射线晶体衍射法

D8 VENTURE/QUEST—面向未来的单晶X射线衍射仪D8 VENTURE/QUEST是布鲁克公司推出的新款，功能强大的X射线单晶衍射仪。 一体化的设计， 配备目前世界上先进的光源以及PHOTON III MMPAD探测器，帮助您测试最富有挑战性的晶体，获得好的数据质量。 其主要特点为：● 同时适合小分子晶体学和蛋白质晶体学的研究需要，应用范围广。● 新一代的lus 3.0微焦斑光源，性能娘美微焦斑转靶，零维护，寿命超长。● 液态金属靶MetalJET，室内X射线光源， 强度远● 远高千微焦斑转靶，让您拥有个人的“同步辐射＂ ，解决最难的晶体学问 题， 比如GPCR膜蛋白的结构。● 采用四代光源XFEL探测器技术的PHOTON III MMPAD混合光子计数探测器，● 超大面积，超快速度， 零噪音， 单光子检测的灵敏度。● 双靶配置， 软件自动切换光源。 满足不同类型的研究需要。 元件自动识别， 智能化光路管理。● 新一代的APEX3/PROTEUM3软件， 功能强大， 智能化程度高， 轻松操控仪器， 获得好数据。● lus Diamond微焦斑光源， 零维护， 性能超越微焦斑转靶。

D8 VENTURE/QUEST—面向未来的单晶X射线衍射仪D8 VENTURE/QUEST是布鲁克公司推出的新款，功能强大的X射线单晶衍射仪。 一体化的设计， 配备目前世界上先进的光源以及PHOTON III MMPAD探测器，帮助您测试最富有挑战性的晶体，获得好的数据质量。 其主要特点为：● 同时适合小分子晶体学和蛋白质晶体学的研究需要，应用范围广。● 新一代的lus 3.0微焦斑光源，性能娘美微焦斑转靶，零维护，寿命超长。● 液态金属靶MetalJET，室内X射线光源， 强度远● 远高千微焦斑转靶，让您拥有个人的“同步辐射＂ ，解决最难的晶体学问 题， 比如GPCR膜蛋白的结构。● 采用四代光源XFEL探测器技术的PHOTON III MMPAD混合光子计数探测器，● 超大面积，超快速度， 零噪音， 单光子检测的灵敏度。● 双靶配置， 软件自动切换光源。 满足不同类型的研究需要。 元件自动识别， 智能化光路管理。● 新一代的APEX3/PROTEUM3软件， 功能强大， 智能化程度高， 轻松操控仪器， 获得好数据。● lus Diamond微焦斑光源， 零维护， 性能超越微焦斑转靶。

Thermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX Pro立式X 射线衍射仪，高精度、高效率、高可靠性Thermo Scientific ARL EQUINOX Pro 是一款采用θ/θBragg-Brentano光学的立式X射线衍射仪。这款仪器基于“整体最优”设计原则，凭借先进的软、硬件配置，实现仪器系统运行的整体优化，提升仪器分析的准确性、精确性、易用性和安全性。这款仪器能够出色地完成各类粉末晶体的衍射分析，广泛地应用于材料研发和产品质量控制的相关领域。新型电控测角系统：最新的小型化和分散化电机控制系统，可克服由于驱动电机失步或超步引起的位置误差，提高测角仪的整体控制精度和重复性先进光子探测技术：前沿PTPC(脉冲触发实时位置)计数技术，通过同步脉冲触发探测器的电子门控电路，将测角仪实际到达位置与探测器响应进行同步，实现探测器计数与测角仪位置的精确对应，将角度位置与信号采集精确控制在行业先进级别魔卡免维护设计：光路魔卡设计系统和机械误差动态补偿技术，通过整个光路系统上的组件、光源高低、倾角、狭缝架高低、探测器的魔卡设计，支持用户在切换光路和样品台后无需再次校正，直接使用仪器X射线衍射原理帮助生产过程更高效，降低生产成本精准监控原材料品质，确保产品质量高标准严格遵循流程和法规，助力研发效率再提升

D6 PHASER是德国布鲁克AXS公司新推出全球首款用于X射线粉末衍射反射与透射几何、掠入射衍射与反射法薄膜分析以及块体样品应力和织构分析的台式衍射仪平台。 D6 PHASER是一个开创性的台式X射线衍射平台，它兼具可操作性与灵活性。与传统台式衍射仪不同的是，D6 PHASER提供了超越粉末衍射的先进分析方法。凭借广泛的应用，D6 PHASER为X射线衍射技术开辟了新的市场和用户群体。&bull 能够满足用户的各项研究需求。&bull 发生器功率高达1200w&bull 3个发生器和探测器、6个样品台，适用于8项应用，为您开启无限的研究机会&bull 采用动态光束优化（DBO）技术，可实现更高强度和角度精度（即使在更换样品台的情况下，也保证峰位置优于0.01°的角度偏差）技术参数：&bull 2θ校准精度保证在±0.01°以内&bull 高压发生器：600瓦或者1,200瓦&bull 久经考验的测角仪&bull LYNXEYE XE-T能量分辨探测器&bull 无需外接水冷&bull 占地面积小主要特点：● 强大功率高达1.2 千瓦，包含内部冷却系统久经考验的测角仪LYNXEYE XE-T能量分辨探测器可选配电动光学器件● 多功能适用于基本粉末衍射以外的多种测量类型，是D6 PHASER的标志性特色之一，使其成为能支持各种实验的真正通用平台。反射和透射非环境衍射掠入射衍射、X射线反射、应力、织构● 易用用户无需经过培训。基于布鲁克简单易用的软件及其对XRD分析方法的广泛了解，以及价格合理的自动化附件，D6 PHASER 能够以直观的方式，指导用户实施这些分析方法。动态光束优化（DBO）触摸面板操作样品台和光学器件切换

DDCOM 用于超快速晶体取向测量用于晶体取向测量的台式 X射线衍射仪 (DDCOM) 是一种用于自动测定各种晶体取向的工具。超快速扫描方法速度是Theta扫描方法的 200 倍以3D形式自动评估完整晶格取向在10秒内测定整个晶体取向高效的质量控制工作流程用于标准研究和工业工作流程晶体取向的方位设置和标记预编程的立方晶体参数先进便捷的软件精度高，可达（1/100）°结构紧凑、用户友好、性价比高样品处理方便，操作简单采用风冷 X射线光管（无需水冷），能耗和运行成本低控制切割、研磨和抛光单晶的完整晶格取向适用于不同尺寸和重量的各种独特材料，例如：2-12“的晶圆和重达20kg的铸锭

Xstress3000X射线衍射法应力分析仪能快速检测齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。　Xstress3000X射线衍射法应力分析仪进行长途运输前，要安装角形支架，可以防止x射线管套在运输途中受震而移位。在重新使用x射线应力仪前，请务必先拆除这个角形支架，否则会烧损伺服电机。在联接高压电缆时，注意高压管头不要粘有杂物（如果有必要，可以用酒精擦拭高压管头，在联接主机前，一定要保证管头干燥。）。平时，不要用手触摸白色陶瓷部分和前端金属头，拆下电缆后，要即时安装上黑色保护套。应力分析仪主要对各种多晶体材料进行残余应力和残余奥氏体分析和研究，以计算机为中央微处理机，采用高精度探测技术、数据准确和可靠，不需要水冷，方便安装和移动使用，系统超高灵敏度，适合测量的材料范围广，配合电解抛光仪可测量不同深度的残余应力，便携方便，可在实验室和野外现场测量。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。主要特点：具有自动校准功能，方便操作自动对焦功能，可以根据物体距离自动调节激光定位：保证了测量的准确性设备重量轻，方便携带测角仪有效的避免了探臂式结构的干扰现象

弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备， 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等；同时致力于开发多种 结构的弯晶构型，包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试， 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律，即当入射X射线与晶体晶格相互作用时，会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状，能够精确控制X射线的衍射效应，从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1，衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一，使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试，对各种弯晶材料进行了全面的研究，总结出相应的的性能特点，可以为客户提供优化设计的支持。弯晶石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶，并对各种弯晶构型做了详细测试，综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用，XRF能够在激发端有效降低荧光背景，检出限相比传统能谱方案降低一个数量级，如硫的检出限可达到1ppm以下，符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦，部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时，检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级，测硫方案符合ASTM 7039标准；部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值，还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务，将设计、制作和调试打包成一体，为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器，即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持，保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。

