离子时间飞行谱

离子迁移谱和飞行时间质谱 都是依靠时间来确定物质，前者依靠迁移率来分辨，后者依靠质荷比判定。哪位分析下二者的区别，是不是飞行时间质谱在常压下，原理就与离子迁移谱一样了。

飞行时间-二次离子质谱仪,TOF-SIMS, 是一种既能测试有机物，又能测试无机物的一种检测仪器，其质谱的基本原理：使用一次的离子源（Ga,Cs, O2, etc）轰击样品，产生二次离子，激发的二次离子被引入一个无场区(drift tube),自由飞行，飞行时间的长短，与离子的mass-to-charge ratio的二分之一此方成正比；也就是说，质量数越小的离子飞得越快，到达检测器的时间越短，反之，质量数越大的离子飞得越慢，到达检测器的时间越长，这样就可以实现质谱的分离。（未完待续）

请问哪里可以做飞行时间型二次离子质谱的，大概价位如何，谢谢。请联系QQ 3372056

请问国内哪里有做飞行时间二次离子质谱的测试，大概价位是什么样子。谢谢！

半导体生产：在晶圆的制备过程中，由于生产流程长，工序繁多，不可避免的会遇到污染，那么该如何分析检测这些濡染物呢？如何评价清洗工序的清洗的效果呢？可以考虑采用飞行时间-二次离子质谱仪来检测。样品制备：飞行时间-二次离子质谱仪作为一种表面分析工具，对样品制备要求非常严格。样品分析的表面绝对不能接触任何包装物，尤其是防静电袋，双面胶等等，这些都会对样品进行污染，常见的污染特征峰，防静电剂：阴离子：311，325，339等，对于双面胶其常见的污染物峰为（硅氧烷）：阳离子：28，43，73，143，281 等等，另外，样品也不能在空气或者办公室内放置过长时间，要不同样会测到大量污染物，而测不到污染物下面的成分，因为，其分析深度只有3~6nm。例如,在晶圆的表面上永远都可以测到大量的CH峰，其本质原因就是生产工艺或者空气中的CH化合物吸附在其表面。众所周知，其分析的检测限为ppm~ppb，相当高。所以，样品制备要极其严格。数据处理：一般上分析过程中要考虑，组合峰的出现，比如我们在分析单晶硅得时候，样品表面会不可避免地出现（正离子）１４，２７，２８，４５，等等一系列的峰，首先要学会辨认他们。比如２８，它可能是Ｓｉ２８，也可能是ｃ２ｈ４２８，如何区分他们，这就需要经验。欢迎大家分享自己的经验，如需详细讨论，可加入二次离子质谱ＱＱ群：100364310

tof-sims (time-of-flight Secondary ion mass spectrometer)是飞行时间-二次离子质谱仪，它可以进行全元素分析，包括H，同时还可以分析元素的全部同位素。对有机物，无机物都能进行分析，而且对样品导电性能无任何要求，仪器的灵敏度高，可以检测出ppb~ppt量级的杂质。其基本的原理，采用脉冲粒子束轰击样品表面使其产生二次离子（正离子，负离子），产生的二次离子经过一个漂移管到达检测器。根据不同离子的荷质比不同，所以在漂移管中的飞行时间也不相同，质量数小的离子先到达检测器，质量大的后到达检测器，这样就实现了质谱的分离。1 基本原理：入射粒子束的能量为E0，根据能量守恒原理E0=1/2 mv^2t=L/V所以，离子在漂移管中的飞行时间与其质量的1/2成正比，所以，质量越大，飞行时间越长。2 分析模式两种工作模式：正离子谱模式和负离子谱模式我们知道不同元素的电负性不同，所以得失电子的能力也不同，有的元素易于形成负离子（如第七主族的卤素元素），有的易于形成正离子（如第一主族的碱金属元素）。所以，分析的过程可根据实际需要选择正离子或者是负离子的工作模式。3 样品要求：一般可以分析固体样品，液体样品也可，但是液体要求黏度要大，真空中不挥发。由于仪器的灵敏度高，所以样品制备过程要防止其受到污染。欢迎大家讨论。

现在的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url]有四级杆的、离子阱的和飞行时间质谱，不知该如何选择，哪位能分别详细的介绍一下啊？

