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近边带发射

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近边带发射相关的仪器

  • 岛津光电直读光谱仪PDA-8000仪器简介:PDA-8000是岛津公司2010年推出的最新一款光电发射光谱仪,集合了岛津光电发射光谱仪之精华,突出了高灵敏度、高稳定性的特点,尤其在高纯有色金属、钢铁中酸溶铝、夹杂物方面的分析有着独特的技术。性能特点:1)高分辨率分光器最新设计的1米光栅分光室,可以有效减少元素间的分光干扰。同时,为了提高对C、N等元素的分析精度,通过2次或3次等高次线进行分析,分辨率得到有效提高。2)实时能量监控(REM)功能通过增设实时能量监控功能可监视光源能量是否激发成功,激发能量为0.02J-0.6J(可以0.02J为单位步进进行设定)。即时掌握电极和样品间的发光放电是否正常(是否由于样品本身造成放电异常)从而只收集正常放电时的谱峰强度数据。对不正常放电时的脉冲不进行计数,提高分析稳定性。3)定电流放电(CRS)技术为了实现对高纯有色金属微量元素的良好分析,首次使用了定电流放电技术,即电弧放电后段,电流持续保持在10A,放电持续时间最大可达2msec,从而微量元素的灵敏度及稳定性可以得到有效提高。4)强大的软件控制功能(最新设计,操作简单,实现人机对话功能)中/英文分析软件,具有强大的数据处理能力及人性化的对话窗口,简单易懂。软件可以监控仪器各单元运行状态,并在仪器操作界面显示;有自动诊断功能,并提供简单解决方案及操作方法;在线帮助功能,自动校正功能,密码保护功能等。
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  • 岛津场发射电子探针EPMA-8050G 开创新纪元——卓越的空间分辨率与超高灵敏度的完美结合 “The Grand EPMA” 诞生搭载最尖端场发射电子光学系统将岛津EPMA分析性能发挥到极致。从SEM观察条件到1μA量级,在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的尖端场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪,将分析性能发挥至极致。 当之无愧的 “The Grand EPMA” ,最高水准的EPMA诞生! [性能特点]● 卓越的空间分辨率电子探针可达到的最高级别的二次电子图像分辨率3nm(加速电压30kV),分析条件下No.1的二次电子分辨率。(加速电压10kV时20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA)● 大束流超高灵敏度分析实现3.0μA(加速电压30kV)的最大束流。可超高灵敏度进行超微量元素的面分析。并且全束流范围无需更换物镜光阑。● 高性能X射线谱仪秉承岛津电子探针颇具优势的52.5°X射线取出角。采用4英寸罗兰圆半径的分光晶体兼顾高灵敏度与高分辨率。可同时搭载5通道高性能X射线谱仪。分析性能更胜一筹。● 全部分析操作简单易懂全部操作仅靠一个鼠标就可进行的先进可操作性。追求「易懂」的人性化用户界面。搭载导航模式,自动指引直至生成报告。 ◎实现微区超高灵敏度分析的先进技术 1 高亮度肖特基发射体岛津场发射电子枪采用的肖特基发射体比一般传统SEM使用的发射体针尖直径更大,输出更高。即可以保持其高亮度,还可提供高灵敏度分析不可缺少的稳定大电流。 2  EPMA专用电子光学系统电子光学系统,聚光透镜尽可能的接近电子枪一侧,交叉点不是靠聚光透镜形成,而是由安装在与物镜光阑相同位置上,具有独立构成与控制方式的可变光阑透镜来形成交叉点的。简单的透镜结构,既能获得大束流,同时全部电流条件下设定最合适的打开角度,将电子束压缩到最细。当然是不需要更换物镜光阑的。3 超高真空排气系统电子枪室、中间室、分析腔体之间分别安装有筛孔(orifice)间隔方式的2级差动排气系统。中间室与分析腔体间的气流孔做到最小,以控制流入中间室的气体,使电子枪室始终保持着超高真空,确保发射体稳定工作。4 高灵敏度X射线谱仪岛津场发射电子探针最多可同时搭载5通道兼顾高灵敏度与高分辨率的4英寸X射线谱仪。52.5°的X射线取出角在提高了X射线信号的空间分辨率的同时,又可减小样品对X射线的吸收,实现高灵敏度的分析。 [应用举例] 1. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G检测:无铅焊锡焊料中Ag与Cu的分布对无铅焊锡焊料中大量含有Ag的区域进行面分析的数据。(加速电压:10kV;照射电流:20nA)Ag的X射线像中颗粒形状与BSE像(COMPO)的颗粒形状一致。直径约0.1μm的Ag颗粒也清晰可辨(红色虚线圈出)。同时可确认Cu颗粒的存在(黄色虚线圈出)。 岛津场发射电子探针EPMA-8050G应用数据 2. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G检测:生物体组织中的金属元素 以下数据为EPMA捕捉到的肿瘤细胞中铂(Pt)元素图像,通过靶向给药将抗肿瘤药物卡铂(铂络合物)导入小鼠头颈部肿瘤组织中后进行分析检测。卡铂通过与癌细胞内的遗传因子DNA链结合,阻碍DNA的分裂(复制)以杀灭癌细胞,我们可以通过元素图像了解抗癌药物以何种形态进入癌细胞内。 岛津场发射电子探针EPMA-8050G应用数据
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  • ZLX-ES系列发射光谱/光源测量系统发射光谱/光源测量系统介绍 发光体,如白炽灯、荧光灯、LED等辐射光谱及发光特性的测试,对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布,而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。 针对不同辐射光源的特性,可灵活选择测试系统,如:宽带光源和LED通常分辨率要求不高,可使用Omni-&lambda 150系列单色仪系统;激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等要求分辨率高,可使用Omni-&lambda 300、Omni-&lambda 500、Omni-&lambda 750系列单色仪系统;宽波长范围(UV~IR),建议采用双出口单色仪接两个探测器;测试宽光谱范围的发光体,建议采用SD滤光片轮消多级光谱。系统组成:分光系统+检测系统+数据采集及处理系统+软件系统+计算机系统
