化学轮廓描绘

定位目标-黑色轮廓-1x500；货号：ACC-CRE-PTBC合作、共赢！徐琳达：17806282711美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系热线：0532-89070738联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海热线：15002189808上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

三维表面轮廓仪配件是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器，也是一款光学轮廓仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析。三维表面轮廓仪配件根据国际标准计算2D和3D参数，使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析，依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算，从而保证了国际公信力，以标准方案或定制性方案对2D轮廓或三维轮廓表面形貌和表面纹理，微米和纳米形状，圆盘，圆度，球度，台阶高度，距离，面积，角度和体积进行多范围测量，创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术，一套表面轮廓仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。三维轮廓仪配件参数：定位台行程范围：X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动)接触式测量范围： 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围：2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s非接触式测量范围： 范围：300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围：480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围：1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围：3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s表面轮廓仪配件应用：测量轮廓，台阶高度，表面形貌，距离，面积，体积分析形态，粗糙度，波纹度，平整度，颗粒度摩擦学研究，光谱分析磨料磨具，航天，汽车，化妆品，能源，医疗，微机电系统，冶金，造纸和塑料等领域。

东京精密表面粗糙度仪测针：1、标准型测针 DM438012、小孔用测针 DM438093、极小孔用测针DM438114、小孔测量用测针DM438125、齿轮面测量用测针DM438146、深沟，R沟测量用测针DM438157、细长小孔测针DM438218、低倍率长孔测量用测针DM438229、深沟倒角测量用测针DM4382710、超深沟测量用测针DM4382611、红宝石测针 010250512、细长可测量用红宝石测针 0102520东京精密表面轮廓测量仪测针：1、标准型测针DM45501，DM45502，DM455032、锥形测针 DM45504，DM45505，DM455063、棱线测量用测针DM45507，DM45508，DM455094、小孔测量用测针DM45801，DM45802，DM45803，DM45510，DM45511，DM455125、小孔锥形测针DM45084，DM45085，DM45086，DM45513，DM45514，DM455156、直齿测量用测针DM45088，DM45089，DM45516，DM45517，DM455187、斜齿测量用测针DM45090，DM45091，DM45092，DM45519，DM45520，DM455218、高精度红宝石测针DM45522，DM45523，DM45524，DM45525，DM45526，DM455279、深沟测量用测针DM45531，0102804东京精密粗糙度仪、轮廓测量仪、圆度测量仪 测针型号：DM42001、S2800、S1400、S1800、DM42011、S480A、DM42012、S590A、DM42020、DM4380、DM43801、DM43802、DM43809、DM43811、DM43812、DM43813、DM43814、DM43815、DM43821、DM43822、DM43824、DM43825、DM43826、DM43827、DM43900、DM44026、DM45081、DM45082、DM45083、DM45084、DM45085、DM45086、DM45087、DM45088、DM45089、DM45090、DM45091、DM45092、DM45500、DM45501、DM45502、DM45503、DM45504、DM45505、DM45506、DM45507、DM45508、DM45509、DM45510、DM45511、DM45512、DM45513、DM45514、DM45515DM48505 DM48507 DM40508 DM40511 DM40513 DM48515 DM47501 DM47513 DM81900010-2501 010-2502 010-2521日本东京精密ACCRETECH测针 探针，测定子有大量现货，保证日本原装正品！东京精密轮廓仪测针、检出器 调整装置、台架、记录纸、 订货 货期快。东京精密ACCRETECH型号：测定子 检出器 调整装置0194000 E-DH-R639A/E-DH-R617A E-WJ-R01C0194001 E-DH-R617A E-WJ-R104A0194002 E-DH-R149A E-WJ-R411A0194003 E-DH-R80A E-WJ-R19A0194004 E-DH-R327A E-WJ-R20A0194005 E-DH-R354A E-WJ-R10A0194006 E-DH-R348A E-WJ-R378A0194007 E-DH-R329A E-WJ-R34A0194008 E-DH-R317A E-WJ-R77A0194009 E-DH-R636A/E-DH-R603A 0194010 E-DH-R618A 台架EM49030-S361 E-DH-R613A E-DK-R56AEM49030-S381 E-DH-R678A E-VS-S13AE-DH-R665A/E-DH-R669A E-VS-S57B0194200 E-DH-R677A E-VS-S16B0194201 E-DH-R720A E-VS-S21B0194202 E-DH-R690A E-VS-R20B0194203 E-DH-R749A E-VS-R24A0194204 E-DH-R774A E-DK-R16A0194205 E-DH-R770B E-DK-R19A0194206 E-DH-R779A E-DK-R34A0194207 E-DH-R391A E-DK-S24A0194208 E-DH-R614A E-DK-S25A0194209 E-DH-R708A 0194210 E-DH-R653A 0194400 E-DH-R725A E-TF-R25AEM49201-S375 E-DH-R707A L-WF-R08AEM49201-S374 E-DH-R608A L-WF-R07AEM49201-S315 E-DH-R724A L-WF-R11AEM49201-S361 E-DH-R714A L-WF-R03BEM49201-S376 E-DT-R32A/E-DT-R272A L-WF-R27AE-DT-R74A L-WF-R24AEM46000-S300 E-DT-R37A EM46000-S301 E-DT-R76A 记录纸EM46000-S302 E-DT-R10A E-CH-R04AEM46000-S303 E-DT-R87A E-CH-R05AEM46000-S304 E-DT-R173A I-250-125EM46000-S305 E-DT-R168B E-CH-R06AEM46000-S306 0102505 E-CH-S05AEM46000-S307 0102516 E-CH-S03AEM46000-S308 E-DT-R83A KT202-AEM46000-S309 E-DT-R95A CP-192EM46000-S310 E-DT-R120A CP-092E-DT-R106A AFD20P-060ASEM46100-S300 E-DT-R141A AFM20P-060ASEM46100-S301 E-DT-R107A EM46100-S302 E-DT-R44AEM46100-S303 E-DT-R105AEM46100-S304 E-DT-R163AEM46100-S305 E-DT-R140AEM46100-S306 E-DT-R130AEM46100-S307 EM46100-S308 EM46100-S309 EM46100-S310 EM-59103-S001 合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

形创原装进口数据线，质量可靠，数据阐述稳定，不会出现数据传输延迟。17806282711合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

ACC-H3D-PS18 电源适配器 ：电源 - 18 伏 / Power Supply - 18 Volt 17806282711合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

形创3D扫描仪数据线 ，品名 ACC-H3D-CUSB： USB 电缆 3.0，适用于 HandySCAN - 4 米 / USB cable 3.0 for HandySCAN- 4 meters 合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

销售形创扫描仪贴点。适合市面上的大部分扫描仪使用，粘度高，效果好，后期处理方便。无残留胶。合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

