去氢粗毛甘草素

GMK-3308 (新型)干草水份测定仪u 采用电容方法u 易操作及读数快u 大屏幕LCDJ显示u 自动温度补偿u 自动校正：（*该仪器具有自动校准的特殊功能。无论周围环境如何变化，该仪器都可以通过预设的特定程序自动校准。若不成功校准，则无法得到正确的测试结果。通过自动校准，客户在每次测试之前可以不做校准而测试结果准确。）u 低电量显示。u 拥有自动保存和自动关机功能参数测定项目干草测量范围12.0%-41.5%分辨率0.1%精度±0.5%测量时间约3秒电源电池 9V X1节尺寸仪器:170(L) X 85(W) X 36(H) mm传感器:430mm毛重约2KG

中图仪器SuperViewW3D轮廓仪粗糙度表面形貌仪基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）。SuperViewW3D轮廓仪粗糙度表面形貌仪是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能； (6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：SuperViewW光学3D表面轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。SuperViewW3D轮廓仪粗糙度表面形貌仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。其特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。 部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM 标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×物镜，光学ZOOM 0.5×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

瑞士丹青TR-SCAN微观形貌光学粗糙度测量仪，广泛应用于高精密微观表面检查。与传统非接触测量技术相比，测量速度快，对振动不敏感，实现三维形貌纳米级测量。模块化的设计理念，可配置色谱共焦传感器，白光干涉传感器。传感器直接更换，方便快捷，满足不同的应用领域。即可用于计量单位和材料科学研发实验室，也广泛应用在工业制造领域：汽车、航天、航空、表面涂层、医疗产品、微型电机系统、半导体等行业。

中图仪器SuperViewW白光干涉轮廓形貌粗糙度测量仪以白光干涉技术为原理，用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。SuperViewW白光干涉轮廓形貌粗糙度测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量（见附录一）；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能； 7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，SuperViewW白光干涉轮廓形貌粗糙度测量仪的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。一体化操作的测量分析软件1）测量与分析同界面操作，无须切换，测量数据自动统计，实现了快速批量测量的功能；2）可视化窗口，便于用户实时观察扫描过程；3）结合自定义分析模板的自动化测量功能，可自动完成多区域的测量与分析过程；4）几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全；5）一键分析、多文件分析，自由组合分析项保存为分析模板，批量样品一键分析，并提供数据分析与统计图表功能；6）可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。应用领域案例

产品简介----肉豆蔻酰五肽-17/睫毛肽肉豆蔻酰五肽-17/睫毛肽是一种有效的促进睫毛生长的化妆品原料，可以有效刺激毛发的角蛋白的合成，促进毛发（睫毛、眉毛、头发）的生长，使毛发更加浓密，坚韧。 产品参数----肉豆蔻酰五肽-17/睫毛肽 中文名称：肉豆蔻酰五肽-17/睫毛肽/促睫素英文名称：Myristoyl pentapeptide-17CAS号：959610-30-1纯度：≥98%分子量 ：796.14g/mol分子式 ：C41H81N9O6外观：白色粉末或液体储存条件：2 ℃～8 ℃包装规格（粉末）：1g, 10g, 100g包装规格（液体）：20ml/瓶，1KG/瓶应用：化妆品原料 功效与应用----肉豆蔻酰五肽-17/睫毛肽增长和增粗眼睫毛促进睫毛生长的护理产品，可用与睫毛膏、睫毛护理液等 作用机理----肉豆蔻酰五肽-17/睫毛肽睫毛的主要成份是角质蛋白，约占毛干的85%-90%，而角质蛋白是由氨基酸所组成。睫毛的生长周期分为三个阶段：从生长（即活跃期，约30天）经退化期（约15天）过渡到休止期（约100天）。控制睫毛的生长周期与毛凸和毛乳头两个组织之间复杂的相互作用有关，由于毛乳头中含有神经及给睫毛提供营养的血液供给，可促进睫毛的生长。肉豆蔻酰五肽-17，是一种有效的促进睫毛生长的五肽，直接作用于角质蛋白基因，促进角质蛋白生成，若连续使用7天，可显著促进睫毛的生长，使其变得更浓密修长。 云希专业研发美容多肽原料，现有蓝铜肽、二胜肽、三胜肽、四胜肽、五胜肽、六胜肽、七胜肽、八胜肽、九胜肽、十胜肽和寡肽系列等100多种美容活性胜肽，是国内、质量可靠的美容肽供应商。因为专业，所以更好！详细请咨询：罗女士

制药真空冷冻干燥机设备TF-LYO-E系列采用标准化生产，保证性能和可靠性的基础上减少制造成本并缩短制造周期。其设计以安全性、多用性、可靠性以及使用寿命长的基础上，医用制药冷冻干燥机设备也充分保证了使用者和环境的安全。冻干机的设计基于成熟的技术，采用在生物和制药行业广泛接受的高质量材料和部件。同时采用了高技术含量的制造工艺，设备完全符合cGMP 标准。 General Detail总述Sr. No.Description描述Specifications规格1Mode型号TF-LYO-30E2area (sq. m)面积29.99㎡3Processing capacity(approx.)处理量（大约）300KG4装瓶能力121,000 units of vials 16mm diameter外径16毫米冻干瓶121,000瓶64,000 units of vials 22mm diameter外径22毫米冻干瓶64,000瓶5Maximum ice capacity最大捕冰力600KG6Stoppering压塞Hydraulic stoppering液压压塞7Control控制方式Microprocessor微机处理【无菌窒增加一套扳层升降操作系统】7Dimension of unit (approx.) (L × W × H) (mm) 外型尺寸（大约）（长×宽×高）9130 ×3400 × 4600 (Final dimension based on design)（以最终设计尺寸为准）8Weight (approx.)重量（大约）21,000kg9Chamber type/Material冻干箱外型Rectangular 长方体10Shelves Temperature range板层温度范围-55℃ to + 80℃11Condenser Final temperature冷凝器极限温度-75℃12Final vacuum极限真空≤1×10 -2mbar13Compressor压缩机Bitzer比泽尔14Vacuum pump真空泵Baosi15PLC可编程控制器Omron欧姆龙16Electricity - total electrical load总装机功率158kW (380VAC 50HZ)1、箱体材料为AISI 304。箱体内部圆角、优化设计使箱体内不仅易于接近同时尽量减少死角2、 箱体所有内部焊接均被处理与周围材料平滑。接管的焊接均被处理与周围材料平滑并抛光3、隔板制造时材料均匀加热，避免了独立焊接之间所产生的应力，保证了搁板非常好的平整度4、导热介质使用低粘度硅油 ， 在搁板极限低温下温度的均匀性良好5、主要配件采用进口品牌，保证设备质量6、生产按ISO9001质量管理体系，制造工艺，设备完全符合cGMP 标准7、PLC系统电脑操作，控制冻干机的所有功能。根据存储到存储器中的工艺参数和程序，PLC可以完成整个生产系统的操作。系统稳定安全。8、可提供3Q认证文件9、提供完善培训及服务 真空冷冻干燥技术在生物工程、医药、食品工业、材料科学和农副产品深加工等领域有着广泛的应用。 　药品冷冻干燥包括西药和中药两部分。西药冷冻干燥在国内已经得到了一定的发展，很多较大型的制药厂都有冷冻干燥设备。 在针剂方面，冷冻干燥工艺采用的比较多，提高了药品质量和贮存期限，给医患双方都带来了利益。 在中药方面，目前还只局限在人参、鹿茸、山药、冬虫夏草等少量中药材的冻干。 在生物技术产品领域，冻干技术主要用于血清、血浆、疫苗、酶、抗生素、激素等药品的生产；生物化学的检查药品、免疫学及细菌学的检查药品；血液、细菌、动脉、骨骼、皮肤、角膜、神经组织及各种器官长期保存等。上海田枫实业有限公司是注册于上海复旦创业园区集工业、实验室制冷设备的设计开发、制造和销售于一体的高科技公司。 主营冷水机(冷却水循环机)、工业冷水机、冻干机 (冷冻干燥机)、冰水机、冷水机组、制冰机、恒温槽(恒温循环器)、超低温冰箱、层析冷柜、冷冻机、喷雾器、低温冰箱等产品。 随着中国经济的迅速发展，田枫引用了德国 的先进技术和管理经验，通过了ISO9001：2000国际质量管理体系标准认证，建全完善了质量管理体系，对产品的设计、开发、生产、检验和服务以及相关的所有过程，进行严格的 管理和控制，持续地提高了公司的产品和服务质量，赢得了顾客的信赖，使田枫产品的供应量在国内各大城市以及国际市场迅猛增长。

