纤维取向

仪器简介： MCR流变仪的光学测量控温平台，可以实现一平台多功能的目的，在一个光学控温平台上，可以进行显微可视、UV光固化、偏光成像、荧光显微、小角激光散射（SALS）、红外光谱联用、拉曼光谱联用等流变-光学同步测量功能，可以在进行流变测试的同时观察样品的微观结构、进行光谱分析。 光学控温平台有两种，一个是Peltier控温系统，温度范围为-20℃ - 200℃；另一个是电加热控温系统，温度范围为RT - 300℃。两种控温系统均由下加热板和上加热罩组成，可实现准确均匀的温度控制。 光学显微可视模块与流变学方法相结合，可以观察剪切力和变形力对样品微观结构的影响，结构参数和流变参数可以同时进行研究。例如，您可以通过显微镜观察和记录剪切场中不同位置的受剪切乳液结构。 在此控温平台基础上可使用的光学模块包含以下几个方面：显微可视模块 长焦物镜，标准放大倍数 20X（可按需提供 5X、10X 和 50X 的物镜）工作距离 (20X)20 mm数字光圈 (20X)0.42分辨力0.7 μm景深1.6 μm光源模式可选白光、偏光、荧光UV光固化测量模块 用于研究光固化或老化反应的UV测量模块可以对样品施加UV照射，可选择高压汞灯或LED光源。SALS小角激光散射模块 用于研究样品内微米尺寸范围的结构信息，通过激光散射分析分散相结构的尺寸信息、取向信息，主要用于乳液、液晶、悬浮液等分散性体系样品。偏光成像模块 主要用于聚合物熔体的剪切诱导结晶研究，观察样品在剪切脉冲作用下的结晶偏光图像。

SKYSCAN 2214 是布鲁克推出的新纳米断层扫描系统，是显微 CT 技术领域的先行者，在为用户带来了终级分辨率的同时,提供非常好的用户体验。SKYSCAN 2214 的每个组件都融入的新的技术，使其成为当今市场上性能很强、适用性很广的系统。■多用途系统，样品尺寸可达300mm，分辨率（像素尺寸）可达 60 纳米■金刚石窗口x射线源，焦斑尺寸500nm■创新的探测器模块化设计，可支持 4 个探测器、可现场升级。■全球速度很快的 3D 重建软件（InstaRecon）。■支持精确的螺旋扫描重建算法。■近似免维护的系统，缩短停机时间并降低拥有成本。地质、石油和天然气勘探■常规和非常规储层全尺寸岩心或感兴趣区的高分辨率成像■测量孔隙尺寸和渗透率，颗粒尺寸和形状■测量矿物相在3D空间的分布■原位动态过程分析聚合物和复合材料■以500 nm 的真正的 3D 空间分辨率解析精细结构■评估微观结构和孔隙度■量化缺陷、局部纤维取向和厚度电池和储能■电池和燃料电池的无损 3D 成像■缺陷量化■正负极极片微观结构分析■电池结构随时间变化的动态扫描生命科学■以真正的亚微米分辨率解析结构，如软组织、骨细胞和牙本质小管等■对骨整合生物材料和高密植体的无伪影成像■对生物样品的高分辨率表征，如植物和昆虫

AFM5500M II全自动扫描探针显微镜除了配置高精度平板扫描器和各种测量自动化功能，还有两种共享坐标样品台功能。通过多种设备的关联解析，实现了单个设备无法实现的多维缺陷评价和故障解析。主要特点1. AFM自动化测量&bull 通过自动化控制大大提高效率，自动探针安装，自动光轴调整，自动参数优化；&bull 排除人为操作失误导致的测量误差，一键自动测量/处理/分析（提高整体测试效率）2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 ：硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构)* 使用AFM5100N（开环控制）时 3. 利用探针评价功能进行探针尖端直径管理4. SIS模式可有效提高数据可靠性SIS（Sampling Intelligent Scan）样品智能扫描模式只有在需要测量样品形貌和物性信息时才靠近测量点，自动控制探针位置，完全消除对测量不利的水平力，可测量吸附力较大或粗糙的样品，同时可大幅降低对探针的磨损和对样品的损伤，有效提高数据的可靠性。5. 支持机械物性/电磁物性等广泛的物性测量扫描探针显微镜是一种不仅可以测量形貌，还支持各种物性检测的显微镜。AFM5500MⅡ支持可同时获取弹性模量、形变、吸附力和摩擦力等各种机械物性的SIS-ACCESS/SIS-QuantiMech功能、以及导电性、压电分布和表面电位等各种电磁物性测量。6. 新的表面电位势测量模式 AM-KFM/FM-KFM（可用于定量和灵敏度等不同场景）除调幅开尔文力显微镜(AM-KFM)外，AFM5500MⅡ还新增了调频开尔文力显微镜(FM-KFM)。FM-KFM与AM-KFM相比，信号主要来自于探针的尖端，电位检测灵敏度更高，在电位的定量分析上更胜一筹。AM-KFM适用于单一材料间的电位和功函数对比等，FM-KFM适用于测量需要进行精细周期结构和海岛结构量化的复合材料，两种模式通过点击即可自由切换。7. 使用AFM、SEM、CSI等不同显微镜观察同一位置，实现多维度解析通过SEM、AFM、CSI等进行样品的同一位置测试，可以对目标视野进行多维度解析，实现数据的参照对比。日立高新可以提供特有的SEM/AFM/CSI同视野观察，实现联动分析。使用共享样品台进行坐标联动，或通过全新的AFM标记功能，可以在AFM、SEM、CSI之间快速、轻松地锁定同一视野，进一步扩大了联动分析的应用范围。

Thermo Scientific™ DXR3 显微拉曼光谱仪拥有一键式拉曼显微技术，为各种工作应用提供优异的灵敏度和空间分辨率。 Thermo Scientific DXR3 显微拉曼光谱仪重释传统显微拉曼光谱仪的概念，使其更加贴合繁忙实验室的需求。 在不牺牲仪器性能的前提下，我们研发出可靠性和可信度高，实用性强的仪器家族。 此外，我们运用革新技术提高快速获取重要信息的能力，解决了实际应用中的难题。 我们将专业技术运用在仪器中，将现实难题的解决方案融入在设计中，并向世界各地提供技术支持。 功能表征和鉴别小颗粒非常适合于颗粒污染物的鉴定对透明和半透明样品进行高分辨深度剖析和次表面分析，非常适合于涂层、多层材料、薄膜、包裹体和次表面的缺陷分析有机和无机样品 — 低至 50cm-1 的宽光谱范围测量特别适合于无机物的表征，因为它们通常在低频谱带有振动峰分子形态表征 —比较典型的为碳和硅的分子骨架表征，利用拉曼光谱可以非常有效地鉴别药物和矿物的各种晶型，区分硅的结晶态和无定型态，以及表征各种碳纳米材料表面区域和横切面的表征可以借助于于 x-y 轴拉曼成像和 x-z 轴拉曼成像透过玻璃和塑料包装进行测量 — 允许直接透过证据袋、安瓿瓶和防护涂层进行测量使用光纤探针可以对样品仓无法容纳的大样品进行远程取样仪器上的 GO（执行）按钮可提供一键式操作所有数据收集、处理和生成报告步骤都可通过GO存储，因此用户在显微镜下置入样品后，只需一个按钮就可以自动生成报告，无需在计算机上进行操作支持表面增强拉曼 (SERS) 测量激光器、滤光片和光栅等智能模块都属于用户可自行更换的部件，而且还可以与其他 DXR 仪器共享激光安全性显微镜为一级激光安全认证。 （注： 光纤附件和一些其他的附件为3B 级激光装置，需要激光防范措施和激光安全护目镜。）观察时，激光被护目镜物理阻挡在视径外，以防止眼睛直接暴露于激光。验证备有 DQ/IQ/OQ/PQ 验证包，包括各种验证文档和自动化软件协议Omnic D/S 软件符合 CFR 21 Part 11 规范卓越的性能空间分辨率——样品的理想空间分辨率可以优于 540nm 纵向分辨率——样品的理想纵向分辨率可以优于 1.7μm通过对 CCD 的单次曝光即可获取 3500-50cm-1 的光谱范围，避免接谱产生的赝谱。 采用532nm激发，扩展光谱范围可达 6,000cm-1 支持多个激光器。 532nm、633nm 和 780nm针对所有激发波长的自动荧光校正功能研究级 Olympus 光学显微镜自动强度校正功能使不同仪器和不同激发波长的拉曼光谱具有可比性多点波长校准功能为全谱范围的波长提供精确的校准专利的三重光学光谱仪设计提供完美峰形并保证所有波长的高共焦通过软件控制共聚焦和高性能光谱采集模式之间的自由切换专利的宇宙射线自动扣除功能和高质量激光线滤光片确保获取无赝谱的光谱去偏振的激光激发可避免样品取向效应所带来的光谱偏差激光功率调节器能对激光功率实时监控，确保在激光器的使用寿命期间，甚至在更换激光器后激光能量的重复性针对每个激发波长优化光栅，避免多个激发波长共用一块光栅所带来的性能牺牲专利的自动准直功能确保仪器性能的日日如新专利的智能背景自动扣除功能消除了 CCD 暗电流对光谱图的影响。推荐用途：司法鉴定 — 痕迹物证和违禁药物鉴定制药行业 — 多晶型、颗粒污染物和扩散研究艺术品修复/保存 — 鉴别和表征颜料、树脂、釉彩以及油墨考古学 — 表征角质物、贝壳、骨头和陶瓷仿制品太阳能 — 硅结晶度；光伏材料的表征聚合物 — 包裹体和凝胶缺陷、风化作用、层压材料连接层以及结晶度故障分析 — 界面颗粒和微区表征。宝石学 — 彩色宝石的快速 鉴定，区分天然和合成钻石、表征包裹体和掺杂物纳米技术 — 表征石墨烯、碳纳米管、DLC 涂层和其他纳米结构学术研究 — 在材料科学、生物学研究和许多应用研究领域特别有用