中红外光纤特性ZBLAN氟化锆(ZrF4)光纤，透射范围从285 nm到4.5 μm氟化铟(InF3)光纤，透射范围从310 nm到5.5 μm多模光纤和跳线选项：纤芯尺寸： ?100- ?600 μm数值孔径：0.20- 0.26中红外单模光纤和跳线选项：ZrF4：单模工作范围2.3 - 4.1 μmInF3：单模工作范围3.2 - 5.5 μm提供光纤束和反射/散射探测光纤束灵活的生产工艺，用于标准产品和定制产品应用光谱学光纤激光器超连续谱光源环境监测医学诊断化学传感红外成像Thorlabs能够制造多种中红外光纤和光纤跳线；其他纤芯尺寸和配置的光纤还在研发当中。库存以供当天发货的标准产品包括单模和多模跳线，以及用于透射应用的分叉光纤束和用于光谱应用的反射/散射探测光纤束。这些产品中所用光纤的规格包含在下表中。如需中红外裸纤，请联系技术支持。我们的IRphotonics® 中红外光纤和跳线，基于ZBLAN氟化锆(ZrF4)和氟化铟(InF3)玻璃，提供出色的机械灵活性，良好的环境稳定性，分别在285 nm - 4.5 μm或310 nm - 5.5 μm光谱范围上具有较高的透射率。与我们的其余光纤选择相同，氟化物光纤也具有一系列纤芯直径、截止波长和数值孔径，适合于多种应用(请看下表中的光纤规格)。这些光纤用专有技术制造，提供shi界级的纯度、尺寸控制和强度。这种技术使我们能ji佳地控制光纤的光学和机械性质，可以实现许多种配置(更多信息，请看中红外制造标签)。氟化物光纤在中红外波长范围内提供一个平坦的衰减曲线(见曲线标签)，这是因为它们的羟基(OH)含量极低。氟化物玻璃的折射率接近石英的折射率；因此，与硫化物玻璃相比，用氟化物玻璃制成的光纤具有更低的回波损耗和更低的菲涅耳反射。氟化锆(ZrF4)光纤在中红外波段提供比氟化铟(InF3)光纤更平坦的衰减度，而InF3光纤比ZrF4光纤在更长波长下透光。通常使用于光纤跳线的石英光纤在中红外波段不透光。更多关于光纤跳线之间的不同，请看曲线标签。定制您的中红外光纤和跳线库存有多种类型的单模和多模氟化物光纤跳线，我们也提供分叉光纤束和反射/散射探测光纤束。我们正在开发许多其它纤芯和配置的跳线。裸纤手动选择超低损耗中红外光纤，满足严格的衰减要求定制纤芯和包层几何形状提供双聚合物包层功率承受能力加强跳线定制选项：光纤类型、长度、终端和套管OEM跳线镀增透膜的跳线加强型跳线，用于恶劣的环境中红外多模光纤规格Fiber TypeOperatingWavelengthaCoreDiameterAttenuationbNALong-TermBend RadiusShort-TermBend RadiusCladdingDiameterCoatingDiameterOperatingTemperatureZrF4(ZBLAN)285 nm - 4.5 μm100 ± 2 μmc0.20 ± 0.02≥155 mm≥25 mm192 ± 2.5 μm270 ± 15 μm-55 to 90 °C200 ± 10 μmc,d≥80 mm≥40 mm290 ± 10 μm355 ± 15 μm450 ± 15 μmc,e≥125 mm≥30 mm540 ± 15 μm650 ± 25 μm600 ± 20 μmc,e≤0.25 dB/m(from 2.0 - 3.6 μm)≥160 mm≥75 mm690 ± 20 μm770 ± 30 μmInF3310 nm - 5.5 μm100 ± 2 μmc≤0.45 dB/m(from 2.0 - 4.6 μm)0.26 ± 0.02≥155 mm≥15 mm192 ± 2.5 μm287 ± 15 μm-55 to 90 °Ca. 光纤的工作波长范围定义为衰减度小于3 dB/m的区域(每米透过率大于50%)。b. 请看上面的曲线图。c. 库存提供使用这些光纤制造的跳线。d. 库存提供使用这些光纤制造的反射探测光纤束。e. 库存提供使用这些光纤制造的分叉光纤束。中红外单模光纤规格Fiber TypeTransmissionRangeSMOperatingWavelengthCoreDiameteraAttenuationNALong-TermBend RadiusShort-TermBendRadiusbOperatingTemperatureZrF4(ZBLAN)285 nm- 4.5 μm2.3 - 4.1 μm9 ± 0.5 μm(from 2.3 - 3.6 μm)0.19 ± 0.02@ 2 μm≥30 mm≥10 mm-55 to 90 °CInF3310nm - 5.5 μm3.2 - 5.5 μm9 ± 0.5 μm(from 3.2 - 4.6 μm)0.26 ± 0.02@ 2 μm≥30 mm≥10 mm-55 to 90 °Ca. 库存提供使用这些光纤制造的跳线。b. 测量用于?125 μm包层如有裸纤和定制跳线相关的需求，请联系技术支持。多模氟化物光纤跳线该曲线图包含五根独立的?200 μm纤芯的ZrF4光纤的测量衰减度。该数据代表我们的?100 μm, ?200 μm和?450 μm纤芯的光纤。该曲线图含有从五根独立的?600 μm纤芯的ZrF4光纤测量的衰减度。该曲线图包含从五根独立的?100 μm纤芯的InF3光纤测量的衰减度。制造能力制造ZBLAN氟化锆(ZrF4)和氟化铟(InF3)光纤在高达5.5 μm的中红外波段透光且损耗低灵活的生产设备和计划，可生产原型和标准产品Thorlabs的光纤拉丝制造间除了生产石英光纤外，还能生产ZBLAN氟化锆(ZrF4)和氟化铟(InF3)光纤。ZrF4和InF3光纤分别在300 nm - 4.5 μm或300 nm - 5.5 μm光谱范围上透过率较高，且没有材料吸收峰值，具有出色的机械强度和良好的环境稳定性。氟化物光纤是在中红外波段透光的理想选择。中红外波段的低衰减度由极低羟基(OH)含量辅助实现。对比于其它在中红外范围内透光的光纤，氟化物光纤还具有更低折射率和更低的色散。Thorlabs的氟化物光纤非常适合用于包含中红外光谱、光纤传感器、成像和光纤激光的应用。氟化物预成型件的生产和光纤拉丝工艺Thorlabs的氟化物光纤利用能提供shi界级纯度、尺寸控制和强度的技术制造。玻璃成分在手套箱受控环境中混合和熔化，实现高纯度。玻璃熔化后，将它倒入预成型磨具中，并进行冷却。制备之后，将预成型件装入光纤塔顶部的下料单元当中，拉丝成光纤。氟化物玻璃光纤利用与石英光纤相似的预成型技术进行拉丝。该技术已经非常成熟，并且被证实在控制光纤参数方面非常有效，比如光纤直径、同心度和折射率。氟化物玻璃的拉丝温度范围低于石英，显著缩短了冷却时间。因此，我们的氟化物光纤塔比石英光纤塔矮很多。右下图为我们氟化物光纤塔的细节。Thorlabs的中红外光纤研究人员和工程师团队在氟化物玻璃研究和开发、生产和光纤拉丝方面有许多年丰富经验。我们的团队分为两组：一组人员致力于目录产品的生产，第二组人员致力于研发和定制光纤产品的制造。它们的专业知识，加上光纤塔的灵活配置和拉丝时间表，使我们能够生产产品目录中的产品以及定制产品。关于我们定制氟化物光纤能力的详情，请联系技术支持。氟化物光纤表征和测试 Thorlabs拥有一支致力于测试和表征我们光纤产品的团队。我们精确测量每根拉伸光纤的性能，以确保其符合我们的高标准质量。广泛的测试也为我们的光纤拉丝团队提供反馈，从而能够严格控制制造过程中的每一步。客户可以要求对任何Thorlabs生产的光纤进行定制测试，然后随附出货光纤。也可根据要求测试客户提供的第三方光纤样品。可用的测试和服务在右边的列表中提供；请联系技术支持咨询。测试和表征能力光谱衰减测量UV / Visible / NIR / MIR波段SM或MM光纤和块状玻璃SM光纤截止波长测量光纤NA测量光纤玻璃/涂覆层几何图形测量，测量准确度达到亚微米级多模光纤中红外高功率屏蔽光纤拉力测试缺陷/破损分析光纤涂覆层的固化程度测试如需Thorlabs或第三方光纤的测试，请联系技术支持。中红外光纤拉丝塔示意图实验观测Thorlabs实验观测：利用多模光纤修改光束轮廓我们在此给出探索多模光纤输出光束轮廓如何受到光束入射角影响的实验测量结果。有些应用中可能需要其他诸如高帽或甜甜圈等轮廓的光束分布，而不需要一般光学元件提供的固有高斯分布。这里，我们探索了改变聚焦激光束进入多模光纤跳线时的入射角所产生的影响。将光垂直聚焦于光纤面，会产生近高斯输出光束轮廓(图1)，增大入射角则会产生高帽(图2)和甜甜圈(图3)形状的光束轮廓。这些结果展现了利用多模光纤改变光束轮廓的方法。实验中，我们使用一根M38L01纤芯?200μm、数值孔径0.39的阶跃折射率光纤跳线(裸纤型号FT200EMT)作为聚焦光束耦合的待测光纤。将输入光以0°、11°和15°入射到多模光纤的入射面，分别产生初始轮廓、高帽轮廓和甜甜圈轮廓。每次改变角度时，都要优化输入光纤的对准，同时用功率计监测输出功率，确保实现zui大的耦合。然后，在9秒的曝光时间下采集图像，并评估光束轮廓的形状。注意，曝光过程中，会在耦合光学元件之间(待测光纤之前)手动旋转1500 grit的散射片，以减少空间相干，形成干净的输出光束轮廓。假设一种光线追迹模型，存在两种沿着多模光纤传播的常见光线：(a)子午光线，每次反射之后都通过光纤的中心轴，和(b)斜光线，不通过光纤的中心轴。下面的图片展现了实验过程中观察到的三种基本光线传播情况。图4和图6分别绘制出了子午光线和斜光线通过多模光纤的传播，以及在光纤输出端的相关理论光束分布。如图6所示，斜光线沿着光纤以与半径r为圆的内部焦散线相切的螺旋路径传播。图5描绘了子午光线和斜光线的光束传播和光束分布。我们通过改变光耦合到多模光纤的入射角，修改子午光线与斜光线的传播，使输出光束从近高斯分布(主要是子午光线，请看图1)变成高帽分布(子午光线和斜光线混合，请看图2)，再变成甜甜圈分布(主要是斜光线，请看图3)。图4到图6显示的光束轮廓都在离光纤端面5 mm处获得。这些结果体现了利用标准的多模光纤跳线以一种相对低成本的方法将入射高斯轮廓修改成高帽和甜甜圈轮廓，且损耗极微。图 1.入射角为0°时获得的近高斯光束轮廓(垂直于光纤面)图 2.入射角为11°时获得的高帽光束轮廓图 3.入射角为15°时获得的甜甜圈光束轮廓图 4.对应近高斯输出轮廓的子午光线传播图 5.对应甜甜圈轮廓的斜光线传播图 6.对应高帽轮廓的子午光线和斜光线传播

主要功能及特点 PGSTAT 128N型电化学工作站是一款模块式、低噪声的快速电化学综合测试仪，最大电流800mA，响应电压为12V。 对于那些追求小电流、高性能的常规应用，PGSTAT 128N是绝佳的选择。 模块式的结构，也使得PGSTAT 128N型电化学工作站可以配套多种Autolab功能模块，以进行一定的功能扩展。例如，配备BSTR 10A后，可将800mA的最大输出电流扩展为10A。可配套的功能模块 FRA、BA、pX1000、ADC10M、SCAN250、MUX、FI20、ECD、ECN、EQCM、BSTR10A主要技术参数：· 支持的电极体系：2、3、4电极· 扫描电位范围：± 10V· 最大输出电压：± 12V· 最大输出电流：± 800mA （可扩展至± 10A)· 电流范围：1A、100mA、10mA、1mA、100&mu A，10&mu A、1&mu A、100nA、10nA共9档，自动选择电流范围、可扩展至100pA （ECD）· CV扫描速率： 0.1&mu V-250V/s （可扩展至最大250kV/s，SCAN250模块）· 取样频率：50kHz （可扩展至10MHz，ADC10M模块）· 恒电位仪带宽： 500kHz· 控制软件：GPES/FRA或NOVA· 电化学技术：直流技术、交流伏安、交流阻抗 （FRA模块

主要功能及特点 PGSTAT 302N型电化学工作站是继经典的PGSTAT302之后推出的新品，是一款模块化、大电流的电化学综合测试仪。此型号能够配置所有的功能模块和外部设备，满足各种电化学研究的需要。可配套的功能模块FRA、BSTR10A/20A、BA、ECN、pX1000、ADC10M、SCAN250、MUX、FI20、ECD、EQCM、DYNIR、LOAD.INT、LOAD.FRAMOD、VOLT.MULT、HIGH.VOLT.DIV主要技术参数1. 支持的电极体系：2、3、4电极2. 扫描电位范围：± 10V，可扩展至± 30V3. 最大输出电压：± 30V4. 最大输出电流：± 2A （可扩展至10A/20A)5. 电流范围：1A、100mA、10mA、1mA、100&mu A，10&mu A、1&mu A、100nA、10nA共9档，自动选择电流范围、可扩展至100pA （ECD）6. CV扫描速率： 0.1&mu V-250V/s （可扩展至最大250KV/s，SCAN250模块）7. 取样频率：50kHz （可扩展至10MHz，ADC10M模块）8. 恒电位仪带宽： 1MHz9. 控制软件：GPES/FRA或NOVA10.电化学技术：直流技术、交流伏安、交流阻抗 （FRA模块）11. 特别功能：可配置为动态iR补偿应用领域· 电池、燃料电池及太阳能电池· 超级电容器· 腐蚀与防护· 导电聚合物及膜科学· 涂层研究· 介电材料及半导体材料· 电催化· 电沉积等

