头孢布坦

仪器简介：2001年，布鲁克公司磁共振中国部骄傲地宣布,中国第一台超低温探头日前已经在北京微量化学研究所安装成功,通过用户的签字验收,并投入正常的工作。从那时起到现在，布鲁克公司已经在国内安装成功了3台超低温探头，第4台（中科院北京生物物理所）也准备安装。创造了中国核磁又一项第一布鲁克发展了世界上独一无二的高场超低温探头。超低温探头通过降低前放和探头线圈温度，线圈的功效得到了极大的改善，前置放大器和探头线圈的温度噪声大大降低，提高了S/N信噪比。比较传统的探头，超低温探头S/N信噪比可以提高四倍，实验时间可以减少16倍或者样品浓度减少4倍。超低温附件包括： 超低温探头 超低温平台 液氦压缩机 氦气瓶以及传输管线等附件 超低温探头主要特性：有效的提高S/N信噪比（同样适合有 一定盐份的样品）杰出的射频均匀性脉冲宽度窄死时间短具有线性功率特性强大的水峰抑制能力梯度场特性二维实验中极佳的稳定性超低温探头包括双频探头或三共振 　　 探头所有的探头配备2H锁电路，可以带 Z梯度场超低温平台的主要作用是为超低温探头的操作需要提供超低温冷却单元。其优势是： 使用简单 只须一个按钮控制，可无人连续操作 成为AVANCE系列NMR标准附件。 标准的超低温耦合器连接所有布鲁克超低温探头。超低温平台带有超低温冷却单元，超低温控制器和氦气压缩机。超低温冷却单元的冷却系统中心是一个Gifford McMahon超低温冷却器，由氦气压缩机提供氦气增压驱动。通过传输软管进行闭合的氦气流动来冷却超低温探头。氦气只有在最初加灌时才有消耗，以后将循环使用没有损耗。超低温控制器在整个使用过程中由专门的电路监视和控制整个系统，具有自动错误处理和安全关闭功能。氦气压缩机有水冷却和空气冷却两种，可以安装在核磁实验室外面，通过超低温控制器远程控制。

适用于各种规格的管材端部的磁粉无损检测要求。检测灵敏度高、检测稳定可靠。符合中华人民共和国磁粉探伤机《GB3721-83》标准，机械工业部行业磁粉探伤机《JB/T8290-2011》标准，行业《GB/T15822.1~3》标准。

仪器简介：Innova扫描探针显微镜（SPM）具有高扫描分辨率、出色品质，可应用于物理、生命科学和材料科学等诸多领域。Innova具有很强的灵活性，能以较低成本满足各种科研应用要求。采用独一无二的闭环扫描线性系统，卓越的设计及工艺确保测量精度以及接近于开环运行时的噪音水平。Innova可以轻松的在90微米扫描管上实现原子级分辨率。集成的高分辨率彩色光学系统，以及可编程和电动Z轴载物台，使得寻找、对准被测区域，更换针尖或样品更加快速简便。技术参数：闭环扫描管：XY 90 &mu m，Z 7.5 &mu m开环扫描管：XY 5 &mu m, Z 1.5 &mu m样品尺寸： X-50 mm x 50 Y-mm x Z-18 mm电动Z轴载物台：Z轴行程： 18mm光学系统： 摄像头： 轴线彩色CCD，带电动变焦视场： 1.24mm x0.25mm (电动变焦，10x物镜)分辨率： 2&mu m，标准10x物镜(50x物镜0.75&mu m)电子电路：20位DAC控制器，100kHz、± 10v ADCs，数字反馈器件系统软件：用于数据采集和分析的SPMLab&trade v7.0，Windows® XP主要特点：Innova在同类SPM中，性价比最高· 独有的闭环扫描控制，在开环噪声水平上提供三维精确测· 高分辨光学系统辅助精确探针定位· 快速更换探针, 开放的样品台设计使得使用更方便，更容易· 拥有所有SPM操作模式，为科学研究提供更高的应用灵活性· 卓越的信号读录与输入功能便于用户自己设计研究方法 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel &mdash 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看最新的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中！布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室电话： 传真：上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail： 产品咨询热线：

A2B 改装套件固体核磁探头续用计划用户在将其他品牌核磁谱仪更新为布鲁克核磁谱仪时，可以利用 A2B 套件保留原有昂贵的固体核磁探头。 通常这类探头的价值较高，而且部分特殊探头不在布鲁克探头生产名录中，因此 A2B 套件为用户续用这些宝贵探头提供了独一无二的机会。A2B 套件可确保 Varian、Agilent 及 Chemagnetics 生产的固体探头能够在布鲁克最新 AVANCE 谱仪上继续正使。 产品描述A2B 套件由 Revolution NMR 公司生产并提供服务，主要包括以下部件： 用于将探头安装于布鲁克匀场线圈上的转接盘用于变温传输套管（VT-transfer stack）的机械转换接头用于 Johnston 接头的机械转换接头用于运行变温传输套管的接口盒用于利用布鲁克 MASIII 气动单元进行 MAS 控制的电子适配器 详细信息 A2B 套件中各部件均由 Revolution NMR 公司生产，还可加配制冷变温单元，如使用方便且功能强大的 BCU2。 BCU2 的气体传输管长为5米或8米，可选择合适的管长连接到磁体上方；其出口气流速度可达3000升/小时，制冷气体温度可低至-80℃。其他制冷变温单元还包括液氮换热器，可用于更低温度的制冷，其配有3米、5米或7米长的不锈钢真空传输管。 A2B 套件中包括了将探头安装于布鲁克匀场线圈上的转接盘、用于变温传输套管的机械转换接头以及用于连接 Johnston 接头的机械转换接头。为实现制冷气体从换热器或制冷单元到探头或变温传输套管中的最佳传输，所有的现代布鲁克探头都采用了Johnston 接头。 为实现变温控制功能，即完全由布鲁克变温控制器运行原有的变温传输套管，A2B 套件包括了所有必须的接口盒，其利用了现代谱仪设计中的所有优势，实现了制冷或加热气流的大流量管理以及加热和制冷设备的控制。这使得续用探头具备了与布鲁克探头相同的最新的自动且安全的可操作技术。 订购专属于您的 A2B 套件 为了将配有固体核磁探头的 Agilent 、Varian 及 Chemagnetics 谱仪机柜升级为布鲁克谱仪，布鲁克销售人员将提供一份 A2B 清单供您填写。该清单将为 Revolution NMR 及布鲁克提供必需的信息以确定您的 A2B 套件部件。根据该 A2B 清单，Revolution NMR 及布鲁克将为您提供专属定制的 A2B 套件方案，并作为机柜或谱仪升级方案的一部分。 例如，每一个被认定可以续用的探头都将配有其专属的匀场线圈转接盘。若用户有需求，对于标准腔（或者窄腔）谱仪，我们将提供一套由 Revolution NMR 特制的标准腔变温传输套管（SB-VT transfer stack）。对于实验室天花板高度受限的磁体，Revolution NMR 将提供一种双片式 SB-VT 套管；对其他所有类型的实验室则配置单片式套管。SB-VT 套管所需的长度是根据 A2B 清单中的磁体信息而确定的。对于宽腔系统，如需配置制冷设备，则可根据磁体高度确定变温制冷单元的传输管长度。 A2B 套件的安装 A2B 套件的安装将与新谱仪或者新机柜一起进行，布鲁克将负责安装并测试其功能，确保续用固体探头能够正常工作。