中图仪器SuperViewW白光干涉非接触式轮廓仪测表面三维形貌粗糙度是利用光学干涉原理研制开发的超精细表面轮廓测量仪器。它以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。SuperViewW白光干涉非接触式轮廓仪测表面三维形貌粗糙度具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，SuperViewW白光干涉仪的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。SuperViewW白光干涉非接触式轮廓仪测表面三维形貌粗糙度可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。应用领域对各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器SuperViewW白光干涉3D显微形貌粗糙度光学轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。SuperViewW白光干涉3D显微形貌粗糙度光学轮廓仪是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。 SuperViewW白光干涉3D显微形貌粗糙度光学轮廓仪广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，其复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：性能特点1、高精度、高重复性 1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。SuperViewW光学轮廓仪特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。 部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×物镜，光学ZOOM 0.5×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

SuperViewW中图仪器全自动3D轮廓仪粗糙度表面形貌仪基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。它具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。SuperViewW中图仪器全自动3D轮廓仪粗糙度表面形貌仪对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量，典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）； 几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）。应用领域SuperViewW中图仪器全自动3D轮廓仪粗糙度表面形貌仪对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperView W1的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。性能特色1、高精度、高重复性 1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5× 选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×物镜，光学ZOOM 0.5×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器SuperViewW白光干涉3D显微形貌与粗糙度光学轮廓仪通过干涉物镜产生干涉条纹，使基本的光学显微镜系统变为白光干涉轮廓仪。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。产品功能(1)SuperViewW白光干涉3D显微形貌与粗糙度光学轮廓仪设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。典型结果表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）。SuperViewW白光干涉3D显微形貌与粗糙度光学轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性； 2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperViewW白光干涉3D显微形貌与粗糙度光学轮廓仪的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。仪器具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器WD4000晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建。它采用的高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，能实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。WD4000晶圆检测设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，同时生成Mapping图；2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像，显示2D剖面图和3D立体彩色视图，高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数；3、基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度，实现膜厚测量功能；4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉，由此计算出两表面间的距离（即厚度），可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度，包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。WD4000晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量WD4000晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术 （1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。 WD4000可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

中图仪器WD4000半导体晶圆粗糙度表面形貌测量设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，可实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。WD4000半导体晶圆粗糙度表面形貌测量设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，同时生成Mapping图；2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像，显示2D剖面图和3D立体彩色视图，高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数；3、基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度，实现膜厚测量功能；4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉，由此计算出两表面间的距离（即厚度），可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度，包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。WD4000半导体晶圆粗糙度表面形貌测量设备可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。 （3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。应用场景 1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