多模光纤跳线，镀增透膜特性SMA905接头的光纤末端镀有增透膜工作波长范围：250 - 370 nm，400 - 700 nm或650 - 1100 nm在镀有增透膜的范围，Ravg低羟基0.22 NA多模光纤，纤芯直径为?50，?100或?200 μm在不锈钢套管内的2 m长跳线，和SMA905接头Thorlabs的镀增透膜的多模光纤跳线在SMA905接头的光纤末端镀有增透膜。增透膜使其具有更好的透射率，改善回波损耗。这些光纤跳线非常适用于光纤到自由空间应用，比如使用我们FiberPort、固定非球面准直器、反射型准直器、大光束准直器的光谱仪和准直/耦合应用，或任何其它准直/耦合光学元件。由于SMA905接头利用了一个空气间隙，因此这些跳线在光纤到光纤的应用中还能实现更好的透过率，更低回波损耗，非常适合于与我们的ADASMA或ADASMAB2SMA匹配套管一起使用。为了提高耐用性，这些跳线整合了不锈钢FT05SS保护套管。每根跳线包含两个保护帽，用于在不使用时防护接头端免受灰尘和其它有害物质污染。我们还单独出售用于SMA接头的CAPM橡胶光纤帽和CAPMM金属螺纹光纤帽。清洁镀增透膜的接头端且不损坏镀膜的方法有好几种。将压缩空气轻轻喷在接头端是比较理想的做法。其他方法包括使用浸有异丙醇或甲醇的无绒光学擦拭纸或FCC-7020光纤接头清洁器轻轻擦拭。但是请不要使用干的擦拭纸，因为可能会损坏增透膜涂层。我们还提供FC/PC或FC/APC接头的镀增透膜单模光纤跳线。注意：右边的数据为典型值。实际反射率会因镀增透膜过程的不同而稍有变化。镀增透膜的多模光纤跳线的典型反射率值。Coated Patch Cables Selection GuideSingle Mode AR-Coated Patch CablesTEC Single Mode AR-Coated Patch CablesPolarization-Maintaining AR-Coated Patch CablesMultimode AR-Coated Patch CablesHR-Coated Patch CablesBeamsplitter-Coated Patch CablesIn-Stock Multimode Fiber Optic Patch Cable SelectionStep IndexGraded IndexFiber BundlesUncoatedCoatedMid-IROptogeneticsSpecialized ApplicationsSMAFC/PCFC/PC to SMASquare-Core FC/PC and SMAAR-Coated SMAHR-Coated FC/PCBeamsplitter-Coated FC/PCFluoride FC and SMALightweight FC/PCLightweight SMARotary Joint FC/PC and SMAHigh-Power SMAUHV, High-Temp. SMAArmored SMASolarization-Resistant SMAFC/PCFC/PC to LC/PC多模光纤教程在光纤中引导光光纤属于光波导，光波导是一种更为广泛的光学元件，可以利用全内反射(TIR)在固体或液体结构中限制并引导光。光纤通常可以在众多应用中使用；常见的例子包括通信、光谱学、照明和传感器。比较常见的玻璃(石英)纤维使用一种称之为阶跃折射率光纤的结构，如右图所示。这种光纤的纤芯由一种折射率比外面包层高的材料构成。在光纤中以临界角入射时，光会在纤芯/包层界面产生全反射，而不会折射到周围的介质中。为了达到TIR的条件，发射到光纤中入射光的角度必须小于某个角度，即接收角，θacc。根据斯涅耳定律可以计算出这个角：其中，ncore为纤芯的折射率，nclad为光纤包层的折射率，n为外部介质的折射率，θcrit为临界角，θacc为光纤的接收半角。数值孔径(NA)是一个无量纲量，由光纤制造商用来确定光纤的接收角，表示为：对于芯径(多模)较大的阶跃折射率光纤，使用这个等式可以直接计算出NA。NA也可以由实验确定，通过追踪远场光束分布并测量光束中心与光强为zui大光强5%的点之间的角度即可；但是，直接计算NA得出的值更为准确。光纤的全内反射光纤中的模式数量光在光纤中传播的每种可能路径即为光纤的导模。根据纤芯/包层区域的尺寸、折射率和波长，单光纤内可支持从一种到数千种模式。而其中zui常使用两种为单模(支持单导模)和多模(支持多种导模)。在多模光纤中，低阶模倾向于在空间上将光限制在纤芯内；而高阶模倾向于在空间上将光限制在纤芯/包层界面的附近。使用一些简单的计算就可以估算出光纤支持的模(单模或多模)的数量。归一化频率，也就是常说的V值，是一个无量纲的数，与自由空间频率成比例，但被归为光纤的引导属性。V值表示为：其中V为归一化频率(V值)，a为纤芯半径，λ为自由空间波长。多模光纤的V值非常大；例如，芯径为?50 μm、数值孔径为0.39的多模光纤，在波长为1.5 μm时，V值为40.8。对于具有较大V值的多模光纤，可以使用下式近似计算其支持的模式数量：上面例子中，芯径为?50 μm、NA为0.39的多模光纤支持大约832种不同的导模，这些模可以同时穿过光纤。单模光纤V值必须小于截止频率2.405，这表示在这个时候，光只耦合到光纤的基模中。为了满足这个条件，单模光纤的纤芯尺寸和NA要远小于同波长下的多模光纤。例如SMF-28超单模光纤的标称NA为0.14，芯径为?8.2 μm，在波长为1550 nm时，V值为2.404。衰减来源光纤损耗，也称之为衰减，是光纤的特性，可以通过量化来预测光纤装置内的总透射功率损耗。这些损耗来源一般与波长相关，因光纤的使用材料或光纤的弯曲等而有所差异。常见衰减来源的详情如下：吸收标准光纤中的光通过固体材料引导，因此，光在光纤中传播会因吸收而产生损耗。标准光纤使用熔融石英制造，经优化可在波长1300 nm-1550 nm的范围内传播。波长更长(2000nm)时，熔融石英内的多声子相互作用造成大量吸收。使用氟化锆、氟化铟等氟氧物玻璃制造中红外光纤，主要是因为它们处于这些波长范围时损耗较低。氟化锆、氟化铟的多声子边分别为~3.6 μm和~4.6 μm。光纤内的污染物也会造成吸收损耗。其中一种污染物就是困在玻璃纤维中的水分子，可以吸收波长在1300 nm和2.94 μm的光。由于通信信号和某些激光器也是在这个区域里工作，光纤中的任意水分子都会明显地衰减信号。玻璃纤维中离子的浓度通常由制造商控制，以便调节光纤的传播/衰减属性。例如，石英中本来就存在羟基(OH-)，可以吸收近红外到红外光谱的光。因此，羟基浓度较低的光纤更适合在通信波长下传播。而羟基浓度较高的光纤在紫外波长范围时有助于传播，因此，更适合对荧光或UV-VIS光谱学等应用感兴趣的用户。散射对于大多数光纤应用来说，光散射也是损耗的来源，通常在光遇到介质的折射率发生变化时产生。这些变化可以是由杂质、微粒或气泡引起的外在变化；也可以是由玻璃密度的波动、成分或相位态引起的内在变化。散射与光的波长呈负相关关系，因此，在光谱中的紫外或蓝光区域等波长较短时，散射损耗会比较大。使用恰当的光纤清洁、操作和存储存步骤可以尽可能地减少光纤jian端的杂质，避免产生较大的散射损耗。弯曲损耗因光纤的外部和内部几何发生变化而产生的损耗称之为弯曲损耗。通常包含两大类：宏弯损耗和微弯损耗。宏弯损耗造成的衰减微弯损耗造成的衰减宏弯损耗一般与光纤的物理弯曲相关；例如，将其卷成圈。如右图所示，引导的光在空间上分布在光纤的纤芯和包层区域。以某半径弯曲光纤时，在弯曲外半径的光不能在不超过光速时维持相同的空间模分布。相反，由于辐射能量会损耗到周边环境中。弯曲半径较大时，与弯曲相关的损耗会比较小；但弯曲半径小于光纤的推荐弯曲半径时，弯曲损耗会非常大。光纤可以在弯曲半径较小时进行短时间工作；但如果要长期储存，弯曲半径应该大于推荐值。使用恰当的储存条件(温度和弯曲半径)可以降低对光纤造成yong久性损伤的几率；FSR1光纤缠绕盘设计用来zui大程度地减少高弯曲损耗。微弯损耗由光纤的内部几何，尤其是纤芯和包层发生变化而产生。光纤结构中的这些随机变化(即凸起)会破坏全内反射所需的条件，使得传播的光耦合到非传播模中，造成泄露(详情请看右图)。与由弯曲半径控制的宏弯损耗不同，微弯损耗是由制造光纤时在光纤内造成的yong久性缺陷而产生。包层模虽然多模光纤中的大多数光通过纤芯内的TIR引导，但是由于TIR发生在包层与涂覆层/保护层的界面，在纤芯和包层内引导光的高阶模也可能存在。这样就产生了我们所熟知的包层模。这样的例子可在右边的光束分布测量中看到，其中体现了包层模包层中的光强比纤芯中要高。这些模可以不传播(即它们不满足TIR的条件)，也可以在一段很长的光纤中传播。由于包层模一般为高阶模，在光纤弯曲和出现微弯缺陷时，它们就是损耗的来源。通过接头连接两个光纤时包层模会消失，因为它们不能在光纤之间轻松耦合。由于包层模对光束空间轮廓的影响，有些应用(比如发射到自由空间中)中可能不需要包层模。光纤较长时，这些模会自然衰减。对于长度小于10 m的光纤，消除包层模的一种办法就是将光纤缠绕在半径合适的芯轴上，这样能保留需要的传播模式。在FT200EMT多模光纤与M565F1 LED的光束轮廓中，展现了包层而不是纤芯引导的光。入纤方式多模光纤未充满条件对于在NA较大时接收光的多模光纤来说，光耦合到光纤的的条件(光源类型、光束直径、NA)对性能有着极大影响。在耦合界面，光的光束直径和NA小于光纤的芯径和NA时，就出现了未充满的入纤条件。这种情况的常见例子就是将激光光源发射到较大的多模光纤。从下面的图和光束轮廓测量可以看出，未充满时会使光在空间上集中到光纤的中心，优先充满低阶模，而非高阶模。因此，它们对宏弯损耗不太敏感，也没有包层模。这种条件下，所测的插入损耗也会小于典型值，光纤纤芯处有着较高的功率密度。展示未充满条件的图(左边)和使用FT200EMT多模光纤进行的光束轮廓测量(右边)。多模光纤过满条件在耦合界面，光束直径和NA大于光纤的芯径和NA时就出现了过满的情况。实现这种条件的一个方法就是将LED光源的光发射到较小的多模光纤中。过满时会将整个纤芯和部分包层裸露在光中，均匀充满低阶模和高阶模(请看下图)，增加耦合到光纤包层模的可能性。高阶模比例的增加意味着过满光纤对弯曲损耗会更为敏感。在这种条件下，所测的插入损耗会大于典型值，与未充满光纤条件相比，会产生较高的总输出功率。展示过满条件的图(左边)和使用FT200EMT多模光纤进行的光束轮廓测量(右边)。多模光纤未充满或过满条件各有优劣，这取决于特定应用的要求。如需测量多模光纤的基准性能，Thorlabs建议使用光束直径为光纤芯径70-80%的入纤条件。过满条件在短距离时输出功率更大；而长距离(10 - 20 m)时，对衰减较为敏感的高阶模会消失。损伤阀值激光诱导的光纤损伤以下教程详述了无终端(裸露的)、有终端光纤以及其他基于激光光源的光纤元件的损伤机制，包括空气-玻璃界面(自由空间耦合或使用接头时)的损伤机制和光纤玻璃内的损伤机制。诸如裸纤、光纤跳线或熔接耦合器等光纤元件可能受到多种潜在的损伤(比如，接头、光纤端面和装置本身)。光纤适用的zui大功率始终受到这些损伤机制的zui小值的限制。虽然可以使用比例关系和一般规则估算损伤阈值，但是，光纤的jue对损伤阈值在很大程度上取决于应用和特定用户。用户可以以此教程为指南，估算zui大程度降低损伤风险的安全功率水平。如果遵守了所有恰当的制备和适用性指导，用户应该能够在指定的zui大功率水平以下操作光纤元件；如果有元件并未指定zui大功率，用户应该遵守下面描述的"实际安全水平"该，以安全操作相关元件。可能降低功率适用能力并给光纤元件造成损伤的因素包括，但不限于，光纤耦合时未对准、光纤端面受到污染或光纤本身有瑕疵。Quick LinksDamage at the Air / Glass InterfaceIntrinsic Damage ThresholdPreparation and Handling of Optical Fibers空气-玻璃界面的损伤空气/玻璃界面有几种潜在的损伤机制。自由空间耦合或使用光学接头匹配两根光纤时，光会入射到这个界面。如果光的强度很高，就会降低功率的适用性，并给光纤造成yong久性损伤。而对于使用环氧树脂将接头与光纤固定的终端光纤而言，高强度的光产生的热量会使环氧树脂熔化，进而在光路中的光纤表面留下残留物。损伤的光纤端面未损伤的光纤端面Estimated Optical Power Densities on Air / GlassInterfaceaTypeTheoretical DamageThresholdbPractical SafeLevelcCW(Average Power)~1 MW/cm2~250 kW/cm210 ns Pulsed(Peak Power)~5 GW/cm2~1 GW/cm2所有值针对无终端(裸露)的石英光纤，适用于自由空间耦合到洁净的光纤端面。这是可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。用户在高功率下工作前，必须验证系统中光纤元件的性能与可靠性，因其与系统有着紧密的关系。这是在大多数工作条件下，入射到光纤端面且不会损伤光纤的安全功率密度估算值。插芯/接头终端相关的损伤机制有终端接头的光纤要考虑更多的功率适用条件。光纤一般通过环氧树脂粘合到陶瓷或不锈钢插芯中。光通过接头耦合到光纤时，没有进入纤芯并在光纤中传播的光会散射到光纤的外层，再进入插芯中，而环氧树脂用来将光纤固定在插芯中。如果光足够强，就可以熔化环氧树脂，使其气化，并在接头表面留下残渣。这样，光纤端面就出现了局部吸收点，造成耦合效率降低，散射增加，进而出现损伤。与环氧树脂相关的损伤取决于波长，出于以下几个原因。一般而言，短波长的光比长波长的光散射更强。由于短波长单模光纤的MFD较小，且产生更多的散射光，则耦合时的偏移也更大。为了zui大程度地减小熔化环氧树脂的风险，可以在光纤端面附近的光纤与插芯之间构建无环氧树脂的气隙光纤接头。我们的高功率多模光纤跳线就使用了这种设计特点的接头。曲线图展现了带终端的单模石英光纤的大概功率适用水平。每条线展示了考虑具体损伤机制估算的功率水平。zui大功率适用性受到所有相关损伤机制的zui低功率水平限制(由实线表示)。制备和处理光纤通用清洁和操作指南建议将这些通用清洁和操作指南用于所有的光纤产品。而对于具体的产品，用户还是应该根据辅助文献或手册中给出的具体指南操作。只有遵守了所有恰当的清洁和操作步骤，损伤阈值的计算才会适用。安装或集成光纤(有终端的光纤或裸纤)前应该关掉所有光源，以避免聚焦的光束入射在接头或光纤的脆弱部分而造成损伤。光纤适用的功率直接与光纤/接头端面的质量相关。将光纤连接到光学系统前，一定要检查光纤的末端。端面应该是干净的，没有污垢和其它可能导致耦合光散射的污染物。另外，如果是裸纤，使用前应该剪切，用户应该检查光纤末端，确保切面质量良好。如果将光纤熔接到光学系统，用户首先应该在低功率下验证熔接的质量良好，然后在高功率下使用。熔接质量差，会增加光在熔接界面的散射，从而成为光纤损伤的来源。对准系统和优化耦合时，用户应该使用低功率；这样可以zui大程度地减少光纤其他部分(非纤芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包层、涂覆层或接头，有可能产生散射光造成的损伤。实验观测Thorlabs实验观测：利用多模光纤修改光束轮廓我们在此给出探索多模光纤输出光束轮廓如何受到光束入射角影响的实验测量结果。有些应用中可能需要其他诸如高帽或甜甜圈等轮廓的光束分布，而不需要一般光学元件提供的固有高斯分布。这里，我们探索了改变聚焦激光束进入多模光纤跳线时的入射角所产生的影响。将光垂直聚焦于光纤面，会产生近高斯输出光束轮廓(图1)，增大入射角则会产生高帽(图2)和甜甜圈(图3)形状的光束轮廓。这些结果展现了利用多模光纤改变光束轮廓的方法。实验中，我们使用一根M38L01纤芯?200μm、数值孔径0.39的阶跃折射率光纤跳线(裸纤型号FT200EMT)作为聚焦光束耦合的待测光纤。将输入光以0°、11°和15°入射到多模光纤的入射面，分别产生初始轮廓、高帽轮廓和甜甜圈轮廓。每次改变角度时，都要优化输入光纤的对准，同时用功率计监测输出功率，确保实现zui大的耦合。然后，在9秒的曝光时间下采集图像，并评估光束轮廓的形状。注意，曝光过程中，会在耦合光学元件之间(待测光纤之前)手动旋转1500 grit的散射片，以减少空间相干，形成干净的输出光束轮廓。假设一种光线追迹模型，存在两种沿着多模光纤传播的常见光线：(a)子午光线，每次反射之后都通过光纤的中心轴，和(b)斜光线，不通过光纤的中心轴。下面的图片展现了实验过程中观察到的三种基本光线传播情况。图4和图6分别绘制出了子午光线和斜光线通过多模光纤的传播，以及在光纤输出端的相关理论光束分布。如图6所示，斜光线沿着光纤以与半径r为圆的内部焦散线相切的螺旋路径传播。图5描绘了子午光线和斜光线的光束传播和光束分布。我们通过改变光耦合到多模光纤的入射角，修改子午光线与斜光线的传播，使输出光束从近高斯分布(主要是子午光线，请看图1)变成高帽分布(子午光线和斜光线混合，请看图2)，再变成甜甜圈分布(主要是斜光线，请看图3)。图4到图6显示的光束轮廓都在离光纤端面5 mm处获得。这些结果体现了利用标准的多模光纤跳线以一种相对低成本的方法将入射高斯轮廓修改成高帽和甜甜圈轮廓，且损耗极微。图 1.入射角为0°时获得的近高斯光束轮廓(垂直于光纤面)图 2.入射角为11°时获得的高帽光束轮廓图 3.入射角为15°时获得的甜甜圈光束轮廓图 4.对应近高斯输出轮廓的子午光线传播图 5.对应甜甜圈轮廓的斜光线传播图 6.对应高帽轮廓的子午光线和斜光线传播多模光纤跳线，镀增透膜，用于250-370 nm(SMA905 接头)Item #Fiber TypeCoreCladdingOperatingWavelengthRangeaFiberAttenuation(Click for Graph)NAAR CoatingARPlotLengthBend RadiusShort TermbLong TermM100L02S-UVUM22-100?100 ± 3 μm?110 ± 3 μm250 - 370 nm0.22Ravgfrom 250 - 370 nm2 +0.075/-0.0 m23 mm33 mmM200L02S-UVUM22-200?200 ± 4 μm?220 ± 4 μm250 - 370 nm23 mm66 mma. 该跳线的工作波长范围是由裸纤和增透膜的波长范围决定的。b. 受到FT05SS外部套管的zui小弯曲半径所限制。产品型号公英制通用M100L02S-UVCustomer Inspired! 多模光纤跳线，镀增透膜，?100 μm，0.22 NA，抗负感，SMA905-SMA905，250-370 nm，长2米M200L02S-UVCustomer Inspired! 多模光纤跳线，镀增透膜，?200 μm，0.22 NA，抗负感，SMA905-SMA905，250-370 nm，长2米多模光纤跳线，镀增透膜，用于400-700 nm(SMA905接头)Item #Fiber TypeCoreCladdingOperatingWavelengthRangeaFiberAttenuation(Click for Graph)NAAR CoatingARPlotLengthBend RadiusShort TermcLong TermM105L02S-AFG105LCA?105 μm ± 2%?125 ±1 μm400 - 700 nm0.22Ravg from 350 - 700 nm2 +0.075/-0.0 m23 mm30 mmM200L02S-UVUM22-200?200 ± 4 μm?220 ± 4 μm250 - 370 nm23 mm30 mmM200L02S-AFG200LCC?200 ± 8 μm?240 ± 5 μm400 - 700 nm23 mm24 mma. 该跳线的工作波长范围是由裸纤和增透膜的波长范围决定的。b. 该增透膜设计用于350-700 nm，但在紫外波段光纤的衰减更强，限制了该跳线的工作波长范围。c. 受到FT05SS外部套管的最小弯曲半径所限制。产品型号公英制通用M50L02S-ACustomer Inspired! 多模光纤跳线，镀增透膜，?50 μm，0.22NA，SMA-SMA，350-700 nm，长2米M105L02S-ACustomer Inspired! 多模光纤跳线，镀增透膜，?105 μm，0.22NA，SMA-SMA，350-700 nm，长2米M200L02S-ACustomer Inspired! 多模光纤跳线，镀增透膜，?200 μm，0.22NA，SMA-SMA，350-700 nm，长2米多模光纤跳线，镀增透膜，用于650 - 1100 nm(SMA905接头)Item #Fiber TypeCoreCladdingOperatingWavelengthRangeaFiberAttenuation(Click for Graph)NAAR CoatingARPlotLengthBend RadiusShort TermcLong TermM50L02S-BFG050LGA?50 μm ± 2%?125 ±1 μm650 - 1100 nm0.22Ravg from 650 - 1100 nm2 +0.075/-0.0 m23 mm30 mmM105L02S-BFG105LCA?105 μm ± 2%?125 ±1 μm650 - 1100 nm23 mm30 mmM200L02S-BFG200LCC?200 ± 8 μm?240 ± 5 μm650 - 1100 nm23 mm24 mma. 该跳线的工作波长范围是由裸纤和增透膜的波长范围决定的。b. 受到FT05SS外部套管的最小弯曲半径所限制。产品型号公英制通用M50L02S-BCustomer Inspired! 多模光纤跳线，镀增透膜，?50 μm，0.22 NA，SMA-SMA，650-1100 nm，长2米M105L02S-BCustomer Inspired! 多模光纤跳线，镀增透膜，?105 μm，0.22 NA，SMA-SMA，650-1100 nm，长2米M200L02S-BCustomer Inspired! 多模光纤跳线，镀增透膜，?200 μm，0.22 NA，SMA-SMA，650-1100 nm，长2米

SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件Image Metroogy 由Dr.Jan Friis J rgensen于1998年创立。Image Metrology是一所以客户为导向，不断发展的公司。公司位于离丹麦首都哥本哈根不远的城市。Image Metrology的主要产品，SPIP是可视化、修正，分析以及SPM数据报告方面的软件包。此软件包被SPM数据研究分析人员奉为标准。SPIP对于扫描电镜以及透射电镜、共聚焦显微镜、光学轮廓仪以及干涉仪等的图像分析也是很强大的。SPIP软件图像研究机构，在高新科技研发以及高校研究所运用。SPIP是专业的纳米以及微尺度图像处理的高科技软件公司，目前产品被应用于60多个国家的各个主要研究机构。SPIP95文件格式支持各种仪表类型,包括:SPM、AFM、扫描隧道显微镜、SEM、TEM、干涉仪共焦显微镜和光学显微镜,分析器。SPIP是一个模块化软件包，可提供包含14个具有特定功能的模块。SPIP应用，主要应用包括半导体检验、物理、化学、生物学、计量和纳米技术等方面。SPIP 三维图像处理软件：多年来，SPIP扫描探针图像处理软件，已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。SPIP图像处理软件是一个模块化的软件包，提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。是一个资申用户或刚刚学习图像分析的入门新手，使用SPIP图像处理软件，您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。SPIP图像分析软件被用于，包括半导体物理，化学，生物学检验，计量，纳米技术等各种领域。您可从我们客户应用的经历获知更多应用领域。SPIP图形分析软件亦被用于学术研究和论文出版。在SPIP网站您可以看到824篇使用SPIP进行图形分析的论文列表。SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件。包括： 扫描探针显微镜（SPM），原子力显微镜（AFM），扫描隧道显微镜（STM） 扫描电子显微镜（SEM），透射电子显微镜（TEM） 干涉仪 共焦显微镜 三维轮廓仪RoughnessPro——轮廓粗糙度 使用RoughnessPro您可以根据ISO标准来评估个别剖面及剖面集合的轮廓粗糙度。RoughnessPro——三维图像缝合 topoStitch是表面形貌图像缝合的简单及准确的方法。您可以从原子力显微镜（AFM），扫描探针显微镜（SPM），干涉仪（Profilers,），共焦显微镜及其他更多的设备上进行三维图像及表面形貌缝合。

