面分析

表面和界面的性质在材料制备、性能及应用等方面都起着重要作用，是材料科学领域研究的重要课题。2023年12月18-21日，由仪器信息网主办的第五届材料表征与分析检测技术网络会议将于线上召开，会议聚焦成分分析、微区结构与形貌分析、表面和界面分析、物相及热性能分析等内容，设置六个专场，旨在帮助广大科研工作者了解前沿表征与分析检测技术，解决材料表征与分析检测难题，开展表征与检测相关工作。其中，在表面和界面分析专场，北京师范大学教授级高工吴正龙、国家纳米科学中心研究员陈岚、暨南大学 实验中心主任/教授谢伟广、上海交通大学分析测试中心中级工程师张南南、岛津企业管理（中国）有限公司应用工程师吴金齐等多位嘉宾将为大家带来精彩报告。部分报告内容预告如下（按报告时间排序）：北京师范大学教授级高工 吴正龙《X射线光电子能谱（XPS）定量分析》点击报名听会吴正龙，在北京师范大学分析测试中心长期从事电子能谱、荧光和拉曼光谱分析测试、教学及实验室管理工作。熟悉表面分析和光谱分析技术，积累了丰富实验测试经验。主要从事薄膜材料、稀土发光材料研究及石墨烯材料表征技术、表面增强拉曼光谱技术的研究，在国内外期刊发标多篇学术论文。现任全国表面化学析技术委员会副主任委员，主持和参与多项电子能谱分析方法标准。近年来，在多场国内电子能谱应用技术交流培训会上担任主讲人。报告摘要：X射线光电子能谱（XPS）作为最常用的表面分析技术，表面探测灵敏度高，可以检测表面化学态物种的表面平均含量、表面偏析；分析薄膜组成结构；评估表面覆盖、表面分散、表面损伤、表面吸附污染等。本报告在简要介绍XPS表面定量分析原理基础上，通过实际工作中的一些实例，探讨XPS定量结果解释，帮助大家正确理解XPS定量分析结果，更好地利用XPS技术分析表面。岛津企业管理（中国）有限公司应用工程师 吴金齐《岛津XPS技术在材料表面分析中的应用》点击报名听会吴金齐，岛津分析中心应用工程师，博士毕业于中山大学物理化学专业，博士毕业后加入岛津公司，主要负责XPS的应用开发、技术支持、合作研究等工作，使用XPS技术开展不同行业材料表征相关研究，具有多年XPS仪器使用经验，熟悉XPS数据处理及解析，合作发表多篇SCI论文。报告摘要：介绍相关表面分析技术及XPS在材料表面分析中的应用。国家纳米科学中心研究员 陈岚《纳米气泡气液界面的检测》点击报名听会陈岚，爱尔兰国立科克大学理学博士，剑桥大学居里学者，2014年至今，先后任国家纳米科学中心副研究员、研究员及博士研究生（合作）导师；主要从事纳米界面微观检测及纳米界面光电化学性能调控方面的研究；ISO/TC281注册专家，全国微细气泡技术标准化技术委员会（SAC/TC584）委员，中国颗粒学会微纳气泡、气溶胶专委会委员，Frontiers in Materials及Catalysts客座编辑，科技部在库专家，北京市科委项目评审专家；主持科技部发展中国家杰出青年科学家来华工作计划1项，参与国家重点研发计划“纳米科技”重点专项、“纳米前沿”重点专项各1项；共发表论文近60篇，授权专利9项，编制国家标准10部。报告摘要：体相纳米气泡具有超常的稳定性及超高的内压，高内压的纳米气泡在溶液中稳定存在的机制一直众说纷纭。因此，研究纳米气泡边界层对于解释纳米气泡的稳定性具有重要的意义。由于纳米气泡气液界面的特点，检测体相纳米气泡边界层十分困难，常规的方法和技术手段很难实现。在本工作中，首次采用低场核磁共振技术（LF-NMR）对体相纳米气泡边界层中水分子的弛豫规律进行了系统研究，提出了纳米气泡边界层测量的数学模型，并成功地测得了不同尺寸纳米气泡的边界层厚度。研究发现，纳米气泡粒径越小，边界层所占比例越高，因而也越可以对更高内压的气核进行有效保护，纳米气泡的稳定性也可以据此进行定量解释。暨南大学 实验中心主任/教授谢伟广《范德华异质结光电探测及光电存储器件》点击报名听会谢伟广，暨南大学物理与光电工程学院教授，博导。2007年博士毕业于中山大学凝聚态物理专业，导师为许宁生院士；研究方向是微纳尺度多场耦合行为及应用，半导体光电转换过程、器件及集成；在Advanced Materials, ACS Nano等期刊发表SCI论文80多篇，代表性成果包括：实现了多种二维半导体氧化物的CVD制备，首次发现了极性二维氧化物长波红外低损耗双曲声子极化激元现象；发展了钙钛矿薄膜的真空气相制备方法，实现了高效气相太阳能电池及光电探测阵列的制备。研究团队发展的多项方法已被国内外同行广泛采纳，并在Nature、Sciecne等著名期刊正面评价。主持国家基金面上项目、重点项目子课题、广东省自然科学基金杰出青年基金项目等多项项目；于2022年（排名第一）获得中国分析测试协会科学技术（CAIA）奖一等奖。报告摘要：二维钙钛矿（2DPVK）具有独特的晶体结构和突出的光电特性，设计2DPVK与其他二维材料的范德华异质结，可以实现具有优异性能的各类光电器件。本报告主要介绍下面两种异质结器件：（1）光电探测器：制备了2DPVK/MoS2范德华异质结器件，由于II型能带排列中层间电荷转移所诱导的亚带隙光吸收，器件在近红外区域表现出了单一材料均不具备的光电响应。在此基础上引入石墨烯（Gr）夹层，借助Gr的有效宽光谱吸收和异质结中光生载流子的快速分离和输运，2DPVK/Gr/MoS2器件的近红外探测性能进一步得到了大幅提升。（2）光电存储器：开发了基于MoS2/h-BN/2DPVK浮栅型光电存储器，其中2DVPK由于其高光吸收系数，能同时作为光电活性层与电荷存储层，器件展现了独特的光诱导多位存储效应以及可调谐的正/负光电导模式。上海交通大学分析测试中心中级工程师 张南南《紫外光电子能谱（UPS）样品制备、数据处理及应用分享》点击报名听会张南南，博士，2019年毕业于吉林大学无机化学系，同年入职上海交通大学分析测试中心，研究方向为材料的表界面研究，主要负责表面化学分析方向的X射线光电子能谱仪（XPS）及飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）方面的测试工作。获得上海交通大学决策咨询课题资助，授权一项发明专利，并在 J. Colloid Interf. Sci.， Catal. Commun.等期刊发表了相关学术论文。报告摘要：紫外光电子能谱(UPS)，能够在高能量分辨率水平上探测价层电子能级的亚结构和分子振动能级的精细结构，广泛应用在表/界面的电子结构表征方面。本报告主要介绍UPS原理、样品制备、数据处理以及在钙钛矿太阳能电池、有机半导体、催化材料等领域的应用。参会指南1、进入第五届材料表征与分析检测技术网络会议官网（https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/icmc2023/）进行报名。扫描下方二维码，进入会议官网报名2、会议召开前统一报名审核，审核通过后将以短信形式向报名手机号发送在线听会链接。3、本次会议不收取任何注册或报名费用。4、会议联系人：高老师（电话：010-51654077-8285 邮箱：gaolj@instrument.com.cn）5、赞助联系人：周老师（电话：010-51654077-8120 邮箱：zhouhh@instrument.com.cn）

材料是人类赖以生存和发展的物质基础，各种材料的运用很大程度上反映了人类社会的发展水平，而材料科学也日益成为人类现代科学技术体系的重要支柱之一。 材料表面分析是对固体表面或界面上只有几个原子层厚的薄层进行组分、结构和能态等分析的材料物理试验。也是一种利用分析手段，揭示材料及其制品的表面形貌、成分、结构或状态的技术。为此，岛津针对性地提供了全面的表征解决方案，助力材料科学研究。 材料表面分析扫描探针显微镜SPM / X射线光电子能谱仪 / 电子探针显微分析仪EPMA 原子力显微镜 SPM-9700HT SPM-9700HT在基本观察功能的基础上融入了更强的测量功能，具备卓越的信号处理能力，可得到更高分辨率、更高质量的观察图像。SPM-9700HT 应用：金属蒸镀膜的表面粗糙度分析以1 Hz和5 Hz的扫描速度对金属蒸镀膜的表面形貌进行观察，画质及表面粗糙度的分析结果相同。 应用：光栅沟槽形状检测以1Hz和5Hz的扫描速度对光栅的表面形貌进行观察，经过断面形状分析，沟槽形状检测结果均相同。可控环境舱原子力显微镜 WET-SPM WET-SPM为原子力显微镜实验提供各种环境，如真空、各种气体（氮、氧等）、可控湿度、温度、超高温，超低温、气体吹扫等。实现了原位扫描，可追踪在温度、湿度、压力、光照、气氛浓度等发生变化时的样品变化。 WET-SPM 应用：树脂冷却观察室温下树脂的粘弹性图像中，可以观察到两相分离。冷却至-30℃，粘弹性的差异基本消失。 应用：聚合物膜的加热观察聚合物膜在不同加热温度下的形貌变化，在相位图上可清晰观察到样品表面因加热而产生的物理特性变化。调频型高分辨原子力显微镜 SPM-8100FM 岛津高分辨率原子力显微镜SPM-8100FM使用调频模式，极大提高了信号的灵敏度，即使在大气环境甚至液体环境中也能获得与真空环境中同样超高分辨率表面观察图像。无论是表面光洁的晶体样品还是柔软的生物样品，都实现了分子/原子级的表征。SPM-8100FM首次观察到固体和液体临界面（固液界面）的水化、溶剂化现象的图像，因此实现了对固液界面结构的测量分析。 SPM-8100FM 应用：液体中原子级分辨率观察图为在饱和溶液中观察NaCl表面的原子排列。以往的AFM（调幅模式）图像湮没在噪声中。通过调频模式则可以清晰地观察到原子的排列，实现真正的原子级分辨率。 应用：大气中Pt催化粒子的KPFM观察通过KPFM进行表面电势的测定，TiO2基板上的Pt催化粒子可被清晰识别。同时可以观察到数纳米大小的Pt粒子和基板间的电荷交换。右图中，红圈区域是正电势，蓝框区域是负电势。对于KPFM观察，调频模式也大幅提高了分辨率。 X射线光电子能谱仪AXIS SUPRA+ X射线光电子能谱仪（XPS）是一种被广泛使用的表面分析技术，主要用于样品的组成和化学状态分析，可以准确地确定元素的化学状态，应用于各种低维新材料、纳米材料和表面科学的研究中。AXIS SUPRA+是岛津/Kratos最新研发出的一款高端X射线光电子能谱仪，具备高能量分辨、高灵敏度、高空间分辨的特点。 AXIS SUPRA+ 化学状态和含量分析 深度剖析 化学状态成像分析电子探针显微分析仪 EPMA 电子探针显微分析仪（Electron Probe Micro-Analyzer，EPMA）使用单一能量的高能电子束照射固体材料，入射电子与材料中的原子发生碰撞，将内壳层的电子激发脱离原子，在相应的壳层上留下空穴，在外壳层电子向内壳层空穴跃迁的过程中，发出具有特征波长的X射线。EPMA使用由分光晶体和检测器组成的波谱仪检测这些特征X射线，用于材料成分的定性、定量分析。 EPMA的波谱仪的检测极限一般为0.005%左右，检测深度为微米量级，其成分像的二维空间分辨亦为微米量级，定量分析的精度可以达到传统的化学分析方法水平。 配备了多道波谱仪的EPMA是材料学研究中微区元素定性、定量分析的不二之选，属于科研工作必不可少的分析仪器。 EPMA-1720 EPMA-8050G 应用：超轻元素EPMA分析－渗碳均匀性的图象分析

p　　表面科学是上世纪60年代后期发展起来的一门学科，目前已经成为国际上最为活跃的学科之一。材料表面的成分、结构、化学状态等与内部有明显的不同，而表面特性对材料的物理、化学等性能影响很大。随着材料科学、化学化工、半导体及薄膜、能源、微电子、信息产业及环境领域等高新技术的迅猛发展，对于表面分析技术的需求日益增多。/pp　　由于最近几十年超高真空、高分辨和高灵敏电子测量技术的快速发展，表面分析技术也有了长足进步。目前，全球已经开发了数十种常用的表面分析技术，如a title="" href="http://www.instrument.com.cn/zc/70.html" target="_self"strongX射线光电子能谱(XPS)/strong/astrong、/stronga title="" href="http://www.instrument.com.cn/zc/519.html" target="_self"strong俄歇电子能谱(AES)/strong/a、二次离子质谱(SIMS)、a title="" href="http://www.instrument.com.cn/zc/1526.html" target="_self"strong辉光放电光谱(GDS)/strong/a、扫描探针显微镜(SPM)等。/pp　　X射线光电子能谱仪(XPS)与俄歇电子能谱(AES)是重要的表面分析技术手段。XPS在分析材料的表面及界面微观电子结构上早已体现出了强大的作用，它可用于材料表面的元素定性分析、半定量分析、化学状态分析、微区分析以及深度剖析( 200nm)等。俄歇电子能谱(AES)主要检测由表面激发出来的俄歇电子来获取表面信息，它不仅能定性和定量地分析物质表界面的元素组成，而且可以分析某一元素沿着深度方向的含量变化。辉光放电光谱技术是基于惰性气体在低气压下放电轰击样品表面，溅射出的表面原子因激发而发光的原理而发展起来的光谱分析技术。与其他表面分析技术如俄歇电子能谱(AES)、二次离子质谱(SIMS)相比，具有分析速度快，分析成本低等优势。/pp　　TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱)采用一次离子轰击固体材料表面，产生二次离子，并根据二次离子的质荷比探测材料的成分和结构。TOF-SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术，可以精确确定样品表面元素的构成：通过对分子离子峰和官能团碎片的分析可以方便的确定表面化合物和有机样品的结构，配合样品表面的扫描和剥离，可以得到样品表面甚至三维的成分图。相对于XPS、AES等表面分析方法，TOF-SIMS可以分析包括氢在内的所有元素，可以分析包括有机大分子在内的化合物，具有更高的分辨率。/pp　　目前表面分析仪器的主要供应商Thermo Fisher、Shimadzu、Phi、Joel、VG Sceinta、PreVac、SPECS、Omicron等。/pp　strong　表面分析技术与市场/strong/pp　　表面分析技术已经在生产企业中得到了广泛的应用，如进行半导体失效分析等。国内表面分析技术起步于80年代，广泛应用于基础科研、先进材料研制、高精尖技术、装备制造等领域 目前全国的表面分析仪器有300台左右，其中，北京地区拥有大型表面分析仪器设备20多台，从事专业表面分析相关工作的人员有50多人，大量分布于各大高校、科研院所 国内学者主要是利用XPS、AES等表面分析技术研究材料表面与界面的物理化学反应机理，研究热点主要集中在催化材料、碳纳米管石墨烯等新型材料、聚合物太阳能电池等新型器件等。/pp　　Markets and Markets的最新市场调查报告预计，到2020年，表面分析市场将达到约39.897亿美元 2015年到2020年期间，该市场将以6.2%的复合年增长率增长。然而，仪器成本高等因素将限制表面分析市场的增长。/pp　　该报告称，半导体行业是表面分析技术最大的终端用户所在领域，该技术显著改善各种应用，如测量薄膜的厚度、密度和组成，掺杂剂量和剖面形状等。在解决半导体行业所面临的一些主要挑战时，表面分析技术扮演着至关重要的角色，包括识别和定位跟踪半导体中痕量级别的杂质，认证新的生产工具和量化散装掺杂物等。此外，在过去的几年里，由于利用表面分析技术进行缺陷识别、微量金属污染检测、薄膜或样品的深度分析、失效分析的需求不断上升，使得表面分析技术在能源、医疗保健、聚合物、薄膜、冶金、食品和饮料、纸张和纺织品等行业的应用也增加了。/pp　　2014年，北美地区是表面分析最大的区域市场，约占全球市场的37.0% 其次是欧洲、亚太。北美和欧洲的高市场份额主要归因于公共和私人来源对纳米技术研究的高投入、医疗设备公司增加研究支出，以及在这一地区存在的一些大公司，这些因素使得相关用户更多的应用了表面分析解决方案。亚太地区则是表面分析市场未来增长的推动力，因为该地区的低成本资源、强大客户基础、越来越多的制药研发支出、越来越多的大公司在这个地区建立研发和生产设施等因素，使得亚太地区存在着巨大的投资机会。市场的增长可能会集中在印度、中国、韩国、日本。/pp　　截至2013年，国际上已经安装了约280套TOF-SIMS，每年约20-25台的增长量。相比之下，中国的TOF-SIMS研究刚刚起步，仅有约10套系统。世界上TOF-SIMS的用户群半导体工厂和科研院所用户各占半壁江山。/pp　strong　X射线光电子能谱仪(XPS)技术与市场/strong/pp　　Grand View Research公司研究称，到2022年，全球XPS(X射线光电子能谱)市场预计将达到7.124亿美元。XPS在医疗、半导体、航空航天、汽车和电子产品等行业的应用日益增长，以及所有这些行业中研发需求的不断增长，有望推动XPS市场增长。此外，联用技术的日益普以及其他技术的进步，如硬X射线光电子能谱(HAXPES)，也将促使XPS市场的增长。/pp　　药品安全和医学研究领域对XPS技术的需求日益增长，预计将给该市场带来增长机会。美国FDA的“安全使用倡议”和加拿大卫生部推动的“药品安全信息调查”有可能为XPS制造商提供增长的机会。在2014年北美占40.0%以上的份额，亚太地区被确定为市场增长最快的地区。在中国和印度等新兴经济体地区，存在着巨大的未满足需求、政府推出合适的计划以提高认识水平、改善商业环境等是该地区市场具有高吸引力的主要原因。在预测期间，XPS市场的竞争有望保持中等水平，仪器公司之间也将出现收购、合并等以强化产品组合和区域市场份额。/pp　　据业内资深人士介绍，关于X射线光电子能谱，目前的市场主要分两块，一个是标准化、常规的XPS，如Thermo Fisher、Shimadzu(kratos)、Phi、Joel等。目前，该市场每年的销售额大约在1亿美元左右。全球来说，估计Thermo Fisher大约60%、Shimadzu大约25%、Phi大约10%，还有其他公司的5%。还有另外一块细分市场，配有角分辨光电子能谱(ARXPS)等的XPS市场 ARXPS技术改变收集电子的发射角度，可探测到不同深度的电子 仪器公司包括VG Sceinta、PreVac、SPECS、Omicron等，这块不大，应该在2000万美元以内。所以，目前，XPS整体的市场应该在1.2亿美元左右，年增长率应该在10%以内。所以到2022年整体市场应该在2.35亿美元左右。/pp　　关于硬X射线光电子能谱(HAXPES)，由于其技术仍然不是很成熟，且由于其本身的信噪比等固有缺陷，在找到新的解决方案之前，用于科研仍然需要时间。但可以考虑在同步辐射等方面的研究需求，虽然也不会太大。整体市场可能每年50~100套，但这个源需要和比较特殊的分析器联用，所以应该属于VG Scienta、SPECS、PreVac等公司的领域。市场的容量每年大约会在1000万~2000万美元。对整体市场需求量不会有太大影响。/pp　　从国内情况看，2014年表面化学分析领域的XPS应该在20多台；物理类表面分析领域的XPS，10多台。去年全球经济不景气，国内购买表面分析仪器(含化学和物理)不会低于25%的全球销售量。/pp　　XPS技术发展至今已有几十年的历史，近年来XPS技术并没有很大的突破。据了解，单台XPS仪器价格一般在百万美元，仪器价格较高；XPS仪器技术复杂，XPS对于操作人员、售后服务人员水平要求较高；XPS技术的用户群，尤其是在中国，目前更多地集中在科研领域，应用市场的用户并不算多，XPS的销售量不太大。以上几种因素可能对XPS快速普及产生影响，需要加以关注。/pp　　不过， XPS正从“阳春白雪”向“下里巴人”过渡，如同40年前的电镜。这里并不是贬低XPS技术，因为只有成为“下里巴人”，才能有广泛的市场。(1)全球经济很好的复苏；(2)大量旧仪器更新；(3)新型仪器的出现；(4)找到工业测试的结合点；(5)货币贬值。如果以上这些因素全部开动， XPS市场才有可能快速发展。　/pp style="text-align: right "撰稿：刘丰秋/pp /p

