碳纸图像

SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件Image Metroogy 由Dr.Jan Friis J rgensen于1998年创立。Image Metrology是一所以客户为导向，不断发展的公司。公司位于离丹麦首都哥本哈根不远的城市。Image Metrology的主要产品，SPIP是可视化、修正，分析以及SPM数据报告方面的软件包。此软件包被SPM数据研究分析人员奉为标准。SPIP对于扫描电镜以及透射电镜、共聚焦显微镜、光学轮廓仪以及干涉仪等的图像分析也是很强大的。SPIP软件图像研究机构，在高新科技研发以及高校研究所运用。SPIP是专业的纳米以及微尺度图像处理的高科技软件公司，目前产品被应用于60多个国家的各个主要研究机构。SPIP95文件格式支持各种仪表类型,包括:SPM、AFM、扫描隧道显微镜、SEM、TEM、干涉仪共焦显微镜和光学显微镜,分析器。SPIP是一个模块化软件包，可提供包含14个具有特定功能的模块。SPIP应用，主要应用包括半导体检验、物理、化学、生物学、计量和纳米技术等方面。SPIP 三维图像处理软件：多年来，SPIP扫描探针图像处理软件，已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。SPIP图像处理软件是一个模块化的软件包，提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。是一个资申用户或刚刚学习图像分析的入门新手，使用SPIP图像处理软件，您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。SPIP图像分析软件被用于，包括半导体物理，化学，生物学检验，计量，纳米技术等各种领域。您可从我们客户应用的经历获知更多应用领域。SPIP图形分析软件亦被用于学术研究和论文出版。在SPIP网站您可以看到824篇使用SPIP进行图形分析的论文列表。SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件。包括： 扫描探针显微镜（SPM），原子力显微镜（AFM），扫描隧道显微镜（STM） 扫描电子显微镜（SEM），透射电子显微镜（TEM） 干涉仪 共焦显微镜 三维轮廓仪RoughnessPro——轮廓粗糙度 使用RoughnessPro您可以根据ISO标准来评估个别剖面及剖面集合的轮廓粗糙度。RoughnessPro——三维图像缝合 topoStitch是表面形貌图像缝合的简单及准确的方法。您可以从原子力显微镜（AFM），扫描探针显微镜（SPM），干涉仪（Profilers,），共焦显微镜及其他更多的设备上进行三维图像及表面形貌缝合。

ZJKY-100通用图像分析 系统，是针对电子显微 镜，光学显微镜得到的 数字图像，进行数据分 析，从而得到更加科学 和实用的实验报告。 系统功能 ◇ 通用软件： 包括图 象采集、图像处理、图 像编辑功能，图文报告 生成、浏览、打印功能 及图象数据库压缩、管 理、检索功能。 ◇ 具有丰富的图象处理 功能处理输入到计算机 的图象,使图象细节更加 清晰. ◇ 能对图象中的颗粒的 直径,圆度,长短径等三十 几个参数进行测量. 并 提供统计,分布直方图等数据多种分析手段. 测量数据以Access数据库格式存储, 可直接为EXECL等通用程序 引用. ◇ 能对孔洞、裂纹、纤维直径等的尺寸、形状参数及孔隙率进行 快速精确地测量和分析。 ◇ 提供分形维数测量功能.◇ 25帧/秒快速动态采集, 快采慢放, 更仔细地观察快速变化过程. ◇ 无限制长时间定时采集功能, 使您能够轻松记录缓慢变化过程. 并且在采集时计算机可同时进行其他工作. ◇ ASTM平均晶粒度评级，晶粒尺寸分布测量。 ◇ 相分析：（黑白或彩色）金相中双相至多相相成分百分含量测定。 ◇ 涂覆层厚度分析（含钢中脱碳层深度和钢中渗碳层厚度测量）。 ◇ 钢中非金属夹杂物评级。 ◇ 针状物长宽比测量。 ◇ 纤维断面测量（纤维直径分析）。 ◇ 球墨铸铁分析（球化率，石墨大小及含量，珠光体，铁素体评 级，渗碳体和磷共晶含量测量）。 ◇ 灰铸铁分析（石墨含量，石墨长度，石墨成份，珠光体含量，铁 素体含量，珠光体片间距，渗碳体和磷共晶含量测量与评级）。 技术指标 ◇ 摄像机采集: 768× 576 彩色:24 bit 黑白:8 bit ◇ 数码相机采集: 800× 600 - 2048× 1600 系统特色 ◇ 支持摄像机，数码相机，扫描仪等多种信号源。 ◇ 方便的图文报告生成功能使你能快速生成和打印出漂亮的图文 报告。 ◇ 数据库支持图像压缩功能，配合大容量硬盘使你的资料保存无 限量。 ◇ 多种资料检索方式。 ◇ 支持彩色金相分析。 ◇ 具有晶界自动重建功能。 ◇ 具有自动断开粘连颗粒功能。 ◇ 具有批处理功能，能自动记录和重复执行你的分析过程使你的分 析更快速。 ◇ 测量数据存入通用的ACCESS数据，方便和外界交换数据。

