膜厚测定

【ITO薄膜测厚仪 电池薄膜厚度测定仪 接触式薄膜厚度测试仪】ITO薄膜是一种n型半导体材料，具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器（LCD）、等离子显示器（PDP）、电致发光显示器（EL/OLED）、触摸屏（TouchPanel）、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极最常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜，在透明导电薄膜方面得到普遍的应用，具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制，所以对ITO薄膜厚度的高精度测量，是企业必须重视的检测项目之一。Labthink兰光研发生产的CHY-C2A测厚仪，采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备分辨率高达0.1微米，配置的自动进样系统，使用户可自行设置进样步距、测量点数和进样速度，大大提高了薄膜厚度测试效率。 ITO薄膜测厚仪技术特征：负荷量程：0～2 mm（常规）　　　　　0～6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg 以上【ITO薄膜测厚仪 电池薄膜厚度测定仪 接触式薄膜厚度测试仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布，如欲了解更详细信息，欢迎致电0531-85068566垂询！

塑料薄膜和薄片厚度测定仪 应用范围适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。主要特点1. 接触式测量原理2. 德国测厚传感器3. 工业 TFT 屏，触摸屏操作4. 零导航深度的扁平化界面 UI，操作更加方便快捷5. 真彩色液晶显示试验数据、结果6. 手动、循环、预约定时多种测量模式7. 测试过程全自动完成8. 本机内置历史数据查询功能9. 配置微型打印机，可自动打印单次、统计报告10. 配置标准通信接口11. 可支持 DSM 实验室数据管理系统，实现数据统一管理（选购）技术指标测量范围：0～2mm（标配） 0～10mm（可选）分 辨 率：0.1μm测量速度：1~25 次/min（可调）测 量 头：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（标配）纸张：200mm2，50±1kPa（可选）电 源：AC 220V 50Hz外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)净 重：38kg执行标准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817产品配置标准配置：主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件选 购 件：纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统。

GB 6672塑料薄膜和薄片厚度测定仪应用范围适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。主要特点1. 接触式测量原理2. 德国测厚传感器3. 工业 TFT 屏，触摸屏操作4. 零导航深度的扁平化界面 UI，操作更加方便快捷5. 真彩色液晶显示试验数据、结果6. 手动、循环、预约定时多种测量模式7. 测试过程全自动完成8. 本机内置历史数据查询功能9. 配置微型打印机，可自动打印单次、统计报告10. 配置标准通信接口11. 可支持 DSM 实验室数据管理系统，实现数据统一管理（选购）技术指标测量范围：0～2mm（标配） 0～10mm（可选）分 辨 率：0.1μm测量速度：1~25 次/min（可调）测 量 头：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（标配）纸张：200mm2，50±1kPa（可选）电 源：AC 220V 50Hz外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)净 重：38kg执行标准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817产品配置标准配置：主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件选 购 件：纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统。

英国PCS公司生产的EHD2油膜厚度测定仪基于超薄膜光干涉原理，可用于测定润滑油在弹性流体动压状态下的油膜厚度，并且可以测量其牵引力系数（摩擦系数）。这两项测试均可在滑动摩擦/滚动摩擦比例0%至100%的条件下进行。 EHD2油膜厚度测定仪由伦敦帝国大学研制，随后由PCS公司进行商业化的发展，目前在全世界已有60台仪器在使用。技术参数膜厚范围 1至1000 nm 负荷范围0至50 N 接触压力范围0至0.7 GPa (钢球-玻璃盘) 0至3 GPa (钨碳球-蓝宝石盘)速度0至4 m/s 温度范围 室温至150 ° C 测试样品体积120 ml

普创-塑料薄膜厚度测定仪-PTT-03A是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创-塑料薄膜厚度测定仪-PTT-03A 普创-塑料薄膜厚度测定仪-PTT-03A

