厚度均匀性分析

应用范围适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。主要特点1. 接触式测量原理2. 德国测厚传感器3. 工业 TFT 屏，触摸屏操作4. 零导航深度的扁平化界面 UI，操作更加方便快捷5. 真彩色液晶显示试验数据、结果6. 手动、循环、预约定时多种测量模式7. 测试过程全自动完成8. 本机内置历史数据查询功能9. 配置微型打印机，可自动打印单次、统计报告10. 配置标准通信接口11. 可支持 DSM 实验室数据管理系统，实现数据统一管理（选购）技术指标测量范围：0～2mm（标配） 0～10mm（可选）分 辨 率：0.1μm测量速度：1~25 次/min（可调）测 量 头：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（标配）纸张：200mm2，50±1kPa（可选）电 源：AC 220V 50Hz外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)净 重：38kg执行标准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817产品配置标准配置：主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件选 购 件：纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统。

条干均匀度测试分析仪北京华昊电子有限公司（原北京嘉麓野仪器有限公司） 公司成立于2003年，位于北京中关村高新技术园区，是专门从事精密纺织仪器、纺织电子研发、生产、销售的高科技企业。公司主要产品：1：全自动毛羽条干均匀度测试仪MT4000， 2：全自动强力仪YG029PC。 3：条干仪YG138AM,4：落纱智能机器人小推车，一、产品概述YG138 系列条干均匀度测试仪融合了数字信号处理技术、高频电路精密电容测量技术、新光电毛羽测量技术、全数字电子调速技术及采用了计算机中高速 PCI 总线接口技术、网络技术、WINDOWS 操作界面。与国内同类产品相比具有高度、高集成度、高智能化和高稳定性的特点，且操作简便、功能齐全、价格优势非常明显。YG138 系列条干均匀度测试仪采用电容式测量技术，测量棉、毛、麻、化纤所纺纱线、纱条的线密度不匀及不匀的特征；采用光电式测量技术，测量纱线的毛羽不匀及不匀的特征。YG138 系列条干均匀度测试仪具有自动调零、自动调整均值、自动设置量程功能。YG138 系列条干均匀度测试仪显示和打印平均值系数 AF 值、变异系数 CV% 值、不匀率 U% 值、（细节、粗节、棉结）疵点数、毛羽指数 H 、毛羽指数标准差 SH ；显示、分析、打印质量不匀曲线图、毛羽指数不匀曲线图；显示和打印质量波谱图、毛羽指数波谱图、变异系数 - 长度曲线图、偏移率曲线图、质量分布图，三维波谱图。二、技术特色数字调速，全数字电子调速技术具有 10000 线 / 转的调速分辨率，保证纱速准；恒定转矩保证不同测试速度下纱速稳定，使测试度高、数据更；高集成度，使仪器结构简、极大提高可靠性；PCI 总线，高速 PCI 总线技术保证测试数据快速、与新技术同步；大 容 量，每组多 100 管测试功能，方便对整台细纱机各锭的考核、维护；网络功能，可与 YG029 系列强力仪， EL 系列支数称联网，支持远程查询；波谱幅度，对波谱幅度进行的 CV% 值表示：更易判断故障点、与技术同步；试样编号，可对每管纱样按车间、设备、纱锭进行编号，快速准确查找故障位置。三、具体特点网络功能：可与YG029型强力仪等仪器联网，对试验数据进行统一管理测试速度：4 、8 、25 、50 、100 、200 、400m / min存储容量：大容量硬盘存储测试数据：变异系数 CV% 、不匀率 U% 、平均值系数 AF 、五档 CV m % （ 1m 、 5m 、 10m 、 50m 、 100m ）、二档偏移率 DR% （ 1m 、 ± 5% ）、极差 S.L. ； 千米平均值（ Mean/1Km ）、管间变异系数 CV b 值、置信区间 Q95% 、大值 Max 、小值 Min 。显示图形：不匀曲线图、波谱图、偏移率 — 门限曲线（长度： 1 、 10 、 20 、 50 、 100cm 、门限： 0~±50 ％），变异系数 — 长度曲线（切割长度：0~100m ）、质量分布图、三维波谱图条干均匀度测试分析仪适用场合：纺部试验室，纺织试验室，中心实验室，技术中心售后服务：保修2年

北京华昊电子有限公司（原北京嘉麓野仪器有限公司）公司成立于2003年，位于北京中关村高新技术园区，是专门从事精密纺织仪器、纺织电子研发、生产、销售的高科技企业。公司主要产品：1:全自动毛羽条干均匀度测试仪MT4000，2：全自动强力仪YG029PC。3：条干仪YG138AM,4：落纱小推车，智能机器人。一、产品概述 MT-4000系列条干均匀度测试仪融合了数字信号处理技术、高频电路精密电容测量技术、新光电毛羽测量技术、全数字电子确调速技术及采用了计算机中高速 PCI 总线接口技术、网络技术、 WINDOWS 操作界面。与国内同类产品相比具有高确度、高集成度、高智能化和高稳定性的特点，且操作简便、功能齐全、价格优势非常明显。 MT-4000系列条干均匀度测试仪采用电容式测量技术，测量棉、毛、麻、化纤所纺纱线、纱条的线密度不匀及不匀的特征；采用光电式测量技术，测量纱线的毛羽不匀及不匀的特征。MT-4000系列条干均匀度测试仪具有自动调零、自动调整均值、自动设置佳量程功能。 MT-4000系列条干均匀度测试仪显示和打印平均值系数 AF 值、变异系数 CV% 值、不匀率 U% 值、（细节、粗节、棉结）疵点数、毛羽指数 H 、毛羽指数标准差 SH ；显示、分析、打印质量不匀曲线图、毛羽指数不匀曲线图；显示和打印质量波谱图、毛羽指数波谱图、变异系数 - 长度曲线图、偏移率曲线图、质量分布图，三维波谱图。二、技术特色数字调速，全数字确电子调速技术具有 10000 线 / 转的调速分辨率，保证纱速准；恒定转矩保证不同测试速度下纱速稳定，使测试度高、数据更确；高集成度，使仪器结构精简、极大提高可靠性；PCI 总线，高速 PCI 总线技术保证测试数据快速确、与新技术同步；大 容 量，每组多 100 管测试功能，方便对整台细纱机各锭的考核、维护；波谱幅度，对波谱幅度进行确的 CV% 值表示：更易判断故障点、与国际先进技术同步；试样编号，可对每管纱样按车间、设备、纱锭进行编号，快速确查找故障位置。自动校验功能及随机配备的检定规程，便于计量仪器的周期性检定，校准。三、具体特点自动功能：智能选择测量槽 智能推纱杆【自动调零】、自动均值调整；双主导纱皮辊前后匀速运动【保护皮辊】；自动废纱负压吸入处理【避免缠纱】；自动换管、自动导纱智能分析：内嵌专家分析系统、智能定位机械故障；内嵌乌斯特质量公报、自动确定质量等级测试速度：4、8 、25 、50 、100 、200 、400m / min存储容量：大容量硬盘存储数据测试数据：变异系数 CV% 、不匀率 U% 、平均值系数 AF 、五档 CV m % （ 1m 、 5m 、 10m 、 50m 、 100m ）、二档偏移率 DR% （ 1m 、 ± 5% ）、极差 S.L. ； 千米平均值（ Mean/1Km ）、管间变异系数 CV b 值、置信区间 Q95% 、大值 Max 、小值 Min 。 毛羽指数H、毛羽标准差sh显示图形：不匀曲线图、波谱图、偏移率 — 门限曲线（长度： 1 、10 、20 、50 、100cm 、门限： 0~±50 ％），变异系数 — 长度曲线（切割长度：0~100m ）、质量分布图、三维波谱图适用场合：纺部试验室，纺织试验室，中心实验室，技术中心售后服务：保修2年

