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碳纸微观形貌

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碳纸微观形貌相关的耗材

  • 三维表面形貌仪配件
    三维表面形貌仪配件是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器,也是一款光学表面形貌仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析。三维表面形貌仪配件根据国际标准计算2D和3D参数,使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析,依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算,从而保证了国际公信力,以标准方案或定制性方案对二维形貌或三维形貌表面形貌和表面纹理,微米和纳米形状,圆盘,圆度,球度,台阶高度,距离,面积,角度和体积进行多范围测量,创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术,一套表面形貌仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。三维形貌仪配件参数:定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动)接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s非接触式测量范围: 范围:300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围:3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s表面形貌仪配件应用:测量轮廓,台阶高度,表面形貌,距离,面积,体积分析形态,粗糙度,波纹度,平整度,颗粒度摩擦学研究,光谱分析磨料磨具,航天,汽车,化妆品,能源,医疗,微机电系统,冶金,造纸和塑料等领域。
  • 表面形貌仪配件
    表面形貌仪配件又称为光学形貌仪或三维形貌仪,它除了用于测量物件的表面形貌或表面轮廓外,具有测量晶圆翘曲度的功能,非常适合晶圆,太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量,应变测量以及表面形貌测量。三维形貌仪主要配件应用用于太阳能电池测量用于半导体晶圆测量用于镀膜玻璃的平整度(Flatness)测量用于机械部件的计量用于塑料,金属和其他复合型材料工件的测量表面形貌仪配件特色*除了表面形貌的测量,还可以测量张量和应力(简单);*可测量晶圆的尺寸为0.5' ' 到12' ' , 最高可达45x45cm的尺寸,对于小于0.5' ' 的晶圆或样品,可配备微距镜头。*测量晶圆或其他样品的表面形貌,粗糙度和翘曲度;*克服常见干涉仪在粗糙表面(油漆)表现不足的问题;*非接触式测量
  • 转动管架 – 微管用
    转动管架 &ndash 微管用【转动管架产品规格】&bull 高密度PP胶(聚丙烯) 制造,完全可压热。&bull 转动架包括两个分开的组件,安全地互相连接,但可以靠中轴转动。&bull 组件备有以下两个组合: ► 一部份有48个可存放1.5 ml微管的孔,另一部份有48个可存放0.5 ml微管的孔。 ► 一部份有48个可存放1.5 ml微管的孔,另一部份有96个可存放0.2 ml微管的孔。&bull 微管可有以下存放组合: ► 96支1.5 ml微管 ► 48支1.5 ml微管及48支0.5 ml微管 ► 48支1.5 ml微管及96支0.2 ml微管 ► 48支0.5 ml微管及96支0.2 ml微管&bull 每行都有字母数字的坐标参考,可快速识别微管。&bull 0.2 ml微管孔是根据标准96孔形式,此形式亦用于PCR移送盘。&bull 每个转动架都备有透明PP材质盖,防范尘埃及其他负面的环境影响。&bull 独立包装。转动管架目录号码:080.06.001转动管架存放组合:96支1.5 ml微管转动管架存放组合:48支1.5 ml微管及48支0.5 ml微管转动管架存放组合:48支1.5 ml微管及96支0.2 ml微管转动管架存放组合:48支0.5 ml微管及96支0.2 ml微管如需订购以上型号的转动管架,请致电莱华尔科技(深圳)有限公司!更多进口耗材配件,请参考进口容量瓶http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102618/Q1862772.htm镍释放测试仪http://product.ch.gongchang.com/d36631681.html
  • 微管架
    RM-02-02 微管架(不包括试管,试管另购),适合直径为9-20的试管,用于旋转混合器。产品号产品描述RM-01-01RM-1阶梯式变量控制,定时器旋转混合器RM-01-02旋转混合器、数字速度及定时控制RM-02-01微管架,适合直径为10-11.5的试管RM-02-02微管架,适合直径为9-20的试管RM-02-0350ml离心管支架, 25 - 35 mm直径RM-03-18试管支架直径12mm、孔深80mmRM-03-28试管支架直径16mm、孔深80mmRM-03-38试管支架直径26mm、孔深80mm
