量子点发射

场发射透射电子显微镜TH-F120 TH-F120取名源自中华名山“太行”（TH），寓意TH-F120将如太行山一样成为中国透射电镜产业的脊梁。产品特点肖特基场发射电子枪平行束/会聚束自适应切换照明系统对称式极靴、恒功率物镜 （高衬度/高分辨模式可选）高像素CMOS相机四轴高精度样品台全中文软件交互界面产品优势人机分离电镜空间与工作空间分离，减少人为干扰，提升安全性，带来舒适的使用体验高效操作各模块控制高度集成至PC端，全中文软件交互界面一目了然，提升操作效率越级体验将场发射电子枪、高自动化系统等配置120 kV平台，入门即高配丰富拓展预设充足的附件加装接口以及整机升级空间，满足用户使用新需求，有效应对多样的应用场景产品参数 高衬度版高分辨版加速电压10～120 kV10～120 kV信息分辨率0.20 nm0.14 nm点分辨率0.36 nm0.30 nm放大倍率10～1,200,000 x10～1,500,000x主相机像素4096×40964096×4096样品台倾转角-90 °~+90 °-70 °~+70 °支持拓展EDS、STEM、侧插式相机、EELS、插入式冷冻盒

场发射扫描电子显微镜SEM4000ProSEM4000Pro是一款分析型热场发射扫描电子显微镜，配备了高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪。三级磁透镜设计，束流最大可达200 nA，在EDS、EBSD、WDS等应用上具有明显优势。标配低真空模式，以及高性能的低真空二次电子探测器和插入式背散射电子探测器，可观察导电性弱或不导电样品。标配的光学导航模式，以及直观的操作界面，让您的分析工作倍感轻松。产品特点 配备高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪分辨率高，30kV下优于0.9nm的极限分辨率三级磁透镜设计，束流可调范围大，最大支持 200 nA 的分析束流标配低真空模式，以及高性能的低真空二次电子探测器和插入式背散射电子探测器无漏磁物镜设计，可直接观察磁性样品标配的光学导航模式，中文操作软件，让分析工作更轻松应用案例产品参数关键参数高真空分辨率0.9 nm @ 30 kV，SE低真空分辨率2.5 nm @ 30 kV，BSE，30 Pa1.5 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa加速电压200 V ~ 30 kV放大倍率1 ~ 1,000,000 x电子枪类型肖特基热场发射电子枪样品室真空系统全自动控制低真空模式最大180 Pa摄像头双摄像头（光学导航+样品仓内监控）行程X=110 mm，Y=110 mm，Z=65 mmT: -10°~+70°，R: 360°探测器和扩展标配旁侧二次电子探测器（ETD）低真空二次电子探测器（LVD）插入式背散射电子探测器（BSED）选配能谱仪（EDS）背散射衍射（EBSD）插入式扫描透射探测器（STEM）样品交换仓轨迹球&旋钮控制板软件语言中文操作系统Windows导航光学导航、手势快捷导航自动功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散

场发射扫描电子显微镜SEM5000Pro产品介绍 SEM5000Pro是一款分辨率高、功能丰富的场发射扫描 电子显微镜。先进的镜筒设计，高压隧道技术(SuperTunnel)、 低像差无漏磁物镜设计，实现了低电压高分辨率成像，同时磁 性样品可适用。光学导航、完善的自动功能、精心设计的人机 交互，优化的操作和使用流程，无论经验是否丰富，都可以快 速上手，完成高分辨率拍摄任务。电子枪类型 肖特基场发射电子枪加速电压 20V ~ 30 kV分辨率 0.8 nm @ 15 kV, SE 1.2nm @ 1 kV, SE 样品台 五轴全自动样品台放大倍率 1 ~ 2,500,000 x产品特点分辨率高，低加速电压下实现高分辨成像高压隧道技术(SuperTunnel) ，在隧道中的电子能保持高能量，减少了空间电荷效应，低电压分辨率得到保证电磁复合物镜，减小像差，显著提高低电压下的分辨率，而且可观察磁性样品电子光路无交叉，有效的降低系统像差，提升分辨能力水冷恒温物镜，保证物镜工作的稳定性、可靠性和可重复性磁偏转六孔可调光阑，自动切换光阑孔，无需机械调节，实现高分辨率观察或大束流分析模式快速切换应用领域规格参数关键参数分辨率0.8 nm @15 kV,SE1.2 nm @1.0 kV,SE加速电压20V~30 kV放大倍率1~2,500,000x电子枪类型肖特基场发射电子枪样品室真空系统全自动控制摄像头双摄像头(光学导航+样品仓内监控)样品台行程X=110mm,Y=110 mm,Z=50 mm T:-10°~+70°,R:360°探测器和扩展标配镜筒内电子探测器旁侧二次电子探测器(ETD)选配插入式背散射电子探测器(BSED)插入式扫描透射探测器(STEM)能谱仪(EDS)背散射衍射(EBSD)样品交换仓轨迹球&旋钮控制板软件语言中文操作系统Windows导航光学导航、手势快捷导航自动功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散

SEM5000X是一款超高分辨率场发射扫描电子显微镜，其分辨率达到了突破性的0.6 nm@15 kV和1.0 nm@1 kV。高分辨物镜设计、高压隧道技术（SuperTunnel）以及镜筒工艺升级，实现了低电压分辨率的进一步提升。全新设计的样品仓，扩展接口增加至16个，快速换样仓最大支持8寸晶圆（最大直径208 mm），极大扩展应用范围。高级扫描模式和自动功能增强，带来了更强的性能和更好的体验。产品优势超高分辨率成像，达到了突破性的0.6 nm@15 kV和1.0 nm@1 kV样品台减速和高压隧道技术组合的双减速技术，挑战极限样品拍摄场景高精度机械优中心样品台、超稳定性的机架减震设计，可搭配整体罩壳设计，极大减弱环境对极限分辨率的影响最大支持8寸晶圆(最大直径208 mm)的快速换样仓，满足半导体和科研应用需求应用案例产品参数

