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耐电压

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耐电压相关的资讯

  • 扫描电镜 | 低电压下如何获取高分辨图像
    随着纳米材料在各个工业领域的应用,推动了超高分辨率的扫描电镜的发展,但这些材料导电性不佳,因此,对低电压下仍具有高分辨率的扫描电镜提出迫切需求。 低电压扫描电镜的主要特点之一是能直接对不导电样品进行观察,同时保持高的分辨率。但是其面临的问题是束流电压降低,信号量会显著下降,同时低电压下扫描电镜像差导致分辨率降低。随着扫描电镜技术的蓬勃发展,这些问题目前都得已大大改善。 为了弥补低电压下信噪比低的问题,赛默飞Apreo 2系列电镜配备了YAG材质背散射探测器(T1)(图1)。YAG(Y3Al5O12:Ce3+)是一种具有高发光效率的闪烁体材料,用掺铈的YAG材料制成的背散射探测器,发光效率更高,亮度更高,更耐离子和电子的轰击,因此几乎不存在随使用时间的累积而导致发光效率下降的问题。Apreo 2系列电镜的T1背散射探测器置于镜筒内靠近极靴下部,这样不仅可以获取大量的信号,而且不会有误操作导致的撞毁风险。同时T1接收的是背散射电子,因此,可以大大改善导电性不佳的样品带来的荷电问题。 图1 Apreo 2 扫描电镜的T1探测器位置示意图 为了减小低电压下像差增加的问题,赛默飞Apreo 2系列电镜发展出了样品台减速模式(图2),以减小透镜色差和提高低电压图像分辨率。减速模式中引入的“着陆电压”的概念,即实际到达样品表面的电压,其计算非常简单,入射电压减去减速电压即为着陆电压。例如,电子束初始加速电压5kV,在样品台上加4kV的减速电压,在样品表面的着陆电压为1kV,采用减速模式后入射到样品上的电压是1kV,在样品内的电子束扩展范围和对样品荷电的减缓同初始加速电压为1kV的情形一致,但其电子束的亮度接近加速电压为5kV的状态。因此,采用减速模式,一方面保持了高加速电压下的亮度和足够的信噪比,以及高分辨率,同时又真正实现了样品表面荷电的有效缓解。减速模式下,还有一个优点,使电子束与样品相互作用产生的信号电子在减速电压的作用下加速,这些信号电子在被探测器探测到时能量更高,从而提高了二次电子或者背散射电子收集效率,增加了信噪比。图2 样品台减速模式工作原理示意图 在实际应用中,我们会将样品台减速模式和T1探测器联合使用,以获取高分辨图像。比如,锂电池隔膜是一种PP或者PE材质的高分子薄膜,其导电性极差,常规的电镜无法解决荷电问题,而使用T1探测器不仅可以解决荷电问题,而且搭配减速模式仪器使用还可以获取高信噪比图像(图3)。稀土氧化物Y2O3粉体是制造微波用磁性材料及军事通讯工程用的重要材料,综合导电性较差,高加速电压容易使表面积累荷电,而且会掩盖颗粒表面细节,因此,我们采用低加速电压搭配减速模式进行高分辨成像(图4)。 图3 锂电池隔膜(加速电压:500V,放大倍数:30000,探测器:T1,减速电压:1kV) 图4 Y2O3粉末颗粒(加速电压:500V,放大倍数:100000,探测器:T1)
  • 10000V!氮化镓功率器件击穿电压新纪录
    近日,美国弗吉尼亚理工大学电力电子技术中心(CPES)和苏州晶湛半导体团队合作攻关,通过采用苏州晶湛新型多沟道AlGaN/GaN异质结构外延片,以及运用pGaN降低表面场技术(p- GaN reduced surface field (RESURF)制备的肖特基势垒二极管(SBD),成功实现了超过10kV的超高击穿电压。这是迄今为止氮化镓功率器件报道实现的最高击穿电压值。相关研究成果已于2021年6月发表于IEEE Electron Device Letters期刊。图1:多沟道AlGaN/GaN SBD器件结构图(引用自IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, VOL. 42, NO. 6, JUNE 2021)实现这一新型器件所采用的氮化镓外延材料结构包括20nm p+GaN/350nm p-GaN 帽层以及23nm Al0.25Ga0.75N/100nm GaN本征层的5个沟道。该外延结构由苏州晶湛团队通过MOCVD方法在4吋蓝宝石衬底上单次连续外延实现,无需二次外延。基于此外延结构开发的氮化镓器件结构如图1所示,在刻蚀工艺中,通过仅保留2微米的p-GaN场板结构(或称为降低表面场(RESURF)结构),能够显著降低峰值电场。在此基础上制备的多沟道氮化镓肖特基势垒二极管(SBD),在实现10kV的超高击穿电压的同时,巴利加优值(Baliga’s figure of merit, FOM)高达2.8 ,而39 的低导通电阻率,也远低于同样10kV耐压的 SiC 结型肖特基势垒二极管。多沟道氮化镓器件由于采用廉价的蓝宝石衬底以及水平器件结构,其制备成本也远低于采用昂贵SiC衬底制备的SiC二极管。创新性的多沟道设计可以突破单沟道氮化镓器件的理论极限,进一步降低开态电阻和系统损耗,并能实现超高击穿电压,大大拓展GaN器件在高压电力电子应用中的前景。在“碳达峰+碳中和”的历史性能源变革背景下,氮化镓电力电子器件在电动汽车、充电桩,可再生能源发电,工业电机驱动器,电网和轨道交通等高压应用领域具有广阔的潜力。苏州晶湛半导体有限公司已于近日发布了面向中高压电力电子和射频应用的硅基,碳化硅基以及蓝宝石基的新型多沟道AlGaN/GaN异质结构外延片全系列产品,欢迎海内外新老客户与我们洽商合作,共同推动氮化镓电力电子技术和应用的新发展!
  • 强大的生物成像新工具!5kV低电压设计、无需染色的低电压台式透射电子显微镜
    在透射电子显微镜成像实验中,生物样品的成像操作为复杂,成像难度大。这主要是因为传统透射电子显微镜过高的加速电压引起的。上图为各种元素在传统透射电子显微镜的不同照射电压的反冲能量统计图。可以发现电子束加速电压在20kv就已经到达了碳碳单键的临界反冲能量,超过就很有可能使碳碳单键发生断裂,即使强的碳碳三键的临界反冲能量也仅仅在80 kV,这也是为何大多数生物样品在电镜观察的时候使用了透射电子显微镜的低电压80 kV。因此,传统透射电子显微镜在对由C/H/O/N等元素组成的生物样品进行成像时就需要使用重金属盐离子进行负染。负染是在使用传统透射电镜对生物样品成像时“不得不”采用的样品处理手段,负染的处理手段会带来诸多的问题。负染会导致生物样品制样复杂,样品容易产生收缩、膨胀、破碎以及内含物丢失等结构改变,重金属盐离子本身会对生物样品的形貌造成不可逆的损害,且负染液在电镜观察时容易产生“假象”。负染的操作对于制样者的要求较高,生物样品的种类多种多样,而每一种生物样品负染时佳的制样条件(重金属盐溶液的种类、浓度、染色的时间长短等)都不一样。这就需要制样人员根据各自实验室的条件,在长时间地摸索与多次地试错来获取佳的制样条件,大量宝贵的时间和样品就这样浪费在负染制样条件的摸索中了。Delong公司推出的LVEM5生物型透射电子显微镜,地解决了以上的问题。LVEM5生物型透射电镜采用的5kV低电压设计,对生物样品不会造成任何损伤,与传统高压电镜相比,低电压反而提高了生物样品成像的衬度/反差;无需重金属染液负染,对生物样品成像条件温和,摆脱了染液与负染过程本身可能对生物结构造成的损害,所得图像为“正像”,更加真实地展现生物样品的结构特征。 上图分布为传统电镜和LVEM5生物型透射电镜对未染色的小鼠心肌切片(上)和有机纳米颗粒(下)的成像实例。可以看到,传统高压透射电镜本身就会带来样品细节损失,在80-120kV下的透射电镜成像过程中,未染色的生物样品和大量十几纳米尺寸的颗粒会直接被“击穿”。而LVEM5生物型透射电镜采用的5kV低电压设计,不仅避免了传统高压透射电镜长时间照射对于生物样品的损害,还可以保留下更多地小有机颗粒图像,获得更多地细节。LVEM5生物型透射电镜可以对外泌体、脂质体、噬菌体、病毒、细胞切片等生物样品进行无负染成像,所得的图像衬度更高。如下图所示。 LVEM5技术特点:高衬度:低能量电子对有机分子产生更强烈的散射,具有更高对比度。无需染色:突破以往生物/轻材料成像需要重金属染色的局限性。高分辨率:无染色条件下能够达到1.5 nm的图像分辨率。多模式:LVEM5能够在TEM、SEM、STEM三种模式中自由切换。高效方便:真空准备只需要3分钟,空间小,环境需求低。易操作且成本低:友好智能化操作界面,低耗材,低维护费用,无需专业操作人员。
  • 电镜学堂丨电镜操作之如何巧妙选择加速电压?
    “TESCAN电镜学堂”又跟大家见面了,利用扫描电镜观察样品时会关注分辨率、衬度、景深、形貌的真实性、其他分析的需要等等,不同的关注点之间需要不同的拍摄条件,有时甚至相互矛盾。 今天主要谈一谈如何根据样品类型以及所关注的问题选择合适的加速电压? 这里是TESCAN电镜学堂第9期,将继续为大家连载《扫描电子显微镜及微区分析技术》(本书简介请至文末查看),帮助广大电镜工作者深入了解电镜相关技术的原理、结构以及最新发展状况,将电镜在材料研究中发挥出更加优秀的性能! 第三节 常规拍摄需要注意的问题 平时电镜使用者都进行常规样品的观察,常规样品不像分辨率标准样品那么理想,样品比较复杂,而且有时候关注点并不相同。因此我们要根据样品类型以及所关注的问题选择合适的电镜条件。 关注分辨率、衬度、景深、形貌的真实性、其它分析的需要等等,不同的关注点之间需要不同的电镜条件,有时甚至相互矛盾。因此我们必须明确拍摄目的,寻找最适合的电镜条件,而不是贸然的追求大倍数。 电镜的工作条件包括很多,加速电压、束流束斑、工作距离、光阑大小、明暗对比度、探测器的选择等。这一期将为大家介绍加速电压的选择。 §1. 加速电压的选择 任何电镜都是加速电压越高分辨率越高,但并不意味着任何试样都是电压越大越好。电压的选择是电镜中各个工作条件中最重要的一个。有各种因素需要考虑,而各个因素之间也有矛盾相悖的,这个时候还需要适当进行综合考虑或者采取其它办法。 ① 样品损伤和荷电因素 选择的加速电压不能对试样产生明显的辐照损伤或者荷电,否则观察到的图像不是试样的真实形貌。如果有荷电的产生,需要将电压降至到V2以下,这点在前面电荷效应中已经详细阐述,这里不再重复。 对于金属等导电导热均良好的试样,可以用较高的电压进行观察,如10kV及以上;对于一些导电性不是很好但是比较稳定的试样,可以中等加速电压,如5kV左右;对一些容易损伤的样品,比如高分子材料、生物材料等,可能需要较低的电压,如2kV或以下。 ② 电子产额因素 对于单相材料来说,因为成分没有差别,我们选择电子产额最大的区间V1~V2即可,但是对于混合物相材料来说,我们希望在有形貌衬度的同时还能有较好的成分衬度,这样的图片显得衬度更好,信息量也最大,往往我们也会认为这样的图片最清晰。因此我们需要选择二次电子产额相差较大的区域进行拍摄。 如图5-13,左图是碳和金的二次电子产额,中间图片是金颗粒在1kV下的二次电子图像,右图是200V下的二次电子图像。显然,在200V下碳和金的产额一样,所以此时拍摄的图像仅呈现出形貌上的差别,而碳和金的成分差异无论怎么调节明暗对比度也不会出现。而在1kV下,碳和金的电子产额差异达到最大,所以除了形貌衬度外,还表现出极好的成分衬度。 图5-13 金和碳在电子产额(左)及1kV(中)、200V(右)电压下的SE图像 对于一些金属材料来说,往往较高的加速电压下有相对较大的产额差异,而对于一些低原子序数试样,较低的电压往往电子产额差异更大。 如图5-14,试样为碳银混合材料。左图为5kV SE图像,右图为20kV SE图像。5kV下不但能表现出比20kV更好的成分衬度,还有更好的表明细节。 图5-14 碳银混合材料在5kV(左)、20kV(右)电压下的SE图像 如图5-15,试样为铜包铝导线截面,左图为5kV SE图像,右图为20kV SE图像。20kV下能够更好的将外圈的铜层和内部的铝层做更好的区分。 图5-15 铜包铝导线截面在5kV(左)、20kV(右)电压下的SE图像 对于有些本身差别很小的物相,如果能找到二次电子产额差异最大所对应的电压,也可将其区分。当然有的产额没有参考曲线,需要经过诸多尝试才能找到。比如图5-16,试样为掺杂半导体基底上的本征半导体薄膜,其电子产额差异在1kV达到最大,对应1kV的图像能将两层膜就行区分,而其它电压则没有太好的衬度。 图5-16 半导体薄膜在不同电压下的衬度对比 ③ 衬度的平衡 虽然通过上一点提到的加速电压的选择可以将成分衬度达到最大,但有时该条件并不是观察形貌最佳的电压。此时我们需要考虑究竟是注重形貌还是注重成分衬度,使用二次电子来进行观察,还是用背散射电子进行观察,或者用折中的办法进行观察。这都需要操作者根据电镜照片想说明的问题来进行选择。 要获得好的形貌衬度图像和原子序数图像所需的电压条件一般都不一样,也有另外的办法可以适当解决。对最佳形貌衬度和最佳原子序数衬度单独拍摄照片,后期在电镜软件中通过图像叠加的方式,将不同的照片(位置需要完全一样)按照一定的比例进行混合,形成一张兼有两者衬度的图片。 ④ 有效放大率因素 一般电镜在不同的电压下都有着不一样的极限分辨率,其对应的有效放大率也随之而改变。拍摄特定倍数的电镜照片,特别是高倍照片,需要选择电压对应的有效放大率能够达到需求。否则,视为图像出现了虚放大。虚放大后,图像虽然也在放大,但是并没有出现更多的信息,而且虚放大而会有更多环境因素的影响。 所以如果出现虚放大,可以提高加速电压,以增加有效放大率;如果电压不能改变,可以考虑增加图像的采集像素,来获得类似放大的效果。此时受环境因素或者样品损伤因素更小。 ⑤ 穿透深度因素 前面已经详细的讲述了加速电压和电子散射之间的关系。加速电压越高,能量越大,电子的散射区域就越大。那么产生的二次电子或背散射电子中,从更深处发射的比例则更多。因此较大的加速电压虽然有更好的水平方向的分辨率,但是却忽略了试样很多的表面细节;而低电压虽然水平方向分辨率相对较差,但是却对深度方向有着更好的灵敏度,可以反映出表面更多的形貌细节。 如图5-17,试样为表面修饰的二氧化硅球,5kV电压看不出任何表面细节,而2kV下则能观察到明显的颗粒。再如图5-18,纳米颗粒粉末在不同电压下的表现,因为颗粒团聚严重,所以在5kV电压下无法将团聚颗粒很好的区分,显得粒径更大,而1kV下则能观察到相对更细小的颗粒。 图5-17 SiO2球在5kV(左)、1kV(右)电压下的图像 图5-18 纳米颗粒在5kV(左)、1kV(右)电压下的图像 当加速电压降低到200V左右的超低水平后,电子束的作用区域变得很小,常规的边缘效应或者尖端效应基本可以去除,如图5-19。 图5-19 200V左右的电压可以消除边缘效应 更多详情内容请关注“TESCAN公司”微信公众号
  • 怎样避免静电压半衰期超标的问题?