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  • 2016年新年伊始,日本电子株式会社(JEOL)即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能,JEM-F200进行了全新设计,在保障各种功能达到极限的同时,追求操作的简单化和自动化,为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为: 1)精炼的全新设计:在提高机械和电气稳定性的同时,凭借对透射电镜的丰富经验,对电镜整体进行了精炼全新设计,力求为用户提供全新感受; 2) 四级聚光镜设计:为了最大程度发挥出STEM功能,JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计,亮度和汇聚角可以分别控制; 3)高端扫描系统:在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能(选购件)可以获得大范围的STEM-EELS; 4)皮米样品台控制:标配的压电陶瓷控制样品台,可以在原子尺度上获得精准的移动; 5)全自动装样测角台(SPECPORTER):样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现,彰显其便利性及安全性; 6)成熟的冷场发射技术:将JEOL应用在球差校正技术上的高端冷场发射技术移植到普通的场发射透射上,可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析; 7)双超级能谱设计:可安装双超级能谱,将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度; 8)节能减排:启用省电模式耗电量降低80%。
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  • 仪器简介:与日本冶金行业共同进步的岛津为您提供---光电发射光谱仪 PDA系列岛津多年来向世界提供在金属质量管理中必不可少的光电发射光谱仪,如今又推出了集各项精华于一体的PDA-7000。标准配置岛津独创的时间分解PDA测光法,强有力地支持质量管理分析。· 稳定性提高采用新设计的机身/发光台,使稳定性大幅提高。 · 分析精度提高采用新设计的发光台和适合分析范围的最适合的发光条件,从高含量到微量的元素均可进行高精度分析。 · 钢铁中氮的高灵敏度分析氮的检测下限达5ppm。在炉中分析中,达到了可以代替气体分析仪的水平。 · 标准配备高功能配备一直获得好评的PDA时间分解测光、形态分析处理功能。 · 丰富的产品系列,应对多种用途。&rarr 产品系列的详细内容钢铁、铝、镁、铜、锌、锡、钛、镍、钴等各种固体金属的基体金属、合金中的组成元素、杂质微量元素的定量 :PDA-7000· 出色的成绩长期以来,与冶金行业共同发展,积累了丰富的技术信息。&rarr 应用实例 ※外观及规格如有变动,恕不另行通知。发射光谱分析:(OES:Optical Emission Spectroscopy) 所谓发射光谱分析是指使用放电等离子体蒸发气化来激发样品中的目标元素,根据得到的元素固有的亮线光谱(原子光谱)的波长进行定性,并根据发光强度进行定量的分析方法。 广义上讲,激发放电(光源)还包括使用ICP(Inductively coupled plasma 电感耦合等离子体)作为激发放电(光源)的ICP发射光谱分析。但发射光谱分析(发光分析)或光电测光式发射光谱分析,是指使用火花放电/直流电弧放电 /辉光放电作为激发放电的发射光谱分析。发射光谱分析中,在固体金属样品和与电极之间发生放电。 岛津的发射光谱分析装置是在氩气氛围中进行火花放电,对火花脉冲的发光进行统计处理,采用可提高测定重现性(精度)的方式(PDA测光方式:Pulse Distribution Analysis)。 发射光谱分析装置可快速测定固体金属样品的元素组成,是在炼铁、铝冶炼工艺管理用中必不可少的手段。其他咨询
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  • PDA-8000是岛津公司2010年推出的最新一款光电发射光谱仪,集合了岛津光电发射光谱仪之精华,突出了高灵敏度、高稳定性的特点,尤其在高纯有色金属、钢铁中酸溶铝、夹杂物方面的分析有着独特的技术。性能特点:1)高分辨率分光器最新设计的1米光栅分光室,可以有效减少元素间的分光干扰。同时,为了提高对C、N等元素的分析精度,通过2次或3次等高次线进行分析,分辨率得到有效提高。2)实时能量监控(REM)功能通过增设实时能量监控功能可监视光源能量是否激发成功,激发能量为0.02J-0.6J(可以0.02J为单位步进进行设定)。即时掌握电极和样品间的发光放电是否正常(是否由于样品本身造成放电异常)从而只收集正常放电时的谱峰强度数据。对不正常放电时的脉冲不进行计数,提高分析稳定性。3)定电流放电(CRS)技术为了实现对高纯有色金属微量元素的良好分析,首次使用了定电流放电技术,即电弧放电后段,电流持续保持在10A,放电持续时间最大可达2msec,从而微量元素的灵敏度及稳定性可以得到有效提高。4)强大的软件控制功能(最新设计,操作简单,实现人机对话功能)中/英文分析软件,具有强大的数据处理能力及人性化的对话窗口,简单易懂。软件可以监控仪器各单元运行状态,并在仪器操作界面显示;有自动诊断功能,并提供简单解决方案及操作方法;在线帮助功能,自动校正功能,密码保护功能等。
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  • 岛津场发射电子探针EPMA-8050G 开创新纪元——卓越的空间分辨率与超高灵敏度的完美结合 “The Grand EPMA” 诞生搭载最尖端场发射电子光学系统将岛津EPMA分析性能发挥到极致。从SEM观察条件到1μA量级,在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的尖端场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪,将分析性能发挥至极致。 当之无愧的 “The Grand EPMA” ,最高水准的EPMA诞生! [性能特点]● 卓越的空间分辨率电子探针可达到的最高级别的二次电子图像分辨率3nm(加速电压30kV),分析条件下No.1的二次电子分辨率。(加速电压10kV时20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA)● 大束流超高灵敏度分析实现3.0μA(加速电压30kV)的最大束流。可超高灵敏度进行超微量元素的面分析。