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  • Zetasizer Pro纳米粒度仪是一款功能强大、用途广泛的常规实验室测量解决方案,可测量颗粒粒度、分子大小、电泳迁移率、Zeta 电位和分子量。 与以往型号相比,其粒度测量速度超过以往的两倍,加快了样品处理速度。由于采用非侵入背散射 (NIBS) 光学设计,该技术将背散射检测技术与可变测量位置和高效光纤技术结合在一起,与传统DLS相比,显著增加了样品浓度范围和粒度的测量范围。 滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片,以实现分析灵活性。特点和优点凭借以下优势,即使刚入门的用户也能使用 Zetasizer Pro 纳米粒度电位仪完成高质量的测量:动态光散射 (DLS) 用于测量从0.3 nm 到 10 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 电泳光散射 (ELS) 用于测量颗粒和分子的Zeta电位,以显示样品稳定性和/或团聚倾向性非侵入背散射 (NIBS) 技术显著扩大了动态范围,即使是处理非常浓缩的样品,也能实现高灵敏度具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率 以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用,并可轻松构建复杂的模型 “自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据,同时计算速度超过以往的两倍,可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量,实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题,并针对如何改进结果提供明确的建议滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片,以实现分析灵活性 如果您的需求发生改变,可现场升级到Zetasizer Ultra 可选的 MPT-3 自动滴定仪可帮助研究 pH 值变化的影响一系列可抛弃及可重复使用的样品池可优化不同样品体积和浓度的测量主要应用Zetasizer Pro 应用广泛,包括:学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具,广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛,被科学文献引用的次数达上万次,成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中,温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性,造成变性和聚集、功能丧失, 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选,并可协助配方开发, 从而优化流程和产品,消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位,以改善食品、饮料和调味料的外观及味道,并优化分散和乳化稳定性,从而延长产品保存期限,提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质,比如更高的催化活性和溶解度,或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定,以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度分析仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性(例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期)方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量,从而减少配方时间,加快新产品上市。消费品改良多种消费品时,需要了解和控制胶体参数,引导颗粒间的相互作用,并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度, 并测量乳液的液滴大小和稳定性。
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  • Zetasizer Ultra 纳米粒度仪是用于测量颗粒与分子大小、颗粒电荷和颗粒浓度的系统,在结合了 Zetasizer Pro 和 Lab 特性和优点的基础上,增加了多角度动态光散射技术(MADLS),是 马尔文帕纳科Zetasizer Advance 纳米粒度电位分析仪系列中最智能和灵活的仪器。 这一旗舰型纳米粒度分析仪充分利用了 ZS Xplorer 软件的易用性、高分析速度和数据可靠性等优势,运用多角度动态光散射技术 (MADLS) ,提供与角度无关的高分辨率粒度测量,并且能够测量颗粒浓度*,帮助您更深入地了解样品。*限 Zetasizer Ultra 红标版本 (Red Label)特点和优点Zetasizer Ultra 纳米粒度分析仪融合了功能强大的 DLS 与 ELS 系统,它采用了非侵入背散射 (NIBS) 和多角动态光散射 (MADLS) 技术来测量颗粒与分子大小。 NIBS 的多用性和灵敏度可适用广泛的浓度范围,而 MADLS 则能让您在这些关键测量当中更精细地了解样品粒度分布。Zetasizer Ultra Red Label 的 MADLS 扩展功能可直接分析颗粒浓度。 颗粒浓度的测量适合于各类材料,只需很少稀释,并且使用快捷,这一切使其成为一种理想的筛选技术。Zetasizer Ultra 甚至可以运用于以前非常难测量的病毒和类病毒颗粒 (VLP) 等样品。 Zetasizer Ultra 的关键特性和优点包括:用于高分辨率粒度测量且与角度无关的多角动态光散射法 (MADLS) 可以更深入地展现您的样品粒度分布 动态光散射 (DLS) 用于测量从0.3 nm 到 15 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 (使用低容量可抛弃粒度样品池和扩展粒度分析可以测试粒度大于10 μm ;取决于样品和样品制备)电泳光散射 (ELS) 用于测量颗粒和分子的Zeta电位,以显示样品稳定性和/或团聚倾向性非侵入背散射 (NIBS) 技术显著扩大了动态范围,即使是处理非常浓缩的样品,也能实现高灵敏度简单的每峰值浓度/滴度测量(仅限红标Red Label版本)可抛弃型毛细管粒度测量样品池提供了无损、低容量(最低 3 μL)分析,并且粒度上限范围可达到 15 μm具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用,并可轻松构建复杂的模型“自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据,同时计算速度超过以往的两倍,可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量,实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题,并针对如何改进结果提供明确的建议使用静态光散射(90°)测量分子量软件符合 21 CFR Part 11 法规滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片,以实现分析灵活性可选的 MPT-3 自动滴定仪可帮助研究 pH 值变化的影响一系列可抛弃和可重复使用的样品池可优化不同样品体积和浓度的测量,其中包括新的低容量可抛弃粒度测量池套件,由于它可以抑制对流,所以既能进行样品量小到 3 μL 的粒度测量,也扩展了DLS 测量的粒度上限范围主要应用Zetasizer Ultra 纳米粒度仪应用广泛,包括:学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具,广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛,被科学文献引用的次数达上万次,成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中,温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性,造成变性和聚集、功能丧失, 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选,并可协助配方开发, 从而优化流程和产品,消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位,以改善食品、饮料和调味料的外观及味道,并优化分散和乳化稳定性,从而延长产品保存期限,提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度分析仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质,比如更高的催化活性和溶解度,或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定,以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性(例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期)方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量,从而减少配方时间,加快新产品上市。消费品改良多种消费品时,需要了解和控制胶体参数,引导颗粒间的相互作用,并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度, 并测量乳液的液滴大小和稳定性。
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  • 应用行业 • 用于污染源监测 - 生活污水 - 市政污水 • 地表水监测 • 地下水监测仪器特点 • 原理:采用水杨酸 - 靛酚蓝法测定氨氮浓度。符合最新标准HJ 101-2019,HJ 35X-2019要求,测量数据与实验室方法HJ 536-2009吻合性好。双波长及双光程的专利比色皿设计(中国实用新型专利:ZL 2017 2 0404712.9),确保仪器更宽的测量量程和准确度。通过参比光束的测量,仪器消除了样品浊度、电源波动等因素对测量结果的干扰。 • 搭载哈希先进的Prognosys预诊断技术,Diagnose诊断技术 。 - Prognosys预诊断功能:能就仪表即将出现的问题在屏幕上发出指示,并能通过数字接口输出,以便用户提前采取维护措施。指示信息可提供规划的预防性维护以及避免意外应对紧急情况所需的信息,能以进度条百分比的形式展示在屏幕上,方便用户识别。 - Diagnose自诊断功能:能自动完成仪器状况的诊断,能在屏幕上显示诊断结果、查询诊断信息,并能通过数字接口输出。 • 全新试剂配方,常温使用及保存。 • 校准:自动校准,手动/远程触发,标样核查触发。 • 具有自动校准和自动清洗等功能,维护量低检测原理 水杨酸-靛酚蓝法,催化剂的作用下,NH4+在碱性介质中,与次氯酸根离子和水杨酸盐离子反应,生成靛酚化合物,并呈现出绿色。在仪器测量范围内,其颜色改变程度和样品中的NH4+浓度成正比,因此,通过测量颜色变化的程度, 就可以计算出样品中NH4+的浓度。技术指标测量范围: NA8000.01: (0.020~160.0)mg/L,自动量程切换 NA8000.02: (0.020~1000)mg/L,自动量程切换和稀释 准确度: (0.020~15.00)mg/L: ±(0.06 mg/L 或 3%) (0.050~30.00)mg/L: ±(0.15 mg/L 或 3%)(12.00~160.0) mg/L: ±(0.90 mg/L 或3%) (80.00~1000)mg/L: ±10% 重复性: (0.020~15.00)mg/L: ≤ (0.02 mg/L 或2%) (0.050~30.00)mg/L: ≤ (0.04 mg/L 或2%)(12.00~160.0)mg/L: ≤ (0.6 mg/L或3%) (80.00~1000)mg/L: ≤ 3% 显示分辨率: ≤9.999 mg/L:0.001 mg/L (10.00~99.99)mg/L:0.01 mg/L (100.0~999.9)mg/L:0.1 mg/L≥1000 mg/L:1 mg/L 额定功率: 100W 测量间隔: 连续测量、30分钟、1小时、2小时、4小时、用户自定义、触发(可选) 采样要求: 采样压力:0.04 bar 至 1 bar(0.6 psi 至 14.5 psi) 采样流速:100 至 600 mL/min采样管:1/4 in 外径 采样温度:5 至 40 °C(41 至 104 °F) 告警/事件记录: 两年或20000条 数据记录: 20000条 校准方法: 手动、自动校准,校准周期可选 工作温度范围: 5℃-40℃相对湿度 ≤95%相对湿度:无凝露 操作界面: 中英文界面,彩色触摸屏 外壳防护等级: IP55 (在机箱关闭情况下),仅限室内使用仪器尺寸: (L×W×H)455mm×365mm×805mm 安装方式: 壁挂式或桌面安装(室内) 仪器装运重量: 约28kg (621b) (不包括试剂) 电源要求: 100~240V,50/60Hz 输入输出: 2路24VDC /3A继电器单刀双掷控制; RS485 Modbus; 0/4-20 mA模拟输出; 数字输入(可选) 其他功能: 1. 内置标样核查功能,并能根据核查结果自动完成校准和复核。可扩展质控模块实现任意指定浓度的标样核查和加标回收功能。 2. 分析废液和清洗废液分离(可选)订购指南 Amtax NA8000主机9890900 NA8000.01 型氨氮自动监测仪 (0.020mg/L ~ 160.0mg/L),标配 4-20mA 模拟信号输出 I/O 模块 9891000 NA8000.02 型氨氮自动监测仪 (0.020mg/L ~ 1,000mg/L),标配 4-20mA 模拟信号输出 I/O 模块 可选配件9995500 分析废液和清洗废液分离模块 8646400 4-20 mA 模拟信号输出 I/O 模块 8646100 数字量输入 I/O 模块 8646200 继电器输出 I/O 模块 试剂LCW936-CN 试剂及标液套装(含 LCW937-CN,LCW938-CN,LCW939-CN,LCW940-CN,LCW941-CN) LCW937-CN 化学试剂(A 及添加剂 ,B,C) LCW938-CN 空白标准液 LCW939-CN 标准溶液 1 (5mg/L) LCW940-CN 标准溶液 2 (50mg/L) LCW941-CN 清洗液CYQ型水样预处理器型号孔径材质是否抗污染适用性CYQ -106C100μmSS304不锈钢是适用于自来水厂、污水处理厂等水质较好的排口CYQ -104C0.1μmPVDF(聚偏氟乙烯)是适用于污水处理进口、过程水等水质情况较为恶劣的现场