p style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "strong材料的性能，除了取决于材料本身的组成外，其表面的成分、结构、化学状态等特性也极大程度上影响了材料的物理、化学等性能，而材料表面与内部有明显的不同，有时候，改变材料表面的结构，或许可以达到意想不到的效果。/strong/pp style="text-align: center text-indent: 0em margin-bottom: 10px "span style="font-size: 20px color: rgb(255, 0, 0) "strong因此，对材料表面结构及组成的分析就显得尤为重要。/strong/span/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "表面分析科学是上世纪60年代后期发展起来的一门学科，是目前已经成为国际上最为活跃的学科之一。随着材料科学、化学化工、半导体及薄膜、能源、微电子、信息产业及环境领域等高新技术的迅猛发展，对于表面分析技术的需求日益增多。/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "为积极推动表面分析科学与应用技术的快速发展，加强同行之间交流合作，展示表面分析技术最新的进展，由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会及仪器信息网联合举办的strong“第四届表面分析技术应用论坛——表面分析技术在新材料研究中的应用”暨“表面化学分析国家标准宣贯会”主题网络会议将于5月8日举行。/strong/pp style="text-align: center margin-bottom: 10px "a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/2020bmfx/" target="_blank"img style="width: 650px height: 142px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/63bf85a8-5dfc-45da-b1ff-74530cc5e3dc.jpg" title="w1920h420bmfxj2020(8).jpg" width="650" height="142" border="0" vspace="0" alt="w1920h420bmfxj2020(8).jpg"//a/pp style="text-align: center text-indent: 0em margin-bottom: 10px "a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/2020bmfx/" target="_blank"span style="color: rgb(255, 0, 0) "strong点击图片/strong/spanstrong style="text-indent: 0em "span style="color: rgb(255, 0, 0) "报名参会/span/strong/a/pp style="text-indent: 0em margin-bottom: 10px "a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/2020bmfx/" target="_blank"strong style="text-indent: 0em "span style="color: rgb(255, 0, 0) "/span/strong/a/pp style="text-align: center margin-bottom: 10px "a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/2020bmfx/" target="_blank"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/c4e4cf10-de01-42d6-ad15-8111a15e6e74.jpg" title="报名.JPG" alt="报名.JPG"//a/pp style="text-align: center "br//pp style="text-align: justify text-indent: 0em margin-bottom: 10px "strong一、主办单位/strong/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "北京理化分析测试学会表面分析专业委员会/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "中国分析测试协会高校分析测试分会/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "仪器信息网/pp style="text-align: justify text-indent: 0em margin-bottom: 10px "strong二、会议详情/strong/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "1. 会议时间：2020年5月8日/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "2. 会议形式：网络在线交流/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "3. 会议日程：/pp style="text-align: center"img style="" src="https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/2577a481-3f33-42ff-b5c8-1bb68e31bfe9.jpg" title="1.JPG"//pp style="text-align: center"img style="" src="https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/220a3916-279f-4710-a7c3-9526b9a87f34.jpg" title="2.JPG"//pp style="text-align: center margin-bottom: 10px text-indent: 0em "a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/2020bmfx/" target="_blank" style="text-align: center "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/421a40bb-6cac-4de9-ab76-e8707f6a75de.jpg" title="报名.JPG" alt="报名.JPG"//a/pp style="text-align: justify text-indent: 0em margin-bottom: 10px "strong/strong/pp style="text-align: center margin-bottom: 10px "a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/2020bmfx/" target="_blank"span style="color: rgb(0, 0, 0) "strong点击参会/strong/span/a/pp style="text-align: justify text-indent: 0em margin-bottom: 10px "strong三、参会指南/strong/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "strong（一）报名方式：/strong/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "1、点击“第四届表面分析技术应用论坛——表面分析技术在新材料研究中的应用”暨“表面化学分析国家标准宣贯会” 网络会议（https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/2020bmfx/）官方页面进行报名。/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "2、报名开放时间为即日起至2020年5月8日。/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "3、为使更多用户能够通过网络平台进行学习与交流，报名参加“第四届表面分析技术应用论坛——表面分析技术在新材料研究中的应用”暨“表面化学分析国家标准宣贯会”网络会议不收取注册及参会费用。/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "strong（二）参会条件：/strong/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "1、“第四届表面分析技术应用论坛——表面分析技术在新材料研究中的应用”暨“表面化学分析国家标准宣贯会”网络会议将在仪器信息网网络会议平台上举办，报告人PPT视频和讲解将实时传送给所有参会者，参会者也可通过文字向报告人提问，报告人在报告结束后统一进行解答。/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "2、参与网络会议听众需要自备一台能上网的电脑或智能手机，网络带宽超过128K。/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "strong（三）参会方式：/strong/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "1、报名参会并通过审核后，将会收到邮件通知，并在会前一天收到提醒参会的短信通知。/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "2、会议当天进入“第四届表面分析技术应用论坛——表面分析技术在新材料研究中的应用”暨“表面化学分析国家标准宣贯会”网络会议（https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/2020bmfx/）官方页面，点击“进入会场”，填写报名时手机号，即可登录会场参会。/pp style="text-align: justify text-indent: 0em margin-bottom: 10px "strong四、联系方式/strong/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "会议联系人：吴先生 18640355925/pp style="text-indent: 2em text-align: justify margin-bottom: 10px "联系邮箱：wuyou@instrument.com.cn/pp style="margin-bottom: 10px " /pp style="text-align: right margin-bottom: 10px " /pp style="text-align: right margin-bottom: 10px "国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心/pp style="text-align: right margin-bottom: 10px "北京理化分析测试学会表面分析专业委员会/pp style="text-align: right margin-bottom: 10px "中国分析测试协会高校分析测试分会/pp style="text-align: right margin-bottom: 10px "全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会/pp style="text-align: right margin-bottom: 10px "仪器信息网/p

TRISTAR II3020新一代全自动比表面和孔隙分析仪面世　　在第60届匹兹堡分析化学和光谱应用会议暨展览会上，美国麦克公司推出了一款新仪器--TRISTAR II3020，此款机器是TRISTAR 3000系列仪器的升级版，是一台全自动三站式分析仪，可测最小比表面积N2吸附低至0.01m2/g，Kr吸附可低至0.001 m2/g。标准配置的独立P0管，可以在分析时连续实时测量饱和大气压。TriStar II3020可以收集多至1000个压力点。2.75升大容量杜瓦瓶和加长的样品管能够保证等温吸附和脱附分析的完成，分析过程中无需添加液氮。新升级的Windows操作软件能够兼容TriStar和Gemini分析数据，同时新的软件系统配备了仪器自检测程序，方便用户自行对仪器故障进行判断。 　　根据仪器的功能分类： 主要包括两个型号：TRISTAR II3020(介孔单元)和TRISTAR II3020M(微介孔单元) 如果您需要更详细的资料，请向美国麦克公司中国区办事处索取。美国麦克仪器公司 地址：北京市海淀区紫竹院路31号华澳中心嘉慧苑1025室[100089] 电话：010-68489371，68489372 传真：010-68489371 E-Mail：miczhuhz@yahoo.com.cn,micling@yahoo.com.cn -------------------------------------------------------------------------------- 美国麦克仪器公司上海办事处 地址：上海市静安区新闸路831号丽都新贵15-M[200041] 电话：021-62179208,021-62179180 传真：021-62179180 E-Mail：zhuhongzhen@mic-instrument.com.cn sales@mic-instrument.com.cn -------------------------------------------------------------------------------- 美国麦克仪器公司广州办事处 地址：广州市天河区中山大道华景路华晖街四号沁馥佳苑B3-1301[510630] 电话：020-85560307,020-85560317 传真：020-85560317 E-Mail：fanrun@mic-instrument.com.cn

随着我国科技实力的显著提升，分析测试的发展也日新月异，科研及测试机构、人才队伍不断壮大，实验室环境条件大为改善，仪器装备水平迅速提高，科技产出量质齐升，重大成果举世瞩目。为积极推动表面分析科学与应用技术的快速发展，加强同行之间交流合作，展示表面分析技术最新的进展，推动分析测试质量保障体系、数据溯源体系和标准体系的建设，由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会及仪器信息网联合举办的“第十届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会”，将于2023年6月19日举行。论坛以线上会议形式，通过报告专家与参会者的深入交流，旨在共同提升理论与技术水平, 促进表面分析科学研究队伍的壮大。主办单位：国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心；全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会；中国分析测试协会高校分析测试分会；北京理化分析测试学会表面分析专业委员会；仪器信息网承办单位：仪器信息网扫码报名会议日程报告时间报告题目报告嘉宾9：00-12：00主持人姚文清（清华大学/国家电子能谱中心副主任）9：00-9：20致辞李景虹(清华大学/国家电子能谱中心/中国分析测试协会高校分析测试分会 院士/主任/主任委员)9：20-10：00待定韩晓东(南方科技大学 教授)10：00-10：40原位红外技术研究光催化界面机制陈春城(中科院化学所 研究员)10：40-11：20基于XPS-SEM的表面分析联用技术和应用葛青亲(赛默飞世尔科技（中国）有限公司 资深应用专家)11：20-12：00重新认识月球表面过程：嫦娥五号月壤的制约李阳(中国科学院地球化学研究所 副主任/研究员)12：00-14：00午休全体观众14：00-17：10主持人刘芬（中科院化学所/表面化学分析分技术委员会秘书长）14：00-14：40待定赵丽霞(天津工业大学 教授)14：40-15：20二次离子质谱（SIMS）质量分辨的测量李展平(清华大学分析中心 高级工程师)15：20-15：50待定北京艾飞拓科技有限公司15：50-16：30国际标准ISO 24417:2022《表面化学分析 辉光放电光谱法分析铁基表面的金属纳米膜》的制定张毅(宝山钢铁股份有限公司中央研究院 教授级高级工程师)16：30-17：10待定孙洁林(上海交通大学 研究员)报名链接：https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/bmfx2023/会议联系会议内容：管编辑，17862992005，guancg@instrument.com.cn会议赞助：刘经理，15718850776，liuyw@instrument.com.cn

随着我国科技实力的显著提升，分析测试的发展也日新月异，科研及测试机构、人才队伍不断壮大，实验室环境条件大为改善，仪器装备水平迅速提高，科技产出量质齐升，重大成果举世瞩目。为积极推动表面分析科学与应用技术的快速发展，加强同行之间交流合作，展示表面分析技术最新的进展，推动分析测试质量保障体系、数据溯源体系和标准体系的建设，由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会及仪器信息网联合举办的“第十一届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会”，将于2024年8月5-6日举行。论坛以线上会议形式，通过报告专家与参会者的深入交流，旨在共同提升理论与技术水平, 促进表面分析科学研究队伍的壮大。1. 主办单位国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会中国分析测试协会高校分析测试分会北京理化分析测试学会表面分析专业委员会仪器信息网2. 会议时间2024年8月5日-6日3. 会议形式仪器信息网“3i讲堂”平台4. 会议日程报告时间报告题目报告嘉宾表面分析技术与应用专场主持人：朱永法 教授9:00-9:50表面等离子体电化学显微成像清华大学李景虹 院士9:50-10:30Hydrogen Evolution via Interface Engineered Nanocatalysis新加坡国立大学陈伟 教授10:30-11:00基于原位XPS-Raman的表面分析联用技术和应用赛默飞11:00-11:30待定岛津11:30-12:10待定重庆大学周小元 教授午休表面分析技术与应用专场主持人：姚文清 研究员14:00-14:40有机共轭半导体可见光催化光水解产氢研究清华大学朱永法 教授14:40-15:10待定艾飞拓15:10-15:50气-液微界面化学成像表征及理化特性复旦大学张立武 教授15:50-16:20待定厂商报告16:20-17:00光电子能谱与能源半导体界面华东师范大学保秦烨 教授17:00-17:40待定电子科技大学董帆 教授表面化学分析国家标准宣贯专场主持人：刘芬 秘书长09:00-09:40GB/T 42518-2023 锗酸铋（BGO）晶体 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法中科院上海硅酸盐所卓尚军 研究员09:40-10:10待定厂商报告10:10-10:50GB/T 42360-2023 表面化学分析 水的全反射X射线荧光光谱分析中石化石油化工科学研究院有限公司邱丽美 研究员10:50-11:20待定厂商报告11:20-12:00GB/T 43661-2024表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜（ESPM，如SSRM和SCM）空间分辨的定义和校准中山大学陈建 教授5. 参会方式本次会议免费参会，参会报名请点击：https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/bmfx2024/ （内容更新中）报名二维码6. 会议联系会议内容：张编辑 15683038170（同微信） zhangxir@instrument.com.cn会议赞助：刘经理 15718850776（同微信） liuyw@instrument.com.cn

随着我国科技实力的显著提升，分析测试的发展也日新月异，科研及测试机构、人才队伍不断壮大，实验室环境条件大为改善，仪器装备水平迅速提高，科技产出量质齐升，重大成果举世瞩目。为积极推动表面分析科学与应用技术的快速发展，加强同行之间交流合作，展示表面分析技术最新的进展，推动分析测试质量保障体系、数据溯源体系和标准体系的建设，由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会及仪器信息网联合举办的“第八届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会”，将以线上会议形式于2022年6月14-15日举行，通过报告专家与参会者的深入交流，旨在共同提升理论与技术水平, 促进表面分析科学研究队伍的壮大。主办单位：国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会中国分析测试协会高校分析测试分会北京理化分析测试学会表面分析专业委员会仪器信息网会议主题：能源化学与碳中和本次会议的特邀嘉宾有：中国科学院院士、清华大学化学系学术委员会主任、国家电子能谱中心主任、清华大学分析中心主任李景虹教授；国家杰出青年基金获得者、国家电子能谱中心常务副主任、清华大学朱永法教授；国家杰出青年基金获得者、国家“万人计划”科技创新领军人才、英国皇家化学会会士、中国科学院理化技术研究所光化学转化与功能材料重点实验室主任张铁锐研究员；中国催化青年奖获得者、北京大学化学与分子工程学院马丁教授；国家杰出青年基金获得者、科技部重点研发计划项目负责人、湖南大学王双印教授；国家杰出青年基金获得者、长江学者特聘教授、国家万人计划科技创新领军人才、英国皇家化学会会士、中国科学技术大学熊宇杰教授；国家电子能谱中心副主任、清华大学分析中心正高级工程师姚文清；国家大型科学仪器中心上海无机质谱中心主任、上海市分析测试协会理事长、中国科学院上海硅酸盐研究所公共技术中心主任卓尚军研究员；中科院化学所分析测试中心电子能谱组负责人、高级工程师赵志娟；科技部变革性技术专项咨询专家、中国科学技术大学黄文浩教授。会议日程：6月14日 9:00-16:456月15日 9:00-11:45会议报名：线上会议，免费报名参会，进入会议官网报名或扫描以下二维码报名会议官网：https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/bmfx2022

p　　表面科学是上世纪60年代后期发展起来的一门学科，目前已经成为国际上最为活跃的学科之一。材料表面的成分、结构、化学状态等与内部有明显的不同，而表面特性对材料的物理、化学等性能影响很大。随着我国新材料领域研究的深入，表面分析技术也日益发挥其重要的作用。当前，全球已经开发了数十种常用的表面分析技术，如X射线光电子能谱(XPS)、二次离子质谱(SIMS)、扫描探针显微镜(SPM)、辉光放电光谱(GDS)、俄歇电子能谱(AES)等。/pp　　为了积极推动表面分析科学与应用技术的快速发展，加强同行之间交流合作，展示表面分析技术在新材料研究中的进展，5月20日，仪器信息网联手国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、中国分析测试协会高校分析测试分会举办“第三届表面分析技术应用论坛——表面分析技术在新材料研究中的应用”网络主题研讨会，七位专家就相关的研究领域分享了高质量的报告。/pp　　此次应用研讨会内容立足表面分析技术在新材料研究中的应用，既有某一课题的科研进展综述，也有某一方向的研究成果分享、最新标准解读，以及相关仪器使用介绍等。组织方希望通过此次表面分析技术应用论坛的平台，让与会者深入交流，共同提升理论与技术水平, 促进表面分析科学研究队伍的壮大。本次会议由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心副主任、清华大学分析表面分析室主任、高级工程师姚文清主持。/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201905/uepic/85014051-a8d5-4da7-874c-4853820e8013.jpg" title="姚文清.jpg" alt="姚文清.jpg"//pp style="text-align: center "strong国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心副主任、清华大学分析表面分析室主任、高级工程师姚文清/strong/ppstrong/strong/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201905/uepic/80a5fb64-a7ff-4e04-a2d4-f343cc70cb41.jpg" title="报告嘉宾.png" alt="报告嘉宾.png"//pp　　清华大学张强教授主要从事能源材料研究，尤其是在金属锂、锂硫电池和电催化方面开展了一系列的工作。本次报告中，他从能源存储与转化的新机遇讲起，针对工作金属锂界面上的SEI(界面层)，以及如何获得稳定的SEI，如何诱导金属锂均匀沉积等多个话题给大家介绍了其所开展的研究工作。报告题目：strong《The Working Surface of Li Metal Anode in Safe Batteries》。/strong/pp　　计量、标准、合格评定(检测和认证认可)对人类社会进步和工业发展发挥着不可或缺的基础性作用，2006年联合国与国际标准化组织(ISO)正式明确“计量、标准化、合格评定”为国家质量基础(National Quality Infrastructure，简称 NQI)的三大构成要素。石墨烯由于其独特的性能使其成为代表性的新材料而受到各国政府的产业支持。中国计量科学研究院任玲玲研究员在简要回顾计量、标准的基础上，重点介绍针对急需有序规范发展的石墨烯粉体材料开展的NQI技术研究及成果实施。strong报告题目：《石墨烯粉体材料计量、标准及合格评定全链条实施》。/strong/pp　　X射线光电子能谱(XPS)是表面分析领域中的一种崭新的分析技术，通过测量固体表面约10个纳米层左右被激发出光电子的动能，进而对固体样品表面的元素成分进行定性、定量或半定量及价态分析。XPS作为一种分析各种材料表面的重要工具，目前广泛应用于与材料相关的基础科学和应用科学领域，包括各种催化材料、纳米材料、高分子材料、薄膜材料、新型光电材料、金属以及半导体等表面性能研究。岛津宋玉婷博士介绍了XPS的技术特点及应用案例。a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/Video/play/105159/" target="_blank"span style="color: rgb(255, 0, 0) "strong报告视频精彩回放：《X射线光电子能谱最新应用进展》/strong/span/a/pp　　以氮化镓和砷化镓为代表的III-V族化合物，都是直接带隙半导体材料，通过掺杂或能带设计可以调控光电等物理特性，在光电领域具有独特优势。表面分析技术常被用于研究半导体材料及器件性能，分析表面形貌、组分、化学态、结构及能带等信息。本次报告，中国科学院半导体研究所赵丽霞研究员介绍了几个利用表面分析技术在研究III-V半导体光电材料和器件的典型工作。strong报告题目：《表面分析技术在III-V族半导体光电材料器件中的应用》/strong。/pp　　扫描隧道显微镜是当前表面物理和化学研究的重要实验设备。扫描隧道显微镜的基本原理是基于量子力学的隧穿效应，隧穿电流与隧穿结的高度灵敏性使扫描隧道显微镜具有原子级的空间分辨能力。扫描隧道显微镜的主要功能包括表面形貌成像、表面电子态密度测量、及原子分子操纵。中科院物理研究所陆兴华研究员的报告通过几个典型应用来展示扫描隧道显微镜的这些基本功能，并对扫描隧道显微镜技术的未来发展方向作了简单的介绍。a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/Video/play/105162" target="_blank"strongspan style="color: rgb(255, 0, 0) "报告视频精彩回放：《扫描隧道显微镜技术》。/span/strong/a/pp　　飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)能以极高的灵敏度(ppm～ppb)探测到包括H在内的所有元素及其化合物信息，被誉为是一种普适的分析技术。清华大学分析中心李展平博士的报告介绍了TOF-SIMS的基本原理、技术特点，以及它在环境等各种领域的应用。a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/Video/play/105160" target="_blank"span style="color: rgb(255, 0, 0) "strong 报告视频精彩回放：《飞行时间二次离子质谱分析技术及其应用》。/strong/span/a/pp　　三氧化钼是一种用途广泛的材料，在催化、抗菌等领域内有独特的应用。MoOsub3/sub@SiOsub2/sub是常见三氧化钼的使用形态，几十年来已经用不少方法进行过很多研究。北京化工大学程斌分享了其实验室对MoO3@SiO2的最近研究方法与结果。a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/Video/play/105161/" target="_blank"span style="color: rgb(255, 0, 0) "strong报告视频精彩回放：《氧化钼在MoO3@SiO2上分布的研究》/strong/span/a/pp　　虽然会议已经结束，但是精彩仍在继续，仪器信息网已经将部分报告老师的现场讲座视频上传到仪器信息网网络讲堂，想要重复学习或者没机会参与会议直播的网友，可以点击strong报告视频精彩回放/strong进行学习与分享。/p