minispec 碳氢化合物含氢量测定全新 ASTM* D 7171：基于脉冲时域核磁共振的国际标准方法采用时域核磁共振技术分析诸如柴油或航空煤油等碳氢化合物的含氢量。采用时域核磁共振技术测定含氢量快速、无损、无溶剂质量控制／质量保证测定支持所有官方国际标准方法（ASTM D 7171、ASTM D 3701和ASTM D 4808）利用少量市售化合物轻松完成校准最低限度试样制备高投资回报率卓越的可再现性配备改良版软件的专用分析仪 氢含量分析带来的经济效益碳氢化合物和植物油精炼通常包括加氢处理。氢消耗是精炼厂的重要成本问题，氢含量被用作精炼进度的重要指示。含氢量是诸如航空煤油和柴油等产品必须满足的技术规范之一。为了证明产品符合官方技术规范，同时尽可能降低氢用量，必须采用精确、可靠的分析方法。minispec核磁共振方法符合工艺控制对精确度、准确度和速度的要求。操作minispec不要求技术娴熟的人员。仪器设计十分稳健，维护要求很低。进行含氢量分析的其他原因含氢量越高，汽油燃烧越好，质量越高积碳、废气、热辐射等随含氢量的下降而增加 minispec校准两种校准方法可行：采用从化学品供应商处购得的纯碳氢化合物——如十二烷采用用户提供的试样和参考值 试样处理和试管直径这种方法通常采用两种试管直径：18毫米或40毫米直径试管。可提供带杆 PTFE 试管塞，用以避免试样蒸发。 哪怕在长期运行中，大多数时候都使用金属块恒温器对试样进行预加热，这仅需用电。 典型测定用时试样生成很强核磁共振信号。这可实现很高信噪比，从而将典型测定用时缩短至短短一分钟。 minispec 在石化行业的其他应用煤的总含氢量蜡/石蜡的含油量测定油页岩和油砂的含油量测定油粘度测定国际方法国际标准方法推荐使用纯碳氢化合物进行校准。最新 ASTM D 7171 方法列出了推荐校准物质及相应的含氢量值。 氢百分比含量计算由于化学式众所周知，并且物质纯度很高，亦可直接计算出化合物的含氢量。 国际方法列表ASTM D 7171 （ 2005年发布，基于脉冲核磁共振），适用于中间馏分石油产品ASTM D 4808 （轻质和中间馏分、瓦斯油和渣油）ASTM D 3701 （航空涡轮机用燃油） 通过将原来的连续波核磁共振仪器更换为脉冲核磁共振仪器minispec，可以满足甚或超出 ASTM 方法 D 3701 和 D 4808 的要求。脉冲核磁共振分析方法更快速、更灵敏、更精确，并且适用于更多应用。

产品名称：卷状碳布型号规格：碳布W系列W0S1002品牌：台湾CeTechW系列指的是台湾碳能科技公司设计独特的碳布形式的气体扩散层。第二代全新的碳布以适合MEA组装为目设计研发。目前最新的两款碳布最主要差异是厚度的选择性。台湾碳能科技公司之后此系列的产品可加上不同的疏水程度处理以确保有最佳的燃料电池效率。W系列产品的主要优势在于其物理强度及均匀的孔径大小，这两个特性可以借由MPL的涂布更为强化。请参照下表有关碳布最新产品的规格：*Sample width: 24.4mm Effective Specimen Length:45mm, Rate of Grip Separation:6.35 mm/min .**Test Condition: 300cc, 0.1sq in orifice, CFY-030 .*** 4-probe measurement, circular (50mm diam) copper-plated contacts under 200psi.

碳布负载碳纳米管，经化学气相沉积法在碳布基底上合成，也可以扩展到多种导电基底（如碳布、泡沫镍、钛片、镍片、不锈钢片、泡沫石墨烯等）上生长。碳布直径15-20微米，负载的碳纳米管直径约25-50nm，纳米碳管之间相互交联形成多孔网状的阵列薄膜。碳布负载碳纳米管阵列具有良好的柔性，样品宏观尺寸不超过宽度3厘米′长度5厘米，样品宏观色泽呈黑色。代表性样品的扫描电镜和透射电镜照片如下：

S1 TITAN是轻（1.23kg，测量范围Mg-U）、基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1 TITAN 的两大特性。其他创新功能包括集成的彩色触摸屏、50kV X射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器，以及坚固的外壳，该外壳经过密封，可以防潮防尘。 S1 TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术，并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器，向您提供难以置信的快速分析时间。S1 TITAN可以配备各种校准装置，这些装置经过优化，适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品，以及受限制材料。SharpBeam技术SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果，包括： 降低功率要求 减轻重量 提高测量度 提高探测限制 延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域：石油化工航空航天金属回收与分类质量控制军工钢铁电站电厂锅炉、容器、管道等机械制造与加工贵重金属分析汽车手持式荧光光谱仪软件功能 QA/QC分析，材质识别(PMI)工厂/精炼厂PMI检测废金属回收航空航天用合金金及贵金属检测矿山矿石品位控制岩芯分析探矿地质图土壤分析金属回收玩具中的铅ASTM-F963包装中的毒物分析(TPCH)儿童服装中的铅筛查提议65 承诺RoHS 手持式合金分析仪技术参数：布鲁克特有经ren证的S1 TITAN 配件，防扎探测器，不但可以保护探测器窗口被尖锐的金属材料（如刨花和细丝）所扎坏，同时还可以快速*地分析几乎任何材料。防扎探测器极大降低了探测器被扎的几率，从而避免了因更换探测器所产生的成本及困扰。ren证TITAN防扎探测器可以保护探测器防扎探测器da程度的降低了昂贵探测器被扎的几率不会降低分析性能，即使是对轻元素使停工期降至*di大大消除在废料测量中的担忧结果平均功能电池电量显示颜色代码显示声音提示功能节电功能

