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LSM 880 with Airyscan 快速低光毒性的共聚焦成像新标准您检测分析的样品往往结构非常小、移动速度非常快或极易受光漂白作用的影响。或者，同时兼具上述三个特征。为能从活细胞或其他采用微弱光信号标记的样品中获取无偏差的数据，则要求显微系统拥有更高的灵敏度、更出色的分辨率或更快的速度。样品发出的每一个信号都十分的宝贵。在样品采集方案的选择上， Airyscan 技术将助您一臂之力：同时拥有快速的超高分辨率成像，以及高灵敏度的图像采集。可以使用任意标记的样品进行多色成像，并同时获得优异的图像质量。与传统共聚焦检测器成像质量相比，这种新型检测器设计优良，即使是厚样本也能获得分辨率为120nm（ x， y）和350nm（ z）的一个完美的光学切面，并能将信噪比（ SNR）提升4–8倍。在您进行单光子或多光子实验时，使用这种新颖的探测器设计获得更高的灵敏度，分辨率和速度，27fps（480 x 480像素）。一切都取决于您。共聚焦成像新世界提高所有实验的灵敏度，分辨率和速度。 成像时几乎没有光毒性或漂白现象 - 不改变您的工作流程，样本标记或系统操作。Airyscan独特的快速模式可以将您的成像速度提高四倍。 这相当于共振扫描共聚焦显微镜的速度，却又不牺牲灵敏度或分辨率。Airyscan在横向120nm和轴向350nm的尺度上提供了高灵敏度的完美光学截面和超高分辨率。这超越了去卷积方法，保留了在封闭针孔中通常被屏蔽了的宝贵的发射光信号，并实现了更高的分辨率。提高实验的重复性将Airyscan的快速模式与Z-Stacks及拼图结合起来，可对大样本做高质量成像。一次性收集所有荧光信号。 并行采集可让您在较短的时间内检测多个荧光标记物，并配备更多数量的共聚焦探测器。利用并行光谱采集和高速GPU去卷积的独特组合，提高图像质量。以最大的视野和最高的线速扫描共聚焦 - 蔡司LSM 880 with Airyscan在快速模式下以480x480像素采集速度高达27 fps。选择灵活的共聚焦根据您的研究需求，选择超高分辨率模式，灵敏度模式或新的快速模式。去除自发荧光，并在单次扫描中区分荧光信号高度重叠的部分。 这将减小样品中的光毒性。与单分子技术共聚焦成像获得流动性/浓度/寡聚状态信息（FCS / FCCS / RICS / PCH）。选择Airyscan的快速模式，可以在样品深处多光子成像

中图仪器VT6000共聚焦三维光学轮廓显微镜以共聚焦技术为原理，具有很强的纵向深度的分辨能力，能够清晰地展示微小物体的图像形态细节，显示出精细的细节图像。它具有直观测量的特点，能够有效提高工作效率，更加快捷准确地完成日常任务。借助共聚焦显微镜，能有效提高工作效率，实现更准确的操作。应用领域测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数，对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。VT6000共聚焦三维光学轮廓显微镜基于光学共轭共焦原理，一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。在材料生产检测领域中，对大坡度的产品有更好的成像效果，在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；不同应用场景下的3D形貌VT6000共聚焦三维光学轮廓显微镜主要应用于半导体、光学膜材、显示行业、超精密加工等诸多领域中的微观形貌和轮廓尺寸检测中，其次是对表面粗糙度、面积、体积等参数的检测中。2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；影像测量功能界面3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。自设计之初，VT6000便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

简介：C2共聚焦显微镜系统主要包含了作为实验室核心设备的新一代尼康共聚焦仪器。它超常的稳定性和操作便利性以及卓越的光学性能使其广受称赞。C2以其强大的数据采集功能和种类繁多的图像分析能力而成为完美的新型显微镜工具，或者说成为了尼康成像系统家族中新的一员。C2采用了尼康专利所有的NIS-Elements成像软件，它完美的集成了图像获取和数据分析功能，在业界享有很高的声誉，赢得了用户的信赖。NIS-Elements使得C2具有和A1高级共聚焦显微镜系统相同的操作便利性，有效增强了C2的可用性、功能性，并拥有了更为广泛的分析能力。主要特点：&bull 图像质量 尼康卓绝的光学系统和经受时间考验的高性能光学设计可在最长的工作距离上提供最明亮且最清晰的图像。 高效扫描头和探测器 C2适合市场上所有采用最小扫描头的尼康显微镜。C2采用高精度镜头和理想的光学圆形针孔，可实现无噪点、高对比度且高质量的共 聚焦成像。通过32通道同时获取C2的光谱探测器可实现高速成像。由于许多精确校正光谱数据方面的创新，在实现真实色彩荧光光谱 成像的同时，保证信号损失被降到最低。 高性能光学系统 CFI复消色差S系统通过在较宽的波长范围（从紫外线至红外线）内的色差校正，这些高NA物镜非常适合共聚焦成像。尼康专用纳 米水晶镀膜技术的使用增强了透射性能。 CFI复消色差TIRF系列这些物镜具有引以为傲的NA 1.49（使用标准盖玻片和液浸油），是最高分辨率的尼康物镜。温度校正环可 在23° C范围内对成像画质进行温度校正。 高清晰透射DIC图像 C2可同时处理3通道荧光或3通道+透射DIC观察。将高质量DIC图像和荧光图像进行叠加可有助于定位荧光标记等图像分析。&bull 高性能 尼康著名的成像软件NIS-Elements可实现所有尼康软件设备和周边设备的直观操作。具备适合该级别非常多的 分析功能，C2全面支持常规的实验室研究活动。 多模式性能 所有尼康硬件均有与顶级共聚焦系统A1相同的软件控制在一个软件包内完全（同时）控制所有硬件（及软件模块）！您可在一个 软件包中进行全部共聚焦、宽视场、TIRF、光活化获取、处理、分析和显示。&bull 操作灵活 C2可结合正置、倒置、生理学和宏观成像显微镜，并配备组合多种顶尖实验系统的配件。所以一切均可由 NIS-Elements软件控制。 多模式成像系统TIRF/光活化C2 TIRF激光照明模块和光活化模块经过集成，以实现极高信噪比的单分子成像以及光活化和光转换银光蛋白的荧光特性变化成像。 宏观共聚焦显微镜系统AZ-C2 由于视图的高清晰宽视场（大于1cm，采用前所未有的高信噪比），AZ-C2可在单张照片上实现完整样本（例如胚胎等）的成像。 组合了低倍率和高倍率物镜、光学变焦和共聚焦扫描变焦功能，以实现宏观至微观的连续成像。另外，AZ-C2可供体内完整样 本的深层成像。规格：激光*兼容激光固定激光：405nm、440(445)nm、488nm561(594)nm、638(640)nmAr激光(457nm/488nm/514nm)、HeNe水平（543nm）激光单元3激光模块（AOM或手动调制），4激光模块（AOTF调制）探测器标准探测器荧光探测器：3通道PMT,透射探测器：1通道PMT光谱探测器（可选）通道数：32，波长分辨率：2.5nm/5nm/10nm,与之前模块C1si-Ready兼容扫描头扫描参数采用3通道荧光探测器： 像素尺寸：最大2048x2048像素 扫描速度：1fps（512x512像素，单向），最快23fps(512x32像素，双向，4倍变焦）采用光谱探测器： 像素尺寸：最大1024x1024像素 扫描速度：0.5fps（512x512像素，单向），最快6fps（64x64像素，单向）扫描模式X-Y、XY旋转、变焦、ROL、XYZ时间序列、行、激励、多点、图像拼接（大图）针孔圆形，6种尺寸兼容显微镜ECLIPSE Ti-E/Ti-U倒置显微镜，ECLIPSE 90i/80i正置显微镜，ECLIPSE FN1固定载物台显微镜，AZ100多功能变焦显微镜软件NIS-Elements C主要功能显示/图像处理/分析 2D/3D/4D分析、时间序列分析、 3D容积显示/正交、空间滤波器、图像拼接、 多点时间序列、光谱解混、 实时解混、虚拟滤波器、去卷积、AVI图像文件输出应用：FRAP、FLIP、FRET、光活化、共定位*兼容激光和可用波长因所用激光单元而异