概述　　采用了基于MEMS技术的创新发明,提供一个对水处理过程中的结垢（水垢、生物菌等）趋势现象的连续监测及报警的工业测量解决方案，可以连续、在线、实时监控各种工业过程的结垢现象！ 水垢、生物菌膜的危害●产品的质量控制下降●工艺运行时间的增加●生产效率和竞争力降低●卫生安全控制●能源消耗增大●化学品的排放增多●废弃物增多… … 作用●及时改进临界点的热交换系数，节约能源●优化和控制水处理效率●优化和减少化学制品，减少排放●可避免病菌的风险，防治生物污染●污垢、生物菌膜的异常增加时报警 典型应用●冷却塔●换热器●过滤器/膜●工业水处理●锅炉水处理●纯水处理●市政供水●化工●电力●生物制药 工作原理　　采用微小的脉冲式加热器，由于污垢、生物菌沉积厚度的增加而导致表面温度升高，通过连续测量表面温度来监测污垢、生物菌沉积厚度。　　水垢膜/生物菌传感器作用不仅仅在于“分析”，更侧重于提供监测、警报和调节的解决方案！ 安装　　传感器可以安装到一个旁路监视并控制系统运行状况，测量旁路建议采用流量调节和显示、流量开关、单向阀等原件。 具体应用案例　　安装于核电/火力发电厂的三级冷却系统、循环水冷却塔系统监控有机物结垢和杀菌剂处理效率，证明通过对于水垢生物菌的监测能够减少杀菌剂的添加量，优化杀菌剂处理，保证安全生产的同时减少了化学品的使用，减少了对于环境的影响，节约能源。 控制器特点• 时间节省　　6语言导航菜单（含中文），无需说明书即可进行操作　　与传感器采用M12连接器连接，即插即用• 过程安全　　4.3"或7"大屏幕彩色触摸液晶显示，触摸操作及调试，安全便捷，远距离也清晰可见　　大屏幕红色闪烁报警，在黑暗区域也清晰可见　　即时报警，使过程变得更为安全　　与传感器采用M12连接器连接，不会造成错误连接• 数据报警记录　　实时数据曲线显示，曲线范围和周期可设置调整　　6000条报警记录功能• 专家校验功能　　最多可实现9点校验功能• 强大的自诊断功能　　内置看门狗和心跳监测功能　　监测控制器及传感器状态，及时提醒客户采取必要性维护　　高标准的硬件和软件安全防护• 强大的智能通讯功能　　可选现场总线MODBUS，HART，Foundation Fieldbus FF，PROFIBUS PA，PROFIBUS DP等• 强大的控制功能　　可选模拟量或开关量PID控制器　　可选自动清洗控制功能可选高低限控制功能

广东温度均匀性测试箱高低温箱结构特点1. 恒温烘箱箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。2.内箱采用进口高级不锈钢（SUS304）镜面板，外箱采用（SUS304）拉丝不锈钢板或优质冷轧钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度。3.设有大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。4.箱体左侧配直径25mm或50mm或100mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用。5.保温材质采用高密度玻璃纤维棉，厚度为80~100mm。门与箱体之间采用双层耐高低温之高张性密封条，以确保测试区的密封。6.设有独立限温报警系统，超过限制温度及自动中断运行，保证试验安全进行不发生意外。7.补水箱置于控制箱体右下部，并有缺水自动保护，更便利操作者补充水源。8.加湿系统管路与控制线路板分开，可避免因加湿管路漏水发生故障，提高安全性。9.水路系统管路电路系统采用门式开启，方便维护和检修。10.试验箱底部采用高品质可固定式PU活动轮。

菲希尔金镍厚度分析仪、金镍厚度测量仪、金镍分析仪 ——Ｘ射线荧光镀层测厚及材料分析仪菲希尔金镍测厚仪用途：XDLM-PCB 200型：首先PCB板将在仪器集成的激光点的协助下准确放置于样品台上。然后将样品台如抽屉般推入仪器内部。设计用途：能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXRF），用于测量微小结构上的薄镀层厚度和材料分析菲希尔金镍测厚仪技术参数：元素范围：从元素氯(17)到铀（92），最多可同时测定24种元素。形式设计：台式仪器，测量门底部开槽设计。测量方向：由上往下X射线管：带铍窗口的微聚焦钨管高压：三档：30KV，40KV，50KV孔径（准直器）：0.2mm基本滤片：固定测量点尺寸：取决于测量距离和使用的孔径大小；视频窗口中显示的就是实际的测量点尺寸；最小测量点约为：0.16mm测量距离：0-10mm (0-0.4in),使用受专利保护的DCM测量距离补偿法X射线探测器：比例接收器菲希尔金镍测厚仪应用领域：钟表，首饰，眼镜 汽车及紧固件 卫浴五金连接器化学药水通信半导体封装测试电子元器件 PCB