p 材料科学、信息科学和生命科学是当前新技术革命中的三大前沿科学，材料的表界面在材料科学中占有重要的地位。材料的表界面对材料整体性能具有决定性的影响，材料的腐蚀、老化、硬化、破坏、印刷、涂膜、粘结、复合等等，无不与材料的表界面密切有关。因此研究材料的表界面现象具有重要的意义。/pp 如何更有效地测量材料的表界面情况，对其进行更深入地研究，成为颇具潜力的一个研究领域。2016年8月24日，仪器信息网邀请清华大学朱永法老师、国家纳米科学中心程志海老师、赛默飞孙文彬老师从不同角度分享表界面分析研究进展。/pp 本次会议报告如下：（视频近期上线，请提前收藏地址）/ppimg src="http://img1.17img.cn/17img/images/201608/insimg/905de170-4040-41d0-8f2d-2daabe1bae7e.jpg" title="QQ截图20160824152509.jpg"//pp 视频上线地址，上线时间9月2日：/ppa href="http://www.instrument.com.cn/webinar/Meeting/subjectInsidePage/2091" target="_blank" title="“材料表面与界面分析”网络主题研讨会"http://www.instrument.com.cn/webinar/Meeting/subjectInsidePage/2091/a/ppbr//pp 近期更多精彩会议预告：/pp“热分析技术在多领域应用及进展”网络主题研讨会 br//pp中国科学技术大学丁延伟老师和北京化工大学刘玲老师主讲。/ppa href="http://www.instrument.com.cn/webinar/Meeting/subjectInsidePage/2094" target="_blank" title="“热分析技术在多领域应用及进展”网络主题研讨会"http://www.instrument.com.cn/webinar/Meeting/subjectInsidePage/2094/a/ppbr//pp“动物源食品安全性评价及检测”网络主题研讨会 /pp中国水产科学研究院李晋成老师和上海出入境检验检疫局朱坚老师主讲。/ppa href="http://www.instrument.com.cn/webinar/Meeting/subjectInsidePage/2119" target="_blank" title=""http://www.instrument.com.cn/webinar/Meeting/subjectInsidePage/2119/a/ppbr//pp“土壤环境调查评估技术”网络主题研讨会 /pp南京环境科学研究所赵欣老师和中国科学院生态环境研究中心张莘老师主讲。/ppa href="http://www.instrument.com.cn/webinar/Meeting/subjectInsidePage/2132" target="_self" title=""http://www.instrument.com.cn/webinar/Meeting/subjectInsidePage/2132/a/p

表面分析技术即利用电子、光子、离子、原子等与固体表面的相互作用，测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像，得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息的各种技术。表面分析技术广泛应用于材料表征等领域，是目前最前沿的分析技术之一。仪器信息网将于2022年9月7-9日举办首届表面分析技术与应用主题网络研讨会，旨在促进表面分析技术与应用领域的发展，利用互联网技术为国内的广大科研及相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台，让大家足不出户便能聆听到表面分析技术专家的精彩报告，节省时间和资金成本。首届表面分析技术与应用主题网络研讨会共设置了5个主题会场 ，分别是:电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用、扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用、电子探针/原子探针技术与应用、二次离子质谱（SIMS）技术与应用、拉曼光谱及其他表面分析技术与应用。会议页面（点击快速免费报名参会）：https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/icsa2022/专场设置专场主题专场时间专场一：电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用9月7日上午专场二：扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用9月7日下午专场三：电子探针/原子探针技术与应用9月8日上午专场四：二次离子质谱（SIMS）技术与应用9月8日下午专场五：拉曼光谱及其他表面分析技术与应用9月9日上午会议全日程报告时间报告题目报告人工作单位职务/职称专场一：电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用（09月07日上午）09:00--09:30原位电子能谱技术应用进展姚文清清华大学/国家电子能谱中心研究员/副主任09:30--10:00X射线光电子能谱法在有机高分子材料研究中的应用程斌北京化工大学研究员/副主任10:00--10:30光电子能谱（XPS）深度剖析吴正龙北京师范大学教授级高工10:30--11:00低能离子散射谱（LEISS）在催化剂表界面研究中的应用陈明树厦门大学教授11:00--11:30XPS在催化材料研究中的应用邱丽美石油化工科学研究院高级工程师11:30--12:00多功能光电子能谱仪在表面分析中的应用周楷重庆大学分析测试中心高级工程师12:00--12:30光电子能谱在固态锂离子电池研究中应用谢方艳中山大学高级实验师专场二：扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用（09月07日下午）14:00--14:30Coherence enhancement of solid-state qubits by scanning probe microscopy江颖北京大学教授14:30--15:00原子力显微镜样品制备方法介绍潘涛Park原子力显微镜高级工程师15:00--15:30Local Interfacial Engineering of 2D Atomic Crystals by Advanced Atomic Force Microscopy程志海中国人民大学教授15:30--16:00基于STM的亚纳米分辨单分子光谱成像董振超中国科学技术大学教授16:00--16:30新型大能隙拓扑绝缘体α‐Bi4Br4的拓扑边缘态肖文德北京理工大学研究员16:30--17:00STM原理及在有机分子自组装上的应用曾庆祷国家纳米科学中心研究员17:00--17:30Research progress of atomically manipulating structural and electronic properties of low-dimensional structures陈辉中科院物理研究所副研究员专场三：电子探针/原子探针技术与应用（09月08日上午）09:00--09:30电子探针分析技术及其标准化研究陈振宇中国地质科学院矿产资源研究所研究室主任/研究员09:30--10:00电子探针市场分析和我们的应对举措胡晋生捷欧路（北京）科贸有限公司表面分析产品经理/部长10:00--10:30超轻金属元素Be的原位定量分析及其应用饶灿浙江大学教授10:30--11:00岛津epma技术特点及其应用廖鑫岛津企业管理（中国）有限公司EPMA产品专员11:00--11:30电子探针微区化学状态分析及其应用王道岭中国科学院金属研究所高级工程师11:30--12:00原子探针层析技术最新进展及应用李慧上海大学副研究员专场四：二次离子质谱（SIMS）技术与应用（09月08日下午）14:00--14:30飞行时间二次离子质谱分析技术及其应用李展平清华大学分析中心高级工程师14:30--15:00飞行时间二次离子质谱及其应用汪福意中国科学院化学研究所研究员15:00--15:30AES/XPS/SIMS/GD-OES(MS)深度剖析定量分析王江涌汕头大学物理系教授15:30--16:00用于SIMS的高分辨质谱技术进展及展望李海洋中国科学院大连化学物理研究所研究员专场五：拉曼光谱及其他表面分析技术与应用（09月09日上午）09:00--09:30电化学表面增强拉曼光谱及等离激元介导光化学反应研究吴德印厦门大学教授09:30--10:00国产显微共聚焦拉曼光谱成像仪刘鸿飞奥普天成（厦门）光电有限公司董事长/高级工程师10:00--10:30表面增强拉曼光谱在纳米颗粒表面化学反应原位检测中的应用谢微南开大学研究员10:30--11:00基于消逝场界面耦合的表面增强拉曼光谱新技术徐抒平吉林大学超分子结构与材料国家重点实验室教授11:00--11:30双光束原位红外光谱表征技术研究进展刘家旭大连理工大学副教授会议报名链接：https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/icsa2022/或扫描上方二维码报名会议联系管编辑：17862992005，guancg@instrument.com.cn会前访谈：仪器信息网资深编辑将于9月6日对话高德英特有限公司中国区执行总监叶上远，邀请其分享对于表面分析技术和产业的经验和看法。访谈直播平台为仪器信息网视频号，扫描下方图片二维码报名预约。

