磷光材料

这款P43荧光粉是欧洲进口的优质GOS荧光粉,Gd2O2S:Tb荧光粉和硫氧化钆荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

Gd2O2S:Tb荧光粉由Gd2O2S:Tb闪烁体直接加工而成，这款Gd2O2S:Tb荧光粉是欧洲进口的优质硫氧化钆荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 P43 –Gd2O2S:Tb荧光粉是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

GOS荧光粉由GOS闪烁体或GOS陶瓷加工而成，这款GOS荧光粉是欧洲进口的优质Gd2O2S:Tb荧光粉和硫氧化钆荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 P43 – GOS荧光粉 Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

硫氧化钆荧光粉由硫氧化钆荧光粉闪烁体直接加工而成，这款硫氧化钆荧光粉,Gd2O2S:Tb荧光粉是欧洲进口的优质硫氧化钆荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 P43 –Gd2O2S:Tb荧光粉是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

闪烁体概要闪烁器在扫描电子显微镜的二次电子探测器中承担着将电子转化为光的任务，是决定SEM图像质量的关键部件之一。 闪烁体上涂有一层高度均匀P47磷光体。我们采用的P-47是日本制造的磷光体粉末，响应速度非常快，为80ns，因此余光小。 将 P47磷光体 均匀、密集地涂层在基材的丙烯酸或玻璃上，以低噪音高效工作。根据需要， P47磷光体表面可以镀一层高度均匀的精心选择和分级的标准铝膜，可提供非常明亮、锐利和高质量的 SEM 图像。闪烁体由大和电子科技株式会社为您提供，如您想了解更多关于产品的报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。 规格 　尺 寸　直径　Φ7～20mm　厚度　1～3mm　材 质　表面镀膜(有可均可)　Aluminum　荧光体　P-47 ( Y2SiO5 :Ce)　基材　Acrylic　or Glass　性 能 发射波长　370～480nm(峰值波长:420nm) 响应速度　80ns 结构示意图 示例照片

总览荷兰ASI出品的TPX3Cam是一款用于光学光子时间戳的快速光学相机。它基于一种新型硅像素传感器，并结合了Timepix3 ASIC和读出芯片技术，适用于电子、离子或单光子等需要时间分辨成像的各种应用。TPX3Cam可以很容易地集成在桌上型研究装置中，也可以集成在同步加速器或自由电子激光环境中。使用TPX3Cam，可在速度映射成像设备中测量电子和离子。纳秒级的时间分辨率和数据采集速率使我们能够以前所未有的方式进行测量。TPX3Cam能够在400至1000 nm波长范围内以高量子效率同时对超过1000个光子的闪烁光进行成像和时间戳记。它可以在VMI（速度映射成像）装置中高效地记录撞击在MCP（微通道板）上的离子。 MCP耦合到一个快速P47磷光体屏，该屏产生响应离子撞击MCP的闪烁光。TPX3Cam放置在真空之外，能检测来自磷光体屏的闪光。在TPX3Cam中，所有单个像素都可独立工作，且能对伴随发生的' 事件' 进行时间戳记。 这就将成像传感器变成了快速数字转换器阵列，具有并行作用的空间和时间分辨率，因此可以同时记录多个离子种类，允许进行符合测量和协方差分析。工作波长400-1000nm技术参数优点光敏硅传感器波长范围:400 - 1000nm每像素的同时检测时间(ToA)和强度(ToT)时间分辨率1.6ns，有效帧率 500 MHz无噪声、数据驱动读数，高达80 Mhits/s (10Gb/s)灵活光学设计下图:TPX3CAM能够同时对超过1000个光子进行成像和时间标记，在400到1000 nm波长范围内具有高量子效率。它可以在VMI(速度图成像)配置中有效地记录撞击在微通道板上的离子。MCP与快速P47荧光粉耦合，当离子撞击MCP时，该荧光粉会产生闪光。TPX3CAM，放置在真空之外，可以检测荧光粉的闪光。“在TPX3CAM中，所有单个像素都独立工作，能够对‘事件’进行时间标记。这将成像传感器转变成一个快速数化器阵列，具有空间和时间分辨率，同时发挥作用，因此可以同时记录多个离子种类，从而进行重合和协方差分析。"应用离子和电子成像TPX3CAM的应用包括飞行时间质谱中离子的空间和速度图成像；离子和电子的符合成像，以及其他时间分辨成像光谱类型。TPX3CAM能够以1.6 ns的时间分辨率检测离子撞击并对其进行时标记，从而可以同时记录所有碎片离子的离子动量图像。这种单检测器设计简单、灵活，能够进行高度差分测量。右边的图像显示了CH2IBr的离子TOF质谱，该质谱是在德国汉堡同步加速器的闪光光源下，用TimepixCam（TPX3CAM的之前型号）记录的，在强激光脉冲强场电离后，以及每个探测器的图像在TOF光谱中的峰值。单光子成像强化版TPX3CAM可以是单光子敏感的。在这种配置中，检测器与现成的图像增强器结合使用。应用包括宽场时间相关单光子计数成像(TCSPC)，磷光寿命成像和任何需要时间分辨单光子成像的应用。图像(a): 通过TimepixCam获得，TimepixCam是TPX3CAM的前一个模型。图像(b):对于(a)中所示的A1-A4区域，强度是时间的函数(磷光衰减)，磷光衰减和拟合的残差具有单指数拟合。 规格传感器材料光敏性增强的硅波长范围400 - 1000 nm探测范围~1000光子/每像素光学传感器活动区域14.1 x 14.1 mm2类型C型接口成像专用集成电路类型Timepix3像素间隔55 µm像素数量256 x 256阈值数量1吞吐量10 Gb/s 的情况下，高达80 Mhits/s1 Gb/s的情况下，高达15 Mhits/s停滞时间读数停滞时间为0时间分辨率1.6 ns有效帧速率 500 MHz像素击中停滞时间~1 µs读出模式数据驱动，通过每像素ToA和ToT检测同步时间和强度其他参数计算机接口1 Gb/10 Gb外部快门控制有外部信号时间戳260 ps重量2.2 kg尺寸(长x宽x高)28.8 x 8 x 9 cm冷却空气采集软件Windows/ Linux/Mac的图形用户界面

