介电性质测量

石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统西班牙Das Nano公司成立于2012年，是一家提供高安全别打印设备，太赫兹无损检测设备以及个人身份安全验证设备的高科技公司。ONYX是其在全球范围内推出的一款针对石墨烯、半导体薄膜和其他二维材料大面积太赫兹无损表征的测量设备。ONYX采用先进的脉冲太赫兹时域光谱技术，实现了从科研及到工业的大面积石墨烯及二维材料的无损和高分辨，快速的电学性质测量，为石墨烯和二维材料科研和产业化研究提供了强大的支持。与传统四探针测量法相比，ONYX无损测量样品质量空间分布与拉曼，AFM，SEM相比，ONYX能够快速表征超大面积样品背景介绍太赫兹辐射( T射线)通常指的是频率在0. 1～10THz、波长在30μm-3mm之间的电磁波，其波段在微波和红外之间，属于远红外和亚毫米波范畴。该频段是宏观经典理论向微观量子理论的过度区，也是电子学向光子学的过渡区。在20世纪80年代中期以前，由于缺乏有效的产生方法和探测手段，科学家对于该波段电磁辐射性质的了解和研究非常有限，在相当长的一段时期,很少有人问津。电磁波谱中的这一波段(如下图) ，以至于形成远红外和亚毫米波空白区,也就是太赫兹空白区（THz gap）。太赫兹波段显著的特点是能够穿透大多数介电材料（如塑料、陶瓷、药品、缘体、纺织品或木材），这为无损检测（NDT）开辟了一个可能的新。同时，许多材料在太赫兹频率上呈现出可识别的频率指纹特性，使得太赫兹波段能够实现对许多材料的定性和定量研究。太赫兹波的这两个特性结合在一起，使其成为一种全新的材料研究手段。而且其光子能量低，不会引起电离，可以做到真正的无损检测。 ONYX工作原理 ONYX是一套实现石墨烯、半导体薄膜和其他二维材料全面积无损表征的测量系统，能够满足测试面积从科研（mm2）到晶元（cm2）以及工业（m2）的不同要求。与其他大面积样品的测量方法（如四探针法）相比，ONYX能够直观得到样品导电性能的空间分布。与拉曼、扫描电镜和透射电镜等微观方法相比，微米的空间分辨率能够实现对大面积样品的快速表征。ONYX采用先进的脉冲太赫兹时域光谱THz-TDS技术，产生皮秒量的短脉太赫兹冲辐射。穿透性强的太赫兹辐射穿透进样品达到各个界面，均会产生一个小反射波可以被探测器捕获，获得太赫兹脉冲的电场强度的时域波形。对太赫兹时域波形进行傅里叶变换,就可以得到太赫兹脉冲的频谱。分别测量通过试样前后(或直接从试样激发的)太赫兹脉冲波形,并对其频谱进行分析和处理,就可获得被测样品介电常数，吸收吸收以及载流子浓度等物理信息。再利用步进电机完成其扫描成像，得到其二维的电学测量结果。ONYX主要参数及特点样品大小: 10x10mm-200x200mm 全面的电导率和电阻率分析样品100%全覆盖测量高分辨率：50μm完全非接触无损无需样品制备载流子迁移率, 散射时间, 浓度分析 可定制样品测量面积(m2量)超快测量速度： 12cm2/min软件功能丰富，界面友好全自动操作图1 太赫兹光谱范围及信噪比ONYX主要功能→ 直流电导率（σDC）→ 载流子迁移率, μdrift→ 直流电阻率, RDC→ 载流子浓度, Ns→ 载流子散射时间，τsc→ 表面均匀性ONYX应用方向石墨烯材料：→ 单层/多层石墨烯 → 石墨烯溶液→ 掺杂石墨烯→ 石墨烯粉末→ 氧化石墨烯→ SiC外延石墨烯其他二维材料： → PEDOT→ Carbon Nanotubes→ ITO→ NbC→ IZO→ ALD-ZnO石墨烯光伏薄膜材料半导体薄膜电子器件PEDOT钨纳米线GaN颗粒Ag 纳米线ONYX测试数据1. 10x10mm CVD制备的石墨烯在不同分辨率下的电导率结果 2.10 x10mm CVD制备的石墨烯不同电学参数测量结果 3.利用ONYX测量ALD沉积在硅基底上的TiN电导率测量结果 应用案例■ 全球《石墨烯电学测量方法标准化指导手册》近期，欧洲计量创新与研究计划（EMPIR）的项目 “GRACE-石墨烯电学特性测量的新方法”发布了全球关于石墨烯电学特性测量方法的标准化指导手册。“GRACE-石墨烯电学特性测量新方法”项目是由英国实验室(NPL)主导，与意大利计量研究所、西班牙Das-nano 公司等合作，旨在开发石墨烯电学特性的新型测量方法，以及未来石墨烯电学测量的标准化制定。 图一 石墨烯电学测量方法标准化指导手册(发送邮件至info@qd-china.com获取完整版资料) 石墨烯由于其特优异的电学特性，在未来有望成为大规模应用于电子工业及能源领域的新材料。但是，目前受限于：1）如何制备大面积高质量石墨烯，且具有均匀和可重复的电气和电子性能；2）无论是作为科研用的实验样品还是在生产线中的批量化生产，对其电学性质的准确且可重复的表征方法目前尚不完善，缺乏正确实施此类测量方法的指导手册及测量标准。针对目前面临的问题和挑战，EMPIR 的“石墨烯电学特性测量新方法”项目对现有测量方法进行了总结和规范指导，更重要的是开发了石墨烯电学特性的快速高通量，非接触测量的新方法，并用现有技术对其进行了验证，取得了很好的一致性。 西班牙Das-Nano公司参与了“GRACE-石墨烯电学特性测量新方法”项目中基于THz-TDS的全新非接触测量方法的开发及测量标准的制定。基于该技术，Das-Nano推出了一款可以实现大面积（8英寸wafer）石墨烯和其他二维材料的100%全区域无损非接触快速电学测量系统-ONYX。ONYX采用一体化的反射式太赫兹时域光谱技术（THz-TDS）弥补了传统接触测量方法（如四探针法- Four-probe Method，范德堡法-Van Der Pauw和电阻层析成像法-Electrical Resistance Tomography）及显微方法（原子力显微镜-AFM, 共聚焦拉曼-Raman，扫描电子显微镜-SEM以及透射电子显微镜-TEM）之间的不足和空白。ONYX可以快速测量从0.5 mm2到~m2的石墨烯及其他二维材料的电学特性，为科研和工业化提供了一种颠覆性的检测手段[1,2]。更多详细信息请点击：欧洲计量创新与研究计划（EMPIR）发布全球《石墨烯电学测量方法标准化指导手册》参考文献：[1] Cultrera, A., Serazio, D., Zurutuza, A. et al. Mapping the conductivity of graphene with Electrical Resistance Tomography. Sci Rep 9, 10655 (2019).[2] Melios, C., Huang, N., Callegaro, L. et al. Towards standardisation of contact and contactless electrical measurements of CVD graphene at the macro-, micro- and nano-scale. Sci Rep 10, 3223 (2020). ONYX发表文章1. P Bogild et al. Mapping the electrical properties of large-area graphene. 2D Mater. 4 (2017) 042003.2. S Fernández et al. Advanced Graphene-Based Transparent Conductive Electrodes for Photovoltaic Applications. Micromachines 2019, 10, 402.3. David M. A. Mackenzie et al. Quality assessment of terahertz time-domain spectroscopy transmission and reflection modes for graphene conductivity mapping. OPTICS EXPRESS 9220, Vol. 26, No. 7, 2 Apr 2018. 4. A Cultrera et al. Mapping the conductivity of graphene with Electrical Resistance Tomography. Scientific Reports , (2019) 9:10655.ONYX用户单位重要客户合作伙伴参与项目

美国Polyk Technologies公司研发了高电场下的低温频谱介电测量系统，解决了非线性介电响应问题。非线性介电响应： -当通过LCR Meter或者分析仪（Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A）测量介电常数时，加载电压通常1V左右；然而，很多压电陶瓷（PZT）和高分子（PVDF）对于加载的电场具有非线性响应；通常它们的介电常数和损耗因子在高压下变得更低。 -在很多应用中，例如电容器和驱动器，介电层10V/um或者100V/um的高电场下工作，它们的有效介电常数和损耗tanδ是非常不用于普通LCR Meter和阻抗分析仪的测量值@1Vrms。 -在介电测试过程中直接加载一个高压信号，如果样品突然发生介电击穿，这对于LCR Meter有损坏风险。因此美国Polyk Technologies公司研发了此款宽频谱介电测量系统，有效的避免了上述问题的发生。技术规格：1）大电压：±4000V；2）大电流：±20mA；3）频率范围：100Hz to 1MHz；4）电容范围：100pF to 100nF；5）温度范围：-184℃ to 250℃；6）温度控制腔室：-75℃ to 200℃，无需液氮；（可选）7）温度控制腔室：室温 to 1000℃；（可选）8）宽频范围：20 Hz to 1 MHz or 110 MHz, or 0.01 Hz to 1 MHz(与配备的阻抗分析仪相关) （可选）9）Large AC信号单元；（可选）欢迎垂询！

