结构参数

GBT 18618-2009产品几何技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 图形参数

大家好，我做的是从衍射图谱得到晶体结构。我已经得到了晶系，晶格参数，还有空间群。下步是提取结构因子，获得初始结构。我想在不知道怎么提取结构因子，请大家多多指点。详细一点最好谢谢=============版主模式================修改了下标题错别字..

分子结构、性质与活性[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=15188]分子结构、性质与活性[/url][color=#dc143c]原始附件目前失效，不过某人发现可以到资料中心下载,只需一分： --handsomeland [/color]http://www.instrument.com.cn/download/shtml/022123.shtml王连生,化学工业出版社，1998目录第一章结构、性质与活性1．1结构-性质研究发展过程1．2化学键模型与分子结构的表示1．3结构对物理化学性质的影响1．4结构-性质相关预测水中溶解度1．5分子连接性指数与硝基芳烃理化参数的相关性1．6结构-怀质相关估算土壤-沉积物吸附系数1．7应用结构-性质相关研究有机物的亨利常数1．8摩尔体积与理论参数相关性1．9结构与活性第二章量子化学在定量结构-性质-活性相关研究中的应用2．1分子轨道理论方法2．2MOPAC软件及其计算方法2．3应用量子化学参数预测有机污染物的理化性质2．4应用量子化学参数预测有机污染物的生的活性2．5量子化学在有机污染物定量结构-性质-活性相关研究中的展望第三章典型有机物毒理学机理3．1典型有机物毒性反应类型3．2典型有机物的分子毒性机制3．3典型有机物遗传毒理学原理3．4典型有机物毒性作用的生命替代性机制第四章人工神经网络技术在结构-性质-活性关系研究中的应用4．1人工神经网络的构造和功能4．2人工神经网络在结构-性质-活性研究中的应用实例4．3一个BP型神经网络计算程序示例第五章拓扑学方法在结构-性质-活性相关研究中的应用5．1结构-性质-活性相关研究中的拓扑学方法5．2分子连接性指数方法在结构-性质-活性相关研究中的应用5．3Am指数在结构-性质-活性相关研究中的应用5．4自相关拓扑指数的计算方法及其改进5．5拓扑指数与有机物理化学性质的相关性5．6自相关拓扑指数与含氯有机化合物遗传毒性的相关性5．7自相关拓扑指数与有机物对水生生物急性毒性的定量关系第六章基团贡献法预测有机物理化性质6．1ASOG模型6．2UNIFAC法6．3其他基团贡献法第七章一种新的Lewis酸碱性判别指数及其应用7．1Lewis酸碱强度研究概述7．2原理7．3Lewis酸碱性指数的定量化7．4酸碱性指数的应用第八章反相液相色谱保留在定量结构-性质-活性相关研究中的应用8．1概述8．2反相液相色谱保留与分子连接性指数的关系8．3反相液色谱保留在定量结构-性质相关（QSPR）、定量结构-活性相关（QSAR）研究中的应用第九章有机污染物理化性质测定与估算方法9．1分配系数的测定与估算9．2溶解度的测定与估算9．3萘在水溶液中的光化学氧化9．4对硝基苯甲腈水解速率常数的测定9．5苯和间二甲苯挥发速率的测定9．6有机化合物在自然沉积物上吸附与解吸动力学数快速测定9．7有机物饱和蒸气压测定方法9．8分子连接性指数计算9．9分子表面积计算方法9．10EXAMS模式用于研究湖泊中污染物的迁移转化规律第十章生物活性测定与预测10．1有机物对水蚤的急性毒性10．2应用光发菌测定有机化合物的毒性10．3有机物对酵母菌毒性的测定方法10．4鼠伤寒沙门氏菌/哺乳动物肝微粒体致突变性10．5哺乳动物经口急性毒性试验10．6哺乳动物骨髓细胞微核试验10．7利用前线分子轨道能预测氯代芳烃化合物生物毒性的方法10．8典型有机物对鱼毒性的预测10．9典型有机物对藻类毒性的预测10．10典型有机物对小鼠毒性的预测10．11取代芳烃对蝌蚪毒性及其预测10．12毒物风险评价外推法参考文献