[产品简介]作为Xradia Versa系列中的前沿产品，蔡司X射线显微镜 Xradia 610 & 620 & 630 Versa 在科学探索和工业研究领域为您开启了多样化应用的新高度。采用光学和几何两级放大成像架构，可实现大样品高分辨率成像。闪烁体和光学物镜耦合技术可实现高衬度和增强的相位衬度成像。基于出色的高分辨率和衬度，蔡司X射线显微镜 Xradia 610 & 620 & 630 Versa 拓展了无损成像的研究界限，大大提高了研究灵活性，加快您的研究进展。创新的数据采集工作流让您无需对样品进行切割即可实现对搜索和发现的感兴趣区域进行高分辨成像，实现从探索到发现的工作流无缝衔接。全系列的Xradia Versa系统都兼容ART3.0高级重构工具箱，利用AI技术提高成像效率或改善成像质量。[产品特点]&bull 三维无损成像&bull 真实空间分辨率: 500nm@ Xradia 610&620 Versa, 450 nm@ Xradia 630 Versa，最小体素40nm&bull 更快的成像速度&bull 独特的大工作距离下高分辨率，可实现不同类型、尺寸和类型样品多尺度成像&bull 吸收、相位和衍射衬度成像模式&bull 4D 原位成像能力&bull 可升级和拓展[应用领域]&bull 材料科学，如三维无损分析&bull 生命科学，如微观结构成像&bull 地球科学，如地质、油气、矿产、古生物等三维成像&bull 电子和半导体行业，如形貌测量及失效分析&bull 原位力学、变温试验&bull 衍射衬度成像，实现三维晶粒取向分析 复合材料 电子半导体 生命科学（脑神经） 古生物 油气地质（致密砂岩）

鑫佰利公司中空纤维膜，主要包括压力式中空纤维膜、浸没式中空纤维膜及帘式MBR。产品以聚偏氟乙烯（PVDF）为原材料，采用热致相分离（Tips）工艺加工制造的，产品具有良好的耐酸碱和耐氧化性能，且机械强度高，膜通量大，达到国际先进水平。 鑫佰利压力式超滤膜可与陶氏（欧梅塞尔，Omexell）2660、2860型超滤产品互换。主要应用领域：● 生活污水深度处理和回用● 反渗透工艺预处理● 工业给水处理● 矿泉水处理● 海水淡化预处理● 油田回注预处理● 工业高浓废水预处理和再生处理（煤化工、石油化工等）● 药品分离回收● 牛奶中蛋白质的分离● 果汁浓缩

Finder One微区激光拉曼光谱仪 性能特点超高性价比 满足科研级需求的超高性能 自动曝光功能 荧光背景扣除功能 可定制测试分析软件 扩展联用功能产品简介： Finder One“微谱”系列拉曼光谱仪是卓立汉光公司研发的具有高灵敏度的微区激光拉曼光谱仪，它采用了优化的显微成像光路，可将激发光的光斑会聚到微米量级，同时搭配高品质影像校正光谱仪和进口CCD 探测器，所有部件整合到一体化的机箱内，最大限度的确保了仪器性能的稳定性，从而可以获得样品的有关化学成分、晶体结构、分子间相互作用以及分子取向等各种拉曼光谱的信息，广泛适用于高等院校、科研院所的物理和化学实验研究，如化合物官能团分析 、分子动力学研究 、碳纤维/ 碳纳米管拉曼光谱分析 、表面分析\ 单层薄膜分析、聚合物组织结构分析、细胞组织研究、刑侦鉴定、考古学、地质学等多学科领域。Finder One微区激光拉曼光谱仪参数规格表：主型号Finder One 拉曼光谱范围180-5,000 cm-1（高灵敏度版） 90-5,000 cm-1（低波数版） 分辨率≤2cm-1（@585.25nm） 激光器标配：532nm（≥50mW，TEM00），选配：325nm、633nm、785nm等探测器类型TE制冷型背感光CCD 有效像元1000×100 像面尺寸24×1.4mm2 量子效率90%@λpeak *规格参数为532nm激光条件下的典型值，依据所选激发波长的改变会有所改变，详情请洽询！ 测试实例：（闪光岩：激发波长：532nm）

仪器概述 XQ-1B型预取向丝强力仪，是上海新纤仪器公司和东华大学(原中国纺织大学)上海利浦应用科学技术研究所合作研制生产的适应涤纶短纤维生产过程品质控制需要的新型仪器，具有气动夹持、自动操作、快速测量的特点，适用于涤纶单根原丝的测试。 仪器符合行业标准FZ/T 54003 所规定的测试方法标准要求，能够测试六个指标：预取向丝的自然伸长率、EYS1.5、自然拉伸倍数、最大拉伸倍数、断裂强力和断裂伸长的单值及统计值。 主要技术指标1、 负荷测量范围： 0～100 cN；2、 负荷测量误差： ≤士1％；3、 负荷测量分辨率： 0.01cN；0.1 cN；4、 伸长测量范围： 100mm；5、 伸长测量误差： ≤0.05mm；6、 伸长测量分辨率： 0.1％；7、 下夹持器下降速度：1～100 mm/min8、 下夹持器动程： 100 mm；9、 电源： 220V～土10％；10、主机重量： 约45kg；11、尺寸： 540×434×560mm。使用说明书： 下载（仪器结构、测试原理、实验步骤详见仪器使用说明书） 操作方法： 实际操作录像在线播放 注：以上数据仅供参考，随着本厂产品的改进，有关参数可能变更。

劳厄单晶取向测试系统：背散射劳厄测试系统，实时确定晶体方向，精度高达0.1度；PSEL 软件定向误差低至 0.05度；多晶硅片二维定向mapping；大批量样品筛选；超20kg重负荷样品定位 水平放置系统 特征优点200um 光束尺寸可测量小 晶体电动位移台可沿生长轴轴向扫描电动角位移与同步加速器/中子设备直接兼容手动角位移与切割刀具直接兼容 垂直放置系统 特征优点200um 光斑适用于小晶粒的多晶结构大范围电动线性扫描位移台允许自动晶圆mapping或多个样品电动Z 轴驱动适用大尺寸晶棒或样品手动角位移允许定位到+/- 0.02度精度 配备PSEL CCD 背反射劳厄X-RAY 探测器：有效输入探测面约： 155*105 mm最小输入有效像素尺寸83um，1867*1265 像素阵列可选曝光时间从1ms 到35分钟芯片上像素叠加允许以牺牲分辨率为代价增强灵敏度自动背景扣除模式16位高精度采集模式12位快速预览模式PSEL 劳厄影像采集处理专业软件 劳厄影像校准软件：自动检测衍射斑点，并根据参考晶体计算斑点位置；根据测角仪和晶体轴自动计算定向误差(不需要手动拟合扭曲的图形)以CSV格式保存角度测量值，以进一步保证质量的可追溯性；顶部到底部的终端用户菜单，允许资深结晶学用户自行逐步确认定位程序；基于Python的软件，允许使用套接字命令对现有软件/系统进行远程访问控制； 系统附件包括：劳厄X-RAY 探测器劳厄校准软件高亮度X-RAY 发生器电动/手动 角位移台& 高精度位移台；样本定位/视频监控 摄像头；激光距离传感器/操纵杆典型劳厄衍射应用图样： 劳厄单晶取向测试系统应用方向：探测器材料： HgCdTe/CdTe, InGaAs, InSb 窗口玻璃材料&压电/铁电陶瓷： Al2O3, Quantz，LiNbO3金属合金： 钨，钼，镍基合金；激光晶体材料： YAG, KTP, GaAs薄膜/半导体基地材料： AIN, InP SiC 磁性&超导材料: BCO/BSCCO/HBCCO, FeSe， NbSn/NbTi闪烁体材料： BGO/LYSO, CdWO4, BaF2/CaF2

APODIUS 2D 影像测量系统是市场领先的独立式光学测量解决方案，专为局部纤维方向的二维测量而开发。通过高分辨率的光学传感器，可以捕捉到零件表面的纹理信息，通过对原始图像数据的纹理进行评估分析，系统最多可以可靠的获取三个纤维方向，其测量分辨率可达0.1度。定制的APODIUS Explore 2D软件平台，可将传感器采集的高清图像即使处理，并可进行完整的测量输出处理以及自动报告生成。测量可以在程序内实时进行可视化显示，用以指导客户操作，而多样的报告输出到和导出格式，则便于用户进一步分析或在测量完成后进行归档。APODIUS 2D影像测量系统，还可以根据行业标准MSA和VDA 5的要求，为产品释放提供有效的纤维取向测量结果。另外，它还可以为零部件的批准生产，提供必要的统计过程控制，包括生产过程能力的评估。APODIUS 2D 既可以进行全自动的在线测量，也可以对离线测量提供品质保证，它能对各种材料（包括编织物、非卷曲织物、定制的碳纤维材料、预浸料和经过固化处理的零部件）进行单层表面实测值与目标值的对比。