Huace450P高低温介电温谱仪由华测仪器多位工程师多年开发，其具有不错的测试功能，设备测试频率可达30MHz，采用直接联接阻抗分析仪以减少测试导线的影响，同时电极加热采用直流电极加热方式，减少电网谐波对测量仪表的干扰。同时测试功能上也可扩展击穿测试、TSDC等测量功能。它能够在不同测量条件和测量模式下进行连续和高速的测量！测量功能与技术参数仪器具备的测试功能DHM 动态电滞回线测量CVM CV测量LM 漏电流测量FM 疲劳测试PM 脉冲测量PYM 热释电测量★DTS 介电温谱测量★RT 电阻测量★PZM 压电测量CHM 静态电滞回线测量IM 印迹测量RM 保持力测量BDM 击穿测试★TSDC 热刺激电流测量ECM 电卡测试★POM 油浴极化★ 注 : 标★号为华测生产的铁电分析仪增加的软件测量功能！ Huace FE系列铁电测试系统在±500V内置电压下，电滞回线测试频率可高达500KHz；此系统包含HuacePro基本铁电管理测试软件。此外还可外部扩展电压到4kV、10kV、20kV，Huace FE主机在不改变样品连接的情况下可执行电滞回线，脉冲，漏电流，IV、CV、击穿测试，也可加载选件实现压电、热释电、TSDC和电卡、阻抗分析、电阻测量等特性测试功能。内置完整的专用工控计算机主机、测试版路、运算放大器、数据处理单元等，包括专用工控计算机主板、CPU(i5 及以上)、RAM(8G 及以上)、固态硬盘(250G 及以上)、网卡、USB 接口、DVD 光驱、 VGA 接口、预装 Windows 7 操作系统、铁电分析仪测试软件等。每一款仪器都配备精度高的电阻、电容测试模块。可实现仪器的自行校准，让测试数据完善！优点1高频率的测量提升了内置放大器的输出频率、采用FPGA高速采集，实现电滞回线可达500KHz的测试频率。可达40M的高速采集。同时内置的高速信号发生装置，硬件支持脉冲100ns的波形触发，极大提升了脉冲测试速度。优点2多项测量功能比现有的铁电分析仪，增加了TSDC、热释电、电卡、阻抗、电阻、击穿等测量功能。预留4通道高速接口，方便扩展高低温测试环境。优点3质量管控严格做好每一款产品质量把控，从原器件采购、到生产过程的质量控制,到产成品计量检测,严格质量把控,实现生产合格的科研仪器。优点4售后服务体系 整机保修三年，7X24小时在线服务。预装远程服务软件，实现远程升级、维护等。

高温介电温谱其它物性测试仪一、概述：高低温介电常数适用于各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下，测量介质在该环境温度下的介电常数。二、技术指标：1、电极直径：6mm 数量：4个 2、电机屏蔽：内径--304不锈钢 外径--聚四氟3、测试电极：四通道，可以同时测试4路试样4、切换频率：可以自由设定试样切换时间5、试验方式：手动模式 自动模式6、试验数据：可导出测试原始数据，同时可以输出测试曲线及打印试验报告7、测量频率：以实际电桥为准8、温度范围：-180°~500°9、加温速率：0.5℃--2.5℃/min10、数 据 线：铜镀银，低温屏蔽线10、机 箱：Q235钢板表面高温喷塑而成11、仪器供电：AC:220V 50Hz 功率：2KW12、测试电桥：安捷伦429413、试验环境：请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。仪器使用时应远离强电磁场，以免干扰实验结果。三、整机组成：1、加温装置：采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成，有着良好地保温隔热和升温性能2、低温装置：采用液氮低温技术，使实验舱温度降到-190°.3、控制系统：可实现对温控升温、降温控制，同时对4路试样进行切换，实时测控测试数据4、LCR电桥：20HZ-2MHZ

美国Polyk Technologies公司研发了高电场下的频谱介电测量系统，更好的解决了非线性介电响应问题。非线性介电响应： -当通过LCR Meter或者分析仪（Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A）测量介电常数时，加载电压通常1V左右；然而，很多压电陶瓷（PZT）和高分子（PVDF）对于加载的电场具有非线性响应；通常它们的介电常数和损耗因子在高压下变得更低。 -在很多应用中，例如电容器和驱动器，介电层10V/um或者100V/um的高电场下工作，它们的有效介电常数和损耗tanδ是非常不用于普通LCR Meter和阻抗分析仪的测量值@1Vrms。 -在介电测试过程中直接加载一个高压信号，如果样品突然发生介电击穿，这对于昂贵的LCR Meter有很大的损坏风险。因此美国Polyk Technologies公司研发了此款宽频谱介电测量系统，有效的避免了上述问题的发生。技术规格：1）大电压：±4000V；2）大电流：±20mA；3）频率范围：100Hz to 1MHz；4）电容范围：100pF to 100nF；5）温度范围：-184℃ to 250℃；6）温度控制腔室：-75℃ to 200℃；（可选）7）温度控制腔室：室温 to 1000℃；（可选）8）宽频范围：20 Hz to 1 MHz or 110 MHz, or 0.01 Hz to 1 MHz(与配备的阻抗分析仪相关) （可选）9）Large AC信号单元；（可选）欢迎垂询！

DZ5001介电常数测试仪产品介绍:介质损耗和介电常数是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。DZ5001介电常数测试仪应用范围：测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差±1 pF或1%分辨率0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有　自动扣除功能：1.大电容值直接测量显示功能：测量值可达25nF2.介质损耗系数：精度万分之一/LCD直接显示3.介电常数：精度千分之一/LCD直接显示4.材料测试厚度：0.1mm-10mm独有技术：1.仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。2.大电容值直接测量显示。3.数显微测量装置，直接读值。参照国标:GB/T1693-2007

薄膜GB1409介电常数测试仪HRJD概述：是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切 tanδ 及介电常数（ε ），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。薄膜GB1409介电常数测试仪HRJD测试原理：采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q 值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至，并保留了原Q 表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q 值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。本测试装置是由二只测微电容器组成，平板电容器一般用来夹持被测样品，园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF 的线性可变电容器，配用仪器作为指示仪器，绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q 值变化，由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数薄膜GB1409介电常数测试仪HRJD技术指标：1、Q 值测量范围：2～10232、Q 值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；3、电感测量范围：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能 4.5nH-100mH 分别有 0.1μ H、0.5μ H、2.5μ H、10μ H、50μ H、100μ H、1mH、5mH、10mH 九个电感组成。4、电容直接测量范围：1～460pF5、主电容调节范围： 30～500pF6、电容准确度 150pF 以下±1.5pF；150pF 以上±1%7、信号源频率覆盖范围 10KHz-70MHz （双频对向搜索 确保频率不被外界干扰）另有 GDAT-C 频率范围 100KHZ-160M8、型号频率指示误差：1*10-6 ±1，Q 值合格指示预置功能范围：5～1000 Q 值自动锁定，无需人工搜索9、Q 表正常工作条件a. 环 境 温 度 ：0℃～+40℃ b．相对湿度：80％；薄膜GB1409介电常数测试仪HRJD安全操作规程本仪器必须有专人负责保管，使用，非专职操作者应在使用前了解和熟悉本说明书，以免造成不必要的损失和事故。每次使用前应仔细检查接地线是否完好，确保以后方可通电使用。接通电源前应将灵敏度开关调到Z低位置。测量试品前应先对试品进行高压试验，证明在电桥工作电压下无噪声，电离等现象出现，然后才能进行测试（若试品己做过高压试验，该项可不必每次测量都做）。对试品施加高压时缓慢升高，不可以加突变电压。测试时操作人员必须集中思想，工作前做好一切准备工作，测试地点周围应有明显的标记或金属屏蔽围成高压危险区，以防止非操作人员闯入。在测量过程中，如有放电管发光时，则必须及时切断电源，仔细检查接线及试品都无击穿，待检查排除故障后，再进行高压测量工作。操作方法薄膜GB1409介电常数测试仪HRJD测试前的准备工作连接标准电容Ｃｎ（选用外接标准电容时），与被测电容Ｃｘ，并且将标准电容与被测电容尽可能远离，以防止互相之间干扰。如选用内部标准电容器，只需连接被测试品即可。检查周围是否有强电磁场干扰，应尽量避免。检查大地线是否牢靠，以保证操作人员的安全，应检查电桥上的（⊥）与大地是否接触良好。表征介质材料的介电性质或极化性质的物理参数。其值等于以欲测材料为介质与以真空为介质制成的同尺寸电容器电容量之比，该值也是材料贮电能力的表征。也称为相对电容率。不同材料不同温度下的相对介电常数不同，利用这一特性可以制成不同性能规格的电容器或有关元件。介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场，原外加电场(真空中)与最终介质中电场比值即为介电常数(permittivity),又称诱电率。如果有高介电常数的材料放在电场中，场的强度会在电介质内有可观的下降。信号源范围DDS数字合成信号：10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比： 7000:1信号源频率精度6位有效数： 3×10-5 ±1个字 采样精度： 12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围： 1-1000自动/手动量程Q分辨率： 4位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差： 5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差 ： 3%调谐电容 ： 主电容17-240pF (一体镀银成型,精度高)电容自动搜索 ：是(带步进马达)电容直接测量范围： 1pF～25nF调谐电容误差： ±1 pF或1%分辨率： 0.1pF谐振点搜索： 自动扫描Q合格预置范围： 5-1000声光提示Q量程切换： 自动/手动LCD显示参数：F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感的： 有自动扣除功能大电容值直接测量显示功能： 测量值可达25nF介质损耗系数： 精度 万分之一 / LCD直接显示介电常数： 精度 千分之一 / LCD直接显示材料测试厚度： 0.1mm-10mm技术：仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置，直接读值。当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。介电常数测量仪/介电常数检测仪该方法降低了或消除了样本的电极需求。厚度必须进行测定，测量时，在电学测量所用的样本区域上进行系统性地分布测量，厚度测量值均匀性应在±1%的平均厚度之内。如果样本整个区域将被电极覆盖，同时如果已知材料密度，可通过称量法来测定平均厚度。样本直径选择应使得能提供一个具有要求精度的样本电容测量值。采用受到良好保护和遮蔽的装置，将没有困难测量电容为10pF，分辨率为1/1000的样本。相对电容率。不同材料不同温度下的相对介电常数不同，利用这一特性可以制成不同性能规格的电容器或有关元件。绝对介电常数ε0是一个电磁学物理常数。

