凡德他尼

背景介绍—瞬态吸收光谱和瞬态吸收成像的应用基于泵浦探测（Pump-Probe）原理的瞬态吸收光谱，在频率维度和时间维度上提供了丰富的光谱和动力学信息，过去的几十年应用于物理、化学、材料、能源、生物等广泛领域。当今，许多领域科学研究的范式和需求都在不断更新。尤其是随着钙钛矿光伏、二维材料、量子器件、高温超导等前沿领域的发展，科学家迫亟需在空间维度上揭示载流子等微观离子的迁移和演化规律，研究微纳米材料的物理态在空间分布上的异质性。瞬态吸收成像，可在空间和时间维度上研究微观粒子和能量的运动和演化，是研究微观粒子和能量的时空演化、阐释微观机制的重要工具。瞬态吸收成像，一般有两种实现方式，点扫描成像和宽场成像。相对点扫描成像，宽场成像模式具有速度快、通量高，成像质量更加细腻的特点。Omni-TAM900为北京卓立汉光仪器有限公司全新推出的一款宽场飞秒瞬态吸收成像系统。该系统集成像和动力学于一体，联合飞秒泵浦-探测技术和显微技术，通过自主知识产权的干涉放大技术增强图像信噪比，可获得高质量的成像效果并大幅度缩短测试时间。仪器基本功能和性能：仪器具有点泵浦-宽场探测，和宽场泵浦-宽场探测两种工作模式。分点泵浦模式可用于测量载流子迁移和热导率等；宽场泵浦模式可用于测量载流子分布和物理态的空间异质性等。仪器特点和创新高灵敏、高通量，可测量到单个纳米颗粒、单层石墨烯乃至单层分子晶体的瞬态吸收信号。仪器原理和实现方式Omni-TAM900宽场飞秒瞬态吸收成像系统原理如下图所示，经过飞秒激光器和光学参量放大器（OPA）之后出来的飞秒激光，通过显微镜的光学系统进入，并作为泵浦光源激发样品，而另一束经过空间调制的探测光在一定的时间延迟之后也经过显微系统到达样品，样品在激发态对探测光产生的吸收情况会被显微镜上的sCMOS 相机记录下来。通过调节光学延迟线（Optical Delay Line），得到样品在不同延迟时间下的sCMOS图像。Omni-TAM900 可以有两种成像模式（如下图所示）： 聚焦泵浦光模式（点泵浦，宽场探测）和宽场泵浦光模式（宽场泵浦、宽场探测），前者主要用于研究载流子的迁移，后者用于检测载流子的空间分布状况。软件软件可进行同步采集，自动控制和处理，载流子的寿命、载流子的迁移速率、载流子的分布、动力学等信息均可以通过软件得到。应用方向及实测数据 Omni-TAM900宽场飞秒瞬态吸收成像系统是测量载流子时空演化的强大工具，可广泛应用于物理、材料及器件的前沿研究，比如：太阳能电池、低维材料、量子器件、超导材料、新型半导体、纳米催化、生物传感等，对纳米尺度和飞秒时空尺度中的超快的物理、化学及生物过程进行监测。 金属镀膜中的载流子迁移和热扩散10 nm厚金属薄膜上的超快热载流子和热扩散，采用仪器的点激发，宽场探测模式。半导体中的载流子迁移和热扩散同时监测Si基半导体中的载流子迁移和热扩散（可测量半导体材料的热导率），采用仪器的点激发，宽场探测模式。光伏材料中的载流子迁移和演化钙钛矿CsPbBr3载流子成像，迁移动力学及边缘态动力学研究。采用仪器的宽场激发，宽场探测模式催化材料中的热载流子分布和“热点”局部热电子密度高、寿命长，可能具有更高的催化活性。采用仪器的宽场激发，宽场探测模式。新型二维材料中的边缘物理态研究二维WS2中激子分布情况，激子寿命研究。可以看到，多层的边缘具有更高激子密度和更长激子寿命技术参数 光源飞秒激光 +OPA，激光波长范围取决于应用场景检测器sCMOS成像空间分辨率500 nm载流子迁移定位精度30nm时间分辨率500 fs (100 fs 激光脉冲条件下）时间延迟线0-4 ns/0-8 ns显微镜模块倒置显微镜，上方为开放空间，后期可兼容低温模块、探针台、电学调控、磁场等特殊实验场景。测量模式点泵浦 + 宽场探测（载流子迁移）宽场泵浦 + 宽场探测（载流子分布）仪器工作模式反射 / 散射已发表文献：J. Am. Chem. Soc. 2022, 144, 13928专利：202110510123.X（以上展示的所有实测数据均为本型号仪器测得，并已公开发表，更多细节请查阅以上文献）。更多参考文献：（为了方便用户参考研究前沿，如下列出一些国际上利用瞬态吸收成像方法的研究案例。这些数据并非用该型号仪器获得，但是卓立Omni-TAM900仪器可实现这些应用场景中的绝大多数功能。如有特殊需求，欢迎与卓立汉光联系。）Science 2017, 356, 59 (钙钛矿超长热载流子)Nat. Mater. 2020, 19, 617 （转角二维量子异质结）Science 2021, 371, 371 （超导材料电荷密度波）Science 2022, 377, 437 （立方砷化硼超高载流子）Nat. Mater. 2020 , 9, 56 (材料中的携能载流子)

仪器介绍 Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。产品特点快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高应用案例应用领域半导体（SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS，SOI等）LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亚酰胺ITO等)LED (SiO2、光刻胶ITO等）触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等)汽车(防雾层、Hard Coating DLC等）医学（聚对二甲苯涂层球囊/导尿管壁厚药膜等）技术参数型号Delta-VISDelta-DUVDelta-NIR波长范围380-1050nm190-1100nm900-1700nm厚度范围50nm-40um1nm-30um10um-3mm准确度12nm1nm10nm精度0.2nm0.2nm3nm入射角90°90°90°样品材料透明或半透明透明或半透明透明或半透明测量模式反射/透射反射/透射反射/透射光斑尺寸22mm2mm2mm是否能在线是是是扫描选择XY可选XY可选XY可选注：1.取决于材料0.4%或2nm之间取较大者。 2.可选微光斑附件。

AKTAready&trade 是专为药物临床早期生产和工艺规模放大而设计的工业层析系统。该系统使用可更换的预先经消毒灭菌的流路进行操作，通过快速更换高流速或低流速管路组件，该系统可实现从50ml/min到510L/hr超宽流速范围，涵盖从70mm~450mm内径的层析柱，灵活用于不同规模的生产纯化 AKTAready&trade 系统耐受蛋白质回收工艺中的化学剂，包括吸收、洗脱和冲洗缓冲液，以及生产和清洗溶液。所有产品都具有经验证的质量，整个液路都是一次性的。所有洗涤材料都完全生物相容（USP Class VI），并且所用材料均可追溯至其生产批。 Flow 套件是在受控环境下生产，并且使用经确认的方案在洁净室（ISO 8）内包装。 专门设计用于药物开发I期到III期的流程扩展和生产，以及GLP和cGMP标准的全规模生产。系统操作的简化和产品批次之间停工期的缩短节省了启动时间以及人工及消耗品的花费，改善了成本效率和生产力。AKTAready&trade 以即用型一次性流程进行操作，排除了交叉污染的风险，以及清洁和对清洁程序进行验证的需要。 新型AKTAready&trade 包括色谱柱、UNICORN&trade 软件以及含有传感器和检测流动室的ReadyToProcess&trade Flow试剂盒。UNICORN&trade 带有安装向导，提供了色谱柱安装的操作指南和报告，确保试剂盒的正常工作。所有的AKTA&trade 系统使用了相同的软件，能够轻松实现流程的扩展和完整cGMP生产中AKTAprocess&trade 的快速转换。 AKTAready&trade 系统由大量的产品监控文档和服务提供支持，具体包括验证文档、有关使用材料信息的产品文档、美国药典第六类CFR 177和AOF证书，以及监控支持文件（RSF）。 ReadyToProcess&trade 平台由应用整个工艺的即用即取型溶液组成。完成纯化任务后，柱和液路（如AKTAready&trade Flow 套件）可弃置，也可用于同一纯化流程的其它产品批次。ReadyToProcess&trade 概述可加速工艺操作，这是因为其操作步骤更少：无需建立和确认清洗过程，也没有复杂的设置步骤。可迅速改变液路，停工时间少于 1 小时，这样就可节省时间、投资、启动成本，以及人工和耗材成本。产品特性●可轻松更换整套液路，消除了系统清洗过程，包括方法开发与确认过程●由于操作程序更简化，且产品/批次间的停工时间更短，故改进了经济性和生产率●产品/批次之间的交叉污染风险被消除●随附内容广泛的产品文件●在智能的UNICORN&trade 软件的控制下工作的，这个软件可以让您控制纯化进程的每一步都变得相当便利。 更多详情请来电咨询。点击查看更多AKTA&trade 系列产品：

AKTAprime&trade plus 是一台紧凑的液相色谱系统，设计用于一步纯化蛋白。只需按一键即可实现很多蛋白的纯化过程。该系统操作非常简便，按键并浏览面板上的液晶显示器，即可控制所有操作。采用AKTAprime&trade plus，可靠的、方便的实验室规模蛋白纯化将不再是想象。 针对典型应用，有为特定层析柱优化的预编方法，所有参数已预设好——您需要做的只是输入样品体积，按开始键。所以您可以把常规纯化步骤变成简单的按键。AKTAprime&trade plus上的应用模板建议的层析柱是HiTrap&trade 和HiPrep&trade 预装柱。 对于常规纯化技术如离子交换、疏水相互作用、亲和或脱盐/缓冲液更换，AKTAprime&trade plus也有一些预编的方法模板适合采用常规纯化技术的普通方法。在AKTAprime&trade plus系统上您还可以灵活地逐行编程，得到完全自编的方法，最多存储40种。更多详情请来电咨询。点击查看更多AKTA&trade 系列产品：

