他匹莫德

市场领先的 Brabender MetaStation 是一款多功能、 模块化驱动装置和扭矩流变仪， 用于测定不同塑料和可塑物质的加工性能和材料特性，符合主要的 ASTM 标准方法。使用我们针对各种叶片几何形状、搅拌器尺寸和温度控制的产品组合，根据您特定的 PVC、橡胶或热固性材料测试需求进行定制。除了间歇式配混和搅拌外，还可以通过使用不同规模的单螺杆和双螺杆挤出附件进行连续加工。MetaStation：今天提供配置灵活性，明天提供无限可能性。关键功能您的全球产品认证之路MetaStation 符合有关塑料和橡胶化合物混合的各种国家和国际标准，包括关键的 ASTM 标准方法。这可确保您的产品符合国际贸易资格，并满足全球市场的严格要求。从 PVC 到热固性材料：MetaStation 的多功能搅拌器附件15 分钟内即可在搅拌器模块之间切换，并快速满足众多的应用。MetaStation 的模块化概念让您可以根据自己的需求定制仪器。它提供了刀片几何形状、搅拌器尺寸和温度控制解决方案的组合，适用于测试 PVC（使用 W 50 EHT 型混合器）、橡胶（使用 350SX 型搅拌器）和热固性材料（通过 MB 30 型混合器）等应用。 。此外，专为搅拌器附件设计的灌装解决方案可减少错误并最大限度地提高便利性。优化的搅拌器设计使打开、拆卸和材料去除变得容易 — 清洁速度是前几代产品的两倍。了解挤压：提高产品质量的捷径除了批量复合和混合功能外，我们的各种规模的挤出附件为连续加工打开了大门。探索在实验室和中试规模上通过挤出测试材料的潜力，而无需中断生产资源。这使您可以更深入地了解关键工艺参数和最终产品质量之间的相关性，并进行调整以优化您的制造工艺。MetaBridge：通往卓越数据的门户MetaBridge 操作软件可以从任何设备或位置访问您的测量数据。您可以与同事和第三方系统导出和共享数据（例如 LIMS、ERP 或电子邮件）。只需单击一下即可遵守您选择的 ASTM 标准，并在混合和挤出应用之间轻松切换。利用该软件参考曲线功能的强大功能来实时监控材料质量，接收有关符合规定的自动反馈。此外，该软件的相关性插件可让您比较大量测量结果，从而更好地了解您的材料。适用于高要求应用的专业解决方案我们的搅拌器采用多种钢合金和先进涂层材料，可确保仪器在整个使用寿命期间的测量精度和耐用性，即使在处理高腐蚀性和磨蚀性物质时也是如此。MetaStation 配备 MB 30 搅拌器，是根据 DIN 53764 标准准确测定热固性材料交联性能的首要解决方案。

Thermo Scientific Delta V Advantage新一代同位素比质谱仪凝聚了我们在质谱仪领域里50年以上的经验。同位素比质谱仪的基础原理是把任何类型的无机或有机化合物转换成为单纯的气体。作为DELTA V Advantage 的进样系统，有广泛的样品预处理设备和接口可供选择。它可以与元素分析仪、GasBench、气相色谱或液相色谱等装置联用，用于测定C、N、S、H、O等多元素的稳定同位素比值，可用于食品安全、农业、环境、地质、海洋等领域，进行食品真实性鉴定、原产地判别以及环境污染物溯源等研究。赛默飞世尔为实践中在每个应用中可能遇到的各种各样的样品的 全自动分析提供应用气相色谱，液相色谱和元素分析仪的完整分析方案。该仪器具有以下特点： 极好的扩展性，可以与各种外围设备联用，确保高度自动化和高性能在保证卓越的线性和稳定性的同时，展示了最好的灵敏度结构紧凑，坚固耐用

Model 5014i Beta 颗粒物连续监测仪主要特点: 经过美国环保局认证的PM2.5和PM10 监测仪 真正的连续，非步进式测量 动态加热系统减少了挥发性组分的损失 可长期无人值守 低检测限，高准确度和高分辨率 增强的用户界面和iPort通讯软件 Thermo Scientific的5014i Beta是一台自动连续测量空气中颗粒物的监测仪应用β射线装减测量技术，并综合成熟的系列平台设计，该仪器准确、可用导轨固定子标准机柜上。Model 5014i在成功运用颗粒物β射线衰减实时测量技术的基础上，通过对β射线背景干扰的补偿，Model 5014i能提供更精确的颗粒物质量数据。Model 5014i采用亚音速小孔对采样流量进行精确控制和准确测量。已知体积量的空气样品被通入粒径可选的采样头中（可配置PM10,PM2.5, PM1和TSP采祥头），并不断的被采集到可自动移动的滤带上。颗粒物质量和样品体积的测量结果被用于计算样品中颗粒物的质量浓度。有多种数据储存选项供用户选择。颗粒物浓度可以以实际体积浓度或标准体积浓度的形式输出。Model 5014i可根据用户设定的条件来自动更新采集样品的滤带，用户可自行设置的条件参数包括：采集的样品总量限值、时间间隔或者与流量相关的压力变化量等。与步进式的测量方法相比，Model 5014i的滤带移动是单方向的，能有效减少颗粒物的损失。另外，如果样品超过了最大负载，滤带会自动更新。 为了更准确的应对潜在的水分与挥发性组分损失造成的测量偏差，Model 5014i配置了智能加热系统，用户通过设置，能有效地控制样品的温度或湿度。 放射源C14测量范围0-1.0,2.0,3.0,5.0,10.0 mg/m30-100,1000,2000,3000,5000,10000μg/m3最低检测限6μg/m3(0.5小时平均时间)，4μg/m3(1小时平均时间)，3μg/m3(3小时平均时间)，1μg/m3(24小时平均时间)，分辨率1μg/m3准确度（对于质量测量）±5%（使用NIST可追溯源标准膜片）