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  • 在HPLC和UHPLC中,哪一种检测器效果最好?这个问题很难简单回答,因为没有任何一个检测器能够满足所有的检测需要。UV检测器虽然应用最为广泛,但无紫外吸收的化合物无法检测,其它的所谓通用检测器的实际性能也往往达不到多种应用综合后的复杂要求,从而导致检测空白。这就是检测器的局限性。 现在,由ESA采用最新突破性技术研制的电喷雾检测器(CAD)可谓是最佳的解决方案。CAD基于独特的创新检测原理,其问世使得目前需要在不同检测器(如示差折光(RI)、低波长紫外(UV)、蒸发光散射(ELSD)等)上完成的分析任务只需在一台通用型检测器上即可完成,大大提高了分析效率。 目前,CAD检测技术凭借比其它技术更高的灵敏度,更宽的动态监测范围以及更一致的检测结果,已被制药企业广泛接受,它的主要优势如下:● 灵敏度高 ● 重复性好● 信号响应一致 ● 动态监测范围宽● 应用范围广 ● 操作直观简单 Corona电喷雾检测技术是UV和质谱检测器的强有力补充,可实际应用于任何非挥发或半挥发性化合物,包括:● 药物化合物 ● 药物支架分子● 碳水化合物 ● 脂类● 类固醇 ● 多肽● 蛋白质 ● 聚合物 对任何一个检测器来说,被分析物能在很宽的范围内准确测定非常重要,但几乎每种检测器都有它的侧重,这可能会导致同一种分析物在不同的检测器上响应不一样,或流动相的改变对不同的检测器有不一样的影响。 Corona Ultra检测结果与分析物颗粒有关,信号电流与样品中分析物的质量成正比,因此无论何种化合物,只要进样质量相同响应都基本一致,所以Corona Ultra检测器能检测所有非挥发物,包括不含发色团的物质,不论被测物分子结构如何。 工作原理:步骤一:Corona Ultra检测器将分析物转化成溶质颗粒。颗粒的大小随着被分析物的含量而增加。步骤二:溶质颗粒与带正电荷的氮气颗粒相撞,电荷随之转移到颗粒上 – 溶质颗粒越大,带电越多。步骤三:溶质颗粒把它们的电荷转移给收集器,通过高灵敏度的静电检测计测出溶质颗粒的带电量,由此产生的信号电流与溶质的含量成正比。 非线性响应 Corona Ultra和ELSD在全量程范围内都是非线性响应,但Ultra的重现性更好且在小浓度范围内响应基本呈线性。 响应因子 进样量相同的一组难挥发化合物,Corona Ultra的响应值更为接近。 灵敏度与检出限 与ELSD相比,Corona Ultra的灵敏度更高、检出限更低,且检测与化学结构无关,相同进样质量的响应值相似,且全面兼容快速液相,是一款真正意义上的通用型检测器。 梯度下重现性依然出众—反梯度方法 反梯度即在色谱柱后进入检测器前加入另一与分析溶剂时时组成相同但比例相反的溶剂,使进入检测器的溶剂浓度保持不变,从而使检测条件更加稳定,提高检测效果。 梯度试验中,有机溶剂在洗脱液中的比例不断变化,使得整个洗脱液的挥发性、粘度等一系列性质也不断变化,导致在形成气溶胶过程中的挥发程度不同,从而影响Corona Ultra 检测的结果,导致其与真实值有一定偏差。而反梯度在色谱柱后加入另一反比例的有机溶剂,使得进入Corona Ultra的洗脱液有机组成始终不变,因此保证了检测的真实、准确。
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  • 背景介绍—瞬态吸收光谱和瞬态吸收成像的应用基于泵浦探测(Pump-Probe)原理的瞬态吸收光谱,在频率维度和时间维度上提供了丰富的光谱和动力学信息,过去的几十年应用于物理、化学、材料、能源、生物等广泛领域。当今,许多领域科学研究的范式和需求都在不断更新。尤其是随着钙钛矿光伏、二维材料、量子器件、高温超导等前沿领域的发展,科学家迫亟需在空间维度上揭示载流子等微观离子的迁移和演化规律,研究微纳米材料的物理态在空间分布上的异质性。瞬态吸收成像,可在空间和时间维度上研究微观粒子和能量的运动和演化,是研究微观粒子和能量的时空演化、阐释微观机制的重要工具。瞬态吸收成像,一般有两种实现方式,点扫描成像和宽场成像。相对点扫描成像,宽场成像模式具有速度快、通量高,成像质量更加细腻的特点。Omni-TAM900为北京卓立汉光仪器有限公司全新推出的一款宽场飞秒瞬态吸收成像系统。该系统集成像和动力学于一体,联合飞秒泵浦-探测技术和显微技术,通过自主知识产权的干涉放大技术增强图像信噪比,可获得高质量的成像效果并大幅度缩短测试时间。仪器基本功能和性能:仪器具有点泵浦-宽场探测,和宽场泵浦-宽场探测两种工作模式。分点泵浦模式可用于测量载流子迁移和热导率等;宽场泵浦模式可用于测量载流子分布和物理态的空间异质性等。仪器特点和创新高灵敏、高通量,可测量到单个纳米颗粒、单层石墨烯乃至单层分子晶体的瞬态吸收信号。仪器原理和实现方式Omni-TAM900宽场飞秒瞬态吸收成像系统原理如下图所示,经过飞秒激光器和光学参量放大器(OPA)之后出来的飞秒激光,通过显微镜的光学系统进入,并作为泵浦光源激发样品,而另一束经过空间调制的探测光在一定的时间延迟之后也经过显微系统到达样品,样品在激发态对探测光产生的吸收情况会被显微镜上的sCMOS 相机记录下来。通过调节光学延迟线(Optical Delay Line),得到样品在不同延迟时间下的sCMOS图像。Omni-TAM900 可以有两种成像模式(如下图所示): 聚焦泵浦光模式(点泵浦,宽场探测)和宽场泵浦光模式(宽场泵浦、宽场探测),前者主要用于研究载流子的迁移,后者用于检测载流子的空间分布状况。软件软件可进行同步采集,自动控制和处理,载流子的寿命、载流子的迁移速率、载流子的分布、动力学等信息均可以通过软件得到。应用方向及实测数据 Omni-TAM900宽场飞秒瞬态吸收成像系统是测量载流子时空演化的强大工具,可广泛应用于物理、材料及器件的前沿研究,比如:太阳能电池、低维材料、量子器件、超导材料、新型半导体、纳米催化、生物传感等,对纳米尺度和飞秒时空尺度中的超快的物理、化学及生物过程进行监测。 金属镀膜中的载流子迁移和热扩散10 nm厚金属薄膜上的超快热载流子和热扩散,采用仪器的点激发,宽场探测模式。半导体中的载流子迁移和热扩散同时监测Si基半导体中的载流子迁移和热扩散(可测量半导体材料的热导率),采用仪器的点激发,宽场探测模式。光伏材料中的载流子迁移和演化钙钛矿CsPbBr3载流子成像,迁移动力学及边缘态动力学研究。采用仪器的宽场激发,宽场探测模式催化材料中的热载流子分布和“热点”局部热电子密度高、寿命长,可能具有更高的催化活性。采用仪器的宽场激发,宽场探测模式。新型二维材料中的边缘物理态研究二维WS2中激子分布情况,激子寿命研究。可以看到,多层的边缘具有更高激子密度和更长激子寿命技术参数 光源飞秒激光 +OPA,激光波长范围取决于应用场景检测器sCMOS成像空间分辨率500 nm载流子迁移定位精度30nm时间分辨率500 fs (100 fs 激光脉冲条件下)时间延迟线0-4 ns/0-8 ns显微镜模块倒置显微镜,上方为开放空间,后期可兼容低温模块、探针台、电学调控、磁场等特殊实验场景。测量模式点泵浦 + 宽场探测(载流子迁移)宽场泵浦 + 宽场探测(载流子分布)仪器工作模式反射 / 散射已发表文献:J. Am. Chem. Soc. 2022, 144, 13928专利:202110510123.X(以上展示的所有实测数据均为本型号仪器测得,并已公开发表,更多细节请查阅以上文献)。更多参考文献:(为了方便用户参考研究前沿,如下列出一些国际上利用瞬态吸收成像方法的研究案例。这些数据并非用该型号仪器获得,但是卓立Omni-TAM900仪器可实现这些应用场景中的绝大多数功能。如有特殊需求,欢迎与卓立汉光联系。)Science 2017, 356, 59 (钙钛矿超长热载流子)Nat. Mater. 2020, 19, 617 (转角二维量子异质结)Science 2021, 371, 371 (超导材料电荷密度波)Science 2022, 377, 437 (立方砷化硼超高载流子)Nat. Mater. 2020 , 9, 56 (材料中的携能载流子)
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  • 即使作为入门级纳米粒度及Zeta电位分析仪,Zetasizer Lab 的功能也不容小觑。 Zetasizer Lab 纳米粒度仪采用经典动态光散射(90°),包含"自适应相关"算法、M3-PALS 和恒流 Zeta 模式。 Zetasizer Lab 纳米粒度分析仪还随附 ZS Xplorer,这是一款易于使用的分析软件,提供有关数据质量的实时反馈,以及如何改进结果的指导。特点和优点Zetasizer Lab 纳米粒度仪是一款出色的入门级系统,提供各种功能,其中包括:动态光散射 (DLS) :用于测量从0.3 nm 到 15 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 (使用低容量可抛弃粒度样品池和扩展粒度分析可以测试粒度大于10 μm ;取决于样品和样品制备)电泳光散射 (ELS) :测量颗粒和分子的Zeta电位,以显示样品稳定性和/或团聚倾向性扩展粒度范围分析功能可针对超过 1 μm 的颗粒粒度提供更高的准确性,并针对超过 10 μm 的颗粒粒度提供指示性结果(使用 ZSU1002 低容量可抛弃粒度测量池)具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率 以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用,并可轻松构建复杂的模型 “自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据,同时计算速度超过以往的两倍,可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量,实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题,并针对如何改进结果提供明确的建议使用静态光散射(90°)测量分子量软件符合 21 CFR Part 11 法规支持使用低容量可抛弃毛细管样品池对低至 3 μL 的样品进行粒度测量选择 Red Label 型号可用于测定更具挑战性的样品,如蛋白质、表面活性剂溶液和低固含量样品如果您的需求发生改变,可现场升级到Zetasizer Pro 或 Zetasizer Ultra型号主要应用Zetasizer Lab 应用广泛,包括:学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具,广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛,被科学文献引用的次数达上万次,成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中,温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性,造成变性和聚集、功能丧失, 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选,并可协助配方开发, 从而优化流程和产品,消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位,以改善食品、饮料和调味料的外观及味道,并优化分散和乳化稳定性,从而延长产品保存期限,提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质,比如更高的催化活性和溶解度,或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定,以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度分析仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性(例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期)方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量,从而减少配方时间,加快新产品上市。消费品改良多种消费品时,需要了解和控制胶体参数,引导颗粒间的相互作用,并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度, 并测量乳液的液滴大小和稳定性。
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  • BeNano 180 Zeta 纳米粒度及Zeta电位仪是BeNano 180 + BeNano Zeta的二合一光学检测系统。该系统中集成了背向动态光散射DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数,可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标粒径测试原理动态光散射粒径范围0.3nm-10μm★样品量40 μL – 1 mL★检测角度173° & 12°分析算法Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLSZeta电位测试技术相位分析光散射检测角度12°Zeta范围无实际限制电泳迁移率范围±20um.cm/v.s电导率范围0-260mS/cmZeta测试粒径范围2nm-110μm分子量测试分子量范围342Da-2×107Da★微流变测试频率范围0.2-1.3×107 rad/s★测试能力均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量趋势测量模式时间和温度粘度测试粘度范围0.01cp-100cp★折光率范围1.3-1.6★系统参数温控范围-15°C-110°C,精度±0.1°C冷凝控制干燥的空气或氮气激光光源50mW高性能固体激光器,671nm相关器最快25 ns采样,最多4000通道,107动态线性检测器APD,高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%,手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件检测参数● 颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布● 颗粒体系的Zeta电位及其分布● 分子量● 分布系数PD.I● 扩散系数D● 流体力学直径DH● 颗粒间相互作用力因子kD● 溶液粘度检测技术● 动态光散射● 静态光散射● 电泳光散射相关技术相关应用
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  • BeNano 90 Zeta纳米粒度及Zeta电位仪是BeNano 90 + BeNano Zeta二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数,可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标粒径测试粒径范围0.3nm-15μm★样品量3μL-1mL★检测角度90° & 12°分析算法Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLSZeta电位测试技术相位分析光散射检测角度12°Zeta范围无实际限制电泳迁移率范围±20um.cm/v.s电导率范围0-260mS/cmZeta测试粒径范围2nm-110μm分子量测试分子量范围342Da-2×107Da★趋势测量模式时间和温度粘度测试粘度范围0.01cp-100cp★折光率范围1.3-1.6系统参数温控范围-15°C-110°C,精度±0.1°C冷凝控制干燥空气或者氮气激光光源50mW高性能固体激光器,671nm相关器最快25 ns采样,最多4000通道,1011动态线性检测器APD,高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%,手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件检测参数● 颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布● 颗粒体系的Zeta电位及其分布● 分子量● 分布系数PD.I● 扩散系数D● 流体力学直径DH● 颗粒间相互作用力因子kD● 溶液粘度检测技术● 动态光散射● 电泳光散射● 相位分析光散射● 静态光散射相关技术相关应用
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  • FTA系列废液收集器 400-860-5168转4784
    关键词:废液;回收;DNA/RNA;抽吸;FTA FTA系列废液收集器 FTA系列废液收集器是一款适用于个人的真空废液收集器,常用于日常实验中DNA/RNA纯化和高分子再提纯后管壁遗留下来酒精/缓冲液的回收,从培养基中细胞洗涤和在缓冲液中再悬浮等的常规操作。 FTA系列废液收集器包括FTA-1 型废液收集器(配1L收集瓶)和FTA-2i 型高级废液收集器(配2L收集瓶和液位传感器) 产品特性:? 疏水性微生物过滤器——能够载留大于0.027um的颗粒,有效防止收集瓶的污染,有效率达99.9% ? 一体化设计内置微型真空泵——产生负压能够吸取管壁上残留的液体? 小巧,紧凑,操作简单? 液位传感器检测液体液位,防止溢出(FTA-2i)? 可调真空负压: -200 to -800 mbar(FTA-2i) FTA系列废液收集器的技术参数产品型号FTA-1FTA-2i废液收集器高级废液收集器收集瓶容量L12真空负压mbar500-200 to -800 (可调)抽吸速率(水溶液)ml/min72(使用吸头);666(不使用吸头)液位传感器类型-浸入式溢流保护-断电保护,声警报和光警报电源输入 AC 120-230V, 50/60Hz 输出 DC 12V功率消耗3.6 (0.3A)10.8 (1A)工作电压V dc12重量kg1.71.85 FTA系列废液收集器可选配件产品型号产品描述FTA-1FTA-2iMA-88通道适配套装:包含有吸头适配器8通道抽吸吸头和支架(固定式、耐热)可选可选MA-8T8通道抽吸吸头可选可选FA-1可更换滤器可选-FTA-B1L抽吸瓶的蓝色盖子可选-FTA-T导管组件,包括除过滤器和吸嘴外的所有带配件的导管可选-HAS-1手动操作装置,包括手持真空控制器,1 通道适配器( 带喷射器) 用于200μL抽吸尖端,1 通道适配器与1 25mm不锈钢吸针,1 通道适配器与40mm不锈钢吸针,8通道适配器( 带喷射器) 用于200μL抽吸尖端,8通道适配器与35mm不锈钢吸针和SH-6支架。-可选 应用领域:? 在DNA/RNA纯化和其他大分子再沉淀技术中,从微管壁中吸收/去除酒精/缓冲液? 用于从培养基中细胞洗涤和在缓冲液中再悬浮的常规操作