并且全束流范围无需更换物镜光阑。● 高性能X射线谱仪秉承岛津电子探针颇具优势的52.5°X射线取出角。采用4英寸罗兰圆半径的分光晶体兼顾高灵敏度与高分辨率。可同时搭载5通道高性能X射线谱仪。分析性能更胜一筹。● 全部分析操作简单易懂全部操作仅靠一个鼠标就可进行的先进可操作性。追求「易懂」的人性化用户界面。搭载导航模式,自动指引直至生成报告。 ◎实现微区超高灵敏度分析的先进技术 1 高亮度肖特基发射体岛津场发射电子枪采用的肖特基发射体比一般传统SEM使用的发射体针尖直径更大,输出更高。即可以保持其高亮度,还可提供高灵敏度分析不可缺少的稳定大电流。 2  EPMA专用电子光学系统电子光学系统,聚光透镜尽可能的接近电子枪一侧,交叉点不是靠聚光透镜形成,而是由安装在与物镜光阑相同位置上,具有独立构成与控制方式的可变光阑透镜来形成交叉点的。简单的透镜结构,既能获得大束流,同时全部电流条件下设定最合适的打开角度,将电子束压缩到最细。当然是不需要更换物镜光阑的。3 超高真空排气系统电子枪室、中间室、分析腔体之间分别安装有筛孔(orifice)间隔方式的2级差动排气系统。中间室与分析腔体间的气流孔做到最小,以控制流入中间室的气体,使电子枪室始终保持着超高真空,确保发射体稳定工作。4 高灵敏度X射线谱仪岛津场发射电子探针最多可同时搭载5通道兼顾高灵敏度与高分辨率的4英寸X射线谱仪。52.5°的X射线取出角在提高了X射线信号的空间分辨率的同时,又可减小样品对X射线的吸收,实现高灵敏度的分析。 [应用举例] 1. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G检测:无铅焊锡焊料中Ag与Cu的分布对无铅焊锡焊料中大量含有Ag的区域进行面分析的数据。(加速电压:10kV;照射电流:20nA)Ag的X射线像中颗粒形状与BSE像(COMPO)的颗粒形状一致。直径约0.1μm的Ag颗粒也清晰可辨(红色虚线圈出)。同时可确认Cu颗粒的存在(黄色虚线圈出)。 岛津场发射电子探针EPMA-8050G应用数据 2. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G检测:生物体组织中的金属元素 以下数据为EPMA捕捉到的肿瘤细胞中铂(Pt)元素图像,通过靶向给药将抗肿瘤药物卡铂(铂络合物)导入小鼠头颈部肿瘤组织中后进行分析检测。卡铂通过与癌细胞内的遗传因子DNA链结合,阻碍DNA的分裂(复制)以杀灭癌细胞,我们可以通过元素图像了解抗癌药物以何种形态进入癌细胞内。 岛津场发射电子探针EPMA-8050G应用数据
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  • EPMA-8050G 场发射电子探针从SEM观察条件到1μA量级,在各种束流条件下都拥有无与伦比卓越空间分辨率的场发射电子光学系统。结合岛津传统的高性能X射线谱仪,将分析性能发挥至极。 范围 硬度标尺 :4Be~92U 发射源:搭载高亮度肖特基发射体 二次电子图像分辨率:3nm(加速电压30kV) X射线取出角角度:52.5°,大限度减少X射线被吸收 分光晶体:全聚焦型 X射线谱仪:高灵敏度、高分辨率型优点1、高亮度肖特基发射体 场发射电子枪采用的肖特基发射体比一般传统SEM使用的发射体针尖直径更大,输出更高。即可以保持其高亮度,还可提供高灵敏度分析不可缺少的稳定大电流。2、 EPMA专用电子光学系统 电子光学系统,聚光透镜尽可能的接近电子枪一侧,交叉点不是靠聚光透镜形成,而是由安装在与物镜光阑相同位置上,具有独立构成与控制方式的可变光阑透镜来形成交叉点。简单的透镜结构,既能获得大束流,同时全部电流条件下设定最合适的打开角度,将电子束压缩到最细。当然是不需要更换物镜光阑的。3、超高真空排气系统 电子枪室、中间室、分析腔体之间分别安装有筛孔(orifice)间隔方式的2级差动排气系统。中间室与分析腔体间的气流孔做到最小,以控制流入中间室的气体,使电子枪室始终保持着超高真空,确保发射体稳定工作。4、高灵敏度X射线谱仪 最多可同时搭载5通道兼顾高灵敏度与高分辨率的4英寸X射线谱仪。52.5°的X射线取出角在提高了X射线信号的空间分辨率的同时,又可减小样品对X射线的吸收,实现高灵敏度的分析。
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  • Micro Hybrid红外发射器JSIR 350-4产品型号:JSIR 350-4产品介绍红外发射器,TO8 接头上有 4 个芯片,用于测量浓度低的气体或吸收特性低的气体。标准 TO8 外壳中带有无窗反射器的版本也适用于从 30 厘米起的长测量距离。这种基于 MEMS 的灯丝发射器对应物具有显着更长的寿命和更少的漂移。与灯丝红外源不同,JSIR 350 Quad 发射器是可调制/可脉冲的,不需要额外的斩波器。高性能纳米无定形碳膜片可实现高达 850 °C 的膜片温度,以实现长期稳定的辐射输出。 JSIR 350 Quad IR 发射器非常适合工业航空航天和其他要求苛刻的应用中的各种气体分析应用。IR 照明器可与 MTS 热电堆探测器或 MPS pyro 探测器一起使用。与 Micro-Hybrid IR 检测器的组合可确保在分析气体浓度时获得更好的性能并确保准确的测量结果。性能特点 宽发射率 2 - 15 µ m 膜温度高达 850 °C 高辐射输出 调制频率高 长寿命(膜的高稳定性带来的可靠性) 提供 HermeSEAL 技术 天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立,坐落于渤海之滨天津,地理位置得天独厚,交通运输便利,进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心,我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品,同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。
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  • 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们
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  • 光电子发射光谱 400-860-5168转3281