气质联用仪的质量分析器主要有四极杆、离子阱、磁质谱、和飞行时间四种，它们的区别和优点都是些什么呢?请各位坛坛分析下，越具体越好哦！谢谢了！！！！！http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09506.gif

[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url] 的质量分析器系统的作用是将离子束中的离子按质荷比的大小而分开。根据离子束的特点和分析工作的要求，质量分析器系统应具有足够的离子传输效率和分辨本领。通常，这两者是相互矛盾的。完善质量分析器离子光学系统的设计，就是要保证足够分辨本领的条件下，达到最高的离子传输效率。目前，飞行时间质量分析器系统的离子传输效率已接近100%。相比之下四极杆只是一个质量选择器，而不是一个质量分析器，在一个离子通过四极杆时，其它质荷比的离子将被过滤掉。[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url] 的联用技术是当前进行价态、形态研究的热点技术，四极杆[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url] 由于其单道扫描特性，不适于监测联用技术中的瞬时多元素信号。飞行时间质谱仪的基本原理飞行时间质谱仪作为一种带电粒子的质量鉴定方法，很早就已经得到采用，它的工作原理十分简单，这就是，初始能量相同的带电原子或者带电分子，漂移一段固定的路程所用的时间与它本身的质量有关。测定漂移时间的差别，即可对不同质量的离子进行鉴别。1932 年，斯迈思和马赫建造了第一台基于飞行时间原理的质谱计，并成功地进行了氧同位素丰度的分析。这是历史上第一台动态质谱仪器。二次世界大战后，由于脉冲技术的发展，促进了飞行时间质谱技术的发展进程。1946 年，斯蒂芬斯提出了直线脉冲飞行时间质谱仪器的设想，而在1948 年，卡梅伦和埃格斯从实验上给以实现。1955 年，威利和麦克伦完成了这种质谱仪器的系统设计，使之成为近代商品飞行时间质谱仪器的原型。ICP-oa-TOF-MS 相当于全谱直读的仪器，特别适合获取瞬时信号的信息，是进行FI、ETV、LA 和多种色谱方法进行样品引入研究的强大工具。这种方法也非常适合同位素稀释法的应用或者其它内标校准方法。飞行时间质谱仪具有一系列显著的特点。其中包括：仪器的分析部分只是一支漂移管，机械结构简单；仪器性能指标主要依靠调节电参数而获得，机械调整方面不多，因此使用方便，能实现快速扫描，可用于监控极短的瞬时事件；在短时间内能记录任一反应过程的全部质谱，给出反应的全部信息。1973 年，马米林把静电离子反射技术引入飞行时间质谱计。当质量相同而能量存在发散的离子进入静电离子反射区域时，能量较高的离子会比能量较低的离子穿透较深距离，因此能量较高离子将比能量较低离子飞行时间更长，而在漂移区间则刚好相反，因此它们最终可以同时到达接收器，因而实现了时间聚焦，从而使仪器的分辨本领大为提高。随着各种新技术的引入，飞行时间质谱仪的工作水平在不断提高，充分显示了它的突出优点，成为继磁质谱仪器、四极质谱仪器之后的第三代具有广泛用途的质谱仪器。这种分析器的离子分离是用非磁方式达到的，因为从离子源飞出的离子动能基本一致，在飞出离子源后进入长约一米的无场漂移管，在离子加速后, 此离子达到无场漂移管另一端的时间为t=L/u，故对于具有不同m / z 的离子，到达终点的时间差取决于m / z 的平方根之差。飞行时间质量分析器已经在有机质谱分析中成功应用多年，是一种成熟的技术，历史比四极杆还要长。用这种仪器，即使有机质谱分析中的质量范围很宽，每秒钟仍然可以得到多达1000 幅的全谱质谱图。

四极杆质谱仪、离子阱质谱仪、飞行时间质谱仪和磁质谱仪有什么区别，分别是做什么用的

这种质谱仪的质量分析器是一个离子漂移管。由离子源产生的离子加速后进入无场漂移管，并以恒定速度飞向离子接收器。离子质量越大，到达接收器所用时间越长，离子质量越小，到达接收器所用时间越短，根据这一原理，可以把不同质量的离子按m/z值大小进行分离。飞行时间质谱仪可检测的分子量范围大，扫描速度快，仪器结构简单。这种飞行时间质谱仪的主要缺点是分辨率低，因为离子在离开在离子源时初始能量不同，使得具有相同质荷比的离子达到检测器的时间有一定分布，造成分辨能力下降。改进的方法之一是在线性检测器前面的加上一组静电场反射镜，将自由飞行中的离子反推回去，初始能量大的离子由于初始速度快，进入静电场反射镜的距离长，返回时的路程也就长，初始能量小的离子返回时的路程短，这样就会在返回路程的一定位置聚焦，从而改善了仪器的分辨能力。这种带有静电场反射镜的飞行时间质谱仪被称为反射式飞行时间质谱仪