  • SiR活细胞微管蛋白试剂盒
    SiR微管蛋白试剂盒SiR-tubulin是一种具有荧光性、细胞通透性和高度特异性的微管探针包装:试剂盒含50 nmol SiR-tubulin和1 umol维拉帕米分类:细胞骨架探针,生物成像探针,产品,SiR探针介绍:SiR-tubulin基于微管结合药物多烯紫杉醇。SiR-tubulin具有荧光性、细胞通透性和对微管的高度特异性。Sir-tubulin染色内源性微管不需要基因操作或过度表达。它在远红光中的发射最大限度地降低了光毒性和样品的自身荧光。SiR-tubulin与GFP和/或m-cherry荧光蛋白兼容。它可以用标准的Cy5滤光器成像。sir -微管蛋白可用于活细胞和组织的宽视野、共聚焦、SIM或STED成像。探针数量允许50 - 200个染色实验。*基于以下条件:0.5 - 1ml染色液/ 0.5 - 1um探针浓度的染色实验。染色实验的数量可以通过减少体积或探针浓度来进一步增加。备注:Sir探针的染色效率因细胞类型和/或生物体而异。观察到弱染色的一个主要原因是样品中流出泵的活性。加入广谱外排泵抑制剂,如维拉帕米,一般对信号强度有积极影响。维拉帕米使用指南如果您的样品荧光信号较弱,建议在维拉帕米存在的情况下重复染色。将管中的内容物溶解在100 μl DMSO中,制备10 mM(1000倍)的原液。将Verapamil DMSO原液添加到最终浓度为10 μM的染色液中,按照SiR探针的指示培养细胞或样品(详细染色方案请参考SiR探针的数据表)。重要提示:维拉帕米不是Spirochrome产品,每笔订单都是免费添加的。上述条件是一个建议的起点,因为维拉帕米的效果可能因所使用的细胞类型或生物体而异。为了优化弱染色样品的染色效率,需要进行不同浓度的维拉帕米和SiR-probe的小规模实验。作为一种外排泵抑制剂和钙通道抑制剂,维拉帕米可能对活样品有副作用。
  • 微管 – 研杵
    微管 &ndash 研杵【产品规格】&bull 以高级PP胶(聚丙烯) 制造,可压热121° C达20分钟。&bull 非常适用于研磨及同质化在微型离心管中的细菌细胞、核酸、蛋白质或组织的沉淀物,以及使它们悬浮。&bull 锥形杵头是圆形的,适用于1.5 ml微型离心管。&bull 以每包10支包装。目录号码:078.08.120
  • 石墨烯材料及其他新型低维材料检测表征服务
    泰州石墨烯研究检测平台是泰州市政府与泰州巨纳新能源有限公司共同成立的国内 石墨烯性能测试与结构表征的综合性研究及检测机构。平台目前建有近千平方米的检测洁净室,拥有高分辨拉曼光谱仪、原子力显微镜、三维共聚焦显微镜、电子束曝光系统、近场光学显微镜等国际先进的新材料性能检测及结构表征设备。平台致力于在石墨烯等高新碳材料以及新型低维材料(如各类二维材料、量子点)等领域提供全面专业的检测及表征服务。泰州石墨烯研究检测平台相关检测服务:微区形貌表征:表面洁净度、平整性、层数或厚度判定、均匀性分析等原子结构表征:原子缺陷、层间堆垛方式、电子能带结构等光学性能表征:紫外到红外波段透射、反射、吸收性能等成分检测及分析:元素含量与比率、官能团分析等电学、力学、热学、电化学性能表征等各种定制研究检测服务(如二维材料的光电响应测试)等检测项目检测内容描述二维材料光电响应测试二维材料的光电响应测试定制化分析实验方案协助制定、数据分析整体解决方案原子力显微镜(AFM)检测石墨烯层数/厚度,尺寸,AFM图像光学显微分析石墨烯层数/厚度,尺寸,对比度分析,光学显微图片荧光显微分析发光样品显微图片3D显微分析石墨烯均匀性,表面起伏度,表面残余物检测拉曼(Raman)光谱分析(单谱)石墨烯洁净度,层数,掺杂浓度,缺陷含量等拉曼(Raman)光谱分析(单谱+成像)石墨烯洁净度,层数,掺杂浓度,缺陷含量等扫描电子显微镜(SEM)检测样品微观形貌(分辨率)超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息生物型透射电镜获取显微形貌,适合对分辨率不高但是衬度要求高的高分子、生物型样品透射电子显微镜(TEM)检测获取显微形貌截面离子束抛光用离子束抛光,去除表面应力层,适合复杂样品的EBSD的采集,以及截面样品的SEM观察离子束平面研磨高分辨透射电子显微镜(TEM)检测样品高分辨形貌(分辨率),衍射图(结晶度,晶格取向等)低真空场超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息变温光学显微镜获取样品的显微形貌,具有明场、暗场、偏光、微分干涉等模式电子背散射衍射—STEM检测获取微观取向信息,可用于晶粒度、晶界、织构、应力等分析X射线光电子能谱(XPS)表面元素含量及化学价态(氧含量分析,成键态),结晶性能等紫外可见吸收光谱分析200-3300nm薄膜、溶液的透射率,吸收率等红外光谱分析(FTIR)红外波段透射(350-7800cm-1),有机物官能团分析等X射线荧光光谱分析元素的定量和半定量分析直读光谱分析获取样品的成分灰分测试获取样品的灰分能谱仪分析获取样品的元素成分和分布,微区域元素的定性和半定量分析等离子体发射光谱元素分析分析样品中无机元素的准确成分及定量辉光放电质谱分析H以外的所有元素,包括常用分析方法难以测定的C,N,O,P,S等轻元素超低检测限,大多数元素的检测限为0.1~0.001ug/G碳硫元素分析C和S的比例元素分析C