三为科学致力于中药中草药分离纯化、天然药物活性成分有效成分分离纯化应用的快速纯化制备液相色谱技术的开发，sanotac高压层析系统同时兼容Biotage 快速纯化制备液相色谱、ge AKTA、isco、biotage，buchi、biorad等中压分离纯化制备色谱的色谱柱和纯化柱,是一款高效、功能强大的模块化快速纯化制备液相色谱，在中药化学成分分离纯化与合成化合物的分离纯化领域已经得到广泛应用：皂苷类离纯化 ，黄酮分离纯化，异黄酮分离纯化，香豆素分离纯化，色原酮分离纯化，生物碱分离纯化，酚酸分离纯化，萜类分离纯化，蒽醌分离纯化，木脂素分离纯化。黄酮类化合物是以黄酮(2-苯基色原酮)为母核而衍生的一类黄色色素，其中包括黄酮的同分异构体及其氢化和还原产物，也即以C6一C3一C6为基本碳架的一系列化合物。天然黄酮类化合物母核上常含有羟基、甲氧基、烃氧基、异戊烯氧基等取代基。由于这些助色团的存在，使该类化合物多显黄色。又由于分子中γ-吡酮环上的氧原子能与强酸成盐而表现为弱碱性，因此曾称为黄碱素类化合物。黄酮类化合物可分为下列几类：黄酮类（flavone），黄酮醇类（flavonol），二氢黄酮类（dihydroflavone），二氢黄酮醇类（dihydroflavonol），异黄酮类（isoflavone），二氢异黄酮类（dihydroisoflavone），查尔酮类（chalcone），橙酮类（aurones），黄烷类（flavanes，花色素类（anthocyanidins），双黄酮类（biflavone） 高压层析系统技术参数: 泵头316L不锈钢泵 高精度、低脉冲、耐腐蚀 （peek泵头可选）流速范围0.01-50.00ml/min（梯度）流速精度±0.5%压力范围0-30MPa压力脉动≤0.2MPa梯度类型台阶、线性变化梯度、可在线修改梯度和流速最小梯度调节1%检测器光源氘灯+钨灯（进口）检测波长190-800nm 全波长检测器 双波长同时检测波长精度±1nm吸光度范围0-2AU收集全自动收集器收集管架2×60支试管（Φ15mm*150mm试管） 其他规格可以选配收集模式普通模式（按时间收集、峰收集、阈值收集）、顺序收集、循环收集手动上样阀制备色谱阀（标配10ml定量环）上样方式固体上样或液体上样电源220V±10% 50Hz色谱软件控制通过sanochrom色谱软件控制泵、紫外、自动收集器等组件设置与运行控制界面图形界面，USB接口+RS-232可接口，采用基于Windows7/Windows 8/Windows 10的PC软件工作站，软件符合“CFDA GXP和FDA 21CFR Part 11 ”法规要求 三为科学黄酮类化合物分离纯化案例：（二）黄酮类化合物 Flavonoids中文名英文名CAS No纯度（%）植物来源大波斯菊苷；芹菜素-7-葡萄糖苷；芹菜素-7-O-葡萄糖苷；芹菜素-7-O-β-D-葡萄糖苷；芹黄素葡糖苷；芹黄春Apigenin-7-glucoside；Apigenin-7-O-β-D-glucopyranoside Apigetrin578-74-5≥98.5黄菊花香叶木素-7-葡萄糖苷 香叶木素-7-O-葡萄糖苷；香叶木素-7-O-β-D-葡萄糖苷Diosmetin-7-glucoside；Diosmetin-7-O-β-D-glucopyranoside20126-59-4≥98.5芹菜苷 芹黄苷；芹菜素-7-O-葡萄糖-2-O-芹糖苷Apiin Apigenin-7-(2-O-apiosylglucoside)26544-34-3≥98.5芹菜芹菜素；芹黄素；4’,5,7-三羟基黄酮Apigenin 4’,5,7-Trihydroxyflavone Apigenin Apigenol520-36-5≥98.5山奈素；3,5,7-三羟基-4’-甲氧基黄酮；山奈酚-4’-O-甲醚Kaempferide；3,5,7-trihydroxy-4′-methoxyflavone491-54-3≥98.5高良姜高良姜素；3,5,7-三羟基黄酮Galangin 3,5,7-trihydroxyflavone Norizalpinin548-83-4≥98.5山奈酚Kaempferol520-18-3≥98.5油菜花粉香叶木素Diosmetin520-34-3≥98.5苏薄荷异槲皮苷；异栎素；罗布麻甲素；槲皮素-3-O-葡萄糖苷Isoquercitrin Isoquercitroside Quercetin 3-O-glucofuranoside21637-25-2≥98.5桑叶紫云英苷；黄芪苷；紫云英甙；莰非醇-3-O-葡萄糖苷；山柰酚-3-葡萄糖苷；百蕊草素ⅡAstragalin；Kaempferol-3-glucoside 3-Glucosylkaempferol480-10-4≥99.0百蕊草素I；山柰酚-3-葡萄糖鼠李糖苷；阿福豆苷Kaempferol-3-O-glucorhamnoside40437-72-7≥98.5百蕊草槲皮素Quercetin117-39-5≥98.5鱼腥草 桑寄生槲皮苷Quercitrin522-12-3≥98.5木犀草苷；木犀草素-7-O-β-D-葡萄糖苷；木犀草素-7-O-葡萄糖苷；青兰苷Luteolin-7-O-β-D-glucoside Luteoloside Glucoluteolin Cynaroside Cinaroside Cymaroside5373/11/5≥99.0金银花水仙苷；水仙甙；异鼠李素-3-O-β-D-芸香糖苷；异鼠李素-3-O-芸香糖苷Narcissoside；Narcissin Isorhamnetin-3-O-β-D-rutinoside604-80-8≥98.5芦笋异鼠李素Isorhamnetin480-19-3≥98.5蒲黄异鼠李素-3-O-新橙皮糖苷Isorhamnetin-3-O-neohespeidoside；55033-90-4≥98.5香蒲新苷Typhaneoside104472-68-6≥98.5异鼠李素-3-O-葡萄糖苷；异鼠李素-3-O-β-D-吡喃葡萄糖苷Isorhamnetin-3-O-β-D-glucoside；Isorhamnetin-3-O-glucoside5041-82-7≥98.5蒙花苷Acaciin Acaciin Linarin Buddleoflavonoloside Buddleoglucoside480-36-4≥95.0野菊花芸香柚皮苷；柚皮素-7-O-芸香糖苷Narirutin；Isonaringenin；Naringenin 7-rutinoside14259-46-2≥98.5枳实柚皮苷；柚皮甙；柚皮素-7-O-新橙皮糖苷Naringin；Naringenoside Naringenin 7-neohesperidoside10236-47-2≥98.5橙皮苷；橙皮甙Hesperidin；Hesperidoside Hesperetin 7-rutinoside 520-26-3≥98.5新橙皮苷；新橙皮甙Neohesperidin；Hesperetin 7-neohesperidoside13241-33-3≥98.5柚皮苷二氢查尔酮Naringin dihydrochalcone18916-17-1≥98.5柚皮素；柚皮苷元；柑橘素Naringenin；4’,5,7-Trihydroxyflavanone480-41-1≥98.5山奈苷；山奈酚-3,7-二鼠李糖苷Kaempferitrin Kaempferol 3,7-L-dirhamnoside Lespedin482-38-2≥98.5鸡冠花 罗汉果异荭草苷Isoorientin Homoorientin Lespecapitoside4261-42-1≥98.5竹叶异牡荆素(under development)Isovitexin Apigenin 6-C-β-D-glucoside38953-85-4≥98.5牡荆素鼠李糖苷；牡荆素-2-O-鼠李糖苷Rhamnosylvitexin Vitexin-Rhamnoside Vitexin 2' ' -rhamnoside64820-99-1≥98.5山楂叶牡荆素葡萄糖苷；牡荆素-4″′-O-葡萄糖苷Glucosylvitexin Vitexin glucoside Vitexin-4″-O-glucoside76135-82-5≥98.5金丝桃苷Hyperoside Hyperin Hyperosid Quercetin 3-galactoside482-36-0≥98.5牡荆素Vitexin Apigenin 8-C-glucoside Vitexina3681-93-4≥99.0白杨素；5,7-二羟黄酮；柯因Chrysin480-40-0≥98.5汉黄芩苷Wogonoside Oroxindin Wogonin 7-β-D-glucuronide51059-44-0≥98.5黄芩野黄芩苷；灯盏花乙素Scutellarin 27740-01-8≥98.0木蝴蝶素A-7-葡萄糖醛酸苷 木蝴蝶素A-7-0-β-D-葡萄糖醛酸苷 千层纸素A-7-0-β-D-葡萄糖醛酸苷Oroxyloside Oroxylin A-7-glucoronide ≥98.5Oroxylin A-7-O-β-D-glucoronide黄芩素Baicalein491-67-8≥98.5黄芩苷；黄芩素-7-O-葡萄糖苷Baicalin21967-41-998.5草质素苷；草质素甙；草质素-7-O-鼠李糖苷Rhodionin；Herbacetin 7-O-α-rhamnopyranoside≥98.5红景天红景天素；草质素甙；草质素-7-O-(3′′-β-D-葡萄糖基)-α-L-鼠李糖苷Rhodiosin Herbacetin-7-O-glucorhamnoside86831-54-1≥98.5射干苷；鸢尾种苷；鸢尾黄酮苷；鸢尾甙Shekanin Tectoridin611-40-5≥98.5射干杨梅素Myricetin 3,5,7,3' ,4' ,5' -hexahydroxyflavone529-44-2≥98.0侧柏叶杨梅苷；杨梅素-3-O-鼠李糖苷Myricitrin Myricetin3-O-rhamnoside Myricitroside Myricitrine17912-87-7≥98.0淫羊藿苷Icariin Icariine Icariln Ieariline489-32-7≥98.0淫羊藿朝藿定AEpimedin A110623-72-8≥98.0朝藿定BEpimedin B110623-73-9≥98.0朝藿定CEpimedin C Baohuoside VI110642-44-9≥98.0甘草素；4′,7-二羟基黄烷酮Liquiritigenin 4′,7-dihydroxyflavanone578-86-9≥98.5甘草甘草苷；甘草甙；甘草素-4’-O-葡萄糖苷Liquiritoside Liquiritin Likvirtin Liquiritigenin 4′-O-glucoside551-15-5≥98.5芹糖甘草苷；甘草苷芹糖；甘草苷元-7-O-D-芹糖-4’-O-D-葡萄糖苷；甘草素二糖苷Liquiritin apioside≥98.5异甘草素；4,2' ,4' -三羟基查耳酮Isoliquiritigenin 2′,4, 4′-Trihydroxychalcone961-29-5≥98.5异甘草苷；异甘草甙Isoliquiritin5041-81-6≥98.5芹糖异甘草苷；异甘草苷芹糖；异甘草苷元-7-O-D-芹糖-4’-O-D-葡萄糖苷；异甘草素二糖苷Isoliquiritin apioside； Neolicuroside120926-46-7≥98.5氯化矢车菊素-3-O-葡萄糖苷Cyanidin-3-O-glucoside；Kuromanin Chloride7084-24-4≥97.0黑米皮 黑豆衣 更多制备液相色谱/蛋白纯化系统/中压制备色谱近20个型号详见三为科学官网： 流量：50ml、100ml、200ml、 1000ml 流通池：半制备池、制备池泵材料：不锈钢泵、peek泵

