粒度大小

仪器简介：作为最先将光导纤维引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司对光纤技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，从而推出FOQELS（Fiber Optic Quasi Elastic Light Scattering）。与经典的动态光散射粒度分析仪不同的是，FOQELS采用了独特的背向光散射测量技术，使用全光纤光路传输，有效地提高了光散射技术的浓度测量上限，最高可达40%wt。同时，提供了高温测量选件（宇航级隔热材料），极大地拓宽了仪器的应用范围，例如对于高温油的测量。技术参数：1.粒度范围：0.3nm～3&mu m （与折射率，浓度有关）2.典型精度：1％3.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4.样品体积：典型样品池1ml，50&mu L微量样品池（可选）5.悬浮液浓度：0.0001%&mdash 40%（与样品的粒度大小有关）6.温控范围与精度： 6° C ～ 80° C, ± 0.1° C7.检测器：PMT或APD8.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数9.散射角：145° 主要特点：1.高浓度粒度分析，最高可达40%wt；2.适合高温样品体系的测量。

仪器介绍：GranuleVision G2在线粒形粒度仪通过将探头插入待测体系内，利用粒形粒度显微技术，实时跟踪分析造粒（反应）体系中有关颗粒的形貌、尺寸和粒径变化的实况；实时了解颗粒产生的具体时间、生长速率、形貌变化等信息；消除由于取样所带来的不确定因素和变化，并将获得分析结果的时间迟滞最小化。从而帮助控制颗粒的形貌变化、粒径大小及粒径分布，得到实验设计时理想的产物，保证从实验室到中试再到工业化数据的一致性。 主要参数：在线粒形粒度探头；可检测粒径大小范围为75-2000um；(可选择定制)成像范围大小7X5 mm ；探头工作温度范围0-100℃；探头具有气体吹扫能力，防止物料粘黏探头。探头材质：316L不锈钢；（可选择定制）远心镜头； 高强度点光源； GARDASOFT LED 照明控制器； 尺寸标定系统； 实时颗粒粒径和分布处理图像软件（还具有离线分析和处理图像功能）； 在线图像采集、管理和分析软件；实时输出D10、D50、D90数据；数据集成共享接口。

ZML-310膏剂粒度粒形分析仪，透皮乳膏粒度晶型分析是采用显微镜图像法测试粒径大小、颗粒形状及颗粒颜色的颗粒分析系统。设备由显微镜、高分辨率数字摄像机、分析软件、计算机等部分组成。广泛适用于API原料药，药物晶型分析、生物医药、磨料、电池、非金属矿、粉末冶金、石油能源、涂料、颜料、陶瓷、食品等域的各种粉体颗粒的粒度大小、形状特征观察和测量。　　工作原理是通过用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用我们的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器和打印机输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单、测量参数全面等特点。　　ZML-310型外用制剂粒度仪的技术参数　　1、准确性：＜3%。　　2、摄像机：1800万像素 3、粒径范围：200nm-3000μm　　4、粒度统计：体积、面积、颗粒。　　5、配置奥林巴斯显微镜，成像更加清晰。　　6、可以得到常规的平均粒径，D10，D50，D90等参数。　　7、软件自动进行统计样品颗粒，并对颗粒进行做粒度分布。　　8、粒径参数：等效面积圖、等效周长圆、等效短径、等效长径等。　　9、形状参数：圖度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。

品牌：久滨型号：JB-N9名称：纳米粒度仪 一、产品概述： JB-N9是我公司推出的基于动态光散射原理的纳米粒度仪。它采用高速数字相关器和专业的高性能光电倍增管作为核心器件，具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，是纳米颗粒粒度测定产品。　　控制系统原理图如下：光子相关纳米粒度仪基本原理图二、原理： 本仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小。小颗粒布朗运动速度快，大颗粒布朗运动速度慢，激光照射这些颗粒，不同大小的颗粒将使散射光发生快慢不同的涨落起伏。光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。因此本仪器具有原理先进、精度极高的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；是纳米激颗粒粒度测定的仪器。　　此款纳米粒度仪已经达到国外纳米粒度仪的测试水平！三、主要技术参数：规格型号JB-N9执行标准GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008测试范围1-10000nm(与样品有关)浓度范围0.1mg/L-100mg/L准确度误差1%（国家标准样品平均粒径）重复性误差1%（国家标准样品平均粒径）激光λ=532nm，LD泵浦激光器（独有带温控保护）探测器HAMAMATSU光电倍增管（PMT），使用单模保偏光纤散射角90°数字相关器ASIC研制的高速光子相关器样品池10mm*10mm , 4ml（带温控保护）数据处理拟合累积分析法和改进正规化算法，可给出平均粒径及粒度分布曲线软件功能一键式测量，自动优化测量参数，轻松生成测试报表输出项目平均粒径、多分散系数、粒度分布曲线、粒度分布表等温度范围8-45℃（温度精确到0.1℃）测试速度1Min/次（不含样品分散时间）仪器体积390mm×255mm×240mm电源AC100～260V, 50/60Hz, *大功率80W使用环境温度：15～40℃，湿度20～70%。无冷凝

品牌：久滨型号：JB-N9名称：纳米粒度仪 一、产品概述：　　JB-N9是我公司推出的基于动态光散射原理的纳米粒度仪。它采用高速数字相关器和专业的高性能光电倍增管作为核心器件，具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，是纳米颗粒粒度测定的产品。控制系统原理图如下：光子相关纳米粒度仪基本原理图二、原理： 本仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小。小颗粒布朗运动速度快，大颗粒布朗运动速度慢，激光照射这些颗粒，不同大小的颗粒将使散射光发生快慢不同的涨落起伏。光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。因此本仪器具有原理先进、精度极高的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；是纳米激颗粒粒度测定仪器。　　此款纳米粒度仪已经达到国外纳米粒度仪的测试水平！三、主要技术参数：规格型号JB-N9执行标准GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008测试范围1-10000nm(与样品有关)浓度范围0.1mg/L-100mg/L准确度误差1%（国家标准样品平均粒径）重复性误差1%（国家标准样品平均粒径）激光λ=532nm，LD泵浦激光器（独有带温控保护）探测器HAMAMATSU光电倍增管（PMT），使用单模保偏光纤散射角90°数字相关器ASIC研制的高速光子相关器样品池10mm*10mm , 4ml（带温控保护）数据处理拟合累积分析法和改进正规化算法，可给出平均粒径及粒度分布曲线软件功能一键式测量，自动优化测量参数，轻松生成测试报表输出项目平均粒径、多分散系数、粒度分布曲线、粒度分布表等温度范围8-45℃（温度精确到0.1℃）测试速度1Min/次（不含样品分散时间）仪器体积390mm×255mm×240mm电源AC100～260V, 50/60Hz, *大功率80W使用环境温度：15～40℃，湿度20～70%。无冷凝