随着我国科技实力的显著提升，分析测试的发展也日新月异，科研及测试机构、人才队伍不断壮大，实验室环境条件大为改善，仪器装备水平迅速提高，科技产出量质齐升，重大成果举世瞩目。为积极推动表面分析科学与应用技术的快速发展，加强同行之间交流合作，展示表面分析技术最新的进展，推动分析测试质量保障体系、数据溯源体系和标准体系的建设，由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会及仪器信息网联合举办的“第八届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会”，将于2022年6月14-15日线上举行。论坛以线上会议形式，通过报告专家与参会者的深入交流，旨在共同提升理论与技术水平, 促进表面分析科学研究队伍的壮大。一、组织单位国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会、仪器信息网二、会议主题能源化学与碳中和三、会议形式线上会议，免费报名参会，进入会议官网报名或扫描以下二维码报名会议官网：https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/bmfx2022扫码即刻报名参会四、会议日程（最终议程以活动专题页面发布为准）时间报告题目演讲嘉宾专场1：表面分析技术应用论坛（上）——6月14日09:00-11:45专场主持人朱永法(清华大学/国家电子能谱中心 教授/常务副主任)09:00-09:15致辞李景虹(清华大学/国家电子能谱中心/中国分析测试协会高校分析测试分会 院士/主任/主任委员)09:15-10:00水滑石基纳米光催化材料合成太阳燃料及高附加值化学品张铁锐(中国科学院理化技术研究所 研究员)10:00-10:30场发射俄歇微探针JAMP-9510F在材料表面分析中的应用张元 (日本电子株式会社 应用工程师)10:30-11:00X射线光电子能谱（XPS）技术及应用龚沿东(岛津企业管理（中国）有限公司 研究员)11:00-11:45太阳能驱动人工碳循环熊宇杰 (中国科学技术大学 教授)专场2：表面分析技术应用论坛（下）——6月14日13:30-16:45会议主持人张铁锐(中国科学院理化技术研究所 研究员)13:30-14:15Fully exposed palladium cluster catalysts enable hydrogen production from nitrogen heterocycles马丁(北京大学 教授)14:15-14:45待定赛默飞世尔科技元素分析14:45-15:30有机分子电催化转化王双印 (湖南大学 教授)15:30-16:00待定北京精微高博仪器有限公司16:00-16:45有机半导体可见光催化产氢、二氧化碳还原及肿瘤治疗研究朱永法(清华大学/国家电子能谱中心 教授/常务副主任)专场3：表面化学分析国家标准宣贯会——6月15日09:00-11:45会议主持人姚文清(清华大学/国家电子能谱中心 正高级工程师/副主任)09:00-09:45辉光放电质谱最新技术进展及其在相关标准方法中的应用卓尚军(中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员)09:45-10:15XPS分析技术在空间和深度维度探测中的应用鞠焕鑫(高德英特（北京）科技有限公司 应用科学家)10:15-11:00GB/T 41072-2021 表面化学分析 电子能谱 紫外光电子能谱分析指南赵志娟(中科院化学所 高级工程师)11:00-11:45扫描探针显微镜漂移标准化研究黄文浩(中国科学技术大学 教授)五、 嘉宾简介&报告摘要专场1表面分析技术应用论坛（上）（6月14日上午）朱永法清华大学/国家电子能谱中心教授/常务副主任专场主持人：09:00--11:45李景虹清华大学/国家电子能谱中心/中国分析测试协会高校分析测试分会院士/主任/主任委员大会致辞：09:00--09:15李景虹，中国科学院院士、第十二、十三届全国政协委员。清华大学化学系教授，化学系学术委员会主任，国家电子能谱中心主任，清华大学分析中心主任。1991年获中国科学技术大学学士学位，1996年获中科院长春应用化学研究所博士学位。近年来致力于电分析化学、生物电化学、单细胞分析化学及纳米电化学领域的教学科研工作。以通讯作者在Nature Nanotech., Nature Protocol, J. Am. Chem. Soc., Angew. Chem.等学术刊物上发表SCI论文400余篇。2015-2021年连续五年入选汤森路透全球高被引科学家。以第一完成人获国家自然科学奖二等奖、教育部自然科学奖一等奖等。任Chem. Soc. Rev., ACS Sensors, Small Methods, Biosensors Bioelectronics, Biosensors, Chemosensors等期刊编委。张铁锐中国科学院理化技术研究所研究员报告题目：水滑石基纳米光催化材料合成太阳燃料及高附加值化学品报告&答疑：09:15--10:00张铁锐，中国科学院理化技术研究所研究员、博士生导师，中国科学院光化学转化与功能材料重点实验室主任。吉林大学化学学士，吉林大学有机化学博士。之后，在德国、加拿大和美国进行博士后研究。2009年底回国受聘于中国科学院理化技术研究所。主要从事能量转换纳米催化材料方面的研究，在Nat. Catal.等期刊上发表SCI论文280余篇，被引用26000多次，H指数89，并入选2018-2021科睿唯安“全球高被引科学家”；申请国家发明专利49项（已授权37项）。曾获皇家学会高级牛顿学者、德国“洪堡”学者基金、国家基金委“杰青”、国家“万人计划”科技创新领军人才等资助、以及中国感光学会青年科技奖等奖项。2017年当选英国皇家化学会会士。兼任Science Bulletin副主编以及Advanced Energy Materials等期刊编委。现任中国材料研究学会青年工作委员会-常委，中国化学会能源化学专业委员会-秘书长，中国感光学会光催化专业委员会-副主任委员等学术职务。报告摘要：水滑石基纳米材料因组成结构易于调控、制备简便等优点在光催化领域而备受关注。近年来，我们研究团队通过在水滑石表面创造缺陷位和构造界面结构的手段，分别实现了对反应物CO2、N2等吸附和活化的增强，以及中间反应物种反应路径的调控，进而提升了光催化CO、CO2和N2加氢反应的催化活性和生成高附加值产物的选择性。张元日本电子株式会社应用工程师报告题目：场发射俄歇微探针JAMP-9510F在材料表面分析中的应用报告&答疑：10:00--10:30张元，日本电子应用工程师。2016年毕业于上海交通大学材料科学与工程专业，获工学学士学位；2019年毕业于京都大学大材料工学研究科，获工学硕士学位。2019年入职日本电子，现担任应用工程师一职，主要负责场发射俄歇微探针与钨灯丝扫描电镜的应用与培训。报告摘要：日本电子的场发射俄歇微探针装置JAMP-9510F能够实现纳米级空间分辨率下试样表层的元素分布、化学组成、化合态分析等材料表征。无论是金属试样还是绝缘材料，JAMP-9510F装载的静电半球形分析器、场发射电子枪的大束流、高精度全对中试样台以及悬浮式离子枪都能提供多种表面分析方法。龚沿东岛津企业管理（中国）有限公司研究员报告题目：X射线光电子能谱（XPS）技术及应用报告&答疑：10:30--11:00龚沿东，研究员，1986年毕业于清华大学现代应用物理系，曾任中国科学院金属研究所分析测试部主任（研究员）。英国国家物理实验室（National Physical Laboratory）访问学者，美国圣母大学（University of Notre Dame）化工系研究助理。现任全国微束分析标准化技术委员会委员，全国微束分析标准化技术委员会表面分技术委员会委员。岛津公司市场部XPS和EPMA首席技术专家。报告摘要： X射线光电子能谱仪是表面分析领域中一种崭新的分析技术，通过测量固体样品表面约10nm左右被激发出光电子的动能，进而对固体样品表面的元素成分进行定性、定量及价态分析。报告中主要介绍XPS原理、技术特点以及XPS在催化材料、电池材料、薄膜材料、电子器件等材料中的应用案例，旨在让科研工作者对XPS表面分析技术在材料领域的应用有所了解。熊宇杰中国科学技术大学教授报告题目：太阳能驱动人工碳循环报告&答疑：11:00--11:45熊宇杰，中国科学技术大学教授、博士生导师。1996年进入中国科学技术大学少年班系学习，2000年获化学物理学士学位，2004年获无机化学博士学位，师从谢毅院士。2004至2011年先后在美国华盛顿大学（西雅图）、伊利诺伊大学香槟分校、华盛顿大学圣路易斯分校工作。2011年辞去美国国家纳米技术基础设施组织的首席研究员职位，回到中国科学技术大学任教授，建立独立研究团队，同年入选首批国家高层次青年人才计划和中国科学院人才计划。2016年获批组建中国科学院“等离激元催化”创新交叉团队，2020年终期评估结果为优秀。2017年获国家杰出青年科学基金资助，入选英国皇家化学会会士。2018年获聘长江学者特聘教授，入选国家万人计划科技创新领军人才。2022年入选新加坡国家化学会会士。现任ACS Materials Letters副主编。主要从事基于催化过程的生态系统重构研究。在Science等国际刊物上发表250余篇论文，总引用31,000余次（H指数91），入选科睿唯安全球高被引科学家榜单和爱思唯尔中国高被引学者榜单。2012年获国家自然科学二等奖（第三完成人），2014-2016和2018年四次获中国科学院优秀导师奖，2015年获中美化学与化学生物学教授协会杰出教授奖，2019年获英国皇家化学会Chem Soc Rev开拓研究者讲座奖，2021年获安徽省自然科学一等奖（第一完成人）。报告摘要：人类正在探索实现“碳中和”的有效途径，凸显出建立人工碳循环的重要性。本报告将阐述如何针对太阳能驱动二氧化碳和甲烷转化，在太阳能俘获和电荷分离的基础上，对化学键的形成和断裂进行选择性控制，将其转化为燃料或化学品。另一方面，利用自然界的生物活性基元，开发无机-生物杂化系统，为太阳能驱动固碳提供新的思路。专场2表面分析技术应用论坛（下）（6月14日下午）张铁锐中国科学院理化技术研究所研究员专场主持人：13:30--16:45马丁北京大学教授报告题目：Fully exposed palladium cluster catalysts enable hydrogen production from nitrogen heterocycles报名占位报告&答疑：13:30--14:15马丁，北京大学化学与分子工程学院教授。针对我国社会能源和资源优化利用过程，主要开展氢能制备与输运，高值碳基化学品/油品合成， 以及催化反应机理研究等方面研究工作。获得2013年度北京大学青年教师教学比赛一等奖，2014年度王选青年学者奖，2017年中国催化青年奖，2017年度中国科学十大进展。2014-2017年担任英国皇家化学会Catalysis Science & Technology副主编 目前担任Chinese Journal of Chemistry、 ACS Catalysis 副主编，Science Bulletin、Journal of Energy Chemistry、 Joule、Journal of Catalysis、Catalysis Science & Technology等刊编委和顾问编委。报告摘要：人类正在探索实现“碳中和”的有效途径，凸显出建立人工碳循环的重要性。本报告将阐述如何针对太阳能驱动二氧化碳和甲烷转化，在太阳能俘获和电荷分离的基础上，对化学键的形成和断裂进行选择性控制，将其转化为燃料或化学品。另一方面，利用自然界的生物活性基元，开发无机-生物杂化系统，为太阳能驱动固碳提供新的思路。待定赛默飞世尔科技元素分析报告题目：待定报告&答疑：14:15--14:45王双印湖南大学教授报告题目：有机分子电催化转化报告&答疑：14:45--15:30王双印， 国家杰出青年基金获得者、科睿唯安全球高被引科学家（化学、材料）, 爱思唯尔中国高被引学者（化学）,科技部重点研发计划项目负责人。现为湖南大学二级教授，博士生导师。2006年本科毕业于浙江大学化工系，2010年在新加坡南洋理工大学获得博士学位，随后在美国凯斯西储大学， 德克萨斯大学奥斯汀分校、英国曼彻斯特大学（玛丽居里学者）开展研究工作。主要研究方向为电催化剂缺陷化学，有机分子电催化转化，燃料电池。代表性论文发表在国家科学评论，中国科学化学、材料，科学通报， JEC, Nature Chem., Nature Catalysis, JACS, Angew. Chem., Adv. Mater., Chem等期刊，总引用26000余次，H指数89，获教育部青年科学奖、湖南省自然科学奖一等奖（第一完成人）、中国侨届贡献一等奖。报告摘要：有机电催化转化，是利用电催化的手段，通过催化剂与有机分子（包括气体小分子）之间的电子相互作用，降低反应活化能，从而加快有机物转化反应的过程。因为与传统有机反应相比具有高效绿色的优点，近几年来有机电催化转化在能源，环境，医药，化工等领域有着重要发展。我们课题组近期在有机电催化转化方向开展了部分工作，主要集中在“气体小分子耦合的有机电催化合成”、“亲核有机小分子的电催化氧化”及“生物质平台衍生物的转化升级”等几个方面。研究工作首次在常温常压条件下将惰性分子耦合转化为有机分子；通过原位同步辐射、原位拉曼等方法探究了亲核有机分子在镍基催化剂上的反应机理, 提出了有机分子电催化转化中的非电化学过程机制；首次利用原位和频共振技术明确了有机物合成过程中的反应路径。这些工作对于进一步扩展有机电催化反应底物，明确催化机理，实现有机物可控精准合成等具有重要的指导意义。待定北京精微高博仪器有限公司报告题目：待定报告&答疑：15:30--16:00朱永法清华大学/国家电子能谱中心教授/常务副主任报告题目：有机半导体可见光催化产氢、二氧化碳还原及肿瘤治疗研究报告&答疑：16:00--16:45朱永法,清华大学化学系教授、博导，国家电子能谱中心常务副主任。分别从南京大学、北京大学和清华大学获得学士、硕士和博士学位以及在日本爱媛大学从事博士后研究工作。1988.7月到现在，一直在清华大学化学系工作，从事能源光催化、环境光催化及光催化健康的研究。承担了国家973项目、863项目、国家自然科学基金重点、国家自然科学基金仪器专项，国际重点合作项目和面上项目等基础研究课题，同时，还承担了企业的有关吸附净化材料、光催化材料及其在空气和水环境净化方面的应用课题。获得教育部跨世纪优秀人才及国家自然科学基金委杰青年基金资助。获得国家自然科学奖二等奖1项, 教育部自然科学奖一等奖2项、二等奖1项，教育部科技进步奖二等奖和三等奖各1次。发表SCI论文447篇，高被引论文41篇；论文总引37800余次，H因子为110。2014-2021年Elsevier高被引学者（化学），2016年Elsevier全球材料科学与工程学科高被引学者，2018-2021科睿唯安“全球高被引科学家”（化学）， 2021年度全球顶尖前10万科学家排名第851位。学术兼职有Applied Catalysis B 副主编，中国感光学会副理事长兼光催化专业委员会主任，北京市室内与车内环境净化行业协会会长。中国分析测试协会常务理事，中国化学会环境化学专业委员会委员；环境与能源光催化国家重点实验室学术委员会委员；教育部资源化学重点实验室学术委员会副主任。报告摘要：有机半导体可以通过调控前驱体分子生色基团和助色基团的结构，实现光催化剂的宽光谱响应、消光系数高以及能带结构可调控。在可见光辐照下可以分解水产氢和产氧以及实现CO2的还原。 通过氢键自组装而成的PDINH全有机超分子结构，具有优异的可见光降解苯酚与光解水产氧（无助催化剂）活性。在可见光辐照下，污染物降解性能达到了C3N4的16倍，其产氧性能达到34.6umolg-1h-1。PDINH超分子的强分子偶极和有序结构提升了内建电场，促进光生载流子的分离和迁移，是光催化高活性的本质。成功构筑高度结晶的尿素-苝酰亚胺聚合物光催化剂，其在无助催化剂条件下实现超高效的分解水产氧（3.2mmolg-1h-1），性能较常规PDI超分子光催化剂提高106.5倍。通过咪唑熔盐制备获得的PDI超分子，具有更高的结晶有序度，其产氧性能可以达到40.6 mmolg-1h-1,400nm处的量子效率达到10.4%。利用产氢活性的C3N4光催化剂与产氧性能的尿素-苝酰亚胺聚合物光催化剂耦合，实现化学计量比的全解水产氢产氧，STH达到0.3%。设计构筑基于四羧基苯基卟啉的自组装超分子光催化剂SA-TCPP，该超分子光催化剂实现了全光谱辐照下的双功能分解水产氢和产氧(40.8和36.1μmolg-1h-1)，并具有高效降解污染物活性，其性能达到了C3N4光催化剂的10倍以上。并发现共轭结构是调控产氢和产氧性能的关键因素，分子偶极是决定光催化活性的关键因素。当卟啉超分子与锌配位后，可以提升其还原电位从-0.36V到-1.01V，产氢能力提升85倍，达到3.5 mmolg-1h-1。 建立了基于有机超分子光催化快速杀灭癌细胞和实体瘤的新方法。具有生物安全性，无毒无害特性。并可以通过肿瘤细胞对纳米颗粒尺寸的选择性，实现自动靶向给药，对正常器官没有副作用。在红光（650 nm）辐照下，被吞噬到肿瘤细胞内部的光催化剂产生强氧化性光生空穴，从内部快速杀灭癌细胞，可以在10分钟内消除直径10mm的肿瘤块，对肿瘤的治愈率达到了100%，大幅提高了小鼠的成活率。该有机光催化肿瘤治疗方法具有很好的应用前景。专场3表面化学分析国家标准宣贯会（6月15日上午）姚文清清华大学/国家电子能谱中心正高级工程师/副主任专场主持人：09:00--11:45姚文清，清华大学分析中心 正高级工程师，国家电子能谱中心 副主任。国际标准化组织表面化学分析委员会（ISO/TC201）联络员，全国微束分析标准化委员会表面化学分析分技术委员会（SAC/TC38/SC2）副主任委员，北京理化分析测试学会表面分析技术委员会 常务副理事长，中国分析测试协会高校分析测试分会 秘书长。近年来致力于光催化材料表界面化学分析及表面分析仪器研制工作。先后主持科技部创新方法专项、国家基金委面上项目、国标委国家标准制修订专项等项目12项。以第一/通讯作者发表论文43篇，其中ESI高被引论文2篇，入选2018年英国皇家学会Top 1%高被引中国作者。制定国际标准1项、国家标准18项；国家发明专利授权和申请5项；合作论著2部。研究成果获：国家自然科学奖二等奖 1项（排名4）；中国分析测试协会科学技术奖一等奖1项（排名1）；中国标准创新贡献奖二等奖1项（排名1）；中国产学研合作促进会产学研合作创新个人奖1项；教育部自然科学奖一等奖 2项（排名2和4）。卓尚军中国科学院上海硅酸盐研究所研究员报告题目：辉光放电质谱最新技术进展及其在相关标准方法中的应用报告&答疑：09:00--09:45卓尚军 博士，中国科学院上海硅酸盐研究所研究员，主要从事无机材料表征和测试的理论与应用研究、仪器研制和软件开发，曾负责科技基础条件平台工作重点课题、科技部创新方法专项课题、科技部重大仪器专项等科研任务，出版专（译）著6部，发表论文100余篇，参与起草标准7项。现任国家大型科学仪器中心上海无机质谱中心主任、中国科学院上海硅酸盐研究所公共技术中心主任、上海市分析测试协会理事长、亚太经合组织（APEC）材料测试与评价技术组织（ANMET）执委会委员、国际标准化组织ISO/TC201/SC8（辉光放电光谱和质谱）技术委员会专家、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会委员。报告摘要：介绍辉光放电质谱(GD-MS)的最新技术进展、在先进材料检测中的应用及其在国内外的标准化情况，并对标准《多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法》（GB/T 33236-2016）进行宣贯。鞠焕鑫高德英特（北京）科技有限公司应用科学家报告题目：XPS分析技术在空间和深度维度探测中的应用报告&答疑：09:45--10:15鞠焕鑫博士，PHI (China) Limited 高德英特(北京)科技有限公司应用科学家。2009年-2014年于中国科学技术大学获得学士和博士学位，毕业后在国家同步辐射实验室从事博士后研究。2012-2103年在美国华盛顿大学（西雅图）国家公派联合培养。2016年6月-2018年10月，中国科学技术大学国家同步辐射实验室副研究员，负责中国科学技术大学国家同步辐射实验室催化与表面科学实验站的运行管理，主要从事软X射线谱学方法学研究以及能源材料/器件界面电子性质研究。在学术研究方面与用户合作在Nature Photonics, Nature Chemistry, Nature Energy, J. Am. Chem. Soc., Angew. Chem. Int. Ed, Adv. Mater, Adv Funct Mater等期刊发表学术论文80余篇；主持/参与国家自然科学基金委青年科学基金、大科学装置联合基金培育项目和重点项目、国家重点研发计划等多个国家级科研项目。2018年11月，加入PHI (China) Limited 高德英特(北京)科技有限公司，担任应用专家，负责 PHI CHINA南京表面分析实验室的创建以及运行管理。报告摘要：XPS作为一种重要的表面分析技术，可以提供样品表面的组分和化学态信息，已经广泛应用于科学研究和高科技产业领域。但是新型材料/器件在科学研究和研发创新上的迅速发展，对XPS技术的微区检测和无损深度分析能力提出了迫切需求。本报告将介绍XPS分析技术在空间和深度两个探测维度的最新技术发展及其应用。赵志娟中科院化学所高级工程师报告题目：GB/T 41072-2021 表面化学分析 电子能谱 紫外光电子能谱分析指南报告&答疑：10:15--11:00赵志娟，博士，高级工程师，从事电子能谱分析表征及相关分析研究十多年，具有丰富的表面分析研究与测试经验。2011年毕业于中科院化学所，同年入职中科院化学所分析测试中心电子能谱组。现任电子能谱组负责人，主要研究方向为材料表面化学分析&电子能谱分析。承担和参与多项中科院仪器功能开发、国家自然科学基金、国家专项及国际合作等研究项目。授权国家发明专利和实用新型专利4项。发表及合作研究论文十余篇，承担和参与制修订国家标准8项。获得中国分析测试协会科学技术奖二等奖2项，“中国标准创新贡献奖”二等奖。担任全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会委员，北京理化分析测试技术学会表面分析分会理事。报告摘要：紫外光电子能谱（UPS）可以在高能量分辨水平上探测物质中价层电子的能量分布，提供材料外壳层轨道结构、能带结构、逸出功、空态分布与表面态等重要信息，在固体材料以及表界面电子结构研究方面具有独特的应用。报告结合相关国家标准，对仪器设备以及关键技术问题进行系统介绍，并提供规范化的实验操作与数据处理指导。黄文浩中国科学技术大学教授报告题目：扫描探针显微镜漂移标准化研究报告&答疑：11:00--11:45黄文浩，教授，1968年毕业于清华大学精密仪器系，1968—1978在企业工作。自1978年起在中国科学技术大学精密机械与精密仪器系工作，其中1989年至1991年在西班牙马德里自治大学STM实验室访问学者。主要研究方向：微纳加工和测量，扫描探针显微术，飞秒激光微纳加工，纳米计量及标准化。2003-2013中日大学群交流项目中方召集人。2014-2019担任科技部制造与工程领域973计划咨询专家，2019年起担任科技部变革性技术专项咨询专家，2006至今担任国际标准化组织ISO/TC201/SC9专家。报告摘要： 报告回顾了十多年来参加国际标准化组织/表面化学分析/扫描探针显微镜（ISO/TC201/SC9）活动的经历，介绍ISO 11039 2012的制订过程及主要内容，展望将来的工作。六、会议联系杨编辑电话：（010）51654077-8032手机：15311451191（微信同号）Email：yanglz@instrument.com.cn

p　　strong仪器信息网讯/strong 2017年5月20日，“2017年全国表面分析方法及新能源与生物功能材料学术研讨会”在重庆召开。此次会议由西南大学、重庆大学、赛默飞主办，170多位来自科研院校、以及企业的专家用户参加了此次会议。/pp style="text-align: center " /pp style="text-align: center "img title="现场1.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/3f44f489-93a2-49c9-b0eb-35c6af40112a.jpg"//pp style="text-align: center "会议现场/pp　　就像在a title="" style="color: rgb(255, 0, 0) text-decoration: underline " href="http://www.instrument.com.cn/news/20170520/220051.shtml" target="_blank"strongspan style="color: rgb(255, 0, 0) "“2017年全国表面分析方法及新能源与生物功能材料学术研讨会”在重庆召开/span/strong/a中，西南大学李长明院士说到的，当今社会的发展离不开新能源的出现和先进能源技术的使用，发展新能源、改善传统能源环境污染状况，是全世界全人类共同关心的问题。/pp　　中国科学院长春应用化学研究所杨秀荣院士也提到，全球能源消耗面临着巨大危机，据2013年全球能源消费统计，石油只能再用45年、煤还能用200年，同时石油、煤等传统能源造成的环境污染也日趋严重。因此开发具有应用潜能的清洁能源具有重要意义。/pp　　根据国务院印发的《“十三五”国家战略性新兴产业发展规划》纲要，“十三五”期间国家将大力推动新能源汽车、新能源和节能环保产业快速壮大，加快生物产业创新发展步伐，超前布局战略性产业，促进战略性新兴产业集聚发展。而新能源的发展离不开对其相互作用反应机理的研究，这就使得分析技术，如表面分析技术变得非常关键。/pp　　此次大会的主题之一即聚焦“新能源”，主办方邀请了业内相关专家介绍了他们洁净能源技术研发的新进展。/pp style="text-align: center " /pp style="text-align: center "img title="盛世善.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/5570ce22-d034-403f-b8dc-abec4f0cbbaf.jpg"//pp style="text-align: center "中国科学院大连化物所盛世善研究员/pp style="text-align: center "报告题目：清洁能源与表面分析/pp　　报告中，盛世善教授介绍了洁净能源——煤基合成油的制备工艺、催化剂，及利用XPS等表面分析技术进行表征获得相关信息的情况。采用了新的铁基催化剂的费托合成以煤炭为原料制成的合成气直接制备烯烃，选择性超过了80%，而传统的以钴为催化剂的费托合成低碳烯烃的选择性理论上最高为58%，这一技术突破创造了一条煤基合成气转化制烯烃的新途径。盛世善教授介绍了此工艺过程中采用的新型双功能催化剂，并利用表面分析技术对其进行表征，对于金属或合金、多元催化剂可获得元素的偏析、分凝等信息 在催化剂制备条件选择上，可以获得焙烧气氛与温度等信息 对于半导体催化剂可以获得价带、材料的功函数等信息。/pp style="text-align: center "img title="陈建.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/22990709-8fe5-4e9f-82eb-2c3627a2e218.jpg"//pp style="text-align: center "中山大学陈建教授/pp style="text-align: center "报告题目：表面分析技术在先进能源材料研究中的若干应用/pp　　陈建教授在报告中介绍了扫描探针显微、表面增强拉曼光谱、表面等离子体共振、光电子能谱等表面分析技术在先进能源材料研究中的新应用进展。如实现了对半导体材料表面、器件界面的结构与光电性质进行了原位、实时的测量，为界面调控提供了有效的分析手段。发展了基于表面增强拉曼散射技术的纳米局域热点温度检测方法，研究光电催化反应机理的原位光谱学分析方法，和研究聚合物在等温冷却结晶过程中的结构相态变化和结晶动力学过程的原位变温拉曼散射法。最后利用X射线光电子能谱与氩离子刻蚀联合技术明确了聚合物太阳能电池形成界面偶离子的机理和微观过程，揭示了钙钛矿太阳能电池钙钛矿薄膜形成的内在机制。/pp style="text-align: center "img title="谢芳艳.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/468aeafa-5982-4e0c-b14c-247fc585913f.jpg"//pp style="text-align: center "中山大学谢芳艳/pp style="text-align: center "报告题目：光电子能谱在有机太阳电池研究中的应用/pp　　陈建教授的同事谢芳艳此次大会也带来了精彩报告，报告内容包括聚合物有机太阳电池、钙钛矿太阳电池的情况，而且，结合光电子能谱所能提供的信息，谢芳艳介绍了其团队在这方面所开展的应用实例。/pp /p

