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金属元器件

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金属元器件相关的仪器

  • 简要描述:-40度高低温箱 温循箱 恒温循环箱特点:适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元器件,在高温、低温湿热环境下的各项性能指标的检验。试验数据可通过盘拷贝,电脑无需安装任何软可直接打开试验曲线或Excel文档。结构设计周全: 水电分离设计,温度均匀性。同温层设计,±1.0℃,防止试验顶部滴水。报警履历显示以及故障解除方法。
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  • 450L快速温变试验箱 电子元器件行业通用箱体结构:箱体采用数控机床加工成型,造型美观大方,并采用无反作用把手,操作简便。箱体内胆采用进口高级不锈钢(SUS304)镜面板,箱体外胆采用A3钢板喷塑,增加了外观质感和洁净度。补水箱置于控制箱体右下部,并有缺水自动保护,更便利操作者补充水源。大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮,且利用发热体内嵌式钢化玻璃,随时清晰的观测箱内状况。加湿系统管路与控制线路板分开,可避免因加湿管路漏水发生故障,提高安全性。水路系统管路电路系统则采用门式开启,方便维护和检修。门与箱体之间采用双层耐高温之高张性密封条以确保测试区的密闭。引线孔(机器左侧)可外接测试电源线或信号线使用(直径25mm或50mm或100mm)。(孔径或孔数须增加定货时说明)。450L快速温变试验箱 电子元器件行业通用型号:TEC-450-PF工作室尺寸:1000*750*600MM温度范围:-40~150℃重量:365KG450L快速温变试验箱 电子元器件行业通用 底部采用高品质可固定式PU活动轮。 性能指标温度范围A:-20℃~150℃ B:-40℃~150℃ C:-60℃~130℃ D:-80℃~150℃湿度范围30~98%RH波动/均匀度±0.5℃/±2℃湿度偏差+2、-3%RH升温时间每分钟升降温平均5℃~15℃(可调)降温时间每分钟升降温平均5℃~15℃(可调)控制系统控制器进口可编程触摸式液晶中文对话式显示.微电脑集成控制器精度范围设定精度:温度0.1℃、湿度1%RH,指示精度:温度0.1℃、湿度1%RH传感器铂金电阻 PT100Ω/MV加热系统全独立系统,镍铬合金电加热式加热器加湿系统外置隔离式,全不锈钢浅表面蒸发式加湿器450L快速温变试验箱 电子元器件行业通用 的用途:适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元气件在高低温或湿热环境下、检验其各性能项指标450L快速温变试验箱 电子元器件行业通用制冷系统及压缩机:为了保证试验箱降温速率和低温度的要求,本试验箱采用一套泰康全封闭压缩机所组成的二元复叠式风冷制冷系统。复叠式制冷系统包含一个高温制冷循环和一个低温制冷循环,其连接容器为蒸发冷凝器,蒸发冷凝器是也到能量传递的作用,将工作室内热能通过两级制冷系统传递出去,实现隆温的目的。制冷系统的设计应用能量调节技术,一种行之有效的处理方式既能保证在制冷机组正常运行的情况下又能对制冷系统的能耗及制冷量进行有效的调节,使制冷系统的运行费用和故障率下降到较为经济的状态。制冷剂:采用DUPONT公司R404(高温循环)、R23(低温循环)辅助件:膨胀阀(丹麦丹佛斯),电磁阀(意大利CASTEL);过滤器(美国爱高);油离器(台湾冠压)等制冷配件均采用进口件
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  • 因产品配置不同, 价格货期需要电议, 图片仅供参考, 一切以实际成交合同为准模块化检漏仪应用于电子元器件检漏系统上海伯东某生产氦气检漏系统公司, 其研发的小型氦检漏系统内部集成伯东 Pfeiffer 检漏模块 ASI 35 用于电子元器件检漏. 真空模式下, 漏率 5x10-7 mbar l/s.电子元器件检漏系统功能定制腔体内放入经过压氦的电子元器件, 真空模式下, 测试元件的整体漏率值.鉴于客户信息保密, 若您需要进一步的了解电子元器件检漏系统, 请联络上海伯东叶女士
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  • 对于陆续登场的高新电子元器件,表面的检测已经无法满足现在客户的检测要求。由于内部电子电路的连接短路断路不可直接观测,所以高性能的X射线实时检测显得如此重要并且有效。针对BGA检测,多层PCB焊锡检测而专门开发出来的XTV130 X射线检测专用系统,让PCB电路板的缺陷检测分析变得更加迅速灵活。其中配置的Inspect-X软件,让自动检测以及电路板自动识别(选配)成为可能,以得到高效的检测处理能力。 主要特点 • 焦点尺寸为3微米的特制微焦点枪源 • 16位色深高解析度图像与图像处理工具 • 可以同时放置多块样品电路板的大型托盘 • *大可达60°的倾斜角度观测 • 旋转样品托盘(360°连续旋转)(选配) *大可到320倍对感兴趣观测区域放大 *大可倾斜60°的灵活观测可以发现立体连接处的问题 引进功能 • 电子元器件品质保证检测用X射线工作站 • 不需要特别的编程技术的基于宏的自动化功能 • 针对零件特性的合格与否自动判定,离线的可视化检测以及报告生成 • 基于VBA可以让复杂的工序变得简单自动化 • 多轴的方向操作杆让在线的导航更加直观 • X射线开管式技术让维护成本更加低廉 • 不需要额外保护措施的射线计量安全系统 • 占用空间小,重量轻,安装设置简单 用途 BGA缺陷检测 • 电子零件、电路零件 • 金线引脚连接故障点、球形虚焊点、金线弧度、芯片粘合、干接合、桥接/短路、内部气泡、BGA等等 • 装配前/装配后PCB • 零件的位置偏差,焊缝空隙、桥接、表面装配等缺陷显示 • 通孔镀层,多层排列详细检查 • 晶圆片级芯片规模封装(WLCSP) • BGA以及CSP检测 • 非铅焊锡检查 • 微机电系统MEMS,微光机电系统MOEMS • 电缆,连接器,塑料件等等
