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粒度尺寸

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粒度尺寸相关的论坛

  • XRD计算晶粒尺寸

    多晶的XRD,精修微观应力和晶粒尺寸时,结果相差较大,这算出来的 LVol-FWHM 平均粒径应该是大多晶,还是小的亚晶尺寸?

  • 【求助】计算晶粒尺寸的问题

    我知道用XRD计算晶粒尺寸必须扣除仪器宽化影响。我计算做一系列样品的的晶粒尺寸,我是用的是KCL(标样)和样品混合在一起扫描,请问是仪器宽化影响是固定的吗?是否标样做一次就行了?另外,标样和样品混合在一起扫描是外标法还是内标法?标样和样品混合比例多少合适?谢谢!

  • 大尺寸材料体积密度计原理、应用及参数规格

    [url=http://www.f-lab.cn/solid-densimeters/ttdm.html][b]大尺寸材料体积密度计[/b][/url]TTDM专业为大尺寸样品材料的[b]体积密度测量[/b]和[b]体积比重测量[/b]而设计的[b]体积比重计[/b],[b]Bulk Densimeter[/b],非常适合粉末冶金行业,贵金属回收行业,铸件,铝铸造厂,橡胶,塑料,硬质合金等领域的材料[b]体积密度测量[/b]。[b][b]大尺寸材料体积密度计[/b]适用于:[/b]粉末冶金行业,贵金属回收行业,铸件,铝铸造厂,橡胶,塑料,硬质合金[b][b]大尺寸材料体积密度计[/b]原理:[/b]根据ASTM D297-93,D792-00,D618,D891,ISO2781,JISK6530,GB / T1033采用阿基米德原理的浮力法,采用沸水法,真空饱和法,可直接显示测量结果。[b][url=http://www.f-lab.cn/solid-densimeters/ttdm.html][b]大尺寸材料体积密度计[/b][/url]技术数据[/b]粉末冶金通过几个步骤形成。首先将合金,氧化物,碳化物和润滑剂等金属的混合粉末放入模具中并在高压下形成。成型后,将这些部件放入用于致密化的烧结炉中。然后产品可以经过一些更多的处理后制作。稀释金属粉末颗粒后,粉末冶金被制成复杂的形状成分。这种方法取代了传统的加工方法。因此,烧结材料密度的测量非常重要。材料的最大重量可达3100g。 [table][tr][td=2,1]型号[/td][td]TTDM 1200L[/td][td]TTDM 2000L[/td][td]TTDM 3000L[/td][/tr][tr][td=2,1]可测范围[/td][td]0.01 g〜 1200 g[/td][td]0.01 g〜 2000 g[/td][td]0.01 g〜 3000 g[/td][/tr][tr][td=2,1]密度分辨率[/td][td=3,1]0.001g / cm[sup] 3[/sup][/td][/tr][tr][td=2,1]水箱内部尺寸[/td][td=3,1]22x18x14(厘米)[/td][/tr][tr][td=2,1]密度范围[/td][td=3,1] 1,1都可以进行测试[/td][/tr][tr][td=2,1]设置[/td][td=3,1]设置水温和溶液补偿,防水油密度设定[/td][/tr][tr][td=1,3]功能[/td][td]程序1[/td][td=3,1]可直接显示粉末冶金产品的体积密度,有效孔隙率,湿密度和体积。[/td][/tr][tr][td]程序2[/td][td=3,1]可直接显示烧结含油轴承的含油量,有效孔隙率。[/td][/tr][tr][td]程序3[/td][td=3,1]可直接显示不渗透产品的密度和体积。[/td][/tr][tr][td=2,1]标准接口[/td][td=3,1]RS-232[/td][/tr][/table] [img=大尺寸材料体积密度计]http://www.f-lab.cn/Upload/solid-densimeters-ttdm.jpg[/img][b]更多密度计比重计:[url]http://www.f-lab.cn/densitometers.html[/url][/b]

  • 利用喇曼谱估算颗粒尺寸

    请问如何估算,听说有个Nemanich和Campbell提出的声子限域模型可以计算颗粒尺寸的,可是怎么也查不到,还有别的比较准确的单纯通过喇曼的峰位峰宽或者峰移等喇曼谱中的信息来推算颗粒尺寸的方法吗?

  • 如何得到准确的晶粒尺寸数值?

    用jade处理衍射数据,在看一个峰对应的晶粒尺寸的时候,凡是超过1000A的都打了问号,说明不能知道其具体数值。而理论书上又说谢乐公式在晶粒尺寸超过100纳米时就不准确了,那我究竟怎样才能知道一个峰对应的晶粒尺寸的大小?http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/emyc1010.gif

  • XRD如何计算晶粒尺寸,谢谢!