德国弗莱贝格仪器Quatrz XRD——石英晶体X射线衍射仪主要应用于对石英棒、硅片和坯料进行生产质量控制。而根据样品对象的不同，Quatrz XRD可以分为Quatrz Bar XRD、Quatrz Wafer XRD和Quatrz Blank XRD，即全自动石英棒定向仪、全自动石英晶圆盘分析仪和全自动石英晶片分选仪三种型号。全自动石英棒定向仪▼ 样品：石英棒特点：完全自动化的吸收和校准石英棒自动上胶转接器板校准精度：±0.5°(AT & TF)全自动石英晶圆片分析仪▼样品：圆形，长方形和正方形4 x 4毫米至80 x 80毫米(人工处理样本)20 x 20毫米至80 x 80毫米(自动样本处理)特点：空间质量检查的映射图选项模块化设计，支持未来的自动化升级用于输入/输出的标准样品盒：盒式或叠式可用排序函数产量：在标准分选精度下，可高达350片/小时全自动石英晶片分选仪▼样品：圆形，长方形和正方形4 x 4毫米至12 x 12毫米(手工处理样本)1.5 x 1.5毫米至3.0 x 6.0毫米(自动化选项一)4.0 x 4.0 mm至9.0 x 9.0 mm(自动化选项二)特点：质量分组：±7.5 arcsec吞吐量：在标准分拣精度下，每小时可处理高达1000个晶片

D8 DISCOVER是旗舰款多功能X射线衍射仪，带有诸多前沿技术组件。它专为在环境条件下和非环境条件下，对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。应用范围：定性相分析和定量相分析、结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析X射线反射法、掠入射衍射（GID）、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析残余应力分析、织构和极图、微区X射线衍射、广角X射线散射（WAXS）总散射分析：Bragg衍射、对分布函数（PDF）、小角X射线散射（SAXS）薄膜分析X射线衍射（XRD）和反射率是对薄层结构样品进行无损表征的重要方法。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE软件将有助于您使用常见的XRD方法轻松进行薄膜分析：掠入射衍射（GID）：晶相表面灵敏识别及结构性质测定，包括微晶尺寸和应变。X射线反射率测量（XRR）：用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。高分辨率X射线衍射（HRXRD）：用于分析外延生长结构：层厚度、应变、弛豫、镶嵌、混合晶体的成分分析。应力和织构（择优取向）分析。材料研究XRD可研究材料的结构和物理特性，是最重要的材料研究工具之一。D8 DISCOVER就是布鲁克推出的、用于材料研究的旗舰款XRD仪器。D8 DISCOVER配备了技术的组件，可为您带来优异的性能和充分的灵活性，同时让研究人员对材料进行细致入微的表征：定性相分析和结构测定微米应变和微晶尺寸分析应力和织构分析粒度和粒度分布测定使用微米大小的X射线束进行局部XRD分析倒易空间扫描筛选和大区域扫描涉及高通量筛选（HTS）和大区域扫描分析时，D8 DISCOVER是优异解决方案。而有了UMC样品台的加持，D8 DISCOVER更是成为了电动位移和重量能力方面的同类优异：孔板和沉积样品在反射和透射中的高通量筛选（HTS）对最/大300 mm的样品进行扫描安装和扫描重量不超过5kg的样品自动化接口微焦源IμS配备了MONTEL光学器件的IμS微焦源可提供高/强度小X射线束，非常适合小范围或小样品的研究。毫米大小的光束：高亮度和低背景绿色环保设计：低功耗、无耗水、使用寿命延长MONTEL光学器件可优化光束形状和发散度与布鲁克大量组件、光学器件和探测器完全兼容。UMC样品台D8 DISCOVER提供了许多UMC平台，具有全新的样品扫描和重量容纳能力：可对重达5 kg的样品进行扫描大区域映射：最/大300mm的样品支持高通量筛选（HTS）的UMC样品台，最多支持三个孔板。考虑到其高度的模块化性能，该UMC样品台可根据客户的要求进行超出标配的定制。多模EIGER2 R检测器EIGER2 R 250K和500K是将Synchrotron性能带入实验室X射线衍射的2D检测器。先进的传感器设计，包括第二代性的EIGER：最/大尺寸为75 x 75mm2的50万像素，可实现微观分辨率的宏观覆盖。符合人体工程学的设计：轻松即可根据应用需求，调节探测器的位置和方向，包括0°/ 90°免工具切换以及探测器位置可连续变化、支持自动对光。全景光学器件和附件，视野开阔。0D、1D和2D操作模式：支持快照、步进、连续或高级扫描模式。可与DIFFRAC.SUITE完全无缝集成。TRIO Optics与PATHFINDER PLUS Optics获得的TRIO光学器件可在三种光路之间自动切换：用于粉末的Bragg-Brentano聚焦几何用于毛细管，GID和XRR分析的高/强度平行光束Kα1,2几何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何PATHFINDERPlus光学器件带有一个用于确保测得强度的线性的自动吸收器，并可在以下之间切换：电动狭缝：用于高通量测量分光晶体：用于高分辨率测量使用配备了TRIO和PATHFINDERPlus的D8 DISCOVER，无需重新配置，在环境条件下或非环境条件下，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所类型尽在掌握。

劳厄晶体衍射仪产品概述：MWL120实时反射劳厄相机系统用来测定单晶的取向（反射和透射）、单晶的完整性、测量晶体的对称性、观察晶体的一般缺陷、拍摄板材棒材的结构相、精确测定点阵常数、测定残余应力等。 原理：由X射线管产生的X射线从相机的入射光阑射入，照射在被分析样品上，在满足布拉格公式：nλ=2dSinθ条件下，产生X射线衍射图像，这些图像记录在感光片上，然后对这些图像进行计算分析，可以了解物质内部结构。 本产品所具有的特点1 有效检测范围大：30cm×30cm2 灵敏度高：单光3 角灵敏度高：0.054 探测速度快：几秒钟即可根据角的偏差自动收集分析并在电脑上形成劳厄图像5 维护成本低：半年更换一次气体，一年更换一次冷却剂即可（价格较低廉）6 样品可旋转：探测器转过程中同时转动样品，可以得到对称性高的图像

X射线单晶衍射仪 D8 结晶解决方案 — 单晶 X 射线衍射 (SC-XRD) 的质量和多功能标准结晶是确定小分子和大分子结构的zui明确方法，且单晶 X 射线衍射可以通过其他科学无法企及的方式，提供准确、精确的分子大小测量结果。Structural Biology D8 QUEST和D8 VENTURE 提供广泛的 X 射线源及光学器件，以及测角仪选项。D8 QUEST 是一种体型小巧、经济实惠的高性能单一 X 射线源配置，适用于化学结晶等典型用途，而D8 VENTURE 为化学和生物结晶的双波长组合提供平台。 D8 QUEST 是一个专为单波长试验而设计的紧凑型解决方案，配备有革新性的 PHOTON 100 CMOS 探测器。该系统可以在较小的空间里高度灵活的进行试验，可十分方便的拿取物品并具备较高的样品可视性。 根据 DAVINCI.DESIGN 原理，该系统使用zui好的组件进行高度模块化设计，并且具有完全气冷配置。因此，D8 QUEST 能够提供完全符合您的研究需求的解决方案。保证提供zui好的结构。系统参数：具备 CMOS 技术的全新 PHOTON 100 探测器100 平方厘米的大型有效面积高灵敏度气冷3 年保修密封 X 射线源Mo or Cu radiation经济划算的解决方案可选 3 倍强度的 TRIUMPH全新的高亮度 IμS 微聚焦 X 射线源Mo or Cu or Ag radiation强度zui多增加 60%气冷 (观看我们的 Air-Cooled 视频)3 年保修提供zui佳的软件APEX2 是适用于化学晶体的zui完整套件PROTEUM2 现在具有一个适用于结构生物学的数据处理线路完全集成的低温装置（可选） D8 VENTURE 的试验装置放置在更为宽敞的外壳内，还为旋转阳极提供空间以及双波长解决方案。所有系统均配备革新性 PHOTON 100 CMOS 探测器。 D8 VENTURE 提供zui高的试验灵活性，可十分方便地拿取物品并具备较高的样品可视性。获专利的门可采用滑门模式或双开式弹簧门模式打开。该系统使用zui好的组件进行高度模块化设计，并且具有完全气冷配置。 因此，D8 VENTURE 能够提供完全符合您的研究需求的解决方案。保证提供zui好的结构。系统参数：具备 CMOS 技术的全新 PHOTON 100 探测器 100 平方厘米的大型有效面积高灵敏度气冷提供三年保修密封X 射线源 Mo or Cu radiation经济型解决方案可选 3 倍强度的 TRIUMPH全新的高亮度 IμS 微聚焦 X 射线源Mo or Cu or Ag radiation强度增加高达 60%气冷 (观看气冷演示视频)提供三年保修微聚焦 TXS 旋转阳极紧凑型直接驱动，维护量低细丝经预先结晶和预先校准METALJET 适用于结构生物学的革新性液态金属 X 射线源适用于更小、更具挑战性样品的zui高 X 射线强度室内源使用镓放射自生式标靶，降低背底散射和放射损伤购置成本低，正常运行时间长测角仪FIXED-CHIKAPPABest goniometer precision选择一个带有小于 7 微米弥散球的测角仪，确保即使是zui小的样品，也能稳固地放置在 X 射线束的中心先进安全外壳 符合zui严格的辐射安全规范符合新机械指令提供zui佳的软件 APEX2 - 适用于化学晶体学的zui完整套件PROTEUM2 - 现在具有一个适用于结构生物学的数据处理线路完全集成的低温设备（可选）设备咨询电话：（微信同号）；QQ：；邮箱：欢迎您的来电咨询！