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  • 产品介绍Product Introduction :箱体结构:1) 电热恒温鼓风干燥箱由室体、加热系统、电气控制系统、送风系统、保护系统等组成。2) 箱体采用设备制作、业内工艺制造流程、线条流畅,美观大方。3) 工作室材质为不锈钢材质,外箱材质为冷轧钢板,产品外壳采用金属漆喷制,整体设计美观大方,适合实验室的颜色搭配。4) 工作室内搁架不可调。5) 工作室与外箱之间的保温材料为超细玻璃纤维保温棉,保温层厚度:>70mm, 隔温效果好,国内,高性能的绝缘结构。从里到外有内腔、内壳、超细玻璃纤维、铝制反射铝箔片、空气夹层,内胆热量损失少。内胆外箱及门胆结构独特,减少了内腔热量的外传。6) 门与门框之间采用高性能密封材料及橡胶密封结构,密封、耐高温性、抗老化性好。7) 箱内风道采用双循环系统,不锈钢多翼式离心风轮及循环风道组成,置于箱体背部的电加热器热量通过侧面风道向前排出,经过干燥物后再被背部的离心风轮吸入,形成合理的风道,能使热空气充分对流,使箱内温度大限度达到均匀。提高了空气流量加热的能力,大幅改善了干燥箱的温度均匀性。8) 加热器用不锈钢电加热管,升温快,寿命长。温度测控系统:采用韩国进口"HM"品牌数字显示温度控制器(目前市场上性价比好的仪表),产品采用综合的电磁兼容设计和人性化的菜单设计,控温效果好。双屏高亮度宽视窗数字显示,示值清晰、直观。微电脑智能控制,设定温度后,仪表自行控制加热功率,并显示加热状态,控温而稳定。超温报警并自动切断加热电源。有定时功能安全保护系统: 1) 超温报警2) 欠相缺相保护3) 过电流保护4) 快速熔断器5) 接地保护电器控制系统:1) 电气控制元器件采用国内品牌“正泰”2) 电气线路设计新颖,合理布线,可靠3) 箱体顶部为电气控制柜,方便于集中检查维修选配件(需另外收费,订购时请注意):1) 可编程液晶控制器,可实现升温速率可调和保温时间可调。2) 限温控制器,可实现在主控制器失灵后设备升温过高的情况下切断加热。3) 无纸记录仪,通过USB接口将其记录数据导入计算机进行分析,打印等,是有纸记录仪的更新换代产品,多八通道温度记录。4) 配RS-485接口,可连接计算机和记录仪,实现实时监控工作状态。5) 温度测试孔,可实现不同测试线或仪器插入设备工作室内进行各种试验,测试孔孔径有¢25、¢50、¢80可选。6) 载物托架,烘箱设备标准配置是2个载物托架,客户可以根据具体要求增配托架数量。
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  • 电子元器件保护壳水蒸气透过率测试仪应用范围 薄膜: 适用于各种塑料薄膜、复合膜水蒸气透过率的定量测定,如:铝箔复合膜、镀铝膜、PVC 硬片、药用铝箔、 共挤膜、流延膜、太阳能背板等。 容器: 适用于各种瓶、盒、袋等包装容器水蒸气透过率的定量测定,如:各种口服及外用液体瓶、各种药用固体 瓶等药品包装容器;包装盒、酸奶杯等各种食品包装容器。 主要特点 1.电解法测试原理 2.单腔测试 3.计算机控制,试验全自动,一键式操作 4.智能模式等多种试验模式可选择,可满足各种标准、非标测试 5.支持容器测试 (选购) 6.支持循环介质控温(选购) 7.试验湿度可自行设置、调节 8.数据追踪、溯源;系统日志记录 9.5 级用户权限管理 10.温度、流量、透过率等曲线显示 11.支持 DSM 实验室数据管理系统,可实现数据统一管理。(选购)测试原理 薄膜: 将待测试样装夹在恒温的干、湿腔之间,使试样两侧存在一定的湿度差,由于试样两侧湿度差的存在,水 蒸气会从高湿侧向低湿侧扩散渗透,在低湿侧,水蒸气被干燥载气携带至水分析传感器,通过对传感器电 信号的分析计算,从而得到试样的水蒸气透过率和透湿系数。 容器: 容器的外侧是高湿气体,内侧则是流动的干燥气体,由于容器内外湿度差的存在,水蒸气将穿透容器壁进 入容器内部,进入容器内部的水蒸气将由流动的干燥载气携带至水分析传感器,通过对传感器电信号的分 析计算,可得到容器的水蒸气透过率等结果。