玻璃纤维介电常数测试仪当温度继续升高，达到很大值时，离子热运动能量很大，离子在电场作用下的定向迁移受到热运动的阻碍，因而极化减弱，εr下降。电导损耗剧烈上升，tgδ也随温度上升急剧上升。技术参数：双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。测量方法的选择：测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。1 零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法 也就是在接人试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥(也就是互感藕合比例臂电桥)和并联 T型网络。变压器电桥的优点:采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极 它没有其他网络的缺点。2 谐振法适用于10 kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。 注:典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和侧量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。6．B-测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。玻璃纤维介电常数测试仪极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的. 注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内玻璃纤维介电常数测试仪实验环境条件如温度、湿度对测定结果的影响。温度：温度变化会引起高聚物的粘度变化，因而极化建立过程所需要的时间也起变化。温度对取向极化（介电常数）有两种相反的作用，一方面温度升高，分子间相互作用减弱，粘度下降，使偶极转动取向容易进行，介电常数增加；另一方面，温度升高，分子热运动加剧，对偶极转动干扰增加，使极化减弱，介电系数下降。对于一般的高聚物来说，在温度不太高时，前者占主导地位，因而温度升高，介电常数增大，到一定范围，后者超过前者，介电常数即开始随温度升高而减小。湿度：湿度越大，水分越多，能明显增加高聚物介电损耗的极性杂质。在低频下，它主要以离子电导形式增加电导电流，引起介电损耗；在微波频率范围，水分子本身发生偶极松弛，出现损耗峰。对于极性高聚物，水有不同程度的增塑作用，尤其是聚酰胺类和聚丙烯酸酯类等，结果将使高聚物的介电损耗峰向较低温度移动。水对热固性塑料也有影响。玻璃纤维介电常数测试仪频率的影响：1）当外加电场频率很低，即ω→0时，介质的各种极化都能跟上外加电场的变化，此时不存在极化损耗，介电常数达最大值。介电损耗主要由电导损耗引起，PW和频率无关。tgδ=σ/ωε，则当ω→0时，tgδ→∞。随着ω的升高，tgδ减小。2）当外加电场频率逐渐升高时，松弛极化在某一频率开始跟不上外电场的变化，松弛极化对介电常数的贡献逐渐减小，因而εr随ω升高而减少。在这一频率范围内，由于ωτ1，故tgδ随ω升高而增大，同时Pw也增大。3)当ω很高时，εr→ε∞，介电常数仅由位移极化决定，εr趋于最小值。此时由于ωτ1，此时tgδ随ω升高而减小。ω→∞时，tgδ→0。玻璃纤维介电常数测试仪因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。 电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.

材料科学 X射线三维显微CT是用于材料三维透视的先进技术之一，通过对样品内部非常细微的结构进行无损成像，真正实现三维显微成像。无需样品制备、嵌入、镀层或切薄片。利用X射线显微CT系统，可对聚合物、纤维类复合材料、生物材料、建筑材料、纸张/面料/纺织品、粉末/颗粒、陶瓷/玻璃、医药片剂、艺术品/历史文物等实现以下参数的统计、计算、分析（包括二维和三维）：样品内部结构三维可视化样品（孔隙、颗粒等）容积结构厚度结构分离、数量结构模型指数（SMI）内部结构尺寸测量不同组分结构二维/三维表征及形态学分析内部缺陷/孔隙/裂纹表征及形态学统计、分析对孔隙率的详细分析等~ 显微CT测试案例 碳纤维强化材料（以＜500nm的真正的3D空间分辨率解析精细结构，评估微观结构和孔隙度，量化缺陷、局部纤维取向和厚度） 束蕴仪器为您提供定制化的X射线显微CT检测方案

SKYSCAN 2214 是布鲁克推出的新纳米断层扫描系统，是显微 CT 技术领域的先行者，在为用户带来了终级分辨率的同时,提供非常好的用户体验。SKYSCAN 2214 的每个组件都融入的新的技术，使其成为当今市场上性能很强、适用性很广的系统。■多用途系统，样品尺寸可达300mm，分辨率（像素尺寸）可达 60 纳米■金刚石窗口x射线源，焦斑尺寸500nm■创新的探测器模块化设计，可支持 4 个探测器、可现场升级。■全球速度很快的 3D 重建软件（InstaRecon）。■支持精确的螺旋扫描重建算法。■近似免维护的系统，缩短停机时间并降低拥有成本。地质、石油和天然气勘探■常规和非常规储层全尺寸岩心或感兴趣区的高分辨率成像■测量孔隙尺寸和渗透率，颗粒尺寸和形状■测量矿物相在3D空间的分布■原位动态过程分析聚合物和复合材料■以500 nm 的真正的 3D 空间分辨率解析精细结构■评估微观结构和孔隙度■量化缺陷、局部纤维取向和厚度电池和储能■电池和燃料电池的无损 3D 成像■缺陷量化■正负极极片微观结构分析■电池结构随时间变化的动态扫描生命科学■以真正的亚微米分辨率解析结构，如软组织、骨细胞和牙本质小管等■对骨整合生物材料和高密植体的无伪影成像■对生物样品的高分辨率表征，如植物和昆虫

SKYSCAN 2214 是布鲁克推出的新纳米断层扫描系统，是显微 CT 技术领域的先行者，在为用户带来了终级分辨率的同时,提供非常好的用户体验。SKYSCAN 2214 的每个组件都融入的新的技术，使其成为当今市场上性能很强、适用性很广的系统。■多用途系统，样品尺寸可达300mm，分辨率（像素尺寸）可达 60 纳米■金刚石窗口x射线源，焦斑尺寸500nm■创新的探测器模块化设计，可支持 4 个探测器、可现场升级。■全球速度很快的 3D 重建软件（InstaRecon）。■支持精确的螺旋扫描重建算法。■近似免维护的系统，缩短停机时间并降低拥有成本。地质、石油和天然气勘探■常规和非常规储层全尺寸岩心或感兴趣区的高分辨率成像■测量孔隙尺寸和渗透率，颗粒尺寸和形状■测量矿物相在3D空间的分布■原位动态过程分析聚合物和复合材料■以500 nm 的真正的 3D 空间分辨率解析精细结构■评估微观结构和孔隙度■量化缺陷、局部纤维取向和厚度电池和储能■电池和燃料电池的无损 3D 成像■缺陷量化■正负极极片微观结构分析■电池结构随时间变化的动态扫描生命科学■以真正的亚微米分辨率解析结构，如软组织、骨细胞和牙本质小管等■对骨整合生物材料和高密植体的无伪影成像■对生物样品的高分辨率表征，如植物和昆虫

SONOSCAN 声学扫描显微镜咨询请点击导航栏 联系方式，直接联系我们。产品简介：从实验室到生产车间，Sonoscan的先进声学显微镜仪器和技术可以帮助您生产高质量的产品。Sonoscan仪器有着高技术含量，并且提供良好的客户服务和支持。Sonoscan超声波扫描显微镜提供多种成像模式，操作员可以根据样品内部取向特征获得有关检验样品的良好透视图。此外，通过利用产品专有先进功能，Sonoscan可以提供清晰的图像、高效率和理想的结果。SONOSCAN D9500通过样品在液晶(Liquid Cristal)和荧光微型热成像（FMI）的图像,分析产品内部的失效情况。产品原理 ：利用不同材料对超声波声阻抗不同，对声波的吸收和反射程度不同，来探测半导体、元器件的结构、缺陷、对材料做定性分析。产品应用:SONOSCAN D9500声学扫描显微镜以其良好的精度和稳健性是失效分析，工艺开发，材料分析与表征和小批量生产的理想选择。D9500采用同时传输和反射模式，并且应用更新更符合人体工程学设计。产品特征：惯性平稳扫描装置能减少振动，确保良好的扫描结果新的，更大的扫描范围，有多个托盘可以容纳大样本多语言操作系统，使用者可以选择母语：中文，英语等语言。温度控制选择：无论周围环境中空气温度变化，会确保一天中水的温度保持不变B型扫描定量分析模式（Q-BAM）：Sonoscan的B型扫描模式，为用户提供一个极准确且包含深层数据的虚拟横截面。