Cytiva 思拓凡 Ä KTA oligosynt&trade 寡核苷酸合成仪产品介绍Ä KTA oligosynt&trade 寡核苷酸合成仪是一款紧凑型全自动寡核苷酸合成仪，专为实验室科研和工艺开发打造 。该系统支持稳健且易于放大的寡核苷酸合成过程，并以高产量和高质量转移至更大的寡核苷酸合成仪。 Ä KTA oligosynt&trade 系统采用流穿合成技术，泵精度高，规模广泛，滞留体积低，使其适用于不同规模和类型的寡核苷酸。以灵活简便的方式创建和转移方法，为工艺开发和优化提供支持，同时系统先进的数据处理能力和分析工具可高效监测和控制合成。交互式流程图、系统正面所有模块的布局以及清晰的方法概述使系统易于使用。 Ä KTA oligosynt&trade 寡核苷酸合成仪 系统优势&bull 广泛的合成规模和优化的滞留体积与较小的系统占地面积相结合，能够广泛而灵活地满足科研和开发要求。&bull 灵活简单的方法编辑和交互式用户界面易于使用，并支持扩大规模的要求。&bull 强大的工艺控制能力，由测量压力、气泡、温度、紫外和电导率的传感器提供支持。还可以从外部模块进行输入。Ä KTA oligosynt&trade 寡核苷酸合成仪 详细参数

LTL3500 是DELTA新一代逆反射测量仪，用于测量道路标线的逆反射性能。该仪器集成了最新的技术，采用现代化的设计和材料。LTL3500 像所有其他DELTA 的仪器一样，非常容易校准和操作，用户界面友好。该仪器构造坚固，耐久性好。除此之外，体积小(470 ×280×150mm/ 18.0×11.0×5.9in)，重量轻(5.6kg/ 12.3 磅)。LTL3500 特别适合那些需要进行多种测量功能的客户—仪器软件可以支持实现测量，以便在回顾结果时方便地获取查看。LTL3500 提供了许多功能，允许采集附加的信息链接到测量结果，而不仅仅是逆反射结果信息，其中包括了照片文档。可伸缩手柄确保符合人体工程学的正确工作位置。此外，该仪器体积小，重量轻，便于运输。仪器符合 EN1436、ASTM E1710、 ASTM E 2177、ASTM E 2302、ASTM E 2367 和 ASTM E 2832 等

仪器名称：番茄酱稠度测定仪仪器型号：TA.TXT 品牌：上海保圣实业发展有限公司 1、稠度是番茄制品的主要质量指标之一，其稠度在绝大程度上是取决于浆液的性质和不溶性番茄纤维所占的比例。同时，它也对口感产生直接影响，一般要求番茄酱酱体均 匀细腻、粘稠适度；2、应用： TA/BE-反挤压装置附三种大小不同之圆盘，适用于胶体溶液、油脂、奶油、海鲜酱、番茄酱等酱料的粘性（stickiness)、粘稠度（consistency)、黏连性（stringiness)的测试。通过挤压测试测试番茄酱的稠度：1、试验参数设置：Method Type:Basic Single Test(单次测试)Test type:Compression(下压)Pre-test speed:1.0 mm/sTest speed:1.0 mm/sPost-test speed:1.0 mm/sTarget value:30mmTrigger type:ForceAuto Tare:Yes2、实验设置 实验是在一个自带的标准容器中进行的，样品充满容器75%的容积，在特定的温度下（如：5℃）储存。压头将定位在容器的中心。对了对比的目的，探头应该在实验后返回相同的位置。可以通过校准探头来完成。3、实验过程 一旦感应到5g力，探头开始下压样品30mm的距离。在该点（最可能获得最大力），探头返回启始位置。波峰力可以看做是坚固性，该数值越高，样品越坚固。曲线以下的面积可表达样品的稠度，数值越大，稠度越高。曲线的负值区域，是探头返回过程中一部分样品被探头带起造成的，也可以表明样品的稠度。最大的负波峰力表明了样品的粘聚性。负峰也可以表达样品的粘性作功。

英国DELTA-T公司位于英国剑桥，成立于1971年，是环境科学仪器的专业生产厂家，尤其专业于耕种学、数据记录、气象学、 土壤水份、各种辐射研究及环境监控等领域。其产品远销全世界，是研发生态仪器的厂家。在生态研究领域，DELTA-T提供了多种高精度研究设备可供用户选择，特别如ML2x土壤水分仪、WET土壤三参数测量仪、SUNSCAN冠层仪、PR2土壤剖面水分探头等。英国DELTA-T土壤剖面水分探头PR2/4测量深度：10、20、30、40厘米测量单位：土壤体积含水量(m3.m-3 或%vol)量程：0～0.4 m3.m-3 保证精度，0~1 m3.m-3 全量程精度：±0.04 m3.m-3(0~+40℃)针对土壤进行特殊标定； ±0.06 m3.m-3(0~+40℃)使用通用的标定曲线盐分：50～400ms/m (孔隙水电导率)测量点上下测量范围：探点直径250px，上下高度高125px 的圆柱体样土壤决定的了测量值95％的灵敏度，所以在这个圆柱体积内不能有金属、石头和根系，以免影响测量结果工作环境0～+40℃防护等级：IP67反应时间：1秒供电：小：5.5V DC (2米缆线时)，7.5V DC (100米缆线)；大：15V DC功耗：80mA输出：SDI-12或者4个模拟电压值：0~1V 对应0~60m3.m-3缆线：标配5米、可选10米、25米，长100米材质：聚碳酸脂和不锈钢尺寸：长度750毫米×直径25.4毫米重量：0.6公斤土壤剖面水分探头中国总代理：南京铭奥仪器

Sim SOFT的3D Tower模拟器可以在非操作环境中为塔式空中交通管制员提供逼真的培训。3D塔模拟器是一个全面的空中交通管制塔模拟器，为控制器培训提供了一个交互式，高度真实的环境。 它真实地复制了能够在绝对安全的环境中进行培训的操作。除了初始训练之外，3D Tower模拟器还提供进修培训，以提高管制员对重复暴露在很少见到的操作和机场条件的认识。在转换任务之前，转移经过认证的控制员可以准备并实际训练他们在新任务中遇到的操作，从而大大减少他们到达时所需的培训时间。 3D塔模拟器可用于非训练应用。它有助于在机场上或附近提出新建筑的现场勘测，并协助规划新的跑道或在准确和安全的模拟环境中改变当地的到达或离开程序。 该模拟器将由当地设施的空中交通人员操作，因为其设计用于最小限度的支持。这是一个自给自足的模拟器，教练可以启动，选择培训场景并进行培训。模拟器没有以任何方式连接到操作系统。这是一个独立的仿真系统，只需要ATC设备的电源插座即可运行。 概观 复杂和现实的情景 ATC友好的数据准备 涵盖所有层次和类型的培训 易于学习和使用 用户友好的伪导频接口 轻松的系统扩展 与雷达模拟器集成 主要特点窗体顶端窗体底端 复制任何塔楼环境，并以实时精确的方式显示窗外的模拟景观信息 风景包括机场布局，天气和季节环境在一个完整的昼夜周期中的变化，雷达信息数据和语音通信系统 视觉系统将允许学生在足以满足训练要求的距离上检测，识别和识别飞机和车辆 提供30度垂直，360度水平视野的视觉显示 包括民用和军用飞机库（固定翼，旋转翼），所有飞机3D模型都有移动部件，如门，装备，方向舵和副翼 车辆库包含但不限于以下地面车辆：皮卡车，随从车辆，机场消防响应车辆（救护车，消防车，皮卡），雪犁，轿车，踏板车，割草机，行李车，加油车，拖船，餐饮服务车和拖车 提供每个控制塔地理位置的可视化表示和可编程级别的天气现象特征。还包括各种高度的变化天花板的表示以及显示清晰，分散，破碎和阴天的条件的能力 提供从清零到零的可编程可视级别。以下和任何可能的组合：雾，阴霾，雨，雪，细雨，沙尘暴等可用 ATMIS天气信息和预报是一个天气显示，将显示与情景相关的天气状况，并提供30分钟的天气更新，METAR编码中的风/高度计/可视性 实时动态模拟，允许：飞行路径变化，错过的进近，跑道变化，270度转弯，触摸和走，跑道出口和阵容变化 地面交通管理与动态控制飞机和车辆 锻炼管理工具，为学员简报模拟暂停，记录和重放锻炼，以获得更好的受训者视觉概念，包括所有语音通信和实时行动 提供的运动准备工具，以便可以加载不同机场布局和机场条件的不同练习。 部署 支持的硬件范围允许系统适应任何预算 不同的视觉系统解决方案可供选择：大型LCD显示器，大型平面分段式屏幕或宽屏幕式屏幕 可以提供不同尺寸的360度全景窗外图像

