芯线断裂、钢锚断裂、芯线未压接、鼓胀等。通过X射线成像设备检测结果来分析典型严重缺陷，主要有以下的情况：防滑槽未压紧和芯线断裂缺陷、芯线未压接缺陷、铝管鼓胀缺陷、钢锚断裂等。X射线成像检测设备可以有效进行无损检测，通过影像图片的分析，方便深入了解工件状态，从而判断分析缺陷成因，为下一步的避免缺陷环节提供可靠的数据参考。苏州派登斯PDS-1417M系列X射线探伤数字化成像系统系列是面向电力行业设计推出的线夹等电力金具的便携式检测装备。

Duramin-4 – 手动显微及微观/宏观硬度测试仪入门级维氏硬度测试仪 – 再现性最佳，便于操作Duramin-4 – 手动显微及微观/宏观硬度测试仪适合维氏、努氏和布氏硬度测试有两种载荷范围：10 gf – 2 kgf 和 1 kgf – 62.5 kgf自动 6 位转台手动 XY 载物台和 Z 轴通过目镜手动评估压痕此系列显微硬度测试仪为入门级别，虽然主要针对维氏硬度测试，但是也可用于努氏硬度测试和布氏硬度测试。Duramin-4 测试仪结合了手动和自动功能，保证了操作的方便性。Duramin-4 有两种载荷范围；1 gf – 2 kgf 和 1 kgf – 62.5 kgf。 准确性和可重复性Duramin-4 采用先进的称重传感器技术，确保在整个载荷范围内既符合所有操作标准，又提供一致的再现性。操作简单显示单元由一块触摸屏和简易的用户界面组成，设计简单，便于使用；工艺精良，可抵抗严苛的生产环境。通过目镜，手动操作进行硬度测试；目镜上，测量线刚好围绕压痕。专门的解决方案Duramin-4 是专门进行单任务维氏硬度测试的理想选择，既可以在实验室中使用（M1），也可以在更多的生产环境中（M2）使用。型号两个型号的 Duramin-4 都配有 8 英寸触摸屏，通过目镜进行手动压痕测试，手动 Z-轴，包含手动微米调节的手动 XY-载物台（尺寸：90 mm x 90 mm，划痕：25 x 25 mm ）。两个型号都配备 6位电动测量转台。 Duramin-4 M1基于称重传感器技术的低载硬度测试。进行维氏和努氏自动化测试的理想选择。测试载荷范围为0.0098 - 19.6 N （10 gf - 2kgf）。测试高度范围：0-200 mm。Duramin-4 M2基于称重传感器技术的宏观硬度测试。进行维氏、努氏、布氏自动化测试的理想选择。测试载荷范围：9.81 – 613.1 N (1 kgf – 62.5 kgf)。测试高度范围：0-400 mm。变体10 gf – 2 kgf1 kgf – 62.5 kgf低架构Duramin-4 M1高架构Duramin-4 M2

ARS宏观角分辨光谱系统 ARS宏观角分辨光谱系统产品概述角分辨光谱仪 具有在 不同角度下 探测材料光谱性质的能力，突破传统光谱技术不能分辨角度的局限，是获取光子材料色散 关系，实现光学性质“全面表征”的重要手段，在 微纳光子学、低维材料、发光材料 等领域具有重要应用价值。ARS宏观角分辨光谱系统采用智能化的自动旋转设计，分别调节入射和出射方向，能够在实空间和频率空间等对微纳光子结构多维度观测，非常适用于具有微结构表面，具有光谱角度依赖的样品。ARS宏观角分辨光谱系统产品特点&bull ARS的采样机械臂采用精密的滑台，可以实现0-360°光谱检测&bull 支持7种检测状态和7种测量模式&bull 可扩展190nm-2500nm的光谱范围，可以扩展多台光谱仪同时检测&bull 内置氘灯、卤钨灯，提供250-2500nm的光谱照明范围，支持外接其他激光器等光源&bull 样品台实现五个维度的调整，可以对样品进行精细的各向调整ARS宏观角分辨光谱系统应用方向主要针对需要自动变角度的对宏观样品进行光谱测量的领域，主要包括材料、物理、化学、 生物、微电子等领域，比如光子晶体材料、超材料、光栅 尺样品、光学薄膜等样品，此类样 品具有能带结构，呈现光谱的各向异性； 另外可还用于 SPP、SPR 方向，用来测量表面等离子体激元的角度依赖光谱，并可获得耦合 角度信息。 主要客户群为高校、科研院所和工业实验室。ARS宏观角分辨光谱系统基本参数角度参数加光阑入射光半角： ∠0.5° /1° / 1.5° ，三种光阑选择默认入射光半角：∠ 2°加光阑出射光锥半角：∠0.5° /1° / 1.5° ，三种光阑选择默认出射光半角：∠ 2°电器参数电源接口：220V控制接口：USB接口结构与耗材扩展光源接口：SMA905或FC/PC光纤 接口光源输出接口：SMA905接口S1标准参比：标准白板、标准铝镜标准紫外光源：氘灯190-450nm，卤灯360-2500nm光学参数适应光谱波段：190nm-1100nm内置光源：250-2500nm的滨松氘灯-卤钨灯采样光斑：φ0.8mm小区域的精细采集测量模式原始、扣背景、反射、透射、吸收、吸光度、辐射模式检测状态上/下反射、透射、散射、辐射、自由、编程7种模式偏振支架：选配偏振支架，偏振方向可调偏振片 :S1.PMF.P-VIS,S1.PMF-NIR滤光片 支架：选配，适配多种型号滤光片 滤光片：多种型号可选ARS宏观角分辨光谱系统可选配置&bull 氘灯&bull 外置激光器光源&bull 滤光片&bull 光阑&bull 多波段光谱仪&bull 偏振支架&bull 外置光纤&bull 定制化样品台ARS宏观角分辨光谱系统采谱状态ARS宏观角分辨光谱系统典型应用典型应用一、一种光子晶体样品的宏观角分辨反射光谱数据l 样品名称：带有微结构的反射材料贴纸l 测试条件：积分时间：10ms；l 测量角度：0°~ 70°；l 白板做参比l 样品相对于标准白板在 0°~ 70°的反射率如下图，其中，单一曲线代表了某一接收角度下，不同波长的反射率典型应用二、一种特殊设计的光栅 样品具有一个正常色散能带和一个反常色散能带测量中使用了漫反射白板作为标准样品进行参比， 图中Y轴的百分比为光栅样品的衍射光谱与白板散射光谱的比值关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学 、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