实现常规荧光共聚焦成像和快速光谱成像的完美结合随着科研人员需求的不断增加，探测到更多的信号甚至是光谱信息变得越来越必要，尤其在区分颜色比较接近的荧光的时候。创新的A1si激光共聚焦显微镜带给用户的灵活性，高速度以及光谱功能，远远超出常规共聚焦显微镜。配备的常规荧光探测器和光谱探测器，可以满足多种科研领域的应用需求。单次扫描即可获得320nm带宽的光谱图像波长分辨率可以是2.5, 5,和 10 nm. 选用10 nm分辨率时, 单次扫描可获得的波长范围高达320 nm，远远超出其他类似系统。1） 简单，灵活的显微镜控制只需单击一个图标，即可实现目镜观察和共聚焦拍摄之间的光路切换。通过A1si的系统软件，用户可以轻松控制显微镜的各个部件，将更多的时间用于拍摄图像。2） 透射光拍摄在拍摄光谱图像和标准共聚焦图像的同时，A1si还可以拍摄包括DIC，明视场，相差在内的透射光图像，以便在组织和细胞中更好的进行荧光标记的定位。3） FRAP观察通过macro程序，可以进行FRAP (Fluorescence Recovery After Photobleaching光漂白后的荧光恢复) 实验. 激光精确定位到用户指定的任意区域（圆形，矩形，任意多边形，点，线，甚至环形）进行光漂白。其他FRAP技术，包括iFRAP (interval FRAP) 和FLIP (Fluorescence loss in Photobleaching)同样得到支持。4） 对光谱图像进行时间动态记录由于单次拍摄即可得到全光谱图像，所以A1si可以对光谱图像进行动态拍摄。拍摄时间序列的模式有：最快模式/固定时间间隔模式/用户自定义拍摄时间表模式）5） 对荧光信号进行光谱拆分，消除串色A1si 软件可以将不同荧光探针的信号清楚地拆分开，包括光谱接近，大范围重叠的荧光信号（比如CFP, RFP, YFP,和 Alexa488）. 在观察多重荧光染色来定位蛋白分子， FRET 实验时，这个功能非常有用.通过光谱拆分，还可以清除掉自发荧光信号。6） 高效率的荧光透过技术荧光光纤和探测器表面都使用了高效防反射涂层，将荧光信号的损失降到最低，实现光路的高透过率。7） 高波长分辨率通过使用精密设计的衍射光栅，可以实现高达2.5nm的光谱分辨率.此外还有5nm 和 10nm分辨率可选。不同的分辨率可以分别用来拆分光谱重叠的探针或同时对4个或更多的探针进行拍摄。8） 采用偏光控制技术的光谱探测器Nikon的DEES (Diffraction Efficiency Enhancement System衍射效率增强系统) 专利技术可以对偏振光进行控制，从而实现亮度的最大化。通过调整偏振光方向，衍射光栅的效率得到最优化，从而在从蓝到红的整个可见光范围内提高广谱数据的亮度和线性。9） 拍摄到真实的荧光颜色由于采用了新的精确矫正技术，而且光谱分辨率和针孔大小无关，A1si可以精确探测到光谱信号，得到真实颜色。同其他的伪彩色系统相比，A1si可以实时观察到真彩色的样本。10） 把对活细胞和组织的影响降到最低通过单次激发就可以得到全光谱图像，因此激光强度和PMT增益的调节变得简单而快速。同时把荧光信号的衰减以及激光对标本的损伤降到最低。对于活细胞和组织，A1si是一套&ldquo 温柔&rdquo 的系统。11） 同时拍摄32通道的光谱图像A1si 采用了32 通道PMT，并革新了多重高速数字转换电路和LVDS(Low Voltage Differential Signal低压差分信号)高速串行传输技术,创造性地实现了单词扫描得到32通道光谱信息，大大减少了拍摄时间，并实现了实时观察。12） 双积分信号处理新开发的DISP (Dual Integration Signal Processing双积分信号处理) 技术提高了电子效率，避免了模/数转换过程中荧光信号的损失。整个曝光期间，荧光信号得到全程记录，有效提高了信噪比。

VT6000三维共聚焦白光显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。VT6000三维共聚焦白光显微镜在半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；应用领域VT6000三维共聚焦白光显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：功能特点1、测量模式多样单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器VT6000激光共聚焦三维成像显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，可以对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像。通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；功能特点1、测量模式多样VT6000激光共聚焦三维成像显微镜单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。应用领域VT6000激光共聚焦三维成像显微镜可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所中，对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。VT6000可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器VT6000微米级工件共聚焦3d测量显微镜基于光学共轭共焦原理，以转盘共聚焦光学系统为基础，能在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，从而进行分析。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。自设计之初，VT6000微米级工件共聚焦3d测量显微镜便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；VT6000微米级工件共聚焦3d测量显微镜可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。应用领域对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：功能特点1、测量模式多样单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。在材料生产检测领域中，共聚焦显微镜在陶瓷、金属、半导体、芯片等材料科学及生产检测领域中也具有广泛的应用。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。VT6000可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器VT6000共聚焦工件表面微观形貌检测显微镜一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。它在材料生产检测领域中，测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。VT6000共聚焦工件表面微观形貌检测显微镜具有很强的纵向深度的分辨能力。在相同物镜放大的条件下，共焦显微镜所展示的图像形态细节更清晰更微细，横向分辨率更高，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他自设计之初，VT6000共聚焦工件表面微观形貌检测显微镜便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

共聚焦激光扫描显微镜(CLSM)是利用光学手段从显微样品中产生切片的一种方法。样品保持完好，切片可以多次重复。真共聚焦扫描(TCS)是一种一次只照射和观察一个衍射极限光斑的技术。共聚焦成像的好处是通过去除非焦平面杂信号显著提高对比度。光学切片的Z序列(3D图像堆栈)后续可以渲染为浮雕效果、深度编码地图或3D动画。TCS还可以与多色荧光成像、延时成像、FLIM、FRAP和FCS测量相结合。 在线观察更多的洞察力Power HyD检测器系列提供更高的光子检测效率（PDE）*，极低的暗噪声，以及从410到850纳米的广域高灵敏度检测。增强的图像质量。STELLARIS兼顾了图像的亮度、分辨率和对比度。光谱自由。我们的新一代白激光允许你同时使用多达8条来自整个光谱的单一激发谱线。与其他任何共焦平台相比，您可以对更多的荧光体组合进行成像，并同时使用更多的标签，同时将您的选择范围扩大到近红外范围。温和的活细胞成像。通过在低剂量的照明水平下进行有效的信号采集，保持样品的生物活性，并在更长的时间内成像。*与传统的光电倍增管 (PMT) 相比，光子检测效率 (PDE) 提高到2倍，在近红外一区内更是提高3倍探索更多的高潜力STELLARIS独特的TauSense技术使你能够从每个样品中提取额外的信息，并增加你的研究的科学影响。TauSense由基于荧光寿命的面向应用的成像工具组成，你可以用它来探索分子在细胞范围内的功能。TauContrast提供即时的功能信息，如代谢状态、pH值和离子浓度。TauGating通过去除不需要的荧光信号来提高图像的质量。TauSeparation可以帮助你在实验中扩大荧光信号的组合，超越光谱的选择。TauInteraction 直观的检测和定量分子间相互作用（如蛋白质-蛋白质相互作用）完成更多的生产力简化的设置和采集。ImageCompass是STELLARIS的智能用户界面，为用户提供了一种简单直观的方式，即使是最复杂的实验也只需点击几下就能设置好。简单快速。通过LIGHTNING超高分辨率、动态信号增强（DSE）和强大的AI功能AiviaMotion，实时、全速地提供一流的图像质量。 直观的用户界面。 ImageCompass引导你从实验设置到采集全流程。优化你的实验。整合LAS X Navigator工具，快速概览全局，直观成像。专注于有效数据！利用由Aivia驱动的自主显微镜技术更快地获得高质量的结果。STELLARIS上用于生命科学的基于人工智能的稀有事件检测工作流程可自主检测生物样本中高达90%的稀有事件。将刚兴趣的对象从背景中识别和记录，从而根本上缩短高达70%的数据采集时间。这也为您节省了大量的数据存储空间。在显微镜下花费更少的时间： 自主的稀有事件检测工作流程只需要你通常所需时间的一小部分。利用Aivia提供的自主显微镜技术进行以前由于时间限制和复杂性而不可能进行的实验。STELLARIS 5STELLARIS 5是我们平台上最好的系统。 这是一个彻底重新设计的核心系统，树立了共聚焦显微领域的新标准。 它是唯一一个内置WLL的共聚焦系统，并与我们自有的声光分光器（AOBS）以及新的Power HyD S探测器相结合。 STELLARIS 5采用独特的TauSense新技术，在图像质量和所产生的信息数量方面树立起新的标准。 智能用户界面ImageCompass可轻松、直观地引导您通过所有实验装置采集数据，让您获得完美的成像性能。传统共焦STELLARIS