X射线单晶衍射仪X-ray Single Crystal Diffractometer System1．用途及特点：测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况；可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。精确测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构；可精确测定无机分子、有机分子、矿质材料以及大生物分子的结构，提供全面的结构数据，并可按不同要求提供各种结构图、动态图。 2. 系统总体构成：高性能混合像素光子直读探测器；kappa 四圆测角仪；X 射线金属陶瓷管（Mo 或 Cu）；X 射线发生器；单毛细管光学器件；晶体样品液氮低温系统；晶体样品监视系统；X 光管的循环冷却水装置；计算机控制系统；系统控制和数据收集及数据分析软件。 3. 主要技术参数： 3.1 X 射线发生器和光路系统：3.1.1 X 射线发生器最大输出功率: 3000W；3.1.2 最大管电压/通道：60 KV；3.1.3 最大管电流/通道：50 ma；3.1.4 电流电压稳定度： 8 小时内变化不超过± 0.1%；3.1.5 X 射线管保护：过电压、过电流、冷却水异常保护； 3.2 测角仪：3.2.1 类型: kappa 四圆测角仪，步进马达定位，四个角度均可自由转动，满足常规晶体结构分析和专业晶体学研究需要；3.2.2 角度分辨率：Omega 和 Theta 0.0001 度，Kappa 0.001 度，Phi 0.001 度；3.2.3 扫描速度范围 0.005 - 3.0 度/秒；3.2.4 theta 臂具有通用性，与公司所提供的其他探测器兼容； 3.3. 晶体对中监视系统：CCD 摄像头加放大镜头，安装在仪器内部用于样品对心与调整； 3.4 探测器：DECTRIS Pilatus混合像素光子计数探测器；3.5 高性能计算机实现仪器控制及数据采集；3.6 系统控制和数据处理软件：包括控制、维护、数据收集、数据还原和数据分析程序，以及处理孪晶和晶面吸收校正等功能。收集数据和还原数据同步进行；3.7 液氮低温系统：温度范围 120 - 400 K，控温精度：± 0.1 K。

TD-5000型单晶X射线衍射仪产品介绍国内独家—填补国内空白仪器功能： TD-5000 X射线单晶衍射仪主要用于测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构。测定新化合物(晶态)分子的准确三维空间(包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度)及分子在晶格中的实际排列状况 可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。X射线单晶衍射仪是以丹东通达科技有限公司为牵头单位，承担的国家科技部-【国家重大科学仪器设备开发专项】立项的高新技术产品，填补国内没有单晶衍射仪研制和生产的空白。仪器特点：整机采用可编程序控制器PLC控制技术； 操作方便，一键式采集系统；模块化设计，配件即插即用，无需校准；触摸屏实时在线监测，显示仪器状态；高功率X射线发生器，性能稳定可靠；电子铅门联锁装置，双重防护。仪器精度：2θ角重复精度：0.0001°；最小步进角度：0.0001°； 温度控制范围：100K—300K控制精度：±0.3K测角仪：采用四圆同心技术来保证无论发生怎么样的转动均可使测角仪中心保持不变,实现获得最精准的数据的目的,得到更高的完整率，四圆同心是常规单晶扫描的必要条件。PILATUS混合像素探测器：采用PILATUS混合像素探测器能够实现最好的数据质量的同时保证低功耗和低冷却的特点,该探测器将单光子计数和混合像素这两项关键技术相结合，应用于同步辐射和常规实验室光源等各个领域，有效排除读出噪声和暗电流的干扰，混合像素技术可以直接探测X射线，更易分辨信号，并且PILATUS探测器可以高效提供优质数据。 高速二维面探测器特点（可选配）： 敏感区域 [mm2]：83.8 × 70.0像素尺寸 [µ m2]：172 × 172像素间距： 0.03%最大帧速率[Hz]：20读出时间[ms]:7能量范围[keV]:3.5 - 18低温设备：通过低温设备采集的数据结果更加理想，在低温设备的作用下可提供更多的优势条件可以使不理想的晶体获得理想的结果，也可使理想的晶体获得更理想的结果。温度控制范围:100K~300K； 控制精度:±0.3K 液氮消耗量:1.1~2升/小时；完美的控制软件及测试结果：可选附件：多层膜聚焦透镜：X射线管功率：30W或50W；发散度：0.5~1 mrad；X射线管靶材：Mo /Cu 靶；焦斑：0.5~2 mm销售业绩：

X射线衍射基本原理：当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。土壤粘粒矿物是土壤中带电荷粒子之间进行相互作用的主体。研究表明，粘粒矿物的种类有十几种，主要类型有绿泥石、高岭石、伊利石、蒙脱石和伊/蒙混层矿物。粘粒矿物种类不同地区分布不同，其含量也在不同地区有很大差异，而各个储层在平面和纵向上相差很大。映SHINE便携式X射线衍射仪（土壤版）是浪声专为黏土矿物鉴定而研发的一款便携式X射线衍射设备，其可以基于不同的黏土矿物的晶体构造，快速鉴定出粘粒矿物具体种类以及其所占的百分含量，即便是细微粒状的矿物也能准确判定，具有制样简单、快捷、测量精度高等优点，是粘粒矿物鉴定的主要方法。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要约20毫克的样品即可获得优质的检测结果并可以减小或避免择优取向问题。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。二维X射线衍射仪仪器配备电荷耦合装置（CCD）探测器，可以采集衍射环的切片，以帮助用户了解是否正确制备了样品（粒子统计和/或晶粒的择优取向）。从而进一步帮助用户确认所获得的定性定量数据是否具有准确性和代表性。配置灵活根据用户具体应用的需要，为客户提供Cu/Co靶材两种不同的阳极靶材。应用场景 农业绿色发展 土壤污染治 理 环境指示研究 规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keVXRF检测范围Mg(镁)—U(铀)样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸500×400×188mm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

X射线衍射方法是研究晶体结构的重要手段之一。高压X射线衍射实验中，样品尺寸通常较小，且衍射几何会受到高压样品腔（DAC）的限制，因此该实验方法对对X射线光源有较高要求，即要求X射线源同时具备微焦点、高通量、高能量三大要素。同步辐射光源是目前高压衍射实验使用的主要光源，但其机时通常较紧张。随着科学技术的发展，传统的X光机得到了长足发展，不论光源强度还是焦点尺寸都已经满足了高压实验的需要。实验室所用的高压X射线衍射仪在使用时间上不受限制，为科研人员开展高压衍射实验提供了巨大的便利。本公司针对高压 X 射线衍射技术，采用最先进的旋转中心定位方法，成功研制出针对高压实验的专用X射线衍射仪，其独特的设计可同时用于高压粉末和高压单晶两种实验，实现一机两用。技术指标：1、 可选微焦斑Mo靶（17kev）,Ag靶材（22 kev），同时可选针对高压实验的高能液态金属In光源（24 kev），X 射线光源具有聚焦后样品处光斑小，光通量大和波长短等特点。2、 大面积、单光子计数探测器提高衍射数据分辨率，获得更多的衍射峰数量，提高晶体结构的分辨率。配备CdTe单光子计数型探测器，大幅提高对短波长射线的探测效率并降低背景噪音，提高数据信噪比。3、 采用在同步辐射实验装置上所使用的先进旋转中心定位法，在此基础上进行优化。利用五维电动样品位移台，通过软件操作，实现样品扫描对中。具有样品到探测器距离固定不变、数据精确等优势，避免用户操作时辐照损伤。液态金属In靶E1型X射线光源参数高通量模式焦斑大小90 μm FWHM通量1.9 × 108 ph/s发散度3.15 mrad小焦斑模式焦斑大小15 μm FWHM通量1.8 ×107 ph/s发散度12.6 mrad特殊模式焦斑大小10 μmFWHM通量1.0 ×106 ph/s发散度2 mrad位移台参数XY轴重复定位精度±0.2 μm；行程±10 mm；Z轴重复定位精度≤±0.2 μm；行程±10 mm；Ф 轴重复定位精度≤0.002°；行程±135°；X1Y1重复定位精度±0.2 μm；行程±12.5 mm；应用领域：1、高压下的结构相变、状态方程、弹性、织构等研究2、涉及的材料包括高温超导体、纳米材料、超硬材料、矿物、大块金属玻璃、半导体、各种功能材料等3、应用领域包括物理、化学、地球/行星科学、材料等

