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同步辐射纳米分辨谱学成像技术

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同步辐射纳米分辨谱学成像技术相关的耗材

  • GATTA-STED NANORULER 受激辐射损耗超分辨标准纳米尺
    GATTA-STED NANORULER作为第一种超分辨率显微镜技术,STED(受激辐射损耗技术)方法彻底改变了光学显微镜。有了GATTA-STED系列的纳米尺子,现在终于有了足够的校准探针。单色纳米尺子携带两个由高量子产率染料ATTO 647N密集排列而成的荧光标记。我们提供50纳米,70纳米,90纳米和120纳米尺寸的标记距离。此外,我们还提供了一种新的设计,包含两个不同荧光团的三个发射点,可以获得非常引人注目的图像。多色纳米尺有三个发射点,尺寸为140 nm (ATTO 647N和ATTO 594)。我们还可以根据您的要求设计特殊的解决方案。所有的纳米样品将在一个密封的玻璃载片上,你可以舒服地直接放在你的显微镜上。订购选单
  • PAINT 超高分辨显微镜纳米标尺
    产品特点:GATTA-PAINT 系列纳米标尺是适用于各种定位技术的超高分辨显微镜的理想标尺。因为采用DNA PAINT技术实现亮暗转换,GATTA-PAINT 纳米标尺几乎不会淬灭。此外,标尺的设计中包含了三个荧光发射点,可以获取到醒目的图像。荧光标记间的距离有如下几个尺寸:20nm, 40nm, 80nm。每种距离都有如下几种颜色可供选购:红色(ATTO 647N),绿色(ATTO 542)或蓝色(Alexa Fluor 488),或者红/绿组合(ATTO 655/ ATTO 542)纳米标尺,AFM纳米标尺,原子力显微镜纳米标尺,共聚焦显微镜纳米标尺,超高分辨显微镜纳米标尺,SIM纳米标尺,STED纳米标尺,STORM纳米标尺,电镜纳米螺旋标尺,金纳米螺旋标尺,显微镜亮度灵敏度标尺,显微镜纳米标尺技术参数:
  • 超高分辨TERS针尖增强拉曼探针/Nano IR纳米红外探针
    NEXT-TIP SL公司成立于2012年,是西班牙研究委员会 (CSIC) 的衍生公司。其生产的TERS针增强拉曼探针和纳米红外探针,基于纳米粒子沉积技术,形成具有可控尺寸和成分的纳米颗粒涂层,具有超高的横向分辨率,大大提高了使用寿命。TERS针增强拉曼探针Next-Tip TERS 探针的出色性能与其形态特征有关。这些探头的设计经过开发,具有优异的 AFM 性能和超强的拉曼信号。突破针增强拉曼探针的限制:&bull 高可靠性,使用户能够专注于样品的表征。&bull 高达3 nm的超高分辨率&bull 超高灵敏度,可获得完全清晰/稳定的光谱,质量优于传统TERS。增强因子和对比度增强系数 (EF) 值是根据探针针的增强电场来量化拉曼信号的增强的参数。这个参数基于对比度值。对比度值根据在同一点的近场和远场扫描收集的实验数据计算。金TERS探针保证对比度高于20,银TERS探针保证对比度高于40,使得Next-Tip TERS 探针的增强系数高达105 -106。寿命银镀层的TERS探针由另一层金纳米粒子保护,以避免氧化和污染,保持等离激元的效应。致密的金纳米颗粒涂层提升了金属层厚度,大大提高了探针的耐用性。此外,纳米颗粒沿探针表面形成的不规则结构延长了其测量的寿命。性能可控的涂层沉积过程可实现坚固探头的高可重复性和高分辨率。此外,这种涂层工艺可以在针的点放置一个或两个纳米颗粒,实现超高空间分辨率。测量显示 AFM 分辨率小于5 nm,TERS 分辨率小于10 nm。TERS针增强拉曼探针类型高分辨率TERS在锐的硅基针上附着尤其致密,不规则和锐的纳米颗粒涂层,可获得超高空间分辨率和高质量的成像。基础TERS: 通过致密、不规则、颗粒状坚固的纳米颗粒涂层,用优化的涂层产生超强的拉曼信号,获得准确的成像和光谱数据。各型号参数对比银芯基础TERS探针高分辨金TERS探针高分辨银芯TERS探针型号NT-EASY-TERS-70银NT-EASY-TERS-300银NT-TERS-E-85金NT-TERS-E-335金NT-TERS-E-85银NT-TERS-E-335金共振频率(kHz)703008533585335力常数(N/m)2262.8452.845悬臂长度(μm)240160240160240160TERS针增强拉曼探针 测量结果1L MoS2/AuCNT/Graphene Oxide单层过渡金属二硫化物(TMDC)拉曼激发模式高精度表征参考文献:Alvaro Rodriguez, Matěj Velický , Jaroslava &Rcaron áhová, Viktor Zólyomi, János Koltai, Martin Kalbá&ccaron , and Otakar Frank. Activation of Raman modes in monolayer transition metal dichalcogenides through strong interaction with gold. Phys. Rev. B 105, 195413 – Published 10 May 2022. DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.105.195413Nano IR纳米红外探针纳米红外光谱的原理是基于一个锐的金属涂层前沿,激发激光束落在该前沿上。