Langmuir膜分析仪(配置显微镜窗口)1. 产品简介KSV NIMA为瑞典百欧林科技有限公司旗下的子品牌之一，主要经营方向为单分子层薄膜的构建与表征工具。Langmuir膜分析仪(配置显微镜窗口)为KSV NIMA自主研发的一款单分子层膜的制备和表征设备，适用于制备、改性和研究Langmuir膜。Langmuir膜分析仪(配置显微镜窗口)与标准槽体的尺寸相同，槽体中配备一个蓝宝石窗口，可通过波长大于200 nm的光线(适用于可见光或紫外光谱)，便于观察表界面的情况。该系列共有五款产品，对于某些尺寸的槽体，可配置带有玻璃窗口的倒置显微镜。2. 工作原理位于气-液或液-液界面处不可溶的功能性分子、纳米颗粒、纳米线或微粒所形成的单分子层可定义为Langmuir膜。这些分子能够在界面处自由移动，具有较强的流动性，易于控制其堆积密度，研究单分子层的行为。将材料沉积在浅池（称顶槽）中的水亚相上，可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下，单分子层可以被压缩。表面压力即堆积密度可以通过Langmuir膜分析仪的压力传感器进行控制。在进行典型的等温压缩测试时，单分子层先从二维的气相(G)转变到液相(L)最后形成有序的固相(S)。在气相中，分子间的相互作用力比较弱；当表面积减小，分子间的堆积更为紧密，并开始发生相互作用；在固相时，分子的堆积是有序的，导致表面压迅速增大。当表面压达到最大值即塌缩点后，单分子层的堆积不再可控。图1 单分子层膜状态受表面压力增加的影响3. 技术参数4. 产品优势及亮点4.1 产品优势1. 专为极度精确测试设计的超敏感表面张力传感器。铂金属板，铂金属棒及纸板都可用作探针以满足不同的需求。2. 开放性的设计便于槽体在框架上的放置及不同槽体的快速更换，同时便于清洗槽体表面。3. 当需要清洁或更换新槽体时，槽体在框架上的拆卸/放置极其方便。4. Langmuir槽体是由便于清洁、可靠耐久的整块纯聚四氟乙烯构成，其独特的设计能够防止槽体发生泄漏，同时避免了使用胶水及其他封装材料造成的潜在污染。5. 滑障由亲水性的迭尔林聚甲醛树酯制成，可提高单分子层的稳定性。可根据客户需要提供疏水性的聚四氟乙烯压缩滑障。稳健的金属构架能够防止滑障随着时间的推移而变形。6. 对称滑障压缩为标准的均匀压缩方法，但任意仪器均可实现单一滑障压缩。7. 通过外部循环水浴对铝制底板进行加热/冷却，以控制亚相的温度（水浴为分开销售）.8. 通过调整框架撑脚，可快速而准确地校准槽体水平。当需要放置显微镜时，框架撑脚也可很容易地从槽体上拆除。4.2 产品亮点本产品可与界面红外反射吸收光谱仪(PM-IRRAS)，布鲁斯特角显微镜(BAM)，界面剪切流变仪（ISR），荧光显微镜，X射线等光学表征技术联用或对样品进行后续分析。具体如：4.2.1 联用或相关分析技术1. 红外反射吸收光谱(KSV NIMA PM-IRRAS)2. 石英晶体微天平(Q-Sense QCM-D)3. 表面等离子共振仪4. 电导率测量仪5. 紫外可见吸收光谱仪6. 原子力显微镜7. X射线反射器8. 透射电子显微镜9. 椭圆偏振仪10. X射线光电子能谱仪等4.2.2 本公司可提供联用仪器简介1. 界面红外反射吸收光谱仪（PM-IRRAS）带极化模块的界面红外反射吸收光谱仪主要用来决定分子的取向和化学组成。2. 布鲁斯特角显微镜（BAM）可进行薄膜的均一性、相行为和形貌的单分子层成像和光学观测。3. 表面电位测量仪（SPOT）使用无损振荡板式电容技术来监测薄膜的电位变化，从而对单分子层的电学性质进行表征。提供堆积密度和取向等信息，可对任何Langmuir等温测试进行补充。4. 界面剪切流变仪（ISR）这种独特的剪切流变仪可以测量界面处的粘弹性。适用于气-液或油-水的研究，在控制表面压的同时，可对粘弹性进行分析。5. 产品应用5.1 应用范围生物膜及生物分子间的相互作用细胞膜模型（如：蛋白质与离子的相互作用）构象变化及反应药物传输及行为有机及无机涂料具有光学、电学及结构特性的功能性材料新型涂料:纳米管、纳米线、石墨烯等表面反应聚合反应免疫反应、酶-底物反应生物传感器、表面固定催化剂表面吸附和脱附表面活性剂及胶体配方科学胶体稳定性乳化、分散、泡沫稳定性薄膜的流变性扩张流变界面剪切流变（与KSV NIMA ISR 联用）5.2 客户发表成果（部分）1. Q. Guo et al., J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 630-631. (IF= 11.444)2. Kumaki et al., Macromolecules 1988, 21, 749-755. (IF= 5.927)3. S. Sheiko et al., Nature Materials 2013, 12, 735-740. (IF= 36.4)4. Q. Zheng et al., ACS Nano 2011, 5(7), 6039–6051. (IF= 12.033)5. Azin Fahimi et al., CARBON 2013, 64, 435 – 443. (IF=6.16)6. Xiluan Wang et al., J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 6338–6342. (IF= 11.444)7. Zhiyuan Zeng et al. Adv. Mater. 2012, 24, 4138–4142. (IF= 15.409)注：相关资料如有变化，恕不另行通知，瑞典百欧林科技有限公司对资料中可能出现的纰漏免责，更多资料欢迎来电询问。

AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且，通过SEM-AFM共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察分析。特点 1. 自动化功能 高度集成自动化功能追求高效率检测 降低检测中的人为操作误差 ? 4英寸自动马达台 自动更换悬臂功能2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描 采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了最新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 ：硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量 普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。 样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构) * 使用AFM5100N（开环控制）时 3. 融合性亲密融合其他检测分析方式通过SEM－AFM的共享坐标样品台，可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌，结构，成分，物理特性等。 SEM-AFM在同一视野观察实例（样品：石墨烯/SiO2） 上图是AFM5500M拍摄的形貌像（AFM像）和电位像（KFM像）分别和SEM图像叠加的应用数据。 通过分析AFM图像可以判断，SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。 石墨烯层数不同导致表面电位（功函数）的反差。 SEM图像对比度不同，可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。 与其他显微镜以及分析仪器联用正在不断开发中。

ZEISS一百多年的骄人历史从发明世界上首台显微镜开始。一个世纪后的今天，ZEISS仍致力于为用户研发最具创造力的显微镜系列产品。通过我们不断改进的显微技术，我们正在为全世界的用户开拓一条探索微观世界的道路。今天的显微镜与以往相比，它们的成像质量更好、效率更高、机械性能更加稳定，并且更加环保。总体描述：金相学主要指借助光学（金相）显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支，既包含材料显微组织的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒（亦包括可能存在的亚晶）、非金属夹杂物乃至某些晶体缺陷（例如位错）的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排布状态等。金相学的兴起给金属材料研究带来了历史性的变革，而蔡司长久以来一直致力于金相显微镜的研发与应用，并将金相学的科研水平推向一个又一个高点。2010年蔡司最新推出的金相显微镜Axio Scope A1再次为金相学的长足发展了提供最佳检测工具。蔡司研究级正立万能材料显微镜Axio Scope A1的诞生源于蔡司精湛的光学技艺与客户利益的完美结合，Axio Scope A1能够给用户提供最优秀的成像质量的同时也能够实现用户经济利益的最大化，并且为用户日后的研发水平的提高提供了足够大的升级空间。这是基于用户利益的设计理念，Axio Scope A1已经成为业内最具竞争力的显微镜产品。产品特点：1、 采用世界上最优秀的无限远双重色彩校正及反差增强型（ICCS）光学系统，为用户提供最锐利的图像。2、 采用5种上部部件和3种下部部件及两个立柱组合方式，可根据您对材料检测的要求和经济成本进行任意灵活的组合，可实现对透明材料、不透明材料以及荧光材料的分析，同时具有强大的升级空间，保证您未来的检测要求。3、 业界最大式样高度可达到380毫米的，给您提供非凡的操作空间。4、 贴近用户的灵活性，设备的部件升级无需专业人员，用户可自行操作完成。技术参数：光学系统：ICCS光学系统镜体：5种镜体，23种组合，FEM设计,ACR位置编码物镜：5× 10× 20× 50× 100× 目镜：10×物镜转盘：6孔数字化图像分析工作站：计算机、打印机、数字摄像头、软件可配自动扫描台升级空间，可升级为颗粒度分析系统、高温金相系统

品牌：卡尔蔡司型号：Axio Scope A1制造商：德国卡尔蔡司公司经销商：北京普瑞赛司仪器有限公司 ZEISS一百多年的骄人历史从发明世界上首台显微镜开始。一个世纪后的今天，ZEISS仍致力于为用户研发最具创造力的显微镜系列产品。通过我们不断改进的显微技术，我们正在为全世界的用户开拓一条探索微观世界的道路。今天的显微镜与以往相比，它们的成像质量更好、效率更高、机械性能更加稳定，并且更加环保。总体描述： 金相学主要指借助光学（金相）显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支，既包含材料显微组织的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒（亦包括可能存在的亚晶）、非金属夹杂物乃至某些晶体缺陷（例如位错）的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排布状态等。 金相学的兴起给金属材料研究带来了历史性的变革，而蔡司长久以来一直致力于金相显微镜的研发与应用，并将金相学的科研水平推向一个又一个高点。2010年蔡司最新推出的金相显微镜Axio Scope A1再次为金相学的长足发展了提供最佳检测工具。 蔡司研究级正立万能材料显微镜Axio Scope A1的诞生源于蔡司精湛的光学技艺与客户利益的完美结合，Axio Scope A1能够给用户提供最优秀的成像质量的同时也能够实现用户经济利益的最大化，并且为用户日后的研发水平的提高提供了足够大的升级空间。这是基于用户利益的设计理念，Axio Scope A1已经成为业内最具竞争力的显微镜产品。产品特点：1、 采用世界上最优秀的无限远双重色彩校正及反差增强型（ICCS）光学系统，为用户提供最锐利的图像。2、 采用5种上部部件和3种下部部件及两个立柱组合方式，可根据您对材料检测的要求和经济成本进行任意灵活的组合，可实现对透明材料、不透明材料以及荧光材料的分析，同时具有强大的升级空间，保证您未来的检测要求。3、 业界最大式样高度可达到380毫米的，给您提供非凡的操作空间。4、 贴近用户的灵活性，设备的部件升级无需专业人员，用户可自行操作完成。技术参数：光学系统：ICCS光学系统镜体：5种镜体，23种组合，FEM设计,ACR位置编码物镜：5× 10× 20× 50× 100× 目镜：10×物镜转盘：6孔 数字化图像分析工作站：计算机、打印机、数字摄像头、软件 可配自动扫描台升级空间，可升级为颗粒度分析系统、高温金相系统

