无损表征

闪烁体是一类吸收高能粒子或射线后能够发光（探测器灵敏波段）的材料，可分为有机和无机两大类，按其形态又可分为固体、液体和气体三种。 当闪烁体受到高能粒子或射线照射后能够发生能级跃迁，且产生的紫外可见光强度可被光电探测器探测到。当X射线与闪烁体作用时，一个X射线光子，可以产生多个光子，与紫外可见光不同，因为X射线的能量足以使物体电离，使电子脱离能级的束缚。能量越高的X射线光子，通过产生俄歇电子，康普顿散射等产生更多的电离电子（二次电子），二次电子热能化退至激发能级，通过荧光或磷光的方式发光。因此闪烁体对辐射具有能量分辨率。在医学上，闪烁体是核医学影像设备的核心部件，通过它可以快速诊断出人体各器官的病变大小和位置。闪烁体在行李安检、集装箱检查、大型工业设备无损探伤、石油测井、放射性探测、环境监测等领域也都发挥着不可替代的作用。闪烁体还是制造各类对撞机中电磁量能器的重要材料，它可捕捉核反应后产生的各种粒子的信息，是人类探索微观世界及宇宙演变的重要工具。稳态瞬态荧光-闪烁体综合性能表征系统可综合测试稳态瞬态光致发光以及X射线辐射发光。X射线辐射样品仓安装可控屏蔽快门，在辐射光源最大功率下关闭快门时，样品位置辐射剂量小于10uSv/h，辐射防护满足国标GBZ115-2023《低能射线装置放射防护标准》的要求。 该系统可根据用户需要搭建以下功能● 稳态荧光/瞬态荧光● 稳态X射线荧光/瞬态X射线荧光● X射线荧光成像● 显微荧光/显微荧光寿命成像● 温度相关光谱 X射线荧光成像瞬态X射线荧光寿命测试技术参数X射线荧光成像TYP 39分辨率卡的X射线图像。测试1mm厚的YAG(Ce)时，分辨率可以达到20pl/mm以上。

产品包括实验室加工设备药物制剂工艺设备旋转流变仪粘度计更多信息：请访问赛默飞世尔科技材料表征的展台，展位号：SH100279。或使用简易域名登陆：http://mctc.instrument.com.cn。

TriboLab CMP 利用其前身产品 （Bruker CP-4） 超过 20 年的 CMP 领域专业知识，为业界领先的 TriboLab 平台带来了一套完整的功能。基于本套设备产生的高精度和高可重复性使得在整个 CMP 流程中能够进行高效的鉴别、检查和连续功能测试。TriboLab CMP 是市场上唯一能够提供广泛的抛光压力 （0.05-50 psi）、速度（1 至 500 rpm）、摩擦、声发射和表面温度测量的工艺开发工具，可准确、完整地描述 CMP 工艺和耗材。用于 CMP 的小型研发规模专业系统布鲁克的TriboLab CMP工艺和材料表征系统是专为晶圆抛光工艺而设计，是具有可靠、灵活和高效的台式设备。重现全尺寸晶圆抛光工艺条件，无需在生产设备上停机提供无与伦比的测量可重复性和细节检测允许在小样品上进行测试，比全晶圆测试节省大量成本板载诊断系统可以更好地了解抛光过程比市场上任何其他系统提供更多的瞬态抛光过程的参数从接触抛光盘开始直至整个测试过程都能收集数据通过更完整、更详细的数据实现早期流程开发决策具有灵活的样品类型、尺寸和安装配置抛光任何平面材料，几乎能使用任何修正盘，任何抛光液，和任何抛光垫轻松使用 100 mm 以下的小尺寸晶圆可同时安装多个样品，测试更灵活

水泥水化程度表征-低场核磁共振分析仪　　低场核磁共振技术对于水泥浆体内部不同自由程度的水分有着较高的敏感性。低场核磁共振技术以水为“探针”，可分析水分在浆体内部的弛豫信息，表征水泥浆体水化进程中微观结构，这使得利用低场核磁共振技术研究水泥水化程度成为可能。　　PQ001核磁共振成像分析仪是纽迈推出的多功能核磁分析仪，可实现水泥材料的水化程度表征，还可搭配自主研发的多种硬件模块（如低温、高温模块），可实现变温条件下的模拟研究。 　　基本参数　　磁场强度：0.5±0.03T　　样品范围：Ø 25mm*H25mm； 　　性能特点　　快速：快速、高通量、可重复性好　　无损：样品无需前处理，可重复监测　　低成本：仪器无需额外维护，无需化学试剂　　简单：操作简单，适合非技术人员水泥浆体在不同养护制度下的横向弛豫时间分布

产品包括实验室加工设备药物制剂工艺设备旋转流变仪粘度计更多信息：请访问赛默飞世尔科技材料表征的展台，展位号：SH100279。或使用简易域名登陆：http://mctc.instrument.com.cn。

中图仪器VT6000材料表征3d共聚焦形貌显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，可以获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。VT6000材料表征3d共聚焦形貌显微镜在半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；功能特点1、测量模式多样单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。应用领域VT6000材料表征3d共聚焦形貌显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。VT6000可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他VT6000共聚焦显微镜能够清晰地展示微小物体的图像形态细节，显示出精细的细节图像。它具有直观测量的特点，能够有效提高工作效率，更加快捷准确地完成日常任务。借助共聚焦显微镜，能有效提高工作效率，实现更准确的操作。部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

在材料生产检测领域中，纳米材料表征共聚焦显微镜用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量。它基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；VT6000纳米材料表征共聚焦显微镜在陶瓷、金属、半导体、芯片等材料科学及生产检测领域中具有广泛的应用。应用领域对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：性能特色1、高精度、高重复性1）以转盘共聚焦光学系统为基础，结合高稳定性结构设计和3D重建算法，共同组成测量系统，保证仪器的高测量精度；2）隔震设计能够消减底面振动噪声，仪器在嘈杂的环境中稳定可靠，具有良好的测量重复性。2、一体化操作的测量分析软件1）测量与分析同界面操作，无须切换，测量数据自动统计，实现了快速批量测量的功能；2）可视化窗口，便于用户实时观察扫描过程；3）结合自定义分析模板的自动化测量功能，可自动完成多区域的测量与分析过程；4）几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全；5）一键分析、多文件分析，自由组合分析项保存为分析模板，批量样品一键分析，并提供数据分析与统计图表功能；6）可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前工作。4、双重防撞保护措施除软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，保护仪器，降低人为操作风险。VT6000纳米材料表征共聚焦显微镜显微成像主要采用3D捕获的成像技术，使其具有较高的三维图像分辨率。横向分辨率更高，所展示的图像形态细节更清晰更微细，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。VT6000可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