等离子体清洗好处,对PTFE进行等离子活化处理,蚀刻工艺,为弹性密封件和PTFE密封件研发了很好的等离子工艺,并得到了应用,等离子体清洗与其它清洗方式对比表.等离子体清洗好处：　１、其除去了有机层（含碳污染物），其会受到例如， 氧气 和空气的化 腐蚀，通过超压吹扫，将其从表面去除。　　　通过等离子体中的高能量粒子，脏污会转化为 稳定的小型分子 ，并借此将其移除，处理过程中脏污的厚度只允许达到 几百纳米 ，因为等离子的清除速度仅能够达到每次几 nm。　　　脂肪含有诸如锂化合物之类的成分。仅能够除去其 有机成分 。这一点同样适用于指纹。故此，建议戴手套。　２、还原氧化物　　　金属氧化物会和工艺气体发生化学反应。作为工艺气体，使用了氢气和氩气或氮气的混合物。等离子体射流的热效应可能会导致进一步的氧化。故此建议在惰性气体环境下进行处理。常压等离子激活处理主要用于哪些方面？　　这种技术非常适用于以下工艺过程：　１、在粘合之前对塑料进行局部的等离子活化处理　２、在粘合、植绒、印刷（例如，汽车行业中的橡胶型材）之前，对弹性体进行等离子活化处理　３、在粘合或者粘接之前，对金属和陶瓷表面进行局部的等离子活化处理　４、极为适合在直接于移印机中移印之前，对塑料零部件进行处理。用常压等离子体进行活化处理能够为我们带来哪些主要优势？　技术适用于在线工艺，例如，在对连续型橡胶型材、软管进行印刷、胶粘，植绒或者涂层之前进行等离子活化。　等离子体清洗与其它清洗方式对比表：应用用途和特性低压等离子体的优点低压等离子体的缺点常压等离子体的优点常压等离子体的缺点普通的等离子体生成在等离子腔体室中均匀分布等离子体，腔室体积可变复杂的真空技术，在线等离子处理应用受到一定的限制可以直接在输送带上进行等离子处理，适用于在线处理，无需任何真空技术由于等离子体激发原理的原因，等离子处理痕迹有限，处理较大的对象的时候，必须使用多个喷嘴对金属进行处理可对易氧化的对象进行等离子清洗进行微波激发的时候，对象上可能会相应产生能量，这会造成对象过热对铝进行等离子处理的时候，可以生成很薄的氧化层对易氧化的对象进行等离子清洗，受到一定的限制对聚合物弹性体进行处理无法对PTFE进行等离子活化处理，蚀刻工艺，为弹性密封件和PTFE密封件研发了很好的等离子工艺，并得到了应用某些材料需要用到较大型的泵，以便达到必须的工艺压力无法对连续型对象进行预处理，工艺时间很短等离子射流的温度为约 200 - 300 °C。必须对表面的工艺温度进行很好的调节，以防止着火（很薄的材料）3D对象对等离子体腔室中的所有对象进行均匀处理。即使是中空腔室也可以从内部进行处理（例如，点火线圈、水箱等）未知可进行局部表面处理（例如，粘结槽口）需要使用复杂的多关节型机器人技术。常压等离子体的间隙渗透性受到一定的限制散装部件通过转鼓法可以对散装部件进行均匀的等离子处理。零部件的件数和体积可以有所不同其仅能够使用转鼓的 1/3 体积（建议）可以直接在输送带上处理对象对象必须极为精确的定位在输送带上电子，半导体技术借助低压等离子体对电子元件、电路板和半导体部件进行等离子处理是先进的技术。未知金属或者 ITO 触点可在粘接处理之前进行等离子预处理（例如，LCD、TFT 和芯片的生产）涂层工艺生成均匀的涂层。研发了很多 PECVD 和 PVD 工艺，并得到了应用可能会造成等离子体腔室的污染具有很多的工业用途尚不具有任何的工业用途

商品说明 工业生产过程中的品质控制，高压隔离开关触头镀银层检测仪，铜镀银，镀锡等厚度快速测试，同时满足金属成分的元素分析。K8000T镀层厚度分析仪专业无损检测作为生产过程中的品质控制与管理，确保材料品质；船舶制造、航空航天等高技术行业中合金成分的识别，从而保障产品质量与安全；电力电站等有关国计民生行业中，鉴定设备零部件成分是否达标，保证设备安全。 隔离开关触头作为高压配电设备中的重要电子电力器件，其中隔离开关触头上的镀银层，有耐磨耐腐蚀的性，能降低接触电阻，需如果用不镀银的铜触头，铜触头经过氧化后电阻会明显增加，就会产生电弧烧蚀触点的可能，而使用铜镀银触头就可以大大减少电弧烧蚀触点的可能。所以按照国家电网公司“关于高压隔离开关订货的有关规定”的要求，高压隔离开关主触头：镀银层厚度应不小于20um，一般触头镀银层厚度应不小于8um，硬度应不小于120韦氏。高压隔离开关主触头镀银层也是验收设备的重要指标之一。 而对于电镀厂家来说，电镀镀银的成本里多的就是贵金属银的使用量，所以镀层越厚，对电镀厂家的成本越高，所以一部分不良电镀厂家，就对电镀镀银厚度采用以次充好，以薄充厚，严重影响了高压配电设备的验收工作，甚至使的一部分高压配电设备厂家被国网一而再，再而三的被通报不良产品，轻则被禁止半年到两年的国网系统招标资格，重则直接被国网招标拉入黑名单。目前，隔离开关触头镀银层厚度测量方法主要用手持X射线射线镀层厚度分析仪现场测试和X射线台式镀层测厚仪测试。 隔离开关触头镀银层测厚仪，是一种X射线光谱仪，通过X射线对对银层的照射后然后的X荧光，可以分析检测出开关触头上镀银层厚度的仪器，仪器分为手持式和台式两种，都可以快速、无损的通过照射几十秒就可以测出镀银层的厚度，方便、快捷是电力设备生产厂家和电镀及表面处理企业对产品镀层厚度检测的重要仪器。 K8000T镀层厚度分析仪手持式镀层测厚分析仪配有专门针对镀层厚度分析的专业应用软件，具有智能化、高灵敏度、测试时间短、自动判断是否超标、操作简易、可实现边测边打功能等特点。全新的智能软件，一键智能操作检测合金成分和镀层厚度； K8000T镀层厚度分析仪合金分析仪也可快速检测并鉴别出各种金属的种类、含量以及杂质成分；能快速检测并鉴别出各种高低合金钢、不锈钢、工具钢、铬/钼钢、镍合金、钴合金、镍/钴耐热合金、钛合金等各种金属的牌号及元素含量；仪器预装多基体标准合金库，合金库中包括400余种合金牌号，用户也可自己建立合金牌号库。 功能如下：（1）智能识别基材种类的功能:立足于为用户快速实现投资回报，提高生产率，自动识别基材种类，无需手动选择样品类型，然后再测试；降低操作难度，节省测试时间，不管操作人员是否有经验，都可以在几秒钟内获得合金甚至是铝合金的牌号。（2）完善的合金数据库: K系列合金分析仪配有完善的合金数据库，标准牌号库包括500多种独特的合金牌号，用户可以轻易添加客户独特的元素和牌号。（3）检测范围广:无与伦比的轻元素分析功能，可以快速准确的分析常规金属元素Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb等。商品参数镀层厚度分析方法：能量色散X射线荧光分析方法测量镀层范围：0-50um检测镀层种类：铜镀银、铜镀锡分析精度：单层电镀相对误差不超过10%检测时间：15-20秒检测窗口：12mm合金测试元素范围：Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，Hf，Ta，W，Re，Pb，Bi，Zr，Nb，Mo，Cd，Sn，Sb等23元素仪器参数：1、激发源：大功率微型直板电子X射线管，激发电压为35kV；无高压电缆、无射频噪声、更好的X射线屏蔽、更好的散热。 固定电压35kV,电流100uA（美国Moxtek),标配Ag靶，无电机、1个滤光片2、探测器：Si-pin探测器(6 mm2 能量分辨率190eV FWHM)3、运算方法：KMX-FP无标样测试法4、标配1个电池