FR-pOrtable:一款精准&性价比高的薄膜表征设备 FR-pOrtable（便携式FR） 是一款独特设备，为精准测试单层或者 多层的透明和半透明的薄膜的光学特性提供了关键解决方案。使用 者可以在350nm-1000nm的特殊光谱范围内完成薄膜反射比的测试。 特征分析： FR-pOrtable是由一个微型3648像素16位分辨率的光谱仪和一个 高稳定的白炽灯和LED组成的混合光源组成的，光源的平均寿命 20000h。其紧凑型的设计和定制的反射探头保证了性能测试的高精准性以及可重复性。并且，既可以安装在台面上，又可以转化为手持式的厚度测试仪，轻松实现便携实时操作。性能分析：1、 USB接口供电，无需电源线。2、 真正的便携，用探头检测样品。3、 采用软塑料头，适合野外应用。4、 占地小，可以在办公室内表征薄膜特性。5、 市场最低价。软件：FR-Monitor软件系统提供了多种应用和多种功能的能力。它不但能够实时的监测吸光率，透射率和反射率光谱，而且也包含了用于精准测试独立的薄膜厚度（10nm到100μm）和光学常数（n&k）的白光反射光谱法（WLRS）运算（ThetaMetrisis TM），支持（在透明或者部分透明或者全反射的衬底上）多层薄膜（10层）的测试。不需要高深的光学知识，只要有基本的电脑技巧、一台电脑，轻松实现膜厚测量！

GB/T 6672-2001 塑料薄膜和薄片 厚度测定仪 应用范围适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。主要特点1. 接触式测量原理2. 德国测厚传感器3. 工业 TFT 屏，触摸屏操作4. 零导航深度的扁平化界面 UI，操作更加方便快捷5. 真彩色液晶显示试验数据、结果6. 手动、循环、预约定时多种测量模式7. 测试过程全自动完成8. 本机内置历史数据查询功能9. 配置微型打印机，可自动打印单次、统计报告10. 配置标准通信接口11. 可支持 DSM 实验室数据管理系统，实现数据统一管理（选购）技术指标测量范围：0～2mm（标配） 0～10mm（可选）分 辨 率：0.1μm测量速度：1~25 次/min（可调）测 量 头：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（标配）纸张：200mm2，50±1kPa（可选）电 源：AC 220V 50Hz外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)净 重：38kg执行标准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817产品配置标准配置：主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件选 购 件：纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统。

GB 6672-2001塑料薄膜和薄片厚度测定 机械测量法仪器 应用范围适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。主要特点1. 接触式测量原理2. 德国测厚传感器3. 工业 TFT 屏，触摸屏操作4. 零导航深度的扁平化界面 UI，操作更加方便快捷5. 真彩色液晶显示试验数据、结果6. 手动、循环、预约定时多种测量模式7. 测试过程全自动完成8. 本机内置历史数据查询功能9. 配置微型打印机，可自动打印单次、统计报告10. 配置标准通信接口11. 可支持 DSM 实验室数据管理系统，实现数据统一管理（选购）技术指标测量范围：0～2mm（标配） 0～10mm（可选）分 辨 率：0.1μm测量速度：1~25 次/min（可调）测 量 头：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（标配）纸张：200mm2，50±1kPa（可选）电 源：AC 220V 50Hz外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)净 重：38kg执行标准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817产品配置标准配置：主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件选 购 件：纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统。

ISO 4593-1993塑料 薄膜和薄板 机械扫描测定厚度仪器 应用范围适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。主要特点1. 接触式测量原理2. 德国测厚传感器3. 工业 TFT 屏，触摸屏操作4. 零导航深度的扁平化界面 UI，操作更加方便快捷5. 真彩色液晶显示试验数据、结果6. 手动、循环、预约定时多种测量模式7. 测试过程全自动完成8. 本机内置历史数据查询功能9. 配置微型打印机，可自动打印单次、统计报告10. 配置标准通信接口11. 可支持 DSM 实验室数据管理系统，实现数据统一管理（选购）技术指标测量范围：0～2mm（标配） 0～10mm（可选）分 辨 率：0.1μm测量速度：1~25 次/min（可调）测 量 头：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（标配）纸张：200mm2，50±1kPa（可选）电 源：AC 220V 50Hz外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)净 重：38kg执行标准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817产品配置标准配置：主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件选 购 件：纸张测量头、自动进样装置、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统。

GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪_膜厚计膜厚测试仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。设备技术特征：1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现先进的测试稳定性、重复性及精度。2、高效——采用高效率、自动化结构设计，有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件，具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储；支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统（可选配置），为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪_膜厚计膜厚测试仪测试原理：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。执行标准：ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702中国《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪_膜厚计膜厚测试仪应用材料：基础应用：薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定扩展应用：金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪_膜厚计膜厚测试仪技术指标：① C640M型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.8μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）净重：26kg② C640H型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.4μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）净重：26kg