p style="text-indent: 2em text-align: justify "strong仪器信息网讯 /strong 2019年10月23日，第十八届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA 2019) 学术报告会在北京国家会议中心盛大开幕。10月24日，由北京理化分析测试学会表面分析专业委员会和广东省测试协会表面分析专业委员会联合举办2019年会，以“BCEIA 2019表面分析技术应用研讨会”为主题在国家会议中心E235隆重举行。50余名表面分析技术相关领域的科研及技术人员齐聚一堂，共话表面分析科学及其应用技术的新发展。/pp style="text-indent: 2em text-align: justify "大会开幕式由北京理化分析测试学会表面分析技术委员会副理事长姚文清主持，北京理化分析测试学会表面分析技术委员会常务副理事长刘芬、广东省分析测试协会表面分析专业委员会秘书长谢方艳分别致辞。/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/071662d9-5743-4d44-9d50-6d99ebaeb796.jpg" title="yaowenqing.jpg" alt="yaowenqing.jpg"//pp style="text-align: center "北京理化分析测试学会表面分析技术委员会副理事长 姚文清/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/54957d7c-1333-45e9-9b57-073d4038b2a8.jpg" title="liufen.jpg" alt="liufen.jpg"//pp style="text-align: center "北京理化分析测试学会表面分析技术委员会常务副理事长 刘芬/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/6517d4bc-49bd-42d3-b539-be6905d07f50.jpg" title="xiewenyan.jpg" alt="xiewenyan.jpg"//pp style="text-align: center "广东省分析测试协会表面分析专业委员会秘书长 谢方艳/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "在24日上午的会议上，中国科学院化学所赵耀副研究员、湖南大学Muhammad-Sadeeq Balogun(唐杰)教授、北京泊菲莱科技有限公司刘欢博士、姚文清高工分别带来了精彩的学术分享。/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/c3e5f592-7831-44cf-962b-a5be16d0e55b.jpg" title="zhaoyao.jpg" alt="zhaoyao.jpg"//pp style="text-align: center "中国科学院化学所 赵耀副研究员/pp style="text-align: center "报告题目：In Situ Liquid SIMS and Its Application on Analysis of Liquid Surface and Solid-Liquid Interface/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "飞行时间二次离子质谱技术（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术。在报告中，赵耀副研究员介绍了飞行时间二次离子质谱及其一些应用，并就他课题组对飞行时间二次离子质谱与电化学联用技术方面的研究作了重点介绍。/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/e2e48abb-b317-4dc8-a83b-783c4c0dae52.jpg" title="唐杰.jpg" alt="唐杰.jpg"//pp style="text-align: center "湖南大学 Muhammad-Sadeeq Balogun(唐杰)教授/pp style="text-align: center "报告题目：Mechanism of Lithium Storage Properties at the Interface of Transition Metal Oxides and Carbon Fiber Hybrids/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "能源问题一直是各界关注的焦点，电能作为可再生能源将会被人类长期使用，但电能的储存仍是一个难题，锂离子电池以其良好的储电效果一直被广泛关注。湖南大学 Muhammad-Sadeeq Balogun(唐杰)教授的报告分为五个部分，介绍了他从事锂离子电池研究的部分成果。/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/332157a4-caca-4a68-9168-008ccc7ca3bc.jpg" title="刘欢.jpg" alt="刘欢.jpg"//pp style="text-align: center "北京泊菲莱科技有限公司 刘欢博士/pp style="text-align: center "报告题目：光催化仪器设备实践与应用/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "光催化反应是以半导体材料为主的多相反应体系，是光电物理与电化学高度耦合的“光-电-化”转化过程。刘欢博士在报告中介绍了北京泊菲莱科技有限公司Labsolar 6A光催化系统的各项性能，以及他对光催化设备未来发展的一些展望。/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/39530517-57f9-4ff0-a4d8-99ff762b8b47.jpg" title="姚文青.jpg" alt="姚文青.jpg"//pp style="text-align: center "清华大学 姚文清高工/pp style="text-align: center "报告题目：电子结构调控对光催化性能的影响/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "环境污染控制是全球关注的焦点，光催化氧化技术治理环境污染具有室温降解、深度矿化、无二次污染等独特的优势。报告中，姚文清高工介绍了通过调控能带结构、内建电场，提高光催化材料光生电荷分离迁移效率，增强降解污染物降解活性，提高可见光利用率。/pp style="text-align: center"img style="width: 281.466px height: 192px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/c7b250bd-ee6c-442d-84e7-22e03e9c2666.jpg" title="wenda.jpg" width="281" height="192"/img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/beaad88d-661c-407c-a7bb-95fb5284261b.jpg" title="wenda 2.jpg" width="260" height="194" style="width: 260px height: 194px "//pp style="text-align: center "现场提问互动环节/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下午，暨南大学谢伟广教授、中山大学谢方艳高工、PHI(China)Limited高德英特(北京)科技有限公司张伟、北京师范大学吴正龙教授级高工、中国科学院化学所刘芬副研究员、中国科学院大连化学物理研究所盛世善研究员分别进行了精彩报告，获得了在场观众的一致赞扬。/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/11e0b932-f1fd-4dc0-a805-7b87416a6a4e.jpg" title="谢广伟.jpg" alt="谢广伟.jpg"//pp style="text-align: center "暨南大学谢伟广教授/pp style="text-align: center "报告题目：扫描探针显微镜在半导体材料及器件表界面分析中的应用。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "扫描探针显微分析技术可实现光电器件测试、表/界面跨尺度空间分辨的原位、实时的结构与光电性质的精确测量，报告中谢伟广教授介绍了该团队利用扫描探针显微分析技术发现钙钛矿等材料的表/界面光子、电子等相互作用机理及规律研究工作。/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/52f41f00-89ee-4a85-8b07-f7eabab158b1.jpg" title="IMG_0693.JPG" alt="IMG_0693.JPG"//pp style="text-align: center "中山大学谢方艳高工/pp style="text-align: center "报告题目：紫外光电子能谱在半导体研究中的应用。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "紫外光电子能谱UPS（Ultroviolet Photoelectron Spectrometer）以紫外线为激发光源的光电子能谱。主要用于考察气相原子、分子以及吸附分子的价电子结构。谢方艳高工介绍了利用UPS/XPS技术进行燃料电池、聚合物太阳电池、钙钛矿太阳电池等材料界面电子结构与界面相互作用的机理研究。/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/f27b0459-e5bc-4355-9539-60b3f9bd7705.jpg" title="zhangwei.jpg" alt="zhangwei.jpg"//pp style="text-align: center "PHI(China)Limited高德英特(北京)科技有限公司张伟/pp style="text-align: center "报告题目：结合多种表面分析技术的应用。/pp style="text-indent: 2em "XPS、AES、TOF-SIMS等表面分析技术在很多领域都有广泛应用，张伟在报告中叙述了几种表面分析技术在半导体材料中的应用。/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/5cebf539-bb64-4b1c-8081-b6546430c15a.jpg" title="wuzhenglong.jpg" alt="wuzhenglong.jpg"//pp style="text-align: center "北京师范大学吴正龙教授级高工/pp style="text-align: center "报告题目：电子能谱在薄膜分析中的应用。/pp style="text-indent: 2em "吴正龙高工从事XPS研究多年，在报告中，他对使用XPS研究薄膜材料的物理性能及化学性能机理进行了介绍。/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/b09ce7ed-d677-4bfc-8d51-937100f8f6b8.jpg" title="刘芬.jpg" alt="刘芬.jpg"//pp style="text-align: center "中国科学院化学所刘芬副研究员/pp style="text-align: center "报告题目：表面化学分析标准化与分析测试。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "刘芬副研究员介绍了国际标准化委员会表面化学分析分委员会（ISO/TC201）与全国微束标准化委员会表面分析分委员会（SAC/TC38/SC2）工作程序及工作。/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/02197b32-863e-4d28-a6e3-a082f1ed1b8e.jpg" title="盛事山.jpg" alt="盛事山.jpg"//pp style="text-align: center "中国科学院大连化学物理研究所盛世善研究员/pp style="text-align: center "报告题目：光电子能谱方法--XPS测试中常见问题讨论。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "仪器只是分析检测的一小步，得到的数据如何解读是困扰研究人员的一大难题。盛世善研究员的报告针对XPS数据后期处理展开了讨论与分析。/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/a69552c5-db43-4a22-bc8b-eb498ce6fbe3.jpg" title="合影.jpg" alt="合影.jpg"//pp style="text-align: center "大会合影/p

p　　strong仪器信息网讯/strong 2017年5月20日，“2017年全国表面分析方法及新能源与生物功能材料学术研讨会”在重庆召开。此次会议由西南大学、重庆大学、赛默飞主办，170多位来自科研院校、以及企业的专家用户参加了此次会议。span style="text-align: center " /span/pp style="text-align: center "img title="现场1.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/00b4be24-b0f7-4cf4-bb01-025e26fe660b.jpg"//pp style="text-align: center "会议现场/pp　　材料表面的成分、结构、化学状态等与内部有明显的不同，而表面特性对材料的物理、化学等性能影响很大。随着材料科学、化学化工、半导体及薄膜、能源、微电子、信息产业、生物医药及环境领域等高新技术的迅猛发展，对于表面分析技术的需求日益增多。同时，由于最近几十年超高真空、高分辨和高灵敏电子测量技术的快速发展，表面分析技术也有了长足进步。表面分析技术主要包括X射线光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱(AES)、二次离子质谱(SIMS)等。国内表面分析技术起步于80年代，目前已经广泛应用于基础科研、先进材料研制、高精尖技术、装备制造等领域。/pp　　此次会议，多个报告聚焦在表面分析及方法的进展，如：/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/65282d53-2da7-45d0-96b7-3152489be928.jpg" title="John F.Watts.jpg"//pp style="text-align: center "University Of Surrey John F.Watts/pp style="text-align: center "报告题目：XPS：A Versatile Analysis Method From Carbon to Energy Materials/pp　　此次会议请来了《表面分析(XPS和AES)引论》一书的原作者John F.Watts先生作大会报告。/pp style="text-align: center "img title="郭沁林.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/48586558-6329-4ff4-ba2c-8a0ac99cb24c.jpg" style="text-align: center "//pp style="text-align: center "中国科学院物理研究所郭沁林研究员/pp style="text-align: center "报告题目：样品简易加热法/pp　　郭沁林研究员在实验室的XPS设备条件不具备的情况，自己搭建了简易的灯泡样品加热装置，其性价比极高、操作简单、加热速度快、灯丝不会被污染、可在氧气氛中工作、易维护等优点。当然，此简易装置也存在着占用空间、无法原位制备薄膜等问题。/pp style="text-align: center "img title="唐文新.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/0c08000c-a3e0-49df-aa03-498557e19f3e.jpg"//pp style="text-align: center "重庆大学唐文新教授/pp style="text-align: center "报告题目：低能电子显微镜在表面科学中应用/pp　　唐文新教授2012年承担了国家自然科学基金委重大科研仪器设备研制专项“超快自旋极化低能电子显微镜”，自主设计了新型的超快高分辨自旋极化低能电子显微镜。该技术将用于探索和发现低维超快磁动力和量子结构的表面超快动力过程中的非平衡态物理化学现象。/pp style="text-align: center "img title="高峰.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/557c15ce-3127-4e13-beb2-f4d696622269.jpg"//pp style="text-align: center "山东农业大学高峰/pp style="text-align: center "报告题目：XPS真空原位硬件技术与精确分析软件技术初探/pp　　报告中，高峰介绍了XPS真空原位分析技术及软件新技术，及其在蛋白质研究、厌氧性细胞研究、失效分析等领域的应用前景。/pp style="text-align: center " /pp style="text-align: center "img title="吴正龙.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/21db7c15-8908-44c3-8fd5-516d5168795a.jpg"//pp style="text-align: center "北京师范大学吴正龙教授/pp style="text-align: center "报告题目1：非均匀样品的XPS分析/pp style="text-align: center "报告题目2：XPS名词术语/pp　　吴正龙教授此次会上做了两个报告，首先介绍的是非均匀样品的XPS分析。电子能谱所要求的无限厚均匀样品较少，一般样品都属于非均匀样品，如有包裹层、覆盖层、多层薄膜，或者颗粒物的存在。报告中，吴正龙教授通过实际分析例子介绍了XPS与表面分析相冲突的现象、比较了表面分布与均匀的XPS分析结果、概述了非均匀样品的XPS分析技术。/pp style="text-align: center "img title="王海.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/1abae517-d987-4619-86d5-1f62921793ea.jpg"//pp style="text-align: center "中国计量科学研究院王海研究员/pp style="text-align: center "报告题目：表面分析电子能谱仪标准物质研究/pp　　报告中，王海研究员介绍了标物SiO2/Si、XPS能量标度标物GBW(E)130545~130547、Cu(In,Ga)Se2薄膜组成标物等的工艺优化、均匀性与稳定性、定值、量值验证、与国外同类标物对比以及标物的应用。/pp /p

p　　strong仪器信息网讯/strong 2017年5月20日，“2017年全国表面分析方法及新能源与生物功能材料学术研讨会”在重庆召开。此次会议由西南大学、重庆大学、赛默飞主办，170多位来自科研院校、以及企业的专家用户参加了此次会议。/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/12b30bf7-a060-4205-9d34-a5d5caceaec8.jpg" style="" title="现场1.jpg"//pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/0390c36c-c9b0-41e3-b0cb-ee7138a40ade.jpg" style="" title="现场2.jpg"//pp style="text-align: center "会议现场/pp　　随着我国材料科学、化学化工、半导体及薄膜、能源、微电子、信息产业、生物医药及环境领域等高新技术的迅猛发展，表面分析技术在过去的几十年中有了长足进步，在科学研究领域作用日益增长。“2017年全国表面分析方法及新能源与生物功能材料学术研讨会”正是在这一背景下召开的一个多学科交叉的学术交流会议。/pp　　李长明院士首先代表主办方热情欢迎与会者的到来。在致辞中，李长明院士指出，当今社会的发展离不开新能源的出现和先进能源技术的使用，发展新能源、改善环境污染状况，也是全世界全人类共同关心的问题。此次大会的主题“新能源”即利用新技术新材料进而开发利用的替代性能源，我们期待先进洁净能源技术的持续发展。/pp　　根据国务院印发的《“十三五”国家战略性新兴产业发展规划》纲要，“十三五”期间国家将大力推动新能源汽车、新能源和节能环保产业快速壮大，加快生物产业创新发展步伐，超前布局战略性产业，促进战略性新兴产业集聚发展。而新能源、新材料的发展离不开对其相互作用反应机理的研究，这就使得表面分析技术变得非常关键。此次会议的召开促进了新能源、功能材料利用表面分析技术进行表征以及表面分析技术的最新研究进展及应用的交流与探讨。/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/2eac8953-362b-4a2a-8b73-975e8fc3bca3.jpg" title="Kevin Fairfax.jpg"//pp style="text-align: center "赛默飞表面分析业务总监Kevin Fairfax先生致辞/pp　　Kevin Fairfax先生致辞中介绍了赛默飞以及其材料科学部门的发展情况。2016年赛默飞共收入182.7亿美元，研发支出为7.548亿美元，在全球用于55000多名员工，旗下有thermo scientific、applied biosystem、Invitrogen、Fisher scientific、unity labservices五大品牌。/pp　　而2016年赛默飞收购FEI，为公司带来了业界领先的电子显微技术，让赛默飞在材料科学和结构生物学领域“如虎添翼”，使得赛默飞的材料科学部门能够提供多模式、多尺度的工作流。/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/3df60b65-7978-4426-b75c-1f8839e42b0c.jpg" title="李长明.jpg"//pp style="text-align: center "西南大学李长明院士致辞后做大会报告/pp style="text-align: center "报告题目：材料功能化及在高效能源转换中的应用/pp　　能源是人类下个100年面临的十大问题之首，李长明院士指出：能源是人类社会存在与发展的基石、是经济发展与人类文明进步的基本约束条件，而如何提高能源转换效率是绿色新能源研究的一个重要课题。在报告中李长明院士介绍了其团队在微纳尺度功能化材料、锂/纳高功率电池、生物燃料电池、锂/纳离子电池、新型太阳能电池、细菌燃料电池等多个研究方向的研究成果。/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/51c36be8-1dac-4659-a592-53ab972c9daa.jpg" title="杨秀荣.jpg"//pp style="text-align: center "中国科学院长春应用化学研究所杨秀荣院士做大会报告/pp style="text-align: center "报告题目：基于生物质与非贵金属的新能源材料研究/pp　　全球能源消耗面临着巨大危机，据2013年全球能源消费统计，石油只能再用45年、煤还能用200年，同时石油、煤等传统能源造成的环境污染也日趋严重。因此开发具有应用潜能的清洁能源具有重要意义。杨秀荣院士及其团队一直在进行基于生物质与非贵金属的新能源材料研究。在此次报告中，杨秀荣院士介绍了其团队将木耳等不同菌类植物衍生碳用做超级电容器材料、微生物衍生杂原子掺杂碳用于电催化氧还原和超级电容器等研究方面的工作进展。/pp　　span style="color: rgb(31, 73, 125) "更多精彩报告内容见后续报道。/span/pp　　据赛默飞表面分析及常量元素分析中国区商务经理汪霆先生介绍，赛默飞一直坚持每年举行表面分析技术交流会，而此次的会议更加用心，为仪器分析方法研究人员与科研人员搭建了交流平台。科研人员在此更加了解了表征方法的最新进展，为未来在科研工作中获得更好的研究成果打下基础 而仪器分析方法研究人员在此开拓了眼界，为未来可能的科研工作埋下伏笔。今年的会议聚焦的是新能源与生物功能材料领域，明年将会聚焦其他热门领域。此次会议的举办也是赛默飞承担作为一家大型企业的社会责任、促进了相关技术的交流。　　/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/ea917f84-96f6-47e5-9964-3150260b6eac.jpg" title="赛默飞展示.jpg"//pp　　在会场一角，赛默飞展出了台式X射线衍射仪、手持XRF分析仪等仪器以及相关解决方案，引起了与会者的关注。br//pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/dd6796c2-4319-46f5-bdf3-23d734110336.jpg" title="合影.jpg"//pp style="text-align: center "与会者合影/ppbr//p

