粒度变化

求助各位大佬，我在使用粒度仪测量二氧化硅胶体粒度变化时，Mean Diameter随时间总是趋于直线，PI一直在0.15~0.35之间，分散性感觉还是比较好的，浓度25mg/l，初始粒径700nm,请问是不是散射角的问题？设置的165°，因为是个挂牌仪器，貌似不能改，请问各位有没有好的建议？一直做不出来实在有些苦恼

RT 如何用MASTERSIZER2000 做粒度随时间变化的趋势图?就是那种每隔几秒测一次粒度,然后得到一张D50随时间变化的趋势图谢谢 ~!

近期厂内测试发现，马尔文MS2000激光粒度仪测试最大粒度出现失真现象，拿原有测试样品测试发现D10/D25/D50/D75/D90等数值皆无变化，但Dmax值异常偏高（由原来的61um上升至71~83um左右）。多次拆洗镜片仍无效，不知道哪位兄弟有处理过类似状况。

求助各位大佬，我在使用粒度仪测量二氧化硅胶体粒度变化时，Mean?Diameter随时间总是趋于直线，PI一直在0.15~0.35之间，分散性感觉还是比较好的，浓度25mg/l，初始粒径700nm,请问是不是散射角的问题？设置的165°，因为是个挂牌仪器，貌似不能改，请问各位有没有好的建议？一直做不出来实在有些苦恼

样品制备是保证正确测试的首要条件。样品制备是正式进行粒度测试前样品及测试条件的准备过程，包括样品的采集、缩分、分析样品用量的确定、分散介质、分散剂的选择、分散剂用量的确定 及分散效果检查等。1。样品的采集 粉体在生产过程中处于不 同的运动方式（如：运输、堆放及袋装等），其粗细颗粒容易产生离析现象（如堆放的物料细颗粒容易集中在 中部，粗粒容易集中在周围；运输中物料粗粒在容器 两侧和表面分布多等），如果采样时不根据其颗粒分 布规律，盲目采样所得出的结果肯定是错误的。因此， 采样的首要要求就是应根据物料存在的运动方式采取相应的采集方法。物料中采样一般遵循以下 3 个原则：最好在物料移动中采样（或生产过程中）。多点采样。在不同部位和深度采样，每次取样，将各点采集的试样混合后作为粗样。采样方法要固定。采样管理者要根据不同物料 的存在方式制定严格的采样操作规程，使其规范化。2。样品的缩分分析样品。由于仪器分析试样实际需用量很少，因此就要对采集来的粗样进行缩分，其过程为：粗样—— 试验室样品——分析样品。3。样品的用量要使所选择的样品用量既能满足各仪器测试条件要求而又能反应样品真正的粒度分布或接近于样品的分布 首先要了解样品的大概粒度分布，初步确定使用量，因为试样越粗，代表性样品用量越大，反之则少。其次，通过大量试验确定该样品的用量。由于各仪器规定的样品用量范围不同，有的仪器在要求的范围内能体现出样品的真实粒度分布，而有的却不能对这种仪器样品量确定原则是：在规定的样品用量（或浓度）范围内，在相同测.试条件下测试不同样品量的粒度分布，并将样品用量与分析数据之间的关系列表或以曲线形式表达。最佳量必须是其测试结果与样品真实粒度分布最接近的数值所对应的样品量。4。分散介质的选择好的分散介质应满足以下条件：与被测样品之间要有良好的亲和性，即能使颗粒表面良好地被浸润。与被测物之间不发生溶解，不使颗粒膨胀等变化，即不使样品发生任何物理或化学变化。分散介质应纯净、无杂质。因为当介质含有杂质时，一些杂质将会加速颗粒的团聚现象或与样品发生化学反应从而使样品分散难以进行。要使被测物尤其是最大颗粒（指最早使被测悬浮液浓度发生变化而导致沉降曲线显著升高的颗粒）。具有适宜的沉降速度。因为用液体做介质测试时，首要的条件是物质最大颗粒沉降速度必须小于该物质在该介质中的临界直径所对应的沉降速度。如果所选介质不能满足这个条件，就要重选介质或设法改变介质粘度，使其满足测试最大颗粒所要求的条件。5。分散剂的选择 在粒度测试中，分散剂的主要作用是使样品中团聚的颗粒分散开，使其最终以单颗粒形态均匀分布于介质中。选择方法：在相同的条件下，用几种分散剂分别对样品进行分散，然后在仪器上测试各粒度分布，如哪种分布呈现较细的颗粒体系或在显微镜下观察颗粒分布状态均为单颗粒分布的，则该分散剂就为该样品的最佳分散剂。 分散剂的用量和粒度分布存在一定的关系，也说明过量的分散剂不但起不到分散作用反而会使粒径变粗。因此使用分散剂时应注意分散剂用量的确定，其方法是在测试条件相同的情况下，测试添加不同量的同种分散剂粒度分布，则较细的粒度分布体系所对应的分散剂量便为该样品的最佳分散剂添加量。6。分散时间 分散时间过短，造成样品分散均，特别是一些结团颗粒未得到彻底分散，这样就样品平均粒径值结果偏高；分散时间过长，由于外力的作用造成液体对颗粒的冲刷或过强外力使有些颗粒产生破碎现象或引起悬浮液温度升高，使分散介质或分散剂物理性质发生改变，从而使颗粒粒径平均值测试结果偏低。分散时间的确定方法为：在相同的条件下，分别将经不同分散时间分散的样品在粒度仪上测试（或显微镜观察），使样品达到完全分散状态的时间即粒度测试结果与实际样品分布值一致或接近，则这个时间便为该样品在该仪器上的最佳分散时间。