◆规格▼UTS-2000机种UTS-2000测量方式FT/IR 干渉膜厚测量法测量配置反射、透过（选配）样品尺寸20 × 20 ～ 1200 × 1200μm显示器内置CMOS相机确认测量位置　●测量范围／精度测量膜厚范围0.25μm～750μm（Siの場合）测量膜厚再现性0.005μm以下 (同一点繰返し測定時、Si の場合)　●XY样品台距离200mm×200mm驱动分辨率2μm　●数据处理部对应OSWindows 7 Professional控制装置JASCO光学管理器控制光学系统／控制XY样品台／控制搬送机（选配）

蛋壳厚度测定仪 Egg shell thickness gauge本蛋壳厚度测定仪测定接点设计精妙，呈特殊圆球状，非常 适合类似蛋壳表面等球面物体的厚度测定。测定精度为 1/100mm。操作简单，只需将蛋壳夹在测定接点和测定子之 间便可迅速，准确得出测定结果。蛋壳厚度测定仪产品编号 Code No29002000型 号 Mode NoNFN380测定精度 Accuracy1/100mm尺 寸 Dimension95mm重 量 Weight120g 蛋壳厚度测定仪、蛋壳厚度仪、进口蛋壳厚度测定仪、NFN380蛋壳厚度测定仪供应

纸张厚度测定仪 实验室压力测厚仪 纸张厚度测试仪 厂家直销，欢迎致电济南兰光咨询！Labthink兰光生产与供应纸张厚度测定仪，欢迎您咨询纸张厚度测定仪的详细信息！labthink兰光供应的纸张厚度测定仪有不同的型号，不同型号的纸张厚度测定仪应用范围与功能会有细微的差别，我们将会为您提供全方位的纸张厚度测定仪方案。CHY-C2A纸张厚度测定仪 实验室压力测厚仪 纸张厚度测试仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。CHY-C2A纸张厚度测定仪 实验室压力测厚仪 纸张厚度测试仪技术特征：严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告执行标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817CHY-C2A纸张厚度测定仪 实验室压力测厚仪 纸张厚度测试仪技术指标：负荷量程：0～2mm（常规）；0～6mm；12mm（可选）分辨率：0.1μm测量速度：10 次/min（可调）测量压力：17.5±1KPa（薄膜）；50±1KPa（纸张）接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg仪器配置：标准配置：主机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机

电池硅片厚度仪 硅片厚度测定仪 硅片厚度检测仪C640是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。设备技术特征：1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现先进的测试稳定性、重复性及精度。2、高效——采用高效率、自动化结构设计，有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件，具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储；支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统（可选配置），为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。电池硅片厚度仪 硅片厚度测定仪 硅片厚度检测仪C640测试原理：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。执行标准：ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702中国《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）电池硅片厚度仪 硅片厚度测定仪 硅片厚度检测仪C640应用材料：基础应用：薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定扩展应用：金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定电池硅片厚度仪 硅片厚度测定仪 硅片厚度检测仪C640技术指标：① C640M型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.8μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）净重：26kg② C640H型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.4μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）净重：26kg

仪器简介：荷兰原装进口主要特点：测量金属、塑料、木材... 表面干膜厚度特殊 V 型切角刀头、可观察各涂层厚度铝合金机座搭配金属滚轮、切割平稳滑顺50x 高倍率放大镜、高亮度可调焦照明灯接目镜附遮光罩，不受光线干扰读值清晰机身内建「小物收纳格」，配件不易遗失

蛋壳厚度测定仪 Egg shell thickness gauge本公司代理的蛋壳厚度测定仪测定接点设计精妙，呈特殊圆球状，非常 适合类似蛋壳表面等球面物体的厚度测定。测定精度为 1/100mm。操作简单，只需将蛋壳夹在测定接点和测定子之 间便可迅速，准确得出测定结果。 产品编号 Code No29002000型 号 Mode No7301测定精度 Accuracy1/100mm尺 寸 Dimension95mm重 量 Weight120g 中国总代理：南京铭奥仪器设备有限公司