联系人：刘女士 QQ： 肖先生 QQ:.防爆探头式在线粒度仪，测试的是真实的粒径大小，不同于聚焦光束反射测量仪FBRM，非弦长计算！1、在线粒度仪、探头式在线粒径大小分布测量仪用于反应釜里面的样品在线实时测试检测分析！2、检测范围为5nm-3000um.测量蕞高固体浓度50%。3、它适用于在线无损测量，无需对样品进行取样或稀释处理。针对不同的应用，有多种独特设计的探头来满足客户的需求。 4、防爆探头式超声在线粒度分析仪Nano是新一代颗粒粒度分布测量设备，具有快速准确，使用范围广的特点。它可以对数几纳米到一千微米以下的悬浮液中的颗粒粒度进行测量。测量样品的浓度从0.01VOL%到50VOL%,而无需任何稀释和其他处理。5、防爆探头式超声颗粒粒度分布测量仪/在线颗粒粒度分析仪适用于化工，制药，合成和食品等许多行业。探头式在线粒度仪-技术指标：测量范围：5nm-3000um（5纳米-3000微米）测量方式：在线/离线测量悬浮液颗粒，不需要稀释测量浓度：≤50% vol/wol重复性误差：≤+1%（标准粒子D50偏差）准确性误差：≤+1%（标准粒子D50偏差） 粒度分析测试示意图探头式在线粒度仪，在线颗粒粒度分布测量仪，拥有专利技术，是国内的粒度分布的测量系统。其软硬件都经过专家独特设计，可以测量在不同悬浮液中颗粒的粒径分布及分散相的体积分数。它适用于在线无损测量，无需对样品进行取样或稀释处理。针对不同的应用，有多种独特设计的探头来满足客户的需求。其主要特点是快速准确、测量范围广。可应用于5纳米-3000微米的颗粒粒径大小的测量，分布统计。它对于颗粒无特殊要求，透明和不透明的都可以测量。它对溶液也没有特殊要求：水，油和其他有机溶剂都可以测量（对于腐蚀性溶剂，超声探头需特殊设计）。另外，探头式防爆在线粒度仪，还具有抗噪性好的特点，适用于生产车间等特殊环境。

仪器简介：采用自然沉降原理，测定1-160（或260、360）um之间的颗粒大小及分布。仪器由*电子天平和计算机数据处理系统组成，自动记录颗粒沉降的全过程，进行*计算，打印数据，图表。 仪器*适用于测定：粉末治金，荧光粉，水泥，涂料，*品，颜料，耐火材料，研磨料，陶瓷、合成树脂，煤炭等工业粉尘的粒度及分布情况。*参数：型 号： TZC-4 *大称量： 100g *小分度值： 1mg 粒度测定范围： 1～160（260，360）um 天平功能： 清零、自校、去皮、报警 数据处理： 沉降曲线采集、存储； 颗粒大小、中位径、平均粒径、比表面积测定； 平均误差计算； 颗粒分布分析； 计算结果、*图表打印主要特点：*的测试原理、清晰明了的测试过程、稳定*的测试数据、*方便的数据处理、简单易懂的操作、相对低廉的价格，尤其适合工矿企业实验室做质量检测以及大专院校的学生做相关的教学实验。

ZML-310型外用制剂粒度仪是采用显微镜图像法测试粒径大小、颗粒形状及颗粒颜色的颗粒分析系统。设备由显微镜、高分辨率数字摄像机、分析软件、计算机等部分组成。广泛适用于API原料药，药物晶型分析、生物医药、磨料、电池、非金属矿、粉末冶金、石油能源、涂料、颜料、陶瓷、食品等域的各种粉体颗粒的粒度大小、形状特征观察和测量。　　工作原理是通过用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用我们的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器和打印机输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单、测量参数全面等特点。　　ZML-310型外用制剂粒度仪的技术参数　　1、准确性：＜3%。　　2、摄像机：1800万像素 3、粒径范围：200nm-3000μm　　4、粒度统计：体积、面积、颗粒。　　5、配置奥林巴斯显微镜，成像更加清晰。　　6、可以得到常规的平均粒径，D10，D50，D90等参数。　　7、软件自动进行统计样品颗粒，并对颗粒进行做粒度分布。　　8、粒径参数：等效面积圖、等效周长圆、等效短径、等效长径等。　　9、形状参数：圖度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。

