相对光谱能量分布

实验室的FT-IR是Nicolet iS50，现在参考JJF 1319-2011对设备进行期间核查。对于本底光谱能量分布这一项不是很明白，请问各位如何计算？谢谢。

本人未接触过凝胶色谱及GPC软件，日前在看标准GB/T 22494-2008附录A中肽相对分子质量分布的测定方法中提到，要具备液相色谱（配有紫外检测器和含有GPC数据处理软件的色谱工作站）本人问题：标准中所谓的“GPC数据处理软件的色谱工作站”与我们购买仪器常配的色谱工作站有什么不一样吗？我们单位有waters和热电的液相，基本都是标配，以前没听说什么GPC软件的（PS：GPC净化分离的仪器就听过）

参考书上说，八级杆中用纯氦气碰撞模式可以减少反应池气体和分析物之间的副反应的发生，这样就可以利用屏蔽炬系统传递分布范围窄的离子能量。——————————————————————————1.屏蔽系统是指炬管外层的屏蔽圈吗？2.如果上述正确的话～～按照样品测试流程，屏蔽在碰撞池前，如何理解屏蔽系统传递分布范围窄的离子能量？3.对碰撞池，势能垒对不同元素设置的应该不一样，实际测量时如何动态设置呢？

本人已有一个实验室，里面布有20个气体A浓度探测器，气体A的泄漏口开在墙上，之前已经研究过定温度、定湿度情况下气体A的扩散和浓度分布情况，现在希望将室内相对湿度控制在几个值上（比如30%，50%，70%左右），研究相对湿度对气体A的扩散和浓度分布的影响。 现在面临的困难如下：1）. 如何将室内相对湿度保持稳定？ 室内有空调和加湿器2）.温湿度传感器应如何布置？ 布置在气体A泄露口近端还是远端，亦或是均匀布置？ 本人研一学生，所研究课题资料较少，能够参考的文献更少，希望各位能帮帮小弟，在这先谢谢各位了! 如果哪位有相关资料，希望指点迷津！

JJG 685-1990 光电探测器相对光谱响应度检定规程[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=87197]JJG 685-1990 光电探测器相对光谱响应度检定规程[/url]

在网上看到一个图这个图是出现在一个讲光谱仪器概念的文章里，整段话如下LuminosityLuminosity is a measure of the 'light-collecting power' of a spectrometer. In an ideal instrument, it depends on the product of the area of the entrance slit and the solid angle subtended by the dispersing element (e.g. by the diffraction grating). It is assumed that all other elements in the spectrometer, e.g. lenses and detectors, are made large enough so as not to reduce the luminosity.In real spectrometers, the number and quality of optical components can have a dramatic effect on luminosity. The table below compares the effect on luminosity of the optical components in an Echelle grating spectrometer and a Czerny Turner monochromator in both the Visible (VIS) and ultraviolet (UV):[center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/02/200902262130_135664_1786353_3.gif[/img][/center]里面的数字代表此种光学元件的数量注：这个表是基于中阶梯光栅光谱仪，光路是C-T型的，如下图[center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/02/200902262142_135666_1786353_3.gif[/img][/center]其中：Echelle 表示中阶梯光栅Czerny Turner 表示光路类型是C-T型Grating：光栅Cross Dispers，不知道是什么Mirror，反射镜Prism：棱镜，有些仪器采用双单色器，棱镜预分光Lens：透镜Filter：滤光片Energy Through put (%) ：假设入射光束能量100%,这里的值就是最后出单色器的光能量。Light Loss % Factors，给出了每个光学元件对光能量的衰减

求论文：浅海中声能量分布的不均匀性对潜艇辐射噪声测量的影响研究

光谱仪简单说来就是通过光栅等分光器件，将光线按不同波长进行分离，形成按波长划分的光线能量分布。光谱仪用于纯光学特性分析，只需要测量和输出被测源的相对光谱能量分布。单色仪和光谱仪其实是一样的，只是根据使用目的不同而有不同的名称。摄谱仪只是在光谱基础上加上了感光底片，便于实时获得光谱图像，在现在电脑普及的情况下，图像已经不需要实时打印出来，摄谱仪不具有应用前景，但在地质勘探等领域仍有很大市场。分光光度计是能从含有各种波长的混合光中，将每一种不连续的单色光分离出来，用作采样反射物体或透射物体，并测量其强度的仪器。由于不同物体分子的结构不同，对不同波长光线的吸收能力也不同，因此，每种物体都具有特定的吸收光谱。可见，分光光度计实际上是包含光谱仪的系统，是光谱分析的应用，需要测量显示被测源光谱光度参数的绝对值。另外，分光光度计是对不同波长的光线进行扫描，速度比光谱仪要慢很多。这几种仪器其实原理基本相同，只是面向不同的使用范围而已。（来自网络，侵删）