仪器简介：X射线衍射实验源自于美国宇航局火星科学研究，将其用于火星车上岩石矿物分析，这是世界上*台台式集成XRD/XRF分析仪器。BTX获得了NASA*授权，带来了一种全新的方法能同时完成X射线衍射和X射线荧光的检测。核心突破性技术：1、 振动样品系统：这种操作是基于确保样品中的晶体呈现足够的无规则取向。BTX采用了已获*新方法。2、 CCD检测器：利用一种特殊成熟的直接激发的电荷耦合器（CCD），通过透射法BTX能够同时为X射线衍射和X射线荧光采集X射线光子数据。3、 功能强大的分析软件：包括物相鉴定模式匹配软件提供完整的分析， 使用公众衍射数据库或者商业数据库。应用行业：美国Innov-X（伊诺斯）BTX小型台式多功能X射线衍射仪应用广泛，涉及领域包括：制药、矿产、食品安全、石油、教育科研、水泥等研发、原材料、产品质量控制检测。技术参数：1、 检测器类型： x射线CCD2、 仪器尺寸：30 x 17 x 47cm3、 样品粒度大小： 150&mu m，研磨 (100目, 150 &mu m)4、 样品量： 15mg 可选小样品支架 特殊定制订单主要特点：检测前不需要研磨样品，无需另购专业研磨设备免费专家设计多功能操作分析软件光学系统没有移动部件，仪器不容易损坏仪器操作简易不需要专业人士操作检测速度快，*可以做很多样XRF提供元素辅助信息占地空间小，无需专门准备实验室几乎没有耗材，维护保养成本低耗能低联系我们(直接用户)联系我们(经销商)德祥热线：邮箱：更多产品请登陆德祥官网：

日本Rigaku 智能多功能X射线衍射仪 Smartlab SE高自动化、多功能衍射仪, 精于形，智于心 易用、智能的全功能X射线衍射仪 多功能X 射线衍射仪装备有多种附件 ，兼具多种用 途 ，例如 ：粉 末 衍 射 、小角散 射 、残余 应 力等多 种 应用。然而，伴随着仪器附件及功能的增加 ，多功能 X射线衍射仪的易用性不断降低 。您是否确定测试人 员选择了最佳的测试条件 ？当进行多种复杂附件切换 的时候，1fE如何确定仪器处于最佳的矫正状态 ？ Smartlab SE 从如下三个方面解答了您 的疑问。 首先，仪器可以通过二维码 自动识别装载于衍射仪上的 组件，井检查相关组件是否满足用户选择的测试 。理 学智能的软件会建议操作人员 更换组件 ，以达到最佳 的测试结果。 其次 ，理学独有的全自动校正操作 ，会在组件安装完 毕后启动。在实验前的自动校正 ，是确保实验数据一 致性 ，咸小实验误差 的唯一方法。 除此之外，全新的Sma「tlab Studio ｜｜ 软件为全新的 Smartlab SE 提供了模块化的衍射功能组件 ，包括仪 器的控制 、衍射数据的分析和生成报告等。Smartlab Studio II 软件的设计思路，源自于理学的简单易用的 设计语言。全新的 Guidance 软件确保即使是初学者 也可以通过软件的“引导”获得与同行专家一样的测试 数据。 引导用户从测试到数据分析 Smartlab Studio ｜｜ 软件包中的Guidance软件可以根 据用户希望完成的测试 ，给出仪器所需硬件配置 ，井 优化测量参数 。对于常见的测试，软件会给出最优化 的仪器配置，井可以 自动化的完成测试序列。由于 Smartlab中使用了独有的组件识别技术 ，因此当测试 人员没有正确配置光路或附件时 ，Guidance 软件可以 告知测试人员。软件参数的优化与硬件组件的智能确 认是Smartlab系统可以胜任所有样品测试的关键 。 可以满足不同应用需求多种光路及附件组合 ，能满足多种用户测试需求 。 简单 、快速的切换不 同的光路几何CBO （交叉先路） 技术与光路自动调整和样品位置矫 正的结合 ，可以使用户在多种光路几何间 ，快速便捷 的切换。 支持多种附件自动进样器 、样品旋转台、变温附件或湿度控制附件 等多种附件可供用户选择。 可满足快速和二维测量的先进的探测器Smartlab SE提供两个先进的检测器 ：D/teX Ultr a 250 高速一维探测器作为标准配置 ，HyPix-400 二维 半导体阵列检 测器 作 为 升级配 置 供 用 户选 择 。 HyPix-400半导体阵列检测器不仅可以在二维模式下 使用，同时还可以切换为零维或一维模式 ，这样极大 的扩展了该检测器的应用范围。 从粉末测试到二维数据采集根据用户的需要，整个仪器的配置可以满足常规粉末样品测试， 或者，复杂的微区或原位测试等要求 。 标准光路配置Bragg-Brentano 聚焦光路．粉末测试定量分析．晶粒尺寸 结晶度 切换至SAXS测量模式 理学专利的交叉光路 （ CBO） 技术 使用CBO光路系统聚焦光路件平行光路 〈通过CBO 转换） SAXS 测试 薄膜测试 聚焦光路悼会聚光路法 （CBO-E)．粉末透射测试聚焦光路件发散光路 （通过CBO α转换）．高峰背比 （P/B） 的粉末测试 切换至微区测量模式HyPix-400检测器搭载HyPix-400 的光路系统装载有HyPix-400 二维探测器的光路．微区测试原filln-situ测试．取向测试 Smartlab SE 产品特征 先进的高速探测器 高分辨率，超快速 一维 X 射线探测器D/teX Ultra250 (0/1D)D/teX Ultra250 一维探测器支持Bragg-Brentano聚焦法测试 ，并且可 以在短时间内获得广角度的粉末衍射峰形 。作为一款高性能的半导 体检测器 ，其极高的能量分辨率可以有效的降低在测试过程中产生 的背景噪音。D/teX Ultra250 高速探测器作为一维探测器使用时 ，可 以检测到极弱的衍射信号 ，同时，该探测器还可以像闪烁计数器一 样，作为零维探测器使用 。 半导体阵列多维探测器 HyPix-400 (OD /1D/20)SmartLab SE搭载了先进的HyPix-400半导体阵列20探测器 。如果说 D/teX Ultra 250可以胜任常规的零维和一维模式读取的话 ，那么大读 取面积的HyPix-40 0 二维探测器在收集二维衍射照片方面具有非常 大的优势，HyPix -400 二维探测器可以在极短的时间内完成晶体取 向评估及广域倒易空 间成像等多种应用。 交叉光路技术 ：CBO （理学专利） CBO 是理学专利的光路切换单元 ，使用CBO仅需要对狭缝更换即可 完成两种不 同的光路几何之间的切换。SmartLab SE 可以根据用户 需求提供三种不同的CBO单元的组合 ：Bragg-Brentano 聚焦光束／平 行光束，B「agg-Brentano 聚焦光束／会聚光束，B「agg-Brentano 聚 焦光束／发散光束。 B旧gg”Brentan 聚焦法 ：衷方法多用于常规粉末 XRD） lj试。 平行光束法 （CBO） ：多层膜抛物面镜使发散的光束变为平行光 。 该光束多用于SAXS ，薄膜样品或表面粗糙样品的测试等。 会聚光束法 （CBO-E） ：发散的光束通过具有椭圆形镜面的多层膜 透镜会聚于被测表面 ，该光路可以在透射模式下提供高角度分辨率 的数据。发散光束法 （CBO α）：光束被平面 多层膜镜单色后，只有 Kα，相 比Bragg-Brentano 可以增加数据的峰背比。 测量及数据分析软件包 Smartlab Studio 11 Sma「tlab Studio II 是一个功能强大、操作界面友好的软件包 ，其中整合了所有的光路调整，数据测试和分析的 功能。用户可以通过不同组件的切换选悻所需的功能 ，例如“测试” 、“粉末数据分析” 、“极图” 、℃DF分析”或“残 余应力”等功能。所有这些功能都集中于 同一个界面友好且容易操作 的软件操作平台。 智能光路感知功能由于光学组件可以被仪器自 动识别 ，使用理学的Guidance 软件可以通过演示动画指导用户更换光路或附件 。除此之外，对于常见的应用 ，软件包中预设有推荐的光路 设置 、样品校正和测量序列 ，可以吗助初学者尽快熟悉井 完成所需的测试。 流程图式的测试引导栏Sma『tlab Studio 川 采用了简洁的流程图式的引导栏，从测 试到数据分析的整个过程中 ，通过提示关键步骤 ，更加直 观的帮助测试人员者理解每步操作。 综合信息管理系统Smartlab Studio II 采用了先进的 SOL数据管理模式，于本 地数据库中高效的管理测试材料信息 、测试数据及数据分 析结果 。SOL数据库具有出色的数据检索和备份功能 ，可以轻松处理海量测试信 息.Smartlab SE 可根据应用需求调整配置反射／透射 模式下的粉末衍射测量反射模式光路配置Bragg-Brentano 聚焦法．平行光束法发散光束法用户可以根据测量需要在反射模式和透射模式 间切换。使 用会聚光束进行透射法测试 ，可以获得更高的强度和更好 的分辨率。0.1 质量分数% 石棉 （温石棉） 分散于碳酸钙中 一束发散的X射线经过平面镜单色后进行衍射实 验 ，相比于传统的 Bragg-Brentano聚焦光路模 式，可以获得更高的信背 比。从衍射实验结果中可以看出，？自量的石棉衍射信号都可 以被检测到 。 透射模式光路配置 聚焦光束法平行光束法（上图展示的是垂直模式下的透射测试光路）分别用反射法和透射法测试药 片的X射线衍射峰 药物片剂一般由含有甜昧的辅料及可食用色素构 成，可以有效的降低药片在吞咽时的苦涩感。药片 表面的成分可以通过反射法进行测试 ，而药片内部的信息可以通过透射法获得。 微区衍射测试采用理学专有的 CBO-f光学附件，该附件可以使X射线会聚于 样品表面，而不再需要调整×射线从线光源到点光源。除此之外，使用D/teX Ult「a250 高速探测器或 HyPix-400 二 维半导体阵列探测器可以快速的检测到微区实验中弱的衍射 信号。 微区测试应用于即刷电路板(1） 电容器 （2) IC 芯片 （3） 焊点 采用CBO-f 和 HyPix-400 测试。 极图／残余应力测试使用线光源在极图测量时 ，可以降低由于使用Schulz狭缝 时，衍射强度随试样倾角的增加而降低的情况 ，其测试效果与点光源一致。软件中的“Pole figure and ODF analysis” 插件可以进行晶体取向分析井且可以通过重新计算得到样品的全极图。 在残余应力测试中 ，使用平行狭缝分析器 （ PSA） 可以有效 的降低由于位移误差造成的峰位漂移 。 重新计算后生成的铝锚片的全相极图 测试中使用了 ，α日 样品台 ，反射附件 ， Schulz挟缝。全相极图是基于三个不 同的 米勒指数面 仆仆，200 和 220 ） 的测试结 果，通过ODF重新计算得来的 。 小角X射线散射（SAXS)SAXS测试可以获得粒径或孔径小于 100nm的材料的分布情 况，衷测试过程中 28角度移动范围小于 10。。SAXS测试过程 中，使用双挟握和平行光光路系 统。／使用真空光路 ，可以减小空气散射的影响 ，从而获得高质量 的数据。 10 SAXS测试分散于 甲苯中的金粒子 （双 狭缝光学系统）原位测试原位 （ In-situ ） 测试技术 ，可以通过测试人员的控制，改变 温度或湿度，同时测量衍射数据的变化。Smartlab SE支持 各种原位测量附件 ，如常见的变温附件 ，湿度控制附件，使 用DSC附件还可以监测样品在热反应前后的变化 。多种原位 附件与HyPix400半导体阵列检测器的结合 ，使得快速的实时 测量成为可能 ，不仅可以鉴定结构的变化 ，还可以检测大尺 寸晶粒和晶面取向的变化。 相变属虫化过程，甲糖宁是一种治疗糖尿病的 药物J 监测其在变温过程中物象的变化。 随着温度的变化，甲糖宁的晶体结构发生改 变。使用二维半导体阵歹I］探测器HyPix-400, 可以监测其在眼热反应 （峰） 前后晶体结构 的变化。