CP2280-26 图像分析标样可用来识别边缘偏差和图像畸变。在 75mm× 25mm的载玻片上提供4种高精度的图案，方格精度为 ± 0.1&mu m，圆点精度为± 0.3&mu m.此外，本产品还提供英国国家 物理实验室出具的证书。

透射电镜CCD图像系统,从128万像素到1350万像素的像机供用户 选择。所有相机均采用电制冷以降低热噪声，提高信噪比。与同类 相机相比图像读取速度快、图像明锐清晰。特殊设计的光学系统 使相机具有紧凑的结构和极小的体积，能适合于绝大部分透射电 镜侧装和底装。光学系统的高分辨率和锐度（MTF）以及高光通量 （F1.4）是系统高性能的基础。相机具有抗邻近像素溢出（antiblooming） 的硬件设计，能消除个别特亮点在某些相机中易引起 的电子饱和溢出，同时YAG单晶荧光屏耐电子束轰击，为材料的衍 射图形观察和记录提供方便的手段。 特点: ◇ 最高可达 13.5 百万像素 ◇ 良好的图像对比度 ◇ 高灵敏度,皮尔特电制冷 ◇ 大视场 ◇ 高效简洁的系统设计 ◇ 快速读出电路 ◇ 抗邻近像素溢出 ◇ 根据加速电压优化的闪烁体ZJKY-2000 提供两种TEM接口 侧装接口(主镜筒两侧): 侧装 最大的优点是采集的图像有 很大的视场，但放大倍数较 低。 底装接口(电镜底部): 视场较 小。适合于希望有较高的放 大倍数的场所。底装后的放 大倍数会因电镜镜筒长度不 同而有差别，介于1 . 2倍至 2.0倍之间。

【产品详情】此图像校准及束流测量标样包括C，Co，Rh和Au，标样镶嵌于样品台上，可用于GSR系统验证和图像校准及束流测量。产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。