P47荧光粉由Y2SiO5:Ce荧光粉闪烁体,掺铈硅酸钇闪烁体直接加工而成，这款Y2SiO5:Ce荧光粉,Y2SiO5:Ce荧光粉是欧洲进口的优质掺铈硅酸钇荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 P47-Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

Y2SiO5:Ce荧光粉由Y2SiO5:Ce闪烁体或Y2SiO5:Ce荧光体,掺铈硅酸钇闪烁体直接加工而成，这款Y2SiO5:Ce荧光粉,Y2SiO5:Ce荧光粉是欧洲进口的优质掺铈硅酸钇荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 P47-Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

YAP:Ce荧光粉 /夜光粉/ 闪烁粉---YAG:Ce和YAP:Ce我们提供优质进口YAP:Ce荧光粉和Ce:YAP荧光粉，这些YAP:Ce荧光粉由高质量Ce:YAP闪烁体单晶直接加工而成。YAP:Ce荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAP:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAP:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。Ce:YAP荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

荧光粉 /夜光粉/ 闪烁粉---YAG:Ce荧光粉和YAP:Ce荧光粉我们提供优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

YAG:Ce荧光粉,YAG:Ce闪烁粉和YAP:Ce荧光粉 /夜光粉/ 闪烁粉我们提供优质进口YAG:Ce和YAP:Ce荧光粉，这些荧光粉由高质量闪烁体单晶直接加工而成。晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格的荧光粉可根据要求加工。荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