最近在看一些高分辨质谱的应用文章。看到四极杆飞行时间串联质谱（Q-TOF）可以做二级质谱，有几个问题1）Q-TOF在做二级时，如何提取高质量精度的母离子？由于第一级质谱是四极杆，分辨率有限，即使高分辨四极杆，其分辨率比飞行时间也不是一个档次。如果它选出来的母离子不是搞质量精度，后面飞行时间做的在高精度，也是没有意义的。不知道这么理解有没有问题，欢迎各位讨论。

鉴于广大网友渴望对tof-sims得了解，本人决定分享以下飞行时间二次离子质谱仪简介。国内有tof-sims 仪器的几个院所： 沈阳金属所 新买了ion-tof得tof-sims仪器 TOF-SIMS V，已经开始运行了，负责人好像是：代老师矿业大学 phi公司的 TRIFT I 友好多年历史了，负责人：梁老师复旦大学 PHI 公司的, 负责人：李老师天津飞斯卡尔，具体联系人不清楚好像听过广东 还有一台PHI公司我曾经接触过一些关于这面的资料，现在拿出来跟大家分享，希望大家有好的资料要一起分享。

[color=#444444]根据现有搜索的资料发现飞行时间技术（Time of Flight ）主要与质谱分析（ Mass Spectrometer）联用，即现有的飞行时间质谱仪（TOF-MS）。其主要是基于不同质荷比的离子化片段进行区分检测成分的种类。然而拉曼光谱与红外光谱类似主要是反映分子内部简正振动频率及相关振动能级，对于离子化后的成分特别是有机分子成分是否能够识别和检测？该两种技术的联用是否可行？[/color]

在bruker的飞行时间质谱仪中，有正负离子模式的选择问题，请问正负离子模式对应的质谱对象是什么？什么时候用正离子模式，什么时候用负离子模式？理论依据是什么？

[size=15px][b]飞行时间质谱仪的源后裂解[/b][/size][font=&][size=15px]离子在飞行过程中如果发生裂解，新产生的离子仍然以母离子速度飞行。因此在直线型漂移管中观测不到新生成的离子。如果采用带有反射器的漂移管，因为新生成的离子与其母离子动能不同，可在反射器中被分开。这种操作方式称为源后裂解（Post source decomposition ，PSD）。通过PSD操作可以得到结构信息。因此，可以认为反射型TOFMS也具有MS-MS功能。[/size][/font][font=&][size=15px][/size][/font][font=&][size=15px]另外TOF-TOF串联质谱仪已经出现。关于磁式质谱仪串联和混合型串联，小析姐后续也会进行相应的介绍。[/size][/font]

用基质辅助激光解吸电离的方式产生样品离子，用飞行时间质谱仪对样品进行分析的装置。把样品悬浮在基质中，激光打在基质上，基质吸收并传递激光能量，使基质中的样品解吸并电离，进入飞行时间质谱仪进行检测（参见基质辅助激光解吸电离和飞行时间质谱仪词条）。对不同的样品，改变基质，可以获得更满意的结果。

鉴于广大网友渴望对tof-sims得了解，本人决定分享以下飞行时间二次离子质谱仪简介，本附件主要介绍PHI公司的最新产品，nano-tof得宣传册，但是绝非广告。国内有tof-sims 仪器的几个院所： 沈阳金属所 新买了ion-tof得tof-sims仪器 TOF-SIMS V，已经开始运行了，负责人好像是：代老师矿业大学 phi公司的 TRIFT I 友好多年历史了，负责人：梁老师复旦大学 PHI 公司的, 负责人：李老师天津飞斯卡尔，具体联系人不清楚好像听过广东 还有一台PHI公司我曾经接触过一些关于这面的资料，现在拿出来跟大家分享，希望大家有好的资料要一起分享。