X射线单晶衍射仪X-ray Single Crystal Diffractometer System1．用途及特点：测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况；可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。精确测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构；可精确测定无机分子、有机分子、矿质材料以及大生物分子的结构，提供全面的结构数据，并可按不同要求提供各种结构图、动态图。 2. 系统总体构成：高性能混合像素光子直读探测器；kappa 四圆测角仪；X 射线金属陶瓷管（Mo 或 Cu）；X 射线发生器；单毛细管光学器件；晶体样品液氮低温系统；晶体样品监视系统；X 光管的循环冷却水装置；计算机控制系统；系统控制和数据收集及数据分析软件。 3. 主要技术参数： 3.1 X 射线发生器和光路系统：3.1.1 X 射线发生器最大输出功率: 3000W；3.1.2 最大管电压/通道：60 KV；3.1.3 最大管电流/通道：50 ma；3.1.4 电流电压稳定度： 8 小时内变化不超过± 0.1%；3.1.5 X 射线管保护：过电压、过电流、冷却水异常保护； 3.2 测角仪：3.2.1 类型: kappa 四圆测角仪，步进马达定位，四个角度均可自由转动，满足常规晶体结构分析和专业晶体学研究需要；3.2.2 角度分辨率：Omega 和 Theta 0.0001 度，Kappa 0.001 度，Phi 0.001 度；3.2.3 扫描速度范围 0.005 - 3.0 度/秒；3.2.4 theta 臂具有通用性，与公司所提供的其他探测器兼容； 3.3. 晶体对中监视系统：CCD 摄像头加放大镜头，安装在仪器内部用于样品对心与调整； 3.4 探测器：DECTRIS Pilatus混合像素光子计数探测器；3.5 高性能计算机实现仪器控制及数据采集；3.6 系统控制和数据处理软件：包括控制、维护、数据收集、数据还原和数据分析程序，以及处理孪晶和晶面吸收校正等功能。收集数据和还原数据同步进行；3.7 液氮低温系统：温度范围 120 - 400 K，控温精度：± 0.1 K。

Freiberg Instruments的单晶XRD定向仪 主要里程碑： ◆ 1961 - EFG GmbH公司由X-ray Ing.集团亚瑟布拉达切克和他的儿子汉斯布拉达切克创立。 ◆ 1969 - 研制了世界上首台基于集成电路的x射线检测计数装置，名为 COUNTIX 130。◆ 1989 - 开发 Omega-Scan 方法BOSCH 要求提供圆形石英毛坯的定向测量系统 - 振荡器产量从 50% 提高到 95%◆ 2005 - 将 Omega 转移到其他材料，如SiC、蓝宝石、GaN、GaAS、Si、Ni基高温合金 ◆ 2010 - 推出用于晶体取向测量的台式 X 射线衍射仪 ( DDCOM ) 全球售出 约 150台石英分选系统◆ 2015 - X 射线技术和 EFG GmbH 合并到 Freiberg Instruments GmbH 传承60年德国工匠精神-三代X射线工程师 产品优势： ◆ 采用Omega-scan扫描方法（专利技术） ◆ 测试速度快: 5s ◆ 测角精度高: 0.003 ◆ 兼具XRD定向功能以及Flat/Norch功能 ◆ 磨抛定向解决方案 ◆ 拥有晶锭粘接转移的专利技术（堆垛 stacking）专为SiC工业设计，被多家SiC衬底头部企业青睐，如：II-VI Advanced Materials, SiCrystal等，国外四分之三的碳化硅制造商依赖Freiberg Instruments公司的晶体取向测量技术，极大提高了生产效率，提升产品质量。 ◆ Mapping 面扫功能，摇摆曲线测定 ◆ 易于集成到工艺线中 ◆ MES和/或SECS/GEM接口 ◆ 倾斜的典型标准偏差（例如：Si 100）： 0.003 °，小于 0.001 ° Omega/Theta X射线衍射仪是一个全自动的垂直三轴衍射仪，用于使用Omega-Scan和Theta-Scan方法对各种晶体进行取向测定和摇摆曲线测量。大而宽敞的设计可以容纳长度达450毫米、重量达30公斤的样品和样品架。 所有的测量都是自动化的，可以从用户友好的软件界面上的访问。使用Omega扫描，可以在晶体旋转时（5秒）确定完整的晶格方向。Theta扫描更加灵活，但每次扫描只能得到一个取向成分。 倾斜角可以以非常高的精度确定；使用Theta扫描可以达到0.001°。对于所有其他晶体方向，精度取决于与表面垂直的角差。 该系统是模块化的，已经配备了许多不同的扩展，用于特殊的目的，如形状或平面的确定、绘图和不同的样品架。样品的倾斜是通过光学测量检测出来的，并可用于校正所产生的方向。 单晶衍射仪定向仪： ◆ 全自动完整的单晶体晶格取向测量 ◆ 使用欧米茄扫描法进行超快速的晶体取向测量 ◆ 自动摇动曲线测量功能 ◆ 衍射仪的角度分辨率：0.1角秒。 ◆ 样品尺寸可达450毫米 ◆ 适用于生产质量控制和研究 用户友好，成本效益高： ◆ 方便的样品处理，易于操作 ◆ 先进的、用户友好的软件 ◆ 能源消耗和运行成本低 ◆ 模块化设计，灵活性强 ◆ 各种升级选项 ◆ 根据用户的要求进行定制 选配功能： ◆ 自动Mapping面扫功能 ◆ Omega/Theta – 晶锭粘接转移的专利技术（堆垛 stacking） ◆ Omega/Theta - 摇摆曲线测量 ◆ Omega/Theta - 定制的样品台 ◆ 用于样品形状测量的激光扫描仪 ◆ 光学检测，用于平面和凹槽检测 ◆ 额外的样品旋转轴用于3D绘图 ◆ 二级通道切割准直器（分析器） ◆ 用于样品调整的设备