原子力显微镜探针(AFM探针)，是原子力显微镜（AFM）设备非常重要的配件耗材之一。我司提供的布鲁克AFM探针具有多种款式和型号，能够满足多种应用领域中的原子力显微镜（AFM）解决方案。 在实验中，用户所得到的数据通常取决于探针的质量和探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制和质量测试，具备AFM领域的专业背景，不仅能够为当前的应用提供测试结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 目前，布鲁克原子力显微镜（AFM）已被广泛应用于生命科学、材料科学、半导体、电化学等领域的纳米技术研发，应用广泛，因此所配套的探针种类也在不断增加，为了帮助客户能够便捷的选择出适合测量需求的探针型号，可通过以下的探针选型指南来更快速的找到更适合的探针类型。 原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN探针选型指南一、AFM探针简介每个探针都由三部分组成：tip（针尖），cantilever（悬臂梁），substrate（基片）大部分材料都是硅或者氮化硅。一般悬臂梁的形状有：矩形和三角形、Special。1）悬臂的主要参数有：spring constant（弹性系数）、resonance frequency（共振频率）、悬臂长度（宽度厚度等）、悬臂形状、悬臂的镀层、悬臂材料、悬臂梁的数目等；2）针尖tip的主要参数有：tip radius、tip geometry、tip coating、tip height等；3）不同的探针具体有不同的用途， 所以我们也从适合的样品（sample）类型、适合的AFM机型（包括非Bruker品牌的afm机型）、适合的工作模式（work mode）、适合的应用（application）对探针做了分类，可以在探针左边的帅选栏里进行相应的筛选和查询。 二、如何挑选AFM探针：1）确认待测物 如：高分子、无机物、细胞........2）确认AFM应用模式 形貌、电性、液下成像、力曲线............3）确认扫描的精度 挑选合适探针针尖1nm、2nm、7nm、10nm........?4）确认共振频率和弹性系数 取决于扫描速度、工作模式、待测物软硬度等信息注：目前网站中所展示的是较为常见的探针系列及型号，除此以外的一些 bruker（布鲁克）探针型号，如：PFQNM-LC 、PEAKFORCE SECM 等，未在网站上进行展示，如需提供报价或者具体参数，请与我公司联系，联系方式可见上方“联系我们”。 三、以下是针对大部分探针系列的简要说明：关于不同系列探针后面的 A，AW，W；-HM，-HR，-LM 等标识的说明，具体如下：1）AD 系列探针，金刚石镀层导电硅基探针，一盒 5 根。根据频率和曲率半径的不同，有不同的型号。2）CDP 和 CDR 系列、EBD-CD 探针，主要用于 insight（全自动原子力显微镜）机型上。3）CLFC 系列探针，tipless&bull CLFC-NOBO 和 CLFC-NOMB 探针，用来做 calibration，用其自身已知的悬臂 Kref（弹性系数）值来校准未知探针悬臂的 K 值。&bull 要校准的悬臂的弹性系数一般应该在 0.3Kref4）CONTV 系列的探针&bull -A 表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -AW 表示一个 wafer，大概有 300-400 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -W 表示一个 wafer，但悬臂背面无镀层（no coating)&bull 只写了 CONTV，表示一盒 10 根针，但悬臂背面无镀层（no coating)&bull -PT 表示悬臂前面（含 tip）有 Ptlr 镀层，导电5）DDESP 系列和 DDLTESP-V2、DDRFESP40 探针，导电，有导电金刚石涂层 tip6）DNISP 系列和 PDNISP、MDNISP-HS、NICT-MAP 探针，有手工制作的天然金刚石纳米压痕 tip，都可以做纳米压痕。7）DNP 系列探针，每个型号悬臂背面都有 Gold 镀层&bull -10 表示一盒 10 根针且曲率半径的标称值为 20nm&bull DNP 后面啥数字没有，表示一盒一个 wafer，大概有 300-400 根针，且曲率半径的标称值为 20nm&bull -S10 表示一盒 10 根针且曲率半径的标称值为 10nm&bull DNP-S 后面啥数字没有，表示一盒一个 wafer，大概有 300-400 根针，且且曲率半径的标称值为 10nm8）ESP 系列的探针&bull ESP 后面带 A，表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull ESP 后面带 AW 表示一个 wafer，大概有 300-400 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull ESP 后面带 W 表示一个 wafer，但悬臂背面无镀层（no coating）&bull 只写了 ESP，表示一盒 10 根针，但悬臂背面无镀层（no coating)9）Fastscan 系列探针，专门用在 Dimension FASTSCAN 这个 AFM 机型上10）FESP 系列的探针&bull FESP 后面带 A，表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull FESP 后面带 AW 表示一个 wafer，大概有 300-400 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull FESP 后面带 W 表示一个 wafer，但悬臂背面无镀层（no coating）&bull 只写了 FESP，表示一盒 10 根针，但悬臂背面无镀层（no coating)11）FIB 系列的探针&bull -A 是一盒 5 根，且悬臂背面有 Al 镀层；否则就是一盒 5 根，但悬臂背面无镀层（nocoating）&bull 不同 AFM 机型对应的有不同型号的 FIB 探针，具体请在 AFM 探针筛选中查询12）FMV 系列探针&bull -A 表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -AW 表示一个 wafer，大概有 300-400 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -W 表示一个 wafer，但悬臂背面无镀层（no coating)&bull 只写了 FMV，表示一盒 10 根针，但悬臂背面无镀层（no coating)&bull -PT 表示表示悬臂前面（含 tip）有 Ptlr 镀层，导电13）HAR 系列探针&bull -A-10 表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层14）HMX 系列探针&bull -10 表示表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -W 表示一个 wafer，且悬臂背面有 Al 镀层15）LTESP 系列探针&bull -A 表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -AW 表示一个 wafer，大概有 300-400 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -W 表示一个 wafer，但悬臂背面无镀层（no coating)&bull 只写了 LTESP，表示一盒 10 根针，但悬臂背面无镀层（no coating)16）MESP 系列探针，导电，悬臂前面（含 tip）有 Magnetic CoCr 导电涂层&bull -HM 表示高磁距 high moment&bull -HR 表示高分辨高磁矩（high-resolution, high moment）&bull -LM 表示 low moment17）MLCT 系列&bull -bio 和-bio-DC 是为生物样品优化的探针，tip 的形状和高度跟 MLCT 不一样，而且-bio-DC 有热漂补偿，因此对于细胞培养和温度变化中测量的生物样品，可以考虑用这款探针。&bull MLCT-FB 的镀层比 MLCT 厚，其他方面和 MLCT一样。&bull -O 表示没有 tip。&bull -UC 表示没有镀层。tip radius 是 20nm18）MSCT 系列探针&bull MSCT-MT-A 只有一个悬臂，只能在 innova 上用。&bull -UC 表示没有镀层。MSCT 相比 MLCT 系列，针尖半径（tip radius 为 10nm）更小。19）MSNL 系列，比 MSCT 和 MLCT 系列的针尖半径更小，只有 2nm。20）MLCT\MSCT\MSNL 系列的探针，有镀层的都是 reflection gold。21）NCHV 系列，虽然参数和 rtesp-300 差不多，但其是性价比高的探针，只能做定性的分析，不能拿来做 QNM。22）NCLV 系列探针也是性价比高的探针23）NP 系列探针&bull -10UC 表示一盒 10 根，且悬臂背面无镀层&bull -W-UC 表示一盒一个 wafer，且悬臂背面无镀层&bull NP 后面跟“G”，表示悬臂前面和背面都有 Gold 镀层；NPG 表示一盒一个 wafer，大概 300-400 根NPG&bull -10 表示一盒 10 根&bull -O10 表示一盒 10 根，探针无针尖（tipless）且悬臂背面有 Gold 镀层&bull -OW 表示一盒一个 wafer，探针无针尖（tipless）且悬臂背面有 Gold 镀层&bull NPV-10 表示一盒 10 根，且悬臂背面有 Gold 镀层24）OBL-10 探针，是不能调角度的，悬臂的倾角是±3°，不能装在 Dimension afm 上。25）PEAKFORCE-HIRS 系列探针，tip radius 只有 1nm, 而且频率都是 100KHz 以上，可以做高分辨成像。26）PFDT系列，专门用在有peakforce deep trench工作模式的Dimension icon机型上测Holes/Trenches27）PFQNE-AL 探针，导电，是专门为 peakforce KPFM 模式优化的探针。由于部分参数需要保密，目前可展示的参数不全28）PT 系列是做 STM 模式用的探针29）RESP 系列探针&bull RESP 后面跟“A”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有 10 根&bull RESP 后面跟“AW”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有一个 wafer，大概 300-400根&bull RESP 后面跟“ ”，表示悬臂背面无镀层，且一盒有 10 根&bull -10 表示共振频率是 10KHz&bull -20 表示共振频率是 20KHz&bull -40 表示工作频率是 40KHz30）RFESP 系列探针&bull RFESP 后面跟“A”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有 10 根&bull RFESP 后面跟“AW”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有一个 wafer，大概 300-400根&bull RFESP 后面跟“ ”，表示悬臂背面无镀层，且一盒有 10 根&bull -190 表示共振频率是 190KHz&bull -75 表示共振频率是 75KHz&bull -40 表示工作频率是 40KHz31）RMN 系列探针，导电&bull 固体金属（Solid Metal）探针，有优良的导电性，并且不会出现金属涂层硅探针所产生的薄膜粘附问题。&bull 根据不同的应用对应有不同的型号可以选择32）RTESP 系列探针&bull RTESP 后面跟“A”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有 10 根&bull RTESP 后面跟“AW”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且 一盒有一个 wafer，大概 300-400 根&bull RTESP 后面跟“ ”，表示悬臂背面无镀层，且一盒有 10 根&bull -150 表示共振频率是 150KHz，-150-30 属于预校准探针，表示共振频率是 150KHz，且曲率半径是 30nm&bull -300 表示共振频率是 300KHz；-300-30 属于预校准探针，表示共振频率是 300KHz，且曲率半径是 30nm&bull -525 表示工作频率是 525KHz；-525-30 属于预校准探针，表示共振频率是 525KHz，且曲率半径是 30nm33）SAA-HPI 系列 探针，&bull -30 表示是预校准探针，曲率半径为 30nm&bull -SS 表示超尖探针，曲率半径的标称值为 1nm预校准的探针有：&bull SAA-HPI-30： 0.25N/m, k certified, controlled end radius, 一盒5根&bull RTESPA-150-30： 5N/m, k certified, controlled end radius, 一盒5根&bull RTESPA-300-30： 40N/m, k certified, controlled end radius, 一盒5根&bull RTESPA-525-30： 200N/m, k certified, controlled end radius,一盒5根34）SCANASYST 系列探针，专门为 SCANASYST（智能模式）优化的探针35）SCM 系列探针，导电，悬臂前面（含 tip）有 Conductive PtIr 或Conductive PtSi 镀层36）SMIM 系列探针，导电37）SNL 系列探针，&bull -10 表示一盒 10 根；&bull -W 表示一盒一个 wafer，大概 300-400 根38）SSRM-DIA 探针，导电39）TESP 系列探针&bull TESP 后面跟后面跟“A”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有 10 根&bull TESP 后面跟“AW”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有一个 wafer，大概 300-400根&bull TESP 后面跟“D”，表示 DLC 涂层硅探针，其表面硬化类的金刚石(DLC)涂层，目的是为了增加 tip 寿命，且一盒 10 根&bull TESP 后面跟“DW”，表示 DLC 涂层硅探针，其表面硬化类金刚石(DLC，Diamond-LikeCarbon)涂层，目的是为了增加 tip 寿命，且一盒一个 wafer&bull TESP 后面跟“ ”，表示悬臂背面无镀层，且一盒有 10 根&bull -HAR 表示具有高纵横比(HAR)探针，是具有高/深几何形状的样品在进行 tapping 模式成像下的理想选择。&bull -V2 表示高质量、新设计的探针&bull -SS 表示超尖针尖，针尖曲率半径标称值为 2nm，且一盒 10 根&bull -SSW 表示超尖针尖，针尖曲率半径标称值为 2nm，且一盒一个 wafer40）VITA 系列探针，做热分析或者做扫描热分析的探针，具体可以通过探针网站搜索对应 的型号和参数、适合的 AFM 机型等信息。41）VTESP 系列探针是 visible apex 形状的探针，tip 在悬臂前端，可以用来定位。 OLTESPA-R3，OSCM-PT -R3（导电探针）和 OTESPA-R3，VTESP 系列探针是 visible apex 形状的探针，tip 在悬臂前端，可以用来定位。&bull VTESP 后面跟“A”，表示悬臂背面有 Al 镀层&bull -300 表示共振频率为 300KHz&bull -70 表示共振频率为 70KHz&bull -300（或-70）后面有“-W”，表示一盒一个 wafer&bull -300（或-70）后面有“ ”，表示一盒 10 根