产品说明、技术参数及配置ICP-3000电感耦合等离子体发射光谱仪是天瑞仪器公司经多年技术积累开发出的一款性能优异的全谱直读型光谱仪，用于测定不同物质（可溶解于盐酸、硝酸、氢氟酸等）中的微量、痕量元素含量。自动化程度高，操作简便，稳定可靠。目前仪器广泛应用于稀土、地质、冶金、化工、环保、临床医药、石油制品、半导体、食品、生物样品、刑事科学、农业研究等各个领域。性能优势全自动化设计整台仪器除了电源开关，仪器所有功能都通过计算机控制，可靠、安全、方便。蠕动泵蠕动泵为十二转子四通道全自动设计，蠕动泵转速可根据需求流量设置调节；通过蠕动泵平稳进样和排除废液，确保进样速度与废液排除速度一致，客户可以根据需要适当调节速度，确保进样系统稳定。气体流量自动控制进样系统中，载气、等离子气、辅气均采用先进的质量流量控制器（MFC）来控制，具有流量连续可调、流量稳定等优点，确保了进样系统的稳定，为光源的稳定奠定了坚实的基础。稳定先进的全固态射频电源仪器采用的射频电源为天瑞仪器自主研发的全固态射频电源，具有体积小、效率高、输出功率稳定、带有各种保护功能等诸多优点，进一步提高了仪器的稳定性与安全性。快速准确的全自动匹配功能负载终端采用天瑞仪器自主研发的全自动匹配技术，具有匹配速度快、精度高等优点，确保了输出功率大限度地加予负载，提高了电源的使用效率，从而提高仪器的稳定性，并使得整个点火过程简单方便。先进的进样系统进样系统高效、稳定，可配备国内外各种雾化器、雾化室，可以配备高盐雾化器、耐氢氟雾化器等，满足客户的各种需求；同时天瑞自主研发的自动进样器让测试操作更加便捷，进一步提高测试效率。独特精密的光学系统采用中阶梯光栅-棱镜交叉色散方式，专业的光学优化设计使得光通量大化的同时保证了优异的光谱分辨率；无任何移动光学元件，保证了良好的长期稳定性；超低杂散光设计配合独特的光学设计，大大降低了背景光的干扰，进一步提高检出限；高效的氮气分布式吹扫光室配合高品质的光学元件保证了深紫外区特别是P、S、As等元素的测量。精准的波长定位智能精确的自动波长校准算法，无需进行额外的谱峰校正即可进行测量，保证准确测量的同时节约大量的标液和测量时间。性能优异的探测器采用大尺寸CID探测器，先进、成熟、稳定；大靶面尺寸，百万级像素；165-900nm范围连续覆盖，一次曝光，全谱显示；非破坏性读取(NDRO) 功能，改善了弱分析线的信噪比，提高了结果的准确性，并且数据采集与分析均优于CCD； 极佳的线性动态范围和与生俱来的抗溢出功能确保任意强弱的谱线可在一次曝光内测量并进行分析，同时为方法选择理想波长提供了灵活性（可选第二、第三或更次灵敏线来排除干扰）。超快的测试速度各分析谱线可以在曝光时间内设置任意合适的积分时段来实现测量的优化；可以一次曝光读出所有分析谱线的强度积分值加快分析速度；还可以指定谱线独立读出，读出时间不超过2ms。强大的软件分析功能软件操作方便、直观，具有定性、半定量、定量分析功能，具有仪器诊断优化功能，灵活的全谱研究功能，强大的离线再处理功能，具有科学智能的背景校正、去除干扰的算法功能，让测试变得更加专业与准确。技术参数射频发生器技术指标输入电源：交流220V，电流20A输出功率：700~1600W调节精度：2W工作频率：27.12MHz频率稳定性：＜0.05%输出功率稳定性：＜0.1%匹配方式：自动匹配电磁场泄漏辐射强度：距机箱30cm处电场强度E：＜0.5V/m进样装置技术指标输出工作线圈：内径25mm、3匝三同心石英炬管：外径20mm；根据中心通道大小有多种型号可选高效进口雾化器：同心型雾化器，外径6mm ；多型号可选，高盐、耐HF等雾化室：双筒型雾化室，可以选配旋流式雾化室，外径57.2mm蠕动泵：十二转子四通道，转速可根据需求流量设置调节（即根据进样速度设定，直观，准确）总氩气消耗量：氩气总消耗量小于14L/min氩气流量计和载气压力表规格：1.等离子气流量计（100~1000）L/h (1.6~16L/min)2.辅助气流量计（6~60）L/h (0.1~1L/min)3.载气流量计（6~60）L/h (0.1~1L/min)4.载气稳压阀（0.2MPa）5.冷却水：水温20~25℃ 流量5L/min 水压0.1MPa分光器技术指标光栅：中阶梯光栅，52.67 lp/mm，64闪耀角，采用德国肖特公司热膨胀系数接近于零的Zerodur材料做基底，性能更出众棱镜：超纯康宁紫外熔融石英，在170nm处内透过率99.6%波长范围：165nm~900nm焦距：430mm数值孔径：F/8，超高的光通量保证仪器的检出限和灵敏度分辨率：0.0068nm@200nm杂散光：10000ppmCa 溶液在As189.042nm处的等效背景浓度2ppm光室：精密恒温，35±0.1℃分布式氮气吹扫，正常吹扫2L/min，快速吹扫4L/min检测装置技术指标检测器类型：电荷注入式检测器（CID）靶面尺寸：27.6mm×27.6mm，1024×1024寻址检测单元读取方式：非破坏性读取(NDRO) ，全幅读取（FF）和任意读取积分（RAI）线性动态范围：108波长响应范围：165nm~1000nm电子快门：单独设置各谱线的积分时间；可指定谱线独立读出，读出时间＜2ms量子效率：无任何镀膜，200nm紫外区可达35％以上检测器冷却：高效三级半导体制冷，制冷温度-45℃仪器技术指标观测方式：垂直观测液体含量：0.01ppm~几千ppm固体含量：0.001%~70%重复性：（即短期稳定度）相对标准偏差RSD0.5%稳定性：相对标准偏差RSD1% @2小时测试速度：单个谱线CID读出时间仅需2ms，一分钟内可实现所有元素的测量元素检出限（μg/L）：大部分元素1ppb~10ppb仪器尺寸：台式1300mm*840mm*740mm应用领域1.硅工业：磁性材料加工行业2.冶金工业：可分析对金属材料质量影响很大的As、Bi、Pb、Sb、Sn等杂质元素3.水质分析：可检测水质污染的八大重金属等元素4.地质、矿石分析：岩石样品中Ca、Mg、Na、Fe、Cu、Mn、Zn、Co、Ni、Au、Ag等元素的测定5.石油化工和轻工领域的应用：测试原油中的30多种元素，主要有Fe、Na、Mg、Ni、V、Ca、Pb、Mo、Mn、Cr、Co、Ba、As等6.医疗、卫生、农业环保、商品、食品质量检测