布鲁克 JV-QCVelox X射线衍射仪 XRD——用于 LED 和外延层晶圆分析的生产专用高分辨率 X 射线衍射系统 产 品 概 述Bruker’的 JV-QCVelox 是长期运行的 JV-QC 仪器中z新、z先进的 HRXRD。它是化合物半导体行业高分辨率 X 射线衍射的专用质量控制工具。 它适用于表征所有常见的半导体衬底，包括Si、GaAs、InP、GaN 等。测量可以部分或完全自动化运行，用户可自定义的脚本处理日常工作。 VeloMAX&trade 光学器件：通过 10 倍以上的强度改进实现高生产率 JV-QC-Velox 系统的入射光束包括许多标准功能以获得高强度。 晶体选择根据材料进行了优化：在不损失分辨率的情况下，提高了通量并提高了可重复性。在不降低分辨率的情况下，可以实现比以前更快的测量和更高的精度。 这是在 MQW 分析中保持准确的成分值的关键。多层反射镜作为所有 JV-QC-Velox 系统的标准配置对于高镶嵌样品，使用 25 英寸的调节晶体发散角来增强系统（标配）对于传统的 III-V 系统，可以提供更高分辨率的调节晶体 (10”) 来代替 25” 晶体（需要在采购订单上注明）系统的校准可以轻松安全地进行，机柜中没有开梁。检测器级包括许多标准功能，可以增强系统的能力EDRc（增强动态范围）检测器的动态范围 2x107自动衰减器，通过控制软件进行控制。这将系统动态范围增加到超过3x108三轴晶体是获得所需晶体的关键GaN测量的分辨率。电动探测器狭缝允许对系统进行控制分辨率，无需手动更换模块所有探测器级组件都是自动对齐的通过电脑 HRXRD 技术 材料：单晶衬底（例如 Si、GaAs、InP、GaN）和外延层，包括多层结构参数：层厚度、成分和松弛、应变、区域均匀性、失配、掺杂剂水平、错切、层倾斜。直接测量多层结构内层的松弛/应变/组成自动样品校准、测量、分析和报告由 JV-RADS 软件执行的分析。化合物半导体衬底可实现对称、非对称和斜对称反射 VeloSWAP: 高级样品板运动学样品板：可以快速更换样品板——每个板都可以在几秒钟内移除/更换。 由于运动加载，安装后无需对齐板。 可以提供多个板并互换使用。31 x 2” 运动学样品板，用于大批量测量，以增加板重新加载之间的时间并提高生产力和工具效率。外部条码阅读器可以安装到工具或独立站。JV-QCVelox 配备机器人，可从晶圆盒进行全自动测量2” 至 200 毫米磁带自动检测晶圆盒尺寸任意数量插槽的任意配方组合提高更大晶圆尺寸的生产力无需人工处理晶圆，提高晶圆清洁度 bruker 布鲁克 JV-QCVelox X射线衍射仪 XRD产品规格布鲁克 JV-DX X射线衍射仪 XRD ——X射线测量满足您的研发需求Jordan Valley 的 Delta-X 是用于材料研究、工艺开发和质量控制的新一代柔性 X 射线衍射仪器。 该系统具有全自动源和检测器光学元件以及水平样品安装，可以在完全计算机/配方控制下在标准和高分辨率 X 射线衍射和 X 射线反射率模式之间切换，而无需手动更改配置。 这可确保每次使用佳工具配置，而无需专家设置工具以供使用。&bull 样品的自动校准、测量和分析&bull 测量的自动化程度由用户定义&bull 使用 300 毫米欧拉支架实现高精度样品定位和扫描&bull 全300mm 晶圆水平贴装和映射&bull 由于 100° 倾斜 (Chi) 和无限方位角旋转 (Phi)，可以进行极点图和残余应力测量&bull 根据请求的测量进行智能自动工具对齐和重新配置&bull 行业领先的设备控制和分析软件&bull 使用高分辨率测角仪进行准确和精确的测量&bull 高强度光源和光学元件可实现快速测量&bull 可用的技术和参数范围广泛&bull 由拥有 30 多年经验和庞大的全球安装基础的高分辨率 X 射线衍射领域的专家打造 自动源和检测器阶段&bull 光源光学器件的开发考虑到了易用性和佳性能。 所有系统均标配平行光束多层反射镜，可提供适用于 XRR 和 XRD 测量的高强度光束。&bull 为了启用HRXRD，可以安装一系列晶体光学器件，以涵盖从8” (Ge 004) 到 40” (Ge 111) 的分辨率。 可根据要求提供定制晶体。&bull 它们会自动切换进出光束路径，以便能够在同一自动测量批次中覆盖适用于不同基板类型和不同技术的光束配置。 与其他系统不同，无需手动从系统中移除镜子或晶体，以确保它们不会损坏或错位。 高分辨衍射仪 & X 射线反射率高分辨率 XRD 是第一原理测量，可以确定外延层的厚度、成分、松弛、应变、掺杂剂水平和误切&bull 直接测量多层结构内层的松弛/应变/组成&bull 在需要时将三轴分析仪晶体自动插入和对齐到光束中&bull 自动样品校准、测量、分析和报告&bull 倒数空间图在几分钟内完成并使用PeakSplit 进行分析&bull 可以使用模拟双轴和三轴衍射扫描&bull JV-RADS分析软件X 射线反射率 (XRR) 是第一原理测量，可以确定薄膜的厚度、密度和粗糙度&bull 第一原理，无损测量&bull XRR 对材料质量不敏感，因此层可以是非晶、多晶或外延层&bull 金属、氮化物、氧化物、有机物、聚合物……&bull 自动样品校准、测量、分析和报告&bull 厚度范围从 1nm 到 1μm，取决于吸收 分析软件JV-DX 系统上使用的分析软件套件以 30 年的 X 射线表征和薄膜计量经验为基础。 基于在 Bede Scientific 的分析软件套件中，JV-DX 分析包包括行业领先的高分辨率 X 射线衍射 (HRXRD)、X 射线反射率 (XRR) 和 XRD 软件模拟软件。 bruker布鲁克 JV-DX X射线衍射仪 XRD规格售后服务保修期：

仪器介绍 理学标准型全自动X射线衍射仪D/max-2600/PC继承了理学D/max系列X射线衍射仪的特点。 D/max系列X射线衍射仪一直是业界标准，许多X晶体学家伴随着D/max一起成长，D/max也陪伴着晶体学家而发展，D/max系列衍射仪一直是晶体学家的好帮手。 技术参数1. X射线发生器功率为9KW（新型旋转阳极靶） 2. 广角测角仪可配垂直式或卧式 3. 广角测角仪最小步进为1/10000度 4. 广角测角仪配程序式可变狭缝 5. 广角测角仪包括聚焦光路及平行光路，转换方便 6. 高反射效率的石墨单色器 7. 高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下） 8. 全自动调整（使用专用调试工具及软件），保证数据标准化 9. 分析软件齐全 10. 附件齐全 主要特点 标准型全自动X射线衍射仪D/max-2600/PC配上相应的附件，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld结构分析 5. 薄膜样品的物相分析 6. 织构分析 7. 应力分析 8. 小角散射与纳米材料粒径分布 9. 高温、超高温、低温、超低温、中低温、原位反应、温湿度、充放电、强磁场等在现分析