中国科技网讯 据英国广播公司（BBC）1月9日报道，一个国际科研团队通过探测遥远星系发来的光到达地球的旅行中，经过神秘的暗物质时发生的扭曲，绘制出了迄今最大最详细的暗物质分布图，有助于科学家们更好地理解暗物质的性质。 科学界普遍认为，暗物质占据了宇宙85%的质量，而且，暗物质也是让星系之间粘合在一起的“胶水”。因为本身不可见，暗物质的存在通过其对星系产生的引力效应来证明。目前，科学界对暗物质性质的了解都基于计算机模型。 现在，英国爱丁堡大学、牛津大学等科学家组成的科研团队使用加拿大—法国—夏威夷望远镜，确定了位于天空四个不同地方的、相互之间距离超过10亿光年的1000多万个星系之间的暗物质团，绘制出了这幅暗物质分布图。最新研究标志着人类朝着理解暗物质本身以及暗物质如何让普通物质簇拥在一起形成我们在夜空中看到的星系迈近了一大步。 爱丁堡大学的凯瑟琳·海曼斯解释道：“爱因斯坦的广义相对论告诉我们，物质会让时间和空间弯曲，因此，当光通过宇宙朝我们而来时，如果它通过某些暗物质，光会被弯曲，我们在图上会看到这种扭曲。”加拿大英属哥伦比亚大学的天文学家路德维·冯·瓦伯克教授在美国天文学会（AAS）的年度大会上表示：“利用时空扭曲来‘看见’暗物质非常令人惊喜。目前，使用其他方法无法观察到暗物质。知道暗物质如何分布是理解其属性以及如何将其纳入我们目前的物理学知识体系中的第一步。” 最新绘制出的图片是之前科学家们绘制出的最大暗物质图的100多倍，以前的图片由哈勃望远镜的宇宙演化调查实验得到，而且，新图片同暗物质理论预测到的情况几乎一模一样。 海曼斯指出：“暗物质理论告诉我们，暗物质会形成一个巨大的错综复杂的宇宙网，我们看到的正是如此，一个宇宙网包含了我们能够看到的星系。”不过，海曼斯也承认，还有很多工作要做，“老实说，我们并不知道暗物质粒子是什么，也不知道暗能量来自何处。不过，科学界普遍认为，我们对‘暗宇宙’的最终理解将会引出很多新的物理学理论，这将永远改变我们的世界观。”（刘霞） 《科技日报》（2012-1-11 二版）

在有些波段基线比较差，怀疑是等的能量不足，请问要如何看灯光强在各个波段的值？

[b][color=#cc0000]　　自吸收对光谱分析影响：使谱线中心强度减弱。自吸严重的情况下，谱线中央消失，形成双线，称为“自蚀”。自吸最强的谱线称为自蚀线。　　自吸收：由发射体向外辐射的谱线为其自身的原子所吸收，而使谱线中心强度减弱的现象。处于基态的原子，受外界能量激发时，能产生一定波长的特征谱线，同样，它也能吸收这些特征谱线。当谱线由光源发光区域的中心轴辐射出来时，将通过周围空间一段路程，然后向四周空间发射，但因发光层四周的温度较中心温度低，故外围原子多数处于基态或低能态，因而产生自吸收。[/color][/b]

[color=#444444]想要测定稠油中正构烷烃的分布和相对含量，不知该如何制备样品？ 急求哪位大神指点一下！万分感谢 ！[/color][color=#444444]我使用的是安捷伦的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url] 色谱柱为50m的KB-1.[/color]