H O N S的比例元素分析同位素质谱元素分析:C、N、S百分含量同位素质谱:13C、15N含量离子色谱-阴离子阴离子含量分析电感耦合等离子体质谱痕迹量元素测定电子探针元素定性分析、定量分析X射线衍射分析结晶度、晶粒大小、层间距等显微红外分析微区样品红外光谱采集液相色谱分析样品有机物质的含量圆二色光谱分析液相色谱质谱联用分析样品有机物质的含量及具体成分气相色谱易挥发的有机物质的含量气相色谱-质谱联用易挥发的有机物质的具体成分核磁共振分析氢谱、碳谱石墨烯薄膜热传导性能测试石墨烯热导率热重分析测试材料的质量随温度的变化,可用于分析构成的比例热差分析测定样品在程序控制温度下产生的热效应,可分析融点、成分构成、热性能、相转变、结晶动力学等信息同步热分析测量样品的热流、转变温度和重量变化三种信息力学性能测试(氧化石墨烯纸/薄膜等)拉伸应力、拉伸强度、扯断强度、剪切剥离力、杨氏模量等电阻测试(薄膜样品)薄膜面电阻等比表面积测试(BET)测试样品比表面积椭圆偏振分析平板材料或者薄膜的折射率、反射率、膜厚、吸收系数测定电学性能测试(Transport)迁移率,掺杂浓度等纳米粒度分析纳米粒径的分布微米粒度分析微米粒度的分布PH值测试测量PH值
  • Nalgene 5974 漂浮式微管架,聚丙烯
    Nalgene 5974 漂浮式微管架,聚丙烯?用于在高温或低温下,解冻、冷却和培育样本。该微管架在装满已填充的微管后,仍可漂浮。微管在边缘下部得到微管架的支撑。在工作台上,微管架的支腿可以防止试管底部接触到工作台的表面。它具有卓越的耐温性,可以适应-70℃到100℃的温度范围。其上的每个孔旁都标有模制字母和数字,以便于您识别样本。订货信息:Nalgene 5974 漂浮式微管架,聚丙烯方形目录编号 5974-0404颜色白色试管容量,ml1.0、1.2、1.5 和 2.0L×W×H,mm103×103×65阵列4×4每盒数量4每箱数量16圆形目录编号 5974-4015-1015颜色白色白色试管容量,ml1.0、1.2、1 与和 2.01.0、1.2、1.5 和 2.0阵列820适合夹持 Nalgene 烧杯,ml4001000直径,mm6696直径,in.2-5/83-3/4每盒数量44每箱数量1616注意:不能对聚丙烯试管架进行高温高压灭菌
  • 普迈WHEATON E-Z 玻璃提取微管
    E-Z玻璃提取微管由低析出硼硅玻璃制造,可选的管子底端二维条形码用于鉴定和跟踪样品,可储存在-80℃到80℃,货号对应的480 根微管安装在5 个96 孔架上,并且由盖子锁住;抗溶剂腐蚀的弹性塞(货号W240860)可完全密封微管订货号规格/描述单位包装数量W2246501.0ml盒480W2246541.4ml盒480每个微管上的二维条形码订货号规格/描述单位包装数量W2246521.0ml盒480W2246561.4ml盒480
  • 真空三叉接管/燕尾管/玻璃真空三叉接管
    真空三叉接管/燕尾管/玻璃真空三叉接管由上海书培实验设备有限公司生产提供,产品规格齐全,量多从优,欢迎客户来电咨询选购。产品介绍:产品主要用作蒸馏等装置上的连接管使用。产品相关规格介绍表格:产品名称产品规格产品单价真空三叉接管 燕尾管14、14、14、14询价真空三叉接管 燕尾管19、19、19、19询价真空三叉接管 燕尾管24、24、24、24询价
  • VWR微管储箱
    结构紧凑,用于存放微量管和冻存管。存放1.5/2.0 ml的微管或冻存管。带易开启型摩擦配合盖。适合大多数标准冻存架。 Highly transparent, with bold identifying colours and a distinctive wave designUniform wells with location ID capacity indicated on the outside of the boxBlack light-tight version available for light-sensitive samplesFrosted labelling patchCompact footprint for microtube and cryogenic vial storage. Store 1,5/2,0 ml microtubes or cryogenic vials. Complete with an easy open, friction-fit lid. Will fit into most standard freezer racking. 高透明度,具有醒目的识别颜色和独特的波浪设计孔均匀一致,带位置ID。盒外部有容量指示具有黑色不透光版,用于存放光敏样品磨砂贴标50孔盒,铰链盖,带弹簧拉钩 隔间颜色外部宽度×深度×高度包装规格VWR目录号50Assortedcolours142×92×56mm5VWRI525-093350自然色142×92×56mm5VWRI525-0932*更多请咨询美同达客服
  • 扫描电镜专用场发射电子源9215736