主要功能及特点· 一种模块式、全电脑控制的电化学工作站，具有低电流、低噪声的特点；· 测量或施加± 250mA的最大电流，精度为电流值的0.2%，电流分辨率达30fA；· 最大反应电压为± 100V，扫描电位范围为± 10V，电位分辨率为150 &mu V；· 可以进行iR溶液电阻补偿，补偿范围0 ~ 200 MOhm，分辨率高达0.025%。· 可采取三电极或四电极方式进行测量，以适应如液-液界面方面的研究；· 配置了双通道的数模转换模块，以选择控制恒电位/电流模拟信号的输入；· 取样频率高达50 kHz, 即可以每20&mu s取一个样；具有先进的模块式的设计，可通过增加一个功能模块，将该仪器的取样频率增大到750 kHz，即每1.5&mu s取一个点。· 该仪器的响应时间少于500ns，输入电流偏差少于1pA/25℃；· 可添加交流阻抗模块FRA，测量范围为10&mu Hz ~ 1 MHz，可以一次性进行全范围测量而不需要分段测试。同时，允许对每一个频率设置不同的波幅。另外，可提供单波形或多波形（5或15个波形）的测量模式，以方便用户。· 所附带的通用电化学软件GPES，可提供绝大多数电化学测量方法，例如：· Cyclic Voltammetry 循环伏安法· Normal Pulse Voltammetry 常规脉冲伏安法· Differential Pulse Voltammetry 差分脉冲伏安法· Square Wave Voltammetry 方波法· Chrono-Amperometry/Coulometry/Potentiometry 计时安培/库仑/电位法· Steps and Sweeps阶跃和扫描· Potentiometric Stripping Analysis 电位溶出分析· AC Voltammetry 交流伏安法· Pulsed Amperometric Detection 脉冲安培检测· Linear Sweep Voltammetry 线性扫描伏安· And many more..... 其他&hellip &hellip · 所附带的交流阻抗FRA软件，包括了测量和数据处理软件，可进行测量及数据曲线的模拟与拟合。该软件提供多个阻抗测量方法，例如：常规的单电位下的频率扫描阻抗测量方法；电位频率扫描；恒电位下的时间频率扫描；单电流下的频率扫描；电流频率扫描；时间频率扫描。· 对于一些已接地的测试对象，该仪器提供了一种浮地式的型号，仪器自身并不需要连接地线，而是通过测试对象连接大地。主要技术参数浮地式电化学工作站· 最大输出电流：± 250mA· 最大输出电压：± 100V· 电位范围：± 10V· 施加电位精度：设定± 2mV之± 0.2%· 施加电位分辨率：150&mu V· 测量电位分辨率：300,150或30&mu V· 电流范围：10nA&ndash 100mA，八挡· 施加和测量电流精度：电流之± 0.2%和电流范围之± 0.2%· 施加电流分辨率：电流范围之0.03%· 测量电流分辨率：电流范围之0.0003% &mdash 在10nA电流时：30fA· 恒电位仪频宽： 500kHz· 恒电位仪上升/下降时间(1V阶跃，10-90%)：· 电量计输入阻抗：100GOhm//· 输入偏差电流/25° C：应用领域· 有机电化学；· 电沉积；· 油腐蚀；可连接其他的功能附件订货信息· AUT100.v ：PGSTAT100电化学工作站；· AUT100.Float .v ：PGSTAT100浮地式电化学工作站；· AUT100.FRA.v ：PGSTAT00/FRA带阻抗分析模块的电化学工作站