JH0105溶剂稀释剂型防锈油油膜厚度测定仪 适用标准SH/T0105《溶剂稀释型防锈油油膜厚度测定法》GB/T2540《石油产品密度测定法（比重瓶法）》 产品简介本仪器适用于溶剂稀释型防锈油油膜厚度的检测。其实验原理是将试片放入500mL试样中浸1min，然后提起。垂直悬挂24h后测定试片涂膜质量。由油膜的密度和质量计算出涂膜厚度。 功能特点密度仪：1、透明浴体，观察方便，有机玻璃制作，易清洁2、分体式结构，无噪音3、微电脑处理及PID控制，数字显示设定和实际温度，精度0.1℃ 4、压缩机制冷，保证足够的冷量5、磁力泵循环冷却介质，温度均匀6、不锈钢加热器7、仪器带有超温报警功能 恒温水浴：1、产品性能优异，外观美观，可靠性好，是实验室环境试验设备的理想选择2、 箱体内胆采用不锈钢板制成，外壳采用宝钢钢板喷塑3、微电脑控制器， PID功能，数字显示温度（测试时连续显示），精度0.1℃4、箱内密封条采用耐高式低温的硅橡胶制成，密封保温性能优良。 防爆空气浴：1、采用一体化设计，操作维护简单方便2、仪器外壳一般采用薄钢板制作，表面烤漆，3、工作室采用优质的结构钢板制作。4、外壳与工作室之间填充硅酸铝纤维。5、温度控制仪表采用数显智能表，PID调节仪器参数防爆空气浴：1、 恒定温度范围：恒温范围50～110℃2、 工作电源: AC220V±10% 50HZ 密度测定器：1、适用标准：GB/T25402、加热方式:电热管加热3、制冷方式:压缩机制冷4、控温方式:数显PID温度控制器5、控温精度:±0.1℃6、控温范围:常温~20℃7、循环方式:磁力泵8、工作电源: AC220V±10% 50HZ 恒温水浴： 1、制冷方式：压缩机制冷 2、控温方式：进口PID数显温控器 3、控温范围、精度：常温～23℃±0.1℃ 4、工作电源：AC220V±10% 50HZ

厚度仪是蓝博仪器新研发推出的一款新品，可以根据 测量材料的变换更换荷重测量块，一机可用于测量纸、 纸板、卫生纸、瓦楞纸板、塑料薄膜及片状材料的厚 度，改变了传统的一机一用途的局限，实现了一机多 用，为用户节省使用成本，测量覆盖范围广，测量精 度高达 0.001mm。产品特点：接触式测量方式，采用日本三丰原装进口数显千分表，确保测量精确度。 测量范围广，轻便，适合于多种材料的测量使用，只需更换不同荷重测量块。 测定快捷，测量时只需将测量拔杆轻轻抬起，使测量面接触试样表面，即能显示测量厚度值，直观便捷。技术指标：分辨率：0.001mm 示值误差：±0.002mm 示值变动性：≤0.002mm 两测量间平行度：≤0.002mm 平面度：0.001mm 适用标准：型号选择：设备参数：外形尺寸(长×宽×高)：（120×200×280）mm 净重：3.7kg

瓦楞纸厚度测定仪在生产和生活领域，纸张、瓦楞纸、卷烟纸、接装纸和电绝缘纸等材料的厚度是质量的关键指标。厚度直接影响到这些材料的结构强度、耐用性和功能性能。因此，厚度测量在纸品生产和使用中具有举足轻重的地位。本文将介绍一种接触式测厚仪，它针对上述材料提供高精度的厚度测量，帮助您轻松解决厚度问题。 对于纸张、瓦楞纸、卷烟纸、接装纸和电绝缘纸等材料，测厚仪采用基于位移的测量原理。探针在受到压力后向下位移，位移量对应材料的厚度。一般情况下，厚度与位移成线性关系，这种关系由设备的标定过程确定。 测厚仪在纸张、瓦楞纸、卷烟纸、接装纸和电绝缘纸等材料的生产和应用过程中发挥着重要作用。通过接触式测量方式，测厚仪能够提供高精度的厚度数据，帮助企业实现生产过程的精细化控制，提高产品质量和生产效率。此外，测厚仪还可以用于产品质量的在线检测，及时发现并解决潜在问题，减少废品率，降低生产成本。 接触式测厚仪在纸张、瓦楞纸、卷烟纸、接装纸和电绝缘纸等材料的厚度测量方面具有显著优势。它不仅提供了高精度的测量结果，而且为生产过程中的质量控制提供了有力支持。随着科技的不断发展，我们有理由相信测厚仪将在未来的生产实践中发挥更大的作用，推动纸品制造业不断向前迈进。 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制） 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 瓦楞纸厚度测定仪此为广告