荧光采样附件的详细资料：详情请联系吴小姐：15080317079采样附件满足您的各种应用需求远程光纤附件远程光纤附件让您能够在样品处进行测量，从而避免将样品放入仪器内。它内含能在280-800nm范围内操作的双分支合成石英光纤(长 1m)和安插在分光计上的外引光路系统。本附件是对荧光纸和纤维织物进行远程无损测试，或对危险材料进行远程采样的理想选择。用于LS50B/45/55 L2250144全发射附件全发射附件能增强荧光检测的灵敏度，便于检测弱发射样品。推荐使用在生物发光和化学发光实验中。该附件利用一个能转动到发射光单色仪前方的平面镜来实现对样品全部荧光的测量。推荐使用截止发射滤光片来减少来自其他波长的发射。LS55分光计附带五个软件控制的发射滤光片。用于LS50B/55 L2250101需由PerkinElmer服务工程师安装前表面附件*高分子材料稳定性和荧光增白剂属性研究的理想之选 52123130用于固体、粉末及粘稠和不透明液体测量这个简单易用的前表面附件能将您的测量能力拓展到一系列固体和半固体样品，包括粉末、纸、塑料薄膜、布料样品、TLC板、凝胶和浑浊液体。该附件可用于LS-50B/45/55分光计。特色和优势Ø 用于荧光和磷光测量Ø 样品可以直接置于附件中，或放置在合成石英窗片粉末支架中Ø 超小容量或粘稠样品可以夹在两个窗片之间Ø 不透明和浑浊样品可以在小样品池(小于10mm)中测量

荧光采样附件的详细资料：详情请联系吴小姐：15080317079采样附件满足您的各种应用需求远程光纤附件远程光纤附件让您能够在样品处进行测量，从而避免将样品放入仪器内。它内含能在280-800nm范围内操作的双分支合成石英光纤(长 1m)和安插在分光计上的外引光路系统。本附件是对荧光纸和纤维织物进行远程无损测试，或对危险材料进行远程采样的理想选择。用于LS50B/45/55 L2250144全发射附件全发射附件能增强荧光检测的灵敏度，便于检测弱发射样品。推荐使用在生物发光和化学发光实验中。该附件利用一个能转动到发射光单色仪前方的平面镜来实现对样品全部荧光的测量。推荐使用截止发射滤光片来减少来自其他波长的发射。LS55分光计附带五个软件控制的发射滤光片。用于LS50B/55 L2250101需由PerkinElmer服务工程师安装前表面附件*高分子材料稳定性和荧光增白剂属性研究的理想之选 52123130用于固体、粉末及粘稠和不透明液体测量这个简单易用的前表面附件能将您的测量能力拓展到一系列固体和半固体样品，包括粉末、纸、塑料薄膜、布料样品、TLC板、凝胶和浑浊液体。该附件可用于LS-50B/45/55分光计。特色和优势Ø 用于荧光和磷光测量Ø 样品可以直接置于附件中，或放置在合成石英窗片粉末支架中Ø 超小容量或粘稠样品可以夹在两个窗片之间Ø 不透明和浑浊样品可以在小样品池(小于10mm)中测量

PerkinElmer荧光分光光度计LS-55主要特点：使用方面,性能稳定,可配备多种附件适应不同的应用范围。 PerkinElmer荧光分光光度计LS-55技术参数：波长精度: ±1nm 波长重复性: ±0.5nm 带宽: 激发狭缝缝2.5-15nm, 发射狭缝2.5-20nm 调节步距均为0.1nm 扫描速度: 10-1500nm/分, 调节步距为1nm 亦可按时间收集数据 发射滤光片: 290, 350, 390, 430, 及515nm, 5片 另有1%衰减片,均由软件选择 灵敏度: 用350nm激发波长测定纯水拉曼谱带,在拉曼峰处最低信噪比为750:1(RMS), 在基线处最低信噪比为2500:1(RMS) 是在LS-50B型基础上的改进型。结合一定的附件和软件，本机可以有广泛的应用范围，不论工作中需要荧光、磷光或化学发光及生物发光的检测，这都是恰当的选择。 PerkinElmer荧光分光光度计LS-55可测定荧光、磷光、生物发光或化学发光。激发狭缝2.5—15nm，发射狭缝为2.5—20nm。脉冲式氙灯（寿命长、电源供应简单，产生臭氧极少，不需长时间预热；大大减少光解作用；每一脉冲间测定暗电流，增进低荧光量的测定；用软件控制即可测定磷光，不需附件；磷光的灵敏度不损失脉冲率、延迟时间及门限时间均可变更）；信噪比：750：1（RMS，350nm处纯水拉曼谱带），基线处为2000：1（RMS）；大样品室保证可安装多种计算机控制的附件、可提供的附件最全；包括固体样品架；新概念的软件；FL WinLabTM（具有强大的二维/三维显示功能，开辟了分析复杂组份混合物的新途径）。

