颗粒形状

颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1产品视频参考：Morphious V1 （MP-V1）颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器 系统采用一个料斗将被测试的样品归集到测试振动台上，以便将这些小颗粒分散并做自由落体运动。当它们做自由落体时，使用CCD摄像机捕捉这些小颗粒的细节（形态测量）。 结合专业的分析软件将品控的质量关键点 Critical to Quality(CTQ)参数展示在操作员面前。用户可自行定义各种各样的标准，用以区分特殊定义的颗粒特性。系统可运行检测的吞吐量大约为50Kg/h。这意味着将有大量的数据需要运算分析处理。数据将被存贮在特定的数据库中，且易于被调用和检索。用户可定义各种各样的相关参数处方，用以对相应的产品进行质量控制。系统可提供无限的图形化可能性来表征颗粒的质量。检测到各种瑕疵，它们的分布和数量可以通过一张二维正态分布图展现。这个处理过程有助于将各种不同缺陷分类呈现出来（如外形凸起的，聚集在一起的，含有污物的，片状的，碎片状的，破损的），如造粒工序中遇到的情况（如颗粒相互粘连，两粒合并，三粒合并等）挤出熔体不佳情况（如鱼纹，细粉等），部分降温过程中出现的空洞（如面条状，空心状，狗骨头状，细末，细粉等。如下图中所列出的实例所示：）分布图显示了颗粒的一致性状况。相对于早起陈旧的筛选方法，它能展现更多的细节，以供生产者能直观地进行产品质量控制，并快速建立起工艺改进方案，改善颗粒的一致性。运行性能 采用模块化结构 可扩展性，易于适配级升级 定制界面 Windows操作界面易于依据客户定制 最佳的照明技术 采用特殊的照明技术，从而避免在颗粒检测分析过程中出现的各种色差问题 实时图像画面 迅速地运算评估，分析以及采用多种不同的格式反应监测结果：以大小划分的表格视图，时间演化趋势，Mosaic图片，柱状图，分布图等 表格视图 依据形状，大小、直径，延伸率，圆度，粗糙度，以及/或凸面度来展现Mosaic图片视图 连续不断地显示变化的实时图片 展示图形特点 展示依据大小、形状等设定重新分布的图形 时间演化 Time evolution 展示依据时间演化设定重新分布的图形特征 同步处理 检测系统和扩展仪表相互联通交换处理信息 外部扩展应用接口 报警接口，数字补偿功能等 开放的数据库 以协议化生成的数据可轻松便捷完整地转化为通用的数据格式（MS Access，Excel等） 技术资料 摄像机： CCD线性扫描传感器4096 Pixel 160 MHz光源： 具备白色光谱的高频同步荧光灯 电源功率：32W主机： 工控机Intel®Core™ 2 Duo，采用最新的主流硬件配置软件： Windows XP 操作系统，定制图像处理软件系统接口： Ethernet 10/100 M Base T,USB,RS 485，RS,232,数字&模拟1/0,Fieldbus通信协议： MODBUS RTU,MODBUS TCP/IP,OPC,SQL，文件转换（定制），可将PROFIBUS转换为其他现场总线系统远程控制： 最大扩展100m，远程协助、维修诊断尺寸大小： 100×50×50cm(l,w,h)处理量： Up to 50Kg/h电源电压： 230V AC/115V AC,50/60 Hz运行温度： 10-40℃

ASPECT 生物气溶胶粒径形状检测仪--首台同步测量气溶胶粒径和形状的分析仪 ASPECT系统使用ASAS（Aerosol Size and Shap）技术原理测量气溶胶的形状和组成,ASAS技术使用光学颗粒技术原理。气溶胶的气流通过仪器的激光照射区域，由于颗粒的存在，会引起的光的衰减和散射，仪器通过光束的衰减和散射计算颗粒的形状和大小。 ASPECT不仅能够测定气溶胶颗粒(〈20um)的粒径及浓度大小，还可测定测单颗粒气溶胶形状因子,用于生物气溶胶粒子的识别和监测。 应 用： 气溶胶研究 全球气候变化研究，云层研究 环境监测污染物浓度 药物研究 粒子设计和组成 实时监测和控制粒子的生成过程 可测纤维/生物气溶胶的污染浓度 监测生物气溶胶水平 技术参数： 通 讯 连 接：USB 颗 粒 通 量：20,000个/秒 非对称因子Af：0 &ndash 100 不对称通道数：20, 分辨率 5 流 速：1.0 LPM (± 10%) 粒 径 范 围：0.5&ndash 20 um 粒 径分辨率：0.5um 颗 粒 计 数：〈20,000/sec 尺 寸：L47cm x W27cm x H26cm 重 量：20kg 系统软件可以分析以下数据： 颗粒数浓度(个/立方厘米) 颗粒体积/立方厘米 颗粒表面积/立方厘米 颗粒数目 (总数的百分比) 颗粒体积 (总体积百分比) 颗粒表面积 (总表面积的百分比)