纸张厚度测定仪在生产和生活领域，纸张、瓦楞纸、卷烟纸、接装纸和电绝缘纸等材料的厚度是质量的关键指标。厚度直接影响到这些材料的结构强度、耐用性和功能性能。因此，厚度测量在纸品生产和使用中具有举足轻重的地位。本文将介绍一种接触式测厚仪，它针对上述材料提供高精度的厚度测量，帮助您轻松解决厚度问题。 对于纸张、瓦楞纸、卷烟纸、接装纸和电绝缘纸等材料，测厚仪采用基于位移的测量原理。探针在受到压力后向下位移，位移量对应材料的厚度。一般情况下，厚度与位移成线性关系，这种关系由设备的标定过程确定。 测厚仪在纸张、瓦楞纸、卷烟纸、接装纸和电绝缘纸等材料的生产和应用过程中发挥着重要作用。通过接触式测量方式，测厚仪能够提供高精度的厚度数据，帮助企业实现生产过程的精细化控制，提高产品质量和生产效率。此外，测厚仪还可以用于产品质量的在线检测，及时发现并解决潜在问题，减少废品率，降低生产成本。 接触式测厚仪在纸张、瓦楞纸、卷烟纸、接装纸和电绝缘纸等材料的厚度测量方面具有显著优势。它不仅提供了高精度的测量结果，而且为生产过程中的质量控制提供了有力支持。随着科技的不断发展，我们有理由相信测厚仪将在未来的生产实践中发挥更大的作用，推动纸品制造业不断向前迈进。 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制） 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 纸张厚度测定仪此为广告

涂层厚测定仪(镀层测厚仪)测量范围：0～5000um，是高新技术的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操 作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻 且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准，其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。　　应用范围：　　仪器采用磁性测厚法，可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度，如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。　　工作原理 ：　　涂层厚测定仪采用电磁感应法测量涂镀层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回 路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂镀层厚度。　　二、产品性能　　1、测量范围：　　0～5000um　　2、测量误差：　　3%±1um　　3、最小示值：　　1um　　4、显示方式： 4位液晶数字显示　　5、主要功能：　　(1).测量： 　 单探头全量程测厚　　(2).存储、删除： 可存入测量数据600个，对测量中的单个可疑数据进行删除，也可以删除存储区内的所有数据。　　(3).读：　 读出已存入的测量数据　　(4).统计： 设有三个统计量，平均值最大值最小值　　(5).校准： 可进行系统校准　　(6).电量： 具有欠压显示功能　　(7).打印： 可打印测量值，选配微型打印机　　(8).关机： 具有自动关机和手动关机两种方法　　6、电源： 　　　 两节1.5v电池　　7、功耗： 　　　最大功耗100mw　　8、外形尽寸： 　51mm*126mm*27mm　　9、重量：　　　　　 160g(含电池)　　10、使用环境温度：　0℃～+40℃ 相对湿度：不大于90%　　11、基体最小厚度： 0.5mm　　12、基体最小平面的直径： 7mm　　13、最小曲率半径： 凸:1.5mm 凹:6mm　　14、欠电压指示： 右上角显示" *临界厚度小：工件铁基厚度大于1mm时,其涂(镀)层厚度的测量不受铁基厚度三、MC-2000C型涂层测厚仪配置单　　1、涂镀层测厚仪 一台　　2、七号电池 二节　　3、探头 一支　　4、标准样片 一盒　　5、小铝箱 一个　　6、说明书、合格证 一套　　选配件：　　1、打印机及通讯打印连线 1套　　2、微机通讯软件 1盘　　3、内防腐探头