高温介电频谱其它物性测试仪GCWP-A(一、概述：高低温介电常数适用于各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下，测量介质在该环境温度下的介电常数。二、技术指标：1、电极直径：6mm 数量：4个 2、电机屏蔽：内径--304不锈钢 外径--聚四氟3、测试电极：四通道，可以同时测试4路试样4、切换频率：可以自由设定试样切换时间5、试验方式：手动模式 自动模式6、试验数据：可导出测试原始数据，同时可以输出测试曲线及打印试验报告7、测量频率：以实际电桥为准8、温度范围：-180°~500°9、加温速率：0.5℃--2.5℃/min10、数 据 线：铜镀银，低温屏蔽线10、机 箱：Q235钢板表面高温喷塑而成11、仪器供电：AC:220V 50Hz 功率：2KW12、测试电桥：安捷伦429413、试验环境：请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。仪器使用时应远离强电磁场，以免干扰实验结果。三、整机组成：1、加温装置：采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成，有着良好地保温隔热和升温性能2、低温装置：采用液氮低温技术，使实验舱温度降到-190°.3、控制系统：可实现对温控升温、降温控制，同时对4路试样进行切换，实时测控测试数据4、LCR电桥：20HZ-2MHZ

塑料介电温谱测定仪GCWP-A-高低温介电温谱/频谱测量系统一、概述：高低温介电常数适用于各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下，测量介质在该环境温度下的介电常数。二、技术指标：1、电极直径：6mm 数量：4个 2、电机屏蔽：内径--304不锈钢 外径--聚四氟3、测试电极：四通道，可以同时测试4路试样4、切换频率：可以自由设定试样切换时间5、试验方式：手动模式 自动模式6、试验数据：可导出测试原始数据，同时可以输出测试曲线及打印试验报告7、测量频率：以实际电桥为准8、温度范围：-180°~500°9、加温速率：0.5℃--2.5℃/min10、数 据 线：铜镀银，低温屏蔽线10、机 箱：Q235钢板表面高温喷塑而成11、仪器供电：AC:220V 50Hz 功率：2KW12、测试电桥：安捷伦429413、试验环境：请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。仪器使用时应远离强电磁场，以免干扰实验结果。三、整机组成：1、加温装置：采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成，有着良好地保温隔热和升温性能2、低温装置：采用液氮低温技术，使实验舱温度降到-190°.3、控制系统：可实现对温控升温、降温控制，同时对4路试样进行切换，实时测控测试数据4、LCR电桥：20HZ-2MHZ

瓷器介电温谱常数测定仪GCWP-A.高低温介电温谱/频谱测量系统一、概述：高低温介电常数适用于各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下，测量介质在该环境温度下的介电常数。二、技术指标：1、电极直径：6mm 数量：4个 2、电机屏蔽：内径--304不锈钢 外径--聚四氟3、测试电极：四通道，可以同时测试4路试样4、切换频率：可以自由设定试样切换时间5、试验方式：手动模式 自动模式6、试验数据：可导出测试原始数据，同时可以输出测试曲线及打印试验报告7、测量频率：以实际电桥为准8、温度范围：-180°~500°9、加温速率：0.5℃--2.5℃/min10、数 据 线：铜镀银，低温屏蔽线10、机 箱：Q235钢板表面高温喷塑而成11、仪器供电：AC:220V 50Hz 功率：2KW12、测试电桥：安捷伦429413、试验环境：请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。仪器使用时应远离强电磁场，以免干扰实验结果。三、整机组成：1、加温装置：采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成，有着良好地保温隔热和升温性能2、低温装置：采用液氮低温技术，使实验舱温度降到-190°.3、控制系统：可实现对温控升温、降温控制，同时对4路试样进行切换，实时测控测试数据4、LCR电桥：20HZ-2MHZ

FWJD-600型粉末高温介电温谱仪关键词：介电常数，粉末，液体，块体三个支持：货到验收后付款，支持免费上门培训，支持来样测试随着固体粉末在化工、航天、医药、食品、塑料制品等行业越来越广泛的应用，必然需要更多、更精确的以工艺过程控制、产品混合均匀度测试、物料含量检测等为目的的仪器，以期优化产品的过程控制、提高产品质量，FWJD-600型粉末高温介电温谱仪是一款新型的高温介电温谱测试系统，应用于粉末，薄膜，块体和液体的高温介电常数测试，是研究不同材料在高温环境下随温度(T)、频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律：电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø )、电导(B)、导纳(Y)、损耗(D)、品质因数(Q)等参数，同时计算获得反应材料介电性能的复介电常数和损耗参数。是科研机关﹑学校、工厂等单位对无机非金属新材料应用研究的重要设备。设计标准：ASTM D150和D2149-97国际标准GB/T1409-2006国家标准一、主要特点：1、可以兼容粉末，陶瓷，液体等多种不同物理性质的样品测试2、变频抗干扰介质损耗测试仪采用复数电流法，测量电容、介质损耗及其它参数。测试结果精度高，便于实现自动化测量。3、仪器采用了变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。4、仪器操作简便，测量过程由微处理器控制，只要选择好合适的测量方式，数据的测量就可在微处理器控制下自动完成。5、反接线测试采用ivddv技术,消除了以往反接线数据不稳定的现象6、具有反接线低压屏蔽功能，在220kVCVT母线接地情况下，对c11可进行不拆线10kV反接线介损测量二、主要技术参数：1、温度范围：室温-600℃，800℃，1000℃（可以定制）2、控温精度：全温区范围内≤±0.3℃3、测温精度：0.1℃4、频率：10HZ-120MHZ5、电极结构：全新三电极创新设计6、控温模式：常温，恒温，高温，多种组合7、校准方式：自带设备校准功能，确保精度8、测试电极：铂依金电极+转换电极9、屏蔽：同轴线缆屏蔽，消除电磁干扰对测试影响10、介电夹具：专用粉末夹具，薄膜夹具，陶瓷三件套11、软件功能：频率、电压、偏压、温度、时间多维变化曲线，数据导入，曲线成图自动生产12、数据传输方式：高速USB13、设备尺寸：550MM*560MM*750MM 应用于测试的各种特种陶瓷粉末等兼容国内外各种仪表

产品描述 设备主要利用微波测试原理，非接触式测量射频HEMT结构半导体材料的方阻、迁移率及载流子浓度。可实现单点测试，亦可以实现面扫描的测试功能，具有快速，无损，准确等优势，可用于材料研发及工艺的监测及质量控制。特点 适用于迁移率量测范围在100cm² /V s～3000cm² /V s 的射频HEMT外延片。非接触，非损伤测试，具有测试速度快，重复性佳，测试敏感性高，可以直接测试产品片等优点。经过测试的材料包括石墨烯：单层、双层、多层；墨水；掺杂；在SiC上的外延层；粉末和片状；氧化石墨烯PEDOT碳纳米管ITONbCIZOALD-ZnOGaNMoS旋涂光阻

冠测介电温谱频谱测量系统GCWP-A1、电极直径：6mm 数量：4个2、电机屏蔽：内径--304不锈钢 外径--聚四氟3、测试电极：四通道，可以同时测试4路试样4、切换频率：可以自由设定试样切换时间5、试验方式：手动模式 自动模式6、试验数据：可导出测试原始数据，同时可以输出测试曲线及打印试验报告7、测量频率：以实际电桥为准8、温度范围：-180°~500°9、加温速率：0.5℃--2.5℃/min10、数 据 线：铜镀银，低温屏蔽线10、机 箱：Q235钢板表面高温喷塑而成11、仪器供电：AC:220V 50Hz 功率：2KW12、测试电桥：安捷伦429413、试验环境：请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。仪器使用时应远离强电磁场，以免干扰实验结果。冠测仪器温谱介电常数测定仪GCWP-A