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  • 微焦点CT-半导体元器件X射线显微成像系统-布鲁克代理商 CT基本原理微焦点CT/三维X射线显微镜(3D XRM)是一种基于X射线的成像技术,使用微型计算机断层扫描技术(Micro Computed Tomography)。包括扫描和重构两个主要部分,Micro/Nano 表明其分辨率可达到微米/亚微米级别。 半导体产业是国家重点支持和鼓励的发展方向,半导体器件封装和内部缺陷检测越来越重要,而微焦点CT/三维X射线显微镜(3D XRM),可以在无损不破坏样品的情况下,清晰地观测到电子元器件的分布情况及封装器件的内部结构,同时,可检测虚焊、连锡、断线等缺陷信息,可以三维重构整个半导体器件内部结构,对于研发和后期加工工艺的改进、提升起到重要的指导作用。 SkyScan 1272 High Resolution Micro CT针对半导体领域小样品器件,如电阻电容、摄像头的镜头等有着超高分辨率优势。 小型电子产品 Inductor – 3 μm voxel size Chip – 2 μm voxel size 了解更多应用方向,请致电束蕴仪器(上海)有限公司~
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  • 对于小型的高装配密度的印刷电路板,上面大量的焊接的零件互相重合遮挡,X射线的透视功能是唯一的高效无损检测手段。XTV160为设计制造与质量分析部门提供简捷高效的印刷电路装配与电子元器件检查系统。在自动检测模式下可对样品进行快速检测,手动模式下可以在软件中直观的进行高精度操作,操作者可以对样品中微小的故障缺陷进行可视化确认分析以及保存结果。主要特点 • 亚微米级的焦点尺寸NanoTech™ 射线管 • 快速获取高品质的图像 • 可以同时放置多件样品的大托盘载物台 • 可以自定义宏让工作流程自动化引进功能 • 灵活的操作集成到一个紧凑的系统里 • 人机交互式的可视化功能 • 全自动X射线检测功能 • 详细分析用的CT功能(选配) • 最大可达75°的倾斜观测角度 • 直观的GUI界面与交互式操作杆导航功能进行快速检测 • 便于维护的开管式设计使得维护成本被降低到最小 • 不需要额外保护措施的射线计量安全系统 • 占用空间小,重量轻,安装设置简便 用途 • BGA检测分析 • 焊锡空洞检测 • 通孔检测 • 芯片银胶空洞检测 • 球形引脚连接检测 • 压线连接检测 • 微小BGA检测 • Padarray检测
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  • 半导体分立器件特性参数测试是对待测器件(DUT)施加电压或电流,然后测试其对激励做出的响应;通常半导体分立器件特性参数测试需要几台仪器完成,如数字表、电压源、电流源等。然而由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析,过程既复杂又耗时,还占用过多测试台的空间。而且使用单一功能的测试仪器和激励源还存在复杂的相互间触发操作,有更大的不确定度及更慢的总线传输速度等缺点。 实施特性参数分析的最佳工具之一是数字源表(SMU)。普赛斯历时多年打造了高精度、大动态范围、率先国产化的源表系列产品,集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体。可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表,还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器,波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统,支持四象限工作。普赛斯“五合一”高精度数字源表(SMU)可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具。不论使用者对源表、电桥、曲线跟踪仪、半导体参数分析仪或示波器是否熟悉,都能简单而迅速地得到精确的结果。 普赛斯“五合一”高精度数字源表 普赛斯源表轻松实现二极管特性参数分析 二极管是一种使用半导体材料制作而成的单向导 电性元器件,产品结构一般为单个PN结结构,只允许电流从单一方向流过。发展至今,已陆续发展出整流二 极管、肖特基二极管、快恢复二极管、PIN二极管、光电 二极管等,具有安全可靠等特性,广泛应用于整流、稳压、保护等电路中,是电子工程上用途最广泛的电子元器件之一。IV特性是表征半导体二极管PN结制备性能的主要参数之一,二极管IV特性主要指正向特性和反向特性等; 普赛斯S系列、P系列源表简化场效应MOS管I-V特性分析 MOSFET(金属—氧化物半导体场效应晶体管)是 一种利用电场效应来控制其电流大小的常见半导体器件,可以广泛应用在模拟电路和数字电路当中,MOSFET可以由硅制作,也可以由石墨烯,碳纳米管 等材料制作,是材料及器件研究的热点。主要参数有输入/输出特性曲线、阈值电压 VGS(th)、漏电流IGSS、 IDSS,击穿电压VDSS、低频互导gm、输出电阻RDS等。 普赛斯数字源表快速、准确进行三极管BJT特性分析 三极管是半导体基本元器件之一,具有电流放大作用,是电子电路的核心元件。三极管是在一块半导体 基片上制作两个相距很近的PN结,两个PN结把整块 半导体分成三部分,中间部分是基区,两侧部分是发射 区和集电区。设计电路中常常会关注的参数有电流放大系数β、极间反向电流ICBO、ICEO、集电极最大允许电流ICM、反向击穿电压VEBO、VCBO、VCEO以及三极管的输入输出特性曲线等参数。 普赛斯五合一高精度数字源表(SMU)在半导体IV特性测试方面拥有丰富的行业经验,为半导体分立器件电性能参数测试提供全面的解决方案,包括二极管、MOS管、BJT、IGBT、二极管电阻器及晶闸管等。此外,普赛斯仪表还提供适当的电缆辅件和测试夹具,实现安全、精确和可靠的测试。欲了解更多半导体分立器件测试系统的信息,欢迎随时来电咨询普赛斯仪表!