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  • DataSnap土壤水分连续监测系统一、用途土壤水分含量是土壤重要指标之一,制约着土壤养分的溶解、转移、吸收及土壤微生物的活动,对土壤生产力有多方面的影响。土壤温度,也对土壤营。二、系统组成DataSnap数据采集器、TDR传感器(数量定制)、防水坚固的太阳能板、可充电锂电池(18650)、SnapView数据采集及分析软件和USB数据下载线三、系统优势及特色TDR技术设计结构简单,性价比高不受土壤电导率和紧实的影响对高盐分环境的高耐受力 测量记录土壤五参数可存储59000个数据组短路保护适应环境-20℃~50℃简单易操作太阳能供电(锂电池存电)低电量警示防水坚固四、系统技术指标1、数据采集器尺寸:16.5*16.5*12cm操作温度:-10℃~50℃环境湿度:0~90%USB端口输入电压和电流:5± 0.5V,500mA太阳能供电电压:5~10VDC传感器电压:0~5VDC传感器电压输出:12VDC传感器短路电流:500mA ± 20%2、土壤传感器TDR传感器(315H/310H)物理性能探针针长315H:针长15cm,直径0.35cm310H:针长10cm,直径0.35cm材质315H: 环氧树脂和不锈钢探针,扁平状310H:环氧树脂和不锈钢探针,柱状缆线3芯防水,10m测量参数范围体积含水量0~饱和介电常数1~80体积电导率0~5000μS/cm温度-40℃~60℃孔隙水电导率0~55000μS/cm耗电性能读数时间(返回数据)0.25s操作电压3.5~15V直流电流消耗10μA能耗2 J/day介电常数(直接由波形传播时间计算,与土壤电导率无关,是TDR的主要优势)分辨率0.1重复性(RMS偏离)0.07精度粗质和中质土壤:±1细质土壤:±2体积含水量分辨率0.1%重复性(RMS偏离)0.07%精度粗质和中质土壤:± 1%细质土壤:± 2.5%体积电导率分辨率1 μS/cm重复性(RMS偏离)3 μS/cm精度0~1000μS/cm: 25μS/cm1000~2000μS/cm: ± 2.5%μS/cm2000~5000μS/cm: ± 5%μS/cm温度分辨率0.1 ℃重复性(RMS偏离)0.01%精度± 0.25℃孔隙水电导率此参数基于Hihors模型,由介电常数和体积电导率计算得到TDT传感器(SEN-SDI)物理特性尺寸20*5.33*1.5cm重量480g组成不锈钢和环氧树脂PVC缆线3芯,pvc保护,10m长环境特性操作温度1℃~50℃(VWC),-20℃~50℃(其他data)存放温度20℃~75℃防雷保护6 kV @ 3 kA, 8/50 μs 测量特性土壤体积含水量0~饱和分辨率0.06%VWCjue对水分含量精度± 2%电导率稳定性(重复性)±1%(0~5ds/m范围)电导率精度±0.2ds/m(0~5ds/m范围)温度精度± 2℃(1℃~50℃范围内)硬件性能测量技术波形数字化时域透射(TDT)you效波形带宽200 Giga-sample / S波形传播时间ps波形传播分辨率1.5mm(空气中),0.16mm(水中)不锈钢导体长度30cm传播波形带宽20GHz通讯接口SDI-12缆线长度≤ 60m供电特性工作电压6~15V睡眠模式电流60μA通讯电流6mA读取数据时间425ms工作电流84mA@12VDC/98mA@8VDC/110mA@6VDC水分测量时间450ms产地:美国
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  • LINOS F-Theta-Ronar透镜 400-860-5168转1451
    Qioptiq 开发了一系列使用熔融石英材质的 F-ThetaRonar 透镜, 本产品特别适合使用于高功率及/或超短脉寛的激光材料加工应用. 熔融石英材质能将焦点偏移降至最低, 当使用在高能量密度的激光之下更能体现其好处. 考虑到激光加工流程中, 背反射的严重性, 本产品在光学设计上经过优化, 能降低因背反射导致振镜镜片损坏的风险. F-Theta-Ronar 透镜的镜片组, 使用精良的寛带镀膜, 镀膜本身已在大扫描角度上进行优化. 固本产品在各领域的激光加工应用上, 拥有良好表现。产品特征/功能 • 可供选购的波长为 355 nm, 450 nm, 532 nm,1064 nm 或 1940 nm• 焦距可选择范围, 从 70 mm 至 440 mm• 寛带波长镀膜为 340-360 nm, 440-460 nm,515-540 nm, 1030-1080 nm 或 1900-2000 nm• 使用先进的生产工艺, 确保在不同的环镜之下, 长时间使用中, 光学稳定性都能维持高质数 技术参数• 先进设计, 确保只会有有限度的衍射效应• 镜片材料完全使用熔融石英制成• 通光率 T(340-360) ≥ 96 %, T (440-460) ≥ 96 %,T (515-540) ≥ 96 %, T (1030-1080) ≥ 96 % and T (1940) ≥ 95 %• 部分塲镜使用低吸收率镀膜, ≤ 30 ppm at 532 nm及 ≤ 20 ppm at 1064 nm• 损伤阀值 (最高) :LIDT up to 40 J/cm2 at 1064 nm, 12 nsLIDT up to 0.9 J/cm2 at 1030 nm, 291 fsLIDT up to 20 J/cm2 at 532 nm, 8 nsLIDT up to 0.6 J/cm2 at 515 nm, 204 fsLIDT up to 4 J/cm2 at 355 nm, 6 ns• 包含可换的熔融石英材质保护镜片• 符合 IP6X 标准无尘外观包括保护玻璃 LINOS F-Theta-Ronar 透镜 -使用熔融石英材质 波长(nm)焦距(mm)输入光斑直径 (mm),參照 1/e2范围(mm2)光斑大小(μm)产品编号340 - 360160798 x 98154401-399-000-21340 - 36025510170 x 170174401-481-000-21440 - 4602623061 x 6184401-611-000-26*515 - 5401601483 x 83124401-587-000-26*515 - 54025510183 x 183254401-496-000-26*515 - 54026520133 x 133134401-605-000-26*515 - 54042014251 x 251294401-590-000-26*1030 - 10801631485 x 85234401-589-000-26*1030 - 108025510187 x 187504401-499-000-26*1030 - 108027020136 x 136274401-604-000-26*1030 - 108034020176 x 176334401-546-000-26*1030 - 108042020254 x 254424401-508-000-26*1900 - 200026514155 x 155684401-588-000-211900 - 200035414214 x 214904401-569-000-211900 - 200043714292 x 2921004401-568-000-21 LINOS F-Theta-Ronar 透镜 - 使用熔融石英材质 及 远心设计 波長(nm)焦距(mm)远心误差(°)输入光斑直径 (mm),參照 1/e2范围(mm2)光斑大小(μm)产品编号340 - 360700.81028 x 2854401-576-000-21340 - 3601000.51046 x 4674401-509-000-21340 - 3601670.21065 x 65134401-511-000-21515 - 540751.41424 x 2454401-599-000-26*515 - 5401001.71443 x 4394401-547-000-26*515 - 5401141.21065 x 65114401-608-000-26*515 - 5401673.41486 x 86124401-517-000-26*515 - 5402500.41469 x 69174401-616-000-26*1030 - 1080701.81426 x 26104401-551-000-26*1030 - 10801002.11444 x 44154401-561-000-26*1030 - 10801181.61450 x 50174401-607-000-26*1030 - 10801673.72084 x 84164401-513-000-26*1030 - 10802510.62063 x 63254401-631-000-26*• 使用非预设的光斑直径输入的话, 会令到扫描范围及光斑大小有所改变.
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  • 哈希升级研发了全新一代氨氮在线监测产品——Amtax NA8000氨氮检测仪,来满足中国市场对于氨氮检测仪的需求。Amtax NA8000氨氮检测仪采用水杨酸-靛酚蓝法,在测量准确性、稳定性及维护等方面做出了改进。该氨氮检测仪采用双波长及双光程比色皿设计,4档量程可自动切换,自动校准、清洗,同时支持数据存储和图形显示。- 工作原理:mtax NA8000氨氮检测仪采用水杨酸 - 靛酚蓝法测定氨氮浓度,由于催化剂的作用,NH4+在碱性介质中,与次氯酸根离子和水杨酸盐离子反应,生成靛酚化合物,并呈现出绿色。在氨氮检测仪测量范围内,其颜色改变程度和样品中的NH4+浓度成正比。Amtax NA8000氨氮在线监测仪通过测量颜色变化的程度计算出样品中NH4+的浓度,从而实现氨氮在线监测。- 应用行业:Amtax NA8000氨氮检测仪适用于市政污水、饮用水、地表水及工业等领域的氨氮在线监测。- 仪器特点:● Amtax NA8000氨氮检测仪采用双波长及双光程的比色皿设计,通过参比光束的测量,消除了样品浊度、电源波动等因素对氨氮在线监测结果的干扰。● Amtax NA8000氨氮检测仪提供多种固定量程选择,同时量程可自动切换,灵活性高。● 使用CYQ型水样预处理器进行样品预处理。● 搭载哈希先进的Prognosys预诊断技术,提供预防性维护提醒,降低氨氮在线监测仪停机风险。● 可灵活配置多通道多模块输入输出模块。● Amtax NA8000氨氮在线监测仪具有自动校准和自动清洗等功能,维护量低。● 支持数据存储和图形显示功能。● 试剂常温保存及使用。● Amtax NA8000氨氮在线监测仪支持中英文操作界面,历史数据显示更友好。技术指标测量范围NA8000.01: (0.020~160.0)mg/L,自动量程切换 NA8000.02: (0.020~1000)mg/L,自动量程切换和稀释准确度(0.020~15.00)mg/L: ±(0.06 mg/L 或 3%) (0.050~30.00)mg/L: ±(0.15 mg/L 或 3%)(12.00~160.0) mg/L: ±(0.90 mg/L 或3%) (80.00~1000)mg/L: ±10%重复性(0.020~15.00)mg/L: ≤ (0.02 mg/L 或2%) (0.050~30.00)mg/L: ≤ (0.04 mg/L 或2%)(12.00~160.0)mg/L: ≤ (0.6 mg/L或3%) (80.00~1000)mg/L: ≤ 3%显示分辨率≤9.999 mg/L:0.001 mg/L (10.00~99.99)mg/L:0.01 mg/L (100.0~999.9)mg/L:0.1 mg/L≥1000 mg/L:1 mg/L额定功率100W测量间隔连续测量、30分钟、1小时、2小时、4小时、用户自定义、触发(可选)样品要求样品压力:0.04 bar至1 bar(0.6 psi至14.5 psi)样品流速:100-600 mL/min采样管:1/4英寸 外径样品温度:5℃-40℃ (41℉至104℉)告警/事件记录两年或20000条数据记录20000条校准方法手动、自动校准,校准周期可选工作温度范围5℃-40℃相对湿度≤95%相对湿度,无凝露操作界面中英文界面,彩色触摸屏外壳防护等级IP55(在机箱门关闭的情况下),仅限室内使用仪器尺寸(L×W×H)455mm×365mm×805mm安装方式壁挂式或桌面安装(室内)仪器装运重量约28kg(621b)(不包括试剂)电源要求100~240V,50/60Hz输入输出2路24VDC /3A继电器单刀双掷控制; RS485 Modbus; 0/4-20 mA模拟输出; 数字输入(可选)其他功能1. 内置标样核查功能,并能根据核查结果自动完成校准和复核。可扩展质控模块实现任意指定浓度的标样核查和加标回收功能。 2. 分析废液和清洗废液分离(可选)Amtax NA8000主机9890900NA8000.01 型氨氮自动监测仪(0.020mg/L ~ 160.0mg/L),标配4-20mA 模拟信号输出I/O 模块9891000NA8000.02 型氨氮自动监测仪(0.020mg/L ~ 1,000mg/L),标配4-20mA 模拟信号输出I/O 模块配件信息可选配件9995500分析废液和清洗废液分离模块86464004-20 mA 模拟信号输出I/O 模块8646100数字量输入I/O 模块8646200继电器输出 I/O 模块试剂LCW936-CN试剂及标液套装(含LCW937-CN,LCW938-CN,LCW939-CN,LCW940-CN,LCW941-CN)LCW937-CN化学试剂(A 及添加剂,B,C)LCW938-CN空白标准液LCW939-CN标准溶液1 (5mg/L)LCW940-CN标准溶液2 (50mg/L)LCW941-CN清洗液CYQ型水样预处理器CYQ-106C孔径为100μm,材质为SS304不锈钢,适用于自来水厂、污水处理厂等水质较好的排口CYQ-104C孔径为0.1μm,材质为PVDF(聚偏氟乙烯),适用于污水处理进口、过程水等水质情况较为恶劣的现场