厂家正式授权代理商：岱美有限公司联系电话：，（贾先生）联系地址：北京市房山区启航国际3期5号楼801公司网址：ThetaMetrisis是一家私有公司，成立于2008年12月，位于希腊雅典，是NCSR' Demokritos' 的微电子研究所的第一家衍生公司。ThetaMetrisis的核心技术是白光反射光谱（WLRS），它可以在几埃到几毫米的超宽范围内，准确而同时地测量堆叠的薄膜和厚膜的厚度和折射率。 FR-Mic: 微米级薄膜表征-厚度，反射率，折射率及消光系数测量仪一、产品简介： FR-Mic 是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案，要求的光斑尺寸小到几个微米，如微图案表面，粗糙表面及许多其他表面。它可以配备一台专用计算机控制的 XY 工作台，使其快速、方便和准确地描绘样品的厚度和光学特性图。o 实时光谱测量o 薄膜厚度，光学特性，非均匀性测量，厚度映射o 使用集成的， USB 连接高品质彩色摄像机（CCD）进行成像 二、应用领域 o 大学 & 科研院所o 半导体（氧化物、氮化物、硅、电阻等）o MEMS 元器件 (光刻胶、硅薄膜等)o LEDo 数据存储元件o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 其他更多 … (如有需求，请与我们取得联系) 三、产品特点o 单点分析(无需预设值）o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k，颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数 FR-Scanner 自动化超高速精准薄膜厚度测量仪 一、产品简介： FR-Scanner 是一种紧凑的台式工具，适用于自动测绘晶圆片上的涂层厚度。FR-Scanner 可以快速和准确测量薄膜特性:厚度，折射率，均匀性，颜色等。真空吸盘可应用于任何直径或其他形状的样片。 独特的光学模块可容纳所有光学部件:分光计、复合光源(寿命10000小时)、高精度反射探头。因此，在准确性、重现性和长期稳定性方面保证了优异的性能。FR-Scanner 通过高速旋转平台和光学探头直线移动扫描晶圆片(极坐标扫描)。通过这种方法，可以在很短的时间内记录具有高重复性的精确反射率数据，这使得FR-Scanner 成为测绘晶圆涂层或其他基片涂层的理想工具。测量 8” 样片 625 点数据60 秒 二、应用领域o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 半导体生产制造：(光刻胶, 电介质,光子多层结构， poly-Si,Si, DLC )o 光伏产业o 液晶显示o 光学薄膜o 聚合物o 微机电系统和微光机电系统o 基底: 透明 (玻璃, 石英, 等等) 和半透明 三、产品特点o 单点分析(无需预设值）o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k，颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数FR-Scanner: 自动化超高速薄膜厚度测量仪 FR-pOrtable:一款USB驱动的薄膜表征工具 一、产品简介： FR-pOrtable 是 一 款独 特 的 便 携 式 测 量 仪器 ， 可 对 透 明 和 半 透明 的 单 层 或 多 层 堆 叠薄 膜 进 行 精 确 的 无 损（非接触式）表征。使用 FR-pOrtable，用户可以在 380-1020nm 光谱范围内进行反射率和透射率测量及薄膜厚度测量。二、应用领域o 大学 & 科研院所o 半导体（氧化物、氮化物、硅、电阻等）o MEMS 元器件 (光刻胶、硅薄膜等)o LEDo 数据存储元件o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 其他更多 … (如有需求，请与我们取得联系) 三、应用领域 FR-pOrtable的紧凑尺寸以及定制设计的反射探头以及宽带长寿命光源确保了高精度和可重复的便携式测量。 FR-Portable既可以安装在提供的载物台上，也可以轻松转换为手持式厚度测量工具。放置在待表征的样品上方即可进行测量。 FR-Portable是用于工业环境（如R2R、带式输送机等）中涂层实时表征的可靠而精确的测厚仪。四、产品特点o 一键分析 (无需初始化操作)o 动态测量o 测量光学参数(n & k, 颜色)，膜厚o 自动保存演示视频o 可测量 600 多种不同材料o 用于离线分析的多个设置o 免费软件更新服务 五、技术参数FR-pRo: 按需可灵活搭建的薄膜特性表征工具一、产品简介： FR-pRo 是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备，用于表征厚度范围为1nm-1mm 的涂层.FR-pRo 是为客户量身定制的，并广泛应用于各种不同的应用 。 FR-pRo 可由用户按需选择装配模块，核心部件包括光源，光谱仪（适用于 200nm-2500nm 内的任何光谱系统）和控制单元，电子通讯模块此外，还有各种各种配件，比如:? 用于测量吸收率/透射率和化学浓度的薄膜/试管架,? 用于表征涂层特性的薄膜厚度工具,? 用于控制温度或液体环境下测量的加热装置或液体试剂盒,? 漫反射和全反射积分球通过不同模块组合，最终的配置可以满足任何终端用户的需求 二、应用领域o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )O 半导体生产制造：(光刻胶, 电介质,光子多层结构， poly-Si,Si, DLC )o 光伏产业o 液晶显示o 光学薄膜o 聚合物o 微机电系统和微光机电系统o 基底: 透明 (玻璃, 石英, 等等) 和半透明 三、产品特点o 单点分析(无需预设值）o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k，颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数

积分球型均匀光源 XLS-8310-01 描述XLS-8310-01积分球型均匀光源，是一款将积分球与多颗可控灯源相结合所产生的均匀光源。将多颗灯源放置在积分球内，灯源发出的光在球内壁上经无数次的漫反射，充分积分之后，最终在积分球出口处输出一种十分均匀的漫射光，其具有理想的朗伯余弦特性。在国防、科研、工业等众多领域中，对光源的均匀性往往具有较高的要求，而此款基于积分球的均匀光源便是一种较为理想的解决方案。特点出口光斑均匀性98.5%输出光照度值可调，0-100000 lux色温可调，2850-6500 k（可定制）光谱范围UV，VIS，IR（可定制）出口光斑Φ1-1000mm（可定制）球内涂层材料为PTFE亮度范围、光源波段、光功率等方面均可定制应用国防、科研、工业等众多领域，如均匀照明源、光学仪器定标；航天遥感遥测系统均匀性校正；数码照相机/摄像机均匀性校正；CCD均匀性，光谱相应特性校正；电子成像设备的校准等。技术参数更多精彩内容，请关注下方！