探针针的电磁场由于局部表面等离激元共振和避雷针效应的共同作用而具有局域限制和增强的效果。更强的纳米红外信号Next-Tip探针得到的红外信号比常用AFM探针高出几倍(约5倍)。下图显示了使用相同带宽激光源的两种探针在硅上获取的未标准化的近场振幅光谱。更高的纳米红外信噪比与使用标准的探针得到的光谱相比,使用Next-Tip探针得到的光谱具有更小的背景干扰,从而得到更高的SNR和更清晰的光谱。下图显示了使用两种探头在13.6秒内记录的PMMA的三阶解调纳米红外吸收光谱。Nano IR纳米红外探针类型各型号参数对比象鼻形金字塔形型号NT-IR-E-85NT-IR-E-335NT-IR-P-75NT-IR-P-330共振频率(kHz)8533575330力常数(N/m)2.8452.842悬臂长度(μm)240160225125
  • TPX3Cam用于纳秒光子时间戳的单光子快速光学相机 (1.6ns时间分辨高速成像光学相机)
    总览荷兰ASI出品的TPX3Cam是一款用于光学光子时间戳的快速光学相机。它基于一种新型硅像素传感器,并结合了Timepix3 ASIC和读出芯片技术,适用于电子、离子或单光子等需要时间分辨成像的各种应用。TPX3Cam可以很容易地集成在桌上型研究装置中,也可以集成在同步加速器或自由电子激光环境中。使用TPX3Cam,可在速度映射成像设备中测量电子和离子。纳秒级的时间分辨率和数据采集速率使我们能够以前所未有的方式进行测量。TPX3Cam能够在400至1000 nm波长范围内以高量子效率同时对超过1000个光子的闪烁光进行成像和时间戳记。它可以在VMI(速度映射成像)装置中高效地记录撞击在MCP(微通道板)上的离子。 MCP耦合到一个快速P47磷光体屏,该屏产生响应离子撞击MCP的闪烁光。TPX3Cam放置在真空之外,能检测来自磷光体屏的闪光。在TPX3Cam中,所有单个像素都可独立工作,且能对伴随发生的' 事件' 进行时间戳记。 这就将成像传感器变成了快速数字转换器阵列,具有并行作用的空间和时间分辨率,因此可以同时记录多个离子种类,允许进行符合测量和协方差分析。工作波长400-1000nm技术参数优点光敏硅传感器波长范围:400 - 1000nm每像素的同时检测时间(ToA)和强度(ToT)时间分辨率1.6ns,有效帧率 500 MHz无噪声、数据驱动读数,高达80 Mhits/s (10Gb/s)灵活光学设计下图:TPX3CAM能够同时对超过1000个光子进行成像和时间标记,在400到1000 nm波长范围内具有高量子效率。它可以在VMI(速度图成像)配置中有效地记录撞击在微通道板上的离子。MCP与快速P47荧光粉耦合,当离子撞击MCP时,该荧光粉会产生闪光。TPX3CAM,放置在真空之外,可以检测荧光粉的闪光。“在TPX3CAM中,所有单个像素都独立工作,能够对‘事件’进行时间标记。这将成像传感器转变成一个快速数化器阵列,具有空间和时间分辨率,同时发挥作用,因此可以同时记录多个离子种类,从而进行重合和协方差分析。"应用离子和电子成像TPX3CAM的应用包括飞行时间质谱中离子的空间和速度图成像;离子和电子的符合成像,以及其他时间分辨成像光谱类型。TPX3CAM能够以1.6 ns的时间分辨率检测离子撞击并对其进行时标记,从而可以同时记录所有碎片离子的离子动量图像。这种单检测器设计简单、灵活,能够进行高度差分测量。右边的图像显示了CH2IBr的离子TOF质谱,该质谱是在德国汉堡同步加速器的闪光光源下,用TimepixCam(TPX3CAM的之前型号)记录的,在强激光脉冲强场电离后,以及每个探测器的图像在TOF光谱中的峰值。单光子成像强化版TPX3CAM可以是单光子敏感的。在这种配置中,检测器与现成的图像增强器结合使用。应用包括宽场时间相关单光子计数成像(TCSPC),磷光寿命成像和任何需要时间分辨单光子成像的应用。图像(a): 通过TimepixCam获得,TimepixCam是TPX3CAM的前一个模型。图像(b):对于(a)中所示的A1-A4区域,强度是时间的函数(磷光衰减),磷光衰减和拟合的残差具有单指数拟合。 规格传感器材料光敏性增强的硅波长范围400 - 1000 nm探测范围~1000光子/每像素光学传感器活动区域14.1 x 14.1 mm2类型C型接口成像专用集成电路类型Timepix3像素间隔55 µm像素数量256 x 256阈值数量1吞吐量10 Gb/s 的情况下,高达80 Mhits/s1 Gb/s的情况下,高达15 Mhits/s停滞时间读数停滞时间为0时间分辨率1.6 ns有效帧速率 500 MHz像素击中停滞时间~1 µs读出模式数据驱动,通过每像素ToA和ToT检测同步时间和强度其他参数计算机接口1 Gb/10 Gb外部快门控制有外部信号时间戳260 ps重量2.2 kg尺寸(长x宽x高)28.8 x 8 x 9 cm冷却空气采集软件Windows/ Linux/Mac的图形用户界面
  • 纳米升降台