金相专用镶嵌料适用于各种不同类型的镶嵌机，以便于测试微小、超薄工件的硬度和观察金相组织。适用于国内、外各种型号、规格的镶嵌机。所有金相镶嵌料系列产品，均针对金相试样的特点，选用特殊材料和特殊添加剂制作而成。在镶嵌后与样品的结合牢固紧密，与样品边缘不易产生缝隙，从而避免各种外来干扰。热镶嵌料可选颜色规格有：黑色、白色、透明、红色、绿色、黑色导电使用方法：镶嵌机加热到130±5℃ 保温8-10分钟。储存方法：本产品不易受潮和受热，应储存在干燥通风的库房内，温度不超过35℃，不得靠近火源，避免阳光直射。包装：1kg瓶装

校准用参考材料使用珀金埃尔默的磁性参考材料可确保获得准确的热重量测定值。订货信息：产品描述部件编号一套包括5种参考材料（镍铝锰合金、镍、坡莫合金、铁和Hisat-50）*02190071镍铝锰合金的参考材料（154.2°C）09988015镍参考材料（355.3°C）N5190869坡莫合金的参考材料（596°C）N5190616铁参考材料（780°C）09988017铟校准参考品03190033锡校准参考品03190034铅校准参考品03190035锌校准参考品03190036银校准参考品N5370438校准用砝码（TGA 6、TGA 4000、STA6000）N5200042校准用砝码（100 mg）09908397用于NOACK润滑油测试的重量校准标准品套装**N5370140*磁性校准参考材料以产品套装的形式提供，但现在为方便您选购，我们也单独销售每种参考材料。我们建议您每次进行仪器校准时均使用新鲜的参考材料。这样，您可避免参考材料在居里点出现磁滞和氧化效应。**本品通过NOACK方法来校准用以运行ASTM测试方法D5800（测定润滑油的蒸发损失量）的TGA或STA。