薄膜无损检测系统/半导体无损检测系统姓名：田工(Allen)电话：（微信同号）邮箱：薄膜无损检测仪产品特点：系统使用获得专利的光声技术设计无损测量系统。源自 CNRS 和波尔多大学的技术转让，它依靠激光、材料和声波之间的相互作用实验超精密材料物性，薄膜厚度检测系统使用无接触，无损光学测量。运用激光产生100GHz以上超高频段超声波，以此检测获得材料诸如厚度，附着力，界面热阻，热导率等。产品尤其适测量从几纳米到几微米的薄层，无论是不透明的（金属、金属氧化物和陶瓷），还是半透明和透明的。 这种全光学无损检测技术（without contact, no damage, no water, no Xray）不受样品形状的影响。产品适用精度可以达 1nm to 30 microns , Z轴分辨率为亚纳米于此同时，系统提供附着力、热性能（纳米结构界面热阻）测量分析 多种材料适用性广泛的材料至关重要。我们的技术已证明其能够测量许多金属材料以及陶瓷和金属氧化物，并且不受外形因素的影响。 薄膜无损检测仪广泛的应用中发挥作用半导体行业半导体行业为我们周围遇到的大多数电子设备提供了基本组件。它的制造需要在硅晶片上进行多次薄膜沉积，。工业过程中厚度测量和界面表征都是确保质量的关键。尤其是半导体行业中多层/单层不透明薄膜沉积对于以上问题，我们针对提供：-高速控制检测-无损无接触测量-单层/多层测量显示行业今天，不同的技术竞争主导显示器的生产，而显示器在我们的日常使用中无处不在。事实上，由于未来 UHD-8K 标准以及新兴柔性显示器的制造工艺，这不断扩大的行业存在技术限制单个像素仍然是一堆薄层有机墨水、银、ITO… … 在这方面，控制薄层厚度的问题仍然存在。这些问题可能会导致产品出现质量缺陷。对此我们可提供：- 对此类层级样品的独特检查。- 提取厚度的可能性。- 非破坏性和非接触式厚度测量。薄层沉积无论是在航空工业还是医疗器械制造领域，技术涂层都可用于增强高附加值部件中的某些功能。这些涂层的厚度随后成为确保目标性能的关键因素。接触式破坏测量对于此领域会带来特定问题，且受限于待测样品形状因素、曲率等原因，很难控制样品特性。 对此我们可以提供：不改变样品形貌无损检测（Form factor postage）快速厚度测量在线测量控制 部分合作单位

ICCS 催化剂原位表征系统综合催化剂表征Micromeritics 催化剂原位表征系统（ICCS）给研究者提供一个先进的工具来研究在精确控制有代表性的工艺条件下反应结果与关键参数（如活性位点数量）的关系。ICCS 是一套独立的配件，可附加在微型反应器这类动态实验室设备上。为其增加两类动态化学吸附分析功能： 程序升温分析（TPx）和脉冲化学吸附。反应前可在新鲜催化剂上进行化学吸附分析。反应后，无需从反应管中取出样品即可对催化剂再次进行化学吸附分析。通过这种对同一个样品原位的分析，消除空气中气体及水分等对样品的污染，可详细对比使用前和使用后的催化剂活性位点的变化，可轻松获得程序升温分析和脉冲化学吸附数据，确保数据的完整性。 ICCS 包括：高精度、高灵敏度的热导检测仪（TCD）监测流经反应管气体浓度的变化内置 Peltier 冷阱控温准确可在 -20°C 至 65°C 内工作以去除可冷凝的液体（例如，在还原氧化物过程中产生的水）两个用于精确控制气体的质量流量控制器（通过反应器系统进行压力控制）交互式报告和控制系统，具有功能丰富且直观的图形用户界面，轻松进行实验设计和结果分析支持：在具有代表性的工艺条件下对样品进行安全、高效和全面的表征，最高压力可达 20 bar表征功能包括脉冲化学吸附、程序升温还原（TPR）、脱附（TPD）和氧化（TPO）以及物理吸附（可选）在反应前后以及再生后对同一催化剂样品进行多次表征，以研究反应、失活和再生机制

CFC 多功能聚烯烃分析表征仪产品介绍 多功能聚烯烃综合表征分析仪CFC是应用升温淋洗分级技术（TREF）和凝胶渗透色谱技术（GPC）的一台全自动联用分析仪，可同时实现对分子量及其分布（MWD）和化学组分及其分布(CCD)的表征。CFC可在较短时间内完成复杂的共聚单体的化学组分和分子量及其分布表征（过去通常需要耗费几天时间）以及复杂聚烯烃共混产品的详细分析。 一、CFC功能： 1、可得到温度、分子量和化学组分分布数据的三维谱图，像超级显微镜一样把样品的微观结构进行全面剖析；即可以看到每个温度下各个化学组分的分子量及其分布和千碳甲基数，也可以详细了解每个分子量组分的化学组分构成。2、配置42位自动进样器，可一次性运行42个样品；3、选配组分检测器可直接获得CH3/1000C信息；4、选配低温附件，对于低结晶度的样品，可控温低至-20oC；5、具备远程控制、诊断功能； 二、CFC特点 1、台式、全自动分析； 2、分析过程无需人工接触溶剂，符合HSE要求，溶剂消耗少； 3、仪器软件设计非常友好，方便操作； 4、仪器易于使用、维护；5、选配氮气附件，可以降低氧化降解；6、样品采用温和振荡模式，可降低样品剪切降解； 三、应用实例 对于既有聚丙烯，又有聚乙烯还有乙丙共聚物，附带掺杂各种小分子聚合物以及石蜡等这类复杂样品的表征，如果采用传统分析方法，根本无法了解此聚合物的情况，更不用说知道其详细组成情况了。但采用多功能聚烯烃表征分析仪CFC，不但能够了解其组成情况，还能够详细地知道每个组分的分子量及支链分布情况，就像用一个超级显微镜一样看得清清楚楚。图1是某个牌号树脂的CFC分析结果3D图，我们可以根据温度、分子量及支化度信息等判断其具体组成，同时也能看到每个温度下的化学组成结构和同一分子量下的化学组成结构。 图1 某牌号树脂CFC分析结果