55．O 53．0 56．O 53．0． 52．0 55．0 53．O 55．O 56．0 52．0 51．0 51．0 52．0 52．0 52．0 52．0 53．0 54．6 52．4 50．2 53．4 52．3 51．O 48．8 48．O 48．6 56．0 56．0 60．0 60．O 52．0 52．0 56．O 51．0 53．O 47．0 51．O 49．O 54．O 50．O 52．0 51．O 50．O 47．0 55．0 53．O 48．0 51．O 51．0 52．O 53．0 53．0 55．O 60．O 52．6 53．6 54．5 54．2 55．3 54．9 54．9 54．3 54．1 52．1 53．7 54．4 53．0 52．6 52．2 52．4 52．8 50．O 50．O 49．0 49．5 50．5 50．5 50．5 49．0 50．O 50．5 49．0 49．O 49．5 54．O 50．O 50．O 48．O 52．5 50．5 50．0 51．O 51．O 52．0 54．O 54．0 56．O 54．O 52．0 52．0 59．O 57．O 52．0 55．O 56．O 52．O 53．O 57．O 54．0 55．0 52．0 52．0 52．0 55．0 52．O 55．O 52．O 52．O 55．0 52．0 52．0 52．0 59．0 48．0 52．0 54．0 62．O 54．O 60．0 63．O 50．0 56．4 48．0 56．4 56．4 59．O 59．O 53．O 49．O 47．O 46．0 57．O 55．0 55．O 55．O 55．O 50．O 52．0 52．O 52．O 55．O 57．5 52．5 54．5 52．8 53．8 55．5 54．2 55．2 54．2 54．0 53．3 　 　 　 　 　 　 表4．7频数分布表 分组 频数 相对频数 分组 频数 相对频数 45．05～47．05 4 0．025 55．05～57．05 16 0．099 47．05～49．05 13 0．080 57．05～59．05 5 0．0 31 49．05～51．05 28 0．173 59．05～61．05 4 0．025 51．05～53．05 50 0．308 61．05～63．05 2 0．012 53．05～55．05 40 0．247 和 162 1．000 从表4•7中可以看出测量值的波动规律。为更直观起见，以横坐标表示测量值的大小，标出分组的点；以纵坐标表示频数，画出一个个矩形，这个图称为频数分布直方图(见图4．2)。频数与总的测定次数之比称为相对频数，同样可以作出相对频数分布直方图(见图4．3)。 47．05 51．05 55．05 59．05 63 05 图4．2频数分布直方图0 3000．200O 100 47．05 51 05 55．05 59．05 63 05图4．3相对频数分布直方图 从所列数据表中可以看出，表面上各个测量值的出现似乎是杂乱无章的，其实从直方图中可以发觉它们的出现还是有规律可循的。首先这些数据有明显的集中趋势，即它们集中于平均值52．3附近；其次各测量值相对于平均值而言，偏差大小相等、符号相反的测量值出现的次数大体相等；另外偏差小的测量值出现的次数要远比偏差大的测量值出现次数为多。当测定次数进一步增加，组分得更细的时候，各组相对频数趋向一个稳定值，相对频数分布直方图逐渐趋于一条曲线。这条钟形曲线就是正态分布曲线，该曲线的函数形式如式(4．4)所示。 如用一个量r来描述试验的结果，由于}取什么值不能预先断言，而是随试验结果的不同而变化的，则称r为随机变量。 记P{r

对于入射X射线 （待测元素特征射线）：1.其能量大小通过脉冲高度或幅度来表征，脉冲高度正比于入射光子能量～～这个我基本能理解啦。2.进入探测器的光子变化率和探测到的脉冲变化率相关～～光子变化率是指入射X射线强度，即待测元素特征射线强度吧？3.脉冲高度分布，如何体现特征射线的能量和强度呢？