中红外多模氟化物光纤跳线特性ZBLAN氟化锆 (ZrF4)波长范围285 nm - 4.5 μm，或者氟化铟(InF3)波长范围310 nm - 5.5 μmZrF4纤芯尺寸：?100 μm、?200 μm、?450 μm或?600 μmInF3纤芯尺寸：?100 μm兼容可见光波长对准光束用于光谱技术，红外对抗(IRCM)系统和医学领域菲涅尔反射损耗低：每面我们的IRPhotonics® 多模氟化物跳线设计用于中红外光谱范围的低损耗传输。它们使用Thorlabs的氟化物光纤制造，ZBLAN氟化锆(ZrF4)跳线的传输范围在285 nm至4.5 μm，而我们的氟化铟(InF3)光纤跳线的传输范围在310 nm - 5.5μm。ZrF4光纤，InF3光纤和低羟基石英光纤的比较曲线请看右边。这些氟化物光纤跳线提供与标准石英光纤跳线相似的机械灵活性，环境稳定性好，并且中红外光谱范围内的衰减曲线平稳(详情参见规格标签)。由于氟化物玻璃的透射范围低至紫外线范围，因此可见光(比如由光纤耦合激光器产生的激光)可沿着相同光纤作为对准辅助进行传播。光纤跳线的数值孔径(NA)在其特定衰减度范围上保持相对恒定(参见曲线标签)。每条跳线两端的终端接头为分别与SMA905或FC/PC连接组件兼容的金属插芯连接器(详情参见FC连接器标签)。每条跳线包括两个保护帽，它们用来保护插芯端以屏蔽灰尘和其它危害。可单独购买用于兼容FC/PC的跳线的CAPF(塑胶质)和CAPFM(金属)替换保护帽，或用于SMA905终端跳线的CAPM(橡胶)和CAPMM(金属)替换保护帽。对于光谱学和照明应用，Thorlabs还制造两根光纤的氟化物分叉光纤束。MIR Fluoride Fiber Selection GuideSingle Mode Patch CablesMultimode Patch CablesBifurcated Fiber BundlesReflection/Backscatter Probe BundlesMIR Fiber Overview氟化锆(ZrF4)光纤比氟化铟(InF3)光纤在中红外范围内提供更平坦的衰减，而InF3光纤比ZrF4光纤在更长波长下具有透明性。跳线中通常使用的石英光纤在中红外范围内不具透明性。使用建议由于氟化物玻璃比标准石英玻璃更软，因此不能用Kimwipes擦拭纸来清洁这些跳线。其它氟化物光纤特定的使用建议请参见操作标签。与无端光纤相比，这些跳线所能承受的zui大功率是受连接器限制的。取决于应用，我们推荐以约300mW的zui大CW功率使用这些跳线。中红外应用这些跳线由于它们的宽传输范围和平稳衰减度，非常适用于我们的量子级联激光器(QCL)和带间级联激光器(ICL)，它们在中红外范围内提供宽带或单波长发射。它们也与我们的SLS202L稳定型光源良好匹配，这种稳定光源提供了从可见光到中红外范围的黑体辐射光谱。我们推荐将?100 μm纤芯的跳线与我们的光谱分析仪配合使用。其它应用实例如下图所示。氟化物跳线可通过光纤转接件连接到我们的中红外光电探测器。InF3跳线的310 nm - 5.5 μm波长范围使其非常适用于利用我们稳定光源的照明应用。在这种装置中，使用一根ZrF4跳线将中红外光传播到气相光谱应用的样本腔中。(图中装置的更多信息请看这里。)In-Stock Multimode Fiber Optic Patch Cable SelectionStep IndexGraded IndexFiber BundlesUncoatedCoatedMid-IROptogeneticsSpecialized ApplicationsSMAFC/PCFC/PC to SMASquare-Core FC/PC and SMAAR-Coated SMAHR-Coated FC/PCBeamsplitter-Coated FC/PCFluoride FC and SMALightweight FC/PCLightweight SMARotary Joint FC/PC and SMAHigh-Power SMAUHV, High-Temp. SMAArmored SMASolarization-Resistant SMAFC/PCFC/PC to LC/PC裸纤规格CableItem #PrefixFiberOperatingWavelength RangeaAttenuation(Click for Plot)CoreDiameterCladdingDiameterCore/CladConcentricityNAbBend Radius(Short Term/Long Term)MF11MF12InF3Multimode310 nm - 5.5 μm≤0.45 dB/m(for 2.0 - 4.6 μm)100 ± 2.0 μm192 ± 2.5 μm≤2.0 μm0.26 ± 0.02 @ 2.0 μm≥15 mm / ≥147 mmMZ11MZ12ZrF4Multimode285 nm - 4.5 μm≤0.2 dB/m(for 2.0 - 3.6 μm)100 ± 2.0 μm192 ± 2.5 μm≤2.0 μm0.20 ± 0.02 @ 2.0 μm≥25 mm / ≥147 mmMZ21MZ22200 ± 10 μm290 ± 10 μm≤3.0 μm≥40mm / ≥80 mmMZ41MZ42450 ± 15 μm540 ± 15 μm≤5.0 μm≥50 mm / ≥125 mmMZ61MZ62≤0.25 dB/m(for 2.0 - 3.6 μm)600 ± 20 μm690 ± 20 μm≤10.0 μm≥75 mm / ≥160 mm光纤的工作波长范围定义为衰减度每米的透过率50%)的区域。曲线标签中含有其它波长的NA数值孔径曲线。短期弯曲半径受到不锈钢护套的限制。曲线该标签包含了我们的氟化物光纤的衰减，数值孔径和折射率随波长变化的曲线图。下图中阴影部分表示可以保证光纤满足衰减规格的特定波长范围。我们的纤芯直径为100 μm，200 μm，和450 μm的ZrF4线缆在 2.0到3.6 μm范围上衰减度≤0.2 dB/m (每米透过率≥95%)，我们的纤芯直径为600 μm 的ZrF4线缆在2.0到3.6 μm范围上衰减度≤0.25 dB/m(每米透过率≥94%)。相比之下，我们的InF3光纤跳线在2.0到4.6 μm范围上衰减度≤0.45 dB/m (每米透过率≥90%)。在质量控制时，范围外的性能并没有经过严格检测，而且可能因工序不同而变化。为了减小因工序引起的变化，特别是在波长范围的两端，我们在不停地完善新材料的工艺。如果您担心收到的光纤不满足您的需求，关于目前提供的产品详情请联系技术支持。衰减该曲线图是从五根独立抽取的纤芯直径200 μm的ZrF4光纤测量的衰减曲线。这些数据代表我们的纤芯直径为100 μm，200 μm和450 μm光纤的数据。该图中的曲线是从五根单独抽取的纤芯直径600 μm的ZrF4光纤测量的衰减曲线。该曲线图是从五根单独抽取的纤芯直径100 μm的InF3光纤测量的衰减曲线。数值孔径这些数值孔径值是利用下图所示的折射率计算得到的。这些数值孔径值是利用下图所示的折射率计算得到的。折射率这些折射率是用Sellmeier方程计算得到的。下表列出拟合中用到的Sellmeier系数。这些折射率是将Sellmeier方程拟合测量数据得到的。下表列出拟合中用到的Sellmeier系数SellmeierEquationSellmeier CoefficientsCoefficientCoreCladdingu00.55220.705674u10.74830.515736u21.0072.204519u30.0430.087503u40.1130.087505u516.18623.80739A0.96211SellmeierEquationSellmeier CoefficientsCoefficientCoreCladdingu00.476273380.68462594u10.769368930.4952746u25.018354971.4841315u30.01795490.0680833u40.118650930.11054856u543.6454575924.4391868A11操作该标签描述了在日常使用中标准石英光纤跳线和氟化物光纤跳线之间的相似和不同之处。环境因素一般的实验室温度和湿度不会影响光纤的完整性。但是应该避免拉伸、直接接触液态水或水蒸气。FC接头使用标准石英光纤跳线是一般选择FC/PC或FC/APC接头，因为PC和APC抛光面为圆顶头可以使匹配的两根跳线的纤芯直接接触，从而将跳线界面之间接触损耗降到zui小。因为氟化物玻璃壁石英玻璃更软，抛光后会是平头光纤端。根据跳线的不同，光纤端可以根据插芯稍微地凹下去一点。因此，氟化物光纤跳线既不是FC/PC接头（PC指直接接触）也不是FC/APC（APC指有角度的直接接触）接头。平光纤端不会影响输出是耦合到自由空间的应用，但是在连接FC接头的光纤跳线时，比如通过匹配套管或连接头连接时会有传输损耗，因为光纤纤芯没有直接接触。由于FC终端的跳线之间的间隔一般要小于SMA905终端（使用空气间隔插芯）的跳线间的典型间隔，这些损耗经常可以被忽略。下图是一根氟化物成品跳线末端的二维图和三维图。标准FC/PC接头为圆顶型末端面FC终端的氟化物跳线有平坦的抛光末端面该图为一根平面抛光FC氟化物跳线的?100微米纤芯末端的二维表面轮廓图。X和Y轴的单位是 微米。虚线圆和直线用于眼睛观察指导。金属插芯和跳线内侧的界面根据蓝色虚线圆中的绿色圆查看。该图为一根平面抛光FC氟化物跳线的?100微米纤芯末端的三维分布图。虚线圆用于眼睛观察指导。金属插芯和跳线内侧的界面根据黑色圆和蓝色圆之间的的圆形凹陷来查看。入纤方式多模光纤未充满条件对于在NA较大时接收光的多模光纤来说，光耦合到光纤的的条件(光源类型、光束直径、NA)对性能有着极大影响。在耦合界面，光的光束直径和NA小于光纤的芯径和NA时，就出现了未充满的入纤条件。这种情况的常见例子就是将激光光源发射到较大的多模光纤。从下面的图和光束轮廓测量可以看出，未充满时会使光在空间上集中到光纤的中心，优先充满低阶模，而非高阶模。因此，它们对宏弯损耗不太敏感，也没有包层模。这种条件下，所测的插入损耗也会小于典型值，光纤纤芯处有着较高的功率密度。展示未充满条件的图(左边)和使用FT200EMT多模光纤进行的光束轮廓测量(右边)。多模光纤过满条件在耦合界面，光束直径和NA大于光纤的芯径和NA时就出现了过满的情况。实现这种条件的一个方法就是将LED光源的光发射到较小的多模光纤中。过满时会将整个纤芯和部分包层裸露在光中，均匀充满低阶模和高阶模(请看下图)，增加耦合到光纤包层模的可能性。高阶模比例的增加意味着过满光纤对弯曲损耗会更为敏感。在这种条件下，所测的插入损耗会大于典型值，与未充满光纤条件相比，会产生较高的总输出功率。展示过满条件的图(左边)和使用FT200EMT多模光纤进行的光束轮廓测量(右边)。多模光纤未充满或过满条件各有优劣，这取决于特定应用的要求。如需测量多模光纤的基准性能，Thorlabs建议使用光束直径为光纤芯径70-80%的入纤条件。过满条件在短距离时输出功率更大；而长距离(10 - 20 m)时，对衰减较为敏感的高阶模会消失。实验观测Thorlabs实验观测：利用多模光纤修改光束轮廓我们在此给出探索多模光纤输出光束轮廓如何受到光束入射角影响的实验测量结果。有些应用中可能需要其他诸如高帽或甜甜圈等轮廓的光束分布，而不需要一般光学元件提供的固有高斯分布。这里，我们探索了改变聚焦激光束进入多模光纤跳线时的入射角所产生的影响。将光垂直聚焦于光纤面，会产生近高斯输出光束轮廓(图1)，增大入射角则会产生高帽(图2)和甜甜圈(图3)形状的光束轮廓。这些结果展现了利用多模光纤改变光束轮廓的方法。实验中，我们使用一根M38L01纤芯?200μm、数值孔径0.39的阶跃折射率光纤跳线(裸纤型号FT200EMT)作为聚焦光束耦合的待测光纤。将输入光以0°、11°和15°入射到多模光纤的入射面，分别产生初始轮廓、高帽轮廓和甜甜圈轮廓。每次改变角度时，都要优化输入光纤的对准，同时用功率计监测输出功率，确保实现zui大的耦合。然后，在9秒的曝光时间下采集图像，并评估光束轮廓的形状。注意，曝光过程中，会在耦合光学元件之间(待测光纤之前)手动旋转1500 grit的散射片，以减少空间相干，形成干净的输出光束轮廓。假设一种光线追迹模型，存在两种沿着多模光纤传播的常见光线：(a)子午光线，每次反射之后都通过光纤的中心轴，和(b)斜光线，不通过光纤的中心轴。下面的图片展现了实验过程中观察到的三种基本光线传播情况。图4和图6分别绘制出了子午光线和斜光线通过多模光纤的传播，以及在光纤输出端的相关理论光束分布。如图6所示，斜光线沿着光纤以与半径r为圆的内部焦散线相切的螺旋路径传播。图5描绘了子午光线和斜光线的光束传播和光束分布。我们通过改变光耦合到多模光纤的入射角，修改子午光线与斜光线的传播，使输出光束从近高斯分布(主要是子午光线，请看图1)变成高帽分布(子午光线和斜光线混合，请看图2)，再变成甜甜圈分布(主要是斜光线，请看图3)。图4到图6显示的光束轮廓都在离光纤端面5 mm处获得。这些结果体现了利用标准的多模光纤跳线以一种相对低成本的方法将入射高斯轮廓修改成高帽和甜甜圈轮廓，且损耗极微。有关使用的实验装置和总结结果详情，请点击这里。图 1.入射角为0°时获得的近高斯光束轮廓(垂直于光纤面)图 2.入射角为11°时获得的高帽光束轮廓图 3.入射角为15°时获得的甜甜圈光束轮廓图 4.对应近高斯输出轮廓的子午光线传播图 5.对应甜甜圈轮廓的斜光线传播图 6.对应高帽轮廓的子午光线和斜光线传播氟化铟中红外光纤跳线，纤芯?100 μm，数值孔径0.26? SMA905，或带金属插芯、兼容FC/PC的接头? 库存提供1米和2米的长度? 长度可定制，具体联系技术支持? 硬质，?3.0 mm塑料护套? 包含两个保护帽SMA905终端的跳线：不锈钢端帽兼容FC/PC接头的跳线：塑料端帽每根氟化物跳线都标有产品型号，关键参数以及批次。Item #PrefixFiberOperatingRangeaAttenuation(Click for Plot)CoreDiameterCladdingDiameterNAbBend Radius(Short Term/Long Term)ConnectorsJacketOperatingTemperatureMF11InF3Multimode310 nm - 5.5 μm≤0.45 dB/m(for 2.0 - 4.6 μm)100 ± 2.0 μm192 ± 2.5 μm0.26 ± 0.02@ 2.0 μm≥15 mm / ≥147 mmSMA905Blue PVDF(?3 mm)-55 to 90 °CMF12FC/PC-Compatibleca. 光纤的工作波长范围定义为衰减度小于3 dB/m(每米的透过率大于50%)的区域。b. 曲线标签中有其它波长下的NA数值孔径曲线图。c. 更多信息请看FC接头标签。产品型号公英制通用MF11L1氟化铟光纤跳线，纤芯?100 μm，数值孔径0.26，SMA905，1 mMF11L2氟化铟光纤跳线，纤芯?100 μm，数值孔径0.26，SMA905，2 mMF12L1氟化铟光纤跳线，纤芯?100 μm，数值孔径0.26，FC/PC，1 mMF12L2氟化铟光纤跳线，纤芯?100 μm，数值孔径0.26，FC/PC，2 m氟化锆中红外光纤跳线，纤芯?100 μm，数值孔径0.20? SMA905，或带金属插芯、兼容FC/PC的接头? 库存提供1米和2米的长度? 长度可定制，具体请联系技术支持? 硬质，?3.0 mm塑料护套? 含有两个保护端帽SMA905终端跳线：不锈钢端帽兼容FC/PC接头的线缆：塑料端帽每根氟化物跳线都标有产品型号，关键参数以及批次Item #PrefixFiberOperatingRangeaAttenuation(Click for Plot)CoreDiameterCladdingDiameterNAbBend Radius(Short Term/Long Term)ConnectorsJacketOperatingTemperatureMZ11ZrF4Multimode285 nm - 4.5 μm≤0.2 dB/m(for 2.0 - 3.6 μm)100 ± 2.0 μm192 ± 2.5 μm0.20 ± 0.02@ 2.0 μm≥25 mm / ≥147 mmSMA905Blue PVDF(?3 mm)-55 to 90 °CMZ12FC/PC-Compatiblec光纤的工作波长范围定义为衰减度小于3 dB/m(每米的透过率大于50%)的区域。曲线标签中有其它波长下的NA数值孔径曲线。更多信息请看FC接头标签。产品型号公英制通用MZ11L1Customer Inspired! 氟化锆光纤跳线，纤芯?100 μm，数值孔径0.20，SMA905，1 mMZ11L2Customer Inspired! ?100微米纤芯，0.20NA，SMA转SMA氟化锆跳线，2米长MZ12L1Customer Inspired! ?100微米纤芯，0.20NA，FC转FC氟化锆跳线，1米长MZ12L2Customer Inspired! ?100微米纤芯，0.20NA，FC转FC氟化锆跳线，2米长氟化锆中红外光纤跳线，纤芯?200 μm，数值孔径0.20SMA905，或带金属插芯、兼容FC/PC的接头库存提供1米和2米的长度长度可定制，具体请联系技术支持硬质，?3.0 mm塑料护套含有两个保护端帽SMA905终端跳线：不锈钢端帽兼容FC/PC接头的跳线：塑料端帽每根氟化物跳线都标有项目号，关键参数以及批号Item #PrefixFiberOperatingRangeaAttenuation(Click for Plot)CoreDiameterCladdingDiameterNAaBend Radius(Short Term/Long Term)ConnectorsJacketOperatingTemperatureMZ21ZrF4Multimode285 nm - 4.5 μm≤0.2 dB/m(for 2.0 - 3.6 μm)200 ± 10 μm290 ± 10 μm0.20 ± 0.02@ 2.0 μm≥40 mm / ≥80 mmSMA905Blue PVDF(?3 mm)-55 to 90 °CMZ22FC/PC-Compatibleca. 光纤的工作波长范围定义为衰减度小于3 dB/m（每米的透过率大于50%）的区域。b. 曲线标签中有其它波长下的NA数值孔径曲线。c. 更多信息请看FC接头标签。产品型号公英制通用MZ21L1氟化锆光纤跳线，纤芯?200 μm，数值孔径0.20，SMA905，1 mMZ21L2氟化锆光纤跳线，纤芯?200 μm，数值孔径0.20，SMA905，2 mMZ22L1氟化锆光纤跳线，纤芯?200 μm，数值孔径0.20，FC/PC，1 mMZ22L2氟化锆光纤跳线，纤芯?200 μm，数值孔径0.20，FC/PC，2 m氟化锆中红外光纤跳线，纤芯?450 μm，数值孔径0.20? SMA905或兼容FC/PC的金属套接头? 库存长度为1 m? 若需定制长度，请联系技术支持? ?3.8 mm不锈钢套，最小弯曲半径为50 mm? 包括两个保护端帽SMA905端口的跳线: 不锈钢端帽兼容FC/PC接头的跳线:塑料端帽光纤端帽的俯视图光纤端帽的仰视图每根氟化物跳线都刻有产品型号，关键规格。产品批号在单独的白色套管上给出。Item #PrefixFiberOperatingRangeaAttenuation(Click for Plot)CoreDiameterCladdingDiameterNAbBend Radius(Short Term/Long Term)ConnectorsJacketOperatingTemperatureMZ41L1ZrF4Multimode285 nm - 4.5 μm≤ 0.2 dB/m(for 2.0 - 3.6 μm)450 ± 15 μm540 ± 15 μm0.20 ± 0.02@ 2.0 μm≥50 mm / ≥125 mmSMA905Stainless Steel(?3.8 mm)-55 to 90 °CMZ42L1FC/PC-Compatiblec光纤的工作波长范围定义为衰减度小于3 dB/m（每米的透过率大于50%）的区域。曲线标签中包含其它波长下的数值孔径曲线。由不锈钢套限制。请参见FC接头标签查看更多详情。产品型号公英制通用MZ41L1氟化锆光纤跳线，纤芯?450 μm，数值孔径0.20，SMA905，1 mMZ42L1氟化锆光纤跳线，纤芯?450 μm，数值孔径0.20，FC/PC，1 m氟化锆中红外光纤跳线，纤芯?600 μm，数值孔径0.20? SMA905，或带金属插芯、兼容FC/PC的接头? 库存提供1米长度? 可定制长度，具体联系技术支持? ?8.0 mm的不锈钢护套，zui小弯曲半径是140 mm? 附带两个保护帽SMA905端头的跳线: 不锈钢保护帽FC/PC端头的跳线: 塑料保护帽光纤端的俯视图光纤端的仰视图每个氟化物光纤跳线上刻有产品型号和关键规格。产品批号在单独的白色套管上给出(未图示)。Item #PrefixFiberOperatingRangeaAttenuation(Click for Plot)CoreDiameterCladdingDiameterNAbBend Radius(Short Term/Long Term)ConnectorsJacketOperatingTemperatureMZ61L1ZrF4Multimode285 nm - 4.5 μm≤0.25 dB/m(for 2.0 - 3.6 μm)600 ± 20 μm690 ± 20 μm0.20 ± 0.02@ 2.0 μm≥75 mm / ≥160 mmSMA905Stainless Steel(?3.8 mm)-55 to 90 °CMZ62L1FC/PC-Compatiblec光纤的工作波长范围定义为衰减度小于3 dB/m（每米的透过率大于50%）的区域。曲线标签含有其它波长下的NA的曲线图。更多信息请看FC接头标签。产品型号公英制通用MZ61L1氟化锆光纤跳线，纤芯?600 μm，数值孔径0.20，SMA905，1 mMZ62L1氟化锆光纤跳线，纤芯?600 μm，数值孔径0.20，FC/PC，1 m