Sonoscan超声波扫描显微镜——超声波无损检测系统从实验室到生产车间，Sonoscan的先进声学显微镜仪器和技术可以帮助您生产更高质量的产品。Sonoscan仪器有着极高的技术含量，并且提供一流的客户服务和支持。FastLine&trade P300&trade 一种紧凑型声学显微监控仪，专为工厂提供的最大生产和过程控制。FACTS2&trade 高级质量监控仪器，可以以生产速度提供高分辨率的声学显微成像，并且只需操作员做极少的控制。AW&trade 系列自动晶圆系列的超声显微检测设备，可以自动处理，检测和并根据操作人员制定的"合格与不合格"标准对晶圆进行分类。Gen6&trade 新一代具有技术创新，尖端技术和无与伦比的功能的C-SAM,把超声显微成像带上了一个新的水平。Gen5&trade 一种创新的声学显微监控仪，可提供最广泛和最先进的功能。D9&trade 系列这个系列的设备引领声像显微技术的新标准。为失效分析，工艺开发和材料特性检测提供了无与伦比的精准和灵活性。D24&trade 超大的扫描区（24” × 24”），非常适合较大面积的样品检验、印刷电路板元件检验和多种JEDEC 盘检验。Sonoscan技术AMI技术的杰出之处在于其能够在组件和材料中找出可能在生产或环境测试过程中出现的隐藏的缺陷。相比其他检验方法，使用AMI技术可以更有效地识别和分析分层、气泡和裂缝等缺陷。不同于X射线和红外成像等其他无损检测技术，AMI技术对材料弹性有着极强的敏感性。正因为如此，AMI查找和定性这些物理缺陷的能力明显要优越很多。AMI通常可应用于生产控制、破损分析和产品开发。Sonoscan提供多种成像模式，操作员可以根据样品内部取向特征获得有关检验样品的最佳透视图。此外，通过利用我们的专有先进功能，Sonoscan可以提供最佳的图像、最高的效率和最理想的结果。AMI技术的优点 在出故障之前把隐藏的缺陷找出来 将薄达200埃的脱层检测出来 材料性能变化定位 测量材料密度，孔隙度，夹杂物 探测裂缝和孔洞 评估热，冲击和疲劳损伤 对被测材料无损伤领先地位在声学显微成像（AMI）技术应用于内部品质无损检测与分析方面，Sonoscan一直是该行业的权威之一。Sonoscan系统被视为精确基准，通过我们的SonoLab&trade 部门，您可以向我们的声学应用工程师进行咨询，获取专业意见和指导。Sonoscan的创始人与总裁Lawrence Kessler博士是一位超声波学与成像系统领域的专家。Kessler博士致力于通过教育项目、客户应用程序评估与新系统开发来实现AMI技术的持续改进。 对AMI技术的专业研究是Sonoscan工作的核心。我们努力提供非凡的数据精确性、出众的图像质量和世界领先的技术。我们在AMI技术方面还拥有多项美国和外国专利。 总之，Sonoscan是您最值得信任的伙伴，我们可以为您节省成本并提高效率。 与 Sonoscan 合作的业界领导者： 全球10大半导体公司 10大汽车半导体公司中的9家公司 10大 国防承包商中的7家承包商 5大MEMS生产商中的4家生产商 市场应用Sonoscan 系统与SonoLab实验室服务可满足多种样品检验需要，并可以检测到使用传统检验方法无法检测到的隐蔽缺陷。 应用领域包括：微电子学领域- 塑料封装IC- 陶瓷电容器- 模片固定、载芯片板（COB）- 芯片型封装（CSP）- 倒装晶片- 堆叠型封装- 卷带式自动接合（TAB）- 混和技术、MCM、SIP- 柔性电路- 印刷电路板（PCB）- 智能卡- 粘结晶片- IMEMS微电子机械系统 (MEMS)- 粘结晶片- 制造工艺评估- 包装 军事/航空/汽车- 高可靠性资格筛选- 产品升级筛选- 资格筛选 IGBT 功率模块用超声检测GBT模块材料- 陶瓷、玻璃- 金属、粉末金属- 塑料- 合成物其他- 芯片实验室、生物芯片和微阵列芯片- 滤筒- 包装、密封- 微射流技术- 聚乙烯/箔袋- 焊件- 传感器

光学界面流变系统两块平行板提供剪切力，获取从流体到固体的流变数据，放置在倒置显微镜上使用。请通过我们的联系我们！应用：结晶、诱导取向、凝胶动力学、流动行为与成像、松弛、成分间相互作用、悬浮体稳定性、界面行为、胶体凝聚等。平行板间隙宽度0,01 to 5 mm应变率0.01 to 640剪切速率0,01 to 1 000 s -1频率0,01 to 10 Hz温度10 to 80 °C控温速度0 to 15 °C.min-1兼容任何倒置显微镜工作模式连续，应变跳跃，震动售后服务相关视频资料下载快速询价 请 登录 或 注册在线询价　(请留下您的联系方式，以便供应商联系您)* 姓 　名：* 地　 区： 请选择省份 北京 上海 广东 江苏 浙江 山东 湖北 河南 福建 四川 河北 湖南 辽宁 陕西 安徽 重庆 黑龙江 吉林 江西 天津 广西 山西 内蒙古 甘肃 贵州 新疆 云南 宁夏 海南 青海 西藏 港澳台 海外 其它 单　 位：职　 位：* 手机/电话：* E-mail：请寄产品资料： 需要 不需要请报价格： 需要报价 不需要报价留 　言：验证码： 换一张 我希望获得多家供应商报价发表评论在线评论（0条）更多相关新闻安东帕新品COBRIX2600在线分析设备即将全球同步发布安东帕SAXSpoint散射仪落户欧洲生物医学技术中心Nicoya双通道LSPR分子相互用分析仪重磅上市！安东帕科研奖正式成立，助力仪器分析和表征科研项目安东帕子公司康塔质量管理体系成功通过ISO 9001认证中国生物器材网招聘编辑，客服人员Molecular Devices在细胞系大会展现新品牌ForteBioTA仪器2018流变学原理与前沿应用大师课程圆满结束更多相关文章为什么要选择番茄酱流动式粘度计？如何用QCM-D测量薄膜的膨胀单分子技术最新进展小鼠（Mouse）去甲肾上腺素（NE）ELISA检测试剂盒使用说明称，以知轻重也——奥豪斯工业衡器的应用麻雀虽小，五脏俱全——奥豪斯与电池世界的不解之缘分析氧弹热量计（量热仪）检定结果不准确的因素中药的水分的快速测定程序（红外）更多浏览该公司同类产品耗散型开放式石英晶体微天平分析仪QCM椭偏实时成像分子相互作用仪zeta电位仪-视频跟踪法更多浏览其他公司同类产品Biacore X100全自动科研系统生物分子相互作用分析系统MA水份仪Lumicks高通量分子操控分析仪（声镊）液体动态表面张力测试仪您最近浏览过的产品耗散型开放式石英晶体微天平分析仪QCMLB膜仪-卷对卷式光学界面流变系统微量注射泵聚合物单分子层沉积系统MLDzeta电位仪-视频跟踪法Dipcoater浸渍镀膜机多功能扫描探针显微镜关于我们 | 法律声明 | 广告报价 | English | 网站地图Copyright