三为科学致力于中药中草药分离纯化、天然药物活性成分有效成分分离纯化应用的快速纯化制备液相色谱技术的开发，sanotac高压层析系统同时兼容Biotage 快速纯化制备液相色谱、ge AKTA、isco、biotage，buchi、biorad等中压分离纯化制备色谱的色谱柱和纯化柱,是一款高效、功能强大的模块化快速纯化制备液相色谱，在中药化学成分分离纯化与合成化合物的分离纯化领域已经得到广泛应用：皂苷类离纯化 ，黄酮分离纯化，异黄酮分离纯化，香豆素分离纯化，色原酮分离纯化，生物碱分离纯化，酚酸分离纯化，萜类分离纯化，蒽醌分离纯化，木脂素分离纯化。黄酮类化合物是以黄酮(2-苯基色原酮)为母核而衍生的一类黄色色素，其中包括黄酮的同分异构体及其氢化和还原产物，也即以C6一C3一C6为基本碳架的一系列化合物。天然黄酮类化合物母核上常含有羟基、甲氧基、烃氧基、异戊烯氧基等取代基。由于这些助色团的存在，使该类化合物多显黄色。又由于分子中γ-吡酮环上的氧原子能与强酸成盐而表现为弱碱性，因此曾称为黄碱素类化合物。黄酮类化合物可分为下列几类：黄酮类（flavone），黄酮醇类（flavonol），二氢黄酮类（dihydroflavone），二氢黄酮醇类（dihydroflavonol），异黄酮类（isoflavone），二氢异黄酮类（dihydroisoflavone），查尔酮类（chalcone），橙酮类（aurones），黄烷类（flavanes，花色素类（anthocyanidins），双黄酮类（biflavone） 高压层析系统技术参数: 泵头316L不锈钢泵 高精度、低脉冲、耐腐蚀 （peek泵头可选）流速范围0.01-50.00ml/min（梯度）流速精度±0.5%压力范围0-30MPa压力脉动≤0.2MPa梯度类型台阶、线性变化梯度、可在线修改梯度和流速最小梯度调节1%检测器光源氘灯+钨灯（进口）检测波长190-800nm 全波长检测器 双波长同时检测波长精度±1nm吸光度范围0-2AU收集全自动收集器收集管架2×60支试管（Φ15mm*150mm试管） 其他规格可以选配收集模式普通模式（按时间收集、峰收集、阈值收集）、顺序收集、循环收集手动上样阀制备色谱阀（标配10ml定量环）上样方式固体上样或液体上样电源220V±10% 50Hz色谱软件控制通过sanochrom色谱软件控制泵、紫外、自动收集器等组件设置与运行控制界面图形界面，USB接口+RS-232可接口，采用基于Windows7/Windows 8/Windows 10的PC软件工作站，软件符合“CFDA GXP和FDA 21CFR Part 11 ”法规要求 三为科学黄酮类化合物分离纯化案例：（二）黄酮类化合物 Flavonoids中文名英文名CAS No纯度（%）植物来源大波斯菊苷；芹菜素-7-葡萄糖苷；芹菜素-7-O-葡萄糖苷；芹菜素-7-O-β-D-葡萄糖苷；芹黄素葡糖苷；芹黄春Apigenin-7-glucoside；Apigenin-7-O-β-D-glucopyranoside Apigetrin578-74-5≥98.5黄菊花香叶木素-7-葡萄糖苷 香叶木素-7-O-葡萄糖苷；香叶木素-7-O-β-D-葡萄糖苷Diosmetin-7-glucoside；Diosmetin-7-O-β-D-glucopyranoside20126-59-4≥98.5芹菜苷 芹黄苷；芹菜素-7-O-葡萄糖-2-O-芹糖苷Apiin Apigenin-7-(2-O-apiosylglucoside)26544-34-3≥98.5芹菜芹菜素；芹黄素；4’,5,7-三羟基黄酮Apigenin 4’,5,7-Trihydroxyflavone Apigenin Apigenol520-36-5≥98.5山奈素；3,5,7-三羟基-4’-甲氧基黄酮；山奈酚-4’-O-甲醚Kaempferide；3,5,7-trihydroxy-4′-methoxyflavone491-54-3≥98.5高良姜高良姜素；3,5,7-三羟基黄酮Galangin 3,5,7-trihydroxyflavone Norizalpinin548-83-4≥98.5山奈酚Kaempferol520-18-3≥98.5油菜花粉香叶木素Diosmetin520-34-3≥98.5苏薄荷异槲皮苷；异栎素；罗布麻甲素；槲皮素-3-O-葡萄糖苷Isoquercitrin Isoquercitroside Quercetin 3-O-glucofuranoside21637-25-2≥98.5桑叶紫云英苷；黄芪苷；紫云英甙；莰非醇-3-O-葡萄糖苷；山柰酚-3-葡萄糖苷；百蕊草素ⅡAstragalin；Kaempferol-3-glucoside 3-Glucosylkaempferol480-10-4≥99.0百蕊草素I；山柰酚-3-葡萄糖鼠李糖苷；阿福豆苷Kaempferol-3-O-glucorhamnoside40437-72-7≥98.5百蕊草槲皮素Quercetin117-39-5≥98.5鱼腥草 桑寄生槲皮苷Quercitrin522-12-3≥98.5木犀草苷；木犀草素-7-O-β-D-葡萄糖苷；木犀草素-7-O-葡萄糖苷；青兰苷Luteolin-7-O-β-D-glucoside Luteoloside Glucoluteolin Cynaroside Cinaroside Cymaroside5373/11/5≥99.0金银花水仙苷；水仙甙；异鼠李素-3-O-β-D-芸香糖苷；异鼠李素-3-O-芸香糖苷Narcissoside；Narcissin Isorhamnetin-3-O-β-D-rutinoside604-80-8≥98.5芦笋异鼠李素Isorhamnetin480-19-3≥98.5蒲黄异鼠李素-3-O-新橙皮糖苷Isorhamnetin-3-O-neohespeidoside；55033-90-4≥98.5香蒲新苷Typhaneoside104472-68-6≥98.5异鼠李素-3-O-葡萄糖苷；异鼠李素-3-O-β-D-吡喃葡萄糖苷Isorhamnetin-3-O-β-D-glucoside；Isorhamnetin-3-O-glucoside5041-82-7≥98.5蒙花苷Acaciin Acaciin Linarin Buddleoflavonoloside Buddleoglucoside480-36-4≥95.0野菊花芸香柚皮苷；柚皮素-7-O-芸香糖苷Narirutin；Isonaringenin；Naringenin 7-rutinoside14259-46-2≥98.5枳实柚皮苷；柚皮甙；柚皮素-7-O-新橙皮糖苷Naringin；Naringenoside Naringenin 7-neohesperidoside10236-47-2≥98.5橙皮苷；橙皮甙Hesperidin；Hesperidoside Hesperetin 7-rutinoside 520-26-3≥98.5新橙皮苷；新橙皮甙Neohesperidin；Hesperetin 7-neohesperidoside13241-33-3≥98.5柚皮苷二氢查尔酮Naringin dihydrochalcone18916-17-1≥98.5柚皮素；柚皮苷元；柑橘素Naringenin；4’,5,7-Trihydroxyflavanone480-41-1≥98.5山奈苷；山奈酚-3,7-二鼠李糖苷Kaempferitrin Kaempferol 3,7-L-dirhamnoside Lespedin482-38-2≥98.5鸡冠花 罗汉果异荭草苷Isoorientin Homoorientin Lespecapitoside4261-42-1≥98.5竹叶异牡荆素(under development)Isovitexin Apigenin 6-C-β-D-glucoside38953-85-4≥98.5牡荆素鼠李糖苷；牡荆素-2-O-鼠李糖苷Rhamnosylvitexin Vitexin-Rhamnoside Vitexin 2' ' -rhamnoside64820-99-1≥98.5山楂叶牡荆素葡萄糖苷；牡荆素-4″′-O-葡萄糖苷Glucosylvitexin Vitexin glucoside Vitexin-4″-O-glucoside76135-82-5≥98.5金丝桃苷Hyperoside Hyperin Hyperosid Quercetin 3-galactoside482-36-0≥98.5牡荆素Vitexin Apigenin 8-C-glucoside Vitexina3681-93-4≥99.0白杨素；5,7-二羟黄酮；柯因Chrysin480-40-0≥98.5汉黄芩苷Wogonoside Oroxindin Wogonin 7-β-D-glucuronide51059-44-0≥98.5黄芩野黄芩苷；灯盏花乙素Scutellarin 27740-01-8≥98.0木蝴蝶素A-7-葡萄糖醛酸苷 木蝴蝶素A-7-0-β-D-葡萄糖醛酸苷 千层纸素A-7-0-β-D-葡萄糖醛酸苷Oroxyloside Oroxylin A-7-glucoronide ≥98.5Oroxylin A-7-O-β-D-glucoronide黄芩素Baicalein491-67-8≥98.5黄芩苷；黄芩素-7-O-葡萄糖苷Baicalin21967-41-998.5草质素苷；草质素甙；草质素-7-O-鼠李糖苷Rhodionin；Herbacetin 7-O-α-rhamnopyranoside≥98.5红景天红景天素；草质素甙；草质素-7-O-(3′′-β-D-葡萄糖基)-α-L-鼠李糖苷Rhodiosin Herbacetin-7-O-glucorhamnoside86831-54-1≥98.5射干苷；鸢尾种苷；鸢尾黄酮苷；鸢尾甙Shekanin Tectoridin611-40-5≥98.5射干杨梅素Myricetin 3,5,7,3' ,4' ,5' -hexahydroxyflavone529-44-2≥98.0侧柏叶杨梅苷；杨梅素-3-O-鼠李糖苷Myricitrin Myricetin3-O-rhamnoside Myricitroside Myricitrine17912-87-7≥98.0淫羊藿苷Icariin Icariine Icariln Ieariline489-32-7≥98.0淫羊藿朝藿定AEpimedin A110623-72-8≥98.0朝藿定BEpimedin B110623-73-9≥98.0朝藿定CEpimedin C Baohuoside VI110642-44-9≥98.0甘草素；4′,7-二羟基黄烷酮Liquiritigenin 4′,7-dihydroxyflavanone578-86-9≥98.5甘草甘草苷；甘草甙；甘草素-4’-O-葡萄糖苷Liquiritoside Liquiritin Likvirtin Liquiritigenin 4′-O-glucoside551-15-5≥98.5芹糖甘草苷；甘草苷芹糖；甘草苷元-7-O-D-芹糖-4’-O-D-葡萄糖苷；甘草素二糖苷Liquiritin apioside≥98.5异甘草素；4,2' ,4' -三羟基查耳酮Isoliquiritigenin 2′,4, 4′-Trihydroxychalcone961-29-5≥98.5异甘草苷；异甘草甙Isoliquiritin5041-81-6≥98.5芹糖异甘草苷；异甘草苷芹糖；异甘草苷元-7-O-D-芹糖-4’-O-D-葡萄糖苷；异甘草素二糖苷Isoliquiritin apioside； Neolicuroside120926-46-7≥98.5氯化矢车菊素-3-O-葡萄糖苷Cyanidin-3-O-glucoside；Kuromanin Chloride7084-24-4≥97.0黑米皮 黑豆衣 更多制备液相色谱/蛋白纯化系统/中压制备色谱近20个型号详见三为科学官网： 流量：50ml、100ml、200ml、 1000ml 流通池：半制备池、制备池泵材料：不锈钢泵、peek泵