总览ISDI是高性能CMOS图像传感器领域的创新者，提供定制传感器设计和标准产品。产品范围包括专用设计到大批量制造。ISDI成立于2010年，团队由一群在CMOS图像传感器方面拥有丰富知识和经验的半导体设计师组成，他们从科研项目获得了经验。自成立以来，ISDI已从科学传感器的设计师发展为广泛应用的晶圆级成像设备的制造商。数字接口设计可以直接连接到FPGA或ASIC。对于50μm和100μm传感器，开发板可配备相机链、USB或GigEVision连接，用于快速评估传感器性能，这些也可作为成像系统硬件快速原型设计的参考。所有传感器均设计用于X射线环境下的低噪声操作，适用于光纤板（FOP）键合或直接沉积型闪烁体。包含多型号可选:TY-2222 TY-1511 TY-1412 TY-1107 HP-1615 HP-2301 HP-1501 IS-3131 IS-2121 IS-1510 IS-0510 IS-1512 IS-1207 PS-2824 PS-1412 PS-1206 PS-0606 IS-1313技术参数CMOS图像传感器: 产品系列多功能、功能丰富的图像传感器，结合了ISDI专利的抗辐射低噪声像素结构。特点:滚动快门曝光可切换高低满井来提高和降低灵敏度芯片上的温度传感器动态可编程感兴趣区域(ROI)有效面积 (h x v) cm分辨率(h x v)最大帧率( fps)数据输出包装尺寸(cm)单芯片ADCRow time ( ROI) µs低满井Low full well高满井High full well低频焊LFW 高频焊HFWTY-222221.7 x 22.02173 x 220111268 x LVDS27.0 x 21.8 16/14 bit 8.2 360 ke- 3.2 Me- 72.7dB 81.0dBTY-151114.5 x 11.01451 x 110011222 x LVDS14.5 x 13.5TY-141214.0 x 12.01401 x 120011618 x LVDS14.0 x 14.4TY-11077.2 x 11.1721 x 111011212 x LVDS7.2 x 13.5HP-161516.1 x 15.01610 x 15009224 x LVDS16.1 x 17.6 14 bit 7.1 365 ke- 3.0 Me- 70.2dB 73.6dBHP-230123.3 x 0.762331 x 7648044 x LVDS23.5 x 6.1HP-150114.8 x 0.761484 x 7648028 x LVDS15.0 x 6.1IS-313130.9 x 30.73095 x 307366300 x CMOS31.2 x 35.5 14 bit 9.8 410 ke- 2.6 Me- 72.0dB 74.0dBIS-212120.6 x 20.52063 x 204966200 x CMOS20.6 x 25.3IS-151010.3 x 15.31031 x 15366650 x CMOS10.3 x 17.7IS-051010.3 x 5.11031 x 51219850 x CMOS10.3 x 7.4IS-151211.5 x 14.81537 x 198430 (86 @ 2*2 binning)6 x analogue11.5 x 16.3none17 290 ke- 2.8 Me- 70.5dB 74.4dBIS-120711.5 x 6.51537 x 86468 (192 @ 2*2 binning)6 x analogue11.5 x 7.9none17PS-282428.0 x 24.05606 x 48022972 x LVDS28.1 x 28.814 bit14.2 260 ke- 2.0 Me- 69.9dB 73.6dBPS-141214.0 x 12.02802 x 24002918 x LVDS14.1 x 14.414 bit14.2PS-120611.96 x 6.02391 x 12005916 x LVDS12.0 x 8.414 bit14.2PS-06065.4 x 6.01071 x 1200598 x LVDS5.35 x 8.414 bit14.2IS-131313.0 x 13.02600 x 260016 (30 @ 2*1 binning)7 x analogue13.1 x 15.5none24150 ke-2.0 Me-64.4dB75.1dB

BrightLine® 图像分束二向色分束器当通过颜色分离光束以同时捕获多个图像时，这些分束器为透射光和反射光提供极好的图像质量。对于诸如(FRET)和实时活细胞成像这样的应用，用户现在可以将两种、四种甚至更多的颜色分别放到多个相机或单个照相机传感器的多个区域中。这些滤光片的出色平坦度实际上消除了大多数常见成像系统反射光束的像差(参见第63页的技术说明)。标准边缘波长普通荧光团对分裂平均反射带平均透射带尺寸(L x W x H)滤光片型号484 nmDAPI/FITC (or BFP/GFP)350 – 475 nm492.3 – 950 nm25.2 x 35.6 x 1.05 mmFF484-FDi01-25x36509 nmCFP/YFP350 – 500 nm518.3 – 950 nm25.2 x 35.6 x 1.05 mmFF509-FDi01-25x36538 nmGFP/mOrange350 – 528.4 nm547.7 – 950 nm25.2 x 35.6 x 1.05 mmFF538-FDi01-25x36560 nmYFP/dTomato350 – 550 nm570.1 – 950 nm25.2 x 35.6 x 1.05 mmFF560-FDi01-25x36580 nmGFP/mCherry (or FITC/TxRed)350 – 570 nm590.8 – 950 nm25.2 x 35.6 x 1.05 mmFF580-FDi01-25x36640 nmCy3/Cy5350 – 629.5 nm652 – 950 nm25.2 x 35.6 x 1.05 mmFF640-FDi01-25x36662 nmTxRed/Cy5350 – 650 nm673.7 – 950 nm25.2 x 35.6 x 1.05 mmFF662-FDi01-25x36Image Splitting Dichroic Beamsplitters Common Specifications属性ValueCommentTransmission 93%Averaged over the specified bandReflection 95%Averaged over the specified bandFlatnessSpherical error measured over a 10 mm aperture

美国Supco DVTH温湿度记录仪，液晶显示在线温度、数据曲线、湿度、露点变化情况，可设定1秒至18小时的采样频率，可储存43344个数据点设定操作者ID，屏蔽通道，英制公制单位转换，调整记录模式，单点补偿标定，密码设定，报警点设置，USB端口直接连接电脑下载数据温度范围：-10到65度温度分辨率：0.01度温度精度：±0.5度湿度：0-99%RH湿度分辨率：0.01%RH湿度精度：±2%外部尺寸（长宽厚，cm）：10.2×7.6×3.8货号产品描述DVTH美国Supco DVTH温湿度记录仪（图像显示）