RS | 宏观角分辨仪RS 宏观角分辨仪 能“任意角度变换”的光谱系统 0~360° 变角度 / 250~2500nm 宽波谱 /“复杂样品”透射与反射光谱 RS 宏观角分辨分析仪 采用多角度旋转设计，易于控制出射 & 入射方向，快速实现 透反射 / 散射 / 辐射 等 7 种光谱测量模式，可以手动调节任意角度进行检测。内置氘气和卤素光源，将波段拓展至 250~2500nm。而这一切皆浓缩于 RS 内，最终为“复杂样品”的光谱测量带来全新的体验。典型应用领域： 偏振样品 样品在不同偏振态具有不同光谱特性，需要光谱测量系统具有各偏振的分辨能力。 薄膜检测 样品具有能带结构，呈现光谱的各向异性，需要光谱测试系统具有精确的角度区分能力。 表面分析 表面等离子体具有敏感的光谱和角度依赖，需要光谱测试系统具有宽泛的光谱测量波段，和精确的角度分辨能力。 RS 宏观角分辨分析仪 在以上领域的应用得益于如下几个特点： 1 0~360° 完整角度范围 RS 采用两个精密的滑台，实现完整的 0~360° 光谱测试；快速实现包括 透射 / 反射 / 散射 / 辐射 在内的 7 种光谱测量模式；2 最宽 250~2500nm 谱段 RS 内置 氘气和卤素 光源，能实现 250~2500nm 超宽波段光谱测量； 3 精细的 5 维调节 为适应 样品的多样性，RS 采用了 x+y / α+β+θ 的 5 维调节台，精细地对样品进行方向调整； 4 可以配置外接 Laser 光源 用于新增的外部激光接口，RS 可拓展应用于 角分辨荧光光谱 测试领域，充分发挥实验室中更为强大的光源的优势； 5 新增光学元件插槽 由于新增的光学元件插槽，RS 可装载滤光片、偏振片、光阑等光学元件，大大丰富了测量内容。型号选择型号配置说明描述RS-LS波长范围360~2500nm标配10瓦卤素灯光源，RS-DL波长范围250~2500nm配置10瓦卤素灯和一个30瓦氘灯光谱性能项目值适用光谱波段：250~2500nm，系统通过波段内置光源波段：　　RS-LS360~2500nm，内置的长寿命卤素灯泡。　　RS-DL250~2500nm，内置的 Hamamatsu 氘气-卤素灯泡。落射光斑：Ø1 mm，更适合小样品测试测量模式：上反射 / 下反射 / 透射 / 散射 / 辐射 / 自由 / 编程，全面的 7 种模式，合为一体偏振支架：选配偏器支架 RS-PMF，偏振方向可调偏振片：● 360~790nm，RS-LP-Vis　　● 560~2400nm，RS-LP-Nir滤光片支架：选配滤光片支架 RS-PMC角度性能项目值入射光锥张角：　　加载光阑可选择特调节光阑，默认不加载。出射光锥张角：　　加载光阑依据光纤芯经，可选200um,400um,600um光纤。外部接口 & 其他项目值电源接口：标准三孔电源接口 AC 85~220V供电。电源开关：氘灯和卤素灯可以单独开启，卤素灯带有光强调节旋钮。外部光源接口：选配加装外接SMA905接口，默认无。光谱输出接口：SMA905，连接光纤光谱仪耗材：　　专用铝镜RS-SSH，200~2500nm 适用　　专用白板RS-WS，200~2500nm 适用　　专用氘灯RS-B-D，200~450nm 适用，寿命 2,000hr　　专用卤素灯RS-B-H，360~2500nm 适用，色温 2,915K，寿命 6,000hr

OASIS Macro和Micro旨在为研究人员提供宏观/微观光学成像平台，以实现细胞级分辨率和头固定实验中的成像和刺激实验。与传统的微观/宏观显微镜不同，OASIS平台为动物固定提供了充足的工作空间，平台的位置可以在动物周围轻松调整。OASIS平台的模块化设计可以根据研究人员的具体实验要求对大视场或小视场成像或照明进行定制。通过添加Mightex公司的Polygon光活化照明系统，该平台能够对感兴趣的区域或细胞进行目标模式化照明。其它主要功能如添加第二或第三照明光源，以及精巧的细节，例如用于特定型号显微镜物镜的适配器，都可以进行调整。总的来说，灵活的OASIS显微平台可以促进独特而多样的研究工作。特性：用于大视场的50mm管道透镜先进的模块化设计方案化（使用Polygon光活化照明系统）和/或宽场照明大视场下的高光功率耐用的精密手动或电动XYZ工作台倾斜机构，使系统相对于倾斜的试样表面旋转选项包括额外的宽视场照明或多个摄像头可接受任何C型接口摄像头可用的软件平台组成：OASIS显微平台由多个组件组成，为研究人员提供了极大的通用性。多端口照明根据成像和光遗传学应用，可以调整平台以适应多个光源。通过接收内芯3mm的液体光导进行落射荧光照明或通过耦合Mightex的Polygon光活化照明系统，研究人员可以完全控制照明。多个物镜OASIS 显微平台使用不同的商用的主流品牌显微物镜（Olympus，尼康、蔡司、徕卡）。另一方面，平台可以与我们的微距物镜（1X、2X和4X）一起使用。这些镜头可以互换。平移或立体定位根据研究人员感兴趣的动物模型和区域，有两种不同的平台可供选择。标准的平移型平台可以在XYZ方向进行调整。立体定位型平台提供额外的两个倾斜轴，允许物镜从多个角度围绕动物进行调整，获得对成像位置的最大控制。科研级摄像机OASIS 显微平台配备标准C型接口，与任何C型接口摄像头兼容。研究人员可以使用高速、高灵敏度的相机进行拍摄，获得可靠的定量分析的高质量图像。 研究应用运动和非运动脑皮层的靶向光遗传学刺激 Kauvar等人2020使用了Mightex的Polygon照明以及Macro显微平台对小鼠整个大脑皮层的多个区域同时进行光遗传学抑制。他们提供的证据表明非运动区域可能在运动计划实施中起到因果作用。嗅觉时空编码的感知不变性Chong等人2020利用集成到 Micro显微平台中的Polygon来提供编码的空间和时间照明模式，在活体清醒小鼠的嗅球制造合成的光遗传学气味，揭示控制嗅觉时空编码的新信息和原理。