Delta合金分析仪/特点在需要判断一个牌号ID是否正确，或者是否需要更长的时间进行检测时，DELTA的SmartSort智能解决方案可以自动做出所有决定　　SmartSort智能筛选　　1、可为某些牌号使用自动延长检测时间的设置，从而可避免结果出现混乱。　　2、在快速检测的过程中提高检测效率。自动对轻元素（镁、铝、硅、磷、硫）进行检测，这样就避免了对其它元素进行的长时检测，并防止结果出现混乱。　　3、使得DELTA成为一款检测速度极快的分析工具。　　牌号匹配信息1、可将定性信息及其它信息添加到牌号ID库中。2、用户可以完全自行定制于精炼行业的编码信息3、可以单独为每个工作站储备多个信息库。　铝元素分析　　1、DELTA 合金分析仪所提供的铝材分析性能好，可方便、直接地分拣和定级铝材以及含铝元素的材料。　　2、可测量5000系列铝合金材料中镁元素的含量，可区分含镁合金。可分拣以下材料：3003和3004，1100和6063，2014和2024。　　3、可以判定钛合金以及那些使用铝制工具分割的纯钛金属中铝元素的含量。　　4、可以对铝青铜和硅青铜分类。　　5、可测量镍/钴合金中的铝元素含量　　高温作业　　1、DELTA可以用于高温系统的在线检测，系统温度可以达到480℃ 。　　2、散热装置即便在高温环境下亦能有效的发散仪器电子元件的热量，快速冷却，以满足高温的工业环境测试需求 。　　3、散热使得仪器能在高温环境下长时间的使用 。　　4、有助于增强XRF分析仪的主要电子元件的稳定性。专为高温环境设计的增强XRF分析仪电子元件使得测试结果更令人信服 。

DeltaDiode 光源是高性能皮秒半导体激光器和纳秒LED光源。光源覆盖从250nm到980nm范围。专为时间相关单光子计数技术Time Correlated Single Photon Counting (TCSPC) 和时域（time-domain)荧光寿命测试而设计。特别适合荧光寿命成像FLIM测试系统使用。1、紧凑激发源、控制器设计，采用即插即用接线；2、同一控制器，激发源可以互换，用于不同的激发波长的需要；3、通常的光学脉冲宽度小于70ps （对应不同的光源）；4、具有CW输出模式；（部分波长没有）5、NIM, TTL同步输出模式可选；具有可调的纳秒延迟，用于连用外部信号处理装备；6、可以接受外来触发信号；7、快-慢门（fast and slow gate）输入选择 8、可以采用LCD显示屏操作或者PC机USB界面控制。9、输出功率可调；冷却温度可控；闪烁频率可调，最大100MHz-10kHz 可选CW输出。DeltaDiode激发源系统由控制器和一个或多个的光源组成。由Horiba Scientific荣誉出品；其2009-2010年的采用PicoBrite为商品名。其和现有的DeltaDiode是同一产品，了可以互换使用。可选半导体激光器波长：DD-375L DD-395L DD-405L DD-415L DD-425L DD-440L DD-450L DD-470L DD-485L DD-510L DD-635L DD-650L DD-670L DD-730L DD-###L 请咨询；最大重复频率100MHz，个别波长例外。可选LED波长：DD-250 DD-260 DD-270 DD-280 DD-290 DD-300 DD-310 DD-320 DD-330 DD-340 DD-350 DD-360 DD-370 DD-##请咨询；最大重复频率20MHz控制器可设置频率：10kHz 20kHz 50kHz 100kHz 250kHz 500kHz 1MHz 2MHz 4MHz 5MHz 8MHz 10MHz 16MHz 20MHz 25MHz 50MHz 80MHz 100MHz 并接受外来触发输入。

DeltaDiode 光源是高性能皮秒半导体激光器和纳秒LED光源。光源覆盖从250nm到980nm范围。专为时间相关单光子计数技术Time Correlated Single Photon Counting (TCSPC) 和时域（time-domain)荧光寿命测试而设计。特别适合荧光寿命成像FLIM测试系统使用。1、紧凑激发源、控制器设计，采用即插即用接线；2、同一控制器，激发源可以互换，用于不同的激发波长的需要；3、通常的光学脉冲宽度小于70ps （对应不同的光源）；4、具有CW输出模式；（部分波长没有）5、NIM, TTL同步输出模式可选；具有可调的纳秒延迟，用于连用外部信号处理装备；6、可以接受外来触发信号；7、快-慢门（fast and slow gate）输入选择 8、可以采用LCD显示屏操作或者PC机USB界面控制。9、输出功率可调；冷却温度可控；闪烁频率可调，Max100MHz-10kHz 可选CW输出。DeltaDiode激发源系统由控制器和一个或多个的光源组成。由Horiba Scientific荣誉出品；其2009-2010年的采用PicoBrite为商品名。其和现有的DeltaDiode是同一产品，了可以互换使用。可选半导体激光器波长：DD-375L DD-395L DD-405L DD-415L DD-425L DD-440L DD-450L DD-470L DD-485L DD-510L DD-635L DD-650L DD-670L DD-730L DD-###L 请咨询；重复频率100MHz，个别波长例外。可选LED波长：DD-250 DD-260 DD-270 DD-280 DD-290 DD-300 DD-310 DD-320 DD-330 DD-340 DD-350 DD-360 DD-370 DD-##请咨询；重复频率20MHz控制器可设置频率：10kHz 20kHz 50kHz 100kHz 250kHz 500kHz 1MHz 2MHz 4MHz 5MHz 8MHz 10MHz 16MHz 20MHz 25MHz 50MHz 80MHz 100MHz 并接受外来触发输入。