    XRD计算晶粒尺寸还有a b c是用jade那个拟合还是用谢乐公式?1、1若是用jade,在拟合的时候选多少个峰合适?我的有二十几个峰。1、2那个size only和size strain如何选择?如何知道自己的材料有没有张力的影响?颗粒是类快状的,不是球。2、1若是用谢乐公式,只计算三个最强峰还是几个?2、2k=0.94,λ=0.15406nm,这个取得对吗?从jade peak report里的FWHM是半高宽度吗,我的比如2θ=20.758,FWHM=0.158。D=(0.94×0.15406)/0.158×(π/180)×cos(10.35)这样对吗?谢谢!

  • 【原创大赛】TOPAS中的各种晶粒尺寸解法

    【原创大赛】TOPAS中的各种晶粒尺寸解法

    http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/08/201108061550_308849_1986542_3.gifTOPAS中的各种晶粒尺寸解法Xiaodong (Tony) Wang (仪器信息网iangie)Centre of Material Research, Curtin University, Perth, WA 6150, Australia从粉晶XRD(XRPD)中能得到粉晶尺寸(严格滴说是相干散射尺寸coherent scattering domain)是众所周知的技术. 其原理是亚微米级的微晶在布拉格角左右两侧的退相干不足造成了XRD峰的宽化. 前前后后关于从XRD线宽(line broadening)得出晶粒尺寸的研究不计其数. 其各种成果(公式)收纳在各种XRD分析软件中. 所以大家在使用XRD分析软件的时候, 请一定仔细阅读软件手册. 什么情况下使用哪个公式(勾选那个选项)要做到心中明亮才不至于得到错误的结果. 多吐槽一句: 制造业有个经典信条就是只要原料不变,生产工艺不变, 产品就一定不会变. 不少XRD分析者既不重视收谱的仪器参数设置(你给了钱,就要对测试部门有要求,不要他们测什么数据你就拿什么数据), 又把处理数据的分析软件当成一个有魔法的黑盒(软件不像硬件,你可以自己看手册钻研吧), 结果就是rubbish in rubbish out, 连所得结果的重复性都谈不上, 更别说结果是否正确了.言归正传, 第一个发现并实现从XRD线宽中得出晶粒尺寸的伟人是Scherrer(谢乐). 在第一次世界大战的尾声, 谢老师发表了著名的谢乐公式, 晶粒尺寸与半高宽和衍射半角余弦之积成反比的规律第一次公诸于世. 不过令人悲哀的是在二十一世纪已经过去十多年的今天, 不少用XRD分析晶粒尺寸的研究者仍然只知道或者还在使用五四运动以前的公式. 事实上这一个世纪以来. 峰形分析(line profile analysis)肯定取得了长促的进步. 研究者们可以充分利用峰形而不仅仅是峰宽来得到样品更多的信息.如果你要在TOPAS中使用古老的谢乐公式, 可以直接使用Scherrer宏. macro Scherrer(p, fwhm, s, csize)那个条件语句说明了谢乐公式是有使用条件的:晶粒太大则没有size broadening, 此时线宽等于或者小于仪器峰宽, 谢乐公式不适用. 注意公式中的仪器峰宽扣除是用平方扣除的, 这只适合高斯函数拟合的峰形. 大家用mathematica把两个高斯函数做一下卷积就会发现结果仍然是一个高斯函数,期望为两原期望相加,方差的平方等于原来两方差的平方和. 如果用洛伦兹峰形, 则应该用直接相减, 因为洛伦兹函数的卷积是期望相加,方差也相加. 以前版面上有人问Jade里面扣除仪器峰宽的指数项D值取1和2之间的什么数, 答案是要看你拟合的峰形是哪个函数比重较大. 这也是谢乐公司的缺点, 你永远不可能知道准确的D值.只能瞎猜一个,固定下来,以便同系列内比较.不过你报道的数据就没有普遍性了. 再罗嗦一句, 用了这个宏就不要再用其他的样品峰形卷积了, 不然得到的结果都不准.正在中国的大跃进如火如荼的时候, Caglioti总结出的衍射线宽随衍射角的经验参数化关系可以认为是一次真正的跃进. 大家还应该可以从Jade中找到Caglioti公式. 这个公式可以看出使用Bragg-Brentano几何的仪器本身会造成衍射线宽化,但是还不能把仪器峰宽和样品峰宽成功分离开来. 不过对于用XRD来解晶体结构的研究者来说, 这已经足够了. 有了Caglioti公式, 他们可以用高斯峰形函数和洛伦兹峰形函数两者的组合还拟合XRD峰形, 毕竟他们关心的只是和晶格内原子密切相关的峰下面积. 峰形拟合得越好, 峰下面积在拟合中就越准确, 越有利于确定晶格内原子位置. 通过用这种经验法拟合峰形已经解出了大量的晶体结构.Klug和Alexander在四人帮成立那年出版的专著《多晶和无定形材料x射线衍射步骤》中进一步讲解了他们在这本专著二十年前的第一版中提出了峰形卷积计算法. 实验测得的XRD峰形实际上是光源峰形,仪器峰形和样品峰形三者卷积的结果. Voigt函数作为高斯函数和洛伦兹函数的卷积被引入峰形处理. 当时的电脑计算能力有限,没能将这个基于物理意义推导的卷积算法实现. 这个概念被认为是现在基于卷积的全谱拟合软件的基础. TOPAS(及前身)便是第一个基于卷积算法的全谱拟合Rietveld程序. 加入了高斯洛伦兹两种函数拟合峰形的谢乐公式变形为:macro ScherrerVoigt(p, fwhmg, fwhml, fwhmgi, fwhmli, csize)注意高斯半高宽对仪器峰宽的去除是平方相减,洛伦兹函数的仪器峰宽去除是直接相减. 显然, 两个函数分开算就不存在D取1还是取2的问题. 但是你得知道仪器峰宽的高斯成分和洛伦兹成分.早在抗日战争进入转折的时候,Stokes和Wilson就注意到峰形比峰宽包含更多的信息.他们使用积分宽度(峰下面积除以峰高)来计算晶粒尺寸的折中的算法.其优点是不仅不再要求峰形能够被voigt函数所拟合, 又能利用整个峰形的信息.在TOPAS中使用积分宽度来计算晶粒尺寸的macro是macro ScherrerVoigtStokesWilson(p, fwhmg, fwhml, csize)可以看到Voigt函数峰宽计算晶粒尺寸和积分宽度计算晶粒尺寸这两条线是并行发展的. 那么哪个准呢? 科学的做法是都用, 让以后的研究者通过大量实验来判断哪个准. 在邓公拨乱反正那年, 双voigt方法被Langford提出来. 经过后来Balzar和Ledbetter的改进,形成了现在的双voigt法:macro Voigt_FWHM_from_CS(csg, csl)macro IB_from_CS(csg, csl)macro LVol_FWHM_CS_G_L(k, lvol, kf, lvolf, csgc, csgv, cslc, cslv)macro CS_G(c, v)macro CS_L(c, v){#m_argu cI