产品简介产品型号：纤维含油率分析仪参考价格：面议厂商性质：中国区渠道商产地：德国31指数：100过去的纤维工业….数十年前，当纤维产品在纺织厂大量生产时，分析测试仍处在初期阶段。数年以后，由于工业增长、贸易增加，机械测试和化学分析被引入。作为检测纤维油剂含量的湿化学萃取法的重要性迅速增加。该测试方法速度慢（至少好几小时），结果依赖于操作员水平，对样品有破坏性，此外，由于使用萃取溶液造成大量毒性。现在的纤维工业…二十一世纪以来，全球化油剂竞争压力要求各个公司从操作的各个方面提高效率，其中包括更好的分析方法。很快将不可能接受等待好几个小时才得到的纤维含油率结果的现状。超出检测限的判断太滞后可能意味着生产废品或减少了高价值产品的价值。因此，现在采用快速、准确、非破坏性、无溶剂的先进的分析技术来测定纤维含油率。操作为用户友好勇士测量可以由结晶生产线的共产操作员进行。今天，采用布鲁克Minispec纤维含油率分析仪可以在1分钟内测得纤维中有机含量，例如：纤维含油率（OPU）,光纤涂层（FOF）以及纺纱涂层（FOY）. 介绍纺纱油剂实在纤维生产过程中为了改善纤维在下游处理成纺织品以及各种工业产品所添加的。可以避免经典、保证润滑、并改进丝的弹性。在纤维表面适当涂一层使得纤维更平稳的通过纺织机器、操作更快。费纺织品在生产过程中经过编织，因为也没有从油剂带来的改善处理以及其他功能的好处。因此，纺纱油剂含量以及纺织品的图层对操作效率是显而易见的，需要控制的尽可能快并且很频繁。,Minispec已经证实对这个问题是很好的解决方案，在数秒钟内可以完成分析，远远比传统湿化学分析方法快的很多。NMR核磁共振方法原理纤维的TD-NMR信号通过一个典型的衰减行为展示了不同成分的各个特性。尽管纤维的信号衰减很快，纤维中的水分却显示为中等弛豫行为。把二者很好的分离开纪委纺纱油剂的NMR信号。因此，纤维含油率可以用常规TD-NMR方法观察并进行定量分析。样品准备简单的一分钟样品手续，将纤维材料插入不容易破损的试管中。测量是观察入小核磁仪器后自动触发开始测试。结果几秒钟后，结果显示在简洁的数据表格中。纤维含油率方法的实用性布鲁克通过大量研究已经正式：TD-NMR方法是用于各种纤维和纺纱。基于多年经验，众多已证实的方法已经发表，例如：技术的以及纺织纤维多纤丝、单纤丝、人造短纤以及纺织品样品聚酯、聚酰胺、聚丙烯、聚丙烯晴纤维和纱线聚丙烯、聚乙烯非纺织品方法布洛克提供称重和不称重两种规格方法。用户可根据自己的需要选择应用方法。下面是选择方法的快速指南：不称重方法高样品处理量最快样品准备适用于中等到高含油率水平称重方法最高准确性/精度以及重复性适用于从低到高含油率水平程序为了将纤维材料放入仪器样品腔中，要将样品装入样品管。采用带有塞子刻度的不易破碎的试管以及阿斯子可以快速、安全的装载样品。根据所应用的方法，样品可能需要称重。对Minispec的校准以及检测未知样品，将试管插入Minispec然后检测TD-NMR信号即可。最终的NMR数据用于计算未知样品的结果或用于创建/调整校准曲线。校准程序在过去一、二十年里，布鲁克与用户在软、硬件开发上大力俄合作使得校准程序显著简单化。快速启动，Minispec预先配置有证书的参考标准已鉴定的参考标准可用于定期的仪器检查在TD-NMR仪器上第一次可以用过软件操作实现校准曲线传递。字啊主机上简历校准曲线，然后传递到其他Minispec系统。通用的准备厨房可用于非标准纤维的校准标样纤维含油率软件界面软件确保简单的按部就班程序以及优良的数据存档（结果、校准）。纤维含油率软件界面符合良好的实验室习惯（GLP）TD-NMR首次符合21CFRpart11。一个对将来重要的实验室准备全自动系统教研以及系统设置程序全自动数据记录功能用户优化MS-Windows软件可定义各种用户许可，入：倒班人员或实验室准管。在启动时登陆程序 采用布鲁克为纤维含油率应用预先设置的参数进行简单而直观的校准程序Minispec硬件独特的优势由于布鲁克在核磁共振技术具有长期经验，例如：高分辨率NMR、电晶体NMR、核磁共振成像（MRI）以及TD-NMR，我们的开发团队可为Minispec增加独特特色。提供最稳定磁体设计达到最佳性能-得到可靠地结果Robust无线电频率组成以及数字电子元件Minispec单元密封关闭，电子版不受灰尘影响。因为保证了Minispec及时在脏的环境里仍然长期保持相当稳定的操作Minispec基本无需进行维护高敏度设计为适应纺织工业趋向于生产低水平含油量产品的要求，Minispecmq-系列仪器在设计上显著增加一起的灵敏度，高灵敏度设计具有以下优势：即使最低的纤维含油浓度也可以分析最高的结果稳定性/最好的再现性对不同种类样品，系统总会特别适合Minispec仪器自动操作100多个那个品可自动装入可选的样品换样器。所有样品分析仅需轻轻点击鼠标即可开始。添加条形读码器即可跟踪样品轨迹。结果自动储存在数据库中并显示在清晰排列的表格中。

双探针扫描电子显微镜是一种将形貌表征技术（扫描电子显微镜）与电学测试技术（双探针电学测量系统）结合在一起的测试系统。双探针扫描电镜主要包括真空系统、电子光学系统、样品台和探针系统等四个组成部分，如图1所示。其中真空系统用于提供样品形貌表征和测试所需的真空环境，电子光学系统用于扫描电子成像，样品台可以提供特定的样品取向和温度控制，而探针系统可以提供样品电学测试所需的电极并且能够精确位移。通过以上各部分的精确配合可以实现低维纳米结构与微纳器件特性的局域物性测量。 图1 双探针扫描电子显微镜系统的示意图近年来，随着人们对低维材料光电特性研究的深入，对测试系统的成像分辨率、测量精度、温度变化、外场激发等条件要求越来越高。同时，该设备由于自身局限性以及部件老化问题，存在一些应用上的不足：1）电子光学系统的物镜直径达100mm，而工作距离只有0-20mm，因此探针竖直方向移动的空间十分有限，如图4所示；2）由于扩散泵的效率较低，而且工作寿命已达极限，因此腔体的真空度已经不能满足测量场发射等特性所需的真空条件；3）缺少研究材料光电特性的有效手段，而光电特性分析是研究材料的带隙特征的有效手段。技术创新完成后能够解决的具体科研问题及其意义改造后的双探针扫描电子显微镜系统可以解决原系统中高精度局域测量存在的诸多问题，具体可分为以下几个方面：（1）解决原系统成像分辨率低、对导电能力低的材料成像质量差的问题。宽带隙材料由于具有较高的击穿电压，电子饱和速率高等，是制备各种高功率、高频器件的理想材料。但是宽带隙材料的导电能力差，特别是对于纳米尺寸的材料，在电镜下的观察和定位较为困难。而且此系统组装年限较长，成像质量有所下降，对宽带隙材料的观察更为困难。通过改进电子光学系统可以有效提高对宽带隙材料的成像质量，有助于电学测试的定位。（2）解决原系统中探针定位精度低、可操控性差的问题。原系统物镜直径为100mm，而工作距离仅为0-20mm，电子光学系统物镜与样品之间空间较小，因此外加探针或者光路只能以接近水平方向靠近样品表面，样品的定位以及探针自由移动均受到非常大的限制。改造后的系统采用较小直径和较长焦距的物镜，样品上方空间增大，探针和光路能够以较小角度达到样品表面，增加了操作的自由度。同时新的探针系统位移精度增加，有助于低维纳米材料电学特性的测量。（3）引入新的光源后此系统可用于材料光电特性的测量，弥补了电子能带表征手段的不足。在半导体光谱的研究中，利用光激发的电子行为可以很好的表征材料的电子能带结构，因此引入激励光源可以更加有效的表征半导体材料电子能带的特征。同时，对于半导体晶体材料，不同晶面往往具有不同的光学和电学特性。利用探针的精确定位能力，可以研究微米乃至纳米尺寸半导体材料不同晶面的光电特性，避免了生长大面积晶体的技术困难。成果及应用领域 本项目通过对原系统的改造，提高了系统的成像分辨率、真空度和探针的精确定位能力，增大了探针移动的自由度，增添了激励光源，可以为纳米尺寸低维材料的场发射器件、光敏器件、能源器件等的物性测量提供服务。系统新功能的开发将会为固态量子、超导、纳米、表面、光学、半导体等多个领域中研究的开展起到重要的支撑与促进作用。