胜佰德Sandpiper隔膜泵胜佰德Sandpiper隔膜泵：• Sandpiper重载型隔膜泵\气动隔膜泵，适用于泥浆、悬浮与非悬浮固体颗粒以及接近管路尺寸固体颗粒物的流体。• HDF系列采用加厚砂镑铝合金、镑铁和不锈钢壳体，并搭配合成橡胶弹性体、TPE弹性体(热塑性弹性体〉和PTFE 材质的隔膜及止回阀，提高耐磨损能力。• 独有的可变排液口选项(侧面、顶部、底部及双排出口)，适用于困难安装位置、粘稠性介质的抽送。• 出色的干自吸能力，高达7米水柱。• ESADS+Plus气阀设计，可外部维修配气系统。• 扬程：125PSI(8.6Bar)型号接口排量L/冲程流量L\min固粒径mmHDB1-1/2Top1-1/2"NPT/BSP1.44626HDB1-1/2Bottom1-1/2"NPT/BSP1.44626HDB2 Top2"NPT/BSP1.75119HDB2 Bottom2"NPT/BSP1.75119HDB3 Top3"NPT/BSP7.6113622HDB3 Bottom3"NPT/BSP7.6113622HDB4 Top4"NPT/BSP7.6113622HDB4 Bottom4"NPT/BSP7.6113622HDF11"NPT/BSP0.3826525HDF22"NPT1.7878750HDF3-A3"125#ANSI6.06117375HDF3-M4.35114775HDF4-A4"125#ANSI6.06117375HDF4-M4.35114775SB1\SB251"NPT/BSP0.341596SB1 Top1"NPT/BSP0.341596SB1 Bottomm1"NPT/BSP0.341596货号胜佰德Sandpiper隔膜泵(重载型)市场价HDB2 DN3A.Sandpiper双隔膜泵 135gpm¥38042元HDF1 DB2ASandpiper气动隔膜泵(1"铝)70gpm Buna N¥25230元HDF1 DN2ASandpiper双隔膜泵 70gpm¥22889元HDF2 DB6ASandpiper气动隔膜泵(2"铝)140gpm Buna N¥37617元HDF2 DN6ASandpiper双隔膜泵 140gpm¥42828元胜佰德SANDPIPER金属型气动隔膜泵、胜佰德SANDPIPER非金属型气动隔膜泵胜佰德SANDPIPER重载型隔膜泵、胜佰德SANDPIPER密闭型膈膜泵胜佰德SANDPIPER标准型隔膜泵、胜佰德SANDPIPER高压泵胜佰德SANDPIPER防堵塞泵、胜佰德SANDPIPER食品级卫生泵胜佰德SANDPIPER矿业建筑用泵、胜佰德SANDPIPER天然气隔膜泵

仪器介绍 Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。产品特点快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高应用案例应用领域半导体（SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS，SOI等）LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亚酰胺ITO等)LED (SiO2、光刻胶ITO等）触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等)汽车(防雾层、Hard Coating DLC等）医学（聚对二甲苯涂层球囊/导尿管壁厚药膜等）技术参数型号Delta-VISDelta-DUVDelta-NIR波长范围380-1050nm190-1100nm900-1700nm厚度范围50nm-40um1nm-30um10um-3mm准确度12nm1nm10nm精度0.2nm0.2nm3nm入射角90°90°90°样品材料透明或半透明透明或半透明透明或半透明测量模式反射/透射反射/透射反射/透射光斑尺寸22mm2mm2mm是否能在线是是是扫描选择XY可选XY可选XY可选注：1.取决于材料0.4%或2nm之间取较大者。 2.可选微光斑附件。

Datacolor ColorReaderPRO 专业色彩匹配通过 ColorReaderPRO 专业配色解决方案提高品牌忠诚度和销量。 作为一款超便携式 Bluetooth 连接选色设备，ColorReaderPRO 提供了业界领先的配色性能。 现在，您可以为您的油漆工提供一款非常有用的工具，几秒内就可以根据客户的色彩灵感配出相应的油漆颜色。 设计用于 :油漆制造商希望通过其专业油漆工网络提高品牌忠诚度并增加销售额挑选油漆时更加自信且更为高效 提供业界领先的配色，对流行色卡的成功率超过了 95%几秒内找到最接近的颜色，缩短了您的专业油漆工的采购周期无论是独立操作还是与智能手机配合使用都很方便 设备存储 10,000 种色彩，同时配有 OLED 显示器，方便独立使用ColorReader 移动应用提供了油漆工在 iPhone 或 Android™ 智能手机上配色、处理色卡，以及创建调色板所需的一切功能用软件开发包 (SDK) 集成到您自己的应用中用您自己的徽标轻松定制 ColorReader 移动应用确保及时更新色卡，让用户始终拥有最新的色彩集 使用基于云的 ColorReader 系列管理软件添加、管理授权色卡，以及将其分配给公司部门、品牌或注册用户为所有注册用户无缝提供即时色卡更新随产品附赠ColorReaderPRO 设备 便携盒 微型 USB 电缆 校准幻灯片 感谢卡规格技术规格描述测量几何构造45°/0° 类型光源8 盏高 CRI 白色 LED 灯光圈尺寸6 mm电池可充电锂聚合物，500 次测量/充电测试环境5° 至 40°C，相对湿度最高 85%接口USB、蓝牙 功能数据描述光源/观测器D65/10数据存储最多 10,000 个板载色彩移动应用语言英语、法语、意大利语、德语、西班牙语、简体中文 物理规格描述显示器类型OLED（有机发光二极管）重量61.5 克（2.2 盎司）尺寸 直径 长度 30.22mm (1.19 英寸)108.8mm (4.28 英寸)