包装材料厚度测定仪塑料、薄膜、复合材料、纺织物、无纺布和包装材料等材料的厚度测量对于工业生产来说至关重要。机械接触式厚度测量仪器作为一种常见的厚度测量仪器，因其高精度和高可靠性而被广泛应用。本文将介绍机械接触式厚度测量原理、仪器种类和在不同材料中的应用案例。 机械接触式厚度测量仪器主要通过测量被测材料表面和测量头之间的距离来计算材料的厚度。测量头受到被测材料的顶出力，该力会使测量头的位移发生变化。测量头位移的变化量与被测材料的厚度之间存在一定的关系，通过测量位移变化量就可以计算出被测材料的厚度。 为了提高测量精度，可以采用高精度的测量头和传感器，以增加测量系统的灵敏度和准确性。此外，数据采集系统和校准技术的应用也可以对测量数据进行实时处理和修正，从而减小误差。 塑料薄膜：在塑料薄膜制造业中，薄膜的厚度对产品的质量和稳定性至关重要。采用机械接触式厚度测量仪器可以准确地测量薄膜的厚度，从而控制产品质量。复合材料：复合材料由多种材料组成，其厚度对材料的性能影响较大。采用机械接触式厚度测量仪器可以准确地测量复合材料的厚度，从而控制材料质量。纺织物：纺织物的厚度对布料的品质影响较大。采用机械接触式厚度测量仪器可以准确地测量纺织物的厚度，从而控制产品质量。 无纺布：无纺布是一种非织造布料，其厚度对产品的性能影响较大。采用机械接触式厚度测量仪器可以准确地测量无纺布的厚度，从而控制产品质量。包装材料：包装材料的厚度对产品的保护效果影响较大。采用机械接触式厚度测量仪器可以准确地测量包装材料的厚度，从而控制产品质量。 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制） 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 包装材料厚度测定仪此为广告

薄膜厚度测试仪 薄片厚度测量仪 厚度测量仪 厚度仪 测厚仪 _______________ 产品详情 ______________ 薄膜厚度测试仪是用机械测量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器，但不适用于压花的薄膜和薄片。 产品特点薄膜厚度测试仪外型美观，结构科学合理，使用可靠. 产品应用薄膜厚度测试仪主要用于塑料薄膜、薄片、纸张、纸板的厚度测试，还可扩展用于箔片、硅片、金属片的厚度测试. 技术标准薄膜厚度测试仪参照执行标准GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》，该标准修改采用标准ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》. 产品参数测量范围：0~10mm分度值0.001mm；测头端部的力：（1）上测头的测量面为￠6mm平面，下测头为平面时，测头对试样施加的力为0.5~1.0N；（2）上测量面为（R15—R50）mm曲率半径，下测头为平面时，测头对试样施加的力为0.1~0.5N. 产品配置主机一台 济南恒品专业生产纸制品包装检测仪器，印刷包装检测仪器，塑料包装检测仪器，各种试验设备及产品。 其它产品：纸箱抗压试验机，纸张耐破度仪，电子压缩试验仪，电子拉力试验机，密封性测试试验机，试验机，捆绑机，打包机，厚度测定仪，白度色度测定仪，白度测定仪，可勃吸收性测定仪，可勃取样刀，层间结合强度测定仪，纸浆打浆度测定仪，定量取样刀，MIT耐折度测定仪，纸板挺度测定仪，纸板挺度测定仪，数控电动离心机，瓦楞纸板边压（粘合）试样取样刀，环压取样刀，平压取样器，边压导块，剥离试验架，环压盘，瓦楞原纸起楞器，纸张柔软度测定仪，纸板戳穿强度测定仪，纸张水分仪，单臂包装跌落试验台，双翼跌落试验机，纤维标准解离器型，胶带初性测试仪，持粘性测试仪，环形初粘性测试仪，电子剥离试验机.，胶粘剂拉伸剪切试验机，密封性测试仪，摩擦系数测定仪，透光率雾度测定仪，干燥箱，油墨印刷摩擦试验机，反压高温蒸煮锅，正压密封试验仪、瓶盖扭矩测定仪、热封试验仪。标准光源，光泽度仪等。

薄膜厚度测量仪_薄膜测厚仪（C640可自动进样）C640薄膜测厚仪品牌：Labthink济南兰光机电技术有限公司C640测厚仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。设备技术特征：1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现世界先进的测试稳定性、重复性及精度。2、高效——采用高效率、自动化结构设计，有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件，具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储；支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统（可选配置），为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。测试原理：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。执行标准：ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702中国《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）应用材料：基础应用：薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定扩展应用：金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定技术指标：① C640M型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.8μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）净重：26kg② C640H型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.4μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）净重：26kg

无纺布厚度检测仪_高精度测厚仪_塑料薄膜测厚仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。Labthink，致力于通过包装检测技术提升和尖端检测仪器研发帮助客户应对包装难题，助力包装相关产业的品质安全。如需报价敬请电话咨询济南兰光！设备技术特征：1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现先进的测试稳定性、重复性及精度。2、高效——采用高效率、自动化结构设计，有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件，具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储；支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统（可选配置），为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。无纺布厚度检测仪_高精度测厚仪_塑料薄膜测厚仪测试原理：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。执行标准：ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702中国《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）应用材料：基础应用：薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定扩展应用：金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定无纺布厚度检测仪_高精度测厚仪_塑料薄膜测厚仪技术指标：① C640M型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.8μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)净重：26kg② C640H型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm重复性：0.4μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)净重：26kg