[font=微软雅黑][color=#333333]注意事项一：测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作，电路中的电子元件都有一个关键的技术参数，元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化，温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以，粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示，一般而言，用户在粒度分析仪头一次的开机过程中，关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项二：系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项三：系统参数设置。技术人员表示，在激光粒度分析仪的主菜单界面，操作人员应用鼠标左键单击“设置”，屏幕上弹出“设置”子菜单，在该栏上输入：样品名称、测试人等项内容，才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项四：样品准备。据悉，样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品，选取适当的悬浮液和分散剂，将样品与悬浮液混合，并让样品颗粒在悬浮液中充分分散，而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/font]

1. 粒度仪能测比表面积吗?(需要买国外的吗?)　　答：这是两个不同的测试条件，粒度仪这块，其实现在咱国内的技术已经能满足了，并且价格只有三分之一左右。你如果最主要的是要测比表面积，建议你还是买专门的仪器，说实话，用粒度仪测的比表面积没那么精准，毕竟它主要是用来测粒度大小和粒度分布的。国外的应该还可以吧，不过价格方面可能会比国内的贵二三十万。　　2. 请问粒度仪主要应用在那些方面(通俗点讲)?　　答：粒度仪是用来测试粉体颗粒大小的仪器，比如拿一把沙子过来，里面含有的颗粒大小不一，形状也千差万别，但为了某种科研或者应用的需要，我们需要了解这些颗粒具体是什么样子的，这就需要知道他们的粒度分布，用一种原理的仪器进行测试，原理是把这些不规则的颗粒等效成球形颗粒，算出这些球的直径。一个个列举出来，变成了一个粒度分布表，比如会表示成：1-2微米的颗粒数占10%;2-5微米的占20%;5-15微米的占30%;。。。　　在现实生活中，只要粉体的粒度是一个产品或者原材料的关键指标(主要是粒度分布影响产品的性能)，都需要用到粒度仪去检测粒度的分布。3. 企业使用粒度仪对企业有什么好处?　　答：粒度仪是用来检测粉体来料粗细程度的检测设备，应用粒度仪的企业大体可分为三类，一是粉体产品生产企业，如水泥企业、农药企业、电池材料企业、制药企业、非金属矿粉生产企业、金属粉生产企业等等。粉体生产企业用粒度仪的目的是在生产过程中进行粉体产品质量控制，从而保证产品质量和节能降耗。二是粉体产品应用企业，包括造纸企业、涂料企业、陶瓷企业、耐火材料企业以及塑料橡胶石油化工企业等等。粉体应用企业用粒度仪的目的是控制进厂粉体原材料的质量——粒度分布稳定统一，从而保证最终产品质量。三是大学和研究机构用于粉体材料研究方面。在研究领域应用粒度仪的好处是能随时知道试验过程中粉体材料的粒度变化情况，从而筛选出最佳性能的粉体材料和优化制备技术。总之，粒度仪是粉体生产、应用和研究领域的常规的质量检测手段，使用粒度仪可以起到稳定产品质量，提高产品性能，降低能源消耗，提高生产效率的功效。　　4. 激光粒度测试总出双峰怎么办?　　答：粒度分布的表示方法有以下三种：　　① 表格法：用表格的方法将粒径区间分布、累计分布一一列出的方法。　　② 图形法：在直角标系中用直方图和曲线等形式表示粒度分布的方法。　　③ 函数法：用数学函数表示粒度分布的方法。这种方法一般在理论研究时用。如著名的 Rosin-Rammler分布就是函数分布。　　通常说的峰就是被测物料粒度累积的表现形式，出现双峰说明被测物料的粒度分布不好。如 果你想要单峰，可以选择用单峰拟合，那样出来的峰就很漂亮，不过可能会和实际相差比较大。　　5. 这是一个粒度仪测试4个样品，我想知道这是什么意思?http://www.sdnkt.com/Public/js/ueditor/php/upload/20141229/14198213127718.jpg　　答：D(0.5)(μm)，表示该颗粒群中，小于此数值的颗粒占50%，大于等于的占50%。此数值也表示该颗粒群的粒度大小，单位μm。　　D(0.1)(μm)，表示该颗粒群中，小于此数值的颗粒占10%，大于等于的占90%。　　D(0.9)(μm)，表示该颗粒群中，小于此数值的颗粒占90%，大于等于的占10%。　　D(0.1)与D(0.9)，表示该颗粒群中，颗粒分布的宽或窄。　　例如：(D(0.9) - D(0.1))/D(0.5)，数值大的分布宽，数值小的分布窄。1738μm是长度，这里是指直径。粒度仪把颗粒都当作球形的，用直径来表示颗粒的大小。就是说，样品1的颗粒群中，小于1738μm直径的颗粒占10%，大于等于的占90%