    抗静电面料通常要考核电荷面密度和静电压半衰期。采用有机导电纤维生产抗静电面料时,会出现电荷面密度达标、而静电压半衰期超标的问题。企业往往会面临这个问题,其采用增加有机导电纤维用量的方法试图解决问题,但实际效果不理想。  这是由于我们在织物上采用了有机导电纤维后,织物的静电压已经下降,即电荷的逃逸势能下降,静电压可能从原来的上万伏见到几百伏,电荷在几百伏的势能下要比原来几万伏势能逃逸得更慢,即衰减到一半电压时所花的时间将更长,导致静电压半衰期变长。这时,若再增加有机导电纤维的用量只能起反作用,且增加成本。在这样的情况下,应该在染整定型前适度加一点抗静电剂,增加面料在各个地方的电荷逸散的便利程度,就可以很好地解决这个问题了。  资料转载自:http://www.kangjingdianshebei.com/jslist/list-3-1.html  标准集团(香港)有限公司
  • 颜宁组《细胞》报道电压门控钠离子通道研究进展
    p  7月20日,生命中心颜宁研究组在《细胞》(Cell)期刊在线发表题为《来自电鳗的电压门控钠离子通道Nav1.4-β1复合物结构》(Structure of the Nav1.4-β1 complex from electric eel)的研究论文,首次报道了带有辅助性亚基的真核生物电压门控钠离子通道复合物可能处于激活态的冷冻电镜结构。该成果是电压门控离子通道(voltage-gated ion channel)的结构与机理研究领域的一个重要突破。br//pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201708/noimg/006bf0f0-14f4-4b4b-9249-e21d7cbe96f4.jpg" title="1.jpg" width="460" height="329" style="width: 460px height: 329px "//pp style="text-align: center "图1. 电压门控钠离子通道Nav1.4-β1复合物结构示意图/pp  电压门控钠离子通道(以下简称“钠通道”)位于细胞膜上,能够引发和传导动作电位,参与神经信号传递、肌肉收缩等重要生理过程。顾名思义,钠通道感受膜电势的变化而激活或失活。对于可激发的细胞,细胞膜两侧由于钠离子、钾离子、钙离子、氯离子等离子的不对称分布,产生跨膜电势差。在静息状态下,细胞膜内电势低,膜外电势高,3-5纳米厚的细胞膜两侧电势差大概为-70毫伏左右。通常情况下,钠通道在细胞膜去极化状态,也就是细胞内相对电势升高时激活(即钠通道中心通透孔道打开,钠离子由高浓度的胞外侧流向胞内),从而引发动作电位的起始 而其又具备特殊的结构特征,使之在激活的几毫秒内迅速失活,从而保证通过与钾离子通道的协同作用结束动作电位,以及由钠钾泵介导的静息电势的重建,为下一轮的动作电位产生做好准备。/pp  真核生物的钠通道主要由负责感受膜电势控制孔道开闭进而选择性通透钠离子的α亚基和参与调控的β亚基组成。在人体中共有9种钠通道α亚型(分别命名为Nav1.1-1.9)和4种β (β1-4)亚基,特异分布于神经和肌肉组织中。由于其重要的基本生理功能,钠通道的异常会导致诸如痛觉失常、癫痫、心率失常等一系列神经和心血管疾病。至今为止,已经发现了1000多种与疾病相关的钠通道突变体。另一方面,很多已知的包括蝎毒、蛇毒、河鲀毒素在内的生物毒素以及临床上广泛应用的麻醉剂等小分子均通过直接作用于钠通道发挥作用。钠通道是诸多国际大制药公司研究的重要靶点,其结构为学术界和制药界共同关注。/pp  颜宁研究组十年来一直致力于电压门控离子通道的结构生物学研究,取得了一系列重要成果,包括来自细菌中的钠通道NavRh的晶体结构 (Zhang et al., 2012)。而近两年更是相继报道了与钠离子通道有同源性的世界上首个真核电压门控钙离子通道复合物Cav1.1 (Wu et al., 2016 Wu et al., 2015)以及首个真核钠通道NavPaS (Shen et al., 2017)的高分辨率冷冻电镜结构,为理解真核电压门控离子通道的结构与功能提供了重要基础。/pp  在该最新研究中,颜宁研究组首次报道了真核钠通道复合物Nav1.4-β1的冷冻电镜结构,整体分辨率达到4.0 ,中心区域分辨率在3.5 左右,大部分区域氨基酸侧链清晰可见。该蛋白来自于电鳗(Electrophorus electricus),它具有一个特化的肌肉组织称为电板(electroplax),在受到刺激或捕猎时能够放出很强的电流 电流产生的基础即为钠通道的瞬时激活。因而该器官富集钠通道,其序列与人源九个亚型中的Nav1.4最为接近,因此命名为EeNav1.4。值得一提的是,电鳗中的钠通道正是历史上首个被纯化并被克隆的钠通道,已经具有半个世纪的研究历史,是钠通道功能和机理研究的重要模型,因此该蛋白一直以来也是结构生物学的研究热点。/pp  在本研究中,研究组成员利用特异性的抗体从电鳗的电板组织中提纯出Nav1.4-β1复合物,通过对纯化条件和制样条件的不断摸索和优化,获得了性质稳定且均一的蛋白样品,并进一步制备出优质的冷冻电镜样品,最终利用冷冻电镜技术解析出其高分辨三维结构。与此前解析的钠通道NavPaS相比,该结构展示了三大新的结构特征:/pp  1)该结构中带有辅助性亚基β1,首次揭示了辅助性亚基与α亚基的相互作用方式,有助于更好的理解β亚基对钠通道功能的调控机制 /pp  2)与钠通道快速失活相关的III-IV 连接片段的位置与之前在Cav1.1和NavPaS结构相比有一个十分显著的位移,特别是与快速失活直接相关的IFM元件插入到了中间孔道结构域的内外两层之间。这一新的结构刷新了我们之前对钠通道失活机制的理解,却与历史上大量基于电生理的突变体分析十分吻合。本论文就此提出了一个解释钠通道快速失活的新的变构阻滞机制(allosteric blocking mechanism) /pp  3)该结构特征与预测的激活态基本吻合,极有可能揭示了首个处于开放状态的真核钠通道的结构,实属意外之喜。由于钠通道蛋白在提纯后会很快失活,理论上处于开放状态的结构是极难甚至不可能捕捉到的。进一步分析电子密度发现,有一团疑似去垢剂分子的密度堵在胞内门控区域,帮助稳定了钠通道的开放状态。因此该结构整体呈现的极有可能是完全没有预料到的激活态。这一难得的构象有助于更好地理解电压门控离子通道最基本的机电耦合机理问题(electromechanical coupling mechanism)。除此之外,该结构还为基于结构的药物设计和功能研究提供了全新的模板。/pp  颜宁教授为本文的通讯作者。清华大学医学院博士后闫浈、医学院副研究员周强、生命学院博士生王琳、生命学院博士毕业生吴建平为本文的共同第一作者 清华大学冷冻电镜平台雷建林博士指导数据收集。本研究获得了清华大学冷冻电镜平台工作人员李小梅和李晓敏的大力支持。国家蛋白质科学中心(北京)清华大学冷冻电镜平台和清华大学高性能计算平台分别为本研究的数据收集和数据处理提供了支持。生命科学联合中心、北京市结构生物学高精尖创新中心、膜生物学国家重点实验室、科技部、基金委为本研究提供了经费支持。(来源:生命科学联合中心)/pp  原文链接:http://www.cell.com/cell/fulltext/S0092-8674(17)30758-4/ppbr//p
  • 绝缘油击穿电压测定仪在润滑油行业中应用
    润滑油作为机械设备的润滑剂,其电气性能对设备的正常运行至关重要。击穿电压作为评价润滑油电气性能的重要指标之一,能够帮助工程师判断润滑油的电气性能是否达到设备要求。下面我们就来具体了解一下击穿电压在润滑油行业中的应用。1. 润滑油电气性能的表征润滑油的电气性能主要包括介电常数、介质损耗因数、电阻率等参数。其中,介电常数反映了润滑油在电场作用下的极化能力,介质损耗因数反映了电流通过润滑油时所消耗的能量,电阻率则反映了润滑油的导电性能。而击穿电压则可以进一步评价润滑油的电气绝缘性能,即当电压达到某一数值时,润滑油内部将产生放电现象,导致电流突然增加,这一电压值就是击穿电压。2. 击穿电压在润滑油选择中的应用在选择润滑油时,需要根据设备的运行工况和润滑油厂商提供的产品手册来选择合适的润滑油牌号在。产品手册中,通常会提供不同牌号润滑油的介电常数、介质损耗因数、电阻率和击穿电压等电气性能参数。在选择润滑油时,需要综合考虑这些参数,尤其是击穿电压,以确保设备在正常运转时,润滑油的电气性能能够满足设备要求。3. 击穿电压在润滑油品质控制中的应用在润滑油的生产过程中,由于原材料、生产工艺等因素的影响,润滑油的电气性能会发生一定的变化。为了确保生产出的润滑油符合产品要求,需要对润滑油的电气性能进行检测和监控。其中,击穿电压作为一项重要的检测指标之一,可以用于评估润滑油品质的稳定性。通过定期检测润滑油的击穿电压,可以对生产工艺和原材料进行及时调整,以确保生产的润滑油具有良好的电气性能。
  • iCEM 2016特邀报告:低电压扫描电镜技术在材料研究中的应用
    p style="TEXT-ALIGN: center"strong第二届电镜网络会议(iCEM 2016)特邀报告/strong/pp style="TEXT-ALIGN: center"strong低电压扫描电镜技术在材料研究中的应用/strong/pp style="TEXT-ALIGN: center"img title="曾毅照片.jpg" style="HEIGHT: 267px WIDTH: 200px" border="0" hspace="0" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201609/insimg/9ce6406d-a081-4594-9325-2a9b39ad3e16.jpg" width="200" height="267"//pp style="TEXT-ALIGN: center"strong曾 毅 研究员/strong/pp style="TEXT-ALIGN: center"strong中国科学院上海硅酸盐研究所/strong/ppstrong报告摘要:/strong/pp  基于曾毅老师长期的扫描电镜工作经验,本次报告将从理论和实际操作两方面探讨低电压扫描电镜在材料领域的应用,主要涉及以下几个方面的内容:/pp  1、 低电压扫描电镜的特点是什么?为什么要采用低电压进行扫描电镜观察?/pp  2、 为什么现有场发射扫描电镜都具有较好的低电压分辨率(通常优于1.5nm),但是很多扫描电镜工作者却不愿意或者不敢使用低电压进行观察?/pp  3、 如何在低电压下获得高清晰度图像?采用低加速电压进行扫描电镜观察时需要注意什么?影响低电压扫描电镜图像质量的主要因素有哪些?/pp  4、 如何利用低加速电压进行介孔材料观察和分析?/pp  5、 如何利用低加速电压获得材料真实的显微结构信息?/pp  6、 低电压STEM在材料分析中的应用/pp  ....../ppstrong报告人简介:/strong/pp  曾毅,中国科学院上海硅酸盐所分析测试中心副主任,研究员,博士生导师。主要从事材料显微结构-性能-工艺关系研究,实验室拥有FEI Magellan400, Hitachi SU8220, Hitachi SU4800, JEOL 8100以及JEOL 6700等多台扫描电镜。/pp  近年来作为项目负责人承担了863、科技部国际合作专项、中科院重点部署项目、上海市民口科技支撑项目等多项材料表征技术相关研究项目,在国内外学术刊物发表显微结构表征技术论文近90篇。出版《低电压扫描电镜应用技术研究》和《扫描电镜和电子探针的基础及应用》学术专著两部,起草扫描电镜相关国家标准5个。/ppstrong报告时间:/strong2016年10月25日上午/ppa title="" href="http://www.instrument.com.cn/webinar/icem2016/index2016.html" target="_self"span style="TEXT-DECORATION: underline COLOR: rgb(255,0,0)"img src="http://www.instrument.com.cn/edm/pic/wljt2220161009174035342.gif" width="600" height="152"//span/aspan style="TEXT-DECORATION: underline COLOR: rgb(255,0,0)"/span/p
  • 又将填补一项国内空白:尖峰电压发生仪进行研发
    又将填补一项国内空白:尖峰电压发生仪进行研发 近日,浙江省计量院与宁波三维电测设备有限公司、浙江迪元仪表有限公司就能量可调式尖峰电压发生仪研制技术进行探讨。据悉,此次研制的能量可调式尖峰电压发生仪为国内首台。 根据推荐性国家标准GB/T 18659-2002《封闭管道中导电液体流量的测量 电磁流量计的性能评定方法》要求,应把尖峰电压叠加在供电电源上,尖峰电压能量应为0.1J,尖峰幅值应为供电电源电压有效值的100%,200%和500%。目前国内尚无满足该试验要求的尖峰电压发生设备,浙江省计量院研制的该仪器填补这一空白。内容来自仪器仪表商情网
  • 低电压下纳米颗粒的能谱EDS元素分析方案
    低电压下纳米颗粒的能谱EDS元素分析方案传统的能谱EDS分析通常要求较大的工作距离和较高的电压,而利用扫描电镜对样品进行图像观察时,可能会根据观察目的来选择更短的工作距离及更小的加速电压。 日本钢铁工程控股公司佐藤博士对钢中细小夹杂物的分析工作很好地展示了不同扫描电镜SEM成像条件对电子图像的影响。图1所示为2.25Cr-1 Mo钢在不同加速电压及工作距离下所观测到的不同碳化物的衬度。图1中的i,ii,iii箭头所指(i代表M23C6,ii代表M6C,iii代表AlN)及圆圈内的位置(M2C)是不同种类的碳化物,总体而言,随着电压的降低和工作距离的缩短表面的碳化物逐渐显现其清晰的形貌及分布位置。 那么,EDS是否也可以去表征这些表面的结构呢? 传统能谱EDS分析需要在高电压、长工作距离下进行,为了获得好的电子图像而选择的工作条件(低电压、短工作距离)对于EDS采集来说就不甚友好,通常接收到的信号过低,传统能谱几乎采集不到过多有效的信息。牛津仪器Ultim Extreme采用了不同于传统EDS的设计,将接收特征X-Ray光子信号的晶体大幅前移使之更加靠近样品,因而大大提高了信号量;Ultim Extreme的几何设计也有利于在短工作距离下的EDS分析。图2所示为传统EDS及Ultim Extreme与电子束和样品的相对几何关系的示意图,Ultim Extreme的WD和DD(探测器至样品的距离)都更短。此外,Ultim Extreme采用了无窗设计,大幅提升了低能特征X-Ray的检测率。综合以上特性,牛津仪器Ultim Extreme对低电压、短工作距离下的EDS采集效率及效果有了显著的提升。 图3所示为一离子抛光后的样品的电子图像(左)及元素分布图(右),工作电压为3kV,工作距离为4mm,元素分布图使用牛津仪器Ultim Extreme采集。从右侧的元素分布图可以轻易区分出红色的基底(不锈钢)和至少3种第二相,它们分别为粉红色的富Ni相,绿色的富Cr相及蓝色的富Mo相。在左侧的电子图像中,由于抛光的缘故,富Cr相并不清晰,EDS可以帮助快速定位、区分不同的第二相,提供形貌之外的元素信息。 在实际样品分析中,除了参数设置及电镜和EDS探头的性能之外,样品的表面状态和样品漂移也会影响低电压下能谱元素分析的结果。 1. 表面的碳(C)沉积 样品的积碳效应在低电压下尤为明显,表面沉积的无定型碳或碳氢化合物会对样品的特征X光子有强烈的吸收效应,进而影响EDS效果。通过等离子清洗可减弱样品表面的C沉积现象,进而改善EDS分析的效果。 图4所示为对样品进行等离子清洗前后经过相同电压相同剂量电子辐照后的表面状态。经过等离子清洗后的样品(右图)经过电子辐照C沉积明显减少,此时进行低电压EDS分析将更有利于Ultim Extreme能谱仪接收低能端光子信号,改善结果。 2. 样品漂移 样品漂移会造成细微结构展宽甚至畸变,对于含量很少或者尺寸很小的结构也可能因为样品的漂移而不能检出或检出结果与真实结构偏差较大。通常引起样品漂移的原因及解决方案如下: 碳导电胶坍塌所引起的物理漂移 常用的导电胶带内有大量气孔,在真空中这些气孔坍塌胶带发生变化,粘在其上的样品也会跟着移动。使用液体碳浆可解决此类问题。图5所示为10kV下含Bi粉末撒在碳胶带上和用液体碳浆进行固定的EDS分析结果,结果表明,即使是导电的大尺寸样品,使用C胶带进行固定(图5ab)也会发生颗粒的形状变化或者展宽等,而固化后的C浆(图5cd)则具有很高的稳定性,EDS元素面分布结果与电子图像完全匹配(碳浆选购网站www.51haocai.cn)。 样品导电性较差导致放电 使用低电压或低束流使样品表面达到电中性即可解决部分样品的放电漂移现象。但有的不导电样品难以通过此方法完全消除放电,此时可选择表面喷碳来解决。高倍下机台的稳定性 此类问题无法根除,只能通过跟踪样品的漂移来解决。牛津仪器AZtecLive能谱分析软件中提供了多种样品漂移矫正(Autolock)的模式来进行样品跟踪,以期获得理想的分析结果,如图6所示,高倍采集时,使用Autolock与否对颗粒物识别影响巨大。 图6. 高倍下采集EDS时,不使用AutoLock(左)和使用AutoLock(右)的比较 总结 通过扫描电镜及能谱仪,对10nm左右的纳米颗粒进行EDS分析时,推荐在低加速电压并配合牛津仪器大面积甚至无窗型Extreme的能谱采集,同时需要样品稳定性高并配合AutoLock功能,可以获得更好的空间分辨率结果。
  • 低电压下纳米颗粒的能谱EDS元素分析方案
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  • 我司成功开发出高性能瞬态光电压/光电流测试系统
    经过我司科技人员半年多的技术攻关,成功开发出太阳能电池高性能瞬态光电压/光电流测试系统,适用于钙钛矿结构、量子点结构和有机结构等太阳能电池测试。该系统采用特殊设计的低噪音放大电路确保该测试系统具有极高的灵敏度。同时考虑到材料的弛豫时间与太阳能电池结电容和取样电阻的相关性,采用优化的硬件设计方案确保了信号测量的真实性和完整性,带探针的样品仓夹使得更换样品和电学互联非常方便,基于Labview的测试软件可实时采集数据/图像显示功能。此外,采用外部调制的固体激光器而非昂贵飞秒激光器产生脉冲光(最短脉宽仅7ns)使得该测试具有高性能的前提下成本大大降低。 瞬态光电流/光电压测试系统 光电压测试模块和光电流测试模块 带探针的样品仓夹
  • 212万!广东工业大学手套箱与电流电压测试仪等设备采购项目
