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粒径粒形特性分析

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粒径粒形特性分析相关的仪器

  • 借助 minispec 时域核磁共振分析,快速完成乳剂型产品的质量控制、工艺控制和研发水包油型或油包水型乳剂的液滴粒径分布无需制备,无需稀释批量测定不透明试样乳化效率量化乳剂稳定性动力学控制产品流变特性选择性吸收产品设计香精控释, API 优化颜色和外观减速化学变质控制微生物腐坏布鲁克的多功能台式时域核磁共振分析仪可以提供一个整包式解决方案,可在乳剂型产品生产过程中快速完成质量/工艺控制和研发。人性化的布鲁克 minispec 仪器可在短短数分钟内检测出整个试样中的全部氢原子产生的信号,而不受其颜色或浊度的影响。然后,通过分析核磁共振信号,计算出液滴内分子(油或水)的扩散系数,软件最后输出液滴粒径分布,包括体积和数量分数。此过程是在分子水平直接测量液滴粒径分布,不受絮凝影响,这一点不同于光学方法。时域核磁共振技术的优点有多种技术可供用于乳剂液滴粒径测试,但它们都有各种局限性,因而不适于分析多种不同乳剂系统: 光学显微镜术和成像分析——试样量小、耗时、液滴形状和尺寸失真。 共焦扫描显微镜术和成像分析——同光学显微镜术和成像分析一样。 小角激光光散射法——稀释步骤会彻底改变许多乳剂的结构,不能分辨液滴和悬浮颗粒,液滴簇被当成大液滴。 电传感技术——大多数情况下要求进行稀释,需要单独测定大量液滴。 超声技术——高固体含量试样的信号衰减严重。 相比于上述技术,基于时域核磁共振的液滴粒径分布测定技术具有以下属性,因而是适用于乳剂分析的强大工具: 对相对较大试样量进行液滴粒径分布测定样品颜色或透明度大小不影响测定其他颗粒物的存在不会被误当做液滴不要求在测定之前进行任何稀释步骤或其他预处理测定能力可以测定水包油型和油包水型试样的液滴粒径分布对整个1立方厘米试样进行液滴粒径分布测定4特斯拉/米的最大可用梯度强度允许对小至250纳米的大范围液滴粒径进行分析哪怕液滴内外都存在相同分子,也可以进行液滴粒径分布分析液滴粒径分布分析最终结果包括体积和数量分数、平均值和标准偏差可以在-5℃到+65℃试样温度范围内执行测定同一台仪器可用于其他分析,譬如但不限于,固体脂肪含量、结晶、水分迁移,等等适用场合水包油型或油包水型乳剂系统的液滴粒径分布乳剂稳定性动力学对规定升温条件下的乳剂特性变化进行动态研究水包油型乳剂的脂肪结晶和液滴粒径分布变化通过专门设计液滴粒径分布来控制产品流变特性、颜色/外观预测和抑制微生物和化学腐坏分子从液滴内部交换至外部控释活性成分(香精、药物,等等)设计食品产品的可控消化率和热量值软件 可借助 minispec ExpSpel 实验编辑器,进行灵活编程,设定:核磁共振脉冲序列核磁共振数据处理自定义自动化,等等 mq 系列系统适用于各种不同应用,可提供使用广泛、成熟的时域核磁共振脉冲序列,以及与联合利华合作开发的专有液滴粒径分布软件。 布鲁克 minispec 仪器采集的扩散数据 布鲁克 minispec 软件输出的液滴粒径分布分析结果 布鲁克 minispec 软件生成的详尽的统计信息(基于体积和数量的液滴粒径分布)
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  • 产品简介  粒径谱分析仪以激光二极管作为光源,31个粒径通道测量模块可准确计算颗粒物质量浓度和分布基础。该分析仪可检测固体颗粒物和小液滴粒径分布,测量过程没有半挥发性物质损失,适合官方作为PM10和PM2.5测量的组网仪器。在解决环境监测中需要解决的大气可吸入颗粒物等多种污染物的连续、实时、自动监测问题,特别是对颗粒物源解析、数浓度谱的研究有着重要的作用。功能特点  全自动无人值守在线实时监测,19寸机柜安装;  可同时测量PM1,PM2.5,PM10(可选配31个粒径通道),获得PM10,PM2.5 所有的EU及US-EPA认证;  粒径分布、相对温湿度探头、大气压力(三种选项);  不受震动影响,没有放射源,维护少,具有自动跟踪系统;  使用NAFION 作为除湿方法,使得SVC没有损失;  可做为大气监测系统的组网仪器;  维护费用、监测成本低。
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  • 颗粒实时原位表征-看见、测量颗粒梅特勒托利多公司提供的EasyViewer100是一款探头式图像工具,可以实时在线采集过程中晶体、颗粒与液滴的高分辨率图像。它能在线追踪颗粒及液滴的粒度、粒数及形状的变化。超薄,智能控制聚焦和即插即用连接的设计,EasyViewer可以实现无人值守下在更小的尺度下轻松地捕捉图像。当与一款易操作的图像分析软件iC-Vision结合使用时,EasyViewer将成为一个强大的颗粒粒度分析工具,可以实时监测过程变化和量化颗粒尺寸与形貌。帮助科学家和工程师实时测量颗粒和液滴的粒径、形貌,从而快速决策与过程开发。EasyViewer在原位条件下,实时在线追踪颗粒和液滴的变化情况,而不需要取样和制样。能提供实时在线、高固含量的粒径和粒数、形貌信息。适用于固-液,液-液及固-气等体系下的粒子监测。并能适应不同温度、压力和化学环境的要求。仪器特点/功能:1) 实时在线的、安装简便的探头式系统;2) 能在各固相或分散相的浓度中测量;3) 在两相界面提供多个选定粒径范围内的粒径、粒数与形貌信息4) 既能对默认或选定粒径范围(如:小颗粒范围或大颗粒范围)粒子的变化情况进行高精度、高灵敏度的实时监测,也能对重要的动力学研究提供的早期的监测诊断5) 通过粒径、晶形、粒数、浊度等指纹式信息能有效表征间歇反应的实验终点6) 结合iC Vision图像分析软件,将成为强大的颗粒粒度分析工具7) 在短时间内就能获得实用性强、附加值高的数据信息8) 哈氏合金材料,耐酸碱,耐化学腐蚀技术参数:观测范围:1mm × 1mm精度:1.5um光纤长度:3m(标准);13m(带USB延长线)重量:0.66kg[包含探头与光纤]探头温度范围:-20oC-135oC压力:0-10bar材料:哈氏合金 C22应用领域:广泛应用于结晶/沉淀、絮凝、分散、乳液等方面。该颗粒测量仪既能用于学术研究,也可用于实验室过程开发。
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  • 1引言土壤是由液体、气体、固体三相组成,不同粒径粒形的土壤颗粒是土壤的重要组成部分。土壤的粒径粒形分析的目的是为了测定不同粒径粒形土壤颗粒的组成,并进行土壤质地的确定。而土壤质地则是土壤最基本的特征之一,是土壤分类的重要依据,对土壤肥力、土壤养分运移、土壤水分特征曲线及土壤可蚀性等具有重要影响。目前测量土壤粒径粒形的方法很多,有筛分法,沉降法,激光衍射法,电阻法以及静态图像法等。关于这些方法的详细介绍可以参考有关书籍,这里就不赘述了。值得指出的是在激光衍射法中,其理论基础是FRAUNHOFF衍射或者MIE散射理论,这两种方法都是根据在颗粒在焦平面上形成的衍射以及散射信号的强弱来推算颗粒的大小。而传统的图像法中,是借助显微镜、摄像头或数码像机和图形采集卡利用计算机软件对采集的图像进行处理和计算,从而得到颗粒的大小以及形状参数。考虑到这种方法单次所测到的颗粒个数较少,一般采用通过更换视场的方法进行多次测量来提高测试结果的真实性。 2 测量系统设计2.1 目标AZ-S0300土壤粒径粒形测量系统采用独特的双通道技术,进行土壤、污泥、河床沉积物、飞灰、水泥等样品中颗粒粒径粒形分布的研究。其激光通道应用符合ISO标准的激光光阻法(也叫时间转换理论或者激光脉冲分析法),克服了传统激光粒度仪只适合于分析纯净物的缺点(传统激光衍射法必须要知道样品的光学特性,而大部分环境样品成分复杂,光学特性不固定),测量过程对于样品的任何物理特性都没有依赖型,实现了物性无关的检测;此外,其Video通道应用动态粒形分析技术,在很大程度上提高了分析的精度并且缩短了分析所需的的时间。AZ-S0300土壤粒径粒形观测系统通过灵活的模块化配置,可满足不同类型的干法及湿法检测需求,也可实现液体、乳剂、膏状、薄膜、气溶胶等样品的测量需求。 2.2 土壤样品采集自然条件下,选取具有代表性的典型区域作为取样样地;实验研究条件下,根据研究目的选取特定区域作为取样样地。根据样地类型、开阔平坦程度、土壤匀质程度等条件可选择&ldquo 梅花形&rdquo &ldquo 棋盘式&rdquo &ldquo S形&rdquo &ldquo 网格法&rdquo 进行布点,同一类型的土壤样品,至少取3个土样作为重复。样品采集的时间和频率根据研究对象和目的决定。具体操作和细节可参照《土壤理化分析》中相关部分。2.3 测量指标AZ-S0300土壤粒径粒形测量系统采用独特的激光、视频双通道检测技术,在进行激光粒度检测的同时能够得到颗粒的形貌和样品分散信息,而且能够对于得到的图像进行定量的粒形分析。可以得到近40个参数:颗粒数量分布、D10/D50/D90颗粒度分布、颗粒表面积分布、颗粒体积分布、平均颗粒粒径、体积平均粒径、表面积平均粒径、数量平均粒径、等效面积直径、弗雷特(Feret)直径及其最大/最小/平均值、长细比、圆度、周长、分形维数、形状因子、凹凸度和椭圆度等。2.4 测量系统组成AZ-S0300土壤粒径粒形测量系统由土壤取样单元、激光粒度仪主机、激光测量头、视频显微镜、测量池模块(有磁力扰动测量池、机械扰动测量池、液体流动测量池、流动式液体测量池、纤维测量池、气溶胶测量池、微流量测量池、加热测量池、自由落体测量池、薄层测量池等可选)、粒形分析软件等组成。3 数据处理激光和视频分析产生的全面信息,很容易通过直观的数据报表软件得到。测量结果可以各种表格和图显示出来,这些表格和图可以由用户选择,以便正确显示需要的信息。通过数据挖掘技术,很容易实现数据比较和分析,允许对覆盖图和比较表进行编辑。轻点一下鼠标,就能生成word格式的样品分析报告,该文件包括样品制备,粒径和粒形结果,还带有图形和视频信息。 3.1 用颗粒的形状信息补充尺寸信息形状信息是对粒径分布的二维的补充,比如大小相识的颗粒可能在形状上大相径庭。对非球形颗粒准确的定性,两维的形状信息是必需的。形状的差异可从粒形分布反映出来。动态图像分析使用数码摄像机抓取最佳的颗粒图像进行处理。得到的图像可经过复杂的图像分析程序分析,得到图像信息;亦可存储起来,以后分析。 3.2 了解颗粒系统通过动态图像分析得到的形状和尺寸相关数据提供了每个颗粒的丰富信息,这些信息可以展示在散点图以观察样品的颗粒尺寸&mdash 形状趋势。形状过滤器具有与光学过滤器相同的功能,用户可以根据尺寸或形状特性在样品中放大观察样品的特定部分。 3.3 检测微小部分激光通道使用的激光光阻法在特殊的应用中有着明显的优势,例如检测只占样品体积1%或更少的微小部分,或者以更高分辨率来分析样品中的非常大的颗粒部分。 4 应用案例4.1 AZ-S0300土壤粒径粒形测量系统在屋面径流颗粒分布研究中的应用同济大学污染控制与资源化研究国家重点实验室科研人员应用AZ-S0300土壤粒径粒形观测系统,对上海市交通干道旁一处混凝土屋面的6次降雨径流进行监测,分析了屋面径流中颗粒粒径的分布,结果表明:颗粒物粒径分布变化过程与流量过程密切相关,径流初期小颗粒数目比例逐步上升,而当再次遇到较大降雨强度时,屋面在较强冲刷作用下产生较多大颗粒,使大颗粒所占比例上升,然后随着径流的继续进行,小颗粒数目比例迅速上升。 4.2 AZ-S0300土壤粒径粒形测量系统在垃圾焚烧飞灰物理化学性质研究中的应用北京科技大学的科研人员应用AZ-S0300土壤粒径粒形观测系统,对国内2种垃圾焚烧飞灰的物理性质进行了详细研究,结果表明:2种飞灰颗粒直径的数量微分分布非常接近,它们的中间粒径分别为0.84&mu m和0.85&mu m,平均粒径分别为1.10&mu m和1.15&mu m,2种飞灰中基本没有超过40&mu m的颗粒。