    场发射电子源921 5736 ,这个型号的场发射灯丝,适用于原厂H机型。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种,扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点:1、有较高的放大倍数,20-30万倍之间连续可调;2、有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;3、试样制备简单,目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪(EDS)装置,这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场,此外,还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务,以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源(电子显微镜灯丝)、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
  • 电子显微镜专用用碳沉积
    CARBON FILL,MGIS碳沉积(多支气体注入系统专用)用于原厂电子显微镜多支气体注入系统,碳沉积(多支气体注入系统专用)是一种存放碳化合物的容器,将药品加热到一定温度,药品气化,在真空压差和可控阀门的作用下,将药品气体喷洒在样品表面,同时在离子束的诱导作用下将碳分子沉积在样品表面。以实现对样品表面形貌的保护,或对样品进行导电处理。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场,此外,还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务,以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源(电子显微镜灯丝)、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
  • 中镜科仪200至300目国产铜网超薄碳膜 TEM载网支持膜 电镜耗材
    超薄碳支持膜为三层膜结构,是在微栅支持膜的基础上再镀一层超薄碳层。与以载网网孔为骨架的薄纯碳膜不同,覆盖在微栅网孔上的这层超薄碳膜厚度小于5nm,是目前较薄的支持膜。主要针对观察分散性较好的纳米材料而研发设计的。薄碳膜将微孔挡住,样品就能大量均匀的分布在膜上,从图上能清楚的看到大量的纳米颗粒分散在微孔上,既可以考察样品的分散性,也有利于高分辨像拍摄。它不但适合于观察纳米线、纳米管等一维纳米材料的形貌像和高分辨像,尤其适合观察一些粒径小衬度低的纳米晶的形貌像以及高分辨像。膜总厚度:3-5 nm大包装100枚装,中镜科仪200目、230目、300目铜载网,中镜科仪生产,膜厚度3-5nm。 产品编号Prod.No.载网材质Material载网目数Mesh载网产地Made in支持膜产地Made in支持膜厚度(nm)Thickness包装UnitBZ11032a铜200目中镜科仪中镜科仪3-5100枚/盒BZ110323a铜230目中镜科仪中镜科仪3-5100枚/盒BZ11033a铜300目中镜科仪中镜科仪3-5100枚/盒产品编号Prod.No.载网材质Material载网目数Mesh载网产地Made in支持膜产地Made in支持膜厚度(nm)Thickness包装UnitBZ11032b铜200目中镜科仪中镜科仪3-550枚/盒BZ110323b铜230目中镜科仪中镜科仪3-550枚/盒BZ11033b铜300目中镜科仪中镜科仪3-550枚/盒【存储】:室温避光干燥保存(建议放干燥器或者干燥箱内)、防污染、防震荡,存贮条件良好正常可保存2年左右。【使用注意】:取用时采用高精尖镊子小心操作,防止产生弯折等破坏。存在有机膜,不能与有机溶剂接触。面向样品盒有字母的一面是铺膜的一面。本产品经过严格审核和检查,如有质量问题,请凭合格证上编号与我公司联系。
  • 扫描电镜专用场发射电子源9213915
    场发射电子源9213915/9217251,这两个灯丝的外形一样,适用的扫描电镜型号不同,需要了解扫描电镜的具体型号。场发射扫描电子显微镜其实它是电子显微镜的一种,扫描电镜是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。优点:1、有较高的放大倍数,20-30万倍之间连续可调;2、有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;3、试样制备简单,目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪(EDS)装置,这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场,此外,还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务,以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源(电子显微镜灯丝)、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
  • 原子力显微镜探针/轻敲模式/轻敲探针/形貌表征/VTESPA-300