    项目编号:M4400000707015234001项目名称:手套箱与电流电压测试仪等设备采购(四次)采购方式:公开招标预算金额:2,128,500.00元采购需求:合同包1(金相显微镜探针台等设备采购):合同包预算金额:2,128,500.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)最高限价(元)1-1其他专用仪器仪表金相显微镜探针台1(套)详见采购文件199,000.00-1-2其他专用仪器仪表高温分析探针台1(套)详见采购文件158,000.00-1-3其他专用仪器仪表探针台5(套)详见采购文件245,000.00-1-4其他专用仪器仪表电容电压特性测试仪5(套)详见采购文件180,000.00-1-5其他专用仪器仪表电流电压测试仪10(套)详见采购文件500,000.00-1-6其他专用仪器仪表少子寿命测试仪5(套)详见采购文件150,000.00-1-7其他专用仪器仪表霍尔效应测试仪5(套)详见采购文件27,500.00-1-8其他专用仪器仪表四探针测试仪5(套)详见采购文件115,000.00-1-9其他专用仪器仪表晶体管图示仪5(套)详见采购文件45,000.00-1-10其他专用仪器仪表数字荧光示波器16(套)详见采购文件496,000.00-1-11其他专用仪器仪表万用表10(套)详见采购文件13,000.00-本合同包不接受联合体投标合同履行期限:自合同签订之日起至质保期满之日
  • 绝缘油击穿电压测定仪:采用干式变压器组合
    A1160绝缘油介电强度测定仪符合GB/T507 、DL/T429.9标准,用于检验绝缘油被水和其他悬浮物质物理污染的程度。测定方法是将试油放在专业的设备内,经受一个按一定速度均匀升压的交变电场的作用直至油被击穿。可广泛应用于电力、石油、化工等行业。仪器特点1、采用双CPU微型计算机控制。2、升压、回零、搅拌、显示、计算、打印等一系列操作自动完成。3、具有过压、过流、自动回零保护装置,可靠。4、采用自动正弦波产生装置和无级调压方式加压,使测试电压稳定可靠。5、2KV/S和3KV/S两种加压速度供选择,适应性强。6、数据自动存储,并可随时调出和打印。7、采用干式变压器组合,具有体积小巧、重量轻、使用方便。技术参数升压速度:2.0~3.02KV/S可调准确度:2%测量范围:0~80KV分辨率:0.01KV试验次数:6次(1-9次可调)实验杯数:1杯显示方式:液晶显示搅拌时间:磁力搅拌静止时间:15分 (0~59分可调)间隔时间:3~5分 (0~9分可调)工作电源:AC220V±10%,50Hz环境温度:5℃~40℃ 环境湿度:≤85%外形尺寸:460mm×380mm×360mm重 量:30kg
  • 如何正确选择扫描电镜加速电压和束流 ——安徽大学林中清32载经验谈(8)
    p style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="text-indent: 2em "【作者按】/span/strongspan style="text-indent: 2em "扫描电镜测试条件的选择主要包括以下四个方面:加速电压、束流与工作距离、探头。前两个主要影响样品信息的溢出,后两者影响着信息的接收。测试条件选择的是否合适,决定了您能获得怎样的测试结果。/spanbr//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "本人在第一篇32载经验谈《扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系》一文中,就加速电压与图像分辨力的辨证关系进行了深入的探讨。充分分析了改变加速电压会给表面形貌像的分辨力带来怎样的变化;解答了为什么获取高分辨像,钨灯丝扫描电镜要选择较高的加速电压(10KV以上),而场发射扫描电镜需要选择较低的加速电压;阐述了场发射电镜为什么会比钨灯丝电镜有着更高的分辨能力。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 除了对图像分辨力的影响,加速电压的改变还会在样品的信息特性、荷电的产生及应对等方面对测试结果产生较大的影响。一直以来,许多专业人员对此,普遍存在一种单调的思维模式及处理方法,这将给最终的测试结果带来偏差。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "这种认识上的偏差也存在于束流的选择上,对最终测试结果同样会形成很大的影响。错误的束流选择,你将无法获得完美的测试结果,还会给仪器的调整带来麻烦。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 本文将通过大量的实际测试事例,为大家充分展示,选择不同的加速电压及束流究竟能给测试结果带来怎样的影响。分析形成这种结果的原因,以及传统观念在加速电压和束流选择上存在怎样的认识偏离。为今后大家在进行扫描电镜测试时,合理的选择加速电压和束流提供一些参考。/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="color: rgb(0, 176, 240) font-size: 18px "strong一、 加速电压的选择/strong/span /h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压的选择除了对表面形貌像的细节分辨力存在极大影响,还在以下几个方面影响着测试结果:1. 获取的样品信息在样品中所处的位置,表层还是内层;2. 荷电场形成的位置及强度。而无论在那一方面,改变加速电压所带来的变化都充满了辨证法的规律。下面将以充分的事例来加以展示。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.1 加速电压与图像分辨力的关系/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压与图像分辨力的辨证关系,前文有充分的探讨,在此将只做简单的描述。本节主要是以充分及清晰的事例来展示,改变加速电压将带来怎样的图像分辨力变化。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "提升加速电压对图像分辨力会产生两种相互对立的影响:/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1. 从信息扩散来说,不利于获取高分辨形貌像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2. 对电子束发射亮度的提升,有利于高分辨图像的获取。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "这两方面的共同结果必然是存在一个最佳值或最佳范围。这个值与样品特性和其它测试条件的选择都有关联。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "实际测试中,应先对图像所显示的样品信息特征作出正确研判,然后再做出正确的调整来找到这个最佳值。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "br//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/fa2635bd-6b96-4bce-9171-265cc0bb3c82.jpg" title="1.png" alt="1.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "想获取更好的介孔形态必须降低加速电压。改用小工作距离测试,可缩少电子束裙散和透镜球差形成的弥散并增加探头对信号的接收效果,使得对电子束发射亮度的要求降低。此时选择1KV加速电压即可获取更佳的图像效果。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/9d154d57-9819-4674-bf25-23c1d0da39ff.jpg" title="2.png" alt="2.png"//pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong实例二、小工作距离、减速模式的加速电压选择(kit-6介孔)/strong/pp style="text-align: center text-indent: 0em " img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/23ccfeb0-85bf-47d4-b1ee-9189f64bb660.jpg" title="3.png" alt="3.png"//pp style="text-indent: 0em "br//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.2 加速电压与样品中的信息分布/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "样品中的信息分布:指样品信息所处位置,表层?内部?/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压的提升,电子束在样品表层激发的信息将减少,内部信息的激发会增多。选取不同加速电压对样品进行分析,有助于获取更全面、更充分的样品信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong实例一、二氧化钛与银的复合膜 /strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 该样品是将二氧化钛与银颗粒分层蒸镀在玻璃表面,银颗粒起先分布在极表层。高温烧结后观察薄膜表面形貌的变化及银颗粒存在的位置。先采用XRD与XPS检测银含量的变化,均未检测到银的存在。扫描电镜检测的结果如下:/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/71cf90d7-a4fc-4797-bc79-d5f88a725f06.jpg" title="4.png" alt="4.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "上例我们可以看到,任何测试条件的选择都有其局限性,很难单独给出全面的样品信息。需要不停的改变测试条件,综合分析才能够获取更全面且充分的样品信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong实例二,含有钴颗粒的核壳结构碳球/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "内部为结构紧密的碳球,包裹一个球形的碳壳层,中间有钴纳米量子点存在。以下组图将给我们提供完整信息:/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/b149b0cd-9014-4a7f-b45d-0f5e58750392.jpg" title="5.png" alt="5.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "这组照片,合在一起才能提供样品的完整信息:一个核壳结构的碳球,内部是高密度球体,中间为絮状夹层,钴颗粒镶嵌于絮状夹层中,极表层较为平实。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/87b50fb1-9fcb-41ae-9720-81e2eb095201.jpg" title="6.png" alt="6.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong实例三、石墨烯的观察/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "单层石墨烯厚度仅不到一个纳米,个人观点:较难形成可被扫描电镜观察到的衬度。一般说,十来层左右的碳层被观察到的可能性更高,加速电压较低可观察到的碳层也较薄。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/652f21c2-13d1-45a3-ac00-f2be0b08c4c5.jpg" title="7.png" alt="7.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "对簿膜样品加速电压选择低一些,效果较好,但有个度。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.3改变加速电压对样品荷电场强度与位置的影响/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "样品的荷电现象:高能电子束轰击足够厚的样品,如有电子驻留在样品中漏电性较差的部位,将形成静电场影响该部位及附近电信号的正常溢出。出现异常亮、异常暗或磨平的现象,这就是样品的荷电现象,该静电场也称“荷电场”。(关于样品的荷电现象,后期将有专文加以深入探讨)。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "影响样品荷电场形成的因素有许多,加速电压正是其中最为重要的一个方面。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压对样品荷电场的影响主要表现在以下几点:/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.加速电压的升高,发射亮度增加,使得注入样品的电子数增加,荷电场强度得以加强,将加重样品的荷电现象。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.加速电压的升高,电子击入样品的深度增加,形成荷电场的位置下移,达一定值时,对样品电信号溢出的影响将会减弱直至消除。但SE2的增加,会影响表面细节的分辨。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "3.加速电压的升高,使得背散射电子能量增加,背散射电子能量越大,其溢出量受荷电场的影响也就越小。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong实例一、介孔材料KIT - 6不同加速电压下的荷电现象 /strong/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/f1a4138c-34fa-47e0-9b73-51fa3f0e6e15.jpg" title="8.png" alt="8.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/e691f38e-c9b1-4ea9-9cd5-c67cf0df65d4.jpg" title="9.png" alt="9.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong实例二、二氧化硅小球,减速模式的加速电压与荷电/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二氧化硅小球。形态松软,容易形成样品的荷电现象。主流观点:减速、低电压是解决样品荷电问题的最佳方案,且加速电压越低,荷电现象越弱。真实情况却未必如此。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "用减速模式500V、1KV,观察得出的是如下结果:/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/764fd804-f00b-4e93-bed6-03b652d70f53.jpg" title="10.png" alt="10.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em " /spanbr//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong实例三、钼化铬纳米颗粒/strong/pp style="text-align: center text-indent: 0em "strongimg style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/f222ae41-0b71-45ac-9969-ca0e2806ff94.jpg" title="11.png" alt="11.png"//strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "以上三例可见,无论采用何种模式,加速电压与样品的荷电现象之间都存在一个辩证的关系。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压升高,会增加注入到样品中的电荷总量,提升样品中的荷电场强度,加重样品的荷电现象。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "提升加速电压,电子注入样品的深度增加,自由电子在样品中形成堆积的位置下移至更深处,荷电场位置也将下沉。荷电场的下沉会逐步减弱其对样品表面电子溢出量的干扰,荷电现象也将逐步减弱,但这是一个量变到质变的过程。当加速电压达到一定值,荷电场接地形成电荷通道,此时样品中多余的自由电子完全消失,样品中也就不存在荷电场。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压的提升,可以增加背散射电子的能量,达到一定值,背散射电子信息将克服荷电场对其正常溢出的影响,减弱并消除形貌像所显现出的样品荷电现象。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "因此不能简单的认为:低加速电压是不蒸金解决样品荷电的唯一有效途径。以辩证的思维方式来综合评估各方面的影响,合理选择加速电压才是应对样品荷电的有效方式。/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="color: rgb(0, 176, 240) font-size: 18px "strong二、束流大小的选择/strong/span/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "目前主流的观点认为:束流越大,电子束斑的直径越大,束斑直径越大,图像的分辨率越差。各电镜厂家的工程师在进行分辨率测试时,都会选用小束流,但观察的都是信号量充足的标准样品(金颗粒)。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "实际测试时,常发现小束流下样品的整体信息量较差 ,很难形成高质量表面形貌像。那么该怎样选择合适的束流?/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "依辩证法的观点,降低束流强度将得到以下两个矛盾的结果:/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1. 束斑直径降低,信号溢出区面积减小对图像清晰度有利且能降低荷电场强度,削弱样品荷电的影响。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2. 减少注入样品的电子量,信号量将减弱,不利图像分辨。