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  • PARIO土壤粒径自动分析仪一、用途土壤颗粒粒径分布(PSD)是土壤物理特性的关键指标,强烈地影响着水力热力性质等重要的土壤物理特性。根据土壤粒径分布来估计土壤的其他水力学性质已经成为相关领域的研究热点。PSD的传统检测是基于颗粒在均质化悬浮液中的重力沉降进行的,步骤繁琐,费时费力,误差较大;激光新法,由于需要进行土壤特异性校正,确定转换函数,为其一缺陷。PARIO,是一种从插入悬浮液测量开始到数据导出,完全的自动化测量方式。结合了传统方法和激光新发的优点。记录一个时间段内,沉降过程中特定悬浮液深度的压力。采用integral Densiometer Method”(IDM)模型算法,得到土壤颗粒粒径分布。 二、 测量原理PARIO基于Stokes’ Law原理(传统方法皆是此原理)。悬浮液中,颗粒会下沉,而液体留存于压力传感器上方,所以,预置传感器位置上的压力会不断衰减。根据压力变化模型,得出压力随时间的变化。这种压力变化可以作为在特定深度L(cm)处的PSD。? 假设沉降过程中粒径大小分布,是遵循Stokes 定律。那么: V指沉降速率,D指颗粒直径? 在时间t后,颗粒到达z深度, ? 在深度L处的压力ρ,跟L处的密度值ρ(z,t)关系,? 综上,根据模型计算公式为: 三、系统特点? 基于Stokes’ Law计算粒径分析 ? 测量开始到结束,完全的自动化测量? 粒径分析准确且连续 ? 测量过程中没有悬浮液的物理扰动 ? 避免人工读数造成的错误 ? 避免人工计算的错误 ? 温度自动补偿计算入粒径分析? 节省时间和人工,仅需6小时? 10s间隔自动测量,总误差仅有1.5%? 一体化分析软件,可视化视图? 内置美国和德国标准,可供选择 四、系统组成? 一台PARIO© 设备? 两个玻璃沉降瓶? 一个插头? PARIO控制软件。测量轴具有压力传感器和温度传感器,测量时浸没入悬浮液中。测量头为信号处理中心。通过USB连接PC端。PC端10秒记录一次时间,压力,温度数据。 五、 技术指标粒径分析范围63 μm to 1 μm质量检测误差+/- 1.5%粒子质量25 to 40 g /每升悬浮液测量持续时间6 小时测量间隔10s工作温度范围15 °C to 35 °C测量过程中最大耐受温度变化3 °C悬浮液体积1000 cm3沉降瓶高度35 cm电力需求1 mW质保12个月所需的外部测量重砂分测量温度影响水的粘度高度依赖于温度y = 0.0007 T 2 -0.0531T + 1.764(r2= 0.9996)沉降速度的计算自动补偿温度 六、产地:德国 六、 参考文献Wolfgang Durner , Sascha C. Iden , and Georg von Unold。The integral suspension pressure method (ISP) for precise particle-size analysis by gravitational sedimentation。AUG PUBLICATIONS: Water Resources Research, 10.1002/2016WR019830
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  • 土壤粒径自动分析仪 400-860-5168转4943
    PARIO Plus土壤粒径自动分析仪PARIO Plus土壤粒径自动分析仪在PARIO的基础上进一步提升,测量准确度和效率均大幅提升。PARIO Plus土壤粒径分析仪,对比传统的粒径分析方法PARIO具有明显优势。传统的比重计法(或吸管法)手工耗时24小时,费时费力易出错,激光粒度仪法,设备昂贵,耗时长,且存在方法性偏差。PARIO Plus设置好之后全程自动测量,仅需在测量结束时手动打开阀门。测量时长缩短至仅需2.5小时,估计误差低至±0.5%。PARIO Plus从繁杂的实验中解放科学家的双手,全身心投入科学问题的研究。测量原理基于斯托克斯定律(Stokes´ law)计算粒径分布, 其测量范围为63~2 μm。PARIO的测量方法基于成熟的比重计法或吸管法,采用压力传感器以10s间隔连续记录土壤悬浊液中特定位置的压力和温度变化,获得完整的土壤颗粒粒径分布曲线。PARIO Plus使用更准确的“扩展积分悬浮压力法”(ISP+)(Durner et al., 2017)。另外,基于斯托克斯定律的PARIO不需要进行土壤特性的传递函数校正,而几乎其它任何自动测量方法都要求进行这种校正,例如激光衍射法或图像分析法。主要特点ü 测量速度快 设置好后,仪器运行仅需2.5小时。ü 测量方法准确 估计误差低至± 0.5%,低于任何传统的粒径分析方法。ü 自动独立运行 PARIO允许无人值守,自动化操作,仅需在实验结束时手动打开阀门。避免人工读数和计算误差。ü 获得高精度的连续粒径分布曲线 与传统方法测得少数一些离散时间点数据不同,PARIO每10秒进行一次自动测量,并连续记录悬浮液的压力以及温度变化。ü 测量过程无扰动 不需要插入液体比重计,也不需要用移液管进行悬浮液的取样,进而减少了对沉降的扰动。ü 依据经典原理 根据斯托克斯定律(Stokes´ law)计算粒径分布,正好匹配传统实验前期准备工作流程。ü 黏粒含量直接测量获得ü 依据温度自动综合计算粒径分布ü 简单易用 为了您能节省更多时间,PARIO采用简便易用的软件解决方案,轻松实现数据查询、可视化操作、数据的计算及导出。技术指标粒径范围2 ~ 63 μm质量分数检测的近似误差PARIO Plus: ±0.5%;PARIO Classic: ±3.0%压力测量准确度: ±1.0 Pa;分辨率:±0.1 Pa典型颗粒质量25 ~ 50 g/ 1L悬浊液典型测量时长PARIO Plus: 2.5 h;PARIO Classic: 8.0 h测量间隔10 s黏粒含量估算根据抽取样品综合颗粒质量获得砂粒含量估算根据湿筛法测定结果得到供电需求USB 5 V/100 mA电脑兼容微软 Windows 10玻璃容器规格高:450.0 mm;内径:59.0 mm,外径:67.5 mm;体积:1,000 cm3材质:硼硅酸盐玻璃3.3PARIO 仪器高度:293.0 mm;直径:80.0 mm ;材质:POM塑胶原料和不锈钢悬浊液容积1000 mL工作温度最小:15℃;典型:20℃;最大:35℃测量中允许的最大温度变化±1.5 ℃需要额外测量的参数PARIO Classic: 有机质含量 (如进行了有机质去除);砂粒含量(湿筛法);总悬浊液中分散盐的质量PARIO Plus: 取样测量干物质总质量;砂粒含量(湿筛法);总悬浊液中分散盐的质量缆线类型USB 2.0;500 mA用于接收端口符合标准生产制作遵循 ISO 9001:2015;EM ISO/IEC 17050:2010 (CE Mark)产地与厂家:美国METER公司
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  • 粒径分析仪 400-860-5168转4590
    粒径分析仪美国MAS公司成立至今有30余年历史,专注于超声电声法原理颗粒度检测、 Zeta电位分析仪的研发生产。超声法原理测试样品的颗粒分布,是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波在样品中传播,由于不同大小粒径对声波的吸收、散射作用不同,导致声波衰减程度不同。根据颗粒大小和声波衰减之间的函数关系,得到颗粒的粒度特点:不稀释:快速、简易,极少或不需事前样品准备!坚固耐用,用途广泛。电声量测分析:水性… 非水性… 不透明… 粘性… 纳米颗粒… … 自动滴定很简单的IEP测量自主已混合、已抽打过气样品均匀性… 无颗粒沉降… … 非常适合实验室和工厂… 研发、质量控制和在线等地使用粒径分析仪ZA500,ZetaAcoustic,结合Zeta电位分析仪、声波、电声测量三合一很强,高的分辨率,免稀释 Zeta电位分析。MAS应用科学公司发明电动声波振幅(ESA)技术用于高百分比之固体 Zeta 表面测量。MAS将其独特的专业知识应用在 Zeta 电位和粒度分析仪器的设计,使其成为 MAS很强而有力的发明Zeta电位量测仪。使用ZA500的好处:※ 藉由结合电动和声学,二合一的测量中,进行高分辨率/准确度 Zeta 测量。※ 自动粒度校正(通过声学测量)精确的 Zeta 测量(1纳米到30微米)。※ 自动/无人值守的电位滴定和容量滴定,用于简单和很快的 Iso-Electric Point(IEP)测定、表面活性剂吸附效应和其他动态测量。※ 在测量过程中,适用于自主已混合和/或已抽打气样品,无需等待颗粒沉降无不良影响。※ Zeta倾角传感器允许在样品池或独立容器中进行测量。※ 坚固耐用,适用于大多数样品,包括纳米颗粒、水性、非水性、高粘性、低至高百分比固体(0.1至60%体积)和 0-14 ph 等。※ 同时测量酸碱度、电导率和温度。※ 免费终身咨询 Matec 的任何材料胶体专家… 无论是有关 ZetaZcoustic… 或任何其他胶体科学主题。下图显示了氧化铝(左)和二氧化钛样品的自动、无人值守电位滴定示例。它们的IEP位置很容易由 ZetaAcoustic 仪器确定。电声法原理测试样品的Zeta电位,在针对高浓度,高粘度的样品,如电池浆料、混悬剂、电子印刷材料、乳剂、油墨等样品,电声超声法粒度电位分析仪可直接进行原样检测,无须进行样品稀释,即可得到更精确真实的结果,避免了因稀释带来的误差和影响。对研发,生产起到关键的指导意义。
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  • 仪器简介:德国RETSCH TECHNOLOGY公司最新推出的CAMSIZER多功能粒径分析仪是全球唯一一台可以同时分析粒径大小、粒径分布、颗粒个数、球形度、透明度、面积等多参数的仪器。采用专利的双镜头设计,可以实时捕捉样品颗粒的图像并进行储存和处理,进样量大,分析具有代表性和重现性,同时具备在线功能。 传统的激光粒度仪由于取样量偏小,重现性差,样品不具备代表性,对于球形度差的样品无法得出准确结果;传统的筛分技术只能测出颗粒的大概大小,无法进行计数,并且分析过程漫长,CAMSIZER可以对颗粒大小和形状同时进行详细而准确的分析,并实时记录图像。它是由RETSCH TECHNOLOGY公司与JENOPTIK JENA公司(原德国蔡司ZEISS)合作研制的。 CAMSIZER可对所有干性、流动的粉状颗粒材料进行快速分析,如盐/糖、塑料、催化剂、研磨剂、碳制品、沙、煤炭、咖啡、耐火材料、食品、聚苯乙烯、玻璃、陶瓷、肥料、药物、金属粉末、标准品、水泥、矿石等。技术参数:测量范围:10um--30mm 测量原理:数字成像技术 分析数据:颗粒大小、形状、透明度、个数、分布、球形度、面积等 数据处理:60 images/s,每一张大于780000 pixels 外形尺寸:(H x W x D)约 650 x 850 x 350 mm 重 量:40 Kg(不带PC) 测量时间:约2-3分钟(视样品性质和进样量) 符合标准:CE认证、FDA 21 CFR PART 11、其他标准 主要特点:1) 100% 高分辨率的双镜头 2) 样品处理量大,极具代表性和重现性 3) 实时图像显示 4) 粒径大小、粒度分布、颗粒计数、图像分析、球形度、透明度等多参数分析 5) 分析结果可与筛分拟对 6)多国语言、易维护 7)全自动和在线功能
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  • 粒径谱分析仪 400-860-5168转2969
    粒径谱分析仪以激光二极管作为光源,31个粒径通道测量模块可准确计算颗粒物质量浓度和分布基础。该分析仪可检测固体颗粒物和小液滴粒径分布,测量过程没有半挥发性物质损失,适合官方作为PM10和PM2.5测量的组网仪器。在解决环境监测中需要解决的大气可吸入颗粒物等多种污染物的连续、实时、自动监测问题,特别是对颗粒物源解析、数浓度谱的研究有着重要的作用。 功能特点:? 全自动无人值守在线实时监测,19寸机柜安装。? 可同时测量PM1,PM2.5,PM10(可选配31个粒径通道),获得PM10,PM2.5 所有的EU及US-EPA认证。? 粒径分布、相对温湿度探头、大气压力(三种选项)。? 不受震动影响,没有放射源,维护少,具有自动跟踪系统。? 使用NAFION 作为除湿方法,使得SVC没有损失。? 可做为大气监测系统的组网仪器。? 维护费用、监测成本低。
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  • 产品简介  粒径谱分析仪以激光二极管作为光源,31个粒径通道测量模块可准确计算颗粒物质量浓度和分布基础。该分析仪可检测固体颗粒物和小液滴粒径分布,测量过程没有半挥发性物质损失,适合官方作为PM10和PM2.5测量的组网仪器。在解决环境监测中需要解决的大气可吸入颗粒物等多种污染物的连续、实时、自动监测问题,特别是对颗粒物源解析、数浓度谱的研究有着重要的作用。功能特点  全自动无人值守在线实时监测,19寸机柜安装;  可同时测量PM1,PM2.5,PM10(可选配31个粒径通道),获得PM10,PM2.5 所有的EU及US-EPA认证;  粒径分布、相对温湿度探头、大气压力(三种选项);  不受震动影响,没有放射源,维护少,具有自动跟踪系统;  使用NAFION 作为除湿方法,使得SVC没有损失;  可做为大气监测系统的组网仪器;  维护费用、监测成本低。