概述积分球型均匀光源，是一款将积分球与多颗可控灯源相结合所产生的均匀光源。将多颗灯源放置在积分球内，灯源发出的光在球内壁上经无数次的漫反射，充分积分之后，最终在积分球出口处输出一种十分均匀的漫射光，其具有理想的朗伯余弦特性。在国防、科研、工业等众多领域中，对光源的均匀性往往具有较高的要求，而此款基于积分球的均匀光源便是一种较为理想的解决方案。特点出口光斑均匀性98.5%输出光照度值可调，0-100000 lux输出光照度值可调，0-100000 lux光谱范围UV，VIS，IR（可定制）出口光斑Φ1-1000mm（可定制）球内涂层材料为PTFE亮度范围、光源波段、光功率等方面均可定制应用领域国防、科研、工业等众多领域，如均匀照明源、光学仪器定标；航天遥感遥测系统均匀性校正；数码照相机/摄像机均匀性校正；CCD均匀性，光谱相应特性校正；电子成像设备的校准等300mm积分球型均匀光源参数型号SIM-6211-30001整体性能出光口均匀性98.5出光口照度值20000lux输出光谱范围250-2500nm光强稳定性99（2小时）积分球参数积分球球径300mm出光口直径默认80mm，可定制大小开孔数6个入光口/1个出光口/2个预留口球壳材质不锈钢/铝合金图层材料PTFE灯源参数灯源类型溴钨灯灯源数量6个，每个灯源均可独立开或关灯源色温2800K灯源功率12V/10W灯源寿命2000H电源参数电源电压0-80V电源电流0-20A电源功率400W电源尺寸214.5*88.2*354.6mm电源重量2.5Kg可选积分球规格球直径（mm）20030050010001500出口直径（mm）20-4030-6050-100100-200150-300涂层材料PTFEPTFEPTFEPTFEPTFE注：积分球尺寸，固定孔数量/位置及连接件等均可定制

锂电池隔膜厚度测量仪 电池极片厚度检测仪 锂电池隔膜厚度测量仪 电池极片厚度检测仪 是专门用于测量锂电池隔膜厚度的高精度设备，对于确保电池性能和安全性具有重要作用。锂电池隔膜厚度测量仪主要用于测量锂电池隔膜的厚度，厚度是影响锂离子透过性、电池性能和机械强度的关键参数。厚度均匀性是隔膜质量的重要指标，通常要求横向厚度均匀性控制在1um以内 。锂电池隔膜厚度测量仪 电池极片厚度检测仪技术参数：测量范围：0-2mm，可定制其他量程。分辨率：0.1um，能够满足高精度测量需求。测量速度：10次/min，可调。测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）。接触面积：50mm² （薄膜），200mm² （纸张）。进样步矩：0 ～ 1300 mm，可调。进样速度：0 ～ 120 mm/s，可调。机器尺寸：450mm×340mm×390mm（长宽高）。重量：23Kg。工作温度：15℃-50℃。相对湿度：80%，无凝露。试验环境：无震动，无电磁干扰。工作电源：220V 50Hz 。测量原理：锂电池隔膜厚度测量仪通常采用接触式测量原理，通过机械测量法，利用固定的压力和接触面积来测量隔膜的厚度值 。标准参考：锂电池隔膜厚度的测量可参考GB/T 6672-2001《塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法》等标准 。

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

银宗透过率均匀度测试机YT-669多点透过率均匀度测试用途/功能/特色:1.快速量测眼镜镜片各点之透视率。2.可量测单色及渐进色之眼镜镜片。3.可选择量测 9 点或多点。4.内置眼镜架治具及可调整的裸片治具(可互相更换)5.使用符合视效函数之 CCD。6.大面积均匀光源。7.内建工业电脑。 8.可储存检测数据及输出测试报表。银宗透过率均匀度测试机YT-669技术参数:1. 符合视效函数之 CCD2. 光源尺寸：140mm*110mm3. 光源种类：100W 卤素灯泡4. 系统：Windows10，内含透视率分析软体

行业应用五金建材、水暖卫浴、电力电气等探险者EXPLORER手持式X荧光分析仪是集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术，具有自主知识产权的全新一代手持XRF产品。EXPLORER 5000T手持式XRF镀层厚度分析仪使用全新大屏高分辨率液晶显示屏及新型数字多道数据处理器的便携式手持镀层测厚分析仪。EXPLORER 5000T可对大面积镀层产品进行膜厚分析，仪器不仅体积小、重量轻，可随身携带进行测量；而且性能卓越，堪比台式机。

仪器简介：ESP&trade 提供药品生产厂家独特的混合均匀性监测系统,精确在线测量粉末配方的最佳混合度,而不会引起产品的浪费. 使用热传感技术, ESP&trade 可以加速产品发展及使生产量增加,也可提供有价值的,实时的数据知道是否过度混合或未混合均匀而防止成本提高, ESP&trade 能分析粉末,液体,蜡状产品的均匀性,分散性和乳化性技术参数：马希斯ESP&trade 药品混合均匀性监测系统,可以使药品生产厂家节约成本,提高产品质量主要特点：ESP&trade 提供药品生产厂家独特的混合均匀性监测系统,精确在线测量粉末配方的最佳混合度,而不会引起产品的浪费. 使用热传感技术, ESP&trade 可以加速产品发展及使生产量增加,也可提供有价值的,实时的数据知道是否过度混合或未混合均匀而防止成本提高, ESP&trade 能分析粉末,液体,蜡状产品的均匀性,分散性和乳化性

上海镀层厚度检测丨电镀膜厚测试丨镀层分析行业安普检测的服务优势在于以更短的检测周期和更低的服务价格，为客户节约成本和周期，帮助客户快速获取准确有效数据，并为客户提供后期技术服务支持。安普检测作为平台化运营品牌，与国内外多家实验室建立了良好的合作关系，旨在为客户、行业提供更全面、更优质的检测咨询服务镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。检测方法有 1. 金相法 2. 库仑法 3. X-ray 方法。 金相法：采用金相显微镜检测横断面，以测量金属覆盖层、氧化膜层的局部厚度的方法。一般厚度检测需要大于1um，才能保证测量结果在误差范围之内；厚度越大，误差越小。库仑法：适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑法，包括测量多层体系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度，还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度，尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。X-ray 方法：适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括：金（Au），银（Ag），锡（Sn），铜（Cu），镍（Ni），铬（Cr）等金属元素厚度。本测量方法可同时测量三层覆盖层体系，或同时测量三层组分的厚度和成分。检测标准：1. GB/T 6462-2005金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法2. ASTM B487-85(2007) Standard Test Method for Measurement of Metal and Oxide Coating Thickness by Microscopical Examination of a Cross Section3. ASTM B764-04 Standard Test Method for Simultaneous Thickness and Electrode PotentialDetermination of Individual Layers in Multilayer Nickel Deposit (STEP Test)4. GB/T4955-1997金属覆盖层 覆盖层厚度测量5. GB/T16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法6. ASTM B568-98(2004) Standard Test Method for Measurement of Coating Thickness by X-Ray Spectrometry

