应用与表征

Styragel色谱柱——用于表征聚合物Styragel色谱柱设计专用于表征聚合物，分为三大系列：用于分析低-中分子量的HR系列，用于高温应用的HT系列，以及用于超高分子量样品的HMW系列。特别控制的聚乙烯二乙烯苯配方，为您的GPC应用提供重现的分析结果。Styragel HR 色谱柱(高分辨)Styragel HR(High Resolution，高分辨)系列色谱柱，专门设计用于低-中分子量样品的分析。色谱柱用坚硬的5μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充，为低分子量样品提供分析所需的最大化分辨率和柱效。Styragel HT 色谱柱(耐高温)Styragel HT(High Temperature，高温)系列色谱柱，专门设计用于中-高分子量范围。色谱柱使用坚硬的10μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充，能够在室温或高温条件下使用而仍保持极佳的分辨率。其所具有的窄的粒径分布，使得柱床结构更稳定，也就是使得Styragel HT柱特别耐用。Styragel HMW 色谱柱(高分子量分析)Styragel HMW(High Molecular Weight，高分子量)系列色谱柱，专门设计用于对剪切力敏感的、超高分子量的聚合物分析。色谱柱使用坚硬的20μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充，而且安装的是特殊设计的大孔径柱筛板，使对聚合物分子的剪切效应最小化。能够在室温或升温条件下使用，有极好的柱寿命。色谱柱规格方面，您可以选择传统的7.8mm内径规格，或者是更节约溶剂的4.6mm内径规格。如前所提的三大Styragel系列柱，均提供4.6mm内径柱；有单一孔径柱，也有混合型柱床柱(E)。使用内径较小的Styragel柱，能够为您节约溶剂消耗及环保处理费用高达2/3。当使用具有低谱带展宽体积的GPC系统时，我们的4.6mm内径柱可媲美7.8mm内径柱的高性能。Styragel 保护柱Styragel 4.6mm id x 30mm保护柱，设计用于提高您的Styragel分析柱的柱寿命。该保护柱能够配合沃特世任一系列的GPC柱使用。色谱柱的选择与优化选择合适的色谱柱，对于优化性能至关重要。为一个分析应用挑选最佳色谱柱的规则非常直接：它只对您希望分离的分子提供分离。不要选择色谱柱的排阻上限值比您希望保留分离的最大分子所需的排阻上限还要大的色谱柱。如果希望测量分子量广泛分布时，使用混合柱床(mixed-bed)或扩展范围(extended-range)色谱柱是恰当的选择，这能够对所有分子量大小提供一致的分离能力。Styragel色谱柱提供混合柱床和窄分子量范围柱床两种规格。混合床色谱柱，用字母“E”来标记代表拓展分子量范围(Extended range)，特别适合作为筛选柱，适用于当您的样品的分子量范围未知、或是要测量的样品具有广泛的分子量分布时的情况。窄分子量范围柱，在更集中的分子量范围内，提供较大的孔容和更高的分辨率，对于要获得更精确分子量的应用是更有力的工具。Styragel HR系列(高分辨)柱的标准曲线图Styragel HT系列(高温柱)的标准曲线图Styragel HMW系列(高分子量柱)的标准曲线图Styragel柱产品规格货号一览表 7.8 x 300mm 4.6 x 300mm色谱柱 分子量范围 部件号 部件号 部件号 部件号 部件号 部件号 （THF） （DMF） （甲苯） （THF） （DMF） （甲苯）Styragel HT2 100-10,000 WAT054475 WAT054480 WAT054476Styragel HT3 500-30,000 WAT044207 WAT044208 WAT044206 WAT045920 WAT045925 WAT045915Styragel HT4 5,000-600,000 WAT044210 WAT044211 WAT044209 WAT045935 WAT045940 WAT045930Styragel HT5 50,000-4×10 6 WAT044213 WAT044214 WAT044212 WAT045950 WAT045955 WAT045945Styragel HT6 200,000-1×10 7 WAT044216 WAT044217 WAT044215 WAT045965 WAT045970 WAT045960Styragel HT6E 5,000-1×10 7 WAT044219 WAT044220 WAT044218 WAT045980 WAT045985 WAT045975Styragel HR0 .5 0-1,000 WAT044231 WAT044232 WAT044230 WAT045835 WAT045840 WAT045830Styragel HR1 100-5,000 WAT044234 WAT044235 WAT044233 WAT045850 WAT045855 WAT045845Styragel HR2 500-20,000 WAT044237 WAT044238 WAT044236 WAT045865 WAT045870 WAT045860Styragel HR3 500-30,000 WAT044222 WAT044223 WAT044221 WAT045880 WAT045885 WAT045875Styragel HR4 5,000-600,000 WAT044225 WAT044226 WAT044224 WAT045895 WAT045900 WAT045890Styragel HR4E 50-100,000 WAT044240 WAT044241 WAT044239 WAT045805 WAT045810 WAT045800Styragel HR5 50,000-4×10 6 WAT054460 WAT054466 WAT054464Styragel HR5E 2,000-4×10 6 WAT044228 WAT044229 WAT044227 WAT045820 WAT045825 WAT045815Styragel HR6 200,000-1×10 7 WAT054468 WAT054474 WAT054470Styragel HMW2 100-10,000 WAT054488 WAT054494 WAT054490Styragel HMW7 500,000-1×10 8 WAT044201 WAT044202 WAT044220 WAT046805 WAT046810 WAT046800Styragel HMW6E 5,000-1×10 7 WAT044204 WAT044205 WAT044203 WAT046820 WAT046825 WAT046815Styragel保护柱 WAT054405 WAT054415 WAT054410脂溶性凝胶柱Styragel分子量范围选择指南脂溶性凝胶柱Styragel柱溶剂选择指南聚合物 GPC溶剂 柱贮存溶剂（Styragel柱）

用于非水相样品的GPC色谱柱 Styragel色谱柱 — 用于表征聚合物Styragel色谱柱设计专用于表征聚合物，分为三大系列：用于分析低-中分子量的HR系列，用于高温应用的HT系列，以及用于超高分子量样品的HMW系列。特别控制的聚乙烯二乙烯苯配方，为您的GPC应用提供重现的分析结果。 Styragel HR 高分辨色谱柱Styragel HR(High Resolution，高分辨)系列色谱柱，专门设计用于低-中分子量样品的分析。色谱柱用坚硬的5μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充，为低分子量样品提供分析所需的最大化分辨率和柱效。 Styragel HT 高温色谱柱Styragel HT(High Temperature，高温)系列色谱柱，专门设计用于中-高分子量范围。色谱柱使用坚硬的10μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充，能够在室温或高温条件下使用而仍保持极佳的分辨率。其所具有的窄的粒径分布，使得柱床结构更稳定，也就是使得Styragel HT柱特别耐用。 Styragel HMW 高分子量色谱柱Styragel HMW(High Molecular Weight，高分子量)系列色谱柱，专门设计用于对剪切力敏感的超高分子量的聚合物分析。色谱柱使用坚硬的20μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充，结合以特殊设计的高孔缝度10μm筛板，使对聚合物分子的剪切效应最小化。能够在室温或高温条件下使用，有极好的柱寿命。 Styragel 保护柱Styragel 4.6mm id x 30mm保护柱，设计用于提高您的Styragel分析柱的柱寿命。该保护柱能够配合沃特世任一系列的脂溶性Styragel GPC柱使用。 订货信息：Styragel柱产品规格货号一览表色谱柱分子量范围7.8 x 300mm4.6 x 300mm*部件号（THF）部件号（DMF）部件号（甲苯）部件号（THF）部件号（DMF）部件号（甲苯）Styragel HT2100-10,000WAT054475WAT054480WAT054476Styragel HT3500-30,000WAT044207WAT044208WAT044206WAT045920WAT045925WAT045915Styragel HT45,000-600,000WAT044210WAT044211WAT044209WAT045935WAT045940WAT045930Styragel HT550,000-4×106WAT044213WAT044214WAT044212WAT045950WAT045955WAT045945Styragel HT6200,000-1×107WAT044216WAT044217WAT044215WAT045965WAT045970WAT045960Styragel HT6E5,000-1×107WAT044219WAT044220WAT044218WAT045980WAT045985WAT045975Styragel HR0.50-1,000WAT044231WAT044232WAT044230WAT045835WAT045840WAT045830Styragel HR1100-5,000WAT044234WAT044235WAT044233WAT045850WAT045855WAT045845Styragel HR2500-20,000WAT044237WAT044238WAT044236WAT045865WAT045870WAT045860Styragel HR3500-30,000WAT044222WAT044223WAT044221WAT045880WAT045885WAT045875Styragel HR45,000-600,000WAT044225WAT044226WAT044224WAT045895WAT045900WAT045890Styragel HR4E50-100,000WAT044240WAT044241WAT044239WAT045805WAT045810WAT045800Styragel HR550,000-4×106WAT054460WAT054466WAT054464———Styragel HR5E2,000-4×106WAT044228WAT044229WAT044227WAT045820WAT045825WAT045815Styragel HR6200,000-1×107WAT054468WAT054474WAT054470———Styragel HMW2100-10,000WAT054488WAT054494WAT054490———Styragel HMW7500,000-1×108WAT044201WAT044202WAT044200WAT046805WAT046810WAT046800Styragel HMW6E5,000-1×107WAT044204WAT044205WAT044203WAT046820WAT046825WAT046815Styragel保护柱—WAT054405WAT054415WAT054410——— *4.6x300mm溶剂节约型Styralgel色谱柱，能够提供与常规7.8x300mm Styragel色谱柱相同的高分辨能力，同时具有减少三分之二有机溶剂消耗的优点。注意！因所使用流速较低，对色谱系统的溶剂输送能力要求较高(精密度与稳定性)。