[font=微软雅黑][color=#333333]激光粒度分析仪适用范围广、测量粒径范围广，与传统方法相比，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，就能给出准确可靠的测量结果。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项一：测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作，电路中的电子元件都有一个关键的技术参数，元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化，温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以，粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示，一般而言，用户在粒度分析仪头一次的开机过程中，关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项二：系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项三：系统参数设置。技术人员表示，在激光粒度分析仪的主菜单界面，操作人员应用鼠标左键单击“设置”，屏幕上弹出“设置”子菜单，在该栏上输入：样品名称、测试人等项内容，才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项四：样品准备。据悉，样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品，选取适当的悬浮液和分散剂，将样品与悬浮液混合，并让样品颗粒在悬浮液中充分分散，而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/font]

[font=&]激光粒度仪测量粒度的原理是米氏散射理论。米氏散射理论用数学语言精确描述折射率为[/font][font=&]n、吸收率为 m、粒径为 d 的球形颗粒，在波长为 λ 的激光照射下，散射光强度随散射[/font][font=&]角 θ 变化的空间分布函数，此函数也称为散射谱。[/font][font=&]根据米氏散射理论，大颗粒的前向散射光很强而后向散射很弱；小颗粒的前向散射光弱而后[/font][font=&]向散射光很强。如图所示的是固定波长下的大、中、小颗粒的散射谱示意图。激光粒度仪正[/font][font=&]是通过设置在不同散射角度的光电探测器阵列测这些散射谱来确定颗粒粒径的大小。对于特[/font][font=&]定颗粒，这种散射谱在空间具有稳定分布的特征，因此称此种原理的激光粒度仪又称为静态[/font][font=&]激光粒度仪。[/font][font=&]根据米氏散射理论，当颗粒粒径小到一定程度（如小于波长 的 1/10 左右）时，光强分布[/font][font=&]变成了两个相近似对称的圆（图 1(1) dλ），此时称为瑞利散射。产生瑞利散射的最大粒[/font][font=&]径就是激光粒度仪的测试下限。激光粒度仪的测试下限还与激光波长有关，激光波长越长测[/font][font=&]试下限越大，波长越短测试下限小。研究表明，具有同时测量前向和后向散射光技术，同时[/font][font=&]具有差分散射谱识别技术的激光粒度仪，在用红光（波长为 635nm）做为光源时的测量极[/font][font=&]限为 20nm，用绿光（波长为 532nm）时的测量极限为 10 nm。[/font]