仪器介绍 Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。产品特点快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高应用案例应用领域半导体（SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS，SOI等）LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亚酰胺ITO等)LED (SiO2、光刻胶ITO等）触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等)汽车(防雾层、Hard Coating DLC等）医学（聚对二甲苯涂层球囊/导尿管壁厚药膜等）技术参数型号Delta-VISDelta-DUVDelta-NIR波长范围380-1050nm190-1100nm900-1700nm厚度范围50nm-40um1nm-30um10um-3mm准确度12nm1nm10nm精度0.2nm0.2nm3nm入射角90°90°90°样品材料透明或半透明透明或半透明透明或半透明测量模式反射/透射反射/透射反射/透射光斑尺寸22mm2mm2mm是否能在线是是是扫描选择XY可选XY可选XY可选注：1.取决于材料0.4%或2nm之间取较大者。 2.可选微光斑附件。

多功能X射线衍射/反射仪 提供科研开发工作所需的各种X射线测试解决方案 Jordan Valley公司zui新设计的Delta-X是多功能的X射线衍射设备，可灵活应用于材料科学研究、工艺开发、与生产质量控制。Delta-X衍射仪的光源台和探测台的光学元件可以全自动化调控，并采用水平式样品台。Delta-X衍射仪可以在常规衍射模式、高分辨率衍射模式、X射线反射模式之间灵活切换。光学配置的切换完全在菜单式程序控制下由计算机完成，无需手动操作。自动化切换和准直不需要专门人员和操作设备，并确保每次切换都能达到zui佳的光学准直状态。 常规的样品测量可以通过Delta-X衍射仪，实现部分、乃至完全的自动化运行，自动化测量程序可以依客户需求进行专门定制。也可采用完全的手动模式操作Delta-X衍射仪，以便发展新测量方法，研究新材料体系。 数据分析或拟合可以作为测量程序的一部分，可实现完全自动化，也可依据需要单独进行数据分析。 依半导体生产线的需求，将RADS和REFS拟合软件以自动化模式运行，允许在没有用户干扰的情况下自动完成常规性的数据分析，并直接完成数据拟合和结果输出。RADS和REFS也可以单独安装，以便进行更详细的数据分析。 Delta-X衍射仪能满足科学研究所和技术开发中心 不同材料体系的全方位测试需求。 Delta-X 衍射仪的主要特点和优势n 自动化进行样品准直、测试、和数据分析n 客户可以自行设定测量的自动化程度n 300mm的欧拉环支架(Eulerian Cradle)设计，高精度的样品定位和扫描n 300mm的晶片水平式放置，且可以完整mappingn 100o的Chi轴倾转范围、无限制范围的Phi轴旋转空间，可实现极图和残余应力测试n 智能化的光学配置切换和准直。依测量需要，自动选择光学配置并实施光学准直n 工业界先的设备控制软件和数据分析软件n 高分辨率测角仪，以保证精密且准确的测量n 高强度的光源台设计和光学元件组合，以实现快速测量n 多方面广泛的测试技术和测量参数n 由拥有超过30年的高分辨率X射线衍射经验的世jie级专家设计、制造，具有全球客户经验。 Delta-X衍射仪的特点和优势自动化控制的光学系统:Delta-X衍射仪的入射束包括多种标准的光学配置模式，以便使光学配置具有充分的灵活性，且易于操作。可以依据测量样品的材料类型，选择参考晶体。 n 标准模式：用于所有系统，平行束多层膜高反镜n 其他四种光学系统可以选择和安装：n Bragg-Brentano镜 (Johannson光学元件)n Bragg-Brentano镜 (Johannson光学元件)和一个参考晶体(二次反射)n 两个独立的参考晶体(二次反射)：参考晶体的材料类型和分辨率有多种设计供选择，以便提供与测量zui匹配的分辨率。n 两个参考晶体，以Bartels模式安装n 参考晶体和高反镜均可自动化切换n 不需要将参考晶体和高反镜手动移出衍射仪，保证光学元件不被损坏、不偏离准直状态。n 衍射仪的初始准直易于操作，安全可靠，无需在设备内开启X射线操作。 样品台可放置直径≤300mm晶片或多个小尺寸晶片、样品Delta-X衍射仪的欧拉(Eulerian )环支架设计允许放置单个或多个晶片或样品，并提供多个转动轴的大范围、高再现性的精确移动控制。 n 水平式样品放置n 可实现X和Y轴方向上，300mm内的完整mapping测量，无边缘测量失真的现象n 10mm的Z轴高度范围，即使对厚样品也可以调整晶片高度，获得zui佳测量位置n 在样品盘的不同位置，设计了均匀、无扭曲的真空轻度吸附，既适合大尺寸晶片放置，又适合独立、小尺寸晶片的多片式放置n 100°的Chi轴倾转范围，可实现完整的极图和残余应力测量n Phi轴的旋转范围无限制，可实现完整的极图和面内衍射测量

特点：在7STA04牧马系列电动平移台基础上增加防尘罩防尘采用不锈钢材料，抗热屑或激光标准配备有步进电机和标准RS232接口，配合7SC系列运动控制器可实现自动控制进口高品质滚珠螺杆驱动，重复定位精度好，寿命长新型轴端结构，防止螺杆松动，特别适合高速往复使用导轨采用支撑型精密线性轴承导轨（整体与底板连接），运动舒适，承载较大，适合单轴中载或多轴组合使用步进电机和滚珠螺杆通过进口高品质弹性联轴节连接，传动同步且噪音小配有手轮，方便调试两端装有零位和限位开关，方便准确定位和保护产品底座有标准孔距的螺纹孔和通孔，方便安装固定特别适合工业应用如激光焊接机等可换装伺服电机，实现高速重载技术参数：产品型号7STA0750A7STA07100A7STA07150A7STA07200A7STA07300A7STA07400A7STA07500A行程50mm100mm150mm200mm300mm400mm500mm台面尺寸100x150mm螺杆导程4mm5mm分辨率(8细分)0.00125mm0.0025mm0.003125mm最大速度20mm/sec40mm/sec重复定位精度＜0.005mm轴向间隙＜0.03mm标配电机42步进电机(0.9°)42步进电机(1.8°)57步进电机(1.8°)最大静转矩0.4Nm1.2Nm额定工作电流1.7A2.8A中心负载20kg40kg自重2.8kg3.2kg3.5kg4.2kg4.5kg5.5kg5.9kg 尺寸：产品型号ABCDE7STA0750A25584.5 67.5 7547STA07100A30580.55067STA07150A35587STA07200A40592.5127STA07300A505167STA07400A624 90.5207STA07500A72424

高效的气体分析解决方案 —— OMNISTAR™ / THERMOSTAR™ 智能化软件。应用领域广泛。什么是OMNISTAR™ / THERMOSTAR™ ？OMNISTAR 和 THERMOSTAR 是分析大气压力下进样气体的紧凑型台式分析系统。他们是气体分析领域完美的解决方案，特别是在化学工艺、半导体工业、冶金发酵、催化、镭射和环境分析应用领域。该系统由一套进气装置，一台PrismaPlus质谱仪，一台干式膜片真空泵和一台Hipace涡轮分子泵组成。样品进气口处配备了可以加热到350 °C的毛细管，OmniStar的毛细管子是不锈钢材质，而ThermoStar是石英玻璃材质。在气体分析的工艺中，加热的毛细管能防止样品蒸汽冷凝。毛细管进样压力在大气压。可选配的调压装置允许低至10-3mbar。Quadera质谱软件能对多达128种不同质量数的气体进行定性和定量分析。这个系统覆盖的质量从1到100 amu，1到200 amu，1到300 amu。THERMOSTAR™ —专业的解决方案ThermoStar主要是为了连接热天平而开发。进气系统由一根石英玻璃毛细管和铂金扩散膜组成，确保能分析到低浓度的样品。和其他分析方法相比较，例如 FTIR 和 IR 分析法，它能更好地监测到质量范围内的所有气体。应用领域镭射技术 催化 半导体工业优势一览定性和定量气体分析，配有校准气体系统的连接口低检测限（1 ppm），包括冷凝气体紧凑易操作的分析单元可加热到350 °C的进气毛细管可烘烤全金属高真空腔体，降低背景干扰全封闭的离子源和场轴技术提高检测灵敏度标准谱图库，用来认定未知气体可检测多达128种质量数覆盖的质量从1到100 amu，1到200 amu，1到300 amu可应用于大气至真空环境的气体分析调压进气装置（可选）可在不同压力下分析气体快速、可靠、精确测量共价惰性气体QUADERA分析软件Quadera分析软件能够让你在电脑上实时监测工艺。系统快速的响应令工艺分析快速进行。基于模块化的设计，Quadera软件能提供一个架构清晰、界面友好的用户平台，用来抓取和演示测量数据和参数记录。可以呈现完整的测量程序。连接热天平的定制解决方案—ThermoStarThermoStar在线质谱是专门为连接热天平仪而设计的。高温度气体样品依然可以通过石英毛细管。尺寸