  • 【求助】傅里叶透镜的尺寸与焦距的问题

    一般来说是不是焦距越大,尺寸越大呢? 对于后向汇聚的傅里叶变换来说对透镜的尺寸应该是要求不大,而仅是对焦距有要求吧,一般采用比较大的焦距是为了提高分辨率吧?另外有没有办法获得小尺寸的长焦距的傅里叶透镜呢?

  • 使用jade5.0时平均晶粒尺寸的问题

    之前的工程师跑了,刚从零接受衍射工作一年多,公司新买了一台布鲁克D8衍射仪,一台十几年前买的D8衍射仪也还能用,但我在用新衍射仪测钴酸锂的晶粒尺寸时,用jade5.0修峰得到的晶粒尺寸数值与用旧仪器测试得到的晶粒尺寸数值差别很大(用jade5.0得到的是晶粒尺寸平均值),并且新仪器测得的样品平行结果也很不稳定。有问题请教:我在使用jade5.0测锂离子正极材料时得到晶粒尺寸Xs,但其为各个峰的平均值,请问这个数值能准吗?都说晶粒尺寸Xs在100nm以上就误差很大了,但公司还一直沿用着测试这个数值,用旧的D8衍射仪每次得到的数值都有2000A,这值有什么可信度吗?

  • 关于利用X射线衍射峰计算晶粒尺寸的问题

    本人最近刚刚接触XRD,而且晶体学基础较为薄弱,通过与同学交流,知道了利用pickfit软件进行分峰拟合后可以计算晶粒尺寸,我也想试一试。但有个问题是,即使我通过自学教程什么的计算出了某一图谱的晶粒尺寸,但仍然不知道自己算的到底对不对。请教各位有没有什么验证的方法,或者,有没有简单的XRD图谱专门用于教学计算晶粒尺寸的,晶粒尺寸已经知道,希望哪位可以把这样的图谱发给我以用于练习,谢谢~~

  • 日晒色牢度试样夹尺寸?