泰州石墨烯研究检测平台是泰州市政府与泰州巨纳新能源有限公司共同成立的国内 石墨烯性能测试与结构表征的综合性研究及检测机构。平台目前建有近千平方米的检测洁净室，拥有高分辨拉曼光谱仪、原子力显微镜、三维共聚焦显微镜、电子束曝光系统、近场光学显微镜等国际先进的新材料性能检测及结构表征设备。平台致力于在石墨烯等高新碳材料以及新型低维材料（如各类二维材料、量子点）等领域提供全面专业的检测及表征服务。泰州石墨烯研究检测平台相关检测服务：微区形貌表征：表面洁净度、平整性、层数或厚度判定、均匀性分析等原子结构表征：原子缺陷、层间堆垛方式、电子能带结构等光学性能表征：紫外到红外波段透射、反射、吸收性能等成分检测及分析：元素含量与比率、官能团分析等电学、力学、热学、电化学性能表征等各种定制研究检测服务（如二维材料的光电响应测试）等 检测项目检测内容描述二维材料光电响应测试二维材料的光电响应测试定制化分析实验方案协助制定、数据分析整体解决方案原子力显微镜（AFM）检测石墨烯层数/厚度，尺寸，AFM图像光学显微分析石墨烯层数/厚度，尺寸，对比度分析，光学显微图片荧光显微分析发光样品显微图片3D显微分析石墨烯均匀性，表面起伏度，表面残余物检测拉曼（Raman）光谱分析（单谱） 石墨烯洁净度，层数，掺杂浓度，缺陷含量等拉曼（Raman）光谱分析 （单谱+成像）石墨烯洁净度，层数，掺杂浓度，缺陷含量等扫描电子显微镜（SEM）检测样品微观形貌（分辨率10nm）超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息生物型透射电镜获取显微形貌，适合对分辨率不高但是衬度要求高的高分子、生物型样品透射电子显微镜（TEM）检测获取显微形貌截面离子束抛光用离子束抛光，去除表面应力层，适合复杂样品的EBSD的采集，以及截面样品的SEM观察离子束平面研磨高分辨透射电子显微镜（TEM）检测样品高分辨形貌（分辨率1nm）,衍射图（结晶度，晶格取向等）低真空场超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息 变温光学显微镜获取样品的显微形貌，具有明场、暗场、偏光、微分干涉等模式电子背散射衍射—STEM检测获取微观取向信息，可用于晶粒度、晶界、织构、应力等分析X射线光电子能谱（XPS）表面元素含量及化学价态(氧含量分析，成键态),结晶性能等紫外可见吸收光谱分析200-3300nm薄膜、溶液的透射率，吸收率等红外光谱分析（FTIR）红外波段透射（350-7800cm-1），有机物官能团分析等X射线荧光光谱分析元素的定量和半定量分析直读光谱分析获取样品的成分灰分测试获取样品的灰分能谱仪分析获取样品的元素成分和分布，微区域元素的定性和半定量分析等离子体发射光谱元素分析分析样品中无机元素的准确成分及定量辉光放电质谱分析H以外的所有元素，包括常用分析方法难以测定的C，N，O，P，S等轻元素超低检测限，大多数元素的检测限为0.1～0.001ug/G碳硫元素分析C 和 S 的比例元素分析C H O N S 的比例元素分析同位素质谱元素分析：C、N、S 百分含量 同位素质谱：13C、15N含量离子色谱-阴离子阴离子含量分析电感耦合等离子体质谱痕迹量元素测定电子探针 元素定性分析、定量分析X射线衍射分析结晶度、晶粒大小、层间距等显微红外分析微区样品红外光谱采集液相色谱分析样品有机物质的含量圆二色光谱分析液相色谱质谱联用分析 样品有机物质的含量及具体成分气相色谱易挥发的有机物质的含量气相色谱-质谱联用易挥发的有机物质的具体成分核磁共振分析氢谱、碳谱石墨烯薄膜热传导性能测试石墨烯热导率热重分析测试材料的质量随温度的变化，可用于分析构成的比例热差分析测定样品在程序控制温度下产生的热效应，可分析融点、成分构成、热性能、相转变、结晶动力学等信息同步热分析测量样品的热流、转变温度和重量变化三种信息力学性能测试 （氧化石墨烯纸/薄膜等）拉伸应力、拉伸强度、扯断强度、剪切剥离力、杨氏模量等电阻测试（薄膜样品）薄膜面电阻等比表面积测试(BET)测试样品比表面积椭圆偏振分析平板材料或者薄膜的折射率、反射率、膜厚、吸收系数测定电学性能测试（Transport）迁移率，掺杂浓度等纳米粒度分析纳米粒径的分布微米粒度分析微米粒度的分布PH值测试测量PH值