美国胜佰德SANDPIPER气动隔膜泵Warren Rupp公司成立于1965年，至今已有四十余年的历史。它是美国排名三甲的著名的气动隔膜泵的专业生产厂家，在国际国内具有广泛的知名度，其标准品牌包括胜佰德SANDPIPER和马拉松MARATHON新产品WARRENRUPP出品利用iSADS&trade 技术的A系列标准负荷SANDPIPER泵，此设计用于陶瓷制品、油漆涂料市场的实际运行条件，实践证明该设计能有效减缓氧化铝和石英砂泥浆的磨损。服务市场：化学品、油漆和涂料、食品加工、医药、建筑、矿业、公用设施、造纸、陶瓷、石油化工、石油和天然气、金属抛光、工业和城市废水处理和工业维护应用：研磨材料和半固态材料、需考虑产品降解、无电区域应用。直流驱动便携式和气动潜水泵可应用于排水应用中。天然气驱动泵可应用于热油/乙二醇传输和井源润滑应用产品特点：输送磨损性介质和剪切性介质无密封设计不带电机输送粘性介质完全自吸流量可调干转无损多种出口连接方式免旁路和回流阀安全防爆无死点保证外部检修式气阀系统技术参数：型号口径冲程排量最大流量最大输送颗粒尺寸出口压力（最大）S05金属泵0.5&rdquo 0.098L57L/Min3mm8.6 BarS1F金属泵1&rdquo 0.42L170L/Min6mm8.6 BarS15金属泵1.5&rdquo 1.55L401L/Min6mm8.6 BarS20金属泵2&rdquo 1.59L567L/Min6mm8.6 BarS30金属泵3&rdquo 3.56L889L/Min9.5mm8.6 BarPB1/4塑料泵0.25&rdquo 0.04L15L/Min1mm6.9 BarS05塑料泵0.5&rdquo 0.098L52L/Min3mm6.9 BarS07塑料泵0.75&rdquo 0.098L87L/Min4mm6.9 BarS07T塑料0.75&rdquo 0.059L48L/Min9mm6.9 BarS10塑料泵1&rdquo 0.098L87L/Min4mm6.9 BarS1F塑料泵1&rdquo 0.64L170L/Min6mm6.9 BarS15塑料泵1.5&rdquo 1.36L340L/Min12mm6.9 BarS20塑料泵2&rdquo 1.36L568L/Min17mm6.9 BarS30塑料泵3&rdquo 3.41L901/Min18mm6.9 BarA20金属泵2&rdquo 1.36L643L/Min6mm8.6 BarA30金属泵3&rdquo 3.56L764L/Min9.5mm8.6 Bar 美国胜佰德SANDPIPER气动隔膜泵美国胜佰德SANDPIPER气动隔膜泵美国胜佰德SANDPIPER气动隔膜泵上海上碧实验仪器有限公司400-153-7120

恒温式快速石油密度、API度测试仪DA-300API-T 、DE-120API-T本系列产品主要针对各种化工溶液的密度与波美度测量，由Daho Meter『达宏美拓』研究生产，恒温系统与密度测量系统溶于一体，可将液体直接恒温至20℃状态下；或者其它指定温度下，实现液体密度与API度的快速测量；本仪器恒温范围10°C~50°C，精度达0.1°C；整机具有操作方便、精准度高、耐用性好等特点；适合于品质管理、配方研制、成本控制等方面的应用。主要针对：石油行业、能源行业；适合ASTM D1298标准规范，自动显示密度值、API度。 特点与优点：可恒温至20°C，或者其它温度，并可自由设定恒温范围：10°C~50°C，精度0.1°C直接显示密度、API度采用德国进口密度测量感应器，日本进口恒温系统没有烦琐的操作，易于安装具有温度补偿设定，空气浮力密度补偿设定可适应车间，实验室等场所提供三年品质保障服务操作方法：在显示0.000状态下，将盛有样品的测量杯放于恒温槽。待恒温至指定温度后，将浸没在样品中的标准砝码用挂钩悬挂于测量架中央，按ENTER键，显示即为当前温度下API值，标示符号指向S2技术指标： 品牌DahoMeter达宏美拓型号DA-300APII-TDE-120API-TAPI精度0.1°API0.01°APIAIP范围0.1~100.0°API0.01~100.00°API密度精度0.001 g/cm30.0001 g/cm3密度范围0.001~99.999g/cm30.0001~99.9999g/cm3温度精度0.1°C0.1°C温度范围10°C~50°C10°C~50°C测量原理阿基米德原理结果显示密度、API度校正方式单键自动校正、自动检测之功能测量结果验正方式蒸馏水验正输出方式RS-232C标准通信接口、方便测试数据输出与打印标准附件①主机、②100G砝码、③电源线一根、④含不锈钢挂钩2个、⑤标准玻璃砝码1个、⑦铝杯2个、⑧滴管2支选购附件①DE-40打印机 ②DE-20B防腐蚀性液体测量组件友情提示：正品货源识别方法：开机后可以显示：商标、型号、产品软件版本号、机身号，机身号与标贴上的机身号一致；产品显著位置，包装箱会直接印刷商标，型号标示清楚规范，售后服务电话标示显著；否则极有可能为伪劣假劣产品。

1产品简介Spider2000+便携式二维拉曼成像光谱仪采用如海光电自主研发的科研级微型共焦拉曼光谱仪RMS2000作为拉曼内芯，从而使得它拥有高灵敏度、高分辨率、强穿透能力以及较好的抑制荧光干扰能力。优化的光路设计可使得拉曼激光光束在通过长焦显微物镜后最小光斑可达到微米级别，可精确采集微米级样品的拉曼光谱。此外，仪器采用高精度二维自动化移动平台，可实现自动扫描mapping成像功能。Spider2000+便携式二维显微拉曼成像光谱仪配备专门为拉曼系统设计的长焦显微物镜，Spider2000+增加上光源反射式照明成像，可通过CCD相机获得样品清晰的显微明场成像，激光经过物镜后光斑接近衍射极限，克服了普通拉曼系统中收集拉曼信号的焦面稍高于或稍低于实际最佳焦面的问题，并且独特的共焦式设计使得样品荧光信号得到有效抑制，从而提高拉曼光谱质量。2产品特点高灵敏度：最低可检测到0.3%浓度无水乙醇特征峰。高分辨率：6cm-1@25μm狭缝。强大软件功能：支持mapping自动扫描、数据库识别等功能。高品质物镜，光斑可达微米级。高精度二维自动化平台。3应用领域4产品规格5应用场景试纸条扫描范围：1.5mm×30mm扫描点数：3×10采集条件：激光功率:50mW；积分时间500ms药品粉末扫描范围：11mm×11mm扫描点数：25×25采集条件：激光功率:500mW；积分时间500ms6典型图谱

TAPERADER 便携式表面磨损测量仪设备介绍 TAPERADER是一台便携式表面磨损测量仪，用于实时现场测试，数据真实可靠。该产品拥有国际、国内多项专利。TAPERADER具有应用范围广的特点，可对钢铁、有色金属、陶瓷、塑料等制品的表面进行测试。设备优点&mdash 便携式设计&mdash 实时的现场测试&mdash 数据真实可靠&mdash 测试速度快&mdash 应用专利技术应用领域&mdash 汽车行业&mdash 润滑油行业&mdash 薄膜润滑工作原理TAPERADER在微米尺度上对材料进行测量，测试时TAPERADER对材料表面会造成轻微损伤，类似于维氏硬度的测量。同时，TAPERADER可以将造成的磨损微区进行扫描，并且可以将图像显示出来。TPERADER在进行测试时，测试头以一定的负载对被测试表面进行挤压。测试时间大约为60s，然后，PERADER将进行自动的绘制扫描图像.