KLA Candela光学表面缺陷分析仪（OSA）可对半导体及光电子材料进行先进的表面检测。Candela系列既能够检测Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板，又能对SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料进行检测，成为其制程中品质管理及良率改善的有力工具。 Candela系列采用光学表面分析（OSA）专用技术，可同时测量散射强度、形状变化、表面反射率和相位转移，为特征缺陷（DOI）进行自动侦测与分类。OSA检测技术结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与光学形状分析等基本原理，以非破环性方式对Wafer表面的残留异物，表面与表面下缺陷，形状变化和薄膜厚度的均匀性进行检测。Candela系列拥有良好的灵敏度，使用于新产品开发和生产管控，是一套极具成本效益的解决方案。 二、 功能 主要功能 1. 缺陷检测与分类 2. 缺陷分析 3. 薄膜厚度测量 4. 表面粗糙度测量 5. 薄膜应力检测 技术特点 1. 单次扫描中结合四种光学检测方法的单机解决方案，可实现高效的自动化缺陷检测与分离； 2. 对LED材料的缺陷进行自动检测，从而增强衬底的质量管控，迅速确定造成缺陷的根本原因并改进MOCVD品质管控能力； 3. 满足多种工业要求，包括高亮度发光二极管（HBLED），高功率射频电子器件，透明玻璃基板等技术； 4. 在多个半导体材料系统中能更灵敏的检测影响产品良率的缺陷。 5. 自动缺陷分类功能(Auto Defect Classification)(Particle, Scratch, Pit, Bump, and Stain Detection) 6. 自动生成缺陷mapping。 技术能力 1. 检测缺陷尺寸0.3μm； 2. 大样品尺寸：8 inch Wafer； 3. 超过30种DOI的缺陷分类。 三、应用案例 1. 透明/非透明材质表面缺陷检测 2. MOCVD外延生长成膜缺陷管控 3. PR膜厚均一性评价 4. Clean制程清洗效果评价 5. Wafer在CMP后表面缺陷分析

Duramin-100 – 全自动微观/宏观/万能测试仪这款集成微观和万能测试的测试仪功能强大，效率颇高Duramin-100 – 全自动微观/宏观/万能测试仪适合维氏、努氏、布氏和洛氏硬度测试有三种载荷范围：10 gf – 62.5 kgf，10 gf – 150 kgf，10 gf – 250 kgf自动 8 位转台电动测试压头电动 XY 载物台自动照明自动高度调节防碰撞系统全景相机激光定位系统报告编辑器嵌入式计算机，使用鼠标或触摸屏操作其他功能包括：映射、边缘检测、焊接测量、断裂测量、末端淬透性测试Duramin-100 系列包括微观和通用测试仪。顶级型号涵盖从 10 gf 到 250 kgf 的广泛载荷范围，包括电动 XY 载物台、电动测试压头、全景相机、激光制导和 8 位转台。Duramin-100 有 3 种载荷范围，适合维氏、布氏和洛氏硬度测试。插件模块包括 Kc 断裂测量，映射和焊接测量。载荷范围宽采用 Duramin-100 独特的测试载荷范围技术，省时省钱。Duramin-100 载荷范围 10 gf 到 250 kgf，可以在非常多的应用中得到应用，而这些应用通常需要同时用一个微观和一个宏观压入硬度测试仪。再现性和称重传感器技术Duranmin-100 在遵循所有标准的前提下，在整个载荷范围内提供最高的精度和再现性。有赖于它采用了先进的称重传感器技术。极佳的概览效果可选的双显示屏方案可以将基本的测量数据和宏观概览影像在两个不同的显示屏上同时显示。节省了高级操作时的配置和执行时间型号整个 Duramin-100 系列都配有一个测试点编辑器、电动测试压头、电动 XY-载物台（尺寸：350 x 225 mm，划痕：220 x 120 mm），一个高分辨率相机、LED 照明、自动聚焦功能和自动影像测试功能。每个模块都包含一个 15 英寸彩色触摸屏的集成PC。测试高度范围：0-145 mm。Duramin-100 包含一个配备激光指示器的自动化 8-位测试转台，转塔包含一个概览相机（FOV 200 x 160 mm），便于测试点定位。Duramin-100 AC1基于称重传感器技术的微观/宏观硬度测试仪，可用于维氏、努氏和布氏自动化测试。扩展的载荷范围：0.098 - 612.9 N (10 gf – 62.5 kgf)。Duramin-100 AC2基于称重传感器技术的微观/宏观硬度测试仪，可用于维氏、努氏、布氏和洛氏自动化测试。扩展的载荷范围：0.098 - 1471 N (10 gf – 150 kgf)。Duramin-100 AC3基于称重传感器技术的微观/宏观硬度测试仪，可用于维氏、努氏、布氏和洛氏自动化测试。扩展的载荷范围：0.098 - 2450 (10 gf – 250 kgf)。变体10 gf – 62.5 kgf10 gf – 150 kgf10 gf – 250 kgfDuramin-100 AC1Duramin-100 AC2Duramin-100 AC3