ExoView外泌体全面表征试剂盒外泌体计数、粒径、蛋白表达、蛋白共定位一次完成 检测样本类型对细胞培养上清、血浆、血清、尿液、脑脊液、唾液等生物样本中的外泌体直接进行分析捕获抗体种类anti-CD81, anti-CD9, anti-CD63, 同型IgG对照；可自定义单次上样体积35 μl稀释样本重复检测数目3复孔荧光抗体种类CD9（Blue）/ CD81（Green）/ CD63（Red） 实验原理① 35 μL外泌体样品滴加在芯片上孵育；② 预先包被的抗体特异结合外泌体表面蛋白以捕获外泌体；③ 再使用荧光抗体特异性标记需要表征的标记物； ④ 后用ExoView R100检测外泌体粒径、计数、蛋白表达（CD9，CD81，CD63等）及共定位。检测流程产品类别产品货号产品名称EV-TETRA-C人外泌体检测试剂盒EV-TETRA-P人血浆外泌体检测试剂盒EV-TETRA-M2鼠外泌体检测试剂盒EV-TETRA-C-CAR人外泌体内容物检测试剂盒EV-TETRA-P-CAR人血浆外泌体内容物检测试剂盒EV-TC-FLEX自由捕获人外泌体检测试剂盒EV-TP-FLEX自由捕获人血浆外泌体检测试剂盒EV-TC-FLEX-CAR自由捕获人外泌体内容物检测试剂盒EV-TP-FLEX-CAR自由捕获人血浆外泌体内容物检测试剂盒EV-TM-FLEX自由捕获鼠外泌体检测试剂盒EV-TM-FLEX-CAR自由捕获鼠外泌体内容物检测试剂盒EV-FLEX-2自由捕获外泌体检测试剂盒EV-FLEX-2 -CAR自由捕获外泌体内容物检测试剂盒EV-CTETRA-1/2/3人外泌体检测试剂盒+1/2/3个自定义捕获抗体EV-CTETRA-1/2/3-CAR人外泌体内容物检测试剂盒+1/2/3个自定义捕获抗体EV-CUST-1/2/3/4/5/6自定义1/2/3/4/5/6抗体捕获外泌体检测试剂盒EV-CUST-1/2/3/4/5/6-CAR自定义1/2/3/4/5/6抗体捕获外泌体内容物检测试剂盒试剂盒特点特异性捕获芯片上可包被多达6种捕获抗体，特异性捕获含特定蛋白标记物的外泌体。阳性外泌体计数芯片捕获外泌体后，可通过SP-IRIS技术直接检测样品中外泌体的数量。 单个外泌体蛋白共定位分析检测每个外泌体的荧光信号并进行统计，可获得荧光共定位信息，用于分析样品中不同表型外泌体的比例（如右图所示）。 无需纯化使用抗体捕获模式，防止样品中杂质影响结果，可直接检测血液、尿液和细胞培养液中的外泌体，未纯化样品的测量结果与纯化后基本一致（如右图所示）。粒径分辨率高 高精度SP-IRIS技术，可检测≥50 nm的外泌体，测量结果与电子显微镜检测结果基本一致，并统计生成外泌体的粒径分布结果（如右图所示）。可检测外泌体内容物 试剂盒配套相应的穿膜剂，可穿透外泌体并对外泌体内容物进行染色并检测，未穿膜时只能检测到跨膜蛋白CD9的荧光信号，穿膜后即可检测到外泌体内容物Syntenin的表达（如右图所示）。测试数据外泌体荧光数量统计 外泌体粒径检测荧光强度与粒径关系 荧光共定位分析 发表文章• Andras Saftics.(2021) Data evaluation for surface-sensitive label-free methods to obtain real-time kinetic and structural information of thin films: A practical review with related software packages. Advances in Colloid and Interface Science. • Kyoung-Won Ko.(2021) Integrated Bioactive Scaffold with Polydeoxyribonucleotide and Stem-Cell-Derived Extracellular Vesicles for Kidney Regeneration. ACS Nano. • Tanina Arab. (2021) Characterization of extracellular vesicles and synthetic nanoparticles with four orthogonal single‐particle analysis platforms. Journal of Extracellular Vesicles. • Niaz Z.Khan.(2021) Spinal cord injury alters microRNA and CD81+ exosome levels in plasma extracellular nanoparticles with neuroinflammatory potential. Brain, Behavior, and Immunity. • Dario Brambilla. (2021) EV Separation: Release of Intact Extracellular Vesicles Immunocaptured on Magnetic Particles. Analytical Chemistry. • Enkhtuya Radna. (2021) Extracellular vesicle mediated feto-maternal HMGB1 signaling induces preterm birth. Lab on a Chip. • Li, M., Soder. (2021) WJMSC‐derived small extracellular vesicle enhance T cell suppression through PD‐L1. Journal of Extracellular Vesicles. • Crescitelli, R. (2021) Isolation and characterization of extracellular vesicle subpopulations from tissues. Nature protocols. • Berger, A. (2021). Local administration of stem cell-derived extracellular vesicles in a thermoresponsivehydrogel promotes a pro-healing effect in a rat model of colo-cutaneous post-surgical fistula. Nanoscale. • Vidal, M. (2020) Exosomes and GPI-anchored proteins: Judicious pairs for investigating biomarkers from body fluids. Advanced drug delivery reviews. • K Cho, H Kook.(2020)Study of immune-tolerized cell lines and extracellular vesicles inductive environment promoting continuous expression and secretion of HLA-G from semiallograft immune tolerance during pregnancy. Journal of Extracellular Vesicles. • Maximillian A. Rogers.(2020)Annexin A1–dependent tethering promotes extracellular vesicle aggregation revealed with single–extracellular vesicle analysis. Cell Biology. • Annette M. Marleau.(2020)Targeting tumor-derived exosomes using a lectin affinity hemofiltration device. Cancer Research. • Alessandro Gori.(2020)Membrane-Binding Peptides for Extracellular Vesicles On-Chip Analysis. Journal of Extracellular Vesicles. • Rossella Crescitelli.(2020)Subpopulations of extracellular vesicles from humanmetastatic melanoma tissue identified by quantitative proteomics after optimized isolation. Journal of Extracellular Vesicles. • Maria S. Panagopoulou.(2020) Phenotypic analysis of extracellular vesicles: a review on the applications of fluorescence. Journal of Extracellular Vesicles.• WeiYan.(2020) Immune Cell-Derived Exosomes in the Cancer-Immunity Cycle. Trends in Cancer. • Daniel Bachurski. (2019) Small RNA Sequencing across Diverse Biofluids Identifies Optimal Methods for exRNA Isolation. Cell.用户单位 外泌体检测流程：仅需7步实现外泌体快速检测

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Agilent J&W CP-Select 624 CB 固定相为 6％ 氰丙基、94％ 二甲基聚硅氧烷，是常用 624 固定相的高重现性版本，柱流失仅为传统色谱柱的 1/3–1/2（30 m, 0.53 mm, df = 3.00 色谱柱的流失指标为 9 pA）。色谱柱经过合成和充分表征，确保最高的柱间重现性。 确保根据方法 524.2、624 和 8015 分析 EPA 挥发物具有最大可靠性欧洲药典方法 V.3.3.9 指定用于用于残留溶剂分析，符合法规要求优异的柱间重现性低流失在柱流失、灵敏度和柱效方面都经过最严格的行业 QC 指标测试每根色谱柱随附性能汇总报告

QLED量子点特制红/绿/蓝QLED量子点溶液浓度：~20mg/ml，溶剂：正辛烷（可定制不同溶剂、浓度）直接用于旋涂工艺ZnMgO纳米粒子浓度：~30mg/ml，溶剂：乙醇成膜效果好，材料稳定HIL/HTL材料HIL：固含量：~1.5%HTL：固含量：~1.2%量子点墨水固含量：~2.0%，黏度（25℃）：6.0-15.0CP，表面张力（25℃）：25.0-35.0mN/m打印流畅，不堵喷头，易清洗；成膜光滑，不变形可根据客户要求开发定制QLED制备实践资深器件工程师一对一指导实践QLED制备工艺全部流程：ITO基板清洁处理—空穴注入层、空穴传输层、量子点发光层、电子传输层的旋涂及后处理—电极蒸镀—器件封装—性能表征 QD-LEDs应用量子点（左）红蓝绿量子点（右）红蓝绿量子点发射光谱由于此款产品为定制款，标价为参考价，具体价格请联系在线客服

肽分离与分析对来自于合成或蛋白酶解的肽的分离与分析，可以运用多种色谱技术，包括：反相、离子交换和分子筛色谱。沃特世肽分离技术(Peptide Separation Technology：PST)包括从纳升级到制备级的BEH 130和BEH 300 C18柱产品，以及BioSuite HPLC柱，这些产品经过设计与测试以确保满足肽分析和实验室级别制备的各种需要。肽分离技术(PST)1、能够满足肽分离任务高要求的独特色谱柱：（1）改善对肽的色谱分离（2）窄的、对称的峰，提供最佳分辨率（3）成功分离广泛范围下的各种肽，无论：大肽还是小肽、酸性肽还是碱性肽、疏水性肽还是亲水性肽（4）在甲酸和TFA体系下都能提供好的峰形与保留，从而获得优化的色谱分离和检测（5）提供两种孔径130和300，以适应不同的样品需求2、具有宽范围的粒径与柱规格，确保从高灵敏蛋白组学分析到高载量制备纯化都能获得持续一致的分离性能3、独特的色谱柱化学结合于亚二微米颗粒技术，提供无以伦比的分辨率反相肽谱用于蛋白表征PST色谱柱的填料来自于有机合成色谱颗粒，确保最高质量和最一致的色谱性能。该色谱颗粒基于沃特世专利的BEH颗粒技术，是沃特世持续投入发展色谱研发的成果。它们不仅满足对BEH技术颗粒的高标准生产过程和性能指标，而且还专门经过肽谱进行产品质控。1、经过良好表征的、先进的键合技术，用于C 18 键合2、颗粒结构与键合相化学在pH 1-12 和较高温度下保持稳定3、使用复杂的蛋白酶解肽谱进行质控测试4、为合成肽或蛋白酶解产物分离提供批与批的持续重现ACQUITY UPLC与XBridge BEH 130 和300 C 18 柱，按特定应用进行质控的产品分析证书每一批ACQUITY UPLC和XBridge BEH 130和300 C 18 柱填料，经过严格测试以确保持续一致的性能。每根色谱柱的产品分析证书，报告了色谱柱的物理、化学和色谱测试结果，包括使用牛细胞色素C的胰蛋白酶解物进行的色谱分离结果。肽分离技术ACQUITY UPLC VanGuard 保护柱产品描述 部件号BEH300, C 18 , 1.7 μm, 2.1 x 5 mm, 3/pk 186004629BEH130, C 18 , 1.7 μm VanGuard 预柱， 2.1 x 5 mm, 3/pk 186003975肽分离技术ACQUITY UPLC柱产品描述 粒径 柱内径 柱长 部件号ACQUITY UPLC BEH130 C 18 1.7 μm 2.1 mm 50 mm 186003554ACQUITY UPLC BEH130 C 18 1.7 μm 2.1 mm 100 mm 186003555ACQUITY UPLC BEH130 C 18 1.7 μm 2.1 mm 150 mm 186003556ACQUITY UPLC BEH300 C 18 1.7 μm 2.1 mm 50 mm 186003685ACQUITY UPLC BEH300 C 18 1.7 μm 2.1 mm 100 mm 186003686ACQUITY UPLC BEH300 C 18 1.7 μm 2.1 mm 150 mm 186003687ACQUITY UPLC BEH300 C 18 1.7 μm 1.0 mm 50 mm 186005592ACQUITY UPLC BEH300 C 18 1.7 μm 1.0 mm 100 mm 186005593ACQUITY UPLC BEH300 C 18 1.7 μm 1.0 mm 150 mm 186005594肽分离技术方法验证包**(UPLC和HPLC柱)产品描述 粒径 柱内径 柱长 部件号ACQUITY UPLC BEH130 C 18 1.7 μm 2.1 mm 100 mm 186004896ACQUITY UPLC BEH300 C 18 1.7 μm 2.1 mm 100 mm 186004897XBridge BEH130 C 18 1.7 μm 2.1 mm 150 mm 186006517XBridge BEH300 C 18 1.7 μm 2.1 mm 150 mm 186006516XBridge BEH130 C 18 3.5 μm 4.6 mm 100 mm 186004904XBridge BEH300 C 18 3.5 μm 4.6 mm 100 mm 186004905**三根柱来自不同批次填粒肽分离技术HPLC分析柱(部分产品节选)产品描述 粒径 柱内径 柱长 部件号XBridge BEH130 C 18 3.5 μm 2.1 mm 100 mm 186003564XBridge BEH130 C 18 3.5 μm 2.1 mm 150 mm 186003565XBridge BEH130 C 18 3.5 μm 2.1 mm 250 mm 186003566XBridge BEH130 C 18 3.5 μm 4.6 mm 100 mm 186003568XBridge BEH130 C 18 3.5 μm 4.6 mm 150 mm 186003569XBridge BEH130 C 18 3.5 μm 4.6 mm 250 mm 186003570XBridge BEH130 C 18 5 μm 2.1 mm 100 mm 186003575XBridge BEH130 C 18 5 μm 2.1 mm 150 mm 186003576XBridge BEH130 C 18 5 μm 2.1 mm 250 mm 186003577XBridge BEH130 C 18 5 μm 4.6 mm 100 mm 186003579XBridge BEH130 C 18 5 μm 4.6 mm 150 mm 186003580XBridge BEH130 C 18 5 μm 4.6 mm 250 mm 186003581XBridge BEH300 C 18 3.5 μm 2.1 mm 100 mm 186003608XBridge BEH300 C 18 3.5 μm 2.1 mm 150 mm 186003609XBridge BEH300 C 18 3.5 μm 2.1 mm 250 mm 186003610XBridge BEH300 C 18 3.5 μm 4.6 mm 100 mm 186003612XBridge BEH300 C 18 3.5 μm 4.6 mm 150 mm 186003613XBridge BEH300 C 18 3.5 μm 4.6 mm 250 mm 186003614XBridge BEH300 C 18 5 μm 2.1 mm 100 mm 186003619XBridge BEH300 C 18 5 μm 2.1 mm 150 mm 186003620XBridge BEH300 C 18 5 μm 2.1 mm 250 mm 186003621XBridge BEH300 C 18 5 μm 4.6 mm 100 mm 186003623XBridge BEH300 C 18 5 μm 4.6 mm 150 mm 186003624XBridge BEH300 C 18 5 μm 4.6 mm 250 mm 186003625注：有更多柱规格，包括1mm内径和50mm柱长，如有需要，敬请垂询。