一、口溶膜性能介绍：口服制剂给药方便，生产成本低，往往是大多数医生和患者的用药途径，一般来说常见的固体口服制剂主要以片剂和胶囊为主。对口服制剂的服用，一般要求患者的自主意识高，但因其外形、大小、口味等引起的吞咽困难等问题，现已成为导致患者依从性差的主要原因中。尤其儿童在服用固体制剂时，吞咽困难可能会产生叶药现象或窒息危险心，随着儿童用药在国内关注度的提高，解决儿童不愿吞咽、依从性美等问题也成为制剂开发的重点。此外，一些自主行为不受控制的有精神系统障碍的患者，同样存在传统口服些问题，最初开发了口腔崩解片(OralDisintegratingTablets，ODTs)，其在口腔内能快速溶化和崩解。但是大部分口腔崩解片存在易碎、抗折性美笔缺点，对于包装、储存和运输都具有相对严苛的要求。故在此基础上进行剂型改良，进一步开发了口溶膜剂。 口腔速溶膜剂是一种将药物活性成分溶解或分散于膜材料中，加工成型的单层、多层或复合层的膜剂。一般放置在舌下、颊部等口腔黏膜处，唾液润湿30秒内即可崩解，适宜儿童、精神患者等具有主客观吞咽困难的病患使用。释放的药物成分，经口腔黏膜和食管组织进入血液，能有效避免受过效应，起效迅速。由于具备易于携带、口腔中迅速溶解等优点，口溶膜剂得到了快速发展，国内外已有多种口溶膜剂的上市产品。本文结合国内外口溶膜剂的开发及申报情况，从立题依据、处方工艺、质量控制等多方面对口溶膜剂的相关技术评价提出建议。 二、口溶膜厚度测试介绍：口溶膜厚度测试，上海保圣该产品可以测试口溶膜的所有物性指标，具有功能强大、检测精度高、性能稳定等特点，是高校、科研院所、食品企业、质检机构实验室等部门研究物性学有力的分析工具。 如拉伸性能测定，并将其置拉力试验机的两夹具中，进行测试计算后得到的抗拉强度和延伸率，还可以测试口溶膜的机械性能，如耐折度、断裂强度、断裂拉伸率、抗拉强度、弹性系数、接触角等性能参数。检测不同样品的硬度、脆性、弹性、回弹力、粘合性、粘结力、粘稠度、弯曲能力、破裂/断裂力、酥脆性、脆度、咀嚼性、胶粘性、拉伸强度、延展性等。耐折度代表了膜的脆性，即在同一位置折叠后断裂或出现明显折痕的折叠次数:断裂强度是指膜保持不被拉断的情况下，单位面积所能承受的拉力 断裂拉伸率是指膜受外力拉伸，断裂时增加的长度与原始长度的比值 抗拉强度是表示膜抵抗拉伸的能力，通常采用使膜产生2in/min的拉伸速率时的拉力来表示:接触角是表示膜与水浸润程度的参数一般可用外形图像分析法或称质量法进行测定。接触角越小表明膜越亲水，润湿越快 反之则越疏水，润湿越慢。