简介 Jordan Valley公司zui新设计的Delta-X是多功能的X射线衍射设备，可灵活应用于材料科学研究、工艺开发、与生产质量控制。Delta-X衍射仪的光源台和探测台的光学元件可以全自动化调控，并采用水平式样品台。Delta-X衍射仪可以在常规衍射模式、高分辨率衍射模式、X射线反射模式之间灵活切换。光学配置的切换完全在菜单式程序控制下由计算机完成，无需手动操作。自动化切换和准直不需要专门人员和操作设备，并确保每次切换都能达到zui佳的光学准直状态。 常规的样品测量可以通过Delta-X衍射仪，实现部分、乃至完全的自动化运行，自动化测量程序可以依客户需求进行专门定制。也可采用完全的手动模式操作Delta-X衍射仪，以便发展新测量方法，研究新材料体系。 数据分析或拟合可以作为测量程序的一部分，可实现完全自动化，也可依据需要单独进行数据分析。 依半导体生产线的需求，将RADS和REFS拟合软件以自动化模式运行，允许在没有用户干扰的情况下自动完成常规性的数据分析，并直接完成数据拟合和结果输出。RADS和REFS也可以单独安装，以便进行更详细的数据分析。 Delta-X衍射仪能满足科学研究所和技术开发中心 不同材料体系的全方位测试需求。 Delta-X 衍射仪的主要特点和优势n 自动化进行样品准直、测试、和数据分析n 客户可以自行设定测量的自动化程度n 300mm的欧拉环支架(Eulerian Cradle)设计，高精度的样品定位和扫描n 300mm的晶片水平式放置，且可以完整mappingn 100o的Chi轴倾转范围、无限制范围的Phi轴旋转空间，可实现极图和残余应力测试n 智能化的光学配置切换和准直。依测量需要，自动选择光学配置并实施光学准直n 工业界先的设备控制软件和数据分析软件n 高分辨率测角仪，以保证精密且准确的测量n 高强度的光源台设计和光学元件组合，以实现快速测量n 多方面广泛的测试技术和测量参数n 由拥有超过30年的高分辨率X射线衍射经验的世jie级专家设计、制造，具有全球客户经验。 Delta-X衍射仪的特点和优势自动化控制的光学系统:Delta-X衍射仪的入射束包括多种标准的光学配置模式，以便使光学配置具有充分的灵活性，且易于操作。可以依据测量样品的材料类型，选择参考晶体。

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Zeta&trade -300光学轮廓仪Zeta&trade -300 可提供3D 量测和成像功能，与集成式防震台和灵活的配置相结合，可以处理更大的样品。该系统采用ZDot&trade 技术，可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-300 支持研发和生产环境，具有多模光学组件、易于使用的软件和低拥有成本。产品描述Zeta-300 光学轮廓仪是一款非接触式3D表面形貌测量系统。Zeta-300 以 Zeta-20 3D 轮廓仪的功能为基础，具有额外的防震选项和灵活的配置，可处理更大的样品。该 3D 光学量测系统由已获得专利的 ZDot 技术及多模式光学组件提供支持，可支持各种样品测量：透明和不透明、低反射率和高反射率、光滑表面和粗糙表面，以及从纳米到厘米范围的台阶高度。Zeta-300台式光学轮廓仪将六种不同的光学量测技术集成到一个可灵活配置且易于使用的系统中。ZDot测量模式同时收集高分辨率的3D扫描信息和样品表面真彩色图像。其他3D测量技术包括白光干涉测量法、诺马斯基光干涉对比显微法和剪切干涉测量法，膜厚测量包含使用ZDot模式测量和光谱反射的测量方法。Zeta-300 也是一款高端显微镜，可用于抽样检查或缺陷自动检测。Zeta-300 3D 轮廓仪通过提供全面的台阶高度、粗糙度及薄膜厚度测量以及缺陷检测功能，来支持研发 (R&D) 和生产环境。 特征配合ZDot及多模式光学组件，光学轮廓仪可以容易地实现各种各样的应用用于抽样检查和缺陷检测的高质量显微镜ZDot：同时收集高分辨率的3D扫描扫描信息和样品表面真彩色图像ZXI：采用z方向高分辨率的广域测量白光干涉仪ZIC：图像对比度增强，可实现亚纳米级粗糙度表面的定量分析ZSI：z方向高分辨率图像的剪切干涉测量法ZFT：通过集成式宽频反射测量法测量薄膜厚度和反射率AOI：自动光学检测，可量化样品缺陷生产能力：具有多点量测和图形识别功能的全自动测量 应用台阶高度：从纳米级到毫米级的3D 台阶高度表面：光滑表面到粗糙表面上的粗糙度和波纹度测试翘曲：2D或3D翘曲应力：2D或3D薄膜应力薄膜厚度：透明薄膜厚度由 30nm 至 100µ m 不等缺陷检测：捕获大于 1µ m 的缺陷缺陷表征：KLARF 文件可用于寻找缺陷，以确定划痕缺陷位置，测量缺陷3D表面形貌 行业 发光二极管 (LED)：发光二极管和 PSS（图形化的蓝宝石衬底）半导体和化合物半导体半导体 WLCSP（晶圆级芯片封装）半导体 FOWLP（扇出晶圆级封装）PCB（印刷电路板）和柔性印刷电路板MEMS：微机电系统医疗器械和微流体器件数据存储大学、研究实验室和研究所主要应用台阶高度Zeta-300 能够非接触式测量从纳米级到毫米级的3D台阶高度。ZDot和多模式光学组件可提供一系列方法来测量台阶高度。ZDot是主要测量的技术，可以快速测量从几十纳米到毫米级的台阶。ZXI干涉测量可用于在大范围内测量从纳米级到毫米级的台阶。ZSI剪切干涉测量可用于测量不到80nm的台阶。薄膜厚度Zeta-300 能够使用 ZDot 或 ZFT 测量技术测量透明薄膜的薄膜厚度。ZDot用于测量大于10µ m的透明薄膜，例如覆盖在高折射率的衬底上的光刻胶或微流体器件层。ZFT使用集成宽频反射仪测量30nm至100µ m的薄膜。这既可以运用于单层，也可以运用于多层薄膜堆叠，用户可以输入薄膜的性质或使用模型来拟合光谱。纹理：粗糙度和波纹度Zeta-300 测量3D 纹理、量化样品的粗糙度和波纹度。ZDot可以测量从几十纳米到非常粗糙的表面的粗糙度。ZSI和干涉测量可以测量从埃级到微米级的光滑表面。软件中的过滤器将测量结果分为粗糙度和波纹度两部分，并计算出均方根粗糙度等参数。诺马斯基光干涉对比显微法可以通过揭示斜率的微小变化来可视化非常精细的表面细节。翘曲：翘曲形状Zeta-300可以测量表面的2D和3D形状或翘曲。这包括半导体或化合物半导体器件生产过程中层间不匹配导致的晶圆翘曲的测量。Zeta-300 还可以量化结构（例如透镜）的3D 高度和曲率半径。应力：薄膜应力Zeta-300 能够测量具有多个工艺层的器件（例如半导体或化合物半导体器件）在生产过程中的应力。精确测量表面的翘曲度需要使用应力载台将样品支撑在中间位置。然后运用Stoney公式的原理根据工艺（诸如薄膜沉积）带来的形貌变化来计算应力。Zeta-300 通过在整个样品直径上以用户定义的间隔测量样品表面的高度，然后把数据合成样品形状的轮廓来测量2D应力。自动缺陷检测Zeta-300 能够通过自动光学检测 (AOI) 快速检测样品，区分不同的缺陷类型，并绘制整个样品的缺陷分布图。当与3D 量测功能结合使用时，Zeta-300 可以提供2D检测系统无法提供的缺陷高度信息，从而更快地分析缺陷来源。缺陷表征Zeta-300缺陷表征使用检查工具KLARF文件将样品台移动到缺陷位置。用户可以使用Zeta-300检测缺陷或测量缺陷的表面形貌，例如高度、厚度或纹理。这提供了更多无法从2D缺陷检测系统获得的缺陷细节。Zeta-300 还可以使用划线标记缺陷，从而使视场有限的工具（例如SEM）更容易找到缺陷。LED 图形蓝宝石衬底 (PSS)Zeta-300 光学轮廓仪支持图形化的蓝宝石衬底的量测和检测。该系统结合ZDot、背光源照明系统和自定义算法，可快速量化PSS圆锥的高度、宽度和间距。Zeta-300 还可用于测量图形化前后的光刻胶，从而使样品在蓝宝石蚀刻之前返工成为可能。PSS衬底的自动缺陷检测能够快速识别关键缺陷，例如PSS圆锥的缺失、圆锥的桥接、撕裂和污染。半导体和化合物半导体封装Zeta-300 支持晶圆级芯片封装 (WLCSP) 和扇出晶圆级封装 (FOWLP) 量测要求。一个主要的赋能技术是在干光刻胶膜完好无损的情况下测量镀铜的高度。这是通过从透明光刻胶到种子层测量铜柱的高度、光刻胶的厚度以及铜和光刻胶的相对高度差来实现的。其他应用包括重布线(RDL)、凸点下金属化(UBM)高度和纹理、光刻胶开口临界尺寸(CD)、光刻胶厚度和聚酰亚胺厚度的测量。还可以测量金属凸点的共面性，以确定凸点高度是否满足最终器件封装连接性要求。印刷电路板 (PCB) 和柔性 PCBZeta-300 的高动态范围功能可实现从纳米级到毫米级的表面粗糙度和台阶高度测量，无需更改配置。它可以处理高反射率薄膜（例如铜）以及 PCB 上常见的透明薄膜。Zeta-300 支持盲孔、线痕和热压焊的关键尺寸 (CD) 测量（高度和宽度）以及表面粗糙度。激光烧蚀Zeta-300 可以测量半导体、LED、微流体器件、PCB 等的激光表面处理引起的表面形貌变化。激光已被用于半导体、LED和生物医学设备等行业的精密微观尺度加工和表面处理。对于半导体行业，晶圆ID标记的深度和宽度的测量对于确保它可以在众多加工步骤中成功读取至关重要。微流体Zeta-300 能够测量由硅、玻璃和聚合物等材料制成的微流体器件。该系统量化了通道、孔和控制结构的高度、宽度、边缘轮廓和纹理。Zeta-300 可进行折射率补偿，测量用透明顶盖板密封后的最终器件，从而监测腔道的深度。生物技术Zeta-300 非常适合生物技术应用，可对具有从纳米级到毫米级特征的各种样品表面进行非接触式测量。Zeta-300 可以测量高深宽比台阶，例如生物技术器件的深孔深度。借助高数值孔径物镜和对反射能力极弱的样品的分辨能力，可以测量用于药物输送的微针阵列结构。