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  • 动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时,由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移,导致散射光信号随时间发生动态变化,该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关,而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小,颗粒大布朗运动速度低,反之颗粒小布朗运动速度高,因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律,使用光子探测器在固定的角度采集散射光,通过相关器进行自相关运算得到相关函数,再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统:采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路,充分满足空间相干性的要求,极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器:采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管,对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比; 采用边沿触发模式对光子进行计数,瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器:采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器,有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾,实现了大的动态范围,并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统:基于半导体制冷技术,采用自适应PID控制算法,使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能:引入分位数检测异常值的方法,鉴别受灰尘干扰的散射光数据,并剔除异常值,提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法:采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数,基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布,测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高,颗粒间的相互排斥力越大,胶体体系愈稳定, 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动,单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时,会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动,与液体之间形成滑动面,滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程,通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路,替代传统电泳光散射的分立光路,使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰,有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析,获取需要细化分析的频谱范围,然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析,从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型,求解颗粒的双电层厚度,获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值,再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式,进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值:当双电层厚度远远小于颗粒的半径,即ka1,Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时,即ka1,Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合, 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能,一键式测量,自动调整散射光强, 无需用户干涉,自动优化光子相关器参数,以适应不同样品,让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能,让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行,测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表,以可视化的方式展示测量结果,让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标
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  • nT纳特斯拉计-3NTA2 400-860-5168转2831
    nT纳特斯拉计-3NTA2昊量光电全新推出的nT纳特斯拉计-3NTA2。3NTA2-nT纳特斯拉计是一种基于高磁分辨率各向异性磁阻 (AMR) 传感器的高性能磁场测量仪器。nT纳特斯拉计用于测量 nT(纳特斯拉)至 100µ T (1 高斯)的磁场。 SENIS 提供 1 轴、2 轴或 3 轴 Nanoteslameter,包括一个空间分辨率极高(几毫米)的紧凑型 AMR 探头、一个用于信号调节的电子模块以及用于数据采集和可视化的用户友好型 LabVIEW 软件。由非铁氧体材料制成的电子模块包括一个电源装置、带 16 位 AD 转换器的数据采集卡、信号放大器、温度补偿和探头偏置装置。通过一个特殊的电子接口,探头电缆可延长至 40 米,测量范围可扩展至 500µ T (5 高斯)。nT纳特斯拉计-3NTA2突出亮点:测量范围:1nT - 0.1mT测量精度:1%磁场分辨率:500pT噪声谱密度:1nT/√Hz1、2、3 轴 AMR 探头非常小的探头尺寸高空间分辨率:1.25x0.5x0.25mm测量范围为 100 µ T 的数据nT纳特斯拉计-3NTA2软件界面:nT纳特斯拉计-3NTA2应用领域:监测和主动消除环境磁场测量电机杂散磁场定向钻探nT纳特斯拉计-3NTA2视频讲解:产品详细信息可联系我们或下载数据资料!更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是国内知名光电产品专业代理商,代理品牌均处于相关领域的发展前沿;产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等,涉及应用领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及更细分的前沿市场如量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等优质服务。
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  • 产品特点1. 完全支持猫狗类呼吸麻醉,支持0.5-100kg动物2. 旁通阀快速更换蒸发器安装设备3. 动物专用双风箱设计,满足临床科研需求4. 新鲜气体直流麻醉专用接口,开放式麻醉机设计,适用低流量小动物麻醉5 .专业主动式POP-Off压力释放阀设计,一方面与废气回收系统连接,一方面为再呼吸气囊提供持续2cmH2O负压,有效预防动物由于压力过大而受到伤害,确保动物安全6. 专业的气密性呼吸线路设计,以保证麻醉气体的稳定,减少麻醉气体的消耗,以确保干净的呼吸空间及实验环境7. 钠石灰罐可重复使用,更易观察及更换钠石灰8. 吸气和呼气阀可见,可一准确的知道动物的呼吸状态9. 带有快速供氧阀功能,在临床麻醉时确保氧气的供应需求10. 麻醉蒸发器,温度,流量及压力补偿11. 回路的闭塞系统有效防止泄漏及误接,避免操作者长期或误吸入麻醉剂12. 精密的CO2 吸收罐设计,以最少量的钠石灰吸收最多的呼出废气13. 带气道压力,气源压力监测,方便医生判断动物和机器状态14. 提供氧气旁通开关,以便在动物预处理、仪器测试或任何紧急状态下,让氧气直接导通;确保手术顺利进行和动物安全.15. 铝制型材麻醉专用台车带储物筐和废气吸收系统,美观大方,节省空间,方便储物,麻醉废气一罐收尽.主机工作模式:封闭,半封闭,半开放,开放驱动模式: 气体驱动应用范围:0.5-100kg动物蒸发器:异氟醚和七氟醚可选快速供氧:25L/min~75L/min气源压力:氧气0.25Mpa~0.65Mpa气道压力 :-30~60CMH2O高质量铝合金型材台车,稳固带储物筐和废气排放专用接口蒸发器带压力,流量和温度自动补偿功能自带安全锁浓度范围:异氟醚:0.2 to 5% 七氟醚:0.2 to 8%流速范围:0.2 to 15L/min当浓度5 vol%,0.2 to 10L/Min(正常应用) 容量:340ML(干腔)300ML(湿腔)悬挂类型:Selectatec国际标准类型 选配Cagemout类型 配置:包含主机,氧气气源管,气瓶减压器,蒸发器(异氟醚或者七氟迷),台车,动物呼吸管路,可重复硅胶管,废气吸收系统,气管插管钠石灰宠物专用面罩,喉镜,选配:麻醉呼吸机DAV80V,DAV60V非循环管路,活性炭,呼吸机支架回路钠石灰筒容量:50ML0--750ML动物专用集成式回路,可以134°C高温高压消毒专用新鲜气体接口可以连接开放式回路,适用低流量小动物或异宠可视式陶瓷吸气和呼气阀片,经久耐用专业主动式POP-Off压力释放阀设计,一方面与废气回收系统连接,一方面为再呼吸气囊提供持续2cmH2O负压快速更换钠石灰筒设计流量计动物专用氧气流量计刻度范围小:0~5L/min
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  • FTA系列废液收集器 FTA系列废液收集器是一款适用于个人的真空废液收集器,常用于日常实验中DNA/RNA纯化和高分子再提纯后管壁遗留下来酒精/缓冲液的回收,从培养基中细胞洗涤和在缓冲液中再悬浮等的常规操作。 FTA系列废液收集器包括FTA-1 型废液收集器(配1L收集瓶)和FTA-2i 型高级废液收集器(配2L收集瓶和液位传感器) 产品特性:? 疏水性微生物过滤器——能够载留大于0.027um的颗粒,有效防止收集瓶的污染,有效率达99.9% ? 一体化设计内置微型真空泵——产生负压能够吸取管壁上残留的液体? 小巧,紧凑,操作简单? 液位传感器检测液体液位,防止溢出(FTA-2i)? 可调真空负压: -200 to -800 mbar(FTA-2i) FTA系列废液收集器的技术参数产品型号FTA-1FTA-2i废液收集器高级废液收集器收集瓶容量L12真空负压mbar500-200 to -800 (可调)抽吸速率(水溶液)ml/min72(使用吸头);666(不使用吸头)液位传感器类型-浸入式溢流保护-断电保护,声警报和光警报电源输入 AC 120-230V, 50/60Hz 输出 DC 12V功率消耗3.6 (0.3A)10.8 (1A)工作电压V dc12重量kg1.71.85 FTA系列废液收集器可选配件产品型号产品描述FTA-1FTA-2iMA-88通道适配套装:包含有吸头适配器8通道抽吸吸头和支架(固定式、耐热)可选可选MA-8T8通道抽吸吸头可选可选FA-1可更换滤器可选-FTA-B1L抽吸瓶的蓝色盖子可选-FTA-T导管组件,包括除过滤器和吸嘴外的所有带配件的导管可选-HAS-1手动操作装置,包括手持真空控制器,1 通道适配器( 带喷射器) 用于200μL抽吸尖端,1 通道适配器与1 25mm不锈钢吸针,1 通道适配器与40mm不锈钢吸针,8通道适配器( 带喷射器) 用于200μL抽吸尖端,8通道适配器与35mm不锈钢吸针和SH-6支架。-可选 应用领域:? 在DNA/RNA纯化和其他大分子再沉淀技术中,从微管壁中吸收/去除酒精/缓冲液? 用于从培养基中细胞洗涤和在缓冲液中再悬浮的常规操作
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  • Zeta&trade -20是一个高度集成的光学轮廓显微镜,可在紧凑、耐用的包装下提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot&trade 技术,可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-20 3D显微镜支持研发和生产环境,具有多模光学器件、易于使用的软件和性价比高等优势。产品描述Zeta-20台式光学轮廓仪是一款非接触式3D显微镜及表面形貌量测系统。该3D光学量测系统由ZDot技术及多模式光学组件提供支持,可支持各种样品测量:透明和不透明、低反射率和高反射率、光滑表面和粗糙纹理,以及从纳米到厘米范围的台阶高度。Zeta-20台式光学轮廓仪集六种不同的光学量测技术于一身,是一款可灵活配置且易于使用的系统。ZDot测量模式同时收集高分辨率的3D扫描信息和样品表面真彩色图像。其他3D测量技术包括白光干涉测量法、诺马斯基光干涉对比显微法和剪切干涉测量法,膜厚测量包含使用ZDot模式测量和光谱反射的测量方法。Zeta-20也是一款高端显微镜,可用于抽样检查或缺陷的自动检测。Zeta-20通过提供全面的台阶高度、粗糙度及薄膜厚度测量以及缺陷检测功能来支持研发和生产环境。主要功能● 配合ZDot及多模式光学组件,光学轮廓仪可以容易地实现各种各样的应用● 用于抽样检查和缺陷检测的高质量显微镜● ZDot:同时采集高分辨率3D扫描数据和样品表面真彩色图像● ZXI:采用z方向高分辨率的广域测量白光干涉仪 ZIC:亚纳米级粗糙度表面的定量3D数据的干涉对比● ZIC:图像对比度增强,可实现亚纳米级粗糙度表面的定量分析● ZSI:z方向高分辨率图像的剪切干涉测量法● ZFT:通过集成式宽频反射测量法测量薄膜厚度和反射率● AOI:自动光学检测,并对样品上的缺陷进行量化● 生产能力:具有多点量测和图形识别功能的全自动测量主要应用● 台阶高度:纳米级到毫米级的3D台阶高度● 纹理:光滑表面到粗糙表面的粗糙度和波纹度测试● 翘曲:2D或3D翘曲和形状● 应力:2D或3D薄膜应力● 薄膜厚度:30nm到100μm的透明薄膜厚度● 缺陷检测:捕获大于1μm的缺陷● 缺陷复检:KLARF文件可用于寻找缺陷,以确定划痕缺陷位置,测量缺陷3D表面形貌台阶高度Zeta-20能够非接触式测量从纳米级到毫米级的3D台阶高度。ZDot和多模式光学组件可提供一系列方法来测量台阶高度。ZDot是主要测量的技术,可以快速测量从几十纳米到毫米级的台阶。ZXI干涉测量可用于在大范围内测量从纳米级到毫米级的台阶。ZSI剪切干涉测量可用于测量不到80nm的台阶。薄膜厚度Zeta-20能够使用ZDot或ZFT测量技术测量透明薄膜的薄膜厚度。ZDot用于测量大于10µ m的透明薄膜,例如覆盖在高折射率的衬底上的光刻胶或微流体器件层。ZFT使用集成宽频反射仪测量30nm至100µ m的薄膜。这既可以运用于单层,也可以运用于多层薄膜堆叠,用户可以输入薄膜的性质或使用模型来拟合光谱。纹理:粗糙度和波纹度Zeta-20测量3D纹理、量化样品的粗糙度和波纹度。ZDot可以测量从几十纳米到非常粗糙的表面的粗糙度。ZSI和干涉测量可以测量从埃级到微米级的光滑表面。软件中的过滤器将测量结果分为粗糙度和波纹度两部分,并计算出均方根粗糙度等参数。诺马斯基光干涉对比显微法可以通过揭示斜率的微小变化来可视化非常精细的表面细节。翘曲:翘曲,形状Zeta-20可以测量表面的2D和3D形状或翘曲。这包括半导体或化合物半导体器件生产过程中层间不匹配导致的晶圆翘曲的测量。Zeta-20还可以测量结构(例如透镜)的3D高度和曲率半径。应力:薄膜应力Zeta-20能够测量具有多个工艺层的器件(例如半导体或化合物半导体器件)在生产过程中的应力。精确测量表面的翘曲度需要使用应力载台将样品支撑在中间位置。然后运用Stoney公式的原理根据工艺(诸如薄膜沉积)带来的形貌变化来计算应力。Zeta-20通过在整个样品直径上以用户定义的间隔测量样品表面的高度,然后把数据合成样品形状的轮廓来测量2D应力。自动缺陷检测Zeta-20能够通过自动光学检测 (AOI) 快速检测样品,区分不同的缺陷类型,并绘制整个样品的缺陷分布图。当与3D量测功能结合使用时,Zeta-20可以提供2D检测系统无法提供的缺陷高度信息,从而更快地分析缺陷来源。缺陷表征Zeta-20缺陷表征使用检查工具KLARF文件将样品台移动到缺陷位置。用户可以使用Zeta-20检测缺陷或测量缺陷的表面形貌,例如高度、厚度或纹理。这提供了更多无法从2D缺陷检测系统获得的缺陷细节。Zeta-20还可以使用划线标记缺陷,从而使视场有限的工具(例如SEM)更容易找到缺陷。光伏太阳能电池Zeta-20光学轮廓仪非常适合太阳能电池应用,因为它支持测量同时具有非常低和非常高反射率材料的表面。该系统可以量化蚀刻后纹理——反射率不到1%的金字塔结构,这对太阳能电池的光捕获能力至关重要。与这些纹理相邻的是反射率大于90%的银浆接触线。具有ZDot和高动态范围测量技术的Zeta-20可以同时测量反射率非常低和非常高的区域,量化银浆线的高度、宽度和沉积银浆体积,从而确定电阻数值。此外,Zeta-20还可用于测量来料硅片的粗糙度、隔离沟道深度、样品翘曲度、应力和3D缺陷,使用ZFT还可以测量氮化物膜厚度。半导体和化合物半导体封装Zeta-20支持晶圆级芯片封装 (WLCSP) 和扇出晶圆级封装 (FOWLP) 量测要求。一个主要的赋能技术是在干光刻胶膜完好无损的情况下测量镀铜的高度。这是通过从透明光刻胶到种子层测量铜柱的高度、光刻胶的厚度以及铜和光刻胶的相对高度差来实现的。其他应用包括重布线 (RDL)、凸点下金属化 (UBM) 高度和纹理、光刻胶开口临界尺寸 (CD)、光刻胶厚度和聚酰亚胺厚度的测量。还可以测量金属凸点的共面性,以确定凸点高度是否满足最终器件封装连接性要求。印刷电路板 (PCB) 和柔性 PCBZeta-20 的高动态范围模式可实现从纳米级到毫米级的表面粗糙度和台阶高度测量,无需更改配置。它可以处理高反射率薄膜(例如铜)以及 PCB 上常见的透明薄膜。