PSS A7000 APS-DLS 激光粒度仪 详细介绍 PSS A7000 APS-DLS 激光粒度仪 光阻法模块结合动态光散射模块自动稀释，实现动态大范围检测基本信息 AccuSizer Counter.jpg 仪器型号：PSS A7000 APS-DLS 工作原理：单颗粒光学传感（Single Particle Optical Sizing，SPOS） 动态光散射理论（Dynamic Light Scattering, DLS） 检测范围： 6nm-2500μm PSS A7000 APS-DLS自动激光粒度仪开创性的将光阻法和动态光散射法结合在一起，集自动进样、自动稀释、自动检测、数据处理以及自动清洗等自动检测功能，为用户提供可方便、快捷、高效、可靠的粒径分析，其测量范围可达6nm - 2500 μm。 A7000 APS-DLS搭载光阻法检测模块和动态光散射模块，将瑞利散射理论和光阻理论有机结合在一起，不仅能对较大的亚微米级别的粒子进行颗粒计数，更能检测纳米级别的样本的粒度分布。在传统的经典光散射（激光衍射，Laser Diffraction）之外，对于高分散体系多了一个选择。 优势 检测范围广6 nm - 2500μm；高分辨率，高灵敏性，统计精度高；双模块化设计，既能独立工作，又能有机组合；集自动进样、自动检测、数据处理以及自动清洗等自动化功能与一身； 高分辨率 分辨率，在这里指的是分辨同一体系内不同粒径大小的能力。得益于的设计理念和软硬件组合，SPOS除了能够呈现完不同于经典光散射的颗粒计数分布外，于经典的电阻法和光阻法，更高的分辨率。它不会错过任何颗粒细节，而这些细节往往是决定产品好坏的标准。如图1所示，同一个样本中混合0.7μm，0.8μm，1.3μm，2μm，5μm，10μm，15μm，20μm，50μm，100μm，200μm 11种标准PSL粒子，SPOS可以很容易将每种不同大小的标粒区分清楚。图2展示了同一个样本在SPOS和激光衍射法（Laser diffraction，LD）粒度仪中测得的结果。样本使用的是过400目筛(37μm）的样本。SPOS（绿色线）显示在35μm以上是没有粒子的，这和实际情况相符。但是使用LD检测得到的仅仅是“相似”的分布，但是在100μm本来没有颗粒的情况下却给出了还有大颗粒的假性结果。 高灵敏度 APS-DLS系统提供了的灵敏度，依托于SPOS，哪怕只有一颗颗粒，也不会放过，灵敏度可以达到10PPT等级。高灵敏度确保了样品检测的细节不被忽视，制造业升级过程中，除了粒径检测的需求外，还要对或大或小的游离颗粒的控制，无论是半导体行业尾端大颗粒对良率的影响，还是锂电行业正负极材料小颗粒对安性的危害。APS-DLS系统都可以准确识别。 图3 高灵敏度展示 图3展示了一个样本检测前，仅加入10μL的50μm标准乳胶粒子，混合好后进行检测，如图所示仪器依旧很准确的检测出来，并且告知加入的50μm标粒仅有33颗，粒径是50.127μm。 高效的粒度分析 APS-DLS系统的高灵敏度、高分辨率不仅带来了更为接近真实情况的粒径分布，同时检测快速，节省客户时间，仅需几分钟，既可检测结果。同时仪器支持自动进样、自动清洗、自动稀释等功能，将实验室工作效率，帮助他们为半导体，乳剂，粉体客户地重要结果。 APS-DLS系统同样支持在线系统，集成在产线中的关键监控点，实时检测粒度结果，发现异常，及时处理，降低工作成本，简化工作流程。 真实的粒径分布 不同行业对粒度检测的需求其实一直各有侧重点，为了更真实的粒径结果，往往需要通过电镜等仪器进行分析，但存在着统计数据不足以及规模化检测的弊端。为了满足即时的检测需求，经常以牺牲精确性和分辨率来换取检测速度和易用，但仅能平均粒径以及分布的检测已无法满足现在行业的发展。 APS-DLS系统对于细节的把控，可以确保检测结果接近真实的情况，帮助质量形成统一的标准方案，监控批间差异，稳定产品质量。图4和图5展示了一个均匀的样本和一个不均匀的样品在SPOS及电镜下的检测结果。均匀的样本在电镜下颗粒之间大小较为相似，相应的SPOS检测可见谱图较窄。而不均匀的样本，电镜下可以看到小小的颗粒，相应SPOS检测的结果出现高高低低的峰，与电镜结果可直接对应。 工作原理 目录结构： 1.单颗粒光学传感简介 2.传统光阻法和光散法测量粒度的原理 3.PSS的SPOS介绍 4.自动稀释原理介绍 1、单颗粒光学传感简介 单颗粒光学传感（Single Particle Optical Sizing, SPOS）是一种用于测量溶剂中悬浮粒子的大小和数量浓度的激光粒度检测通用。在SPOS中液体悬浮液中的粒子流经传感器的样品池时，在激光光源的照射下，被阻挡或者被散射的光会转变成脉冲电压信号，脉冲信号的大小是由粒子的截面面积和物理判定规则即光散射或者光阻共同决定的。光阻也被称为不透光度或者光消减。而粒子间的相互阻挡和散射是和粒子的大小和浓度是有关系的，利用脉冲幅度分析器和校准曲线便可以得到悬浮粒子的数量浓度和粒度大小分布。传统光阻法可以测得1.5μm以上的粒子和并较高的分辨率。 单颗粒传感（SPOS）填补了常见粒度仪检测在检测粒径分布中的重要不足—粒子数量的统计。自AccuSizer 780系列仪器诞生！ 2.传统光阻法与光散射法原理图1为光阻法检测原理图，待测液体流过横截面很小的流通池，流通池两侧装有光学玻璃，激光器的光束通过透镜组准直，光束穿过流通池并被光电探测器所接收。若待测液体中没有颗粒，则光电探测器接收到的光信号稳定不变，输出的电压信号也恒定，将此恒定信号作为基准电压；若液体中有颗粒物质，颗粒通过流通池传感区域，将会遮挡激光，光电探测器接收到的光信号减小，产生一个负的脉冲电信号，如下图2所示。脉冲信号幅度与基准电压信号有如下关系： 式（1）中：E为颗粒遮挡引起的脉冲幅度；a为颗粒的有效遮挡面积（等效为球形） A为光电探测器的有效面积；E0是没有颗粒时的光电探测器所产生的基准电压。因此，脉冲信号幅度对应颗粒的大小，脉冲信号个数对应颗粒的数量图3为光散射法检测原理图，待测液体流过流通池，流通池两侧装有光学玻璃，激光器的光束通过透镜组准直，光束穿过流通池，照射在光陷进上。若待测液体中没有颗粒，则光电探测器就收不到光信号，若液体中有颗粒，颗粒通过流通池，与激光光束发生散射现象。某一个（或几个）角度下的散射光通过透镜收集汇聚到光电探测器上，产生正的电信号脉冲，脉冲信号的幅度和散射光强成正比。根据信号的幅度和个数可以对液体中的微小颗粒进行计数检测。 当光束照射含有悬浮微粒的液体时光能减弱。根据文献, 此时悬浮液中微粒会对光产生散射和吸收等作用,因为这些作用导致的光强减弱与微粒的浓度存在线性关系。在文献中引用了如下公式,来描述当微粒浓度较小时,透射光强与入射光强之间的关系:它对应于因为散射和吸收而导致光的衰减总量。有米氏散射的理论，随着微粒的增大， 集中于前向0度角附近，图1中我们也可以注意到这一点。（4）式中没有考虑到这样的事实：在光阻法检测中，前向0角度附近的散射光仍然能够被探测器接收，因此必须考虑对散射系数进行修正。实际中（4）式变为：3.PSS的单颗粒光学传感简介 经过光感区域的粒子由于大小不同，光强随之产生相应的变化。将探测器收集的光信号转换成电压信号，不同的电压信号对应不同的粒径大小，从而得到微粒的粒径。美国PSS粒度仪公司（Particle Sizing Systems）的单颗粒光学传感（Single Particle Optical Sizing，SPOS）是在传统光阻法（LE）大颗粒光学传感的基础上加入了激光散射模块（LS）。在两个模块（LE+LS）同时运行的情况下，检测下限由原来纯光阻的1.5μm下探至0.5μm。使得其在大颗粒检测领域的应用。 SPOS对粒子的信号响应方式是信号与特定粒子应的。AccuSizer 780系列仪器中的传感器通过两种不同性质的物理作用：光消减（light extinction, LE）与光散射（light scattering, LS）对通过传感器的粒子进行测定。光消减检测通过流动池的光强变化，拥有检测粒子的粒径范围广且与粒子组份无关等优点。然而，它的灵敏度有限。另一方面，光散射窄的动态粒径范围 (取决于检测器/放大器的饱和值)，但能检测到小粒径的粒子，使用大功率激光光源还能检测到粒径更小的粒子。通过合并光消减和光散射响应信号，传感器可同时拥有这两种方法的优点，因而在不损失单粒子分辨率巨大优势的前提下拥有较广的动态粒径范围。4. 自动稀释原理介绍 单颗粒光学传感（Single Particle Optical Sizing, SPOS）虽然的量化粒度分布的优点，但是相应的粒子间的重合效应会造成检测结果不准。PSS粒度仪使用的自动稀释机制，可以将样品稀释到目标浓度，然后再采集数据，保证粒度可以以“single”状态通过传感器，从而实现高浓度样本的检测。 系统可以根据稀释倍数自动计算给出原样品颗粒浓度，解决了高浓度样品的检测难题，适合测试其他手段无法检测高浓度样本，适合测量样品量稀少且珍贵的样品。 分析方法及原理 动态光散射法+光阻法 激光光源 15mW固态光源（可选35mW、50mW） 检测器 搭配多检测器，PMT、APD、LE 检测形式 连续检测