符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec CDMS ISO校准标样是一种独特的经济实惠、功能齐全、可追溯的校准标样，可用于快速精准的扫描电镜(SEM)、场发射扫描电镜(FESEM)、离子束刻蚀(FIB)、CD-SEM、LM和AFM放大倍数校准。这些标样采用蚀刻制造技术制成，可以覆盖广泛的测量范围。Pelcotec CDMS ISO校准标样有两种特征尺寸范围，分别是 Pelcotec CDMS-1T ISO和 Pelcotec CDMS-0.1T ISO，都提供可追溯和认证标样，共有4个种：Pelcotec CDMS-1T ISO: 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位701-1Pelcotec CDMS-1T ISO，2mm - 1um，可追溯，没有样品台，蚀刻线个699-1Pelcotec CDMS-1T，2mm - 1um，可追溯，没有样品台，蚀刻线个Pelcotec CDMS-1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位711-1Pelcotec CDMS-1C ISO，2mm - 1um，经过认证，没有样品台，蚀刻线个703-1Pelcotec CDMS-1C，2mm - 1um，经过认证，没有样品台，蚀刻线个Pelcotec CDMS-0.1T ISO: 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位708-01Pelcotec CDMS-0.1T ISO，2mm - 100nm，可追溯，没有样品台，蚀刻线个700-01Pelcotec CDMS-0.1T，2mm - 100nm，可追溯，没有样品台，蚀刻线个 Pelcotec CDMS-0.1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位712-01Pelcotec CDMS-0.1T ISO，2mm - 100nm，经认证，没有样品台，蚀刻线个704-01Pelcotec CDMS-0.1T ，2mm - 100nm，经认证，没有样品台，蚀刻线个 Pelcotec CDMS ISO标样的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10um、5um、2um和1um（适用于 Pelcotec CDMS-1T ISO 和 Pelcotec CDMS-1C ISO）。而Pelcotec CDMS-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10um、5um、2um、1um、500nm、250nm和100nm。较小的特征尺寸被嵌套在一起，以便于导航和快速校准。特征的精度为0.3%或更高。标样的实际尺寸为2.5 x 2.5mm，厚度为525um ±10um，在硅表面上没有涂层。每个Pelcotec CDMS ISO校准标样都有一个独特的识别编号。Pelcotec CDMS ISO校准标样可供选择不安装或安装在SEM样品台A-R上。对于AFM应用，Pelcotec CDMS ISO安装在12mm的AFM圆片上，而对于LM应用，则安装在25 x 75mm的载玻片上。也可以制备在自定义的支架上。可选的样品座。Pelcotec CDMS-1-ISOPelcotec CDMS-0.1-ISO基底：硅是是基底尺寸：2.5×2.5mm是是基底厚度：525±10μm是是唯一序列识别号是是2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块是是垂直于 X 轴的刻度线，间距为 10μm、5μm、2μm 和 1μm是是仅高分辨率版本 - 垂直于 X 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—是可在晶圆级追溯到 NIST（ISO 17025:2017 认证标准）T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证（ISO 17025:2017 认证标准）C版本C版本不装在样品台上可用是是可安装在 SEM样品台上是是精度优于0.3%是是线边缘粗糙度为每 1um 线边缘长度 +/- 0.3nm是是测量报告的不确定性 (k=2)* 为 ±0.012μm是是

Pelcotec&trade CDMS-XY 标样是一种用于扫描电镜、场发射扫描电镜、离子束雕刻、CD-SEM、激光扫描显微镜和原子力显微镜快速、精确校准的便捷工具。该标样提供了 X 和 Y 两个坐标轴的比例尺线，可在不旋转样品台的情况下轻松进行二维校准。Pelcotec&trade CDMS-XY 标样使用最新的半导体和微电子制造技术制成，具有卓越的线缘质量，可提供广泛的测量范围。该标样有两种特征尺寸范围可选，分别是 Pelcotec&trade CDMS-XY-1T 和 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ，每个尺寸范围都提供可追溯和认证标样，总共有四种：Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ：特征尺寸范围为 2.0mm 到 1um，适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位684-1Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ，2mm - 1µ m，可追溯，没有样品座个Pelcotec&trade CDMS-XY-1C ：每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证，特征尺寸范围为 2.0mm 到 1µ m，适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位689-1Pelcotec&trade CDMS-XY-1C ，2mm - 1µ m，已认证，没有样品座个 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ：特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用，放大倍率可达 10 - 200,000x。产品编号描述单位685-1Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ，2mm - 100nm，可溯源，没有样品座个 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1C ：每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证，特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用，放大倍率可达 10 - 200,000x。产品编号描述单位690-01Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1C ，2mm - 100nm，已认证，没有样品座个该标样的特征尺寸范围见下表：Pelcotec&trade CDMS-XY-1T 和 -1C 的特征尺寸为：2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50µ m、10µ m、5µ m、2µ m 和 1µ m。 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T 和 0.1C 的特征尺寸为：2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50µ m、10µ m、5µ m、2µ m 和 1µ m、500nm、250nm 和 100nm。可选的预先安装在样品座上。Pelcotec&trade CDMS-XY-1Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1基底尺寸：2.5×2.5mm&check &check 基底厚度：525±10μm&check &check 唯一序列识别号&check &check 2mm、1mm、0.5mm 的校准方块&check &check 垂直于 X 轴和 Y 轴的刻度线，间距为 10um、5μm、2μm 和 1μm&check &check 仅限高分辨率版本 - 垂直于 X 和 Y 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—&check 特征材料：50nm Cr (2mm - 5µ m)&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（2μm 和 1μm）&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（500、250 和 100nm）—&check 可在晶圆级追溯到 NISTT 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证C版本C版本不含样品台&check &check 可安装于SEM样品台&check &check 精度优于0.3%&check &check