Zeta-20支持盲孔、线痕和热压焊的关键尺寸测量(高度和宽度)以及表面粗糙度。激光烧蚀Zeta-20 可以测量半导体、LED、微流体器件、PCB等的激光表面处理引起的表面形貌变化。激光已被用于半导体、LED和生物医学设备等行业的精密微观尺度加工和表面处理。对于半导体行业,晶圆ID标记的深度和宽度的测量对于确保它可以在众多加工步骤中成功读取至关重要。Zeta-20可以测量柔性电路和晶圆上创建的高深宽比孔的台阶高度。它还可以测量太阳能电池隔离沟道的深度和宽度,从而提高器件效率。微流体Zeta-20能够测量由硅、玻璃和聚合物等材料制成的微流体器件。该系统量化了通道、孔和控制结构的高度、宽度、边缘轮廓和纹理。Zeta-20可进行折射率补偿,测量用透明顶盖板密封后的最终器件,从而监测腔道的深度。生物技术Zeta-20非常适合生物技术应用,可对具有从纳米级到毫米级特征的各种样品表面进行非接触式测量。Zeta-20可以测量高高宽比台阶,例如生物技术器件的深孔的深度。借助高数值孔径物镜和对反射能力极弱的样品的分辨能力,可以测量用于药物输送的微针阵列结构。数据存储Zeta-20 CM专门用于测量磁盘边缘几何图形和检查污染或损坏。在磁盘的边缘,顶面表面和侧面之间的转变必须具有光滑的斜切面,否则磁盘边缘的扰动可能导致读写头在磁盘上遭受毁灭性的撞击。该系统配置包括一个倾斜样品台,用于在边缘测量和检测期间旋转圆盘。适用行业● 太阳能:光伏太阳能电池● 半导体和化合物半导体● 半导体WLCSP(晶圆级芯片级封装)● 半导体FOWLP(扇出晶圆级封装)● PCB(印刷电路板)和柔性PCB● MEMS(微机电系统)● 医疗器械和微流体器件● 数据存储● 大学,实验室和研究所● 还有更多:请联系我们以探讨您的需求选配件ZFT:Zeta薄膜厚度Zeta-20拥有集成式宽频光谱仪,用于测量厚度30nm至100µ m的透明薄膜。它能够测量单层或多层堆叠薄膜的厚度,用户从材料库中选择折射率值。可绘制样品上的薄膜厚度分布图,以确定样品的均匀性。ZFT可运用在一些反射率极低的表面,例如反射率低于0.1%的太阳能电池。很多薄膜厚度测量机台难以从这些类型的表面上获得信号,因为它们依赖于镜面反射光来计算相位变化或其他参数。宽频白光和垂直入射光源可支持该机台用于各种低反射率光学透明薄膜。ZXI:Zeta干涉测量技术Zeta-20 与压电载台及干涉物镜结合使用,可支持相位扫描干涉测量法 (PSI) 和垂直扫描干涉测量法 (VSI)。PSI 支持快速测量几埃到数百纳米的台阶高度。VSI支持从数百纳米到数百微米的台阶高度测量。无论物镜数值孔径的大小,两者的分辨率均好于纳米级。ZIC:Zeta 干涉对比Zeta-20 采用诺马斯基光差分干涉对比显微法来提供精细表面细节的增强影像。诺马斯基光差分干涉对比显微法采用偏振和棱镜来更改相位,从而增强样品表面坡度的变化。这能让超光滑表面上的缺陷可视化,例如单层污染物。ZIC 扫描模式可通过将坡度变化与其他技术测量的粗糙度相关联,将这些图像转化为亚纳米级粗糙度的定量测量。ZSI:Zeta 剪切干涉测量法Zeta-20剪切干涉测量技术 (ZSI) 通过改变相位来强化ZIC测量。采集具有不同相位的多幅影像,然后通过先进的算法加以处理,以生成具有埃级分辨率的表面形貌的定量测量。该技术无需干涉物镜和z方向载物台扫描,即可完成从几埃到80nm的高分辨率测量。物镜提供多种物镜,包括 1.25 倍至 150 倍的常规物镜、长工作距离物镜、超长工作距离物镜、折射率校正物镜、透射式物镜、液体浸没式物镜和垂直扫描干涉物镜。耦合器Zeta-20 可配置四种不同的光耦合器,以改变光学放大倍率。该系统可配置 1 倍耦合器,以保持初始放大倍率,或配置 0.35 倍、0.5 倍或 0.63 倍耦合器,以提高放大倍率。物镜转台Zeta-20可配置 5 位或 6 位手动转台,以及一个用于自动物镜识别 的物镜传感器。该系统还可以配置一个可实现全自动操作的 6 位自动转台。样品光照Zeta-20采用双高亮白色LED作为标准光照。通过样品载台的背光也可增强光线用来测试具有挑战性的透明样品。Zeta-20还支持使用侧光源的暗场照明。样品台Zeta-20可以配置各种样品台以提高系统性能。在 ZDot或 ZXI 测量模式下测量纳米级台阶高度,可以添加压电 Z 轴平台提高 z 分辨率。Z 样品台可以安装在转环上,使测量头能够围绕样品旋转,从而改变表面入射角。XY样品台可配置手动100或300 毫米行程,或电动150或200毫米行程。可以将手动旋转样品台添加到 XY 样品台上。可添加手动调节的倾斜样品台,从而调平样品载台,以便进行干涉测量。样品载台Zeta-20可提供支持各种应用要求的载台。太阳能样品需要搭配156毫米的样品载台,或太阳能倾斜边缘载台以便倾斜样品,测量其边缘。背光载台可用于透明衬底,以支持透射照明。可提供 300 毫米的晶圆载台。如果我们没有您需要的载台,请联系我们提出您的需求。防震台Zeta-20的系统底座内置被动防震脚。如需额外防震,还可以提供被动或主动台式防震台。台阶高度和薄膜厚度标准片Zeta-20使用由 VLSI 提供的可追踪台阶高度的 NIST 薄膜和厚膜标准片。这些标准片在蚀刻的石英台阶上覆盖了铬涂层。可提供8纳米至250微米的台阶高度。现有经过认证的多台阶标准片具有8、25、50 和100µ m的名义台阶高度。该标准片具有用于XY校准的各种间距的图形。适用于ZFT的经过认证的厚度标准片由一个可供参考的硅表面和名义厚度为270nm的二氧化硅薄膜组成。还有可供参考的粗糙度和镜面样品等。多点测量功能多点测量功能利用电动XY样品台能让用户对样品上的测量位置进行设计。该系统会自动测量每个点位,并在用户定义的文件夹中保存结果。还会生成一份统计数据输出报告来概括结果。高级序列软件包括图形识别可自动对齐样品。可全自动测量,免受操作员失误的影响。在样品台上嵌入标准片后,可启用自动校准。拼接软件自动图像拼接软件使用电动 XY 样品台来组合相邻扫描,可生成比单一视场更大的拼接数据集。该系统可自动测量每个点位、对齐图像,并将它们组合成一个数据集。可以像分析任何其他结果文件一样分析结果。Apex分析软件Apex分析软件通过一套扩展的找平、过滤、台阶高度、粗糙度和表面形貌分析技术增强了该工具的标准数据分析能力。Apex支持ISO粗糙度计算方法以及当地标准,例如ASME。Apex还可以作为报告编写平台,能够添加文本、说明和通过/失败标准。Apex 支持 11 种语言。离线分析软件Zeta-20离线软件具有与该机台相同的数据分析和程式创建功能。这使用户能够创建程式和分析数据,而不占用机时。相关产品
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  • Navitar镜头 400-860-5168转3408
    6000 变焦™ 镜头系统的光学性能在高倍率应用领域,,6000 变焦镜头系列是好的选择。作为公认的行业标准,我们的多功能 6.5 倍变焦镜头设计,在不增加体积或费用的情况下赋予您的传统显微镜以放大功能。它们易于整合、组装和配置到您的具体应用中。与竞争产品相比,Navitar 6000 变焦系列提供了的光学性能、重复性和机械灵活性。6000 变焦™ 超变焦配合无限校正物镜实现高分辨率和放大倍率Navitar 的超变焦产品是半导体检测、流式细胞仪和其他高倍率应用的理想产品。其的设计实现了高分辨率和出色的对比度。这一系统融合了无限校正的平场复消色差物镜,实现较长的物距和的边缘平滑度和清晰度。根据使用的显微镜物镜,分辨率可调整为每毫米420至1650条线。超变焦也可以实现精细聚焦和/或同轴照明。6000 变焦™ 同轴照明Navitar 的 6000 变焦内设同轴照明 (1-60123) 是用于涉及如晶片、抛光样品和流体等的高度反射表面的理想产品。这一设计旨在为放大倍率更高的应用提供均匀的照明。同轴照明实现了极其细致的分辨率,这一特性在配合高分辨率相机时尤为显著。 12 倍变焦镜头系统Navitar 变焦范围和高分辨率组合对于那些高倍率的应用,如要求在光学性能、大变焦范围和价格之间取得平衡,那么Navitar 12x变焦镜头是最理想的选择。12x变焦具有更大的变焦范围,同时有 6000 变焦系列的所有机械灵活性,更高的数值孔径和的度和可重复性,可满足要求最苛刻的应用。变焦范围的这种组合,再加上大视场范围,意味着您现在只使用摄像检查系统就可以看到更广的部分,而无需累赘的显微镜。12X 超变焦适用高倍率应用的的光学质量Navitar 的12X 超变焦产品以的设计融合了无限校正物镜,实现较长物距和出色的边缘平滑度和清晰度。超变焦也可以实现精细聚焦或精细聚焦和同轴照明。12X 远心变焦Navitar 提供了12X 远心变焦系统,使用户在 0.4 度内达到的远心条件,同时保持恒定的视角和放大倍率。非常适合广泛应用,包括物体的精密尺寸测量或模式识别。四种远心转接器可用于 12X 变焦镜头:平直(无同轴光)、平直(有同轴光)、无 同轴光的直角转接器和折叠有同轴光的直角转接器。当与 1-50993 12X 变焦组合时,远心附件额定物距 173mm +/- 2mm。物距可由工厂从 165 修改至 186 mm。1X 转接环的放大倍率范围是 0.16X 至 1.94X,2X 转接环则是 0.32X 至3.88X。视野是 50 mm。一个上 2X 的 F 接口转接器可安装于 F 接口的相机。用于 6000 变焦、12X 变焦和Precise Eye镜头的 近红外镜头系统Navitar 的近红外变焦镜头系统具备高分辨率和的捕捉显微图像敏感性。我们特别对高倍率系统上的玻璃进行了镀膜,以优化 700-1550nm 波长范围内的图像。 可以买到带定格、光圈或电动系统的镜筒 注意:由于近红外镜头不在可见光谱内运行,所以所得到的图像与使用标准变焦系统时所得图像稍有不同。近红外镜头的标准镜头分辨率限值是基于 0.5 微米的假定平均波长,且与波长成反比(调制传递函数 = 可见波长下 3000x数值孔径)因此,代以 1.5 微米的波长将减少 3 倍的分辨率。实际上,这意味着在更高波长下对比度会稍有降低。 (当改变近红外区域内的波长时,可能需要细微的重新聚焦。)电动系统选项设计更加稳固Navitar 的电动化设计适用于 12X 和 6000 变焦系统,将磁场霍尔效应传感器和参照位置定位融为一体。霍尔效应传感器是固态器件,部件不可移动。电动镜头的同轴输入6000 变焦的同轴输入描述和光纤输入大小2-60200直径 8 mm2-61503直径 10 mm2-61955直径 12 mm2-602638 mm 平行同轴1-608128 mm 偏振器 12X 变焦的同轴输入描述和光纤输入大小2-50157直径 8 mm2-50751直径 10 mm2-50975直径 12 mm2-506028 mm 平行同轴1-505548 mm 偏振器电动控制器所有 12X 和 6000 变焦电动系统可以订购Navitar自有的控制器,通过 RS-232 系列或 USB 选择单轴或双轴控制特点。软件包括简单轴控制的演示应用用户界面 “GUI” 。通过 15 针高密度 d-sub 接口进行连接。可以安排为 OEM 平台同化供应基础软件代码。Precise Eye 系统为固定观察应用提供高放大倍率,Navitar 的Precise Eye镜头系列的设计旨在提供比标准 C-接口摄像镜头更优越的光学性能。Ultra Precise Eye 镜头Navitar 提供各种Ultra Precise Eye 镜头 系统,是高倍率应用的理想产品。的设计产生出色的对比度和度,同时具有比标准精密目镜更高的分辨率和放大倍率。这些系统融合了无限远校正物镜,实现较长的工作距离和的边缘平滑度和清晰度。超精密目镜也可以实现精细聚焦 (1-61521) 或精细聚焦和同轴照明 (1-61522)。MicroMate 3:1 变焦镜头系统MicroMate 是专门为现今的高分辨率 4/3” 传感器相机而设计的。与无限远校正物镜组合时,它以 22.5mm 对角线成像,无暗角。模组化设计使得传统显微镜选项,如荧光、DIC、明场和暗场成像无缝集成在一起。NUV-VIS 变焦镜头系统NUV-VIS 变焦是电动成像镜头系统,在 330nm 至 700nm 光谱范围内运行,变焦比例为 6.2:1。它是适用于高倍显微镜和 OEM 应用,如蛋白质晶体学、法医物证分析和表面缺陷检测的理想数字成像产品。模组化显微镜镜筒系统 (MTL) 图Navitar 新产品系列-模组化显微镜镜筒是OEM,科学研究领域的成像和检测应用的理想解决方案,例如量测,平板显示检测和细胞成像。照明产品Navitar 提供LED 环形灯、明光 LED 同轴照明、光纤照明和电源供应。光纤照明这些光纤照明包括具有可变光强度控制功能的卤素照明系统。它们选用单或双光管或可附加的环形灯以照亮更大的区域。这些照明器具工作温度低,噪音输出低。LED 照明 Navitar 可以制造任何长度的光纤灯泡和环形灯。请直接联系Navitar 告知您的具体要求。 Navitar 有两种以 LED 为基础的产品:明光同轴照明器和环形光照明器设计旨在匹配我司视觉系统的光学性能,每一种照明系统都是为适用特定系统而创造,例如 Navitar 的 6000 变焦、12X 变焦或精密目镜系统。每一种照明组件均配备了恰当数量的LED,可在好的光学位置为整个视场提供强大的照明。大画幅镜头Navitar 的大画幅镜头,包括 Kowa 和 蔡司之类的品牌,满足从中心到边缘高分辨率、低失真和对F数有具体要求的应用。这些镜头不是改良视频镜头 它们的设计旨在匹配高端百万像素类型相机的性能。Navitar 镜头25mm 铂金款镜头我司创新的 25 mm 多倍率镜头 (1-15838) 用于 F 接口或 C 接口相机,并具有每毫米 200 线对的分辨率。它是视觉系统应用的理想产品。这一广角镜头的设计旨在让相机观察更广的区域而无需一般镜头要求的大距离。Navitar 的 25 mm 镜头表现为固定 F/8 孔径,实现景深和分辨率之间的平衡,并同时保持显著的集光功能。它具有 42 mm 的图像覆盖范围和 0.1X 下 15.4 mm 至 0.5X 下 1.1 mm 的景深范围。它的低失真让相机实现三维测量而无需辅助软件。蔡司镜头蔡司 ZF 镜头具备专业摄像技术和工业应用要求的图像质量。ZF 镜头与尼康 F-Bayonet 兼容,符合全球认可的具有大画幅图像传感器的高分辨率工业性相机标准。Zeiss ZF 镜头的特点是高度的手动聚焦和稳固设计。高图像清晰度、色纯度、杂散光的吸收和的失真相机使用。Kowa 镜头这些大画幅镜头对机器视觉、检验和质量控制等进行了优化。坚固、紧凑的设计使其十分适合要求苛刻的应用。低失真使其可用于近距离观察和对应 4K 线扫描相机。EasyReader 成像系统 EasyReader 大画幅镜头为模块化设计,从而实现高度灵活的光学性能,如倍率,工作距离,视场,传感器尺寸,数值孔径,F数,相机接口类型等都可根据用户的应用选择好的解决方案。Navitar 机器视觉视频镜头Navitar 具有高品质的视频镜头,从广角到长焦均具有高分辨率、低失真和整个成像面的均匀成像效果。用于工业应用的低倍率视频镜头种类丰富,包括 富士能、 Kowa、SWIR、7000 变焦等。质量构建结合精密工程成就了视频光学的锐利、高分辨率和光学。SWIR 超光谱镜头Navitar 的定焦 SWIR 超光谱镜头是专门为 SWIR(短波红外)相机和应用而设计。镜头有焦距从 8 mm 至 50 mm 各种规格。这些镜头是各种使用SWIR 相机的成像应用的理想产品,如周边监控、食品分拣、公路收费监测、边境和港口安保、质量控制或航空影像。 变焦 7000变焦 7000 是一款多功能的近聚焦微距视频镜头,专为必须成像的直径超过 1” 的目标而设计。它提供了整个变焦范围的齐焦性,并且与 2/3” 或更小的相机兼容。内置二相步进电机的电动变焦 7000 用于变焦,对焦和光圈控制是用于自动化质量检查和组装、生物医学成像、印刷电路板和电子检验和燃油量表监测的理想产品。变焦 7010 微距变焦镜头为 1/3” 或更小的相机设计,具有 10X 的变焦比。这一镜头能够在不使用近摄接圈或近摄镜头捕捉近摄图像,高达 10X 的可变倍率(变焦)可以实现对小型物体的近距观察。变焦 7000E 是为工业检测和成像要求不那么高的应用而设计。它提供了在 12.5 mm 至 75 mm 焦距范围内 6:1 的变焦比。变焦 7000E 集成了 7000 和 7010 变焦系统的许多功能,并具有吸引力的价格。远心镜头远心镜头的优点远心镜头最重要的一个优点是当物体距离改变时,图像倍率不会变化。远心镜头是从同一个透视角度观察和显示整个物体,因此,三维特征展示不会出现使用标准镜头时的透视失真和图像位置错误。通过视场可见无失真的深孔内部物体,因此,远心镜头非常适合三维物体的检测,以及那些需要对物体形状和尺寸进行测量的应用环境。 MagniStar 系列这些高分辨率低失真镜头设计用于 2/3” 及更小画幅的相机,同时还支持具有 3.5μm 像素的百万像素相机。应用范围包括测量、平板检测、曲面检查和其他需要更大景深的成像应用。12X 远心变焦系统12X 远心变焦系统使用户在 0.4 度内达到的远心条件,同时保持恒定的透视和放大倍率。这意味着即使物体稍微偏离焦点,图像的尺寸也不会改变。12X 远心变焦的视场覆盖范围是 50 mm 向下至 4 mm,同轴照明使得视图清晰,即使是观察镜面反射类型的物体表面。无同轴光照明的情况也可实现这一效果。 大倍率范围和超常工作距离当与 1-50993 12X 变焦组合时,远心附件会出现额定物距 173mm +/- 2mm。物距可由工厂从 165 修改至 186 mm。1X 转接环的放大倍率范围是 0.16X 至1.94X,2X 转接环则是 0.32X 至 3.88X。视野是 50 mm。一个上 2X 的 F 接口转接器可安装于 F 接口的相机。HemiStar 鱼眼投影镜头Navitar 自 1978 年就已经设计和生产出世界优良的投影镜头。如今,我司提供独创性的 HemiStar 镜头系列,最适合用于小、中和大型天文馆以及模拟和身临其境投影。我司的鱼眼投影镜头具有几乎无限的景深,使其可以在各种环境下保持清晰度。我司为单个或多个投影机安装的环境实现2K或4K分辨率的应用,提供光学解决方案。定制 4K 投影镜头Navitar 提供定制投影镜头产品。我司的光学、机械和电气工程师设计团队具有多年的经验,可为您设计和定制投影镜头,并使其无缝整合到您的系统。NuView 更换镜头NuView 镜头可替换您的投影机现有的定焦镜头,使您可以在各种应用程序下使用您的投影机。NuView 镜头可兼容 LCD、 DLP、 DILA 和 LCOS 投影机。使用长投射镜头以增加投影距离,将您的投影机移到离屏幕更远的地方。变焦特点使您只要旋转镜头就可以选择您的投影机距离和图像尺寸。在背投时使用广角镜头,可以在相同距离下获得更大的投影图像。ScreenStar转换镜头Navita 的 ScreenStar 转换镜头安装在您的投影机的标准镜头上以改变图像尺寸或投射距离。这些镜头让可您减少投影机使用数量或选择功能更少,成本更低的投影机进而降低减少安装的整体费用。NuView 镜头可用于 LCD、 DLP、 DILA 和 LCOS 投影机。