LEAsys非接触式超声波无损检测系统 奥地利Xarion公司非接触式超声波无损检测系统集成扫描仪解决方案将创新的 LEA 技术与高分辨率 xy 扫描仪和实时数据分析软件相结合。它无需水或耦合凝胶即可实现非接触式高分辨率扫描，是复合材料、金属和粘接接头无损检测的完美工具。超声波信号由 XARION 基于激光的激发技术生成。XARION专有的光学麦克风可检测样品传输或反射的声学信号。可以进行穿透式测量以及单面（一发一收）测量，从而以非接触方式检测内部缺陷、分层或孔隙率。对于时间敏感的应用，XARION 还提供了一个八通道麦克风阵列系统。 非接触式超声波无损检测扫描系统的硬件功能：具有 100、400 或 10,000 Hz 脉冲重复率或热声激发的激发激光探测器：Eta450 Ultra 光学麦克风，2 MHz 带宽步长(min)：10 μm扫描范围：530 x 500 毫米或 530 x 1000 毫米数据采集：14 位分辨率，50 MHz采样率 非接触式超声波无损检测扫描系统的软件功能：用于控制和数据分析的 GUI显示 A-、B- 和 C- 扫描（实时）步长(min)：10 μmFFT，光谱分析（F-扫描）以 BMP 格式轻松导出生成的图像以 CSV 格式导出原始数据相关应用及文献：（1）Laser-Excited Acoustics for Contact-Free Inspection of Aeropace Composites. 主要内容：XARION 与诺斯罗普格鲁曼公司一起在“材料评估”上发表了一篇文章，介绍了 LEA NDT，激光激发声学用于航空复合材料的非接触式检测；LEA 是一种新颖、快速的超声扫描技术，其特性使其成为各种航空航天复合材料无损检测的经济实惠的无耦合剂替代品。 （2）Material characterization via contact-free detection of surface waves using an optical microphone.主要内容：点焊钢板、铝板和砂岩样品的单面非接触式测量；结果证明了 XARION 技术在各种表面和材料上的能力。 （3）Thickness measurement via local ultrasonic resonance spectroscopy.主要内容：使用 XARION 光学麦克风记录对激光诱导超声的局部机械响应，以测量碳纤维增强聚合物板的厚度；由于光学麦克风独特的频率带宽，这种布置的精度大大超过了传统方法的精度。 （4）Ultrasound inspection of spot-welded joints.主要内容：XARION 与 PORSCHE Leipzig GmbH 联合出版，在 2018 年 DAGA 会议上发表；钢中的点焊表征，使用 XARION 的光学麦克风进行单面 NDT 设置。 *有关文章的更多信息，请联系昊量光电！关于昊量光电昊量光电 您的光电超市！上海昊量光电设备有限公司致力于引进国外创新性的光电技术与可靠产品！与来自美国、欧洲、日本等众多知名光电产品制造商建立了紧密的合作关系。代理品牌均处于相关领域的发展前沿，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、精密光学元件等，所涉足的领域涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防及前沿的细分市场比如为量子光学、生物显微、物联传感、精密加工、激光制造等。我们的技术支持团队可以为国内前沿科研与工业领域提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等优质服务，助力中国智造与中国创造! 为客户提供适合的产品和提供完善的服务是我们始终秉承的理念！您可以通过我们昊量光电的官方网站了解更多的产品信息，或直接来电咨询，我们将竭诚为您服务。

双向拉伸材料表征试验机 该系统是Coesfeld与德国达姆施塔特工业大学联合开发的，由德累斯顿莱布尼兹聚合物研究所用来表征橡胶材料的裂纹增长及其评价。该系统有静态测试和动态测试2个机型。系统特点: 1. 包含4台电机驱动装置；2. 每台驱动装置配备了一套位移和力传感器；3. 应变和力的测量；4. 通过移动的样品夹具实现力的良好分布。23-500-000双向拉伸静态实验机型号:Biax S5, Biax S10, Biax S20主要应用：通过双向拉伸、蠕变、应力松弛测量来表征塑料和弹性体的。主要参数：最大力值分别是5kN/ 10kN/ 20kN力值精度：0.2力值采样频率：1000Hz行程：200mm精度：0.25μm拉伸速度：60mm/min（120mm/min手动设置）采样精度：1000Hz 61-490双向拉伸动态实验机型号:Biax 800, Biax 1800, Biax 6000主要应用：用于弹性体疲劳和裂纹增长的测试和表征。主要参数：最大力值分别是800kN/ 1800kN/ 6000kN力值精度：0.2力值采样频率：1000Hz行程：50mm精度：0.25μm拉伸速度：1mm/s采样精度：1000Hz

该系统是Coesfeld与德国达姆施塔特工业大学联合开发的，由德累斯顿莱布尼兹聚合物研究所用来表征橡胶材料的裂纹增长及其评价。 该系统有静态测试和动态测试2个机型。系统特点: 1. 包含4台电机驱动装置；2. 每台驱动装置配备了一套位移和力传感器；3. 应变和力的测量；4. 通过移动的样品夹具实现力的最佳分布。 23-500-000双向拉伸静态实验机型号:Biax S5, Biax S10, Biax S20主要应用：通过双向拉伸、蠕变、应力松弛测量来表征塑料和弹性体的。主要参数：最大力值分别是5kN/ 10kN/ 20kN力值精度：0.2力值采样频率：1000Hz行程：200mm精度：0.25μm拉伸速度：60mm/min（120mm/min手动设置）采样精度：1000Hz 61-490双向拉伸动态实验机型号:Biax 800, Biax 1800, Biax 6000主要应用：通过双向拉伸的实验方法测量并表征弹性体的疲劳和裂纹增长。主要参数：最大力值分别是800kN/ 1800kN/ 6000kN力值精度：0.2力值采样频率：1000Hz行程：50mm精度：0.25μm拉伸速度：1mm/s采样精度：1000Hz

超高分子量聚烯烃材料分子量及其分布的表征超高分子量聚烯烃分子量及其分布的表征一直是超高分子量聚烯烃材料开发和加工应用的障碍，因为没有很好的方法来得到分布的数据，只能采用传统的黏度法来获得粗略的黏均分子量的数据，而采用我公司配置了专用IR5检测器和超高分子量色谱柱的高温凝胶色谱仪可以轻松方便地获得超高分子量聚烯烃的分子量及其分布的数据，如果需要也可以得到支化度的信息，成为超高分子量聚烯烃材料研发和加工应用的强有力的手段。

TELSTAR 冻干工艺实验室拥有TELSTAR 中试工艺摸索型冻干机 LB 4PS 、 LB MINI；配置热电偶温度探头、自动参气、电容真空计、符合21CFR PART 11的工艺摸索软件；配置：升华界面温度软件、介入成核 等配置提供：冻干样品关键温度测试、冻干工艺摸索、优化、表征、放大等系列服务；设备：拥有TELSTAR 中试工艺摸索型冻干机 LB 4PS 、 LB MINI；配置热电偶温度探头、自动参气、电容真空计、符合21CFR PART 11的工艺摸索软件；配置：升华界面温度软件、介入成核 等配置Linkam 冻干显微镜；梅特勒 DSC；水分仪；灌装机；轧盖机；生物安全柜；超低温冰箱；等系列冻干工艺开发辅助设备。服务：冻干前后样品分析：冻干样品关键温度测试：塌陷温度（Tc)、玻璃态转变温度（Tg'、Tg)、共晶点温度（Teu)、初始融化温度；冻干工艺摸索：初始冻干工艺设计；冻干工艺优化；冻干工艺表征；冻干工艺放大；冻干样品缺陷问题解决；冻干工艺咨询：单小时咨询服务；8小时咨询服务包；16小时咨询服务包；长期顾问服务。冻干工艺培训：8小时线下冻干会议；16小时线下冻干会议；企业定制内训；