OPTM显微分光膜厚仪是FE-3000反射分光膜厚计的第二代产品。OPTM沿用分光干涉法，可测量绝对反射率、多层膜厚、折射率和消光系数，纳米级测量，精度高。OPTM可用于FPD构件（PI膜、ITO膜、CF膜）、光触媒、汽车零件DLC膜、半导体材料氧化层、光学材料薄膜等材料的无损非接触式测量，检测时间仅需1秒。产品特点：◆ 非接触、非破坏式，量测头可自由集成在客户系统内◆ 初学者也能轻松解析建模的初学者解析模式◆ 高精度、高再现性量测紫外到近红外波段内的绝对反射率，可分析多层薄膜厚度、光学常数（n：折射率、k：消光系数）◆ 单点对焦加量测在1秒内完成◆ 显微分光下广范围的光学系统（紫外 ~ 近红外）◆ 独立测试头对应各种inline定制化需求◆ 最小对应spot约3μm ◆ 独家专利可针对超薄膜解析n k产品参数：OPTM-A1OPTM-A2OPTM-A3波長範圍230 ~ 800 nm360 ~ 1100 nm900 ~ 1600 nm膜厚範圍1nm ~ 35μm7nm ~ 49μm16nm ~ 92μm測定時間1秒 / 1點光徑大小10μm (最小約5μm)感光元件CCDInGaAs光源規格氘燈+鹵素燈鹵素燈電源規格AC100V±10V 750VA（自動樣品台規格）尺寸555(W) × 537(D) × 568(H) mm (自動樣品台規格之主體部分)重量約 55kg（自動樣品台規格之主體部分）反射对物镜专利：如果是透明基板，因里面的反射光而无法正确测出膜厚。通过反射対物镜片，可物理性的消除里面反射。即使是透明基板也可测出高精度的膜厚,特别是对带有光学非均质的基板。3微米微区测量：在软件上通过同时显示样品画面和测定光采取部位，可很好的确认到测定点。特别是对有微小点的形状的样品有效。（最小Φ3μm） 自动高精度mapping样品台：OPTM标配XY自动平台，仅需输入坐标即可自动多点检测大面积样品，实时获取厚度分布图。平台设有防误触光栏，避免检测过程误触。平台尺寸200mm×200mm，最大可以检测12寸晶圆。

纸张测厚仪 纸张厚度测定仪(分辨率0.1μm)采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。Labthink，致力于通过包装检测技术提升和尖端检测仪器研发帮助客户应对包装难题，助力包装相关产业的品质安全。如需报价敬请电话咨询济南兰光0531-85068566！纸张测厚仪 纸张厚度测定仪(分辨率0.1μm)技术特征：严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告纸张测厚仪 纸张厚度测定仪(分辨率0.1μm)执行标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817纸张测厚仪 纸张厚度测定仪(分辨率0.1μm)技术指标：负荷量程：0 ～ 2 mm（常规）　　　　　0 ～ 6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg仪器配置：标准配置：主机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机

台式薄膜测厚仪应用领域对有些材料而言，厚度测量是衡量材料质量的基础手段。测量的对象往往是对厚度有较高要求的材料，例如薄膜、塑料、橡胶、纸张、纺织品、金属箔片（铝箔、铜箔、锡箔等）、板材等等。测量厚度的目的也逐渐由控制外观质量发展成为保证材料进一步完善加工的主要方法。因此，以节约成本、提高工业化生产效率为目的，材料厚度的测量受到了各行各业的广泛关注。 薄膜等包装材料厚度是否均匀一致，是检测薄膜各项性能的基础。薄膜厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。厚度测量仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量。 技术特征 配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果 打印大，小值、平均值及每次测量结果，方便用户分析数据 仪器自动保存至多100组测试结果，随时查看并打印 标准量块标定,方便用户快速标定设备 配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小 软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户 配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 高80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T6672（塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法）、GB/T451.3(GB/T451.3纸张和纸板厚度测定方法)、GB/T6547（瓦楞纸板的厚度测量准则）、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》 产品配置 标准配置：主机、标准量块、微型打印机 选用配置：软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器台式薄膜测厚仪此为广告

高精度薄膜测厚仪应用领域对有些材料而言，厚度测量是衡量材料质量的基础手段。测量的对象往往是对厚度有较高要求的材料，例如薄膜、塑料、橡胶、纸张、纺织品、金属箔片（铝箔、铜箔、锡箔等）、板材等等。测量厚度的目的也逐渐由控制外观质量发展成为保证材料进一步完善加工的主要方法。因此，以节约成本、提高工业化生产效率为目的，材料厚度的测量受到了各行各业的广泛关注。 薄膜等包装材料厚度是否均匀一致，是检测薄膜各项性能的基础。薄膜厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。厚度测量仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量。 技术特征 配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果 打印大，小值、平均值及每次测量结果，方便用户分析数据 仪器自动保存至多100组测试结果，随时查看并打印 标准量块标定,方便用户快速标定设备 配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小 软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户 配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 高80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T6672（塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法）、GB/T451.3(GB/T451.3纸张和纸板厚度测定方法)、GB/T6547（瓦楞纸板的厚度测量准则）、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》 产品配置 标准配置：主机、标准量块、微型打印机 选用配置：软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器高精度薄膜测厚仪此为广告