请问一下利用gsas进行结构精修时，par后缀的仪器参数文件导入到gsas中软件不能识别，请问如何才能将它修改为gsas可识别的文件格式

用的是CeO2的hkl数据，输入晶胞参数和空间群后，由直接法解结构后得到res文件，由xshell画出了好多Ce原子，很难辨别哪些该删除掉，哪些该留。不知道取舍原子的依据是什么，恳盼哪位高人能指点迷津。万分感谢！[em62]

摘 要：通过对焊接接头性能影响因素的分析和实验，调整相应的结构参数和焊接工艺参数，防止焊接接头缺陷的产生，提高接头机械性能，从而提高产品的使用寿命，减少损失，节约了材料。 关键词：焊接接头；失效分析；结构因素 热交换器产品中的固定式不带法兰的管板与壳体的连接焊接接头是产品上的主要焊接接头，制造过程中焊接接头内部组织的缺陷，如夹渣、气孔、未熔合、未焊透、裂纹以及组织粗大等，将影响焊接接头的机械性能，也影响产品使用的可靠性，给使用单位带来不必要的经济损失，是个不可忽视的问题。通过对焊接接头性能影响因素的分析和实验，调整相应的结构参数和焊接工艺参数，防止焊接接头缺陷的产生，提高接头机械性能，从而提高产品的使用寿命，减少损失，节约了材料。1 问题的提出 在产品生产过程中，焊接结构参数、焊接工艺参数、焊接前的准备和操作方法等因素都会影响焊接接头的质量，在焊接时就要通过控制相关技术参数来控制焊接接头内部质量，尽可能提高焊接接头的机械性能。在诸多技术因素中以结构参数和焊接工艺参数对焊接接头质量影响最大，为此，坡口尺寸变化对焊接接头质量的影响及焊接工艺参数对焊接接头质量的影响是本课题的主要内容。 通过研究不同尺寸的坡口用相同焊接工艺参数下焊成的接头在焊接接头组织、机械性能、焊接应力分布的变化；比较对焊接接头质量影响最小的结构尺寸，选出最优技术参数。 2 坡口尺寸的确定 产品的设计坡口尺寸如图1所示，其中，管板车边尺寸为0.25δ,与壳体组对后坡口间隙为0.4δ1，具体根据不同的板厚在国家标准中有明确的规定。 本课题根据中生产单位的实际情况，δ和δ1的取值如表1。根据表中的数据，按《钢制压力容器》标准的有关规定，可以分别计算出管板车边尺寸和坡口间隙尺寸，也列于表1中。 在本次试验中，为了减少工作量，试件的坡口组对成大小端，最大值取6mm，最小值取1mm。虽然该值与国家标准的要求有出入，但符合焊接工艺中保证焊接接头质量的有关要求，对试验结果的正确性影响不明显。 3 模拟试验与检测 为保证结构参数对焊接接头的组织、应力和机械性能等方面影响的试验结果准确，在焊接过程中，要求焊接工艺参数保持不变。 本试验的试件结构与产品实际使用的结构相近。对焊接接头的检测主要包括焊接接头热影响区应力值、机械性能测试和热影响区组织分析。 3.1应力测试 应力测试时采用了应力释放法。 通过焊接接头区或焊接热影响区某点处的应变量测试，计算出该点的应力值。用此法检测比较简单，所需测试设备简便。虽然数据不够准确，但同一试件测试的数据有对比性，对本课题来说完全符合要求。 测试时，为使焊接热影响区的应力相对准确且有对比性，试验时选焊接接头焊趾两侧5mm处平行于焊接接头中心线的直线上作为测试焊接应力的位置，并以5mm的间距为一测试点，两侧两端各测6点。 3.2机械性能测试 应力测试后的试件用机械加工的方法加工成拉伸试样，测试其机械性能。4 数据分析 4.1测试点应力与焊接接头距离的关系 以上数据表明，离焊接接头不同的距离的各点间的应力是不同的。离熔合线越近，应力值越大；离熔合线越远，应力值越小。表明高温区更易产生较高的应力。 4.2坡口间距对应力的影响 坡口间距对应的影响也较为明显，从表中可以看出，坡口间距越大，应力值也有明显的增大，最大间隙处应力值（为最小间隙处应力值的3.5倍左右）。从理论上分析，坡口越大，需填充的金属越多，焊接时热作用时间越长，温度也越高，因而产生更大的应力。 4.3坡口间距对机械性能的影响 可以看出，坡口间距对机械性能的影响较小，但坡口间距对缺陷有较大的影响。两个试样都做了宏观金相检查，坡口间距越小，未焊透缺陷倾向增加。所以，坡口间距间接地影响了焊接接头的强度，降低疲劳强度。 5 金相分析 在相应的最大坡口端和最小坡口端，分别取试样进行金相分析，对比母材金相，组织变化差异很小。可见，因所用材料为普通碳素结构钢（管板和筒体材料都选用了Q235-B），这类材料的组织在加热时，长大倾向并不明显。可以认为，坡口间距对焊接接头及热影响区金属组织的影响是不大的。或者说，因焊接接头及热影响区金属组织所引起的焊接接头失效现象的因素要比焊接缺陷和应力变化所产生的影响小得多。 6 结论 通过以上分析，造成管板与壳体连接焊接接头失效的重要因素中，坡口尺寸大小是其中之一。因为坡口尺寸大小对焊接接头内部缺陷的产生及热影响区的焊接残余应力大小有着重大的影响，坡口越大，焊接缺陷产生的可能性增加，焊接残余应力增加。在焊接实践中，可以通过选择合适的坡口尺寸[url=http://www.dtjzf.com/prod