    专利的双模开尔文探头和光发射光谱系统,用于通过空气中的光发射测量材料的绝对功函数。我们独特的系统提供的开尔文探头系统范围和功函数分辨率的准确性是任何其他开尔文探头供应商都无法比拟的。APS型光电子发射光谱仪特点:1, 大气环境下使用2, 功能:光电子发射光谱+开尔文探针3, 测试能级:费米能级,导带底能量,价带顶能量,HOMO-LUMO,禁带宽度,功函数等4, 局域态密度 (Local Density of States, LDOS)5, 3分钟得到:费米能级,功函数,局域态密度6, 非接触无损测试,测试安装简单,操作容易7, 低能量的光子激发8, 提供校准用的标样9, 手动和全自动操作,稳定可靠APS04-N2-RH型光电子发射光谱仪:样品由氮气保护,相对湿度控制箱内测试 此光电子发射光谱仪使用可调波长的深紫外光源,能量输出 3.4 - 7.0 eV, 可以得到以下数据:绝对功函数 HOMO : highest occupied molecular orbital 表面光电压谱(SPS)模块输出 400 - 1000 nm波长,用于测试 Voc 和 禁带宽度, 结合 50 x 50 mm扫描面积得到平面相对功函数测试(费米能级). 氮气保护,相对湿度控制箱内测试绝对功函数 软件测试可得到: 能级扫描范围针尖标样势能, 信号增益 信号整合时间及平均立方根或平方根拟合光电子发射数据 归一化光强基线校正局域态密度LDOS对于光子能量的曲线
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  • 发射率测量仪 400-860-5168转6159
    20240701 RLK650 pro便携式红外发射率测量仪规格书一份V1.0-立鼎光电.pdfRLK650 pro 是便携式红外发射率测量仪 RLK650 的升级产品,采 用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术, 以及人体工程学技术新型的光电检测仪器。其基于定向半球反 射比(DHR)测量原理,完成双波段(3-5um 和 8-14um)发射 率的贴近测量,产品针对野外、移动试验条件设计,集公司多 项技术积累,吸收国际先进产品技术与特点,具有携带方便、 操作简单等优点,测量结果保存在 SD 卡中。可广泛应用于飞机、 舰船、车辆的红外隐身性能现场评估,红外隐身涂覆材料的研 究等,是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。详见附件。
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  • 紫外阴极发射光源是一种深紫外光源,其通过利用电子束来进行发光,以此实现产品的“零汞”。该产品亮度的峰值波长是紫外LED的8倍左右,另外,其尺寸小巧紧凑,内涵一个内置电源,因此它可被安装到任何一种仪器中进行使用。特征:尺寸小巧,结构紧凑高亮度:约在紫外LED的8倍(310nm)不含汞使用寿命长:可保证5000小时的工作时间不需要额外进行电源和外壳的设计应用:荧光分析紫外固化环境分析材料的抗性评估详细参数 光谱波长分布发射分布外形尺寸(单位:mm)
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  • 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们 耳声发射检测仪,耳声发射检测仪厂家欢迎联系我们
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  • 天津瑞利光电科技有限公司优势供应OBLF火花发射光谱仪QSN 750-II产品型号:QSN 750-II产品介绍QSN 750-II是火花发射光谱仪,由于其 750 mm 真空光学元件,可用作单矩阵或多矩阵系统。这使得QSN 750-II拥有广泛的应用领域,不仅涵盖了整个金属生产和加工企业,还包括材料测试人员和测试机构的大量选择。根据客户规格布置的集成系统和光电倍增管都安装在光学器件内部,因此可以防止外部影响。温度稳定的光学元件和门控数字源 (GDS) 技术保证了高度的信号再现性和分析稳定性。易于触及的自清洁和火花架和孔径窗口使用户能够无故障地进行维护。排气过滤器可确保清除消耗的氩气。性能特点 多矩阵应用 多达 64 个 PMT 元件通道 GDS III 火花发生器 真空系统 自清洁火花架 适用于自动化系统 双电极系统可选 自动电极清洁作为选项OBLF火花发射光谱仪QSN 750-II 光学Paschen-Runge 安装的光谱仪罗兰圆直径 750 mm波长范围 110-770 nm光学元件和读出电子元件的温度稳定在 ± 0.1°C,具有长期稳定性自动计算机控制型材彗差校正狭缝根据各自波长选择的 PMT 类型抗震性 电子稳压 PMT 高压电源每个通道的动态 16 位 AD 转换DSP 处理器控制连接光谱仪 PC 的 USB 接口 电源供应230V 50/60 Hz 1,5 kVA待机模式下 500 W 环境条件工作温度:10 – 40 º COBLF火花发射光谱仪QSN 750-II尺寸和重量宽度:104 cm高度:130 cm深度:90 cm重量:约460 kg天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立,坐落于渤海之滨天津,地理位置得天独厚,交通运输便利,进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心,我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品,同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。
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  • 阴极发射体 400-860-5168转2831