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • Park原子力显微镜AFM探针OMCL-AC160TS 10M
    AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用域的显微镜,如AFM(范德华力),静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等, 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种:(1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:常用的产品,分辨率高,使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损,分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。(2)、 导电探针:通过对普通探针镀20-40纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属,如Au、Cr、Ti和Pt与Ir的合金等)得到。导电探针应用于EFM,KFM,SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差,使用时导电镀层容易脱落,导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖,金刚石镀层针尖,全金刚石针尖,全金属丝针尖,这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。(3)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备,分辨率比普通探针差,使用时导电镀层容易脱落。(4)、大长径比探针:大长径比针尖是为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品,分辨率很高,使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm 长径比5:1 针尖半径 10 nm。(5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜,另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性,减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。还有生物探针(分子功能化),力调制探针,压痕仪探针 Park四面体探针测微悬臂的特点,在于探针位于测微悬臂的Z端,由此易于清楚确认探针与样品的位置关系,从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求,此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。 具有高品质的解析度,共振频率在300 kHz与26 N/m的弹性系数, 大大的降低了破坏样品的机率; 外观设计:新产品的侧壁垂直面更便于探针的夹取; TipView设计:锋利的探头放置在后的悬臂。TipView设计便于精确探测定位; 测量环境:适用于空气中测量; 测量模式:AC(动态)模式; OMCL-AC160TS 10M的针尖适用于一般标准表面形貌量测,适用于以下sample: 1、pss蓝宝石基板的表面形貌量测; 2、太阳能板的表面形貌量测; 3、玻璃面板等各式有机材料、无机材料的表面形貌的量测 OMCL-AC160TS 10M均可直接代替以下品牌型号针尖: 1、Nanoworld 的NCHR/Arrow NCR 2、Appnano的ACTA 3、Bruker的TESPA/ORTESPA; 4、NT-MDT的NSG30 5、Budget Sensors的Tap300-G 详情请咨询:18994392037(同VX)李经理
  • 原子力显微镜探针/轻敲模式/轻敲探针/形貌表征/OTESPA-R3
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • VHP 微管接头 P-416
    VHP 微管接头微管接头专门设计为与微型套箍一起使用。其由专有 PEEK 共混物(PK)制成,允许在更高温度(不超过200 ℃)和更高压力条件下使用,适用于 UHPLC 应用。VHP 微型套箍和接头由专有高性能 PEEK 聚合物共混物制成,此材料性能突出,适用于UHPLC 系统中的毛细管。新型高压微型套箍可与 1/32 英寸或 360μm 外径管路一起使用,且其被并入我们的若干 VHP 产品中用于毛细管。应用注解注意:虽然 PK 接头的专有共混物将允许接头获得比纯 PEEK 更高的压力和最小的冷流动性能,但已知一些 PK 制成的接头导电。在高压应用中使用 PK 接头时需特别小心。注解:MicroTight 接头和微型套箍MicroTight 母螺纹螺母可与任一种单独的微型套箍配合使用,而套箍本身具有端口专用性,不可互换使用。另外,一体式 MicroTight 接头也具有端口特异性,不可互换。注解MicroTight 接头和微型套箍MicroTight 母螺纹螺母可与任一种单独的微型套箍配合使用,而套箍本身具有端口专用性,不可互换使用。