Nicomp 380纳米粒度仪采用动态光散射原理检测分析颗粒系的粒度及粒度分布，粒径检测范围 0.5nm – 10μm。粒度分析复合采用 Gaussian 单峰算法和拥有技术的 NiComp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀液态分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有独特优势，其优异的解析度及重现性是其他同类产品无可比拟的。整机采用模块化设计,可灵活方便地扩展 Zeta 电位等其它功能。Nicomp380纳米粒度仪基本概述：Nicomp380 是纳米粒径分析仪器，采用现在先进的动态光散射原理，利用的Nicomp多峰算法可以很准确的分析比较复杂多组分混合样品。为实验室的研究提供最好的分析技术。测试范围：0.3nm–6μm。产品介绍：Nicomp380采用动态光散射原理检测分析颗粒系的粒度及粒度分布，粒径检测范围0.3nm-10μm。粒度分析复合采用Gaussian单峰算法和拥有技术的Nicomp多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀液态分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有独特优势，其优异的解析度及重现性是其他同类产品无可比拟的。纳米粒度仪工作原理：动态光散射法(DLS)，有时称为准弹性光散射法（QELS），是一种成熟的非侵入技术，可测量亚微细颗粒范围内的分子与颗粒的粒度及粒度分布，使用最新技术，粒度可小于1nm。动态光散射法的典型应用包括已分散或溶于液体的颗粒、乳剂或分子表征。悬浮在溶液中的颗粒的布朗运动，造成散射光光强的波动。分析光强的波动得到颗粒的布朗运动速度，再通过斯托克斯-爱因斯坦方程得到颗粒的粒度。纳米粒度仪仪器参数：粒径测量范围粒度分析：0.3nm-10μm分析方法粒度分析：动态光散射，Gaussian单峰算法和NiComp无约束自由拟合多峰算法pH值范围2-12温度范围0℃-90℃检测角度（可选）粒度分析：90°或多角度（10°-175°，可选配）高浓度样品背散射175°背散射可用溶剂水和绝大多数有机溶剂样品池4mL（标准，石英玻璃或有机玻璃）；500μL（高透光率微量样品池）分析软件Windows运行环境，符合21CFRPart11规范分析软件电压220–240VAC，50Hz或100–120VAC，60Hz外形尺寸56cm*41cm*24cm重量约26kg（与配置有关）纳米粒度仪配件：大功率激光二极管PSS使用一系列大功率激光二极管来满足更多更苛刻的要求。使用大功率激光照射，以便从小粒子出货的足够的入射光。15mW,35mW,50mW,100mW–波长为635nm的红色二极管。20mW50mW和100mW波长为514.4nm的绿色二极管。雪崩光电二极管检测器（APDDetector）提供比普通光电倍增管(PMT)高20倍的灵敏度。Zeta电位模块Zeta电位是确定交替系统稳定性的重要参数，决定粒子之间静电排斥力大小，从未影响粒子间的聚集作用及分散系的稳定。该模块使用电泳光散射（ELS）技术，通过测量带点粒子在外加电场中的移动速度，即电泳迁移率、推算出Zeta电位，实现了粒子的粒径与Zeta电位，实现了粒子的粒径与Zeta电位测定的同机操作。自动稀释系统模块将初始浓度较高的样本自动稀释至可检测的的浓度，可稀释初始固含量为50%的原始样品，本模块收保护，其可免除人工稀释样品带来的外界环境的干扰和数据上的误差，此技术被用于批量进样和在线检测的过程中。多角度检测系统模块提供多角度的检测能力。使用高精度的步进电机和针孔光纤技术可对散射光的接收角度进行调整，可为微粒粒径分布提供可高分辨率的多角度检测。对高浓度样品（≤40%）以及大粒子多分散系的粒径提供了提供15至175度之间不同角度上散射光的采集和检测。自动进样器批量自动进样器能实现最多76个连续样本的分析而无需操作人员的干预。因此它是一个非常好的质量控制工具，能增大样品的处理量。大大节省了宝贵的时间。自动滴定模块样品的浓度及PH值是Zeta电位的重要参数，搭配瑞士万通的滴定仪进行检测，真正实现了自动滴定，自动调节PH值，自动检测Zeta电位值。免除外界的干扰和数据上的误差，精确分析出样品Zeta电位的趋势。纳米粒度仪应用领域：适用于检测悬浮在水相和有机相的颗粒物。1）磨料磨料既有天然的也有合成的，用于研磨、切削、钻孔、成形以及抛光。磨料是在力的作用下实现对硬度较低材料的磨削。磨料的质量取决于磨料的粗糙度和颗粒的均匀性。2）化学机械抛光(CMP)化学机械抛光是半导体制造加工过程中的重要步骤。化学机械抛光液是由腐蚀性的化学组分和磨料(通常是氧化铝、二氧化硅或氧化铈)两部分组成。抛光过程很大程度上取决于晶片表面构型。晶片的加工误差通常以埃计，对晶片质量至关重要。抛光液粒度越均匀、不聚集成胶则越有利于化学机械抛光加工过程的顺利进行。3）陶瓷陶瓷在工业中的应用非常广泛，从砖瓦到生物医用材料及半导体领域。在生产加工过程中监测陶瓷颗粒的粒度及其粒度分布可以有效地控制最终产品的性能和质量。4）粘土粘土是一种含水细小颗粒矿物质天然材料。粉砂与粘土类似，但粉沙的颗粒比粘土大。粘土中易于混杂粉砂从而降低粘土的等级和使用性能。ISO14688定义粘土的颗粒小于63μm。5）涂料涂料种类繁多，用途广泛。涂料的颗粒大小及粒度分布直接影响涂料的质量和性能。6）污染监测粒度检测分析在产品的污染监测方面起着重要作用，产品的污染对产品的质量影响巨大。绝大多数行业都有相应的标准、规程或规范，必须严格遵守和执行，以保证产品满足质量要求。7）化妆品无论是普通化妆品还是保湿剂、止汗剂，它们的性能都直接与粒度的大小和分布有关。化妆品的颗粒大小会影响其在皮肤表面的涂抹性能、分布均匀性能以及反光性能。保湿乳液(一种乳剂)的粒度小于200纳米时才能被皮肤良好吸收，而止汗剂的粒度只有足够大时才能阻塞毛孔起到止汗的作用。8）乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系，通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型，一种是水分散在油中，另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶（水包油型）和黄油（油包水型），加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。9）食品食品的原料（粉末及液体）通常来源于不同的加工厂，不同来源的原料必须满足某些特定的标准以使最终制品的质量均一稳定。原料性质的任何波动都会对食品的口味和口感产生影响。用原料的粒度分布作为食品质量保证和质量控制（QA/QC）的一个指标可确保生产出质量均以稳定的食品制品。10）液体工作介质/油液体工作介质（如：油）越来越昂贵，延长液体介质的寿命是目前普遍关心的问题。机械设备运转过程中会产生金属屑或颗粒落入工作介质中（如：油浴润滑介质或液力传递介质），因此需要一种方法来确定介质（油）的更换周期。通过监测工作介质（油）中颗粒的分布和变化可以确定更换工作介质的周期以及延长其使用寿命。11）墨水随着打印机技术的不断发展，打印机用的墨水变得越来越重要。喷墨打印机墨水的粒度应当控制在一定的尺度以下，且分布均匀，大的颗粒易于堵塞打印头并影响打印质量。墨水是通过研磨方法制得的，可用粒度检测分析仪器设备监测其研磨加工过程，以保证墨水的颗粒粒度分布均匀，避免产生聚集的大颗粒。12）胶束胶束是表面活性剂在溶液中的浓度超过某一临界值后，其分子或离子自动缔合而成的胶体尺度大小的聚集体质点微粒，这种胶体质点与离子之间处于平衡状态。乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO_2纳米管(TNAs)等

建材、化工、冶金、能源、食品、电子、地质、军工、航空航天、机械、高校、实验室，研究机构等激光粒度仪是通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小的仪器，采用Furanhofer衍射及Mie散射理论，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，即可获得准确的测试结果。★ 精度高：采用平行光路设计，精度有保证。★ 分辨率高：不同焦距的镜头检测相应大小的颗粒，保证最好的分辨率。★ 扫描速率高：2000 次/秒的全世界最快的扫描速率，保证不丢失任何一个颗粒的信息。★ 数据传输有保证：专用的光纤数据传输系统，既防止电磁对探测器的干扰，又保证数据的完 整传输。★ 样品分散有保证：RODOS 分散系统是世界上唯一获得专利的干法分散系统，可将小至 0.1微米的团聚粉体进行彻底的分散。★ 分散管的设计是直线型，无任何的弯角，完全实现了瞬时分散、瞬时测量的原则。★ 分散管采样特殊的耐磨材料制成，保证分散管的寿命至少 100,000 次@每次测试 2.5g Potland水泥。★ 根据被测物料的特性，分散压力连续可调。★ 独特设计的自清洁功能，测试完毕后系统自动清洁可进行下一个样品测试，避免了不同样品 之间的交叉污染，无需在每个样品测试完后需将分散系统完全打开进行清洁。★ 全世界已有几千套不同型号的 HELOS/RODOS 干法激光粒度仪应用在不同的行业，事实证明的干法激光粒度仪的确是性能非常优异的粒度仪。★ 样品量：毫克－千克，即使是样品中的极少数大颗粒也可以检测出来。★ 无参数数据处理模式：结果唯一，可靠。★ 操作人员影响最小，同一台仪器安装在不同的地方，或者由不同的人员来操作，对同一个 样品的测试结果的一致性非常好！完全避免了操作人员带来的误差！★ 测试速度快，无需特殊的样品制备，特别适合厂矿企业、研究所、分析测试中心和高等院校 等多种不同样品的测试。

梓梦科技动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

流式动态图像法粒度仪是采用动态流式成像原理，对流经微流通道的样品颗粒进行拍照，分析图片中的颗粒大小、形貌。给出每个颗粒的形貌特征，是目前国内外先进的图像处理系统。使得对复杂液体制剂、混悬液、微球等颗粒分析可视化，所见即所得。产品功能：粒度分析、颗粒计数、形貌分析、最大颗粒分析、颗粒浓度分析项目： 液体制剂的不溶性微粒测试控制（CP0903、USP788、USP789）、复杂注射剂可见异物的检测研究控制（CP0904）。检测范围：200nm-3000μm技术特点：测试速度快，无需处理样品，直接测试。不仅可以给出粒度分布，还可以给出粒形分析，并对所有颗粒进行归类。