利用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与固体表面的相互作用，测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像，得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息的各种技术，统称为先进材料表征方法。先进材料表征方法包括表面元素组成、化学态及其在表层的分布测定等。后者涉及元素在表面的横向和纵向(深度)分布。先进材料表征方法特点表面是固体的终端，表面向外一侧没有近邻原子，表面原子有部分化学键伸向空间，形成“悬空键”。因此表面具有与体相不同的较活跃的化学性质。表面指物体与真空或气体的界面。先进材料表征方法通常研究的是固体表面。表面有时指表面的单原子层，有时指上面的几个原子，有时指厚度达微米级的表面层。应用领域航空、汽车、材料、电子、化学、生物、地质学、医学、冶金、机械加工、半导体制造、陶瓷品等。X射线能谱分析（EDS）应用范围PCB、PCBA、FPC等。测试步骤将样品进行表面镀铂金后，放入扫描电子显微镜样品室中，使用15 kV的加速电压对测试位置进行放大观察，并用X射线能谱分析仪对样品进行元素定性半定量分析。样品要求非磁性或弱磁性，不易潮解且无挥发性的固态样品，小于8CM*8CM*2CM。典型图片PCB焊盘测试图片成分分析测试谱图聚焦离子束技术（FIB）聚焦离子束技术（Focused Ion beam，FIB）是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的离子束轰击材料表面，实现材料的剥离、沉积、注入、切割和改性。随着纳米科技的发展，纳米尺度制造业发展迅速，而纳米加工就是纳米制造业的核心部分，纳米加工的代表性方法就是聚焦离子束。近年来发展起来的聚焦离子束技术（FIB）利用高强度聚焦离子束对材料进行纳米加工，配合扫描电镜（SEM）等高倍数电子显微镜实时观察，成为了纳米级分析、制造的主要方法。目前已广泛应用于半导体集成电路修改、离子注入、切割和故障分析等。聚焦离子束技术（FIB）可为客户解决的产品质量问题（1）在IC生产工艺中，发现微区电路蚀刻有错误，可利用FIB的切割，断开原来的电路，再使用定区域喷金，搭接到其他电路上，实现电路修改，最高精度可达5nm。（2）产品表面存在微纳米级缺陷，如异物、腐蚀、氧化等问题，需观察缺陷与基材的界面情况，利用FIB就可以准确定位切割，制备缺陷位置截面样品，再利用SEM观察界面情况。（3）微米级尺寸的样品，经过表面处理形成薄膜，需要观察薄膜的结构、与基材的结合程度，可利用FIB切割制样，再使用SEM观察。聚焦离子束技术（FIB）注意事项（1）样品大小5×5×1cm，当样品过大需切割取样。（2）样品需导电，不导电样品必须能喷金增加导电性。（3）切割深度必须小于50微米。应用实例（1）微米级缺陷样品截面制备（2）PCB电路断裂位置，利用离子成像观察铜箔金相。俄歇电子能谱分析（AES）俄歇电子能谱技术（Auger electron spectroscopy，简称AES），是一种表面科学和材料科学的分析技术，因检测由俄歇效应产生的俄歇电子信号进行分析而命名。这种效应系产生于受激发的原子的外层电子跳至低能阶所放出的能量被其他外层电子吸收而使后者逸出，这一连串事件称为俄歇效应，而逃脱出来的电子称为俄歇电子，通过检测俄歇电子的能量和数量来进行定性定量分析。AES应用于鉴定样品表面的化学性质及组成的分析，其特点在俄歇电子来极表面甚至单个原子层，仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点，广泛应用于材料分析以及催化、吸附、腐蚀、磨损等方面的研究。俄歇电子能谱分析（AES）可为客户解决的产品质量问题（1）当产品表面存在微小的异物，而常规的成分测试方法无法准确对异物进行定性定量分析，可选择AES进行分析，AES能分析≥20nm直径的异物成分，且异物的厚度不受限制（能达到单个原子层厚度，0.5nm）。（2）当产品表面膜层太薄，无法使用常规测试进行厚度测量，可选择AES进行分析，利用AES的深度溅射功能测试≥3nm膜厚厚度。（3）当产品表面有多层薄膜，需测量各层膜厚及成分，利用D-SIMS（AES）能准确测定各层薄膜厚度及组成成分。注意事项（1）样品最大规格尺寸为1×1×0.5cm，当样品尺寸过大需切割取样。（2）取样的时候避免手和取样工具接触到需要测试的位置，取下样品后使用真空包装或其他能隔离外界环境的包装， 避免外来污染影响分析结果。（3）由于AES测试深度太浅，无法对样品喷金后再测试，所以绝缘的样品不能测试，只能测试导电性较好的样品。（4）AES元素分析范围Li-U，只能测试无机物质，不能测试有机物物质，检出限0.1%。应用实例样品信息：样品为客户端送检LED碎片，客户端反映LED碎片上Pad表面存在污染物，要求分析污染物的类型。失效样品确认：将LED碎片放在金相显微镜下观察，寻找被污染的Pad，通过观察，发现Pad表面较多小黑点。X射线光电子能谱分析（XPS）X射线光电子能谱技术X射线光电子能谱技术（X-ray photoelectron spectroscopy，简称XPS）是一种表面分析方法， 使用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来，被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量和数量，从而获得待测物组成。XPS主要应用是测定电子的结合能来鉴定样品表面的化学性质及组成的分析，其特点在光电子来自表面10nm以内，仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点，广泛应用于金属、无机材料、催化剂、聚合物、涂层材料矿石等各种材料的研究，以及腐蚀、摩擦、润滑、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。X射线光电子能谱分析（XPS）可为客户解决的产品质量问题（1）当产品表面存在微小的异物，而常规的成分测试方法无法准确对异物进行定性定量分析，可选择XPS进行分析，XPS能分析≥10μm直径的异物成分以及元素价态，从而确定异物的化学态，对失效机理研究提供准确的数据。（2）当产品表面膜层太薄，无法使用常规测试进行厚度测量，可选择XPS进行分析，利用XPS的深度溅射功能测试≥20nm膜厚厚度。（3）当产品表面有多层薄膜，需测量各层膜厚及成分，利用D-SIMS能准确测定各层薄膜厚度及组成成分。（4）当产品的表面存在同种元素多种价态的物质，常规测试方法不能区分元素各种价态所含的比例，可考虑XPS价态分析，分析出元素各种价态所含的比例。注意事项（1）样品最大规格尺寸为1×1×0.5cm，当样品尺寸过大需切割取样。（2）取样的时候避免手和取样工具接触到需要测试的位置，取下样品后使用真空包装或其他能隔离外界环境的包装， 避免外来污染影响分析结果。（3）XPS测试的样品可喷薄金（不大于1nm），可以测试弱导电性的样品，但绝缘的样品不能测试。（4）XPS元素分析范围Li-U，只能测试无机物质，不能测试有机物物质，检出限0.1%。应用实例样品信息：客户端发现PCB板上金片表面被污染，对污染区域进行分析，确定污染物类型。测试结果谱图动态二次离子质谱分析（D-SIMS）飞行时间二次离子质谱技术二次离子质谱技术（Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry，D-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子的质量来测定元素种类，具有极高分辨率和检出限的表面分析技术。D-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三维样品的元素结构信息，其特点在二次离子来自表面单个原子层（1nm以内），仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和检出限高的特点，广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。动态二次离子质谱分析（D-SIMS）可为客户解决的产品质量问题（1）当产品表面存在微小的异物，而常规的成分测试方法无法准确对异物进行定性定量分析，可选择D-SIMS进行分析，D-SIMS能分析≥10μm直径的异物成分。（2）当产品表面膜层太薄，无法使用常规测试进行膜厚测量，可选择D-SIMS进行分析，利用D-SIMS测量≥1nm的超薄膜厚。（3）当产品表面有多层薄膜，需测量各层膜厚及成分，利用D-SIMS能准确测定各层薄膜厚度及组成成分。（4）当膜层与基材截面出现分层等问题，但是未能观察到明显的异物痕迹，可使用D-SIMS分析表面超痕量物质成分，以确定截面是否存在外来污染，检出限高达ppb级别。（5）掺杂工艺中，掺杂元素的含量一般是在ppm-ppb之间，且深度可达几十微米，使用常规手段无法准确测试掺杂元素从表面到心部的浓度分布，利用D-SIMS可以完成这方面参数测试。动态二次离子质谱分析（D-SIMS）注意事项（1）样品最大规格尺寸为1×1×0.5cm，当样品尺寸过大需切割取样，样品表面必须平整。（2）取样的时候避免手和取样工具接触到需要测试的位置，取下样品后使用真空包装或其他能隔离外界环境的包装， 避免外来污染影响分析结果。（3）D-SIMS测试的样品不受导电性的限制，绝缘的样品也可以测试。（4）D-SIMS元素分析范围H-U，检出限ppb级别。应用实例样品信息：P92钢阳极氧化膜厚度分析。飞行时间二次离子质谱分析（TOF-SIMS）飞行时间二次离子质谱技术（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量，具有极高分辨率的测量技术。可以广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三维样品的元素、分子等结构信息，其特点在二次离子来自表面单个原子层分子层（1nm以内），仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点，广泛应用于物理，化学，微电子，生物，制药，空间分析等工业和研究方面。飞行时间二次离子质谱分析（TOF-SIMS）可为客户解决的产品质量问题（1）当产品表面存在微小的异物，而常规的成分测试方法无法准确对异物进行定性定量分析，可选择TOF-SIMS进行分析，TOF-SIMS能分析≥10μm直径的异物成分。（2）当产品表面膜层太薄，无法使用常规测试进行成分分析，可选择TOF-SIMS进行分析，利用TOF-SIMS可定性分析膜层的成分。（3）当产品表面出现异物，但是未能确定异物的种类，利用TOF-SIMS成分分析，不仅可以分析出异物所含元素，还可以分析出异物的分子式，包括有机物分子式。（4）当膜层与基材截面出现分层等问题，但是未能观察到明显的异物痕迹，可使用TOF-SIMS分析表面痕量物质成分，以确定截面是否存在外来污染，检出限高达ppm级别。飞行时间二次离子质谱分析（TOF-SIMS）注意事项（1）样品最大规格尺寸为1×1×0.5cm，当样品尺寸过大需切割取样。（2）取样的时候避免手和取样工具接触到需要测试的位置，取下样品后使用真空包装或其他能隔离外界环境的包装， 避免外来污染影响分析结果。（3）TOF-SIMS测试的样品不受导电性的限制，绝缘的样品也可以测试。（4）TOF-SIMS元素分析范围H-U，包含有机无机材料的元素及分子态，检出限ppm级别。应用实例样品信息：铜箔表面覆盖有机物钝化膜，达到保护铜箔目的，客户端需要分析分析苯并咪唑与铜表面结合方式。

p　　2015年9月11日下午，广东省分析测试协会在中山大学测试中心召开了广东省分析测试协会表面分析专业委员会成立大会暨表面分析技术研讨会。广东省分析测试协会秘书长张中强研究员、中山大学测试中心主任栾天罡教授、广东省分析测试协会质谱分会理事长吴惠勤研究员、理事周海云高级工程师、色谱专业委员会主任委员李攻科教授、电镜分会副理事长赵文霞副研究员、核磁共振分会常务理事陈晓红高级实验师、X射线衍射专业委员会秘书长曾小平高级工程师等领导及相关领域的专家学者出席了成立大会，大会特别邀请了全国微束分析标准化委员会表面化学分析分技术委员会副主任、北京理化分析测试协会表面分析技术委员会副理事长清华大学姚文清高级工程师出席会议，大会由中山大学测试中心技术总监陈建研究员主持。/pp　　在广东省分析测试协会表面分析专业委员会成立大会上，张中强研究员宣读了广东省分析测试协会关于成立表面分析专业委员会的决定，并郑重宣布广东省分析测试协会表面分析专业委员会正式成立。栾天罡教授代表中山大学测试中心致贺词，并对委员会将来的工作以及推动广东省表面分析事业的发展寄予厚望。陈建研究员代表筹备工作组，做委员会的工作报告，详细介绍了广东省表面分析事业的发展现状、委员会的筹备过程以及委员会的功能职责，委员会将以中山大学测试中心为开展活动的依托单位，在广东省测试协会的领导下，为广东省的表面分析科学事业的发展做出积极的贡献。/pp style="TEXT-ALIGN: center"img title="1.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201509/insimg/d7ce5f6b-201a-4dc8-9e16-af2532111a22.jpg"//pp style="TEXT-ALIGN: center"img title="2.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201509/insimg/1f78f530-7fe4-43da-b257-4a7ab07396b0.jpg"//pp　　随后，表面分析委员会的注册会员进行了投票选举，选出了表面分析委员会委员22名，并由中山大学陈建研究员担任主任委员，华南理工大学尹诗衡高级工程师、华南师范大学孟耀勇研究员、汕头大学王江涌教授担任副主任委员，中山大学谢方艳高级实验师担任委员会秘书长。张中强研究员代表广东省分析测试协会向各位当选的委员们颁发了聘书。在接获聘书的一刻，每位委员都深知这份聘书所包含的责任，也必将以实际行动来推动广东省表面分析事业的发展。/pp style="TEXT-ALIGN: center"img title="3.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201509/insimg/419593a9-1c7e-4734-8943-b8f9b84dd4d7.jpg"//pp　　在接下来的表面分析技术研讨会上，清华大学的姚文清老师做了关于“表面分析技术发展概况”的报告。姚老师从我国表面分析事业的起步、发展、未来等方面，全面的介绍了我国表面分析领域所存在的机遇与挑战，在制定国家标准、仪器开发等方面做了详细的阐述，并对委员会将来的发展以及广东省表面分析事业的建设给予了中肯的意见和建议。/pp　　随后中山大学测试中心谢方艳博士做了题为“光电子能谱技术在材料研究中的应用”的学术报告。报告从近几年测试中心光电子能谱机组的发展历程、技术应用、科研支撑等方面进行了详细阐述，并结合中山大学校内多个科研课题组的研究进展，介绍了光电子能谱技术在材料科学研究中的应用，通过技术研发，在促进科研创新增长点的同时，获得了显著的科研成效及相关研究成果。/pp　　暨南大学的谢伟广副教授从事表面分析研究有着十多年的经验，他结合自己的科研工作做了题为“开尔文探针显微镜及其应用”的研究报告。报告中，谢老师详细介绍了开尔文探针显微镜的工作原理、技术特点和科研应用，特别介绍了开尔文探针显微镜在太阳能电池等科研领域的研究热点，引起了与会代表的热烈探讨。/pp　　来自香港Exponent Ltd.的席峦博士是一位从事二次离子质谱仪分析技术的专家，由于二次离子质谱技术在广东省甚至全国的资源较少，因此大会特别邀请席博士做一场关于“浅谈表面分析仪器在产品分析中的应用”的报告。席博士结合自己多年的分析经验，对二次离子质谱仪在半导体行业、生物科技、环境科学等领域的应用，做了详细的阐述。席博士希望未来有更多的人能够积极参与二次离子质谱技术发展和应用的事业中。/pp style="TEXT-ALIGN: center"img title="4.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201509/insimg/107cb399-d429-4c63-8d92-c595cee2ab26.jpg"//pp style="TEXT-ALIGN: center"img title="5.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201509/insimg/ac4a49b1-c33d-463d-9838-a2433f4f42d5.jpg"//pp　　表面分析技术的发展离不开仪器的研发和技术的进步，赛默飞公司的葛青亲博士、岛津公司的黄剑红先生和高德英特的叶上远先生分别做了产品技术的应用报告，产品在功能多元化、技术特殊定制等方面有了长足的进步，同时希望用户及时反馈，促进产品的进一步开发和应用。/pp　　广东省分析测试协会表面分析专业委员会的正式成立将团结广东地区有关分析测试单位和分析测试工作者，促进广东省表面分析测试科学技术的普及、开发、技术培训交流、标准宣贯等工作。/p

仪器信息网讯 2013 年8 月20日，&ldquo 2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议暨表面分析国家标准宣贯及X 射线光电子能谱(XPS)高端研修班&rdquo 在北京举行，本次会议为期两天。100余名从事表面分析技术研究与应用的研究人员参加了此次会议。　　本次会议由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会主办，国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、北京师范大学分析测试中心和北京大学分析测试中心共同承办。会议现场　　北京电子能谱中心常务副主任、清华大学教授朱永法介绍说：&ldquo 作为固体表面分析的重要手段，上个世纪90年代在我国掀起了表面分析技术的研究热潮，当时国内相关会议较多。但近年来，随着表面分析技术的发展成熟，其研究也进入了低谷期，国内已经多年没有召开过相关的会议。&rdquo 　　2012年，清华大学分析中心、国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心组织了全国表面分析科学与技术应用学术会议，今年是该会议第二次举办。北京电子能谱中心常务副主任、清华大学教授朱永法　　朱永法说：&ldquo 目前全国的表面分析仪器有300台左右，有关表面分析技术的应用研究也比较多。今年在会议组织中我们希望能做的更规范，希望以后每年都能举行一次这样的学术会议，更好的促进同行之间交流与合作，推动表面分析学科及其应用技术的发展以及与其他学科的融合。&rdquo 　　会议的主题报告主要为X 射线光电子能谱法(XPS)、俄歇电子能谱法(AES)、表面增强共振拉曼光谱法(SERS)、扫描探针显微镜(STM)、飞行时间二次离子质谱法(TOF-SIMS)、辉光放电光谱法、椭偏光度法等表面分析技术手段在材料研究中的应用。值得一提的是，会议报告人不仅有高校科研院所的研究人员，还有来自企业的研究人员，如宝钢集团有限公司中央研究院、东莞新科技术研发有限公司、中国石化上海石油化工研究院等。　　本次会议同期还将举行X 射线光电子能谱(XPS)高端研修班，将进行XPS 中化学信息的抽取及其材料研究应用、XPS 数据的后期处理与(半)定量计算、XPS 谱图解析案例，以及分析设备的维修与维护技巧、多功能XPS 核心部件的维护和维修等内容的介绍。高校分析测试中心理事会理事长梁齐　　据高校分析测试中心理事会理事长梁齐介绍：&ldquo 从今年起，高校分析测试中心计划举行&lsquo 高端分析仪器研修班&rsquo ，希望帮助大家更好的了解大型仪器的先进技术及应用。第一届研修班以&lsquo 透射电子显微镜的前沿技术与应用&rsquo 为主题，已于七月份在中国科技大学举办，会议得到了很多分析人员的响应，本次研修班是第二届。&rdquo 　　梁齐说：&ldquo XPS是目前最主要的表面分析技术手段，以前由于仪器价格贵，国内用户并不是很多，但是目前我们了解到很多高校都采购了仪器。大家对XPS的应用也从常规分析发展到高端分析，比如利用XPS进行mapping、深度剖析、原位分析等。&rdquo 。　　另外，据介绍会议还将对《GB/T 25185-2010/ISO 19318 表面化学分析X 射线光电子能谱荷电控制和荷电校正方法的报告》、《GB/T 28894-2012/ ISO 18117：2009 表面化学分析分析前样品的处理》这两项标准进行宣贯。　　表面分析仪器的主要供应商赛黙飞世尔科技(中国)有限公司、岛津企业管理(中国)有限公司、高德英特(北京)科技有限公司(代理日本ULVAC-PHI产品)、北京艾飞拓科技有限公司(代理德国ION TOF公司产品)、北京精微高博科学技术有限公司等都参加了此次会议，就最新表面分析仪器的最新产品和技术分别作了介绍。与会人员合影　　有关会议主题报告及最新产品和技术进展，敬请关注仪器信息网后续报道。（撰稿:秦丽娟）　　相关新闻：　　2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议&mdash &mdash 主题报告　　2013全国表面分析科学会议上的仪器厂商　　X 射线光电子能谱(XPS)高端研修班在京举办　　2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议&mdash &mdash 标准宣贯