THz材料 太赫兹 (THz) 波是频率为~0.1-10 THz (~3 mm - 30 μm, 3 cm-1 - 300 cm-1) ，介于微波和中红外区域的电磁波。和可见和红外光相比，THZ波可以穿透常规的材料，如：皮肤，塑料，衣服或者纸材料。由于光子能量低，因此，他不会造成和离子辐射（X光）一样的损害。这些特点使其能够应用在处理（如药物生产），质量控制以及THZ成像领域。现在也很多人想把它应用在安保，包裹检查，半导体特征分析，化学组成分析以及生物研究领域。对于传统的THZ应用，我们采用High Resistivity Float Zone Silicon (HRFZ-Si)材料，因为他是研究得最多的材质，而且在THZ波段有很好的透过率。同时，我们也研究了可应用在THZ波段的其他材料。 在下面，你就能看到我们采用的其他材料在THZ波段的透射光谱和其他特点。我们用ABB的FTIR光谱仪Bomem DA3和Bruker IFS 125HR (测量精度为2-3%@；4-5% @ 100 μm)来测量THZ波。近红外的测量采用Perkin Elmer的 “Lambda- 9” (测量精度。1. 晶体 晶体如硅，石英和蓝宝石在THZ光学元件中都是常用的材料。1.1 高阻硅(HRFZ-Si)除了人造钻石，高阻硅是威力晶体材料适合极宽范围从(1.2 μm) 到mm (1000 μm)波。和钻石相比，它要便宜的多，并且生长制造更容易。而且他尺寸更大，更容易制造，THZ技术的快速发展，就基于该优点。对于THZ应用，我们提供在1000 μm (对于更长波长，3000甚至8000微米)透过率达到50-54%的High Resistivity Float Zone Silicon (HRFZ-Si)。 Fig.1 Transmission and reflection of HRFZ-Si 5.0 mm-thick sample in THz range.HRFZ-Si 在THZ波段传输损耗低。如图2所示，HRFZ-Si 中的THZ波形和空气中的波形非常相似。这表明HRFZ-Si 的吸收很少。 Fig.2 The THz signals transmitted through air and HRFZ-Si.(*)合成电解质硅的介电常数由传导率决定（例如：自由电子-载流子浓度）。图3显示的是在1THZ下，不同纯度下的硅的介电常数.低掺杂的介电常数接近真实值，大约等于高频介电常数。随着掺杂浓度的提高，真实的介电常数将变成负数，而且不能被忽略。介电常数表征的是THZ波的传输损耗特性。损耗系数可以用下面的公式计算：tanδ=1/(ω*εv*ε0*R), 这里 ω – 圆频率, εv – 真空下的介电常数（8.85*10-12 F/m）。ε0 –硅的介电常数(11.67), R是电阻值。例如，1THZ下，10 kOhm 阻值的HRFZ-Si损耗系数为1.54*10-5。 Fig.3 Real (solid, ε1) and imaginary (dashed, ε2) part of dielectric permittivity of n-type silicon with different impurity concentration at 1 THz.(**)1.2石英晶体 Z-cut的石英晶体是传输50 μm以上波长的最好材料之一。Z-cut的石英晶体窗口镜传输可见光，很容易用He-Ne激光器来调准直。 Fig.4 Transmission and reflection of crystal quartz 1.0 mm-thick sample.由于色散非常大，石英晶体材料的透镜将对可见和远红外的产生不同的焦距。如果需要对光学系统准直，那就必须考虑透镜的色散：波长, μm no ne 0.589 1.544 1.553 6.0 1.32 1.33 10.0 2.663 2.571 30.0 2.5 2.959 100.0 2.132 2.176 200.0 2.117 2.159 333.3 2.1132.156 石英晶体是双折射材料，如果电磁波的偏振态很重要，那就必须考虑双折射问题。我们用X-cut的石英晶体来制作λ/2和λ/4的THZ波片。1.3蓝宝石 蓝宝石和石英晶体一样，对于THZ波段和可见光波段是透明的。可以从下面图看出，对于600 μm波段，光谱传输曲线并不取决于厚度的测量误差。在小于600 μm 波段，样品的厚度从1到5mm，透过率变化很大。对于薄的样品，在很短的波长，透过率就已经饱和了。Fig. 5 Transmission and reflection of sapphire samples with different thickness.就象 HRFZ-Silicon一样,蓝宝石也可以在光电导天线上，因为他们对于THZ波段的折射率几乎一样。 2. 聚合物 在大量聚合物中，有一些对THZ波是透明的，反射率很低。一般意义上说，最好的材料是TPX (polymethylpentene), polyethylene (PE), polypropylene (PP),和polytetrafluoroethylene (PTFE or Teflon).对于长波长，这些聚合物的透过率曲线也很平坦。 对于短波长，主要是内部的不均匀性就会导致一些散射和波动。也就是说，聚合物对短波长呈现出不透明的特点。2.1 Polymethylpentene (TPX) TPX 是所有已知聚合物中最轻的。它对紫外，可见和THZ波段是透明的。当然也就是可以用He-Ne激光器来进行准直。