Pelcotec&trade CDMS 校准标样是一种独特的经济实惠、功能齐全、可追溯的校准标样，可用于快速精准的扫描电镜(SEM)、场发射扫描电镜(FESEM)、离子束刻蚀(FIB)、CD-SEM、LM和AFM放大倍数校准。这些标样采用最新的半导体和微机电系统(MEMS)制造技术制成，可以覆盖广泛的测量范围。Pelcotec&trade CDMS 校准标样有两种特征尺寸范围，分别是 Pelcotec&trade CDMS-1T 和 Pelcotec&trade CDMS-0.1T ，都提供可追溯和认证标样，共有4个种：Pelcotec&trade CDMS-1T : 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位682-1Pelcotec&trade CDMS-1T ，2mm - 1µ m，可追溯，没有样品台个Pelcotec&trade CDMS-1C : 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位686-1Pelcotec&trade CDMS-1C ，2mm - 1µ m，经过认证，没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS-0.1T : 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位683-01Pelcotec&trade CDMS-0.1T ，2mm - 100nm，可追溯，没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS-0.1C : 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位687-01Pelcotec&trade CDMS-0.1T ，2mm - 100nm，经认证，没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS 标样的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µ m、5µ m、2µ m和1µ m（适用于 Pelcotec&trade CDMS-1T ISO 和 Pelcotec&trade CDMS-1C ）。而Pelcotec&trade CDMS-0.1T 和 0.1C 的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µ m、5µ m、2µ m、1µ m、500nm、250nm和100nm。 Pelcotec&trade CDMS 标样采用超平整的硅衬底制成，采用精密的50nm铬沉积技术制造特征尺寸小于5µ m的部分，而采用50nm金/20nm铬的组合制造2µ m到100nm的特征尺寸。铬和金/铬在硅基底上提供了卓越的SE和BSE成像模式对比度，比刻蚀硅标样更易于确定特征。由于硅衬底、铬和铬/金特征都具有导电性，因此该校准标样不存在充电问题。由于其坚固的结构，CDMS标样可使用等离子体清洗器进行清洁。较小的特征尺寸被嵌套在一起，以便于导航和快速校准。特征的精度为0.3%或更高。标样的实际尺寸为2.5 x 2.5mm，厚度为525µ m ±10µ m，在硅表面上没有涂层。每个Pelcotec&trade CDMS 校准标样都有一个独特的识别编号。Pelcotec&trade CDMS 校准标样可供选择不安装或安装在SEM样品台A-R上。对于AFM应用，Pelcotec&trade CDMS 安装在12mm的AFM圆片上，而对于LM应用，则安装在25 x 75mm的载玻片上。也可以制备在自定义的支架上。可选的样品座。Pelcotec&trade CDMS-1Pelcotec&trade CDMS-0.1基底：硅&check &check 基底尺寸：2.5×2.5mm&check &check 基底厚度：525±10μm&check &check 唯一序列识别号&check &check 2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块&check &check 垂直于 X 轴的刻度线，间距为 10μm、5μm、2μm 和 1μm&check &check 仅高分辨率版本 - 垂直于 X 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—&check 特征材料：50nm Cr (2mm - 5µ m)&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（2μm 和 1μm）&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（500、250 和 100nm）—&check 可在晶圆级追溯到 NISTT 版本T 版本CDMS 标样直接获得NIST 标准认证C版本C版本不含样品台&check &check 可安装在 SEM样品台上&check &check 精度优于0.3%&check &check

用链霉亲和素预固化的生物芯片用于固定生物素化的相互作用配体。高结合能力、重复性和耐化学性能可适用于各种应用。主要用于配体结合分析、亲和力筛选、表位配对及动力学表征等分析测定。

在生物药物发现、开发和 QA/QC 应用中分析单克隆抗体时，Agilent AdvanceBio RP-mAb 色谱柱可以优化完整和还原态 mAb 分析的性能。完整和还原态单克隆抗体的分析是表征治疗性蛋白以及了解其有效性与稳定性的重要测量手段。不良的色谱分离性能可能导致重复工作，甚至影响表征的准确性。AdvanceBio RP-mAb 色谱柱基于 Poroshell 技术，具有独特的孔径与键合相工艺设计，可实现更高的分离度与更短的运行时间，从而提供准确、可重现的结果。该色谱柱具有不同的固定相形式 — SB-C8、C4 和二苯基。 根据您感兴趣的领域，查看我们的全系列 BioHPLC 色谱柱，获取相关资源，享受特价优惠。 更高的准确性：大孔径 (450 Å) 的表面多孔颗粒填料 (3.5 µm) 可提高 mAb 分离度，同时兼容所有液相色谱仪快速：与填充相同尺寸全多孔颗粒填料的色谱柱相比，分析时间更短更低的成本：稳定的 Poroshell 填充床和 2 µm 入口筛板可防止入口堵塞，从而延长色谱柱使用寿命 灵活的方法开发：固定相范围 — SB-C8、C4 和二苯基

太赫兹高阻抗本征硅基片 除了人造金刚石，高阻抗的本征硅（高阻硅）材料是适合极宽范围从(1.2 μm) 到mm (1000 μm甚至8000um)波的各项同性晶体材料。和钻石相比，它要便宜的多，并且生长制造更容易。而且他尺寸更大，更容易制造，THZ技术的快速发展，就基于该优点。对于THZ应用，我们提供在1000 μm (对于更长波长，3000甚至8000微米)透过率达到50-54%的High Resistivity Float Zone Silicon (HRFZ-Si)。高阻抗浮区本征硅材料，和相关光学元件。 合成电解质硅的介电常数由传导率决定（例如：自由电子-载流子浓度）。图3显示的是在1THZ下，不同纯度下的硅的介电常数.低掺杂的介电常数接近真实值，大约等于高频介电常数。随着掺杂浓度的提高，真实的介电常数将变成负数，而且不能被忽略。介电常数表征的是THZ波的传输损耗特性。损耗系数可以用下面的公式计算：tanδ=1/(ω*εv*ε0*R), 这里 ω – 圆频率, εv – 真空下的介电常数（8.85*10-12 F/m）。ε0 –硅的介电常数(11.67), R是电阻值。例如，1THZ下，10 kOhm 阻值的HRFZ-Si损耗系数为1.54*10-5。 1mm厚度的高阻抗本征硅窗片的太赫兹时域光谱仪测试数据高阻抗本征硅产品 - 高阻抗硅衬底/基片/窗片- 高阻抗硅球透镜- 高阻抗硅分束镜- 高阻抗硅镜头 1，高阻硅基片 2，高阻硅F-P标准具 3，高阻硅太赫兹半球透镜 4，高阻硅太赫兹子弹型透镜 5，高阻硅镜头 6，高阻硅棱镜

标样和试剂 我们的化学标样和附件组件为紫外-可见分光光度计的操作认证和性能验证（OQ/PV）提供了一种价廉省时的解决方案。这些工具专为紫外-可见测量需要严格遵守质量和法规要求的分析工作者而设计。 它们可以与任何紫外-可见分光光度计配合使用，是密封在安瓿中预配好的溶液。这些溶液是美国药典（USP）和欧洲药典（EP）所指定的试剂，包括用于波长准确度测量的氧化钬、用于光度准确度测量的重铬酸钾、用于杂散光测量（在波长为340、220 和198 nm 处）的亚硝酸钠、碘化钠和氯化钾以及用于分辨率测量的甲苯的正己烷溶液。每个标样都有分析合格证书可以追溯。订货信息：

◆ 用于带负电荷的磷酸盐的初始离子连接DNA骨架中的基团。◆ 通过调控基底氨基的密度调控表面电势达到更高的荧光信噪比区别于传统的氨基基底的氨基链很长，电荷较高且会产生很高的非特异性吸附◆ 可定向连接探针分子且不需要光照引发适用于特定的免疫类检测芯片◆ 基团密度可调，密度表征：组装金纳米颗粒显色（电镜）氨基密度测试表征