深圳电镀膜厚测试镀层厚度检测镀层分析安普检测的服务优势在于以更短的检测周期和更低的服务价格，为客户节约成本和周期，帮助客户快速获取准确有效数据，并为客户提供后期技术服务支持。安普检测作为平台化运营品牌，与国内外多家实验室建立了良好的合作关系，旨在为客户、行业提供更优质的检测咨询服务镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。检测方法有 1. 金相法 2. 库仑法 3. X-ray 方法。 金相法：采用金相显微镜检测横断面，以测量金属覆盖层、氧化膜层的局部厚度的方法。一般厚度检测需要大于1um，才能保证测量结果在误差范围之内；厚度越大，误差越小。库仑法：适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑法，包括测量多层体系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度，还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度，尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。X-ray 方法：适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括：金（Au），银（Ag），锡（Sn），铜（Cu），镍（Ni），铬（Cr）等金属元素厚度。本测量方法可同时测量三层覆盖层体系，或同时测量三层组分的厚度和成分。检测标准：1. GB/T 6462-2005金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法2. ASTM B487-85(2007) Standard Test Method for Measurement of Metal and Oxide Coating Thickness by Microscopical Examination of a Cross Section3. ASTM B764-04 Standard Test Method for Simultaneous Thickness and Electrode PotentialDetermination of Individual Layers in Multilayer Nickel Deposit (STEP Test)4. GB/T4955-1997金属覆盖层 覆盖层厚度测量5. GB/T16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法6. ASTM B568-98(2004) Standard Test Method for Measurement of Coating Thickness by X-Ray Spectrometry

镀铝膜厚度测量仪镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。本产品适用于各种镀铝薄膜、镀铝纸测试电阻值、均匀度、厚度值的测试。 技术特征 微电脑控制、LCD液晶显示、PVC操作面板，方便用户快速、直观的查看检测数据和结果 配置微型打印机，快速打印方块电阻值、厚度值、均匀度 数据实时显示电阻值、厚度值 试验结果记忆功能,方便用户查询 温度显示功能 高精度接触式测量 试验步骤1.将金属镀层测量仪与试样放置在GB2918规定的23±2℃.，45%-55%RH环境中放置4h后测量。2.每次测量前用无水乙醇擦拭仪器的测量头。3.将试样平放在测量仪的橡胶板上，使测量头与金属镀层接触良好。4.每次测量前仪器必须校零。5.测量试样的电阻值。测试的实验结果自动显示打印金属镀层的方块电阻、金属镀层厚度和均匀度。 技术参数 厚度测量范围 厚度50-570&angst 方块电阻测量范围 0.5-5Ω 方块电阻测量误差 ±1% 样品尺寸 100×100mm 夹样精度 ±0.1mm 测温范围 0～50℃，精度±1℃ 外形尺寸 370mm×330mm×450mm （长宽高） 重 量 19kg 工作温度 23℃±2℃ 相对湿度 高80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T 15717 产品配置 主机、微型打印机镀铝膜厚度测量仪此为广告

产品详情：夹缝式挤压型涂布机/狭缝式涂布(Slot Die Coating)是一种高精度涂布方式，涂布胶液由存储器通过供给管路压送到喷嘴处，并使胶液由喷嘴处喷出，从而转移到涂布的基材上。涂布基材可以是柔软的卷材，也可以是玻璃、塑料等非连续基材。 狭缝涂布系统主要包括供料单元和涂布单元，涂布单元是通过利用精密机械加工所制作的上下模及安装在上下模间的薄垫片所组成，供料单元由储料、输送的注射泵及过滤装置等组成。系统由涂布模具相对于基片作精确运动，通过控制速率、精密计量和泵送工艺流体，将液体化学材料从上下模之间的缝隙挤出涂布于移动的基板（玻璃、不锈钢和塑料等）上形成薄膜。涂膜厚度可由液体流量与基板移动速度直接计算，其优点为涂膜均匀性高、可适用的涂料粘度范围广、涂布速度快、以及可制作大面积的涂膜。 适用于有机太阳能电池 OPV 和钙钛矿太阳能电池 PVK 等基材的涂布，非连续基材如LCD 玻璃基板光阻涂布，也应用于光学膜（增亮膜、hardcoat、偏光膜、扩散膜等）、OLED 涂布等。 多种规格尺寸可选可定制，多种人性化配置可选：加热台、特殊气体吹淋系统、多尺寸刀头，多规格垫片等，满足客户多种需求，为客户量身定制高精密专业设备。 设备整体采用两级调整确保大面积平台水平度，涂布平台有单独的调平机构，平台是否平整作为工艺门槛的第一步相当于地基。 整个涂布平台底部采用高精度大理石平台，大理石受热胀冷缩影响少，水平稳定性高。 若配有原位加热功能，涂布系统的样品台将采用高精度不锈钢设计。若无原位加热功能，涂布系统的样品台采用高精度大理石平台，同时具备带有样品定位，样品台水平微调功能，保证平整度。 涂布刀头采用 SUS630 马氏体沉淀硬化不锈钢，特殊表面热处理的进口大尺寸刀头（自有专利设计技术），防有机溶剂，防形变。 刀头内置 316 级别不锈钢材质垫片，以此调整涂布上下唇口间缝隙来决定出液量。 Z 轴采用伺服电机配合编码器加光栅尺双闭环，确保刀头的位置精度，和刀头的水平度。 集成化注射泵，可联动控制溶液流速，自动进液，自动除气，自动管路清洗（需要配备清洗液，刀头需拆卸清洗）。 涂布平台运行机构采用直线伺服电机提高平台稳定性，将工艺中影响的因素减到极致。 废液回收系统，可配合管路清洗进行废液回收，方便废液处理。涂布平台带有多区域真空吸附功能，基底定位功能，方便基底定位以及涂布过程的固定。多段式涂布工艺，更好的保证基底首尾膜厚的控制。 软件功能 系统参数可视化，直接显示平台位置，刀头高度，狭缝厚度，涂布速度，注液速度，注液量等参数，配合配方存储功能实现良好的工艺重复性。可配备定制化涂布工艺控制，如加热台温控，特殊气体吹淋开关等功能。 带有配方存储功能，可保存 8 组以上成熟的工艺参数，实现良好工艺重复性。设有自动安全保护功能，利用自身配备的多个传感器的反馈，自动识别危险区间，确保在工作状态下涂布模具安全不撞刀。

卷材涂层是将涂装采莲连续施涂于金属卷材上的涂装工艺，该卷材在涂膜干燥后可以再卷起来。对卷材涂层的厚度控制至关重要，涂层厚薄不均会引起色差，如果涂层太厚，升温太快，固化温度太高，烘烤固化前涂层不均匀，则会形成涂层流挂等，因此需要对卷材喷涂工艺进行控制优化，精准控制涂层厚度。涂魔师在线湿膜漆膜厚度检测仪可以精准测量卷材涂层厚度，其工作原理是光热法ATO，基于光热法和数字信号处理技术DSP，实现在线湿膜漆膜厚度检测，通过计算机控制光源以脉冲方式加热待测涂层，其中内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线，表面温度的衰减时间取决于涂层厚度及其导热性能，最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。 卷材涂层测厚解决方案-涂魔师在线湿膜漆膜厚度检测仪优势分析? 非接触测量? 在线和实时性，连续测量生产线上的移动工件，能精确测量摇摆晃动的工件；? 测量未固化的卷材涂层湿膜厚度，即时得出卷材涂层厚度干膜厚度? 减少物料的消耗，降低成本，节约资源，保护环境? 在生产线前端进行涂层厚度检测和及时调整偏差，可有效降低次品率和返工率 使用涂魔师在线湿膜漆膜厚度检测卷材涂层厚度客户案例 翁开尔涂魔师中国总代理，欢迎致电咨询更多关于涂魔师在线测厚仪产品信息、技术应用和客户案例。