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air，是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针，仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此：- 无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针，所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

NanoSonic超声粒度分布仪，拥有专利技术，是国内先进的粒度分布的测量系统。其软硬件都经过专家独特设计，可以测量在不同悬浮液中颗粒的粒径分布及分散相的体积分数。它适用于在线无损测量，无需对样品进行取样或稀释处理。针对不同的应用，有多种独特设计的探头来满足客户的需求。其主要特点是快速准确、测量范围广。可应用于5nm至3000mm的颗粒粒度的测量。它对于颗粒无特殊要求，透明和不透明的都可以测量。它对溶液也没有特殊要求：水，油和其他有机溶剂都可以测量（对于腐蚀性溶剂，超声探头需特殊设计）。另外，NanoSonic还具有抗噪性好的特点，适用于生产车间等特殊环境。技术指标：v 测量范围：5 nm ~ 3000 mmv 测量方式：在线/离线测量悬浮液颗粒v 测量浓度：≤50% vol/volv 重复性误差：≤±1%（标准粒子D50偏差）v 准确性误差：≤±1%（标准粒子D50偏差）v 超声频率：35 MHz 和50 MHz 两种产品特点：v 反射式探头：小巧、结构简单v 透射式探头：信号识别强v 流动样品槽设计，仅增加8cm不到的流程v 探管长度在5~70cm，直径15mm或22mm，可根据客户需求个性定制v 探头具有耐腐蚀性，能够对pH值1~12范围内的样品进行测量