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  • Sedimat4-12土壤粒径分析系统用于实验室土壤粒径分布自动分析。根据欧洲标准(DIN ISO 11277),每次可以对12个样品按4级粒径大小进行自动分析,也可以按美国标准进行土壤粒径2级分析。系统主要包括:4维自动操作臂及操作室、控制单元、计算机及自动控制软件等,附件包括: 12个1000ml的量筒,高度465mm,六边形底座;48个30ml称量杯,外径50mm;4个可以安放12个称量杯的金属盘。 另外实验室还需分析天平(精确到+/-0.0001g)和烘干箱。 测量原理: 根据stokes&rsquo 定律,大颗粒的沉降速度较快,小颗粒的沉降速度较慢,把土壤样品放到液体中制成一定浓度的悬浮液,悬浮液中的颗粒在重力作用下将发生沉降,因此可以根据不同粒径的颗粒在液体中的沉降速度不同来测量粒度分布。具体方法为移液管法:将土壤样品有机质去除,然后将过筛(0.05mm)后的细土10g放入1000ml焦磷酸钠溶液中,用移液管在不同深度不同时间内缓慢吸取一定量的悬浮液样品,烘干后称重,即可算出不同粒径范围的土壤粒径分布百分比。土壤粒径分布欧洲标准(DIN ISO 11277)分为4级(F1、F2、F3、F4),美国标准(ASTM)分为两级(F1和F2),具体分级情况如下: 技术指标: 仪器大小:长(包括显示屏和键盘)2.08m,不包括显示屏和键盘1.69m;宽0.86m;高1.94m;重量约400kg电源:CEE16,16A 3N/PE AC380V/50Hz土壤悬浮液搅拌时间、温度(25℃)、沉降时间、样品抽取深度及移液量自动精确控制1天可以自动完成12个样品4个粒径范围的测量操作臂:X-axis: 1290mm,Y-axis: 990mm, Z-axis: Z1(自动搅拌轴): 790mm、 Z2(移液管轴): 490mm 测量标准(25℃)美国标准(ASTM):F1:20cm 80s; F2:10cm 6h52m52s欧洲标准(DIN ISO):F1:20cm 49s; F2:10cm 4m7s;F3:10cm 45m52s;F4:10cm 6h52m50s 产地 德国
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  • SEDIMAT 4-12 土壤粒径分析系统简介SEDIMAT 4-12 土壤粒径分析系统依据欧洲DIN ISO 11277矿物土壤材料颗粒尺寸分布测定标准,在实验室条件下可对12个土壤样品进行4级粒径筛分(F1, F2, F3, F4),用户也可加选美国ASTM 2级粒径标准(F1, F2)。 原理 DIN ISO 11277的K?HN移液管法是迄今为止唯一合理的测量方法,充分考虑了颗粒形状和尺寸因素,为沉降分析提供重复性极佳的结果。在该方法中,使用预先均质化并去除碳酸盐和有机物的土壤样品,根据Stokes定律,大颗粒的沉降速度较快,小颗粒的沉降速度较慢,把土壤样品放到液体中制成一定浓度的悬浮液,悬浮液中的颗粒在重力作用下将发生沉降,25℃下检验沉降率,进而创建颗粒分布曲线,为许多相关研究提供基础数据。土壤粒径分级和分布示意图具体方法为:将土壤样品去除石块、杂草、植物根等有机质,然后过筛(0.063 mm),过筛后的细土混匀准确称量10g放入1000ml焦磷酸钠溶液(浓度为0.1mol/L)中,搅拌、摇匀、静置,在规定的时间从悬浮液的规定高度取出规定的体积,然后测定其固体含量,即可算出不同粒径范围的土壤粒径分布百分比。由于对准确性的要求很高,人工手动进行实验有许多潜在错误和误差,例如移液管浸入深度或取样时间的偏差,并且由于细颗粒的沉降时间很长,因此费时费力,Sedimat 4-12使该实验方法自动化,工作量大大减少并提高了准确性,排除了主观测量误差,在均质化、温度控制、移液过程、数据精度和重复性等方面均有显著提高。 特点l 减轻工作量l 每天可对12个样品进行4级完整分析l 高重复精度 系统组成l 主系统:主框架、操作室、4轴自动操作臂(包括搅拌器、液面传感器、移液器)、水浴单元、控制单元、计算机及自动控制软硬件等l 附件:1000ml量筒12个, 30ml称量杯48个, 安放称量杯的金属盘4个技术指标l 土壤悬浮液搅拌时间、温度(25℃)、沉降时间、样品抽取深度及移液量自动精确控制l 1天可以自动完成12个样品4个粒径范围的测量l 操作臂行程:X轴1290mm,Y轴990mm,Z1自动搅拌轴790mm,Z2移液管轴490mml 设备尺寸:长(包括显示屏和键盘)2.08m,宽0.86m,高1.94m;l 重量约400kgl 电源:CEE16,16A 3N/PE AC380V/50Hz 测量标准 根据 DIN ISO 11277,在 25 °C下沉降时的取样深度和时间如下 F1-粗粉砂:20厘米,49 秒 F2-中粉砂:10厘米,4分7秒 F3-细粉砂:10厘米,45分52秒 F4-粘 土:10厘米,6小时52分50秒 根据ASTM,在 25 °C下沉降时的取样深度和时间如下 F1-泥沙:20厘米,80秒 F2-粘土:10厘米,6小时52分52秒 产地 德国
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  • 产品简介:Sedimat 4-12土壤粒径分析仪用于实验室自动分析土壤粒径的分布情况。Sedimat 4-12根据欧洲标准(DIN ISO 11277),每次可以对12个样品按4级粒径大小进行自动分析(也可以按美国标准进行土壤粒径2级分析)。 测量原理:根据stokes’定律,大颗粒的沉降速度较快,小颗粒的沉降速度较慢,把土壤样品放到液体中制成一定浓度的悬浮液,悬浮液中的颗粒在重力作用下将发生沉降,因此可以根据不同粒径的颗粒在液体中的沉降速度不同来测量粒度分布。具体方法为移液管法:将土壤样品去除石块、杂草、植物根等有机质,然后过筛(0.05mm),过筛后的细土混匀准确称量10g放入1000ml焦磷酸钠溶液中,搅拌、摇匀,用移液管在不同时间内缓慢吸取不同深度一定量的悬浮液样品,烘干后称重,即可算出不同粒径范围的土壤粒径分布百分比。土壤粒径分布欧洲标准(DIN ISO 11277)分为4级(F1、F2、F3、F4),美国标准(ASTM)分为两级(F1和F2),具体分级情况如下:美国标准(ASTM):F1:20cm 80s; F2:10cm 6h52m52s欧洲标准(DIN ISO):F1:20cm 49s; F2:10cm 4m7s;F3:10cm 45m52s;F4:10cm 6h52m50s特点:&bull 取样均一性好,样品处理温和&bull 样品沉降时间符合美国和欧盟标准;&bull 样品准备简便,只需要少量的实验室工作&bull 自动测量过程节约工作时间&bull 精确实现诸如均匀探头、稳定时间间隔、精确温度监测等实验条件;&bull 在一个实验过程中每次取12个样品;&bull 测量结果重复性高;&bull 土壤悬浮液搅拌时间、温度(25℃)、沉降时间、样品抽取深度及移液量自动精确控制&bull 1天可以自动完成12个样品4个粒径范围的测量 系统组成:主系统:4维自动操作臂(带搅拌器、液面传感器、移液器)及操作室水浴系统控制单元计算机及自动控制软件等附件:15个1000ml的量筒,高度465mm,六边形底座;48个30ml称量杯,外径50mm;4个可以安放12个称量杯的金属盘。另外实验室还需分析天平(精确到+/-0.0001g)和烘干箱。 技术参数:主机系统规格操作臂4维自动操作臂(带搅拌器、液面传感器、移液器)及操作室操作臂规格X-axis:1290mm,Y-axis:990mm,Z-axis:Z1(自动搅拌轴):790mm、Z2(移液管轴):490mm控制单元支持微软操作系统,带4个伺服电机输入输出多路输入输出板显示单元17英寸水浴系统不锈钢温控水浴器,带丙烯酸套,内置PT100温度传感器控温用于水浴加热的浸入式加热线圈,以保持恒温25℃环境温度5-23℃,温度过高时,推荐使用sedimat流通式冷却器搅拌器同轴三叶桨搅拌器自动控制软件处理过程可视化移液器气体活塞式移液器精确定位光学表面传感器精确定位移液管深度(土壤悬浊液浸没深度)电源CEE16,16A 3N/PE AC380V/50Hz规格2080mm X 860mm X 1940mm (含显示屏和键盘)1690mm X 860mm X 1940mm (不含显示屏和键盘)重量400 kg土壤粒径分级技术参数:标准欧洲标准(DIN ISO),25℃时的沉降时间和深度F1(gU,粗粒土)20 cm – 49 sF2(mU,中粒土)10 cm – 4 min, 7 sF3(fU,细粒土)10 cm – 45 min, 52 sF4(T,黏土)10 cm – 6 h, 52 min, 50 s标准美国标准(ASTM),25℃时的沉降时间和深度F120 cm – 80 sF210 cm – 6 h, 52 min, 52 s可选附件技术参数sedimat流通式冷却器冷却控制温度25℃连接方法待冷却的液体通过软管连接工作温度10-30℃冷却能力:0.22kW(20℃);0.18kW(10℃)标配附件量筒1000ml,15个,高度465mm,六边形底座称量杯30ml,48个,外径50mm金属盘4个,可以安放12个称量杯
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  • AOI检测|流体影像式粒径分析设备产品概述影像式流体光学检测,结合粒径分析(Sizer)与粒子计数(Counter) 功能 搭配高阶AI瑕疵检测技术,精准分辨气泡、结晶、粉尘等污染源 眼见为凭最可靠,且大幅降低人工误判率。 产品特色自动化判读半透明颗粒、气泡、不规则外缘保存真实流体物质显微影像AI 智能化分类模式抗酸防蚀不沾黏材质,避免样品槽污染自动图像式报表最高分辨率可达 1μm 产品优势真实还原物质轮廓一般影像式分析仪所拍摄的样品常因为光学像差(Optical aberration)产生畸变。我们利用独有的光学技术克服这个问题,还原最真实的物质轮廓EDOF技术无死角成像每颗粒子运用特殊光学设计大幅提升焦平面的涵盖范围AI巨量影像分类处理运用机器学习(Machine learning)让自动化分析更智能,可达到每c.c.10万笔数据撷取并分析其特征产品规格测量范围1 μm - 400 μm测量时间10 - 15 minutes检测量0.3 mL/min up to 3 mL/min计数效率100,000 particles per mL分辨率0.92 μm per pixel通讯模式USB 3.0测量参数粒径、长度、真圆度、长宽比、特征辨识尺寸 / 重量65(L) x 40(W) x 31(H) cm / 30 kg
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  • 欧奇奥SCAN系列泡沫粒径形貌分析仪泡沫粒径形貌分析仪SCAN600是欧奇奥公司(Occhio)针对大颗粒统计研究开发的一款泡沫粒径形貌分析仪。分析范围:用于2μm~20cm颗粒粒径及形貌分析 欧奇奥SCAN系列泡沫粒径形貌分析仪分析参数:多达43个粒径形貌参数的统计结果,可全面了解样品总体的概况(1)粒形参数:等效面积直径,筛分直径(内切圆直径),平均直径,Crofton直径,颗粒长度,颗粒宽度,颗粒最大长度,体积(2)粒形参数:ISO 9276-6 7 8规定参数包括ISO圆度 ,ISO钝度 ,ISO紧凑度 ,ISO线性度等 .延伸度,长宽比 ,圆度 ,凹度指数,平均灰度,灰度,椭圆宽度,椭圆长度 ,椭圆度,椭圆比,椭球延伸度,偏心率,实积度,钝度,粗糙度(3)高级粒形参数:磨损指数,晶化度,孔隙度,用户自定义(4)数据存储:oph专用数据存储格式可存储:粒径分布,粒径粒形。百分数独立颗粒图像及灰度(5)数据比较:可显示无上限多样品比较图表(6)可显示图表:粒径分布图,粒径百分数,粒形百分数,平均粒形,2D散点分布图,3D散点分布图,样品图像百分比,样品图像,独立颗粒图像(7)统计工具:形貌学和粒径过滤方式(8)显微镜模式:有手动选项,可手动设置样品流速、实时观察颗粒并显示颗粒参数、存储所需颗粒图像(9)外部数据分析:可输入、分析外部数据 欧奇奥SCAN系列泡沫粒径形貌分析仪应用领域:纺织物、烟草等的纤维长度、宽度分析;石油、聚合物、咖啡、啤酒的泡沫分析(泡沫大小、形状、动力学和稳定性);可进行建材、面包、食品等的大孔孔径和形状分析及颗粒计数应用实例:烟丝分析,面包分析,玻璃基底分析