用途药品的剂量准确性直接关系到医疗效果与用药安全。而药品的含量均匀度是剂量准确的重要参考依据。根据2020版中国药典四部通则0941 含量均匀度检查法可知，除另有规定外，片剂、硬胶囊剂、颗粒剂或散剂等，每一个单剂标示量小于25mg或主药含量小于每一个单剂重量25%者，均应检查含量均匀度。这就涉及到大量的药品含量均匀度前处理条件的方法开发工作。传统的前处理方法大多包含药品研磨粉碎，超声，磁力搅拌，振摇等过程，步骤繁琐，耗时，且可能存在不同操作者的结果偏差。制剂高速含量均匀度制备工作站集成了10位(另有1位、2位)可独立供电的高输出搅拌工作站，配合不同体积（50ml,250ml和500ml）的内置锯齿刀片的样品预制管，只需调节系统的转速和时间，使药品含量均匀度前处理方法开发更加简单，快捷。最大限度的提高含量均匀度样品制备速度。特点紧凑型台式设计，包括1位，2位，或10位独立供电的高输出搅拌工作站。可高效制备混合均匀样品，相比于传统方法速度提高90%，广泛应用于固体制剂，植物药和食品。大功率搅拌工作站，最大限度提高了工作效率，加速样品的前处理过程。用户可自定义搅拌时间，搅拌速度500-6000rpm可调。生物样品，大麻和药物样品的超快速制备，包括杂质检测和含量均匀度应用。

夜视系统和安全摄像头的理想解决方案。特点:宽带2856K类黑体光谱非常宽的动态光照范围：接近日光水平到低至信噪比极限的夜视光输出等级在暗室条件下使用的自动化和监控HELIOSPlus-LL, L 系列系统是经典的基于卤素灯的校准光源，其专为低亮度和MIL规格夜视传感器而设计 。双探测器和自动衰减器使您的传感器能够在具有挑战性的非常弱光条件下进行精确测量。系统积分球尺寸（inch）开口尺寸（inch）最大亮度（cd/m2）开口端照度（lux）CCT范围可变衰减器#步数USLR-L20F-NBNL-P2081,6005,0002856K +/-50KAdvanced, VAA8.80E+06USLR-L12F-NBNL-P1244,70014,8002856K +/-50KAdvanced, VAA8.00E+06USLR-L12L-NBNL-P1246,40020,0002856K +/-50KAdvanced, VAA8.00E+06USLR-L08F-NBNL-P826,50020,3002856K +/-50KAdvanced, VAA6.00E+06USLR-L08L-NBNL-P829,50030,0002856K +/-50KAdvanced, VAA6.00E+06备注：根据客户应用和所需的不确定性等级，可能需要自定义校准来表征不同操作条件下的系统。我们的应用工程师很乐意与您讨论这一问题，并帮助自定义完美的系统和校准，以满足您的要求。整个光谱范围内的灵敏度使用 HELIOSPlus L 系列双探测器可准确监控弱光相机的动态范围。 SD-S1 和 SD-L1 硅探测器是大有效面积探测器，在很宽的温度和光照水平范围内具有非常好的稳定输出。 L1 提供极低的光照水平能力。自动化测试程序使用衰减器、探测器和光谱仪，通过响应式 Hunt & Seek 反馈回路自动化研发测试程序，或在HELIOSense GUI内外实现简单程序的脚本功能。HELIOSense 软件是HELIOSPlus 组件和系统的主要界面。 它是一种灵活的体系结构，任何内置在Labsphere API (LSAPI)中的硬件都可以在HELIOSPlus系统中识别和使用。更多信息规格参数HELIOS Plus-LL LUSLR-L20F-NBNL-P输出端开口尺寸8英寸（0.2米）积分球内部直径20英寸（0.5米）预期亮度1600cd/㎡动态范围/Bits/dB4.00E+09/31/19角度均匀 FOV（全角）+/-2.0% - 35°积分球内部涂层SpectraflectUSLR-L12F-NBNL-P输出端开口尺寸4英寸（0.1米）积分球内部直径12英寸（0.3米）预期亮度4700cd/㎡动态范围/Bits/dB1.00E+10/32/199角度均匀 FOV（全角）+/-2.0% - 35°积分球内部涂层SpectraflectUSLR-L12L-NBNL-P输出端开口尺寸4英寸（0.1米）积分球内部直径11.5英寸（0.29米）预期亮度6400cd/㎡动态范围/Bits/dB1.00E+10/32/199角度均匀 FOV（全角）+/-2.0% - 35°积分球内部涂层SpectralonUSLR-L08F-NBNL-P输出端开口尺寸2英寸（0.05米）积分球内部直径8英寸（0.2米）预期亮度6500cd/㎡动态范围/Bits/dB6.25E+09/31/196角度均匀 FOV（全角）+/-2.0% - 35°积分球内部涂层SpectraflectUSLR-L08L-NBNL-P输出端开口尺寸2英寸（0.05米）积分球内部直径7.5英寸（0.19米）预期亮度9,500 cd/㎡动态范围/Bits/dB7.50E+09/32/197角度均匀 FOV（全角）+/-2.0% - 35°积分球内部涂层Spectralon

【ITO薄膜测厚仪 电池薄膜厚度测定仪 接触式薄膜厚度测试仪】ITO薄膜是一种n型半导体材料，具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器（LCD）、等离子显示器（PDP）、电致发光显示器（EL/OLED）、触摸屏（TouchPanel）、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极最常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜，在透明导电薄膜方面得到普遍的应用，具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制，所以对ITO薄膜厚度的高精度测量，是企业必须重视的检测项目之一。Labthink兰光研发生产的CHY-C2A测厚仪，采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备分辨率高达0.1微米，配置的自动进样系统，使用户可自行设置进样步距、测量点数和进样速度，大大提高了薄膜厚度测试效率。 ITO薄膜测厚仪技术特征：负荷量程：0～2 mm（常规）　　　　　0～6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg 以上【ITO薄膜测厚仪 电池薄膜厚度测定仪 接触式薄膜厚度测试仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布，如欲了解更详细信息，欢迎致电0531-85068566垂询！

仪器简介：数字式织物厚度仪YG141D 适用于各种机织物和针织物的厚度测定，亦可用于其它均匀薄料的厚度测定。适用标准： GB3820-1997《机织物和针织物厚度测定法》技术参数：数字式织物厚度仪YG141D⑴ 测定厚度范围： 0.1～30mm ⑵ 小分度值： 0.01mm ⑶ 压脚面积： 100mm2、2000mm2 ⑷ 压脚直径： ￠11.28mm、￠50.46mm ⑸ 压重砝码： 50cN、100cN、200cN ⑹ 压重时间： 10s、30s ⑺ 压脚下降速度： 1.72mm/s ⑻ 电源： AC220V　50HZ 40W ⑼ 外形尺寸： 410× 160× 300mm（L× W× H） ⑽ 仪器重量： 约25Kg主要特点：适用标准： GB3820-1997，ISO5084,ISO9073,ISO9863，FZ/T01003《纺织品和纺织制品厚度的测定》