布鲁克手持式XRF分析仪 S1 TITAN为业界重新定义精度元素检测 轻松应对手持式XRF分析仪 S1 TITAN 研发历程Bruker(手持式XRF部门)起源于1980年早期的华盛顿州Richland美国国家实验室。一支由United Nuclear Inc及美国能源部科学家们所组成的团队，率先在手持式XRF上取得了突破性的进展。随后所形成的Scitec,就是Bruker的前身。时至今日，各方面都有了不同程度的演进。一系列的创新，使得手持式XRF技术得以运用于各大领域，诸如: 材料可靠 性鉴定(PMI)、艺术品保存修复、废料分类、石化产业及NASA太空探勘计划等。S1 TITAN是悠远创新历史上最新的产品。在此开发历程中，Bruker已生产数以千计的手持式XRF仪器，分别销售至全球各地并于各应用领域中发挥最大功能。手持式XRF分析仪 S1 TITAN 系列概述:S1 TITAN在设计上能为您的样本快速而准确的完成元素分析。无论需要分析大型加工零件、孩童玩具或小件珠宝，S1 TITAN都能快速而准确的为您取得结果。采用人体工学设计的枪形把手及扳机开关，极适合您长时间使用。彩色触控型液品屏幕在任何光线下都能清晰显示。S1 TITAN的重量只有1.5kg(3.3 bs)，是目前市面上最轻的管式XRF分析仪。布鲁克研发了具有专利技术的TITAN Detector Shield"(TDS)防扎检测器,摄像头和小点聚焦功能(Integrated Camera& SmallCollimator)，SMART Grade"智能检测技术，SharpBeam”优化光束几何技术等，使得S1 TITAN成为名副其实的功能最强大、技术最完善、设计最固全、精度最准确的合金元素分析工具。手持式XRF采用非破坏性技术，因此非常适于分析及整理进料、成品与生产中零件 还可以运用于废金属整理、地球化学矿物化验，土壤测试，油品分析，镀层测厚等功能 若无任何校准方式符合您的应用领域，我们能为您的应用打造专属的校准方式。设备特性:检测器技术: 新发布的S1 TITAN系列均采用石墨烯窗口SDD检测器，提高了轻元素 ( Mg、Al 、Si等]灵敏度，使用户检测速度快，准确得到检测结果。S1 TITAN 都配备了Cube SDD检测器，以极高的计数率运行，可在很短的测量时间内提供很高的精度。S1 TITAN 500中的标准SDD探测器具有超高的价值，其在性能、分辨率和分析速度方面均远远优于被替代的SiPN探测器技术。 TITAN防扎探测器TM：防范检测器遭刺穿的终极防护设施。此款申请专利中的独特S1 TITAN配件可保护检测器窗口不被尖利废金属碎片及废线等物刺穿，同时维持S1 TITAN对几乎任何材质快速而准确的分析。将昂贵的检测器刺穿损失降至最低提高设备运作时问测量轻元素时无需更换窗口或重新校准即使是测量镁、铝、硅等轻元素亦无需牺牲任何分析效能牌号快速分级 ( Smart Grade ) :订购S1 TITAN 800及600时若包含合金校准,则自动配备Bruker申请专利中的 SMART Grade"校准机制此项应用将自动为各类受测合金决定适当的条件与测量时间。分级牌号库:所有与合金校准一并订购的S1 TITANS均含有丰富的分级数据库(400+等级定义)涵盖各项国际标准。用户可选择的数据库:UNS、DIN及其他标准。优化的光管几何技术(SharpBeam专利): 每一部S1 TITA均配备有Bruker的专利SharpBeam"最优化几何运算机制(专利编号:8,223,925)。优点包括:产生清晰、明确的测量点减少游离散射改善测量精确度降低使用功率，减少发热量提高电池使用时间提高X光管使用寿命 摄像头和小点准直器 ( lntegrated Camera & Small Collimator ) : 布鲁克手持式光谱仪S1 TITAN配置有(640 x 480像素)集成摄像头，以提供样本可视化和测量点准确定位。小光斑选项，小测量区域，突出检测细微特征。S1 TITAN配备的SharpBeamTM最优化几何运算机制确保了使用小光斑准直器的检测精密度和准确度与正常光斑相同 不需要延长测量时间就能达到预期的精度。小光斑确保特定位置的检测摄像头确保准确的测量定位图像容易导入到报告小光斑选项准确度不会损失每次实验最多保存5张图像(提供测量点记录)环境条件：防护等级IP64 S1 TITAN在设计上可承受所有环境的现场操作,包括潮湿及多尘的环境条件。密封式设计可防水防麈采用橡胶模造,经久耐用可防止污物及风沙侵入样本立架可用于测量小型及复杂样本操作温度:-20°C至+50°C样本温度(间歇性使用):150°C用于 Ultralenee窗口,500°C用于Kapton@窗口。 手持式XRF分析仪系列 S1 TITAN 应用校准: S1 TITAN可采用多种不同的校准方式视使用机型而定。合金:合金分析含轻元素。包含大多数合金族群的高准确度特定类型校准。贵金属: 贵金属合金优化设定。包含合金等级ID及克拉(karat)显示。RoHs(材料): 用于ROHS I/消费性产品筛检。自动模式及用户可选择校准模式,用于塑料、中密度材料以及IEC与用户定义的限定金属石灰石:用于水泥、营造及建筑产业,以利分析原物料及制成的石灰、水泥与石膏。此项校准仅适用于800及600型。矿石勘探: 最适用于采矿、探勘、级别控制及钻探。包含Geo Exploration和Geo Mining。使用800及600型时,此项校准经由双相测量可支持全部轻元素。土壤固废:最适用于受污染土壤现场测试及EPA 6200所规定的开垦作业。此项校准亦可用于触媒转换器及电子废弃物回收应用。使用800及600型时,此项校准经由双相测量可支持全部轻元素。油品中S及其他重金属分析:分析出润滑油、柴油燃料、喷气燃料、煤油、其它蒸留油、挥发油、液压油、残油、原油、无铅汽油、生质柴油和其他类似的石油产品等油中的硫含量和多种元素分析。Coating镀层测厚:镀层测厚功能曲线: Ag/Cu等多种镀层测厚功能，可根据客户应用需求，增配多种测厚曲线。涂料应用曲线: 分析工业涂料中每范围内mg/cm?元素Pb等其他元素的浓度。包含校准标样。食品安全应用曲线:检测食品、包装以及直接接触食物的金属。包含合金曲线可以进行可靠性鉴定以及碎屑的ID，溯源，追踪等 适用于受限材料分析。包含多重校准标样。空气滤膜和除尘擦曲线: 检测空气过滤中和的有害元素以及除尘擦中铅的测试。包含一个多重滤膜校准测试标样。化妆品: 可分析化妆品中重金属 ( Hg、Pb、As等 )。三元催化:可分析催化转化器中的Pt、Pd、Rh。特殊应用: Bruker为客户定制的应用曲线，根据客户需求，添加一些特殊的应用曲线。手持式XRF分析仪 S1 TITAN 材料可靠性鉴别(PMI)在精炼或其它要求在高温高压下作业的行业中，为确保安全，工作人员必须对合金材料是否合格以及用料规范进行常规严格检测。据统计，75%以上的精炼厂事故是由金属材料的错误使用而造成的。而通过基于API 578标准或企业内部流程规范对合金材料实行"格的PMI检测程序，可以很大程度上辟免此类灾害事故的发生。无论是在生产车间或是机械加工部门，合金材料的识别信息可能会随着材料在车间之间的搬移而被混淆。使用布鲁克便携式XRF可以帮助快速鉴定可能被混淆的金属材料，以确保在生产加工过程中采用正确的材料，从而避免因不当材质大规模生产并交付客户而造成难以估量的损失。优点:快速精准分析与牌号鉴定大容量金属牌号库(400+ )检测迅捷生成加密的数据确保储存安全超轻质量一仅1.5 kgTITAN 防扎型探测器无损检测现场测量可选配微聚光斑可选配摄像头高温样品/管道检测配件材料可靠性鉴别快速的精准分析与牌号鉴定 :S1 TITAN只需几秒即可做出牌号鉴定以及合金的化学成份分析，显示结果精确且简单易懂。简单的用户界面可使您快速准确地选择特定的合金类别，您也可以使用S1 TITAN自动选择最适合的合金类别。标准牌号库:S1 TITAN合金曲线包括大量的牌号库资料(达400多种牌号定义 )，涵盖了各种国际标准。用户可在其中选择UNS、DIN或其它牌号库，或者进行自定义牌号编辑。牌号库涵盖了 以下等级合金:低合金钢铬合金钢工具钢不锈钢钻合金特种合金合金黄铜青铜钻合金锌合金铝合金合金稀有合金

NIR-Online Multipoint System (在线近红外多探头系统)以最经济的方式为您掌控加工全过程 BUCHI NIR-Online（在线近红外）解决方案能够实现每一步工艺关键参数的连续监控，例如水分、蛋白质、脂肪、灰分、淀粉、纤维或者残油。创新的多探头系统能够以最具性价比的方式对生产全过程进行监控。 经济性可将一个主探头扩展至多达九个探头。对光纤的充分利用方式（专利）能够最大程度节省成本 快速收回投资平均投资回收周期不到一年 专业的过程控制技术完整的过程控制解决方案，从根据需求进行工程设计，到长期技术和应用支持 Quality in your hands一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一

适用于各种规格的管材端部的磁粉无损检测要求。检测灵敏度高、检测稳定可靠。符合中华人民共和国磁粉探伤机《GB3721-83》标准，机械工业部行业磁粉探伤机《JB/T8290-2011》标准，行业《GB/T15822.1~3》标准。

S1 TITAN手持式土壤重金属分析仪实现了快速、准确分析土壤中的有害金属元素Pb（铅），As（砷），Cd（镉），Hg（汞），Cu（铜），Ni（镍），Zn（锌），Cr（铬）等有害元素，能够实时对厂区、矿区、重工业区周边的环境进行监测，从而进行控制排放和污染治理。 在对我国几个重工业区、矿区、开发区以及污灌区土壤重金属污染状况的调查结果表明：土壤重金属含量大部分高于土壤背景值，Cd、Zn、Hg等明显超标。使用S1 TITAN土壤重金属分析仪实时对厂区、矿区、重工业区周边的环境进行监测，从而进行控制排放和污染治理。 目前，布鲁克手持式土壤分析仪已成为各级环境监测机构的常规监测和应急监测的分析工具。分析范围：S，K，Ca，Ba，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，As，Se，Rb，Sr，Zr，Mo，Pd，Ag，Cd，Sn，Sb，W，Pb，Cs，Te，U，Th，Hg，Sc，Au，Ce，Y，P，Hf，Nb，Ac，Nd等40多种元素。对土壤中常见的重金属元素Pb，As，Cd，Hg，Cu，Ni，Zn，Cr等灵敏度好。野外、实验室均能使用，轻松分析土壤中重金属元素，方便、快捷。主要分析土壤、沙粒、污泥、固体废弃物、泥土、泥浆；粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层等。铂悦仪器（上海）有限公司主要代理各类布鲁克手持式土壤重金属分析仪，土壤重金属分析仪，便携XRF荧光土壤养分分析仪，进口便便携式XRF土壤养分分析仪，便携式土壤养分测定仪，手持土壤分析仪，手持式土壤重金属检测仪，便携式X射线土壤重金属分析仪，土壤重金属分析仪，进口土壤重金属分析仪，美国手持式土壤分析仪，德国土壤重金属分析仪，布鲁克手持XRF土壤测定仪，布鲁克便携式重金属元素分析仪，手持式光谱仪，布鲁克手持光谱仪,布鲁克手持式荧光光谱仪，S1 TITAN手持式荧光光谱分析仪，布鲁克S1 TITAN合金分析仪代理商，手持式光谱仪中国经销商，性价比高的手持式X荧光光谱仪，手持式合金元素分析仪，手持式x射线荧光光谱仪。