Abberior Instruments 以其灵活的 STED 显微镜平台的出色定制能力而闻名。我们开发了紧凑型 STED 和共聚焦显微镜，称为 STEDYCON。STEDYCON 是一款全新显纳镜（亚纳米级别超高分辨显微镜）在传统荧光显微镜基础上实现四通道共聚焦（405nm , 488nm , 561nm , 640nm) 和 STED (775nm) 超高分辨率系统! 同时，占用空间小，方便任何使用者快速实现高达 30nm 分辨率图像的采集!可安装在任何现有显微镜上 - 可立即升级现有的荧光显微镜镜成为多色共聚焦和 STED。STEDYCON 拥有可变针孔和多达四个检测器（专利的 DynamicPLUS 图像检测）。超稳定 - 我们全新的 STEADYFOCUS模块确保您的图像在几天内仍保持完美聚焦。最高质量 STED 效果 - STEDYCON 使你显微图像分辨率达到 30nm 水平。节省空间 - 难以置信的紧凑型 STEDY CON检测器占用空间只相当于显微相机大小。即插即用 - TSTEDYCON 几分钟即可安装完毕. 它只需要连接显微镜的C口，并且不需要进行光学校准。免售后维护 - STEDYCON 光束预先已完美对准（专利保护的 ' easySTED' 光学校准模式）。图片STEADYFOCUS 模块我们全新的按键式 STEADYFOCUS 全自动聚焦模块是用于 STEDYCON 的基于激光的连续型锁焦模块。它保证共聚焦和 STED 图像在几天实验中无焦点漂移。在显微镜上面，由于它的专用设计，在成像光束里不需要额外的光学部件所以没有任何荧光损失和图像畸变。STEADYFOCUS 全自动锁焦模块支持大量浸液物镜 (水、油、硅油、甘油...)和封片介质(水、Mowiol...) 以及主流正倒置显微镜镜体。同一张图像实现超灵敏和全动态范围我们在 STED 和传统共聚焦应用上使用全新的 DynamicPLUS 功能实现好的效果. 利用 DynamicPLUS , 您能采集到从最细节的点到最亮的点。内含雪崩光电探测器（APDs）有极高的量子效率（高达 69% @ 650nm) 在红色荧光范围. 这意味着当信号水平低的时候, 我们的 APDs 仍能采集大量的光子去形成有意义的图像。典型的应用在更接近生理条件下的低荧光标记密度时的超分辨率STED图像和实验。同时, DynamicPLUS的死时间补偿能采集到高信号标本的锐利图像, 例如明亮的共聚焦图像.当然这样生成的原始图像可进行定量分析和逆卷积运算。适合任何厂家显微镜基于浏览器的跨平台软件STEDYCON 通过 Abberior Instruments 公司的浏览器式软件界面智能控制. STEDYCON 智能控制软件从一开始设计的时候就实现简单安装，交互使用和免维护操作的概念应用。 初学者能在几分钟内采集到超分辨图像。STEDYCON 智能控制软件 Smart control 可支持 Windows，Linux，Apple 系统的电脑甚至平板电脑。

武汉东隆科技为德国PicoQuant的中国区独家代理，欢迎您来电垂询！单分子时间分辨共聚焦荧光显微系统MicroTime 200在许多尖端科学领域，单分子研究具有重要意义。例如分子运动的量化研究和分子交互性的研究。这些研究领域对设备仪器的灵活性和多样性提出了更高的要求。德国PicoQuant公司的Micro Time 200系统的多功能性恰好可以胜任这些工作。作为当前世界顶尖的时间分辨共聚焦荧光显微成像系统，Micro Time 200具备了针对单分子级别相关实验和分析的能力。 Micro Time 200可选配多种波长的皮秒二极管激光光源，还拥有皮秒级别的时间分辨率，支持最多4个完全独立的探测通道，可以全面支持当今生物和物理方面的单分子研究课题，如FLIM，FRET，FCS（包含自相关和互相关）以及各向异性的研究，以及同时进行AFM/FLIM或者深紫外探测。同时配备了稳定， 精确的扫描系统， 完美满足单分子应用需求。MicroTime200家族又新增了空间分辨率高达50nm的MicroTime 200受激发射减损超分辨时间分辨共聚焦荧光显微系统（STED）。该系统配套的SymPhoTime 64能够提供强大、全面的数据采集和处理功能，而且针对以上提到的实验，提供了一键式运行模块，最大程度降低了操作的复杂程度，进一步提高了实验效率，是荧光相关领域研究的绝佳选择。特点：集成激发光源, 倒置显微镜和多通道探测模块的一体化系统375nm-900nm多波段皮秒脉冲激光器最多可集成SPAD, PMT或Hybrid-PMT组成相互独立的6通道探测单元针对FCS和FLIM快速动力学研究，有时间相关单光子计数（TCSPC）和TTTR两种模式适用于2D和3D寿命成像和精确点定位的压电平移台两个额外光路输出口用于拓展应用匹配有进阶易用型数据采集、分析和可视化软件SPT64双聚焦FCS、AFM/FLIM联用和深紫外激发的独特升级可提供STED附件，用于超分辨率成像FLIMbee 振镜扫描附件，具有出色的扫描速度灵活性和优秀的空间精度可以通过使用FLIMbee振镜在X轴上进行线扫描来实现scanning FCS测量基于后口激发的“二维载流子扩散成像”套件功能：荧光寿命成像（FLIM）及深层组织FLIM荧光共振能量转换FRET 及脉冲交错激发FRET（PIE-FRET）荧光强度相关光谱（FCS）及互相关光谱（FCCS）荧光寿命相关光谱（FLCS）及互相关光谱（FLCCS）双聚焦FCS各向异性检测深紫外探测串序脉冲荧光分析（Burst Analysis）参数：激发系统光纤整合型皮秒脉冲半导体激光器（功率/重复频率可调, 最大80MHz）支持外部激光器（如钛蓝宝石激光器）375~900nm波长范围支持Solea超连续白光光源支持单通道或者多通道驱动支持266nm紫光激发显微镜OlympusIX73或IX83倒置显微镜预留左侧和背面接口，可做拓展应用（如TIRF）包含透射照明部件独特的25x25mm手动样品固定台标准样品架（用于20x20mm载玻片）可选落射荧光照明可选低温恒温器用于低温型实验可选与原子力显微镜整合物镜规格标准20x和40x物镜可选多种高端特殊物镜（水/油镜, 红外/紫外强化, 超长工作距离型等）扫描台80 μm x 80 μm规格2D压电扫描台（1nm定位精度）PIFOC 3D立体成像（行程80 μm，定位精度1nm）80 μm x 80 μm物镜扫描（1nm定位精度）可选厘米级别大范围扫描台主要光学部件最多可支持4通道的共聚焦探测模块多种规格的分光部件额外的输出接口易于更换型二向色镜支架模块用于光斑分析的CCD相机和光电二极管所有光学元件都可替换和调整探测器单光子雪崩二极管（SPAD）混合型光电倍增管（Hybrid-PMT）光电倍增管（PMT）数据采集方式基于时间相关单光子计数TCSPC 的TTTR测量模式独立4通道同步采集分析软件SymPhoTime 64

概述站在共聚焦成像与双光子显微术的最高水平上尼康的A1R MP 是一款拥有独到技术的双光子显微成像系统，不仅具备高分辨率检流计式扫描器（galvanometer scanner），而且还配备了高速共振式扫描器（resonant scanner）。扫描速率在512 X 512像素水平下高达到30帧/秒；在带状扫描模式下最高可达420帧/秒。新型四通道NDD探测器（non-descanned detectors）具有更高的探测效率、更低的暗电流以及更宽的响应光谱，可以对谱线相近的荧光探针进行实时光谱拆分与识别，并大大提高荧光图像的对比度。此功能对于双光子显微镜非常重要，因为在双光子成像时一般只能使用单一的激发波长，往往不可避免地造成自发荧光以及发射光谱的重叠。关键技术高达420帧/秒成像速率的共振扫描镜尼康所特有的共振扫描技术，较之于非共振的普通扫描器，大幅提高了宽视场扫描速率，达到了点扫描成像的世界最快速率-420帧/秒。利用多光子显微术专用的NDD探测器，可以对非常厚的标本进行深部快速成像。尼康的光学同步（optical pixel clock）技术充分保证了超高速图像的均匀性和稳定性。*1 NDD（Non-Descanned Detector）,与共聚焦技术不同，A1R MP不需要使用小孔滤波（descan）。使得NDD探测器可以安装在最靠近物镜出光口的位置，从而可以接收到更多的被厚标本散射的信号光，大幅提高灵敏度。高灵敏度NDD深部成像尼康新开发的多光子四通道NDD探测器能够有效地进行标本深部的显微成像。较普通探测器而言，NDD的感光元件面积更大，灵敏度更高，并安装于距离物镜后出光口（back aperture）最近的地方. 该配置有效地提高了对散射荧光的探测效率，具有更高的信噪比（S/N），对诸如活体组织等较厚的标本的拍摄，具有比普通共聚焦显微镜更为清晰稳定的图像质量。*对于标本深部成像来说，非常重要的一点就是要尽可能多地探测到散射荧光。而实际探测深度主要取决于探测器的灵敏度、受光面积以及安装位置。新款高NA物镜成像更清晰，更明亮新款水浸物镜在较宽的波长范围内做了色差校正，并利用尼康专利&mdash &mdash 纳米水晶镀膜*技术&mdash &mdash 保证了在近紫外到近红外波段内都有很高的透过率。其中尼康的CFI Plan Apo IR 60x WI是目前世界上数值孔径（NA）最大的60x水浸物镜，用它拍摄的高对比度显微图像具有非常出色的亮度和分辨率。*一种原来为尼康半导体光刻机开发的超低折射率薄膜。由纳米颗粒组成海绵状&ldquo 粗糙&rdquo 结构，从而在很宽的光谱区间上大幅提升了光线透过率。快速精准的光谱拆分A1R MP不仅可以通过光谱探测器进行32通道的光谱拆分，而且实现了利用四通道NDD探测器的光谱拆分功能。此功能同样适用于高速共振扫描器。因此，A1R MP可以实现厚标本的深部高速高对比度成像。多光子激光光束的一键准直 当多光子激光的波长或群速色散（GVD）预补偿发生改变时，激光的位置会发生偏移，导致荧光图像亮度不均匀，以及单光子图像与双光子图像之间的错位。由于人眼无法看见多光子激光，特别是800 nm以上波长。因此多光子激光束的准直工作对普通用户来说是十分困难也是十分危险的。尼康的A1R MP新开发的自动光束准直功能可以让用户轻点鼠标，瞬间完成多光子激光的光束准直。