中图仪器SuperViewW光学三维表面轮廓粗糙度形貌测量仪能以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）。SuperViewW光学三维表面轮廓粗糙度形貌测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。 产品功能(1)SuperViewW光学三维表面轮廓粗糙度形貌测量仪设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例： 针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperView W的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜 标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜ 恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

WD4000无图晶圆表面形貌粗糙度2D3D检测机兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000无图晶圆表面形貌粗糙度2D3D检测机广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量WD4000无图晶圆表面形貌粗糙度2D3D检测机集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台 （1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。WD4000晶圆检测机采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

KES-SESRU表面粗糙度测试仪KES-SESRU表面粗糙度测试仪是对评估布料的风格手感时工匠和专业人士采取的“抚摸”的手部动作进行分析及机械化，并可将结果替换为客观数值数据的KES-FB4-A测试仪通用性升级版本。可以获取摩擦系数、摩擦系数的变动、表面粗糙度的数据。根据这些特性值，可用客观数据评估并量化用手触摸时的“光滑度”“易滑度”和“粗糙感”。还适合用于触感轻柔的条件或毛发测量。产品特点：迅速测试摩擦感，模拟手接触时感觉到的频带信号正确分析和表达任务接触物体时的感觉接触时的滑爽感通过摩擦系数的变动进行计算使主观的感官评价变得客观、定量测试接触各种各样材料时的手感化妆品皮革、布、无纺布

WD4000晶圆厚度表面粗糙度微纳三维形貌量测系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。它通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量WD4000晶圆厚度表面粗糙度微纳三维形貌量测系统集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。WD4000晶圆厚度表面粗糙度微纳三维形貌量测系统可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。应用场景无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。无图晶圆粗糙度测量 Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

上海田枫食品真空冷冻干燥机TF-FZG-100冻干面积为10平方，处理量为100kg/批,冷阱温度-60℃！田枫真空冷冻干燥机适用于食品水果蔬菜肉类、中药材保健品等冻干加工。 田枫食品真空冷冻干燥机有着更大的冻干面积，保证用户的冻干需求；冻干介质采用硅油制冷，保证了温度的要求、温度的稳定；冻干方式产用原位预冻，保证冻干操作的方便简单；冻干机过程可以全程接led屏或计算机显示温度曲线，更加直观的了解产品变化。型号单位TF-FZG-100隔板面积㎡10有限隔板面积㎡10.33散装溶液量L200隔板尺寸宽(mm)900深(mm)1600隔板数量层7+1隔板间距mm65mm隔板温度范围℃-45～+70冷凝器温度℃≤-65冷凝器捕水量KG200电加热KW15极限真空Pa2.7装机功率KW62.0冷却水量m3/H18设备重量T7.5设备外形尺寸M6*1.5*2.5海运集装箱规格20尺海运集装箱数量个1安装场地尺寸要求长*宽*高M10*5*3.5 1.1 预冻与干燥在原位完成，冻干过程自动化，操作简便。1.2 板层内走循环介质，温度可调节，温差≤1℃，制冷加热效果更均匀。1.3 触摸屏操作，PLC控制系统，实时监控设备运行情况。1.4 可与电脑连接，远程操控，存储冻干曲线。1.5 整体式设计，便于运输及安装，节省空间。 真空冷冻干燥技术在生物工程、医药、食品工业、材料科学和农副产品深加工等领域有着广泛的应用。 　药品冷冻干燥包括西药和中药两部分。西药冷冻干燥在国内已经得到了一定的发展，很多较大型的制药厂都有冷冻干燥设备。 在针剂方面，冷冻干燥工艺采用的比较多，提高了药品质量和贮存期限，给医患双方都带来了利益。 在中药方面，目前还只局限在人参、鹿茸、山药、冬虫夏草等少量中药材的冻干。 在生物技术产品领域，冻干技术主要用于血清、血浆、疫苗、酶、抗生素、激素等药品的生产；生物化学的检查药品、免疫学及细菌学的检查药品；血液、细菌、动脉、骨骼、皮肤、角膜、神经组织及各种器官长期保存等。

WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，同时生成Mapping图；2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像，显示2D剖面图和3D立体彩色视图，高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数；3、基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度，实现膜厚测量功能；4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉，由此计算出两表面间的距离（即厚度），可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度，包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。应用领域可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。 （3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

瑞士丹青Compact WLI白光干涉微观形貌及粗糙度仪是用于记录3D形貌光学测量技术，其分辨率高达纳米级。测量点平行采集和处理，大面积的高度信息可以在很短时间内采集。研究和质量管理过程中的典型应用有：物体表面的不同粗糙度特性（晶圆结构、镜面、玻璃、金属等）、确定高度变化以及曲面的精密测量（如微透镜等）。

Surtornic S-100系列是Surtornic系列仪器中的全新一员，拥有4.3寸的触摸全屏，电池持久力可保证2000次测量。屏幕图形功能和USB链接功能保证了全新的S-100系列仪器功能的*大化实现。 专为车间环境、生产和检测间的应用所设计，S-100能够对所有的粗糙度测量需求提供多样化的解决办法。并且对特殊要求能够量体裁衣的制定不同的应用专用配件。S-100 series广泛使用于各种生产企业，尤其是精密轴承、汽车以及航天工程，S-100 series的关键性能，对于现金的精密行业对质量控制能够发挥重要的作用。英国泰勒霍普森Surtronic系列便携式粗糙度仪专为车间环境、生产和检测间的应用所设计，Surtronic S-116能够对所有的粗糙度测量需求提供多样化的解决办法。并且对特殊要求能够量体裁衣的制定不同的应用专用配件特性，● 快速可靠的测量● 特殊设计，坚固耐用● 即开即用，待机时间长● 现场测量，携带方便● 用户友好的操作界面应用领域:●过程控制:研磨、车削、铣削、绗磨、抛光、压挤●汽车:齿轮、连杆、缸孔、●缸体、曲轴●重工业:造船业、 输油管道、钢板●航空航天:涡轮叶片、涡轮轴、机翼复合材料●其他:印刷辊、地板、粘合英国泰勒霍普森新型Surtronic S-100粗糙度参数分析能力：标准：ISO 4287, ISO 13565-1, ISO 13565-2, ASME 46.1, JIS 0601, N31007ISO基本：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1maxASME:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, RdaJIS:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc其他:R3z (Daimler Benz)英国泰勒霍普森新型Surtronic S-100测针测杆常见类型：标准传感器：适用于常规表面粗糙度测量。小孔传感器：适用于小孔、凹槽和狭窄表面上的常规测量。窄测针：用于测量 O 型环槽和狭窄凹槽，测量深度可达 5.5mm (0.22in)。直角型传感器：用于与移动方向成直角的测量。斧型传感器：用于沿锋利的边缘或线进行测量。不适用于平面测量。侧滑传感器：用于曲面测量，例如，齿轮齿面测量。靴型传感器：用于测量粗糙的表面，特别是取样长度为2.5mm (0.1in) 的表面。凹槽传感器：用于测量深凹槽。编号 PK-06 5μm针尖半径，测量深度为5.7 mm。编号 PK-08 5μm针尖半径，测量深度为25 mm。更多粗糙度测量传感器/测针详情，请直接来电咨询

涂魔师巧妙利用光学获取大量平均值进行数据自动补偿，即使基材表面、涂层表面存在粗糙度、凹凸性、波纹度等因素变化，都不会影响其测量精度。传统干膜测厚仪局限性传统干膜测厚仪通常只能准确测出平面或光滑基材表面上的涂层厚度，一旦基材表面或涂层表面存在粗糙度、波纹度或凹凸性，就会严重影响干膜测厚仪的重复性和测量精度。另外，基材材质、涂层成分或表面弯曲率等因素也会导致干膜测厚仪的测量结果出现明显偏差。粗糙底材的最佳涂层测厚方案---涂魔师ATO非接触无损测厚仪涂魔师ATO非接触测厚技术巧妙利用光学获取大量平均值进行数据自动补偿。即使基材或涂层表面存在粗糙度、波纹度、凹凸不平等因素变化，都不会影响其测量精度。涂魔师打破了以往传统干膜测厚仪受基材粗糙度、测量边缘或弯曲面等难测部位导致磁感线变形等限制，能快速适应且可靠精准测出涂层厚度。1.粗糙底材也能精准测厚涂魔师基于ATO非接触无损专利测厚领先技术，即使基材表面、涂层表面存在粗糙度、凹凸性、波纹度等因素变化，都不会影响其测量精度。该设备通过脉冲方式加热待测涂层，内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线。最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。由于热量始终垂直穿透涂层，操作人员使用涂魔师测厚时无须严格控制测试角度和距离也能精准测厚，大大提高操作便捷性。案例分享【应用】气缸发动机曲轴箱原有生产工艺为传统灰铸铁镶件，新工艺为热熔喷涂铁基涂层；新工艺需要对热喷涂涂层进行快速精准的涂层厚度测量；但为了产生足够的涂层附着力，新工艺对曲轴箱的圆柱形表面进行了粗化处理。因此需要在粗糙的基材表面上进行热喷涂层厚度测量。【遇到难题】对于粗糙的基材表面涂层厚度测量，传统干膜测量仪不仅精度低且重复性差，故不适合精准监控产品质量；而显微镜测试耗时非常长，只能随机抽检，并且需要对工件进行破坏式测试。故上述两种测厚方法都不适用监控该工艺涂层厚度；【最佳测厚方案】涂魔师精准无损测厚系统。采用ATO领先技术能快速可靠测量粗糙化基材表面上的涂层厚度。【测量过程】1、产品：曲轴箱1和曲轴箱2；2、测试设备：涂魔师无损测厚系统；3、测试区域：从气缸底部到顶部非接触测量铁基热喷涂涂层厚度，测量区域为a和b；4、测量图片如下图1：图1：实际测量图片从下图2测量结果可见，涂魔师能：1、轻松无损测出缸内指定位置（a和b）的涂层厚度；智能精准识别不同产品不同测试区域的涂层厚度；2、除了能高效协助生产厂家监控热喷涂涂层厚度外，也能协助厂家确定精镗孔的同心度，从而进行精准校正和快速调整不对称性。 图2：测量点1-15为曲轴箱#1，测量点16-30为曲轴箱#2【实验结果表明】即使是测试高粗糙度底材上涂层厚度，涂魔师也能实现1%~2％的高测量精度优势。在连续生产中，涂魔师能高效协助生产厂家不间断监控工件膜厚真实情况，降低返工率。【客户评价】Oerlikon Metco（欧瑞康美科）公司的SumeBore表面涂层技术负责人Peter Ernst博士表示：“涂魔师能直接在工艺中以非破坏性方式对热喷涂涂层进行快速精确测厚，高效检测和及时调整影响涂层厚度的工艺偏差”。2.打破传统膜厚仪的局限性与干膜测厚仪相比，涂魔师ATO在线非接触无损测厚仪可以：1、快速精准测量湿漆、未固化的粉末涂料等未干涂层实时得出干膜厚度，也能直接测量干膜厚度；2、不仅能精准检测金属基材上涂层厚度，还适用于检测碳纤维、玻璃、橡胶、木材等非金属基材材质；涂层类型则适用于粉末涂料、油漆、胶粘剂、达克罗涂层、润滑涂层等。3、无需更换测量探头，一机通用，一键化操作 与其他光热法、激光和超声波原理测厚设备相比，涂魔师ATO：1、具有非接触测量、安全可靠、使用方便、精度高和重复性好、校准简便、无需严格控制测试距离和角度等测量优势；2、十分适用于智慧监控涂装工艺中的涂层厚度，提高工艺的稳定性和高效性。3、在生产线上不间断连续测厚，数据实时存档与反馈，有助于提高工件涂装质量；除了能精准测试粗糙底材上涂层厚度涂魔师其余突出优势 1、非接触和无损测厚方式；2、不限底材及涂层材质；不仅能精准检测金属基材上涂层厚度，还适用于检测碳纤维、玻璃、橡胶、木材等非金属基材材质；涂层类型则适用于粉末涂料、油漆、胶粘剂、达克罗涂层、润滑涂层等。无需更换测量探头，一机通用，操作简单；3、测试操作简单，测试时间只需0.5秒；4、无须严格控制测量条件；无须严格要求测量工件形状、涂层颜色、测量角度和距离，涂魔师对于细小区域、基材边缘、弯曲面等部位也能精准测厚；5、十分适合生产线或实验室环境下使用；提供便携手持式和在线式多款机型，满足不间断测厚，数据实时存档与反馈，有利于提高产品喷涂质量；6、采用氙灯安全光源；涂魔师采用氙灯安全光源，对工件和操作人员不存在任何安全危害；7、干膜、湿膜都能精确测量膜厚；资料申请或咨询翁开尔公司作为涂魔师中国区总代理商，拥有近80多年的行业服务经验，我们能够在非接触测厚应用及产品选型上给您提供建议，如果您希望获得进一步的技术咨询或产品资料，欢迎与我们联系。