浙江杰昆科技有限公司专业从事先进的光纤传感、光电仪表、激光器及光电模块的研发、制造和销售，为电力电网、智慧城市、轨道交通、高速公路、石油化工、管线管廊、土木结构、光通信等领域提供传感监测系统及行业解决方案，是物联网的组成部分。公司产品包括分布式光纤测温系统(DTS)、M-Z干涉型光纤扰动监测系统(防区型和长距离可定位型)(DVS)、分布式光纤振动声波监测系统（DAS）、分布式光纤应变温度监测系统(BOTDA/R)；及以光时域反射仪等为代表的光电仪表；窄线宽激光器、光纤放大器、高速数据采集卡等模块。所有产品自主研发、生产，拥有自主知识产权，并通过了相关的检测、认证。分布式光纤线型感温火灾探测器（HeatSCAN系列）作为分布式光纤测温系统(DTS)的一个系列，其具体简介如下：1、系统简介： 杰昆科技研制的分布式光纤线型感温火灾探测器（HeatSCAN系列）是集成光学、电子、机械和软件算法等组成的复杂系统，具有多项专利。产品完全自主研发、生产，模块化设计、性能稳定、功耗低，使用公司自行研制的优质光放大器、低噪音高带宽信号处理电路及高速数据采集系统，具备业界空间分辨率0.25m等优良的性能指标和友好的用户界面。 HeatSCAN系列传感系统以感温光缆为测量和信号传输媒介，具有监测距离长、全域分布无盲点、定位精确、无源防爆、抗干扰、对环境要求低、使用寿命长、安装维护简单、智能融合便捷等优势，可广泛应用于电力电网、海底电缆、油气管道、核电装置、热力管网等易爆、高压、高干扰、高危场所的实时在线、连续的温度监测，和隧道交通、市政管廊、石油储罐、仓储堆场、楼宇工厂等公共消防的火灾预警、报警。2、产品特性：测量距离长达10公里空间分辨率0.25～2.0米温度测量精度±0.5℃温度分辨率典型0.1℃

大量供应粘金毯粘金草 粘金布固金草 曲丝微粒粘金草 （淘金布、淘金毯、粘金布、沾金毯、沾金布）简介： 淘金毯（淘金布、粘金毯、粘金布、沾金毯、沾金布）金毡是黄金采矿过程中一种产品.广大淘金用户都知道金毡的作用.金毡有很多种称法,有的叫毛毡,有的叫粘金毯,或叫粘金草,淘金草等 刷子地垫表面挺直的叶片结构使得使用时表面保持干净，甚至在恶劣环境也是如此。清洗非常简单，可以真空洗尘、翻转轻微抖动即可除灰尘和沙子，如果脏物粘结在表面，可用清水和洗涤剂清洗，而清洁垫不损坏。普遍使用于水上淘沙金 材质：PE面聚乙烯无纺布底淘金毯（淘金布、粘金毯、粘金布、沾金毯、沾金布）如何使用：淘金毯（淘金布、粘金毯、粘金布、沾金毯、沾金布）根据溜槽的宽窄裁剪总共放长度在4米左右，根据含金量的多少一班清理3-4次，给毯子拉下放到池子里均匀的抖落上面的沙子和金沙，用水给冲干净，循环着放流槽里，清下来的金沙达一定数量后放到6-S选金摇床上选过了后，就一边是金沙一边是尾矿了，想深加工上冶炼，正常都可以出售了。

仪器简介：Innova扫描探针显微镜（SPM）具有高扫描分辨率、出色品质，可应用于物理、生命科学和材料科学等诸多领域。Innova具有很强的灵活性，能以较低成本满足各种科研应用要求。采用独一无二的闭环扫描线性系统，卓越的设计及工艺确保测量精度以及接近于开环运行时的噪音水平。Innova可以轻松的在90微米扫描管上实现原子级分辨率。集成的高分辨率彩色光学系统，以及可编程和电动Z轴载物台，使得寻找、对准被测区域，更换针尖或样品更加快速简便。技术参数：闭环扫描管：XY 90 &mu m，Z 7.5 &mu m开环扫描管：XY 5 &mu m, Z 1.5 &mu m样品尺寸： X-50 mm x 50 Y-mm x Z-18 mm电动Z轴载物台：Z轴行程： 18mm光学系统： 摄像头： 轴线彩色CCD，带电动变焦视场： 1.24mm x0.25mm (电动变焦，10x物镜)分辨率： 2&mu m，标准10x物镜(50x物镜0.75&mu m)电子电路：20位DAC控制器，100kHz、± 10v ADCs，数字反馈器件系统软件：用于数据采集和分析的SPMLab&trade v7.0，Windows® XP主要特点：Innova在同类SPM中，性价比最高· 独有的闭环扫描控制，在开环噪声水平上提供三维精确测· 高分辨光学系统辅助精确探针定位· 快速更换探针, 开放的样品台设计使得使用更方便，更容易· 拥有所有SPM操作模式，为科学研究提供更高的应用灵活性· 卓越的信号读录与输入功能便于用户自己设计研究方法 布鲁克纳米表面仪器部开通优酷视频专辑Bruker Nano Surfaces YouKu Channel &mdash 欢迎订阅优酷上Bruker Nano Surfaces的相关视频，观看最新的AFM产品和相关技术进展，以及历届网络研讨会和培训资料，精彩内容持续更新中！布鲁克纳米表面仪器部 Bruker Nano Surfaces 北京办公室 北京市海淀区中关村南大街 11号光大国信大厦6层 6218室电话： 传真：上海办公室 上海市徐汇区漕河泾开发区桂平路 418号新园科技广场 19楼E-mail： 产品咨询热线：

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 液相接触模式 智能成像模式 SNL 10 布鲁克Bruker的锐化氮化硅(SNL)探针是在液体中轻敲模式的高性能成像的行业标准，也可用与空气中智能成像模式。超尖针尖，针尖曲率半径：2nm~12nm，4悬臂，金涂层。 SNL-10探针拥有锐利的硅针尖，低弹性系数高灵敏度的氮化硅悬臂，两者相结合，不论在任何介质中，均可达到更好的分辨率和对样品准确的力控制。SNL探针拥有4个悬臂，包含不同程度的力常数和共振频率。这个独有的设计提供了满足绝大多数的样品的功能参数。SNL悬臂布局与其他NP类产品相同，在探针的一侧有“A”和“B”悬臂，在探针的另一侧有“C”和“D”悬臂。SNL探针上的所有悬臂都有 2度的悬臂弯曲，使它们适合于所有的布鲁克及非布鲁克的AFM。 详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在广泛的应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