ShapeSorter 4.1金刚石形状分选机可根据不同形状对工业钻石或者其他颗粒相同的粒状材料进行分类。该分选机是平板电脑来操控，有手动和自动选择模式，可轻松的创建产品的数据库和激光控制的物料供应控制系统。产品特点：1、旋转式保护盖；2、日志记录功能；3、触摸屏操作；4、自动、手动模式；5、创建产品数据库；6、防止外部影响；7、独立于电源频率、电源波动；8、独立系统角度和负载；9、激光控制调节系统；10、可调输出颗粒进给速度；11、LED室内照明；12、状态信号。产品硬件：形状分拣机是一种用于分拣工业钻石和其他材料的系统。它由一个振荡台、振荡储液罐和15个盒子组成。通过单独的Tablet-PC实现对设备的控制。形状分拣机可在手动或自动模式下运行。在手动模式下，可自由设置所有参数。各种材料的参数存储在自动模式的产品定义中。所有产品定义都可以在自动模式下使用。工作台表面的倾斜可通过电气驱动装置进行调节。使用传感器测量并显示在Tablet-PC上的角度。振动频率由电子控制。电源频率的波动不会影响分拣过程。为了精确控制振幅，使用了加速度传感器。这使得设备对电源电压变化不敏感。电子控制装置可以很容易地重现机器设置，以便对不同材料进行分拣。连续进料通过带激光光障的电子控制振动输送机进行。操作原则：根据颗粒在倾斜振动台上的不同运动特性，介绍了其工作原理。该系统可以分离不同形状的钻石，如球体、立方体、立方八面体、破碎颗粒、不规则形状、小板等。通过振动，钻石从分拣盘的后角运输至开口边缘，收集容器位于相对的角部。分拣台的倾斜会产生以下影响：接近球形的块状晶体向下滚动并聚集在较低的盒子中。形状更不规则的晶体，不能通过振动向上滚动，并收集在上部盒子中。必须根据分拣任务选择分拣角度和振幅。产品参数：电源：230伏，50/60赫兹，4安（根据要求为100/115伏）；防护等级：IP 42；尺寸（长x宽x高）厘米：100 x 97 x 140/关闭、100 x 97 x 210/开重量：约125千克；倾斜度：X轴：0… 15°，Y轴：0… 15°分类表：Type 0 : D46 ... D 76Type 1 : D91 ... D 126Type 2 : D151 ... D 251Type 3 : D301 ... D 601Type 4 : from D 601边缘长度：800毫米；表面材料：铝；产量：约800 ct/h（30/40目）约500 ct/h（40/50目）约100 ct/h（325/400目）喂料器：类型：颗粒给料机；采用闭环控制；控制范围：0… 200.000粒子/分钟；储液罐容积：约3.5升；材料：不锈钢；分拣箱：计数：15；体积：约500毫升；材料：不锈钢；控制单元：平板电脑：Acer；操作系统：Windows 8.1；软件：ShapeSorter4.0；显示：8,1英寸；大气条件：20… 25°C/45… 60%r.H；清洁：用酒精。

BOS-DT180动态颗粒图像粒度仪BOS-DT180动态颗粒图像粒度仪一、产品简介 BOS-DT180是国内zui新一代动态颗粒图像分析设备，它采用zui新的图像采集系统与分析软件，将计算机图像学与颗粒粒度及粒形分析理论完美结合，在获得清晰的颗粒图像的同时，将颗粒的粒度、球型度、长径比、庞大率、表面率等相关颗粒大小和形状的表征参数以特征值和分布的形式呈现出来，使用户可以详细的了解颗粒。此外，该款仪器还赋予了自动化、智能化等时代性的标志、使其操作更简便、分析更智能、结果更稳定，是颗粒粒度测试及粒形分析的shou选搭档和得力助手。二、性能特点直观反映颗粒形貌 将颗粒的表面形貌直接反映到计算机屏幕，用户可以直观且全面了解颗粒的表面及形状属性；完美拼接多幅图像 将选取不同视场拍摄的多幅颗粒图像拼接成一幅，使参与分析的颗粒数量更多，测试结果更具代表性；自动分割粘连颗粒 采用更先进的颗粒识别算法，对各种形状的粘连颗粒都能自动分割，显著提高粘连颗粒分割准确率，减少人为参与，有效缩短图像处理时间；自适应二值化功能 采用一种自适应二值化功能，使其进行图像二值化处理时不受拍摄光线的影响，避免了因光线不均匀等因素而导致颗粒信息丢失的情况，为后续处理的精准度奠定基础；自动处理颗粒图像 颗粒图像分析软件含有自动处理工具集，集成了二值化、消除边界不完整颗粒、消除杂点、填充空洞、平滑边缘、分割粘连颗粒、计算颗粒参数等功能的自动操作，一键即可完成颗粒图像处理到分析结果的生成等全部过程，操作简便且结果可靠；自由切换粒径单位 标尺选取支持多种长度单位、可在纳米、微米和毫米之间自由切换，便于用户对通过电镜等其他方式获取的颗粒图片实现进一步处理；快速处理特殊形状颗粒 对于球形颗粒，采用独特的处理算法，对原始图片无需进行任何处理而直接分析颗粒粒径信息，即使颗粒颗粒之间相互粘连或重叠也不会影响分析结果，提高球形颗粒的分析效率。三、适用范围: BOS-DT180动态颗粒图像粒度仪适用于水泥、陶瓷、药品、涂料、树脂、染料、颜料、填料、化工产品、催化剂、煤粉、泥砂、粉尘、面粉、食品、添加剂、农药、炸药、石墨、感光材料、燃料、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土及其他粉体行业。四、技术参数规格型号BOS-DT180执行标准ISO13322-1: 2004 GB/T21649.1-2008成像系统测试范围4-400μm光学放大倍数150-1000倍可调，zui大可达1000倍zui大分辨率0.5μm摄像系统重复性误差＜1%准确性误差＜1%光源采用蓝色高亮LED点光源颗粒识别速度＞10000个每分钟摄像机采用高速摄像机，成像速度不低于120帧每秒进样方式采用鞘流进样方式软件功能粒度分析包括粒度分布、典型值、zui大粒径、特定区间含量、大于或小于某粒径的含量粒形分析长径比及分布、圆形度及分布、颗粒图像颗粒计数计量一定体积液体中的颗粒个数圆形度分析能快速分析颗粒的圆形度比例尺标定通过国家标准测微尺标定后，可通过颗粒度标准物质验证系统的准确性。 单个颗粒数据可在图片上直接对单个颗粒进行截面积、体积、长径比等10多项参数的分析。任务管理机制严格的任务管理机制，使用户能够将所有测试数据井井有条的管理起来。报告输出分析报告可以多种形式呈现，同时可转换成PDF、BMP、Word、Excel等格式整体分布特征参数D10、D50（中位径）、D90、D100等颗粒分布的特征参数报告参数整体频率分布累计分布颗粒按数量、体积、面积等分布的频率分布与累计分布的数据表、曲线图、柱状图等。统计平均径Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的统计平均径形状参数长径比、庞大率、球型度、表面率、比表面积、外接矩形参数等表征颗粒形状的10多项常用数据表头输入可以将样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头中