SHIMSEN Ankylo SEC生物药液相色谱柱介绍：聚集体分析由于聚集体不仅降低生物药制品的功效，而且还可以刺激免疫原性反应，导致治疗中的各种不良事件。使得生物制品的单体、聚集体分析显得尤为重要，聚集体的表征也成为关键质量属性（CQAs）之一。SHIMSEN Ankylo SEC系列色谱柱不仅对蛋白等生物样品的次级吸附作用非常小，用于生物样品的聚集体表征也可获得稳定的批次间重现性及更好的样品回收率。 电荷异质体分析生物药在制造过程中经历各种翻译后修饰，包括唾液酸化，脱酰胺，C-末端赖氨酸裂解，糖基化，琥珀酰亚胺形成，氧化等。这些修饰可导致电荷分布的变化，影响产品的生物活性和稳定性。因此，生物仿制药的电荷异质体表征和监测也是确保药物研发稳定性和过程一致性的关键质量属性。SHIMSEN Ankylo WCX系列填料采用亲水性无孔聚合物，减小样品的横向扩散和向填料内部扩散，可提供更快的分析速度和更高的分辨率。填料粒径的更均一，带来更好的分离效果。 完整及片段分析单抗广泛适用于诊断和临床应用，近几年在生物制药领域也越来越受到欢迎。单抗的异质性和易降解等特性，逐渐凸显出LC/MS表征技术的优势：表征单抗及其片段的修饰变化，无需完全的酶解。在单抗的质控中，更多的分析人员选择使用反相加质谱检测的方法来获得完整抗体的质量信息。由于完整抗体的表征条件通常需要较高的柱温，质谱检测中常用的流动相条件pH又偏酸，对于所使用的反相柱都是非常大的挑战。岛津的杂化颗粒系列Shim-pack Scepter推出了 300? 大孔径 C4柱，具有高惰性、高稳定性等特点，在完整抗体和片段分析中均可稳定使用。 药物抗体比率（DAR）分析抗体偶联药物（ADC）与现有的化疗药物相比，具有显著的优势。生物药制品中的药物抗体比率（DAR）可直接影响ADC的稳定性、功效和潜在的毒性。因此药物的DAR 分析属于ADC质控中的一项重要质量属性。SHIMSEN Ankylo HIC-Butyl色谱柱基于疏水相互作用原理，可用于分析各种表达后的修饰，同时也是ADC 分析的有效手段。具有高柱效、高重现等优势。

符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样是一种独特的经济实惠、功能齐全、可追溯的校准标样，可用于快速精准的扫描电镜(SEM)、场发射扫描电镜(FESEM)、离子束刻蚀(FIB)、CD-SEM、LM和AFM放大倍数校准。这些标样采用最新的半导体和微机电系统(MEMS)制造技术制成，可以覆盖广泛的测量范围。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样有两种特征尺寸范围，分别是 Pelcotec&trade CDMS-1T ISO和 Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO，都提供可追溯和认证标样，共有4个种：Pelcotec&trade CDMS-1T ISO: 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位691-1Pelcotec&trade CDMS-1T ISO，2mm - 1µ m，可追溯，没有样品台个Pelcotec&trade CDMS-1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位695-1Pelcotec&trade CDMS-1C ISO，2mm - 1µ m，经过认证，没有样品台个Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO: 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位692-01Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO，2mm - 100nm，可追溯，没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS-0.1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位696-01Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO，2mm - 100nm，经认证，没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS ISO标样的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µ m、5µ m、2µ m和1µ m（适用于Pelcotec&trade CDMS-1T ISO 和 Pelcotec&trade CDMS-1C ISO）。而Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µ m、5µ m、2µ m、1µ m、500nm、250nm和100nm。Pelcotec&trade CDMS ISO标样采用超平整的硅衬底制成，采用精密的50nm铬沉积技术制造特征尺寸小于5µ m的部分，而采用50nm金/20nm铬的组合制造2µ m到100nm的特征尺寸。铬和金/铬在硅基底上提供了卓越的SE和BSE成像模式对比度，比刻蚀硅标样更易于确定特征。由于硅衬底、铬和铬/金特征都具有导电性，因此该校准标样不存在充电问题。由于其坚固的结构，CDMS标样可使用等离子体清洗器进行清洁。较小的特征尺寸被嵌套在一起，以便于导航和快速校准。特征的精度为0.3%或更高。标样的实际尺寸为2.5 x 2.5mm，厚度为525µ m ±10µ m，在硅表面上没有涂层。每个Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样都有一个独特的识别编号。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样可供选择不安装或安装在SEM样品台A-R上。对于AFM应用，Pelcotec&trade CDMS ISO安装在12mm的AFM圆片上，而对于LM应用，则安装在25 x 75mm的载玻片上。也可以制备在自定义的支架上。可选的样品座。Pelcotec&trade CDMS-1-ISOPelcotec&trade CDMS-0.1-ISO基底：硅&check &check 基底尺寸：2.5×2.5mm&check &check 基底厚度：525±10μm&check &check 唯一序列识别号&check &check 2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块&check &check 垂直于 X 轴的刻度线，间距为 10μm、5μm、2μm 和 1μm&check &check 仅高分辨率版本 - 垂直于 X 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—&check 特征材料：50nm Cr (2mm - 5µ m)&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（2μm 和 1μm）&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（500、250 和 100nm）—&check 可在晶圆级追溯到 NIST（ISO 17025:2017 认证标准）T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证（ISO 17025:2017 认证标准）C版本C版本不含样品台&check &check 可安装在 SEM样品台上&check &check 精度优于0.3%&check &check

AuX光源：X射线光束聚焦通道 AuX光源是Xeuss 3.0可额外配置的入射X射线光束模块，将X射线光束聚焦在样品。与主光源相比，光子密度的增加（不止一个数量级）对于需要小光斑且高强度X射线光束的应用是非常有价值的。主要优势：- 提高数据质量- 从WAXS到SAXS，表征粒子尺寸可达50nm- 模块化设计-快速自动的光源切换

北京绿百草科技发展有限公司是一家专业经营纯化填料、色谱柱、化学试剂和实验室设备及相关技术服务的科技型企业，我们的产品应用于制药、生物、食品、环境等领域。凭借世界一流的产品和服务，绿百草科技与广大客户建立了长期稳定的战略合作关系，被众多企业和科研机构认定为&ldquo 指定供应商&rdquo 。 2011上半年，我们成功地在北京、广州、成都等地举办了大赛璐手性色谱分析方法研讨会，得到了广大师生和科研工作者的一致好评。应许多客户的要求，11月7、9、11号分别在广州、成都、大连，北京绿百草与日本TOSOH公司共同举办了色谱柱与填料技术应用研讨会，参会者都可领取精美礼品一份，并有机会赢取Itouch4和精美蓝牙耳机。具体时间与地点如下： 2011.11.7，8：30-16：00，广州中山大学东苑宾馆1楼多功能厅； 2011.11.9，8：30-16：00，成都四川大学科华苑宾馆多功能厅； 2011.11.11，8：30-16：00，大连星海假日酒店丽晶A厅。 时 间 内 容 演讲者 8:30-9:10 报道，领取会议资料 09:10 -10:20 TOSOH公司ProteinA填料新产品介绍 TOSOH公司市场部山崎洋介部长 10:20‐10:30 茶歇 10:30‐11:30 TOYOPEARL填料在疫苗产品分离纯化中的最新应用介绍 TOSOH公司市场部山崎洋介部长 11:30&ndash 12:00 北京绿百草科技发展有限公司介绍 张黎明 12:00-13:30 提供免费午餐 13:30-14:40 TSK-GEL色谱柱技术以及常见问题的解决方法 TOSOH公司市场部 张琳 博士 14:40-15:50 抗体分析相关的色谱柱技术 TOSOH公司 市场部 富泽 洋 15：50 抽奖环节，有机会赢取Itouch4。