主要针对旧款扫描电镜，不具备计算机图像处理系统，经过更新改造 使扫描电镜具备最先进的计算机系统，并可进行图像处理分析。 增配联机图象处理分析系统后新增以下功能 1、显示具有照片质量的,随电镜扫描实时刷新的静止稳定图象。 使你能更清楚地观察图象细节,同时保护您的视力。 2、将各种信号图象采集到计算机,并以通用格式存贮到磁盘,使你 能更加方便与外界交流和进行电子排版。 3、具有丰富的图象处理功能处理输入到计算机的图象,使图象细节更 加清晰,从而提高电镜的分辨率。处理后的图象可返送电镜照像。 4、对图像中的颗粒、孔洞、裂纹、纤维直径等的尺寸和形状参数 进行快速精确地测量和分析。 5、测定抛光面背散射电子(或二次电子)成份像中各组分的百分含量。 6、彩色组合显示多种元素的X射线面分布像及背散射电子像的伪 彩色显示。 7、在图象上加注文字和各种标记,方便学术交流和论文发表。 8、实时、照片质量图象打印,能节省大量冲印照片的时间。 9、所见即所得的图文报告功能,快速打印出图文并茂的分析报告。 10、建立快速检索的图象数据库，方便你的科研和教学。 技术指标 ●图象清晰度： 512× 512~2048× 2048 灰度等级:256 ●采集图象信号各类： 二次电子像,背散射电子像,吸收电子像,透 射电子像及X射线面分布像，摄象机视频信号。 ●同步方式: 被动式 ●接口阻抗: 同步输入端:15M 视频输入端:200K 视频输出端 :1K ●可配接所有型号电镜, 绝不干扰原电镜使用。电镜和图象系统 多种信息查询检索方式 可联机使用,也可独立使用。

美国Supco DVTH温湿度记录仪，液晶显示在线温度、数据曲线、湿度、露点变化情况，可设定1秒至18小时的采样频率，可储存43344个数据点设定操作者ID，屏蔽通道，英制公制单位转换，调整记录模式，单点补偿标定，密码设定，报警点设置，USB端口直接连接电脑下载数据温度范围：-10到65度温度分辨率：0.01度温度精度：±0.5度湿度：0-99%RH湿度分辨率：0.01%RH湿度精度：±2%外部尺寸（长宽厚，cm）：10.2×7.6×3.8货号产品描述DVTH美国Supco DVTH温湿度记录仪（图像显示）

SEM高放大倍数分辨率检测标样 碳金测试样本通常是将金原子镀膜在厚度约2mm的基质上，在中高度分辨率测试中，不同大小的金粒子会产生不同的间隙。金原子的高原子序数和高次级电子发射性能使其成为SEM和场发射扫描电镜（FESEM）分辨率校验的理想样本。 扫描电镜分辨率的测定采用标准，名义分辨间距和图像上灰线的数量相结合的方法。确保分辨率不会因对比最大可见边缘而导致不准确。高分辨的图像能通过一系列灰线水平显示出完美的细节而没有明显的噪音。 标称粒径范围： CP617-1：5nm-150nm 每个标样有一方形网格，中央有一较大的晶体，并在每一网格的边缘有很好的晶形。因此中或高分辨率测试可同时在一个样品上进行。 CP617-2 ：特别适用于评价高分辨SEM图像质量，放大倍率至少在80000X才能清晰分辨出金颗粒。 CP671-3 ：用于超高分辨率测试，此标样有更小的金颗粒，放大倍率在100,000X以上。