技术特点▼u 全自动的垂直三轴衍射仪，使用Omega扫描和Theta扫描方法以及摇摆曲线测定各种晶体的方向。配备可容纳长达450毫米和30公斤的样品及样品架；u 自动化测量，并通过定制软件进行访问。利用Omega扫描，可在晶体旋转(5秒)中确定完整的晶格方向。Theta扫描更加灵活，但每次扫描只产生一个方向分量；u 精确地确定倾斜角度，Theta扫描精度达到0.001°；u 模块化系统，并配备了多功能需求扩展。 行业应用▼具有多种几何形状和大小的样品 根据材料和产量的不同，晶体样品可以表现出多种尺寸和几何形状。Omega/Theta X射线衍射仪可以处理大块钢锭或钢球和实验合成的微小晶体。非线性光学材料(NLO)：晶体质量和定向 与典型的无机金属、半导体和绝缘体相比，NLO材料具有更复杂的晶体结构和更低的对称性。这些晶体通常被切割成尺寸在毫米范围内的小棒，而对这种小晶体的表面质量测定常常可以揭示晶体内部的结构缺陷和裂纹。通过对Omega/Theta的设计进行的一些特殊的修改，我们的定向仪能够确定许多NLO材料，如LBO, BBO和TeO2的的晶向。平面方向的标记和测量 Omega扫描能够在一次测量中确定完整的晶体方位。因此，平面方向可以直接识别。这是一个有用的功能，以标记在平面方向或检查方向的单位或缺口。 摇摆曲线：晶体表面评价 摇摆曲线测量对晶格内的缺陷和应变场很敏感。将这种技术与映射阶段相结合，可以扫描晶体表面并确定缺陷区域。通过装备一个具有映射阶段和双晶体的Omega/Theta衍射仪，可以直接测量晶体表面某一反射的摇摆曲线映射。如下图显示的结果，这种映射的碳化硅晶圆片的内部呈现出两到三倍于摇摆曲线的FWHM。这可能与表面划痕或生长缺陷有关。

产品概述：MWL120实时反射劳厄相机系统用来测定单晶的取向（反射和透射）、单晶的完整性、测量晶体的对称性、观察晶体的一般缺陷、拍摄板材棒材的结构相、精确测定点阵常数、测定残余应力等。 原理：由X射线管产生的X射线从相机的入射光阑射入，照射在被分析样品上，在满足布拉格公式：nλ=2dSinθ条件下，产生X射线衍射图像，这些图像记录在感光片上，然后对这些图像进行计算分析，可以了解物质内部结构。 本产品所具有的特点1 有效检测范围大：30cm×30cm2 灵敏度高：单光3 角灵敏度高：0.054 探测速度快：几秒钟即可根据角的偏差自动收集分析并在电脑上形成劳厄图像5 维护成本低：半年更换一次气体，一年更换一次冷却剂即可（价格较低廉）6 样品可旋转：探测器转过程中同时转动样品，可以得到对称性高的图像

一、产品概述：智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。二、设备用途/原理：设备用途1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8.微区样品的分析。工作原理X射线衍射仪的工作原理基于布拉格定律。当X射线照射到晶体样品时，晶体内部的原子平面会引起X射线的衍射。通过测量不同衍射角度下的强度，仪器能够绘制出衍射图谱。根据衍射图谱中的峰值位置和强度，研究人员可以确定样品的晶体结构、相组成以及其他晶体特性。这一过程通常需要高度精确的旋转和检测系统，以确保数据的准确性和可靠性。

为工业化生产、质量控制而设计，浓缩X射线衍射仪生产的先进技术，功能化与小型化台式X射线衍射仪。能够精确地对金属和非金属样品进行定性分析、定量及晶体结构分析。尤其适用于催化剂、钛白粉、水泥、制药等产品制造行业。 主要技术指标：●运行功率（管电压、管电流）：600W(40kV、15mA)或是1200W(40kV、30mA) 、稳定度:0.005%●X射线管：金属陶瓷X射线管、Cu靶、功率2.4kW、焦点尺寸：1x10 mm 风冷或是水冷（水流量大于2.5L/min）●测角仪：样品水平θs-θd结构、衍射圆半径150mm●样品测量方式：连续、步进、Omg●角度测量范围：θs/θd联动时-3°-150°●最小步宽：0.0001°●角度重现：0.0005°●角度定位速度：1500°/min●计数器：封闭正比或高速一维半导体计数器●能谱分辨率：小于25%●最大线性计数率：≥5×105CPS（正比）、≥9×107CPS（一维半导体）●计算机：戴尔商用笔记本●仪器控制软件：Windows7操作系统，自动控制X射线发生器的管电压、管电流、光闸及射线管老化训练；控制测角仪连续或步进扫描，同时进行衍射数据采集；对衍射数据进行常规处理：自动寻峰、手动寻峰、积分强度、峰高、重心、背景扣除、平滑、峰形放大、谱图对比等。●数据处理软件：物相定性、定量分析、Kα1、α2剥离、全谱图拟合、选峰拟合、半高宽和晶粒尺寸计算、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化、多重绘图、3D绘图、衍射数据校准、背景扣除、无标样定量分析等功能、全谱图拟合（WPF）、XRD衍射谱图模拟。●散射线防护：铅+铅玻璃防护，光闸窗口与防护装置连锁，散射线计量不大于1μSv/h●仪器综合稳定度：≤1‰●样品一次装载数据：配置换样器，每次最多装载6个样品●仪器外形尺寸：600×410×670（w×d×h）mm

SHINE便携式X射线衍射仪是浪声科学结合XRD、XRF和计算机软件等多项技术，自主研发的一款便携式X射线衍射设备。仪器通过对样品进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息（材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息），具有制样简单、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点，是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。SHINE在X射线束穿过样品的位置处使用透射几何技术，微聚焦X射线管发射X射线束通过准直器照射在样品池中的粉末颗粒，独特的振动系统使得粉末颗粒更多的晶面暴露在X射线束下，在满足布拉格定律时发生衍射现象从而在CCD上采集衍射图谱。样品池中的样品量固定不变，因此样品密度的变化不会影响分辨率。这个特点对于低密度材料尤其重要，如：药物样品，与基于反射几何技术的仪器相比，仪器在穿透性能固定的情况下可以获得更高的分辨率。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。集成性XRD与XRF技术集成，在每次检测中，能够同时采集XRD和XRF的X射线光子数据，提供物质成分、物相及结构信息，从而促进检测结果更加精准。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要20毫克左右的样品即可获得优质的检测结果，样品制备无需制片、压片、刮平等，3分钟即可完成样品制样（粉碎、滤筛、装样）。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。安全性专业的多重防护辐射处理，测量时仪器全方位无任何辐射泄漏。应用场景生物医药环境监测地质勘探教育与研究金属化合物化学与催化剂规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keV样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸50×40×18.8cm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