适用范围:用于沥青防水卷材及均匀薄材料厚度的厚度测定。符合标准:GB18242-2008 GB/T328.4 GB/T3820、FZ/T01003、ISO5084/9073/9863、ASTM D1777等技术参数:1、测定厚度范围以及分辨率：测厚范围 0-25mm 0-50mm 分辨率 0.01mm 0.001mm0.01mm 0.001mm2、压脚面积：100，2000，2500，10000（mm2）3、 压脚直径：11.28，50.46，56.42，112.84 （mm）4、压重砝码： 50cN （2只） 100cN（2只） 200cN（1只）5、压脚下降速度：1.72（mm/s）6、测试方式：单次、连续测试、点动测试（抬起压盘）7、报警功能：测试结束带报警音乐。8、测量速度：压重时间为设定10s时，约2.1(次/分) 压重时间为设定30s时，约1.2(次/分)9、使用电源：Ac220V±10％ 50Hz10、仪器外型尺寸：600（L）×400（W）×450（H）mm11、仪器重量：约30kg仪器特性:1、采用最xin机型设计，量程最gao可达50mm。2、金属拉丝面板设计，全金属按键，美观大方。

产品特色 要测试您的设备背光灯或其他灯光吗？镜头需要获得分析吗? 想提高镜头闪光均匀度的效果吗? 『Optofidlelity LUT1』闪光均匀度测试仪器是提升光源亮度均匀及光源镜片生产质量保证的最佳选择 现今闪光均匀质量的要求及产业使用多元性需求已成为生产开发主流，在质量控管是需要仰赖精准稳定仪器测试得知，『Optofidlelity LUT1』是专业整合性方法给予平面闪光均匀度测试的仪器. 提供光亮均匀及光源镜片生产质量保证，有助于生产工艺开发及研发设计验证，并创造出竞争的优势 。 ■人性化操作，精准效率高 - 『Optofidlelity LUT1』可于一般光线下作业,无需放置于暗室内,且操作便利无需专人指导,并提供快速,标准,可靠且多次测试结果,其数据可局部或者转换成公司内部控管档案储存；并备有高速以太网络标准,传输速到高达千兆位,并符合网络数据传送法规,可以有效率去收集所有测试数据 - 可搭配TAD(Test Adapter Design)设计-客制化测试接口设计，让测试接口操作简单，并增加重复性提高精准度；设计接口可搭配标准配备中，于密闭空间测量时的光源控制功能。 ■国际标准认证，更有效率研发设计提供市场最佳产品 - 『Optofidlelity LUT1』有透过EMC等国际标准认正规范，可将所得测试结果及全2D图片,在个人化设计数据库分析，并透过标准高速以太网链接,得到多次且可靠数据. - 『Optofidlelity LUT1』不仅可以测试自己设计的产品,并透过仪器优越精准的测试分析，可了解竞争对手产品特性，为设计验正或者相关研发应用最佳工具 - 可搭配DRC(Dark Room Configuration),将标准配备换成暗室设备,无需搭配TAD及可测量 ■客制化测试设计，更符合实际运用 - 测试闪光均匀距离平台可依实际需求设计，更符合实际运用状况，测试更佳精准 ■优势: l 测试自动化: 提升品保控管效率 l 客制化测试: 提升研发设计认证,快速将产品推向市场 l 测试标准化设置: 可精准多次测试得到数据 l 数据自动储存: 测试结果可自动存取 l 高速往路连结: 可于外地进行分析并统计管理产品规格: 传感器分辨率 640*480画素 设备安装需知 直流电压 7-24V 最大电流 500mA 最大闪控电流 1000mA 测试速度 2秒 (标准型) 测试误差 +/- 1% (标准型) 启动控制输入点 内部启动:自动 外部启动:封包网络测试 内部启动: 光脉冲待测物 尺寸(W*H*Dmm) 500*580*800(选用暗室设备) 符合规范 2006/95/EC Low-Voltage Directive (Safety) 2004/108/EC EMC

厚度大小和均匀是软包材料具有特定保护功能的先决条件之一，是关系着后期材料使用中的各种力学强度性能重要影响因素之一，也影响后期可能的印刷工序，当然成本控制也是其中最为关键的一环。比如纸张和塑料薄膜厚度均匀与否会给后期印刷工序造成重要影响。Messmer buchel 49-56型厚度测试仪是市场上同类产品中最为稳定和精确的厚度测试设备之一。可以通过增添砝码改变测试压力以达到符合不同标准的目的。产品优势：• 可移动的彩色触摸屏（TFT）• 测试范围 0.000 – 10.000 mm• 分辨率0.1微米• 可调间距• 英制，公制单位可选• 显示统计报告• 样品感应传感器• 多语言界面• 可定制测试头和测试压力• 可添加砝码改变测试压力• 可配自动进样装置（75mm）• 内置校准程序• RS232, 打印机和 GraphMaster输出端口行业标准：ASTM D374、D1777、D5729、D6988， ISO 534、3034、4593:1993、5084、9073-2、12625-3，APPITA 1301.426，TAPPI T-411， EDANA 30.4，PAPTAC D.4， DIN 53370， BS 2782-6，WSP 120.1、120.6技术参数：型号49-56-00-000X测试单位μm, mm, mil开口间隙1.0 – 11.0 mm测试模式OCO 开 – 关 – 开 ，COC测试底座大小58 mm 直径测试压力定制输出端口9孔 RS232C尺寸265 x 110 x 335 mm量程0 - 10mm精度± 1 μm 或 0,1% 测试值，取大值延时0 – 30 秒下降速度1 – 5.9 mm/s测试头大小定制最大测试次数200 (一个测试系列)电源90-260V AC / 47-63 Hz重量±13 kg

XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位：高精密微型移动滑轨，10-30mm（X-Y）/圈，精度0.005mm微焦X射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件高效率正比接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便：下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）2.涂镀层分析范围：氯（Cl）/锂（Li）- 铀（U）3.厚度检出限：0.005μm4.成分检出限：1ppm5. 测量直径小至0.2mm（测量面积小至0.03mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

应用用于实验室内的成像系统、器件的校正；大口径、小口径航天遥感遥测探测系统均匀性校正；胶片/数码照相机/摄像机均匀性校正；校正CCD, 面阵探测器的均匀性, 光谱相应特性；生物、微光成像及定量测量校准。特点可溯源至NIST 的校准数据，提供各种光度、幅射度的校正数值,辐亮度、辐照度、光谱辐照度、光谱辐亮度、均匀度等；朗伯特性、高均匀度，出口光均匀性98%； 适合遥感仪器、CCD 相机、图象阵列及其他探测器的校准；输出光度级别可连续或步进调节；