Zeta&trade -300光学轮廓仪Zeta&trade -300 可提供3D 量测和成像功能，与集成式防震台和灵活的配置相结合，可以处理更大的样品。该系统采用ZDot&trade 技术，可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-300 支持研发和生产环境，具有多模光学组件、易于使用的软件和低拥有成本。产品描述Zeta-300 光学轮廓仪是一款非接触式3D表面形貌测量系统。Zeta-300 以 Zeta-20 3D 轮廓仪的功能为基础，具有额外的防震选项和灵活的配置，可处理更大的样品。该 3D 光学量测系统由已获得专利的 ZDot 技术及多模式光学组件提供支持，可支持各种样品测量：透明和不透明、低反射率和高反射率、光滑表面和粗糙表面，以及从纳米到厘米范围的台阶高度。Zeta-300台式光学轮廓仪将六种不同的光学量测技术集成到一个可灵活配置且易于使用的系统中。ZDot测量模式同时收集高分辨率的3D扫描信息和样品表面真彩色图像。其他3D测量技术包括白光干涉测量法、诺马斯基光干涉对比显微法和剪切干涉测量法，膜厚测量包含使用ZDot模式测量和光谱反射的测量方法。Zeta-300 也是一款高端显微镜，可用于抽样检查或缺陷自动检测。Zeta-300 3D 轮廓仪通过提供全面的台阶高度、粗糙度及薄膜厚度测量以及缺陷检测功能，来支持研发 (R&D) 和生产环境。 特征配合ZDot及多模式光学组件，光学轮廓仪可以容易地实现各种各样的应用用于抽样检查和缺陷检测的高质量显微镜ZDot：同时收集高分辨率的3D扫描扫描信息和样品表面真彩色图像ZXI：采用z方向高分辨率的广域测量白光干涉仪ZIC：图像对比度增强，可实现亚纳米级粗糙度表面的定量分析ZSI：z方向高分辨率图像的剪切干涉测量法ZFT：通过集成式宽频反射测量法测量薄膜厚度和反射率AOI：自动光学检测，可量化样品缺陷生产能力：具有多点量测和图形识别功能的全自动测量 应用台阶高度：从纳米级到毫米级的3D 台阶高度表面：光滑表面到粗糙表面上的粗糙度和波纹度测试翘曲：2D或3D翘曲应力：2D或3D薄膜应力薄膜厚度：透明薄膜厚度由 30nm 至 100µ m 不等缺陷检测：捕获大于 1µ m 的缺陷缺陷表征：KLARF 文件可用于寻找缺陷，以确定划痕缺陷位置，测量缺陷3D表面形貌 行业 发光二极管 (LED)：发光二极管和 PSS（图形化的蓝宝石衬底）半导体和化合物半导体半导体 WLCSP（晶圆级芯片封装）半导体 FOWLP（扇出晶圆级封装）PCB（印刷电路板）和柔性印刷电路板MEMS：微机电系统医疗器械和微流体器件数据存储大学、研究实验室和研究所主要应用台阶高度Zeta-300 能够非接触式测量从纳米级到毫米级的3D台阶高度。ZDot和多模式光学组件可提供一系列方法来测量台阶高度。ZDot是主要测量的技术，可以快速测量从几十纳米到毫米级的台阶。ZXI干涉测量可用于在大范围内测量从纳米级到毫米级的台阶。ZSI剪切干涉测量可用于测量不到80nm的台阶。薄膜厚度Zeta-300 能够使用 ZDot 或 ZFT 测量技术测量透明薄膜的薄膜厚度。ZDot用于测量大于10µ m的透明薄膜，例如覆盖在高折射率的衬底上的光刻胶或微流体器件层。ZFT使用集成宽频反射仪测量30nm至100µ m的薄膜。这既可以运用于单层，也可以运用于多层薄膜堆叠，用户可以输入薄膜的性质或使用模型来拟合光谱。纹理：粗糙度和波纹度Zeta-300 测量3D 纹理、量化样品的粗糙度和波纹度。ZDot可以测量从几十纳米到非常粗糙的表面的粗糙度。ZSI和干涉测量可以测量从埃级到微米级的光滑表面。软件中的过滤器将测量结果分为粗糙度和波纹度两部分，并计算出均方根粗糙度等参数。诺马斯基光干涉对比显微法可以通过揭示斜率的微小变化来可视化非常精细的表面细节。翘曲：翘曲形状Zeta-300可以测量表面的2D和3D形状或翘曲。这包括半导体或化合物半导体器件生产过程中层间不匹配导致的晶圆翘曲的测量。Zeta-300 还可以量化结构（例如透镜）的3D 高度和曲率半径。应力：薄膜应力Zeta-300 能够测量具有多个工艺层的器件（例如半导体或化合物半导体器件）在生产过程中的应力。精确测量表面的翘曲度需要使用应力载台将样品支撑在中间位置。然后运用Stoney公式的原理根据工艺（诸如薄膜沉积）带来的形貌变化来计算应力。Zeta-300 通过在整个样品直径上以用户定义的间隔测量样品表面的高度，然后把数据合成样品形状的轮廓来测量2D应力。自动缺陷检测Zeta-300 能够通过自动光学检测 (AOI) 快速检测样品，区分不同的缺陷类型，并绘制整个样品的缺陷分布图。当与3D 量测功能结合使用时，Zeta-300 可以提供2D检测系统无法提供的缺陷高度信息，从而更快地分析缺陷来源。缺陷表征Zeta-300缺陷表征使用检查工具KLARF文件将样品台移动到缺陷位置。用户可以使用Zeta-300检测缺陷或测量缺陷的表面形貌，例如高度、厚度或纹理。这提供了更多无法从2D缺陷检测系统获得的缺陷细节。Zeta-300 还可以使用划线标记缺陷，从而使视场有限的工具（例如SEM）更容易找到缺陷。LED 图形蓝宝石衬底 (PSS)Zeta-300 光学轮廓仪支持图形化的蓝宝石衬底的量测和检测。该系统结合ZDot、背光源照明系统和自定义算法，可快速量化PSS圆锥的高度、宽度和间距。Zeta-300 还可用于测量图形化前后的光刻胶，从而使样品在蓝宝石蚀刻之前返工成为可能。PSS衬底的自动缺陷检测能够快速识别关键缺陷，例如PSS圆锥的缺失、圆锥的桥接、撕裂和污染。半导体和化合物半导体封装Zeta-300 支持晶圆级芯片封装 (WLCSP) 和扇出晶圆级封装 (FOWLP) 量测要求。一个主要的赋能技术是在干光刻胶膜完好无损的情况下测量镀铜的高度。这是通过从透明光刻胶到种子层测量铜柱的高度、光刻胶的厚度以及铜和光刻胶的相对高度差来实现的。其他应用包括重布线(RDL)、凸点下金属化(UBM)高度和纹理、光刻胶开口临界尺寸(CD)、光刻胶厚度和聚酰亚胺厚度的测量。还可以测量金属凸点的共面性，以确定凸点高度是否满足最终器件封装连接性要求。印刷电路板 (PCB) 和柔性 PCBZeta-300 的高动态范围功能可实现从纳米级到毫米级的表面粗糙度和台阶高度测量，无需更改配置。它可以处理高反射率薄膜（例如铜）以及 PCB 上常见的透明薄膜。Zeta-300 支持盲孔、线痕和热压焊的关键尺寸 (CD) 测量（高度和宽度）以及表面粗糙度。激光烧蚀Zeta-300 可以测量半导体、LED、微流体器件、PCB 等的激光表面处理引起的表面形貌变化。激光已被用于半导体、LED和生物医学设备等行业的精密微观尺度加工和表面处理。对于半导体行业，晶圆ID标记的深度和宽度的测量对于确保它可以在众多加工步骤中成功读取至关重要。微流体Zeta-300 能够测量由硅、玻璃和聚合物等材料制成的微流体器件。该系统量化了通道、孔和控制结构的高度、宽度、边缘轮廓和纹理。Zeta-300 可进行折射率补偿，测量用透明顶盖板密封后的最终器件，从而监测腔道的深度。生物技术Zeta-300 非常适合生物技术应用，可对具有从纳米级到毫米级特征的各种样品表面进行非接触式测量。Zeta-300 可以测量高深宽比台阶，例如生物技术器件的深孔深度。借助高数值孔径物镜和对反射能力极弱的样品的分辨能力，可以测量用于药物输送的微针阵列结构。