第一、仪器名称及型号：Alpha300R共聚焦拉曼显微镜第二、品牌：德国WITEC公司第三、产品简介： 德国Witec公司是世界上最高端的共聚焦拉曼显微镜制造商，生产的Alpha300 R型共聚焦显微拉曼显微镜因其优异的“共聚焦”性能，仪器的成像分辨率，稳定性及成像速度远远优于世界其他竞争对手，并且该仪器可实现低波数，扫描光电流，高阶谐波，低温磁场mapping等多种高端应用，也可与AFM，扫描电镜联用实现真正意义上的原位拉曼mapping，并可升级到近场光学显微镜。该仪器是二维材料，材料科学，生命科学，腐蚀学，岩石学，半导体，高分子，化学等领域的最理想的工具之一。客户遍及世界各国名校，知名研究所与企业。第四、 产品主要特性（更多先进功能请来电咨询）：? 超高的光谱空间分辨率（空气中）：横向300nm，纵向800nm? 超快的扫描速度：单谱采集时间760μs，40000个光谱只需42s!!!? 超高的稳定性：区别于传统的振镜耦合光路，WITEC采用光纤耦合的方式，即使在恶劣的环境下也可保持稳定的“共聚焦”，仪器稳定性极好，适合工业客户应用；? 极高的灵敏度：由于采用光纤耦合的方式，没有自由光路中的反射镜吸收，所以拉曼光谱损坏较小，众所周知，拉曼信号属于弱型号，灵敏度对检测及其重要；? 真正意义上的“共聚焦”：共聚焦好带来最大优势是可避免杂散光对拉曼信号的干扰，如生物样品，WITEC的仪器可有效避免荧光信号扰动，即使使用532nm激光器也可得到高分辨的拉曼mapping！！第五、主要技术参数: ?采集速度：单个空间点的拉曼采谱时间降到ms级别。 ?光学分辨率高（空气）：300nm(横向)，800nm(垂直方向) ?光谱分辨率高：0.02cm-1 ?激光器：355nm,442nm, 488nm,514nm,532nm,633nm,785nm 等可选，功率10-150mW（根据不同激光器） ?光谱仪：300mm焦距，f/4；通光量 70％；300g/mm，600g/mm和1800g/mm光栅可选 ?EMCCD可选: 1600x200背感光深度制冷电子倍增型光谱CCD ?PZT扫描台，扫描范围200x200x2um 扫描准确度4x4x0.5nm 线性度好于0.02% ?标准测试模式：拉曼光谱，光谱vs时间，拉曼光谱影像XY, YZ 3D成像第六、拓展功能： ?可实现与原子力显微镜AFM，扫描电镜，近场光学显微镜联用实现真正意义原位测量； ? 非线性光学应用：二次谐波SHG，三次谐波THG，双光子荧光TPPL ?TCSPC（FLIM）荧光寿命成像 ? 扫描光电流 ? 低温磁场拉曼mapping ?三维形貌成像 ?微区反射吸收 ?全偏振拉曼光谱及成像 ? 原位电化学拉曼光谱及成像。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。第七、产品应用：该仪器广泛用于材料科学、 薄膜与聚合物研究、生命科学、半导体研究、 晶体研究、制药科学，化学，地质学，物理学。

中图仪器VT6000系列3D微观形貌检测共聚焦显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，3D 建模算法等，对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量。对大坡度的产品有更好的成像效果，在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。VT6000系列3D微观形貌检测共聚焦显微镜能够清晰地展示微小物体的图像形态细节，显示出精细的细节图像。它具有直观测量的特点，能够有效提高工作效率，更加快捷准确地完成日常任务。借助共聚焦显微镜，能有效提高工作效率，实现更准确的操作。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；VT6000系列3D微观形貌检测共聚焦显微镜自设计之初，便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。应用领域对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

激光扫描共聚焦显微镜（LSM）是生物化学，细胞生物学和其他相关生命科学领域中广泛使用的工具。 通过使用时间分辨技术，可以进一步增强这些显微镜的功能，并具有以下优点：基于荧光寿命的荧光共振能量转移(FRET)效率量化测量利用时间分辨成像测量环境参数(pH,离子浓度)寿命测量与荧光团浓度无关利用荧光寿命拆分发射光谱重叠的荧光分子减少所需检测器的数量——一个检测器足以根据不同荧光团的特定寿命通过模式匹配同时检测不同荧光团用荧光寿命区分荧光对弹性和拉曼散射及其他背景噪声造成的影响荧光寿命作为一个进一步的参数提高了分析测量的准确性该升级套件作为激光扫描显微镜升级部件，在增强了功能性的基础上，更使整个系统简单易用。作为交钥匙系统，它主要包含三个单元:皮秒脉冲激发源，单分子灵敏度检测器，以及时间相关单光子计数(TCSPC)模块。特点：FLIM, FRET, FCS的交钥匙系统紧凑、易用、免维护的组件，所有的升级系统各个配置都高度模块化，具有无限的灵活性最大4通道独立探测模块的高灵敏系统荧光寿命探测范围从100ps到微秒级别高端易用、匹配多种分析方式的数据收集和分析软件可用于各向异性和厚组织FLIM新功能：rapidFLIMHiRes——利用超快FLIM成像和出色的5 ps时间分辨率实现动态过程可视化应用：时间分辨荧光rapidFLIM - 重新定义动态FLIM成像标准荧光寿命成像（FLIM）磷光寿命成像（PLIM）荧光相关光谱（FCS）荧光寿命相关光谱（FLCS）荧光互相关光谱（FCCS）荧光共振能量转移（FRET）脉冲交替激发（PIE）激光切割/烧蚀模式匹配分析时间分辨光致发光（TRPL）TRPL 成像反聚束效应各向异性参数：激发系统激光耦合台，基于皮秒脉冲半导体激光器(功率/重复频率可调, 最大80MHz)375-900nm波长范围支持单通道或者多通道驱动可选：支持外接第三方激光器 (如钛蓝宝石飞秒激光器和超连续谱激光器)新品：采用LDH-D-TA-560的560 nm皮秒脉冲激发支持显微镜的厂家型号Nikon：AX，A1, C2+, C2, C1siOlympus: FluoView FV3000, FVMPE-RS, FluoView FV1200 (MPE), FluoView FV1000 (MPE)Scientifica：VivoScope, HyperScopeZeiss：LSM 980, LSM 880, LSM 780, LSM 710探测方式最多可支持4通道相互独立的探测模块共聚焦和NDD配置通过光纤与显微镜连接探测器单光子雪崩二极管(SPAD) 混合型光电倍增管(Hybrid-PMT) 光电倍增管(PMT)数据采集方式基于时间相关单光子计数(TCSPC)的TTTR测量模式 多达四个通道的同时数据采集采集和软件SymPhoTime 64支持显微镜的厂家型号：AX，A1，C2+, C2，C1siFluoView FV3000FVMPE-RSFluoView FV1200 (MPE)FluoView FV1000 (MPE)HyperScopeVivoScopeLSM 980LSM 880LSM 780LSM 710