ICP-3000电感耦合等离子体发射光谱仪是天瑞仪器公司经多年技术积累开发出的一款性能优异的全谱直读型光谱仪，用于测定不同物质（可溶解于盐酸、硝酸、氢氟酸等）中的微量、痕量元素含量。自动化程度高，操作简便，稳定可靠。目前仪器广泛应用于稀土、地质、冶金、化工、环保、临床医药、石油制品、半导体、食品、生物样品、刑事科学、农业研究等各个领域。性能优势全自动化设计整台仪器除了电源开关，仪器所有功能都通过计算机控制，可靠、安全、方便。蠕动泵蠕动泵为十二转子四通道全自动设计，蠕动泵转速可根据需求流量设置调节；通过蠕动泵平稳进样和排除废液，确保进样速度与废液排除速度一致，客户可以根据需要适当调节速度，确保进样系统稳定。气体流量自动控制进样系统中，载气、等离子气、辅气均采用先进的质量流量控制器（MFC）来控制，具有流量连续可调、流量稳定等优点，确保了进样系统的稳定，为光源的稳定奠定了坚实的基础。稳定先进的全固态射频电源仪器采用的射频电源为天瑞仪器自主研发的全固态射频电源，具有体积小、效率高、输出功率稳定、带有各种保护功能等诸多优点，进一步提高了仪器的稳定性与安全性。快速准确的全自动匹配功能负载终端采用天瑞仪器自主研发的全自动匹配技术，具有匹配速度快、精度高等优点，确保了输出功率大限度地加予负载，提高了电源的使用效率，从而提高仪器的稳定性，并使得整个点火过程简单方便。先进的进样系统进样系统高效、稳定，可配备国内外各种雾化器、雾化室，可以配备高盐雾化器、耐氢氟雾化器等，满足客户的各种需求；同时天瑞自主研发的自动进样器让测试操作更加便捷，进一步提高测试效率。独特精密的光学系统采用中阶梯光栅-棱镜交叉色散方式，专业的光学优化设计使得光通量大化的同时保证了优异的光谱分辨率；无任何移动光学元件，保证了良好的长期稳定性；超低杂散光设计配合独特的光学设计，大大降低了背景光的干扰，进一步提高检出限；高效的氮气分布式吹扫光室配合高品质的光学元件保证了深紫外区特别是P、S、As等元素的测量。精准的波长定位智能精确的自动波长校准算法，无需进行额外的谱峰校正即可进行测量，保证准确测量的同时节约大量的标液和测量时间。 性能优异的探测器采用大尺寸CID探测器，先进、成熟、稳定；大靶面尺寸，百万级像素；165-900nm范围连续覆盖，一次曝光，全谱显示；非破坏性读取(NDRO) 功能，改善了弱分析线的信噪比，提高了结果的准确性，并且数据采集与分析均优于CCD； 极佳的线性动态范围和与生俱来的抗溢出功能确保任意强弱的谱线可在一次曝光内测量并进行分析，同时为方法选择理想波长提供了灵活性（可选第二、第三或更次灵敏线来排除干扰）。超快的测试速度各分析谱线可以在曝光时间内设置任意合适的积分时段来实现测量的优化；可以一次曝光读出所有分析谱线的强度积分值加快分析速度；还可以指定谱线独立读出，读出时间不超过2ms。强大的软件分析功能软件操作方便、直观，具有定性、半定量、定量分析功能，具有仪器诊断优化功能，灵活的全谱研究功能，强大的离线再处理功能，具有科学智能的背景校正、去除干扰的算法功能，让测试变得更加专业与准确。技术参数射频发生器技术指标输入电源：交流220V，电流20A输出功率：700~1600W调节精度：2W工作频率：27.12MHz频率稳定性：＜0.05% 输出功率稳定性：＜0.1%匹配方式：自动匹配电磁场泄漏辐射强度：距机箱30cm处电场强度E：＜0.5V/m进样装置技术指标输出工作线圈：内径25mm、3匝三同心石英炬管：外径20mm；根据中心通道大小有多种型号可选高效进口雾化器：同心型雾化器，外径6mm ；多型号可选，高盐、耐HF等雾化室：双筒型雾化室，可以选配旋流式雾化室，外径57.2mm 蠕动泵：十二转子四通道，转速可根据需求流量设置调节（即根据进样速度设定，直观，准确）总氩气消耗量：氩气总消耗量小于14L/min氩气流量计和载气压力表规格：1.等离子气流量计（100~1000）L/h (1.6~16L/min) 2.辅助气流量计（6~60）L/h (0.1~1L/min) 3.载气流量计（6~60）L/h (0.1~1L/min)4.载气稳压阀（0.2MPa）5.冷却水：水温20~25℃ 流量5L/min 水压0.1MPa分光器技术指标光栅：中阶梯光栅，52.67 lp/mm，64闪耀角，采用德国肖特公司热膨胀系数接近于零的Zerodur材料做基底，性能更出众棱镜：超纯康宁紫外熔融石英，在170nm处内透过率99.6%波长范围：165nm~900nm焦距：430mm数值孔径：F/8，超高的光通量保证仪器的检出限和灵敏度分辨率：0.0068nm@200nm杂散光：10000ppmCa 溶液在As189.042nm处的等效背景浓度2ppm光室：精密恒温，35±0.1℃分布式氮气吹扫，正常吹扫2L/min，快速吹扫4L/min检测装置技术指标检测器类型：电荷注入式检测器（CID）靶面尺寸：27.6mm×27.6mm，1024×1024寻址检测单元读取方式：非破坏性读取(NDRO) ，全幅读取（FF）和任意读取积分（RAI）线性动态范围：108波长响应范围：165nm~1000nm电子快门：单独设置各谱线的积分时间；可指定谱线独立读出，读出时间＜2ms量子效率：无任何镀膜，200nm紫外区可达35％以上检测器冷却：高效三级半导体制冷，制冷温度-45℃仪器技术指标观测方式：垂直观测液体含量：0.01ppm~几千ppm固体含量：0.001%~70%重复性：（即短期稳定度）相对标准偏差RSD0.5%稳定性：相对标准偏差RSD1% @2小时测试速度：单个谱线CID读出时间仅需2ms，一分钟内可实现所有元素的测量元素检出限（μg/L）：大部分元素1ppb~10ppb仪器尺寸：台式1300mm*840mm*740mm应用领域1.硅工业：磁性材料加工行业2.冶金工业：可分析对金属材料质量影响很大的As、Bi、Pb、Sb、Sn等杂质元素3.水质分析：可检测水质污染的八大重金属等元素4.地质、矿石分析：岩石样品中Ca、Mg、Na、Fe、Cu、Mn、Zn、Co、Ni、Au、Ag等元素的测定5.石油化工和轻工领域的应用：测试原油中的30多种元素，主要有Fe、Na、Mg、Ni、V、Ca、Pb、Mo、Mn、Cr、Co、Ba、As等6.医疗、卫生、农业环保、商品、食品质量检测

SHAW SDT-Ex是一种紧凑的、3线、4-20mA的露点发射器，设计用来满足严格工业应用的要求。SDT-Ex 本质安全认证，符合 ATEX II I GD Ex ia IICT4 Ex ia D20 T135 °C (-20 °C ≤Ta+60 °C) 使用信号隔离器用于危险区域。结合了先进的电子设备，SDT-Ex供电为7-28V直流非隔离电源，配置输出一个线性、 隔离的,4 - 20 mA 信号，最大传输距离达1000米。利用超高电容SHAW露点传感器，不同露点范围覆盖从 -100 °C to +20°C ，4-20mA输出，可配置以 °C , °F , ppm(v), g/m3 and lbs/MMscf 为单位。这个样品单元包含坚固的外壳，提供 IP66/NEMA 4X级的防风雨保护。SDT-Ex随机提供了校准证书，可追溯到国家和国际湿度标准，说明手册，2米线缆。特点：3 线, 24 V, 4 - 20 mA 露点发射器本质安全： ATEX II I GD Ex ia IIC T4多测量范围: 覆盖 -100 °C to +20 °C 露点输出配置单位 ：°C 露点, °F 露点,ppm(v), g/m3和 lbs/MMscf精度： ±2 °C 露点 (±3.6 °F)防风雨等级： IP66/NEMA 4X开路/短路检测4 - 20 mA 线性信号输出自带包装, 坚固 、可靠提供校准证书可追溯至国家和国际湿度标准

昕虹光电推出了为高功率、大电流QCL芯片（中心波长大于9.5μm）而全新设计的QC-Qube Plus量子级联激光发射头，尺寸为70×90×70mm3的激光铝合金屏蔽散热模组中，集成了高质量进口QCL激光芯片、大功率TEC、低噪声风扇和输出光束准直透镜组。更好的适应中远红外激光在较大的电流下的应用和更精确的控温。配合昕虹QC-2000驱动器，可以快速搭建一套基于QCL的激光发射光源，开箱即用，上手方便。产品特点&bull 专为高功率、大电流QCL芯片设计&bull 单模输出光功率可达150mW，多模可达数百mW*&bull 极低光干涉条纹的准直光束&bull 集成大功率半导体 TEC ，强劲制冷能力*注：最终激光功率取决于激光芯片指标，昕虹光电对最终功率保留解释结构尺寸(单位: mm)

技术介绍：系统采用双传感器设计，可在石墨盘旋转同时进行整个石墨盘的漫反射率、镜面反射率及发射率二维分布Mapping 测量；原理用途：物体的发射率与物体的表面状态(包括物体表面温度、表面粗糙度、面形以及表面氧化层、涂层、缺陷、残留物、表面杂质等)有关。所以，通过对石墨盘各个点发射率的测量可以直接反映出石墨盘表面肉眼难以观测到的表面细节，同时基于黑体辐射原理进一步评估石墨盘表面温度的分布情况。这对有效控制器件的质量，以及优化生长工艺有帮助。技术指标及特点：1. 扫描尺寸：700mm；2. 适配石墨盘：大部分商用石墨盘；3. 扫描分辨率：径向分辨率0.05mm，角度分辨率0.1°，用户可自定义；4. 扫描时间：10 分钟（465mm 尺寸的石墨盘，以径向1mm，角度0.1°测量）；5. 测量光点尺寸：2mm6. 光源波长：940nm 或660nm（可选）；7. 镜漫反射率分辨率：±0.005；镜漫反射率准确度：±0.01；发射率分辨率：±0.01；发射率准确度：±0.02；8. 系统为离线测量设备，便于石墨盘的装卸。软件操作简单，专为操作员及工程师设计；