Zeta&trade -388光学轮廓仪Zeta&trade -388提供3D量测和成像功能，与集成防震台和晶圆操作系统结合，可实现全自动测量。该系统采用ZDot&trade 技术，可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-388支持研发和生产环境，具有多模光学器件、易于使用的软件、低拥有成本和SECS/GEM通信。产品描述Zeta-388光学轮廓仪是一款非接触式三维(3D)表面地貌测量系统。Zeta-388基于Zeta-300的功能，增加了用于全自动测量的机械手臂操作系统。该系统由已获得专利的ZDot技术及多模式光学组件提供支持，可支持各种样品测量：透明和不透明、低至高反射率及各种粗糙程度的纹理，以及从纳米到毫米范围的台阶高度。 Zeta-388光学轮廓仪集成了六种不同的光学量测技术，构建出一款可灵活配置且易于使用的系统。ZDot测量模式同时收集高分辨率的3D扫描信息和样品表面真彩色图像。其他3D测量技术包括白光干涉测量法、诺马斯基光干涉对比显微法和剪切干涉测量法，膜厚测量包含使用ZDot模式测量和光谱反射的测量方法。Zeta-388也是一款高端显微镜，可用于抽样检查或缺陷自动检测。Zeta-388通过提供全面的台阶高度、粗糙度和薄膜厚度测量、缺陷检测功能和机械手臂操作系统来支持研发和生产环境。 特征采用ZDot及多模式光学技术且便于使用的光学轮廓仪，可应对各种各样的应用程序用于抽样检查和缺陷检测的高质量显微镜ZDot：同时收集高分辨率的三维(3D)扫描及真彩色无限聚焦图像ZXI：采用纵向高分辨率的广域测量白光干涉仪ZIC：图像对比度增强，可实现亚纳米级粗糙度表面的定量分析ZSI：纵向高分辨率图像的剪切干涉术ZFT：通过集成式宽频反射测量法测量薄膜厚度和反射率AOI：自动光学检测，可量化样本缺陷生产能力：具有多点量测和图形识别功能的全自动测量机械手臂操作系统：自动加载直径为50毫米到200毫米的不透明（例如硅）和透明（例如蓝宝石）样品应用台阶高度：从纳米到毫米的3D台阶高度表面：光滑表面到粗糙表面上的粗糙度和波纹度测试翘曲：2D或3D翘曲应力：2D或3D薄膜应力薄膜厚度：透明薄膜厚度从30nm至100µ m不等缺陷检测：捕获大于1µ m的缺陷缺陷审查：KLARF文件可用于寻找缺陷，以确定划痕缺陷位置，测量缺陷3D表面形貌 工业无线通讯器件(SAW/BAW/FBAR)发光二极管(LED)：发光二极管和PSS（图形化的蓝宝石衬底）半导体和化合物半导体半导体WLCSP（晶圆级芯片封装）半导体FOWLP（扇出晶圆级封装）PCB（印刷电路板）和柔性电路板MEMS:微机电系统医疗器械和微流体元件主要应用台阶高度Zeta-388 能够非接触式测量从纳米级到毫米级的3D台阶高度。ZDot和多模式光学组件可提供一系列方法来测量台阶高度。ZDot是主要测量的技术，可以快速测量从几十纳米到毫米级的台阶。ZXI干涉测量可用于在大范围内测量从纳米级到毫米级的台阶。ZSI剪切干涉测量可用于测量不到80nm的台阶。薄膜厚度Zeta-388 能够使用 ZDot 或 ZFT 测量技术测量透明薄膜的薄膜厚度。ZDot用于测量大于10µ m的透明薄膜，例如覆盖在高折射率的衬底上的光刻胶或微流体器件层。ZFT使用集成宽频反射仪测量30nm至100µ m的薄膜。这既可以运用于单层，也可以运用于多层薄膜堆叠，用户可以输入薄膜的性质或使用模型来拟合光谱。纹理：粗糙度和波纹度Zeta-388 测量3D 纹理、量化样品的粗糙度和波纹度。ZDot可以测量从几十纳米到非常粗糙的表面的粗糙度。ZSI和干涉测量可以测量从埃级到微米级的光滑表面。软件中的过滤器将测量结果分为粗糙度和波纹度两部分，并计算出均方根粗糙度等参数。诺马斯基光干涉对比显微法可以通过揭示斜率的微小变化来可视化非常精细的表面细节。翘曲：翘曲形状Zeta-388可以测量表面的2D和3D形状或翘曲。这包括半导体或化合物半导体器件生产过程中层间不匹配导致的晶圆翘曲的测量。Zeta-388 还可以量化结构（例如透镜）的3D 高度和曲率半径。应力：薄膜应力Zeta-388 能够测量具有多个工艺层的器件（例如半导体或化合物半导体器件）在生产过程中的应力。精确测量表面的翘曲度需要使用应力载台将样品支撑在中间位置。然后运用Stoney公式的原理根据工艺（诸如薄膜沉积）带来的形貌变化来计算应力。Zeta-388 通过在整个样品直径上以用户定义的间隔测量样品表面的高度，然后把数据合成样品形状的轮廓来测量2D应力。自动缺陷检测Zeta-388 能够通过自动光学检测 (AOI) 快速检测样品，区分不同的缺陷类型，并绘制整个样品的缺陷分布图。当与3D 量测功能结合使用时，Zeta-388 可以提供2D检测系统无法提供的缺陷高度信息，从而更快地分析缺陷来源。缺陷表征Zeta-388缺陷表征使用检查工具KLARF文件将样品台移动到缺陷位置。用户可以使用Zeta-300检测缺陷或测量缺陷的表面形貌，例如高度、厚度或纹理。这提供了更多无法从2D缺陷检测系统获得的缺陷细节。Zeta-388 还可以使用划线标记缺陷，从而使视场有限的工具（例如SEM）更容易找到缺陷。LED 图形蓝宝石衬底 (PSS)Zeta-388 光学轮廓仪支持图形化的蓝宝石衬底的量测和检测。该系统结合ZDot、背光源照明系统和自定义算法，可快速量化PSS圆锥的高度、宽度和间距。Zeta-388 还可用于测量图形化前后的光刻胶，从而使样品在蓝宝石蚀刻之前返工成为可能。PSS衬底的自动缺陷检测能够快速识别关键缺陷，例如PSS圆锥的缺失、圆锥的桥接、撕裂和污染。半导体和化合物半导体封装Zeta-388 支持晶圆级芯片封装 (WLCSP) 和扇出晶圆级封装 (FOWLP) 量测要求。一个主要的赋能技术是在干光刻胶膜完好无损的情况下测量镀铜的高度。这是通过从透明光刻胶到种子层测量铜柱的高度、光刻胶的厚度以及铜和光刻胶的相对高度差来实现的。其他应用包括重布线(RDL)、凸点下金属化(UBM)高度和纹理、光刻胶开口临界尺寸(CD)、光刻胶厚度和聚酰亚胺厚度的测量。还可以测量金属凸点的共面性，以确定凸点高度是否满足最终器件封装连接性要求。激光烧蚀Zeta-388可以测量半导体、LED、微流体器件、PCB 等的激光表面处理引起的表面形貌变化。激光已被用于半导体、LED和生物医学设备等行业的精密微观尺度加工和表面处理。对于半导体行业，晶圆ID标记的深度和宽度的测量对于确保它可以在众多加工步骤中成功读取至关重要。微流体Zeta-388 能够测量由硅、玻璃和聚合物等材料制成的微流体器件。该系统量化了通道、孔和控制结构的高度、宽度、边缘轮廓和纹理。Zeta-388 可进行折射率补偿，测量用透明顶盖板密封后的最终器件，从而监测腔道的深度。生物技术Zeta-388 非常适合生物技术应用，可对具有从纳米级到毫米级特征的各种样品表面进行非接触式测量。Zeta-388 可以测量高深宽比台阶，例如生物技术器件的深孔深度。借助高数值孔径物镜和对反射能力极弱的样品的分辨能力，可以测量用于药物输送的微针阵列结构。

总部位于剑桥的Delta-T设备公司成立于1971年，专注于环境科学仪器，特别是土壤科学、农学、植物科学、数据记录、气象学和环境监测。Delta-T是土壤湿度监测的市场领导者，在为研究人员提供创新、可靠的土壤湿度传感器方面拥有超过25年的经验。 GP2 数据记录器• 12 个差分通道；• 支持SDI-12；• 高性能微伏灵敏度；• 易于设置和选择传感器；• 多功能通信选项；• 免费使用DeltaLINK云数据查看与共享服务 产品简介GP2是一款12通道现场数据记录器，具有先进的控制能力，非常适合高要求的研究应用和现场工作。它具有防风雨，坚固耐用的特点，由电池供电，并配备12个不同的模拟输入，SDI-12串行数据接口和2个继电器作为标准配置。 对于许多应用程序来说，GP2的设置和安装比竞争对手的系统更快、更简单，同时仍然提供对丰富功能集的访问。它可以记录大多数传感器类型，并接受电压、电阻、电流、电位计、计数器、电桥、频率、SDI-12和数字状态输入。 中继输出可以使用脚本编辑器以异常复杂的方式控制实验和应用程序。GP2具有独特的可靠性-建立在Delta-T在设计和制造数据记录器的25年经验之上。 应用GP2 数据记录器具有广泛的环境、农业和工业应用：园艺和灌溉、土壤科学、植物生理学、农学气候研究和气象学、农业、草坪和花园、舒适环境美化、生态学、田间试验、生态生理学。了解更多信息，获取产品资料，欢迎垂询英国Delta-T公司中国授权代理商欧美大地，热线400-700-9998