3051S多参数变送器的地址在出厂时被设置为零（0），这样能够以标准的点对点方式使用4-20 毫安输出信号工作。若想激活多点通讯，对于 HART 5 主机，变送器地址必须更改为1-15 范围内的值；对于 HART 6 主机，变送器地址必须更改为 1-63 范围内的值。此更改会停用 4-20 mA 模拟输出，把其置为 4 mA 固定值。它还会禁用故障报警信号，该信号由功能板上的高位 / 低位报警开关位置控制。多参数变送器中的故障信号通过 HART 消息传送。回路电流模式-在使用多点通讯时，回路电流模式下拉菜单定义了 4-20 mA 模拟输出的行为。在禁用回路电流模式时，模拟输出会被固定为 4 mA。在启用回路电流模式时，模拟输出会跟随初级变量。结构材料-Materials of Construction （结构材料）选项卡允许查看结构材料、远程密封、以及所配备的传感器的信息。以白色背景显示的参数可由用户编辑，但是不影响设备的工作。[color=#ffffff]文章来源：多参数变送器http://www.qyyb.net/rosemount/rosemount11.html[/color]

普通的钙钛矿结构和双钙钛矿结构，如果空间群一样，他们的XRD一样吗？还是类似？比如Bi2NiMnO6和BiMnO3，都是C2群，晶胞参数接近，二者的xrd谱图相似吗？为什么？谢谢！

我上很多的网站找都没有找到，上百度搜的多是一些公司的产品介绍，都是一些参数什么的，我想找的是x光衍射仪设备结构介绍的资料，有没有哪位仁兄能给点意见或者有该方面的资料，分享一些，不胜感激！！[em61]

液相色谱除了检测器外还有其他的零件我们在日常工作的时候很容易忽视的，譬如泵、进样器等。对这些我们在操作仪器的时候又了解多少呢？[color=blue]◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆[/color][B][size=4][center]液相色谱仪器常见参数之二：泵和进样器[/center][/size][/B]◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇[B][center]邀请您来解析液相色谱的泵和进样器及相关参数[/center][/B][color=teal]〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓[/color][B]泵[/B]１）泵系统滞后体积Ｘ　ul且不受系统反压影响２）耐压≥n（psi）３）流量范围n　（ml）-m　（ml/min），以0.001ml/min递增４） 流量准度和精度５）比例准度：≥±0.5%，比例精度：≤RSD 0.2%[B]进样系统[/B]１）自动进样器２）手动进样器[color=teal]〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓[/color][color=red][size=4][B]请您来解析：[/B][/size][/color][color=blue]1）泵的相关问题：①泵的结构和原理是什么？②怎么才能辨别泵的好坏？③泵的材质是什么？④泵的最大耐压是多少？根据什么来计算的？psi是什么单位？压力越大越好吗？⑤“泵系统滞后体积Ｘ　ul且不受系统反压影响”有什么作用？滞后体积的大小对检测有什么意义？越大越好吗？⑥流量范围是根据什么来的？越大越好？对分析物质有何影响？⑦流量准度和精度一般各是多少？流量准度和精度越大越好吗？一般是什么范围？⑧比例准度和比例精度是怎么计算的？数值是越大越好还是越小越好？有何意义？2）进样器的问题①自动进样器的结构是什么？②自动进样器与手动进样器谁的检测误差大？③自动进样器和手动进样器的优点和缺点分别是什么？[/color]◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇[color=red][B][size=4]欢迎大家前来解析液相色谱仪器的参数——泵和进样器篇，参与有奖，也欢迎大家提出没有列出的液相色谱泵和进样器的其他参数。参与有奖的喔～[/size][/B][/color]◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇◇[URL=http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20081016/1535298/]【解读样本参数—LC篇】液相色谱仪器检测器篇样本参数（有重奖）[/URL]