【金属表面检测系统功能】1.操作便捷操作简单，只需点击“开始”、“停止”即可完成所有操作。2.稳定性高可连续工作在极端温度和厂房环境中。3.高精度检测方案可检测出0.02 平方毫米以上的疵点缺陷,满足客户的不断提升的产品品质要求。4.远程数据库可以对生产的每卷材料进行精确的质量统计,详细的缺陷记录(大小和位置)和统计为生产工艺及设备状态调整提供了方便 离线分析,用于后续分切和质量管理,可有效保证产品质量。5.定位标识功能每生产一卷产品，系统会自动对这一卷产品的表面缺陷进行统计，同时打印出统计标签，贴在每一卷产品上，跟随产品发放下游。这样用户就可以通过每一卷产品上面的标签对产品进行评级，从而有效的用于分配不同质量要求的用途。6.输入输出报警当系统检测到疵点时进行声光报警，也可在系统中加入其他连锁I/O 输出。7.报表统计及打印报表统计及打印EXCEL缺陷明细表，便于用户做进一步的查询，分析，建档。

Duramin-40 – 半自动和全自动微观/宏观测试仪多功能硬度测试，确保较宽载荷范围内的再现性Duramin-40 – 半自动和全自动微观/宏观测试仪适合维氏、努氏和布氏硬度测试自动 6 位转台手动和电动 XY 载物台电动 Z 轴防碰撞系统自动照明全景相机选项报告编辑器嵌入式计算机带鼠标或触摸屏操作Duranmin-40 提供了 Struers 微观/宏观硬度测试仪的基本载荷范围。配有手动和电动 XY 载物台，和一个概览相机。Duramin-40 有三个载荷范围，10 gf – 10 kgf、10 gf – 31.25 kgf 和 1 gf – 62.5 kgf。测试仪包含带有独立显示器的集成计算机，可以使用触摸屏或鼠标操作显示器。也可使用双显示器。测试循环是完全自动的，标配电动 6 位转台。插件模块包括 Kc 断裂测量，映射和焊接测量。多功能测试仪 1 gf 到 62.5 kgf 的载荷范围意味着，它可以在非常多的应用中得到应用，而这些应用之前必须同时使用一个微观和一个宏观压入硬度测试仪才能实现。先进的称重传感器技术Duramin-40 采用先进的称重传感器技术，确保在整个载荷范围内既符合所有操作标准，又提供一致的再现性。节省时间的双显示屏可选的双显示屏方案可以将基本的测量数据和宏观概览影像在两个不同的显示屏上显示。不仅简化了高级测试时的设置操作，而且节省了时间。型号所有 Duramin-40 系列测试仪都配有电动 Z 轴、高分辨率相机，LED 照明，自动调焦和自动影像测试等功能。都包含一个 8 英寸彩色触摸屏的集成 PC。Duramin-40 M 配有一个包含手动微米调节的手动 XY-载物台 （尺寸 90 x 90 mm，划痕 25 x 25 mm）。测试高度范围：0-200 mm。包含 6位电动测量转台。Duramin-40 配有一个测试点编辑器和电动 XY-载物台 （尺寸： 350 x 225 mm，划痕：220 x 120 mm）。测试高度范围：0-200 mm。包含 6位电动测量转台。Duramin-40 AC 配有一个测试点编辑器和电动 XY-载物台 （尺寸：350 x 225 mm，划痕：220 x 120 mm）。测试高度范围：0-200 mm。包含一个自动 7-位测量转台，内置便于测试点定位的概览相机 (FOV 200 x 160 mm)。物镜和压头分开装配。 Duramin-40 M1/A1/AC1基于称重传感器技术的低载荷硬度测试仪，可用于维氏、努氏和布氏自动化测试。扩展的测试载荷范围： 0.098 – 98.1 N (10 gf – 10 kgf)。 Duramin-40 M2/A2/AC2基于称重传感器技术的低载荷硬度测试仪，可用于维氏、努氏和布氏自动化测试。扩展的载荷范围：0.098 – 306.4 N (10 gf – 31.25 kgf)。Duramin-40 M3/A3/AC3基于称重传感器技术的低载荷硬度测试仪，可用于维氏、努氏和布氏自动化硬度测试。扩展的载荷范围：0.0098 – 612.9 N (1 gf – 62.5 kgf)。变体10 gf – 10 kgf10 gf – 31.25 kgf1 gf – 62.5 kgf手动 XY 载物台Duramin-40 M1Duramin-40 M2Duramin-40 M3自动 XY-载物台Duramin-40 A1Duramin-40 A2Duramin-40 A3自动 XY-载物台 + 概览相机Duramin-40 AC1Duramin-40 AC2Duramin-40 AC3

Z6 APO 宏观显微镜制造厂商： 德国 Leica 1:6 连续变倍放大观察，特别适合对样品进行拍照记录、测量和评估Z6 APO是一款进行高对比度、高分辨率、详细分析的全复消色差的变焦系统，具有出色的透光率。单光路提供了2D图像，并确保无视差成像。再加上 Leica DFC相机和徕卡应用套件，这对数码成像颇为理想。模块化设计允许对各应用程序进行优化配置。直接连接数字照相机使亮度达到较高的水平。目视检查任务是用双目镜筒从立体显微镜线上进行的。出色的透光性:变焦范围为0.57 - 3.6倍，具有出色的透光性 - 相机的曝光时间更短且恒定。平场复消色差变焦: 平场复消色差变焦和物镜 - 较高的光学性能（高对比度，高分辨率，高彩色保真度），获得理想的效果。分辨率高达1500Lp/mm: 分辨率高达1500Lp/mm - 成像鲜明，细节丰富。内置可变光圈: 内置可变光圈 - 景深可调。大工作距离: 大工作距离，即97毫米，1.0倍 - 可以轻松地访问任何样本