微流图像法粒度仪是采用动态流式成像原理，对流经微流通道的样品颗粒进行拍照，分析图片中的颗粒大小、形貌。给出每个颗粒的形貌特征，是目前国内外先进的图像处理系统。使得对复杂液体制剂、混悬液、微球等颗粒分析可视化，所见即所得。产品功能：粒度分析、颗粒计数、形貌分析、最大颗粒分析、颗粒浓度分析项目： 液体制剂的不溶性微粒测试控制（CP0903、USP788、USP789）、复杂注射剂可见异物的检测研究控制（CP0904）。检测范围：200nm-3000μm技术特点：测试速度快，无需处理样品，直接测试。不仅可以给出粒度分布，还可以给出粒形分析，并对所有颗粒进行归类。

NanoFlowSizer（NFS）在线纳米粒度分析仪是目前市场上唯一可用于在线对胶体系统、纳米悬浮液、纳米乳液和其他分散纳米颗粒进行连续、实时的纳米粒度表征的检测系统。该系统采用创新的空间分辨动态光散射（SR-DLS）计数和智能XsperGo分析软件对高浊度纳米颗粒进行快速检测，支持线上动态检测和线下静态检测两种检测模式，兼顾了研发实验室静态纳米粒度检测和生产上在线连续实时检测的需求。产品特点：在线检测：市面唯一支持在线实时检测的粒度分析仪高浓度检测：样品无需预处理、支持高浓度样品检测检测速度快：10秒钟完成一次检测实时反馈：实时反馈粒径大小与分布多种检测方式：在线动态检测、离线静态检测多种检测模式应用：mRNA疫苗纳米药物食品化妆品催化剂

简单介绍： ZetaPlus是简单、方便而且准确的电泳迁移率测量仪器，其独特的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有极高的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。它的革新之处是从根本上消除了传统Zeta电位测量仪器中固有的电渗误差的影响，从而使测量变得准确而方便。详细说明：NanoBrook产品系列项目90Plus90Plus ZetaZetaPlus功能粒度测量功能●●○分子量测量功能●●○Zeta电位测量功能○●●技术参数粒度测量范围0.3nm-6μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○散射角15°与90°○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位测量范围○－500mV～500mV电导率范围○0-20S/m电泳迁移率范围○10-10～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW固体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度●代表“有” ○代表“无”工作原理ZetaPlus采用的是电泳光散射原理：带电颗粒在外加电场作用下进行运动，电荷运动使散射光产生频率漂移（多普勒频移）,采用频谱漂移分析技术,从而可计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。典型应用1.脂质体、生物胶体、医药2.陶瓷、胶乳、乳剂（食品、化妆品）3.颜料、油墨、炭黑技术参数1.Zeta电位部分：1）Zeta电位测量适用粒度范围：0.001-100μm2）样品体积：0.18～1.5ml3）pH值测量范围：1-144）电导率范围：0-20 S/m5）电泳迁移率范围：10-10～10-7m2 /V.s6）温度控制：-5～110℃, ±0.1℃7）电场强度：0～3.2 kV/m8）电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯2.粒度及分子量测量部分：1）粒度范围：0.3nm～6μm（与折射率，浓度，散射角有关）2）典型精度：1％3）样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4）样品体积：1～3ml5）分子量测定范围：1×103～2×1076）激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）7）检测器：PMT或APD8）相关器：1011线性通道；动态可变采样时间、延迟时间、通道分配等技术；4通道输入；支持两路互相关。

产品介绍:显微镜已经成为实验室里必备的颗粒表征的手段,显微镜配置方便,有生物显微镜,偏光显微镜,透反射偏光显微镜,热台显微镜等,测试简单,易于被实验人员接受.上海梓梦研发的显微粒度分析仪是可以用来做粒度分析,软件将显微镜摄像机拍摄的照片进行处理,然后对图片中的颗粒进行抓取并做粒度分析,自动得到颗粒的粒度分布曲线.操作使用便捷.zmx300粒度分析系统功能:1)zmx300粒度分析系统用来测试固体粉末,液体制剂,半固体制剂等粒度分布和粒形分析 2)zmx300粒度分析系统可以按照颗粒不同大小,形貌,颜色等做区分,为原研药的反向解析提供一臂之力.zmx300粒度分析系统测试范围:zmx300粒度分析系统测试范围为200nm-3000μmzmx300粒度分析系统技术参数:1)和任意品牌显微镜匹配使用2)自动给出D10，D50，D90，D97等参数，告别普通摄像机软件一个一个颗粒处理的痛苦3)摄像机：1800万像素SONY芯片高速相机4)可以按照不同粒形和颜色做颗粒区分技术参数:1)和任意品牌显微镜匹配使用2)自动给出D10，D50，D90，D97等参数，告别普通摄像机软件一个一个颗粒处理的痛苦3)摄像机：1800万像素SONY芯片高速相机4)可以按照不同粒形和颜色做颗粒区分