    阴极发射体 Kimball Physics设计和制造各种高性能电子发射器,以满足客户的各种需求。这些发射器专为高亮度、长寿命或坚固的可靠性而设计,用于Kimball Physics电子枪以及我们客户的高性能仪器和工具。阴极/发射器既有标准产品,也有定制设计,应用包括电子显微镜、光刻、X射线生成、自由电子激光器、电子加速器等。阴极发射体阴极类型: 阴极发射体基座类型:● 六硼化镧(LaB6)高亮度单晶 ● 带有Kovar或钼引脚的高公差陶瓷 LaB6高亮度单晶——标准和保护环 ● 标准陶瓷AEI底座 LaB6用于电子显微镜-适用于大多数系统 ● Compact Kimball Physics CB-104基座● 圆盘阴极 ● 各种显微镜底座 钽(Ta)标准耐火圆盘 ● 阴极也可以安装在客户提供的底座上 用于低温操作的氧化钡(BaO)涂层圆盘 钇(Y2O3)涂层铱盘,可承受较差的真空度阴极发射体选型参考表* electron microscope Bases Available: Zeiss, VG-AEI replacement, VG, Philips, Perkin Elmer/ ETEC, Leica-AEI, JEOL-K, JEOL-GC (JSM, JEOL-E, ISI 2-pin, Hitachi S, ETEC, Electroscan-AEI, Camscan-AEI, Cameca-AEI, BioRad-AEI, Amray, AEI* Configurations Available: Code (Cone angle – microflat size(microns): 60-06, 90-15, 90-20Note- not all combinations are available (Cone angle, microflat dimension, with/without GR and base style, or Disc dimension and base). However, custom options are often available.** Richardson constant (A/m2K2 ) LaB6 = 29, Other materials for reference CeB6 = 3.6★★★ 更多电镜方面产品信息,比如,磁透镜、真空腔等,可咨询上海昊量光电设备有限公司。关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务。
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  • 发射率测量仪 400-860-5168转6159
    1. 测量原理:定向半球反射(DHR) , 20°±1°入射2. 测量波段:双波段,3-5卩m & 8-12pm3. 重复性:< 0.014. 便携式设计:良好的人体工程学外形设计,操作手感好5.彩色触摸屏:汉字界面、触摸操作、一目了然,一键测量,操作简便6.数据存储:Micro SD卡,最大2048条记录,分8组,TXT文件格式,方便在PC机上后续数据分析国内商用化产品产品经过工程化考验隐身涂覆材料红外特性硏究飞机、舰船、车辆红外隐身性能现场评估RLK650便携式红外发射率测量仪,是采用先进的光电检测技 术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术,以及人体工程学设计技术,新型 的光电检测仪器。其基于定向半球反射比(DHR)测量原理,完成双波段 (3-5um和8-12um)发射率的贴近测量。产品针对野外、移动试验条件设 计,集公司多项技术积累,吸收国际先进产品的技术与特点,具有携带方便、 操作简单、等优点,测量结果保存在SD卡中。可广泛应用于飞机、舰船、车辆的红外隐身性能现场评估、红外隐身涂 覆材料的研究等,是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。销售商:西安立鼎光电科技有限公司 生产商:西安中川光电科技有限公司联系方式:029-81870090型号ModelRLK650原理 Principle定向半球反射(DHR), 20° ±1°入射测量波段 Spectral Response双波段3-5pm & 8-12pm工作模式Work Mode发射率/反射率重复性 repeatabilityW 0.01显示分辨率 Display Resolution0.001显示屏 Screen Type3.5” TFT LCD 触摸屏测量时间Measurement Time1。秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间Stanby Time 90秒数据存储Data StoreMicro SD卡(8Gbyte),最大2048条记录,分8组数据下载Data Download下载操作后,2048条记录,分8个TXT文件格式,保存在MicroSD卡中供电方式Power SupplyLi电池,18V3AH,持续工作时间>3小时,可更换工作温度Working Temperature0P~+45P,非冷凝储存温度 Store Temperature-30P~+65P,非冷凝外形尺寸Dimension246mm * 290mm * 108mm(测量头)重量Weight2.3Kg(测量头)整体外形尺寸 Total Dimension480mm *410mm* 200mm(包装箱含电池、充电器、标准片等)整体重量Total Weight6.4Kg(包装箱含电池、充电器、标准片等)销售商:西安立鼎光电科技有限公司 生产商:西安中川光电科技有限公司 联系方式:029-818700902\
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  • 岛津 SHIMADZU ICP S-7000等离子体发射光谱仪95成新 1万起购!!!友情提示:该仪器95成新 现货供应 欢迎来电议价!仪器实拍: ICP的重要特征:Ppb量级水平的检测限。无基体效应。宽广的测量浓度范围。高稳定性和重复性。拥有了这些和其他分析的优势,ICP光谱仪可广泛应用。它们的应用范围包括质量控制成分分析,超痕量成分确定,包括环境水质量监督以及主要成分确认,包括成分确定等。为了大限度的利用 ICP光谱仪以上的特征,需要以下几点:此光谱仪可在一个宽的波长范围提供高分辨率。盐酸/水溶剂样品和有机溶剂样品可以在未进行仪器组件的增加或变更时进行分析。RF发生器、光谱仪、气体流动控制组件确保高稳定性。低运营成本。通过自动化可确保操作的简便性,数据系统可提供广泛系列的数据处理功能。岛津ICP发射光光谱仪,可满足不同的检测需要。已具备庞大的数据库和众多软件项目。