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  • 动态光散射纳米粒径分析仪Nicomp N3000介绍 Nicomp 380 N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯( Gaussian)单峰算法和拥有专li技术的 Nicomp 多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。 动态光散射原理 下图所示为DLS系统的简单的示意图。激光照射到盛有稀释的颗粒混悬液的玻璃试管中。此玻璃试管温度恒定,每一个粒子被入射光击发后向各个方向散射。散射光的光强值和粒径的分子量或体积(在特定浓度下)成比例关系,再带入其他影响参数比如折射率,这就是经典光散射(Classic light scattering)的理论基础。 图1:DLS系统示意图 zui新的动态光散射方法(DLS)从传统的光散射理论中分离,不再关注于光散射的光强值,而关注于光强随着时间的波动行为。简单来说,我们在一定角度(一般使用90°角)检测分散溶剂中的混悬颗粒的总体散射光信息。由于粒度的扩散,光强值不断波动,理论上存在有非常理想化的波动时间周期,此波动时间和粒子的扩散速度呈反比例关系。我们通过光强值的波动自相关函数的计算来获得随时间变化的衰减指数曲线。从衰减时间常量τ,我们可以获得粒子的扩散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式,我们zui终就可以计算得出颗粒的半径(假定其是一个圆球形状)。 动态光散射理论:光的干涉 为了容易理解什么叫做强度随时间波动,我们必须先理解相干叠加(coherent addition)或线性叠加(superposition)的概念,进一步要知道检测区域内的不同的粒子产生了很多独立散射光,这些独立的散射光相干叠加或互相叠加的zui终结果就是光强。这种物理现场被称为“干涉”。下图是光干涉图样。 每一束独立的散射光波到达检测器和入射激光波长有相位关系,这主要取决于悬浮液中颗粒的精确定位。所有的光波在PMT检测器的表面的狭缝中混合在一起,或者叫干涉在一起,zui终在特定的角度可以检测得到“净”散射光强值,在DLS系统中,绝大部分都使用90度角。 技术参数:粒径检测范围粒度分析:0.3 nm - 10 μm分析方法动态光散射,Gaussian 单峰算法和 Nicomp 多峰算法pH值范围2 - 12温度范围0℃-90 ℃(±0.1℃控温精度,无冷凝)激光光源35mW激光光源检测角度90°检测器APD(雪崩二极倍增管,可7倍增益放大)可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池(1cm×4cm,高透光,石英玻璃或塑料);1mL样品池(玻璃,高透光率微量样品池,zui小进样量10μL) 分析软件Windows操作系统,主流配置,光驱,USB接口,串口(COM口);符合 21 CFR Part 11 规范分析软件(可选)验证文件有电压220 – 240 VAC,50Hz 或100 – 120 VAC,60Hz计算机配置要求Windows操作系统,主流配置,USB接口,串口(COM口)外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg(与配置有关) Nicomp多峰分布 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列仪器所独有的两个主要特点,Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布,这和实践生产生活中不相符,因为现实中很多样本是多分散体系,非单分散体系,而且高斯分布灵敏性不足,分辨率不高,这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论,大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。如下图所示: 图一:Nicomp多分分布数据呈现 如图一:此数据为Nicomp创始人David Nichole亲测其血液所得。其检测项目为:高密度脂蛋白,低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白,平均粒径分别显示在7.0nm;29.3nm和217.5nm。由此可见,Nicomp仪器对于多组分体系的粒径分布可以提供清晰地检测数据结果。Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果,更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计,Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。 图二:高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二:此数据为检测93nm和150nm的混合标粒所得到的数据。左边为高斯分布(Gaussian)结果,右图为Nicomp多峰分布算法结果,两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间,却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰,即如数据呈现,体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近。由此可知,尽管93nm和150nm的混合标粒之间粒径差别已经不大,由Nicomp的多峰算法仍然可以清晰地将体系中的多组分区分开来,可见N3000的灵敏性之高,其算法之精确,实为科研研发的zui佳帮手。 为满足不同客户的实际检测需求,我司的Nicomp 380 N3000会配备相应的配置,旨在为客户们在控制成本的基础上,得到需求的解决方案,达到收益zui大化。 技术优势检测范围:0.3nm -10μm;校准需求:无需校准;应用领域:广检测,速度快,灵敏度高且对团聚粒子灵敏度高;法典法规:符合USP,CP等各国药典要求;复合型算法:高斯(Gaussion)单峰算法与专li的Nicomp多峰算法结合均可选择;模块化设计:可同机搭载ZETA电位检测模块,还可增加自动稀释,自动滴定和自动进样等辅助测试模块,亦便于升级; 产品优势模块化设计Nicomp 380纳米粒径分析仪是全球wei一在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加,Nicomp 380的功能体系越来越强大,可以用于各种复杂体系的检测分析。自动稀释模块带有专li的自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差,且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度,这大大缩短了测试者宝贵时间,且无需培训,测试结果重现性好,误差率<1%。380/HPLD大功率激光器美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中,考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求,对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对极小的粒子也能搜集到足够的散射信号,使得仪器能够得到极小粒子的粒径分布。同样,大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助,比如在检测右旋糖酐大分子时,折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性,会弥补散射光强的不足和衰减,测试极其微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离,Nicomp 380纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。雪崩二极管 (APD) 探测器Nicomp 380纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和jun品级别的雪崩二极管检测器(相比较传统的光电倍增管有7倍放大增益效果)。APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度,如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团,他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低,这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块,在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。380/MA多角度检测器粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 380可以配备范围在10°-175,步长0.9°的多角度测角器,从而使得单一90°检测角测试不了的样品,通过调节角度进行检测,改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。应用行业: 乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO_2纳米管(TNAs)等
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  • 报价为基础款,更多服务及定制需求,请咨询客服 诺方SND3100光学气溶胶分析粒径谱仪是基于单颗粒光散射原理的粒径谱仪,支持多达31个粒径通道,可以实时监测颗粒物质量浓度和粒径分布。诺方SND3100光学气溶胶分析粒径谱仪采用诺方最新一代光散射颗粒物技术,精心调校的光学和气路结构,全新一代高频弱信号处理电路以及高精度粒子识别算法,相比上一代产品在粒径识别范围和准确度等方面显著提高,可以更好的适应监测对象粒径组分变化的情况。诺方SND3100光学气溶胶分析粒径谱仪拥有更高的测量精度和粒径分辨率。
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  • Micromeritics全自动费氏粒径测试仪(MIC SAS II)MIC SAS II全自动亚筛分粒径分析仪易于使用的全自动数据记录功能MIC SAS II全自动亚筛分粒径分析仪,对Fisher Model95 SubsieveSizer (FSSS)进行升级,采用全自动操作,并可得到电子记录的数据,极大改善了FSSS的性能。MIC SAS II生成的“Fisher number”结果与前代产品(FSSS)一致。几十年来,空气渗透技术和FSSS已经成为许多工业的行业基准,因此许多仍在使用历史数据和旧的质量控制标准的领域,都要求新旧仪器的测试数据必须具备可比性和可重复性。Features and Benefits 产品特点和优势设置方法快速简单按步骤进行参数设置,确保无任何参数遗漏全自动分析样品压实和压力的稳定性全部由电脑控制,采集的数据具有高重复性安全性可通过密码保护将样品信息测试信息与用户ID绑定,避免未经授权的任何操作和参数修改实时数据显示可以在获取数据时查看数据简化方法开发Fisher Mapping利用使用者自定义的Fisher相关图得到优化数据相关一致性定制化报告生成自动创建使用者logo和风格的PDF报告卓越的控制软件SAS控制软件创建了仪器操作、数据采集、处理和报告以及系统集成的世界标准全新直观式触摸屏操作强大直观式触摸式用户界面,提高效率,能够轻松创建和检索SOPs符合ASTM标准完全符合ASTM B330-12和C721-14标准,用于测试铝、二氧化硅、金属粉末以及相关化合物的粒径What is Air-Permeability Particle Sizing?空气渗透法测试颗粒粒径空气渗透技术是已经很好地应用到测量粉体样品的比表面积(SSA)。使用该技术测定的SSA数据已经应用在多个行业广泛,例如制药、金属涂料、颜料和地质等行业MIC SAS II全自动亚筛分粒径分析仪利用双压力传感器测量空气通过床层前后的压力变化,通过改变样品高度和孔隙率,同时控制一定流速通过颗粒床层,使用Kozeny-Carman方程确定SSA和平均粒径。Specifications产品规格尺寸与重量高度:55cm宽度:50cm长度:38cm重量:28kg
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  • 仪器简介:土壤粒径分析过去也称机械分析,是土壤科学最古老的测定技术之一。土壤基质由不同比例的、粒径粗细不一,形状和组成各异的颗粒(通称土粒)组成,一般分为砾、砂、粉粒和粘粒4级。 砾是最粗的土粒,我国主要农区土壤并不多见,只是在土石区,近河滩的山坡土壤中才出现砾,以致影响土壤的基质特征。 粗砂的比表面积小,表面只能吸附少量水分子(包括水汽分子),在其表面形成极薄的水分子导。粗砂粒间的孔隙粗,大多超过毛管孔径,所以它所保持的水是在粗砂粒间的接触点,为弯月面力所保持。在与植物根接触时也能被吸收。这种情况在砂砾混合或以砾为主时更为明显。 细砂和粗粉粒的矿物组成与砂粒类似,两者的性质相近。它们已有明显 的表面吸附分子能力,颗粒间孔隙的孔径表现为最活跃的毛管作用,毛管水上升迅速,上升高度可达2~3。中、细粉粒的矿物组成仍与砂粒相同,但表面积增大,表现出不同程度的属粘粒范围的若干性质。表面吸附水分子的力和毛管力都较强。毛管水毛管水上升运动缓慢,上升高度可能相当高,但需时间很长,速度过慢,实践意义不大。 粘粒是土壤中最细部分,粘粒矿物是扁平的片状或盘状,具有极大的比表面积,粘粒表面有负电荷与其邻近的土壤水中的阳离子形成双电层。巨大的表面积和表面负荷使粘粒有极强的吸附水分子能力,形成与其粒径比较相对厚的水层或水膜。粘粒间的孔隙极细,粘粒吸附的水膜就有可能充满或堵塞这些极细的孔隙。粘粒孔隙在吸附水膜外侧可能还有少许空间借助毛管作用保持少量水分,在水膜不堵塞孔隙的前提下,孔隙越细毛管力越强。不言而喻,粘粒在一定含水量范围表现极强的粘结性、粘着性和可塑性,干缩湿胀的程度极高,经湿润后的干粘粒容易出现较厚的结皮,并且形成坚硬的坷垃和土块,要极大的力量才能调皮敲破打碎,因而需要很高的耕作技术才能得到较好耕作质量。所有粘粒含量较高的土壤,尽管有较多的作物养分却很难管理。但在田间情况下,除碱土外,粘粒大多会团聚成才粒或团粒,可以一定程度上缓角耕作难的情况。 粒径分析的目的,就是为了测定不同直径土壤颗粒的组成,并进而确定土壤的质地。土壤颗粒组成在土壤形成和土壤的农业利用中具有重要意义。农业实践表明,土壤质地直接影响土壤水、肥、气、热的保持和运动,并与作物的生长发育有密切的关系。技术参数:08.16.SA 吸液管设备,桌面型 使用基本装置,可同时测量7份样品。 吸液管设备可放在实验桌上。 标准装置包括:带吸液管支架的滑槽,桌架,玻璃水箱,带自动调温器和搅拌器的加热工具,吸液管上部部件和下部部件,吸液气囊,玻璃样本筒,橡皮制动器和六偏磷酸钠。 08.16.SB 吸液管设备,墙面型 标准装置包括:带吸液管支架的滑槽,墙上支架,玻璃水箱,带自动调温器和搅拌器的加热工具,吸液管上部部件和下部部件,吸液气囊,玻璃样本筒,橡皮制动器和六偏磷酸钠。主要特点:优点 ◆ 吸液管设备符合标准NEN 5753和ISO/DIS 11277. ◆ 工作高度符合人体工程学. ◆ 整套设备免于震动,因为玻璃箱与加热工具及搅拌器是彼此独立的. ◆ 吸液管支架和滑槽带有抗磨损的塑料带齿滑轮. ◆ 设备插入深度达340毫米.