1.TOF对大分子（MW1000）为唯一选择，除非你很有钱，可以玩回旋共振FT-MS。2.TOF是一款以定性为主的仪器，定量绝对不要指望它有出色表现，可以做一些定量，定量精度不如QQQ，但是它还是有极高的灵敏度，对低残留物的定性也很出色。3.TOF是一款研究级的设备，非检测实验室使用，如食品安全（如苏丹红）用，当然它也可以做这些事情，但这些检测标准定量的法规均为QQQ设计。4.TOF对小分子表现也很出色，MW500,可以直接由精确分子量推断分子式，500MW1000,配合元素分析结果可以由精确分子量推断分子式，当然可能给你的分子式不止1个，因为化合物是在太多，但如果你有对照品或者对你的样品很熟习的话，那就爽歪歪了。5.谈谈离子源配置，ESI是基本配置，作蛋白就加MDI, APCI就看个人喜好了6.TOF的优点是：可以先做试验，只要有信号，完了可以慢慢处理数据，做EIC啊，算分子式。。。缺点是数据太大，计算机都有点忙不过来。。7.优点二是：高精度的分子量测定了（误差3PPM是没有问题的），重点之重点，但是我强调HPLC的分离，分离利于寻找分子离子峰。8.谈谈仪器：大家最关心的就是误差3PPM如何保证了，这确实很难。8.1首先飞行筒要保证基本没有长度变化，大部分仪器提出对实验室温度的苛刻要求（控制实验室温度波动范围），另外很多仪器把飞行筒做成开水瓶内胆式真空夹层，结果就不用说了，当然看大家的实验室硬件了。8.2其次是仪器整体元件电压的稳定与重现，瞬时高压瞬时回来，电压值不能飘移，这个就是仪器牛B的地方。8.3第三是仪器的校正问题，我说的是测试中的时时内标校正，一边喷内标液，一边喷样品溶液。安捷伦和布鲁克联合设计的ESI离子源双喷雾针垂直喷雾，我觉得是最佳设计。WATERS公司的Z型喷雾，我觉得是用于QQQ的最佳设计，因为QQQ确实需要抗污染强的离子源，但Z型喷雾对研究级的TOF我觉得是不利的。8.4关于3PPM的精度维持，我用的安捷伦的TOF，实际经验每天1次调谐，不开时时内标喷雾，可以控制误差6ppm没有问题，开启时时内标喷雾，3ppm的结果是没有问题的，但实验室必须配备一流的空调并24小时开机。另：[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Yp][color=#3333ff]液质[/color][/url]1年关机不要太多，建议不超过3次，有时间再和大家讨论TOF检测器和源内CID的问题。