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  • 703型Waterloo地下水修复发射器1.8英寸, 3.8英寸和5.8英寸Waterloo地下水修复发射器 Waterloo地下水修复发射器是一种简单低成本的设备, 它设计用来受控并且统一的释放氧气或者其他生物提高调整剂, 从而促进和维持原位污染地下水生物降解所需的微生物的生长。 使用专利的技术*使得可以通过加压的硅有机树脂或者LDPE(低密度聚乙烯)管来稳定而又直接的将氧气扩散到一个地下蓄水层中. 氧气持续而稳定的释放到管中, 这就创建了一个非常理想的浓度梯度, 驱动着这个被动系统, 不会因为形成气泡而溢出过剩氧量。 发射器非常适合于需氧的BTEX和MTBE生物降解. 扩散过程为增强需氧生物降解提供了即时的分子氧生物利用率, 因此不会发生损失调整气体的情况. Waterloo地下水修复发射器还能促进需要的无机反应(pH调整, 水解等)。 简单的多功能系统 Solinst 地下水修复发射器 703 可以适配2英寸, 4英寸和6英寸(50毫米, 100毫米和150毫米)的井. 它们可以安装在开放井中, 或者使用沙袋永久性的安装在钻井或者沟渠中. 51英寸(130厘米)长的Waterloo地下水修复发射器可以单独的或者以叠加到另一个发射器顶端的方式来安装, 以便确保完全覆盖污染羽状物. 它们还可以在水平应用中使用. 因为无需最小液压压头, 发射器在水下任何深度都有效. 当连接在封隔器和/或循环泵时, 作用半径也会增加. Solinst 地下水修复发射器 703 独特的扩散技术允许使用任何化学物当作调整剂来治理受到污染的地下水. PVC框架容纳了监测或者采样设备以便在补救过程中观察地下水状况. 工作原理 Solinst 地下水修复发射器 703 由盘绕在一个PVC骨架上的硅有机树脂或者聚乙烯管组成. 当液体被引入管中时, 一个浓度梯度便在管和地下水之间建立. 发射器工作原理是菲克扩散定律, 扩散会一直发生, 直至管内外的化学物浓度有了平衡. 使用发射器技术, 氧气(或其他调整剂)被持续地补充, 因为地下水持续地流经发射器, 所以平衡永远不会发生. 这便导致从发射器到地下水有持续的扩散. 当气体被应用于发射器时, 施加压力的增量和扩散到地下水的气体增量之间有一个正相关, 然而扩散是调整剂被添加到地下水的唯一的机制. 安装如果一种增强气体被用于补救, 可以使用小型或中型尺寸的高压气筒. 根据需要的增强气体的量来选择发射器管并设置气压. 单个高压气筒可以为多个串联的发射器提供气源.发射器管内的气体补充可以通过定期的清洗来实现(1-2周一次) 或者在系统的末端使用针形放泄阀来缓慢而恒定的补给. 1、确定目标 用驱动点剖面器来为使用发射器绘制/描绘的污染羽状物的加强生物降解, 确定最有效的区域, 2、确定数量 - 使用多级系统来精确的描绘污染物的面积和运动 - 使用离散监测系统更精确的聚焦补救策略 - 监测修复效果3、解决问题 使用Waterloo地下水修复发射器为受污染的地下水受控的释放氧气(或其他调整剂) – 不起泡。示意图显示了使用Waterloo地下水修复发射器的分段羽状物补救, 使用放在斜坡下面的CMT地下水连续监测系统或Waterloo多水位地下水监测系统的横切来监测. 应用: 为BTEX和MTBE的需氧生物降解释放氧气 为溶剂的厌氧还原去氯释放氢气 为当作示踪物而引入溶解的SF6, 氩等 为调整pH值而释放二氧化碳 释放轻质烷烃以促进MTBE的新陈代谢生物降解 羽状物迁移屏障, 首要补救设备或者抛光优点: 低成本 为恒定的微生物活性稳定的释放补救剂 易于安装和卸载 最少的维护和操作 没有因为起泡而造成调整剂损耗 没有引入或造成有害物质 无泥浆混入, 处理或注入 无需电子设备
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  • RLK651手持式红外发射率测量仪Portable Infrared Emissionratio MeterRLK651手持式红外发射率测量仪,采用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术,以及人体工程学设计技术,实现对材料红外波段(2-22um)发射率的贴近测量。产品针对工业现场使用条件设计,具有携带方便、操作简单等优点。RLK651手持式红外发射率测量仪,可广泛应用于各种工业材料发射率的测量,是材料红外特性研究的良好选择等。产品特点&bull 测量原理:定向半球反射(DHR),20°±1°入射;&bull 测量波段:2-22um;&bull 重复性:±0.02;&bull 便携式设计:良好的人体工程学外形设计,操作手感好;&bull OELD单色屏:一目了然,一键测量,操作简便;&bull 数据记录:最近32条测量记录,方便进行测量对比。 技术指标型号 RLK651测量波段2-22um工作界面预热/测量/校准显示分辨率±0.001测量精度±0.02显示屏2.42”,OLED点阵屏,单色测量时间 10秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间90秒数据存储32条记录,EEPROM存储,关机保存供电方式 220VAC-12V@3A 电源适配器工作温度-10℃ ~ +45℃,非冷凝储存温度-30℃ ~ +65℃,非冷凝外形尺寸Φ94mm * 160mm(L) * 200mm(H)重量1.0Kg整体外形尺寸378mm * 360mm * 160mm(包装箱含电源适配器,标定片等)整体重量 2.5Kg产品外形 注:技术指标作产品介绍使用,仅供参考,以产品随机说明书为准,如有变更,恕不另行通知。
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  • ICPE-9800等离子体发射光谱仪ICPE-9800实现更大浓度跨度的多元素精确、 快速、同时分析,友好的ICPEsolution工作站软件让分析过程倍感轻松。这一全新系统能为环境、医药、食品安全、化学、金属材料等领域元素分析的提供业界水准的分析工具。 产品信息 ICPE-9800系列创新设计了Eco运行模式,在样品之间的待机过程中可进一步降低氩气流量到5L/min。从Eco模式转换回常规分析模式仅需1秒。仪器配置的高精度全质量流 量气路控制系统和极为稳定的高频发生器系统保证模式切换的优异稳定性。结合岛津已经应用多年的Mini炬管系统、真空光室以及99.95%纯度氩气稳定运行技术,四项技术联合使用可节约70%氩气成本。图注:待机时,仪器可自动转入Eco模式。高频功率降低到0.5kW, 等离子体气流量降低 到5 L/min,显著节省能耗。产品特点省时高效的分析百万像素CCD 真正的二维全谱数据获取,无需再次测定样品即可实现事后元素及波长的追加和更改。真空光室系统无需开机吹扫等待。CCD冷却温度为-15℃,从冷开机到稳定工作所需冷却时间极大缩短。垂直放置的炬管可有效减少样品在炬管壁的吸附沉积,从而降低记忆效应,减少冲洗时间。轴向、径向自动切换可轻松实现低浓度和高浓度样品同时分析,将高灵敏度和宽动态线性范围完美结合。极为易用的软件分析助手功能内置含11万条谱线的光谱干扰数据库,可自动分析选择谱线,使条件优化更简单,样品分析更高效。超低运行成本引领潮流的4项气体成本节省技术:Eco模式、Mini炬管系统、真空光室以及99.95%纯度氩气稳定运行技术。标准配置为文氏进样系统,无需蠕动泵,免除了频繁更换蠕动泵泵管的烦恼。垂直炬管设计使炬管寿命延长数倍,炬管维护频度也显著降低。ICPE-9800系列全谱直读型电感耦合等离子体发射光谱仪