中图仪器VT6000国产转盘共聚焦显微镜测量系统以共聚焦技术为原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，是一款用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量的检测仪器。它所展示的图像形态细节更清晰更微细，横向分辨率更高，擅长微纳级粗糙轮廓的检测，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。VT6000国产转盘共聚焦显微镜测量系统广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。自设计之初，VT6000国产转盘共聚焦显微镜测量系统便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理尼普科夫转盘共聚焦光学系统显微物镜10×，50×（APO），（5×，20×，100×（APO）可选）视场范围2.4×2.4 mm~120×120 μm高度测量重复性(1σ)≤12nm显示分辨率0.1nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器VT6000材料共聚焦3D测量显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等，在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，从而进行分析。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他VT6000材料共聚焦3D测量显微镜横向分辨率高，所展示的图像形态细节更清晰更微细，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。不同应用场景下的3D形貌VT6000材料共聚焦3D测量显微镜主要应用于半导体、光学膜材、显示行业、超精密加工等诸多领域中的微观形貌和轮廓尺寸检测中，其次是对表面粗糙度、面积、体积等参数的检测中。3D形貌图片：影像测量功能界面VT6000共聚焦显微镜自设计之初，便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

用于质量控制与表面检测领域的快速转盘共聚焦显微镜专业的设计、向导式的工作流程、值得信赖的输出通用型的蔡司Smartproof 5快速转盘共聚焦显微镜，是一个进行表面研究分析的综合系统：快速、准确、重复性好。此显微镜在工业领域有很广泛的应用，例如粗糙度测量，表面形貌表征等。您的质检部门、生产线和研发实验室，每天都需要用到这台显微镜。这台高效、用途广泛的共聚焦系统，由蔡司简单易用的ZEN软件控制。该软件界面友好，使用方面，能大幅提高工作效率。更简单、更智能、更高度集成集成且坚固的设计Smartproof5拥有全集成的系统设计：光学、电路和相机都用最少的线缆集成在显微镜内，以避免杂乱。整个系统坚固稳定的设计，可以有效抵消震动,无需昂贵的减震设备。向导式的工作流程归功于操作系统的便利性，以及软件里的工作流程，Smartproof 5很适合生产和过程监控。易于教授的检查工作，工作流式的操作界面，引导你完成重复的工作，并保证数据不受人为因素的影响，保证数据的精确和可重复性。值得信赖的输出有赖于其专利的转盘（Spining Disc）和孔径相关（Aperature Correlation）技术，Smartproof 5将测试时间缩到最短，实现了高分辨率和高速度的完美平衡。专业的蔡司光学和久经考验的部件，让你可以在广泛的应用领域高效地工作。Smartproof 5可和ConfoMap软件（蔡司版本的MountainsMap软件）打包使用。该软件是三维表征领域最好的软件之一。您可以在软件中根据国际标准分析数据，并方便地生成报告。这也是Smartproof 5更适合日常表面形貌表征和粗糙度测量的原因。了解产品背后的科技一体化稳固的设计实现最高性能稳固的设计使得Smartproof 5能够在各种不同的工作环境下安装运行–不仅可以在实验室，甚至也可以在没有防震设备的车间。300mm ×240mm带螺纹孔的样品台能够方便的安装各种夹具或者待测零件的固定装置。150mm ×150mm的行程范围使得分析大零件的不同区域或者多个小零件变得得心应手。Smartproof 5 能够监测自身机械组件的状态以确保最佳的性能，以及预防检测保护组件，防止发生故障。蔡司新的C Epiplan-Apochromat物镜是专门为共聚焦系统量身定制的一款镜头。这些高数值孔径的物镜是专门针对405nm的紫光（用于宽场共聚焦成像的波长）进行过优化处理，同时对于可见光也同样表现出色。所有的宽场共焦成像最终生成表面形貌。通过再叠加明场成像的纹理信息，能够获得更真实的表面重构。向导式的工作流程实现精准导航Smartproof5 的简单易用得益于一体化的图形用户界面，它基于蔡司高效导航软件ZEN，并支持从宏观到微观的无缝切换。在4mm × 4mm的概览图中，可以轻松定义测量位置，还可以建立一个坐标系以便将来进行样品的重复测量。采集的数据自动转到Confomap软件进行后续的数据处理和样品三维特性的分析。工作流程也可以保存下来便于再次执行相同的显微三维分析。提供可靠的结果，始终如一凭借全电动的Smartproof5部件设计，软件可监控各个部件的状态。因此可以轻松设置重复拍摄的工作流程。此外，通过强大的ConfoMap软件，可对样品进行几何测量，或对2D（线）和3D（面）图像进行粗糙度分析，后者是基于ISO标准。然后利用内置的报告工具快速生成报告。

以无以伦比的分辨率和对比度，实现多维荧光成像Eclipse C1 Plus共聚焦显微镜采用模块化设计，结构紧凑，为用户提供高质量数字图像。扫描头光路进行了优化，短至400nm的图像质量都得到提升。双向扫描模式可以提供更快的拍摄速度。此外，还支持X，Y旋转扫描，并提供一个新的激光选配件来提升对激光照明强度的调节。建立了专门网站可提供更丰富的信息和更完善的服务。尼康专门的共聚焦网站 为新老用户提供了共聚焦显微术的基本介绍和高级功能的使用技巧。该网站提供详细的产品指南，帮助用户根据自己的应用选择合适的设备，同时还提供了相关设备的网页连接和尼康MicroscopyU网站的交互式教程。兼容TIRF尼康的激光TIRF系统可以独立使用，或者和宽场荧光结合使用，此外还可以和共聚焦系统结合使用（比如C1 plus和C1si）。TIRF (total internal reflection fluorescence，全反射荧光) 通过隐失波成像，只激发盖玻片上方100nm范围内的荧光分子，从而有效提高信噪比。这项技术可以作为共聚焦成像的有效补充。TIRF和宽场荧光被整合在一个设备中。此外，尼康设计出两款性能卓越的平场复消色差TIRF物镜（ 60x ，100x）， NA = 1.49.。这是当前数值孔径最高的油浸物镜。高级扫描特性C1 Plus提供多种扫描特性，使得图像的拍摄过程更简单，更快捷。双向扫描: 提高图像扫描速度旋转扫描：对于长标本（比如神经），可以不用旋转载物台就可以进行最佳成像时间间隔可变的Time Lapse: 可以在拍摄过程中不同的时间段采用不同的时间间隔。兼容FRAP通过一个专用的软件功能模块及可以实现FRAP (Fluorescence Recovery After Photobleaching，光漂白后的荧光恢复) 。激光照射到细胞内由用户自定义的特定区域（可以是方形，圆形以及任意不规则形状）来完成操作。目标区域甚至可以是空心形状。此外还提供了iFRAP (interval FRAP) 和FLIP (Fluorescence loss in Photobleaching )。轻松对系统进行配置，操作和修改模块化设计：扩展和维护相当简单；模块经过预校准: 安装时不需要再校准；紧凑设计：占用空间小。C1 Plus的扫描头是全世界最小最轻的；智能化软件：只需要单击鼠标，就可以对绝大多数参数进行修改；四孔位针孔转盘：用电脑控制针孔的大小，可在分辨率和光切厚度之间取得最佳平衡。高质量的光学性能尼康一流的光学技术和电子技术相结合，使得C1 plus可以提供最佳的分辨率，对比度和荧光图像亮度。FRAP的理想仪器Fluorescence recovery after photo bleaching (FRAP，光漂白后的荧光恢复)通过用高强度激光使目标区域荧光发生淬灭，然后观察荧光恢复的过程。这种方法在测量分子扩散和运动速度时很有用。C1 Plus可以对目标区域进行精准定位和精确操作。多种类型激光器可供选择激光器底座最多可以放置4个不同的激光器，从而适用于更多类型的荧光探针。此外，用户可以自行更换滤色块去匹配特殊的荧光染料。所以如果用户的研究需要改变，则显微镜可以很轻松地进行相应的改变。采用AOTF对激光强度进行调节。可选择的激光器包括氩离子激光，HeNe激光，二极管激光，二极管泵浦固体激光（DPSS）等等。同时探测3个通道的图像C1 Plus 几乎支持当前所有的任何图像技术，包括3个荧光通道同时成像，3个荧光通道加上1个DIC通道同时成像， time-lapse 拍摄，以及进行空间分析等等。