JCJ04沉降颗粒分析仪仪器介绍：沉降分析是物理化学中的一项基本实验，在科研和工业上有着广泛的应用，目前颜料工业、硅酸盐工业、陶瓷工业等对原料及成品质量进行检验的重要手段。环境科学中研究泥沙沉降、生物化学中也可研究分析大分子的组装、拆卸，大体构型和构型改变，大分子&mdash 大分子、大分子&mdash 小分子相互作用，缔合特性等。分析方法：大部分固体材料均是由各种形状不同的颗粒构造而成，因此，细微颗粒材料的形状和大小对材料结构和性能具有重要的影响。尤其对于纳米材料，其颗粒大小和形状对材料的性能起着决定性的作用。因此，对纳米材料的颗粒大小、形状的表征和控制具有重要的意义。一般固体材料颗粒大小可以用颗粒粒度概念来描述。但由于颗粒形状的复杂性，一般很难直接用一个尺度来描述一个颗粒大小，因此，在粒度大小的描述过程中广泛采用等效粒度的概念。 主要特点：我公司采用日本进口传感器测量样品颗粒的沉降量，传感器灵敏度高，线形和稳定性好，采用单片机采集数据，电脑直接跟踪记录数据，直接绘制沉降曲线，并保存数据，减少手动记录的误差。专业软件可进行数据处理，分析颗粒沉降体系情况。技术参数量程： 0－20g（量程可以选择）2. 灵敏度：1mg3. 采样周期：0.5s4. 容器：500ml量筒5. 砝码：0.5g、10g、50g、100g 1、电压：220V；频率：50Hz2、测试量程：0－20g3、灵敏度：1mg4、采样周期：1s5、容器：500ml量筒6、砝码：0.5g、1g、5g、10g、20g7、可测粒径：1－2608、软件清零、传感器软件校正9、原始数据采集保存、数据自动拟合、积分微分分布曲线

该仪器通过重建晶体群的3D形状来产生晶体晶面生长动力学，用于结晶过程建模和优化控制，或利用形态学和多维群体粒数衡算模型放大。本产品适用于医药、化工、蛋白质、农药、材料、食品以及石化等领域，运用冷却、抗溶剂、pH值摆幅以及蒸发等技术进行结晶过程中，可实现精准的在线监测、优化、控制和结晶过程放大。它可以用于研究、产品开发和制造中的持续性生产过程的性能改进。技术数据测量范围2μm ~ 1000μm(与镜头放大倍数、相机等相关)测量浓度可高达50%固体颗粒浓度(与颗粒形状相关)测量方式在线测量晶体形态、平均尺寸、颗粒大小分布工作温度范围无特别限制 产品特点 ● 非浸入式设计，对样品毫无损伤● 自动处理多台摄像机得到的二维图像● 生成三维立体图像● 适用于小型反应釜、烧杯及管路等系统● 适用于固体颗粒、液滴及气泡等复杂体系● 能自由设定视频捕捉时间● 自动记录数据，提高工作效率● 实时在线分析图形并给出颗粒粒径分布● 无需取样、稀释及备样● 可针对客户需求特殊设计：粘稠物系、高/低温物系、高压物系等● 强大的图像处理功能：自主知识产权的图像处理软件，具有实用便捷的功能和高级的算法，对于各种像素低、质量差以及在线采集的图片，具有高效的处理方式，可以满足不同的分析要求

BOS-T180显微颗粒图像分析仪一、产品简介 BOS-T180是国内zui新一代静态颗粒图像分析设备，它采用zui新的图像采集系统与分析软件，将计算机图像学与颗粒粒度及粒形分析理论完美结合，在获得清晰的颗粒图像的同时，将颗粒的粒度、球型度、长径比、庞大率、表面率等相关颗粒大小和形状的表征参数以特征值和分布的形式呈现出来，使用户可以详细的了解颗粒。此外，该款仪器还赋予了自动化、智能化能时代性的标志、使其操作更简便、分析更智能、结果更稳定，是颗粒粒度测试及粒形分析的shou选搭档和得力助手。二、性能特点直观反映颗粒形貌 将颗粒的表面形貌直接反映到计算机屏幕，用户可以直观且全面了解颗粒的表面及形状属性；完美拼接多幅图像 将选取不同视场拍摄的多幅颗粒图像拼接成一幅，使参与分析的颗粒数量更多，测试结果更具代表性；自动分割粘连颗粒 采用更先进的颗粒识别算法，对各种形状的粘连颗粒都能自动分割，显著提高粘连颗粒分割准确率，减少人为参与，有效缩短图像处理时间；自适应二值化功能 采用一种自适应二值化功能，使其进行图像二值化处理时不受拍摄光线的影响，避免了因光线不均匀等因素而导致颗粒信息丢失的情况，为后续处理的精准度奠定基础；自动处理颗粒图像 颗粒图像分析软件含有自动处理工具集，集成了二值化、消除边界不完整颗粒、消除杂点、填充空洞、平滑边缘、分割粘连颗粒、计算颗粒参数等功能的自动操作，一键即可完成颗粒图像处理到分析结果的生成等全部过程，操作简便且结果可靠；自由切换粒径单位 标尺选取支持多种长度单位、可在纳米、微米和毫米之间自由切换，便于用户对通过电镜等其他方式获取的颗粒图片实现进一步处理；快速处理特殊形状颗粒 对于球形颗粒，采用du特的处理算法，对原始图片无需进行任何处理而直接分析颗粒粒径信息，即使颗粒颗粒之间相互粘连或重叠也不会影响分析结果，提高球形颗粒的分析效率。三、适用范围: BOS-T180静态颗粒图像仪适用于水泥、陶瓷、药品、涂料、树脂、染料、颜料、填料、化工产品、催化剂、煤粉、泥砂、粉尘、面粉、食品、添加剂、农药、炸药、石墨、感光材料、燃料、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土及其他粉体行业。四、技术参数规格型号BOS-T180执行标准ISO13322-1: 2004 GB/T21649.1-2008显微系统物镜4X、10X、40X、60X、100X（油）长距消色差（平场）物镜组目镜1X、10X、16X 大视野摄像目镜载物台手动三维机械式载物台，尺寸：185mm×140mm，移动范围：50mm×75mm，粗微同轴调焦，微动格值：2μm,带锁紧和限位装置光源底部透射光源，6V 20W卤素灯,亮度可调。可选顶部金相落射式光源（带起偏振器）总放大倍数4倍——1600倍摄像系统最高分辨率2048×1536像素尺寸3.2μm×3.2μm成像元件1/1.8英寸 progress scan CMOS帧率6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480最高清晰度900线信噪比小于42dB敏感度1.0V@550nm/lux/S输出方式USB2.0实际观测范围1-6000μm软件功能静态采集将样品形貌拍摄为高清晰JPG图片 图片处理使用多种画图工具对图片进行比较简单的处理 图像拼接将多幅图片进行无缝拼接,在颗粒测试中能够获得更多的颗粒数量以提高测试的代表性。同时也可单张分析保存后再进行拼接，进一步提高了结果的准确性。颗粒的自动处理工具集自动消除颗粒粘连、自动消除杂点、自动消除边界不完整颗粒、自动填补颗粒的空心区域、自动平滑颗粒边缘等12项自动处理工具。 比例尺标定通过国家标准测微尺标定后，每次测试只须选择与物镜相对应的比例尺数值即可直接得到颗粒的实际大小数值。 单个颗粒数据可在图片上直接对单个颗粒进行截面积、体积、长径比等10多项参数的分析。任务管理机制严格的任务管理机制，使用户能够将所有测试数据井井有条的管理起来。报告输出将测试结果输出为报告，并可以自由修改报告样式。整体分布特征参数D10、D50（中位径）、D90、D100等颗粒分布的特征参数报告参数整体频率分布累计分布颗粒按数量、体积、面积等分布的频率分布与累计分布的数据表、曲线图、柱状图等。统计平均径Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的统计平均径形状参数长径比、庞大率、球型度、表面率、比表面积、外接矩形参数等表征颗粒形状的10多项常用数据个数统计直接得到所观测的颗粒数量样品缩略图可以将样品彩色或黑白（可选择）缩略图显示到报告中表头输入可以将样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头中