我的实验是有关费托熔铁强度的，在用超声法测定后用粒度仪测定粒度变化。有一些问题一直没搞明白，请高手帮忙解答，先谢谢各位啦；1.喷雾干燥成型的沉淀铁不能用马尔文激光粒度仪测定粒度？（论坛里有讨论喷雾干燥的用制定仪器测）2.大家测量后用到的粒径一般是哪个，D(50)还是D(4.3)？能详细解释以下D(10)、D(50)、D(90)的含义吗？3.我用的是马尔文粒度仪2000，论坛里说的超声是仪器自带的附件还是另外买的，我仪器好像没这个？还有干法测试怎么回事，我一直是用水为介质做的？4.结果处理时几个粒度图形的叠加怎么进行？5.用于测量熔铁，（密度＝3.0g/ml），每次搅拌速度开到最大（3500转），得到的粒度总不稳定，特别是取样后连续测定，有时避光度很大，粒径不断减小。总觉得自己测定的粒径都不大对的！

近红外漫反射光谱易受样品颗粒度的影响。本文对10种不同粒度的黄连的近红外光谱进行分析，讨论粒度对黄连的近红外光谱强度的影响。结果发现，小粒度黄连的近红外光谱的重现性较好。当黄连粒度小于0.154 mm时，粒度变化对黄连的近红外光谱强度的影响较小。

[font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]激光粒度仪是通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小的仪器，采用Furanhofer衍射及Mie散射理论，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，即可获得准确的测试结果。主要应用于建材、化工、冶金、能源、食品、电子、地质、军工、航空航天、机械、高校、实验室，研究机构等领域。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]激光粒度仪主要类型：[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]1.静态激光[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]　　能谱是稳定的空间分布。主要适用于微米级颗粒的测试，经过改进也可将测量下限扩展到几十纳米。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]2.动态激光[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]　　根据颗粒布朗运动的快慢，通过检测某一个或二个散射角的动态光散射信号分析纳米颗粒大小，能谱是随时间高速变化。动态光散射原理的粒度仪仅适用于纳米级颗粒的测试。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]3.光透沉降[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]　　通常所说激光粒度仪是指衍射和散射原理的粒度仪，光透沉降仪，依据的原理是斯托克斯沉降定律而不是激光衍射/散射原理，因此这类仪器不能称作激光粒度仪。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]　　在以往的粒度分析技术方法中，通常采用筛分或沉降法。常用的沉降法存在检测速度慢(特别是小颗粒)、重复性差、非球形颗粒误差大、不适用于混合物料(即颗粒的比重必须一致才能更准确)、动态范围较窄等缺点。激光衍射法的发明，彻底克服了沉降法的缺点，大大降低了劳动强度，加快了样品检测速度（从半小时到一分钟）。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]　　激光衍射法测量颗粒大小的依据是：小颗粒对激光的散射角较大，大颗粒对激光的散射角较小。通过测量散射角，可以计算出颗粒的尺寸。光学理论是以迈克尔斯理论和弗朗霍夫理论为基础的。[/color][/size][/font]

激光粒度仪测量粒度的原理是米氏散射理论。米氏散射理论用数学语言精确描述折射率为n、吸收率为 m、粒径为 d 的球形颗粒，在波长为 λ 的激光照射下，散射光强度随散射角 θ 变化的空间分布函数，此函数也称为散射谱。根据米氏散射理论，大颗粒的前向散射光很强而后向散射很弱；小颗粒的前向散射光弱而后向散射光很强。如图所示的是固定波长下的大、中、小颗粒的散射谱示意图。激光粒度仪正是通过设置在不同散射角度的光电探测器阵列测这些散射谱来确定颗粒粒径的大小。对于特定颗粒，这种散射谱在空间具有稳定分布的特征，因此称此种原理的激光粒度仪又称为静态激光粒度仪。根据米氏散射理论，当颗粒粒径小到一定程度（如小于波长 的 1/10 左右）时，光强分布变成了两个相近似对称的圆（图 1(1) dλ），此时称为瑞利散射。产生瑞利散射的最大粒径就是激光粒度仪的测试下限。激光粒度仪的测试下限还与激光波长有关，激光波长越长测试下限越大，波长越短测试下限小。研究表明，具有同时测量前向和后向散射光技术，同时具有差分散射谱识别技术的激光粒度仪，在用红光（波长为 635nm）做为光源时的测量极限为 20nm，用绿光（波长为 532nm）时的测量极限为 10 nm。