共聚焦激光扫描显微镜(CLSM)是利用光学手段从显微样品中产生切片的一种方法。样品保持完好，切片可以多次重复。真共聚焦扫描(TCS)是一种一次只照射和观察一个衍射极限光斑的技术。共聚焦成像的好处是通过去除非焦平面杂信号显著提高对比度。光学切片的Z序列(3D图像堆栈)后续可以渲染为浮雕效果、深度编码地图或3D动画。TCS还可以与多色荧光成像、延时成像、FLIM、FRAP和FCS测量相结合。观察更多的洞察力Power HyD检测器系列提供更高的光子检测效率（PDE）*，极低的暗噪声，以及从410到850纳米的广域高灵敏度检测。增强的图像质量。STELLARIS兼顾了图像的亮度、分辨率和对比度。光谱自由。我们的新一代白激光允许你同时使用多达8条来自整个光谱的单一激发谱线。与其他任何共焦平台相比，您可以对更多的荧光体组合进行成像，并同时使用更多的标签，同时将您的选择范围扩大到近红外范围。温和的活细胞成像。通过在低剂量的照明水平下进行有效的信号采集，保持样品的生物活性，并在更长的时间内成像。*与传统的光电倍增管 (PMT) 相比，光子检测效率 (PDE) 提高到2倍，在近红外一区内更是提高3倍探索更多的高潜力STELLARIS独特的TauSense技术使你能够从每个样品中提取额外的信息，并增加你的研究的科学影响。TauSense由基于荧光寿命的面向应用的成像工具组成，你可以用它来探索分子在细胞范围内的功能。TauContrast提供即时的功能信息，如代谢状态、pH值和离子浓度。TauGating通过去除不需要的荧光信号来提高图像的质量。TauSeparation可以帮助你在实验中扩大荧光信号的组合，超越光谱的选择。TauInteraction 直观的检测和定量分子间相互作用（如蛋白质-蛋白质相互作用）专注于有效数据！利用由Aivia驱动的自主显微镜技术更快地获得高质量的结果。STELLARIS上用于生命科学的基于人工智能的稀有事件检测工作流程可自主检测生物样本中高达90%的稀有事件。将刚兴趣的对象从背景中识别和记录，从而根本上缩短高达70%的数据采集时间。这也为您节省了大量的数据存储空间。在显微镜下花费更少的时间： 自主的稀有事件检测工作流程只需要你通常所需时间的一小部分。利用Aivia提供的自主显微镜技术进行以前由于时间限制和复杂性而不可能进行的实验。STELLARIS 8STELLARIS 8是未来导向性系统，具有扩展光谱的WLL和专有的Power HyD系列探测器选项，不仅提供STELLARIS 5核心系统的所有优势，还有额外增添的功能。 这可扩展您研究中的共聚焦应用范围。 STELLARIS 8能够与所有徕卡显微系统模块相结合，包括快速寿命成像（FALCON）、光谱式多光子显微镜（DIVE）、nm显微镜STED、光片（DLS）和CARS。 STELLARIS 8的新特点可最大程度利用这些模块的潜力，使您能够为科学研究树立起新的标准。

Luminosa 是一款将超高数据质量与超简日常操作相结合的单光子计数共聚焦显微镜。 它可以轻松集成到任何研究人员的“工具箱”中，成为开始探索使用时间分辨荧光方法科学家以及想要突破极限专家的省时、可靠的“伙伴”。 它是一个真正的显微镜系统，每个人都可以依赖。. 您可以完全信赖的质量和精度. 节省时间、只需专注于您的样品. 灵活性高. 2022年9月正式推出. 线上产品展示：2022年10月6号至7号产品特点：全软件控制共聚焦系统，基于倒置显微镜激光波长从375到1064 nm可选VarPSF：观察量高精度调节，用于FCS和单分子FRET实验电动平移台，可在传动和FLIM模式下进行“图像拼接”扫描选项：FLIMbee 振镜扫描和压电物镜扫描最多可集成SPAD, PMT或Hybrid-PMT组成相互独立的6通道探测单元700 ps通道的死区时间和 5 ps时间分辨率一键式自动对齐，从而获得一致的最佳性能借助GPU加速算法和基于上下文工作流程的FCS、FLIM 和单分子检测，以最少的用户交互快速获得结果产品应用：单分子水平的动态结构生物学单分子水平的动态结构生物学相分离驱动的细胞机制环境传感细胞膜动力学和结构的映射核心方法：荧光寿命成像 (FLIM)FLIM-FRET – 基于寿命的 Förster 共振能量转移smFRET – 单分子 Förster 共振能量转移荧光相关光谱 (FCS)荧光寿命相关光谱 (FLCS)荧光互相关光谱 (FCCS)各向异性成像参数：敬请期待！

产品简介VT6000系列国产激光共聚焦显微镜是一款用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量的检测仪器。它是以共聚焦技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。在相同物镜放大的条件下，VT6000系列国产激光共聚焦显微镜所展示的图像形态细节更清晰更微细，横向分辨率更高。能测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数，对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；应用领域VT6000系列国产激光共聚焦显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：性能特色1、高精度、高重复性1）以转盘共聚焦光学系统为基础，结合高稳定性结构设计和3D重建算法，共同组成测量系统，保证仪器的高测量精度；2）隔震设计能够消减底面振动噪声，仪器在嘈杂的环境中稳定可靠，具有良好的测量重复性。2、一体化操作的测量分析软件1）测量与分析同界面操作，无须切换，测量数据自动统计，实现了快速批量测量的功能；2）可视化窗口，便于用户实时观察扫描过程；3）结合自定义分析模板的自动化测量功能，可自动完成多区域的测量与分析过程；4）几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全；5）一键分析、多文件分析，自由组合分析项保存为分析模板，批量样品一键分析，并提供数据分析与统计图表功能；6）可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前工作。4、双重防撞保护措施除软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，保护仪器，降低人为操作风险。部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

C1si是一款革命性的真实光谱成像激光共聚焦显微镜。它具有令人惊叹的高性能，单次拍摄即可获取32个通道的荧光全光谱数据，带宽可达350nm。 C1si能够方便地在光谱成像模式和标准成像模式之间快速切换，使其应用范围极其广泛。通过对不同荧光标记所发出的重叠光谱进行拆分，C1si能够显著的改善对活体细胞的动态观察，并且更易于获取详细的精确数据。C1si技术领先、通用性强、扩展性高、升级方便，是一款特别适合大型综合科研平台使用的激光共聚焦显微镜。 § 速度――显著减少了图像拍摄时间,同时拍摄32个通道的光谱图像（尼康独创） § 精度――真正的光谱图像,获取实际的荧光颜色,出色的误差及偏差校正能力（尼康独创） § 亮度――设计了专用的光路和信号处理系统，可高效地捕捉荧光光子,具备偏光控制技术的光谱探测器（尼康独创） § 易用性――轻松获取光谱图像 § &ldquo 可编程的荧光阻挡滤光片&rdquo § 轻松对光谱图像进行动态拍摄 § 极佳的多功能性 § 模块化设计(1) 速度――显著减少了图像拍摄时间۞ 同时拍摄32个通道的光谱图像（尼康独创）C1si采用32通道多阳极PMT，这在所有同类厂家的共聚焦显微镜中是最多的；并采用了多个高速数字转换电路以及LVDS（低压差分信号）高速串行传输技术等创新技术，通过一次扫描即可获取完整的32个通道的光谱图像。这能够显著减少成像时间，从而可以实现光谱实时观察。۞ 一步可获得320nm范围的光谱可以将波长分辨率高为2.5、5以及10nm。分辨率设为10nm时，一次扫描即可获取完整的320nm范围内的光谱，这种能力是先前的光谱成像系统无法比拟的。۞ 对活体细胞伤害较小仅使用一次激光扫描便能获取较广波长范围内的光谱图像，从而使激光强度和PMT增益的调节过程变得简单，快速。同时也极大的降低了激光对标本的照射时间，从而将荧光漂白及标本损害降至最低。C1si 光谱成像系统对活体细胞和组织的伤害非常小！(2) 精度――真正的光谱图像　۞ 获取实际的荧光颜色获取的光谱具有高度的可靠性和精确度，因此能够检测到荧光光谱的峰值波长以及光谱形状的差异，既可以用伪彩色模式显示细微结构，也可以用真彩色模式进行观察。　۞ 出色的误差及偏差校正能力（尼康独创）使用高精度矫正技术确保光谱的精度，这些技术包括使用发射谱线进行波长校正以及利用NIST（美国标准技术研究院）可溯光源进行发光度校正。同时，采用多阳极PMT灵敏度矫正技术（尼康独创）可以对每个通道的灵敏度误差以及波长透射属性进行矫正，这样研究人员便可以将设备间的测量误差和偏差降至最低。　۞ 高波长分辨率（尼康独创）波长分辨率可达到2.5nm，共有三种分辨率可选（2.5、5、10nm）且分辨率不受针孔大小影响。(3) 亮度――设计了专用的光路和信号处理系统，可高效地捕捉荧光光子۞ 具备偏光控制技术的光谱探测器（尼康独创）C1si的光谱探测器中采用了尼康具有专利的DEES（衍射效率增强系统）进行偏光控制，使衍射效率增强50％，极大提高了亮度。通过对齐光的偏振方向，优化了衍射光栅的效率，从而获得了极佳亮度的图像。尤其是增加了长波长范围内的衍射效率，从而提高了整个可见光范围内光谱数据的亮度和线性。　۞ 多阳极PMT光谱成像探测器采用最新研发的激光屏蔽机构。不管采用哪种光谱分辨率、哪个激光管，此机构可以有效的阻挡反射后遗漏的激光，这使得C1si几乎适合使用所有类型的激光。　۞ 高效荧光传输技术（尼康独创）荧光光纤的端部和探测器表面，使用具有专利技术的防反射涂层，可将信号损失降至最低，极大提高了光的传输效率。　۞ 双积分信号处理技术（尼康独创）最新研发的DISP（双积分信号处理）技术已经在图像处理电路中采用，以便提高电路效率，防止在模数转换时发生信号损耗。信号在整个像素时间内都被采集，从而获得了更完整的数据，增强了信号，提高了信噪比。(4) 易用性――轻松获取光谱图像　۞ 快速切换探测器模式只需打开扫描头上的开关即可从标准共聚焦成像切换至光谱共聚焦成像；EZ-C1软件的界面能够自动切换。　۞ 快速设定参数光谱探测器的每个参数都可以使用鼠标操作菜单轻松的进行设定，如激光波 长、波长分辩率或者拍摄的波长范围。设定好参数后，即可使用共用的成 像步骤执行光谱成像。您可以保存参数配置文件以备日后使用。Binning功能可以增加亮度。因此，确定目标区域时，用户可以降低激光的强度以减少对标本的伤害。　۞ 一次单击即可获取光谱共聚焦图像一旦完成光谱探测器的设定，即可通过单击"Start"(开始）按钮获取光谱共焦图像。　۞ 一次单击即可拆分荧光即便不指定参考光谱，而只在图像内确定ROI（感兴趣区域）并且单击"Simple Unmixing" (简单分离）按钮也可拆分荧光光谱。当您希望指定拆分""后每个荧光探针将显示的颜色时，请使用"Unmixing"（拆分）按钮。C1si包含一个内置的荧光探针生产商提供的光谱数据库，它可被指定为荧光拆分时的参考光谱。用户也可以将新的荧光探针的光谱信息添加至数据库。