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  • 仪器简介:・ 配备可放置6个样品的加热炉4个,四个加热炉独立运行。・ 可任意设定24个样品的吹扫气供应量。・ 各个加热炉的加热温度可以设定为室温到200℃(最高温度可达260℃)・ 各个加热炉的加热时间可用计时器进行设定。・ 试样管经惰性化镀层处理。・ 内置水冷阀可方便地对加热炉温度进行调整。技术参数:试样管数量:24个试样管材质:不锈钢(内表面镀金处理)试样管尺寸:φ30×40 mm(30 ml)加热炉材质:铝质加热炉加热方式:电阻加热方式加热炉加热温度:室温~200℃吹扫气类型:通常使用氦气或氮气吹扫气流量:20~200 ml/min水冷阀门组:使用自来水循环水冷配管吹扫:空气或氮气尺寸:950(W)×620(H)×400(D)mm重量:120 Kg电源:200V/15A, 50/60Hz标准附件:配管部件:1套水冷循环阀门组:1套电源线:1套试样管:24支试样皿:24个一级吸附管接口:24个密封垫片:24套工具:1套操作说明书:1册主要特点:・ 配备可放置6个样品的加热炉4个,四个加热炉独立运行。・ 可任意设定24个样品的吹扫气供应量。・ 各个加热炉的加热温度可以设定为室温到200℃(最高温度可达260℃)・ 各个加热炉的加热时间可用计时器进行设定。・ 试样管经惰性化镀层处理。・ 内置水冷阀可方便地对加热炉温度进行调整。
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  • 安装类型通孔质量15.999989g操作温度-20°C~71°C With Derating系列ZUW (3W)2005尺寸/尺寸1.38Lx0.91W x 0.28 H 35.0mmx23.0mmx7.0mm特征OCP类型隔离模块峰值回流焊温度(摄氏度)功能数量1深度7mm输出电流100mA 100mA输出电流100mA输出功率3W电压 - 输出 2-15V电流-输出1100mA3W隔离Isolated输入电流169mA电流-输出2100mA高度7.112mm
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  • 简要描述:电子高低温测试箱,是专业研发的高低温试验箱,适用于电子产品做高低温循环、高低温交变测试之用。电子高低温测试箱,能*产品做高低温循环、高低温交变实验要求。电子高低温老化试验箱恒温机电子高低温测试箱應用於航空、航太、電子儀器儀錶、電工產品、材料、零部件、設備等作高低溫漸變試驗、高溫高濕試驗、低溫低濕試驗、恒溫恒濕試驗。耐寒性試驗、低溫貯存,以便對試品在擬定環境條件下的性能、行為作出分析及評價。一,电子高低温测试箱箱体结构特点箱体采用数控机床加工成型,造型美观大方,并采用无反作用把手,操作简便。箱体内胆采用进口高级不锈钢板和镜面板,箱体外壳采用A3钢板喷塑,增加了外观质感和洁净度。大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮,三层中空钢化玻璃,随时清晰的观测箱内状况。箱体左侧配直径50mm的测试孔,可供外接测试电源线或信号线使用。二,电子高低温测试箱控制器温度控制采用全进口按键式仪表,操作设定简单。根据不同的试验要求,可以选择定值试验功能,也可以选择可编程控制功能。具有P.I.D自动演算的功能,可将温度变化条件立即修正,使温度控制更为精确稳定。可选配打印机。■高低温试验箱冷冻及风路循环系统制冷机采用法国原装&ldqo 泰康&rdqo 或者&ldqo 谷轮&rdqo 制冷系统。冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。采用多翼式送风机强力送风循环,避免任何死角,可使测试区域内温度分布均匀。风路循环出风回风设计,风压、风速均符合测试标准,并可使开门瞬间温度回稳时间快。升温、降温、系统*独立可提高效率,降低测试成本,增长寿命,减低故障率。三,电子高低温测试箱符合标准GB/T2423.1-2001 GB/T2423.2-2001 高低温试验箱型号 工作室尺寸(mm)(深×宽×高)HK-100 400×500×500HK-150 500×500×600HK-250 500×600×810HK-500 700×800×900HK-010 1000×1000×1000 温度均匀度:&plsmn 2℃ 温度波动度:&plsmn 0.5℃根据客户需求的尺寸制作温度范围:0℃、-20℃、-40℃、-50℃、-60℃、-70℃、~+100℃150 电子高低温老化试验箱恒温机 电子高低温老化试验箱恒温机 高低温老化试验箱恒温机
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  • SiC碳化硅功率器件动态特性测试系统 我们专业致力于功率元器件的测试仪器设备,主要致力于碳化硅器件的测试仪器设备。 我们的优势在于能够深入的进行理论运用到实践中。技术能力和实践能力的结合,才能在市场上推出使用方便,测试结果准确的高技术产品 我们的工程师具有超过20年的大功率半导体专业设计及测试评估的经验 如有任何需求,欢迎与我们联系各种电子测试的需求。 全面的测试方案:双脉冲测试 用于碳化硅二极管 和FETs检测 高压器件 1.2 kV - 1.7 kV - 3.3 kV - 4.5 kV 及更高 功率器件(包括模块) 电压可调至:50 A ( 500 A )清晰的开关波形 非常低且非常容易判断寄生现象精确 包含分析和补偿程序为模具,紧凑型包装,模块组件而设计 裸芯片, TO220, TO247, TO254, 任何碳化硅模块模块化和前瞻性 新包装和模块化的可调谐开关插头高温测试 DUT 集成化加热器- 可调谐到 250°C快速 快速部署,测试周期 短标准和具体应用 集成化或定制栅极驱动器;寄生现象可调谐高性能系统 工业等级设计及制造安全 IEC61010安全标准设计 技术规格动态特性主要针对于是碳化硅技术中的功率器件的特性,也同样应用于碳化硅技术的的各种仪器设备的特性。基于碳化硅技术的半导体功率器件动态性能测试是我们的核心技术。随着碳化硅测试设备的快速发展需要对带宽和寄生原件的测试需求。如:负载感应器和直流电等寄生元器件将会成为碳化硅功率器件的使用方案。功能:描述SiC离散变量的动力学行为配置:在相位腿配置的二极管mosfet(或IGBTs)设备等级:优化的额定电压600V到4500V 优化额定电流10A到50A包装:可与TO220,TO247,TO254包接口的装置系统接受其他包的fixture输入电压:230Vac, 50Hz,单相接地保护输入电流:8A保险丝额定值:10A,T,250V直流电压范围:100V to 4500V开关电流范围:10A to 50ADUT温度:热板温度可调至200℃