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  • 欧奇奥500nanoP 医药专用粒径及形貌分析分析仪● 粒径范围:0.4 μm-2 mm,完全符合ISO-13322-1规范● 6.6兆像素的高分辨相机● 单波长蓝色背光照明消除了衍射现象的困扰● 平行光和远心镜头提高了颗粒图像的外观质量(轮廓清晰)● 创新的光-镜一体技术,对每个颗粒都能准确对焦● 采用大像素值,获得佳阈值● 采用高速相机避免了振动问题● 固定的相机和光源减少了维护成本,增加了可靠性● 专利真空分散系统,无污染,易清洁● 计算机控制的500nanoP的真空分散装置(见右图)● 测量过程通过软件SOP操作● 分析过程中全自动校准,全自动对焦
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  • inline sizer-多信道在线粒径分析系统产品概述在线实时监测,避免样品变质。产品特色可同时进行4+1自动排程系统多点位24h不间断在线监控提供最佳COO(Cost of Ownership)多点位警示讯号输出,点位数量可依需求设定产品优势多点位自动实时监测整合中央计算机,基准点位与取样点整合于同一接口检测扩建液体分析KOH离子浓度、PH值酸碱度、导电度、比电阻、温度等功能可视化数据打造可视化数据智能化产线,建立质量履历、数据保存一年数据可靠性 数据(nm) Off-line In-line1 In-line2 In-line3 平均粒径 118.9 117.1 116.3 118.0 STD 0.6 0.9 0.6 0.5Offline & Inline 数据对比------具高度重复性产品规格测量范围0.6 nm – 10 um通道数4 + 1浓度范围0.1 ppm to 40 wt%电源AC 110V / 3 Pin尺寸/重量682 x 732 x 933 mm,≤ 90 kg
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  • 气溶胶粒径谱仪 400-860-5168转3281
    Promo2000型, Promo3000型气溶胶粒径谱仪Promo control unit 型本系统采用均匀的氙灯白光源,气溶胶粒子流经过光源,产生光散射效应,90度散 射角进行检测,软件采用全程的Mie式理论计算,得到粒径大小的体积分布和个数分布. 粒子计数和粒径分布可以同时得到,互不干扰.这是高精度气溶胶粒径谱仪的 最重要的要求. 新型专利的T型孔传感器技术,第一次解决了消除边缘效应和重叠粒子计数,使高 浓度气溶胶粒径测量和计数达到高精度测量.原产国:德国PALAS公司产品特性:1,光散射原理,90度散射角检测 2,专利的T型孔传感器技术,消除了边缘效应和重叠粒子计数 3,分辨率高 4,准确度和稳定性高 5, 传感器与控制器通过光纤连接.传感器探头可深入到任何复杂的环境中,包括高低温,高低压,危险环境等.这是其他气溶胶粒径谱仪所做不到的. 6, 粒径范围: 0.2-105μm (光散射直径) 7, 最大颗粒物浓度:1,000,000个/cm3 8, 分辨率:每十进制32个通道 9, 采样流量: 5.0 L/min 10,采样时间: 1s~18hr 11,探测器的标准光纤长度:3m 产品规格: 标准配置,内置真空泵、光学转换开关和光源, 32个粒径通道。包含:l 系统包括电源与光学转换开关,整个装置符合19英寸标准机架安装要求。l 内置处理器和触摸屏显示器l 光源内置于系统内l RS-232通讯接口l Windows界面的操作、分析软件。显示粒径分布(微分与累积)储存测量数据数据可输出为图表显示数据可输出到Excel电子表格3米长光纤l 提供可重复安装的软件;l 提供可编程的详细接口协议,接口类型是RS232;l 能实时跟踪采集粒子计数;l 供电电源:230V,50HZ;l 校正用的标准粒子。 welas2000型气溶胶传感器(有高温,高压型可选)l 测量范围:0.2-10um,0.3-17.5μm和0.6-40μm和2-105uml 较小的测量体积可测量最高浓度:1000000P/CM3
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  • Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案基本信息仪器型号:Z3000 Standard工作原理:粒度分布:动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)ZETA电位:多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)检测范围: 粒径范围 0.3nm-10.0μmZETA电位 +/- 500mV NicompZ3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号ZLS&S基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,同机采用多普勒电泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)检测ZETA电位。粒径检测范围 0.3nm – 10μm,ZETA电位检测范围为+/- 500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯( Gaussian)单峰算法和拥有专利技术的 Nicomp 多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极,一个电极可以使用成千上万次。另外,采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度,亦帮用户大大节省检测成本。技术优势1、APD&PMT双检测器;2、多角度检测(multi angle)模块;3、可搭配不同功率光源;4、双列直插式电极和样品池,可反复使用成千上万次;5、钯电极;6、精确度高,最接近样品真实值;7、复合型算法: 高斯(Gaussion)单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换 相位分析法(PALS)和频谱分析法(FALS)自由切换8、快速检测,可以追溯历史数据;9、结果数据以多种形式和格式呈现;10、符合USP,CP等个多药典要求;11、无需校准;12、复合型算法:(1)高斯(Gaussion)单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换10、模块化设计便于维护和升级;(1)可自动稀释模块专利;(2)搭配多角度检测器;(3)自动进样系统(选配);3000/MA多角度检测器粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 3000可以配备范围在10°-175,步长0.7°的多角度测角器,从而使得单一90°检测角测试不了的样品,通过调节角度进行检测,改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。Nicomp多峰分布概念 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 3000系列仪器所独有的两个主要特点,Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布,这和实践生产生活中不相符,因为现实中很多样本是多分散体系,非单分散体系,而且高斯分布灵敏性不足,分辨率不高,这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论,大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。图一:Nicomp多分分布数据呈现 如图一:此数据为Nicomp创始人Dave Nicole亲测其血液所得的真实案例。其检测项目为:高密度脂蛋白,低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白,由图中可以看出,其血液中三个组分的平均粒径分别显示在7.0nm;29.3nm和217.5nm。由此可见,Nicomp分布模式可以有效反应多组分体系的粒径分布。Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果,更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计,Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。图二:高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二:此数据为检测93nm和150nm的标粒按照1:2的比例混合后所测得的数据。左边为高斯分布(Gaussian)结果,右图为Nicomp多峰分布算法结果,两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间,却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰,即如数据呈现,体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近,这和实际情况相符。 为满足不同客户的实际检测需求,我司的Nicomp N3000会配备相应的配置,旨在为客户们在控制成本的基础上,得到需求的解决方案,达到收益最大化。产品优势模块化设计 Nicomp 3000纳米激光粒度仪是全球率先在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加,Nicomp 3000的功能体系越来越强大,可以用于各种复杂体系的检测分析。自动稀释模块 带有专利的自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差,且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度,这大大缩短了测试者宝贵时间,且无需培训,测试结果重现性好,误差率<1%。3000/HPLD大功率激光器 美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中,考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求,对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对极小的粒子也能搜集到足够的散射信号,使得仪器能够得到极小粒子的粒径分布。同样,大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助,比如在检测右旋糖酐大分子时,折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性,会弥补散射光强的不足和衰减,测试极其微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离,Nicomp 3000纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。雪崩二极管 (APD)高灵敏度检测器 Nicomp 3000纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和军品级别的雪崩二极管检测器(相比较传统的光电倍增管有7-10倍放大增益效果)。 APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度,如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团,他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低,这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块,在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。