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  • 动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时,由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移,导致散射光信号随时间发生动态变化,该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关,而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小,颗粒大布朗运动速度低,反之颗粒小布朗运动速度高,因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律,使用光子探测器在固定的角度采集散射光,通过相关器进行自相关运算得到相关函数,再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统:采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路,充分满足空间相干性的要求,极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器:采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管,对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比; 采用边沿触发模式对光子进行计数,瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器:采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器,有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾,实现了大的动态范围,并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统:基于半导体制冷技术,采用自适应PID控制算法,使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能:引入分位数检测异常值的方法,鉴别受灰尘干扰的散射光数据,并剔除异常值,提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法:采用zui优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数,基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布,测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高,颗粒间的相互排斥力越大,胶体体系愈稳定, 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动,单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时,会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动,与液体之间形成滑动面,滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程,通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路,替代传统电泳光散射的分立光路,使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰,有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析,获取需要细化分析的频谱范围,然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析,从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型,求解颗粒的双电层厚度,获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值,再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式,进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值:当双电层厚度远远小于颗粒的半径,即ka1,Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时,即ka1,Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合, 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能,一键式测量,自动调整散射光强, 无需用户干涉,自动优化光子相关器参数,以适应不同样品,让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能,让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行,测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表,以可视化的方式展示测量结果,让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标
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  • 全自动接触角测量仪(视频光学接触角测量仪、界面扩张流变测量仪)型号:OCA25光学接触角测量仪(界面扩张流变测量仪)品牌:德国德飞 dataphysics中国指定代理商:北京奥德利诺仪器有限公司 德国德飞dataphysics OCA25光学接触角测量仪(界面扩张流变测量仪)【说明:每款产品因配置不同价格不同,需按照您的测量要求单独配置,具体请联系我们报价】OCA25接触角测量仪主要功能及测量方法:动、静态接触角(座滴法)手动和自动测量曲面固体表面接触角(座滴法)测量液下超亲材料接触角(Captive bubble 法)测量滚动角(斜板法)计算固体的表面自由能及其组成 (九种方法),及色散分量和极性分量的组成测量液体的表面/界面张力 (悬滴法)液体的界面粘弹指数及弛豫分析,包括:总模量,弹性模量,粘性模量,相角(震荡滴法, 弛豫扰动)计算及分析粘附功Lamella法测量熔融或高粘度液体的表面张力-------自主创新孔内特殊隐藏条件下接触角测量纤维包覆法接触角测量-------自主创新分析液体表面张力及其组成记录吸附材料的吸收过程温度,压力,湿度,电场等环境控制OCA25接触角测量仪主要特点:△ 软件控制精密垂直注射单元,精度高,推力大。更换注射系统方便,不产生耗材。 USB 3.0高速相机,最大视频速度4627幅图像/秒,最大分辨率:2048*1088像素△ 纳升级注射单元,体积可调,最小注射体积10nl△ 机械或气压式振荡可选,一键式实现界面扩展流变自动全程测量△ 双注射和三注射微小液滴系统,一键式实现表面自由能自动计算,可轻松更换任何液体 可选配温度控制单元、手动或电动斜板、湿度控制器、顶端视频接触角测量系统等 独特的超疏水测量附件及方法,极大程度使超疏水样品测量变得容易△ 国内超过一千的客户群体,验证了仪器的水平和质量OCA25接触角测量仪主要技术参数:1. 接触角测量范围:0~180°,精度:±0.1°,分辨率:±0.01°2. 表面/界面张力测量范围:1×10-2~2×103mN/m;分辨率±0. 01 mN/m3. 样品台尺寸 (L×W):100 mm×100mm4. 光学与图像处理系统: → 手动和软件控制强度且带有自动温度迁移补偿的LED光源 → USB3.0 高速相机,最大分辨率2048×1088像素,最大视频速度3250幅图像/秒; → 6倍变焦透镜(±6mm),可扩展至更高倍率5. 机械式振荡指标: (气压式震荡指标见我公司彩页) → 谐函数体积(面积)模式:5~20μl,dv=2~20μl(粘度<50mPas) → 弛豫模式(膨胀液滴法):dv=0~20μl → 液滴振荡的频率范围:0~2Hz
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  • Zeta-300 光学轮廓仪基于 Zeta-20 的成熟性能,包括集成式防震以及支持更大的样品尺寸,以满足您的研发和生产要求。Zeta&trade -300 可提供 3D 量测和成像功能,与集成式防震台和灵活的配置相结合,可以处理更大的样品。该系统采用 ZDot&trade 技术,可同时收集高分辨率 3D 形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-300 支持研发和生产环境,具有多模光学组件、易于使用的软件和低拥有成本。产品描述Zeta-300光学轮廓仪是一款非接触式3D表面形貌测量系统。Zeta-300以Zeta-20 3D轮廓仪的功能为基础,具有额外的防震选项和灵活的配置,可处理更大的样品。该3D光学量测系统由已获得专利的ZDot技术及多模式光学组件提供支持,可支持各种样品测量:透明和不透明、低反射率和高反射率、光滑表面和粗糙表面,以及从纳米到厘米范围的台阶高度。Zeta-300台式光学轮廓仪将六种不同的光学量测技术集成到一个可灵活配置且易于使用的系统中。ZDot测量模式同时收集高分辨率的3D扫描信息和样品表面真彩色图像。其他3D测量技术包括白光干涉测量法、诺马斯基光干涉对比显微法和剪切干涉测量法,膜厚测量包含使用ZDot模式测量和光谱反射的测量方法。Zeta-300也是一款高端显微镜,可用于抽样检查或缺陷自动检测。Zeta-300 3D轮廓仪通过提供全面的台阶高度、粗糙度及薄膜厚度测量以及缺陷检测功能,来支持研发和生产环境。主要功能● 配合ZDot及多模式光学组件,该光学轮廓仪可以容易地实现各种各样的应用● 是可用于抽样检查和缺陷检测的高质量显微镜● ZDot:同时采集高分辨率的3D扫描扫描信息和样品表面真彩色图像● ZXI:采用z方向高分辨率的广域测量白光干涉仪● ZIC:图像对比度增强,可实现亚纳米级粗糙度表面的定量分析● ZSI:z方向高分辨率图像的剪切干涉测量法● ZFT:通过集成式宽频反射测量法测量薄膜厚度和反射率● AOI:自动光学检测,可量化样品缺陷● 生产能力:具有多点量测和图形识别功能的全自动测量主要应用● 台阶高度:从纳米级到毫米级的3D台阶高度● 纹理:从光滑表面到粗糙表面的粗糙度和波纹度测试● 翘曲:2D或3D翘曲● 应力:2D或3D薄膜应力● 薄膜厚度:30nm至100μm不等的透明薄膜厚度● 缺陷检测:捕获大于1μm的缺陷● 缺陷复检:KLARF 文件可用于寻找缺陷,以确定划痕缺陷位置,测量缺陷3D表面形貌适用行业● LED:发光二极管和PSS(图案化蓝宝石基板)● 半导体和化合物半导体● 半导体 WLCSP(晶圆级芯片级封装)● 半导体FOWLP(扇出晶圆级封装)● PCB(印刷电路板)和柔性PCB● MEMS(微机电系统)● 医疗器械和微流体器件● 数据存储● 大学,实验室和研究所● 还有更多:请联系我们以满足您的要求选配件ZFT: Zeta 薄膜厚度Zeta-300 可提供集成式宽频光谱仪,用于 30nm 至 100µ m 的透明薄膜厚度测量。它能够测量单层或多层堆叠薄膜的厚度,用户从材料库中选择折射率值。可绘制样品上的薄膜厚度分布图,以确定样品的均匀性。ZFT 可用于一些反射率最低的表面,例如反射率不足 0.1% 的样品。很多薄膜厚度测量机台难以从这些类型的表面上获得信号,因为它们依赖于镜面反射光来计算相位变化或其他参数。宽频白光和垂直入射光源可支持该机台用于各种低反射率光学透明薄膜。ZXI:Zeta干涉测量技术Zeta-300 与压电载台及干涉物镜结合使用,可支持相位扫描干涉测量法 (PSI) 和垂直扫描干涉测量法 (VSI)。PSI 支持快速测量几埃到数百纳米的台阶高度。VSI支持从数百纳米到数百微米的台阶高度测量。无论物镜数值孔径的大小,两者的分辨率均好于纳米级。ZIC:Zeta 干涉对比Zeta-300 采用诺马斯基光差分干涉对比显微法来提供精细表面细节的增强影像。诺马斯基光差分干涉对比显微法采用偏振和棱镜来更改相位,从而增强样品表面坡度的变化。这能让超光滑表面上的缺陷可视化,例如单层污染物。ZIC 扫描模式可通过将坡度变化与其他技术测量的粗糙度相关联,将这些图像转化为亚纳米级粗糙度的定量测量。ZSI:Zeta 剪切干涉测量法Zeta-300 剪切干涉测量技术 (ZSI) 通过在相位中增加变化来强化 ZIC 测量。采集具有不同相位的多幅影像,然后通过先进的算法加以处理,以生成具有埃级分辨率的表面形貌的定量测量。该技术无需干涉物镜和z方向载物台扫描,即可完成从几埃到80nm的高分辨率测量。物镜提供多种物镜,包括 1.25 倍至 150 倍的常规物镜、长工作距离物镜、超长工作距离物镜、折射率校正物镜、透射式物镜、液体浸没式物镜和垂直扫描干涉物镜。耦合器Zeta-300 可配置四种不同的光耦合器,以改变光学放大倍率。该系统可配置 1 倍耦合器,以保持初始放大倍率,或配置 0.35 倍、0.5 倍或 0.63 倍耦合器,以提高放大倍率。物镜转台Zeta-300 可配置 5 位或 6 位手动转台,以及一个用于自动物镜识别的物镜传感器。该系统还可以配置一个可实现全自动操作的 6 位自动转台。样品光照Zeta-300 采用双高亮白色 LED 作为标准光照。通过样品载台的背光也可用于增强具有挑战性的透明样品的光线,例如图形化的蓝宝石衬底 (PSS)。Zeta-300 还支持使用侧光源的暗场照明。样品台Zeta-300 可以配置各种样品台以提高系统性能。在 ZDot或 ZXI 测量模式下测量纳米级台阶高度,可以添加压电 Z 轴平台提高 z 分辨率。Z 样品台可以安装在转环上,使测量头能够围绕样品旋转,从而改变表面入射角。可选的 280 毫米 Z 测量塔可以容纳大型零件,例如平板电脑、手机和大型机器组件。XY 样品台可配置手动 300 毫米行程或电动 150 或 200 毫米行程。可以将手动旋转样品台添加到 XY 样品台上。可添加手动调节的倾斜样品台,从而调平样品载台,以便进行干涉测量。样品载台Zeta-300 可提供支持各种应用要求的载台。背光载台可用于透明衬底,以支持图形化的蓝宝石衬底所需的透射照明。支持包括 300 毫米的多种晶圆尺寸,并提供多种样品载台。如果我们没有您需要的载台,请联系我们提出您的需求。防震台Zeta-300 具有内置于系统底座的被动防震台。对于需要更高防震效果的应用,可提供主动防震台。Zeta-300 有一个标准的隔音罩,可将系统与环境噪音隔离开来,并使用户免受机械手臂移动的噪音。台阶高度和薄膜厚度标准片Zeta-300 使用由 VLSI 提供的可追踪台阶高度的 NIST 薄膜和厚膜标准片。这些标准片在蚀刻的石英台阶上覆盖了铬涂层。可提供8纳米至250微米的台阶高度。现有经过认证的多台阶标准片具有8、25、50 和100µ m的名义台阶高度。该标准片具有用于XY校准的各种间距的图形。适用于ZFT的经过认证的厚度标准片由一个可供参考的硅表面和名义厚度为270nm的二氧化硅薄膜组成。还有可供参考的粗糙度和镜面样品等。多点测量功能多点测量功能利用电动XY样品台能让用户对样品上的测量位置进行设计。该系统会自动测量每个点位,并在用户定义的文件夹中保存结果。还会生成一份统计数据输出报告来概括结果。高级序列软件包括图形识别可自动对齐样品。可全自动测量,免受操作员失误的影响。在样品台上嵌入标准片后,可启用自动校准。拼接软件自动图像拼接软件使用电动 XY 样品台来组合相邻扫描,可生成比单一视场更大的拼接数据集。该系统可自动测量每个点位、对齐图像,并将它们组合成一个数据集。可以像分析任何其他结果文件一样分析结果。Apex分析软件Apex分析软件通过一套扩展的找平、过滤、台阶高度、粗糙度和表面形貌分析技术增强了该工具的标准数据分析能力。Apex支持ISO粗糙度计算方法以及当地标准,例如ASME。Apex还可以作为报告编写平台,能够添加文本、说明和通过/失败标准。Apex 支持 11 种语言。离线分析软件Zeta-300 离线软件具有与该机台相同的数据分析和程式创建功能。这使用户能够创建程式和分析数据,而不占用机时。相关产品