Zeta&trade -388光学轮廓仪Zeta&trade -388提供3D量测和成像功能，与集成防震台和晶圆操作系统结合，可实现全自动测量。该系统采用ZDot&trade 技术，可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-388支持研发和生产环境，具有多模光学器件、易于使用的软件、低拥有成本和SECS/GEM通信。产品描述Zeta-388光学轮廓仪是一款非接触式三维(3D)表面地貌测量系统。Zeta-388基于Zeta-300的功能，增加了用于全自动测量的机械手臂操作系统。该系统由已获得专利的ZDot技术及多模式光学组件提供支持，可支持各种样品测量：透明和不透明、低至高反射率及各种粗糙程度的纹理，以及从纳米到毫米范围的台阶高度。 Zeta-388光学轮廓仪集成了六种不同的光学量测技术，构建出一款可灵活配置且易于使用的系统。ZDot测量模式同时收集高分辨率的3D扫描信息和样品表面真彩色图像。其他3D测量技术包括白光干涉测量法、诺马斯基光干涉对比显微法和剪切干涉测量法，膜厚测量包含使用ZDot模式测量和光谱反射的测量方法。Zeta-388也是一款高端显微镜，可用于抽样检查或缺陷自动检测。Zeta-388通过提供全面的台阶高度、粗糙度和薄膜厚度测量、缺陷检测功能和机械手臂操作系统来支持研发和生产环境。 特征采用ZDot及多模式光学技术且便于使用的光学轮廓仪，可应对各种各样的应用程序用于抽样检查和缺陷检测的高质量显微镜ZDot：同时收集高分辨率的三维(3D)扫描及真彩色无限聚焦图像ZXI：采用纵向高分辨率的广域测量白光干涉仪ZIC：图像对比度增强，可实现亚纳米级粗糙度表面的定量分析ZSI：纵向高分辨率图像的剪切干涉术ZFT：通过集成式宽频反射测量法测量薄膜厚度和反射率AOI：自动光学检测，可量化样本缺陷生产能力：具有多点量测和图形识别功能的全自动测量机械手臂操作系统：自动加载直径为50毫米到200毫米的不透明（例如硅）和透明（例如蓝宝石）样品应用台阶高度：从纳米到毫米的3D台阶高度表面：光滑表面到粗糙表面上的粗糙度和波纹度测试翘曲：2D或3D翘曲应力：2D或3D薄膜应力薄膜厚度：透明薄膜厚度从30nm至100µ m不等缺陷检测：捕获大于1µ m的缺陷缺陷审查：KLARF文件可用于寻找缺陷，以确定划痕缺陷位置，测量缺陷3D表面形貌 工业无线通讯器件(SAW/BAW/FBAR)发光二极管(LED)：发光二极管和PSS（图形化的蓝宝石衬底）半导体和化合物半导体半导体WLCSP（晶圆级芯片封装）半导体FOWLP（扇出晶圆级封装）PCB（印刷电路板）和柔性电路板MEMS:微机电系统医疗器械和微流体元件主要应用台阶高度Zeta-388 能够非接触式测量从纳米级到毫米级的3D台阶高度。ZDot和多模式光学组件可提供一系列方法来测量台阶高度。ZDot是主要测量的技术，可以快速测量从几十纳米到毫米级的台阶。ZXI干涉测量可用于在大范围内测量从纳米级到毫米级的台阶。ZSI剪切干涉测量可用于测量不到80nm的台阶。薄膜厚度Zeta-388 能够使用 ZDot 或 ZFT 测量技术测量透明薄膜的薄膜厚度。ZDot用于测量大于10µ m的透明薄膜，例如覆盖在高折射率的衬底上的光刻胶或微流体器件层。ZFT使用集成宽频反射仪测量30nm至100µ m的薄膜。这既可以运用于单层，也可以运用于多层薄膜堆叠，用户可以输入薄膜的性质或使用模型来拟合光谱。纹理：粗糙度和波纹度Zeta-388 测量3D 纹理、量化样品的粗糙度和波纹度。ZDot可以测量从几十纳米到非常粗糙的表面的粗糙度。ZSI和干涉测量可以测量从埃级到微米级的光滑表面。软件中的过滤器将测量结果分为粗糙度和波纹度两部分，并计算出均方根粗糙度等参数。诺马斯基光干涉对比显微法可以通过揭示斜率的微小变化来可视化非常精细的表面细节。翘曲：翘曲形状Zeta-388可以测量表面的2D和3D形状或翘曲。这包括半导体或化合物半导体器件生产过程中层间不匹配导致的晶圆翘曲的测量。Zeta-388 还可以量化结构（例如透镜）的3D 高度和曲率半径。应力：薄膜应力Zeta-388 能够测量具有多个工艺层的器件（例如半导体或化合物半导体器件）在生产过程中的应力。精确测量表面的翘曲度需要使用应力载台将样品支撑在中间位置。然后运用Stoney公式的原理根据工艺（诸如薄膜沉积）带来的形貌变化来计算应力。Zeta-388 通过在整个样品直径上以用户定义的间隔测量样品表面的高度，然后把数据合成样品形状的轮廓来测量2D应力。自动缺陷检测Zeta-388 能够通过自动光学检测 (AOI) 快速检测样品，区分不同的缺陷类型，并绘制整个样品的缺陷分布图。当与3D 量测功能结合使用时，Zeta-388 可以提供2D检测系统无法提供的缺陷高度信息，从而更快地分析缺陷来源。缺陷表征Zeta-388缺陷表征使用检查工具KLARF文件将样品台移动到缺陷位置。用户可以使用Zeta-300检测缺陷或测量缺陷的表面形貌，例如高度、厚度或纹理。这提供了更多无法从2D缺陷检测系统获得的缺陷细节。Zeta-388 还可以使用划线标记缺陷，从而使视场有限的工具（例如SEM）更容易找到缺陷。LED 图形蓝宝石衬底 (PSS)Zeta-388 光学轮廓仪支持图形化的蓝宝石衬底的量测和检测。该系统结合ZDot、背光源照明系统和自定义算法，可快速量化PSS圆锥的高度、宽度和间距。Zeta-388 还可用于测量图形化前后的光刻胶，从而使样品在蓝宝石蚀刻之前返工成为可能。PSS衬底的自动缺陷检测能够快速识别关键缺陷，例如PSS圆锥的缺失、圆锥的桥接、撕裂和污染。半导体和化合物半导体封装Zeta-388 支持晶圆级芯片封装 (WLCSP) 和扇出晶圆级封装 (FOWLP) 量测要求。一个主要的赋能技术是在干光刻胶膜完好无损的情况下测量镀铜的高度。这是通过从透明光刻胶到种子层测量铜柱的高度、光刻胶的厚度以及铜和光刻胶的相对高度差来实现的。其他应用包括重布线(RDL)、凸点下金属化(UBM)高度和纹理、光刻胶开口临界尺寸(CD)、光刻胶厚度和聚酰亚胺厚度的测量。还可以测量金属凸点的共面性，以确定凸点高度是否满足最终器件封装连接性要求。激光烧蚀Zeta-388可以测量半导体、LED、微流体器件、PCB 等的激光表面处理引起的表面形貌变化。激光已被用于半导体、LED和生物医学设备等行业的精密微观尺度加工和表面处理。对于半导体行业，晶圆ID标记的深度和宽度的测量对于确保它可以在众多加工步骤中成功读取至关重要。微流体Zeta-388 能够测量由硅、玻璃和聚合物等材料制成的微流体器件。该系统量化了通道、孔和控制结构的高度、宽度、边缘轮廓和纹理。Zeta-388 可进行折射率补偿，测量用透明顶盖板密封后的最终器件，从而监测腔道的深度。生物技术Zeta-388 非常适合生物技术应用，可对具有从纳米级到毫米级特征的各种样品表面进行非接触式测量。Zeta-388 可以测量高深宽比台阶，例如生物技术器件的深孔深度。借助高数值孔径物镜和对反射能力极弱的样品的分辨能力，可以测量用于药物输送的微针阵列结构。