【参数解读】解析质谱质量分析器的技术参数及评价http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20130605/4775892/在液质联用仪中，比较常见的就是三种质量分析器，包括四级杆分析器、飞行时间质量分析器和离子肼，他们组成结构以及原理上也存在不同。◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆◆列举部分仪器的个别参数，供参考：质量范围：m/z 10-3000amu。质量数稳定性： ±0.1 m/z最大扫描速率： ≥ 5000 Da/s。质量精度：≤0.1amu动态范围：（有动态与静态之分吗）〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓分割线〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓解析总结：1、质量范围大小与什么相关？范围大，会影响精确度吗？质量范围大小和仪器的整体硬件有关，如RF电压等；四级杆的质量范围和四极杆加的电压有关，范围越大，精度越差。有这样一个公式： Mm=7000000Vm/(f*f*r*r)，其中Mm表示最大质量数范围，Vm是RF信号交流分量的最大幅度，f为RF的频率，r为四极场半径。2、你认为质谱的质量数稳定性应该为多少合适？质量数稳定性，要看用途，普通的定量分析±0.1 m/z就可以了，要是定性要求比较高，就用高分辨率质谱，可以到0.0001 m/z。一般认为0.1m/z不会影响定量的准确。3、扫描速率对测试有什么影响？扫描速率越快，单位时间内采集数据点数越多，结果越真实。因为目前都是用三重四级杆定量的，所以测试的时候都是MRM模式，这个方式对于扫描速度没有什么关系，它的测试速度的快慢和循环时间相关=dwell time+pause time；当然速度越快的话，能够在MRM定量的时候获得一个相对粗的定性信息，这对测试也是有一定帮助的。4、说说你知道的各质量分析器主要使用领域。当前来看串联四级杆的气质和液质主要应用在定量为主的领域，比方说国家的商检系统，质量技术监督局系统，高校的检测中心等。 离子阱分析器还主要应用在定性的领域如：药物的结构分析，分离的天然产物结构分析，有机物的合成分析等研究开发。5、你认为各种质量分析器的优缺点是什么？高分辨质谱侧重于做定性分析，因为这种质谱能够给出物质的精确分子量，随着仪器设备水平的提高定量的效果也越来越好了。 四级杆质谱定量效果好大家公认，但毕竟是低分辨的质谱，离子阱质谱可以做多级结构的分析，定性效果好，但定量速度没有四级杆高。 高分辨质谱定性是主打，定量效果越来越好，但价格贵啊。四级杆主要是用于定量，离子阱偏重于获得化合物的结构信息，TOF偏重于获得分子量信息。在这里面四级杆速度最快，离子阱和TOF的速度相对慢一些。要想获得一个化合物的真正定性的话，最好是选择离子阱和TOF的结合。6、你的实验室质谱仪都是什么质量分析器，谈谈对它的看法。实验室里的都是四极杆和离子阱居多，日常使用都差不多，离子阱可深入学习的东西更多。