QCL发射模块（含QCL）海尔欣推出国内首台一体化量子级联激光模组，内部集成了高质量进口QCL芯片、TEC温控、输出光准直及辅助对准红光等模块，配合昕虹QCL温控和电流集成驱动模块产品，即可组成一套完整QCL发射光源。安装设置非常简单，上手方便，维护成本超低，可帮助用户快速完成基于QCL的光源系统的搭建。&bull 集成QCL芯片、TEC温控、输出光准直及辅助对准红光等模块&bull 进口室温连续输出 (CW) 半导体QCL芯片，波长3–12微米可选&bull DFB单模输出光功率可达50mW以上，FP多模光功率可达100mW&bull 可选输出光准直，含共轴辅助对准红光&bull 标准空气制冷&bull 工业标准DB9驱动连接头，设置简单，一键开启结构尺寸(单位: mm)接口定义测试报告（样本）图 1. 波数（波长） VS 驱动电流 & 温度图 2. LIV曲线及光斑质量

海尔欣光电推出了全新设计的 QC-Qube&trade 迷你全功能量子和带间级联激光封装，这种紧凑的 70×70×70mm3的激光铝合金屏蔽散热模组中，集成了高质量进口 QCL 和 ICL 激光芯片、珀耳帖冷却器、低噪声风扇和输出光束准直透镜组。配合海尔欣的QC750-Touch&trade 驱动器，可以快速搭建一套基于 QCL 和 ICL 的激光发射光源，开箱即用，上手方便。同时，我们也可为用户指定的 QCL 和 ICL 芯片定制配套兼容的 QC-Qube&trade 量子和带间级联激光模组。详情请咨询我们的客服人员。产品优势&bull 专门为 QCL 和 ICL 芯片设计的全功能迷你集成封装&bull 直接输出极低光干涉条纹的准直光束&bull 集成半导体 TEC 制冷，低噪音风扇，散热功率可达 20W&bull 输出光功率可达 100mW&bull 完全适配海尔欣 QC750-Touch&trade 一体化激光温控和电流驱动器&bull 包含与 QC750-Touch&trade QCL 和 ICL 驱动器连接的电缆和连接器结构尺寸(单位: mm)接口定义测试报告（样本）

阴极发射体 Kimball Physics设计和制造各种高性能电子发射器，以满足客户的各种需求。这些发射器专为高亮度、长寿命或坚固的可靠性而设计，用于Kimball Physics电子枪以及我们客户的高性能仪器和工具。阴极/发射器既有标准产品，也有定制设计，应用包括电子显微镜、光刻、X射线生成、自由电子激光器、电子加速器等。阴极发射体阴极类型： 阴极发射体基座类型：● 六硼化镧（LaB6）高亮度单晶 ● 带有Kovar或钼引脚的高公差陶瓷 LaB6高亮度单晶——标准和保护环 ● 标准陶瓷AEI底座 LaB6用于电子显微镜-适用于大多数系统 ● Compact Kimball Physics CB-104基座● 圆盘阴极 ● 各种显微镜底座 钽（Ta）标准耐火圆盘 ● 阴极也可以安装在客户提供的底座上 用于低温操作的氧化钡（BaO）涂层圆盘 钇（Y2O3）涂层铱盘，可承受较差的真空度阴极发射体选型参考表* electron microscope Bases Available: Zeiss, VG-AEI replacement, VG, Philips, Perkin Elmer/ ETEC, Leica-AEI, JEOL-K, JEOL-GC (JSM, JEOL-E, ISI 2-pin, Hitachi S, ETEC, Electroscan-AEI, Camscan-AEI, Cameca-AEI, BioRad-AEI, Amray, AEI* Configurations Available: Code (Cone angle – microflat size(microns): 60-06, 90-15, 90-20Note- not all combinations are available (Cone angle, microflat dimension, with/without GR and base style, or Disc dimension and base). However, custom options are often available.** Richardson constant (A/m2K2 ) LaB6 = 29, Other materials for reference CeB6 = 3.6★★★ 更多电镜方面产品信息，比如，磁透镜、真空腔等，可咨询上海昊量光电设备有限公司。关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

FAI 微光发射显微镜（EMMI）FAI Photo Emmission MicroscopeFAI 微光发射显微镜用于检测半导体内部缺陷引起的微光发射或微热发射来准确定位半导体器件的失效位置。通过使用不同类型的探测器，或者配置双激光扫描系统（SIFT），以及配合相应的检测软件来实现对半导体元器件或芯片电路的微光、微热、光激励诱导失效测试等各种分析手段。FAI的Crystal Vision微光发射显微镜系统对所配置探测器的数量没有限制，可选择配置从一个到我们提供的所有型号的探测器和SIFT激光扫描头。主要功能CCD探测器：波长探测范围 365nm 至 1190nm；带电子半导体制冷器（TEC）的CCD探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂；CCD解析度为1280x1024；像素暗电流0.002 电子/秒；读噪声7 个电子；连续收集信号时间从32毫秒至2小时。InGaAs探测器：波长探测范围 900nm – 1750nm；带电子半导体制冷器（TEC）的InGaAs探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂； InGaAs探测器分辨率为320x240，像素点尺寸为30 x 30um，更大的像素点面积可以收集更少的光子，探测灵敏度是普通640x480 InGaAs探测器的4倍；连续收集信号时间从1微秒到60分钟；有效波段范围内量子效率（QE）为 80-85%；灵敏度 NEI 1x1010 ph/cm2/sec；量子效率70 QE 在950-1700nm范围内。 VisGaAs 探测器：波长探测范围 500nm – 1800nm，代表了新技术的VisGaAs 探测器覆盖了可见光-红外光波长检测范围，一个探头就可替代传统的CCD和InGaAs 两个探测器；半导体制冷器（TEC） ，可冷却稳定在 -40℃以下。SIFT(Stimulus Induced Fault Testing)双波长激光扫描头：双激光源654nm和1428nm；通过激光扫描芯片电路，导致失效位置电阻发生变化，通过检测反馈信号的变化，从而检测到失效位置；SIFT扫描不受物镜视野限制，可以一次扫描完整整个检测区域，无需图像拼接，避免图像扭曲；FAI的恒定电流附加反馈回路的技术，不但提高了检测灵敏度，而且避免了检测时电压过高的风险；恒定焦距的定镜扫描，可以将激光点停留在任意指定位置，用于确认失效点。FMI荧光热成像技术：FAI的微热分析技术，热分辨率是千分之一K(1/1000K)，可以室温操作，无需使用危险的液晶溶液。LC液晶热成像技术：FAI的SLC（稳定液晶）液晶热成像技术的热分辨率为百分之一K (1/100 K)。Moire云纹成像：从硅片背面采用“云纹图像成像”的方式来检测失效位置的微热变化。

FAI 微光发射显微镜（EMMI）FAI Photo Emmission Microscope咨询请点击导航栏 联系方式，直接联系我们。FAI 微光发射显微镜用于检测半导体内部缺陷引起的微光发射或微热发射来准确定位半导体器件的失效位置。通过使用不同类型的探测器，或者配置双激光扫描系统（SIFT），以及配合相应的检测软件来实现对半导体元器件或芯片电路的微光、微热、光激励诱导失效测试等各种分析手段。FAI的Crystal Vision微光发射显微镜系统对所配置探测器的数量没有限制，可选择配置从一个到我们提供的所有型号的探测器和SIFT激光扫描头。主要功能CCD探测器：波长探测范围 365nm 至 1190nm；带电子半导体制冷器（TEC）的CCD探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂；CCD解析度为1280x1024；像素暗电流0.002 电子/秒；读噪声7 个电子；连续收集信号时间从32毫秒至2小时。InGaAs探测器：波长探测范围 900nm – 1750nm；带电子半导体制冷器（TEC）的InGaAs探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂； InGaAs探测器分辨率为320x240，像素点尺寸为30 x 30um，更大的像素点面积可以收集更少的光子，探测灵敏度是普通640x480 InGaAs探测器的4倍；连续收集信号时间从1微秒到60分钟；有效波段范围内量子效率（QE）为 80-85%；灵敏度 NEI 1x1010 ph/cm2/sec；量子效率70 QE 在950-1700nm范围内。 VisGaAs 探测器：波长探测范围 500nm – 1800nm，代表了新技术的VisGaAs 探测器覆盖了可见光-红外光波长检测范围，一个探头就可替代传统的CCD和InGaAs 两个探测器；半导体制冷器（TEC） ，可冷却稳定在 -40℃以下。SIFT(Stimulus Induced Fault Testing)双波长激光扫描头：双激光源654nm和1428nm；通过激光扫描芯片电路，导致失效位置电阻发生变化，通过检测反馈信号的变化，从而检测到失效位置；SIFT扫描不受物镜视野限制，可以一次扫描完整整个检测区域，无需图像拼接，避免图像扭曲；FAI的恒定电流附加反馈回路的技术，不但提高了检测灵敏度，而且避免了检测时电压过高的风险；恒定焦距的定镜扫描，可以将激光点停留在任意指定位置，用于确认失效点。FMI荧光热成像技术：FAI的微热分析技术，热分辨率是千分之一K(1/1000K)，可以室温操作，无需使用危险的液晶溶液。LC液晶热成像技术：FAI的SLC（稳定液晶）液晶热成像技术的热分辨率为百分之一K (1/100 K)。Moire云纹成像：从硅片背面采用“云纹图像成像”的方式来检测失效位置的微热变化。