总部位于剑桥的Delta-T设备公司成立于1971年，专注于环境科学仪器，特别是土壤科学、农学、植物科学、数据记录、气象学和环境监测。Delta-T是土壤湿度监测的市场领导者，在为研究人员提供创新、可靠的土壤湿度传感器方面拥有超过25年的经验。DL6 数据记录器• 高精度8通道数据记录；• 适用于Profle Probes, ThetaProbes和SM150T 。 产品简介DL6 是专为与 Delta-T 土壤湿度传感器一起使用而优化的专用数据记录器。它可以与 ThetaProbes、SM150T 土壤湿度传感器和 Profile Probes 组合使用，还可以接受雨量计和土壤温度探头输入。内存中最多可存储 16000 个读数。 DL6 可以记录以下数据：6 个土壤湿度传感器（或其他模拟电压）1个温度传感器1 个脉冲计数器（例如降雨） DL6 – Profile Probes 的完美搭档DL6 为记录 Profile Probes 提供了一种经济高效的解决方案。它处理 PR2/6（100 厘米深）或 PR2/4（40 厘米深）。IP68 电缆使连接变得容易，DL6 PC 软件简化了传感器配置和数据收集。 专为现场使用而设计DL6 非常适合研究应用和灌溉监测。为了最大限度地减少打开外壳的需要，通过外部 RS232 接口收集数据，并且可以使用振动激活的 LED 检查记录器的状态。 存储、通信和电力DL6 的存储容量为 16K 读数（典型值）。笔记本电脑可以通过 RS232 在本地收集数据，也可以使用蜂窝调制解调器选项远程收集数据。DL6 标配 6 节碱性 AA 内置电池。最多 10 个 DL6 可以使用 M8 布线网络共享通信。 了解更多信息，获取产品资料，欢迎垂询英国Delta-T公司中国授权代理商欧美大地，热线400-700-9998

产品名称：英国Delta-T便携式土壤剖面水分速测仪PR2-4型号：PR2/4 品牌：英国Delta-T产地：英国产品介绍：英国Delta-T便携式土壤剖面水分速测仪PR2-4采用感测技术构建，能够在所有土壤类型中提供前所未有的性能。PR2/4 型号可测量深至 40cm 的 4 个深度，PR2/6 型号则可测量。可以迅速、精确、可靠的测量土壤剖面的体积含水量。使用先进的FDR技术，在一根探杆上同时分布4个土壤水分探头，实现同一地点不同深度的土壤剖面含水的测量英国Delta-T便携式土壤剖面水分速测仪PR2-4技术指标：传感器类型PR2/4 PR2/6测量值体积含水量m3.m-3（%vol）测量范围0-0.4 m3.m-3保证精度0-1 m3.m-3全量程测量精度±0.04 m3.m-3（0-40℃）针对土壤进行特殊标定±0.06 m3.m-3（0-40℃）使用通用的标定曲线含盐量容忍度600ms.m-1（孔隙水电导率）温度范围0-40℃保证精度指标-20-70℃可操作范围，IP67防水等级响应时间小于1秒供电最小：5.5V DC（2米缆线时）7.5V DC（100米缆线）最大：15V DCPR2/4耗电80mA PR2/6耗电120mA输出4（PR2/4）或6（PR2/6）个模拟电压值。0-1V 对应0-60m3.m-3缆线屏蔽9芯线，标配2米缆线，和M12（IP68接头）扩展缆线：5米，10米，25米，最长100米材料25.4mm聚碳酸脂，不锈钢尺寸 / 重量PR2/4：长：750mm 重量：0.6KgPR2/6：长：1350mm 重量：0.9KgHH2读数表HH2 读表精度： 1mvHH2 读表内存： 1100 个读数HH2 读表电池寿命：6500 个读数

回流炉6通道炉温测试仪Solderstar lite-6|英国Solderstar|炉温测试仪|炉温跟踪仪|炉温曲线测试仪|性能简介：1.回流炉6通道炉温测试仪Solderstar lite-6，是体积小、记录功能强大的六通道测温仪，能在狭窄的回流炉内畅通无阻2.在PCB装配中，各种参数和设置极为复杂，为了帮助生产厂商和EMS企业对现场质量系统进行有效监控，特别设计了这款SolderStar Lite-6 回流炉测温仪，帮助客户全面掌控无铅制程3.由于其隔热套良好的隔热性能，使它在无铅的高温测试中，始终保持常态温度，避免了记录仪过热而导致的一系列使用问题 4.炉温控制系统是电子制造商的主要选择。回流炉6通道炉温测试仪Solderstar lite-6，拥有比较卓越的热性能、独特的通道安装和直观简便的软件，专门针对无铅制程而设计的，完全能够满足当今电子业客户新的需求.回流炉6通道炉温测试仪Solderstar lite-6|英国Solderstar|炉温测试仪|炉温跟踪仪|炉温曲线测试仪|基本优势：1.标准的6通道构造2.高温无铅保护和快速冷却功能3.庞大的回流炉和锡膏资料库，快速导入和优化制程设置4.可同时用来测量波峰焊5.品质优良、专业、容量大，可长期连续使用6.专业的软件工具，包括曲线分析、图表处理和曲线模拟等多项功能.回流炉6通道炉温测试仪Solderstar lite-6|英国Solderstar|炉温测试仪|炉温跟踪仪|炉温曲线测试仪|技术参数：1.尺寸/重量：236mmx50mmx9mm，168g2.通道数目：6通道(K型)3.储存容量：65，500点4.取样频率：0.1秒-10分钟(可以选择)5.温度范围：-150℃-500 ℃6.精度：±0.5℃7.曲线波动范围：＜0.02℃8.承受温度：＋85℃((超过此温度，记录仪会自动停止)9.电源：高温可充电电池10.传输方式：USB(标准的A型或迷你-B型)11.热电偶：6个K型的热电偶(误差率极低的专用型号) EN05842：1993级I/ANSI MC96.1回流炉6通道炉温测试仪Solderstar lite-6|英国Solderstar|炉温测试仪|炉温跟踪仪|炉温曲线测试仪|隔热套的技术参数：1.型号：HS25802.制作材料：光亮的不锈钢材料3.尺寸/重量：290mmx80mmx25mm,560g.回流炉6通道炉温测试仪Solderstar lite-6|英国Solderstar|炉温测试仪|炉温跟踪仪|炉温曲线测试仪|标准配置：1.6通道数据记录器2.25mm厚的无铅隔热套（不可用于波峰焊测温夹具上）3.6个K型热电偶4.USB接口和数据线5.中心操作软件6.曲线模拟工具7.回流炉和锡膏数据库8.操作使用说明书 9.工具箱.回流炉6通道炉温测试仪Solderstar lite-6|英国Solderstar|炉温测试仪|炉温跟踪仪|炉温曲线测试仪|可选配件：1.WaveShuttle Plus ---波峰焊测试夹具2.可调节的回流焊夹具3.45mm、100mm厚的隔热套. 英国SOLDERSTAR|炉温监控仪系列，敬请选购：一、回流焊炉温监控：1.回流焊6通道炉温测试仪Solderstar lite-6|炉温测试仪|炉温跟踪仪|炉温曲线测试仪 2.回流焊测温仪|Solderstar Pro-6（9/12/16通道）|回流炉温度曲线测试仪|炉温记录仪|Solderstar Pro 3.回流焊性能确认装置|Solderstar DeltaProbe|英国SOLDERSTAR|回流炉性能验证装置 4.回流焊实时炉温监控系统|Solderstar APS|英国SolderStar|实时回流焊炉温监控系统|Solderstar APS 二、波峰焊炉温监控：1.选择性波峰焊测温仪|Wave Selective|Wave Selective Profiling Datalogger|波峰焊炉温记录仪 2.波峰焊测温仪|Wave Profiling Datalogger|波峰焊炉温记录器|波峰焊炉温跟踪仪|Wave Shuttle Pro 3.多波峰浸焊测温仪MultiWave Pro|多波峰浸焊温度监控仪|DIP Solder Profiling Datalogger 三、汽相焊炉温监控：1.汽相焊测温仪Solderstar PRO VP|Vapour Phase Profiling Datalogger|汽相焊接专用测温仪 四、回流焊（波峰焊）炉温监控：1.回流焊6通道炉温测试仪Solderstar lite-6|炉温测试仪|炉温跟踪仪|炉温曲线测试仪 2.回流焊测温仪|Solderstar Pro-6（9/12/16通道）|回流炉温度曲线测试仪|炉温记录仪|Solderstar Pro