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  • 光波器件分析仪 400-860-5168转5919
    v 这款 LCA 是测试高达 67 GHz 的电光元器件的理想解决方案。它同样适用于测试 40G/100GbE、400Gbit/s 和 1 Tbit/s 相干传输系统、光纤无线电(RoF)以及航空航天与国防(A&D)电光测试应用中的电光元器件v 绝对频率响应准确度:v 在 50 GHz 时为 0.9 dBe(典型值)v 在 67 GHz 时为 1.3 dBe(典型值)v 相对频率响应准确度:v 在 50 GHz 时为 0.5 dBe(典型值)v 在 67 GHz 时为 1.3 dBe(典型值)v 本底噪声:v 在 67 GHz 时为 - 59 dB(W/A)(电光测量)在 67 GHz 时为 - 55 dB(A/W)(光电测量)具有任意波形发生器,支持多电平脉冲波形,可编程分辨率10 ns
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  • 小工作温度-20C大工作温度100C小电源电压2.5V大电源电压9.5V长度4.6mm宽度1.6mm
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  • 光无源器件检漏仪 400-860-5168转0727
    氦质谱检漏仪光无源器件检漏上海伯东 Pfeiffer 氦质谱检漏仪 ASM 182 TD+ 成功应用于光无源器件检漏光无源器件是不含光能源的光功能器件的总称。光无源器件在光路中都要消耗能量,插入损耗是其主要性能指标。光无源器件有光纤连接器、光开关、光衰减器、光纤耦合器、波分复用器、光调制器、光滤波器、光隔离器、光环行器等。它们在光路中分别实现连接、能量衰减、反向隔离、分路或合路、信号调制、滤波等功能。本文主要介绍上海伯东 Pfeiffer 氦质谱检漏仪在无源器件中的检漏应用。无源器件检漏原因:光无源器件是光纤通信设备的重要组成部分,也是其它光纤应用领域不可缺少的元器件。具有高回波损耗、低插入损耗、高可靠性等特点。光无源器件对密封性的要求极高,如果存在泄漏会影响其使用性能和精度,光通信行业的漏率标准是小于 5×10-8 mbar.l/s,因此需要进行泄漏检测。氦质谱检漏法利用氦气作为示踪气体可精确定位,定量漏点,替代传统泡沫检漏和压差检漏,目前已广泛应用于光无源器件的检漏。无源器件检漏客户案例:深圳某知名光通信上市公司,为提高效率,需求大抽速高效的检漏仪,经过上海伯东技术工程师的选型,最终采购氦质谱检漏仪 ASM 182TD+ 用于光无源器件的检漏。光无源器件检漏方法:由于无源器件体积小,且无法抽真空或直接充入氦气,我们采用“背压法”检漏,具体做法如下。1.将被检无源器件放入真空保压罐,压力和时间根据漏率大小设定2.取出无源器件,使用空气或氮气吹扫表面氦气3.将无源器件放入真空测试罐,测试罐连接氦质谱检漏仪4.启动氦质谱检漏仪,开始检漏
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  • 用途:该仪器可适用不同种类器件的辐照,适用于器件辐射效应提参建模的试验平台,在器件设计、流片阶段给出加固建议,评估抗辐射性能。为晶片级器件辐照、提参提供试验条件,形成面向抗辐射器件研制全过程的辐射效应试验评估、提参建模共性技术服务平台,为元器件设计加固工艺的发展提供试验技术支撑。 系统参数1. X射线球管最高电压:160kV2. 线束角度: 40°3. 系统最大功率:6000W4. X射线球管焦点尺寸:5.5 mm5. 可调整照射距离(SSD):OEM,以最终设计为准6. 剂量控制:配置实时剂量监控仪,剂量率、累积剂量,辐照时间实时显现。剂量率检测范围最大>600gy/min。7. 冷却器:集成的闭合回路热交换器8. 载物台:电动操作9. 控制:PLC控制10. 仪器具备门机连锁和警示灯,确保使用安全性。11. 同轴槽型常高温吸附卡盘(OEM)12. 卡盘XY位移平台,Z轴快速升降,带微调升降,卡盘可旋转±45°13. PSM1000显微镜、HDMI接口高清(200万像素)CCD(可选配其他)14. 显微镜XY位移平台2"*2"15. 防震桌900mm*800mm(最终尺寸以实际为准)16. 三轴接口探针座17. 空气压缩机18. 可选配高低温同轴卡盘、半自动探针台、干燥空气系统等。
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  • 微型电子插件适用于半导体、微型电子器件和太阳能电池等。采用独特的固定机制,样品装载时不需要粘合剂和接触表面。 微型电子元器件插件规格试样:半导体或微电子器件夹持尺寸: 10 x 10 mm - 19 x 19 mm厚度: 高达1.5 mm主要优势不需要胶或粘结剂不刮擦或污染样品即时制样、加载不需要额外的工具来夹持试样