美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 工作原理：颗粒碰撞噪声检测（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一种对多余物检验的有效手段。其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动，通过冲击使被束缚在产品中的颗粒（即多余物）松 动，再通过一定频率的振动，使多余物在系统内产生位移。活动的多余物在产品中发生位移的过程，是多余物相对产品壳体的滑动和撞击的一个随机组合过程。在这个过程中，将产生应力弹性波和声波。这两种波在产品壳体中传播并形成混响信号，这个混响信号被定义为位移信号。采用压电传感器拾取到位移信号后，经前置放大器放大，位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质，以此得出检测结论。 选型说明：每种型号的颗粒碰撞噪声检测仪都包括：控制器，振动台，传感器，灵敏度测试单元，软件，示波器，电缆，耗材及相关文件。其型号选择主要根据被测件的重量和外型尺寸而定，我们的标准配置采用的是M230振动台可测负载重量，全频率范围内为200克，换能器台面直径为22mm~150mm，换能器因在其中心区域50%面积处灵敏度，故实际台面选择时换能器面积要略大于被测件最大扁平面面积。 产品型号：FELIXA（22mm台面）FELIXL（50mm台面）FELIXM4（100mm台面）FELIXM6（150mm台面）FELIXL-R及FELIXM4-R（宽脉冲）

颗粒智能分析仪 颗粒智能分析仪作为一款最先进的实时图像分析仪器，适用于颗粒形状（不仅仅是直径）的研究，为预测原材料的性能提供关键信息。完全自动化的颗粒智能分析仪非常适合在生产环境中使用，在这种环境中，设置速度，精度和易用性用于控制颗粒的形状。 多年来，粒径分析仪呈现的所有测量结果均基于颗粒是球形的假设。然而，在许多应用中，颗粒的形状影响材料性能和流动性。因此，关于原材料的颗粒形状信息使得制造商能够以比单独使用关于原材料的颗粒尺寸信息有更高的准确性来控制其工艺。实时的颗粒形状，大小和浓度信息。灵活的悬架设计满足多种不同的客户样品需求。完全自动化的操作。符合 21 CFR Part 11 以及 FDA 的数据完整性标准。记录每个运行处理后的颗粒的高分辨率图像。优势快速分析形状后处理功能适用性广光学器件和照相机升级任意取向后处理功能适用性广光学器件和照相机升级任意取向合规性图像分析合规性图像分析实时分析流动的颗粒。匹配30种形状模型图，并保存颗粒缩略图。数分钟内完成数万个颗粒的分析。捕捉颗粒的缩略图（30种形状模型图）能够量化颗粒的群体分布并查看颗粒的异常值数据。质量控制功能提供颗粒是否达标功能，以及根据形状比较材料批次差异性的能力，而不仅仅通过尺寸。与使用显微镜的静态图像分析不同，颗粒智能分析仪允许用户自行调整系统以满足更多需求。循环采样保证统计的准确性。系统可以单独使用，也可作为其他粒度测量系统的补充。许多用户也将颗粒智能分析仪应用于在线流程。颗粒智能分析仪允许用户在工艺需求发生变化时升级到高质量的光学器件。 另外，当需求更高分辨率的照相机时，可以由用户自主升级。颗粒本质上是三维的。而仅使用平板玻璃对其进行二维分析将仅允许用户分析颗粒的最大取向，这只描述颗粒性质的一部分。 颗粒智能分析仪允许对颗粒进行全面的三维分析。颗粒智能分析仪完全符合IQ / OQ所要求的仪器验证，其软件完全符合21 CFR Part 11和数据完整性要求。Vision Analytical于2008年成立，致力于颗粒分析。因此所有的服务，支持和应用知识都集中在客户的颗粒图像分析需求上。