玻璃介电温谱其它物性测试仪器GCWP-A+一、概述：高低温介电常数适用于各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下，测量介质在该环境温度下的介电常数。二、技术指标：1、电极直径：6mm 数量：4个 2、电机屏蔽：内径--304不锈钢 外径--聚四氟3、测试电极：四通道，可以同时测试4路试样4、切换频率：可以自由设定试样切换时间5、试验方式：手动模式 自动模式6、试验数据：可导出测试原始数据，同时可以输出测试曲线及打印试验报告7、测量频率：以实际电桥为准8、温度范围：-180°~500°9、加温速率：0.5℃--2.5℃/min10、数 据 线：铜镀银，低温屏蔽线10、机 箱：Q235钢板表面高温喷塑而成11、仪器供电：AC:220V 50Hz 功率：2KW12、测试电桥：安捷伦429413、试验环境：请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。仪器使用时应远离强电磁场，以免干扰实验结果。三、整机组成：1、加温装置：采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成，有着良好地保温隔热和升温性能2、低温装置：采用液氮低温技术，使实验舱温度降到-190°.3、控制系统：可实现对温控升温、降温控制，同时对4路试样进行切换，实时测控测试数据4、LCR电桥：20HZ-2MHZ

ASTM D149介电强度/GB/T1408击穿强度测试仪（ZJC-50-150KV）在强电场中工作的绝缘材料，当所承受的电压超越一临界 值V穿时便丧失了绝缘材料性能而被击穿，这种现象称为 电介质的击穿，V穿称为击穿电压。 &bull 采用相应的击穿场强来比较各种材料的耐击穿能力，材料 所能承受的最大电场强度称为材料的抗电强度或介电强度， 其数值等于相应的击穿场强（V/m）： E穿 =V穿/d参数介绍：1、输入电压：AC220V 50Hz 2、输出电压：AC：0～150kV； DC：0～150kV3、输出功率：15kVA4、测量范围：AC15～150kV； DC15～150kV5、测量误差： ≤2％6、升压速率： 0.5kV/s～10kV/s7、耐压时间：0～8H8、漏电流： 1～30 mA可由计算机软件自由进行设定9、电源 ：交流220V±10%的单相交流电压和50Hz±1%的频率10、试验环境温度：15 ～ 30℃，相对湿度：0～85%能够稳定运行。11、外形尺寸长×宽×高：1980mm×1220 mm×1750mm（参考）12、设备自重：1500Kg（参考）13、接地要求仪器需要单独接地，接地附合国家标准要求，金属棒深埋地下至少要1.5米以下14、型号：ZJC-150kV影响材料击穿电压的因素： &bull 材料本身的性质：固体介质的击穿同时伴随着材 料的破坏，而气体及液体介质被击穿后，随着外 电场的撤销仍然能恢复材料性能。 &bull 外界因素：试样和电极的形状、外界的媒介、温 度、压力等。电介质的击穿形式：介质在电场中击穿现象相当复杂，一 个器件的击穿可能有多种击穿形式，主要有： &bull 电击穿 &bull 热击穿 &bull 化学击穿 对于任意一种材料，这3种形式的击穿都可能发生，主要 取决于试样的缺陷情况及电场的特征（交流和直流，高频 和低频，脉冲电场等）以及器件的工作条件。1、电击穿 在强电场的作用下原来处于热运动状态的少数“自由电子”将沿反电场方向 定向运动。在其运动过程中不断撞击介质内的离子，同时将其部分能量转 给这些离子，当外加电压足够高是，自由电子定向运动的速度超过一定临 界值可使介质内的离子电离出次级电子，这些电子都会从电场中吸取能量 而加速，又撞击出第三级电子，连锁反应将造成大量自由电子形成 “雪 崩”，导致介质的击穿，这个过程大概只需要10－7－10－8s的时间，因此 电击穿往往是瞬息完成的。2、热击穿绝缘材料在电场下工作时由于各种形式的损耗，部分电 能转变成热能，使介质被加热，若器件内部产生的热量 大于器件散发出去的热量，则热量就在器件内部积聚， 使器件温度升高，升温的结果进一步增大损耗，使发热 量进一步增多，这样恶性循环的结果使器件温度不断上 升，当温度超过一定限度时介质会出现烧裂、熔融等现 象而完全丧失绝缘能力，这就是介质的热击穿。3、化学击穿长期运行在高温、潮湿、高电压或腐蚀性气体环境 下的绝缘材料往往会发生化学击穿，化学击穿和材 料内部的电解、腐蚀、氧化、还原、气孔中气体电 离等一系列不可逆变化有很大的关系，而且需要相 当长时间，材料被“老化”，逐渐丧失绝缘性能， 最后导致被击穿而破坏。化学击穿的机理：（1）在直流和低频交变电压下，由于离子式电导引起电解过程，材料中发 生电还原作用，使材料的电导损耗急剧上升，最后由于强烈发热成为热化 学击穿； （2）当材料中存在着封闭气孔时，由于气体的游离放出的热量使器件温度 迅速上升，变价金属氧化物在高温下金属离子加速从高价还原成低价离子， 甚至还原成金属原子，使材料电子式电导大大增加，电导的增加反过来又 使器件强烈发热，导致最终击穿。影响抗电击穿的因素：（1）温度 &bull 温度对电击穿影响不大； &bull 对热击穿影响较大，温度升高使材料的漏导电流增大，损耗增大，发热量增 加，促进了热击穿的产生； &bull 环境的温度升高使器件内部的热量不容易散发，进一步加大了热击穿倾向。 &bull 温度升高使材料的化学反应加速，促使材料老化，加快了化学击穿的进程。 （2）频率 &bull 频率对热击穿有很大的影响，在一般情况下，如果其他条件不变，则E穿与 频率w的平方根成反比，即：抗电强度的测量与应用：在特定的条件下进行，国标GB1408规定 了固体电工材料频击穿电压，击穿场强，耐电压 的实验方法。对试样的尺寸，电极的形状，加压 方式等都做了规定。