坐标普通碳支持膜的载网是带标记的，方便您找到需要观察的样品。F1坐标载网和F2坐标载网是不同规格标记（F1坐标网见图1，F2坐标网见图2）。图1 F1坐标图2 F2坐标 碳膜为两层支持膜结构，可以采用不同规格的载网做载体。从空间结构来讲，从下到上依次为载网，方华膜和碳膜，如下图它是在一层有机方华膜上再覆盖一层碳膜。由于碳层具有较强的导电以及导热性，弥补了无碳方华膜的荷电效应以及热效应，增强了膜整体的稳定性，适合大多数纳米材料和生物样品的一般形貌观察。普通碳支持膜是针对常规检测20-50nm尺度样品的理想产品，是初次使用或筛查样品的最基本选择。如下图是纳米材料和生物样品在中低倍下的TEM照片，图像清晰，背底影响较小。支持膜的厚度，由对样品提供的承载强度和自身产生的背底干扰共同决定。如果膜厚度大，对样品的承载能力强，但会导致背底噪音增强；如果膜厚度小，图像质量高，但容易引起支持膜破裂。膜总厚度：10-20 nm产品编号产品名称规格/数量间距肋宽孔径BZ10021F1b100目F1坐标碳支持膜50枚/盒25040210BZ10021F1a100目F1坐标碳支持膜100枚/盒25040210

XR328 系列目前有2个规格碳纤维电极分别为5um和7um直径碳纤维微电极，该电极为进口具有很强的化学稳定性，测试图像好，灵敏度高，性能稳定，绝不漏液，保证电化学分析的精准度.

XR303系列玻碳盘电极为美国进口，性能稳定，图像好，灵敏度高：包括直径从1毫米玻碳盘电极到直径3毫米玻碳盘电极。电极管具有很强的化学稳定性，绝不渗漏，保证电化学分析的精准度。玻璃碳电极的优点是导电性好，化学稳定性好，热胀系数小，质地坚硬，气密性好，电势范围宽，相对于饱和甘汞电极，可制成圆柱、圆盘等电极形状，用它基体可制成汞膜玻碳电极和化学修饰电极等。在电化学实验或电化学分析中得到日益广泛的应用。（可根据客户要求定制）

【产品详情】此Lacey微栅碳支持膜同样有很多微孔，但与Holey微栅相比，其微孔的数量更多（如下图所示），载网目数从200-400目，材质有铜网，镍网和金网，包装为50个/盒。微栅是支持膜的一个品种，它是在制作支持膜时，特意在膜上制作的微孔，所以也叫“微栅支持膜”，它也是经过喷碳的支持膜，主要是为了能够使样品搭载在支持膜微孔的边缘，以便使样品“无膜”观察。无膜的目的主要是为了提高图像衬度，所以，观察管状、棒状、纳米团聚物等，常用“微栅”支持膜，效果很好。特别是观察这些样品的高分辨像时，更是最佳的选择。【技术详情】Lacey微栅目数支持膜材质200目铜300目镍400目金产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。

【产品详情】此Holey微栅碳支持膜上微孔最大100um，最小在3-4um左右，载网目数从200-400目，材质有铜网，镍网和金网，包装为25个/盒。常用于纳米材料，生物样品及冷冻实验观察。微栅是支持膜的一个品种，它是在制作支持膜时，特意在膜上制作的微孔，所以也叫“微栅支持膜”，它也是经过喷碳的支持膜，主要是为了能够使样品搭载在支持膜微孔的边缘，以便使样品“无膜”观察。无膜的目的主要是为了提高图像衬度，所以，观察管状、棒状、纳米团聚物等，常用“微栅”支持膜，效果很好。特别是观察这些样品的高分辨像时，更是最佳的选择。【技术详情】Holey微栅目数支持膜材质200目铜300目镍400目金产品详细价格及资料，请登录电镜耗材在线商城网站查看。