另外,一体式 MicroTight 接头也具有端口特异性,不可互换。订货信息:VHP 微管接头零件号描述端口压力额定值所需扭矩头端类型材料数量PK 微型套箍和母螺纹螺母P-416用于微型套箍的母螺纹螺母5/16-24 锥形15,000 psi (1,035 bar)4.0 in-lbs (0.45 Nm)母滚花PEEK 天然色一个P-416BLK用于微型套箍的母螺纹螺母5/16-24 锥形15,000 psi (1,035 bar)4.0 in-lbs (0.45 Nm)母滚花PEEK 黑色一个PK-112用于1/32 英寸外径管路的 VHP 微型套箍5/16-24 锥形15,000 psi (1,035 bar)——PK一个PK-152用于 360μm 外径管路的 VHP 微型套箍5/16-24 锥形15,000 psi (1,035 bar)——PK一个
  • 200目多孔碳支持膜
    多孔支持膜是在支持膜上特意制作大小不同的微孔。与微栅支持膜不同的是微孔平均数量少于微栅,且大小不均。也就是说膜的面积占很大一部分。所以这是唯一既可以观察样品的形貌像又可观察高分辨像的碳支持膜。用户可在低倍下通过支持膜观察形貌,在高倍下通过支持膜上的微孔观察的高分辨。是纳米材料表征的理想支持膜产品。 膜总厚:15-20nm
  • Gilder英国50至400目圆孔铜网 (不带碳膜)进口透射电子显微镜载网
    产 品 详 情 载网孔径大,视场开阔,主要用于生物制样中,可配合切片机在水槽中捞取样品。做透射电镜实验时用来承载样品,不受网格栅干扰,可长距离观察样品形貌。对连续片断,可拍摄连续的显微照片,而不受格栅干扰。除了常用的铜网(Cu),还有镍网(Ni)、钼网(Mo)、金网(Au)、铝网(Al)、铂网(Pt)、钛网(Ti)、石墨碳网(C)、不锈钢网(SS)、金/钯(Au/Pd)双面网、铍铜网(合金铜)、镀金铜网、镀金镍网、尼龙网等。这些不同材质的载网,主要是满足观察不同样品时的特殊需求。譬如:用能谱仪(EDS)测定样品上的元素,如果采用铜网,又要测定样品的铜元素,就会因铜网背底影响样品的检测;有时做生物免疫电镜,为了避免生物细菌因铜中毒,而选择镍网或金网;在捞取生物样品的超薄切片时,为了便于区别载网的正反面,而选择金/钯双面网(金色和银色);如果材料样品需要在高温下处理,通常会选择钼网。不同材质载网特性比较铜载网(Copper Grids)是较广泛使用的载网。价格低廉,并且无磁性,缺点是铜在低的PH值下具有活性。镍载网(Nickle Grids)性能稳定,强度也很高,缺点是具有磁性,会发生粘附,建议使用防磁镊子进行操作。金载网(Gold Grids)难与其他物质发生反应,但金有柔软性,易变形,尺寸不精确,且价格较高。钼载网(Molybdenum Grids)具有低的收缩系数、高强度、高硬度,可用于高温惰性环境中的研究,负载的样品不会发生变形。
  • 双面碳导电胶片
    双面碳导电胶片具有高导电性和粘合性,为样品的形貌观察提供理想的背景。适用于粘附SEM或EDS制样,也可用于表面分析(XPS、AES等)。电阻:5.5&Omega 厚度:0.16mm尺寸:50× 120mm
  • 扫描探针显微镜(SPM)
    SPM的工作原理是基于微观或介观范围的各种物理特性,通过原子线度的极细探针在被研究物质的表面上方扫描时检测探针—样品两者之间的相互作用,以得到被研究物质的表面特性,不同类型的SPM之间的主要区别在于它们的针尖特性及其相应的针尖----样品相互作用方式的不同。
  • 镍纯碳膜
    新兴百瑞自主产品,客户可以在此基础上根据实验条件提方案,对产品改进纯碳膜是在碳支持膜的基础上,将有机层用特殊方法去除后得到的纯碳膜,很适合需要在有机溶剂或高温下处理的样品(如:氯仿、四氢呋喃等有机溶剂下使用)。 T10044是400目进口铜网制作的纯碳膜,膜厚25-30nm,适合有机溶剂或高温加热样品的形貌像观察(特殊载体可根据客户制定材料:有铜、镍、钼、铝、钨、不锈钢、尼龙等金属及非金属材料。)。
  • 原子力探针/afm探针/轻敲模式/轻敲探针/形貌表征/RTESPA-300
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • Park原子力显微镜AFM探针OMCL-AC240TS 10M
    详情请咨询:18994392037(同VX)李经理 AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用域的显微镜,如AFM(范德华力),静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等, 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。原子力显微镜的探针主要有以下几种:(1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:常用的产品,分辨率高,使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损,分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。