徕卡FS M 手动控制的 宏观比对显微镜 提供了灵活方便舒适的使用，它是一台多用途的枪械和工具印痕鉴别仪器。该万能系统可理想地同时观察物证，用于司法鉴定或培训。高质量的比对桥支持两套装配着全套复校色差物镜的五孔球轴承物镜转盘的精密匹配。一个 22毫米视野提供了竖直同向的图像。操作时，图像和样品依照同样方向快捷地移动。您的优势连续调节系统提供分离视野，全左或全右视野以及叠加的样品视图， - 通过方便地旋转一个固定位置的旋钮，视野就可以连续在左右光路中进行调节。远心对中复校色差宏观物镜内置了可调光阑的远心对中宏观物镜提升了相衬和景深，用以观察物证的终极高相衬再现。适应各种样品一系列样品夹适应了弹壳，刀痕，文件以及其他各种异型的样品。

Revetest宏观划痕测试仪广泛用于确定厚度超过 1 μm 的硬质涂层材料的特性。安东帕是划痕测试领域的全球领导者，已有 1500 多台Revetest宏观划痕测试仪销往世界各地。加载载荷：分辨率：3 mN | 最大力：200 N摩擦力：分辨率：3 mN最大摩擦力:200 N深度：分辨率：1.5 nm最深：1000 μm速度：从 0.4 mm/min 至 600 mm/min国际标准：ISO 20502, ISO 1071-3,ASTM C1624, ASTM G171, etc.

【药瓶包装缺陷检测】基本说明　　药瓶包装外观缺陷检测系统主要针对口服液玻璃药瓶、塑料瓶及塑料容器进行快速、可靠的检测，项目有飞边、污渍、缺料、瓶口圆度、杂质物、孔洞、薄壁区域检测等，医药包装的检测方法除人工检测外便是更智能化自动化视觉检测设备，引用机器视觉检测，不仅可以提高药品的检测效率和准确性，更为企业降低了人工成本。药瓶机器视觉缺陷检测在制药过程中主要运用药品的生产、包装、封盒/封口、贴标、喷码、装箱等。　　【药瓶包装缺陷检测】产品功能　　不良处理缺陷检测、异物缺陷检测、瓶体尺寸缺陷检测、瓶液位判断、瓶身轧盖外观检、测贴标缺陷检测　　【药瓶包装缺陷检测】产品特点　　1.操作简单：快速建模，向导设置，直观的用户界面　　2.检测精度高：可针对不同区域设置不同的精度等X　　3.误报率低：检测误报率低　　4.检测速度：X快速度20000pcs/小时(检测不同的产品速度不同)　　5.不良存档：检测到的缺陷及不良图片存档到制定文件夹，可供操作人员针对不良追溯。　　【药瓶包装缺陷检测】适用范围　　药瓶包装外观缺陷检测系统可应用于口服液玻璃瓶体、塑料瓶及塑料容器、饮料瓶等瓶体外观缺陷在线检测。　　【药瓶包装缺陷检测】产品参数　　检测速度：250瓶/分钟--500瓶/分钟(可调)　　检测项目：(玻璃屑、金属屑、纤维、黑点、白点)、液位、轧盖、瓶盖表面印刷等　　电 压：AC3~380V 50HZ　　设备容量：14KW　　工作台高度：980mm　　适用范围：20ml~60ml口服液　　【药瓶包装缺陷检测】企业介绍　　杭州国辰机器人科技有限公司(浙江智能机器人省级重点企业研究院，简称“浙江智能机器人研究院”)成立于2015年7月，位于杭州钱塘江畔的萧山国家经济技术开发区内，是一家以机器人核心关键技术开发与应用、机器人自动化系统集成、机器人教育以及机器人多元化产业发展，并重点致力于智能服务机器人研发与产品化的企业实体。国辰服务机器人产品可应用于小区,门岗,酒店,景区,讲解,营业厅,厂房,仓库,机房,实验室等多种场景，可提供智能机器人,服务机器人,巡检机器人,喷涂机器人,迎宾机器人,管家机器人,酒店机器人,景区机器人,讲解机器人,仓库机器人,布匹缺陷视觉检测,agv叉车,无人搬运机器人,导游机器人以及营业厅机器人等多种智能服务机器人产品。

明场纳米图形晶圆缺陷检测设备产品介绍TB系列明场纳米图形晶圆缺陷检测设备为全自动宽波段图形晶圆检测系统，可为8寸/12寸晶圆提供高效、高灵敏度的缺陷检测，可广泛应用在前道、后道各工艺层中，满足不同工艺节点缺陷检测需求。产品特点①高灵敏度，可侦测更多类型关键缺陷②高数据通量和高性能数据处理，有效提高WPH③采用先进信号处理算法，显著提高信噪比④支持智能在线缺陷分类功能