仪器简介：世界领先品牌之SANDPIPER（胜佰德）气动隔膜泵特性为整体螺栓式结构、完全自吸式、无密封、干转可变流量及扬程、可选择出口，可处理磨损性物体及高粘度物质，防爆、无死点保证。认证：ATEX、CSA、UL、CE、USDA、FDA.技术参数：密闭型球阀泵满足高度腐蚀性和危险化学液体应用需求的理想选择。所有CD型泵均拥有密闭腔、液压平衡/耦合泵和驱动器隔膜组件的独特设计所有密闭腔均设计可安装目测、机械和低电压检漏装置。CD泵可采用铝、铸铁、不锈钢或合金C、聚丙烯和Kynar制成，同时隔膜和止回阀还可采用TPE和PTFE。密封型球阀泵ESADS+Plus 全螺栓固定结构顶部排放出口球形止回阀轻巧-便携检漏密闭腔室耐用隔膜连杆90°-180°旋转歧管连接固体范围+1/4“（6MM）-3/4”（18MM），干自吸可达18Feet，自由立式支撑底座。主要特点：溢出密闭1、 可安全泵吸侵蚀性、未知、危险或有毒液体。2、 腔室可防止意外溢出进入气阀，保护工厂环境和人员。3、 可在泵完成在进行中的批量或计划任务后进行必要的维修。液压平和/耦合泵隔膜1、 隔膜在吸入和排放行程上实现平衡。2、 压力均匀分布在隔膜表面上 ，使挠曲寿命更长节约资金并减少停机时间1、 保护气阀部件免受污染，进一步减少部件维修和维护时间。2、 隔膜挠曲寿命更长，无需频繁的日常维护。