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "而现实的操作中,在主流观点的影响下,往往把眼光只放在第一点上,夸大束斑直径的影响,忽视束流强度不足所引起的信号量缺乏,故常常无法获得高质量的高分辨图像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "特别在面对氧化物、高分子等本身信号较弱的材料时,信号量常常是关键点,小束流的模式很难获得满意的结果。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "span style="font-size: 16px "strong style="font-size: 14px text-align: center text-indent: 2em "实例一、钴纳米颗粒和碳材料,不同束流下图像质量的比较/strongstrong style="font-size: 14px text-align: center text-indent: 2em "/strong/span/pp style="text-align: center text-indent: 0em "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/29ecf822-c796-4da0-a394-fa93a248c2d0.jpg" title="12.png" alt="12.png"//pp style="text-align: center text-indent: 0em "span style="text-indent: 2em "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/858092ec-e7c9-4e0e-a8e3-a1564d3b4800.jpg" title="13.png" alt="13.png"/ /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " /pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/f8de383e-1046-4e7d-a4d1-540843a72d14.jpg" title="14.png" alt="14.png"/span style="text-indent: 0em " /span/pp style="text-align: center text-indent: 0em " img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/34a0c424-2f08-44fe-8f0c-cd31c149f9ab.jpg" title="15.png" alt="15.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "以上四例说明:束流的选择同样也遵循辩证法的规律,束流改变带来的往往是正、反两方面影响。如何平衡这些影响获取最佳的结果,还与样品的特性有关,必须全面考虑。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "样品本身信号量充足且漏电能力较差,束流适当选择较低一些,可以减少荷电的影响,提升图像的清晰度,但图像信噪比就是牺牲的对象。反之,束流应当选择稍高一些,可以获得的样品信号量更为充分,图像的质量更佳。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "依据个人的测试经验,起始条件选择的束流大一些,综合效果会更好。选择小束流,常常会使得图像的信息量不足,分辨力减弱过多,很多细节反而分辨不清。欲对仪器做出适当的调整,看清信息是基础,信息太弱会失去调整的方向。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "任何测试条件的选择都应当坚持适度性原则。具体问题、具体分析,摒弃单调的思维模式,才能找到最佳的测试条件,获得满意的测试结果。/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="font-size: 18px color: rgb(0, 176, 240) "strong三、结束语/strong/span/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em " 本文通过大量的实例给大家展示,不同加速电压及束流的选择,究竟能带给我们怎样的测试结果。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "辨证的观点要求我们能够做到具体问题、具体分析。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "摒弃单调的思维模式,有助于我们选择正确的测试条件,获得满意的测试结果。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "同样的样品、不同的测试条件获取的样品信息不同。单一的测试条件往往很难带给我们完整且充分的样品信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "要获取充分的样品信息,需要测试者能准确预判出测试条件的改变对测试结果会产生怎样的影响。做到这一点,测试者的经验积累十分重要。希望本文的各种实例,能对大家在加速电压和束流选择方面的经验累积提供一些帮助。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong参考书籍:/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《扫描电镜与能谱仪分析技术》张大同2009年2月1日/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "华南理工出版社/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 《微分析物理及其应用》 丁泽军等 2009年1月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "中科大出版社/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 《自然辩证法》 恩格斯 于光远等译 1984年10月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "人民出版社 /pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《显微传》 章效峰 2015年10月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 清华大学出版社/pp style="text-indent: 2em "strong作者简介:/strong/pp style="text-indent: 2em text-align: justify "img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 80px height: 123px float: left " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/6dc1a11e-8c90-4ad2-be79-65574928318f.jpg" title="741ca864-f2b8-4fc3-b062-2b0d766c5a7b.jpg" alt="741ca864-f2b8-4fc3-b062-2b0d766c5a7b.jpg" width="80" height="123" border="0" vspace="0"/林中清,1987年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累,渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论,使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案,在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破,其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。 /pp style="text-indent: 2em "strong延伸阅读: /strong/pp style="text-indent: 2em "strong/strong/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200414/536016.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜操作实战技能宝典——安徽大学林中清32载经验谈(7)/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200318/534104.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜的探头新解——安徽大学林中清32载经验谈(6)/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="http://二次电子和背散射电子的疑问(下)——安徽大学林中清32载经验谈(5)" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "二次电子和背散射电子的疑问(下)——安徽大学林中清32载经验谈(5)/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="http://二次电子和背散射电子的疑问[上]-安徽大学林中清32载经验谈(4)" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "二次电子和背散射电子的疑问[上]-安徽大学林中清32载经验谈(4)/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="http://电子枪与电磁透镜的另类解析——安徽大学林中清32载经验谈(3)" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "电子枪与电磁透镜的另类解析——安徽大学林中清32载经验谈(3)/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20191126/517778.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜放大倍数和分辨率背后的陷阱——安徽大学林中清32载经验谈(2)/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20191029/515692.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈/span/a/p
  • 从实验到成功,绝无侥幸 —— 耐驰访上海交通大学材料科学与工程学院 顾教授
    海电气集团旗下上海重型机器厂有限公司(后面简称上重厂)与上海交大材料学院共同建立的&ldquo 大型铸锻件工程技术中心&rdquo ,长期专攻核电装备自主创新关键材料。每周四,交大材料学院的研发团队,都会在年近8旬的潘健生院士带领下,前往闵行江川路上的上重厂,了解已合作了多年的核电大锻件材料、热处理项目进展情况,然后把问题带回学校实验室一一进行模拟和分析,找出解决的办法。前些年,上重厂采用"碗口朝下"的传统淬火方式,对核电压力容器的封头锻件进行热处理,连续几次都失败了,好几百万打了水漂。交大团队加入后,从头研发,最终在潘院士的领导下成功开发了一套&ldquo 碗口朝上&rdquo 的热处理工艺,产品一次热处理成功,这是非常重要的创新。耐驰:请您谈谈热分析技术在大型铸锻件热处理工艺中的重要性? 顾教授:大型锻件由于重量大,通常在几十吨以上,热处理难度大。通常通过计算机模拟热处理过程大锻件内部的温度场、组织转变和应力/应变的演化过程是进行热处理工艺设计与优化的极其重要手段。要实现精确模拟,准确的材料参数是必需的。耐驰:请问在核电压力容器封头锻件热处理工艺研发过程中,您最注重材料的哪些热物性参数?顾教授:通常用到的热物性参数包括:热膨胀系数,比热,导热系数,密度等,这些都是要从高温到低温不同温度下的数据,而且针对钢中不同的组织(马氏体、贝氏体、珠光体、奥氏体等)分别测定。实验测试量大,方案设计也难度大。还有,相变动力学数据也很重要。它也能够通过吸放热来测定,主要测定不同类型相变吸放热的定量数据,同时抽取其中动力学信息。由于钢的相变温度较高,对设备要求较高,甚至需要控制加热/冷却速度。耐驰:您是通过怎样的测试方法取得这些参数?顾教授:目前,通过使用包括耐驰仪器在内的不同设备,进行测试来获取材料的各种性能参数。由于需要通过计算机模拟来指导大锻件的热处理生产工艺,因此对基础数据的准确性有非常高的要求。耐驰:请问您对耐驰仪器的使用感受如何?顾教授:正如前面提到的,只有获得精确数据,我们进行计算机模拟时候才能对结果更加放心。而我们使用的耐驰高温DSC和同步热分析仪STA,其表现出宽广工作温度范围,优化的试验气氛条件、天平的高稳定性和低漂移度、多样且灵敏的传感器,为提供优质的数据铺垫了扎实的基础,耐驰可堪称是科研的好助手,期待耐驰能继续做大作强。后续据了解三年来,在交大项目组的攻关下,上重厂在三代核电机组的稳压器锻件、四代核电机组的高温气冷堆/压力容器和堆内构件大锻件等四项技术中率先突破,先后实现国际首台和国内首台的业绩。通过在实践中摸索和研究,交大材料学院梳理出大型铸锻件热制造过程中的科研共性难题,向国家申报了重大基础研究项目,目前该课题已被列入国家973计划并已正式启动。耐驰祝愿交大与上重厂的通力合作能为我国核电事业各项技术指标挤入世界前列发挥持久而强大的推动力。 上海交通大学金属基复合材料国家重点实验室-DIL 上海交通大学金属基复合材料国家重点实验室-TCT 上海交通大学热能工程研究所-STA-MS/FTIR联用 上海交通大学化学化工学院电气绝缘材料重点实验室- LFA 上海交通大学化学化工学院电气绝缘材料重点实验室- DSC和TG如您有任何疑问,请点击此处发送邮件。
  • 低电压、无负染,LNP成像新突破——生物型透射电镜LVEM
    在近期的新冠疫情中,各类mRNA疫苗纷纷采用了LNP作为递送载体,有效避免了核酸被降解,提高了mRNA进入细胞的效率。在LNP的应用研究中,质量控制往往为重要也为困难的一环。LNP的质量(如其包封率、载药量与稳定性)很大程度上取决于其囊泡的结构是否均匀、稳定,这就需要研究人员对LNP进行透射电镜成像,来直接观测LNP的囊泡结构、粒径等形态信息。 随着科研的进步,人们对成像仪器的要求与日俱增。但是即便在高分辨成像设备多如牛毛的今天,生物样品的透射电镜成像却一直是一个难题。所谓“电镜易得,样品难求”,如何制得一个无损的电镜样品从而拍摄到清晰、高反差的生物样品图片,一直是生物样品透射电镜成像中的大的难题。这个难题很大程度上是由透射电镜的高电压与制样中的染色/负染步骤导致的。 负染是在使用传统透射电镜对生物样品成像时“不得不”采用的样品处理手段,但是负染的处理手段也会带来显著的问题: 、就是生物样品制样复杂,在制样染色过程中,样品容易产生收缩、膨胀、破碎以及内含物丢失等结构改变; 二、重金属盐离子本身会对生物样品的形貌造成不可逆的损害,这种损害在传统制样过程很难避免; 三、负染所得的“负像”并不能真实地反映生物样品的形貌特征,尤其对于LNP等囊泡结构,囊泡表面局部凹陷,可能会有少量染液遗留在凹陷处,或者载网表面有负染液残留的痕迹等,这些负染液在电镜观察时就会产生“假象”; 四、对于制样操作者的要求较高,生物样品的种类多种多样,而每一种生物样品负染时佳的制样条件(重金属盐溶液的种类、浓度,染色的时间长短等)都不一样。这就需要制样人员根据各自实验室的条件,在长时间地摸索与多次地试错来获取佳的制样条件,大量宝贵的时间和样品就这样浪费在染色制样条件的摸索中了; 五、传统透射电镜操作复杂,维护困难,而实验平台的透射电镜往往一“时”难求,生物样品的佳观测时间往往较短,经常会出现获得好的生物样品,却发现电镜早要在一周后才能预约的尴尬局面; 后,即便已经采用了负染等手段,LNP类的囊泡生物样品还是非常脆弱的,在成像过程中经常会出现囊泡被长时间电子流照射给“轰碎”的状况,这就迫使操作者加快操作速度,更加手忙脚乱。摆脱传统电镜桎梏的生物型透射电镜 Delong Instrument公司推出的LVEM生物型透射电子显微镜(LVEM5&25)采用了5kV与25kV的低加速电压设计,一次性地摆脱了上述所有的生物电镜成像难题,为生物样品的电镜成像提供为便捷高效的解决方案。 高衬度:低能量电子对有机分子产生更强烈的散射,具有更高对比度。无需染色:突破以往生物/轻材料成像需要重金属染色的局限性。高分辨率:无染色条件下能够达到1.5 nm的图像分辨率。多模式:LVEM5能够在TEM、SEM、STEM三种模式中自由切换。高效方便:真空准备只需要3分钟,空间小,环境需求低。易操作且成本低:友好智能化操作界面,低耗材,低维护费用,无需专业操作人员。生物样品友好 LVEM生物型透射电镜采用的5kV与25kV低电压设计,对生物样品不会造成任何损伤,与传统高压电镜相比,低电压反而提高了生物样品成像的衬度/反差;无需重金属染液负染,对于LNP等囊泡结构成像条件温和,摆脱了染液与负染过程本身可能对囊泡结构造成的损害,所得图像为“正像”,更加真实地展现囊泡的结构特征。 生物样品细节损失少 如下图所示,传统高压透射电镜本身就会带来样品细节损失,在80-120kV下的透射电镜成像过程中,大量十几纳米尺寸的颗粒会直接被“击穿”。而LVEM生物型透射电镜采用的5kV与25kV低电压设计,不仅避免了传统高压透射电镜长时间照射对于生物样品的损害,还可以保留下更多地小有机颗粒图像,获得更多地细节。小型化设计,操作更加方便 传统透射电子显微镜体积庞大,对放置环境有严格的要求,并且需要水冷机等外置设备。通常会占据整间实验室。LVEM电镜从根本上区别于传统电镜,尺寸较传统电镜缩小了90%,对放置环境无严格要求,无需任何外置冷却设备,可以安装在用户所需的任意实验室或办公室桌面。操作界面智能化,更加方便。 LVEM生物型电镜案例 LVEM生物型透射电镜对生物样品成像友好,除了LNP之外,对于病毒颗粒、外泌体、噬菌体、DNA、细胞切片等生物样品的成像效果也非常,可以满足研究人员多样化的成像需求,且其操作简便,制样简单,是使生物科研工作者研究更加游刃有余的“科研利器”。 部分用户单位:
  • 苏州纳米所报道长循环高电压聚合物基固态锂金属电池