首先感谢您对佳航仪器的关注！我公司视“打造国产最稳定的激光粒度仪器”为己任，以科技创品牌、质量闯市场、信誉赢天下为方针，全力打造超稳定、高性价比的国产激光粒度仪器。窗体顶端JH-T190颗粒图像仪是山东耐克特分析仪器有限公司的新一代颗粒图像分析设备，JH-T190采用最新的工业级显微图像采集系统，使样品观测更加清晰。分析软件系统能够对样品的“单体数据”、“形态参数”、“整体分布”等参数进行分析和计算，可以轻松获得样品的整体分布规律的曲线图和颗粒形态描述等丰富数据，是对各类颗粒样品进行观测和分析的专业仪器设备。配套的专业颗粒分析软件根据多年来用户的使用意见进行了更加人性化的升级和改进，由计算机自主分析出样品各种等效粒径、X、Y切线等“单体属性”、以及包括长径比、球型度在内的“形态参数”。再通过进一步计算得出此样品的整体分布情况（包含整体分布曲线等丰富数据），软件中还增加了多幅图像拼接计算的模式，成倍增加了参与分析的颗粒数量，从而有效的保证了数据的代表性。最后可将样品的数据以报告的形式输出（包含有图像范例、图表、数据列表等），非常便于测试人员对测试结果进行管理和汇报。JH-T190 显微颗粒图像分析仪技术参数及详细配置 技术参数：硬件参数显 微 系 统光路系统有限远机械筒长观察头45 度铰链式三目头 (50mm -75mm),对中望远镜,可100%通光摄影45 度铰链式双目头 (50mm -75mm),对中望远镜目镜WF10X/Ф20mm长工作距平场消色差物镜倍率数值孔径(N.A.)工作距离(W.D.)10×0.258.125×0.44.840×(S)0.63.3相衬物镜10×0.258.1放大倍数40×-400×物镜转轮四孔内向物镜转换器载物台双层移动平台:200mmX152mm,移动范围: 75mmX30mm聚光镜N. A.0.4 阿贝聚光镜,工作距离 30mm,带滤色片托架标本架Φ68mm/Φ72或77mmX33mm培养器皿相衬装置10×相衬环板中心可调调焦机构粗微动同轴调焦,带锁紧和限位装置板,微动格值:2μm,调焦范围:30mm照明系统卤素灯 6V/20W，可调光亮度总放大倍数4倍——1600倍摄 像 系 统最高分辨率2048×1536像素尺寸3.2μm×3.2μm成像元件1/1.8英寸 progress scan CMOS帧率6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480最高清晰度900线信噪比小于42dB敏感度1.0V@550nm/lux/S输出方式USB2.0实际观测范围1微米——3000微米软件参数软 件 功 能静态采集将样品形貌拍摄为高清晰BMP图片图片处理使用多种画图工具对图片进行比较简单的处理图像拼接将多幅图片进行无缝拼接,在颗粒测试中能够获得更多的颗粒数量以提高测试的代表性颗粒的自动处理工具集自动消除颗粒粘连、自动消除杂点、自动消除边界不完整颗粒、自动填补颗粒的空心区域、自动平滑颗粒边缘等12项自动处理工具。比例尺标定通过国家标准测微尺标定后，每次测试只须选择与物镜相对应的比例尺数值即可直接得到颗粒的实际大小数值。单个颗粒数据可在图片上直接对单个颗粒进行截面积、体积、长径比等10多项参数的分析任务管理机制严格的任务管理机制，使用户能够将所有测试数据井井有条的管理起来。报告输出将测试结果输出为报告，并可以自定义报告样式。整体分布特征参数D10、D50（中位径）、D90、D100等颗粒分布的特征参数报 告 参 数整体频率分布累计分布颗粒按数量、体积、面积等分布的频率分布与累计分布的数据表、曲线图、柱状图等。统计平均径Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的统计平均径形状参数长径比、庞大率、球型度、表面率、比表面积、外接矩形参数等表征颗粒形状的10多项常用数据个数统计直接得到所观测的颗粒数量样品缩略图可以将样品缩略图显示到报告中表头输入可以将样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头中自定义LOGO用户可以自定义LOGO和报告名称，使输出的报告显示自己公司的信息 产品优势 ：JH-T190颗粒图像仪”作为专业的颗粒图像分析仪器，是专为颗粒或颗粒相关行业设计开发的，它的突出优势主要体现在以下方面： ※1 、专业性强：与其他厂家生产的各种类型图像分析仪器相比，山东耐克特专业的颗粒测试研究经验与图像学理论完美结合，是“JH-T190颗粒图像仪”专业性的保证。本产品不但可对样品的颗粒单体的进行科学描述，还可以将颗粒的分布情况使用数据、图表等方式进行直观表现。能够独立或辅助激光粒度仪等设备更好的进行颗粒测试工作。※2、数据直观、易懂，分析结果一目了然：常见的颗粒测试仪器有激光粒度仪、沉降粒度仪等，但在进行颗粒检测的同时还可观测样品形貌的直观性优势是其他所有颗粒测试设备所不具备的，这能够使用户更全面的了解颗粒的形貌、状态、变化过程等信息。并且，对照直观的样品图片，可以帮助用户更好的理解报告中的数据含义。※3、应用广泛，性价比极高：“JH-T190颗粒图像仪”既可以作为一种观测仪器，替代传统显微镜进行各种样品的观测工作，又可以计算样品的各项数据，操作直观简便，应用范围十分广泛。 测试报告模板：

耐克特图像颗粒分析系统T180一、产品简介 耐克特图像颗粒分析系统T180是国内最新一代静态颗粒图像分析设备，它采用最新的图像采集系统与分析软件，将计算机图像学与颗粒粒度及粒形分析理论完美结合，在获得清晰的颗粒图像的同时，将颗粒的粒度、球型度、长径比、庞大率、表面率等相关颗粒大小和形状的表征参数以特征值和分布的形式呈现出来，使用户可以详细的了解颗粒。此外，该款仪器还赋予了自动化、智能化能时代性的标志、使其操作更简便、分析更智能、结果更稳定，是颗粒粒度测试及粒形分析的首选搭档和得力助手。二、性能特点 直观反映颗粒形貌 将颗粒的表面形貌直接反映到计算机屏幕，用户可以直观且全面了解颗粒的表面及形状属性；完美拼接多幅图像 将选取不同视场拍摄的多幅颗粒图像拼接成一幅，使参与分析的颗粒数量更多，测试结果更具代表性；自动分割粘连颗粒 采用更先进的颗粒识别算法，对各种形状的粘连颗粒都能自动分割，显著提高粘连颗粒分割准确率，减少人为参与，有效缩短图像处理时间；自适应二值化功能 采用一种自适应二值化功能，使其进行图像二值化处理时不受拍摄光线的影响，避免了因光线不均匀等因素而导致颗粒信息丢失的情况，为后续处理的精准度奠定基础；自动处理颗粒图像 颗粒图像分析软件含有自动处理工具集，集成了二值化、消除边界不完整颗粒、消除杂点、填充空洞、平滑边缘、分割粘连颗粒、计算颗粒参数等功能的自动操作，一键即可完成颗粒图像处理到分析结果的生成等全部过程，操作简便且结果可靠；自由切换粒径单位 标尺选取支持多种长度单位、可在纳米、微米和毫米之间自由切换，便于用户对通过电镜等其他方式获取的颗粒图片实现进一步处理；快速处理特殊形状颗粒 对于球形颗粒，采用独特的处理算法，对原始图片无需进行任何处理而直接分析颗粒粒径信息，即使颗粒颗粒之间相互粘连或重叠也不会影响分析结果，提高球形颗粒的分析效率。三、适用范围: NKT-T180静态颗粒图像仪适用于水泥、陶瓷、药品、涂料、树脂、染料、颜料、填料、化工产品、催化剂、煤粉、泥砂、粉尘、面粉、食品、添加剂、农药、炸药、石墨、感光材料、燃料、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土及其他粉体行业。四、耐克特图像颗粒分析系统T180技术参数规格型号NKT-T180执行标准ISO13322-1: 2004 GB/T21649.1-2008显微系统物镜4X、10X、40X、60X、100X（油）长距消色差（平场）物镜组目镜1X、10X、16X 大视野摄像目镜载物台手动三维机械式载物台，尺寸：185mm×140mm，移动范围：50mm×75mm，粗微同轴调焦，微动格值：2μm,带锁紧和限位装置光源底部透射光源，6V 20W卤素灯,亮度可调。可选顶部金相落射式光源（带起偏振器）总放大倍数4倍——1600倍摄像系统最高分辨率2048×1536像素尺寸3.2μm×3.2μm成像元件1/1.8英寸 progress scan CMOS帧率6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480最高清晰度900线信噪比小于42dB敏感度1.0V@550nm/lux/S输出方式USB2.0实际观测范围1-6000μm软件功能静态采集将样品形貌拍摄为高清晰JPG图片 图片处理使用多种画图工具对图片进行比较简单的处理 图像拼接将多幅图片进行无缝拼接,在颗粒测试中能够获得更多的颗粒数量以提高测试的代表性。同时也可单张分析保存后再进行拼接，进一步提高了结果的准确性。颗粒的自动处理工具集自动消除颗粒粘连、自动消除杂点、自动消除边界不完整颗粒、自动填补颗粒的空心区域、自动平滑颗粒边缘等12项自动处理工具。 比例尺标定通过国家标准测微尺标定后，每次测试只须选择与物镜相对应的比例尺数值即可直接得到颗粒的实际大小数值。 单个颗粒数据可在图片上直接对单个颗粒进行截面积、体积、长径比等10多项参数的分析。任务管理机制严格的任务管理机制，使用户能够将所有测试数据井井有条的管理起来。报告输出将测试结果输出为报告，并可以自由修改报告样式。整体分布特征参数D10、D50（中位径）、D90、D100等颗粒分布的特征参数报告参数整体频率分布累计分布颗粒按数量、体积、面积等分布的频率分布与累计分布的数据表、曲线图、柱状图等。统计平均径Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的统计平均径形状参数长径比、庞大率、球型度、表面率、比表面积、外接矩形参数等表征颗粒形状的10多项常用数据个数统计直接得到所观测的颗粒数量样品缩略图可以将样品彩色或黑白（可选择）缩略图显示到报告中表头输入可以将样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头中