少量试样有利于体产物的扩散和试样内温度的均衡﹐减少温度梯度﹐降低试样温度与环境线性升温的偏差﹐这是由试样的吸﹑放热效应引起的。如众所知﹐DTA曲线的峰面积A与反应物的质量m﹑反应(或转变)的热效应ΔH有关﹕A=GmΔH/k 式中 G:校正因子 ﹔k:热导率(也称导热系数)此外﹐实验表明﹐峰面积尚于试样粒度有关﹐如1,2-聚丁二烯在接近200℃的热氧化放热效应﹐粒子越小DSC曲线放热峰的面积越大。通常﹐试样热分解的起始和终止温度均随试样粒度的减小而降低。试样由较大晶体或粒子构成﹐则比表面较小﹐其分解延缓。一般来讲﹐表面反应或多或少要受到试样粒度的影响﹐这要比对化学分解的影响更加明显﹔而相转变受到粒度的影响较小。为了方便相互比较﹐应尽量采用粒度相近的试样﹐如t过一定筛孔的细粉。试样质量不仅对热分析曲线的峰温和峰面积有影响﹐还对其形态特性有影响。有些物质由于质量的减少而形态特征发生根本的变化﹐这就为用热分析曲线形貌特征来鉴定物质的方法带来困难。另外﹐堆砌松散的试样颗粒之间有空隙﹐使试样导热变差﹐而颗粒越小﹐越可堆砌得紧密﹐导热良好。不管试样的粒度如何﹐堆砌密度不是很容易重复的﹐这也会影响TG曲线的形貌特征。

一直以来对粒度分布图中的纵坐标的含义不是很明白，请高人指教：我用的仪器是马尔文1000，纵坐标写着“%in class”，不同样品测量的纵坐标值变化较大，大约从5-80变化！请指教这里的in class是什么含义，具体指颗粒的什么特征？？谢谢！

[align=center][color=#333333][/color][/align][font=微软雅黑][color=#333333]激光粒度分析仪适用范围广、测量粒径范围广，与传统方法相比，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，就能给出准确可靠的测量结果。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项一：测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作，电路中的电子元件都有一个关键的技术参数，元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化，温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以，粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示，一般而言，用户在粒度分析仪头一次的开机过程中，关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项二：系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项三：系统参数设置。技术人员表示，在激光粒度分析仪的主菜单界面，操作人员应用鼠标左键单击“设置”，屏幕上弹出“设置”子菜单，在该栏上输入：样品名称、测试人等项内容，才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项四：样品准备。据悉，样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品，选取适当的悬浮液和分散剂，将样品与悬浮液混合，并让样品颗粒在悬浮液中充分分散，而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/font][color=#333333][/color]

[font=微软雅黑][color=#333333]激光粒度分析仪适用范围广、测量粒径范围广，与传统方法相比，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，就能给出准确可靠的测量结果。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项一：测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作，电路中的电子元件都有一个关键的技术参数，元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化，温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以，粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示，一般而言，用户在粒度分析仪头一次的开机过程中，关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项二：系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项三：系统参数设置。技术人员表示，在激光粒度分析仪的主菜单界面，操作人员应用鼠标左键单击“设置”，屏幕上弹出“设置”子菜单，在该栏上输入：样品名称、测试人等项内容，才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项四：样品准备。据悉，样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品，选取适当的悬浮液和分散剂，将样品与悬浮液混合，并让样品颗粒在悬浮液中充分分散，而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/font]

关于HJ1068-2019土壤粒度测定的比重计法，其中的颗粒粒径公式dp2=1.8nz/(ps-pw)gt，计算出的结果最大为0.5min的0.0322，远小于0.212，这是什么原因？是公式的哪里理解不对吗，只有温度导致的黏滞系数变化和有效深度有变化，其他都是常数，不懂要变哪里，求解。