中图仪器VT6000共聚焦超分辨显微镜基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。VT6000共聚焦超分辨显微镜广泛应用于半导体制造及封装工艺检测，对大坡度的产品有更好的成像效果，在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；性能特色1、高精度、高重复性1）以转盘共聚焦光学系统为基础，结合高稳定性结构设计和3D重建算法，共同组成测量系统，保证仪器的高测量精度；2）隔震设计能够消减底面振动噪声，仪器在嘈杂的环境中稳定可靠，具有良好的测量重复性。2、一体化操作的测量分析软件1）测量与分析同界面操作，无须切换，测量数据自动统计，实现了快速批量测量的功能；2）可视化窗口，便于用户实时观察扫描过程；3）结合自定义分析模板的自动化测量功能，可自动完成多区域的测量与分析过程；4）几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全；5）一键分析、多文件分析，自由组合分析项保存为分析模板，批量样品一键分析，并提供数据分析与统计图表功能；6）可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前工作。4、双重防撞保护措施除软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，保护仪器，降低人为操作风险。应用领域VT6000共聚焦超分辨显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：在相同物镜放大的条件下，共焦显微镜所展示的图像形态细节更清晰更微细，横向分辨率更高。因而擅长微纳级粗糙轮廓的检测，能够提供色彩斑斓的真彩图像便于观察。部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

Slynx紧凑型3D光学轮廓仪产品描述——紧凑、灵活、强大SensofarSlynx是一款专为工业和研究所设计的全新非接触式3D表面光学轮廓仪，用于工业和科研应用，其设计定位是一个紧凑和灵活的系统。它设计简洁、用途多样。光学轮廓仪Slynx能够测量不同的材质，结构，表面粗糙度和波度，几乎涵盖所有类型的表面形貌。它的多功能性能够满足广泛的高端形貌,测量应用。Sensofar的核心是将3种测量方式融于一体，确保了其*的性能。配合SensoSCAN软件系统，用户将获得难以置信的直观操作体验。主要应用l半导体晶圆应用l汽车零部件l消费电子l能源l材料表面l微电子lLEDl微体古生物学l光学镜片加工l模具加工l钟表制造l腐蚀表面结构l摩擦学表面结构主要功能1.共聚焦共聚焦技术可以用来测量各类样品表面的形貌。它比光学显微镜有更高的横向分辨率,可达0.10um。利用它可实现临界尺寸的测量。当用150倍、0.95数值孔径的镜头时，共聚焦在光滑表面测量斜率达70°（粗糙表面达86°）。专利的共聚焦算法保证Z轴测量重复性在纳米范畴。2.干涉白光垂直扫描干涉（VSI）是一种广泛用于测量表面特性（如形貌或透明薄膜结构）的功能强大的技术。它最适合测量从光滑到适度粗糙的表面，无论物镜的NA或者放大倍数变化，均可以提供纳米级的垂直分辨率。3.多焦面叠加多焦面叠加技术是用来测量非常粗糙的表面形貌。根据Sensofar在共聚焦和干涉技术融合应用方面的丰富经验，特别设计了此功能来补足低倍共聚焦测量的需要。该技术的最大亮点是快速(mm/s)、扫描范围大和支援斜率大（最大86°）。此功能对工件和模具测量特别有用。主要优势1.实时图像SENSOSCAN为您呈现*的共聚焦实时图像。我们的图像质量和速度进一步提升，在共聚焦照明模式下可达9帧/秒，在明场照明模式下高达30帧/秒。与此同时，还有多种实时图像模式选择。

全新转盘式共聚焦超分辨显微镜IXplore SpinSR适合所有活细胞样本的共聚焦超高分辨&bull 超高分辨率，分辨率可达 120nm XY&bull 因光毒性和光漂白降低，共聚焦延时成像期间的细胞存活时间变长&bull 在 IXplore SpinSR 系统中，只需一步即可在宽场、共聚焦和超高分辨率观察之间自由切换&bull 通过奥林巴斯硅油浸入式物镜可以实现准确的 3D 重建 超高分辨率通过共聚焦技术和奥林巴斯的超高分辨率（OSR），可以120nm XY的分辨率解析清晰图像。Confocal Super Resolution图像：Hela 细胞的应力纤维：对抗体进行了染色，肌动蛋白：Phalloidin-Alexa488（绿色）；肌球蛋白重链：Alexa568（红色）。图片提供方：Keiju Kamijo博士，东北药科大学医学院解剖和细胞生物学系快速成像通过转盘共聚焦快速成像和快速超高分辨率处理可实现样本的实时显示。因为3D中的光毒性和光漂白降低，共聚焦延时成像期间的细胞存活时间变长。 图像：Hela细胞中延伸微管顶部的GFP-EB3图像提供方：Kaoru Katoh博士，日本国立产业技术综合研究所生物医学研究所多模用户可在3个模式（宽场、共聚焦和超高分辨率）之间轻松切换。 宽场共聚焦超高分辨率图像：基体上半部分纤毛的Odf2染色（Alexa Fluor 488）。图像提供方：Hatsuho Kanoh、Elisa Herawati、Sachiko Tsukita博士。大阪大学前沿生物科学研究生院和医学研究生院。为三维结构成像在延时成像过程中，获得精细的三维超分辨率图像数据。 神经元的三维延时图像：小鼠原代神经元与星形胶质细胞共同培养了2周后，由EGFP标记的延时图像。可以轻松地辨别未成熟脊柱（黄色箭头）和成熟脊柱（蓝色箭头）之间的差异，并发现随着时间的推移而发生的形态变化。3D图像的采集使用了每帧500ms的曝光时间，Z轴上的步进距离为0.15um，共41层图。每两分钟采集一次图像，采集持续1小时。由FV31S-DT显示的3D图像。图像数据由Yuji lkegaya博士提供，化学药理学实验室，药物学研究生院，东京大学。清晰的图像通过奥林巴斯的反卷积算法可以获得清晰的图像。 ConfocalSuper ResolutionSuper Resolution with TruSight简单易用在不适用特异性染料的情况下获得多色成像 中期细胞的有丝分裂纺锤体对人类宫颈癌HeLa细胞进行了固定并分别用α-微管蛋白（微管，红色）和Hec1（动粒，绿色）进行了染色。使用DAPI（染色体，蓝色）对DNA进行了染色。与微管产生交互的染色体会通过染色体着丝粒上组成的动粒产生有丝分裂纺锤体。图像提供方：Masanori lkeda 和Kozo Tanaka，加龄医学研究所分子肿瘤学部门。 Hela细胞的核孔复合物Nuo153（Alexa488：绿色），Nup62（Alexa555：红色）图像提供方：Hidetaka Kosako，德岛大学藤井纪念医学科学中心