仪器信息网讯 2014年10月31日，北京理化分析测试技术学会表面分析专业委员会(以下简称&ldquo 委员会&rdquo )在清华大学理科楼D203会议室举行了成立仪式，之后进行了小型的技术交流，20余名从事表面分析技术研究与应用的人员参加了此次活动。北京表面分析专业委员会成立现场　　材料表面的成分、结构、化学状态等与内部有明显的不同，而表面特性对材料的物理、化学等性能影响很大。随着材料科学、化学化工、半导体及薄膜、能源、微电子、信息产业及环境领域等高新技术的迅猛发展，对于表面分析技术的需求日益增多。同时，由于最近几十年超高真空、高分辨和高灵敏电子测量技术的快速发展，表面分析技术也有了长足进步。目前，全球已经开发了数十种常用的表面分析技术，如X射线光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱(AES)、二次离子质谱(TSIMS)、辉光放电光谱(GD)、扫描探针显微镜(STM)等。　　北京理化分析测试技术学会秘书长桂三刚先生祝贺委员会成立高校分析测试中心研究会理事长李崧教授祝贺委员会成立　　国内表面分析技术起步于80年代，广泛应用于基础科研、先进材料研制、高精尖技术、装备制造等领域。北京地区拥有大型表面分析仪器设备20多台，从事专业表面分析相关工作的人员有50多人，大量分布于各大高校、科研院所。迫切需要搭建学术和技术交流服务平台，以促进表面分析技术的发展和应用，壮大表面分析科学研究队伍，繁荣我国表面科学技术。　　在北京理化分析测试技术学会、高校分析测试中心研究会等组织的支持下，清华大学朱永法教授、北京师范大学吴正龙教授、中科院化学所刘芬研究员、清华大学姚文清教授等表面分析科学骨干人员的努力下，北京表面分析专业委员会于今天正式宣告成立。朱永法教授报告&ldquo 委员会成立背景范围目标及拟开展的活动&rdquo 　　朱永法教授出任委员会第一届理事长，吴正龙教授、刘芬研究员、姚文清教授为副理事长，北京大学谢景林教授、北京化工大学程斌教授、中国计量科学研究院王海研究员、中石化石油化工科学研究院邱丽美高工为理事。　　委员会以团结北京地区有关分析测试单位和分析测试工作者，促进我国分析测试科学技术的普及、开发和提高 为表面分析领域的学术交流、技术培训、标准宣贯等搭建良好的平台为宗旨。　　委员会将以全国微束分析标准化技术委员会表面分析技术委员会、国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心为开展活动的依托单位。今后计划开展学术交流、技术培训服务 国家标准宣贯活动 实验室间交流比对等活动。姚文清报告&ldquo 表面分析在材料中的应用&rdquo 吴正龙报告&ldquo XPS分析中样品损伤问题与会代表合影

表面科学是上世纪60年代后期发展起来的一门学科，目前已经成为国际上最为活跃的学科之一。材料表面的成分、结构、化学状态等与内部有明显的不同,而表面特性对材料的物理、化学等性能影响很大。随着材料科学、化学化工、半导体及薄膜、能源、微电子、信息产业及环境领域等高新技术的迅猛发展，对于表面分析技术的需求日益增多。由于最近几十年超高真空、高分辨和高灵敏电子测量技术的快速发展，表面分析技术也有了长足进步。目前，全球已经开发了数十种常用的表面分析技术，如X射线光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱(AES)、二次离子质谱(TSIMS)、辉光放电光谱(GD)、扫描探针显微镜(STM)等。　　为了深入了解表面分析技术最新动态、最新仪器性能特点，促进同行之间的技术交流，2014年8月29~30日，2014 全国表面分析科学与技术应用学术会议在成都.四川大学举行。60余名从事表面分析技术研究与应用的研究人员参加了此次会议。因为本次会议是由高校分析测试中心研究会主办，所以会议内容不只有新方法新技术研究，还有关于如何用好仪器、如何解决工作中困难方面的交流。　　实验数据&ldquo 去伪存真&rdquo 　　此次会议交流的内容更多的围绕着XPS展开。XPS是重要的表面分析技术手段，在分析材料的表面及界面微观电子结构上早已体现出了强大的作用，它可用于材料表面的元素定性分析、半定量分析、化学状态分析，微区分析以及深度剖析(1-2nm)等。　　对于复杂的材料体系或单一体系中复杂的化学状态，XPS的谱图一般多为数个化学状态的合成峰，且有可能因为轨道杂化的不同而造成峰型的变化。实验者要从众多的复杂的XPS谱图数据中得到有价值的实验结果，需要掌握数据处理基本原则和相关技巧。清华大学朱永法教授认为数据处理是&ldquo 去伪存真&rdquo 的过程。　　北京大学谢景林教授分享了其在重叠谱图拟合方面的经验技巧 赛默飞葛青亲对谢景林教授的报告进行了展开，具体介绍了非线性最小二乘拟合方法的基本思想，并且分享和探讨了如何使用实际采集谱图、参考谱图，配合非线性最小二乘拟合方法对XPS数据进行处理 岛津龚沿东从XPS谱图的本底扣除、线型选择以及其他特殊处理方法介绍了XPS数据处理的一般原则。　　北京师范大学吴正龙教授介绍了通过能量去卷积的数据处理方法提高了XPS谱图质量。目前常规的XPS最佳分辨水平(FWHM)约为0.5eV(Ag3d5/2)，仍不能满足多数元素价态分析的需求。而XPS分析中对谱峰展宽的贡献主要来源于仪器能量响应、X射线的线宽、样品等。而通过对表观谱进行能量去卷积处理，可以消除仪器和样品对展宽的贡献，进而提高XPS谱峰的分辨率。　　应用研究热点　　在国外，XPS等表面分析技术已经在生产企业中得到了广泛的应用，如进行半导体失效分析等。而在国内，表面分析技术还局限于科研单位，主要是利用XPS、AES等表面分析技术进行材料表面或界面发生的物理化学反应机理研究。研究热点主要集中在催化材料、碳纳米管石墨烯等新型材料、聚合物太阳能电池等新型器件等。　　清华大学朱永法教授介绍了AES化学位移的产生、特点、影响因素等情况，以及AES化学位移在石墨、金刚石的表面吸附、固体表面的离子注入、薄膜制备、界面扩散等研究这个的应用。　　铀在国民经济和国防事业中均有重要，但是金属铀的化学活性高，在环境中极易氧化腐蚀，导致其部件性能的劣化或失效，并且这种腐蚀还会带来环境的核污染。中国工程物理研究院刘柯钊研究员使用XPS等分析技术作为表征手段，研究了金属铀腐蚀行为与防腐蚀表面改性技术。　　聚合物太阳能电池最有希望成为下一代太阳能电池之一。中山大学陈建教授以紫外光电子能谱(UPS)和XPS、AFS等技术，研究了醇/水溶性共轭聚合物阴极修饰层对不同电极材料功函数的影响，通过降低阴极功函数达到了提高器件能量转换效率的目的。　　清华大学姚文清教授的研究对象是航空用电子元器件，这些器件长期在宇宙环境中工作不可避免的受到影响，可能引起器件的密封破坏等而最终失效。姚文清教授通过在超高真空系统中对器件进行紫外辐照、温度变化、电场变化等试验，在此环境下对航空用电子元器件进行原位模拟腐蚀，并采用AES等表面分析技术对器件腐蚀进行微观评价，建立器件腐蚀和失效的早期判断新方法。　　南京大学高飞教授通过外置原位电池的应用，利用实验室现有常规XPS获得催化剂材料在真空条件下的准原位 (Ex-situ)信息。结合相关表征手段，准原位XPS成为了探究催化剂在反应条件下反应过程的有利工具。与会人员合影　　2012年，清华大学分析中心、国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心组织召开了第一届全国表面分析科学与技术应用学术会议，此后该会议每年举行一次。今年是该会议第三次举办，会议由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会主办，国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、四川大学分析测试中心共同承办。2015年全国表面分析科学与技术应用学术会议将由宁波新材料所承办。

仪器信息网讯 2013年8月20-21日，&ldquo 2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议暨表面分析国家标准宣贯及X 射线光电子能谱(XPS)高端研修班&rdquo 在北京举行。　　X射线光电子能谱仪(XPS)与俄歇电子能谱(AES)是重要的表面分析技术手段。XPS在分析材料的表面及界面微观电子结构上早已体现出了强大的作用，它可用于材料表面的元素定性分析、半定量分析、化学状态分析，微区分析以及深度剖析(1-2nm)等。俄歇电子能谱(AES)主要检测由表面激发出来的俄歇电子来获取表面信息，它不仅能定性和定量地分析物质表界面的元素组成，而且可以分析某一元素沿着深度方向的含量变化。　　此外，还有二次离子质谱，辉光放电光谱、扫描探针显微镜以及全反射X射线荧光光谱等表面分析技术。会议现场　　与会专家介绍了这些分析技术在电子器件、半导体、高分子材料、纳米材料、催化剂、薄膜材料等领域的应用情况。其中以XPS方法为主。 王金淑 谢芳艳　　在电子器件、半导体领域的应用，北京工业大学王金淑采用X射线光电子能谱法对添加不同含量的氧化镧掺杂钼粉的性能以及可用于电真空器件的镧钼阴极的表面元素状态进行了研究。中山大学谢芳艳利用XPS为主要研究手段，研究了半导体器件能级结构、电极功函数调制、界面电荷转移和扩散、修饰层作用与器件寿命等问题。郝建薇 田云飞　　在橡塑材料、塑料分析中的应用，北京理工大学郝建薇利用XPS以45° 掠角表征了硅橡胶/乙烯-乙烯乙酸(MVPQ/EVA28，VA含量28%)共混材料耐油耐热测试前后样品表面C、O、Si元素浓度的变化 采用变角XPS分别以10° 、45° 及80° 掠角表征了以上共混材料耐热老化前后样品表面元素浓度随深度的变化。四川大学田云飞采用X射线光电子能谱对微等离子体处理后的工程塑料聚苯硫醚材料表面进行分析，并与Ar离子刻蚀后的材料表面进行了对比。殷志强 吴正龙　　X射线光电子能谱(XPS)在分析薄膜化学组分及其分布中有着重要的作用。清华大学殷志强介绍了表面分析技术在玻璃真空管太阳集热器和能效薄膜研究中的应用。北京师范大学吴正龙介绍了超薄氧化硅薄膜包覆纳米铜的SERS 基体的初步研究。刘义为 陆雷　　广东东莞新科技术研究开发有限公司刘义为利用AES表征了微区超薄类金刚石薄膜的性质和厚度测量、SP2含量、界面分析等。中国工程物理研究院陆雷利用SEM、AFM、AES和XPS对铍薄膜的表面形貌、O含量、Be薄膜同Cu基片间的扩散现象进行了研究。严楷 王江涌　　清华大学严楷运用俄歇电子能谱、原子力显微镜等分析方法，研究经过低地球轨道环境模拟装置对Au/Cu/Si薄膜样品进行紫外辐照处理的Au/Cu复膜表面和界面结构变化，追踪表面形态和界面层产物的分布，分析原子扩散过程。汕头大学王江涌介绍了溅射深度剖析的定量分析及其应用的最新研究进展。高飞 叶迎春　　原位分析也是XPS技术的一个研究热点。南京大学高飞认为准原位XPS(Ex-situ)分析在一定程度上可以解决常规XPS分析中的&ldquo Pressure Gap&rdquo 的问题，结合相关表征手段，可以成为探究催化剂在反应条件下反应过程的有利工具。　　中国石化上海石油化工研究院叶迎春利用近常压原位XPS研究了介孔氧化铈和棒状氧化铈负载贵金属在水煤气转化反应中氧化铈产生氧空位的能力。并通过原位XPS研究结合WGS催化反应数据，认识了Cu-Fe3O4-Al2O3催化剂在不同预处理条件下发生的不同化学过程。钟发春 程斌　　还有中国工程物理研究院钟发春利用XPS研究了PBX炸药、固体推进剂及锆粉点火剂的表面元素组成和结构特性 利用XPS的线扫描功能研究了不同老化时间的固体推进剂特征元素从推进剂-衬层的表面元素变化趋势 并利用XPS-MS联机技术可用于研究固体炸药材料在激光作用下的降解行为。北京化工大学程斌介绍了XPS在高分子材料鉴别、高分子共聚/共混物组成测定、高分子材料表面改性研究方面的应用。邱丽美 徐鹏　　中国石化石油化工科学研究院邱丽美利用XPS研究了稀土在分子筛笼内外的存在比例对催化性能的影响。国家纳米中心徐鹏介绍了分别将纤维状样品压片在金属In和导电胶带上进行测试，对XPS谱图的影响分析。王海　　XPS、AES、SIMS等表面分析技术因具有较强的基体效应而通常被认为是半定量的分析方法，很难对材料表面化学组成进行准确定量。因此，表面分析的量值溯源问题再国际上日益受到关注。中国计量科学研究院王海介绍说：&ldquo 我国的表面分析计量研究始于&lsquo 十一五&rsquo 期间，目前已参加了2项关键比对和3项研究性比对，都取得了不多不错的成绩。&rdquo 张增明 张毅　　此外，中国科学技术大学张增明利用紫外可见分光光度计及光谱椭偏仪测量了薄膜样品在300-1000nm波长范围内的正入射时的透射谱，及68° 、78° 入射时的椭偏参数谱，并经过综合分析精确测定了不同薄膜的厚度及光学常数。薄膜厚度经过原子力显微镜测试及X射线反射等不同方法验证准确有效。　　辉光放电光谱技术是基于惰性气体在低气压下放电的原理而发展起来的光谱分析技术。与其他表面分析技术如俄歇电子能谱(AES)、二次离子质谱(SIMS)相比，具有分析速度快，分析成本低等优势。宝钢集团张毅利用辉光放电光谱，通过光源条件实验，确定了最佳分析参数 选用多种基体标准样品，通过溅射率校正建立了标准工作曲线，定量分析钢铁材料表面纳米级薄膜或镀层中元素的含量及其元素分布状况。（撰稿：秦丽娟）　　相关新闻：2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议举行　　X 射线光电子能谱(XPS)高端研修班在京举办　　2013全国表面分析科学会议上的仪器厂商

仪器信息网讯 2013 年8月20-21日，&ldquo 2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议暨表面分析国家标准宣贯及X 射线光电子能谱(XPS)高端研修班&rdquo 召开期间，北京师范大学吴正龙和清华大学姚文清对《GB/T 25185 表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告》、《GB/T 28894-2012/ISO 18117:2009 表面化学分析 分析前样品的处理》及《20110883-T-469/ISO 18116:2005(E) 表面化学分析-分析样品的制备和安装指南》进行了宣贯。北京师范大学吴正龙　　《GB/T 25185 表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告》于2010年发布。吴正龙介绍说：&ldquo 该标准主要阐述了XPS分析非导电样品时，荷电的产生(积累)、分布变化等，提供了荷电控制和校正方法。为XPS准确表征非导电样品中元素价态提供了技术指导。标准的资料性附录中列举了各种荷电控制和校准具体方法。&rdquo 清华大学姚文清　　姚文清介绍了《GB/T 28894-2012/ISO 18117:2009 表面化学分析 分析前样品的处理》及《20110883-T-469/ISO 18116:2005(E) 表面化学分析-分析样品的制备和安装指南》。这两项标准当中对不同类型样品的制样方法和存放容器选择，以及样品安装方式等内容进行了规定，以降低样品处理过程中的表面污染，获得准确的表面化学分析结果。　　这三项标准均由全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会主导制定。姚文清介绍说：&ldquo 全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会(SAC/TC38/SC2)成立于1997年9月15日，是国际标准化组织表面化学技术委员会(ISO/TC201)的国内对口单位。主要负责参与表面化学分析国际标准和国家标准的制定和审定、国际标准的转化工作。设有X射线光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱(AES)、二次离子质谱(SIMS)、辉光放电光谱(GDS)等工作组。&rdquo 　　&ldquo 表面分析分技术委员会共有委员23人，主任委员由中国科技大学丁泽军担任，副主任委员为国家纳米科学中心沈电洪、北京师范大学吴正龙、清华大学姚文清，中科院化学所刘芬担任副秘书长。另外还包括了3家单位委员：高德英特(北京)科技有限公司、赛默飞世尔科技(中国)有限公司、岛津企业管理(中国)有限公司。&rdquo 　　&ldquo 截至2013年7月底，已由表面分析分技术委员会主导制定发布了1项ISO国际标准，22项国家标准，10项标准获得国家标准立项计划。参与制定发布ISO国际标准1项。&rdquo 姚文清说。　　另外，会议中吴正龙对国际表面化学分析技术委员会(ISO/TC 201)做了介绍，目前ISO/TC 201建立有9个分技术委员会和1个工作组，包括：术语(SC1)、总则(SC2)、数据管理和处理(SC3)、深度剖析(SC4)、俄歇电子能谱(SC5)、二次离子质谱(SC6)、X射线光电子能谱(SC7)、辉光放电谱(SC8)、扫描探针显微术(SC9)、全反射X射线荧光光谱(WG2)。会议现场

关于召开&ldquo 2013全国表面分析科学与技术应用学术会议&rdquo 通知　　(通知)　　随着我国航天、微电子、信息产业、材料科学、能源及环境领域等高新技术的迅猛发展，表面分析技术正起着越来越重要的作用。此外，随着我们科技实力的增强，各高校和研究机构购置大量新的表面分析仪器，拓展了表面分析学科的发展。为了推动表面分析学科及其应用技术的发展以及与其他学科的融合，加强同行之间交流与合作，建立表面分析学科和技术表面的交流平台,由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会主办，国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、北京师范大学分析测试中心和北京大学分析测试中心共同承办，在北京举办&ldquo 2013全国表面分析科学与技术应用学术会议&rdquo 。　　研讨会将于2013年8月20-21日在北京西郊宾馆举行，热忱邀请各位表面分析专家、学者参加，期望各位专家、学者与其他参会者进行广泛交流，探讨电子能谱表面分析与材料研究的共同发展，进一步拓展电子能谱表面分析技术在材料领域内的应用。　　一、 学术委员会　　主 任：朱永法，教授，清华大学　　副主任：梁齐，教授，上海交通大学　　成 员(以姓名首字母排序)：　　程 斌，教授，北京化工大学　　陈 建，研究员，中山大学　　丁泽军，教授，中国科技大学　　董林， 教授，南京大学　　付晓国，研究员，核工业部表面物理与化学国家重点实验室　　郭建东，教授，中科院物理所表面物理国家重点实验室　　郝建薇，教授，北京理工大学　　李崧，教授，北京师范大学　　刘柯钊，研究员，核工业部表面物理与化学国家重点实验室　　刘芬，副研究员，中科院化学所　　马农农，高工，中国电子科技集团公司第四十六所　　宋伟杰，研究员，中国科学院宁波材料技术与工程研究所　　宋武林，教授，华中科技大学　　吴正龙，教授，北京师范大学　　王金淑，教授，北京工业大学　　王海，副研究员，中国计量科学研究院　　谢景林，高工，北京大学　　姚 琲，教授，天津大学　　姚文清，高工，清华大学　　卓尚军，研究员，中科院上海硅酸盐所　　郑遗凡，教授，浙江工业大学　　朱 健，副教授，上海师范大学　　张毅，高工，宝山钢铁股份有限公司研究院　　二、 会议组委会：主 任：朱永法北京电子能谱中心、清华大学分析中心副主任：李崧北京师范大学分析测试中心 谢景林北京大学分析测试中心秘书长：姚文清北京电子能谱中心、清华大学分析中心　吴正龙北京师范大学分析测试中心成 员：宗瑞隆北京电子能谱中心、清华大学分析中心　李展平北京电子能谱中心、清华大学分析中心　张占男北京电子能谱中心、清华大学分析中心　常崇艳北京师范大学分析测试中心　金波北京师范大学分析测试中心　　三、 会议时间、地点：　　会议时间：2013年8月20-21日　　报到时间：2013年8月19日全天　　会议地点：北京西郊宾馆　　四、 会议网站域名：http://m2020.meeting163.com 　　为便于加强同行间的交流与联系，请加入表面分析研究群，QQ：141579868。(进群后将群名片改为&ldquo 单位+姓名&rdquo )　　五、 征文要求　　1. 论文投稿中、英文不限。　　2. 论文篇幅：一页，请不要标页码。论文题目：三号黑体，居中。作者名：小四号楷体，居中。单位名、市名、邮编：小五号宋体，加圆括号，居中，下空一行。论文正文：五号宋体。　　3. 正文中小标题：五号黑体。图表：图表与正文上下、左右都隔一行或一字的空隙。小五号字体。参考文献：小五号宋体，引用不超过5篇。　　4. 为扩大交流会学术成果影响，优秀论文将推荐给相关核心、EI期刊发表。　　六、 截稿日期　　1. 截稿日期：2013年8月10日前。　　2. 摘要及全文请发至zhangzn@tsinghua.edu.cn　　七、 会议注册费　　一般代表1000元，学生代表800元。会务费包含论文集、通讯录、专家费、会场费及会议期间餐费。住宿会务组统一安排，费用自理。　　会议不组织旅游。　　汇款信息如下：　　开户行：工行北京分行海淀西区支行　　帐号：0200004509089131550　　收款单位：清华大学　　备注：化学系姚文清会务费　　八、 会务组联系　　联 系 人：姚文清，吴正龙　　联系电话：010-62783586，010-58805597　　电子邮箱： yaowq@tinghua.edu.cn，wuzhenglong36@sina.com　　主办单位：高校分析测试中心研究会　　全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会 承办单位：国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心　　北京师范大学分析测试中心　　北京大学分析测试中心　　媒体支持：仪器信息网 我要测　　北京超星数字图书馆　　2013.7.25 　　　　会议日程安排日期日程安排备注8.19星期一报到、注册北京西郊宾馆8.20星期二开会北京西郊宾馆8.21星期三开会北京西郊宾馆　　参会回执表单位名称 联系人 地 址 邮 编 姓 名性别职务电 话传真/E-mail手 机 演讲人 职 务 住宿标准单间 ○ 合住 ○发言题目 是否提交会议论文： 是○ 否○ 论文题目：　　注：为便于订房，请各参会者在7月10日之前将回执发送至：张占男 zhangzn@tsinghua.edu.cn。