离子受到加速电压的作用离开离子源后在一个无场区域内飞行直至抵达检测器，各种质荷比的离子受到相同的加速电压作用，但由于它们的质荷比不同，在无场区域内飞行的速度不同，导致到达检测器的时间也不同。利用离子到达的时间不同达到区分不同质荷比的效果，这就是飞行时间分析系统的原理。图是经典的线性飞行时间质谱分析系统示意图。飞行时间的离子可以由脉冲产生，也可以是连续离子流。但不管如何，在进入分析器前要经过适当的调制。这是因为确定离子的质荷比值是直接依赖于离子在无场区域内的准确飞行时间，也就是说要求所冇离子应同步进入加速区。利用脉冲给予离子加速，一次脉冲，其宽度为ns至10μs可调。随时间的推移，不同质荷比离子相继到达收集器。仪器在小于100μs内输出一张谱图，重复频率是10?100kHz。[img=CL]`WJ@@20C$~LQ$HQEU]1G.png,448,180]https://i4.antpedia.com/attachments/att/image/20220126/1643164929408286.png[/img]分辨率是整个仪器综合性能的反映。所以在讨论分辨改善的同时，除了 TOF本身外还涉及离子源的技术改进。从理论上讲，要求相同质荷比的离子具有相同的飞行时间，而不同质荷比的离子具有足够的时间差。但实际上有相同质荷比的离子达到收集器上的时间有微小的差异，从而导致谱线加宽和分辨率的下降。其原因在于下述三种情况：第一，相同质荷比离子在加速前在源中处于不同的位置，因此获得不同的加速能量；第二，由于热运动使离子有初始能量的分布，表现在初始速度上的差异；第三，即使它们的位置相同，但在脉冲加速前它们的运动方向上有差异，极端的情况是运动方向背向于栅极的那些离子需要有一定的时间进行调头或称回转，然后才得到相同的加速能量进入分析器。其结果，到达收集器的时间发生了滞后。[b]一、分辨率的改善1、双栅极结构 [/b]单栅极的结构使离子被加速到最大能量所需要的时间为飞行时间的十分之几，而由于脉冲控制栅极和脉冲加速栅极构成的双栅极的时间只是飞行时间的百分之几，这样，就初始能量的差异对分辨率影响而言，后者是减小了。[b]2、延迟引出技术(Delay Extraction, DE)[/b] 这一技术是AB Sciex公司的专利， 据称可以提高分辨率1?3倍。它的原理是让离子产生后在源内延迟片刻，然后给予脉冲引出到飞行区。此时，靶极(指离子产生处)与栅极是相同的电位而处于无场状态初始速度稍大的离子离耙极远，离栅极近；初始速度小辟则相反。一旦延迟结束，离栅极近的离子受到栅极脉冲加速的能量要稍低于离栅极远的离子，这样，因为初始速度不 同的相同质荷比离子得到了补偿。DE技术不仅改善了初始能量的差异，也有助于减小 回转时间的影响，分辨率的提高也必然改善精确质量测定的准确度。[b]3、脉冲场聚焦[/b] 这是减小回转时间的一种解决方法。[b]4、反射式TOF[/b] 经第一级TOF飞行，离子进入称为反射器的离子镜，离子被反射以后在第二级收集器上被检测。如果单用第一级检测器，这就是线性TOF，而经反射以后，对于空间位置和初始速度上的色散都能获得补偿。如此减小相同质荷比的离子在动能上的差异而达到飞行时间上的一致性，由此提高了分辨。反射式TOF结构很紧凑，反射阶段的飞行距离要比线性阶段的飞行时间来得短，但是分辨率远远高于线性TOF。这是因为反射器是一个均匀的电场，对于相同质荷比的离子，若初始能量大的则进人反射器区域的路径要长，飞行时间要多一些；若初始能量小的则进入反射器的路径要短，飞行时间要少一些。本来在线性TOF阶段，初始能量大的飞行时间要小于初始能量小的，现在经过反射器阶段后，前者和后者都在时间上得到纠正，所以，使用反射TOF能够使初始能量有差异的相同质荷比离子几乎同时到达第二个检测器。实际上，位置上的色散也是反映在获得加速能童上的差异并导致最终在飞行时间上差异，因而反射式TOF也能将其补偿。下图是使用 AB Sciex 公司的 Super Voyager—DE STR MALD—TOF 仪上获得细胞色素C(cytochrome C)的质谱图，其分辨率达到28000 (FWHM)。增加反射式 TOF的飞行长度可以提高分辨率，但对线性TOF来说行不通。这是因为初始能量的色散在增加飞行长度后差异会变得更大，但在反射式TOF中是在时间上得到了补偿，如同磁质谱仪的双聚焦仪器在空间上进行的补偿那样。当离子初始能量的差异得到显著减小后，仪器的分辨率将由电器稳定性和检测器的 性能所决定。要说明的是，在讨论MALDI源 的时候，离不开TOFMS的结合，但是在这里讨 论TOFMS的时候，不必将离子源限定在MAL-DI, 这意味着TOFMS可以配用电喷雾的离子源，即ESI —TOFMS进行分析。[img=image.png,302,300]https://i4.antpedia.com/attachments/att/image/20220126/1643164929914874.png[/img]TOF分析器具有大的质量测定范围(通常可达50万u,个别的甚至更高)、高的灵敏度 (肽或蛋白质测定的Fmol量级)、高分辨率的精确质量测定[精度(5~10) X10[sup]-[/sup][sup]6[/sup]],再加上仪器结构简单和操作方便，因而具有很大的应用潜力(提高外标法的精确质量测定将有更大的竞争能力)。[b]二、源后分解(PSD)[/b]如同磁质谱的无场漂移区产生亚稳离子那样，当离开离子源的离子在很长的距离中 飞行，有些离子在飞行时间内发生碎裂反应。碎裂后的子离子基本上按前体母离子的速 度飞行，因此到达检测器的时间是与其母离子相同的。对于TOF仪器测出这种亚稳峰 的原理作如下说明：当离子进PSD (post -source decay)反射器,受到静电镜的推斥而转向第二个检测器。正常的母离子(m1)具有速度v1的全加速能量，而亚稳峰具有速度v1,但具有全加速的m2/m1能量，因此推斥它只需要低于全加速的能量。显然，正常的母离子m1和正常的子离子(m2)能够深入静电镜，而亚稳峰m*则不会深入，这意味着亚稳离子先到达第二检测器，随后才是正常的母离子 (m1)。静电镜的正常设置是聚焦正常母离子(m1),对亚稳峰m*来说处于去焦状态。 当降低反射器电压至m2/m1使亚稳离子此时能够到达静电镜的深处，即达到如同正常母离子或者说所有全加速的离子的聚焦位置，这样，就能把亚稳峰聚焦到在第二个检测器上，而所有正常离子则不再发生反射而留在第一检测器内。可以设想正常母离子会在飞行区内发生许多碎裂反应，由此形成不同能量的亚稳离子，设置不同的反射镜电压，就可以获得母离子m1的所有亚稳跃迁。这里需要说明的是，单纯依靠m2/m1值的调整测出的亚稳离子还有其不确定性。因为一个化合物可能有各种不同的母离子的亚稳跃迁，从理论 讲就可能存在m2/m1值相同又分属于不同的母一子离子对，所以PSD分析还应包括一个定时的离子选择器。它的位置在飞行的路径上，它允许让某一个前体离子通过，不允许不同时间到达的其他离子通过，这就确保了仅有这一前体离子产生的亚稳峰被检测