概述介电法固化监测仪通过测量介电性能以确定热固性材料的固化状态和粘度，同时提供对化学、反应速率、配方和物理参数的表征和监测。电介质固化监测是唯一可用于研发、质量保证/质量控制和制造的方法，使定量信息易于应用并易于转移到聚合物加工的各个环节。○ 配方、反应速率和固化研究○ 扩散研究○ 固化和工艺开发/监控○ 材料测试○ 统计质量控制根据不同的应用需求，我们提供单通道-介电法固化检测仪、双通道-介电法固化检测仪、四通道-介电法固化检测仪、八通道-介电法固化检测仪，为多种不同的应用需求提供解决方案。 测试原理符合相关的标准：ASTM E 2038，ASTM E 2039 等相关国际标准用于介电固化监测的传感器通常有两种：平行板电极和十指交叉式的梳型电极。平行板电 极是一种传统几何形状的介电传感器。样品置于两个导电平行板之间，在一侧电极上施加一 定频率的激发电压，在另一侧电极上检测响应信号。这一构造的电极可以测试样品的整体介 电性能，广泛的用于测试固体材料的介电性能，同时它还可以十分便利的放在密闭磨具中进 行固化监测。十指交叉梳式电极由两个导电梳型电极和点绝缘性平面基材组成(由聚酰亚胺 Kapton 或其他耐高温绝缘材料)。样品与传感器表面紧密接触，在一侧电极上施加一定频率 的电压，另一侧电极检测响应信号，这种边缘区域测试的位置非常接近传感器/样品的界面 区域，传感器插入样品的深度严格等同电极之间的宽度和电极之间的间距。然而，由于压力的作用，或者由于板块之间的物质膨胀或收缩，板块之间的距离可能会改 变。因此，很难校准平行板电极来提供介电常数和离子粘度的绝对值。基片上的交错电极可以代替平行板电极，如上所示。交错电极的平面结构不随压力或被 测材料的膨胀和收缩而改变。因此，交错电极可以准确地测量介电常数和损耗因子。测试过程中，置样品于两个电极之间，在一侧电极上施加正弦的激发电压，材料中的偶极子就会在电场中取向，离子向不同极性的电极移动，在另一侧的电极可以测得正弦感应信号。由于感应信号的相位变化和振幅衰减与材料中离子的移动性和偶极子的取向有关，从而可计算出材料的介电常数和损耗因子（在激发频率、电极面积、电极间距、响应频率的振幅和相位都知道的情况下，介电常数和介电损耗因子就能计算得到）。通过损耗因子可以得到材料的离子电导率，由于离子电导率本质上是材料中离子的移动能力，而离子移动能力的倒数在材料固化前与材料的粘度有关，材料固化后与材料的硬度有关，因此离子电导率的倒数，即电阻与材料的粘度变化和硬度变化有关。通过测定材料在一定工艺下的介电性质(如介电常数和损耗因子)，可以得到粘度，反应速率，固化状态等一系列高分子材料的性质。固化材料的离子粘度曲线和斜率 第一阶段：一开始，随着温度的升高，离子的粘度会降低(图中黑色曲线)，因为热固性聚合物正在熔化，变得流动性更强，因此电阻性更小，粘度更低。反应速率随着材料温度的升高而增加，有时由于交联而增加的离子粘度超过了由于熔化而降低的离子粘度。这一点是最低离子粘度，这也发生在最低机械粘度的时候(图中 CP2 点)。第二阶段：最低值点后，离子粘度不断增加，直至未反应单体浓度降低，反应速率降低 因此离子粘度的斜率也随之减小(CP3 点为斜率变化的拐点)，当固化完全停止时，离子粘度的斜率最终为零(CP4 点)。四个临界点表征介电曲线:CP(1)-用户定义的离子粘度水平，通常用于在固化开始时确定物质流动的开始。CP(2) -离子粘度最小值，也对应于机械粘度最小值。这一临界点表示由交联引起的粘度增加超过熔解引起的粘度下降的时间。CP(3) -拐点，表示交联反应开始减慢的时间。CP(3)常被用作与凝胶有关的指示点。CP(4)-斜率趋于为 0，可以定义固化的结束。介电固化检测的意义： 对于研发应用，电介质固化监测：o 观察新配方对反应速率和固化时间的影响。o 观察不同固化温度下反应速率和固化时间的变化。o 通过测量和记录固化和粘度信息来控制变化过程。对于 QA/QC 应用，电介质固化监测可实现: o 对来料进行测试，以确定其新鲜度和固化时间，并监控批次之间的一致性。o 对出厂产品进行测试，确认固化时间，监控批次与批次之间的一致性。o 为统计过程控制(SPC)编制进料和出料质量文件。对于制造应用，电介质固化监测：o 识别粘度最小时间以应用压力来压缩层合板或消除气穴。o 确定固化终点，减少处理时间和精力，提升生产效率和成品率。 根据您的应用需求，我们提供完美的解决方案：LT-451系列LT-451是一款多功能仪器，专为涉及热固性材料的研发、质量保证/质量控制和制造而设计使用热固性塑料的团队可以同时利用LT-451与CureView 数据采集软件和一次性或可重复使用的传感器，以便在固化的每个阶段收集关于材料的精确、关键数据，例如电阻率和离子粘度。LTF-631系列LTF-631专为涉及热固性材料的研发、质量保证/质量控制和制造中的快速反应材料而设计使用快速固化材料（例如 UV 固化薄膜和片状模塑料 (SMC)）的用户可以利用LTF-631获得有关这些材料的深入数据，包括有关固化行为的最全面的可用数据集LT-439系列一种经济高效的紧凑型仪器，应用于大规模研发、质量保证/质量控制以及热固性材料（如树脂、复合材料、油漆和涂料）制造中的固化测量LT-439适用于大多数介电和电导传感器。LT-439的测量结果可以上传到任何控制网络。每台LT-439仪器支持一个介电传感器和一个热电偶，但一条线路上最多可以连接256个介电通道。该仪器可灵活使用，无需复杂的布线，并且允许在大型部件的任一点对材料状态进行同步、多通道固化测量。 LT-439 是生产超大部件制造商的理想选择，例如航空航天部件和风力涡轮机叶片。LT-440系列唯一一款兼具交流和直流测量功能的固化测量仪器Linseis长期以来一直生产具备交流测量功能的仪器，但LT-440介电固化监测仪增加了直流测量功能， 适用于任何场合。增加直流测量功能可提供有关极强电阻材料（如硅树脂）在固化结束时的准确数据。在这种情况下，直流测量可以更快地提供更准确的固化数据。对于使用其他直流测量解决方案的用户来说，LT-440提供了附加的交流测量工具集，适用于需要通过真空袋和离型膜进行测量，而直流测量不起作用的应用。使用直流测量的用户同时还能够利用交流测量以更准确地跟踪整个固化过程。 多种传感器的选择：可重复使用传感器示例一次性传感器示例信息LT-451 系类多功能介电法固化检测仪LT-451A1-通道/工作站LT-451B2-通道/工作站LT-451C4-通道/工作站LT-451D8-通道/工作站LTF-631 系列高速介电法固化监测仪LTF-631A1-通道/工作站LTF-631B2-通道/工作站LTF-631C4-通道/工作站LTF-EXT-FREQ-EF可选拓展频率(1, 3, 300, 3 K Hz)LT-439系列LT-439A-1标准频率 (10, 100, 1K, 10K Hz)LT-439A-EXP-1可选拓展频率(1-100K Hz)Misc.应用附件LT-4203A-150C平行板测试夹具 (150℃)LT-4203A-200C平行板测试夹具(200 ℃)LT-4123液体池(60 ℃)LTP-250P热压机（1500磅，最高温度350℃，无温度控制器）LTP-250PTC热压机（1500磅，最高温度350℃，有温度控制器） 以下为可选用装饰性图片：

国标GBT1409介电常数试验仪测量范围及误差 本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30％－80％条件下，应满足下列表中的技术指示要求。 在Cn＝100pF R4＝3183.2（W）（即10K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF 介质损耗tgd 0～1 ±1.5％tgdx±0.0001 在Cn＝100pF R4＝318.3（W）（即1K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF 介质损耗tgd 0～0.1 ±1.5％tgdx±0.0001国标GBT1409介电常数试验仪电桥测量灵敏度 电桥在使用过程中，灵敏度直接影响电桥平衡的分辨程度，为保证测量准确度，希望电桥灵敏度达到一定的水平。通常情况下电桥灵敏度与测量电压，标准电容量成正比。在下面的计算公式中，用户可根据实际使用情况估算出电桥灵敏度水平，在这个水平上的电容与介质损耗因数的微小变化都能够反应出来。 DC/C或Dtgd=Ig/UwCn(1+Rg/R4+Cn/Cx) 式中：Ｕ为测量电压 伏特（Ｖ）ω为角频率 2pf=314(50Hz) Ｃｎ标准电容器容量 皮法（pＦ） Ｉｇ通用指另仪的电流5X10-10 安培（Ａ） Ｒｇ平衡指另仪内阻约1500 欧姆（W） Ｒ４桥臂R4电阻值3183 欧姆（W） Ｃｘ被测试品电容值 皮法（ｐF）3 电容量及介损显示精度： 电容量： ±0.5%×tgδx±0.0001。 介 损： ±0.5％tgdx±1×10-44 辅桥的技术特性： 工作电压±12V，50Hz 输入阻抗1012　W 输出阻抗0.6 W 放大倍数0.99 不失真跟踪电压 0～12V（有效值）5 指另装置的技术特性： 工作电压±12V 在50Hz时电压灵敏度不低于1X10-6V／格， 电流灵敏度不低于2X10-9A／格 二次谐波 减不小于25db 三次谐波 减不小于50db特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大，绝缘能力越强？因为物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说，介电常数越大，绝缘性能就越好。注：这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。国标GBT1409介电常数试验仪但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。对于时变电磁场，物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数国标GBT1409介电常数试验仪介电常数,用于衡量绝缘体储存电能的性能.它是两块金属板之间以绝缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。介电常数代表了电介质的极化程度，也就是对电荷的束缚能力，介电常数越大，对电荷的束缚能力越强。电容器两极板之间填充的介质对电容的容量有影响，而同一种介质的影响是相同的，介质不同，介电常数不同国标GBT1409介电常数试验仪介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好 [1] 。概念：电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。 [2]3）电离损耗　　电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。4）结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。