小弟求教：有机物的粉末XRD怎么求出晶胞参数，前提是新合成的有机物所以几乎没有相似的单晶结构。在线等回复，谢谢了

各位老师，师兄弟姐妹们， 除了Diffax程序外，还有什么软件可以模拟研究晶体的缺陷结构呢？最好是根据XRD数据的有谁用过 Diffax 这个程序，或者Diffax-plus啊？ Diffax 程序我只下到了网上的苹果系统上的执行文件和源代码，前者没有苹果机，后者需要用fortran语言编译，自己不会编译。diffax是可以执行的文件，但是在发表的资料上还没怎么见过，不知道是不是和Diffax完全一样？另外是，Diffax也不会用啊，是不是需要自己编一个结构文件.dat, 一个参数.par 文件才行？这两个文件里面的具体内容又是什么意义呢？还有一个问题，这里牵扯到了winplotr软件，怎么用diffax生成的prf文件做晶体的结构框架呢？希望有人用过！谢谢！

高分子柔韧性的条件、参数和影响因素长链结构是高分子获得柔韧性的必要条件，高分子具有柔性的根本原因：分子内单键的内旋转。表征分子链的参数：均方末端距、链段长短。均方末端距比值越大，刚性越大；链段越短，柔性越好。影响因素：主链含C-O、C-N、Si-O更具柔性，引入苯环、杂环，柔性减小；‚取代基对称，柔性增大，取代基极性强、体积大，柔性弱

请高手帮我看一下Rietveld精修的一个结构数据是理光的一个机器测的，40kV，100mA，步进扫描方式，5到80度测了一个半小时，数据是很勉强，因为是在外面做测试，这个时间已经是极限了。用的是material studio软件修的，所修参数是依次增加的，顺序如下：1，零点修正2，本底参数3, FWHM4, Profile paremeters5, 晶胞参数6, 原子坐标7, 各向同性位移因子,占有率8, 取向优先以上修完Rwp=10.51%，Rwp(w/o bck)=12.92%,Rp=7.35%,这个结果不知道怎么样，我缺乏判断，请高手指点一下，而且占位率和U不知道是不是太小了，Atom Wyck. Occ. x y z UAl1 8l 0.95 0.18586 0.19342 0.62858 0.0000 Al2 8l 0.89 0.06619 0.31968 0.50852 0.0000 O1 8l 0.92 0.04221 0.16059 0.33245 0.0000 O2 8l 0.95 0.13750 0.32148 0.49924 0.0000 O3 8l 0.99 0.19112 0.22628 -0.02354 0.0000 O8 8l 0.92 0.04338 0.33527 0.85025 0.0000 Sr1 4j 0.92 0.13791 1/2 0.03228 0.0074 O6 4j 0.94 0.04964 1/2 0.32797 0.0000 Sr2 4i 0.88 0.12086 0 0.11565 0.0004 O5 4i 0.94 0.03870 0 0.82815 0.0000 O7 4i 0.98 0.16610 0 0.58405 0.0000 Al3 4k 0.97 1/4 0.29699 0.13274 0.0000 O4 4k 1.00 1/4 0.23601 0.47286 0.0000 Al4 4g 0.87 0 0.16722 0 0.0000 Al5 2c 0.87 0 0 1/2 0.0000 Al6 2b 0.91 0 1/2 0 0.0000 O9 2f 0.99 1/4 1/2 0.11630 0.0000 9,继续修全局各向同性温度因子，Rwp有所增加，为10.65%，Rwp(w/o bck)=13.08%,Rp=7.43%10，修全局各向异性温度因子，这时候，Rwp=11.64%，Rwp(w/o bck)=14.30%,Rp=8.27%，而且不知道为什么原子占位都变成了1.0，请问温度因子是不是可以不修，这样得到的Rwp比较小。我对结构精修知道的很有限，现在又急需一个结构，书上的东西很难讲到点上，自己也没时间和心态了，请高手指点一下我的这个结果应该怎么处理，还有，Rwp，Rwp（w/o bck）,Rp三个参数在Fullprof和GSAS里分别用什么字符表示

发一个从惠赢论坛上Down下来的资料。对以下这些参数做了基本的介绍。开路、短路、标准负载、电容、电感、直流电阻/直流电阻不平衡、互容/电容不平衡、特性阻抗、驻波比、反射损失、结构性回波损耗、衰减、传播的速度、传播延迟时间、传播延迟时间差、串音、衰减串音比、垂直转换损失、转换阻接、遮蔽效应、上升时间衰退或频宽、张眼图。个人认为是一篇比较好的知道资料，希望能给大家带来帮助。高手可以补充补充。。入门的就普及一下自己的知识结构。。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=33664]高频量测参数介绍[/url]