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  • 氦质谱检漏仪光无源器件检漏上海伯东 Pfeiffer 氦质谱检漏仪 ASM 182 TD+ 成功应用于光无源器件检漏 光无源器件是不含光能源的光功能器件的总称。光无源器件在光路中都要消耗能量,插入损耗是其主要性能指标。光无源器件有光纤连接器、光开关、光衰减器、光纤耦合器、波分复用器、光调制器、光滤波器、光隔离器、光环行器等。它们在光路中分别实现连接、能量衰减、反向隔离、分路或合路、信号调制、滤波等功能。本文主要介绍上海伯东 Pfeiffer 氦质谱检漏仪在无源器件中的检漏应用。无源器件检漏原因:光无源器件是光纤通信设备的重要组成部分,也是其它光纤应用领域不可缺少的元器件。具有高回波损耗、低插入损耗、高可靠性等特点。光无源器件对密封性的要求极高,如果存在泄漏会影响其使用性能和精度,光通信行业的漏率标准是小于 5×10-8 mbar.l/s,因此需要进行泄漏检测。氦质谱检漏法利用氦气作为示踪气体可精确定位,定量漏点,替代传统泡沫检漏和压差检漏,目前已广泛应用于光无源器件的检漏。无源器件检漏客户案例:深圳某知名光通信上市公司,为提高效率,需求大抽速高效的检漏仪,经过上海伯东技术工程师的选型,最终采购氦质谱检漏仪 ASM 182TD+ 用于光无源器件的检漏。光无源器件检漏方法:由于无源器件体积小,且无法抽真空或直接充入氦气,我们采用“背压法”检漏,具体做法如下。1.将被检无源器件放入真空保压罐,压力和时间根据漏率大小设定2.取出无源器件,使用空气或氮气吹扫表面氦气3.将无源器件放入真空测试罐,测试罐连接氦质谱检漏仪4.启动氦质谱检漏仪,开始检漏* 鉴于信息保密,更详细的无源器件检漏方法欢迎致电 021-5046-3511
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  • XTU-4C是一款设计结构紧凑,模块精密化程度高的镀层测厚仪,采用了下照式C型腔体设计,不但可以测量各种微小样品,即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量,是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。快速准确移动定位:高精密微型移动滑轨,10-30mm(X-Y)/圈,精度0.005mm微焦X射线装置:检测面积可小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件高效率正比接收器:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性变焦装置及算法:可对各种异形凹槽进行检测,凹槽深度测量范围可达0-30mm对焦方便:下照式设计可以快速定位对焦样品1.元素分析范围:氯(Cl)- 铀(U)2.涂镀层分析范围:氯(Cl)/锂(Li)- 铀(U)3.厚度检出限:0.005μm4.成分检出限:1ppm5. 测量直径小至0.2mm(测量面积小至0.03mm2)6.对焦距离:0-30mm7.样品腔尺寸:500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸:550mm*480mm*470mm9.仪器重量:45KG10.XY轴工作台移动范围:50mm*50mm11.XY轴工作台承重:5KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。选择一六仪器的四大理由:1.一机多用,无损检测2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测
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  • 烤箱优势:1.我司的烤箱温差保证在正负3度以内,出厂前是全部16个点测温,有配送冲孔托盘2.有多加“停机计时”功能,您可设定停机时间,到时候会自动停机,不会影响等候关机时间。3.烤箱后面有配带电热管保护盖,保护电热管接线端,保护电热管因短路或操作不当用坏烤箱或烤坏产品。4.进风出风口装置在顶部,烤箱后面有开关按钮标示,扭动开关,就可先排出烤箱废气,然后在打开烤箱。不会因为烤箱有胶气在打开烤箱对人造成伤害。5.就是保温效果,我们是用100k进口岩棉,保温效果会更好,一般达到高温状态下,外面是摸不到一点温度的。技术参数:1、电压:AC380V50Hz2、型号:HYYHK-18003、外尺寸:1700*1000*2200 mm4、内尺寸:1500*850*1990 mm5、烤箱使用温度:0-300℃6、温控器波动值:±1℃7、烤箱温度均匀度:±5℃8、烤箱升温速率:升温至300 设施度约25min9、功率:3000W10、湿度范围:10%-30%RH11、温控器显示精度:1℃12、温控器控制精度:±2℃13、湿度控制精度:±5%RH产品特点:具有独特设计的强鼓风循环系统确保了温度的稳定性,控温系统采用数显控温,直观醒目,设有可靠性保护装置,超温报警。特殊要求;可为用户设计定制,采用优质钢板烤漆处理或不锈钢板;全新耐高温长轴心马达、循环系统:由低噪声风机和风道组成,工作室内温度均匀、温控器:PID微电脑智慧控温仪,具有设定,测定温度双数字显、定时、功率抑制和自整定功能,控温精确可靠;、计时器:温到计时、时间到切断加热电源。柜体结构:1、外壳采用1.2mm厚冷轧板折弯而成,表面高温喷塑烤漆处理粉防锈,抗腐蚀。2、门板边四周增加耐高温密封条,很使炉内高温气体不外泄有好的保温效果。3、层架托盘采用不锈钢方管焊制,每层层架可独立拿出,烤箱底部安装4个万向带刹车活动轮。4、精密烤箱有独特的运风结构设计,使得烤箱在烘烤时保证箱体内部的温度均匀度和能源的节约。5、箱体表面温度在50℃以内,内置有独特设计的循环水平运风风道,风量可达到每小时2000m3,每小时可以循环7500次以上,使炉内温度更加均匀。欢迎来到深圳市鸿奕设备有限公司网站, 具体地址是广东省深圳市宝安区第二工业区4栋, 主要经营恒温恒湿柜、防潮箱、烤箱、螺丝机、点胶机、焊锡机。 单位注册资金单位注册资金人民币300 万元。 本公司在机械产品这一领域倾注了无限的热忱和激情,公司一直以客户为中心、为客户创造价值的理念、以品质、服务来赢得市场,衷心希望能与社会各界合作,共创成功,共创辉煌,携手共创美好明天!