颗粒碰撞噪声检测仪，粒子碰撞噪声检测仪，微粒碰撞噪声检测仪，PIND，4511，FELIX产品型号：4511A（22mm台面）4511L（50mm台面）4511M4（100mm台面）4511M6（150mm台面）4511L-R及4511M4-R（宽脉冲） 美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 工作原理：颗粒碰撞噪声检测（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一种对多余物检验的有效手段。其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动，通过冲击使被束缚在产品中的颗粒（即多余物）松 动，再通过一定频率的振动，使多余物在系统内产生位移。活动的多余物在产品中发生位移的过程，是多余物相对产品壳体的滑动和撞击的一个随机组合过程。在这个过程中，将产生应力弹性波和声波。这两种波在产品壳体中传播并形成混响信号，这个混响信号被定义为位移信号。采用压电传感器拾取到位移信号后，经前置放大器放大，位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质，以此得出检测结论。 选型说明：每种型号的颗粒碰撞噪声检测仪都包括：控制器，振动台，传感器，灵敏度测试单元，软件，示波器，电缆，耗材及相关文件。其型号选择主要根据被测件的重量和外型尺寸而定，我们的标准配置采用的是M230振动台可测负载重量，全频率范围内为200克，换能器台面直径为22mm~150mm，换能器因在其中心区域50%面积处灵敏度，故实际台面选择时换能器面积要略大于被测件 扁平面面积。 设备用途：用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。 适用领域：用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空、航天及相关军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。

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颗粒碰撞噪声检测仪，粒子碰撞噪声检测仪，微粒碰撞噪声检测仪，PIND，4511，FELIX产品型号：4511A（22mm台面）4511L（50mm台面）4511M4（100mm台面）4511M6（150mm台面）4511L-R及4511M4-R（宽脉冲） 美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 工作原理：颗粒碰撞噪声检测（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一种对多余物检验的有效手段。其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动，通过冲击使被束缚在产品中的颗粒（即多余物）松 动，再通过一定频率的振动，使多余物在系统内产生位移。活动的多余物在产品中发生位移的过程，是多余物相对产品壳体的滑动和撞击的一个随机组合过程。在这个过程中，将产生应力弹性波和声波。这两种波在产品壳体中传播并形成混响信号，这个混响信号被定义为位移信号。采用压电传感器拾取到位移信号后，经前置放大器放大，位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质，以此得出检测结论。 选型说明：每种型号的颗粒碰撞噪声检测仪都包括：控制器，振动台，传感器，灵敏度测试单元，软件，示波器，电缆，耗材及相关文件。其型号选择主要根据被测件的重量和外型尺寸而定，我们的标准配置采用的是M230振动台可测负载重量，全频率范围内为200克，换能器台面直径为22mm~150mm，换能器因在其中心区域50%面积处灵敏度，故实际台面选择时换能器面积要略大于被测件最大扁平面面积。 设备用途：用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。 适用领域：用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空、航天及相关军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。

颗粒碰撞噪声检测仪，粒子碰撞噪声检测仪，微粒碰撞噪声检测仪，PIND，4511，FELIX产品型号：4511A（22mm台面）4511L（50mm台面）4511M4（100mm台面）4511M6（150mm台面）4511L-R及4511M4-R（宽脉冲） 美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 工作原理：颗粒碰撞噪声检测（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一种对多余物检验的有效手段。其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动，通过冲击使被束缚在产品中的颗粒（即多余物）松 动，再通过一定频率的振动，使多余物在系统内产生位移。活动的多余物在产品中发生位移的过程，是多余物相对产品壳体的滑动和撞击的一个随机组合过程。在这个过程中，将产生应力弹性波和声波。这两种波在产品壳体中传播并形成混响信号，这个混响信号被定义为位移信号。采用压电传感器拾取到位移信号后，经前置放大器放大，位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质，以此得出检测结论。 选型说明：每种型号的颗粒碰撞噪声检测仪都包括：控制器，振动台，传感器，灵敏度测试单元，软件，示波器，电缆，耗材及相关文件。其型号选择主要根据被测件的重量和外型尺寸而定，我们的标准配置采用的是M230振动台可测负载重量，全频率范围内为200克，换能器台面直径为22mm~150mm，换能器因在其中心区域50%面积处灵敏度，故实际台面选择时换能器面积要略大于被测件 扁平面面积。 设备用途：用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。 适用领域：用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空、航天及相关军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。