ST-UT2 系列可升级为SmartTable IQ 阻尼的调谐阻尼光学平台特点：? 可现场升级至ST 系列SmartTable 性能等级? 可选择性地消除扭转与弯曲的台面模式? 阻尼工作台面可消除表面共振? 适用于具有较好动态刚性的更轻、更硬台面的蜂巢小室? 三重芯板接触面可增加点负载能力完全整合的ST 系列SmartTable 包含工厂预装的IQ 阻尼器。但是如果您不了解您的应用需要多大阻尼，或者要应对实验要求或实验室环境的潜在变化，可升级型ST-UT2 系列可将理波公司的微调谐阻尼与IQ 阻尼结合起来。ST-UT2 系列SmartTables 平台可现场升级至ST 系列的性能。当未安装IQ 阻尼器时，ST-UT2 平台可提供与RS2000 系列平台等效的性能。当您的应用需求变得更加迫切时，可通过安装IQ-200-UG 升级套件将ST-UT2 平台现场升级到SmartTable 性能等级。不需要为升级平台而改造您的实验室。升级后，ST-UT 将提供更平稳的平台表面、更高的成像品质、改善的长期稳定性和更短的稳定时间，并且能够进行在先前所要求的最安静实验室环境中才能进行的测量。升级的ST-UT2SmartTable 还允许用户通过内置振动感测器监测平台顶部振动，振动感测器可提供关于平台振动状态的实时反馈信息。 说明：下面的图表仅供参考。ST-UT2 系列中的iQ 阻尼将光学平台中的稳定时间急剧地缩短为原来的四分之一订购信息Model (Metric)Width [ft. (mm2)]Length [ft. (mm2)]Thickness [in. (mm)]ST-UT2-46-8 (M-ST-UT2-46-8)4 (1200)6 (1800)8 (203)ST-UT2-46-12 (M-ST-UT2-46-12)4 (1200)6 (1800)12 (305)ST-UT2-48-8 (M-ST-UT2-48-8)4 (1200)8 (2400)8 (203)ST-UT2-48-12 (M-ST-UT2-48-12)4 (1200)8 (2400)12 (305)ST-UT2-410-8 (M-ST-UT2-410-8)4 (1200)10 (3000)8 (203)ST-UT2-410-12 (M-ST-UT2-410-12)4 (1200)10 (3000)12 (305)ST-UT2-410-18 (M-ST-UT2-410-18)4 (1200)10 (3000)18 (457)ST-UT2-412-18 (M-ST-UT2-412-18)4 (1200)12 (3600)18 (457)ST-UT2-414-18 (M-ST-UT2-414-18)4 (1200)14 (4200)18 (457)ST-UT2-56-8 (M-ST-UT2-56-8)5 (1500)6 (1800)8 (203)ST-UT2-56-12 (M-ST-UT2-56-12)5 (1500)6 (1800)12 (305)ST-UT2-58-8 (M-ST-UT2-58-8)5 (1500)8 (2400)8 (203)ST-UT2-58-12 (M-ST-UT2-58-12)5 (1500)8 (2400)12 (305)ST-UT2-510-18 (M-ST-UT2-510-18)5 (1500)10 (3000)18 (457)ST-UT2-512-18 (M-ST-UT2-512-18)5 (1500)12 (3600)18 (457)ST-UT2-514-18 (M-ST-UT2-514-18)5 (1500)14 (4200)18 (457)ST-UV2 配件订购信息Model (Metric)DescriptionST-BRKTST-200 mounting bracket for use with Newport's 10 in dia legs onlyIQ-200-UG-8ST-UT and ST-UT2 Series Upgrade Kit for 8 in. Thick TableIQ-200-UG-12ST-UT and ST-UT2 Series Upgrade Kit for 12 in. Thick Table针对基于半定制的要求，其它尺寸规格都是现成可用的。ST-UT2 系列在1 in. 网格上标配1/4-20 个孔；对于25 mm 网格上的M6 公制孔需添加前缀"M-"。隔振器单独出售。 所有套件与英制和公制平台均兼容。升级套件包含两个IQ 阻尼器、一个ST-200 控制器、两根缆线、用户手册、软件及所有执行升级必须的计算机硬件。

Delta-T WET150 KIT 土壤温湿盐速测仪WET150 土壤水分温度盐分传感器是英国Delta-T公司2021年5月19日推出的一款低成本土壤传感器，其主要测量土壤的水分基质、温度和导电性，WET150是一款具有40年传感器发展经验的新型数字SDI-12多参数土壤传感器，具有高质量的性价比，是农业、土壤、灌溉、研究、园艺和农业系统整合的理想选择。手持读数表体积水含量显示单位为%vol，电导率显示单位为mS/m。手持读数表是一种轻便且易于使用的读数设备（无数据记录或其他复杂功能）。操作非常简单，用户将传感器插入土壤或基质中，然后按手持读数表上的“READ”按钮进行测量并显示测量结果。 WET150土壤水分温度电导率传感器具有针对矿物和有机土壤以及珍珠岩，椰壳，泥炭和矿棉基质土壤的校准功能。 技术指标：土壤水分范围：0 ~ 1.0 m 3.m -3分辨率：0.001m 3.m -3准确度：± 0.03 m 3.m -3 (3%) @ 0.05 ~ 1.0 m 3.m -3ECb 0~500 mS.m -1土壤温度范围：-20~+60℃分辨率：0.1℃准确度：±1℃@-20~+50℃土壤盐分（ECb）范围：0 ~2000 mS.m-1分辨率：0.1mS.m -1准确度：±(6%+10mS.m -1 )@ 0 ~ 1200 mS.m-1电源：6~20V DC 电流：主动：12 ms内平均22 mA（包括45 mA时的短峰值），空闲：0.5mA测量土壤有效尺寸：~55x70毫米φ尺寸：L143mm X 40毫米φ；针L55mm X 2.5毫米φ重量：77g (不包括线缆)防护等级：IP68线缆长度：标准5米土壤校准：WET150传感器配有矿物和有机土壤以及珍珠岩、椰壳、泥炭和矿棉基质的校准 WET150 KIT手持读数表接口：同时可接入1个WET150土壤传感器传感器通讯协议：SDI-12供电：2节AA碱性电池电池电量：2400个读数外壳防护等级：IP65工作温度：0~+40℃显示屏：2行×16字符尺寸：130×66×25毫米

Nitrataxsc硝氮在线分析仪-工作原理Nitrataxsc硝氮在线分析仪采用高精确紫外光吸收法，选配不同光程传感器进行硝态氮测定。Nitrataxsc硝态氮分析仪探头工作时，水样流过狭缝，探头中光源发出的光穿过狭缝，其中部分光被狭缝中流动的样品吸收，其它的光则透过样品，到达探头另一侧检测器，从而完成硝态氮测定，计算出硝酸盐的浓度值。-典型应用Nitrataxsc硝氮在线分析仪可连续监测溶解在水里的硝酸盐浓度值，适用于饮用水、地表水、工业生产过程用水、污水处理等领域硝态氮测定，尤其适用于监测污水曝气池，控制反硝化过程。-仪器特点●Nitrataxsc硝氮在线分析仪采用紫外吸收双光束测量法，精准监测●Nitrataxsc硝氮在线分析仪无需试剂和样品预处理，反应分析速度快●Nitrataxsc硝氮在线分析仪可选配三种不同的传感器●传感器带有自清洗功能●Nitrataxsc硝态氮分析仪安装方式灵活，有浸入和流通池两种安装方式可供选择●维护量少，运行成本低技术指标探头型号NITRATAXplusscNITRATAXecoscNITRATAXclearsc测量原理紫外吸收双光束测量方法，无需化学试剂

DELTA仪器生产的液压式有创血压测试系统可模拟静态水压波形和正弦波、三角波水压波形，区别于其他测试设备只提供电信号的测试方法，具有真实的液体压力模拟，有效检测有创血压传感器和血压监护设备的整体性能。本系统依据《YY9706.234-2021有创血压监护设备的安全和基本性能的要求》（条款201.12.1.101.1-201.12.1.101.3,208.6.6.2.101）而研制，非常适合于产品注册检验、研发和生产等相关测试。 图一：实物图片产品特性：采用物理模拟方式，区别于以往患者模拟器输出电信号的方式；界面简洁、操作简单；输出静态压力范围可调；可输出正弦波和三角波信号，幅度和频率可调；支持六种报警类型。技术参数：

AKTA&trade flux是一种多用途的切向流过滤系统，用于浓缩和洗滤（缓冲液置换）以及细胞收获和澄清。这个系统可以通过使用膜包和中空纤维膜柱很容易地进行过滤。AKTA&trade flux系统现有两种型号：AKTA&trade flux s 用于研究和过滤器筛选，AKTA&trade flux 6 用于工艺开发和小规模生产。半自动功能能够进行终点控制、恒截留体积（CRV）控制和数据记录。这些功能节省的时间可以用于完成实验室中的其它任务。从易于使用的触摸屏上可以方便地监测和处理过程信息和控制。这个系统能够进行低工作体积的样品处理并达到各种浓缩倍数。AKTA&trade flux过滤系统非常适合作为 AKTA&trade 层析系统的补充在蛋白质纯化工作流程中使用。产品特性●低工作体积支持各种浓缩倍数●自动化终点控制和数据记录节省时间用于完成实验室中的其他任务●灵活的处理允许使用中空纤维膜柱和膜包●多功能设计使其能够在超滤和微滤中使用●易于使用的操作界面简化了系统处理AKTA&trade flux能够在各种应用中轻松的进行切向流过滤操作。AKTA&trade flux涵盖了三个主要的过滤技术：●蛋白质和多肽的超滤●蛋白质和多肽的洗滤●细胞和裂解液的微滤 AKTA&trade flux 6 可以在工艺开发和小规模生产中使用。管理机构期望生产治疗或诊断产品的公司在其设备用于生产或分析之前应取得资格。Fast Trak Validation&trade 是 GE Healthcare 的技术专家服务部门，在交付系统后应客户要求提供有效资格文件。 生产和分析设备的安装及操作资格 (IQ/OQ) 是良好生产规范 (GMP) 要求的正式资格的一部分。因此，该文件受到管理当局的检查。Fast Trak IQ/OQ 组合包含专业开发模板，它将加速设备的资格证明的取得。该模板有帮助文本，并很容易完成 AKTA&trade flux切向流过滤系统有两种型号： AKTA&trade flux s 用于研究和过滤器筛选，AKTA&trade flux 6 用于工艺开发和小规模生产。更多详情请来电咨询。点击查看更多AKTA&trade 系列产品：