    锂金属因具有高理论容量(~3860 mAh g-1)和低氧化还原电位(相对于标准氢电极为-3.04 V),是颇有前景的锂电池电极材料之一。然而,锂枝晶的生长将会顶穿隔膜,引起电池短路热失控,甚至引燃电解液等,存在安全隐患。使用具有高机械强度的固态电解质代替电解液,可以有效阻止锂枝晶生长,从而提高锂金属电池(LMBs)安全性。相比无机电解质较高的界面接触阻抗,聚合物电解质(SPEs)可与电极形成紧密的物理接触而备受关注。   然而,用于导锂的含氧极性官能团容易被氧化,成为限制电化学稳定性的瓶颈。虽然通过开环聚合消除弱键、引入含氟官能团等策略可拓宽电化学窗口(ESW),但宽ESW难以直接转化为长循环LMBs的高截止电压。一方面,测试ESW的线性扫描伏安法使用的阻塞电极通常是平坦的不锈钢,与具有高表面积碳导电剂的实际电极相比,显示出较低的反应活性,易高估ESW;另一方面,具有过渡金属的正极材料较强的催化活性,易加剧氧化。目前,适用于截止电压为4.5V或更高的长循环LMBs的聚合物电解质有待证明。   近日,中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所应用多氟化交联剂来增强聚合物电解质的抗氧化性。交联网络有助于传递多氟化链段的吸电子效应,并具有普适性。进一步通过组分优化后,基于多氟交联剂的聚合物电解质同时表现出宽ESW、高电导率和高机械强度。组装的Li||NCM523全电池在0.5C和4.5 V的截止电压,获得了~164.19 mAh g-1的高放电比容量,并在200次循环后容量保持率90%,是当前领域报道的最佳循环稳定性之一。   相关研究成果以Polyfluorinated crosslinker-based solid polymer electrolytes for long-cycling 4.5 V lithium metal batteries为题,发表在《自然-通讯》(Nature Communications)上。研究工作得到国家重点研发计划、国家自然科学基金、中科院稳定支持基础研究领域青年团队计划、江苏省碳达峰碳中和科技创新专项等的资助,并获得苏州纳米所纳米真空互联实验站(Nano-X)的技术支持。新加坡南洋理工大学科研人员参与研究。图1.SPE的制备图2.SPE的ESW。a.Li|PVEC/P(IL-OFHDODA-VEC)|C的LSV曲线;b.PIL、POFHDODA、PVEC、P(IL-OFHDODA)、P(IL-VEC)和P(OFHDODA-VEC)的ESW。图3.Li|P(IL-OFHDODA-VEC)|NCM523全电池的电化学性能。a.Li|P(IL-OFHDODA-VEC)|NCM523全电池在0.5 C下的循环性能;b.Li|P(IL-OFHDODA-VEC)|NCM523全电池的第1-200次充放电曲线;c.Li|P(IL-OFHDODA-VEC)|NCM523全电池的倍率性能;d-f.充满电的Li|P(IL-OFHDODA-VEC)|NCM523软包电池在折叠前(d)和折叠后(e)或切割后(f)点亮LED灯的照片。
  • 研究团队成功开发高耐久柔性突触半导体材料
    据韩国成均馆大学消息称,该校电子电气工学系研究团队成功开发了高耐久性柔性突触半导体元件。研究成果刊登在国际学术期刊《科学观察》上。  近年来,物联网技术在便携式智能设备领域应用需求迅速增加,特别是柔性电子(Flexible Electronics)在机器人工程及智慧保健医疗领域的应用备受关注。研究组在聚酰胺材料的柔性基板上,将数十纳米厚的非晶体氧化物半导体薄膜进行沉积后作为通道,组成非晶体氧化物半导体、离子—凝胶混合结构,研发出可通过电脉冲信号控制的柔性突触半导体元件,该元件在机械、电压力测试后,表现出稳定的静态及动态动作特性。研究团队利用该元件,制作了弹性阻力传感器安装在手上,通过实验验证了可适用于神经元系统(sensory-neuromorphic systems)。  注:本文摘自国外相关研究报道,文章内容不代表本网站观点和立场,仅供参考。
  • 苏州热工研究院验收我司100kv电压击穿试验仪
    苏州热工研究院验收我司100kv电压击穿试验仪和ATI-212电阻率测试仪,我司工程师上门安装调试,成功验收得到客户的好评,下面是客户调试现场
  • 扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈
    p style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="text-indent: 2em "作者按:/span/strongspan style="text-indent: 2em "加速电压对扫描电镜分辨力的影响目前很难有定论。各电镜厂家所给出分辨率指标的指向是加速电压越高分辨率越好。实际检测过程中常常发现,加速电压越高我们所能获得的样品表面细节却越少。本文将尝试用自然辩证法的观点来分析产生这种现象的原因。/spanspan style="text-indent: 2em " /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "对于扫描电镜加速电压与分辨力关系的认识,存在着两种相互矛盾的观点。即“加速电压越低分辨力越好“、“加速电压越高分辨力越好”。形成这种相互矛盾表述的原因在于我们那种机械、单调的思维模式。在一次偶尔观看的综艺节目中,有嘉宾提到“两面性看问题”这种辩证法的观点对我触动很大,由此开始尝试将辩证法的观点引入到对扫描电镜的认识中来,从而获得许多有意思的结果。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "由于篇幅原因,本文将只探讨加速电压对扫描电镜分辨力的影响。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "strong一、 自然辩证法及其三大规律/strong/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《自然辩证法》是德国哲学家弗里德里希· 恩格斯一部未完成的著作。在著作中对当时的自然科学成就用辩证唯物主义的方法进行了概括,提出了对事物认识中存在的“对立统一”、“否定之否定”、“量变到质变”三大规律。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "这三大规律告诉我们:任何事物都存在着相互矛盾、相互否定的几个方面,而这些方面各自间的量变会导致事物整体发生质的变化。比如,我们人类一出生,每个个体就包含了“生、死”这两种相互矛盾、相互否定的因素。起先 “生”是主因,因此我们人类就处在一个成长的过程中。但是随着年岁的增长这个主因会做减速变化,而另一个主因“死”会做增速的变化。达到一定时候,也就是“人到中年”,我们将进入生命最旺盛的时期,同时我们也达到了“生、死”这两个主因的主导地位发生变化的关口。接下来 “死”这个因素将占据主导地位,生命个体也开始走入死亡阶段,由此发生质的变化。这就是 “量变到质变”,一切取决于“度”。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "扫描电镜测试条件的改变对结果影响也遵循这样的规律。任何一个条件的改变必然带来正、反两个方面效果。当正面效果是主导因素时,这个条件增加带来的结果就越好。但随着条件进一步增加反面效果必然占据主导地位,此时该条件继续增加,所带来的结果就会变差。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "下面以扫描电镜加速电压这个因素的改变,来讨论其对图像细节分辨力这个结果的最终影响。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "strong二、扫描电镜加速电压与分辨力的基本认识/strong/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong2.1几个相关名词:/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "分辨力、加速电压、电子束发射亮度、span style="text-indent: 2em "电子枪本征亮度、样品的信号扩散/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.1.1分辨力:/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "“分辨力”指的是扫描电镜分辨细节的能力。分辨力越强我们获取的样品细节也就越多。许多时候我们喜欢用“分辨率”这个概念来描述,但是分辨率这个概念往往和某一确定的数值有关。扫描电镜分辨率的值到底是多少?其影响因素非常多,我们目前还无法找到合适的标样或公式来进行令人信服的科学验证。因此本人倾向用“分辨力”这个模糊的概念来代替。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.1.2 加速电压:/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "电镜的电子枪都设计为三级结构:钨灯丝为阴、栅,阳;场发射是阴、第一阳极、第二阳极。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "电子束是由阴极、栅极(钨灯丝)或阴极、第一阳极(场发射)形成。该电子束由加载在阴极、阳极或阴极、第二阳极上高压形成的电场加速,给电子束提供能量以形成高能电子束。该电压称为“加速电压”。加速电压越高,形成的电子束能量越大。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 2.1.3电子束的发射亮度:/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "电子光学中的亮度定义基本延续光学中关于亮度的定义,只是将功率改成了电流强度。其定义为:单位立体角内的束流密度,量纲是A/cm2.sr。该值受加速电压影响,基本与加速电压成正比关系。但加速电压对其的调整必须在一个水平线上进行,这个水平线就是电子枪的本征亮度(或称为约化亮度)。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "从电子束发射亮度的定义可以看到,发射亮度越大束流密度也越大、固体角越小。固体角小可以保证形成的信号范围小,高束流密度保证小范围产生大信号量。因此发射亮度大就保证样品在很小范围内产生更多的样品信息,有利于形成样品的高分辨像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.1.4电子枪的本征亮度:/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "电子枪是电子显微镜的光源。对于显微镜来说光源系统是基础,决定着显微镜品质的高低。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "描述电子枪品质的参数就是其“本征亮度”或称为 “约化亮度”。量纲是A/cm2.sr.KV。这个值扣除了加速电压影响,反映的是电子枪品质高低。本征亮度越大电子枪品质越好,越有利于形成高分辨像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "不同类型电子枪的本征亮度是不同的。电子枪本征亮度是一个常数,一旦电子枪制作完成其本征亮度也就确定了。钨灯丝、六硼化镧、热场、冷场这些不同类型的电子枪,本征亮度依次增大,由其为基础所制造的扫描电镜分辨能力也依次增强。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.1.5样品信号的扩散:/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "电子束与样品相互作用产生样品的各种信息。其中二次电子、背散射电子是扫描电镜表面形貌像的主要信息源。这些信息在样品中会有一定的扩散范围。扩散范围越大对图像的清晰度影响也越大,严重到一定程度就会影响到图像的细节分辨,从而降低图像的分辨力。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "信号的扩散范围与加速电压、样品特性以及所选的信号能量大小有关。加速电压越大、样品密度越低以及所选的信号能量越强,信号的扩散范围也就越大。图像分辨力也就越差。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压对样品信号扩散的影响如下图:span style="text-indent: 2em " /span/pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 500px height: 286px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/d9345286-9fa2-4321-a8a5-b7778aeeba5a.jpg" title="扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈 (2).jpg" alt="扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈 (2).jpg" width="500" height="286" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong电子束与样品相互作用产生的二次电子信号及溢出范围示意图/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "上图所示,电子束轰击到样品后所形成的每一种类样品信息都包含两部分(以二次电子为例):一部分是电子束直接激发并溢出样品表面,称为SE1;另一部分是由样品内部的背散射电子所激发并溢出样品表面,称为SE2。SE1主要集结在电子束周围,因此其扩散范围小,对样品表面细节信息影响也小。SE2由内部背散射电子产生,因此它们离散在电子束周边较宽的范围,且加速电压越大离散范围就越大对图像细节影响也越大。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong2.2电子枪本征亮度、电子束发射亮度、加速电压之间的关系/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "电子枪本征亮度、电子束发射亮度、加速电压之间遵循着以下关系:/pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 526px height: 76px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/1472813d-72df-437f-b19c-02bf1315466a.jpg" title="扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈.png" alt="扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈.png" width="526" height="76" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "由于电子枪本征亮度是一个定值,由此公式可见:加速电压和电子束发射亮度成正比,加速电压越高发射亮度也就越大。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="color: rgb(0, 176, 240) "三、 加速电压对扫描电镜分辨力的影响/span/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "任何仪器设备在测试过程中只做两件事:产生样品信息,接收及处理样品信息。因此对最终结果的影响,也必然是这两方面的综合效果。各种因素的叠加,起决定性的因素称为“最短板”,也就是影响最大的因素。最短板会随着测试条件的选择、样品的特性以及所需要的样品信息不同而发生改变。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "扫描电镜测试中需进行四大测试条件的选择:加速电压、束流、工作距离以及探头。其中加速电压和束流的选择主要影响的是信号产生,工作距离和探头的选择主要影响的是信号接收。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "自然辩证法的观点:任何一个条件的选择都会对最终结果形成正、反两个方面的影响。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压的选择也是一样,任何一次加速电压的改变都会带来电子束发射亮度以及信号扩散的变化。以加速电压的提升为例:升高加速电压会带来电子束发射亮度的提升,有利于我们获取样品高分辨像;同时会带来样品信息溢出区域的扩大,不利于我们获取样品高分辨像。加速电压的提升对最终结果影响是有利还是不利,取决于那个因素是“最短板”。信号扩散是最短板,加速电压越高则图像分辨能力越差。/pp style="text-align:center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 500px height: 422px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/18861c0d-0bc8-4dce-b058-1a3670030c7f.jpg" title="扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈 (2).png" alt="扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈 (2).png" width="500" height="422" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong上图为介孔材料在四个不同加速电压下的结果/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "从上图可见,加速电压小于2KV时,SE1为信号主体,电子束发射亮度是“最短板”,此时,如上面两张图片所示,加速电压越高分辨力越好。当加速电压超过2KV时,SE2将变成信号主体,信号扩散将转变为“最短板”,我们看到下面两张图片的结果,加速电压越高细节分辨越差。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "因此我们可以看到,任何条件的改变都会带来正、反两方面的结果,而最终结果取决于 “最短板”。 “最短板”也会随着测试条件的改变而发生变化。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压改变对分辨力的影响从电子束发射亮度的角度出发来分析,同样也是充满着自然辩证法的规律。