[font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]激光粒度分析仪适用范围广、测量粒径范围广，与传统方法相比，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，就能给出准确可靠的测量结果。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项一：测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作，电路中的电子元件都有一个关键的技术参数，元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化，温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以，粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示，一般而言，用户在粒度分析仪头一次的开机过程中，关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项二：系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项三：系统参数设置。技术人员表示，在激光粒度分析仪的主菜单界面，操作人员应用鼠标左键单击“设置”，屏幕上弹出“设置”子菜单，在该栏上输入：样品名称、测试人等项内容，才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项四：样品准备。据悉，样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品，选取适当的悬浮液和分散剂，将样品与悬浮液混合，并让样品颗粒在悬浮液中充分分散，而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/size][/font]

[size=4]有哪位知道晶粒度与粒度的区别，SEM图片里面的[color=#DC143C]单晶的粒度[/color]就是晶粒度么？用Scherrer公式有什么限制么？[/size]

[font=微软雅黑][color=#333333]激光粒度分析仪适用范围广、测量粒径范围广，与传统方法相比，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，就能给出准确可靠的测量结果。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项一：测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作，电路中的电子元件都有一个关键的技术参数，元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化，温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以，粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示，一般而言，用户在粒度分析仪头一次的开机过程中，关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项二：系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项三：系统参数设置。技术人员表示，在激光粒度分析仪的主菜单界面，操作人员应用鼠标左键单击“设置”，屏幕上弹出“设置”子菜单，在该栏上输入：样品名称、测试人等项内容，才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项四：样品准备。据悉，样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品，选取适当的悬浮液和分散剂，将样品与悬浮液混合，并让样品颗粒在悬浮液中充分分散，而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/font]

[font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项一：测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作，电路中的电子元件都有一个关键的技术参数，元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化，温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以，粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示，一般而言，用户在粒度分析仪头一次的开机过程中，关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项二：系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项三：系统参数设置。技术人员表示，在激光粒度分析仪的主菜单界面，操作人员应用鼠标左键单击“设置”，屏幕上弹出“设置”子菜单，在该栏上输入：样品名称、测试人等项内容，才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项四：样品准备。据悉，样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品，选取适当的悬浮液和分散剂，将样品与悬浮液混合，并让样品颗粒在悬浮液中充分分散，而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/size][/font]

[font=微软雅黑]1.激光粒度仪在医药、制药行业中的应用[/font][font=微软雅黑]一般情况下，随着粒径的减小，其粒度细微均匀，比表面积增大，孔隙率增加，吸附性增强，溶解性增强，亲和力变大，化学反应速率增加，改善了药物的溶出度，能使有效成分较好地分散、溶解在胃液里，且与胃黏膜的接触面积变大，更易被胃肠道吸收，从而提高了治疗效果。[/font][font=微软雅黑] [/font][font=微软雅黑]对于普通水溶性较好的原料药，常用的就是湿法激光粒度仪。但是由于药剂种类繁多，面对一些水溶性不好或者常用分散介质中很难分散的药剂时，考虑干法激光粒度仪进行检测。[/font][font=微软雅黑] [/font][font=微软雅黑]2.用于建筑材料生产[/font][font=微软雅黑][font=微软雅黑]水泥的粒度分布如何将极大的影响混凝土的强度。粒度分布的测量对[/font]zui终产品的质量控制，降低生产成本，提高产品质量，减少能耗方面均有极大的作用。对于水泥生产的实时控制，就需要激光粒度仪这样的监控仪器，保证数据的输出连续性，确保质量的可靠。[/font][font=微软雅黑] [/font][font=微软雅黑]3.用于大[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/bp][color=#3333ff]气质[/color][/url]量的监测[/font][font=微软雅黑][font=微软雅黑]大气污染中主要是粒子状污染物。飘尘具有的交替特性使其形成气溶胶如雾、烟、尘，会对环境造成极大影响。可以利用激光粒度仪测定大气中烟尘、灰尘在不同时间、不同位置的含量而得出大气中烟尘、灰尘时间[/font]-空间分布图，从而控制各地工业发展方向，为解决环境污染和全球性气候预测起到一定的指导作用。[/font][font=微软雅黑] [/font][font=微软雅黑][color=#0000ff]4.用于江河湖泊水质监测[/color][/font][font=微软雅黑] [font=微软雅黑]近年来，各部门致力于江河湖泊水质的治理。利用激光粒度仪测量水中金属氧化物以及固体颗粒含量，可以实时监控水质是否达标。同时，河水泥沙含量同样是一个重要指标，对于河口海岸带水质、地貌、环境等的研究具有重要意义。使用激光粒度仪测量可以让测量者得到连续的变化曲线，从而利于对于环境变化的分析。[/font][/font][font=微软雅黑] [/font][font=微软雅黑]5.激光粒度仪在水泥行业的应用[/font][font=微软雅黑][font=微软雅黑]现如今水泥厂都偏向于将水泥磨细来提高水泥强度，其实水泥石强度并不一定随水泥细度的增加、组分水化活性的提高而提高。但颗粒越细，水化活性越高；[/font]zui初的强度发展速率随细度增加而增长。在规范中，水泥细度通常用筛余或比表面积来衡量。实际上除了进行上述指标的控制，对于细度而言粒度分布也是重要因素。[/font][font=微软雅黑] [/font][font=微软雅黑][font=微软雅黑]激光粒度仪是指组成水泥的所有颗粒中，不同粒径颗粒所占有的[/font] [font=微软雅黑]百分比。粒度分布的测定不仅是控制水泥颗粒细度的一种有效的方法，更重要的是它将对粉磨、分级等环节的优化提供准确的依据。水泥的粒度分布情况将极大地影响混凝土的强度。[/font][/font][font=微软雅黑] [/font]