    纳米升降台,纳米升降平台由中国领先的进口光学精密仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售,精通光学,服务科学,先后为北京大学,中科院上海光机所,中国工程物理研究院,航天3院,哈工大,南开,山东大学等单位提供优质进口的纳米升降台,纳米升降平台,精密升降台。这款纳米升降台是美国进口的短行程的精密升降台,Elevator Stage,纳米升降平台特别适合竖直的Z轴应用,它具有极佳的上下定位功能,超高分辨率,超高重复精度和机械稳定性。产品特色:这款纳米升降台采用高密度交叉滚珠导向系统用于竖直导向,确保最大的稳定性。单立柱式的X滚珠导向系统提供了适度的高刚性,使得这款纳米定位台具有极小的滞后和相当大的承载能力。纳米升降台应用:这款纳米定位台比较适合对Z轴垂直升降精度较高要求的应用。比如,光学成像系统中焦平面的准直,半导体测试,视频测量等。纳米升降台参数行程:4mm驱动系统:无刷伺服-丝杆驱动最大速度:20mm/s最大负载;10kgTTL分辨率:100nm, 50nm, 25nm, 12.5nm, 10nm, 1nm重复精度:5x分辨率
  • 纳米X射线显微镜
    超高分辨率非破坏性3D成像 Nano XCT-100是世界唯一的对微米体积样品进行3D观察的实 验室超高分辨率CT扫描系统。精密的X射线聚焦光学系统提供了 50nm的成像分辨率,将X射线CT的能力大大延伸至纳米尺度。当吸 收衬度很低时,集成的Zernike相位衬度成像技术增强了所有边缘和 界面的可视性。nanoXCT-100提供了可靠的3D体积信息,而其它截 面成像技术和破坏性方法只能获得部分信息。 应用: - 生命科学和生物医学研究 - 半导体封装技术开发和失效分析 - 先进材料科学研究 - 石油天然气勘探分析
  • 纳米金分辨率测试标样 681 不含样品座
    15nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样
    30nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 681 不含样品座
    15nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样
    30nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 681-P 含样品座P
    15nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 681-E 含样品座E
    15nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 680-L 含样品座L
    30nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 680-M 含样品座M
    30nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 681-A 含样品座A
    15nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 681-M 含样品座M
    15nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 681-L 含样品座L
    15nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 681-K 含样品座K
    15nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 680-B 含样品座B
    30nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 680-F 含样品座F
    30nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 681-F 含样品座F
    15nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 681-B 含样品座B
    15nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 680-A 含样品座A
    30nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 681-O 含样品座O
    15nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 680-C 含样品座C
    30nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 681-G 含样品座G
    15nm PELCO 纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 681-C 含样品座C
    15nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 680-L 含样品座L
    30nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 681-D 含样品座D
    15nm PELCO纳米金分辨率测试标样
  • 纳米金分辨率测试标样 680-K 含样品座K
    30nm PELCO纳米金分辨率测试标样
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