KSV NIMA 布鲁斯特角显微镜KSV NIMA Brewster Angle Microscope布鲁斯特角显微镜（ BAM） 能够在气液界面上对Langmuir单分子层或吸附膜进行可视化观察。与Langmuir槽联用能够研究：单分子层/薄膜行为它能够观察相变、相分离、域的尺寸、形状和堆积行为。单分子层/薄膜均匀性结合KSV NIMA L＆LB槽，能够在已知表面压下，对压缩和扩张过程进行观察。亚相条件对膜结构的影响在不同盐浓度、pH和温度等亚相条件下，能够对单分子层/薄膜的行为和构建进行观察与研究。监测表面反应可以实时跟踪光化学反应、聚合反应、酶动力学反应等表面反应。监测和检测表面活性物质例如蛋白质吸附和纳米颗粒浮选。布鲁斯特角显微镜主要设计用于气液界面的研究，但在某些条件下也可用于如空气-玻璃等其他的界面。工作原理布鲁斯特角显微镜是利用当P偏振光入射到空气-水界面时，在某一特定的入射角下不会发生反射的全反射原理来设计的。发生全反射的这个角度，即布鲁斯特角，由斯涅耳（Snell）定律确定，并依赖于系统中材料的折射率。斯涅耳定律：tan α = n2 / n1其中，α为布鲁斯特角，单位为弧度。n1为空气的折射率（≈1）和n2为水的折射率（≈1.33）。气液界面的布鲁斯特角约为53°。在此角度下，由于没有光被反射，所以纯水表面的图像是黑色的。物质加入到气液界面上会改变本体的折射率，从而使少量的光被反射并显示在图像中。图像中不同亮度的区域由特定的分子和整个采样区域的堆积密度来决定。产品线KSV NIMA提供两种不同类型的布鲁斯特角显微镜，高级型KSV NIMA布鲁斯特角显微镜和紧凑型KSV NIMA小型布鲁斯特角显微镜。KSV NIMA布鲁斯特角显微镜KSV NIMA 布鲁斯特角显微镜代表了最新的BAM仪器，具有极高的分辨率，可对单分子层完全聚焦并实时成像，图像完全不失真。精确马达带动的升降装置能够准确定位并聚焦气液界面，附带的自动垂直定位装置可实时跟踪液面水平度的变化，KSV NIMA BAM所集成的主动防震系统可消除由环境（如空调，人流）造成的扰动。高性能的照相机和专用的校准算法能够对反射率进行定量测量，从而监测吸附动力学或厚度的变化。KSV NIMA布鲁斯特角显微镜配备的马达分析装置可以监控长范围内单分子层分子取向信息。软件提供先进全面的图像分析与处理功能。KSV NIMA布鲁斯特角显微镜可以和Langmuir槽联用来控制单分子层的堆积密度并记录表面压值。最常见的推荐配置是KSVNIMA Langmuir大型槽和Langmuir-Blodgett大型沉积槽。产品特点：● 极好的分辨率（2 um）和成像质量。布鲁斯特角显微镜领域最高的横向分辨率独特的完全聚焦和在20-35fps像速下不失真的实时成像。● 样品实时可视化观察● 易于集成到KSV NIMA Langmuir＆Langmuir-Blodgett大型槽● 先进的图像分析和处理能力，例如能够简单地选择区域来得到它们的尺寸● 可调的入射角度（52-57°），能够测量常见的电介质固体基材，如玻璃或石英● 由于电动机控制分析装置的存在，能够对各向异性层进行成像● 实时在线、自动扣除背景● 可提供远程桌面控制技术支持KSV NIMA小型布鲁斯特角和KSV NIMA独立式小型布鲁斯特角显微镜KSV NIMA 小型布鲁斯特角显微镜和KSV NIMA 独立式小型布鲁斯特角显微镜是研究气液界面上单分子层的简单易用的入门级非侵入式成像工具。出色的成像质量和良好的横向分辨率，使它们成为观察膜参数（如：压缩薄膜的均匀性、域的尺寸、形状和堆积行为）的理想工具，而实时观察和记录膜结构的变化可捕获其动态行为信息。KSV NIMA 小型布鲁斯特角显微镜和KSV NIMA 独立式小型布鲁斯特角显微镜能够和大多数KSV NIMA Langmuir和Langmuir-Blodgett槽联用，比如中型、大型和高压缩比型槽均可，从而自动获取成像与时间的关系。无论是马达控制（KSV NIMA 小型布鲁斯特角显微镜），还是手动调整（KSV NIMA独立式小型布鲁斯特角显微镜），这两款仪器都很容易对测量头高度进行调节，同时为了安全考虑，这两款仪器都具备控制BAM激光的安全钥匙互锁功能。KSV NIMA独立式小型布鲁斯特角显微镜也可以和其他制造商生产的Langmuir和LB膜槽，以及自由独立的样品烧杯联用。KSV NIMA独立式小型布鲁斯特角显微镜直接通过USB数据线与电脑连接，安装方便，简单易用。KSV NIMA 小型布鲁斯特角显微镜和KSV NIMA 独立式小型布鲁斯特角显微镜产品特点：● 分辨率（12um）适用于大多数应用● 捕获和保存单分子层的静止图像和实时视频画面● 设计紧凑，占地面积小● 操作简单直观● 已包含成像和控制软件● 用台式机或笔记本均可进行操作（Windows XP 到Win 7）● 兼容大多数Langmuir槽和Langmuir-Blodgett槽● 可作为一个独立的仪器使用

品牌：卡尔蔡司型号：Axio Observer A1m制造商：德国卡尔蔡司公司经销商：北京普瑞赛司仪器有限公司ZEISS一百多年的骄人历史从发明世界上首台显微镜开始。一个世纪后的今天，ZEISS仍致力于为用户研发最具创造力的显微镜系列产品。通过我们不断改进的显微技术，我们正在为全世界的用户开拓一条探索微观世界的道路。今天的显微镜与以往相比，它们的成像质量更好、效率更高、机械性能更加稳定，并且更加环保。 总体描述：金相学主要指借助光学（金相）显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支，既包含材料显微组织的成像及其 定性、定量表征，亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒（亦包括可能存在的亚晶）、非金属夹杂物乃至某 些晶体缺陷（例如位错）的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排布状态等。金相学的兴起给金属材料研究带来了历史性的变革，而蔡司长久以来一直致力于金相显微镜的研发与应用，并将金相学的科研水平推向一个又一个高点。 巅峰巨献—Axio Observer 3m， 2015年11月面世。Axio observer 3m是卡尔蔡司成功的Axio Observer A1m机型的完美升级，Axio Observer A1m她将CARLZEISS所特有的高质量成像与优越的机械稳定性完美结合。Axio Observer 3m 无论是成像质量、操作舒适性，还是机械稳定性方面匀改写了世界倒置式研究级显微镜的新标准。每个细节都符合材料领域特殊的光学要求。她以最尖端的光学技术和最完美的制造工艺延续着卡尔?蔡司成功的传奇故事！ 产品特点：1、采用世界上最优秀的无限远双重色彩校正及反差增强型（ICCS）光学系统，为用户提供最锐利的图像。2、6位功能观察转盘，为您提供最高的升级空间。3、6孔明暗场物镜转盘，开创倒置式显微镜最高标准。4、用最少的时间观察到更多的样品：将样品放在载物台上，聚焦一次，就可以查看所有倍数及样品。 技术参数：光学系统：ICCS光学系统 镜体：FEM设计 ，ACR位置编码 1、ICCS物镜：5X 10X 20X 50X 100X 2、目镜：10X3、物镜转盘：研究级6孔明暗场万能物镜转盘 4、光源：12V100W卤素灯，智能化光路管理器，光强自动可调 5、光学附件：目镜测微尺，台尺，各种滤色片，全干涉仪（选配） 6、数字化平台：可配图像分析系统(数码相机、摄像头、图像分析软件) 7、可配热台（用于高温金相分析） 8、可配自动扫描台9、可配激光共聚焦附件（蔡司独有技术）

AFM5500M II全自动扫描探针显微镜除了配置高精度平板扫描器和各种测量自动化功能，还有两种共享坐标样品台功能。通过多种设备的关联解析，实现了单个设备无法实现的多维缺陷评价和故障解析。主要特点1. AFM自动化测量&bull 通过自动化控制大大提高效率，自动探针安装，自动光轴调整，自动参数优化；&bull 排除人为操作失误导致的测量误差，一键自动测量/处理/分析（提高整体测试效率）2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 ：硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构)* 使用AFM5100N（开环控制）时 3. 利用探针评价功能进行探针尖端直径管理4. SIS模式可有效提高数据可靠性SIS（Sampling Intelligent Scan）样品智能扫描模式只有在需要测量样品形貌和物性信息时才靠近测量点，自动控制探针位置，完全消除对测量不利的水平力，可测量吸附力较大或粗糙的样品，同时可大幅降低对探针的磨损和对样品的损伤，有效提高数据的可靠性。5. 支持机械物性/电磁物性等广泛的物性测量扫描探针显微镜是一种不仅可以测量形貌，还支持各种物性检测的显微镜。AFM5500MⅡ支持可同时获取弹性模量、形变、吸附力和摩擦力等各种机械物性的SIS-ACCESS/SIS-QuantiMech功能、以及导电性、压电分布和表面电位等各种电磁物性测量。6. 新的表面电位势测量模式 AM-KFM/FM-KFM（可用于定量和灵敏度等不同场景）除调幅开尔文力显微镜(AM-KFM)外，AFM5500MⅡ还新增了调频开尔文力显微镜(FM-KFM)。FM-KFM与AM-KFM相比，信号主要来自于探针的尖端，电位检测灵敏度更高，在电位的定量分析上更胜一筹。AM-KFM适用于单一材料间的电位和功函数对比等，FM-KFM适用于测量需要进行精细周期结构和海岛结构量化的复合材料，两种模式通过点击即可自由切换。7. 使用AFM、SEM、CSI等不同显微镜观察同一位置，实现多维度解析通过SEM、AFM、CSI等进行样品的同一位置测试，可以对目标视野进行多维度解析，实现数据的参照对比。日立高新可以提供特有的SEM/AFM/CSI同视野观察，实现联动分析。使用共享样品台进行坐标联动，或通过全新的AFM标记功能，可以在AFM、SEM、CSI之间快速、轻松地锁定同一视野，进一步扩大了联动分析的应用范围。

蔡司钨灯丝扫描电镜EVO MA 15的问世，将钨灯丝扫描电镜的发展带入了全新的时代，超大样品室为各类繁杂的样品以及繁重的工作提供了轻松的解决方案，自动化的5轴样品台和大的X、Y、Z轴跟踪扫描以及可变压力的检测模式使得EVO MA 15能够广泛适用于各类样品的检测工作，EVO MA 15作为一款研究级扫描电镜能够为您提供最完美的视觉图像和最广泛的应用领域。【技术参数】分辨率：3.0nm@ 30KV(SE and W) 4.0nm@ 30KV(VP with BSD) 加速电压：0.2—30KV 放大倍数：5—1000000x 探针电流：0.5PA-5μA X-射线分析工作距离：8.5mm 35度接收角 压力范围：10—400Pa (LS15:环扫模式10-3000Pa)工作室：365mm(φ)×275mm(h) 5轴优中心自动样品台：X=125mm Y=125mm Z=50mm T=-10°- 90°°R=360° 最大试样高度：145mm，最大试样直径：250mm 系统控制：基于Windows 7 的SmartSEM操作系统【主要特点】能在可变压力下操作 先进X射线和EBSD分析 可移动大平台 快抽真空 未来的保证，可升级在高压和水蒸气下成像和分析 高亮度LaB6资源选择 光线套选择扫描电镜(SEM)广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析，各种材料的形貌组织观察，材料断口分析和失效分析，材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体、晶粒的相鉴定，晶粒尺寸、形状分析，晶体、晶粒取向测量。