A2B 改装套件固体核磁探头续用计划用户在将其他品牌核磁谱仪更新为布鲁克核磁谱仪时，可以利用 A2B 套件保留原有昂贵的固体核磁探头。 通常这类探头的价值较高，而且部分特殊探头不在布鲁克探头生产名录中，因此 A2B 套件为用户续用这些宝贵探头提供了独一无二的机会。A2B 套件可确保 Varian、Agilent 及 Chemagnetics 生产的固体探头能够在布鲁克最新 AVANCE 谱仪上继续正使。 产品描述A2B 套件由 Revolution NMR 公司生产并提供服务，主要包括以下部件： 用于将探头安装于布鲁克匀场线圈上的转接盘用于变温传输套管（VT-transfer stack）的机械转换接头用于 Johnston 接头的机械转换接头用于运行变温传输套管的接口盒用于利用布鲁克 MASIII 气动单元进行 MAS 控制的电子适配器 详细信息 A2B 套件中各部件均由 Revolution NMR 公司生产，还可加配制冷变温单元，如使用方便且功能强大的 BCU2。 BCU2 的气体传输管长为5米或8米，可选择合适的管长连接到磁体上方；其出口气流速度可达3000升/小时，制冷气体温度可低至-80℃。其他制冷变温单元还包括液氮换热器，可用于更低温度的制冷，其配有3米、5米或7米长的不锈钢真空传输管。 A2B 套件中包括了将探头安装于布鲁克匀场线圈上的转接盘、用于变温传输套管的机械转换接头以及用于连接 Johnston 接头的机械转换接头。为实现制冷气体从换热器或制冷单元到探头或变温传输套管中的最佳传输，所有的现代布鲁克探头都采用了Johnston 接头。 为实现变温控制功能，即完全由布鲁克变温控制器运行原有的变温传输套管，A2B 套件包括了所有必须的接口盒，其利用了现代谱仪设计中的所有优势，实现了制冷或加热气流的大流量管理以及加热和制冷设备的控制。这使得续用探头具备了与布鲁克探头相同的最新的自动且安全的可操作技术。 订购专属于您的 A2B 套件 为了将配有固体核磁探头的 Agilent 、Varian 及 Chemagnetics 谱仪机柜升级为布鲁克谱仪，布鲁克销售人员将提供一份 A2B 清单供您填写。该清单将为 Revolution NMR 及布鲁克提供必需的信息以确定您的 A2B 套件部件。根据该 A2B 清单，Revolution NMR 及布鲁克将为您提供专属定制的 A2B 套件方案，并作为机柜或谱仪升级方案的一部分。 例如，每一个被认定可以续用的探头都将配有其专属的匀场线圈转接盘。若用户有需求，对于标准腔（或者窄腔）谱仪，我们将提供一套由 Revolution NMR 特制的标准腔变温传输套管（SB-VT transfer stack）。对于实验室天花板高度受限的磁体，Revolution NMR 将提供一种双片式 SB-VT 套管；对其他所有类型的实验室则配置单片式套管。SB-VT 套管所需的长度是根据 A2B 清单中的磁体信息而确定的。对于宽腔系统，如需配置制冷设备，则可根据磁体高度确定变温制冷单元的传输管长度。 A2B 套件的安装 A2B 套件的安装将与新谱仪或者新机柜一起进行，布鲁克将负责安装并测试其功能，确保续用固体探头能够正常工作。

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 轻敲模式—Rtespa 300 布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 轻敲模式—Rtespa 300 Rtespa 300，适用于轻敲模式/TappingMode，适用于软硬适中的样品。Tap300：40N / m，300kHz，不对称针尖，铝反射涂层。 布鲁克生产的MPP系列探针，是高性能和高质量成像的AFM探针行业标杆，适用于各种各样的样品。10根一盒装硅探针，用于TappingMode和其他非接触模式，适用于各种AFM。新的Rtespa 系列探针，相较于传统的MPP，进行了技术改良及优化，拥有更好的成像：加工中控制的悬臂几何尺寸、锐利的针尖，减小了AFM最小可检测尺寸，更长的针尖减小挤压膜阻尼。 新的设计改进了以下几方面:?更严格的尺寸规格，以改善探针的一致性?针尖与悬臂的更紧密结合，使激光更容易定位?改进探针质量和外形?该探针适用于任何AFM，若需要无铝涂层，请选择RTESP-300。 详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在广泛的应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

AFM探针/原子力探针/导电探针(DDESP-10) AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高，所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括：扫描扩散电阻显微镜 (SSRM)，扫描电容显微镜 (SCM)，和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035

GMS-3000分布光度计是CIE70文件推荐的反光镜分布光度计之一，同时符合能源之星认证标准IES LM79的要求。该分布光度计的被测灯具位置固定，反光镜绕被测灯具的光度中心旋转，采用同步追踪探头及旋转光阑，保证被测灯具的光始终以法线方向入射至探测器，同时有效消除环境杂散光对光度测量的影响；安装于吸光阱中心位置的高精度CCD光谱仪及光度探测器可用于测量小型灯和灯具的光强分布和总光通量、空间色度均匀性测试。12米处的追踪探头和色度测试装置可用于测量大尺寸、窄光束、高光强室内和室外各种灯具以及光源的空间光强分布与空间色度不均匀性等参数，满足能源之星、NVLAP，ERP，ESP对灯具光性能测试的要求。

布鲁克Bruker 原子力显微镜探针 AFM探针 轻敲模式 OLTESPA-R3 产品特点更易定位，更适合如按样品。 OLTESPA-R3原子力显微镜探针为布鲁克贴标产品，同型号奥林巴斯OMCL-AC240TS-R3 探针。悬臂共振频率：70(50~90) kHz（空气中），弹性系数：2 N/m。针尖曲率半径：7nm（典型值）AL涂层。产品资料 OLTESPA-R3 原子力显微镜探针/AFM探针主要特点：1.较小弹簧常数更适合测量软样品2 N / m的弹簧常数是AC模式的硅悬臂中*小的，适用于观察软样品的表面形貌和粘弹性。2.用低电阻率硅测量表面电位悬臂基材采用N型掺杂硅，表面电阻为0.01-0.02Ωcm（是其他基材表面电阻的1/200）。这可以用于测量表面电位和其他应用。3.理想情况下指向终止探针四面体探针的顶点理想地是点终止的。从正面看，四面体探针显示出良好的对称性。考虑几何特征，选择快速扫描（X）方向。检查扫描线轮廓和尖端顶点的放大视图。4.备受好评的＇TipView＇结构由于＇TipView＇结构，探头可以轻松定位在您感兴趣的位置。探头位于悬臂的精确末端，以便在光学观察期间探头顶点不会被遮挡。5.反射侧铝涂层在悬臂上涂覆厚度为100nm的薄铝膜，用于反射来自AFM设备中的偏转传感器的光。可以预期用于高S / N感测的高反射。关于布鲁克：布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在*广泛的应用领域中提供*完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能行业 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜探针/AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁*末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。原子力显微镜探针/AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。　　利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜，如AFM（范德法力），静电力显微镜EFM（静电力）磁力显微镜MFM（静磁力）侧向力显微镜LFM（探针侧向偏转力）等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。　　原子力显微镜的探针主要有以下几种：　　（1）、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针：*常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。　　（2）、 导电探针：通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt（以及别的提高镀层结合力的金属，如Cr，Ti，Pt和Ir等）得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。　　（3）、磁性探针：应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。　　（4）、大长径比探针：大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点：不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数：针尖高度 9μm；长径比5:1；针尖半径 10 nm。　　（5）、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针：一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备（价格很高）。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。AFM探针 原子力显微镜探针 OLTESPA-V3