    实验室新进来一台进口日晒机,试样夹尺寸很大,且只有一种,与国产日晒机的试样夹不同GB/T8427中也没有规定具体的尺寸,只说明是不小于,不知道大家做国标日晒用的试样夹尺寸是多大?

  • 【求助】湿法粒度仪样品池是怎么样的?

    今天刚上这个论坛,发现是一个学习的好地方,我这有一些问题想请教大家,我毕业论文的题目是[size=3][font=宋体]设计一个具有超声分散、电动搅拌、自动循环的湿法粒度仪样品池,要求是样品分散系统与激光测试系统分离,我查了很多资料发现专门讲样品池的设计方面的很少,所以比较困惑。我手头上现有的资料有用的只有一个网上下载到的样品池设计专利,我对于尺寸方面又不是很清楚,希望各位仁兄能够帮帮我,告诉我应该从那方面下手,或者有一些这方面的资料能够发给我。我的邮箱是[email]panlinchao319@yahoo.com.cn[/email]小弟将不胜感激!谢谢[/font][/size]

  • 玻璃原料粒度的控制

    玻璃原料粒度的控制前言玻璃行业对原料的控制水平可以分为三个台阶:一是成份的控制,这包括原料的高品位、成份的稳定及水分的稳定等;二是颗粒度的控制,包括对最大颗粒的限制、对超细粉的控制以及对各种不同颗粒级别的配比的控制;三是配合料控制,即通过控制混合料的氧化-还原势,使熔化、澄清和均化达到更科学、合理的状态。随着行业技术的不断发展进步,人们现在已经越来越深刻地认识到原料质量对玻璃生产的影响,其中对原料成份的控制,已被人们广为接受并得以充分地重视,而对颗粒度的控制也应作为一个重要课题。这是现今玻璃行业必须直面,并要努力跨越的重要技术台阶。玻璃原料粒度对生产的影响玻璃原料按其在玻璃中起的作用主要分为,原料和辅助原料。主要原料是形成玻璃结构的主体原料,它决定着玻璃的主要物理,化学性质。这些原料熔融反应后即生成硅酸盐,构成玻璃液的主体,如硅砂,纯碱等。辅助原料其用量较少,主要用以改善玻璃的熔化,澄清,成形性能或使产品具有某些特殊性能,如加入芒硝作澄清剂,加碳粉作还原剂,加硒钴作着色剂等。原料颗粒度的控制包括三个方面:一是颗粒上限,即允许粉料中最大颗粒的尺寸,超过上限尺寸的称为大颗粒。大颗粒的存在会对熔化质量产生很坏的影响。二是颗粒下限,即允许粉料中最细颗粒的尺寸,小于下限尺寸的往往就称为细粉。三是颗粒级配,指在粉料中,各种不同尺寸级别的颗粒所占的比例。颗粒级合理的配合料将会有助于熔化质量的提高。目前国内一般水平的浮法生产线对原料的颗粒度还不太重视,只有较先进的浮法玻璃生产线,对硅质原料的要求均很严格,大颗粒限制得越来越小,细粉含量限制的越来越少。要想达到节能降耗,提高玻璃产量和质量的目的,首先合理地控制好玻璃原料的粒度。如果大颗粒过多时,会造成玻璃熔化困难,最终会形成夹杂物等缺陷而影响玻璃质量。细粉颗料之间有许多细小的空隙,夹杂着许多气体,占据着一定的空间,这些气体空间会形成隔热层,降低了混合料的热传导性,从而提高了熔化难度,产生大颗粒的效应。同时这些气体空隙的存在还降低了玻璃熔体的润湿性,容易导致产品中的微气泡。其次在水份较大的情况下,粉料容易形成卵状细粉料团,这种料团有时在混合机中也打不开,形成“料蛋”造成混合料不均。即便是水份较低的粉料,也会由于过多细粉的存在而影响混合料的均匀性。此外细粉中含重质难熔矿物成份较多,易带来较多的杂质和熔化缺陷。济南微纳粒度仪应用WINNER2308是一款干湿一体大量程激光粒度仪,采用新一代设计理念,成功解决了干湿一体化的各项技术问题,实现干湿一键切换,使用非常便捷,融合了济南微纳公司的多项专利技术,采用会聚光傅里叶变换专利技术、频谱放大技术,不仅克服了透镜孔径对散射角的限制,在有限的空间内实现量程的大范围扩展,并添加多个辅助集成光电探测器,能有效采集测试量程所对应的各个角度的散射光,实现全量程内的测试准确度和可靠性。采用紊流分散专利技术,利用激波的剪切效果,使颗粒样品达到充分的分散,分散系统关键部位采用耐磨陶瓷,不仅提高了使用寿命,而且还保证测试。是颗粒种类较多且颗粒分布较宽的工业生产质量控制部门及科研机构的首选。产品应用案例河北省沙河玻璃技术研究院是由沙河市人民政府与武汉理工大学共同组建的科研单位。定位是以玻璃应用基础研究与技术转化为主导方向,立足玻璃材料科学前沿,通过自主创新,以推动玻璃产业的技术进步。研究院主要开展浮法玻璃生产关键技术和新品种、新能源玻璃技术、产品缺陷快速诊断与分析等核心技术的研究开发。研究院拥有一批先进的玻璃材料制备、性能测试、质量检测的专业仪器与设备。近年来,河北省沙河玻璃技术研究院采用济南微纳颗粒仪器股份有限公司提供的新型激光粒度仪对玻璃应用技术进行革新与研究。济南微纳提供的测试服务与支持,得到了研究院院士们的一致好评。研究所构筑了玻璃材料及其关键技术研究的支撑体系,将在玻璃材料的研究与开发中发挥重要作用。