总体描述：金相学主要指借助光学（金相）显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支，既包含材料显微组织的成像及其 定性、定量表征，亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒（亦包括可能存在的亚晶）、非金属夹杂物乃至某 些晶体缺陷（例如位错）的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排布状态等。金相学的兴起给金属材料研究带来了历史性的变革，而蔡司长久以来一直致力于金相显微镜的研发与应用，并将金相学的科研水平推向一个又一个高点。巅峰巨献—Axio Observer 3m， 2015年11月面世。Axio observer 3m是卡尔蔡司成功的Axio Observer A1m机型的完美升级，Axio Observer A1m她将CARLZEISS所特有的高质量成像与优越的机械稳定性完美结合。Axio Observer 3m 无论是成像质量、操作舒适性，还是机械稳定性方面匀改写了世界倒置式研究级显微镜的新标准。每个细节都符合材料领域特殊的光学要求。她以最尖端的光学技术和最完美的制造工艺延续着卡尔蔡司成功的传奇故事！产品特点：1、采用世界上最优秀的无限远双重色彩校正及反差增强型（ICCS）光学系统，为用户提供最锐利的图像。2、6位功能观察转盘，为您提供最高的升级空间。3、6孔明暗场物镜转盘，开创倒置式显微镜最高标准。4、用最少的时间观察到更多的样品：将样品放在载物台上，聚焦一次，就可以查看所有倍数及样品。技术参数：光学系统：ICCS光学系统 镜体：FEM设计 ，ACR位置编码 1、ICCS物镜：5X 10X 20X 50X 100X 2、目镜：10X3、物镜转盘：研究级6孔明暗场万能物镜转盘 4、光源：12V100W卤素灯，智能化光路管理器，光强自动可调 5、光学附件：目镜测微尺，台尺，各种滤色片，全干涉仪（选配） 6、数字化平台：可配图像分析系统(数码相机、摄像头、图像分析软件) 7、可配热台（用于高温金相分析） 8、可配自动扫描台9、可配激光共聚焦附件（蔡司独有技术）

产品简介：SKYSCAN 2214是布鲁克推出的新纳米断层扫描系统，是显微CT技术领域的先行者，在为用户带来了终级分辨率的同时,提供非常好的用户体验。SKYSCAN 2214 的每个组件都融入的新的技术，使其成为当今市场上性能很强、适用性很广的系统。产品参数：特征参数优势X射线源20-160千瓦，最大16W用户可自行更换的灯丝经过优化可实现最大能量(W)或最高分辨率(LaB6)可旋转的全刚石窗口能达到最长使用寿命X射线探测器6Mp有效像素的平板探测器16Mp大尺寸CMOS相机16Mp中尺寸CMOS相机15Mp高分辨率CMOS相机不同的像素大小和探测器尺寸，方便在探测器分辨率、覆盖范围和计数统计之问进行平可提供1、2、3或4个探测器允许现场升级以增加探测器图像格式单次扫描后高达 8000x8000x2300像素由于允许用户选择图片尺寸，使得可以平衡数据集大小和所需的分辨率，软件可对收集到的数据进行精简空间分辨率60 nm 最小像素尺寸500 nm 低对比度分辨率(10% MTF)简单的图形化控制，使得可以根据选择的探测器、样品和探测器距离优化实验分辨率，调节光源的焦斑尺寸，以平衡最大功率和分辨率定位精度旋转精度优于50 nm，配有气动调整的防震花岗岩平台空气县浮式样品台使得样品台可以顺畅地旋转样品台可以采用简单的卡盘安装方式机械和电气接口使其可以用作先进材料研究平台最大物体尺寸直径 300 mm(140 mm扫描尺寸)长度400 mm物体最大重量 20 k具备扫描大尺寸样品的能量和空间小样品可被精准地定位到光源附近，以实现最大限度的放大尺寸1800 mmx950 mmx1680 mm(宽x深x高)重量:1500 kg高效的设计可以优化实验室空间的利用大型连锁推拉门方便光源维护产品特点：多用途系统，样品尺寸可达300mm，分辨率（像素尺寸）可达 60 纳米金刚石窗口x射线源，焦斑尺寸500nm创新的探测器模块化设计，可支持 4 个探测器、可现场升级。全球速度很快的 3D 重建软件（InstaRecon）。支持精确的螺旋扫描重建算法。近似免维护的系统，缩短停机时间并降低拥有成本。产品应用：地质、石油、天然气勘探常规和非常规储层全尺寸岩心或感兴趣区的高分辨率成像测量孔隙尺寸和渗透率，颗粒尺寸和形状测量矿物相在3D空间的分布原位动态过程分析聚合物和复合材料以500 nm 的真正的 3D 空间分辨率解析精细结构评估微观结构和孔隙度量化缺陷、局部纤维取向和厚度电池和储能电池和燃料电池的无损 3D 成像缺陷量化正负极极片微观结构分析电池结构随时间变化的动态扫描生命科学以真正的亚微米分辨率解析结构，如软组织、骨细胞和牙本质小管等对骨整合生物材料和高密植体的无伪影成像对生物样品的高分辨率表征，如植物和昆虫

Thermo Scientific™ DXR3 显微拉曼光谱仪拥有一键式拉曼显微技术，为各种工作应用提供优异的灵敏度和空间分辨率。 Thermo Scientific DXR3 显微拉曼光谱仪重释传统显微拉曼光谱仪的概念，使其更加贴合繁忙实验室的需求。 在不牺牲仪器性能的前提下，我们研发出可靠性和可信度高，实用性强的仪器家族。 此外，我们运用革新技术提高快速获取重要信息的能力，解决了实际应用中的难题。 我们将专业技术运用在仪器中，将现实难题的解决方案融入在设计中，并向世界各地提供技术支持。 功能表征和鉴别小颗粒非常适合于颗粒污染物的鉴定对透明和半透明样品进行高分辨深度剖析和次表面分析，非常适合于涂层、多层材料、薄膜、包裹体和次表面的缺陷分析有机和无机样品 — 低至 50cm-1 的宽光谱范围测量特别适合于无机物的表征，因为它们通常在低频谱带有振动峰分子形态表征 —比较典型的为碳和硅的分子骨架表征，利用拉曼光谱可以非常有效地鉴别药物和矿物的各种晶型，区分硅的结晶态和无定型态，以及表征各种碳纳米材料表面区域和横切面的表征可以借助于于 x-y 轴拉曼成像和 x-z 轴拉曼成像透过玻璃和塑料包装进行测量 — 允许直接透过证据袋、安瓿瓶和防护涂层进行测量使用光纤探针可以对样品仓无法容纳的大样品进行远程取样仪器上的 GO（执行）按钮可提供一键式操作所有数据收集、处理和生成报告步骤都可通过GO存储，因此用户在显微镜下置入样品后，只需一个按钮就可以自动生成报告，无需在计算机上进行操作支持表面增强拉曼 (SERS) 测量激光器、滤光片和光栅等智能模块都属于用户可自行更换的部件，而且还可以与其他 DXR 仪器共享激光安全性显微镜为一级激光安全认证。 （注： 光纤附件和一些其他的附件为3B 级激光装置，需要激光防范措施和激光安全护目镜。）观察时，激光被护目镜物理阻挡在视径外，以防止眼睛直接暴露于激光。验证备有 DQ/IQ/OQ/PQ 验证包，包括各种验证文档和自动化软件协议Omnic D/S 软件符合 CFR 21 Part 11 规范卓越的性能空间分辨率——样品的理想空间分辨率可以优于 540nm 纵向分辨率——样品的理想纵向分辨率可以优于 1.7μm通过对 CCD 的单次曝光即可获取 3500-50cm-1 的光谱范围，避免接谱产生的赝谱。 采用532nm激发，扩展光谱范围可达 6,000cm-1 支持多个激光器。 532nm、633nm 和 780nm针对所有激发波长的自动荧光校正功能研究级 Olympus 光学显微镜自动强度校正功能使不同仪器和不同激发波长的拉曼光谱具有可比性多点波长校准功能为全谱范围的波长提供精确的校准专利的三重光学光谱仪设计提供完美峰形并保证所有波长的高共焦通过软件控制共聚焦和高性能光谱采集模式之间的自由切换专利的宇宙射线自动扣除功能和高质量激光线滤光片确保获取无赝谱的光谱去偏振的激光激发可避免样品取向效应所带来的光谱偏差激光功率调节器能对激光功率实时监控，确保在激光器的使用寿命期间，甚至在更换激光器后激光能量的重复性针对每个激发波长优化光栅，避免多个激发波长共用一块光栅所带来的性能牺牲专利的自动准直功能确保仪器性能的日日如新专利的智能背景自动扣除功能消除了 CCD 暗电流对光谱图的影响。推荐用途：司法鉴定 — 痕迹物证和违禁药物鉴定制药行业 — 多晶型、颗粒污染物和扩散研究艺术品修复/保存 — 鉴别和表征颜料、树脂、釉彩以及油墨考古学 — 表征角质物、贝壳、骨头和陶瓷仿制品太阳能 — 硅结晶度；光伏材料的表征聚合物 — 包裹体和凝胶缺陷、风化作用、层压材料连接层以及结晶度故障分析 — 界面颗粒和微区表征。宝石学 — 彩色宝石的快速 鉴定，区分天然和合成钻石、表征包裹体和掺杂物纳米技术 — 表征石墨烯、碳纳米管、DLC 涂层和其他纳米结构学术研究 — 在材料科学、生物学研究和许多应用研究领域特别有用