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  • 小工作温度-20C大工作温度100C小电源电压2.5V大电源电压9.5V长度4.6mm宽度1.6mm高度1.8mm
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  • 产品概要:此设备用于半导体元器件静电保护电路抗静电能力的测试,通过该测试可以清楚的了解到元器件的抗静电能力的特性参数,器件开发人员通过这些参数可以了解到元器件ESD设计窗口,从而对元器件保护电路作进一步改进;该设备也可通过给GATE端加DC电源,测试功率器件的SOA特性曲线。基本信息:技术优势:1、此设备配备了最先进的测试模式2、对于器件管脚的入射波和器件管脚发出的反射波,都可在示波器上确认到3、此数据会自动保存,并在专用的显示软件上表示4、专用显示软件可对入射波/反射波的合计值,snapback特性以及漏电流测试的电流值进行图形描绘5、被保存的示波器上的数据可以进行高自由度的演算处理,比如,对于不同工艺的晶体管的ON电压及可以加在保护电路上的最大电流值等,可以通过曲线的重叠描绘来确认其差异,并且可以与半自动探针台连接,实现TLP测试的自动化6、可以在Wafer level上进行印加管脚间或芯片间的自动移位,所以能够很大地提升测试效率应用方向:1、具备印加脉冲宽度为100ns/200ns的normal TLP测试与宽度到1ns的VF-TLP(Very Fast TLP)测试模式2、有助于验证HBM/CDM模式的测试
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  • 艾克手持式光谱仪贵金属检测——将改变你的材料分析方式艾克光谱分析仪应用于金属回收及未知材料、贵重及特种合金等检测,轻巧便携、坚固耐用,具有人体工学设计,只需轻轻扣动板机,即可进行无损的元素分析,告别高成本、耗时长的实验室检测,让你真正体验到“口袋中的实验室"所带来的便捷。艾克手持式光谱仪贵金属检测优势及配置:"一键式"开机并检测,减少人为错误操作;一体式供电,超大容量电池,无续航焦虑;智能化体验,结果中英文显示;全息地理信息标注(GPS);高清摄像头,自动对焦;(选配)通过 WiFi,4G/5G、手机热点、USB、蓝牙、APP进行数据及报告输出;5.5寸高分辨率主流电容屏,自动感光清晰可见;Intel 高性能四核处理器,256GB 固态硬盘,DDR内存,Windows 10系统,运行速度碾压同类仪器;1/3机身为轻质铝合金结构,具有优良的防辐射和散热效果;最新 FP 算法,测试速度快,2-3秒内身份等级鉴定;优秀的架构,高低温环境使用无任何差异,舒适的人体工学设计,使用更轻松便捷;无操作待机时自动关机,减轻元器件的消耗;(用户可自定义关机时间)符合IP65标准。金属回收及未知材料现场检测和快速分类,1-3秒即可测出合金牌号和成分含量,精度可达0.01%。常规钢材金牌号识别200、300、400、500、600系列不锈钢及模具钢牌号;铝合金牌号鉴定及成份分析,常见的1-7系列铝合金的分析。高温合金牌号识别GH2132、GH4169、GH3128、GH4145、GH3030、GH3039、GH4140、GH3600、GH3625,等系列合金。三元锂电池正极材料检测NCM523、NCM622、NCM811等材料。贵金属检测快速检测:金、银、铂、铑、钯、钌、铱、锇等贵金属。售后服务:24/7服务热线;两小时内响应回复;远程在线故障诊断排除;长期备品备件保有库存;新机免费安装及培训;新机15天内包换;(除人为毁坏外)可根据客户需求定制保修期限;新机保修一年,长期维护。(含软件升级)
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  • 地下金属探测仪天研深度新型大距离手持式寻宝仪应用先进技术制作,选用优质元器件,采用智能操作系统和高强度ABC材料封装,重量轻、寿命长。它具有探测度广、定位准确、感应性强、操作简易、外观新颖等特点.  地下金属探测仪天研深度新型大距离手持式寻宝仪采用美国前沿电子技术,内设地平衡线路,它的地平衡模式,能除一切“矿化反应”给探测器带来的影响,而识别模式能区分被探测到的是有色金属还是黑色金属,大大提高了有效探测的深度及准确率,具有探测深度大、定位准确、分辨率强、操作简单方便的特点。为了最大限度的使用本产品的所有功能,在使用前请先仔细阅读本说明书。