特点Omega/Theta X射线衍射仪是一个全自动的垂直三轴衍射仪，使用Omega扫描和Theta扫描方法以及摇摆曲线测定各种晶体的方位。大而宽敞的设计可以容纳长达450毫米和30公斤的重量和样品架。所有的测量都是自动化的，可以通过用户友好的软件界面进行访问。利用Omega扫描，可以在晶体旋转(5秒)中确定完整的晶格方向。Theta扫描更加灵活，但每次扫描只产生一个方向分量。可以非常精确地确定倾斜角度，使用Theta扫描到0.001°。对于所有其他的晶体方向，精度取决于垂直于表面的角差。该系统是模块化的，并配备了许多不同的扩展用于特殊目的，如形状或平面的确定，绘图和不同的样品架。样品的倾斜度是通过光学测量来检测的，可以用来校正最终的方向。单晶衍射仪 Omega扫描图（SiC） 涡轮叶片，一个方向组件的映射图 (Si, Ge)晶圆，定向图 晶格参数映射图 全自动单晶完全晶格取向测量使用Omega扫描方法的超高速晶体定位测量自动摇摆曲线测量衍射仪的角分辨率：0.1弧秒。样本大小可达450毫米适合于生产质量控制和研究用户友好和成本效益样品处理方便，操作方便先进的,用户友好的软件低能耗，低运营成本模块化设计和灵活性各种升级选项定制用户的需求Omega/Theta X射线衍射仪的应用具有多种几何形状和大小的样品 单晶的工业合成从大而重的晶体开始，到小块如晶圆或坯。实验生长产生微小的圆柱体。根据材料和产量的不同，晶体样品可以表现出多种尺寸和几何形状。Omega/Theta X射线衍射仪可以处理大块钢锭或钢球和实验合成的微小晶体。非线性光学材料(NLO)：晶体质量和定向 与典型的无机金属、半导体和绝缘体相比，NLO材料具有更复杂的晶体结构和更低的对称性。这种结构创造了一个高度各向异性的环境，光通过晶体，并导致他们的特殊性质。这些晶体通常被切割成尺寸在毫米范围内的小棒，作为频率倍增器和光学参量振荡器的有源元件。对这种小晶体的表面质量测定常常可以揭示晶体内部的结构缺陷和裂纹。这些材料的大单位晶胞是Omega扫描方法的一个挑战。我们能够确定许多NLO材料，如LBO, BBO和TeO2的Omega扫描参数的最重要的方向。对Omega/Theta的设计进行了一些特殊的修改，以涵盖几种不同材料的NLO能力。平面方向的标记和测量 Omega扫描能够在一次测量中确定完整的晶体方位。因此，平面方向可以直接识别。这是一个有用的功能，以标记在平面方向或检查方向的单位或缺口。在晶圆片的注入和光刻过程中，平面或凹槽作为定位标记。经过加工后，晶圆片携带数百个芯片，需要通过切割将其分离。晶片必须正确地对准晶圆片上易于切割的晶格面。因此，检查平台或缺口的位置是必要的。为了确定平面或缺口的位置，必须测量平面内的部件。该仪器通过旋转转盘，可以将任何平面方向转换成用户指定的特定位置。这简化了将标记应用到特定平面方向的任务，例如必须定义平面方向时。对于高吞吐量应用程序，可提供自动测量解决方案。摇摆曲线:晶体表面评价 摇摆曲线测量对晶格内的缺陷和应变场很敏感。将这种技术与映射阶段相结合，可以扫描晶体表面并确定缺陷区域。在晶格匹配的薄膜中，摇摆曲线也可以用来研究层厚、超晶格周期、应变和成分剖面、晶格失配、三元结构和弛豫。晶圆片表面必须达到非常高的清洁和均匀性标准。制造商正努力使晶体的位错和缺陷尽可能少。特别是在碳化硅方面，消除错位为这种材料提供了新的应用领域。通过装备一个具有映射阶段和双晶体的Omega/Theta衍射仪，可以测量晶体表面某一反射的摇摆曲线映射。图像显示的结果，这种映射的碳化硅晶圆。晶圆片的内部呈现出两到三倍于摇摆曲线的FWHM。这可能与表面划痕或生长缺陷有关。

SHINE REX910便携式X射线衍射仪专为现场快速分析而设计，它通过对样品进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息（材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息），具有制样简单、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。SHINE REX910机身设计紧凑、操作简便、制样简单，使得即使是非专业用户也能快速上手。仪器配备自主研发的智能分析，操作界面友好，用户能够轻松进行数据分析和管理，适用于地质研究、野外勘探、石油录井等领域，成为地质学家和勘探团队在现场快速获取材料成分和结构信息的可靠分析工具。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。Bragg-Brentano衍射几何仪器配备Bragg-Brentano衍射几何（BB几何)，可极大提高衍射图谱的数据质量及信噪比，使样品中的微量物相也能清晰可见，如石英、Fe3O4等，该优势在土壤矿物、混凝土材料的分析测试中尤为突出。更大的角度范围相比于常规性便携式XRD，SHINE REX910角度范围更大，能够更全面地捕捉材料的晶体结构信息，从而提供更准确的定性与定量分析，以及对材料微观结构的深入理解。自主分析软件—CrystalXCrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，无需手动检索，无需扣背景，无需平滑，无需手动寻峰，仅仅需要点击“开始测试”！简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。节约时间和资源与传统分析方法相比，SHINE REX910通常能够更快速地提供结果，为执法机构或第三方实验室节省了时间和资源。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对SHINE REX910进行控制及物相分析。本土化服务文件可采用EXCEL、PDF等格式，用户可自定义创建测试报告，其中包括光谱谱图、衍射谱图及其他样品信息。 安全性专业的多重防护辐射处理，测量时仪器全方位无任何辐射泄漏。应用场景地质勘探/追踪矿床矿物研究/品位分析锂矿石、铍矿石品位分析等石油录井矿物冶炼/制造钛白粉、萤石等规格参数角度分辨率0.15°@2θ FWHM2θ角度范围0-90°衍射几何Bragg-Brentano 反射几何探测器大面积SDD探测器X射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keV散热方式水冷样品量约1g工作温度 0°C-35°C储藏温度-10~40℃重量18KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸360mm x 365mm x 265mm ( LxHxW) 语言中文、英语等多国语言

X射线衍射晶体衍射仪集所有常规应用于一身的桌面型设计高精度测角仪设计集成在主机内的计算机及屏幕DIFFRAC.SUITE仪器控制、数据采集及分析软件精准的探测器技术 在小型化设计的同时，D2 PHASER又是如何实现她的高性能？首先，D2 PHASER得益于特别设计的的θ/θ高精度测角仪，该技术得到了zhuan利保护。传统衍射仪的所有组成部分，包括标准化的陶瓷X光管、探测器、多功能计算机的主机、屏幕、鼠标、键盘，以及水冷，现在都可以集中在70x61x60cm这样一个空间内。同时，在如此狭小的空间内，D2 PHSAER仍可选配最大6位的自动进样器。其次，D2 PHASER配备了du一无二的DIFFRAC.SUITE软件，无论是在研究领域，还是在工业领域，都可以非常方便地实现数据的采集与分析。最后，也是整台仪器的点睛之笔，D2 PHASER可以配备林克斯一维阵列探测器TM。这个在布鲁克D8系列衍射仪上，被无数次证明其强大性能的高速探测器，现在被原封不动地移植到了D2 PHASER身上，使得这台小型衍射仪在性能和价格上达到了一个完美的结合。上述所有设计理念成就了D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型X射线衍射仪，其性能甚至在一定程度上超越了大型衍射仪，同时她还具有大型衍射仪所不具备的特点：可以很方便的搬运、不需要庞大的基础设施，wei一需要的是一个电源插孔！定性定量分析（包括无标样定量分析）结晶度测定物相特性分析（包括：晶胞参数、晶粒大小、微观应力等）结构精修及粉末衍射解结构工业标准尺寸(. 51.5 mm)、适合不同应用的样品架D2 PHASER – 衍射小巨人！梦想成真－多晶样品的定性、定量分析、晶粒大小测定、甚至结构精修和解结构工作都可以通过D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型衍射仪来实现了。布鲁克D2 PHASER开启了现代衍射仪的另一扇大门，她可以快速、简便、高质量地完成多晶样品B-B衍射几何下的所有工作。D2 PHASER不仅仅拥有超强的分析能力，同时也非常的灵活，适合测试各种各样的样品。因为不同的材料特性需要采用不同的制样方法，所以D2 PHASER除了配备常规的标准粉末样品架外，还可以提供各种特殊应用样品架：包括适用于微量样品的零背景样品架，粘土样品专用样品架，过滤样品架，以及适合环境敏感样品的密封样品架等等。林克斯SSD-160高速探测器使D2 PHASER如此与众不同的一个主要因素就是布鲁克公司的林克斯SSD-160一维阵列探测器。由160个子探测器组成的林克斯SSD-160探测器，比传统闪烁计数器可以提高强度150倍以上，配备了SSD-160林克斯探测器的 D2 PHASER完全可以媲美高端常规衍射仪。除了强度方面的强大性能，林克斯SSD-160还有非常好的去荧光能力。即使是测量强荧光样品，林克SSD-160斯探测器提供的数据也展示了非常好的信噪比。

Thermo Scientific ARL EQUINOX 100 X 射线衍射仪体积精巧、价格亲民，是专门设计用于 QA/QC、科研和常规 X 射线衍射应用的专用 XRD 仪器。这一便携式单机台式仪器的占地空间只有传统衍射仪的三分之一，实现了真正的灵活性。它无需外部水冷，且可插入标准电源插座。这一仪器简化了操作流程，同时不会影响速度或性能。得益于专用的实时检测模式，测量在几秒钟内即可完成。市场上选择面较广的台式 XRD（透射和反射模式）样品架可随处安装和使用、非常小巧的台式 XRD高样品处理量（分析时间短）独特的 ARL EQUINOX 弧形检测器能够同时测量宽角度范围内的所有衍射峰。对于不同的分辨率要求，均能在几分钟内完成样品的分析。实时测量 110° 2Ø 无需扫描高强度光学微焦点 X 射线源无需外部水冷，可插入标准电源提供许多样品架，可用于：透射和反射模式下的粉末、块体、薄膜、原位研究以及自动分析，这归功于专用的样品转换器易于使用和安装在各种环境中：实验室、移动实验室、货车处理和应用：相鉴别、定量、结晶度、细胞参数、晶体尺寸、晶格应变、晶体结构、Rietveld 分析、过渡相、薄膜分析（GIXRD、XRR）