GWJDN-4型高低温介电温谱测量系统关键词:四通道，温度：-190℃-1000℃，120MHZGWJDN-4型四通道同屏高温介电温谱测量系统运用三电极法设计原理测量，并参考美国 A.S.T.M 标准。采用Labview系统开发具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合压电陶瓷与其它新材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制，当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数据，设备重新启动后可恢复原有试验数据。用于分析宽频、高低温条件下样品的介电系数、阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，得到这些变化曲线的频率谱、温度谱、介电谱曲线。可广泛应用于铁电压电陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究。产品特点：1、 提供多方位的测量功能和多元化的价位, 拥有更出色的测量精度:匹配国内外先进阻抗分析仪是采用当前国际先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，其0.05%的基本精度、最快达5.6ms的测试速度、10Hz-300MHz的频率范围及高达1GΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。2、 采用Labview系统开发具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置。自动升温降温，测试功能强大3、 四通道同时测量,提高效率,增加对比测试的精度 材料与结构匹配设计夹具,高低温稳定性好、精度高 温介电频谱测试功能；变温阻抗测试功能；扫频测试功能；软件：采用C#语言编写，可视化程度高，自动测试，同时显示四通道的测试数据，并图形化。4、 专用高频测试线缆，更适合高频测量：测试引线使用4端子对配置以扩展测量端口，附带BNC阳头连接板，用于连接高温炉的测试夹具，同时测试线采用高频测试专用测试线，设计两层屏蔽。更适合高频介电参数测量。5、 可以实现多种材料不同功能的测试，高温介电，电阻测试等探测采用高精度铂金电极，抗干扰能力强，测量精度高高温炉加热均匀，可实现多种气氛环境下的测试介电系数、阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，得到这些变化曲线的频率谱、温度谱、介电谱曲线，多种物理参数可实时测试专用的分析和测试软件，可以自行定义，保存数据主要技术参数：1、温度范围： -190℃-1000℃2、测温精度： 0.1℃3．升温速度： 1—20℃/min4、控温模式： 程序控制，提供常温、变温、恒温、升温、降温等多种组合方式5、通讯接口： RS-4858、电极材质： 铂铱合金9、上电极： 直径1.6mm球头电极，引线带同轴屏蔽层10、下电极：直径26.8mm平面电极，引线带同轴屏蔽层11、保护电极： 带保护电极，消除寄生电容、边界电容对测试的影响12、电极干扰屏蔽:电极引线带同轴屏蔽，样品平台带屏蔽罩13、夹具升降控制： 带程序和手动控制，可更换夹具的电动升降装置14、热电偶 ：热电偶探头与样品平台为同一热沉，测控温度与样品温度保持一致15、无电极样品尺寸：直径小于40mm，厚度小于8mm16、带电极样品尺寸： 直径小于26mm，厚度小于8mm17、软件功能：自动分析数据，可以分类保存，样品和测量方案结合在一起，生成系统所需的实验方案，输出TXT、XLS、BMP等格式文件18、测量方案： 提供灵活、丰富的测试设置功能，包括频率谱、阻抗谱、介电谱及其组合19、标准极化样品：8片（10mm*1.5mm） 20、配套设备装置：能够配合ZJ-3和ZJ-6压电测试仪进行测量21、配套设备装置：可以配置10MM，20MM，30MM，40MM压片夹具23、测试频率：20HZ-10MHZ24、测试电平:100mV—2V25、分辨率：1MHZ26、输出阻抗: 100Ω27、测试参数：Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、Vac、Iac、Rdc、Vdc、Idc28、基本准确度: 0.05%29、显示:液晶显示30、参数测量：多功能图形和参数测量31、接口方式: RS232C或HANDLER测试仪器：高温介电测试系统可适配Agilent E4990A/E4294A/E4980A、Wayne Kerr 6500P/B、Tonghui TH2838/TH2839/TH2826/TH2828/TH2829/TH2827等系列LCR表或阻抗分析仪，其他品牌型号也可定制开发Agilent E4990A 五种频率选择；20 Hz 至 10/20/30/50/120 MHz，可升级 ±0.08%（典型值 ±0.045%）基本阻抗测量精度 25Ω m 至 40 MΩ 宽阻抗测量范围（10% 测量精度范围） 测量参数：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、复合 Z、复合 Y、VAC、Iac、VDC、Idc 内置直流偏置范围：0 V 至 ±40 V、0 A 至 ±100 mA 10.4 英寸彩色 LCD 触摸屏上的 4 通道和 4 迹线 数据分析功能：等效电路分析、极限线测试Agilent E4294A覆盖了很宽的测试频率范围(40hz至110mhz)，具有±0.08%的基本阻抗精度。其优异的高q值/低d值精度使其能分析低损耗元件。其宽信号电平范围可用于在实际工作条件下评估器件。测试信号电平范围为5mv至1vrms或200ua至20marms，直流偏置范围为0v至±40v或0ma至±100ma。先进的校准和误差补偿功能避免了进行夹具内器件测量时的测量误差。agilent 4294a是适用于电子元件设计、论证、质量控制和生产测试的强大工具。电路设计和开发工程师也能从它提供的性能和功能中受益。Agilent E4980A 基本精度为0.1%测试频率为100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz量程为20mV～1Vrms,以5mVrms分档具有测试信号电平监视功能高速测量:25ms高速接触检查大的电容测试量程变压器参数测量(供选用)Wayne Kerr 6500P/B简易的TFT触屏操作，10分钟内轻易上手　　电介质、压电片及石英晶体测试解决方案　　30 ms超高速测试速度　　等效Rdc 可高度精准四线式测试，量测到0.01mΩ　　0.05%基本精确度　　可内建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias　　可将测试波形储存成CSV格式，放大、缩小及MARKER功能　　20Hz~120MHz，七种机型，可随时升级 ，最高升级到120MHz　　直觉的用户操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER　　可使用鼠标及键盘操控，也可外接打印机及使用USB接口储存数据　　具等效电路仿真功能，内建同频率LCR Meter一台 Tonghui TH29系列测试频率:20Hz-1MHz，分辨率:最高0.1nHz基本精度:0.05%测试速度:最快5.6ms/次测试原理:自动平衡电桥高稳定性和一致性:高达15个测试量程配置

前言精准农业是近年来国际农业科学研究的热点领域，也是当今世界农业发展的新潮流。研究人员希望通过精准农业技术体系的使用降低生产成本, 提高和稳定农产品产量和质量, 增加经济收入, 减少环境污染。 土壤中的盐分、水分、有机质含量、土壤压实度、质地结构等，均不同程度影响土壤电导率变化。通过测定土壤电导率，可为分析产量、评价土壤生产能力、制定精准施肥处方提供重要依据。传统的样方抽样调查不仅费时费力，还由于抽样密度过低不能真实反应地块土壤特性的时空变化，对于大尺度调查而言与机动车辆相结合的拖曳式土壤电导率测量系统无疑是最佳选择。 该系统既可以由拖拉机或皮卡进行拖曳作业（需选配支架），又可安装在播种机等农机具上——在耕种作业的同时完成对农用地的勘查，灵活而便捷；随后推出附加土壤温度和湿度传感器的升级版iSCAN+系统（温度和湿度是种子发芽和出苗非常重要的影响因子）。 通过实地原位测量土壤电导EC、OM值、温度和湿度值，利用GPS定位和数据处理测绘软件（收费数据处理服务），绘制出土壤理化性质分布图，全面分析反映土壤质地、盐碱度、持水能力、阳离子交换能力、根系深度等。适用于精准农业、土壤调查和碳汇农业（土壤碳储量估算）的研究示范及土地管理和土地利用规划等领域。 2017-2018年VERIS公司在美国选取4个州共计15块土地利用iSCAN系统进行勘测，并与手持式设备数据进行比对，得到非常好的线性相关结果。 上图为堪萨斯州40公顷地块勘查地图 主要特点1. iSCAN可同时测绘土壤EC值、OM值，iSCAN+则多了土壤表层温度和湿度值2. 原野现场测绘：随着机载系统在原野前行，即时获取电导及地理坐标（经纬度），每公顷可以测量120-240个样点数据3. 直接接触法测量EC（Electrical Conductivity），测量基本不受周边电磁影响，也不需要校准，反映土壤质地、盐度特性4. VIS-NIR双波段光谱传感器，可经由Veris数据处理中心进行数据处理提供土壤有机质OM（Organic Matter）值，反映土壤氮矿化、土壤水渗透、根系生长以及土壤持水能力 上图为经由VERIS数据中心处理后得到的地图 技术指标1. OpticMapper双波段VIS-NIR传感器，原位测绘植物枯落物下层土壤表层光谱反射2. 可见光波长：660nm；近红外波长：940nm；光源：LED3. 光谱检测器：5.76mm光敏二极管4. 除通过双波段VIS-NIR光谱传感器高密度原位测绘分析土壤OM值及其分布图外，可一次同时测量绘制EC，iSCAN+可附加土壤温度和湿度传感器，并可实时记录显示测量数据和分布图5. Garmin GPS 15X：差分GPS定位精度，优于3米6. 电子器件：NMEA 4X密封，军工级防水接口7. 数采：80 pin PIC 微处理器，1Hz采集率，背光显示器，电源12VDC，5A8. 测绘软件SoilViewer：即时显示EC值及光谱反射，并将地理位置信息（经纬度）及测量值下载到计算机上并自动制作二维分布图（光谱反射需经由Veris数据处理中心进行处理分析形成SOM值）9. EC测绘，可形成0－60cm的表层土壤电导测绘图10. OM测量深度：38－76mm11. 长度：农机版145cm；拖曳版259cm12. 宽度：农机版31cm 拖曳版127cm13. 高度：110cm14. 重量：147 kg15. 测量速度：可达24km/hr16. 工作温度：-20－70°C软件界面 产地美国选配技术方案1) 可选配高光谱成像以评估土壤微生物呼吸作用2) 可选配红外热成像研究土壤水分、温度变化对呼吸影响3) 可选配ECODRONE无人机平台搭载高光谱和红外热成像传感器进行时空格局调查研究部分参考文献1. Adamchuk, V.I., J.W. Hummel, M.T. Morgan, S.K. Upadhyaya. 2004. On-the-go soil sensors for precision agriculture. Comput. Electron. Agric. 44:71–91.2. Christy, C.D. 2008. Real-Time Measurement of Soil Attributes Using On-the-go Near Infrared Reflectance Spectroscopy. Computers and Electronics in Agriculture. 61:1. pp.10-193. Kitchen, N.R., S.T. Drummond, E.D. Lund, K.A. Sudduth, G.W. Buchleiter. 2003. Soil electrical conductivity and other soil and landscape properties related to yield for three contrasting soil and crop systems. Agron. J. 95:483–495.4. Kweon, G., E.D. Lund, and C.R. Maxton. 2013. Soil organic matter and cation-exchange capacity sensing with on-the-go electrical conductivity and optical sensors. Geoderma 199:80–89.5. Lund, E.D. 2008. Soil electrical conductivity. p.137-146. In: S. Logsdon et al. (ed.) Soil Science Step by Step Field Analysis. SSSA, Madison, WI.6. Lund, E.D., C.R. Maxton, T.J. Lund. 2015. Assuring data quality and providing actionable maps using a multi-sensor system. Proceedings of Global Workshop on Proximal Soil Sensing. Hangzhou China. 266-278.7. Eric Lund, Chase Maxton. 2019. Comparing Organic Matter Estimations Using Two Farm Implement Mounted Proximal Sensing Technologies. 5TH GLOBAL WORKSHOP ON PROXIMAL SOIL SENSING. P35-40.8. José Paulo Molin, Tiago Rodrigues Tavares. 2019. SENSOR SYSTEMS FOR MAPPING SOIL FERTILITY ATTRIBUTES: CHALLENGES, ADVANCES, AND PERSPECTIVES IN BRAZILIAN TROPICAL SOILS. Eng. Agríc. vol.39.