一、产品简介： 700克摇摆式药材粉碎机结构精密、体积小、重量轻、功效高、无粉尘、清洁卫生、操作简便、造型美观、既省电又安全等特点粉碎槽及刀片采用特种钢制造，能在3秒－2分钟内完成粗碎及细粉，粉碎范围广：阿胶、乳香、黄芪、三七、海马、菟丝子、灵芝、甘草、珍珠、大米、辣椒、胡椒等不同性质物料均能很好粉碎，物料无损耗，粉碎不同物料不会串色串味。 三、700克摇摆式药材粉碎机技术参数：1.产品型号：LD-7002.产品名称：700克摇摆式药材粉碎机3.粉碎细度：30-200（目）4.电 压：220（V/Hz）5.电机功率：1800（W）6.转 速：25000（r/min）7.净重/毛重：11KG8.包装尺寸：230X230X440MM随机配：毛刷1把，碳刷1副，保险丝2个， 1付刀片。四、摇摆式药材粉碎机的原理： 摇摆式药材粉碎机由不锈钢盖下体粉碎室构成，螺扣式封闭。通过直立式电机的高速运转带动横向安装的粉碎刀片，对物料进行撞击、剪切式粉碎。粉碎物体由于在密闭的空间内被搅动，所以粉碎效果相对均匀，适合干性物料。该机具有摇摆设计，方便对物料的倾倒和清理。

一、产品详情： 800克摇摆式中药粉碎机特别适合用于诊所、医院药房的中药粉碎、药店、保健品销售柜台代客加工、研究所、实验室小样分析和家庭食品粉碎等，也是女士自治中药面膜不可缺少的好帮手。本产品家庭使用也是，绿豆、干辣椒、胡椒、大米、小麦、高粱、玉米等等只须半分钟。 二、产品使用范围： 本产品结构精密、体积小、重量轻、功效高、无粉尘、清洁卫生、操作简便、造型美观、既省电又安全等特点粉碎槽及刀片采用特种钢制造，能在3秒－2分钟内完成粗碎及细粉，粉碎范围广：阿胶、乳香、黄芪、三七、海马、菟丝子、灵芝、甘草、珍珠、大米、辣椒、胡椒等不同性质物料均能很好粉碎，物料无损耗，粉碎不同物料不会串色串味。800克摇摆式药材粉碎机技术参数：1.产品型号：LD-8002.产品名称：800克摇摆式药材粉碎机3.粉碎细度：30-200（目）4.电 压：220（V/Hz）5.电机功率：1800（W）6.转 速：25000（r/min）7.净重/毛重：11KG8.包装尺寸：230X230X440MM

一分钟内饲草矿物质快检——福斯LIBS矿物元素分析仪Micral技术原理：Micral 是一种全自动解决方案，采用激光诱导击穿光谱（LIBS）技术，一分钟内检测饲料和饲草等农业样品中的矿物元素。样品类型： 牧草青贮、玉米青贮、苜蓿/豆科、干草、鲜草、半干草料、混合干草、高粱、秸秆、三叶草、大麦青贮（整株青贮）等 检测参数： 6 种常量元素：钙（Ca）、镁（Mg）、磷（P）、钾（K）、钠（Na）、硫（S） 6 种微量元素：铝（AI）、硼（B）、铜（Cu）、铁（Fe）、锰（Mn）、锌（Zn） 无需试剂-安全、快速、低成本 无需使用化学试剂，无需特殊培训。使用自动进样器盒，可一次性分析 60 个样品，从而加快获得结果的时间，并降低测样成本。 实时数据-为决策提供支持获取有关动物基础饲料中矿物质成分的准确数据，调整矿物质含量，实现良好的生长和表现。快速的结果和低成本可实现全年定期测试，减少过度使用饲料添加剂，并降低对环境的影响。

中图仪器SuperViewW非接触式光学3D表面粗糙度轮廓仪基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。应用领域SuperViewW非接触式光学3D表面粗糙度轮廓仪广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，对各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。产品特点1、针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperView W1的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。2、SuperViewW非接触式光学3D表面粗糙度轮廓仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。粗糙度测量应用部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式手动和电动兼容型Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×600×900㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