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  • Zetasizer Ultra 纳米粒度仪是用于测量颗粒与分子大小、颗粒电荷和颗粒浓度的系统,在结合了 Zetasizer Pro 和 Lab 特性和优点的基础上,增加了多角度动态光散射技术(MADLS),是 马尔文帕纳科Zetasizer Advance 纳米粒度电位分析仪系列中最智能和灵活的仪器。 这一旗舰型纳米粒度分析仪充分利用了 ZS Xplorer 软件的易用性、高分析速度和数据可靠性等优势,运用多角度动态光散射技术 (MADLS) ,提供与角度无关的高分辨率粒度测量,并且能够测量颗粒浓度*,帮助您更深入地了解样品。*限 Zetasizer Ultra 红标版本 (Red Label)特点和优点Zetasizer Ultra 纳米粒度分析仪融合了功能强大的 DLS 与 ELS 系统,它采用了非侵入背散射 (NIBS) 和多角动态光散射 (MADLS) 技术来测量颗粒与分子大小。 NIBS 的多用性和灵敏度可适用广泛的浓度范围,而 MADLS 则能让您在这些关键测量当中更精细地了解样品粒度分布。Zetasizer Ultra Red Label 的 MADLS 扩展功能可直接分析颗粒浓度。 颗粒浓度的测量适合于各类材料,只需很少稀释,并且使用快捷,这一切使其成为一种理想的筛选技术。Zetasizer Ultra 甚至可以运用于以前非常难测量的病毒和类病毒颗粒 (VLP) 等样品。 Zetasizer Ultra 的关键特性和优点包括:用于高分辨率粒度测量且与角度无关的多角动态光散射法 (MADLS) 可以更深入地展现您的样品粒度分布 动态光散射 (DLS) 用于测量从0.3 nm 到 15 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 (使用低容量可抛弃粒度样品池和扩展粒度分析可以测试粒度大于10 μm ;取决于样品和样品制备)电泳光散射 (ELS) 用于测量颗粒和分子的Zeta电位,以显示样品稳定性和/或团聚倾向性非侵入背散射 (NIBS) 技术显著扩大了动态范围,即使是处理非常浓缩的样品,也能实现高灵敏度简单的每峰值浓度/滴度测量(仅限红标Red Label版本)可抛弃型毛细管粒度测量样品池提供了无损、低容量(最低 3 μL)分析,并且粒度上限范围可达到 15 μm具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用,并可轻松构建复杂的模型“自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据,同时计算速度超过以往的两倍,可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量,实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题,并针对如何改进结果提供明确的建议使用静态光散射(90°)测量分子量软件符合 21 CFR Part 11 法规滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片,以实现分析灵活性可选的 MPT-3 自动滴定仪可帮助研究 pH 值变化的影响一系列可抛弃和可重复使用的样品池可优化不同样品体积和浓度的测量,其中包括新的低容量可抛弃粒度测量池套件,由于它可以抑制对流,所以既能进行样品量小到 3 μL 的粒度测量,也扩展了DLS 测量的粒度上限范围主要应用Zetasizer Ultra 纳米粒度仪应用广泛,包括:学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具,广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛,被科学文献引用的次数达上万次,成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中,温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性,造成变性和聚集、功能丧失, 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选,并可协助配方开发, 从而优化流程和产品,消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位,以改善食品、饮料和调味料的外观及味道,并优化分散和乳化稳定性,从而延长产品保存期限,提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度分析仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质,比如更高的催化活性和溶解度,或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定,以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性(例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期)方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量,从而减少配方时间,加快新产品上市。消费品改良多种消费品时,需要了解和控制胶体参数,引导颗粒间的相互作用,并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度, 并测量乳液的液滴大小和稳定性。
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  • Amtax NA8000氨氮测定仪- 产品概述:哈希升级研发了全新一代氨氮在线测定产品——Amtax NA8000氨氮测定仪,来满足中国市场对于氨氮测定仪的需求。Amtax NA8000氨氮测定仪采用水杨酸-靛酚蓝法进行氨氮的测定,在测量准确性、稳定性及维护等方面做出了改进。该氨氮测定仪采用双波长及双光程比色皿设计(专利号:ZL201720404712.9),4档量程可自动切换,自动校准、清洗,同时支持数据存储和图形显示。- 工作原理:Amtax NA8000氨氮测定仪采用水杨酸 - 靛酚蓝法测定氨氮浓度,由于催化剂的作用,NH4+在碱性介质中,与次氯酸根离子和水杨酸盐离子反应,生成靛酚化合物,并呈现出绿色。在氨氮测定仪测量范围内,其颜色改变程度和样品中的NH4+浓度成正比。因此,氨氮测定仪通过测量颜色变化的程度计算出样品中NH4+的浓度,从而实现氨氮的测定。- 应用行业:Amtax NA8000氨氮测定仪适用于市政污水、饮用水、地表水及工业等领域的在线氨氮测定。- 仪器特点:● Amtax NA8000氨氮测定仪采用双波长及双光程的比色皿设计(专利号:ZL201720404712.9),通过参比光束的测量,消除了样品浊度、电源波动等因素对氨氮测定结果的干扰。● Amtax NA8000氨氮测定仪提供多种固定量程选择,同时量程可自动切换,灵活性高。● 使用CYQ型水样预处理器进行样品预处理。● 搭载哈希先进的Prognosys预诊断技术,提供预防性维护提醒,降低氨氮测定仪停机风险。● 可灵活配置多通道多模块输入输出模块。● 具有自动校准和自动清洗等功能,维护量低。● 支持数据存储和图形显示功能。● 试剂常温保存及使用。● 支持中英文操作界面,历史数据显示更友好。技术指标测量参数氨氮浓度测量范围NA8000.01 型(量程可自动切换)超低量程:(0.020 ~ 15.00)mg/L低量程:(0.050 ~ 30.00)mg/L中量程:(7.500 ~ 100.0)mg/LNA8000.02 型(量程可自动切换)超低量程:(0.020 ~ 15.00)mg/L低量程:(0.050 ~ 30.00)mg/L中量程:(7.500 ~ 100.0)mg/L高量程:(80.00 ~ 1000)mg/L准确度(0.020 ~ 15.00)mg/L: ≤ ±(0.06 mg/L 或 3%)(0.050 ~ 30.00)mg/L: ≤ ±(0.15 mg/L 或 3%)(7.500 ~ 100.0) mg/L: ≤ ±(0.75 mg/L 或3%)(80.00 ~ 1000)mg/L:≤ ±10%重复性(0.020 ~ 15.00)mg/L: ≤ (0.02 mg/L 或2%)(0.050 ~ 30.00)mg/L: ≤ (0.04 mg/L 或2%)(7.500 ~ 100.0)mg/L: ≤ (0.4 mg/L 或3%)(80.00 ~ 1000)mg/L: ≤ 3%显示分辨率≤ 9.999 mg/L:0.001 mg/L(10.00 ~ 99.99)mg/L:0.01 mg/L(100.0 ~ 999.9)mg/L:0.1 mg/L≥ 1000 mg/L:1 mg/L测量间隔连续测量、30 分钟、1 小时、2 小时、4 小时、用户自定义、触发(可选)告警/事件记录两年或20000 条校准方法手动、自动校准,校准周期可选工作温度范围5 ℃ -40 ℃相对湿度≤ 95% 相对湿度,无凝露操作界面中英文界面,彩色触摸屏外壳防护等级IP55仪器尺寸(L×W×H)455 mm×365 mm×805 mm安装方式壁挂式或桌面安装(室内)仪器装运重量约28 kg(不包括试剂)电源要求100~240 V,50/60 Hz输入输出2 路24VDC /3A 继电器单刀双掷控制RS485 Modbus4-20 mA模拟信号输出 I/O 模块(可选)数字量输入 I/O 模块(可选)继电器输出 I/O 模块(可选)
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  • 【说明:每款产品因配置不同价格不同,需按照您的测量需求单独配置,具体请联系我们报价】 德国dataphysics公司研发生产,该仪器采用自有版权技术的双向往复流动电势/电流的原理,测量各种宏观固体材料的Zeta电位,主要用于胶体分散剂研发、固体材料表面特性表征及帮助开发新型材料等。》 ZPA 20的主要特点 独立创新研发双向往复流体运动。因其特殊的双向往复运动测量模式,可以实现多小时甚至多天无限制时间测量。对于表面活性剂在样品表面的吸附研究及其它动力学研究等,无限的测量时间能够高效的得到不被干扰的 Zeta 电位数据。 电解质溶液的周期往复流动能够有效的防止测量电极的极化,从而避免了由于电极极化而造成的测量结果的误差。往复运动频率高达0.5Hz,在60秒内即可记录60个压力通道,可实现在几秒钟内获得大量的数据点,高效精确的获得统计学结果。 测量单元可视化设计。 可以在视觉监测下添加表面活性剂或其它需要添加的物质,有利于动力学研究实验。另外,该可视化设计也可以帮助发现样品中的气泡,并使用仪器的排气泡功能将气泡及时排除。极大的消除了气泡对测量结果的影响。 非固定式的装样单元既可以在系统外装填和制备样品,也可实现在测量过程中装样或取样同步进行。使用扭力扳手可控制纤维和粉末样品的装填密度,提高了此类样品的测量可重复性。超大电极表面积确保测量的灵敏度,即使轻微的表面特性改变也可以捕捉到。》 ZPA 20的主要功能全自动测量胶体悬浮液以及各种宏观固体材料的 Zeta 电位,如:片状固体、纤维、粉末、不同表面粗糙度材料,多孔材料等同步测量压差、温度、电导率和 pH 值等电点的自动检测全自动吸附和表面改性动力学测量》 ZPAS 20 高效的专用软件基于windows操作系统,带操作引导功能,操作简单所有测量参数同步显示在实时窗口,观测直观自动测量和计算功能强大,可自动计算动力学测量中的加液量,并控制自动注射单元全自动测量,最终自动计算结果可轻松的设置一次单一测量或者复杂测量项目即支持电脑鼠标操作,也支持Pad触屏操作多语言版本》 ZPA 20的应用全自动测量胶体悬浮液以及各种宏观固体材料的Zeta电位,如:片状固体、纤维、粉末、不同表面粗糙度材料,多孔材料等同步测量压差、温度、电导率和pH值等电点的自动检测全自动吸附和表面改性动力学测量如果您想了解更多,请联系我们,提供测样服务
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  • zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年历史,是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品,完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题,如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点:1)采用专门的电动声波振荡技术,该仪器可完成非凡的电动测量结果,从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品,从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释,Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作;4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中;5)自动滴定法用于简单的IEP测量;6)样品可被强烈搅拌或混合,因此不会产生沉淀物;7)高频电场采用非常短的脉冲,因此样品测量时不会产生错误;8)可实时测量实际样品;9)不使用光学技术,因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品;10)可测量水溶液、非水溶液分散系,分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒;11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量,不须特别的样品池,样品可随时从任何现场或实验中获取,可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数:1)测量样品不需要稀释或样品准备,从而消除了操作失误和数据的不确定性,同时节省了时间;2)物有所值的谐振硬件设计;3)宽粒径测量范围:从1nm到30um;4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位(IEP)测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定;5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力,没有粒子沉降的不利影响;6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中,测量精确、重复性好,方便使用;7)可测量高粘度的样品,样品浓度可从0.1%到60%;8)可在0-14的pH值范围内进行测定;9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标;10)最小样品容量10ml,没有较大容量限制;11)微软支持的软件界面,带强大的数据管理功能;12)12个月的保质期和免费的技术咨询