超宽谱太赫兹发射器自旋电子太赫兹（THz）发射器基于一个优化的金属薄膜堆栈包括自旋电子材料。在飞秒泵浦脉冲的照射下，太赫兹脉冲产生。太赫兹带宽覆盖0.1到30太赫兹的频率，没有任何谱段间隙。发射器是完全被动的，包括集成的磁铁设计，允许简单且完全控制线性太赫兹极化。 超宽谱太赫兹发射器主要特点： ■ 无光谱间隙的超宽带太赫兹辐射 ■ 高太赫兹产生效率，被动式器件 ■ 集成磁铁，可完全轻松360°控制线性太赫兹极化 ■ 稳定性好，可长期使用 ■ 与许多光学装置兼容 ■ 太赫兹光束参数继承泵浦光束 ■ 泵浦光适用波段宽，从中红外到X射线 ■ 泵浦光和太赫兹光束的共线性使太赫兹光谱仪易于实现和直接校准超宽谱太赫兹发射器应用领域： ■ 超宽带线性太赫兹光谱■ 非线性太赫兹光谱■ 太赫兹近场显微镜■ 太赫兹扫描隧道显微镜■ X射线束层析成像■ 超快光电探测器（由泵浦脉冲包络确定的太赫兹脉冲）超宽谱太赫兹发射器指标参数：更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商，代理品牌均处于相关领域的发展前沿；产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务。您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询。

场发射扫描电子显微镜SEM4000ProSEM4000Pro是一款分析型热场发射扫描电子显微镜，配备了高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪。三级磁透镜设计，束流最大可达200 nA，在EDS、EBSD、WDS等应用上具有明显优势。标配低真空模式，以及高性能的低真空二次电子探测器和插入式背散射电子探测器，可观察导电性弱或不导电样品。标配的光学导航模式，以及直观的操作界面，让您的分析工作倍感轻松。产品特点 配备高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪分辨率高，30kV下优于0.9nm的极限分辨率三级磁透镜设计，束流可调范围大，最大支持 200 nA 的分析束流标配低真空模式，以及高性能的低真空二次电子探测器和插入式背散射电子探测器无漏磁物镜设计，可直接观察磁性样品标配的光学导航模式，中文操作软件，让分析工作更轻松应用案例产品参数关键参数高真空分辨率0.9 nm @ 30 kV，SE低真空分辨率2.5 nm @ 30 kV，BSE，30 Pa1.5 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa加速电压200 V ~ 30 kV放大倍率1 ~ 1,000,000 x电子枪类型肖特基热场发射电子枪样品室真空系统全自动控制低真空模式最大180 Pa摄像头双摄像头（光学导航+样品仓内监控）行程X=110 mm，Y=110 mm，Z=65 mmT: -10°~+70°，R: 360°探测器和扩展标配旁侧二次电子探测器（ETD）低真空二次电子探测器（LVD）插入式背散射电子探测器（BSED）选配能谱仪（EDS）背散射衍射（EBSD）插入式扫描透射探测器（STEM）样品交换仓轨迹球&旋钮控制板软件语言中文操作系统Windows导航光学导航、手势快捷导航自动功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散

量子密钥，量子加密，量子密码系统，量子计算，量子密匙分发系统，量子通信，量子安全通信。新型量子密匙分发安全性研究型操作平台 QKD量子保密通信是一种利用量子物理的基本原理来实现确保光纤网络保密信息交换的安全技术。 QKD是完整加密系统的一个组成部分。包含:密码生成、密码更换和加密来确保量子密码的安全性 比如:密文将被严格保密以防量子计算机黑客的攻击 即使是对一台多功能的并能打破公共秘密体系的量子计算机而言仍然是一项艰巨的挑战 在这一领域的新发展满足了量子密码安全性 更高的要求 量子密码的时代已经开始了,其加密技术必须要配有量子。因此QKD的研究也面临着紧迫性,因为无法等待用量子计算机来测试合适的加密方法的设计。 这套Clavie3系统的名字取自拉丁文,由瑞士ID Quantique 公司开发用于学术研究和工业应用上。这套Clavis3系统是作为一个研究平台而设计,可以自动或手动操作 用户可以根据不同的试验要求做参数设置 另外还有Clavis3接收器、 Clavis3 B,可以使用外部的单光子探测器,这些可以由ID Quantique或用户自己来选择。可以实现在上百公里距离范围内的安全密码交换,即使是标准的WDM电信网络。我们的这套光学平台已在多种学术刊物上转载并被广泛关注。 全面的软件包可实现自动化硬件操作及密码蒸馏,提供的密码由Clavis3 的. 不同加密系统,包含:ID Quantique公司提供的可以达到?100 Gb/s layer 2 encryption的Centauris,CN8000 encryptor。 主要特点快速生成密码,1.25 GHz发射脉冲重复率。 手动和自动操作。由外部探测器可实现大便捷性。 设计作为为研究平台,可以实现访问,修改的可能性各种参数同步信号。基于硬件关键处理(在一个FPGA),可以提高密码分发率。 用户友好操作界面。可以集成Centauris加密器，获得一个完整的高速加密系统。 主要应用量子密码学的研究试验网络部署 教育和培训用户友好操作界面来演示和技术评估 优质方案 Clavis3密匙分发系统是基于Coherent-One-Way(COW)协议,是IDQ公司的专利产品。 发射器,Clavis3-A(ALICE)包含一个激光发射连续波光束。 随后调制光束,提供一致的光脉冲,二进制模式相应的0和1。 然后脉冲衰减达到单照片中位数。这些脉冲从发射器Clavis3A量子信道到被探测的接收器Clavis3 B 接收器,一些脉冲到达产生密码的D bit探测器,和而且一些脉冲穿过监测干涉仪和到达 探测器D mon 这些都是是用于监视窃听。 Clavis 3工作站提供电子同步信号连接和同步外部组件和系统。运用在Clavis3系统中的激光波长稳定在ITU网格值。