(2)、 导电探针:通过对普通探针镀20-40纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属,如Au、Cr、Ti和Pt与Ir的合金等)得到。导电探针应用于EFM,KFM,SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差,使用时导电镀层容易脱落,导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖,金刚石镀层针尖,全金刚石针尖,全金属丝针尖,这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。(3)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备,分辨率比普通探针差,使用时导电镀层容易脱落。(4)、大长径比探针:大长径比针尖是为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品,分辨率很高,使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm 长径比5:1 针尖半径 10 nm。(5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜,另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性,减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。还有生物探针(分子功能化),力调制探针,压痕仪探针 Park四面体探针测微悬臂的特点,在于探针位于测微悬臂的Z端,由此易于清楚确认探针与样品的位置关系,从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求,此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。 OMCL-AC240TS 10M 微软型(Medium-soft Silicon Cantilever) 适用于测量易受损(Soft)的样品 在轻敲模式中拥有Z微小的弹性系数2 N/m的硅悬臂,适合用来观测局部解剖的表面与柔软样品的黏弹性 Medium-soft Silicon Cantilever Spring constant of 2 N/m (norminal) is smallest of silicon cantilevers, suitable for observing surface ography and viscoelasticity of soft samples.(2n/m,70khz) AFM的测量模式:※接触式(Contact mode): 探针与材料表面间的距离为(2~3nm)。在扫描时,针尖与样品表面轻轻接触,产品微弱的排斥力使探针偏移,从而使得样品表面形貌的图像。※非接触式(Non-contact mode): 探针与材料表面总维持着一定的距离(低于20nm)。非接触式为轻敲式的衍生,一样是利用探针跳动来扫描,但是探针始终都不接触表面。 ※轻敲式(Tapping mode又称 AC mode): 介于接触式和非接触式之间,探针与材料表面间的距离为(5nm)。以探针震荡方式,探针在试片上跳动,当探针震荡至波谷时微接触样品。 Park探针选用小贴士: AC160TS:Tapping Mode,用於較硬的sample,適用半導體材料,金屬材料,Polymer,DVD… AC240TS:Tapping Mode,用於較軟的sample,適用生命科學:DNA,細胞,薄膜,蛋白質…
  • 多孔碳支持膜(200至300目)TEM载网支持膜透射电镜铜网中镜科仪
    多孔支持膜是在支持膜上特意制作大小不同的微孔,是一款适合于纳米材料表征的新型支持膜,是我公司独立研发的新产品,同样具有双层支持膜结构。这种支持膜与微栅相比,具有较为细致的微孔结构,可以方便的承载长度比较小的纳米棒或纳米丝(纤维) 等结构。制样过程中使用的分散剂等液体溶剂可以轻易地通过这些微孔结构而被下层滤纸吸附,而样品则可以借此过程有效地分散在微孔周围。多孔膜与碳支持膜相比,由于支持膜上微孔结构的存在,使得在对样品进行高分辨表征时表现出优越性,而与微栅支持膜不同的是微孔平均数量少于微栅,且大小不均。膜占较大部分,这就决定了可以在低倍下观察整体的形貌像和考察样品的分散性。它的优点就是在同一支持膜上,不仅能观察样品的整体情况,也可以得到样品局部的高分辨像。用户可在低倍下通过支持膜观察形貌,在高倍下通过支持膜上的微孔观察的高分辨。是纳米材料表征的理想支持膜产品。我们还可以根据用户要求定制不同孔径的多孔膜。膜总厚:15-20nm 分100枚装和50枚装两种包装规格,中镜科仪200目、230目、300目铜载网,中镜科仪生产。载网目数Mesh产品编号Prod.No.载网材质Material载网产地Made in支持膜产地Made in支持膜厚度Thickness包装Unit200目BZ110129a铜中镜科仪中镜科仪15-20nm100枚/盒BZ110129b铜中镜科仪中镜科仪15-20nm50枚/盒230目BZ1101239a铜中镜科仪中镜科仪15-20nm100枚/盒BZ1101239b铜中镜科仪中镜科仪15-20nm50枚/盒300目BZ110139a铜中镜科仪中镜科仪15-20nm100枚/盒BZ110139b铜中镜科仪中镜科仪15-20nm50枚/盒为了能更加方便和有效的利用透射电子显微镜(TEM)观察纳米材料,支持膜就应运而生。