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  • zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年历史,是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品,完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题,如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点:1)采用专门的电动声波振荡技术,该仪器可完成非凡的电动测量结果,从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品,从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释,Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作;4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中;5)自动滴定法用于简单的IEP测量;6)样品可被强烈搅拌或混合,因此不会产生沉淀物;7)高频电场采用非常短的脉冲,因此样品测量时不会产生错误;8)可实时测量实际样品;9)不使用光学技术,因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品;10)可测量水溶液、非水溶液分散系,分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒;11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量,不须特别的样品池,样品可随时从任何现场或实验中获取,可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数:1)测量样品不需要稀释或样品准备,从而消除了操作失误和数据的不确定性,同时节省了时间;2)物有所值的谐振硬件设计;3)宽粒径测量范围:从1nm到30um;4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位(IEP)测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定;5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力,没有粒子沉降的不利影响;6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中,测量精确、重复性好,方便使用;7)可测量高粘度的样品,样品浓度可从0.1%到60%;8)可在0-14的pH值范围内进行测定;9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标;10)最小样品容量10ml,没有较大容量限制;11)微软支持的软件界面,带强大的数据管理功能;12)12个月的保质期和免费的技术咨询
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  • zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年历史,是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品,完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题,如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点:1)采用专门的电动声波振荡技术,该仪器可完成非凡的电动测量结果,从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品,从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释,Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作;4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中;5)自动滴定法用于简单的IEP测量;6)样品可被强烈搅拌或混合,因此不会产生沉淀物;7)高频电场采用非常短的脉冲,因此样品测量时不会产生错误;8)可实时测量实际样品;9)不使用光学技术,因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品;10)可测量水溶液、非水溶液分散系,分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒;11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量,不须特别的样品池,样品可随时从任何现场或实验中获取,可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数:1)测量样品不需要稀释或样品准备,从而消除了操作失误和数据的不确定性,同时节省了时间;2)物有所值的谐振硬件设计;3)宽粒径测量范围:从1nm到30um;4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位(IEP)测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定;5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力,没有粒子沉降的不利影响;6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中,测量精确、重复性好,方便使用;7)可测量高粘度的样品,样品浓度可从0.1%到60%;8)可在0-14的pH值范围内进行测定;9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标;10)最小样品容量10ml,没有较大容量限制;11)微软支持的软件界面,带强大的数据管理功能;12)12个月的保质期和免费的技术咨询
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  • 背景介绍—瞬态吸收光谱和瞬态吸收成像的应用基于泵浦探测(Pump-Probe)原理的瞬态吸收光谱,在频率维度和时间维度上提供了丰富的光谱和动力学信息,过去的几十年应用于物理、化学、材料、能源、生物等广泛领域。当今,许多领域科学研究的范式和需求都在不断更新。尤其是随着钙钛矿光伏、二维材料、量子器件、高温超导等前沿领域的发展,科学家迫亟需在空间维度上揭示载流子等微观离子的迁移和演化规律,研究微纳米材料的物理态在空间分布上的异质性。瞬态吸收成像,可在空间和时间维度上研究微观粒子和能量的运动和演化,是研究微观粒子和能量的时空演化、阐释微观机制的重要工具。瞬态吸收成像,一般有两种实现方式,点扫描成像和宽场成像。相对点扫描成像,宽场成像模式具有速度快、通量高,成像质量更加细腻的特点。Omni-TAM900为北京卓立汉光仪器有限公司全新推出的一款宽场飞秒瞬态吸收成像系统。该系统集成像和动力学于一体,联合飞秒泵浦-探测技术和显微技术,通过自主知识产权的干涉放大技术增强图像信噪比,可获得高质量的成像效果并大幅度缩短测试时间。仪器基本功能和性能:仪器具有点泵浦-宽场探测,和宽场泵浦-宽场探测两种工作模式。分点泵浦模式可用于测量载流子迁移和热导率等;宽场泵浦模式可用于测量载流子分布和物理态的空间异质性等。仪器特点和创新高灵敏、高通量,可测量到单个纳米颗粒、单层石墨烯乃至单层分子晶体的瞬态吸收信号。仪器原理和实现方式Omni-TAM900宽场飞秒瞬态吸收成像系统原理如下图所示,经过飞秒激光器和光学参量放大器(OPA)之后出来的飞秒激光,通过显微镜的光学系统进入,并作为泵浦光源激发样品,而另一束经过空间调制的探测光在一定的时间延迟之后也经过显微系统到达样品,样品在激发态对探测光产生的吸收情况会被显微镜上的sCMOS 相机记录下来。通过调节光学延迟线(Optical Delay Line),得到样品在不同延迟时间下的sCMOS图像。Omni-TAM900 可以有两种成像模式(如下图所示): 聚焦泵浦光模式(点泵浦,宽场探测)和宽场泵浦光模式(宽场泵浦、宽场探测),前者主要用于研究载流子的迁移,后者用于检测载流子的空间分布状况。软件软件可进行同步采集,自动控制和处理,载流子的寿命、载流子的迁移速率、载流子的分布、动力学等信息均可以通过软件得到。应用方向及实测数据Omni-TAM900宽场飞秒瞬态吸收成像系统是测量载流子时空演化的强大工具,可广泛应用于物理、材料及器件的前沿研究,比如:太阳能电池、低维材料、量子器件、超导材料、新型半导体、纳米催化、生物传感等,对纳米尺度和飞秒时空尺度中的超快的物理、化学及生物过程进行监测。金属镀膜中的载流子迁移和热扩散10 nm厚金属薄膜上的超快热载流子和热扩散,采用仪器的点激发,宽场探测模式。半导体中的载流子迁移和热扩散同时监测Si基半导体中的载流子迁移和热扩散(可测量半导体材料的热导率),采用仪器的点激发,宽场探测模式。光伏材料中的载流子迁移和演化钙钛矿CsPbBr3载流子成像,迁移动力学及边缘态动力学研究。采用仪器的宽场激发,宽场探测模式催化材料中的热载流子分布和“热点”局部热电子密度高、寿命长,可能具有更高的催化活性。采用仪器的宽场激发,宽场探测模式。新型二维材料中的边缘物理态研究二维WS2中激子分布情况,激子寿命研究。可以看到,多层的边缘具有更高激子密度和更长激子寿命 技术参数光源飞秒激光 +OPA,激光波长范围取决于应用场景检测器sCMOS成像空间分辨率500 nm载流子迁移定位精度30nm时间分辨率500 fs (100 fs 激光脉冲条件下)时间延迟线0-4 ns/0-8 ns显微镜模块倒置显微镜,上方为开放空间,后期可兼容低温模块、探针台、电学调控、磁场等特殊实验场景。测量模式点泵浦 + 宽场探测(载流子迁移)宽场泵浦 + 宽场探测(载流子分布)仪器工作模式反射 / 散射已发表文献:J. Am. Chem. Soc. 2022, 144, 13928专利:202110510123.X(以上展示的所有实测数据均为本型号仪器测得,并已公开发表,更多细节请查阅以上文献)。更多参考文献:(为了方便用户参考研究前沿,如下列出一些国际上利用瞬态吸收成像方法的研究案例。这些数据并非用该型号仪器获得,但是卓立Omni-TAM900仪器可实现这些应用场景中的绝大多数功能。如有特殊需求,欢迎与卓立汉光联系。)Science 2017, 356, 59 (钙钛矿超长热载流子)Nat. Mater. 2020, 19, 617 (转角二维量子异质结)Science 2021, 371, 371 (超导材料电荷密度波)Science 2022, 377, 437 (立方砷化硼超高载流子)Nat. Mater. 2020 , 9, 56 (材料中的携能载流子)
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  • 仪器简介:ZetaProbe采用Colloidal Dynamics, LLC 公司专利技术-多频电声学测量技术测量胶体体系的Zeta电位。对于高达60%(体积)浓度的样品,无需进行样品稀释或前处理即可直接 测量。这一特点对钛白粉、油墨、色浆、CMP研磨浆料等高浓度体系的研究极 为关键。 ZetaProbe结构设计紧凑,包括内置滴定装置、多功能传感器及高度人性化软 件。自动滴定装置可快速地判断等电点,只需按一个按钮即可得到分散剂和絮 凝剂的最佳控制水平。直观而易于操作的软件及牢固的结构设计,使得 ZetaProbe 电位仪非常适用于科研及工厂的优化控制。主要应用包括: 陶瓷、油漆、油墨、水煤浆、CMP浆料、颜料、天然乳胶、磷光体、水泥、矿物 质加工、黏土矿物、过滤/脱水、湿磨/研磨、表面涂层控制、均一化控制、催 化剂和沸石、研磨剂和抛光复合物等。技术参数:1.可测量Zeta电位、动态迁移率、电导率、PH、温度、等电点(IEP)。 2.允许样品浓度:0.5~60%(体积百分数) 3.样品体积:20-250ml 4.测量Zeta电位的胶粒粒度范围:1nm~50&mu m 5.PH 范围:0.5~13.5 6.电导率范围:0~5 S/m 7.测量范围:不限 8.分析时间:小于30S;可选时间延迟 9.滴定装置:1&mu l分辨率,双通道抽吸式泵管。主要特点:1.专利的多频电声测量技术 2.可直接测量高浓度胶体和乳胶体系 3.精确地判定等电点 4.测量的样品最高浓度可达60%(体积) 5.浸入式探针设计,通用性强,无活动部件 6.底部轴向搅动,混合效率高 7.无需进行耗时且易于出错的样品处理过程 8.自动电位滴定和体积滴定 9.测量时无须输入粒径 10.对于较难测量的样品,如浆糊、凝胶、水泥等均可测量 11.分析时间短,以秒计 12.可以Excel 电子表格形式储存数据,容易使用
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  • 英国安纳劳科斯公司(Analox Sensor Technology)是一家技术公司,专门从事制造气体传感器,探测器和报警器。监测的气体包括二氧化碳,氧气,一氧化碳和碳氢化合物气体。产品包括:用于jun用和医用的高压氧分析仪、用于商业潜水的饱和潜水分析仪、用于浓度氧混和气体潜水和氦氮氧潜水的潜水分析仪、用于区域和个人安全的气体检测仪。ANALOX安纳劳科斯的目标是成为恶劣环境气体检测的,为广泛的国际客户专门设计和制造用于气体监测设备,用于保护或维持生命。英国安纳劳科斯ANALOX aspida CO2 便携式报警仪一、产品范围:英国安纳劳科斯ANALOX传感器、安纳劳科斯ANALOX报警器、安纳劳科斯ANALOX氧气报警器、安纳劳科斯ANALOX气体检测仪、安纳劳科斯ANALOX二氧化碳检测仪、安纳劳科斯ANALOX便携式气体检测仪、安纳劳科斯ANALOX、安纳劳科斯ANALOX分析仪、安纳劳科斯ANALOX高压氧分析仪、安纳劳科斯ANALOX探测器、安纳劳科斯ANALOX气体变送器、安纳劳科斯ANALOX报警控制器、安纳劳科斯ANALOX氧气耗尽监视器。Analox Aspida有3款供选择,CO2/O2报警,CO2报警或O2报警。该仪器带有常用功能,包括:听觉和视觉报警,时间加权平均值,震动报警,高清晰屏幕,防水耐用。当然,Aspida还有其他特点,确保它是一个真正的便携式保护装置。Aspida用户永远不需为它的保养计划而担忧。该仪器利用智能软件来告诉用户什么时候它需要作那些保养---保证了你的仪器永远在zui佳状态。该软件允许2人共享仪器,理想为24/7轮班模式。Aspida可记录检测结果,并导入PC计算机保存。Aspida是个提供摔倒/紧急报警的气体报警器。摔倒报警在工人昏倒时会发出110db的警报声,另外当你紧急情况下,你也可以手动开启该警报。你是否经常忘了给仪器充电,Aspida提供了2节AA充电电池。如果您忘了给您报警器充电,你可以使用普通得AA电池供电。产品特点:mandown /恐慌报警TWA报警振动*高强度的OLED显示屏智能软件允许2用户可以注册到一个单位内置的智能通知您的Aspida需要保持技术参数:传感器范围:CO2: 0.01-5%、O2:0.1-25%报警点可自行设置:CO2:3个浓度报警点+ 1个TWA报警点O2:3个浓度报警点精度:CO2在0.01-2.5%的浓度下+/-2%在2.5%-5%的浓度下+/-3%O2在0.1%-25%的浓度下+/-3%操作温度: -5到50度IP等级: IP65EMC: 2004/108/EC操作时间: 完全充电或者2节AA电池用12小时响应时间: CO2: T90〈60秒,O2: T90〈30秒指示灯警报:1x绿灯---OK1x黄色-----故障3x红灯—警报音响警报: 95db@30cm摔倒/紧急警报:110db@30cm青岛路博环保创建于2003年,占地面积4万平方米,是一家集环保科研、设计、生产、维护、销售和系统运营为一体的综合型高新技术企业。 路博环保拥有烟尘治理、废气回收、有机废气吸附脱附等工业废气治理方面几十种专利技术和产品,经过多年工况考核,系统运行平稳,处理效果良好,得到用户广泛好评。多样性的产品体系、强大的技术支撑、完善的工程队伍配置和优质的售后服务,已经帮助众多企业摆脱了环境污染的诟病,同时将废弃物有效地回收利用,不仅让客户节约了能源,同时还帮助客户节省了投资与运行成本。
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