不同进样方式（分流与无分流）对饱和烃的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url]分布特征及相关地球化学指标的影响 原文：邹宇峥 蔡元明　 岩石抽提物和原油中饱和烃的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url]特征是石油地质和地球化学工作者最为基础的研究依据。但是，无论是提供这些研究依据的实验人员还是应用这些研究依据的地球化学工作者或石油地质工作人员普遍地会忽视[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url]不同进样方式（分流与无分流，以及分流时的不同分流比）对饱和烃[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url]分布特征及相关地化指标的影响。本文通过对饱和烃系列标样（nC9、nC11、nC13、nC15、nC17、nC19、nC21、nC23、nC25、nC28、nC30）和典型的实际饱和烃样品在不同进样方式下的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url]分布特征及相关地化指标的研究，得到以下结论：① 不同进样方式对饱和烃[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url]分布特征的影响是显著的。这主要表现在分流方式下饱和烃中低碳数正构烷烃轻组分不同程度的丧失，即所谓的“歧视现象”，使色谱分布形态完全改变，甚至包括主峰碳的改变；② 正构烷烃标样的结果：如果假定无分流方式下，所有样品全部进入到毛细色谱柱中。并以它为标准，以碳数作为横坐标，分流方式下各种不同分流比实验所得到的不同碳数饱和烃的含量都与无分流方式实验的对应碳数的含量相比所得到的比值作为纵坐标（图1），可以看到：分流比越大，所得到的轻组分相对含量越低，从而导致重组分含量的相对增加；如果均以最大碳数为标准，对数据进一步归一化处理，其差别将会更显著地表现出来（图2）：分流比越大的曲线越远离无分流方式的直线；③ 实际样品的结果：与正构烷烃标样的结果几乎一样，只是低碳数区域有反常现象（图3、图4）。可能的原因：在实际样品中，低碳数正构烷烃的含量很低，瞬间汽化所造成的“歧视现象”不仅与宽沸程样品中各组分的沸点有关，还与各组分的实际含量有关。即，高含量轻组分将优先被“歧视” ，低含量轻组分的“歧视现象”不如高含量轻组分的“歧视现象”明显；④ 相关地化指标的影响：Pr/Ph值在各种进样方式下的变化不大，相对标准偏差为4.54%。解释：对于沸点相近的组分，“歧视作用”的影响程度也相近。另外，无分流方式下的(ΣnC21-) / (ΣnC21+) 值为4.824， 而分流比为50：1时的(ΣnC21-) / (ΣnC21+) 值为2.287，相差了两倍多，这一影响是决对不能忽视的；⑤ 本文同时也做了特大分流比（100：1、200：1）的实验，在如此大的分流下，其实验数据与无分流方式相比，无上述规律可寻，有很大的随机性。解释：在进样体积相同的情况下，采用特大分流比时，进入到色谱柱中的样品只有原来的一百分之一和二百分之一，瞬间汽化所造成的样品不均一性的可能性极大，进入到色谱柱中的样品已经完全和实际样品的真实组成大相径廷；因此，数据提供者应尽量避免使用特大分流比做色谱实验，最好使用无分流进样方式。研究者在利用[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url]数据时，首先必须注意到色谱所采用的分流方式。不同进样方式下，色谱数据的某些地化指标，如(ΣnC21-) / (Σn C21+)，是没有可比性的，绝对不可以混用。而对于另外一些地化指标，由于与指标相关的各组分的沸点相近，由不同进样方式导致的“歧视作用”程度接近，进样方式对这些指标的影响是可以忽略的。同时建议新的饱和烃[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url]国标方法应该对分流比进行统一规定，最好统一规定使用无分流进样方式，以便使[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url]数据具有广泛的可比性。图1 系列正构烷烃标样在各种大小不同分流比时的各组分含量与 无分流进样方式对应碳数含量的相对值对比图（SP代表无分流）图2 系列正构烷烃标样在各种大小不同分流比时各组分含量与 无分流进样方式对应碳数含量的归一化后的相对值对比图（SP代表无分流） 图3 某实际饱和烃样品中的正构烷烃在各种大小不同分流比时各组分含量与 无分流进样方式对应碳数含量的相对值对比图（SP代表无分流） 图4 某实际饱和烃样品中的正构烷烃在各种大小不同分流比时各组分含量与 无分流进样方式对应碳数含量的归一化后的相对值对比图（SP代表无分流） 　 摘录：四海男儿(发表时间：2002-2-5 23:28:13)

如题，每组概念没有放到一起感觉好像明白，一放到一起傻眼啦。以下均引自粱钰教材《X射线荧光光谱分析基础》 脉冲高度分布或脉冲高度分布曲线是进入探测器X射线的脉冲高度值的X射线强度分布----没理解其深层意思。 脉冲高度值和X射线强度：前者是X射线信号幅度（能量）的大小，后者是信号值得多少。脉冲高度分布曲线和定性元素峰：前者是在某2θ角度被衍射的X射线能量分布；后者是在一定的分光条件下，测得样品中元素在各自衍射角多对应的特征荧光X射线的强度分布。