产品关键词：电致发光、IVL、电致发光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件寿命、外量子效率、发光量子产率测量系统、绝对量子效率、EQE、JV、IV、绝对发光量子产率测量系统 、CIE、色温、光谱功率分布 λ、辐射通量、光通量、相关色温（CCT）、显色指数（CRI）、电功率密度、积分球▌ 产品简介电致发光量子效率测量仪HiYield-EL是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员，用于对电致发光样品的发光特性进行精确测量。HiYield 系统能够以一流的检测精度对电致发光器件进行纵深测量，得到全面的绝对法测量的电致发光效率参数（量子效率EQE等）以及相关的电学、辐射度学、光度学、色度学等参数；同时该系统集成了稳定性测试模块，可以对器件的老化过程进行测试，且同时得到器件老化过程的全面信息，即涵盖了上述发光效率、电学、辐射度学、光度学、色度学等全面参数（通常的老化测试仪，仅对电流、电压和相对亮度进行测试），典型的包括电致发光效率/量子效率EQE、寿命测试、CIE、CRI、CCT、光谱响应、光谱功率分布、IV、JV、总光谱辐射通量、辐射通量、光通量、光效、光谱强度、峰值波长、FHWM等，广泛应用于各种类型的电致发光器件测量。▌ 产品特点□ 能够以一流的检测精度对电致发光器件进行纵深测量，得到全面的绝对法测量的电致发光效率参数（外量子效率等）以及相关的电学、辐射度学、光度学、色度学等参数；□ 集成了稳定性测试模块，可以对器件的老化过程进行测试，且同时得到器件老化过程的全面信息，即涵盖了上述发光效率、电学、辐射度学、光度学、色度学等全面参数（通常的老化测试仪，仅对电流、电压和相对亮度进行测试）；□ 由软件控制测试过程，操作便捷，图表和数据实时显示；□ 可快速、可靠对样品的测试过程进行追踪；□ 具有实时测量、预测量、定制测量、扫描测量、时间依赖测量等丰富的测量模式。▌ 产品功能□ 效率参数：发光效率/外量子效率EQE、电流效率、功率效率等；□ 电学参数：电压（V）、电流（I）、电流密度（J）、电功率（W）、电功率密度等；□ 辐射度学：光谱功率分布、辐射通量、光通量、光视效能、峰值波长、主波长等；□ 色度学：CIE 色度坐标、相关色温（CCT）、MK-1（mred）、显色指数（CRI）、RGB 颜色值等；□ 稳定性测试。■ 包含测量模式√ 电压扫描（含分段扫描、循环扫描等）；√ 电流扫描（含分段扫描、循环扫描等）；√ 恒压单点测量；√ 恒流单点测量；√ 稳定性测量：不同老化时间下测量。▌ 产品应用□ 量子点发光二极管（QLED）□ 有机发光二极管（OLED）□ 发光二极管（LED）□ 钙钛矿发光二极管（PeLED）□ 其它各种类型的电致发光器件等▌ 规格型号绝对法电致发光特性测量系统系列HiYield-EL光谱仪*光谱范围210-980nm225-1000nm350-1050nm900-1700nm探测器制冷CCD系统信噪比1000:1A/D分辨率16/18 bit光学分辨率0.14-7.7 nm FWHM动态范围85000（典型）杂散光0.08% at 600 nm 0.4% at 435 nm源表电压范围-210V~210V电流范围-1.05A~1.05A*分辨率1pA / 100nV10fA-10nV积分球*材料Spectralon、PTFE、Spectraflect、BaSO4等*内径3.3 / 6 / 10 / 15 inch可选*反射率400至1500 nm，大于99%＞97%@600 nm 97-98%＞95%软件测量模式 电压扫描（含分段扫描、循环扫描等）； 电流扫描（含分段扫描、循环扫描等）； 恒压单点测量； 恒流单点测量； 稳定性测量：不同老化时间下测量。功能参数类别 效率参数（外量子效率、电流效率、功率效率等）； 电学参数：电压（V）、电流（I）、电流密度（J）、电功率（W）、电功率密度等； 辐射度学：光谱功率分布、辐射通量、光通量、光视效能、峰值波长、主波长等； 色度学：CIE色度坐标、相关色温（CCT）、MK-1（mred）、显色指数（CRI）、RGB颜色值等； 稳定性测试。测量夹具*定制夹具根据客户样品封装设计夹具*该产品或参数可根据客户需求灵活配置▌ 产品特点

外腔型垂直表面发射激光器 外腔型垂直表面发射激光器结合了半导体和薄片激光器的重要优点。半导体增益结构的波长多功能性，以及薄片概念的散热能力和外腔架构共同构成了通用的激光技术平台。这种组合提供了宽波长覆盖、高功率和可调谐窄线宽操作的高质量光束。利用分子束外延技术的专业知识制造高质量的半导体增益结构，在 630 nm 至 3 μm 的波长范围内具有定制特性。一、外腔型垂直表面发射激光器产品特点从近红外到可见光谱的高效腔内倍频宽波长范围单频、可调谐卓越的光束质量二、外腔型垂直表面发射激光器型号及参数（1）VALO SHG SF - 单频 VIS VECSEL 系统VALO SHG SF 是一种独特的可调谐单频 VECSEL 系统，具有高效的腔内二次谐波生成功能。这种新开发的激光器目前在 350-750 nm 之间提供瓦级输出功率，并匹配近红外 VALO SF 产品线相同的交钥匙 VECSEL 平台。产品参数：中心波长350 – 750 nm连续波长功率0.5 - 2 W 集成泵浦光调节中心波长±1nm锁线宽100 kHz (10 ms)尺寸大小320 mm x 190 mm x 100 mm (L x W x H)（2）VALO SF - 单频 NIR VECSEL 系统VALO SF 是一种单频 VECSEL 系统，可在 700–2100 nm 之间使用。VALO 在一个紧凑的封装中结合了一组独特的激光特性；即高功率连续波操作（1-4 W CW）、窄线宽（100 kHz）、宽调谐（~10 THz）和出色的光束质量（M 2 1.1）。该系统包括一个带有集成泵浦激光器的 VECSEL 头、一个控制单元和一个低振动冷却器。使用外部泵浦激光器可以达到 10 W 的输出功率。产品参数：中心波长700 – 2100 nm连续波长功率1–4 W集成泵浦光/12W外部泵浦激光调节中心波长~10 THz锁线宽100 kHz (10 ms)尺寸大小320 mm x 190 mm x 100 mm (L x W x H)更多详情欢迎直接联系昊量光电!关于昊量光电：昊量光电 您的光电超市！上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外创新性的光电技术与可靠产品！与来自美国、欧洲、日本等众多知名光电产品制造商建立了紧密的合作关系。代理品牌均处于相关领域的发展前沿，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及前沿的细分市场比如为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等。我们的技术支持团队可以为国内前沿科研与工业领域提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务，助力中国智造与中国创造! 为客户提供适合的产品和提供完善的服务是我们始终秉承的理念！您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询，我们将竭诚为您服务。

SpectrumTEQ-PL光致发光量子效率测量系统SpectrumTEQ-PL系列光致发光量子效率测量系统，针对器件的光致发光特性进行有效测量，可在手套箱内完成搭建，无需将样品取出，即可完成光致发光量子效率的测试。系统搭配QE Pro光谱仪为业内公认旗舰系列，信噪比高、杂散光低， 动态范围大，适合不同波段和强度的激发光发射光测量。同时，系统配有强大的测试软件，向导式的软件操作逻辑让测试过程变的简单，迅速。 应用：无机光致发光有机光致发光EL器件封装前体 优势：体积小巧：便于灵活使用及运输原位测量：可放至手套箱内，实现原位测量结构稳定：设备无需频繁校准 光谱仪型号QEPro/QE65Pro(可选) 光谱范围（nm）350-1100 信噪比1000:1 分辨率2.5nm(FWHM) 动态范围85000:1(QEPro单次采集) 25000:1(QE65Pro单次采集) AD位数18-bit(QEPro) 16-bit(QE65Pro) 积分球尺寸3.3" 涂层材料Sperctralon激发光源365-880nm光纤耦合高功率LED 强度可调典型半峰全宽 (FWHM)=14nm@405nm