该聚合物折射率约为1.46，和波长关系不大: λ, μm n 0.633 1.463 24 1.4568 60 1.4559 300 1.46 667 1.46 1000 1.4650 3191 1.466 TPX对mm波的传输损耗非常低。它有非常优良的热阻，并且能抗一些商用的化学品的腐蚀。 6 Transmission of TPX 2 mm-thick sample. THz region. Fig. 7 Transmission of TPX 2 mm-thick sample. NIR&MIR regions. Fig. 8 Transmission of TPX 2 mm-thick sample. UV&VIS&NIR ranges.TPX的主要参数：密度, g/cm3 0.83 抗张强度 4100 psi ~28.3 MPa 拉伸模量 280000 psi ~1930.5 MPa 抗张伸展率, % 10 绕曲强度6100 psi 42.1 MPa 绕曲模量 210000 psi 1447.8 MPa 热偏温度, °C100融化温度, °F/°C 464/240 吸水率 (ASTM-D 1228), %透水汽性 (thk 25 μm, 40C, 90%RH), g/m2*24h110透气性y (thk 100 μm), cm3/m2*d*MPa120000TPX是很硬的固体材料，可以用来加工成不同的光学元件，如透镜和窗口镜。而且通常TPX还可用在CO2激光泵浦分子激光的系统中作为输出窗口镜。因为它对整个THZ波段都是透明的，并且可以反射10微米的泵浦光。TPX窗口镜还可以在低温保持器中作为“冷”窗口。因为TPX在THZ波段的透明度和温度无关，折射率的温度系数3.0*10-4 K-1 (for the range 8-120 K)。 Fig. 9 Temperature dependence of refractive index.(***) 和其他用在THZ波段的材料比较，TPX的特性更好，例如它是Picarin (Tsurupica)透镜很好的替代品。另外，TPX更便宜，而且比Picarin更容易获得。 Fig. 10 Transmission of 2 mm-thick samples of TPX, Picarin, and HDPE.2.2 Polyethylene (PE) PE是请的弹性晶体材料。它可以加热到110°C，也可以冷却到-45 ÷ -120°C。PE拥有良好的介电特性，防腐蚀性和抗辐射性。但是，它在紫外波段和油腻的环境下不够稳定。在生物学上来讲，PE很不活跃，很容易处理。在23°C下密度为0.91-0.925 g/cm3，张力流限为8-13 MPa，弹性模数为118 - 350 MPa，在很宽的光谱范围内折射率都约为1.54。通常，高密度的polyethylene (HDPE)也来作为组件材料。除了作为厚透镜和窗口镜，薄的HDPE还可用来作为THZ偏振片。我们用HDPE作为Golay Cell的窗口镜。 Fig. 11 Transmission of 2 mm-thick HDPE sample. THz region. Fig. 12 Transmission of 2 mm-thick HDPE sample. NIR&MIR region. Fig. 13 Transmission of 2 mm-thick HDPE sample. VIS&NIR region.很遗憾, HDPE对可见光的透过率非常低，因此，它不能用来作为光学系统的准直元件。 我们还应该注意到HDPE的THZ透射率并不取决于温度，因此可以作为低温保持器的窗口镜。折射率的温度系数为6.2*10-4 K-1 (for the range 8-120 K)。 Fig. 14 Temperature dependence of refractive index (***)2.3 Polytetrafluoroethylene (PTFE, Teflon, in Russian - Ftoroplast)PTFE 在室温下是一种白色的固体，密度约为2.2 g/cm3。熔点为327°C, 在-73°C 到 204°C温度范围内它的主要特点都差别不大，在比较宽的波段范围内，折射率都约为1.43。 Fig. 15 Transmission of PTFE film ~0.1 mm-thick. THz region. Fig. 16 Transmission of PTFE film ~0.1 mm-thick. NIR&MIR region.由于对1-7 μm波段范围内透明度都很高，PTFE薄片通常用来制作IR偏振片。这种偏振片的价格比晶体材料的便宜。这样就使他们在IR偏振应用中能够得到大量使用。PTFE的主要参数：抗张强度 3900 psi ~26.7 MPa 拉伸模量 (psi) 80000 psi ~551.6 MPa 抗张伸展率 (%) 300 绕曲强度 (psi) No break 绕曲模量 (psi) 72000 耐压强度 (psi) 3500 耐压系数 (psi) 70000 总结：所有的有机材料，如TPX, PE和PTFE从~200 μm到1000 μm都有几乎一致的透过率，达到80-90%。当然，他们也可以传输更长的波长。由于反射损耗，晶体材料如硅，石英和蓝宝石在THZ波段的透过率很低。对于硅材料，从50 μm开始，透过率为50-54%；对于石英，从120 μm开始，透过率70%；对于1-2mm厚的蓝宝石，从350 μm开始透过率50%。