VT6000激光共聚焦成像显微镜是一款用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量的检测仪器。它基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，从而进行分析。VT6000国产共聚焦显微镜微一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；应用领域VT6000激光共聚焦成像显微镜各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：功能特点1、测量模式多样VT6000激光共聚焦成像显微镜单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

STELLARIS是一个完全重新设计的共聚焦显微镜平台。STELLARIS共焦显微镜可以与所有的徕卡提供的共聚焦模块相结合，包括FLIM、STED、DLS和CRS。 通过STELLARIS共聚焦平台，我们重新定义共聚焦显微镜，让你更接近真相。观察更多的洞察力Power HyD检测器系列提供更高的光子检测效率（PDE）*，极低的暗噪声，以及从410到850纳米的广域高灵敏度检测。 增强的图像质量。 STELLARIS兼顾了图像的亮度、分辨率和对比度。 光谱自由。 我们的新一代白激光允许你同时使用多达8条来自整个光谱的单一激发谱线。 与其他任何共焦平台相比，您可以对更多的荧光体组合进行成像，并同时使用更多的标签，同时将您的选择范围扩大到近红外范围。 温和的活细胞成像。 通过在低剂量的照明水平下进行有效的信号采集，保持样品的生物活性，并在更长的时间内成像。*与传统的光电倍增管 (PMT) 相比，光子检测效率 (PDE) 提高到2倍，在近红外一区内更是提高3倍探索更多的高潜力STELLARIS独特的TauSense技术使你能够从每个样品中提取额外的信息，并增加你的研究的科学影响。 TauSense由基于荧光寿命的面向应用的成像工具组成，你可以用它来探索分子在细胞范围内的功能。 TauContrast提供即时的功能信息，如代谢状态、pH值和离子浓度。 TauGating通过去除不需要的荧光信号来提高图像的质量。 TauSeparation可以帮助你在实验中扩大荧光信号的组合，超越光谱的选择。 TauInteraction 直观的检测和定量分子间相互作用（如蛋白质-蛋白质相互作用）完成更多的生产力简化的设置和采集。 ImageCompass是STELLARIS的智能用户界面，为用户提供了一种简单直观的方式，即使是最复杂的实验也只需点击几下就能设置好。 简单快速。 通过LIGHTNING超高分辨率、动态信号增强（DSE）和强大的AI功能AiviaMotion，实时、全速地提供一流的图像质量。 直观的用户界面。 ImageCompass引导你从实验设置到采集全流程。 优化你的实验。 整合LAS X Navigator工具，快速概览全局，直观成像。分析图像以获取隐藏的见解Aivia 和 LAS X 是徕卡显微系统公司的高级图像分析软件解决方案，使您能够将基于显微镜的研究提升到一个新的水平。通过将 STELLARIS 与徕卡的 AI 驱动图像分析软件 Aivia 相结合，您可以通过广泛的机器学习和深度学习算法从显微镜成像数据中获得有意义的见解。图像： 成熟状态与不同的pH值有关，通过使用TauSense中提供的TauSeparation工具改变NIR染色剂的荧光寿命来捕获。在这个例子中，确定了从早期到晚期的内体和溶酶体（青色、黄色、品红色、红色）的四个阶段。使用Aivia 3D对象跟踪工具（颜色编码的球体和迹线）识别和跟踪单个内体。Aivia分析返回表征内吞途径的相关参数，例如路径长度、平均轨迹速度、平均扩散系数、平均曲率。专注于有效数据！利用由Aivia驱动的自主显微镜技术更快地获得高质量的结果。STELLARIS上用于生命科学的基于人工智能的稀有事件检测工作流程可自主检测生物样本中高达90%的稀有事件。将刚兴趣的对象从背景中识别和记录，从而根本上缩短高达70%的数据采集时间。 这也为您节省了大量的数据存储空间。在显微镜下花费更少的时间： 自主的稀有事件检测工作流程只需要你通常所需时间的一小部分。利用Aivia提供的自主显微镜技术进行以前由于时间限制和复杂性而不可能进行的实验。星辰 5STELLARIS 5是我们平台上最好的系统。 这是一个彻底重新设计的核心系统，树立了共聚焦显微领域的新标准。 它是唯一一个内置WLL的共聚焦系统，并与我们自有的声光分光器（AOBS）以及新的Power HyD S探测器相结合。 STELLARIS 5采用独特的TauSense新技术，在图像质量和所产生的信息数量方面树立起新的标准。 智能用户界面ImageCompass可轻松、直观地引导您通过所有实验装置采集数据，让您获得完美的成像性能。STELLARIS 8是未来导向性系统，具有扩展光谱的WLL和专有的Power HyD系列探测器选项，不仅提供STELLARIS 5核心系统的所有优势，还有额外增添的功能。 这可扩展您研究中的共聚焦应用范围。 STELLARIS 8能够与所有徕卡显微系统模块相结合，包括快速寿命成像（FALCON）、光谱式多光子显微镜（DIVE）、nm显微镜STED、光片（DLS）和CARS。 STELLARIS 8的新特点可最大程度利用这些模块的潜力，使您能够为科学研究树立起新的标准。

Argolight 荧光质量校准片您在使用显微镜进行荧光成像 时，是否遇到过以下问题？&bull 图像亮度不均匀，却不知道具体情况如何？&bull 光路复杂，由于没有快速表征手段，器件调试困难，无从下手？&bull 经过一段时间后，图像效果下降，但无法进行对比？&bull 图像有畸变，但是无法测量？&bull 可以尝试使用Argolight 荧光质量校准片！Argolight 荧光质量校准片特殊的玻璃基板组成，内部嵌入不同的荧光图案，旨在对荧光成像系统的许多方面进行质量控制，例如：场均匀性、场畸变、横向配准精度、强度响应 、Z 堆叠过程中的载物台 漂移等。以下是荧光图像示例，不同型号的荧光质量校准片在图案上有所差别，详情请咨询。Argolight 荧光质量校准片配套专用软件 Daybook，用于生成、跟踪和导出质量控制数据。Daybook 软件有两个模块： - “分析”模块，名为“日志分析”：它允许从图案图像中分析和提取数据（地图、图形和指标），以测量荧光成像系统的重要指标。- “数据管理器”模块，名为“日记数据管理器”：它允许可视化“分析”模块生成的数据，监控结果并管理质量控制报告。显微镜荧光校准片适用于宽视野/超分辨/共聚焦配置列表型号功能体积激发波段浸液适配性损伤阈值测量功率范围荧光图案数量Argo-PowerLM V2适用于低放大倍率的显微镜/宽场显微镜75x25x6 mm250-650 nm干燥/油浸：无限制水浸：不能连续使用超过20分钟50 GWcm-2 的辐照度（峰值或平均值）10µ W to 100mW5Argo-PowerHM V2适用于高放大倍率的显微镜/共聚焦显微镜16Argo-PowerSIM V2适用于结构光 照明（SIM）显微镜/基于算法的超分辨显微 镜27Argo-LM V2适用于低放大倍率的显微镜/宽场显微镜75x25x1.5 mm无功率测量功能5Argo-HM V2适用于高放大倍率的显微镜/共聚焦显微镜16Argo-SIM V2适用于结构光照明（SIM）显微镜/基于算法的超分辨显微镜27什么显微成像技术可以用Argolight 荧光质量校准片？显微镜荧光校准片适用于宽视野/超分辨/共聚焦简易操作方法：1.寻找图案从低放大倍率物镜（例如 10 倍或 20 倍）开始。 设置 DAPI 或 GFP 通道，使载玻片的中心与物镜重合。 通过目镜调节焦距。 然后移动载玻片以观察图案并移动到感兴趣的目标。2. 调整您的设置找到一个重新定位的十字图案并在其上调整您的采集参数。 设置后，移动感兴趣的图案。3.注意你的照明功率请勿使用高于 50 GWcm-2 的辐照度（峰值或平均值）进行照明。注意：不遵守操作说明将使产品保修失效。4. 用于激光扫描共焦显微镜请勿放大图案内部，这可能会损坏图案。 扫描区域的面积不应小于图案的面积（环区域除外 - 请参阅用户指南）。5. 对于水物镜应避免连续接触水超过20分钟。 使用与水折射率相同的油作为浸液。6.记得清洁校准片每次使用后，仅使用擦镜纸和酒精。 请勿使用丙酮。关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学 、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

中图仪器VT6000白光共聚焦陡峭角度测量显微镜以共聚焦技术为原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。白光共聚焦陡峭角度测量显微镜具有很强的纵向深度的分辨能力，而且由于探测器前有针孔掩模，大大减小了不想要的闪烁和散射光所形成的噪声，能够清晰地展示微小物体的图像形态细节，对大坡度的产品有更好的成像效果，在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；功能特点1、测量模式多样单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。应用领域VT6000白光共聚焦陡峭角度测量显微镜对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。