Optima 5300DV 二手ICP等离子发射光谱仪的紫外和可见区分开的光路光学系统，采用*佳光学设计。加上采用消像差光学设计，分辨率特别高。由于光谱仪通量取决于主要光学部件，而且ICP重要谱线都集中在在紫外区域，因此独特的紫外双光栅交叉色散和大孔径光学元件和中阶梯光栅提高了紫外波段灵敏度和改善分辨率。PE ICP-5300DV ICP-OES产品名称规格型号单位数量产地ICP-OES蠕动泵 1台套1美国雾化器 1套RF高压电源 1套RF震荡器 1套冷却水机和空气泵 1台电脑含GBIP卡和ICP-OES软件套1国产Optima 5300DV 二手ICP等离子发射光谱仪主要特点：1.独创的光路设计，大大提高了紫外区的灵敏度。2.全新设计的40.68MHZ自激式固态RF发生器。3.先进的高量子化效率、低噪音固态检测器。4.灵活的双向观测系统，观测高度在线可调。5.全中文版操作软件，直接打印中文报告，独特的谱线解析功能。Optima 5300DV ICP-OES等离子体发射光谱仪性能1.增强实时图形和FIAS控制允许暂时测量2. SCD探测器提供快速和准确测试性能3. 独有的高分辨率模式提供了简单的开发方法和较高的精度4.特殊的可靠性与第二代集成固态射频发生器5.恒温光学系统消除了峰值性能分析和搜索，确保长期稳定性6.实时背景校正增强样品处理量和性能7.优越的光学、出彩的射频稳定性8.一个完整的线抽样配件

SpectrumTEQ-EL电致发光测试系统以模块化思路设计，特别适合手套箱内使用，使用业内旗舰级光谱仪，能够进行准确的量子效率，亮度，色度等测量，真正的实现了制备和测试同时进行。EL测试方案共有两种配置，分别适配不同的样品形貌，器件亮度和测试需求。搭配源表和软件，可以对器件进行更精确的四点法测量。方案一：集成化程度高，适配无线遥控自动化测试，3.3寸积分球更适合高亮度样品，可以根据器件定制专用夹具，且能进行PL扩展。方案二：高灵活度探针台方案，单点测试，小体积异形样品均适用，1.5寸积分球，可以测试低亮度样品，安装方便，小巧灵活。电致发光系统可以通过增加光致发光系统配件，实现电致发光和光致发光的两种功能，同样的，光致发光系统也可以通过定制夹具，实现两种功能。测量参数亮度色坐标量子效率主波长辐射通量量子效率随电流密度的曲线 应用领域无机电致发光有机电致发光分子薄膜EL器件 产品优势体积小巧：便于灵活使用及运输。原位测量：可放至手套箱内，实现原位测量流程化操作：设备无需频繁校准。产品参数

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一、概述 露点发生器，是在一定条件下能产生温度露点值恒定且可知的气流或气氛的装置的总称。该露点发生器拥有专用的干燥筒，通过干燥和加湿系统可以将露点值稳定在-70~+20℃之间。通过该露点发生器，用户可以实现同时10只（最多）探头同时测量。注：标准测试舱包含4个4分螺纹测量口。测量口数量、规格、形式等可定制。通过该发生器，用户可以更加快捷、简便的校准露点测量仪表、探头以及露点数据记录仪。 二、技术参数型号HDPG-A控制传感器类型高分子薄膜型露点传感器温度露点测量范围-70~+20℃环境温度要求23℃±5℃环境温度不高于23℃±5℃露点稳定时间-20~20℃，＜5min-20~50℃，＜10min稳定度＜±0.1℃均匀度23℃时，均匀度为±0.1℃典型校准不准确度（K=2）23℃时，不准确度为±2.0℃分辨率±0.1℃气体流量1~10L/min气源需要用户自备，可采用高纯氮气或小型压缩机测试腔容积1.6L重量15kg工作功率及电压220V 500W外壳铝合金材质，IP20，480*260*240mm货期6~8周

仪器简介：DG-4湿度/露点发生器可以为科研与工业应用产生可控湿度的空气流，也可用于校准湿度和其他水汽传感器。DG-4湿度/露点发生器可以连续计算环境温度下产生预期湿度所需要的露点温度。在环境温度波动情况下，相对湿度仍然可以保持恒定，这是因为该仪器可以连续控制露点温度并因此产生了恒定的相对湿度。采用传统的露点发生器来完成同样的任务需要许多繁杂的运算，而且需要尽可能减小环境温度的波动。 DG-4湿度/露点发生器消除了计算错误的可能，并提供了相对湿度的完美控制。该仪器也可通过计算机来控制。我们设计的DG-C1控制软件提供了更强的控制功能，最多可以产生1400点的露点连续变化程序。如果您得到了野外环境中相对湿度的联系变化数据，您就可以利用本仪器重现这一变化，从而可以精确地确定相对湿度对生物、材料或传感器的影响。产地：美国Sable System International公司技术参数：性能指标 范围：0－40 ° C露点，相对湿度的范围取决于环境温度，典型情况下为15%到90%； 准确度：优于0.2° C露点；1%相对湿度； 气路接口：1/8"接口，位于前面板上； 流速：50 ml/min到5 liters/min； 面板显示：2行16字符液晶显示，分辨率为露点0.1° C，相对湿度0.1%； 电压输出：0-4V（0-100%相对湿度），0-4V（0-40° C露点），BNC接口； 数字控制：露点控制分辨率为0.01 ° C，相对湿度分辨率为0.01%，采用DG-C1软件； 电力需求：12-14V直流，8A； 尺寸：14" x 12" x 10"，15lbs主要特点：特点 相对湿度控制精度可以达到1% 露点控制精度可以达到0.1° C 可以远距离控制相对湿度 湿度传感器校准的最佳设备 可应用于湿度变化的影响研究 独立操作或由计算机控制使用 工作原理仪器将首先产生饱和水蒸汽，然后通过冷凝器产生精确的露点气流。本仪器没有采用传统的水浴方法，从而保证设备更快、更小巧而且更容易控制。与普通的饱和盐溶液控制技术相比较，DG-4更为精确和便捷，而 且不再需要耗材。此外，DG-4的湿度测量不需要采用其他标样来校准。

一、SpectrumTEQ-PL光致发光量子效率测量系统SpectrumTEQ-PL系列光致发光量子效率测量系统，针对器件的光致发光特性进行有效测量，可在手套箱内完成搭建，无需将样品取出，即可完成光致发光量子效率的测试。系统搭配QE Pro光谱仪为业内公认旗舰系列，信噪比高、杂散光低，动态范围大，适合不同波段和强度的激发光和发射光测量。同时，系统配有强大的测试软件，向导式的软件操作逻辑让测试过程变的简单，迅速。 测量参数 量子效率 量子效率随不同激发能量变化的曲线 辐射通量，光通量 发射光谱 亮度，色坐标 主波长 应用领域 无机光致发光 有机光致发光 EL器件封装前体 产品优势 体积小巧：便于灵活使用及运输 原位测量：可放至手套箱内，实现原位测量 结构稳定：设备无需频繁校准 产品参数：系统配置光谱仪型号QEPro/QE65Pro（可选）光谱范围（nm）350-1100信噪比1000:1 分辨率2.5nm(FWHM)动态范围85000：1（QEPro单次采集）；25000:1（QE65Pro单次采集）AD位数18-bit（QEPro）；16-bit（QE65Pro）积分球尺寸3.3"涂层材质Sperctralon激发光源365-880nm光纤耦合高功率LED；强度可调典型半峰全宽（FWHM)=14nm@405nm光纤芯径1000um（可更换其他芯径）校准灯型号HL-3P-INT-CAL功率5W（电功率）软件Ocean QY专用软件样品皿固/液/粉末专用样品皿 相关应用：光致发光和荧光量子效率计算 二、SpectrumTEQ-EL电致发光量子效率测量系统 SpectrumTEQ-EL系列电致发光量子效率测量系统，可以针对发光器件的光电特性进行有效测量，系统搭配的QEpro光谱仪为业内公认旗舰系列，具有信噪比、低杂散光等特性，可确保测量结果得准确性；同时，系统配有强大的测试软件，对话框式的软件操作界面让测量过程变得更为简单。 测量参数 量子效率 亮度 量子效率随电流密度的曲线 色坐标 辐射通量，光通量 主波长 应用领域 无机电致发光 有机电致发光 分子薄膜EL器件 产品优势 体积小巧：便于灵活使用及运输。 原位测量：可放至手套箱内，实现原位测量 流程化操作：设备无需频繁校准。 产品参数：系统配置配置方案　方案1 方案2光谱仪型号QEPro / QE65Pro（可选）光谱范围(nm)350-1100信噪比1000:01:00分辨率2.5 nm (FWHM)动态范围85000:1（QEPro单次采集）；25000:1（QE65Pro单次采集）AD位数18-bit（QEPro）；16-bit（QE65Pro）积分球尺寸3.3”1.5”材质Spectralon源表Keithley2400光纤芯径1000um（可更换其他芯径）校准灯角度2 Pi 型号HL-3-INT-CAL亮度50流明功率5W（电功率）无线遥控　通道数4无遥控软件SpectrumTEQ-EL专用软件 相关应用：荧光量子产率原理及应用