如何使用影像亮度色度计进行 FPD 自动光学检测在产线上及产线的最终检测中，主要有三种方法可对高速生产过程中的平板显示屏 (FPD) 进行光学检测： 1) 人工检测 —— 轻松处理比较复杂的测试要求。但与电子测试方法相比，它相对缓慢，变化较大2) 基于机器视觉的检测 —— 非常快捷，测试简单。但很多测试不能反映出人的视觉体验3) 基于影像亮度色度计的检测 —— 在速度上介于上述两种方法之间。能够像人那样进行“目测”，而且具有高度的可靠性和可重复性 使用影像亮度色度计系统和相关分析软件，可以评估 FPD 的亮度、色彩均匀度和对比度，并识别 FPD 上的缺陷，这种用途已经被广为接受。影像亮度色度计和机器视觉之间的基本差别在于：影像亮度色度计可以精确地匹配人类视觉感知，包括对光线和色彩均匀度 (以及不均匀性 )的感知。 在本文中，我们将描述如何在全自动测试系统中使用影像亮度色度计，在高速度、大批量的生产环境中识别和量化缺陷。本文内容涵盖测试设置，以及可以执行的测试范围 – 从简单的点缺陷检测到复杂的 Mura检测和评估。测量挑战影像亮度色度计系统是基于 CCD 的影像系统，经过校准之后，它对光线、亮度和色彩的反应与 CIE 模型定义的标准人工观察者相同。可精确地同时测量亮度、色彩及其空间关系。测试时，系统会生成数据，并可随时使用这些数据来确定显示屏均匀性和对比度性能。此外，还可对均匀度差异进行分析，以识别和定位潜在的显示屏缺陷。显示屏测量和分析面临的三大重要挑战是： 1) 识别与人类视觉感知具有高度关联性的缺陷2) 量化缺陷的严重程度3) 快速执行高重复度的分析 缺陷的分析和量化可以作为依据，帮助我们确定导致缺陷的显示屏组件，以及接下来采取的行动 – 例如废弃显示屏或返回进行修理 – 从而提高质量测试的效率，还可以降低成本。与人工视觉检测相比，使用影像亮度色度计的测试更加快捷和灵活，重复度更高，另外它在匹配人类视觉感知方面的精确度高于机器视觉。 影像亮度色度计可以精确地捕获 FPD 上的光线和色彩变化的空间关系，这一优点使得这种测试方法非常适用于评估视觉性能。测量组件和测试通过指定适当的自动测试序列，影像亮度色度计可用于获取广泛、精确的高分辨率数据，以描述特定显示屏的性能。对于典型测试序列，此类测量数据通常可在几秒钟至一分钟之内获取，具体时间取决于显示屏技术和分辨率。使用新的 Mura缺陷分析技术，这些影像可用于确定与物理原因直接相关的各种缺陷之间的细微差异。 要使用影像亮度色度计进行显示屏的自动测量和分析，需要使用组合测量控制和分析软件。我们针对此应用开发的系统整体结构如图 1 所示。该系统的主要组件包括：(1) 科研级影像亮度色度计系统；(2) 基于 PC 的测量控制软件，它不仅控制影像亮度色度计，还控制待测试设备上的测试影像显示；以及 (3) 一套能够运行各种测试的影响分析函数。因此，该系统可针对各种显示屏缺陷 (例如点缺陷、线缺陷和 Mura)提供量化自动检测。 实施的部分测试包括：图 1. FPD AOI 测试设置，影像亮度色度计处在自动软件控制下显示屏缺陷检测应用显示屏缺陷分为很多类型，例如像素缺陷和行缺陷、屏幕制造的物理疵点 (例如脱层 )、屏幕损坏 (例如划痕 )、影像均匀度的疵点 (例如 Mura)。利用对视觉感知的最新研究，我们可以根据人工观察者发现这些缺陷的明显程度 (或者是否明显 )，通过数字方式对这些缺陷进行分类。这个分析过程速度很快，而且重复度很高。它适用于多种显示屏技术，包括液晶、等离子、OLED 和投影显示屏。 在本文中，我们通过分析多个显示屏，演示这些缺陷检测和分类方法。图 2 显示了存在行缺陷的显示屏的光学测量，分析软件在显示屏影像上识别和指示这个缺陷，如图 3 所示。行缺陷是一种比较容易确定根源的缺陷；其起因是液晶屏故障。 图 2.存在可视行缺陷的显示屏屏幕的光学测量。 图 3.行缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件识别的；屏幕上为用户指明了缺陷位置。 图 4 显示了存在点缺陷的显示屏的光学测量；分析软件在显示屏影像上识别和指示这个缺陷，如图 5 所示。如果分析确定该故障的起因是液晶屏像素停滞，则可将点缺陷归类为像素故障。但是，从单个角度直视并不能区分死像素与显示屏玻璃背面微粒之间的差异。在此情况下，需要进行第二道检验以识别故障原因。 图 4.存在点缺陷的显示屏的光学测量 – 您能看到吗？ 图 5.点缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件识别的，并在显示屏屏幕上标记，我们放大了该点，让它更容易看到。Mura的检测和分类可能比较复杂。 Mura通常是亮度和色彩的不均匀性，覆盖较大的不规则区域。如果发现亮度和色彩对比度超过了可感知的阈值，则表示检测出 Mura。但是，由于人工感知这些对比度取决于多个因素，包括视距、空间频率和方向，因此我们无法通过查看对比度的简单绝对值，来识别相关 Mura。 在对显示屏缺陷的人类视觉感知建模方面，我们最近取得了进展，这使我们能够从“最小可觉差”(JND)的角度来量化 Mura。基于人工观察员的采样，我们定义了 JND 标度，如果 JND 差异为 1，则从统计上无法察觉；在绝对标度上，JND 为 0，表示没有可视的空间对比度，JND 绝对值为 1，表示第一个可察觉空间对比度 – 这样就能针对各种显示屏技术对显示缺陷进行分级。因此，我们可以处理亮度和色彩的空间分配的影像亮度色度计测量，以创建影像的 JND 映射，其中 Mura缺陷在与人类视觉感知直接关联的前提下进行了分级。图 6 显示了存在 Mura缺陷的显示屏，经过分析后，我们在显示屏影像上识别了该缺陷，如图 7 所示。 图 6.对存在 Mura缺陷的显示屏进行影像亮度色度计测 量，您能够找到这个缺陷吗？图 7.该 Mura缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件在显示屏上识别的。它的范围与 JND 值一同显示。图 8 和图 9 显示了识别 Mura的步骤。作为中间步骤，它会生成一个差异影像，显示相对于参考影像的亮度偏差。然后计算显示屏的 JND 映射。请注意，图 7 所示的 Mura测试有意忽略了 JND 影像中的明显边缘效应。这些效应可以简单地单独识别和分类。识别 Mura缺陷并不是基于各区域之间的对比度计算的简单数学计算。首先， Mura区域的大小和形状各不相同。其次，人工感知 Mura的能力受到其他一些因素的制约 – 视频、空间频率和色彩。 图 8.差异图片显示了相对于计算参考影像的偏离。Mura的位置突出显示。图 9.显示了显示屏 JND 映射的“伪彩色图像”。显示屏边缘的漏光和明显 Mura缺陷标识为较大的 JND 值。基于影像亮度色度计的 AOI 测试系统可以快速可靠地识别和量化显示屏缺陷。为确定或分类缺陷根源，从而确定显示屏的状态，有时需要人工检测。很多情况下，例如图 3 所示的行缺陷，识别的缺陷及其起因之间存在一对一关系。在这些情况下，我们可以即时对缺陷进行分类，而且无需人工检测。而在其他一些情况下，例如某些 Mura缺陷，缺陷可能有多种原因，因此我们需要更多信息帮助进行分类。执行这种分类的一种高效方法是让人工操作员确定哪种原因是正确的。当需要人工分类时，为了提高效率，TrueTest 会向操作员指示需要进一步检验的缺陷的位置和详细信息。可以在人工判断基础上进行加速，例如专门针对需要分类的缺陷，以及提供适当的细节。 对于图 4 和 图 5 中所示的点缺陷，操作员可以知道暗点的准确位置和相关信息，从而快速确定该缺陷是死像素，还是显示屏玻璃背面的微粒。 总结本文档所述的影像亮度色度计 AOI 测试方法可以应用于多种显示屏技术， FPD(液晶、等离子、OLED)和投影显示屏均可使用。这些方法提供与人工视频感知相关的快速可重复测量，能够通过数字方式标识缺陷特征，因而不仅可以识别显示屏缺陷，还能够按原因对缺陷进行分类。这使我们能够在制造应用中对显示屏进行一致测量，并根据用户定义的标准，自动确定显示屏是否通过测试。更加重要的是，它还可以自动确定修补措施 (例如返工或废弃 )。