Surtornic S-100系列一一一超强耐用的粗糙度测量仪，适用于车间、工业和检测室的应用。 同包括精密轴承、汽车和航空航天工程等行业的生产商们有着紧密的合作关系，泰勒霍.普森专注于研发对于现今精密行业中关键的质量控制技术。新型Surtronic S-100系列仪器能够为您的粗糙度测量需求提供多种解决方案，包括多样化的系统和应用相关配件，并且能够针对特殊应用的配件定制工装。Taylor Hobson提供人工制品和仪器提供全面认证，认证都是在我们建立的ISO 分级的UKAS设施洁净室。 S-100系列有两种型号可供选择： S-116 是标准产品，S-128则能够提供提高测量范围和分析能力。 具有以下优点：一升降装置：标配50mm高度调整，直角测量和可测深达70mm的孔一测量：触觉测量按钮，特别适用于当设备被用于架空或管道内测量一防滑脚架：防滑的V型脚架意味着系统可应用在光滑或者曲面一舒适的握感：增加了手持的舒适度设计，便于查看测量结果和更改设置。一涂胶塑性：增强防护性，适用于车间环境的手持式测量。一轮廓图：详细的轮廓图形能显示测量区域，能够帮助分辨出有问题区域。一设置简单：轻触快捷键即可进行所有关键设置。一USB连接：通过行业标准A类型USB接口和迷你USB接口一迷你USB 2.0：用于充电(任何标准USB充电器)或连接电脑传输数据。一A类型USB 2.0：可连接便携式打印机或者USB储存设备。一方向切换：可将屏幕旋转四个方向，非常适用于不顺手的测量位置 测量能力S-116S-128传感器量程200 um 100 um 10 um 400 um 100 um 10 um分辨率100 nm 20 nm 10 nm 50 nm 10 nm 5 nm低噪音（Ra）250 nm 150 nm 100 nm 150 nm 100 nm 50 nm重复性（Ra）1 % 值+噪音1 % 值+噪音传感器类型电感测量力150-300 mg测针尖端半径5 μm (200 μin)默认/2 μm (80 μin)或10 μm (400 μin) 可选校正过程自动软件校正程序标准能够根据ISO 4287粗糙度标准校正分析滤波器取样长度0.25 mm/0.8 mm/2.5 mm滤波器类型2CR/高斯评价长度0.25 mm-12.5 mm(0.01 in-0.49 in)0.25 mm-25.0 mm(0.01 in-0.89 in)X轴最大行程17.5mm25.5mm测量速度1 mm/秒 0.04 in/秒返回速度1.5 mm/秒 0.06 in/。秒 UKAS校准和测试泰勒霍普森能在专门建造的ISO等级的UKAS洁净室对制成品和仪器进行全面的校准和认证。我们的UKAS实验室能够测量所有与表面粗糙度相关的参数，包括法国、德国、美国和日本在内的其他标准参数类型。 任何表面，任何高度包括一个50mm长的测针升降装置和直角附件， 以及孔深可达70mm的能力， 在不需要昂贵的垫块支架或工装的情况下，对具挑战性的测量位置进行检测。 防滑的V型脚架设计使得该系统能够用在平滑或者弯曲的表面上。测针还能够 翻转向上测量。 应用领域： 1、过程控制 一 研磨、车削、铣削、约磨、抛光、压挤 2、汽车 一 齿轮、连杆、缸孔、缸体、曲轴 3、重工业 一 造船业、输油管道、钢板 4、航空航天 一 涡轮叶片、涡轮轴、机翼复合材料 5、其他 一 印刷辊、地板、粘合标准配置：显示单元 112-1502标准测针 测针连接线 多 刻线样板 测针提升机构 USB接口充电器 使用手册 USB通讯电缆 仪器箱可选附件：测试平台： 00级大理石平板：400X250X70mm，有效高度：280mm。 可调Y轴V型铁。可调范围：±5mmV型铁长度100mm

中图仪器白光干涉粗糙度仪基于白光干涉原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。产品功能(1)白光干涉粗糙度仪设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能 具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。中图仪器白光干涉粗糙度仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。典型结果表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic S116耐冲击性橡胶化塑性整个机身， 聚脂薄膜保证了触摸屏的持久耐用性，抗磨损的齿轮和轴承坚固的不锈钢驱动机构。 大容量锂聚合物电池， 一次充电后可进行至少2000次测量。即开即用能够让仪器在待机状态下1秒即可启用测量， 充满电后待机能力长达5000个小时。任何表面， 任何高度。包括一个50mm长的测针升降装置和直角附件，以及深达70mm的测量能力， 在不需要昂贵的垫块、支架或工装的情况下， 对挑战性的测量位置进行检测。 防滑的V型脚架设计使系统能够用在平滑或弯曲的平面上。 测针还能够反方向底部测量。大型显示屏；任意方向旋转；多功能外端接口像其它导航或智能手机一样， 拥有4.3寸大尺寸触屏， 易读性强。 一页上可显示多至7个参数。可将屏幕旋转四个方向。 轻触快捷键即可进行所有关键设置。A类型USB 2.0可连接便携式打印机或USB存储设备。 迷你USB 2.0用于充电或连接电脑传输数据。重点销售区域：北京-上海-浙江-广东-河南-杭州-郑州-广州-深圳-厦门-汕头-台湾-香港-天津-西安-宝鸡-杭州-温州-常州-无锡-苏州-南京-镇江-扬州-南通-合肥-徐州-常熟-石家庄-太原-呼和浩特-沈阳-长春-哈尔滨-南京-合肥-福州-南昌-济南-郑州-武汉-长沙-广州-南宁-海口-成都-贵阳-昆明-拉萨-西安-兰州-西宁-银川-乌鲁木齐-杭州-沈阳-长春-哈尔滨-济南-武汉-广州-南宁-成都-西安-大连-宁波-厦门-青岛-深圳-杭州-淮安-连云港-昆山-嘉兴-湖州-秦皇岛-邯郸-邢台-保定-张家口-承德-廊坊-呼和浩特-鞍山-大庆-锦州-铁岭-盘锦-湛江-萧山-辽宁-淄博-宁夏-绵阳-云南-朝阳-陕西-青海-北海-吉林-苏州-昆山-无锡-镇江-常州-连云港-淮安-淮阴-盐城-扬州-徐州-宜兴-江阴-南通-扬州-上海-滁州-内蒙古-新疆概述：Surtronic S100系列是*耐用的便携式表面粗糙度测量仪，适用于车间、工业和检测间的应用。泰勒.霍普森 Surtronic S100 系列有两种型号可供选择：S116 粗糙度仪是标准产品；S128则能够提供提高测量范围和分析能力。 SURTRONIC S116 粗糙度仪能够为您的粗糙度测量需求提供多种解决方案， 包括多样化的系统和应用相关的配件， 并且能够为您的特殊需求定制工装。耐冲击性橡胶化塑性整个机身， 聚脂薄膜保证了触摸屏的持久耐用性，抗磨损的齿轮和轴承坚固的不锈钢驱动机构。 大容量锂聚合物电池， 一次充电后可进行*少2000次测量。即开即用能够让仪器在待机状态下1秒即可启用测量， 充满电后待机能力长达5000个小时。任何表面， 任何高度。 包括一个50mm长的测针升降装置和直角附件，以及深达70mm的测量能力， 在不需要昂贵的垫块、支架或工装的情况下， 对具挑战性的测量位置进行检测。 防滑的V型脚架设计使系统能够用在平滑或弯曲的平面上。 测针还能够反方向底部测量。像其它导航或智能手机一样， 拥有4.3寸大尺寸触屏， 易读性强。 一页上可显示多7个参数。可将屏幕旋转四个方向。 轻触快捷键即可进行所有关键设置。A类型USB 2.0可连接便携式打印机或USB存储设备。 迷你USB 2.0用于充电或连接电脑传输数据。泰勒• 霍普森有限公司专业从事超高精度表面及其轮廓形状测量，是优越的圆度/圆柱度仪、表面粗糙度轮廓仪、白光干涉表面轮廓仪及超精单点金刚石车床等设备的供应商，总部位于英国莱斯特市，我们提供接触与非接触测量方法以满足多种应用需求，公司产品广泛应用于现代制造业及新兴产业，如半导体、硬盘、精密光学、微纳米学等。