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ICP-7000电感耦合等离子发射光谱仪INDUCTIVELY COUPLED PLASMA OPTICAL EMISSION SPECTROMETRY产品介绍PRODUCT INTRODUCTION创想仪器 ICP-7000电感耦合等离子发射光谱仪采用高频数字射频等离子源，使样品溶液蒸发、形成气态原子、并进一步使气态原子激发而产生光辐射；将光源发出的复合光经光栅分解成按波长顺序排列的谱线，形成光谱；用检测器检测光谱中谱线的波长和强度。由于待测元素原子的能级结构不同，因此发射谱线的特征不同；据此可对样品进行定性分析；而根据待测元素原子的浓度不同，因此发射强度不同，可实现元素的定量测定。ICP发射光谱法是根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的方法。ICP发射光谱仪主要应用于无机元素的定性及定量分析。产品特点PRODUCT FEATURES●光谱分析技术，最多可测70余种元素。●检出限低，大多数元素检测下限可达ppm级。●软件分析功能强大，逐步向导，易学易懂。●智能校准算法，准确测量、精准高效。●完善的数据库功能，便于结果查询和离线处理功能。●多峰拟合技术，独特干扰元素扣除算法，有效提高测量精度。●线性范围宽，可实现高低含量同时测试，无需更换标准曲线。技术参数TECHNICAL PARAMETER检测器 日本原装CMOS探测器量子效率 无任何镀膜200nm紫外区可达35%以上射频频率 27.12MHz射频稳定性 ＜0.05%输出工作线圈 镀银高频线圈 内径25nm 3匝三同心适应炬管 不同行业中有多种型号可选高效进口雾化器 同心圆雾化器 多型号可选蠕动泵 四通道十二滚轴 转速可根据需求流量设置调节波长范围 165nm-900nm分辨率 ＜7pm-200nm光室温度 恒温34℃±0.1℃双测方向 轴向/径向观测重复性 （即短期稳定性）相对标准偏差 RSD＜0.5%稳定性 相对标准偏差RSD＜1%@2小时测试速度 单个CMOS读出时间仅需2ms元素检出限 大部分元素1ppb-10ppb（μg/L）总氩气消耗量 氩气总消耗量小于16L/min输入电流 AC220V/20A仪器尺寸 1380×836×740mm（L×W×H）仅供参考，具体按照客户需求配置应用领域APPL ICATION AREA主要运用于医药行业、食品安全检验、环境检测、化工分析、石油石化、卫生防疫、农业、渔业、质量监督、研究开发、教学研究等。

LQ-100X-PL 光致发光与发光量子产率测试系统产品介绍： 精巧的光致发光量子产率量测系统1. 什么是 PL? PL (Photoluminescence, 光致发光)：当材料吸收光子后，电子跃迁至激发态，再回到低能态，将能量以光的形式发出。2. 什么是 PLQY?PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致发光量子产率) 计算方式为发出的光子数除以吸收的光子数。PLQY 是评价发光材料的重要指标，除了可以用来对材料进行初级分类的基本参数，且对于发光系统与其载子动力学的重要分析方法。LQ-100X-PL 如何测试 PLQY?3. 量测背景讯号量测样品计算样品的光致发光量子产率PL 与 PLQY 是研究材料表征的重要工具，目前材料测试面临挑战有以下三点：(1) 无法在手套箱内测试。(2) 无法进行原位时间光谱解析。(3) 红外波段扩展不易。LQ-100X-PL 针对上述的3大痛点，做出了应对。特色LQ-100X-PL 拥有以下几点优势，可应对材料测试面临的挑战：以紧凑的设计，尺寸大小 502.4mm(L) x 322.5mm(W) x 352mm(H)，搭配 4 吋外径 PTFE 材质的积分球，并且整合 NIST 追溯的校准，让手套箱整合 PL 与 PLQY 成为可能。利用先进的仪表控制程序，可以进行原位时间 PL 光谱解析，并且可产生 2D 与 3D 图表，说明用户可以更快地表征材料在原位时间的变化。系统光学设计可容易的做红外扩展，波长由1000 nm 至 1700 nm。粉末、溶液、薄膜样品都可兼容测试。规格标准配置：全向式收光系统 (100 mm 积分球)增强型多信道光谱仪测试系统光致发光量测模块 (365 nm LED 激发光源)量测软件工控机与屏幕选配规格：EL光谱整合测试套件 (源表/PMT模块/背探式样品盒/多通道手动切换盒/EL量测软件升级)红外光谱扩充模块 (900 – 1700 nm)手套箱整合套件激发光源LED光源 (波长可选：385 nm / 405 nm / 430 nm / 470 nm / 532 nm)Laser光源 (波长可选：375 nm / 405 nm / 532 nm)应用荧光粉 (Phosphor)发光二极管荧光材料 (LED fluorescent material)有机发光二极管荧光材料 (OLED fluorescent material)钙钛矿 (Perovskite)雷射染料 (Laser dies)钙钛矿量子点粉末与单晶 (Perovskite quantum dot powder and single crystal)PbS 量子点 (PbS quantum dot)实证PL 光谱显示LQ-100X-PL 系统可以针对多种材料进行 PL 与 PLQY 测试。步骤如下：测量背景讯号，如图中蓝色曲线，并可计算入射激发光子总数。测量样品光谱，如图中绿色曲线。计算得到发射光子总数。计算 1. 2. 步骤中，样品吸收光子率与吸收光子总数。由 1. 3. 相除可得到 PLQY。发射光谱分析LQ-100X-PL 软件可以针对 PL 发射光谱进行多种分析，以定量的表征材料的特性。包含：发光 CIE 色坐标CIE-xyzCIE-XYZCIE-uv色温色彩纯度原位时间解析 PL 光谱变化LQ-100X-PL 除了 PLQY 测量外，还可进行 PL 光谱随时间变化连续测试，并绘制成 2D 或 3D 显示图-称为原位时间解析 PL 光谱图。如图所示，钙钛矿的 PL 光谱随着时间增加的变化，可以波长半宽 (FWHM) 随之增加，并且产生中心波长 (Peak Lambda) 红移的现象。分析原位时间解析 PL 光谱图，对于新型材料如钙钛矿的稳定性或亚稳态特性，具有直接的的证据说服力。是材料表征的最佳工具。

SEM5000X是一款超高分辨率场发射扫描电子显微镜，其分辨率达到了突破性的0.6 nm@15 kV和1.0 nm@1 kV。高分辨物镜设计、高压隧道技术（SuperTunnel）以及镜筒工艺升级，实现了低电压分辨率的进一步提升。全新设计的样品仓，扩展接口增加至16个，快速换样仓最大支持8寸晶圆（最大直径208 mm），极大扩展应用范围。高级扫描模式和自动功能增强，带来了更强的性能和更好的体验。产品优势超高分辨率成像，达到了突破性的0.6 nm@15 kV和1.0 nm@1 kV样品台减速和高压隧道技术组合的双减速技术，挑战极限样品拍摄场景高精度机械优中心样品台、超稳定性的机架减震设计，可搭配整体罩壳设计，极大减弱环境对极限分辨率的影响最大支持8寸晶圆(最大直径208 mm)的快速换样仓，满足半导体和科研应用需求应用案例产品参数