[b]真空烧结炉[/b]的各个结构是相互配合运行的， 任何一个结构出现故障或者使用方式不合理， 都会影响到烧结炉的运行。 我们将针对真空烧结炉的不同结构展开探讨， 优化各结构的内部系统， 以达到能够为设备运行使用减少能源损耗， 达到更理想的燃烧效果。 一、 加热室加热室的作用顾名思义就是在使用阶段能够向炉内提供热量， 只有在热量达到一定的标准设备才能正常运行， 从而使各个结构在系统内发生配合， 从而达到真空烧结的目的。加热器的温度提升变动性比较大， 为了能够在短时间内实现更高效的使用， 通常是由三层温度变化组成的， 可以根据产品的不同类型和要求对系统内部进行调节， 使温度能够与需求的标准保持一致。二、 隔热屏该结构是以圆板和圆筒形状出现的， 能够将热量与外部环境相隔离， 这样既能保障使用阶段的安全性， 同时也能避免能源损耗。 该结构在系统中处于封闭的状态， 并且由多层结构组成， 投入使用后的隔热效果也更理想。 圆板和圆筒一起组成隔热屏， 形成封闭并且呈现真空状态， 当温度由在隔热屏中向周边散发时， 真空部分也能起到保护作用， 达到更理想的使用效果。三、 低温冷阱阱广泛用于超高真空（ 或高真空）系统，作用类似于挡板，一般真空烧结炉为提升燃烧的效率， 并节省时间， 会采用低温冷阱的形式来降炉内的空气抽离， 这样能够确保在真空的环境下运行使用， 才能避免出现使用不稳定现象， 并达到设备的安全控制标准。四、 真空测量真空测量是针对炉内运行使用状态来进行的。 测量是定期进行的， 达到间隔时间后， 测量模块能够自动导通。 由于烧结炉的规模比较大， 使用期间检测得到的参数中存在很大的变化因素， 因此误差是不可以避免的。 虽然目前的技术理念已经十分成熟， 但在使用时仍然需要对现场设备采取全面监控的方法， 以确保燃烧效率能够达到预期标准。

在使用Diamond软件构造晶体模型时，需要知道晶体的结构数据，即晶体的空间群、晶胞参数和原子坐标。晶体结构数据可以手动输入，也可以直接从晶体信息文件中获得。我们将通过几个例子来说明软件的使用方法。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=130595]晶体结构立体模型建构软件-Diamond的使用指南.pdf[/url]