[font=微软雅黑][color=#333333]激光粒度分析仪适用范围广、测量粒径范围广，与传统方法相比，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，就能给出准确可靠的测量结果。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项一：测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作，电路中的电子元件都有一个关键的技术参数，元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化，温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以，粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示，一般而言，用户在粒度分析仪头一次的开机过程中，关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项二：系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项三：系统参数设置。技术人员表示，在激光粒度分析仪的主菜单界面，操作人员应用鼠标左键单击“设置”，屏幕上弹出“设置”子菜单，在该栏上输入：样品名称、测试人等项内容，才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项四：样品准备。据悉，样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品，选取适当的悬浮液和分散剂，将样品与悬浮液混合，并让样品颗粒在悬浮液中充分分散，而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/font]

粒度仪的工作原理MIE散射理论用数学语言精确描述了折射率为n、吸收率为m的特定物质的，粒径为d的球型颗粒，在波长为λ单色光照射下，散射光强度随散射角θ变化的空间分布函数，此函数也称为散射谱。根据MIE散射理论可以看出颗粒越大，前向散射越强而后向散射越弱；随着颗粒粒径的减小，前向散射迅速减弱而后向散射逐渐增强。激光粒度仪正是通过设置在不同散射角度的光电探测器阵列，测试颗粒的散射谱，由此确定颗粒粒径的大小。这种散射谱对于特定颗粒在空间具有稳定分布的特征，因此称此种原理的仪器为静态激光粒度仪。由同一粒径颗粒组成的颗粒群称为单分散颗粒群。实际上单分散颗粒群是极少的。颗粒群体通常由大量大小不同的颗粒组成。以粒度为横坐标，以颗粒单位粒径宽度内的颗粒含量(体积含量、个数含量、表面积含量等)为纵坐标，绘出的曲线称为粒度分布曲线(又称频率分布)。如果纵坐标采用某一粒度下颗粒的累积含量则绘出的曲线称为累积分布曲线(又称积分分布)。需要注意的颗粒含量有多种不同的意义，它们之间差别很大。常用的是体积含量，因此称为体积粒度分布曲线。探测器可以做的非常窄大约几个微米，因此分辨率非常高；测试过程颗粒散射不会受到人为因素的干扰，因此测试重复性超群；根据傅立叶变换的平移不变性，颗粒在样品池中的运动速度不会影响频谱分布，因此适用于动态颗粒的测试，这是其他粒度测试方法所无法比拟的，这成为了颗粒在线测试理论依据。