薄碳支持膜主要用于在100kV的电镜下,观察生物样品或纳米材料的形貌像。由于100kV电镜的电子束对样品的穿透能力弱，同时对样品和支持膜的损伤程度也小。碳支持膜的厚度可以更薄一些，以获取更高衬度的图像，同时，对样品的细节会表现的更加充分。因此，薄碳支持膜在这个方面的应用具有明显优势。总厚度：8-15 nm大包装100枚/盒，中镜科仪铜载网，中镜科仪生产，支持膜厚度8-15nm。产品编号Prod.No.载网材质Material载网目数Mesh载网产地Made in支持膜产地Made in支持膜厚度（nm)Thickness包装UnitBZ210205a铜50目中镜科仪中镜科仪8-15100枚/盒BZ2102075a铜75目中镜科仪中镜科仪8-15100枚/盒BZ21021a铜100目中镜科仪中镜科仪8-15100枚/盒BZ210215a铜150目中镜科仪中镜科仪8-15100枚/盒BZ21022a铜200目中镜科仪中镜科仪8-15100枚/盒BZ210223a铜230目中镜科仪中镜科仪8-15100枚/盒BZ21023a铜300目中镜科仪中镜科仪8-15100枚/盒BZ21024a铜400目中镜科仪中镜科仪8-15100枚/盒中包装50枚/盒，中镜科仪铜载网，中镜科仪生产，支持膜厚度8-15nm。产品编号Prod.No.载网材质Material载网目数Mesh载网产地Made in支持膜产地Made in支持膜厚度（nm)Thickness包装UnitBZ210205b铜50目中镜科仪中镜科仪8-1550枚/盒BZ2102075b铜75目中镜科仪中镜科仪8-1550枚/盒BZ21021b铜100目中镜科仪中镜科仪8-1550枚/盒BZ210215b铜150目中镜科仪中镜科仪8-1550枚/盒BZ21022b铜200目中镜科仪中镜科仪8-1550枚/盒BZ210223b铜230目中镜科仪中镜科仪8-1550枚/盒BZ21023b铜300目中镜科仪中镜科仪8-1550枚/盒BZ21024b铜400目中镜科仪中镜科仪8-1550枚/盒【存储】：室温避光干燥保存(建议放干燥器或者干燥箱内)、防污染、防震荡，存贮条件良好正常可保存1年左右。【使用注意】：取用时采用高精尖镊子小心操作，防止产生弯折等破坏。存在有机膜，不能与有机溶剂接触。面向样品盒有字母的一面是铺膜的一面。

这款BSE探测器,BSE detector 是欧洲进口的全球领先的背散射电子探测器，它采用全球最佳的闪烁体晶体探测器和光电倍增管,精密真空机械以及高精度电路，以卓越的性能满足背散射电子探测应用。BSE探测器特点采用YAG:Ce单晶闪烁体采用闪烁体和光电倍增管，提供极佳的图像质量全球最佳的超低能量镀膜技术，灵敏度可到0.5Kev 优异的信噪比无限的探测器寿命电动可回缩高精密导臂波纹管密封高真空系统完全用户订制化的SEM连接系统BSE探测器，背散射电子探测器性能YAG:Ce闪烁体探测器提供最佳效率和最小余光afterglow, decay time 衰减时间为75ns @30光子/Kev YAG:Ce闪烁探测器外径15mm , 内孔6mm, 4mm, 2mm 或1.2mm任选，它限制视场大小。灵敏度高达1pA电子束

薄碳支持膜主要用于在100kV的电镜下,观察生物样品或纳米材料的形貌像。由于100kV电镜的电子束对样品的穿透能力弱，同时对样品和支持膜的损伤程度也小。碳支持膜的厚度可以更薄一些，以获取更高衬度的图像，同时，对样品的细节会表现的更加充分。因此，薄碳支持膜在这个方面的应用具有明显优势。总厚度：8-15 nm大包装100枚/盒，中镜科仪铜载网，中镜科仪生产，支持膜厚度8-15nm。产品编号Prod.No.载网材质Material载网目数Mesh载网产地Made in支持膜产地Made in支持膜厚度（nm)Thickness包装UnitBZ210205a铜50目中镜科仪中镜科仪8-15100枚/盒BZ2102075a铜75目中镜科仪中镜科仪8-15100枚/盒BZ21021a

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air，是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针，仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此：- 无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针，所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