碳纳米管和石墨烯性能表征系统随着纳米技术的不断发展，碳纳米管和石墨烯的性能越来越受到科研人员的关注。然而，对于碳纳米管和石墨烯性能表征一直是困扰碳纳米管和石墨烯技术研究和应用的主要障碍。目前，碳纳米管和石墨烯测量方法是光谱测量技术。相对其他测量方法，该技术主要有以下的优点： 1、较高灵敏度，即使碳纳米管和石墨烯的含量很低也能测量。2、较高测量精度，对碳纳米管的（n,m）分辨率很高3、对待测样品要求低，可直接分析含较多杂质的样品。4、测量设备相对简单，准备待测样品非常容易。 5、数据处理简单，测量结果无需考虑背景减除。对于碳纳米管和石墨烯的表征，虽然光谱测量技术有很大的优点，但是测量过程还是有些问题，如获取数据速度太慢，测量灵敏度不是很高，手工处理数据非常繁琐且容易出错等等。著名的碳纳米管专家美国莱斯大学的R. Bruce Weisman和Sergei M. Bachilo教授针对这些问题开发了碳纳米管专用的测量系统NS3，使得NS3系统成为碳纳米管和石墨烯专用测量系统，可对碳纳米管和石墨烯进行吸收、荧光和拉曼光谱测量。Nano Spectralyzer (NS3)系统NS3上的测量结果：碳纳米管的近红外发射光谱 应用领域：1. 测量碳纳米管（n,m）分布2. 监测碳纳米管和石墨烯品质的稳定性3. 测量化学反应和物理作用的动态过程主要特点：1. 高度集成化，体积小巧2. 操作简单，使用方便3. 仅需要很少的样品4. 高测量灵敏度和测量速度5. 简单的操作界面，全自动测量和数据分析6. 同时测量样品近红外波长的吸收和发射光谱7. 采用电制冷材料冷却近红外光谱探头，无需使用液氮主要技术指标：荧光光谱测量：可见区发射谱探测范围： 400-900nm近红外发射谱探测范围： 900-1600nm可选近红外发射谱探测范围： -2000nm吸收谱测量：紫外吸收谱探测范围： 210-450nm可见吸收谱探测范围： 400-900nm红外吸收谱探测范围： 900-1600nm可选红外发射谱探测范围： -2000nm 拉曼光谱测量：拉曼光谱探测范围： 150-3000cm-1激发光源波长： 532和/或671nm

VT6000材料表征测量高分辨率超景深共聚焦显微镜基于光学共轭共焦原理，主要采用3D捕获的成像技术显微成像测量，具有较高的三维图像分辨率。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；VT6000材料表征测量高分辨率超景深共聚焦显微镜可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。应用领域VT6000材料表征测量高分辨率超景深共聚焦显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：性能特色1、高精度、高重复性1）以转盘共聚焦光学系统为基础，结合高稳定性结构设计和3D重建算法，共同组成测量系统，保证仪器的高测量精度；2）隔震设计能够消减底面振动噪声，仪器在嘈杂的环境中稳定可靠，具有良好的测量重复性。2、一体化操作的测量分析软件1）测量与分析同界面操作，无须切换，测量数据自动统计，实现了快速批量测量的功能；2）可视化窗口，便于用户实时观察扫描过程；3）结合自定义分析模板的自动化测量功能，可自动完成多区域的测量与分析过程；4）几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全；5）一键分析、多文件分析，自由组合分析项保存为分析模板，批量样品一键分析，并提供数据分析与统计图表功能；6）可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前工作。4、双重防撞保护措施除软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，保护仪器，降低人为操作风险。功能特点1、测量模式多样单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

无损检测，专业无损检测机构在现代工业和建筑领域中，无损检测是一个重要的环节。苏州安普是一家专业的无损检测机构，提供各种各样的无损检测服务，帮助客户发现和解决材料和构件的缺陷问题。本文将会对苏州安普的无损检测服务进行详细介绍，以便更好地了解他们的业务和优势。无损检测是什么？无损检测是一种非破坏性的检测方法，它可以在不破坏测试材料的情况下检测出其中的缺陷问题。无损检测技术广泛应用于工业和建筑领域，例如航空航天、石油化工、铁路交通等。无损检测的好处在于可以减少材料的浪费和损失，提高材料和构件的安全性和可靠性。苏州安普的无损检测服务苏州安普是一家专业的无损检测机构，拥有一支经验丰富的无损检测团队，能够提供多种无损检测技术和服务。以下是苏州安普提供的一些无损检测服务。超声波检测超声波检测是一种常见的无损检测技术，它通过检测材料中的声波反射来确定其中的缺陷问题。苏州安普的无损检测团队拥有先进的超声波检测仪器和设备，能够准确地检测各种材料中的缺陷，例如裂纹、气泡、夹杂、壳体厚度等。涡流检测涡流检测是一种适用于导电材料的无损检测技术，它通过检测导电材料中的涡流变化来确定其中的缺陷问题。苏州安普的无损检测团队拥有先进的涡流检测仪器和设备，能够准确地检测各种导电材料中的缺陷，例如表面裂纹、孔洞、腐蚀、管道腐蚀等。射线检测射线检测是一种适用于金属材料的无损检测技术，它通过检测射线在材料中的透射和散射来确定其中的缺陷问题。苏州安普的无损检测团队拥有经验丰富的射线检测人员和先进的射线检测设备，能够准确地检测各种金属材料中的缺陷，例如焊缝、内部裂纹、孔洞等。磁粉检测磁粉检测是一种适用于铁磁性材料的无损检测技术，它通过在材料表面涂覆磁粉并施加磁场来检测其中的缺陷问题。苏州安普的无损检测团队拥有先进的磁粉检测仪器和设备，能够准确地检测各种铁磁性材料中的缺陷，例如表面裂纹、孔洞、焊接缺陷等。硬度检测硬度检测是一种常见的无损检测技术，它通过测量材料的硬度来推断其中的缺陷问题。苏州安普的无损检测团队拥有先进的硬度计和设备，能够准确地检测各种材料的硬度，例如金属材料、塑料材料等。综上所述，苏州安普是一家拥有多种无损检测技术和设备的专业机构，能够为客户提供无损检测服务。无论是超声波检测、涡流检测、射线检测、磁粉检测还是硬度检测，苏州安普的无损检测团队都能够准确地检测各种材料中的缺陷问题，帮助客户发现和解决问题。苏州安普的优势苏州安普作为一家专业的无损检测机构，拥有许多优势。专业的无损检测团队苏州安普拥有一支经验丰富、技术专业的无损检测团队，团队成员均具备相关专业的学历和资质认证，并且持有国家认可的无损检测人员证书。这些人员在无损检测领域有着多年的实践经验，能够提供高质量的无损检测服务。先进的无损检测设备苏州安普拥有先进的无损检测设备和技术，例如超声波检测仪器、涡流检测仪器、射线检测仪器、磁粉检测仪器等。这些设备具备高精度、高灵敏度和高可靠性的特点，能够准确地检测出各种材料中的缺陷问题。严格的质量管理体系苏州安普拥有严格的质量管理体系，能够确保无损检测服务的质量和准确性。公司每个环节都有严格的质量控制程序和标准，保证了无损检测数据的准确性和可靠性。优秀的服务态度苏州安普注重客户服务，始终把客户的需求优先，以客户满意度为标准衡量自己的工作。公司的无损检测团队在为客户提供无损检测服务的同时，也会给客户提供专业的咨询和建议，帮助客户解决问题。总体而言，苏州安普是一家专业、技术先进、质量可靠、服务优秀的无损检测机构。无论是在检测技术还是在服务质量方面，苏州安普都有着不可替代的优势，为客户提供高质量的无损检测服务。如何选择无损检测机构？在选择无损检测机构时，需要注意以下几点：首先，要选择专业的无损检测机构。专业的机构有着更严格的质量管理体系、更优秀的无损检测团队和更先进的无损检测设备，能够提供更高质量的无损检测服务。第二，要选择有经验的无损检测机构。有经验的机构在实践中积累了许多宝贵的经验和技巧，能够更好地解决各种无损检测问题。第三，要选择有资质认证的无损检测机构。有资质认证的机构能够证明其技术水平和服务质量都得到了国家认可和监管，更值得信赖。第四，要选择服务态度优秀的无损检测机构。好的服务态度能够让客户在检测过程中感受到更舒适和放心，也能够让客户更愿意选择该机构。结语无损检测是现代工业和建筑领域中的重要环节，苏州安普作为一家专业的无损检测机构，能够为客户提供多种无损检测服务，拥有先进的无损检测设备和专业的无损检测团队。选择苏州安普作为无损检测机构能够为客户带来高质量的无损检测服务和优秀的客户体验。当然，在选择无损检测机构时，还需要考虑其价格和交期等因素，综合比较后做出选择。希望本文能够为读者提供一些有用的信息和参考，让大家能够更好地了解无损检测和苏州安普的业务优势。 无损探伤，专业无损检测机构