HY-ALERTA&trade 1600 本质安全区域氢气监测仪报警仪H2scan 的 HY-ALERTA&trade 1600 本质安全区域氢气监测仪可针对低至 4000 ppm 的氢气浓度提供特定于氢气的泄漏检测和测量，并且可以缩放至高达 5% 氢气体积的任何浓度，范围代表 10% 至 125%氢的低可燃极限。该监视器设计用于天花板或墙壁安装，并具有 RS422 功能，可将本质安全接口从氢气传感器扩展到控制器至数百英尺。H2scan 的氢气专用传感器技术对其他可燃气体没有交叉敏感性，从而消除了误报，确保了安全系统的可靠性。该产品及其优势已得到证明的应用是氢冷发电机中氢的测量。配置详情氢气敏感性范围：0.4% 至 5% 氢气（体积），10% 至 125% 氢气易燃下限精度：± (0.03 x 指示 + 0.2) 氢气体积百分比典型响应时间：T90 60 秒以内防护等级：IP64校准间隔：90 天产品寿命：10年电源屏障输入电压：24 VDC 标称功率屏障输入电压范围：20 VDC 至 28 VDC本质安全传感器输入电压：10 VDC传感器输入电压范围：5 VDC 至 28 VDC输入功率：10 瓦模拟输出：4 mA 至 20 mA串行通讯：RS422工作湿度：0% 至 95% RH工作温度范围：-20º C 至 40º C存储温度范围：-40º C 至 50º C校准背景气体：空气本安型电源屏障铠装电源/模拟电缆：4 m校准杯单通道本质安全模拟输出屏障（带或不带继电器）单通道本质安全 RS422 串行接口屏障串行接口电缆：4 m（可定制长度）铠装电源/模拟电缆（可定制长度）总长度：8.1 英寸总宽度：4.4 英寸深度：1.6 英寸HY-ALERTA&trade 是 H2scan 的注册商标。

仪器简介：&ldquo 最先进&rdquo 的参考分光测色计，实现色彩管理网络系统中最高水准的精确度和可靠度。 通过CM-3700d，柯尼卡美能达再次证明了其在&ldquo 最先进&rdquo 仪器领域中作为光学技术领导者的地位。CM-3700d各方面的设计均以实现最高性能的精度色彩控制为目标。大型积分球、孔罩及整个光学系统的制造均精益求精，甚至超过了CIE、ISO、ASTM、DIN、JIS等国际标准的要求。 分别用于样品、反馈通道及大功率氙弧灯的两个扁平全息光栅与硅光电二极管阵列确保了最高的绝对精度和重复性(特别是暗色调)。 CM-3700的优点得到了世界一流机构及行业领先公司的赞赏。柯尼卡美能达高端制造技术的另一例证是其仪器误差居于业界领先地位。技术参数：照明/受光光学系统 d/8(扩散照明8° 方向受光)、可切换SCI(含反射分量)/SCE(不含反射分)；符合ISO和DIN标准对d/8的要求；亦符合CIE和ASTM标准对d/0的要求。透射率：d/0(扩散照明 0° 受光方式) 受光素子 带扁平全息光栅的硅光电二极管阵列 波长范围 360nm～740nm 测量波长间隔 10nm 半带宽 平均约14nm 光度测定范围 0～200%；分解能力： 0.001% 测量用光源 脉冲氙弧灯 测量时间 0.6～0.8秒(一直到数据输出为止) 照明口径/测量口径 反射：可选LAV、MAV和SAV LAV:&Phi 28mm照明/&Phi 25.4mm测量 MAV:&Phi 11mm照明/&Phi 8mm测量 SAV:5 × 7mm照明/3 × 5mm测量 透射：约&Phi 20mm 重复性 白色校正后，白色校正板以10秒间隔测量30次时： 分光反射率：标准偏差0.05％以内 色度值：标准偏差&Delta E﹡ad .005以内 白色校正后，黑色板(BCRA系列II；反射率：为1%)以10秒间隔测定30次时： 分光反射率：380～740nm：标准偏差0.02%以内 360、370nm：标准偏差0.04％以内 色度值：标准偏差&Delta E﹡ad .05以内 仪表误差(LAV) BCRA系列IItile12色的平均值 △E﹡ad 0.08(典型值) BCRA系列IItile12色的最大值 △E﹡ad 0.3(相当于△Ecmc 0.2)以内(对比主机测量值) 温度漂移 分光反射率：± 0.10%/° C以内 色差：&Delta E*ab 0.05/° C以内 UV调校 电脑控制；持续可变 透射测量中被测样品的条件 薄片、板状、液体，厚度小于50mm 接口 RS-232C标准；波特率：1200、2400、4800或9600 电源 AC 100V/120V/230V 50/60Hz(使用标配AC适配器) 使用温度/湿度范围 13～33° C，相对湿度80%以下、不可结露 保管温度/湿度范围 0～40° C，相对湿度80%以下、不可结露 尺寸(W × H × D) 271 × 259 × 500mm 重量 18kg 标准配件 白色校正板、目标罩(3× 5mm)、目标罩(&Phi 8mm)、目标罩(&Phi 25.4mm)、零位校正盒、交流适配器、RS-232C线缆(2m、9针、适用于IBM个人电脑)、附件盒CM-66 另售配件 色彩数据软件SpectraMagic NX、透射样品架、玻璃比色槽(2mm、10mm、20mm)、塑料比色槽(2mm、10mm、20mm)、透射零位校正板、色板、RS-232C线缆(适用于IBM个人电脑)主要特点：反射色的测量 SCI/SCE切换 选择SCI时，测量不受样品表面条件的影响，适合进行色彩混合比和CCM的控制。选择SCE时，可以获得与不含正反射光的目视评价结果相近的测量结果。 测量口径的转换 根据测量的样品，可选择&phi 25.4mm、&phi 8mm和3× 5mm的测量口径。 荧光色的测量 通过UV截止滤光片对UV光线进行1000步幅调节。由于可获得相当于D65的照明光源，所以它适合测量纸张、纸浆以及其它含有荧光物质的物体。

进口ZetaFinder型Zeta电位仪 ●一般描述：1)采用专利的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。该仪器可同时测量颗粒迁移率、Zeta电势、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；2)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.5% ~40%。非常轻松就可测量不大于50um的样品颗粒。样品可被强烈搅拌或混合，因此样品沉淀物不会产生。不须光学对焦。高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；3)概括地说，您可实时测量，实际的样品；4)自动测量Zeta电势，不须要数小时，只须数分钟；5)测试原理：该仪器采用电声学原理来测量颗粒的电动特性。在分散系中加入1个高频的电场，则带电颗粒相相应电场内进行电泳。如果在颗粒与液体之间产生1个密度差，则这种运动会产生1个交互的声波。采用该电场和对应的声波技术可对样品进行无干扰的测量，不会破坏样品的特性；6)其他技术如微量电泳和电泳光散射技术，须要样品被稀释，须要将原始浓度的样品放大稀释好几倍。因此，最终用户须在人为的状态下分析颗粒样品的特性，而不是获得实际状态下样品的真实特性描述。并且，严格的光学聚焦和扩展调整来适应静态的层装样品，使得微量电泳技术变得非常烦琐，而大的直流电场可导致样品的PH发生漂移。如果采用9800型仪器，则这些问题将不复存在；7)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，您可直接实时获得理想的数据等； ●技术特点：1)可测量高粘度的样品，样品浓度可高达体积比50%；2)可测量水溶液、非水溶液的胶体分散系；3)可手持的金制、不锈钢的传感探头，测量精确、重复性好，方便使用；4)最小样品容量10ml，没有最大容量限制；5)对颗粒或分子级别样品都有效，最大颗粒达30um；6)非常适合浓缩样品、或非透明的样品；7)可同时测量PH、电导、温度、电动信号等指标；8)可测量流动、搅拌、静止的分散系；9)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；基于DSP的硬件系统；10)在线、实时的测量和扫描测绘；11)特氟龙的滴定池，非常易于清洁，可一次性使用；12)可电脑在线指导安装和培训；13)12个月的保质期和免费的技术咨询； ●全球参考用户举例：3M，Dow Chemical，DuPont，Exxon Corporation，Shell Oil Products，Fuji Xerox Co., Ltd.，Hewlett Packard，IBM，ICI Films，INM Gem. GmbH，Korea Chemical，LG Chemical，Samsung Electronics，Lucent Tachnologies，Merck，Mobil R&D Corp.，Nippon Paper Industries，Universitat Jena，University of Florida，University of Bristol，University of Melbourne，University of Washington，etc.