大家好，问个问题，关于拉曼振动相对强度的，某个特定的分子或离子，譬如SO42-,他具有四种振动模式，如何判定这四种振动的相对强度大小，四种振动的频率，几率分布如何？温度，压力，各离子对这四种振动的影响又如何？能否建立一比较具体的算法流程，建立相应的数学模型？数学模型建立好之后是否能对其他想检测的分子都能适用？谢谢！

[b][color=#d40a00][size=4]我国光谱仪所在地域是如何分布的？1. 沿海经济发达地区2. 高科技密集地区3. 轻重工业产业地区4. 钢铁工业生产地区5. 冶金矿产开发地区6. 金属生产加工地区7. 西北、东北、西南、东南地区国外厂商主要抢占的是哪些区域？做个调查，想了解一下我国光谱仪的区域（地域）分布情况。[/size][/color][/b]

今天看Nicolet 380的介绍时讲到，380仪器采用了长寿命空冷红外光源，最高能量分布在1600cm-1附近，是化合物出峰最多的区域。原来我一直认为，光的能量是由光的频率决定的，频率越高，能量越高，而红外光谱是分子中某种振动吸收了某一个频率的光谱而发生跃迁产生的。请问这里的Nicolet说明中讲到的最高能量分布在1600cm-1附近是什么意思？

最近做了个实验发现通过改变积分时间来改变能量对光谱的影响甚微，没达到预期效果。请问改变积分时间来改变能量和直接改变光源能量的差异？

严格地讲，样品中元素含量高的元素才适合做面分布，因为在元素含量低的成分分布图中噪音信号会混在其中造成假相，那么，样品中的元素含量要超过能谱分辨率多少，成分面分布才可信呢？

Nicolet的 红外光谱仪的红外能量值怎么做出来？Nicolet的 红外光谱仪的：看的资料上说“ 设定4cm-1分辨率，扫描次数32次，采集空气本底光谱，分布测量本底光谱中能量最高点波数处本底光谱的能量Emax 和4000cm-1处的能量E4000，计算E4000/ Emax，对照厂家的仪器参数说明，检查其产品是否真实符合检测结果。”不知道怎么做，请知道的人提示下.谢谢

最近有个实验，是测TPU中的分子量和分布。用DMF溶解后，用甲醇析出，但加了很多甲醇，呈乳白色，未见沉淀。请GGJJ帮忙。

[color=#333333]书上说光谱是复色光经光栅或者棱镜散射出的光按波长大小展开，得到光的波长和强度分布的记录，强度分布在哪里能体现?[/color]

孔径（孔隙度）分布测定气体吸附法孔径(孔隙度)分布测定利用的是毛细凝聚现象和体积等效代换的原理，即以被测孔中充满的液氮量等效为孔的体积。吸附理论假设孔的形状为圆柱形管状，从而建立毛细凝聚模型。由毛细凝聚理论可知，在不同的P/P0下，能够发生毛细凝聚的孔径范围是不一样的，随着P/P0值增大，能够发生凝聚的孔半径也随之增大。对应于一定的P/P0值，存在一临界孔半径Rk，半径小于Rk的所有孔皆发生毛细凝聚，液氮在其中填充，大于Rk的孔皆不会发生毛细凝聚，液氮不会在其中填充。临界半径可由凯尔文方程给出了：http://www.app-one.com.cn/images/ps/11.jpgRk称为凯尔文半径，它完全取决于相对压力P/P0。凯尔文公式也可以理解为对于已发生凝聚的孔，当压力低于一定的P/P0时，半径大于Rk的孔中凝聚液将气化并脱附出来。理论和实践表明，当P/P0大于0.4时，毛细凝聚现象才会发生，通过测定出样品在不同P/P0下凝聚氮气量，可绘制出其等温吸脱附曲线，通过不同的理论方法可得出其孔容积和孔径分布曲线。最常用的计算方法是利用BJH理论，通常称之为BJH孔容积和孔径分布。