高熔体强度聚烯烃材料分子量和长短支链及其分布的表征影响聚烯烃材料熔体强度的因素很多，其中分子量及其分布，长支链及其分布，短支链及其分布的数据对于判断熔体强度差异化原因至关重要，因此如何全面快速得到这些数据，对材料研发和加工应用人员意义重大。我公司通过采用配备IR5检测器、黏度检测器和组分检测器的高温凝胶色谱仪，可以得到这些数据，为研发人员提供了可靠的科学依据。

厂家正式授权代理商：岱美有限公司联系电话：，（贾先生）联系地址：北京市房山区启航国际3期5号楼801公司网址：ThetaMetrisis是一家私有公司，成立于2008年12月，位于希腊雅典，是NCSR' Demokritos' 的微电子研究所的第一家衍生公司。ThetaMetrisis的核心技术是白光反射光谱（WLRS），它可以在几埃到几毫米的超宽范围内，准确而同时地测量堆叠的薄膜和厚膜的厚度和折射率。 FR-Mic: 微米级薄膜表征-厚度，反射率，折射率及消光系数测量仪一、产品简介： FR-Mic 是一款快速、准确测量薄膜表征应用的模块化解决方案，要求的光斑尺寸小到几个微米，如微图案表面，粗糙表面及许多其他表面。它可以配备一台专用计算机控制的 XY 工作台，使其快速、方便和准确地描绘样品的厚度和光学特性图。o 实时光谱测量o 薄膜厚度，光学特性，非均匀性测量，厚度映射o 使用集成的， USB 连接高品质彩色摄像机（CCD）进行成像 二、应用领域 o 大学 & 科研院所o 半导体（氧化物、氮化物、硅、电阻等）o MEMS 元器件 (光刻胶、硅薄膜等)o LEDo 数据存储元件o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 其他更多 … (如有需求，请与我们取得联系) 三、产品特点o 单点分析(无需预设值）o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k，颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数 FR-Scanner 自动化超高速精准薄膜厚度测量仪 一、产品简介： FR-Scanner 是一种紧凑的台式工具，适用于自动测绘晶圆片上的涂层厚度。FR-Scanner 可以快速和准确测量薄膜特性:厚度，折射率，均匀性，颜色等。真空吸盘可应用于任何直径或其他形状的样片。 独特的光学模块可容纳所有光学部件:分光计、复合光源(寿命10000小时)、高精度反射探头。因此，在准确性、重现性和长期稳定性方面保证了优异的性能。FR-Scanner 通过高速旋转平台和光学探头直线移动扫描晶圆片(极坐标扫描)。通过这种方法，可以在很短的时间内记录具有高重复性的精确反射率数据，这使得FR-Scanner 成为测绘晶圆涂层或其他基片涂层的理想工具。测量 8” 样片 625 点数据60 秒 二、应用领域o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 半导体生产制造：(光刻胶, 电介质,光子多层结构， poly-Si,Si, DLC )o 光伏产业o 液晶显示o 光学薄膜o 聚合物o 微机电系统和微光机电系统o 基底: 透明 (玻璃, 石英, 等等) 和半透明 三、产品特点o 单点分析(无需预设值）o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k，颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数FR-Scanner: 自动化超高速薄膜厚度测量仪 FR-pOrtable:一款USB驱动的薄膜表征工具 一、产品简介： FR-pOrtable 是 一 款独 特 的 便 携 式 测 量 仪器 ， 可 对 透 明 和 半 透明 的 单 层 或 多 层 堆 叠薄 膜 进 行 精 确 的 无 损（非接触式）表征。使用 FR-pOrtable，用户可以在 380-1020nm 光谱范围内进行反射率和透射率测量及薄膜厚度测量。二、应用领域o 大学 & 科研院所o 半导体（氧化物、氮化物、硅、电阻等）o MEMS 元器件 (光刻胶、硅薄膜等)o LEDo 数据存储元件o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )o 其他更多 … (如有需求，请与我们取得联系) 三、应用领域 FR-pOrtable的紧凑尺寸以及定制设计的反射探头以及宽带长寿命光源确保了高精度和可重复的便携式测量。 FR-Portable既可以安装在提供的载物台上，也可以轻松转换为手持式厚度测量工具。放置在待表征的样品上方即可进行测量。 FR-Portable是用于工业环境（如R2R、带式输送机等）中涂层实时表征的可靠而精确的测厚仪。四、产品特点o 一键分析 (无需初始化操作)o 动态测量o 测量光学参数(n & k, 颜色)，膜厚o 自动保存演示视频o 可测量 600 多种不同材料o 用于离线分析的多个设置o 免费软件更新服务 五、技术参数FR-pRo: 按需可灵活搭建的薄膜特性表征工具一、产品简介： FR-pRo 是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备，用于表征厚度范围为1nm-1mm 的涂层.FR-pRo 是为客户量身定制的，并广泛应用于各种不同的应用 。 FR-pRo 可由用户按需选择装配模块，核心部件包括光源，光谱仪（适用于 200nm-2500nm 内的任何光谱系统）和控制单元，电子通讯模块此外，还有各种各种配件，比如:? 用于测量吸收率/透射率和化学浓度的薄膜/试管架,? 用于表征涂层特性的薄膜厚度工具,? 用于控制温度或液体环境下测量的加热装置或液体试剂盒,? 漫反射和全反射积分球通过不同模块组合，最终的配置可以满足任何终端用户的需求 二、应用领域o 弯曲基材（衬底）上的硬/软涂层o 聚合物涂层、粘合剂等o 生物医学（ parylene—— 派瑞林,气泡壁厚,等等 )O 半导体生产制造：(光刻胶, 电介质,光子多层结构， poly-Si,Si, DLC )o 光伏产业o 液晶显示o 光学薄膜o 聚合物o 微机电系统和微光机电系统o 基底: 透明 (玻璃, 石英, 等等) 和半透明 三、产品特点o 单点分析(无需预设值）o 动态快速测量o 包括光学参数(n和k，颜色)o 为演示保存视频o 600 多种的预存材料o 离线分析o 免费软件更新 四、技术参数