想要获得高质量、高分辨的扫描电镜图像,电子束的发射亮度必须达到一定值,可以将这个值定义为:基本亮度。这个值就如同扫描电镜灯丝饱和点一样,在没有达到 “基本亮度”时,加速电压的改变对高分辨像影响的 “最短板”出现在电子束发射亮度上,此时加速电压越高分辨率越好。而电子束发射亮度超过这个值以后,电子束发射亮度提升对最终结果的影响将大大减少,加速电压提升形成的信号扩散将成为影响最终结果的“最短板”,此时加速电压越高仪器的分辨力将大大的减弱。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "通过2.2中给出的关系式,我们可以清晰的解释为啥钨灯丝必须选择较高的加速电压,而低加速电压测试是场发射电镜的优势所在,也是场发射电镜高分辨测试的基本保证。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "钨灯丝电子枪的本征亮度要大大低于场发射电子枪,因此要想获得高分辨所需的“基本亮度”,就必须提高加速电压来满足需求,提高加速电压带来的结果就是信号扩散的增加。钨灯丝扫描电镜需要加速电压高于10KV才能获得高分辨像所需的“基本亮度”值,而这个值往往会使得样品信号扩散成为影响最终结果的主要因素,这就是钨灯丝电镜分辨率低的主要原因。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "扫描电镜高分辨像对加速电压选择的要求:信号扩散尽可能的小,电子束发射亮度尽可能的大。只有提升电子枪的本征亮度才能满足这个要求,这也是电子枪本征亮度越大分辨力也越强的缘由。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "过高的电子枪本征亮度也会对样品形成热损伤,当热损伤成为对最终结果影响的主体时,分辨力也就无从谈起。He离子镜就是实例。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "strong四、 结 束 语/strong/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "自然辨证法的精要在于:认识中的唯实践论,方法上的唯矛盾论。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "它以自然科学、人文科学、社会学等学科为基础,总结出了以“对立统一”、“否定之否定”、“量变到质变”三大规律为基础的世界观、认识论以及方法论。和我国传统哲学思想中的“中庸之道”、“过犹不及”等思维模式有着异曲同工之处。对我们认识事物,从事各种实践活动(科学、社会、人文等)都有着现实的指导意义。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "做任何事情、解决任何问题时都要正确认识到其所存在的两面性、矛盾性,避免单调的思维模式,正确把握适度性原则,将会使我们获得最佳的结果。 /pp style="text-align: right text-indent: 2em " strong安徽大学现代实验技术中心/strong/pp style="text-align: right text-indent: 2em "strong 林中清/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong参考书籍:/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《扫描电镜与能谱仪分析技术》张大同2009年2月1日 span style="text-indent: 2em "华南理工出版社/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《微分析物理及其应用》 丁泽军等 2009年1月 中科大出版社/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《自然辩证法》 恩格斯 于光远等译 1984年10月 人民出版社 /pp style="text-align: justify text-indent: 2em "br//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong作者简介:/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strongimg style="max-width: 100% max-height: 100% float: left width: 85px height: 132px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/6eed12e9-0e76-4aae-86bf-2d07a9410b00.jpg" title="扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈 (3).jpg" alt="扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈 (3).jpg" width="85" height="132" border="0" vspace="0"//strong林中清,87年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累,渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论,使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案,在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破,其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。 /p
  • 技术线上论坛| 6月15日《深入“探索”台式低电压透射电镜,专为生物、医学、轻元素样品而来》
    [报告简介]受限于传统透射电子显微镜过高的加速电压,传统电子显微镜成像时需要对C/H/O/N等元素组成的生物样品进行重金属盐离子负染。而负染过程本身会对生物样品带来不可避免的损害,且容易产生“假象”。而且负染操作需要对重金属盐溶液的种类、浓度,染色的时间长短等诸多实验条件进行摸索的试错,这也提升了生物样品制样的难度。在成像过程中,传统透射电镜80kV以上的加速电压也非常容易击碎生物样品,对生物样品产生不可逆地破坏。综上所述,对生物样品的成像一直以来就是传统透射电子显微镜的短板。 由Delong公司推出的LVEM系列生物型透射电子显微镜,地解决了以上的问题。其采用的5kV和25kV低电压设计,对生物样品不会造成任何损伤,与传统高压电镜相比,低电压反而提高了生物样品成像的衬度/反差;无需重金属染液负染,对生物样品成像条件温和,摆脱了染液与负染过程本身可能对生物结构造成的损害,所得图像为“正像”,更加真实地展现生物样品的结构特征。LVEM生物型透射电镜可以对外泌体、脂质体、噬菌体、病毒、细胞切片等生物样品进行无负染成像,所得的图像衬度更高。 本次讲座,我们将具体介绍LVEM生物型透射电镜的技术特点,对生物样品的制样步骤,并分享多种生物样品的成像实例。[直播入口]请扫描下方二维码进入生物型透射电子显微镜技术交流群,届时会在微信群中实时更新直播入口,无需注册!扫码进群,即刻获取直播链接,无需注册![报告时间]开始 2022年06月15日 10:00结束 2022年06月15日 10:30[主讲人介绍]曹宇棽 工程师曹宇棽,北京交通大学生物工程与分子生物学硕士。2020年加入Quantum Design中国子公司,担任产品经理,负责多功能低电压台式透射电子显微镜。 熟悉低电压透射电镜的成像技术,在生物样品的电镜成像领域有丰富的经验。摆脱传统电镜桎梏的生物型透射电镜Delong Instrument公司推出的LVEM生物型透射电子显微镜(LVEM5&25)采用了5kV与25kV的低加速电压设计,一次性地摆脱了上述所有的生物电镜成像难题,为生物样品的电镜成像提供为便捷高效的解决方案。 高衬度:低能量电子对有机分子产生更强烈的散射,具有更高对比度。无需染色:突破以往生物/轻材料成像需要重金属染色的局限性。高分辨率:无染色条件下能够达到1.5 nm的图像分辨率。多模式:LVEM5能够在TEM、SEM、STEM三种模式中自由切换。高效方便:真空准备只需要3分钟,空间小,环境需求低。易操作且成本低:友好智能化操作界面,低耗材,低维护费用,无需专业操作人员。LVEM生物型电镜案例LVEM生物型透射电镜对生物样品成像友好,除了LNP之外,对于病毒颗粒、外泌体、噬菌体、DNA、细胞切片等生物样品的成像效果也非常,可以满足研究人员多样化的成像需求,且其操作简便,制样简单,是使生物科研工作者研究更加游刃有余的“科研利器”。 部分用户单位:技术线上论坛:https://qd-china.com/zh/n/2004111065734
  • 生物样品成像新突破!低电压台式透射电子显微镜落户上海大学附属南通医院老年医学研究院
    低电压台式透射电子显微镜-LVEM25是由Delong Instrument公司研发推出的新一代生物友好型透射电子显微镜,设备采用25kV的加速电压设计,对生物样品不会造成任何损伤,摆脱了染液与负染过程本身可能对生物样品结构造成的损害,可以高效、高衬度地对生物样品进行透射电镜成像。 近日,Quantum Design中国顺利将低电压台式透射电子显微镜-LVEM25安装于上海大学附属南通医院老年医学研究院,并为用户进行详细的仪器介绍和操作培训,其优越的生物样品、纳米材料表征特点将协助上海大学附属南通医院在老年病研究、外泌体等研究方向取得进一步发展。 上海大学附属南通医院低电压台式透射电子显微镜-LVEM25上海大学附属南通医院低电压台式透射电子显微镜-LVEM25培训现场上海大学附属南通医院低电压台式透射电子显微镜-LVEM25培训现场 Delong Instrument公司推出的LVEM低电压台式透射电子显微镜(LVEM5&25)采用了5kV与25kV的低加速电压设计,为生物样品的电镜成像提供便捷高效的解决方案。 高衬度:低能量电子对有机分子产生更强烈的散射,具有更高对比度。无需染色:突破以往生物/轻材料成像需要重金属染色的局限性。高分辨率:无染色条件下能够达到1.0nm的图像分辨率。高效方便:真空准备只需要3分钟,空间小,环境需求低。易操作且成本低:友好智能化操作界面,低耗材,低维护费用,无需专业操作人员。部分高分文献:[1] Babaei-Ghazvini A , Cudmore B , Dunlop M J , et al. Effect of magnetic field alignment of cellulose nanocrystals in starch nanocomposites: Physicochemical and mechanical properties[J]. Carbohydrate Polymers, 2020, 247:116688.[2]Process Pathway Controlled Evolution of Phase and Van‐der‐Waals Epitaxy in In/In2O3 on Graphene Heterostructures[J]. Advanced Functional Materials, 2020.[3] Sun C , Ma Q , Yin J , et al. WISP-1 induced by mechanical stress contributes to fibrosis and hypertrophy of the ligamentum flavum through Hedgehog-Gli1 signaling[J]. Experimental & Molecular Medicine.[4] Wang H , Maimaitiaili R , Yao J , et al. Percutaneous Intracoronary Delivery of Plasma Extracellular Vesicles Protects the Myocardium Against Ischemia-Reperfusion Injury in Canis[J]. Hypertension, 2021.[5] Weiss M , Fan J , Claudel M , et al. Density of surface charge is a more predictive factor of the toxicity of cationic carbon nanoparticles than zeta potential[J]. Journal of Nanobiotechnology, 2021, 19(1).[6] Su, Yu, et al. "Steam disinfection releases micro (nano) plastics from siliconerubber baby teats as examined by optical photothermal infrared microspectroscopy." Nature nanotechnology 17.1 (2022): 76-85. 部分用户单位:
  • 低电压透射电镜LVEM 5助力“生物导弹”载体复合物纳米颗粒的相关研究
    癌症的治疗一直是医学科学家研究的前沿方向,靶向治疗作为一种定向杀灭癌/肿瘤细胞的治疗方法,俨然成为癌症治疗的研究热点。简单来说,靶向治疗就是在细胞分子水平上,针对已明确的致癌位点来设计相应的治疗药物,药物进入体内会特定选择致癌位点相结合,杀死特定的肿瘤细胞,但不会波及肿瘤周围的正常组织细胞,因此又被称为“生物导弹”。 在这种“生物导弹”研究中,生物可降解聚合物纳米粒子经常作为药物的载体应用于靶向治疗。纳米颗粒的一个优势是,他们利用肿瘤发生过程中,肿瘤区域的血管和淋巴具有增强的渗透和截留(EPR)特性,允许纳米的颗粒通过血管壁。进入肿瘤区后,通过溢出,这些粒子可以实现封装药物释放,并杀灭肿瘤细胞。安德烈斯贝罗大学(Santiago, 智利),Luis A.Velasquez教授在《Biomaterials》杂志上发表文章,结合物理化学特性和生物分析对可生物降解的聚羟基丁酸戊酯(PHBV)-紫杉醇(paclitaxel)复合物纳米颗粒癌症细胞株的吸收、释放和细胞毒性进行了详细研究。分子模拟显示复合物纳米颗粒具有高水亲和力的界面和多孔纳米结构,具有48小时窗口期的毒性保护,228~264nm颗粒尺寸范围让它们具有适当的EPR被动靶向的效果,其-6~8.9 mV的负电性也适合生物环境允许的颗粒细胞的内吞作用,并完成癌症细胞内的药物释放,对IIIc浆液性卵巢癌细胞有很好的治疗效果。Time-dependence of the NP-Taxel size and surface-polymer structuresduring Taxel liberation processes observed using LVEM. 0 (A), 1 (B), 2 (C), 3(D), 4 (E) and 5 (F) days 该研究过程中,低电压透射电子显微镜LVEM 5起到了非常关键的作用。Velasquez教授应用的纳米颗粒为有机聚合物,组成为C,H,O,N等轻质原子的分子,这些分子对电子的散射能力较弱。常规透射电子显微镜的加速电压通常为80~300kV,有机分子在不通过重金属染色的情况下,电子束大部分透过了样品到达荧光屏,无法呈现高对比度的形貌图像。然而,重金属染色后的样品由于和重金属的络合作用造成有机分子的畸变,以至于观察到的形貌不是天然状态,影响研究结果的后续分析和结论的准确判断。Velasquez教授借助低电压显微镜LVEM 5对样品进行观察,由于加速电压小(约5kV),未经染色的样品可以得到高对比度清晰的TEM图像,实现生物有机分子纳米结构的天然状态下的检测。低电压显微镜LVEM 5呈现的图像有效帮助Velasquez教授完成聚羟基丁酸戊酯(PHBV)-紫杉醇(paclitaxel)复合物纳米颗粒针对卵巢癌细胞治疗过程的机理及动力学问题的分析和研究。 相关产品:LVEM5 超小型透射电子显微镜: http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100980/C157727.htmLVEM25小型低电压透射电子显微镜:http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100980/C234215.htm
  • 发布全自动耐火材料抗热震性试验机新品
    RZL-II 全自动耐火材料抗热震性试验机RZL-II 全自动耐火材料抗热震性试验机用于测定耐火制品的抗热震性能,按照YB/T 376.1《耐火制品抗热震性试验方法》对设备的要求而制造。试样夹头可水平旋转以便于装样荷观察试样端面破损情况。仪器也符合YB/T2206.1-1998耐火制品抗热震性试验方法的要求。本仪器适用于耐火材料制品、陶瓷、玻璃及其他非金属材料、石墨材料、硅酸盐制品的抗热震性试验。主要技术参数(压缩空气法和水急冷法两种供选择):1.炉体工作温度:1000℃、1400℃、1600℃ 供选择;2.均温区大小及温差:根据样品尺寸定,任意两点间温度±2℃;3.控温精度:±2℃;冷料入炉温度回升时间:5分钟;4.加热炉大小:300×200×220mm(根据用户样品定),试样个数:3块标砖测试 *5. 压缩空气流法的压缩空气气压:0.1MP,气嘴大小:¢8*5mm*6.水急冷冷却方式:恒温水浴温度控制在10-50℃,控温精度±2℃,温度分辨率0.1℃,恒温时间和温度可任意设定;水槽温度不均匀度±2℃;测温铂电阻精度0.1℃;水槽加热功率≤6KW,制冷设备采用美国太康压缩机,功率3KW(3P)/380v;喷淋泵功率120W,扬程大于10米,喷淋压力≥0.5MPa.7、供电方式3相5线,保护地连接,电压380V/50HZ,整机功率 :15KW;8、实验过程采用西门子PLC实现全自动控制,亦可切换手动操作,时间设定范围0-120分钟,可设定循环次数0-100次9、12寸触摸屏工控机,组态软件显示控制,提供图形化软件界面,中文操作。可显示实验数据,设定实验参数和过程控制参数。10、具有超温,断偶报警和保护、急停报警功能。11、设备整机一体化设计,便于操作,占地面积小.主要配置:1.箱式电炉 一台2.电器控制柜(带触摸屏工控机) 一台 3. 测试软件 一套 4.恒温水槽/空压机 一台5.产品说明书与合格证 一份 创新点:1.全自动12寸触摸屏工控机,组态软件显示控制,提供图形化软件界面,中文操作。可显示实验数据,设定实验参数和过程控制参数。2.制冷设备采用美国太康压缩机,功率3KW(3P)/380v;喷淋泵功率120W,扬程大于10米,喷淋压力≥ 0.5MPa.3.实验过程采用西门子PLC实现全自动控制,亦可切换手动操作,时间设定范围0-120分钟,可设定循环次数0-100次
  • 这个电镜太酷了!5 kV低电压设计,聚合物/高分子材料无需染色,可快速完成筛样,换样仅3分钟!