3000/MA多角度检测器 粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 3000可以配备范围在10°-175,步长0.7°的多角度测角器,从而使得单一90°检测角测试不了的样品,通过调节角度进行检测,改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。工作原理目录结构: 1. 前言2. 动态光散射粒度仪原理3. 动态光散射理论:光的干涉4. 粒子的扩散效应5. Stoke-Einstein方程式6. 自相关函数原理7. ZETA电势电位原理 前言 近十几年来,动态光散射技术(Dynamic Light scattering, DLS),也被称为准弹性光散射(quasi-elastic light scattering, QELS)或光子相关光谱法(photon correlation spectroscopy, PCS),已经被证明是表征液体中分散体系的粒径分布(PSD)的极有用的分析工具。DLS技术的有效检测粒径范围——从5am(0.005微米)到10几个微米。DLS技术的优势相当明显,尤其是当检测到300nm以下亚微米的粒径范围时,在此区间,其他的技术手段大部分都已经失效或者无法得到准确的结果。因此,基于DLS理论的设备仪器被广泛采用用以表征特定体系的粒度分布,包括合成的高分子聚合物(如乳胶,PVCs等),水包油和油包水的乳剂,囊泡,胶团,微粒,生物大分子,颜料,燃料,硅土,金属晶体,陶瓷和其他的胶体类混悬剂和分散体系。动态光散射原理 下图所示为DLS系统的简单的示意图。激光照射到盛有稀释的颗粒混悬液的玻璃试管中。此玻璃试管温度恒定,每一个粒子被入射光击发后向各个方向散射。散射光的光强值和粒径的分子量或体积(在特定浓度下)成比例关系,再带入其他影响参数比如折射率,这就是经典光散射(Classic light scattering)的理论基础。 图1:DLS系统示意图最新的动态光散射方法(DLS)从传统的光散射理论中分离,不再关注于光散射的光强值,而关注于光强随着时间的波动行为。简单来说,我们在一定角度(一般使用90°角)检测分散溶剂中的混悬颗粒的总体散射光信息。由于粒度的扩散,光强值不断波动,理论上存在有非常理想化的波动时间周期,此波动时间和粒子的扩散速度呈反比例关系。我们通过光强值的波动自相关函数的计算来获得随时间变化的衰减指数曲线。从衰减时间常量τ,我们可以获得粒子的扩散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式,我们最终可以计算得出颗粒的半径(假定其是一个圆球形状)。动态光散射理论:光的干涉 为了容易理解什么叫做强度随时间波动,我们必须先理解相干叠加(coherent addition)或线性叠加(superposition)的概念,进一步要知道检测区域内的不同的粒子产生了很多独立散射光,这些独立的散射光相干叠加或互相叠加的最终结果就是光强。这种物理现场被称为“干涉”。下图是光干涉图样。 每一束独立的散射光波到达检测器和入射激光波长有相位关系,这主要取决于悬浮液中颗粒的精确定位。所有的光波在PMT检测器的表面的狭缝中混合在一起,或者叫干涉在一起,最终在特定的角度可以检测得到“净”散射光强值,在DLS系统中,绝大部分都使用90度角。 小知识——光电倍增管(PMT) 光电倍增管(Photomultiplier,简称PMT),是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍,使光信号能被测量。光电倍增管示意图小知识——光电倍增管(PMT)MT) 光电倍增管(Photomultiplier,简称PMT),是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍,使光信号能被测量。光电倍增管示意图 工作原理光电倍增管是由玻璃封装的真空装置,其内包含光电阴极 (photocathode),几个二次发射极 (dynode)和一个阳极。入射光子撞击光电阴极,产生光电效应,产生的光电子被聚焦到二次发射极。其后的工作原理如同电子倍增管,电子被加速到二次发射极产生多个二次电子,通常每个二次发射极的电位差在 100 到 200 伏特。二次电子流像瀑布一般,经过一连串的二次发射极使得电子倍增,最后到达阳极。一般光电倍增管的二次发射极是分离式的,而电子倍增管的二次发射极是连续式的。 应用 光电倍增管集高增益,低干扰,对高频信号有高灵敏度的优点,因此被广泛应用于高能物理、天文等领域的研究工作,与及流体流速计算、医学影像和连续镜头的剪辑。雪崩光电二极管(Avalanche photodiodes,简称APDs)为光电倍增管的替代品。然而,后者仍在大部份的应用情况下被采用。 动态光散射理论: 粒子的扩散效应 悬浮的粒子并不是静止不动的,相反,他们以布朗运动(Brownian motion)的方式无规则的运动,布朗运动主要是由于临近的溶剂分子冲撞而引起的。因此,到达PMT检测区的每一束散射光随时间也呈无规则波动,这是由于产生散射光的粒子的位置不同而导致的无规则波动。因为这些光互相干涉在一起,在检测器中检测到的光强值就会随时间而不断波动。粒子很小的位移需要在相位上产生很大的变化,进而产生有实际意义的波动,最终这些波动在净光强值上反应出来。 DLS测量粒径技术的关键物理概念是基于粒子的波动时间周期是随着粒子的粒径大小而变化的。为了简化这个概念,我们现在假定粒子是均一大小的,具有相同的扩散系数(diffusion coefficient)。分散体系中的小粒子运动的快,将会导致光强波动信号变化很快;而相反地,大粒子扩散地毕竟慢,导致了光强值的变化比较慢。 图示4使用相同的时间周期来观测不同大小(小,中,大)的粒子产生的散射光强变化,请注意,横坐标是时间t。 我们需要再次强调,光强的波动并不是因为检测区域内粒子的增减引起的 而是大量的粒子的位置变动(位移)而引起的。 Stokes Einstein Equation DLS技术的目标是从原始数据(raw data)中确定粒子的扩散系数“D”。原始数据主要是指光强信号的波动,比如上述图4中所示。通过扩散系数D我们可以很容易的计算出粒子的半径,这时候就是广为人知的Stokes-Einstein方程式:D=kT/6πηR (2)这里k 指的是玻尔兹曼常数1.38 x 10-16 erg K-1;T是绝对温度;η是分散溶剂的额剪切粘度,比如20℃的水的η=1.002×10-2 泊; 从上述公式2中我们可以看到,通常情况下,粒子的扩散系数D会随着温度T的上升而增加。温度进而也会影响溶剂粘度η。例如,纯水的粘度在25℃下会落到0.890×10-2泊,和20℃下相比会有10%的改变。毫无疑问,溶剂的粘度越小,粒子的无规则扩散速度会越大,从而导致光强的波动也越快。因此,温度T的变化和粒径的变化是完全分不开的,因为他们都影响到了扩散系数D。正因为这个原因,样本的温度必须保持恒定,而且必须非常精确,这样才能获得有实际意义的扩散系数D。 从图4的“噪声”信号中无法直接提取出扩散系数。但是可以清楚地看到,信号b比信号c波动地快,但是比信号a波动地慢,因为,信号b地粒径一定在a和c之间,这只是很直观地得到一个结论而已。然而,量化此种散射信号是一个很专业地课题。幸而,我们有数学方法来解决这个问题,这就是自相关函数(auto-correlation)。自相关函数原理 现在让我们设定散射光强的自相关函数为IS(t),在上述图4中可以看到其随时间而波动。我们用C(t’)来标识自相关函数。C(t’)可以通过如下方程式3来表达:C(t’)= Is(t)*Is(t-t’) (3)括号 表示有很多个t和对应的Is值。也就是说,一次计算就是运行很多Is(t)*Is(t-t’) 的加和,所有都具有相同的间隔时间段t’。 图5是典型的Is(t)的波形图,通过这张图,我们可以认为C(t’)和Is(t)之间有简单的比例关系,这张图的意义在于通过C(t’)函数可以通过散射光强Is(t)的波动变化“萃取”出非常有用的信息。 自相关函数C(t’)其实是表征的不同大小的粒子随时间而衰变的规律。Zeta电势电位原理 1.1 什么是ZETA电势电位1.2 STERN双电子层1.3 DLS散射系统是如何测ZETA电位的? 什么是ZETA电势电位Zeta电位(Zeta potential)是指剪切面(Shear Plane)的电位,又叫电动电位或电动电势(ζ-电位或ζ-电势),是表征胶体分散系稳定性的重要指标。我们知道胶体系统中有两个相,分散相和连续相,分散相在纳米和亚微米之间。因为微粒的粒径很小,因此它比表面积大从而有一些增强属性使其稳定悬浮。但是如果微粒开始絮凝,微粒的粒径改变,性能也可能发生变化,如果不加以控制,絮凝体也可能进一步团聚形成沉淀,接着就会相位分离。当我们建立稳定分散体系时,我们需要维持微粒的稳定与分散,其中一个方法就是增强微粒表面电荷,然后这些微粒将带偶极矩互相之间产生排斥,随着微粒电荷的增加,微粒团聚而形成絮凝的几率降低。让微粒分散,带正电荷还是带负电荷并不重要,重要的是电荷的绝对值。我们研究微粒表面电荷的方法就是Zeta电势电位。STERN双电子层图 1胶团模型胶核表面拥有一层离子,称为电位离子,电位离子通过静电作用,把溶液中电荷相反的离子吸引到胶核周围,被吸引的离子称为反离子,越靠近胶核表面的地方反离子越密集,相反,越远的地方反离子越稀疏,他们的电荷总量与电位离子相等并且符号相反。因此,整个胶团是处于电中性状态,而胶核表面电势是最高的,根据定义Zeta电位即为胶核表面电势。图 2 STERN双电子层模型STERN双电子层即为胶核表面以及扩散层共同形成的电子层模型,值得注意的是扩散层中带电离子是分布在连续相中,因此其与分散介质息息相关(例如:通过水分散的体系,扩散层离子浓度以及扩散层宽度与水有很大关联),所以扩散层都没有明确的边界。DLS散射系统如何测ZETA电位目前测量ZETA电位的方法主要有电泳法、电渗法、流动电位法以及超声波法。Nicomp Z3000采用的是主流的电泳法测试ZETA。图 3 仪器内部光路图图3是Nicomp Z3000设备内部的光路图,激光通过一个分光器分成两组光路,一组通过反射镜直接进入检测器,另一组经过一个可调节的滤光片后,再经由微粒散射进入到相关检测器中。观察两组相干光的频率变化或者相位变化,从而计算得出ZETA电势电位。从微观角度来理解ZETA电位的计算,微粒由于带电量或是带点符号不同,其在电场作用下的运动状态也会不同,这种运动状态我们用电泳淌度μ(带电离子在单位场强下的平均电泳迁移速率)来表征,我们通过检测器观察到的两组相干光的频率或是相位变化,结合电场强度,相干光波长等参数通过简单的数学建模计算得出粒子的电泳淌度μ,最终ZETA电位通过公式:换算得出。η为分散剂的剪切粘度,ε为分散剂的介电常数。 点击下载工作原理仪器参数粒径检测范围0.3nm-10μm数字相关器通道数1024分析方法动态光散射,Gaussian单峰算法和 Nicomp多峰算法pH值范围2-12温度范围0℃-90 ℃激光光源35mW激光光源检测角度10°-170°(0.7°步进)检测器APD(雪崩二极倍增管,可7倍增益放大)PMT(高性能光电检测器) 可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池(1cm×4cm,高透光,石英玻璃或塑料);1mL样品池(玻璃,高透光率微量样品池,最小进样量10μL)分析软件Windows 兼容软件;符合 21 CFR Part 11 规范分析软件(可选)验证文件有电压220–240VAC,50Hz或100–120VAC,60Hz计算机配置要求Windows 7及以上版本windows操作系统,40Gb硬盘,2G内存,USB接口外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg(与配置有关)配件大功率激光二极管PSS使用一系列大功率激光二极管来满足更多更苛刻的要求。使用大功率激光照射,以便从小粒子出货的足够的入射光。15mW, 35mW, 50mW, 100mW — 波长为635nm 的红色二极管。20 mW 50 mW 和 100 mW 波长为 514.4nm的绿色二极管。雪崩光电二极管检测器(APD Detector)提供比普通光电倍增管(PMT)高20倍的灵敏度。自动稀释系统模块(选配)将初始浓度较高的样本自动稀释至可检测的的浓度,可稀释初始固含量为50%的原始样品,本模块收专利保护,其可免除人工稀释样品带来的外界环境的干扰和数据上的误差,此技术被用于批量进样和在线检测的过程中。多角度检测系统模块(选配)提供多角度的检测能力。使用高精度的步进电机和针孔光纤技术可对散射光的接收角度进行调整,可为微粒粒径分布提供可高分辨率的多角度检测。对高浓度样品(≤40%)以及大粒子多分散系的粒径提供了提供15至175度之间不同角度上散射光的采集和检测。自动进样器(选配)批量自动进样器能实现最多76个连续样本的分析而无需操作人员的干预。