TriboLab CMP 利用其前身产品 （Bruker CP-4） 超过 20 年的 CMP 领域专业知识，为业界领先的 TriboLab 平台带来了一套完整的功能。基于本套设备产生的高精度和高可重复性使得在整个 CMP 流程中能够进行高效的鉴别、检查和连续功能测试。TriboLab CMP 是市场上唯一能够提供广泛的抛光压力 （0.05-50 psi）、速度（1 至 500 rpm）、摩擦、声发射和表面温度测量的工艺开发工具，可准确、完整地描述 CMP 工艺和耗材。用于 CMP 的小型研发规模专业系统布鲁克的TriboLab CMP工艺和材料表征系统是专为晶圆抛光工艺而设计，是具有可靠、灵活和高效的台式设备。重现全尺寸晶圆抛光工艺条件，无需在生产设备上停机提供无与伦比的测量可重复性和细节检测允许在小样品上进行测试，比全晶圆测试节省大量成本板载诊断系统可以更好地了解抛光过程比市场上任何其他系统提供更多的瞬态抛光过程的参数从接触抛光盘开始直至整个测试过程都能收集数据通过更完整、更详细的数据实现早期流程开发决策具有灵活的样品类型、尺寸和安装配置抛光任何平面材料，几乎能使用任何修正盘，任何抛光液，和任何抛光垫轻松使用 100 mm 以下的小尺寸晶圆可同时安装多个样品，测试更灵活

OROBOROS O2k高精度线粒体氧化磷酸化功能表征系统 OROBOROS O2k高精度线粒体氧化磷酸化功能表征系统的特点：1. 双通道系统/四通道系统/多通道系统2. 样本仓体积0.5ml-3.5ml3. 温度范围：4-47℃，可进行低温试验4. 具有可变速的磁力混匀功能5. 极谱氧电极传感器，检测氧流量分辨率为1 pmol/(sml)6. 氧电极测量参数：耗氧率、呼吸速率、呼吸控制比率7. 荧光检测参数包括：线粒体膜电位、ATP、Ca2+、ROS。8. 独立外接电极单元，测量参数包括：PH、H2O2、TPP+、H2S、NO9. 样品仓为杜兰玻璃、钛金属等极低活性的材质，降低背景氧干扰。10. 不限次数的加药系统，手动加药结合自动加药，实现准确定时、定量的试剂添加11. 专用组织匀浆工具，采用匀浆管技术对样本进行研磨，样本需求量少至几毫克。12. 引导性软件：实时记录实验过程中的所有数据变化，自动校准，引导标准实验步骤13. 几十种成熟的Protocol，支持代谢领域所有实验设计14. 无实验耗材、无专用试剂、开放性实验空间，节省实验成本的同时打开更广阔的实验领域

MagnebotiX磁控微纳操纵/表征系统产品介绍磁控微纳操纵/表征系统是基于磁场控制的微纳操作系统，通过五自由度磁场发生器，结合磁控算法及软件，可实现对磁性操控介质（如微小磁珠、磁 性无缆探针）运动轨迹和力学控制，在显微医学、纳米技术 基础和应用研究领域有着广泛应用。产品特性●　可实现5自由度的磁场控制●　可在微米到毫米级大小范围的物体上同时施加力和力矩●　超大球形工作空间，直径可达130毫米●　可与主流显微镜品牌和型号高度兼容应用案例生物力学 可实现在单细胞水平进行多种非接触操作方案。 巨噬细胞开始与磁性靶体相互作用 用磁珠探测微小组织 医学微操作 采用 OctoMag型磁控系统可以操纵磁性微探针，对小动物进行体内微创靶向给药。 磁性操纵微型机器人 靶向给药 微纳机器人研究 用于各种磁控微机器人 操作及其控制方案的研 究和二次开发。 磁共振微型机器人 螺旋形微型机器 磁控微机器人进行微装配操作 软件控制界面l 开环控制模式（遥杆控制）l 闭环控制模式l 自动化操控l 软件二次开发工具包l 实时显微成像显示规格参数产品型号MFG-100系统OctoMag系统工作空间直径10mm130mm磁场强度40mT50mT磁场梯度2T/m2T/m磁场频率2000Hz at 2mT10Hz外形尺寸250x275x110mm560x560x550mm系统重量4.5Kg40Kg

一、膏药剥离强度测定仪介绍膏药是中药外用的一种，古称薄贴，用植物油或动物油加药熬成胶状物质， 涂在布、纸或皮的一面，可以较长时间地贴在皮肤患处，经皮肤发挥作用，由于 膏药直接敷贴于体表，而制作膏剂的药物大多气味较浓，再加入辛香走窜强的 引经药物，通过渗透入皮肤，内传经络、脏腑，起到调气血、通经络、散寒湿， 消肿痛等作用。利用上海保圣TA,XTC-18膏药剥离强度测定仪测试膏药的胶粘性，并介绍了设备的测试原理、试验的基本步骤等信息，为企业检测膏药的胶粘性提供参考。表征膏药胶粘性的性能指标有初粘性、持粘性、剥离强度等，对某品牌膏药进行剥离强度的测定，可模拟膏药在剥离时的状态，从而为该膏药剥离的测定提供客观参考数据可供厂家改进产品，以便消费者选择好的商品。二、膏药剥离强度测定仪符合标准本法系用于测定贴膏剂、贴剂敷贴于皮肤后与皮肤表面黏附力的大小。本法分别采用初黏力、持黏力、剥离强度及黏着力四个指标测定贴膏剂、贴剂的黏附力。初黏力系指贴膏剂、贴剂黏性表面与皮肤在轻微压力接触时对皮肤的黏附力，即轻微压力接触情况下产生的剥离抵抗力:持黏力可反映贴青剂、贴剂的音体抵抗持久性外力所引起变形或断裂的能力:剥离强度表示贴膏剂、贴剂的音体与皮肤的剥离抵抗力:黏着力表示贴音剂、贴剂的黏性表面与皮肤附着后对皮肤产生的黏附力。三、膏药剥离强度测定方法：1.使用仪器TA,XTC-18膏药剥离强度测定仪。试验板厚1.5-2.0mm，宽50mm，长125mm的不锈钢板。180°剥离装置。2.测试样品实验前，将膏药于 18℃-25℃、相对湿度 40%-70%条件下放置 2 小时以上。 将膏药背面剥离固定在试验板上，使膏药平整地贴合在试验板上。然后用2000g的重轴在贴合的膏药上来回滚压三次，以确定粘接处无气泡存在。膏药粘贴后，应在室温下放置20-40min后进行试验。把试验板下端夹持在仪器上，膏药一边夹持在上端，使剥离面垂直。