本仪器采用英国普洛帝技术&mdash &ldquo 光阻测量颗粒&rdquo ，并采用油液行业经典方法NAS1638和ISO4406，并可根据用户的要求，内置用户所需多种标准。引用柱塞泵和流量电磁控制系统，实现进样速度恒定和进样体积精确的双控制，取样量1ml~无限大随意设定，准确无误。传感器采用普洛帝经典&ldquo 光阻测量颗粒&rdquo 专用传感器，更加适合于NAS1638和ISO4406。内置阈值、粒径曲线和脉冲阻值,可设定通道粒径值。集成式自动取样仓，内设压力测量系统，可实现正/负压，使仪器可实现样品脱气和高粘度样品的检测。采用大屏幕液晶显示,触摸屏菜单操作，键盘、触摸双输入，外形美观功能及全。数据处理功能丰富 可根据标准给出油液等级,绘制分布直方图等。内置操作系统和微型打印机,无需外接电脑和打印机可直接测试和打印。具有标准串行RS232口，可外接计算机存储检测结果,方便数据分类、检索。可按GB/T18854-2002（ISO11171－1999、JJG066－95）等标准进行标定、校准。根据客户要求可有偿提供颗粒度计量测试站&ldquo 中国航空工业颗粒度计量测试站&rdquo 国防科技工业颗粒度一级计量站效验报告。提供行业的&ldquo OIL17服务星&rdquo 签约式服务，365天无忧使用。 普洛帝为贵司提供：油液颗粒度检测仪、油液颗粒计数器、油液颗粒技术系统、油液粒子计数器、油液颗粒度分析仪，颗粒度检测仪、颗粒计数器、油液激光颗粒计数器、颗粒计数系统、自动颗粒计数器、激光油液颗粒计数系统、实验室激光油液颗粒计数系统、实验室颗粒计数器、实验室油液颗粒度分析仪、实验室油液颗粒计数器、实验室激光油液检测仪技术参数： 请各广大用户注意以下参数仅为部分，并非代表您的选型参数，具体详情请与技术服务工程师联系！激光传感检测器：第六代激光窄光检测器（精确、稳定、迅速）测试软件：P6.4分析测试软件 集成版&PC版控制方式：集成式工控机控制或工业PC 控制检测方式：满足ISO4406、NAS1638、GJB380、GJB420等标准操作方式：液晶触摸屏操作特殊检测：自定义检测2~100&mu m微粒，可进行两种方案备案测量范围：1&mu m～450&mu m；灵敏度：1&mu m（ISO 4402）或 4&mu m（C）（ISO 11171、GB/T18854）；测量通道：8通道（可任意设定的）；重合精度：10000粒/mL（5%重合误差）；评价等级：可根据NAS1638或ISO 4406直接评定油液污染等级；数据输出：可显示颗粒物大小、数量、曲线和分布等，内置打印机，可打印输出；标准接口：RS232接口可接计算机；仪器校准：可根据GB/T18854-2002标准进行标定；进样体积精度：优于± 1％；进样速度：5mL/min～60mL/min；测试时间：12.5s，可任意设定；压力范围：-0.6～0.7Pa；带正负压预处理系统测量粘度：&le 350M2/S；样品处理：待检验样品不需要进行预处理；取样大小：取样量&le 100ml仪器清洗：检测完毕后仪器可自行清洗；进样温度：室温~65℃环境温度：0~50℃电 源：220V，50HZ；± 1%，＜80W鉴定机构：国防科工委颗粒度一级计量站116站售后服务：普洛帝服务中心/中特计量检测研究院具体详细操作请电询普洛帝服务中心！普洛帝、Puluody、普勒、Pull、PLDMC为Puluody公司注册的商标！有关技术阐述、参数、服务为普洛帝测控拥有，普洛帝保留对经销商、用户的知情权！ 普洛帝为贵司提供：油液颗粒度检测仪、油液颗粒计数器、油液颗粒技术系统、油液粒子计数器、油液颗粒度分析仪，颗粒度检测仪、颗粒计数器、油液激光颗粒计数器、颗粒计数系统、自动颗粒计数器、激光油液颗粒计数系统、实验室激光油液颗粒计数系统、实验室颗粒计数器、实验室油液颗粒度分析仪、实验室油液颗粒计数器、实验室激光油液检测仪主要特点：油液颗粒度分析仪采用光阻法（遮光式）原理研制，用于检测固体颗粒的大小和数量，应用于航空航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车制造等领域，对液压油、润滑油、变压器油（绝缘油）、汽轮机油（透平油）、齿轮油、发动机油、航空煤油、水基液压油等油液进行固体颗粒污染度检测，及对有机液体、聚合物溶液进行不溶性微粒的检测。仪器内置油液GB／T14039-2002（ISO4406：1999）液压传动油液固体颗粒污染等级代号标准和NAS1638油液洁净度等级标准，并可根据用户的要求，内置用户所需的标准。性能特点：采用光阻法（遮光式）原理，适用于对油液、有机液体、聚合物溶液等进行固体颗粒污染检测。　内置油液GB／T14039-2002（ISO4406：1999）液压传动油液固体颗粒污染等级代号标准和NAS1638油液洁净度等级标准。可根据用户的要求，内置用户所需标准。　柱塞泵实现进样速度恒定和进样体积的控制。　内置阈值-粒径曲线，可设定通道粒径值。　采用大屏幕液晶显示，触摸屏菜单操作。　数据处理功能丰富；可根据标准给出油液等级，绘制分布直方图等。　内置微型打印机，可直接打印检测结果。　具有标准串行RS232口，可外接计算机存储检测结果，方便数据分类、检索。　可按GB／T18854-2002（ISO11171－1999、JJG066－95）等标准进行标定、校准。 普洛帝为贵司提供：油液颗粒度检测仪、油液颗粒计数器、油液颗粒技术系统、油液粒子计数器、油液颗粒度分析仪，颗粒度检测仪、颗粒计数器、油液激光颗粒计数器、颗粒计数系统、自动颗粒计数器、激光油液颗粒计数系统、实验室激光油液颗粒计数系统、实验室颗粒计数器、实验室油液颗粒度分析仪、实验室油液颗粒计数器、实验室激光油液检测仪

仪器简介：EyeTech概念双测量通道的最佳选择 采用独特的激光光阻法进行快速准确的粒径检测 采用复杂的动态图像分析法精确的分析非球形颗粒 测量结果直接且仅取决于颗粒大小 测量结果不受颗粒或介质的物理和光学性质影响技术参数：激光和图像通道的结合独独特的结合了激光光阻法和复杂的动态粒形分析技术 对球形、非球形及延长颗粒的精确分析定性 可同时测量粒径、形状和浓度 多种模块配置可满足不同类型的干法及湿法检测需求 测量过程中可实时观察样品颗粒 主要特点：EyeTech系列特点：粒度范围：0.1-3600微米 能分析粒度，粒形 与 浓度 测量结果直接与颗粒大小相关，而不是二级推算出来 能分析非球状颗粒的形状 无需了解样品的折射指数 能分析透明的样品 免校正

进口2000型纳米粒度仪 ●一般描述：1)采用专利的毛细管液压动力分段技术；2)目前许多粒度仪都采用对真实的颗粒分布进行估计的测量技术。但实际上，提供实际粒度大小的分布本身要远比得到平均粒度大小分布要重要。最理想的粒度测量方法应该是速度快，易于操作，而且不仅可测量平均粒度大小分布，还可提供详细的粒度分布；3)目前只有2000型可提供强大的粒度测量功能，它基于分段测量原理，可测量最复杂的、多模式的粒度分布，只须10分钟，不受样品密度的影响，硬件简单、操作简单；4)该仪器具有极高的分辨率，是因为我们采用专利的毛细管液压动力分段(CHDF)技术，颗粒在检测之前会按粒度大小不同进行物理的分段分离。该仪器采用认可的CHDF技术，强大的操作软件功能，高级的硬件平台，与最新的HPLC系统非常相似，仪器运行快速、高效、可信赖；5)可选配1个自动进样器进行自动分析，如样品超过100个以上就很方便； ●技术特点：1)粒度测量范围：10nm ~3um；2)可测量复杂、多模式的样品颗粒分布；3)可在10分钟内提供完整、详细的粒度分布，无论样品颗粒分布复杂程度与密度；4)如仪器须24小时连续工作，则可考虑购买自动进样器；5)测量高分辨率，颗粒粒度有10%的差异，就可被检测出和定量分析；6)可提供真实的粒度分布测量，无须因样品的形状和粒度分布作一些假设；7)测试结果不受样品密度影响；8)操作简便；9)一次分析不到10min，不须考虑样品的自然状态；10)可一次性更换的分段毛细管；11)可温度控制；12)可进行PH、电导、温度监控；13)可自动样品分析；14)基于微软的操作软件优化，可用于QC控制应用； ●全球参考用户举例：3M，Akzo Nobel Coatings Inc，BASF，Applied Materials，Bayer Corp.，Dow Chemical， Procter & Gamble，Hewlett Packard，IBM，ICI Dulux，Intel Corp，Shell Research S.A.，LG Chemical，Sumitomo Chemical Co.，Lucent Tachnologies，Toyo Ink Mfg. Co., Ltd，University of Delaware，University of Florida，University of Sydney，Yonsei University，etc.