因此它是一个非常好的质量控制工具,能增大样品的处理量。大大节省了宝贵的时间。样品池标准4 mL样品池(1cm×4cm,高透光,石英玻璃或塑料);1mL样品池(玻璃,高透光率微量样品池,最小进样量10μL)应用领域 纳米载药纳米药物研究近些年主要着重在药物的传递方向并发展迅猛,纳米粒的大小可以有效减少毒性和副作用。所以,控制这些纳米粒的粒径大小是非常必要的。磨料磨料既有天然的也有合成的,用于研磨、切削、钻孔、成形以及抛光。磨料是在力的作用下实现对硬度较低材料的磨削。磨料的质量取决于磨料的粗糙度和颗粒的均匀性。化学机械抛光液(CMP SLURRY) 化学机械抛光是半导体制造加工过程中的重要步骤。化学机械抛光液是由腐蚀性的化学组分和磨料(通常是氧化铝、二氧化硅或氧化铈)两部分组成。抛光过程很大程度上取决于晶片表面构型。晶片的加工误差通常以埃计,对晶片质量至关重要。抛光液粒度越均匀、不聚集成胶则越有利于化学机械抛光加工过程的顺利进行。陶瓷陶瓷在工业中的应用非常广泛,从砖瓦到生物医用材料及半导体领域。在生产加工过程中监测陶瓷颗粒的粒度及其粒度分布可以有效地控制最终产品的性能和质量。粘土粘土是一种含水细小颗粒矿物质天然材料。粉砂与粘土类似,但粉沙的颗粒比粘土大。粘土中易于混杂粉砂从而降低粘土的等级和使用性能。ISO14688定义粘土的颗粒小于63μm。涂料涂料种类繁多,用途广泛。涂料的颗粒大小及粒度分布直接影响涂料的质量和性能。污染物监测粒度检测分析在产品的污染监测方面起着重要作用,产品的污染对产品的质量影响巨大。绝大多数行业都有相应的标准、规程或规范,必须严格遵守和执行,以保证产品满足质量要求。化妆品无论是普通化妆品还是保湿剂、止汗剂,它们的性能都直接与粒度的大小和分布有关。化妆品的颗粒大小会影响其在皮肤表面的涂抹性能、分布均匀性能以及反光性能。保湿乳液(一种乳剂)的粒度小于200纳米时才能被皮肤良好吸收,而止汗剂的粒度只有足够大时才能阻塞毛孔起到止汗的作用。乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系,通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型,一种是水分散在油中,另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶(水包油型)和黄油(油包水型),加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。食品食品的原料(粉末及液体)通常来源于不同的加工厂,不同来源的原料必须满足某些特定的标准以使最终制品的质量均一稳定。原料性质的任何波动都会对食品的口味和口感产生影响。用原料的粒度分布作为食品质量保证和质量控制(QA/QC)的一个指标可确保生产出质量均以稳定的食品制品。液体工作介质/油液体工作介质(如:油)越来越昂贵,延长液体介质的寿命是目前普遍关心的问题。机械设备运转过程中会产生金属屑或颗粒落入工作介质中(如:油浴润滑介质或液力传递介质),因此需要一种方法来确定介质(油)的更换周期。通过监测工作介质(油)中颗粒的分布和变化可以确定更换工作介质的周期以及延长其使用寿命。墨水随着打印机技术的不断发展,打印机用的墨水变得越来越重要。喷墨打印机墨水的粒度应当控制在一定的尺度以下,且分布均匀,大的颗粒易于堵塞打印头并影响打印质量。墨水是通过研磨方法制得的,可用粒度检测分析仪器设备监测其研磨加工过程,以保证墨水的颗粒粒度分布均匀,避免产生聚集的大颗粒。胶束胶束是表面活性剂在溶液中的浓度超过某一临界值后,其分子或离子自动缔合而成的胶体尺度大小的聚集体质点微粒,这种胶体质点与离子之间处于平衡状态。乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO2纳米管(TNAs)等
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  • 产品详情3330 光学颗粒物粒径谱仪 (OPS) 是一款轻型便携式装置,它采用单粒子计数技术,能够提供快速精确的粒子浓度和粒径分布检测。OPS 凭借 40 多年的气溶胶仪器设计经验,采用最先进的 120° 光收集光学系统和精致的电子处理装置,从而获得精确的高质量数据。严格的工厂校准标准确保了检测精度。3330 光学颗粒物粒径谱仪可单独使用,也可置于 TSI 的防水环保箱内。 特点和优势0.5 μm 时粒径分辨率 5%用户可调大小通道粒径范围:在多达 16 个通道中 0.3 - 10 μm0 - 3,000 粒子/cm 3 的宽浓度范围具有直观用户界面的彩色触摸屏完全符合 ISO 21501-04 标准显示粒子数浓度和粒子质量,并且具有输入折射率和粒子密度的能力基于过滤的样本收集,适用于重量分析或化学分析电池供电操作长达 12 小时内置多达 30,000 个样本的数据记录功能包含 Aerosol Instrument Manager™ 软件和各种标准附件应用范围质量光学仪器因其易用性、快速检测时间、稳健性和可靠性而广泛用于各种应用领域。 下面列出了一些常见应用。过滤器测试 (即 ASHRAE 52.2)室内空气质量工作场所监测室外环境监测工业测量排放监测和控制关于TSI公司TSI公司研究、确定和解决各种测量问题,为全球市场服务。作为精密仪器设计和生产的行业领导者,TSI与世界各地的科研机构和客户合作,确立与气溶胶科学、气流、健康和安全、室内空气质量、流体力学及生物危害检测有关的测量标准。TSI总部位于美国,在欧洲和亚洲设有代表处,在其服务的全球各个市场建立了机构。每天,我们专业的员工都在把科研成果转化成现实。
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  • 苏州市粉末粒径测试土壤粒径检测:粒度测定方法有多种,常用的有筛析法、沉降法、激光法、小孔通过法、吸附法等。筛析法是zui简单的也是用得zui早和应用zui广泛的粒度测定方法,利用筛分方法不仅可以测定粒度分布,而且通过绘制累积粒度特性曲线,还可得到累积产率50%时的平均粒度。粒度测试的目的微小颗粒态物质在日常生活和工业生产中有着很广泛的应用尺寸的大小和分布情况直接关系到工业流程产品质量以及能源消耗和生产过程的安全性。因此,准确方便地测量微小颗粒的直径、粒径,并得到粒径分布函数成为一个非常有意义的课题。常用测试方法的种类1、筛析法(sieving method):让粉体试样通过一系列不同筛孔的标准筛,将其分离成若干个粒级,分别称重,求得以质量百分数表示的粒度分布。适用于0.02~100mm之间的粒度分布。电沉积筛(微孔筛)可达0.005mm。由于制造工艺的原因,出厂筛子筛孔尺寸难保一致;使用过程中变形导致筛孔尺寸不准——校准。优点:成本低,使用容易。缺点:对小于400目38u的干粉很难测量。测量时间越长,得到的结果就越小。不能测量射流或乳浊液在测量针状样品时这会得到一些奇怪的结果。难以给出详细的粒度分布,操作复杂,结果受人为因素影响较大,所谓某某粉体多少目,是指用该目数的筛筛分后的筛余量小于某给定值。如果不指明筛余量“目”的含义是模糊的,给沟通带来不便。2、显微镜法(microscopic method):显微镜法测量的样品量极少,取样和制样时,要保证样品有充分的代表性和良好的分散性。样品制备后即可用显微镜一个一个测定颗粒,求出统计平均径;测定的颗粒数一般需几百个以上才有意义。光学显微镜测量时,常在目镜中插入一块刻有标尺或几何图形的玻片,由人眼通过目镜直接观测;或将显微镜的颗粒图像/照片投影到一个备有标尺或几何图形的屏幕上,通过对比确定粒度。3、库尔特计数法(coulter counter method):将被测粉体分散在电解质溶液中,在该导电液中置一开小孔的隔板,并将两个电极分别于小孔两侧插入导电液中。在压差作用下,颗粒随导电液逐个通过小孔。每个颗粒通过小孔时产生的电阻变化表现为与颗粒体积或直径成正比的电压脉冲。4、沉降法(sedimentation method)重力沉降法特点:适合测量不大(50?8?6m )不小(1?8?6m)的粒子。离心沉降法特点:与重力沉降法相比,离心沉降时间减小。可测小粒径粒子,粒子尺寸下限一般为0.1m两种沉降法都只能测相同密度的粒子;重复性好。
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  • 纳米粒径及Zeta电位分析仪Nicomp Z3000介绍 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪采用先进的设计理念优化结构设计,充分有效地融合了动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和电泳光散射(ELS)技术,即可以多角度(步长0.9μm )检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围:粒度测试范围:0.3 nm – 10 μm。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪通过检测分析胶体颗粒的电泳迁移率测量Zeta电位。Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量,是表征胶体分散系稳定性的重要指标,Zeta电位(正或负)越高,体系越稳定。Zeta电位表征的是粒子之间的排斥力。由于大部分的水相胶体体系是通过粒子之间的静电排斥力来保持稳定的,粒子之间的排斥力越大,粒子越不容易发生聚集,胶体也会越稳定。NICOMP 380 Z3000结合了动态光散射技术(DLS)和电泳光散射法(ELS),实现了同机测试纳米粒子分布和Zeta电势电位。 应用行业:磨料、化学机械抛光液、陶瓷、粘土、涂料、污染监测、化妆品、乳剂、食品、液体工作介质/油、墨水、 乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO_2纳米管(TNAs)等 自动滴定仪NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪在增加自动滴定模块后,可以一次性使用同一样品在不同PH值或不同离子浓度的条件下进行一系列测试,实现了在等电点测试的技术难题。 相位分析光散射法PALS(Phase Analyze Light Scattering)技术PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术,用相位(Phase)变化的分析取代原 先频谱的漂移,不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高,而且突破了水相体系的限制,对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。NICOMP 380 Z3000 纳米粒径与电位分析仪特点同机测试悬浮液体的粒径分布以及ZETA电势电位Zeta电位运用了多普勒电泳迁移原理以及zui新的相位分析散射法可以测试水相和有机相的样品检测范围宽广,亚微米颗粒均可以被检测样品测试量小高辨析率结果重现性好,误差小于1%100 % 样品可回收li用可搭载自动滴定仪, 自动稀释器和自动进样器无须校准一次性进样,避免交叉污染样品可选配大功率激光发生器以及jun品级APD雪崩二极管检测器来检测粒径小于1nm的颗粒 技术参数:粒径检测范围粒度分析:0.3 nm - 10 μmZeta电位检测范围粒度0.3 nm-100 μm分析方法粒径:动态光散射,Gaussian 单峰算法和 Nicomp 无约束自由拟合多峰算法;电位:电泳光散射(ELS)技术和相位分析光散射法pH值范围2 - 12温度范围0℃ - 90 ℃激光光源(可选)5 mW氦氖光源;15 mW, 35 mW,50 mW激光光源;100 mW激光光源(红);20 mW,50 mW,100 mW激光光源(蓝/绿)检测角度(可选)90°或 多角度(10°- 175°,可选配)检测器(可选)PMT(光电倍增管),CMP(4倍增益放大)APD雪崩二极管(7倍增益放大)高浓度样品背散射175°背散射可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池(1cm×4cm,高透光,石英玻璃或塑料);1mL样品池(玻璃,高透光率微量样品池,zui小进样量10μL)选配模块高浓度背散射;自动稀释模块,自动进样器,多角度检测器,高能激光发生器,高增益检测器,21CFR PART11规范软件,在线模块。分析软件Windows 兼容软件;符合 21 CFR Part 11 规范分析软件(可选)验证文件有电压220 - 240 VAC,50Hz 或100 - 120 VAC,60Hz计算机配置要求Windows XP及以上版本windows操作系统,40Gb硬盘,1G内存,光驱,USB接口,串口(COM口)外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg(与配置有关)电泳光散射法(ELS)与粒子的动电(Zeta)电位: ELS 是将电泳和光散射结合起来的一种新型光散射。