晶体结构的X-射线粉末衍射法测定(摘要)梁敬魁中国科学院物理研究所，北京，100080 随着计算机技术的发展和应用，以及X-射线源和中子源强度、衍射仪分辨率的提高，利用多晶衍射数据进行复杂晶体的结构分析成为可能。目前这方面的工作已有很多报导，其中主要有最大熵法 、能量最小法 、Monte Carlo法 以及利用单晶结构分析方法，从粉末衍射数据测定晶体结构，测定了在不对称晶胞中含60个原子，178个原子参数的 的复杂晶体结构 。本文仅综述这一种测定方法。一、粉末衍射图谱的指标化、晶系、空间群和点陈常数的测定 衍射图谱的指标化方法很多，目前比较常用的有效方法是计算机程序法。例如TREOR尝试法计算机程序 ，Iio晶带分析计算程序 、DICVOL二分法计算机程序等 。在指标化的基础上确定空间群和计算点阵常数。二、重叠峰的分离 根据粉末衍射图谱、利用单晶体结构分析方法测定晶体结构。独立的强衍射峰的数目需为不对称晶胞内原子数目的10-15倍，或待测参数3-5倍，由于粉末衍射图衍射线的重叠，往往达不到这一要求。重叠峰的分离是粉末法测定晶体结构的关键问题。1. 利用衍射峰形函数分离重叠峰 衍射峰形函数可用Rielevld法的峰形函数 和Fourier合成法 峰形函数表征。在晶体结构未知的情况下，应用一步迭代法 、二步迭代法 以及直接法统计关系 等方法进行全谱的拟合，使拟合结果与实验结果符合。2. 导数图解分峰法 在光谱学中应用导数技术，可以比较好地从平滑的数据中确定重叠峰的数目和位置。对于平滑的重叠峰，二阶导数的最小值和四阶导数的最大值是很明锐的，可以很容易判断其位置，其衍射峰强度可通过二阶导数或四阶导数两旁的卫星小峰的高度和距离来计算。三、结构振幅|F|输入单晶结构分析程序 从各分离衍射峰的相对强度可推算出相庆的结构振幅|F|，根据晶体结构的特点，将|F|输入相应的单晶结构分析程序，例如在晶体结构含有重原子，通常可用三维Paiierson函数法，一般情况可用直接法。 根据结构分析结果所得的电子密度图r(r)或|E|图，可以确定原子的位置，但由|F|有误差，且粉末衍射数据少，在r(r)或|E|图可能会出现不少杂峰，只有峰值较大的才比较可靠，可能对尖结构中的某些原子，对于那些较小的峰，并不一定该位置存在有原子，比较可靠的作法是在第一步只确定一些重原子的位置，而后在用Fourier变换或差值Fourier变换来确定其它原子。四、差值Fourier变换和Rieiveld法修正 在得出初步相角值的情况下，原则上可用Fourier合成法求解全部原子的位置，但由于粉末衍射数据的完备性和准确度不够，经多次循环后获得稳定的电子密度图，可能仍未能达到满意的结果，在这种情况下一般应采用差值Fourier合成法，使计算和观察的结构振幅Fourier合成的级数断尾效应趋于相互抵消，差值Fourier合成可发现失落的原原子，修正原子位置的偏离以及热运动参数。如果差值Fourier合成仍不能获得满意的结果，可将已确定的原子位置输入Rielveld程序，修正后可以得到一套新的|F|值，再进行差值Fourier变换，确定其它原子，可一直重复上述过程，直到满意为止。最生将所得的全部原子参数的初始值输入Rieiveld法程序进行合谱拟合精修。五、示例 LeBai 完全用实验常用X-射线衍射仪，收集粉末衍射数据，用Fourier合成法峰形函灵敏分离重叠峰，成功地测定了空间群为Pnc2、单胞体积为 、在不对称晶胞中含有29个独立原子、74个原子位置参数，比较复杂的 的晶体结构。

我想查V6C5的结构数据。遇到问题。一是晶系。ICSD-71098讲是菱形晶系。空间群151.PDF卡片80-2287讲是六方晶系而且是参考ICSD计算的。空间群也是151.查空间群国际表，151应该是菱形晶系。还有ICSD71098给出的晶格常数与PDF卡片一样。都是六方的参数。另外我有一点不懂，ICSD里给出的原子位置是菱形坐标下的还是六方坐标下的。请大家帮忙。谢谢。

在[URL=http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20080927/1508448/]【解读样本参数—GC篇】解读[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱仪[/url]器样本各参数[/URL]这个帖子接近2个月的征集,大家参与都很积极,也很活跃。解答了很多的问题，但还有不少的问题没有得到解决，欢迎大家继续回答。另请参阅:[B][URL=http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20081119/1594974/]【解析GC参数——总结】GC仪器部分参数总结[/URL][/B][color=teal]〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓[/color]以下问题欢迎大家继续回答[color=blue]1）N阶升温程序，阶次越多，对检测的重线性越差吗？有何根据？2）GC的物质进样残留是如何计算的？数值的大小对分析有何影响和意义？3）进样重复性是如何计算的？公式是什么？4）GC仪器选型的根据是什么？你是根据什么方法来进行选型的？5）仪器选型的意义？[/color][color=teal]〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓〓[/color][color=red][B][size=4]欢迎大家来解析[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱仪[/url]器以上参数和问题，参与有奖，也欢迎大家提出没有列出的GC仪器样本参数。[/size][/B][/color]版友realtiger提问：提一个问题：对于相对极性较大农药的检测过程极易出现的问题，如严重拖体（尾）现象，基质增强效应，RT改变等，能否通过改变仪器结构设计的方式来解决这些问题？你有什么想法？或其他想法？