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  • ICPS-8100等离子体发射光谱仪 ICPS-8100是顺序扫描型ICP,具有高分辨率,更适用于基体复杂的样品,如稀土、钼、钨等。ICPS-8100可对目标分析物提供精确至痕量水平的高分辨率分析,并且不受干扰物质或者主要成分的影响。 产品的特点双顺序扫描型单色器装置确保尖锐的谱线和稳定性这是一款高性能的ICP发射光谱仪,配置了顺序型双单色器,拥有高分辨率及快速的特点,并且提供了多种的进样系统。仪器易于操作,适用于研发和质量控制。高分辨率(0.0045 nm)高分辨率可满足金属、稀土和土壤分析的要求,可对目标分析物提供精确至痕量水平的高分辨率分析,并且不受干扰物质或者主要成分的影响。真空型光室可提供长期稳定的测量真空光室可对S, B, I, Al和其他在真空紫外线区域拥有超高灵敏度分析线的成分进行高灵敏度分析。由于不需要气体吹扫,因此可减少气体对流时的波动和污染。所需稳定时间短,并能确保长时间分析的稳定性。简单分析分析铁中的锌和砷。登记样品名称并用已设定好的分析条件开始分析。分析条件很容易改变,并可设置到常规条件中。分析结果可用商业软件以报告的形式打开。
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  • SAMOS声发射系统 400-860-5168转3568
    产品简介:名称:SAMOS声发射系统品牌/产地:美国型号:应用:SAMOS系统是第三代全数字化系统,其核心是并行处理PCI总线的声发射功能卡-PCI-8板,在一块板上具有8个通道的实时声发射特征提取、波形采集及处理的能力。 详细介绍:SAMOS系统是PAC公司第三代全数字化系统,其核心是并行处理PCI总线的声发射功能卡-PCI-8板,在一块板上具有8个通道的实时声发射特征提取、波形采集及处理的能力。是PAC公司目前集成化更高、价格更低的系统,更适用压力容器检测等工程应用。 SAMOS(PCI-8)系统的主要特性:l 每一PCI-8卡具有8个声发射通道;l PCI总线提供声发射数据与PC机的传输速度可达132MB/S;l 每通道4个高通,4个低通模拟滤波器,可通过软件进行控制来组成13个率波段;l 输入电压范围:±10伏;l 每通道自动带有平方器以获取真实能量及RMS信号;l 16位A/D精度,3MHz采样率;l 每个PCI-8卡的2个外参数的输入更新速度可达10000个数据/S;l 并行的FPGA处理器和ASIC IC新片可提供非常高的性能和更低的成本;l 硬件实现的AE特征采集提供高速传输下的高速特征采集及实时分析;l 实时/同步声发射特征抽取及波形采集/分析;l 方便使用的SMB连接头;l 1KHz-400KHz的带宽;l 内置的波形处理功能、DMA技术及PCI总线结构可较大限度的实时采集/处理及传输所有通道的AE参数及波形数据以满足高水平声发射应用的要求;l 数字信号处理器可达到高精度和可信度的要求;l 可提供Labview/C++驱动开发程序。 咨询或索取详细产品资料,请联系ANALYSIS(安赛斯)工作人员。
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  • 410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的,可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm,红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数,通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射,通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用,可现场测量,操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接,该仪器可作为一个手持单元操作,一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样,并可选提供NIST可溯源标定。功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内,测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围:从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作,内置SD卡应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比,漫反射比,和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段:335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段:1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面,6”半径凸面,12”半径凹面测量时间10秒/次;90秒预热光源VIS:钨灯,IR:铬铝钴合金测量探头模块化设计,测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境:-25~70℃;操作环境:0~40℃,非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg,含电池
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  • 秉承飞纳台式扫描电镜系列全自动操作、快速成像、不喷金观看不导电样品、完全防震、性能稳定的特点,荷兰飞纳公司推出采用肖特 基场发射电子源,集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体的台式场发射扫描电镜能谱一体机 Phenom Nano G2。 高亮度肖特基场发射电子源,使用户可以轻松获得高分辨率图像。最高放大倍数 100 万倍,分辨率优于 2.5nm肖特基场发射电子源彩色光学显微镜全景导航集成全自动马达样品台内置全自动真空锁,15 秒抽真空无需喷金,直接观察不导电样品无漏磁设计,直接观测磁性样品操作简单,培训 30 分钟即可上手耦合式电子光路设计内置 27 组独立减震单元,完全防震维护成本低飞纳电镜系列产品性能稳定,可以长时间工作,自动化程度高,大量节省了人力成本。飞纳台式场发射扫描电镜的灯丝使用稳定,寿命长,电子光路免维护,后期维护简单。飞纳电镜系列产品加入了硬件防护设计,杜绝人为操作不当引起设备故障;同时,提供终身免费的远程联网检测,实时维护您的电镜。复纳科学仪器(上海)有限公司为您提供飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2的参数、价格、型号、原理等信息,飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2产地为荷兰、品牌为Phenom,型号为Phenom Pharos G2,价格为面议RMB,更多相关信息可来电咨询,公司客服电话7*24小时为您服务