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● 是目前唯一能够同时测量颗粒粒度、形状及表面颜色的粒度分析仪。● 强大的软件功能，能够提供更详细的产品参数及更方便的操作体验。● 采用超高像素的工业摄像机及高清晰的显微系统。● 可根据用户需求定制。结构原理PV系列智能颗粒图像分析系统，是图像法测量颗粒粒度大小、形状特征、颗粒表面颜色的智能颗粒分析系统。由光学显微镜、高分辨率数字摄像机、颗粒图像分析软件、计算机、打印机等部分组成。它是传统的显微测量方法与现代电子计算机技术、图像处理技术相结合的产物。其工作原理是通过专用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器和打印机输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单、测量参数全面等特点。是目前唯一能够同时测量颗粒粒度、形状及表面颜色的粒度分析仪器。适用领域该仪器广泛适用于磨料、打印耗材、建材、电池、非金属矿、粉末冶金、精细化工、生物医药、石油能源、涂料、颜料、陶瓷、农药、食品等领域的各种粉体颗粒的粒度大小、形状特征观察和测量。性能指标1. 测量范围：0.2μm～3000μm。2. 重复性误差：3%。3. 等效粒径：等面积圆、等周长圆、等效短径、等效长径、等效椭圆短轴、等效宽度、等效长度、等效正六边形短轴、等效正六边形长轴。4. 粒度统计：体积、面积、颗粒。5. 形状参数：圆度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。6. 颜色参数：红色、绿色、蓝色。7. 摄像机：分辨率3664*2748（1000万像素）、输出方式 USB2.0。8. 显微镜：可选用进口或国产显微镜。

美国Spectral Dynamics, Inc.（简称SD公司）成立于1961年。SD公司是全球领 先的振动测试、结构动力学和声学分析系统和软件供应商。SD的产品用于各种电子和机械产品制造厂的设计认证，产品试验和加工改进。SD公司分布在圣何塞，圣马科斯，底特律，巴尔的摩，法国，德国和英国，分工负责世界范围的产品销售和服务。 SD公司拥有50多年颗粒碰撞噪声检测仪PIND专业设计制造经验。PIND系列产品为用户提供了一个操作简便、性能可靠且性价比极高的颗粒碰撞噪声检测系统，极大地提高了电子元器件产品的可靠性。 PIND颗粒碰撞噪声检测仪是一款高频声学无损检测设备可检测包括继电器、晶体管、混合电路、集成电路和交换器等电子元器件空腔内的自由移动松散微粒，避免因这些可动多余物体异常导致的短路和系统运行故障，提高产品和系统的可靠性，安全性。 系统通过振动台产生冲击振动用于激励元器件空腔内的松散微粒，撞击在空腔壳体上微粒的能量被转换成宽频带压力波，该声波信号穿过壳体并被安装在冲击振动台上的高灵敏超声传感器检测到。为确保微粒可做精确的冲击运动，我们通过电脑对传感器进行监测。 SD FELIX M4 PIND将监测和显示振动运动的传感器与计算机相结合形成的控制。独特的功能为用户提供方便及灵活性。• SD FELIX系统轻易超出PIND测试的所有美军标(U.S.MIL-STD-883、750、202、39016D)的试验要求，因为所有东西都在软件中，可以在以后扩展到任何可能的测试配置。• 内置传感器，通过计算机分析监控并显示振动台实际运动，来修正测试环境下的任何变化，SD FELIX测试系统可提供准确且可重复的测试环境。• 通过控制振动台台面速度和校准冲击前设备的偏差值，SD FELIX系统独特的振动台性能可提供精确的冲击运动。• SD FELIX采用配置精简，低杂散磁场的设计，从而省去了对昂贵专用试验台的需要，以及传统振动台所需的冲击夹具。• SD FELIX系统是一个全数字化，不带旋钮或螺丝的系统。可完全按照您的要求编程，或者依照美军标要求编程。由于一切都是由计算机生成的，用户可以创建不同的振幅、频率和持续时间。未来将扩展到更复杂的运动环境，包括随机振动和先进的冲击条件。• SD FELIX系统是完全自动化的，只需点击一个按钮——或可选通过Windows 10进行外部激活。 自2019年10月1日起，科唯仪器有限公司正式成为美国SD公司 颗粒碰撞噪声检测仪（PIND）在中国（包括香港地区）授权代理商，全权负责PIND产品的销售及售后服务事宜。

产品描述 一、MC012-XZ-150G应用范围 该型仪器可测量各种机械零件的素线和截面轮廓形状参数，在轴承行业中可测量各种零件的直线度、平行度、倾斜度、角度处理、圆处理（直线到切线的距离、圆心到圆心距离、圆弧半径、交点到圆的心距离、圆心到直线距离）、点线处理（交点到直线距离、交点到圆心距离、两直线交点、交点与交点距离）、对数曲线、槽宽、槽深、沟边距、沟心距、倾斜度、水平距离、垂直距离等形状参数。二、MC012-XZ-150G主要特点：2.1 具有XZ-230型仪器的检测功能，体积小、成本低，较适合中小型企业；2.2 直线运动导轨采用封闭式精密气浮导轨，精度保持长久，直线移动精度高，性能更稳定，仪器使用寿命长；2.3直线运动导轨位移数据采集采用精密直线光栅，定位精度高，稳定性好；2.4仪器采用WINDOWS系统操作平台，专业测量软件，测量界面简洁直观，操作便捷；可以实时显示图形数据、存盘留档、随时打印，图形分析报告，直观清晰；2.5测量结果可根据标注需要任意旋转。2.6强大的误差补偿功能，使测量结果更精确；2.7测量操作设置鼠标和键盘快捷操作，用户可根据操作习惯自由选择；2.8设计特殊装配夹具，方便工件的装夹调整，大大提高了测量效率；2.9 使用范围广，测量范围大；量程6mm。三、MC012-XZ-150G主要参数3.1气浮工作台 气浮形式 闭式3.2移动精度 Z:&le 0.2um/100mm3.3光栅尺 精度 X:&le 5um/150mm X:&le 3um /150mm3.4产地 国产 进口3.5传感器 量程 6mm(可扩展) 3.6测量范围 轴 Ф1-100 mm3.7套 &le Ф200 mm3.8长度 140 mm3.9工作台移动速度 0.2-0.4mm/s3.10机械调速（分三档）3.11所需电源 220V 50Hz 0.5Kw3.12所需气源压力 纯净空气&ge 0.5Mpa