    5 kV低电压设计,聚合物/高分子材料无需染色操作简单换样快捷,换样仅需3 min成本低廉 无需冷却水无需专业实验室维护成本低新一代超小型台式透射电子显微镜LVEM 5 聚合物/高分子是一类重要的材料,且随着应用领域越来越广泛,全也在投入更多的精力对其进行研究。透射电子显微镜集形貌观察以及电子衍射技术于一体,能直观展示样品的细微结构与形态,并准确关联晶态结构和晶体取向,是聚合物/高分子材料微观结构表征不可或缺的仪器设备。但是,由于聚合物/高分子材料因高压电子束轰击下不稳定和非常低的结构反差给电镜研究带来很大困难。为此,美国Delong Instrument公司推出新一代LVEM5超小型多功能低电压台式透射电镜,以实现这一功能。LVEM5采用5 kV低电压设计,能有效降低聚合物/高分子材料样品因高能电子束辐射产生的损伤,防止高压电子束轰击造成的样品抖动及破碎、晶体结构破坏等。 同时,由于聚合物/高分子材料大多由C、H、O等轻元素组成,传统的制样过程一般会采用类似于生物样品的重金属染色方法。利用电子散射能力较强的金属制剂对样品进行染色来提高的图像的衬度。然而,使用这种方法需要人为的加入样品以外的成分,这样做往往会破坏样品原始的特性。现在,使用LVEM5台式透射电镜,即使在不使用染色剂的情况下,利用低电压新型成像技术,也可以有效地提升图像衬度,展现样品的本征形貌。 除此之外,LVEM5超小型多功能台式透射电镜还能满足科研工作者繁重的样品筛选工作,其更多的优点如下:操作简单,换样快捷,成本低廉 LVEM5直观的用户界面、简便的控制台设计,用户仅需少的培训,即可轻松操作,让用户在使用时感觉更加舒适。不同于传统透射电镜每次更换样品后需要长时间抽真空,LVEM5更换样品仅需3分钟,可节省大量时间。LVEM5次购置费用远低于传统透射电镜。LVEM5特的设计优势,在使用中无需冷却水等外设,无需安装在特殊实验室,维持成本低。台式设计:体积小巧,灵活性高 传统透射电子显微镜体积庞大,对放置环境有严格的要求,并且需要水冷机等外置设备。通常会占据整间实验室。LVEM5从根本上区别于传统电镜,尺寸较传统电镜缩小了90%,对放置环境无严格要求,无需任何外置冷却设备,可以安装在用户所需的任意实验室或办公室桌面。TEM-ED-SEM-STEM四种成像模式 LVEM5是新一代电子显微镜,不仅具有传统透射电镜功能,同时集成了扫描电镜功能,在一台电镜上即可实现TEM-ED-SEM-STEM四种成像模式。通过控制软件,LVEM5可以在四种模式间快速切换。研究人员可以获取同一样品、同一区域的不同模式图像,更加方便多方位深入的研究样品。电子光学-光学两图像放大 LVEM5电子光学系统采用倒置设计,场发射电子枪位于显微镜底端。电子枪发射出的高亮度电子束,经过加速、聚焦以及样品作用后,照射在高分辨率 YAG荧光屏上。荧光屏上的图像,包含了纳米的样品信息。YAG荧光屏将电子光学信号,转化成光学信号。采用光学显微镜对图像进一步进行放大。TEM模式下,放大倍数~20万倍(TEM Boost升版 ~50万倍)。而整个电镜体积,仅与光学显微镜相仿。5 kV低加速电压,有效提高轻元素样品成像质量,样品无需染色 LVEM5采用5 kV低电压设计。相比高电压,低压电子束同样品的作用更强,对密度和原子序数有很高的灵敏度,对于0.005 g/cm3的密度差别仍能得到很好的图像对比度。例如,对20 nm碳膜样品,5 kV电压下比100 kV电压下对比度提高10倍以上。而LVEM5的空间分辨率在低电压下仍能达到2 nm。 聚合物/高分子及生物样品的主要元素为C、H、O等轻元素,使用传统透射电镜观测时,需要使用重金属元素对样品进行染色,以增强对比度。 LVEM5观测样品时无需染色,避免了染色造成的样品污染和扭曲,展现样品的本征形貌。超小型多功能台式透射电镜LVEM5与传统透射电镜的对比:传统透射电镜LVEM放大倍数高,分辨率0.2 nm左右分辨率:1.5nm(LVEM5)1nm (LVEM25)进样速度慢,约15-30分钟进样速度快,约3分钟操作复杂:操作人员需经过长期的严格培训为保证设备正常运行,好是专门做电镜的研究生操作,人工成本高操作简单:半天培训即可立操作无需专人操作放置于一层或地下室,需要特殊处理的实验室,需防震处理,环境要求高可放置于任何位置,厂房、办公室、实验室需要动力电(不能断电)、需要水冷机、液氮等维护成本高无需特殊电源,无需水冷、液氮维护成本低超小型多功能台式透射电镜LVEM5新应用案例聚合物/高分子材料TEM模式SEM模式和STEM模式其他材料TEM模式SEM模式STEM模式和ED模式 用户评价LVEM5 User Profile: Dr. Betty Galarreta “While we were looking for an electron microscope, we knew we wanted to get one that did not require complicated and expensive maintenance. We also wanted equipment that was able to resolve details within the 1-2 nm range and that we could use to analyze not only metallic nanoparticles but also some biopolymers. The LVEM5 not only met our requirements but also made it possible to have sort of a 3 in 1 electron microscope, being able to characterize the same area in TEM, SEM and STEM mode.” "当我们在调研射电子显微镜时,我们想要一台不需要复杂和昂贵维护的设备。同时,我们还希望这台透射电子显微镜能够观察到1-2纳米尺度内的细节,而且这台电镜不仅可以用来分析金属纳米颗粒,还可以分析一些生物聚合物材料。LVEM5不仅满足了我们的要求,而且这台透射电子显微镜同时拥有三种功能,能够在TEM、SEM和STEM模式下对同一区域进行表征。" LVEM5 User Profile: Dr. Francesca Baldelli Bombelli “We are very satisfied with the instrument as it allows us to screen a high number of samples in a short time with a limited cost. It’s easy to use, without the need of a specific technician to run it, and with a low cost of maintenance. It allows the screening of a high number of samples in a quite short time. It is also quite good in the imaging of organic nanomaterials thanks to its low voltage which does not degrade them.” "我们非常满意这台透射电子显微镜,因为它允许我们在短时间内以有限的成本筛选大量的样品。这台设备很容易使用,不需要专门的技术人员来运行它,而且维护成本低。它可以在相当短的时间内筛选大量的样品。同时,归功于低电压操作模式,LVEM5非常擅长于有机纳米材料的成像,不会使它们发生降解。" LVEM5 User Profile: Dr. Fabrice Piazza “The most exciting moment was to find diffraction patterns of single bilayer graphene domain with AB stacking with LVEM5. The single bilayer graphene domain with AB stacking discriminates from AA counterpart by the three-fold symmetry of the spot intensity distribution on the inner ring of the diffraction patterns. This cannot be observed at 60–100 keV. Those observations confirmed the calculations of one of our collaborator at CEMES, Dr. Pascal Puech. Definitively, one of the greatest moments in my 22-year-long career. We have found that the advantages of using a LVEM go beyond cost issues. Indeed, by using LVEM to analyze 2D materials, in many cases, one can quickly obtain the number of layers and stacking sequence. Also, as we demonstrated the methodology is useful for materials other than graphene, such as transition metal dichalcogenides (TMD) which are nowadays very popular worldwide. Analyzing these materials in these ways is not possible using a conventional TEM operating at 60–100 keV.” "激动人心的时刻是用LVEM5衍射模式证明了单双层石墨烯域是以AB方式堆积的。具有AB堆积的单双层石墨烯域在衍射图像上与AA堆积的单双层石墨烯域的区别为,内环上的光斑强度分布的三倍对称性不同。这在60-100 KeV电压下是无法观察到的。这些观察结果证实了我们一位合作者的计算结果,来自CEMES的Pascal Puech博士。这肯定是我22年职业生涯中伟大的时刻之一。 我们已经发现,使用LVEM5已经远超出了其成本优势。事实上,通过使用LVEM5来分析二维材料,在许多情况下,人们可以快速获得层数和堆叠顺序。另外,正如我们所展示的,该方法对石墨烯以外的材料也是有用的,例如当今非常流行的过渡金属二氯化物(TMD)材料。对于使用60-100 keV电压操作的传统透射电子显微镜,这些材料是不能用这种方法分析的。"用户单位
  • 中科院物理所团队发现小分子药物调控人源电压门控钠离子通道蛋白的结构学基础
    电压门控钠离子通道蛋白在产生和传导动作电位中发挥重要作用。在哺乳动物中,基于组织特异性,至少有9种电压门控钠离子通道异构体,其中命名为“Nav1.3”的电压门控钠离子通道蛋白在中枢神经系统中表达量高。有证据表明Nav1.3蛋白的突变与局灶性癫痫和多微脑回畸形疾病有关,因此Nav1.3蛋白可以作为治疗癫痫药物的靶点。  3月11日,中国科学院物理研究所团队在nature communications杂志上发表了题为“Structural basis for modulation of human Nav1.3 by clinical drug and selective antagonist”的文章,解析了Nav1.3/β1/β2分别与小分子药物乌头碱A和选择性拮抗剂ICA121431结合的冷冻电镜三维结构,揭示了乌头碱A和ICA121431调节Nav1.3的不同机制。  研究表明,Nav1.3蛋白的整体结构与已报道的其他哺乳动物Nav蛋白结构高度相似。调控Nav1.3蛋白功能的β1亚基通过其N端结构域和Nav1.3蛋白相互作用,同时其C端跨模域的螺旋稳定在Nav1.3蛋白第三个结构域上。调控Nav1.3蛋白功能的β2亚基柔性大,整体分辨率较低,但仍能看到其第55位的半胱氨酸与Nav1.3蛋白第911位的半胱氨酸形成了二硫键。小分子药物乌头碱A结合位点位于Nav1.3蛋白第一个结构域与第二个结构域之间,部分阻挡了离子通道。选择性拮抗剂ICA121431结合位点位于Nav1.3蛋白第四个结构域,增强了“异亮氨酸-苯丙氨酸-甲硫氨酸”模体与该模体的受体的结合,将离子通道稳定在失活状态。  该研究解析了不同小分子调节剂与Nav1.3蛋白结合位点的结构,阐明了这些小分子在Nav1.3蛋白上的作用机制,为后续基于结构开发特异性更高的药物提供支撑。  论文链接:https://www.nature.com/articles/s41467-022-28808-5
  • 低电压、无负染,以“柔”克刚!脂质体、囊泡成像福音,生物型透射电镜LVEM