光纤探针气泡行为测量仪Bubble-Pro可测量多相流(气体为离散相、液体为连续相)局部气含率、气泡速率和气泡弦长等气泡行为。具有对气泡响应迅速、阶跃显著的特点。将光纤探针信号进行方波化处理,探针在气相中的采样点数与总采样点数之比即为局部气含率,再沿径向积分可得平均气含率:对两列光纤探针信号进行相关性分析,可求得每个气泡的上升速率 根据每个探针描过气泡的时长,得到气泡的弦长,并提供气泡速率和气泡的弦长的统计数据。此探针可应用于高温、高压、液相为有机体系的气液环境。主要技术指标:◎ 压力范围:小于2.0MPa◎ 温度范围:小于250℃C◎ 介质要求: 透明体系◎ 光纤直径:0.125mm◎ 光纤间距:0.5mm,可根据要求具体调节◎ 气含率区间:0.5%~50%◎ 气泡尺寸分辨率:大于2mm◎ 气泡速率分辨率:小于4m/s产品优势:◎ 光纤直径小,级联式结构,对流场影响小,数据准确◎ 无机胶密封,适用于高温体系◎ 毛细管、不锈钢管钎焊连接,适用于高压体系◎ 无机胶密封,不溶不挥发,适用有机溶剂体系◎ 基于反射光强度的不同进行测量,适用于非导电介质◎ 响应迅速,0.25ms即可实现气液信号的切换◎上下游信号相关性好,气泡速率、气泡尺寸数据准确◎ 软件具有中文界面,操作简便

布鲁克bruker轮廓仪 利用独特的直接驱动扫描样品台，将测量时间加快 40%，同时保持行业的性能。Vision64 是布鲁克的 64 位并行处理操作和分析软件，能够更快地加载 3D 形貌文件，并更快地应用筛选器和多区域数据库分析。单拱门结构设计使 布鲁克bruker轮廓仪 更坚固，从而将环境噪音的影响降至低。DektakXT 升级的"智能电子设备"可降低温度变化的影响，并采用现代处理器，大限度地减少噪声水平，使其成为能够测量10nm 台阶高度的更强大的系统。布鲁克的 Vision64 软件通过提供直观、简化的用户可视化界面，加入到 DektakXT 的创新设计。智能架构和可自定义自动化功能相结合，可实现快速、全面的数据收集和分析。无论您是使用分析脚本对单个扫描结果进行分析，还是应用自定义筛选器设置和计算，DektakXT 的数据分析器都能显示当前分析结果，同时显示其他可能的分析工具。DektakXT 的自对齐探针组件允许用户快速轻松地更换不同探针，同时消除换针中的任何潜在风险。布鲁克提供广泛的探针尺寸和形状，几乎满足任何应用需求。DektakXT 能够快速轻松地设置和运行自动化的多样品测量模式，以可重复性验证整个晶圆表面薄膜的精确厚度。这种有效的监控可以通过提高测试通量来节省宝贵的时间和金钱。

【洛科仪器】Tanker系列 油雾捕捉器油雾捕捉器 : 简介不锈钢材质制作的油雾过滤器，可防止油雾挥散于空气中，避免实验室空气受污染。(选择性配件) 油雾捕捉器 : 订购信息◆ 187100-30油雾捕捉器(产品图右方,不含Tanker帮浦主机) 产品特色 :◆ 不锈钢材质制作◆ 防止油雾挥散于空气

Dimension XR系列扫描探针显微镜仪器，集成了过去几十年的研究和技术创新经验，为纳米力学、电学、电化学等先进研究领域的表征工作提供了独有的功能模块方案，使得对空气、液体或电化学环境里的材料和纳米 系统的定量表征更加简便。 AFM -nDMAAFM 首次可以在纳米尺度上研究聚合物样品在流变性相关频率线性区域的性能，提供完整的定量粘弹性分析。专有的双通道检测、相位漂移校正和参考频率追踪技术在流变相关的0.1 Hz至20 kHz频率范围内进行小应变测量，获得与宏观DMA分析相符的存储模量、损耗模数和损耗角正切值等性质。专有的数据立方体模式这些模式利用快速力阵列模式在每个像素点中执行力曲线测量，并具有用户定义的停留时间数据采集。使用高速数据捕获功能，在停留期间执行多种电学测量，从而在每个像素上产生电学和力学谱。数据立方体模式在单次测量中提供完整的表征，这在商用AFM中是闻所未闻的。所有模式、所有环境的高分辨率无论是在液体环境中获得样品真原子相，还是在空气中获得样品模量和导电性的原子级分辨率分布，Dimension XR系统在所有测量中都能提供最高的分辨率。它们使用布鲁克专有的峰值力轻敲技术在各种软硬样品上的性能表征已成为行业标杆，包括聚合物中的分子缺陷或晶体中的缺陷。同样技术也被用来分辨粗糙玻璃上的精细起伏结构，且具有惊人的稳定性，在数百次扫描后还能保持最初的分辨率。Dimension XR系统将峰值力轻敲模式与极致稳定性、独特的探针技术和布鲁克数十年的针尖扫描创新经验相结合，在各种尺寸、重量或介质的样品上，在任何应用中都实现了稳定的最高分辨率成像。峰值力扫描电化学显微镜具有纳米级空间分辨率的峰值力轻敲扫描探针显微镜重新定义了液体中纳米尺度下电化学过程表征。峰值力轻敲扫描探针电化学显微镜在数量级上显著改善了与传统方法的分辨率。这使得对能源存储系统、腐蚀科学和生物传感器的更全新研究，为单个纳米粒子、纳米相和纳米孔进行新测量打开了大门。只有峰值力轻敲扫描探针电化学显微镜能同时形貌、电化学、电学和力学分布图，并具有纳米尺度的横向分辨率。

S1 TITAN手持式土壤重金属分析仪实现了快速、准确分析土壤中的有害金属元素Pb（铅），As（砷），Cd（镉），Hg（汞），Cu（铜），Ni（镍），Zn（锌），Cr（铬）等有害元素，能够实时对厂区、矿区、重工业区周边的环境进行监测，从而进行控制排放和污染治理。 在对我国几个重工业区、矿区、开发区以及污灌区土壤重金属污染状况的调查结果表明：土壤重金属含量大部分高于土壤背景值，Cd、Zn、Hg等明显超标。使用S1 TITAN土壤重金属分析仪实时对厂区、矿区、重工业区周边的环境进行监测，从而进行控制排放和污染治理。 目前，布鲁克手持式土壤分析仪已成为各级环境监测机构的常规监测和应急监测的分析工具。分析范围：S，K，Ca，Ba，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，As，Se，Rb，Sr，Zr，Mo，Pd，Ag，Cd，Sn，Sb，W，Pb，Cs，Te，U，Th，Hg，Sc，Au，Ce，Y，P，Hf，Nb，Ac，Nd等40多种元素。对土壤中常见的重金属元素Pb，As，Cd，Hg，Cu，Ni，Zn，Cr等灵敏度好。野外、实验室均能使用，轻松分析土壤中重金属元素，方便、快捷。主要分析土壤、沙粒、污泥、固体废弃物、泥土、泥浆；粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层等。铂悦仪器（上海）有限公司主要代理各类布鲁克手持式土壤重金属分析仪，土壤重金属分析仪，便携XRF荧光土壤养分分析仪，进口便便携式XRF土壤养分分析仪，便携式土壤养分测定仪，手持土壤分析仪，手持式土壤重金属检测仪，便携式X射线土壤重金属分析仪，土壤重金属分析仪，进口土壤重金属分析仪，美国手持式土壤分析仪，德国土壤重金属分析仪，布鲁克手持XRF土壤测定仪，布鲁克便携式重金属元素分析仪，手持式光谱仪，布鲁克手持光谱仪,布鲁克手持式荧光光谱仪，S1 TITAN手持式荧光光谱分析仪，布鲁克S1 TITAN合金分析仪代理商，手持式光谱仪中国经销商，性价比高的手持式X荧光光谱仪，手持式合金元素分析仪，手持式x射线荧光光谱仪。

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