  • 激光粒度仪测试结果准确性的判断?

    我在欧美克还有马尔文的激光粒度仪器上对粉体的粒度进行测试,但是结果相差比较大,虽然有些粉体厂家已经告诉一些粉体的粒度,但是这个数值也不一定准确~另外我问过一些技术人员,听他们说从SEM图像上观察到的颗粒尺寸并不能作为激光粒度的参考,所以想问到底怎么来判定哪个的测试结果更准确些呢?另外不同的激光粒度测试仪所测出的粒度不同,那么对于这么大的不确定性,是不是说激光粒度仪测试的粒度只能进行对比测试,比如说测试不同条件下制备不同粉体颗粒尺寸的相对大小,而不能定量的确定每种条件下粒度的实际值?

  • 通过XRD计算晶粒尺寸的相关疑惑

    本人最近想利用XRD得到的谱图进行晶粒尺寸的分析,但是看到一些资料 我还是不明白如何计算,希望各位朋友能够多多发言 讲解下计算的方法。还有一个问题就是目前XRD衍射仪得到的数据 利用jade处理 这个jade软件不是可以得到一个衍射峰所代表的晶粒大小?为何还要利用谢乐公式进行人工计算?

  • 【求助】测量电镜(TEM、SEM)图像中微粒尺寸的软件

    偶测了一些TEM和SEM图,在试验中需要准确知道图中微粒的尺寸,便于试验的下一步进行。将图像打印出来,用尺子计量也是一种办法,可是精度不高,而且无法给出统计尺寸(如上述TEM图)。后经朋友介绍,本论坛中高手如云,因此特来求助,热切盼望那位好心的高手相助,在此表示深深的谢意!我的邮箱:cheliuxinghai@126.com

  • 如何判定机关粒度仪的准确性和稳定性?

    我在欧美克还有马尔文的激光粒度仪器上对粉体的粒度进行测试,但是结果相差比较大,虽然有些粉体厂家已经告诉一些粉体的粒度,但是这个数值也不一定准确~另外我问过一些技术人员,听他们说从SEM图像上观察到的颗粒尺寸并不能作为激光粒度的参考,所以想问到底怎么来判定哪个的测试结果更准确些呢?另外不同的激光粒度测试仪所测出的粒度不同,那么对于这么大的不确定性,是不是说激光粒度仪测试的粒度只能进行对比测试,比如说测试不同条件下制备不同粉体颗粒尺寸的相对大小,而不能定量的确定每种条件下粒度的实际值?另外不知道激光粒度仪是否存在稳定性的问题呢?会不会用过一段时间精确度和准确性会受到?之前将这个帖子发到热分析的版面上,现在本版面上再贴出来,希望更多大侠帮忙~~

  • 新手求教 jade计算晶粒尺寸

    新手求教 jade计算晶粒尺寸

    请问一下各位大侠,在用jade计算晶粒尺寸和微应变时,拟合的结果中的误差值怎么算?下图中150(3)中的3代表什么?R=-0.53代表什么?黄老师的教程上说R为误差值,怎么理解?谢谢各位!http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205280827_368808_1672284_3.jpg

  • 关于拉伸试样尺寸

    如果是做10*12.5的试样,结果机加工后厚度10只有9.90,不知道对试验结果有没有太大影响?我看国标上对这个尺寸公差也没说的很清楚,敢问各位大侠,请赐教

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