高速智能验布系统主要面向纺织行业，采用基于深度学习的人工智能算法，机器视觉技术检测织物表面缺陷。只要是不正常的纹理，均可实现实时在线检出，检出率95%以上。 适用于：各种静色化纤织物，如坯布、被单、衣料、家用织物、工业织物、轮胎、成品布、染后织品、牛仔布等自动检测上。功能： 1、送卷、自动验布和收卷，实现疵点图像实时显示、自动疵点分类、位置记录、发现重大缺陷或连续性缺陷停机和报表统计等功能。 2、可按照需求对布面缺陷进行记录或标记；并能够精准定位疵点位置坐标。 3、对不同种类疵点能够按照客户标准进行评级和评分，从而自动形成整卷布评级结果，例如一等品，合格品，等外品等级。 4、布长度测量，采用分辨率1mm的独立布长度测量装置，用来标记疵点的实际位置和长度。 5、实时在线检测经密、纬密、纬斜量、实际长度、幅宽、速度等参数。特点： 1、检测速度：120m/min。 2、分辨率：径向：0.18mm，纬向：0.15mm。 3、检测幅宽：1.2~2.8m。 4、24小时工作制。 5、环境温度：0℃-40℃。

水下电磁探测仪，依托于水下机器人进行水下结构的检测，可检测水下构件内部结构缺陷，脱空情况，钢筋混凝土裸露情况。可以在桥梁日常养护工作中起到非常积极的作用本公司自主研发的Silurian 水下缺陷检测系统，已获得相关发明专利。系统以介电常数差异为物理基础，使用高频电磁波进行非破坏性探测，通过剖面扫描的方式获得水下结构物的扫描图像，该系统不仅可以用于地层岩溶、断层构造探测，还可应用于工程混凝建筑特别是水利水电大坝体裂缝、混凝土内钢结构隐患、隧道衬砌完整性等隐患排查。本系统可对坝体及其它混凝土建筑进行快速动态扫描，z高速度可达3m/s,高效识别毫米级裂缝及内部缺陷，作业效率较常规探测方式有极大提升，完美克服了结构物裂缝监测传统作业的高精度与检测效率的矛盾。是水下混凝土裂缝、缺陷检测的z优解决方案。应用场景：水坝各个位置的混凝土外部及内部缺陷桥梁水下混凝土缺陷满水涵洞内部缺陷系统特点：适合各类复杂水工结构体和各种不同姿态工作可对水工结构体内部破损及缺陷进行分析对隐伏破损具有很好的分辨能力受水环境影响小，灵敏度高