蒲公英液相检测--菊苣酸图谱分离度解决菊苣酸的化合物性质中文名：菊苣酸英文名：Cichoric acid分子式：C22H18O12分子量：474.374CAS号：70831-56-0 结构式： 菊苣酸是中药蒲公英的主要成分，虽然蒲公英是一种较为常见的药材，但是在中国药典（2020版）液相检测中，修改了蒲公英液相检测方法，菊苣酸出峰时与杂质的分离效果不是很理想，影响实验结果，很多品牌的色谱柱均不能解决该问题，给实验室分析工作带来诸多不便。 喆分色谱在实验过程中经过不断的努力尝试，调整色谱填料键合工艺以及微调方法的基础上解决了菊苣酸与杂质分离不好的问题，让以检测菊苣酸为目标化合物的众多产品多了一个优良的色谱柱选择。 本文建立了检测蒲公英的液相方法，采用Zafex Acutfex PW-C18(250*4.6mm，5um)，让菊苣酸在液相检测中与杂质的分离效果极其明显清晰可见，峰型良好，满足药典系统适应性，优化了该品种检测。2、适用范围 本检测适用于中药材蒲公英以及菊苣酸作为含量测定项的中成药和保健品的含量测定。3、色谱柱规格： 色谱柱：Zafex Acutfex PW-C18 规格：250*4.6mm，5um 货号：X1825465004、液相条件：按照高效液相色谱法（通则0512）测定 色谱条件与系统适用性实验 以十八烷基硅烷键合硅胶为填充剂；以甲醇为流动相A；以0.1%甲酸水溶液为流动相B；按下表中的规定进行梯度洗脱；柱温为30℃，流速为1.0mL/min，检测波长为327nm.理论板数按菊苣酸峰计算应不低于5000. 6、结论 通过以上实验对比可以看出，Zafex Acutfex PW-C18液相检测色谱图，完全符合中国药典要求，与其他品牌的色谱柱的出峰与杂质的分离效果图对比，喆分色谱柱更适合药典方法蒲公英的液相检测，为客户提供一个更好的选择。

脉冲磁场专用临界电流测量系统CryoPulse-BI系统提供了在高磁场和大电流密度下对超导材料的临界电流的直接测量方法。这个系统是与英国剑桥大学的应用超导和低温科学组合作开发的。通过调节时间，CryoPulse-BI系统能够产生同步的磁场和电流脉冲。当样品处于脉冲磁场之中时，用户能对超导样品施加一个可调节的电流。通过改变磁场强度，样品的电流以及B-I时间就能够对超导样品的性能进行彻底的研究，得到其临界电流。样品测量的过程仅需要点击几次鼠标，花费的时间非常少。样品在制备和安装到样品杆上后，通过专用的密封连接装置能快速更换样品杆。如果想对熟悉的样品进行高精密的测量，用户可以选择自动扫描过程。当系统进行这种自动扫描过程时，用户可以准备安装新样品到样品杆上，以确保系统高效运行。通过这种方式在脉冲场下测量的伏安特性曲线与比传统的在直流场中测量的结果是一致的。因此，CroPulse-BI系统与传统的直流临界电流测量技术相比，被认为实验效率更高、测量功能更强大，运行起来也更便宜的新技术。　　CryoPulse系统中昂贵的部分是电容放电电源系统。然而模块化的设计使得它很容易进行升和扩展。如果用户需要将系统升到更高的磁场，更大的体积以及更好磁场均匀度，无需花费很多资金，用户仅需要扩展电源的容量，购买更高的脉冲磁体即可。(CryoPulse系统可以配各种高场线圈。)而且，用户可以考虑使用平脉冲磁体，此时dB/dT≈0，这样就能得到一个准稳态的磁场。所以，CryoPulse系统即可以对超导样品提供动态的测量环境，也可以对超导样品进行静态的性能测量。CryoPulse-BI系统的特点　　- 高的性价比，较少的投入就能获得很高的磁场　　- 效率很高，较低的损耗就能获得很高的电流密度　　- 紧凑模块化设计便于磁体更换和设备升到更高的能量或更高的磁场　　- 液氦损耗小，运行成本很低　　- 只要简单改变实验参数就能实验样品性能的快速扫描　　- 仅需要点击鼠标就能选择0－30T的磁场或0－7kA的电流　　- 友好的用户界面，方便用户操作　　- 快速样品更换：直接插入样品杆即可测量　　- 高度可重复，测量精度好　　- 可以选择不同的测量方式：电流垂直于磁场或电流平行于磁场　　- 可以研究样品的动态和静态性能（宽平脉冲磁场或dB/dt扫描） 系统组成部分（图1）　　1、 标准CDM-M电容放电脉冲磁体电源系统，图中的部件1。　　2、 变温系统（4K或77K），如图中的部件2。　　3、 液氮冷却脉冲磁体，在图中的部件2内。　　4、通常从部安装的样品杆，如图中的部件3。　　5、 数据采集及信号处理系统，如图中的部件4。　　6、标准的CDM-C电容房地电源系统（2kJ），用于对样品提供脉冲电流，如图中的部件5。图1、CryoPulse-BI系统的构成部分测量结果（见图2和图3）　　CryoPulse-BI系统能够用于测量低温超导体（NbTi和Nb3Sn）和高温超导材料（BSCCO带材）的性质。图2、当测量如图所示的伏安特性曲线时，曲线的斜率跟实验中的峰值电流相关，这是由于NbTi和铜基体之间的分流增强了。图3、下图中显示了用两种方法测量的临界电流，高测量到了11T。在磁场垂直于电流时，CryoPulse-BI系统测量的结果与传统的DC测量结果是一致的。

高温介电测试系统整合了LCR测试仪、温度控制、软件控制和自动多样品测试夹具等。可在高达800℃的条件下测量各种介电、铁电和压电材料的电容、介电常数、介电损耗等，以及这些参数与温度和频率的相关性。测试系统功能及配置： -温度范围：RT~800摄氏度[up to 1000C possible] -测量电容、介电常数和损耗因子 -介电材料阻抗与温度和频率的相关性 -低阻抗屏蔽测试夹具支持多大5个样品 -系统包括高温炉、夹具、Agilent LCR meter 4284A, or E4980AL LCR Meter (or others)、笔记本带测试软件、连接电缆所有高温相关连接带陶瓷绝热 -频率范围：20 Hz to 1 MHz (4TP shielded connections)，with Agilent 4284 LCR meter. Also work with other meters (Keysight E4980AL, 4294A etc.) -灵敏度：介电损耗因子tand 0.1% -多样品测试：一次温控过程中，可自动切换测试多达4个样品 -高温铂片接地电极 -弹性铂探针，压力可调（以保护软polymer样品） -DC电压: up to 4000V(based on request)

主要特点：DS6000系列DETA提供了非常具有工作弹性的高性能热介电阻抗性能分析仪，其性能包括以下方面： - 独特的旋转测量头设计 - 快速有效的冷却效果 - 用于液体的杯状电极 - 可以进行湿度对介电性能影响的DETA试验 - 高性价比 - 高度的工作弹性 - 可达到极限低温环境 - 简单易用的软件操作界面