主要由一个长度L的无场真空管（漂移管）构成。质荷比为m/z的离子从离子源被加速（加速电压为V）引出后，进入无场空间，经过一定时间t秒后到达漂移管另一端，不同质荷比的离子因速度不同，到达固定飞行时间距离所需的时间不同，其运动方程可写为：m/z=2v.t2/ L2当V、L不变的条件下，飞行时间t与质荷比的平方根成正比。测定飞行时间t即可确定m/z的值。这种依据飞行时间来测定质量的分析器叫飞行时间分析器。

行时间质谱仪的原理是测量离子从离子源到达检测器的时间。这个过程包括在离子源中产生离子束，然后加速并测量它们从离子源至检测器的时间。其间有一漂移管，通常长约2m，如图6-7所示。所有离子在加速区接受相同的动能，但是它们的质量不同，因而速度有差异，通过漂移管到达检测器的时间(TOF)也就不同。因此有：[url=https://www.antpedia.com/batch.download.php?aid=288962][img]https://i2.antpedia.com/attachments/2021/05/286431_202105141454101.jpg[/img][/url]　　可见，较轻的离子具较高的速度，而较重的离子速度较慢。如果离子源至检测器的距离离L，则[url=https://www.antpedia.com/batch.download.php?aid=288963][img]https://i2.antpedia.com/attachments/2021/05/286431_202105141454351.jpg[/img][/url]　　显然，离子的m/z值克由其到达检测器的时间所确定。　　飞行时间质谱仪的扫描速度快，记录一张质谱所需的时间以微秒计。这种仪器的质量范围宽，可以测定m/z10000以上的离子

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=105907]电感耦合等离子体飞行时间质谱仪　ICP-TOF-MS简介[/url]

请问飞行时间质谱与四级杆质谱有什么区别？国外貌似都是四级杆质谱。

[color=#444444]飞行时间质谱能打出空间结构吗？[/color]

用飞行时间质谱定量不稳定 用其他仪器走的标曲3个9 同一个标曲在飞行时间质谱就不行 这是因为什么

[font=微软雅黑, 'Microsoft YaHei', 'Microsoft YaHei', HELVETICA][color=#333333]microTyper MS高通量微生物快速鉴定系统是中国首款完全自主知识产权的商品化基质辅助激光解吸离子源一飞行时间质谱仪（MALDI-TOF MS），由江苏天瑞仪器股份有限公司与其控股子公司厦门质谱共同研发，江苏天瑞仪器股份有限公司福建分公司生产销售，该仪器的研制打破了国外质谱公司对于该产品技术的垄断，并于2015年获得中国分析测试协会BCEIA金奖。[/color][/font]

[color=#444444]飞行时间质谱只能测有机的分子量吗？？？无机的，含有重金属的配合物的分子量能测吗？[/color]

请教：飞行时间质谱的平行飞行模式和垂直飞行模式有什么区别？谢谢！