PPM颗粒监控系统颗粒监控系统（PPM）为在线分析不同形态颗粒的过程体系而设计。这种技术将高级图像分析技术与原位过程相态相结合。PPM的分析范围包括：微颗粒、颗粒、纤维、团块、絮状物。PPM提供颗粒悬浮液的实时相机观察和细节的实时颗粒特性测试数据，例如尺寸分布、形态和浓度。PPM获得的实验结果可以帮助有效地对过程进行优化、控制和故障排查。使用PPM您可以提高过程产能，将最终产品的质量波动降到最低。由于有多种安装选项，PPM可以被固定在从实验室到生产线的多种应用场合。有多种照明选项：正面光系统可以监测颗粒颜色，而透射光系统可以保证最佳的图像质量，甚至对于最小的颗粒也是如此。PPM颗粒监控系统PPM是使用高放大倍数照相机系统对颗粒悬浮液直接光学成像而进行颗粒分析。分析算法检测每一个颗粒的外形轮廓。通常情况下，在每张图片中会检测到成百上千的颗粒，这些数据被用来计算尺寸和形状分布以及相关统计，例如累积百分比分布（D10、D50、D90等）。平均颗粒尺寸可以被计算为直径、面积或体积值。系统生成基于这些信息的测试数据。标准分析结果包括：- 颗粒直径及颗粒尺寸分布- 最小和最大轴长度- 颗粒预测面积- 测试范围内的颗粒数量- 等效直径- PCA（主要组分分析）或ICA（独立组分分析）- 最小和最大尺寸、方向和长径比- 周长分析- 颗粒圆圈- 傅里叶表征和相关统计- 颗粒流动性- 颗粒颜色，Pixscope FL分析软件可以用相应分析模块测试每一个颗粒的颜色。- 絮凝分析，用絮凝分析模块表征团块特性除了这些参数，在分析软件中可以实现任何在ISO13322-2标准（颗粒尺寸分析-图像分析方法）中描述的颗粒分析。

便携式颗粒成像分析仪设计用于对3um至800um的颗粒进行高分辨率精确形状测量，同时适用于便携式现场及实验室台面环境。通过动态图像分析和灵活的采样设计，用户可以获得原材料颗粒的全貌。独特功能包括:&bull 获取所有被分析颗粒的形状、尺寸、浓度和缩略图。&bull 基于特殊算法测量，不受最低浓度限制。&bull 灵活的流体设计允许各种样品悬浮选择，包括在线选项。&bull 一次性/可互换的流体样品池。&bull 关联图用于识别和查看罕见颗粒和趋势。&bull 筛选相关提供数据报告，参考筛选结果，便于技术比对。&bull 在线连续过程监控能力。&bull 坚固耐用的外壳和电池，便携式现场或实验室台面使用。&bull 所有保存的原始图像允许重新分析捕获的数据。&bull 全颗粒计数代码符合ASTM，ISO和NAVAIR颗粒要求。&bull 包括嵌入式微软Surface Pro电脑与触摸屏。&bull 覆盖数据单个样本比对或样本批次间比较。&bull 智能手机应用程序允许远程实时监控。产品编号：365-11：仪器主机

美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 工作原理：颗粒碰撞噪声检测（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一种对多余物检验的有效手段。其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动，通过冲击使被束缚在产品中的颗粒（即多余物）松 动，再通过一定频率的振动，使多余物在系统内产生位移。活动的多余物在产品中发生位移的过程，是多余物相对产品壳体的滑动和撞击的一个随机组合过程。在这个过程中，将产生应力弹性波和声波。这两种波在产品壳体中传播并形成混响信号，这个混响信号被定义为位移信号。采用压电传感器拾取到位移信号后，经前置放大器放大，位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质，以此得出检测结论。 选型说明：每种型号的颗粒碰撞噪声检测仪都包括：控制器，振动台，传感器，灵敏度测试单元，软件，示波器，电缆，耗材及相关文件。其型号选择主要根据被测件的重量和外型尺寸而定，我们的标准配置采用的是M230振动台可测负载重量，全频率范围内为200克，换能器台面直径为22mm~150mm，换能器因在其中心区域50%面积处灵敏度，故实际台面选择时换能器面积要略大于被测件最大扁平面面积。 产品型号：FELIXA（22mm台面）FELIXL（50mm台面）FELIXM4（100mm台面）FELIXM6（150mm台面）FELIXL-R及FELIXM4-R（宽脉冲）

颗粒碰撞噪声检测仪，粒子碰撞噪声检测仪，微粒碰撞噪声检测仪，PIND，FELIX，4511 产品型号：FELIXA（22mm台面）FELIXL（50mm台面）FELIXM4（100mm台面）FELIXM6（150mm台面）FELIXL-R及FELIXM4-R（宽脉冲） 美国SD公司的颗粒碰撞噪声检测仪用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子，是一种非破坏性实验。 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。 工作原理：颗粒碰撞噪声检测（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一种对多余物检验的有效手段。其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动，通过冲击使被束缚在产品中的颗粒（即多余物）松 动，再通过一定频率的振动，使多余物在系统内产生位移。活动的多余物在产品中发生位移的过程，是多余物相对产品壳体的滑动和撞击的一个随机组合过程。在这个过程中，将产生应力弹性波和声波。这两种波在产品壳体中传播并形成混响信号，这个混响信号被定义为位移信号。采用压电传感器拾取到位移信号后，经前置放大器放大，位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质，以此得出检测结论。 选型说明：每种型号的颗粒碰撞噪声检测仪都包括：控制器，振动台，传感器，灵敏度测试单元，软件，示波器，电缆，耗材及相关文件。其型号选择主要根据被测件的重量和外型尺寸而定，我们的标准配置采用的是M230振动台可测负载重量，全频率范围内为200克，换能器台面直径为22mm~150mm，换能器因在其中心区域50%面积处灵敏度，故实际台面选择时换能器面积要略大于被测件最大扁平面面积。

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