电池缺陷检测仪XG5000广泛应用电池行业检测电池的内部缺陷和实效分析。用户可以通过这款仪器获得高质量、高放大倍率、高分辨率的电池内部图像，对电池内部的正负极以及内部结构进行检测。电池缺陷检测仪XG5000具有标配超高性能90KV 的X射线管，可检测5微米的缺陷，最大几何放大倍率可达到48X.优质的优质的影像品质，高对比度，可检测到微小密度/灰度差异，便携式的操作方式更易于用户的行为。 电池缺陷检测仪XG5000所配备的软件功能 一 【测量功能】 1、直线距离、点线距离、圆直径、同心圆、点与圆心距离等测量 。 【图像浏览功能】2、可以调出原来的图片，进行比对，方便对异常现象的分析。3、选择任意图像，可以选择原先图片的检测设定条件，方便快速分析。 二 【步进功能】 载物台可以依设定好的程序，自动按照程序的功能，在检测量大形状单一的产品时有一定的优势。可以方便控制X光管和相机移动的方向和间隔时间，也可以设置不同检测点的X射线条件（电压，电流）进行不同效果检查。三【自动导航功能】 用鼠标点击导航图像任意一点，X光管和相机自动移动到想要被检测的地方。也可以回看上次保存的各个点位置和被测条件（如电流，电压等），被测图像在屏幕上可视化，操作简单，直观，定位准确.导航图像中有十字光标，便于操作人员识别。电池缺陷检测仪XG5000特色1、配置有免维护的密封管型微焦点X射线管。2、运动装置配备滚珠丝杆，同步轮步进驱动，使运动更加平滑，精度高，噪声小等优点。3、高压电源与光管是一体式的，工作更稳定、可靠。4、光管自动保护功能：无任何操作20min后自动断电进入保护状态。5、机器自动保护功能，任何一扇门开启，设备立刻进入停机保护状态，立刻停止发射X光。6、累计光管适用时间自动计时，角度倾斜及自动导航功能为选项。7、在软件操作界面上的X光&ldquo 开关&rdquo 按钮，可以用颜色来区分&ldquo 开&rdquo &ldquo 关&rdquo 。8、X光管使用时间的统计可以在菜单上显示。9、成像画面随鼠标指示位置移动，当鼠标点击成像画面某点位置时，某点位置移动到成像区域中央。10、鼠标点到之处，鼠标滚轮能实现成像图像的放大、缩小功能。11、软件加刻度或测量标尺。电池缺陷检测仪XG5000技术参数项目型号 XG5000光管X-Ray Tube光管类型/Tube style闭管，电源一体式光管电压/Tube voltage90kV光管电流/Tube current200&mu A（软件限值89&mu A）冷却方式/Cooling mode强制风冷几何放大倍率/Geometricmagnification time12-48 XX光管和图像增强/X-ray tube and intensifierX轴/Axis X16"(400mm)Y轴/Axis Y18"(450mm)X光管/X-ray tube Z轴/Axis Z6"(150mm)增强屏/Image intensifier视场/Field of view range2"/4"解析度/Analyse75/110 lp/cmX-Ray外壳尺寸/Dimension1028X1025X1840mm重量/Weight约760kg电源/Power供电方式/Power supply ACAC250 10A计算机Computer品牌/BrandHP 操作系统/Operation SystemWindows XP显示器/Display22"宽屏液晶显示器主机8200 Elite CMT/New core i3-2100(3.1G/3M/2)/2G(1*2G)DDR3 1333/500G(SATA)/DVD/No FDD//USB Keyboard/USB Optical Mouse/3-3-3/机箱智能电磁锁/Power Assistant辐射安全标准Radiation Safety Standard&le 1uSv/hr(国际安全辐射标准)&le 1uSv/hr(国际安全辐射标准)工作环境Working environment温度Safety Operating Temp.22± 3℃我司生产包括电池缺陷检测仪、离子污染测试仪等方面的仪器都有良好的保修制度。

Candela7100系列缺陷检测和分类系统Candela 7100系列为硬盘驱动器基板和介质提供了高级缺陷检测和分类功能。7100系列硬盘驱动器缺陷检测和分类系统以经过生产验证的Candela产品系列为基础，可帮助制造商对关键的亚微米缺陷进行检测和分类，如微凹坑、凸起、微粒以及被埋入的缺陷，从而最大限度地提高良率并降低总检测成本。产品说明Candela 7100系列高级缺陷检测和分类系统是专为硬盘驱动器基板和介质而设计的。高功率双波长激光器针对当前的关键缺陷挑战进行了优化，多通道散射检测器为全系列基板上亚微米凹坑、凸起、微粒以及被埋入的缺陷的分类提供了更高的灵敏度。7100系列的功能和稳定性确保了一个平台可用于多个工艺控制应用点。功能通过整个磁盘的缺陷图对金属和玻璃、基板和介质上的亚微米凹坑、凸起、微粒以及被埋入的缺陷进行检测和分类通过整个磁盘的缺陷图来更快地获得结果，同时附带对缺陷进行分类以及数据输出可操作的功能减少对离线检测技术(AFM、SEM、TEM等)的依赖，从而降低总拥有成本提供手动(7110)或全自动(7140)配置 应用案例缺陷检测划痕和隆起检查微粒和沾污检测激光纹理分析碳均匀性分析和碳空洞检测对记录层和软衬层进行检测润滑油均匀度分析磁共振成像选项精密的金刚石划线高灵敏度选项磁共振成像离线软件

Revetest Xpress Plus宏观划痕测试仪RSX+ 广泛用于表征涂层的膜基结合强度和抗刮擦性。该仪器配有支持用户预定义测试参数的软件。只需按下触摸屏上的“启动”按钮即可开始测试程序。测试结束时，用户可选择直接在 Revetest Xpress Plus宏观划痕测试仪RSX+或在光学显微镜上研究样品特性。Revetest Xpress Plus宏观划痕测试仪RSX+技术参数：加载载荷： 分辨率：3 mN 最大力：200 N摩擦力： 分辨率：3 mN 最大摩擦力：200 N深度： 分辨率：1.5 nm 最深：1000 μm速度：从 0.4 mm/min 至 600 mm/min国际标准：ISO 20502, ISO 1071-3,ASTM C1624, ASTM G171, etc.

简介Lumina AT1光学表面缺陷分析仪可对玻璃、半导体及光电子材料进行表面检测。Lumina AT1既能够检测SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料，又能对Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板进行检测，其价格优势使其成为适合于研发/小批量生产过程中品质管理及良率改善的有力工具。 Lumina AT1结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与表面斜率等基本原理，以非破环性方式对Wafer表面的残留异物，表面与表面下缺陷，形状变化和薄膜厚度的均匀性进行检测。1.偏振通道用于薄膜、划痕和应力点；2.坡度通道用于凹坑、凸起；3.反射通道用于粗糙表面的颗粒；4.暗场通道用于微粒和划痕；二、 功能l 主要功能1. 缺陷检测与分类2. 缺陷分析3. 薄膜均一性测量4. 表面粗糙度测量5. 薄膜应力检测l 技术特点1.透明、半透明和不透明的材料均可测量，比如硅、化合物半导体或金属基底；2.实现亚纳米的薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像；3.150mm晶圆全表面扫描的扫描时间为3分钟，50x50mm样品30秒内可完成扫描并显示结果；4.高抗震性能，系统不旋转，形状无关，可容纳非圆形和易碎的基底材料；5.高达300x300mm的扫描区域；可定位缺陷，以便进一步分析；技术能力三、应用案例1. 透明/非透明材质表面缺陷检测 2. MOCVD外延生长成膜缺陷管控3. PR膜厚均一性评价4. Clean制程清洗效果评价5. Wafer在CMP后表面缺陷分析6. 多个应用领域，如AR/VR、Glass、光掩模版、蓝宝石、Si wafer等