井下电视/井下电视系统（深300米，含75孔径和400孔径探头） 型号：BTS-GD3Q—A/B本系统的测试窗口为360°（全孔观测），对所有的观察物都能全方位，全柱面的观测（垂直孔 \\ 水平孔 \\ 斜孔 \\ 俯、仰角孔）。是国内一部最先进的孔内电视。突破了孔内电视在水平孔和斜孔中对有关地质参数观测定量难这一技术难题。系统的实现了全孔视频图像实时展开与拼接，工作效率高，在施工过程中，实地观测结束后，所观测孔内数据与图随即完成。一、仪器的特点：一机多用。不仅能观测垂直孔，而且能观测水平孔和（俯、仰角孔）。成果分析快。用户只需要点击鼠标，即可得到观测的产状描述的所有资料。孔壁的影像真实。成图采用高科技处理，做到了无缝拼接，消除了“百叶窗”，保证了孔壁的真实影像。工作效力高，测井速度每分钟１―10米。精确度高，对裂缝的观辩率高达0.01mm。数据准确无误，深度编码器全程计数。探头采用一体化设计，外壳为进口纯优质不锈钢，耐压防腐，玻璃管强度高，透明性好，里面装满了无色胶状透明油，不仅解决了起雾现象，而且提高了仪器的整体耐压值，大大的提高了测试深度。实地操作简单。采用全程“傻瓜”式操作，用户在实地操作中只需输入孔的地址，孔号等相关信息，点击“开始测试”即可。当测试到孔底时，点击“完成测试”，整个测试工作结束（中途无需工程人员再作任何操作）。整套仪器 “轻”、“小”，便于野外施工。浏览方便。孔内的全部图像和资料，只要打开电脑就可以随时浏览任意方位、任意比例、任意孔段的圆柱图和平面展开图，也可虚拟整个或部分岩心图。软件设计人性化。主要技术参数：探头（摄像头）：彩色低照度摄像头CCD像素数：795*596水平分辨率：795pixels实用孔径：直径56-500mm图象数据：xxg文件格式软件适用环境：Win2000,XP探头外径（mm）：Φ52，Φ68，Φ100水平像数设置：为320pix为标准图像垂直分辨率：0.2mm深度计数精度： 0.1mm时间定时器：0.05ms测斜精度：±0.5°推荐测试速度：1～3m/s最大测量孔深：1000m注：70探头可以测直径90，108，130，150！100探头可以测180到250，200探头可以测250到400

bruker afm探针氮化硅针尖ScanAsyst利用一种的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更*的结果。-可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得zui大优化让液态成像变得简单。仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：DimensionIcon,Multimode8,BioscopeCatalyst,BioscopeResolve.【SCANASYST-AIR】brukerafm探针规格几何:旋转对称尖端高度h:2.5-8.0m前角FA:152.5背角BA:252.5侧角SA:17.52.5尖端半径Nom:2nm尖端半径最大:12nm尖端挫折TSBNom:5m尖端回缩TSBRNG:3-7m悬臂规范材料:氮化硅几何:三角悬臂梁数量:1悬臂厚度Nom:0.65m悬臂厚度RNG:0.6-0.7m背面涂层:反光铝

扫描电镜探测器配件是全球领先的BSE探测器或背散射电子探测器，为扫描电子显微镜提供最佳的信噪比和超高的分辨率，是SEM探测器中的最新产品。扫描电镜探测器配件特点适合全球所有的商用扫描电镜，采用独立设计理念，具有标准的安装法兰接口，非常方便用户的安装和使用采用YAG:Ce单晶闪烁体采用闪烁晶体和光电倍增管，提供极佳的图像质量全球最佳的超低能量镀膜技术，灵敏度可到0.5Kev优异的信噪比无限的探测器寿命HV+LV+ESEM工作模式电动可回缩高精密导臂波纹管密封高真空系统完全用户订制化的SEM连接系统扫描电镜探测器配件性能YAG:Ce闪烁体探测器提供最佳效率和最小余光afterglow, decay time 衰减时间为75ns @30光子/KevYAG:Ce闪烁探测器外径15mm ,内孔6mm, 4mm, 2mm 或1.2mm任选，它限制视场大小。独特的技术确保0.5keV的超高灵敏度,高达1pA电子束外部尺寸406x100x72mm适合真空环境使用0.01mm的重复精度适合所有SEM的法兰接口部分测量结果案例

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air，是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针，仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve.ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此：- 无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针，所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

尤其适用于评价高分辨SEM（如FESEM）图像质量，放大倍数至少在80004X才能清楚分辨这些金颗粒

尤其适用于评价高分辨SEM（如FESEM）图像质量，放大倍数至少在80010X才能清楚分辨这些金颗粒

尤其适用于评价高分辨SEM（如FESEM）图像质量，放大倍数至少在80012X才能清楚分辨这些金颗粒

尤其适用于评价高分辨SEM（如FESEM）图像质量，放大倍数至少在80002X才能清楚分辨这些金颗粒

尤其适用于评价高分辨SEM（如FESEM）图像质量，放大倍数至少在80005X才能清楚分辨这些金颗粒

尤其适用于评价高分辨SEM（如FESEM）图像质量，放大倍数至少在80001X才能清楚分辨这些金颗粒