支持膜质量的优劣很大程度的影响到最后的成像效果,其中膜厚成为人们关注的焦点,因为它与膜的承载能力和膜的背底影响这两项性能指标都有着的直接的联系。而这两项指标都是相对矛盾的,承载能力的增强就意味着的膜厚的增加,膜厚的增加又会导致膜背底影响的加剧。中镜科仪(北京)膜科技有限公司的生产研究人员就这一重大课题展开了深入的探讨,通过工艺的不断改进推出了一系列的支持膜来满足不同用户的需求。其中超薄碳支持膜、多孔膜和FIB微栅等都是本公司的独家产品。【存储】:室温避光干燥保存(建议放干燥器或者干燥箱内)、防污染、防震荡。【使用注意】:取用时采用高精尖镊子小心操作,防止产生弯折等破坏。存在有机膜,不能与有机溶剂接触。面向样品盒有字母的一面是铺膜的一面。本产品经过严格审核和检查,如有质量问题,请凭合格证上编号与我公司联系。
  • 中镜科仪 200至400目铜网厚碳支持膜(加强碳)
    铜网厚碳支持膜主要用于在200kV或300kV的电镜下,观察纳米材料的形貌像。由于200kV以上电镜的电子束对样品的穿透能力强,同时对样品和支持膜的损伤程度也较大。碳支持膜的厚度需要更厚一些,以避免高强电子束对样品的损伤。同时,对于一些具有化学腐蚀的样品,推荐使用该产品。因此,厚碳支持膜在这个方面的应用具有明显优势。膜总厚度:15-30 nm大包装100枚/盒。 中镜科仪200目、230目、300目、400目铜载网,中镜科仪生产,支持膜厚度15-30nm 。产品编号Prod.No.载网材质Material载网目数Mesh载网产地Made in支持膜产地Made in支持膜厚度(nm)Thickness包装UnitBZ31022a铜200目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒BZ310223a铜230目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒BZ31023a铜300目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒BZ31024a铜400目中镜科仪中镜科仪15-30100枚/盒中包装50枚/盒。 中镜科仪200目、230目、300目、400目铜载网,中镜科仪生产,支持膜厚度15-30nm 。产品编号Prod.No.载网材质Material载网目数Mesh载网产地Made in支持膜产地Made in支持膜厚度(nm)Thickness包装UnitBZ31022b铜200目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒BZ310223b铜230目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒BZ31023b铜300目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒BZ31024b铜400目中镜科仪中镜科仪15-3050枚/盒【存储】:室温避光干燥保存(建议放干燥器或者干燥箱内)、防污染、防震荡,存贮条件良好正常可保存1年左右。【使用注意】:取用时采用高精尖镊子小心操作,防止产生弯折等破坏。存在有机膜,不能与有机溶剂接触。面向样品盒有字母的一面是铺膜的一面。
  • 新兴百瑞 进口铜网碳支持膜
    碳支持膜/碳膜上的纳米颗粒形貌像:在方华膜上镀了一层较薄的碳层,碳层的抗热性和导电性在电子束照射时可有助于稳定方华膜。这种弹性较好、多种用途的样品支持膜/碳膜是承载薄切片的理想材料,也可用于低放大倍率的样品观察。规格分为:进口 75目、100目、150目、200目、300目、400目
  • 全自动型高性能喷碳仪
    【技术参数】样品室玻璃腔体尺寸120mm ? x 120mm H,高强度不锈钢结构样品台尺寸可放置12个标准钉形样品台,高度可在 30mm内调节蒸镀源高纯度碳棒,直径6.15mm蒸镀控制系统微处理器控制,远程电流/电压感应;最大电流180A,程序化数字控制;提供真空安全联锁装置,配有过流保护;模拟计量真空 Atm - 0.001mb 电流: 0 – 200A控制方式自动蒸镀控制;可选择手动操作,也可通过控制数字定时器 (1 – 30秒)及电压设定 (0.1 to 5.5V)实现自动蒸镀控制;自动放气功能;机械泵2L/s,25-30s内真空度下降到0.1mb工作电压220V, 50/60HZ膜厚监控仪(选配)通过6MHz石英晶体进行原位监控,显示纳米级厚度,碳厚度可精确到0.1nm适用配套Zeiss, JEOL, Hitachi, FEI, Tescan, Phenom等扫描电镜【产品详情】Agar 全自动喷碳仪为英国进口设备,操作简单,适用于扫描电镜样品制备等。喷碳仪使用高纯度碳棒,更容易实现在高倍下得到高质量的镀膜效果,以便对样品进行形貌观察及进行能谱EDS或EBSD分析。 喷碳仪使用的是碳棒,真空度相对来说要高一些;用碳棒的喷碳颗粒要细一些,同时对样品的加热温度也要高一些。产品详细价格及资料,请登录电镜耗材在线商城网站查看。
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