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  • 声发射系统主机 400-860-5168转3568
    产品简介:名称:声发射系统主机品牌/产地:美国型号:应用:通用性的PCI插槽式系统,提供较大的整机性能,方便的一机多系统,增强了用户的自主选择。一般可以插4、6、14块卡,用于PCI-8卡可构成最多32、48、112通道系统;用于PCI-2卡可构成最多8、12、28通道系统。 详细介绍: 通用性的PCI插槽式系统,提供较大的整机性能,方便的一机多系统,增强了用户的自主选择。一般可以插4、6、14块卡,用于PCI-8卡可构成最多32、48、112通道系统;用于PCI-2卡可构成最多8、12、28通道系统。 天候在线监测系统SH-II(SHM) 4通道无线系统1284 USB总线专用声发射仪 单机较大通道(112通道)机箱SAMOS-112 核电专用机柜LPMS 两通道掌上系统 咨询或索取详细产品资料,请联系ANALYSIS(安赛斯)工作人员。
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  • 技术介绍:系统采用双传感器设计,可在石墨盘旋转同时进行整个石墨盘的漫反射率、镜面反射率及发射率二维分布Mapping 测量;原理用途:物体的发射率与物体的表面状态(包括物体表面温度、表面粗糙度、面形以及表面氧化层、涂层、缺陷、残留物、表面杂质等)有关。所以,通过对石墨盘各个点发射率的测量可以直接反映出石墨盘表面肉眼难以观测到的表面细节,同时基于黑体辐射原理进一步评估石墨盘表面温度的分布情况。这对有效控制器件的质量,以及优化生长工艺有帮助。技术指标及特点:1. 扫描尺寸:700mm;2. 适配石墨盘:大部分商用石墨盘;3. 扫描分辨率:径向分辨率0.05mm,角度分辨率0.1°,用户可自定义;4. 扫描时间:10 分钟(465mm 尺寸的石墨盘,以径向1mm,角度0.1°测量);5. 测量光点尺寸:2mm6. 光源波长:940nm 或660nm(可选);7. 镜漫反射率分辨率:±0.005;镜漫反射率准确度:±0.01;发射率分辨率:±0.01;发射率准确度:±0.02;8. 系统为离线测量设备,便于石墨盘的装卸。软件操作简单,专为操作员及工程师设计;
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  • ZLX-ES系列发射光谱/光源测量系统发射光谱/光源测量系统介绍 发光体,如白炽灯、荧光灯、LED等辐射光谱及发光特性的测试,对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布,而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。 针对不同辐射光源的特性,可灵活选择测试系统,如:宽带光源和LED通常分辨率要求不高,可使用Omni-&lambda 150系列单色仪系统;激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等要求分辨率高,可使用Omni-&lambda 300、Omni-&lambda 500、Omni-&lambda 750系列单色仪系统;宽波长范围(UV~IR),建议采用双出口单色仪接两个探测器;测试宽光谱范围的发光体,建议采用SD滤光片轮消多级光谱。系统组成:分光系统+检测系统+数据采集及处理系统+软件系统+计算机系统
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  • 可见光谱仪是一种应用十分广泛的分析表征设备,广泛布局在科研院所、企业研发实验室等场景,在化学、生物、医药等领域发挥着不可替代的作用。市面上大多数可见光谱仪分为吸收谱仪和发射谱仪,且不具备空间分辨能力,这使得用户需要同时依赖多款设备对样品进行表征分析,不仅降低而分析效率,而且增加了不可靠性。本公司的吸收-发射谱仪实现同一样品位置的吸收-发射谱联采,极大提高了分析效率,而且通过将光斑减小到微米量级,为用户提供空间分辨性能。吸收谱波长范围200 – 1100 nm发射谱波长范围350 – 1100 nm激光波长350 – 800 nm光斑大小10μm – 1 mm
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  • TIR 100-2发射率快速测定仪德国原装进口!简要描述: TIR100-2 是一款紧密型手持式测定仪,用于测量无损的表面的发射率。测量元件,操作界面,控制设备还有输出电路全部集于该手持式测量设备中。该设备的运行只需要一个电源供电,通过一个触摸屏对设备进行操作。 TIR100-2 可以用于涂料的质量控制,也可以用于协助实验室中的多种研发试验。用于玻璃的测量,测量结果与EN 12898的结果相同。涂层材料的发射率测量符合prEN 15976标准。具体功能: 被测目标表面接收100℃半球形黑体辐射出的红外辐射,目标表面反射的红外辐射被接收测出反射率并根据校准值得到发射率。校准值由校准标准得到。测量结果直接显示在触摸屏上。 该设备配套有一个详细的手册,关于设备的原理、测量步骤和精密的测量方法。 典型应用:&bull 镀膜玻璃的质量检测&bull 太阳能集热器涂层的质量检测&bull 箔片涂层的质量检测 &bull 卫星的热涂层的质量检测 技术参数:测量范围发射率 0,020 … 0,980重复精度 (精度): +- 0,005 (lowE)..+-0,01(hiE)波段2,5 µ m - 40 µ m能量最强波段8 µ m黑黑体温度100 °C测量时间5 sec测量光斑ca. 5 mm功率 最大. 130 W at 230 V~/115 V~接口RS232 (可选的输出接口) 尺寸230 mm x 140 mm x 120 mm 重量2,0 kg 校准标准低发射端: 抛光铝高发射端: 黑色遮光罩 参考发射率低发射端标准值 ~ 0,012高发射端标准值 0,96个别校准可参考国家物理实验室校准标注
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