用来测定固体、粉末和粘性或不透光液体这种简单易用的前表面附件可将您的测定能力扩展至种类多样的固体和半固体样品，其中包括粉末、纸片、塑料薄膜、布样品、TLC板、凝胶和浑浊液体。这种附件可用于LS-50B/45/55光谱仪。特点和优势：可用于荧光和磷光测定样品可直接放在该附件内，也可固定在带有合成熔融硅胶窗片的粉末托架内超微量或粘性样品可夹在两个窗片之间不透光和浑浊样品可在小号比色皿内（10 mm以下）进行测定订货信息：产品描述部件编号前表面附件52123130粉末样品托架适用于前表面附件（52123130）52123164合成熔融硅胶窗片适用于粉末样品托架52123814*包括粉末样品托架（52123164）

英国Crystran 光学材料的销售团队不仅在光学方面拥有广泛的经验，而且在材料的化学和物理以及晶体生长方面也拥有丰富的经验。通过与客户保持密切联系并尽可能提供直截了当的诚实建议 不论是光学器件还是大批量生产，Crystran 随时准备快速满足您的要求 通过我们在德国的联营公司的代理机构，我们可以使用欧洲一些好的晶体生长设施，这些机构以其高品质的光学氟化物材料而闻名。我们使用我们集团内部或库存的晶体制造坯料和抛光光学元件锭存放在 Crystran，以确保低的成本和快速的交货时间。通过不断改进我们的生产方法和投资新设备，我们能够保持价格竞争力，同时提供高质量的光学元件。这些材料包括众所周知的用于红外光谱的材料，例如锗和硒化锌，但也包括氟化钙、氟化镁以及广泛的红外和紫外材料。我们还使用许多适用于可见光学或近红外和紫外的玻璃类型。滤光玻璃、高折射率玻璃甚至常见的 BK-7 都可以提供Crystran 现已通过SGS的环境标准 ISO14001:2004 认证。带有 Crystran 技术数据的光学材料清单。这是我们的红外线和紫外线材料数据库。 Crystran 不提供RED中列出的材料，数据仅供参考。ORANGE中列出的材料通常不提供，但我们可能有非常少量的可用于研究目的氟化钙作为光谱CaF 2窗口、CaF 2棱镜和CaF 2透镜具有广泛的红外应用。尤其是纯级氟化钙 (CaF 2 ) 在 UV 和作为 UV 准分子激光窗口中有有用的应用。氟化钙 (CaF 2 ) 可作为伽马射线闪烁体氟化钙（CaF2或萤石）通过真空 Stockbarger 技术生长，直径可达约 250 毫米。 用于红外线的晶体通常使用天然开采的萤石生长以降低成本。它不会在 UV 和 VUV 中具有佳透射率，并且由于杂质而可能在 300nm 处具有吸收带。 对于 UV 和 VUV 应用，通常使用化学制备的原材料。对于准分子应用，我们仅使用高等级的特殊材料和晶体

名称型号规格价格（元） 电极抛光材料（美国进口） 120抛光材料整套9001.0微米抛光粉（4.5g）1000.3微米抛光粉（4.5g）1000.05微米抛光粉（17g）150抛光绒布（张）40尼龙抛光布（张）40金相砂纸（张）15

抛光材料为美国标乐公司抛光材料一瓶1.0 um - 氧化铝粉，一瓶0.3 um -氧化铝粉，1大瓶 0.05 um -氧化铝粉，2块固定抛光布用的玻璃板，5片73mm直径1200金相砂纸（灰色），5片73mm直径尼龙抛光布（白色）和10片73mm直径Microcloth抛光布(咖啡色)。

当需要样品采集和运输时，诊断测试有效性会取决于如何合理的收集体液样品。经常分析的样品包括血，唾液，尿，汗，血浆，眼泪和粪便。Whatman的高纯度的纤维素材料保证了所有这些样品类型收集的准确、可靠。功能和优点 &bull 最小的样品干扰 在生产过程中采用高纯度原材料 &bull 宽广的收集能力 不同的吸附能力可以满足不同样品的需要 &bull 样品运输简便样品可以被干燥在材料上以准备下一步的重新水化。产品范围和属性CF2适合于采集少量半固体样品。内含湿强组分，提高添加样品时的强度。CF3100%棉绒。适合高纯度要求的中等量样品CF5100%棉绒。比CF3具有更大的样品吸收量，适合大容量样品。CF7具有最强吸收能力的100%棉绒材料。比较合适诸如唾液类的大体积样品收集。CF10高纯度棉绒材料。非常合适检测蛋白/酶的测试903蛋白保存卡不含添加剂的高纯度棉绒材料。适合于蛋白、酶、代谢物的检测。广泛用于生物标本的采集。上海楚柏实验室设备有限公司为您提供实验室整体解决方案（实验室设计、实验室家具、仪器、耗材、试剂等&hellip &hellip ）可电话咨询：021-67696665