BOS-DT180动态颗粒图像粒度仪BOS-DT180动态颗粒图像粒度仪一、产品简介 BOS-DT180是国内zui新一代动态颗粒图像分析设备，它采用zui新的图像采集系统与分析软件，将计算机图像学与颗粒粒度及粒形分析理论完美结合，在获得清晰的颗粒图像的同时，将颗粒的粒度、球型度、长径比、庞大率、表面率等相关颗粒大小和形状的表征参数以特征值和分布的形式呈现出来，使用户可以详细的了解颗粒。此外，该款仪器还赋予了自动化、智能化等时代性的标志、使其操作更简便、分析更智能、结果更稳定，是颗粒粒度测试及粒形分析的shou选搭档和得力助手。二、性能特点直观反映颗粒形貌 将颗粒的表面形貌直接反映到计算机屏幕，用户可以直观且全面了解颗粒的表面及形状属性；完美拼接多幅图像 将选取不同视场拍摄的多幅颗粒图像拼接成一幅，使参与分析的颗粒数量更多，测试结果更具代表性；自动分割粘连颗粒 采用更先进的颗粒识别算法，对各种形状的粘连颗粒都能自动分割，显著提高粘连颗粒分割准确率，减少人为参与，有效缩短图像处理时间；自适应二值化功能 采用一种自适应二值化功能，使其进行图像二值化处理时不受拍摄光线的影响，避免了因光线不均匀等因素而导致颗粒信息丢失的情况，为后续处理的精准度奠定基础；自动处理颗粒图像 颗粒图像分析软件含有自动处理工具集，集成了二值化、消除边界不完整颗粒、消除杂点、填充空洞、平滑边缘、分割粘连颗粒、计算颗粒参数等功能的自动操作，一键即可完成颗粒图像处理到分析结果的生成等全部过程，操作简便且结果可靠；自由切换粒径单位 标尺选取支持多种长度单位、可在纳米、微米和毫米之间自由切换，便于用户对通过电镜等其他方式获取的颗粒图片实现进一步处理；快速处理特殊形状颗粒 对于球形颗粒，采用独特的处理算法，对原始图片无需进行任何处理而直接分析颗粒粒径信息，即使颗粒颗粒之间相互粘连或重叠也不会影响分析结果，提高球形颗粒的分析效率。三、适用范围: BOS-DT180动态颗粒图像粒度仪适用于水泥、陶瓷、药品、涂料、树脂、染料、颜料、填料、化工产品、催化剂、煤粉、泥砂、粉尘、面粉、食品、添加剂、农药、炸药、石墨、感光材料、燃料、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土及其他粉体行业。四、技术参数规格型号BOS-DT180执行标准ISO13322-1: 2004 GB/T21649.1-2008成像系统测试范围4-400μm光学放大倍数150-1000倍可调，zui大可达1000倍zui大分辨率0.5μm摄像系统重复性误差＜1%准确性误差＜1%光源采用蓝色高亮LED点光源颗粒识别速度＞10000个每分钟摄像机采用高速摄像机，成像速度不低于120帧每秒进样方式采用鞘流进样方式软件功能粒度分析包括粒度分布、典型值、zui大粒径、特定区间含量、大于或小于某粒径的含量粒形分析长径比及分布、圆形度及分布、颗粒图像颗粒计数计量一定体积液体中的颗粒个数圆形度分析能快速分析颗粒的圆形度比例尺标定通过国家标准测微尺标定后，可通过颗粒度标准物质验证系统的准确性。 单个颗粒数据可在图片上直接对单个颗粒进行截面积、体积、长径比等10多项参数的分析。任务管理机制严格的任务管理机制，使用户能够将所有测试数据井井有条的管理起来。报告输出分析报告可以多种形式呈现，同时可转换成PDF、BMP、Word、Excel等格式整体分布特征参数D10、D50（中位径）、D90、D100等颗粒分布的特征参数报告参数整体频率分布累计分布颗粒按数量、体积、面积等分布的频率分布与累计分布的数据表、曲线图、柱状图等。统计平均径Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的统计平均径形状参数长径比、庞大率、球型度、表面率、比表面积、外接矩形参数等表征颗粒形状的10多项常用数据表头输入可以将样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头中

概述 PALS技术（PALS：Phase Analysis Light Scattering）是由布鲁克海文仪器公司开发的一项全新的Zeta电位测量技术，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍。许多从事新材料、生命科学、环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品进行分析，这就是因为其电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的灵敏度进行测量，ZetaPALS的出现为他们提供了准确可信的测量技术。 项目90Plus90Plus PALSZetaPALS功能粒度测量功能●●○分子量测量功能●●○Zeta电位测量功能○●●技术参数粒度范围0.3nm-6μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○散射角15°与90°○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位范围○－500mV～500mV电导率范围○0-30S/m电泳迁移率范围○10-11～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW固体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm(D)，15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度典型应用1.脂质体、生物胶体2.陶瓷3.颜料、油墨4.医药5.乳剂（食品、化妆品）6.废水处理7.胶乳8.炭黑 不同粒径对Zeta电位等电点的影响 不同官能团配比对等电点的影响 Zeta电位值与细胞吸收度的关系 通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例，混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4～7之间明显的变化，不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响。（数据摘自JACS）技术参数1.Zeta电位部分：1）Zeta电位测量适用粒度范围：0.001-100μm2）样品体积：0.18～1.5mL3）pH值测量范围：1-144）电导率范围：0-30S/m5）电泳迁移率范围：10-11～10-7m2/V.s6）温度控制：-5 ~110℃, ±0.1℃7）电场强度：0 ～ 60kV/m8）电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯2.粒度及分子量测量部分：1）粒度范围：0.3nm～6μm（与折射率，浓度，散射角有关）2）典型精度：1％3）样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4）样品体积：1～3ml5）分子量测定范围：342～2×107Dalton6）激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）7）检测器：PMT或APD8）相关器：1011线性通道；动态可变采样时间、延迟时间、通道分配等技术；4通道输入；支持两路互相关。

透皮药膏颗粒度检查专用仪ZML310，膏体颗粒度分析仪是采用显微镜图像法测试粒径大小、颗粒形状及颗粒颜色的颗粒分析系统。设备由显微镜、高分辨率数字摄像机、分析软件、计算机等部分组成。广泛适用于API原料药，药物晶型分析、生物医药、磨料、电池、非金属矿、粉末冶金、石油能源、涂料、颜料、陶瓷、食品等域的各种粉体颗粒的粒度大小、形状特征观察和测量。　　工作原理是通过用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用我们的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器和打印机输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单、测量参数全面等特点。　　ZML-310型外用制剂粒度仪的技术参数　　1、准确性：＜3%。　　2、摄像机：1800万像素 3、粒径范围：200nm-3000μm　　4、粒度统计：体积、面积、颗粒。　　5、配置奥林巴斯显微镜，成像更加清晰。　　6、可以得到常规的平均粒径，D10，D50，D90等参数。　　7、软件自动进行统计样品颗粒，并对颗粒进行做粒度分布。　　8、粒径参数：等效面积圖、等效周长圆、等效短径、等效长径等。　　9、形状参数：圖度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。

结构原理ZML-310型透皮乳膏粒度晶型分析仪是采用显微镜图像法测试粒径大小、颗粒形状及颗粒颜色的颗粒分析系统。设备由显微镜、高分辨率数字摄像机、分析软件、计算机等部分组成。其工作原理是通过专用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器和打印机输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单、测量参数全面等特点。能够同时测量颗粒粒度、形状及表面颜色的显微粒度分析仪器。透皮乳膏粒度晶型分析仪的适用领域透皮乳膏粒度晶型分析仪该仪器广泛适用于API原料药、半固体软膏、液体制剂、药物晶型分析、生物医药、食品等领域的各种颗粒的粒度大小、形状特征观察和测量。技术参数1.粒径范围：200nm-3000μm2.准确性：＜3%。3.粒径参数：等效面积圖、等效周长圆、等效短径、等效长径等。4.粒度统计：体积、面积、颗粒。5.形状参数：圖度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。6.摄像机：1800万像素。7.软件自动进行统计样品颗粒，并对颗粒进行做粒度分布。8.可以得到常规的平均粒径，D10，D50，D90等参数。9.配置奥林巴斯显微镜，成像更加清晰。

多功能超声粒度仪公司介绍美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um多功能超声粒度仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；多功能超声粒度仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