大家好，请教一下。目前我有一混悬滴眼液的品种，CDE发补，要求将“粒度及粒度分布”加入到质量标中。在申报本品资料的质量研究中，对粒度进行了测定，使用显微镜检查，不得检出大于50nm的微粒。但未将此项列入质量标准，而是写明“其他应符合滴眼液制剂通则的要求”制剂通则关于混悬滴眼液规定了粒度不得大于50nm。现在CDE要求将“粒度及粒度分布”订入质量标准。粒度好办，就用显微镜就可以解决。但粒度分布，用显微镜不好做吧。不知道能否用显微镜做，有没有高人做过？如果有激光粒度仪也好办，但是现在没有，而且一般的药检所也没有，高校的化学院或材料学院一般有，如果委托他们做，还需要做方法学研究，很麻烦，不知道高效的化学院或者材料学院能不能做测定的方法学研究。所以我还是想用显微镜解决，请大家指导一下。顺祝节日快乐。

Winner801光相关纳米粒度仪Winner801是我公司最新推出的基于动态光散射原理的纳米粒度仪，也是国内首款采用光子相关光谱（PCS）技术的纳米粒度仪。它采用我公司自主研制的高速数字相关器和专业的高性能光电倍增管作为核心器件，具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，是纳米颗粒粒度测定的首选产品。主要性能特点：先进的测试原理：本仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小。小颗粒布朗运动速度快，大颗粒布朗运动速度慢，激光照射这些颗粒，不同大小的颗粒将使散射光发生快慢不同的涨落起伏。光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。因此本仪器具有原理先进、精度极高的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；是纳米激颗粒粒度测定的首选仪器。高灵敏度与信噪比：本仪器的探测器采用专业级高性能光电倍增管（PMT），对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比，从而保证了测试结果的准确度；极高的分辨能力：使用PCS技术测定纳米级颗粒大小，必须能够分辨纳秒级信号起伏。本仪器的核心部件采用微纳公司研制的CR140数字相关器，具有识别8ns的极高分辨能力和极高的信号处理速度，因此可以得到准确的测定结果。超强的运算功能：本仪器采用自行研制的高速数字相关器CR140进行数据采集与实时相关运算，其数据处理速度高达125M，从而实时有效地反映颗粒的动态光散射信息。稳定的光路系统：采用短波长LD泵浦激光光源和光纤技术搭建而成的光路系统，使光子相关谱探测系统不仅体积小，而且具有很强的抗干扰能力，从而保证了测试的稳定性。高精度恒温控制系统：样品测试区域设计有半导体恒温装置，温控精度高达0.1℃，保证测试样品温度恒定，消除因温度的变化导致介质的折射率、粘度的变化以及布朗运动突变等因素，从而保证测试结果的准确度和稳定性。 适用测试对象：各种纳米级、亚微米级固体颗粒与乳液。

。。激光粒度仪。。原理：根据光的散射现象,即颗粒越小散射角越大的现象(可称为静态光散射)。。理论测量范围：0.05~2000μm。。优点：动态范围大、测量速度快、操作简便、重复性好。。缺点：分辨率低，不宜测量粒度均匀性很好的粉体。。颗粒图像处理仪。。原理：显微镜方法与数字图像处理技术相结合。。理论测量范围：0.5~1200μm。。优点：分辨率高、可观察颗粒形貌和状态。。缺点：操作比较麻烦，结果易受操作人员影响，不宜测量分布范围宽的样品。。库尔特(电阻法)颗粒计数器。。原理：小孔电阻原理 。。理论测量范围：0.4~256 μm。。优点：分辨率高、重复性好、操作较简便。。缺点：易堵孔、动态范围小，不宜测 量分布范围宽的样品，如水泥 沉降仪(包括重力沉降、离心沉降、光透沉降、沉降管、移液管等)原理：沉降原理,即Stokes原理,根据颗粒的降速度测量颗粒的大小。理论测量范围:。。离心沉降0.01~100μm。。其它：2~100 μm优点：原理直观，造价较低缺点：操作复杂，结果受环境和操作者影响较大，重复性较差 。。动态光散射仪(PCS) 。。原理：根据微小颗粒在液体中做布郎运动，造成溶液中局部颗粒浓度变化，从而引起散射光的强度随时间变化，通过分析散射光的自相关性，推算颗粒的运动速度，最终测知颗粒大小。。。测量范围：2nm~2000nm(2 μm) [em17]