荧光采样附件的详细资料：详情请联系吴小姐：15080317079采样附件满足您的各种应用需求远程光纤附件远程光纤附件让您能够在样品处进行测量，从而避免将样品放入仪器内。它内含能在280-800nm范围内操作的双分支合成石英光纤(长 1m)和安插在分光计上的外引光路系统。本附件是对荧光纸和纤维织物进行远程无损测试，或对危险材料进行远程采样的理想选择。用于LS50B/45/55 L2250144全发射附件全发射附件能增强荧光检测的灵敏度，便于检测弱发射样品。推荐使用在生物发光和化学发光实验中。该附件利用一个能转动到发射光单色仪前方的平面镜来实现对样品全部荧光的测量。推荐使用截止发射滤光片来减少来自其他波长的发射。LS55分光计附带五个软件控制的发射滤光片。用于LS50B/55 L2250101需由PerkinElmer服务工程师安装前表面附件*高分子材料稳定性和荧光增白剂属性研究的理想之选 52123130用于固体、粉末及粘稠和不透明液体测量这个简单易用的前表面附件能将您的测量能力拓展到一系列固体和半固体样品，包括粉末、纸、塑料薄膜、布料样品、TLC板、凝胶和浑浊液体。该附件可用于LS-50B/45/55分光计。特色和优势Ø 用于荧光和磷光测量Ø 样品可以直接置于附件中，或放置在合成石英窗片粉末支架中Ø 超小容量或粘稠样品可以夹在两个窗片之间Ø 不透明和浑浊样品可以在小样品池(小于10mm)中测量

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1．企业介绍泰州巨纳新能源有限公司巨纳集团(SunanoGroup)是能源行业的知名品牌。泰州巨纳新能源有限公司(SunanoEnergy)是国内最早的从事石墨烯制备、性能检测及应用产品开发的公司之一，注册资本11000万元，有办公用房300多平方米，厂房和洁净室3000多平方米。核心研发团队主要由国内外知名高校博士组成，部分成员来自于2010年诺贝尔物理学奖小组，项目技术处于国际领先地位，在石墨烯领域拥有专利30余项。企业管理团队有丰富的成功创业经验，创新意识强，公司客户遍布全球。2．产品简介巨纳石墨烯材料简介石墨烯薄膜材料（国家创新基金产品、江苏省科技支撑计划产品、江苏省高新技术产品）l铜基单晶/多晶少层石墨烯l二氧化硅/硅基石墨烯薄膜石墨烯粉体材料（江苏省高新技术产品）l石墨烯粉体材料l还原氧化石墨烯粉体高质量二维晶体材料简介二维晶体材料指的是以石墨烯为代表的单原子层及少数原子层厚度的晶体材料。巨纳集团除了提供石墨烯材料、设备、检测等一体化服务外，还联合荷兰HQGraphene为全球客户提供高质量的类石墨烯二维晶体材料，并提供定制服务，以满足客户的不同需求。3．优惠政策a.一次性采购满1000元送泰州石墨烯研究检测平台检测现金券50元，多买多送；b.检测现金券有效期2015年1月1日至2015年12月31日；c.检测现金券可累积使用

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多孔不锈钢主要应用于石油化工、冶金、航空航天、生物制药、气流分布、能源、食品、环保、稳流等行业，如催化剂过滤、药液提纯、气体除尘、牛奶果汁净化浓缩等。此外，多孔不锈钢还常被用作陶瓷、分子筛、高分子等功能材料的载体。产品描述:　　我公司使用了多种生产技术，开发生产出了新型多孔不锈钢材料。　　外径：5mm—100mm　　长度：10mm—1500mm　　孔径：0.2um—50um　　形状：管式、片式　　可根据用户要求定制各种规格的多孔不锈钢滤芯。我公司可按客户要求定制、研发各种多孔金属材料、器件与设备。新型多孔不锈钢材料特点：1、机械强度高、韧性好2、耐压性高，易于连接和密封3、稳定性好，抗热震性强4、孔径可控5、使用寿命长，经济效益高

无机材料拉曼光谱库订货号: 6.6071.619无机材料拉曼光谱库（ 960 种光谱；取自光谱库 6.6071.617）。

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