三维子弹检验仪配件是子弹分析和识别领域的最新弹痕分析仪器，它采用了枪械和子弹痕迹比较显微镜的最新成果，用于分析子弹和射击后的弹壳痕迹。三维子弹检验仪配件特色具有子弹壳和枪管特性和专业的定制分析软件，全自动技术可以在几秒内获得极为详细的3D模型，增加了分析的可靠性，它突破了传统的技术，使用实验室自动机子检验系统，在实验过程中，降低了操作者与样品间的人为因素，大大提高分析的科学性和客观性。三维子弹检验仪配件功能为子弹特征定制的软件法医学应用范围其它检查模块实验室自动机子弹检测技术USB3.0摄像头用于快速分析自动化控制在XYZ上的样品结果非常精确Windows 7 超快速计算机特点增强的3D模型，用于比较用于快速自动识别的强大软件（1秒分析）三维子弹检验仪配件特点这种自动检验仪采用全球领先的介观技术，采用LED图形微型投影器，通过将立体数据与物体的独特指纹比对来建立细节详细的3D模型。3D模型可以用来获取重要参数，使用参数从数据库中鉴别和比较样本，使这个仪器成为检查“中观”对象的最快和 最强大的工具。 该技术整合到实验室自动机，是全自动化的。为子弹特性定制的软件 使用便利的数据库和比较射击后留在子弹上的特殊标记，为子弹表征和匹配子弹发射枪械的终极工具。该软件的一些独特功能：自动 校准，像素分辨率增强和2D 测量，使用数学算法将子弹特征二值化使子弹能够进行比较，和为光投射模式使用检测器的对所有表面进行3D建模，自动控制硬件和所有阶段的分析，可定制图表和图形以及自动生成报告，将会使检查速度更快，更准确，可重复性更高可以对子弹上的标记进行最高精度分析。标记可以存储在数据库中，并与其他子弹的标记进行比较。该软件可以将枪管里形成的槽与地面印记，和实验室自动机子弹检测系统获得的弹槽作比较。该软件促进了同一枪管发射的两发子弹之间的比较。软件可以将所有特性的子弹与弹壳匹配：后膛标记点火栓标记提取针发射标记 三维子弹检验仪配件 法医学应用范围枪械及工具痕迹实验室自动机比较显微镜是用来分析子弹和匹配开枪后留在弹壳上的类似指纹的条纹或线条。匹配指纹有助于检查人员识别武器是否在先前的犯罪行动中使用过。该系统有助于表征枪管细节与子弹细节的比较。比较技术包括一个完整过程来促进子弹表征和比较。可以自动确定各种特性的子弹：-地面和槽的数目-地面和槽的宽度-地面和槽的深度-倾斜-转动三维子弹检验仪和以根据枪管剖面和弹壳信息（使用Microptik枪管检查工具获得）重构子弹，弹壳和枪管的3D结构，并将使用枪管的小槽和条纹与子弹留在地面和槽印记匹配。使用该软件，法医研究人员可以比较所有立体图案，来帮助将子弹与枪管和弹壳匹配。附件检测模块?后膛印记?提取针标记?发射标记子弹印记和标记可以以最高精度进行分析。标记可以被存储在数据库中，并与其他子弹的标记进行比较。使用此附加模块，实验室自动机子弹检查的系统的能力可扩展到分析箱的内部。特点如下：?点火栓印记Lab-robot® Shell casing inspection实验室自动机弹壳检测枪管检测工具包包括用于枪管内检测的内窥镜，增强的光纤照明和软件附加功能。枪管剖面会沿着土地和槽显示小凹槽或条纹。这些都是枪管脱膛时产生的。所有枪管的标记都不同。这些标记会在子弹上留下独特的条纹或印记。因此可以根据标记将子弹与特定枪支匹配。 Microptik提供了一个完整的工具包，用来检查枪管特性（如土地和槽）对于小型枪械，可以将枪管放置在实验室自动机系统里，使用高精度内窥镜进入枪管，并获得枪管内部的所有相关特征。该软件可以将枪管里形成的槽与地面印记，和实验室自动机子弹检测系统获得的弹槽作比较。该软件促进了同一枪管发射的两发子弹之间的比较。

透射电镜（TEM）用氮化硅薄膜窗口 产品概述： 与X射线用氮化硅窗口类似，透射电镜（TEM）用氮化硅薄膜窗口也使用低应力氮化硅薄膜基底。但整体尺度更小，适合TEM装样的要求。窗口有单窗口和多窗口阵列等不同规格。同时NTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口。 现在可以提供透射电镜（TEM）用氮化硅薄膜窗系列产品，规格如下： 外框尺寸: &bull 3 mm x 3 mm (窗口尺寸：0.5 mm，薄膜厚度：30 nm) &bull 3 mm x 3 mm (窗口尺寸：1.0 mm，薄膜厚度：50 nm) 边框厚度： 200µ m、381µ m。 Si3N4薄膜厚度： 50nm、100nm 可以为用户定制产品(30-200nm)，但要100片起订。 本产品为一次性产品，不建议用户重复使用，本产品不能进行超声清洗，适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。 技术指标： 表面平整度： 我们认为薄膜与其下的硅片同样平整， TEM用氮化硅薄膜窗口的表面粗糙度为：0.6-2nm。完全适用于TEM表征。 亲水性： 该窗格呈疏水性，如果样品取自水悬浮液，悬浮微粒则不能均匀地分布在薄膜上。用等离子蚀刻机对薄膜进行亲水处理，可暂时获得亲水效果。虽然没有对其使用寿命进行过测试，但预期可以获得与同样处理的镀碳TEM网格相当的寿命。我们可以生产此种蚀刻窗格，但无法保证其使用寿命。如果实验室有蚀刻工具也可对其进行相应的处理提高其亲水性能。 温度特性： 氮化硅薄膜窗口产品是耐高温产品，能够承受1000度高温，非常适合在其表面利用CVD方法生长各种纳米材料。 化学特性： 氮化硅薄膜窗口是惰性衬底。 应用简介和优点： 1、 适合TEM、SEM、AFM、XPS、EDX等的对同一区域的交叉配对表征。 2、 大窗口尺寸，适合TEM大角度转动观察。 3、 无碳、无杂质的清洁TEM观测平台。 4、 背景氮化硅无定形、无特征。 5、 耐高温、惰性衬底，适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境，（薄膜直接沉积在窗口上）。 6、 生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后，窗口具有很好的亲水性。。 7、 耐高温、惰性衬底，也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。 8、 适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。 详细请咨询：021-35359028/ admin@instsun.com

标样和试剂 我们的化学标样和附件组件为紫外-可见分光光度计的操作认证和性能验证（OQ/PV）提供了一种价廉省时的解决方案。这些工具专为紫外-可见测量需要严格遵守质量和法规要求的分析工作者而设计。 它们可以与任何紫外-可见分光光度计配合使用，是密封在安瓿中预配好的溶液。这些溶液是美国药典（USP）和欧洲药典（EP）所指定的试剂，包括用于波长准确度测量的氧化钬、用于光度准确度测量的重铬酸钾、用于杂散光测量（在波长为340、220 和198 nm 处）的亚硝酸钠、碘化钠和氯化钾以及用于分辨率测量的甲苯的正己烷溶液。每个标样都有分析合格证书可以追溯。订货信息：

符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec&trade CDMS-XY ISO标样是一种用于扫描电镜、场发射扫描电镜、离子束雕刻、CD-SEM、激光扫描显微镜和原子力显微镜快速、精确校准的便捷工具。该标样提供了 X 和 Y 两个坐标轴的比例尺线，可在不旋转样品台的情况下轻松进行二维校准。Pelcotec&trade CDMS-XY ISO标样使用最新的半导体和微电子制造技术制成，具有卓越的线缘质量，可提供广泛的测量范围。该标样有两种特征尺寸范围可选，分别是 Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO和 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO，每个尺寸范围都提供可追溯和认证标样，总共有四种：Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO：特征尺寸范围为 2.0mm 到 1um，适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位693-1Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO，2mm - 1µ m，可追溯，没有样品座个Pelcotec&trade CDMS-XY-1C ISO：每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证，特征尺寸范围为 2.0mm 到 1µ m，适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位697-1Pelcotec&trade CDMS-XY-1C ISO，2mm - 1µ m，已认证，没有样品座个Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO：特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用，放大倍率可达 10 - 200,000x。产品编号描述单位694-1Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO，2mm - 100nm，可溯源，没有样品座个 Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1C ISO：每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证，特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用，放大倍率可达 10 - 200,000x。产品编号描述单位698-01Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1C ISO，2mm - 100nm，已认证，没有样品座个该标样的特征尺寸范围见下表： Pelcotec&trade CDMS-XY-1T ISO 和 -1C ISO 的特征尺寸为：2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50µ m、10µ m、5µ m、2µ m 和 1µ m。Pelcotec&trade CDMS-XY-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸为：2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50µ m、10µ m、5µ m、2µ m 和 1µ m、500nm、250nm 和 100nm。可选的预先安装在样品座上。Pelcotec&trade CDMS-XY-1-ISOPelcotec&trade CDMS-XY-0.1-ISO基底尺寸：2.5×2.5mm&check &check 基底厚度：525±10μm&check &check 唯一序列识别号&check &check 2mm、1mm、0.5mm 的校准方块&check &check 垂直于 X 轴和 Y 轴的刻度线，间距为 10um、5μm、2μm 和 1μm&check &check 仅限高分辨率版本 - 垂直于 X 和 Y 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—&check 特征材料：50nm Cr (2mm - 5µ m)&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（2μm 和 1μm）&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（500、250 和 100nm）—&check 可在晶圆级追溯到 NIST（ISO 17025:2017 认证标准）T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证（ISO 17025:2017 认证标准）C版本C版本不含样品座&check &check 可安装于SEM样品台&check &check 精度优于0.3%&check &check