它的光散射理论基础是 准弹性碰撞理论,只是在实验时在式样槽中多加一个外电场,带电粒子即以固定 速度向与带电粒子电性相反的电极方向移动,与之相应的动力光散射光谱产生多普勒漂移,这一漂移正比于带电粒子的移动速度,因此实验测得谱线的漂移,就 可以求得带电粒子的电泳速度,从而求得ζ-电位。相位分析光散射法PALS(Phase Analyze Light Scattering)技术PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术,用相位(Phase)变化的分析取代原 先频谱的漂移,不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高,而且突破了水相体系的限制,对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。动态光散射原理 Nicomp 380纳米粒径分析仪采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理来获得范围在0.3 nm到10 μm的胶体体系的粒度分布。DLS是通过一定波长的聚焦激光束照射在悬浮于样品溶液的粒子上面,从而产生很多的散射光波。这些光波会互相干涉从而影响散射强度,散射强度随时间不断波动,二者之间形成一定的函数关系。粒子的扩散现象(或布朗运动)导致光强不断波动。光强的变化可以通过探测器检测得到。使用自相关器分析随时间而变的光强波动就可以得到粒度分布系数(Particle size distribution, PSD)。单一粒径分布的自相关函数是一个指数衰减函数,由此可以很容易通过衰减时间计算得到粒子扩散率。zui终,粒子的半径可以很容易地通过斯托克斯(Stokes-Einstein)方程式计算得到。如下是Nicomp 380纳米粒径分析仪的检测原理简图: 大部分样品一般都不均匀,往往会呈现多分散体系状态,即测出来的粒径正态分布范围会比较大,直观的呈现是粒径分布峰比较宽。自相关函数是由多组指数衰减函数综合组成,每一个指数衰减函数都会因指数衰减时间不同而存在差异,此时计算自相关函数就变得不再简单。Nicomp 380纳米粒径分析仪巧妙运用了去卷积算法来转化原始数据,从而得出zui接近真实值的粒度分布。Nicomp 尤其适合测试粒度分布复杂的样品体系,li用一组独特的去卷积算法将简单的高斯正态分布模拟成高分辨率的多峰分布模式,这种去卷积分析方法,即得到PSS粒度仪公司独有的粒径分布表达方法—Nicomp分布(Nicomp Distribution)。有些仪器的高斯分析模式可以使用基线调整参数的功能,以此来补偿测试环境太脏而超出仪器灵敏度的问题。高斯分析模式也可以允许使用者指定“固体重量模式”或者“囊泡重量模式”来分析带有小囊泡的胶体体系,比如脂质体。Nicomp分析方法是一种专li的高分辨率的去卷积算法,它首次在1990年提出并应用于分析和统计粒径分布。在历史上已经证明Nicomp分析方法能够精确分析非常复杂的双峰样品分散体系(比如 2:1比例),甚至是三峰样品分散体系。在科学研究中,找到粒子聚集分布的杂峰是非常有用的。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪广泛适用于检测悬浮在水相和有机相的颗粒物。
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  • 颗粒表面特性分析仪 400-860-5168转0927
    颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS---有效避免测量颗粒表征错误在分析复杂固-液和液-液配方时,传统的粒度测量方法是基于2个假设,第一个假设是所有颗粒都是球形和光滑的,但球形和光滑的颗粒在大多数工业材料中很少出现;第二个假设是粒子总是均匀一致的,这也并不准确。由于这些错误的假设,测量粒径和颗粒表面积可能会产生误导,从而导致后续工艺和使用过程中的出现误差。德国ORONTEC公司研发的颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS使用核磁共振NMR技术直接测量颗粒大小和形状,避免高成本的错误,具有以下的功能:●轻松区分大小相同但表面或形状不同的产品;●可以显示相同材料表面化学成分的差异得益于这些功能,MagnoMeter XRS能够为任何行业在配方或者制造过程的任何阶段提供一流的功能和分析性能。颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS操作简单?无需样品制备:所有技术相关和行业相关的浓度均可直接测量,无需稀释?占用空间小:具有许多MagnoPod和控制模块的配置选项?测量实时进行:根据不同的样品,测量结果在1s内或最迟2min后得出?颗粒测量新技术:MagnoMeter XRS 为传统粒度测量、zeta 电位、BET 气体吸附和汞孔隙率测定分析提供了一种补充技术。颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS优点?颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS没有移动部件,不需要光学校准,通过简单的插件设置即可开始测量?温度控制MagnoPod与控制模块隔离,消除电子和热干扰?一个控制模块可以操作多个磁控振荡器,是隔离危险样品的理想选择?允许在空浓度范围内进行直接样品测量,具有出色的信噪比?可以用标准核磁共振管操作颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS适用领域颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS的用途非常广泛,无论是在研发、质量控制和保证方面,还是在过程控制实验室测量速度和可靠性方面,颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS都是一种高效的工具,广泛运用在以下的领域:?来料的质量控制?中间制造过程监控?成品质量保证?产品保质期确定客户举例欧洲分散技术中心The European Center for Dispersion Technologies(EZD)使用颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS进行颗粒表征分析。翁开尔是德国ORONTEC中国总代理,欢迎致电【400-6808-138】咨询更多关于颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS产品信息,技术应用和客户案例。
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  • 颗粒实时原位表征-看见、测量颗粒梅特勒托利多公司提供的EasyViewer100是一款探头式图像工具,可以实时在线采集过程中晶体、颗粒与液滴的高分辨率图像。它能在线追踪颗粒及液滴的粒度、粒数及形状的变化。超薄,智能控制聚焦和即插即用连接的设计,EasyViewer可以实现无人值守下在更小的尺度下轻松地捕捉图像。当与一款易操作的图像分析软件iC-Vision结合使用时,EasyViewer将成为一个强大的颗粒粒度分析工具,可以实时监测过程变化和量化颗粒尺寸与形貌。帮助科学家和工程师实时测量颗粒和液滴的粒径、形貌,从而快速决策与过程开发。EasyViewer在原位条件下,实时在线追踪颗粒和液滴的变化情况,而不需要取样和制样。能提供实时在线、高固含量的粒径和粒数、形貌信息。适用于固-液,液-液及固-气等体系下的粒子监测。并能适应不同温度、压力和化学环境的要求。仪器特点/功能:1) 实时在线的、安装简便的探头式系统;2) 能在各固相或分散相的浓度中测量;3) 在两相界面提供多个选定粒径范围内的粒径、粒数与形貌信息4) 既能对默认或选定粒径范围(如:小颗粒范围或大颗粒范围)粒子的变化情况进行高精度、高灵敏度的实时监测,也能对重要的动力学研究提供的早期的监测诊断5) 通过粒径、晶形、粒数、浊度等指纹式信息能有效表征间歇反应的实验终点6) 结合iC Vision图像分析软件,将成为强大的颗粒粒度分析工具7) 在短时间内就能获得实用性强、附加值高的数据信息8) 哈氏合金材料,耐酸碱,耐化学腐蚀技术参数:观测范围:1mm × 1mm精度:1.5um光纤长度:3m(标准);13m(带USB延长线)重量:0.66kg[包含探头与光纤]探头温度范围:-20oC-135oC压力:0-10bar材料:哈氏合金 C22应用领域:广泛应用于结晶/沉淀、絮凝、分散、乳液等方面。该颗粒测量仪既能用于学术研究,也可用于实验室过程开发。
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  • TSI NanoScan SMPS纳米颗粒粒径谱仪型号3910 产品应用NanoScan SMPS&trade 适用于多种领域,包括:&blacksquare 一般的应用研究&blacksquare 职业*生/ 工作场所暴露监测&blacksquare 室内/ 室外空气质量研究&blacksquare 纳米技术/ 纳米粒子应用&blacksquare 燃烧/ 排放的研究&blacksquare 移动源研究&blacksquare 健康影响/ 吸入*理学&blacksquare 点源识别 特性和优点可低至 10nm 的粒度分布:&blacksquare 两种测量模式:&blacksquare 扫描:实时的粒径分布&blacksquare 单一粒径技术:单一粒径颗粒浓度监测&blacksquare 1 分钟时间分辨率 粒径分布检测 1 秒分辨率的单一粒径浓度数据&blacksquare 操作简单,单机操作&blacksquare 内置数据存储&blacksquare 小型并且便于携带&blacksquare 约6 小时的电池供电能力,可热插拔的可充电电池&blacksquare 浓度高达 1,000,000 粒子/cm3&blacksquare NanoScan 数据管理软件包&blacksquare 无放射性物质 技术参数测量模式扫描 - 粒度分布单颗粒 - 单一粒径颗粒浓度监测粒径范围10 至 420 纳米粒径通道13测量时间60 秒(45 秒上扫,15 秒回扫), 粒度分布 1 秒, 单一粒径技术模式粒子浓度1,000,000 个/cm3流量0.75lpm ± 20% 进口 0.25lpm ±10% 样品冷凝液分析纯 (99.5% 或更高) 异丙醇注液系统溶液机芯 [~8 小时运作 @ 21°C(70°F)] 可选外置瓶零点计数≤0.01 个/cm3数据存储选项3 ~ 8 天, 内置存储器, 可选 USB 存储驱动器显示彩色触摸屏通信USB预热时间15 分钟真空源内置
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  • EDM 665 宽粒径气溶胶粒径谱仪&bull 仪器简介EDM665 WRAS(Wide Range Aerosol System)宽粒径气溶胶粒径谱仪,是将光学粒径谱(OPC)和扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS+C)结合起来分析颗粒物粒径的设备,光学粒径谱(OPC)主要用于微米级的颗粒的监测,监测31个通道;扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS+C)用于纳米颗粒研究,监测44个通道。粒径监测范围为5nm到32μm,共分为70多个通道,系统软件将自动绘制粒径和浓度分布图。系统带有自动采样、干燥除湿系统,可在无人监管条件下连续监测长达1月。可安装GPS和无线传输系统。。&bull 仪器优势&bull 宽范围,5.0nm ~ 32μm,71个粒径通道&bull 浓度范围1 ~ 107P/cm3&bull 独立监测系统,全自动,可长期无人监守工作&bull 48cm仪器固定架&bull SMPS,CPC,软件,在线实时监测,远程控制, GPS,认证,可靠稳定。&bull 仪器应用&bull 环境研究&bull 气溶胶研究&bull 移动气溶胶研究&bull 路旁监测&bull 引擎排放研究&bull 健康效应研究&bull 性能参数&bull SMPS+C测量原理静电分类和冷凝生长检测粒径范围M–DMA (5 – 350 nm) L–DMA (10 – 1094 nm)最小扫描时间150s浓度范围107 p/cm3采样流量0.3 L/min&bull 光学设备粒径范围250nm – 32μm粒径浓度1 ~ 2×103P/cm3采样流量1.2 L/min可重复性3%最大量程&bull 电源110 – 220 VAC, 50 – 60 Hz&bull 功率100 – 150 W&bull 温度范围- 20 to + 40°C (- 4 to 104°F), RH 95%&bull 尺寸(LWH)49 x 28 x 65 cm (19.3 x 11 x 25.6 in)&bull 重量38 kg
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