产品信息LUMiReader PSAK可瞬时测量样品，并得到消光图谱,。每台LUMiReader含有一个聚光装置和温度控制元件，每个都能独立操作,最大程度地确保了仪器的灵活性和准确性。此外，专门设计的PSA模块也为高分辨率的颗粒测量开拓了新视野，使您能够测量分散颗粒的速度分布。因此，您无需特意知道样品的粘度或密度等。我们专有的设计确保了光线以最小强度变化或弯曲穿过整个样品，确保最大限度的灵敏性和重现性。每台光学检测器有9000多个高度灵敏的微观分辨率传感器，甚至能够即时准确检测到通过整个样品的局部细小变化。本设计解决了扫描样品耗时且精度不准的问题，使您能够捕捉到分散过程中发生的任何细微变化。LUMiReader也运用了基于联合抵制的专利倾斜技术。公认的原则是在无需外力的情况下，通过倾斜正常直立位置的样品以提高1 g的分离率。加速大小（高达10倍）取决于几何因素，如倾斜角、小瓶尺寸和样品种类。根据粘度、温度和浓度具体分析。有了从上到下同时观测整个样品的优势，您能同时观测及理解不同稳定性/不稳定性行为，比如：原始浓度产品的分层、沉降、凝聚、絮凝等。 多波长LUMiReader PSA首次实现了悬浊液和乳浊液基于粒径分布（ISO 13317）的体积检测，无需知道折射率，无需假定粒形为球体且是均匀的。这为上述参数不可用或不适用的工业产品的表征拓宽了新视野。分析仪申请LUM专利保护的STEP技术，是独特新颖地利用了多波长，而得到空间-时间消光图谱的测量方法。考虑到除根据ISO TR 13097直接稳定结果外的流体颗粒密度、分离速度和颗粒大小（ISO 13317），新型LUMiReader PSA是一种简易、全面了解复杂工业产品的仪器。 PSA此外，独特设计的PSA模块，可以测试颗粒分离的分布速度。您不需要知道任何的材料常数，如粘度或密度。 速度分布 Qv(v), qv(v)强度加权粒径分布QInt(x), qInt(x)体积加权粒径分布Q3(x), q3(x)- 直接测量，无需校准/无需了解材料性能- 粒度分布的定量信息- 每个类的颗粒大小和体积分数的定量信息- 总是有效的-质量控制的快速信息- 转化为质量或数量分布- 关于粒子的大小和分散性的定性信息 应用领域研磨料 沥青 炭黑 陶瓷 原油 精细化学品 食品 油气 墨水 汽油 制药 高分子材料 污泥 泥浆 和更多的材料。 优势直接，快速，客观的任何分离现象的表征 原始条件下的分析 在正常重力下，拥有专利保护的加速相分离 没有移动部件 可长时间存储信息样本行为的无休止监测 用于浓缩和稀释的悬浮液和乳状液 不同类型和可定制的应用程序 操作简单，信息综合 转为高质量控制，过程监控和研发而准备的高端分析仪 产品规格

美国Polyk Technologies公司研发了高压漏电流和热释电测量系统，用于研发高能量密度和功率介电材料！开发背景：1）在高能量密度和功率电容中，漏电流对于功率损耗和热击穿意义重大；2）依据ASTM D257测试标准，很多商用材料的电阻率在短时间（60s）低电场(1V/um)下通常被测量 相比之下，很多电容运行电场往往100V/um,并且电导率随电场呈指数增加；因此这些材料的数据与实际应用关联不大；3）在高电场和高温下测量高分子薄膜的漏电流很具有挑战性： -电流达到pA(10e-12A)量级，因此周围环境的干扰必须完全被屏蔽； -在长期高压下测试，介电液可能变得导电，因此测试必须在无介电液的空气中进行，很多试样在空气中有很低的介电击穿强度，而且长时间（1h）高电场（100V/um）下测试就非常困难； -高分子薄膜通常比较软，而且很容易被电极损坏，因此困难的测试这种样品(厚度10um)在100V/um电场下 测试系统功能及配置：1）pA测量单元：Keithley 6517（6514）或者类似的仪表，需配备同轴疲敝电缆；2）高压单元：SRS PS350 或者Trek Voltage 10kV；3）温度范围：-150℃ to 250℃，带液氮冷去；4）全屏蔽测试箱体，绝缘安装在腔体门内侧，便于装载样品；5）高压加载通过弹簧加载的球电极，即保证良好的电接触，又不会损坏软的高分子薄膜样品；6）pA电流测量已经被印证，通过5um电容薄膜在高场（200V/um）下测试20h无介电击穿；7）试样大小：up to 8cm直径；8）该系统也可用于热激发激化电流测量或者热释电电流；9）模块化设计，测试腔室也可以用于介电和高压测试系统；欢迎垂询！

QS-37介电常数介质损耗测试仪保证绝缘油在规定时间内到达所需温度，并能恒定较长时间，以便通过高压电桥对绝缘油进行介质损耗因素（tgδ）、相对介电常数（er）进行精密测量。本产品温度显示采用内外温同时显示，加热控制采用两片单片机分别对内、外加热器进行加热控制。QS-37介电常数介质损耗测试仪高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能以短路方式高速切断输出。低压保护：误接380V、电源波动或突然断电，启动保护，不会引起过电压。接地保护：仪器接地不良使外壳带危险电压时，启动接地保护。C V T：高压电压和电流、低压电压和电流四个保护限，不会损坏设备；误选菜单不会输出激磁电压。CVT测量时无10kV高压输出。防误操作：两级电源开关；电压、电流实时监示；多次按键确认；接线端子高/低压分明；缓速升压，可迅速降压，声光报警。防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。抗震性能：仪器采用独特抗震设计，可耐受强烈长途运输震动、颠簸而不会损坏。高压电缆：为耐高压绝缘导线，可拖地使用。QS-37介电常数介质损耗测试仪介损和电容量测量准确度： Cx:±（读数×1%+1pF） tgδ: ±（读数×1%+0.00040）抗干扰指标：变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述准确度电容量范围： 内施高压： 3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV 外施高压：3pF~1.0μF/10kV 60pF~30μF/0.5kV分辨率：最高0.001pF，4位有效数字tgδ范围： 不限，分辨率0.001%，电容、电感、电阻三种试品自动识别。试验电流范围：10μA~5A内施高压： 设定电压范围：0.5~10kV最大输出电流：200mA升降压方式：连续平滑调节电压精度：±(1.5%×读数+10V)电压分辨率：1V试验频率： 45~65Hz整数频率 49/51Hz、45/55Hz自动双变频频率精度：±0.01Hz外施高压： 正接线时最大试验电流1A / 40~70Hz反接线时最大试验电流10kV / 1A / 40~70HzCVT自激法低压输出：输出电压3~50V，输出电流3~30A测量时间： 约30s，与测量方式有关QS-37介电常数介质损耗测试仪输入电源： 180V~270VAC，50Hz/60Hz±1%，市电或发电机供电计算机接口： 标准RS232接口打印机：自带微型热敏打印机环境温度： -10℃~50℃相对湿度： 90%，不结露QS-37介电常数介质损耗测试仪抗干扰异频介损测试仪，适用于测试各种高压电力设备介损正切值及电容量的高精度测试仪器。一体化结构，内置介损测试电桥，可变频调压电源，升压变压器和SF6高稳定度标准电容器。执行标准：DL/T 962-2005，DL/T 474.3-2018采用了变频技术、消除强电场干扰、保证准确测量仪器能够分别使用内高压、内标准、正接法、反接法、自激法等多种方式测试。操作简单，超大全触摸操作界面，轻轻点击一下就能完成整个过程的测量。

产品介绍：DZ5001是一款测量介质损耗和介电常数的测量仪器，采用高频谐振法，测量准确度高，大电容显示，具有操作简单，液晶显示，测试精度高等优势。测试范围：DZ5001是用于测量介质损耗和介电常数是各种金属氧化物、板材，瓷器（陶器）、云母、玻璃、塑料等物质的一项重要的物理性质的仪器。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。应用范围：DZ5001介质损耗测试仪主要应用在电力行业、材料科学、医疗设备、环境监测和汽车制造等行业。性能优势:1、仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。2、大电容值直接测量显示。3、数显微测量装置，直接读值。技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有

产品介绍：介质损耗和介电常数是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。应用范围：DZ5001介电常数测试仪该用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有产品局部展示：

美国PolyK Technologies公司基于改进优化的动态Sawyer-Tower电路开发的该系统，广泛用于测量介电和铁电材料的电荷密度与电场及频率的关系；系统特点：1）整合了系统保护电路：当试样在高压测试发生击穿时，可有效的保护测试系统；2）配合Trek高压放大器执行测试时，高压10kV,并且频率可达1000Hz,模式可达300kHz；3）高压击穿测试可在AC、DC或者Field endurance life模式下测试，而且只需简单的切换信号连接即可；4）自动铁电性能测试直至介电击穿发生；5）对于介电材料充放电测试，软件能自动给出充电能量密度和放电能量密度，以及充放电效率；6）对于寿命循环测试（DC模式或者AC模式），系统会自动生成测试总结文件；7）独特的夹具设计，确保即使测试软的高分子介电材料也不会损伤样品；8）基于LabView设计的功能强大的软件系统，用户可方便地控制电压、信号波形（三角波、正弦波、Unipolar、Bipolar和Arbitrary）和频率；技术规格：1）内置电压：±100V or ±200V放大器2）电压放大器10kV to 30kV3）电荷：1nC to 1mC(取决于放大器输出)4）测试频率：0.01Hz to 1000Hz, or 10kHz, or 300kHz.5）压电应变测量选件：Fotonic Sensor 10nm分辨率 或者磁电传感器；6）高压变温测试选件：-184℃ to 250℃；测试功能：1）DHM测量：Dynamic Hysteresis measurement 2）PM测量：PUND measurement 3）SHM测量：Static hysteresis measurement 4）FM测量：Fatigue measurement 5）RM测量：Retention measurement 6）IM测量：Imprint measurement7）漏电流测量：Leakage Current measurement(可选)8）热释电测量：Pyroelectric measurement（可选）欢迎垂询！

产品介绍：DZ5001介质损耗测试仪是一款测量介质损耗和介电常数的测量仪器，采用高频谐振法，测量准确度高，大电容显示，具有操作简单，液晶显示，测试精度高等优势。测试范围：DZ5001介质损耗测试仪可以测各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等绝缘材料，同时广泛用于电子、电力、材料科学等行业中，为产品设计和性能优化提供数据支持。性能优势：仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置，直接读值。技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差±1 pF或1%分辨率0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有