符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec CDMS-XY ISO标样是一种用于扫描电镜、场发射扫描电镜、离子束雕刻、CD-SEM、激光扫描显微镜和原子力显微镜快速、精确校准的便捷工具。该标样提供了 X 和 Y 两个坐标轴的比例尺线，可在不旋转样品台的情况下轻松进行二维校准。Pelcotec CDMS-XY ISO蚀刻线标样使用蚀刻技术制成，具有卓越的线缘质量，可提供广泛的测量范围。该标样有两种特征尺寸范围可选，分别是 Pelcotec CDMS-XY-1T ISO和 Pelcotec CDMS-XY-0.1T ISO，每个尺寸范围都提供可追溯和认证标样，总共有四种：Pelcotec CDMS-XY-1T ISO：特征尺寸范围为 2.0mm 到 1um，适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。 2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50um、10um、5um、2um 和 1um。Pelcotec CDMS-XY-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸为：2mm、1mm、0.5mm、0.1mm、50um、10um、5um、2um 和 1um、500nm、250nm 和 100nm。可选的预先安装在样品座上。Pelcotec CDMS-XY-1-ISOPelcotec CDMS-XY-0.1-ISO基底：硅是是基底尺寸：2.5×2.5mm是是基底厚度：525±10μm是是唯一序列识别号是是 产品编号描述单位709-1Pelcotec CDMS-XY-1T ISO，2mm - 1um，可追溯，没有样品座，蚀刻线个701-1Pelcotec CDMS-XY-1T ，2mm - 1um，可追溯，没有样品座，蚀刻线个Pelcotec CDMS-XY-1C ISO：每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证，特征尺寸范围为 2.0mm 到 1um，适用于放大倍率在 10x - 20,000x 之间的台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位713-1Pelcotec CDMS-XY-1C ISO，2mm - 1um，已认证，没有样品座，蚀刻线个705-1Pelcotec CDMS-XY-1C ，2mm - 1um，已认证，没有样品座，蚀刻线个Pelcotec CDMS-XY-0.1T ISO：特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用，放大倍率可达 10 - 200,000x。 产品编号描述单位710-1Pelcotec CDMS-XY-0.1T ISO，2mm - 100nm，可溯源，没有样品座，蚀刻线个702-1Pelcotec CDMS-XY-0.1T ，2mm - 100nm，可溯源，没有样品座，蚀刻线个 Pelcotec CDMS-XY-0.1C ISO：每个标样均根据 NIST 标准进行了单独认证，特征尺寸范围为 2.0mm 到 100nm，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用，放大倍率可达 10 - 200,000x。 产品编号描述单位714-01Pelcotec CDMS-XY-0.1C ISO，2mm - 100nm，已认证，没有样品座，蚀刻线个706-01Pelcotec CDMS-XY-0.1C ，2mm - 100nm，已认证，没有样品座，蚀刻线个该标样的特征尺寸范围见下表：Pelcotec CDMS-XY-1T ISO 和 -1C ISO 的特征尺寸为： 2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块是是垂直于 X 轴和 Y 轴的刻度线，间距为 10um、5μm、2μm 和 1μm是是 仅限高分辨率版本 - 垂直于 X 和 Y 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—是可在晶圆级追溯到 NIST（ISO 17025:2017 认证标准）T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证（ISO 17025:2017 认证标准）C版本C版本不装在样品台上可用 是是可安装在 SEM样品台上是是精度优于0.3%是是线边缘粗糙度为每 1um 线边缘长度 +/- 0.3nm是是测量报告的不确定性 (k=2)* 为 ±0.012μm是是

优质玻璃表面皿/80mm 表面圆皿/盖烧杯圆皿/玻璃蒸发皿由上海书培实验设备有限公司为您提供，产品规格齐全，量多从优，欢迎客户来电咨询选购。 产品用途： 适用于化验室做定量分析。如在生物化学分析上用两片表面皿合成培养室，做悬浮滴培养试验用，气室反应观察白色沉淀、微量溶解、蒸发等。产品介绍：材质：优质玻璃规格：80mm边沿磨平、倒角的圆弧形玻璃皿。 产品特点： 表面皿是玻璃制的，圆形状，中间稍凹，与蒸发皿相似。可以用来做一些蒸发液体的工作的，它可以让液体的表面积加大，从而加快蒸发。但是不能像蒸发皿那样加热。可以作盖子，盖在蒸发皿或烧杯上，防止灰尘落入蒸发皿或烧杯；可以作容器，暂时呈放固体或液体试剂，方便取用；可以作承载器，用来承载pH试纸，使滴在试纸上的酸液或碱液不腐蚀实验台。

1 用途特点 DYM3型空盒气压表是以变形元件作感应的一种大气压测量仪器。它以携带方便、测量准确，测压范围广、使用维护简便、无汞污染等优点，广泛地应用于气象、军事、航空、航海、农业、测量、地质、工矿企业和科研等领域，成为测量大气压力的常规仪器。2 工作原理 空盒气压表是以弹性金属做成的薄膜空盒作为感应元件，它将大气压力转换成空盒的弹性移位，通过杠杆和传动机构带动指针。当顺时针方向偏转时，指针就指示出气压升高的变化量，反之，当指针逆时针方向偏转时，指示出气压降低的变化量。当空盒的弹性应力与大气压力相平衡时，指针就停止转动，这时指针所指示的气压值就是当时的大气压力值。3 技术性能和规格3.1 测量范围：800～1064hpa3.2 使用温度范围：-10～+40℃3.3 经过温度、示度和补充正后的测量误差不大于2.0hpa3.4 示度盘最小分值：1hpa3.5 附温表最小分值：1℃3.6 仪器重量不大于1.5Kg3.7 仪器尺寸156mm*156mm*115mm4 使用方法4.1 使用时请将空盒气压表水平放置。4.2 读数请用手指轻轻扣敲仪器外壳或表面玻璃，以消除传动机构中的摩擦。4.3 观察时指针与镜面指针相重叠，此时指针所指值数即为气压表示值，读数精确到小数一位。4.4 读取气压表上温度表示值，精确到小数一位。4.5 气压值的求数：仪器上读取的气压表示值只有经过下列订正后方能使用。4.5.1 温度订正：由于环境温度的变化，将会对仪器金属的弹性产生影响，因此必须进行温度订正。 温度订正值可由下列计算：△Pt=a.t 式中 △Pt--温度订正值 a--温度系数值(检定证书上附有) t--温度表读数4 5.2 示度订正，由于空盒及其传动的非线性，当气压变化时就会产生示指误差，因此必须进行示度订正。求算方法：根据检定证书上的示度订正值，在气压表示值相对应的气压范围内：用内插法求出值订正示值△ps4.5.3 补充订正：为消除空盒的剩余变形对示值产生的影响，从检定证书上得到补充订正值△pd经订正后的气压值可由下式示出：p=ps+(△pt+△ps+△pd)

X射线透射显微成像/能谱（同步辐射）用氮化硅薄膜窗口 产品概述： X-射线薄膜窗能够实现软X-射线(如真空紫外线)的最大透射率。主要用于同步辐射X射线透射显微成像时承载样品。 X-射线越软(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特别在&ldquo 离轴&rdquo 状态工作（即薄膜与光束成一定角度）时，也需要较薄的薄膜窗口，便于X射线更好地穿透。 氮化硅薄膜窗口是利用现代MEMS技术制备而成，由于此种氮化硅窗口选用低应力氮化硅（0-250MP）薄膜，因此比计量式和ST氮化硅薄膜更坚固耐用。提供的氮化硅薄膜窗口非常适合应用于透射成像和透射能谱等广泛的科学研究领域，例如，X-射线（上海光源透射成像/能谱线站）、TEM、SEM、IR、UV等。 现在提供X-射线显微成像/能谱（同步辐射）用氮化硅薄膜窗系列产品，规格如下： 外框尺寸 (4种标准规格): &bull 5 mm x 5 mm (窗口尺寸：1.0 mm 或和 1.5 mm 方形) &bull 7.5 mm x 7.5 mm (窗口尺寸：2.0 mm 或 2.5 mm) &bull 10 mm x 10 mm (窗口尺寸：3.0 mm 或 5 mm 方形) 边框厚度： 200µ m、381µ m、525µ m。 Si3N4薄膜厚度：50、100、150和200nm 我们也可以为用户定制产品（30-500nm），但要100片起订。 本产品为一次性产品，不建议用户重复使用，本产品不能进行超声清洗，适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。 技术指标： 透光度： 对于X射线用窗口，500nm厚的氮化硅薄膜有很好的X光穿透效果，对于软X射线（例如碳边吸收谱），100-200nm厚的氮化硅薄膜窗口是用户首选。 真空适用性： 真空适用性数据如下： 　 薄膜厚度 窗口面积 压力差 &ge 50 nm &le 1.0 x 1.0 mm 1 atm &ge 100 nm &le 1.5 x 1.5 mm 1 atm &ge 200 nm &le 2.5 x 2.5 mm 1 atm 表面平整度： 氮化硅薄膜窗口产品的表面平整性很稳定（粗糙度小于1nm），对于X射线应用没有任何影响。 温度特性： 氮化硅薄膜窗口产品是耐高温产品，能够承受1000度高温，非常适合在其表面利用CVD方法生长各种纳米材料。 化学特性： 氮化硅薄膜窗口是惰性衬底。 应用简介和优点： 1、 同步辐射X射线（紫外或极紫外）透射成像或透射能谱应用中是不可或缺的样品承载体。 2、 耐高温、惰性衬底，适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境，利于制备理想的用于X射线表征用的自组装单层薄膜或薄膜（薄膜直接沉积在窗口上）。 3、 生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后，窗口具有很好的亲水性。 4、 耐高温、惰性衬底，也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。 5、 适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。 同步辐射X射线应用参考文献：PRL