产品介绍 JL-3000A型喷雾激光粒度仪（连体式），是专为小体积雾滴粒径测量而设计的一款高性能粒度仪。全量程米氏散射理论，采用精新公司（无约束）自由分布模式计算粒度分布，确保每一级的粒度都达到最高分辨率。充分检测出每一粒级细节的细微，机箱外壳全密封设计，防尘防水，使仪器具有良好的电磁屏蔽抗干扰性能。 测试动态范围宽，操作简便。主机与辅机间距400mm，非常适合医药喷雾、小型喷嘴、加湿器等雾滴粒径的测试，整个测试过程在电脑控制下自动开启/关闭，对所测水雾、油雾、烟雾等快速分析其粒径分布数据，独特的精密机械结构，使得测试速度快，重复性好、稳定性好。通过对雾滴测量的粒度分布数据，可优化喷嘴设计，优化喷雾条件，评价喷雾效果，达到研发和控制产品质量的目的。应用领域 广泛适用于小型喷嘴、医药喷雾、加湿器、雾化器、水雾、烟雾、粉雾、气雾剂生产、科研院校研究等。参数指标项目指标项目指标测量原理全量程米氏散射理论测量范围0.1μm～3000μm测试时间1秒/次,可以单次或多次自动测试进样方式开放式进样重复性误差≤3％（标准物质D50偏差）光路系统平行光路光束，富氏透镜准确性误差≤3％（标准物质D50偏差）主、辅机间距400mm信号光源进口半导体激光器，波长650nm探测器128级仪器体积长1130*高340*宽200（mm）仪器重量约：50kg工作电源AC220V ±22V；50Hz ±0.5Hz；环境要求温度：5℃～35℃；湿度：85%；仪器优点1.根据所测物件（使用方提供）安装于主机与辅机之间，主机与辅机间距400mm固定不需调整光源，非常适合小范围喷雾粒径测量。只需安装好喷头，点击软件菜单，控制器自动开启和断开所测液体或气体，自动完成测试。2.仪器采用傅里叶光学系统，大直径平行光源测试截面大，数据代表性强。大口径镜头，采集信号角度宽，可以充分收集到喷雾的散射信号 。3.128级多元探测器。粒径分档多，级差小，散射信号检测精细分辨率高。探测器背景光每一级独立补偿，能达到最高的增益，高速采集信号放大，动态响应灵敏快速。探测器后方具有完整的光斑图像探测系统。4.进口半导体激光器，光源波长650nm，30mw，寿命＞70000h。5.高钢性的光学结构，光路稳定可靠，在使用过程中不需做任何调整。6.由于喷雾粒度大小和喷雾直径差别非常大，激光的功率可以在全范围内调整，以保证仪器的最高分辨率和准确性。7.采用RS232和USB数据传输方式，传输距离可达100米。8.测试数据有：累积分布、频度分布、累积10%、50%、90%、97%、平均粒径和比表面积等数据，全面表征样品的粒度特征。测试一次的时间数秒钟，可单次、多次连续测试。9.软件操作界面可选择中文或者英文，输出结果可以直接打印，或转换为PDF和格式保存。10.为适应不同用户的需要，配有程序触发，TTL电平和开关触发高速测试，每秒50次完整测试，作为动态喷雾等研究提供更好的分析数据。11.分析软件兼容Windows XP/Win7/Win10系统。

产品介绍 JL-3000A型喷雾激光粒度仪（连体式），是专为小体积雾滴粒径测量而设计的一款高性能粒度仪。全量程米氏散射理论，采用精新公司（无约束）自由分布模式计算粒度分布，确保每一级的粒度都达到最高分辨率。充分检测出每一粒级细节的细微，机箱外壳全密封设计，防尘防水，使仪器具有良好的电磁屏蔽抗干扰性能。 测试动态范围宽，操作简便。主机与辅机间距400mm，非常适合医药喷雾、小型喷嘴、加湿器等雾滴粒径的测试，整个测试过程在电脑控制下自动开启/关闭，对所测水雾、油雾、烟雾等快速分析其粒径分布数据，独特的精密机械结构，使得测试速度快，重复性好、稳定性好。通过对雾滴测量的粒度分布数据，可优化喷嘴设计，优化喷雾条件，评价喷雾效果，达到研发和控制产品质量的目的。应用领域 广泛适用于小型喷嘴、医药喷雾、加湿器、雾化器、水雾、烟雾、粉雾、气雾剂生产、科研院校研究等。参数指标项目指标项目指标测量原理全量程米氏散射理论测量范围0.1μm～3000μm测试时间1秒/次,可以单次或多次自动测试进样方式开放式进样重复性误差≤3％（标准物质D50偏差）光路系统平行光路光束，富氏透镜准确性误差≤3％（标准物质D50偏差）主、辅机间距400mm信号光源进口半导体激光器，波长650nm探测器128级仪器体积长1130*高340*宽200（mm）仪器重量约：50kg工作电源AC220V ±22V；50Hz ±0.5Hz；环境要求温度：5℃～35℃；湿度：85%；仪器优点1.根据所测物件（使用方提供）安装于主机与辅机之间，主机与辅机间距400mm固定不需调整光源，非常适合小范围喷雾粒径测量。只需安装好喷头，点击软件菜单，控制器自动开启和断开所测液体或气体，自动完成测试。2.仪器采用傅里叶光学系统，大直径平行光源测试截面大，数据代表性强。大口径镜头，采集信号角度宽，可以充分收集到喷雾的散射信号 。3.128级多元探测器。粒径分档多，级差小，散射信号检测精细分辨率高。探测器背景光每一级独立补偿，能达到最高的增益，高速采集信号放大，动态响应灵敏快速。探测器后方具有完整的光斑图像探测系统。4.进口半导体激光器，光源波长650nm，30mw，寿命＞70000h。5.高钢性的光学结构，光路稳定可靠，在使用过程中不需做任何调整。6.由于喷雾粒度大小和喷雾直径差别非常大，激光的功率可以在全范围内调整，以保证仪器的最高分辨率和准确性。7.采用RS232和USB数据传输方式，传输距离可达100米。8.测试数据有：累积分布、频度分布、累积10%、50%、90%、97%、平均粒径和比表面积等数据，全面表征样品的粒度特征。测试一次的时间数秒钟，可单次、多次连续测试。9.软件操作界面可选择中文或者英文，输出结果可以直接打印，或转换为PDF和格式保存。10.为适应不同用户的需要，配有程序触发，TTL电平和开关触发高速测试，每秒50次完整测试，作为动态喷雾等研究提供更好的分析数据。11.分析软件兼容Windows XP/Win7/Win10系统。

2021年产品推荐（解决方案）美国MAS超声粒度仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MNS公司纳米粒度及Zeta电位分析仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS超声粒度仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

仪器简介：荷兰安米德(Ankersmid)已经在中国发布了其独特的粒度分析仪。针对现在的测量技术如激光衍射法和电子光学计数原理的局限性，Ankersmid的这款分析仪可以应用于更多的领域。采取的测量方法是TOT（时间转换）激光技术结。Ankersmid分析仪在测量高低浓度溶液、纤维、透明颗粒及各种颗粒的混合体时具有明显优势。利用复杂的动态粒形分析技术，我们可以清楚地给出颗粒详习粒度参数。技术参数：1.测量参数：粒度、粒形，浓度 2.测量范围：0.1-3600&mu 3.颗粒状态描述：液态、气态、气溶胶、在平面上或者在线主要特点：1.测量结果直接与颗粒大小相关，而不是二级特点推算出来 2.无需了解样品的折射指数以及其它光学特性及指标 3.能分析混合、透明、反射光的样品 4.无需对样品进行稀释 5.免校正

ZML-310型外用制剂粒度仪是采用显微镜图像法测试粒径大小、颗粒形状及颗粒颜色的颗粒分析系统。设备由显微镜、高分辨率数字摄像机、分析软件、计算机等部分组成。广泛适用于API原料药，药物晶型分析、生物医药、磨料、电池、非金属矿、粉末冶金、石油能源、涂料、颜料、陶瓷、食品等域的各种粉体颗粒的粒度大小、形状特征观察和测量。　　工作原理是通过用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用我们的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器和打印机输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单、测量参数全面等特点。　　ZML-310型外用制剂粒度仪的技术参数　　1、准确性：＜3%。　　2、摄像机：1800万像素。　　3、粒径范围：200nm-3000μm　　4、粒度统计：体积、面积、颗粒。　　5、配置奥林巴斯显微镜，成像更加清晰。　　6、可以得到常规的平均粒径，D10，D50，D90等参数。　　7、软件自动进行统计样品颗粒，并对颗粒进行做粒度分布。　　8、粒径参数：等效面积圖、等效周长圆、等效短径、等效长径等。　　9、形状参数：圖度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。