应用:M - SEM, SE和BSE模式、 SEM/FIB、TEM (特制) 扫描显微镜与表面轮廓仪- STM、AFM，图案高度为100nm光镜 – 透射、反射、明/暗场、相差、共焦 化学成像- EDS、WDS、XRF、XPS、Auger等，图案为100nm CrO2 和 Cr在石英上形成。粒径计算- 含用于校准的系列圆、方形和矩形图案 图案设计MRS-3由高精密度直写电子束制造设备所制，石英上的图案为抗反射的Cr。二次电子像和背散射电子像反差好。图案表面镀有特殊导电材料，使该标样适

应用:M - SEM, SE和BSE模式、 SEM/FIB、TEM (特制) 扫描显微镜与表面轮廓仪- STM、AFM，图案高度为100nm光镜 – 透射、反射、明/暗场、相差、共焦 化学成像- EDS、WDS、XRF、XPS、Auger等，图案为100nm CrO2 和 Cr在石英上形成。粒径计算- 含用于校准的系列圆、方形和矩形图案 图案设计MRS-3由高精密度直写电子束制造设备所制，石英上的图案为抗反射的Cr。二次电子像和背散射电子像反差好。图案表面镀有特殊导电材料，使该标样适

放大倍数校准标样MRS-4:应用 EM - SEM, SE和BSE模式、 SEM/FIB、TEM (特制) 扫描显微镜与表面轮廓仪- STM、AFM，图案高度为100nm? 光镜 – 透射、反射、明/暗场、相差、共焦 化学成像- EDS、WDS、XRF、XPS、Auger等，图案为100nm CrO2 和 Cr在石英上形成。 粒径计算- 含用于校准的系列圆、方形和矩形图案 图案设计MRS-3由高精密度直写电子束制造设备所制，石英上的图案为抗反射的Cr。二次电子像和背散射电子像反差好。图案表面镀有特殊导电材料，使该标样适

应用? EM - SEM, SE和BSE模式、 SEM/FIB、TEM (特制) 扫描显微镜与表面轮廓仪- STM、AFM，图案高度为100nm光镜 – 透射、反射、明/暗场、相差、共焦化学成像- EDS、WDS、XRF、XPS、Auger等，图案为100nm CrO2 和 Cr在石英上形成。粒径计算- 含用于校准的系列圆、方形和矩形图案 图案设计MRS-3由高精密度直写电子束制造设备所制，石英上的图案为抗反射的Cr。二次电子像和背散射电子像反差好。图案表面镀有特殊导电材料，使该标样适

放大倍数校准标样MRS-4:应用 EM - SEM, SE和BSE模式、 SEM/FIB、TEM (特制) 扫描显微镜与表面轮廓仪- STM、AFM，图案高度为100nm? 光镜 – 透射、反射、明/暗场、相差、共焦 化学成像- EDS、WDS、XRF、XPS、Auger等，图案为100nm CrO2 和 Cr在石英上形成。 粒径计算- 含用于校准的系列圆、方形和矩形图案 图案设计MRS-3由高精密度直写电子束制造设备所制，石英上的图案为抗反射的Cr。二次电子像和背散射电子像反差好。图案表面镀有特殊导电材料，使该标样适

应用? EM - SEM, SE和BSE模式、 SEM/FIB、TEM (特制) 扫描显微镜与表面轮廓仪- STM、AFM，图案高度为100nm光镜 – 透射、反射、明/暗场、相差、共焦化学成像- EDS、WDS、XRF、XPS、Auger等，图案为100nm CrO2 和 Cr在石英上形成。粒径计算- 含用于校准的系列圆、方形和矩形图案 图案设计MRS-3由高精密度直写电子束制造设备所制，石英上的图案为抗反射的Cr。二次电子像和背散射电子像反差好。图案表面镀有特殊导电材料，使该标样适

总览DUMA光电激光分析自准直仪利用最新的成像技术为我们提供集聚焦自准直仪和光束轮廓仪于一体的专用仪器。自准直仪将准直仪和光束轮廓仪的功能组合在一个单元中。我们的精密激光器分析自准直仪（LAAC）将自准直仪的功能与激光束轮廓相结合产生入射激光束的精确角度定向及其发散角的测量。为了增加功能性，该系统在滑动尺上内置5xND(ND2, ND64,ND200, ND1000, ND100000)过滤器，显著增加了系统的动态范围。过滤器覆盖VIS范围，用于633nm波长的激光器。我们的精密LAAC具有内置调整功能，例如：快速对准激光，调整云台旋钮以及启用前所未有的增强校准程序。自准直仪应用是测量反射镜相对于自准直仪光轴的角度技术参数产品特点用于检测和测量小角度偏差0.01秒分辨率动态范围大内置激光器用于粗对准功能齐全的软件套件允许您记录和记录您的测量结果通过USB端口连接到计算机精心设计的全合一装置产品应用LAAC的应用主要涉及到小角度信号的检测和测量位移。例如：入射激光束的测量。镜面角度的测量。相对于激光方向的机械轴测量。激光束轮廓和发散角的测量。直线工作台的直线度测量。旋转阶段的表征。楔角、棱镜角和多边形角的测量。反射面平行度的测量。表面平整度的测量。光学装置的校准。机器校准。CD/DVD ROM对齐。热稳定性测量。振动分析。瞄准孔瞄准技术参数参数技术规格激光器类型连续或脉冲响应波长350 – 1600 nm （在望远镜模式下）增益控制1 – 24 dB快门速度39 µsec to 20 secFoV自准直仪±25’ (V) x ±40’ (H)FoV望远镜和光束轮廓仪±50’ (V) x ±1°20’ (H)通光孔径36 mm分辨率0.01 sec精确度1.0 sec相机（宽光谱范围）2.4 MegaPixels, 12 bit光源LED-650, optional: 1060nm.Special order 1310/1600 nm用于校准的回复反射器Ø64mm N.W 280g Thread Ø16mm ,5°光束发散测量低至 0.2 mRad 或更高视线保持与聚焦功能成正比±2.5 sec最小聚焦距离小于30cm内置粗瞄准激光指针638nm power 1.0mW Class 2 laser product,IEC60825-1同步软件、硬件（外部触发信号*）接口USB3.0曝光控制通过GUI编程外壳尺寸（长x宽x高），单位：mm230 x 135 x 160电源~2.5瓦（通过USB 3.0接口）重量（典型）2.5kg，含电缆结构图示：