本产品除了军事上应用外,还适用于以下多个领域:  (1)公安刑事部门快度搜查  (2)检测原料、燃料、食品中的 金属杂物  (3)检查邮件、行包中的金属物品  (4)检查地下的管道、电缆  (5)考古  (6)发现隐埋在地下的金银宝物和金属矿物废旧金属收购  产品特点  ●探测盘:全新配置一款15存“DD”防水探测盘,可以扩大该仪器的探测范围  ●识别能力:可以单项区分金,银,铜,铁等  ●声音识别能力:金、银、铜、铁的报警声音可以完全区分  ●高灵敏度:提高了更强的探测灵敏度,增加机器的探测深度  ●耳机:配置一个原厂配置的高清耳机  ●定位: 可以快速的定位地下金属的准确位置  ●接收/拒绝:通过识别按钮可以进行单项选择探测,例如:选择黄金,该仪器只对黄金进行报警  ●硬币深度显示:在主机的右侧有个显示小金属的深度  ●电量状况显示: 可以显示电源现有的电量  ●定位按钮: 可以精准定位金属的位置  ●五种探测模式: 可以选择默认探测模式,也可以自定义探测模式  珠宝模式(可以删除铁,找到细小的金属,比如戒指,耳环,项链等)  自定义模式(可以单项选择性探测,选择自己想要探测的金属类型)  遗迹模式(可以将铁删除,只探测有色金属提高地下金属探测效率)  硬币模式(这种识别模式的目的是排除酸性垃圾,许多拉环和标签纸检)  全金属模式(可以探测所有的金属、金、银、铜、铁等)
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  • MXD-02摩擦系数仪专业用于测量塑料薄膜和薄片、橡胶、纸张、纸板、编织袋、织物风格、通信电缆光缆用金属材料复合带、输送带、木材、涂层、刹车片、雨刷、鞋材、轮胎等材料滑动时的静摩擦系数和动摩擦系数,通过测量材料的摩擦系数(或爽滑性),可以控制调节材料生产质量工艺指标,满足产品使用要求。另外还可用于化妆品、滴眼液等日化用品的滑爽性能测定。产品特点◎ 一次试验便可同时测定试样的动、静摩擦系数。◎ 试验速度可设、可调支持任意滑块质量。◎ 满足GB、ISO、ASTM多种测试标准,测试方法可按客户需求选择。◎ 仪器试验台面和测试滑块均经过消磁处理和剩磁检测,有效地降低了系统测试误差。◎ 微电脑控制,PVC控制面板和液晶显示屏,方便用户进行试验操作及数据查看。◎ 系统配件均采用世界知名进口元器件,性能稳定可靠。◎ 专业软件可对单件、成组试验数据统计分析、成组曲线叠加比较。◎ 微型打印机和标准的USB接口,方便连接计算机和快速打印。 测试原理将两试验表面平放在一起,在一定的接触压力下,使两表面相对移动,记录所需的力。用所测试力除以法向力即为摩擦系数值。售后服务承诺三月内只换不修,一年质保,终身提供。快速处理,1小时内响应问题,1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001:2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心,两条独立生产线,一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今,全球用户累计成交产品破万台,完善四大产品体系,50多种产品。
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  • SH113B-Q 石油倾点测定仪是按照中华人民共和国标准GB/T3535《石油倾点测定法》要求设计制造的,适用于按上述标准规定的方法测定石油产品的倾点。SH113B-Q 石油产品手动倾点测定仪 金属浴倾点是指油品在规定的试验条件下,被冷却的试样能够流动的最低温度;以℃表示。产品型号 SH113B-Q 产品名称傾点测定仪金属浴生产厂家 山东盛泰仪器有限公司检测项目重油、原油、深色石油等石油产品符合标准标准GB/T3535《石油倾点测定法》简单技术特点或参数控温范围:室温~-70℃采用压缩机制冷,可同时做2组试验主要技术规格及参数及性能特点:● 采用压缩机制冷,可同时做2组试验。● 输出方式为小液晶显示,温控稳定性好。● 主机为金属浴加热,无需更换介质酒精,降温迅速。● 进口复叠式压缩机● 工作电源:AC220V±10%;50Hz。● 控温范围:室温~-70℃● 控温精度:±0.5℃● 制冷系统:新型致冷压缩机(双压缩机)。● 环境温度:≤30℃。● 相对湿度:≤85%。● 功 耗:不大于1500W● 包装尺寸:890*530*480mm● 重 量:75kg 山东盛泰仪器有限公司对出售给贵方的仪器提供如下质量保证:----提供的仪器材料是全新的、符合国家质量标准和具有生产厂家合格证的货物;----提供的材料、主要元器件符合技术资料中规定的技术要求;----设备整机质量保证期为一年(不含易损件正常磨损)。----在质量保证期内出现的仪器质量问题,我方负责免费维修。由于使用方责任造成设备故障,我方负责维修,合理收费。 ----设备终生优惠供应零部件,整机终生维护维修。 ----保质期满后,使用方需要维修及技术服务时,我方仅收成本费。
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