为积极推动表面分析科学与应用技术的快速发展，加强同行之间的交流合作、仪器共享，展示相关的新成就、新进展 建立表面分析的交流平台，形成自由研讨的学术氛围，让思想碰撞出火花，并共同提升理论与技术水平,促进表面分析科学研究队伍的壮大 由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会、北京分析测试协会表面分析专业委员会主办，昆明理工大学分析测试研究中心、国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、昆明红源会展有限公司协办，在昆明举办“2016年全国表面分析科学与技术应用学术会议”。　　会议将于2016年8月10-12日在昆明市举行，热忱邀请各位表面分析专家、学者踊跃投稿并参与会议，并进行广泛深入的交流。现就会议相关事宜通知如下：　　一、会议时间、地点　　报到时间、地点：2016年8月10日全天，昆明市文汇酒店　　会议时间：2016年8月11-12日　　会议地点：昆明理工大学莲华校区管理经济学院MBA中心502报告厅　　二、会议注册　　(1)会议注册费：一般代表1200元/人，学生代表1000元/人。　　(2)本次会议委托昆明红源会展有限公司代收会务费，并开具会务费发票。　　三、住宿信息　　昆明文汇酒店(昆明市五华区学府路253号昆明理工大学莲华校区)　　酒店行政单间：380元/天(含双早)　　酒店普通单间：320元/天(含双早)　　酒店普通标间：320元/天(含双早)　　(退房时间为13：00，参会代表会议结束后自行退房)　　四、交通信息　　昆明长水机场距离市区文汇酒店大约30公里，乘车需1小时左右。　　推荐乘车路线：　　(1) 在长水国际机场航站楼b1层，乘坐919A或919A1路机场大巴(票价13元)到冶金学校下车，过马路天桥回走约500米即到文汇酒店。　　机场大巴运行时间：6:00-21:00，每隔15分钟发车。　　(2)在长水国际机场航站楼b1层，乘坐空港快线1号线(票价25元)到市区南疆宾馆下车，再打出租车(15元)到文汇酒店。　　空港快线运行时间：5:30-23:00，每隔15分钟发车。　　昆明火车站距离文汇酒店大约8公里，乘车需半小时左右。　　推荐乘车路线：　　(1)在昆明站乘坐83路公交(票价2元)到理工大学北门下车，马路对面即到文汇酒店。　　(2)在昆明站打出租到文汇酒店大约25元。　　五、用餐安排　　8月11日中餐：文汇酒店二楼，自助餐　　8月11日晚餐：味彩餐厅　　8月12日中餐：文汇酒店二楼，自助餐　　8月12日晚餐：滇池睡美人餐厅　　温馨提示：1、昆明早晚温差较大，建议与会者带一件外套。　　2、八月昆明为多雨季节，建议带把雨伞。　　七、会务组联系：　　会务联系人：闵春刚，155-5977-1773，minchungang@163.com　　夏艺萌，184-6808-1161，809798360@qq.com　　联系地址： 云南省昆明市学府路304号，650093　　主办单位：高校分析测试中心研究会　　全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会　　北京分析测试协会表面分析专业委员会　　协办单位： 昆明理工大学-分析测试研究中心　　国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心　　昆明红源会展有限公司　　2016年8月1日

p　　根据Markets and Markets的最新市场调查报告& ldquo Surface Analysis Market by Instrumentation Technology (Microscopy, Spectroscopy, Surface Analyzers, a href="http://www.instrument.com.cn/zc/73.html"X-ray Diffraction/a), Industry (Semiconductor, Polymers, Life Sciences) & End User (Academic Institutes, Industries) - Global Forecast to 2020 & rdquo ，预计到2020年，表面分析市场将达到约39 .897亿美元；2015年到2020年期间，该市场将以6.2%的复合年增长率增长。/pp　　表面分析技术是一种揭示材料及其制品的表面形貌、成分、结构或状态的分析手段。该技术可以用于开发新材料或改善现有材料的性能，进而支持相关产业优化、加速新产品开发、评估生产和包装工艺稳定性、快速识别跟踪污染物、评估新制造工艺和质量等。/pp　　在这份报告中，表面分析市场根据仪器技术、行业、终端用户和地区进行划分。基于仪器技术，市场划分为显微镜、光谱、表面分析仪和x射线衍射等。显微镜领域包括光学显微镜、电子显微镜、扫描探针显微镜和共聚焦显微镜。基于行业，市场划分为半导体、能源、聚合物、生命科学、冶金金属和食品饮料、纺织品、纸张和包装等其他行业。基于终端用户，市场划分为学术机构、产业和研究机构。这份报告还讨论了市场的主要驱动、限制、机遇和挑战。/pp　　半导体行业是表面分析技术最大的终端用户所在领域，该技术显著改善各种应用，如测量薄膜的厚度、密度和组成，掺杂剂剂量和剖面形状等。在解决半导体行业所面临的一些主要挑战时，表面分析技术扮演着至关重要的角色，包括识别和定位跟踪半导体中痕量级别的杂质，认证新的生产工具和量化散装掺杂物等。此外，在过去的几年里，由于利用表面分析技术进行缺陷识别、微量金属污染检测、薄膜或样品的深度分析、失效分析的需求不断上升，使得表面分析技术在能源、医疗保健、聚合物、薄膜、冶金、食品和饮料、纸张和纺织品等行业的应用也增加了。/pp　　2014年，北美地区是表面分析最大的区域市场，约占全球市场的37.0%；其次是欧洲、亚太。北美和欧洲的高市场份额主要归因于公共和私人来源对纳米技术研究的高投入、医疗设备公司增加研究支出，以及在这一地区存在的一些大公司，这些因素使得相关用户更多的应用了表面分析解决方案。/pp　　亚太地区则是表面分析市场未来增长的推动力，因为该地区的低成本资源、强大客户基础、越来越多的制药研发支出、越来越多的大公司在这个地区建立研发和生产设施等因素，使得亚太地区存在着巨大的投资机会。市场的增长可能会集中在印度、中国、韩国、日本。/pp　　全球表面分析市场主要由少数几家仪器公司主导，其中五大公司合计约占50%的全球市场份额。重要的仪器公司包括Danaher Corporation (U.S.)、Olympus Corporation (Japan)、Thermo Fisher Scientific, Inc. (U.S.)、ULVAC-PHI, Inc. (Japan)、Bruker Corporation (U.S.)、HORIBA, Ltd. (Japan)、Nikon Corporation (Japan)、Carl Zeiss AG (Germany)、FEI Company (U.S.)、Shimadzu Corporation (Japan)and JEOL, Ltd. (Japan)。/pp　　然而，仪器成本高等因素将限制表面分析市场的增长。/pp style="text-align: right "编译：刘丰秋/p

仪器信息网讯 2013 年8 月20，“2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议暨表面分析国家标准宣贯及X 射线光电子能谱(XPS)高端研修班”在北京举行。100余名从事表面分析技术研究与应用的研究人员参加了此次会议。　　本次会议由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会主办，国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、北京师范大学分析测试中心和北京大学分析测试中心共同承办。　　表面分析仪器的主要供应商均参加了此次会议。赛黙飞世尔科技(中国)有限公司、岛津企业管理(中国)有限公司、高德英特(北京)科技有限公司(代理日本ULVAC-PHI产品)、北京艾飞拓科技有限公司(代理德国ION TOF公司产品)、北京精微高博科学技术有限公司等分别在会议中就本公司的最新产品和技术作了主题报告。报告人：赛黙飞世尔科技(中国)有限公司Richard G.White报告题目：Recent advances in XPS instrumentation from Thermo Fisher Scientific 报告人：岛津企业管理(中国)有限公司龚沿东报告题目：高灵敏XPS—Axis Ultra DLD 检测器在采谱和成像方面的应用 报告人：高德英特(北京)科技有限公司陈文徵报告题目：PHI 公司在表面分析技术中的新进展报告人：北京艾飞拓科技有限公司高聚宁报告题目：飞行时间二次离子质谱最新进展和应用 报告人：北京精微高博科学技术有限公司钟家湘报告题目：多孔粉体材料表面特性的表证与测试　　另外，此次会议中赛默飞还特别设置了展位，并赞助了本次大会的欢迎晚宴。赛默飞展位赛默飞化学分析部运营总监兼表面分析部门经理胡翔宇在晚宴中致辞欢迎晚宴现场　　有关本次会议的主题报告及最新产品和技术进展，敬请关注仪器信息网后续报道。

仪器信息网讯 2015年5月15日，&ldquo 2015年全国表面分析科学与技术应用学术会议&rdquo 在宁波召开。 会议现场　　&ldquo 2015年全国表面分析科学与技术应用学术会议&rdquo 由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会、北京分析测试协会表面分析专业委员会主办，中国科学院宁波材料技术与工程研究所、国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心协办。&ldquo 2015年全国表面分析科学与技术应用学术会议&rdquo 为期两天，80余名从事表面分析技术研究与应用的研究人员参加了会议。 中国科学院宁波材料技术与工程研究所副所长李润伟致辞　　此次会议承办方中国科学院宁波材料技术与工程研究所副所长李润伟致辞欢迎各位研究人员的光临。据李润伟介绍，宁波材料技术与工程研究所(简称&ldquo 宁波材料所&rdquo )的发展历程。2004年，中国科学院与浙江省人民政府、宁波市人民政府三方签署协议，决定共建中科院宁波材料所。2007年宁波材料所顺利通过验收并正式揭牌，组建了磁性材料与机电装备、高分子与复合材料、功能材料与纳米器件、表面工程、燃料电池与能源技术、特种纤维6个事业部。2009年宁波材料所二期建设启动，将研究领域从原先的材料领域进一步拓展到新能源和先进制造领域。经过十年发展，目前宁波材料所基本建成了一个既满足自身发展需求又积极为地方企业服务的科技支撑平台，整个平台仪器设备总值约3亿元 建成12.9万平方米科研大楼与实验室，建设了碳纤维制备国家工程实验室、发改委磁性材料科技创新服务平台、等一批科研平台，为科研工作顺利开展提供了保障。 清华大学朱永法教授主持会议　　清华大学朱永法教授指出，&ldquo 2015年全国表面分析科学与技术应用学术会议&rdquo 旨在推动表面分析科学与应用技术的快速发展，加强同行之间的交流合作，展示相关的新成就、新进展；建立表面分析的交流平台，形成自由研讨的学术氛围，让思想碰撞出火花，并共同提升理论与技术水平，促进表面分析科学研究队伍的壮大。　　本次会议共有4个大会报告、12个邀请报告、14个口头报告，另外，岛津/Kratos、高德英特/ULVAC-PHI等仪器设备公司在会议现场展示了相关技术资料。　　其中，会议第一天进行了3个大会报告，分别是：报告题目：Interface Engineering for 2D Materials Based OptoelectronicDevices报告人：陈伟副教授/新加坡国立大学　　陈伟副教授目前主要关注于低维分子量子结构、有机光电器件、石墨烯及复合材料的界面问题，以及其在分子器件、有机太阳能电池、纳米催化等方面的应用。在此次报告中，陈伟副教授利用表面分析技术研究了二维材料&mdash &mdash 石墨烯、黑磷功能化调制界面反应机理等问题。报告题目：Chemistry with a Tiny Hammer报告人：郑直教授/许昌学院　　郑直教授在国际上首次提出了一个&ldquo Chemistry with a tiny hammer&rdquo 的全新化学反应机制来设计和实现表面高分子聚合反应。与常规的湿法化学过程来制备交联的聚合物薄膜不同，这种路线不会用到任何引发剂、添加剂及催化剂等，属于环境友好型制备反应 整个过程只需用到动能为几个eV 的质子束来实现干法化学合成，可选择性导致C-H 键断裂，从而能够适应各种分子器件和医用材料等的制备和改进。可在单晶硅片和其它半导体器件上制备得到聚苯乙烯、聚丙烯酸、聚乙烯醇、聚氧乙烯、聚甲基丙烯酸N，N-二甲氨基乙酯等交联的超薄聚合物薄膜，通过对反应能量和剂量的精确控制，表面官能团能得到很好保护，解决了聚合物薄膜制备以及改性过程中的节能、聚合物表面官能团的保护等技术问题。报告题目：The applications of large Ar cluster beams in XPS报告人：Dr. Christopher James Blomfield/Kratos, UK　　Kratos公司位于英国曼切斯特，现在是日本岛津公司的全资子公司。Kratos是世界上最早生产商品化X射线光电子能谱(XPS)的厂家之一。2014年5月，Kratos推出了最新型的XPS谱仪&mdash &mdash Axis Supra，并在短短的两个月的时间内，成功地在全球范围内销售了6台Axis Supra型XPS谱仪。此次报告中，Christopher James Blomfield/博士介绍了由于单原子离子源用于软物质例如聚合物的深度剖析和表面清洁时受到限制。而气体团簇离子源的离子束减少了进入样品表面中的能量，从而降低样品损伤。报告指出，气体团簇离子源是进行深度分析有机物和聚合物而不破坏其化学状态的有效工具。　　汕头大学王江涌教授、清华大学姚文清高级工程师、上海交通大学 邹志强教授、石油化工科学研究院邱丽美高级工程师、高德英特(北京)科技有限公司鲁德凤、ULVAC-PHI Dr. Takuji Shibasaki、宁波大学谭瑞琴研究员、四川大学田云飞博士、中国计量科学研究院王海博士也分别做精彩报告，介绍了X射线光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱(AES)、二次离子质谱(TSIMS)、辉光放电光谱(GD)、扫描探针显微镜(STM)等表面分析技术在各领域的应用。与会人员合影　　2012年，清华大学分析中心、国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心组织召开了第一届全国表面分析科学与技术应用学术会议，此后该会议每年举行一次。今年是该会议第四次举办。　　表面科学是上世纪60年代后期发展起来的一门学科，目前已经成为国际上最为活跃的学科之一。材料表面的成分、结构、化学状态等与内部有明显的不同，而表面特性对材料的物理、化学等性能影响很大。随着材料科学、化学化工、半导体及薄膜、能源、微电子、信息产业及环境领域等高新技术的迅猛发展，对于表面分析技术的需求日益增多。同时，由于最近几十年超高真空、高分辨和高灵敏电子测量技术的快速发展，表面分析技术也有了长足进步。目前，全球已经开发了数十种常用的表面分析技术，如X射线光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱(AES)、二次离子质谱(TSIMS)、辉光放电光谱(GD)、扫描探针显微镜(STM)等。国内表面分析技术起步于80年代，广泛应用于基础科研、先进材料研制、高精尖技术、装备制造等领域。撰稿：刘丰秋

日前，岛津公司走进贵阳成功举办了材料表面分析高端论坛，与来自贵州大学、贵阳地化所、贵州民族大学、贵州理工学院、贵州地矿、贵铝技术中心等的47位专家和老师共同探讨了材料表面分析技术的最新发展成果与未来发展趋势。在论坛上，北京大学分析测试中心谢景林教授做了题为” XPS 在材料表征中的广泛应用“的报告；国土资源部华东矿产资源监督检测中心沈加林主任做了题为” EPMA 在地质调查和岩矿分析中的应用”的报告；成都理工大学油气藏地质及工程国家重点实验室孟祥豪教授做了题为“EPMA 在岩矿分析中的应用”的报告；岛津公司分析测试仪器市场部技术专家陈强做了题为“材料表面分析新技术之一：XPS & EPMA”的发表；全国微束分析标准化技术委员会龚沿东委员做了题为“材料表面分析新技术之二：微观世界的“手”与“眼””的发表； 岛津公司分析中心专家章斌做了题为“材料表面分析新技术之三：当 XRD 遇上 EDX”的发表。论坛现场传真贵阳地区各所高校的老师和专家通过参加本次高端论坛，进一步了解了在材料表面分析领域中岛津技术的先进性，并对岛津材料表面分析技术在未来科研工作中能够发挥出的重要作用充满期待。关于岛津 岛津企业管理（中国）有限公司是（株）岛津制作所于1999年100%出资，在中国设立的现地法人公司，在中国全境拥有13个分公司，事业规模不断扩大。其下设有北京、上海、广州、沈阳、成都分析中心，并拥有覆盖全国30个省的销售代理商网络以及60多个技术服务站，已构筑起为广大用户提供良好服务的完整体系。本公司以“为了人类和地球的健康”为经营理念，始终致力于为用户提供更加先进的产品和更加满意的服务，为中国社会的进步贡献力量。

在药物的质量管理中，次品的产生原因分析是一项十分重要的工作。虽然异物和污染物的大小和形状不同，最佳的分析方法也存在差异，但在分析药物片剂的缺陷部位时多会用到红外显微镜。 本文使用自动缺陷分析系统 AIM-9000 对药物片剂表面的异物进行了定性分析。在市售的药物片剂表面上发现了微小的异物。使用 AIM-9000 的大视野相机观察片剂的图像。异物的大小约为 100 μm，该异物的测量方法包括：①在固定各片剂的状态下通过直接 ATR 法测量，②用针等采样后通过透射法或ATR 法测量的两种方法。采用显微镜和大视野相机对异物进行观察，研究最佳方法。异物的观察图像异物暴露于片剂表面时采用 ATR 法，掩埋于内部时、或难以与 ATR 晶体接触时采用透射法测量，由此完成了对异物的定性。通过使用 Micro Vice Holder 和 Diamond cell 等配件，能对各种状态的异物进行分析。 了解详情，敬请点击《药物片剂表面的异物分析》关于岛津 岛津企业管理（中国）有限公司是（株）岛津制作所于1999年100%出资，在中国设立的现地法人公司，在中国全境拥有13个分公司，事业规模不断扩大。其下设有北京、上海、广州、沈阳、成都分析中心，并拥有覆盖全国30个省的销售代理商网络以及60多个技术服务站，已构筑起为广大用户提供良好服务的完整体系。本公司以“为了人类和地球的健康”为经营理念，始终致力于为用户提供更加先进的产品和更加满意的服务，为中国社会的进步贡献力量。