蔡司三坐标测针600341-8180-000价格优惠合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

HOLO / OR衍射扩散器HOLO / OR衍射扩散器• 均质分布的整形激光束• 圆形或正方形输出形状• 532nm和1064nm Nd：YAG激光器的设计• 与单模或多模光束兼容通用规格基底:Fused Silica注意:High HomogeneityInput Beam Mode:SM or MMHOLO / OR衍射扩散器，也称为光束均质器，是将单模或多模激光束转换为具有均匀分布的定义形状的衍射光学元件（DOE）。每个扩散器在其设计波长处具有指定的扩散角，该扩散角与透镜一起控制光斑尺寸。 HOLO / OR漫射器具有方形或圆形输出，并且还提供高均匀性版本，与标准衍射漫射器相比，它具有更高的均匀性和更低的零级。 HOLO / OR衍射扩散器可用于各种激光应用中，包括光束均化，减少热点，表面处理和激光材料加工应用。注意：衍射光学元件不可在其设计波长范围之外使用。如果衍射光学元件的表面被油或其他物质弄脏，则会降低其性能。建议在处理这些光学器件时始终戴手套或手指套。Edmund Optics为激光应用提供了一系列来自HOLO / OR的衍射光学元件，包括：• 衍射扩散器：用于将输入激光束转换为具有均匀分布的定义形状• 衍射分束器：用于将输入激光束分成一维阵列或二维矩阵输出• 衍射光束整形器：用于将近高斯激光束转换为具有均匀平顶强度分布的定义形状• 衍射光束采样器：用于传输输入激光束，同时产生两个可用于监视高功率激光的高阶光束• 衍射轴心：用于将输入激光束转换为可聚焦到环的贝塞尔光束• 衍射涡旋相位板：用于将高斯轮廓光束转换为甜甜圈形能量环产品信息标题产品编码1064nm，20mm直径，方波输出，高均质衍射扩散器#14-68532nm，15 x 15mm，圆形输出，高均质衍射扩散器#14-683

VWR 磁性搅拌子，椭圆形?PTFE涂层，椭圆磁体（最小尺寸除外，其带有一个圆柱形磁铁，外面是鸡蛋形PTFE涂层）。这些椭圆形搅拌子专用于底部为圆形的容器，该容器轮廓使旋转不受限制。可高压灭菌。? 极好的耐化学性? 提供各自的枢轴点，无单独的环或轮廓突变? 在塑料容器中使用时提供最小接触面订货信息：VWR 磁性搅拌子，椭圆形长度直径 (mm)包装数量货号9,54,8158949-01215,96,4158949-010199,5158949-00631,815,9158949-20041,319158949-21076,219158949-008

美国QUEST Sound Pro SE / DL型声级计及实时频谱分析仪 ,特点,办事处，说明书，现货：1、高级的数据显示屏幕 非常大具有背光，128*64像素显示测量在6公分宽×4.8公分高的屏幕，容易观看及了解。2、快速及简单设定 经由选择已事先设定的应用，如：预设定及用户设定可满足用户容易操作的需求，这些设定可经由单一鼠标按键来储存在SounsPro SE及DL中。3、准确及高效的实时频率分析 选项RTA模式提供实时显示及同时储存整组1/1或1/3倍频程，不必顺序逐个测量1/1或者1/3的中心频率4、提供有益的时间历史描绘 选项时间历史记录以实时图形显示及存储数据与时间的数字。5、省时回删功能 保存原始数据 在测试间如有异常噪声发生及非测试的噪声，可从测量结果删除异常测值，回删可达20秒，同时保存原始数据。6、4个软键满足您容易操作需求 4个“软键”可简化操作者的控制，提供用户直接进入所需控制功能以快速设定。7、非专属可拆装数据存储卡 全部仪器包括一个SD存储卡用于数据存储，数据存储在SD卡就如同一个可拆装的硬盘在您的计算机当插入在SD卡读取器。8、做报告及资料传输只要一个键 您所看到的也就是您所得到的，报告的制作可经由设计其允许用户来选择数据盘以打印报告及也可定义它们的顺序，数据传输简单到点击所需数据盘右边并选择输出格式。

氮和硫化学发光检测器安捷伦的355 硫化学发光检测器(SCD) 是目前分析硫化合物最灵敏和最具选择性的色谱检测器。安捷伦的255 氮化学发光检测器(NCD) 是氮的专属性检测器，它是对基于NO 和臭氧的化学发光反应生成的含氮化合物产生线性和等摩尔的响应。即使复杂的样品基质也能分析，无干扰。硫化学发光检测器(SCD) 备件说明 部件号预防性维护工具包，DP RV5油泵 G6600-67007包括4个臭氧化学捕集阱、4个油凝聚过滤器元件和4个(1夸脱)盛装合成油的瓶子 预防性维护工具包，干活塞泵 G6600-67008包括4 个臭氧破坏化学捕集阱和2 个泵的维修工具包 SCD DP 燃烧头陶瓷管工具包 G6600-60037包括密封垫圈、3 个上层陶瓷管和1 个下层陶瓷管 Mobil 1 合成油 G6600-85001 油雾过滤器，用于RV5 泵 G6600-80043油，Edwards Ultragrade，用于RV3 和RV5 泵 G6600-85002O 形环，内径1.301 英寸 G6600-80051臭氧破坏化学捕集阱 G6600-85000用于油雾过滤器的备用油凝聚过滤器 G6600-80044硫化学发光测试样品 G2933-85001硫捕集阱 G2933-85003对于H2 和空气载气，每个钢瓶需要一个（共3个） 备用色谱柱螺帽和密封垫工具包 G6600-80018色谱柱螺帽，1/32 英寸 G6600-80072密封垫圈，色谱柱，1/32 英寸x 0.5 mm 熔融石英，Valco 0100-2138密封垫圈，色谱柱，1/32 英寸x 9 mm，聚酰亚胺/石墨 0100-2430

AdlOptica Focal-πShaper Q对焦平顶光束整形器AdlOptica Focal-πShaper Q Flat Top Beam Shapers将高斯光束整形为艾里斑轮廓平顶或圆环形输出光束轮廓效率接近 100%另外提供AdlOpticaπShaper 平顶光束整形器通用规格透射率 (%) :99Input Beam Mode:TEM00Typical Input Beam Mode Quality, M2:Input Beam Divergence (mrad):±20AdlOpticaFocal-πShaper Q 对焦平顶光束整形器用于将高斯光束转换成艾里斑轮廓，从而控制激光光斑的强度分布。输出光束几乎 100% 有效整形为一个平顶或圆环形光束轮廓。在平顶光束整形器之后聚焦光束会导致平顶廓形丢失。 对焦平顶光束整形器通过生成艾里斑光束轮廓，为获得平顶光束提供了另一种解决方案。这些光束整形器设计紧凑，并带有内螺纹和外螺纹，便于集成到设备中。AdlOpticaFocal-πShaper Q 对焦平顶光束整形器适用于微机械加工（包括划线和 PCB 钻孔）应用以及微焊接应用中的光束整形。Nd:YAG波长有多种型号，输入光束直径最小可达 3mm，最大可达 23mm。产品信息波长范围 (nm)类型CA (mm)产品编码335 - 560Beam Shaper20#12-238335 - 560Beam Shaper20#12-239335 - 560Beam Shaper20#12-2401020 - 1100Beam Shaper20#12-2301020 - 1100Beam Shaper20#12-2311020 - 1100Beam Shaper20#12-2321020 - 1100Beam Shaper20#12-2331020 - 1100Beam Shaper38#12-2361020 - 1100Beam Shaper38#12-237技术数据

氮和硫化学发光检测器安捷伦的355 硫化学发光检测器(SCD) 是目前分析硫化合物最灵敏和最具选择性的色谱检测器。安捷伦的255 氮化学发光检测器(NCD) 是氮的专属性检测器，它是对基于NO 和臭氧的化学发光反应生成的含氮化合物产生线性和等摩尔的响应。即使复杂的样品基质也能分析，无干扰。氮化学发光检测器(NCD)备件说明 部件号 NCD DP 燃烧头石英管工具包 G6600-60038包括密封垫圈、接头和石英管 预防性维护工具包，DP RV5 油泵 G6600-67007包括4 个臭氧化学捕集阱、4 个油凝聚过滤器元件和4 个（1 夸脱）盛装合成油的瓶子预防性维护工具包，干活塞泵 G6600-67008包括4 个臭氧破坏化学捕集阱和2 个泵的维修工具包 备用油凝聚过滤器 G6600-80042油雾过滤器，用于RV5 泵 G6600-80043用于油雾过滤器的备用油凝聚过滤器 G6600-80044备用气味过滤元件 G6600-80045O 形环，内径1.3614 英寸 G6600-80050O 形环，内径1.301 英寸 G6600-80051双等离子体石英管 G6600-80063Mobil 1 合成油 G6600-85001油，Edwards Ultragrade，用于RV3和RV5 泵 G6600-85002备用色谱柱螺帽和密封垫工具包 G6600-80018色谱柱螺帽，1/32 英寸 G6600-80072密封垫圈，色谱柱，1/32 英寸x 0.5 mm 熔融石英，Valco 0100-2138密封垫圈，色谱柱，1/32 英寸x 9 mm，聚酰亚胺/石墨 0100-2430

VWR可调喷壶HDPE带PP喷帽 大容量可最大限度地减少再填充 耐化学腐蚀，几乎牢不可破 气体或化学消毒和洗碗机安全 喷射模式可由“瞬间关闭”的轮廓式喷射触发器控制 这些带有可调喷雾流的洗涤瓶可保持内含物完全不受污染。几乎封闭的系统消除滴水和处理热，冷，水和溶剂基溶液容量 包装规格 VWR目录号240 ml 3 VWRU23609-1821000 ml 1 VWRU16650-049

PGSTAT204是Autolab系列中新的一员，是一款研究级的紧凑型电化学工作站。PGSTAT204的槽压为20V，最大输出电流为400mA。PGSTAT204预留一个扩展插槽，可用于一个功能模块的扩展。PGSTAT204可用于与外部设备的模拟/数字信号的输入/输出。PGSTAT204内置模拟积分器，用于电量的实时采集和积分电流的测量。可配套的功能模块FRA32M、BA、pX1000、MUX、EQCM主要技术参数模拟积分器有支持积分电流循环伏安是最大响应电压± 20 V最大输出电流± 400 mA恒电位仪/恒电流仪是电位扫描范围± 10 V电位精度± 0.2%电位分辨率3 &mu V电流档10 nA-100mA,8档电流精度± 0.2%电流分辨率电流档的0.0003%-10nA档30fA恒电位仪带宽1MHz输入偏置电流/25℃模拟积分器积分时间0.01s,0.1s,1s和10s电极连接2、3或4电极模拟信号输出电位与电流外部电位输入电脑接口可以USB应用领域· 小功率锂离子电池、超级电容器· 染料敏化太阳能电池· 腐蚀与防护· 导电聚合物及膜科学· 涂层研究· 介电材料及半导体材料· 电催化· 电沉积等