AMI-300 系列全自动程序升温化学吸附仪AMI-300化学吸附分析仪是新一代全自动程序升温化学吸附仪，可执行动态程序升温催化剂表征实验（TPR,TPO,TPD,脉冲化学吸附等）；测定金属分散度、相对活性、吸附强度，测试时间仅为传统容积法的1/3。根据您的需要，可使用标配TCD检测器进行气体分析，或者与质谱仪或其他检测器 ( FID, FTIR, GC 等) 。产品特点：多路进气 可选配四个高精度质量流量控制器(MFC)， 扩展至12个进气口。温度范围 实验温度可至1200℃，全范围升温速率均可达1-50℃/min,可选低温组件温度可低至-130℃峰扩散小 1/16英寸316不锈钢管线，保证较小的死体积，有利千提高信号 响应速率， 减少峰的扩散。内置饱和蒸汽发生器 用于产生带有饱和液体蒸汽的气体，饱和蒸蒸汽发生器的温度可控。样品装卸方便 灵活可移动的贝壳式加热炉多种规格的样品管，适用于不同样品尺寸、剂量满足用户的测试需求分析时间短 自动控制的空气冷却组件使得降温更迅速，有效缩短实验时间多路控温 可自由切换加热炉或样品床层的温度来控制仪器测试时的升温速率，并实时记录加热炉和样品床层的温度用于数据分析安全系数高 提供多方位温度检测，超温保护系统，TCD流量监控防干烧系统，前置应急开关等选项都提供更优的安全选择。测量精确 配置4灯丝高精度热导池检测器（TCD ) , 以及不同量程的定量环（Loop)。定量可选择自动或者手动脉，以最大限度的满足灵敏性和兼容性灵活的用户操作界面 基于Windows操作系统软件，程序设置实验过程，控制仪器功能和数据处理。操作自有、全自动测试 全自动运行实验，电脑自 动采集和储存数据。高级用户模式下仪器设置窗口完全开放，实现用户高度自由化操作。可连接质谱（MS）或气体检测器 支持外接多种检测器，提供串联&并联连接方式，可将质谱（MS）数据采集嵌入AMI软件中，实现同一文件导出TCD&MS数据无蒸汽凝结和吸附滞留 仪器内所有管线和阀均可控温，以防止蒸汽的凝结和吸附滞留现象无需另购气体混合器 内置气体混合器，可提供忍任意、均一混合气体。该气体混合器也适用于全自动多点BET比表面积分析化学通用性和高灵敏性 可根据不同实验需求选择合适的密封材料和TCD灯丝性能参数：型号AMI-300典型样品0.1-1.0克温度范围室温°C——1200°C低温选件-130°C——1200°C升温速率1°C/min——50°C/min标准操作压力（TPX units)大气压可选压力范围（高压）30bar/100bar气体输入口（低压）4路载气，4路处理气，2路混气气体流速5——50cm3/min（标准模式）样品管类型（低压）石英U型管，泡形管，直壁管样品管类型（高压）316不锈钢反应管TCD检测器两种材料可选（钨；金/钨）管路材质316不锈钢，1/6英寸密封圈可选Viton,Buna-N,Kalrez等尺寸宽56cm 高60cm 深61cm重量55Kg电源220—240V，50/60Hz典型应用：研究催化剂的表面活性位及数量、强度 、活性 、稳定性 、选择性和失活对于工业反应过程非常重要。在催化、化学品和石化行业、比如精细化学品、燃料、肥料、尾气排放控制器、电池、燃料电池和储能材料的研制过程中，表面活性 对材料起着至关重要的作用。多相催化剂也广泛应用于催化裂解和重整反应，加氢反应（加氢脱硫，加氢脱氮，加氢脱氧，加氢脱金属），选择性氧化和还原反应，汽车尾气污染治理、烃的异构化、费托工艺、水煤气变换以及其他许多重要的工业反应。

FR-pOrtable:一款精准&性价比高的薄膜表征设备 FR-pOrtable（便携式FR） 是一款独特设备，为精准测试单层或者 多层的透明和半透明的薄膜的光学特性提供了关键解决方案。使用 者可以在350nm-1000nm的特殊光谱范围内完成薄膜反射比的测试。 特征分析： FR-pOrtable是由一个微型3648像素16位分辨率的光谱仪和一个 高稳定的白炽灯和LED组成的混合光源组成的，光源的平均寿命 20000h。其紧凑型的设计和定制的反射探头保证了性能测试的高精准性以及可重复性。并且，既可以安装在台面上，又可以转化为手持式的厚度测试仪，轻松实现便携实时操作。性能分析：1、 USB接口供电，无需电源线。2、 真正的便携，用探头检测样品。3、 采用软塑料头，适合野外应用。4、 占地小，可以在办公室内表征薄膜特性。5、 市场最低价。软件：FR-Monitor软件系统提供了多种应用和多种功能的能力。它不但能够实时的监测吸光率，透射率和反射率光谱，而且也包含了用于精准测试独立的薄膜厚度（10nm到100μm）和光学常数（n&k）的白光反射光谱法（WLRS）运算（ThetaMetrisis TM），支持（在透明或者部分透明或者全反射的衬底上）多层薄膜（10层）的测试。不需要高深的光学知识，只要有基本的电脑技巧、一台电脑，轻松实现膜厚测量！用户评论暂无评论发评论问商家白光干涉测厚FR-pOrtable的工作原理介绍白光干涉测厚FR-p

产品简介TPF-750无损糖度计是一款无需破坏水果即可测得糖度，总酸度，成熟度，硬度，颜色，含水量等指标的仪器。4-6s内即可出结果，测量快速，广泛应用于品质生产检测、农科院所研究果树改良及新品种开发等领域。水果糖度无损检测仪是由我公司所提供，如果你想进一步详细了解水果无损检测仪的价格、规格、性能、操作，请电话联系浙江托普云农科技股份有限公司。功能特点1、高性价比。2、无损糖度计利用先进的近红外技术，无需切开水果就可测量。3、探测头接触于待测水果的表面即可无损检测水果品质。4、4-6秒钟便可出结果。5、可测量可溶性固形物（糖度）、干物质、内部颜色、外部颜色、可滴定酸等指标。技术参数测定对象：无损糖度计可以测定苹果、甜菜、梨子、哈密瓜、柑橘、水蜜桃、蕃茄、草莓、芒果、木瓜、龙眼等多达200种水果（可按需要建模）测定指标：可溶性固形物（糖度）、干物质、内部颜色、外部颜色、可滴定酸等指标检测时间：2秒储存方式：SD卡测试精度：0.1%显示方式：液晶屏显示重量：1.5kg 环境温度： 10~30oC 电源：充电电池（可拆卸）最大耗电量：2.5W通迅方式：USB、SD卡、wifi其他：内置GPS定位系统无损糖度计应用领域1、采摘水果之前：测定水果的甜度和酸度有利于栽培指导及成熟度的监控，降低果农的风险，减少损失。2、品质生产检测，销售定价评定：每个水果均经过甜酸度的测试，依据质量检测，分级、处理及包装作业，而能提升水果卖价。3、水果科学研究：适用于农科院所研究果树改良及新品种开发。更多详情：水果无损测糖仪 农业仪器网