    脂质体—高效的载药颗粒-----以无厚入有间,游刃有余 脂质体是一类由双层脂质分子结构的封闭囊泡型人工膜。由于其和细胞膜的脂质双分子层有高度相似的特性,脂质体可以与细胞膜相融合,从而将其囊泡内包裹的载物释放到细胞内。利用这一特性,研究者们克服了传统药物递送中的诸多障碍,得以将药物分子/颗粒包裹在脂质体中,直接将药物递送到细胞内部,使之成为了一类高效的药物载体。尤其在近期的新冠疫情中,各类mRNA疫苗纷纷采用了脂质体作为递送载体,有效地避免了核酸被降解,提高了mRNA进入细胞的效率。脂质体的应用使得mRNA疫苗真正成为了一种稳定、高效可以广泛使用的疫苗,也促进了脂质体研究的广泛开展。 在脂质体的应用研究中,质量控制往往为重要也为困难的一环。脂质体的质量(如其包封率、载药率与稳定性)很大程度上取决于其囊泡的结构是否均匀、稳定,这就需要研究人员对脂质体进行透射电镜成像,来直接观测脂质体的囊泡结构、粒径等形态信息。传统生物样品透射成像的桎梏------刚者易折,过犹不及 随着科研的进步,人们对成像仪器的要求与日俱增。但是即便在高分辨成像设备多如牛毛的今天,生物样品的透射电镜成像却一直是一个难题。所谓“电镜易得,样品难求”,如何制得一个无损的电镜样品从而拍摄到清晰、高反差的生物样品图片,一直是生物样品透射电镜成像中的大的难题,也是脂质体等脆弱的囊泡类生物样品在电镜成像中亟待解决的难题。 这个难题很大程度上是由透射电镜的高电压与制样中的染色/负染步骤导致的。 生物样品一般由C、H、O、N等原子序数较低的“轻质”元素组成,在传统透射电子显微镜高达120kV的高能电子束轰击下,很快就会被击穿甚至灰飞烟灭,不能留下任何图像。也就是说生物样品在传统的透射电镜成像中太过于“脆弱”,需要给这些样品穿上一层“盔”,这层盔就是用一些电子密度高的物质(如重金属盐等)对生物样品进行染色。而在本文中所说的脂质体等囊泡状的生物样品制样过程中,这个染色步骤就叫做“负染”。 负染是在使用传统透射电镜对生物样品成像时“不得不”采用的样品处理手段,但是负染的处理手段也会带来显著的问题: 、就是生物样品制样复杂,在制样染色过程中,样品容易产生收缩、膨胀、破碎以及内含物丢失等结构改变; 二、重金属盐离子本身会对生物样品的形貌造成不可逆的损害,这种损害在传统制样过程很难避免; 三、负染所得的“负像”并不能真实地反映生物样品的形貌特征,尤其对于脂质体等囊泡结构,囊泡表面局部凹陷,可能会有少量染液遗留在凹陷处,或者载网表面有负染液残留的痕迹等,这些负染液在电镜观察时就会产生“假象”; 四、对于制样操作者的要求较高,生物样品的种类多种多样,而每一种生物样品负染时佳的制样条件(重金属盐溶液的种类、浓度,染色的时间长短等)都不一样。这就需要制样人员根据各自实验室的条件,在长时间地摸索与多次地试错来获取佳的制样条件,大量宝贵的时间和样品就这样浪费在染色制样条件的摸索中了; 五、传统透射电镜操作复杂,维护困难,而实验平台的透射电镜往往一“时”难求,生物样品的佳观测时间往往较短,经常会出现获得好的生物样品,却发现电镜早要在一周后才能预约的尴尬局面; 后,即便已经采用了负染等手段,脂质体类的囊泡生物样品还是非常脆弱的,在成像过程中经常会出现囊泡被长时间电子流照射给“轰碎”的状况,这就迫使操作者加快操作速度,更加手忙脚乱。摆脱传统电镜桎梏的生物型透射电镜------柔者易存,易低为高 Delong Instrument公司推出的LVEM生物型透射电子显微镜(LVEM5&25)采用了5kV与25kV的低加速电压设计,一次性地摆脱了上述所有的生物电镜成像难题,为生物样品的电镜成像提供为便捷高效的解决方案。 高衬度:低能量电子对有机分子产生更强烈的散射,具有更高对比度;无需染色:突破以往生物/轻材料成像需要重金属染色的局限性;高分辨率:无染色条件下能够达到1.5 nm的图像分辨率;多模式:LVEM5能够在TEM、SEM、STEM三种模式中自由切换;高效方便:真空准备只需要3分钟,空间小,环境需求低;易操作且成本低:友好智能化操作界面,低耗材,低维护费用,无需专业操作人员。 生物样品友好 -------柔者以利万物 LVEM生物型透射电镜采用的5kV与25kV低电压设计,对生物样品不会造成任何损伤,与传统高压电镜相比,低电压反而提高了生物样品成像的衬度/反差;无需重金属染液负染,对于脂质体等囊泡结构成像条件温和,摆脱了染液与负染过程本身可能对囊泡结构造成的损害,所得图像为“正像”,更加真实地展现囊泡的结构特征。 生物样品细节损失少------见微知著明察秋毫 如下图所示,传统高压透射电镜本身就会带来样品细节损失,在80-120kV下的透射电镜成像过程中,大量十几纳米尺寸的颗粒会直接被“击穿”。而LVEM生物型透射电镜采用的5kV与25kV低电压设计,不仅避免了传统高压透射电镜长时间照射对于生物样品的损害,还可以保留下更多地小有机颗粒图像,获得更多地细节。小型化设计,操作更加方便------芥子须弥内藏乾坤 传统透射电子显微镜体积庞大,对放置环境有严格的要求,并且需要水冷机等外置设备。通常会占据整间实验室。LVEM电镜从根本上区别于传统电镜,尺寸较传统电镜缩小了90%,对放置环境无严格要求,无需任何外置冷却设备,可以安装在用户所需的任意实验室或办公室桌面。操作界面智能化,更加方便。LVEM生物型电镜案例 LVEM生物型透射电镜对生物样品成像友好,除了脂质体之外,对于病毒颗粒、外泌体、噬菌体、DNA、细胞切片等生物样品的成像效果也非常,可以满足研究人员多样化的成像需求,且其操作简便,制样简单,是使生物科研工作者研究更加游刃有余的“科研利器”。部分用户单位:
  • 探索纳米世界!你不得不了解的快速筛样超小型台式低电压电子显微镜
    操作简单换样快捷,换样仅需3 min成本低廉 无需冷却水无需专业实验室维护成本低新一代超小型台式透射电子显微镜LVEM 5 随着科研技术的进步,人们对科研设备的要求也越来越高。在保证高精度、高灵敏度等条件的前提下,便捷操作的台式小型化设备越来越受科研人员的青睐。尤其是科研工作者在前期科研探索过程中,面对繁重的样品筛选工作,迫切需要操作便捷、换样快速的表征仪器,特别是透射电镜领域,满足这样需求的仪器少之又少。为此,美国Delong Instrument公司推出新一代LVEM5超小型多功能台式透射电镜,以实现这一功能。操作简单,换样快捷,成本低廉 LVEM5直观的用户界面、简便的控制台设计,用户仅需少的培训,即可轻松操作,让用户在使用时感觉更加舒适。不同于传统透射电镜每次更换样品后需要长时间抽真空,LVEM5更换样品仅需3分钟,可节省大量时间。LVEM5次购置费用远低于传统透射电镜。LVEM5特的设计优势,在使用中无需冷却水等外设,无需安装在特殊实验室,维持成本低。 台式设计:体积小巧,灵活性高 传统透射电子显微镜体积庞大,对放置环境有严格的要求,并且需要水冷机等外置设备。通常会占据整间实验室。LVEM5从根本上区别于传统电镜,尺寸较传统电镜缩小了90%,对放置环境无严格要求,无需任何外置冷却设备,可以安装在用户所需的任意实验室或办公室桌面。TEM-ED-SEM-STEM四种成像模式 LVEM5是新一代电子显微镜,不仅具有传统透射电镜功能,同时集成了扫描电镜功能,在一台电镜上即可实现TEM-ED-SEM-STEM四种成像模式。通过控制软件,LVEM5可以在四种模式间快速切换。研究人员可以获取同一样品、同一区域的不同模式图像,更加方便多方位深入的研究样品。电子光学-光学两图像放大 LVEM5电子光学系统采用倒置设计,场发射电子枪位于显微镜底端。电子枪发射出的高亮度电子束,经过加速、聚焦以及样品作用后,照射在高分辨率 YAG荧光屏上。荧光屏上的图像,包含了纳米的样品信息。YAG荧光屏将电子光学信号,转化成光学信号。采用光学显微镜对图像进一步进行放大。TEM模式下,放大倍数~20万倍(TEM Boost升版 ~50万倍)。而整个电镜体积,仅与光学显微镜相仿。5 kV低加速电压,有效提高轻元素样品成像质量生物样品无需染色 LVEM5采用5 kV低电压设计。相比高电压,低压电子束同样品的作用更强,对密度和原子序数有很高的灵敏度,对于0.005 g/cm3的密度差别仍能得到很好的图像对比度。例如,对20 nm碳膜样品,5 kV电压下比100 kV电压下对比度提高10倍以上。而LVEM5的空间分辨率在低电压下仍能达到1.5 nm。 生物样品的主要元素为C、H、O等轻元素,使用传统透射电镜观测时,需要使用重金属元素对样品进行染色,以增强对比度。 LVEM5观测生物样品时无需喷金,避免了染色造成的样品污染和扭曲,展现样品的本征形貌。超小型多功能台式透射电镜LVEM5与传统透射电镜的对比:传统透射电镜LVEM放大倍数高,分辨率0.2 nm左右分辨率:1.5nm(LVEM5)1nm (LVEM25)进样速度慢,约15-30分钟进样速度快,约3分钟操作复杂:操作人员需经过长期的严格培训为保证设备正常运行,好是专门做电镜的研究生操作,人工成本高操作简单:半天培训即可立操作无需专人操作放置于一层或地下室,需要特殊处理的实验室,需防震处理,环境要求高可放置于任何位置,厂房、办公室、实验室需要动力电(不能断电)、需要水冷机、液氮等维护成本高无需特殊电源,无需水冷、液氮维护成本低超小型多功能台式透射电镜LVEM5新应用案例TEM模式SEM模式STEM和ED模式用户评价LVEM5 User Profile: Dr. Betty Galarreta “While we were looking for an electron microscope, we knew we wanted to get one that did not require complicated and expensive maintenance. We also wanted equipment that was able to resolve details within the 1-2 nm range and that we could use to analyze not only metallic nanoparticles but also some biopolymers. The LVEM5 not only met our requirements but also made it possible to have sort of a 3 in 1 electron microscope, being able to characterize the same area in TEM, SEM and STEM mode.” "当我们在调研射电子显微镜时,我们想要一台不需要复杂和昂贵维护的设备。同时,我们还希望这台透射电子显微镜能够观察到1-2纳米尺度内的细节,而且这台电镜不仅可以用来分析金属纳米颗粒,还可以分析一些生物聚合物材料。LVEM5不仅满足了我们的要求,而且这台透射电子显微镜同时拥有三种功能,能够在TEM、SEM和STEM模式下对同一区域进行表征。" LVEM5 User Profile: Dr. Francesca Baldelli Bombelli “We are very satisfied with the instrument as it allows us to screen a high number of samples in a short time with a limited cost. It’s easy to use, without the need of a specific technician to run it, and with a low cost of maintenance. It allows the screening of a high number of samples in a quite short time. It is also quite good in the imaging of organic nanomaterials thanks to its low voltage which does not degrade them.” "我们非常满意这台透射电子显微镜,因为它允许我们在短时间内以有限的成本筛选大量的样品。这台设备很容易使用,不需要专门的技术人员来运行它,而且维护成本低。它可以在相当短的时间内筛选大量的样品。同时,归功于低电压操作模式,LVEM5非常擅长于有机纳米材料的成像,不会使它们发生降解。" LVEM5 User Profile: Dr. Fabrice Piazza “The most exciting moment was to find diffraction patterns of single bilayer graphene domain with AB stacking with LVEM5. The single bilayer graphene domain with AB stacking discriminates from AA counterpart by the three-fold symmetry of the spot intensity distribution on the inner ring of the diffraction patterns. This cannot be observed at 60–100 keV. Those observations confirmed the calculations of one of our collaborator at CEMES, Dr. Pascal Puech. Definitively, one of the greatest moments in my 22-year-long career.We have found that the advantages of using a LVEM go beyond cost issues. Indeed, by using LVEM to analyze 2D materials, in many cases, one can quickly obtain the number of layers and stacking sequence. Also, as we demonstrated the methodology is useful for materials other than graphene, such as transition metal dichalcogenides (TMD) which are nowadays very popular worldwide. Analyzing these materials in these ways is not possible using a conventional TEM operating at 60–100 keV.” "激动人心的时刻是用LVEM5衍射模式证明了单双层石墨烯域是以AB方式堆积的。具有AB堆积的单双层石墨烯域在衍射图像上与AA堆积的单双层石墨烯域的区别为,内环上的光斑强度分布的三倍对称性不同。这在60-100 KeV电压下是无法观察到的。这些观察结果证实了我们一位合作者的计算结果,来自CEMES的Pascal Puech博士。这肯定是我22年职业生涯中伟大的时刻之一。我们已经发现,使用LVEM5已经远超出了其成本优势。事实上,通过使用LVEM5来分析二维材料,在许多情况下,人们可以快速获得层数和堆叠顺序。另外,正如我们所展示的,该方法对石墨烯以外的材料也是有用的,例如当今非常流行的过渡金属二氯化物(TMD)材料。对于使用60-100 keV电压操作的传统透射电子显微镜,这些材料是不能用这种方法分析的。"用户单位
  • 牛奶冰点测定仪促销1个月
    牛奶冰点测定仪促销1月 牛奶冰点测定仪,德国Funke Gerber牛奶冰点检测仪,Cryostar Ⅰ 牛奶冰点仪,为了感谢广大客户对德国Funke Gerber牛奶冰点测定仪产品质量的肯定,现对Cryostar Ⅰ 型牛奶冰点测定仪现实促销优惠出售,欢迎新老客户前来选购。活动时间2014年6月1号-2014年7月1号牛奶冰点测定仪,德国Funke Gerber牛奶冰点检测仪,Cryostar Ⅰ 牛奶冰点仪德国FUNKE GERBER公司介绍: 自1904年起,德国FENKE GERBER已经开始涉足乳制品行业。经过100年多的发展,GERBER公司的牛奶分析仪、牛奶冰点仪和牛奶离心机等仪器已经在牛奶食品领域发挥了重要的作用,成为乳品研发和安全检测实验中不可或缺的仪器。牛奶冰点测定仪 品牌:Funke Gerber, Germany 型号:Cryostar Ⅰ 1牛奶冰点测定仪中国总代理:南京铭奥仪器设备有限公司牛奶冰点测定仪参数:检测速度:40个样品/小时测量范围:0.000℃∽-1.500℃检样量:2.0-2.5ml(2.2ml)精确度:0.0001℃重现性:±0.002℃端口:RS 232端口1个,6V打印端口重量:12kg体积:(w×h×d)29cm×19cm×38cm工作电压:230V/115VAC(50…60HZ) 180W 1
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