仪器用途TPF-750水果无损测糖仪也叫水果无损检测仪，是一款无需破坏水果就能测得数据的水果测糖仪，数秒内就能提供准确测量结果，操作简便，应用范围广，在品质生产检测、农科院所研究果树改良及新品种开发领域都有着巨大的用处。应用领域1、采摘水果之前：测定水果的甜度和酸度有利于栽培指导及成熟度的监控，降低果农的风险，减少损失。2、品质生产检测，销售定价评定：每个水果均经过甜酸度的测试，依据质量检测，分级、处理及包装作业，而能提升水果卖价。3、水果科学研究：适用于农科院所研究果树改良及新品种开发。功能特点1、高性价比。2、利用先进的近红外技术，无需切开水果。3、探测头接触于待测水果的表面即可无损检测水果品质。4、2秒钟便可出结果。5、水果无损测糖仪可测量可溶性固形物（糖度）、干物质、内部颜色、外部颜色、可滴定酸等指标。 技术参数测定对象：苹果、甜菜、梨子、哈密瓜、柑橘、水蜜桃、蕃茄、草莓、芒果、木瓜、龙眼等多达200种水果（可按需要建模）测定指标：可溶性固形物（糖度）、干物质、内部颜色、外部颜色、可滴定酸等指标检测时间：2秒储存方式：SD卡测试精度：0.1%显示方式：液晶屏显示重量：1.5kg 环境温度： 10~30oC 电源：充电电池（可拆卸）zui大耗电量：2.5W通迅方式：USB、SD卡、wifi其他：内置GPS定位系统浙江托普云农科技股份有限公司供应水果无损测糖仪产品，公司具有良好的市场信誉，专业的水果无损测糖仪销售和技术服务团队。更多水果无损测糖仪报价及使用说明等资料请联系托普云农！水果无损品质检测仪详情：

水果无损糖度计又添新成员了！西瓜无损糖度计全新上市 ！不采摘！不破皮！不切肉！不取汁！非破坏式检测，紧贴果肉，轻松一按，糖度立即呈现！让水果甜度有标可循！西瓜无损测糖仪 PAL-HIKARi 32（西瓜直径20～25cm）迷你西瓜无损测糖仪 PAL-HIKARi 33 MINi（西瓜直径13～16cm）

包装微泄露无损密封测试仪_无损包装检漏仪_无损密封性试验机MFY-01A真空衰减法检漏仪专业适用于制药、医疗器械、日化、汽车、电子元器件、文具等行业的包装袋、瓶、管、罐、盒等的密封试验。亦可进行经跌落、耐压试验后的试样的密封性能测试。同样适用于泡罩包装、半硬或硬包装如玻璃药瓶的最小泄漏点和针孔的检测。专业技术：1、多重试验模式，精度、自动化升级：采用真空与压差双传感器法原理， 进行无损检测，使其可重复并在测试结束后自动生成档案文件精密的压力测试系统，测试精度大幅提升采用进口品牌的气动元件，进口压力传感器，性能稳定可靠可预设多级真空，用于分析试样的泄漏压力提供kPa、psi、mbar、mmHg等多种试验单位，可轻松切换2、全新智能全触控操作系统：一键式操作，直观的操作界面，可远程升级与维护真空、测试和渗入时间可调，存储于数据库中，保证测试条件的一致性试验曲线实时显示，数据智能统计，方便快速查看检测结果具有数据自动存储、掉电自动记忆功能历史数据可进行快速查看、打印微型打印机和USB通用数据接口，方便数据输出和传递（可选）多级用户权限管理，密码登录专业软件符合GMP药品生产质量管理规范包装微泄露无损密封测试仪_无损包装检漏仪_无损密封性试验机测试原理：主机连接一个真空衰减腔，将试样放入此测试腔内抽真空，试样内外有压差，气体通过漏孔进入真空衰减腔和主机，主机利用压力传感器和差压传感器监测测试腔内的真空度变化，通过真空度变化量来判断试样是否合格。测试标准：该仪器参照标准：ASTM F2338，USP1207试验流程：将试样放入测试腔体，根据设定的真空度对测试腔进行抽真空。在“一定的时间内”到达设定的真空度，则判断试样无大漏（参考值500μm以上的漏孔），反之则判断不合格。注：“一定的时间内”为自动设定。设定保压时间、临界值。在设定的保压时间内真空度降不到设定的临界值，则判断试样无中漏（参考值100～500μm以上的漏孔），反之则判断不合格。设定测试时间。在测试时间内真空衰减率小于试样真空衰减率标定值，则判断试样无5μm以上漏孔，反之则判断不合格。 包装微泄露无损密封测试仪_无损包装检漏仪_无损密封性试验机验证方法：制作标准试样，标准试样分为阴性试样和阳性试样。阴性试样为无泄漏的实体，外形尺寸根据用户要求制作，主要作用是标定真空衰减率、阴性试验对照。阳性试样是具有一定漏孔的样品，阳性试样可以有效的验证实际产品在检测过程中的泄漏等级，是验证产品泄漏的重要参照项。激光打孔是比较常见的制备阳性试样的方法之一，可在空瓶瓶体上加工直径5μm、10μm、50μm、100μm的孔，瓶口用胶塞及瓶盖封口；也可以制作一定漏孔的瓶盖，并用此瓶盖封住瓶口。 测试应用：基础应用：适用于玻璃瓶、管、罐、盒的整体密封性试验适用于塑料瓶、管、罐、盒的整体密封性试验适用于金属材料瓶、管、罐、盒的整体密封性试验适用于纸塑复合袋、盒类材料的密封性试验扩展应用：适用于笔芯密封试验适用于电子元器件的密封性试验适用于医疗器械的密封性试验包装微泄露无损密封测试仪_无损包装检漏仪_无损密封性试验机技术指标：真空度：0.0～－101.0 KPa（标配）真空传感器精度：±0.25%FS(±2.5Pa)真空分辨率：1Pa测试下限：3 um（特殊下限需求需定制）测试腔：尺寸、种类根据试样特殊定制气源压力：0.6MPa～0.7 MPa（气源用户自备）气源接口：Φ6 mm聚氨酯管外形尺寸：主机：344mm(L)×250mm(W)×183mm(H)电源：AC 220V 50Hz / AC 120V 60Hz净重：主机：6.5kg产品配置：标准配置：主机、随机资料、电源线、通信线缆、内存卡、真空油脂、根据试样尺寸定制的测试腔选购件：专业软件、微型打印机、USB通讯线A公转B公