SPIDER系列产品 SPIDER系列产品是飞秒脉冲的高级测量和诊断仪器。全称：Special Phase Interfermetry for Direct Electric-field ReconstructionAPE公司有四款SPIDER： Compact LX-SPIDER—紧凑型SPIDER FC-SPIDER NIR—近红外波长SPIDER FC-SPIDER VIS—可见光波长 SPIDER SPIDER IR —红外光波长 SPIDERSPIDER的功能： 飞秒脉宽测量 光谱强度和位相测量，时域强度和位相测量 单脉冲强度和位相测量，实时测量 可以对飞秒振荡器进行测量，也可以对放大器 由计算机专业软件进行操作和测量LX-SPIDER技术参数：波长范围750 ... 900 nmOptics Set 1Optics Set 2光谱带宽13 ... 65 nm15 ... 5 nm脉宽（傅里叶变换极限）16 ... 150fs70 ... 200 fs脉宽(非傅里叶变换极限) 150 fs 300 fs输入偏振线偏或水平偏振输入功率 10 mW @ 80 MHz, 80 fs~ 20 mW @ 5 kHz, 35 fs特点： 设计紧凑、耐用 容易准直 实时操作 全自动 单发能力 Compact LX-SPIDER 产品图片 Compact LX-SPIDER产品尺寸FC SPIDER NIR 技术参数：波长范围550 ... 1050 nm光谱带宽 30 nm @ 800 nm脉宽（傅里叶变换极限）5 ... 200 fs输入偏振linear / horizontal输入功率 50 mW @ 80 MHz, 10 fs~ 20 mW @ 1 kHz, 20 fsFC SPIDER产品图片FC SPIDER产品尺寸FC SPIDER VIS技术参数：波长范围450 ... 900 nm光谱带宽10 ... 50 nm @ 550 nm脉宽（傅里叶变换极限）10 ... 150 fs @ 550 nm脉宽(非傅里叶变换极限) 150 fs输入偏振线性 / 水平输入功率On request可选项 (不包含):带座晶体供不同的中心波长中心波长500 nm600 nm700 nm800nm光谱带宽6 ... 30 nm14 ... 70 nm25 ... 125 nm40 ... 140 nm脉宽（傅里叶变换极限）12 ... 180 fs8 ... 120 fs6 ... 100 fs7 ... 80 fs脉宽(非傅里叶变换极限) 180 fs 120 fs 100 fs 80 fs其他波长可选：500-1000nm 660-1160nm测试截屏： FC SPIDER VIS产品图片FC SPIDER VIS产品尺寸SPIDER IR技术参数：波长范围970 ... 1070 nm光谱带宽＞6 ... 50 nm脉宽（傅里叶变换极限）10 ... 500 fs；5ps for chirp direction measurement only输入偏振线性 / 水平输入功率100mW@80MHz；20mW@1kHz关于德国APE公司： 德国APE公司成立于1992年，位于柏林，是世界上最大的飞秒测量诊断仪器和超快光参量振荡器的制造商。APE公司的自相关仪已经形成行业的标准，是最普及的飞秒脉宽测量仪器。APE是世界上最大的皮秒和飞秒光参量振荡器（OPO）制造商！当今市场上很多著名的飞秒光参量振荡器和皮光参量振荡器其实是APE公司原产的。其中APE公司的皮秒OPO排他性的在非斯塔克斯拉曼光谱（CARS）领域取得成功！全世界有超过50个研究组在由APE公司的皮秒OPO做CARS和CRS（相干拉曼光谱）方面的研究。

多功能X射线衍射/反射仪 提供科研开发工作所需的各种X射线测试解决方案 Jordan Valley公司zui新设计的Delta-X是多功能的X射线衍射设备，可灵活应用于材料科学研究、工艺开发、与生产质量控制。Delta-X衍射仪的光源台和探测台的光学元件可以全自动化调控，并采用水平式样品台。Delta-X衍射仪可以在常规衍射模式、高分辨率衍射模式、X射线反射模式之间灵活切换。光学配置的切换完全在菜单式程序控制下由计算机完成，无需手动操作。自动化切换和准直不需要专门人员和操作设备，并确保每次切换都能达到zui佳的光学准直状态。 常规的样品测量可以通过Delta-X衍射仪，实现部分、乃至完全的自动化运行，自动化测量程序可以依客户需求进行专门定制。也可采用完全的手动模式操作Delta-X衍射仪，以便发展新测量方法，研究新材料体系。 数据分析或拟合可以作为测量程序的一部分，可实现完全自动化，也可依据需要单独进行数据分析。 依半导体生产线的需求，将RADS和REFS拟合软件以自动化模式运行，允许在没有用户干扰的情况下自动完成常规性的数据分析，并直接完成数据拟合和结果输出。RADS和REFS也可以单独安装，以便进行更详细的数据分析。 Delta-X衍射仪能满足科学研究所和技术开发中心 不同材料体系的全方位测试需求。 Delta-X 衍射仪的主要特点和优势n 自动化进行样品准直、测试、和数据分析n 客户可以自行设定测量的自动化程度n 300mm的欧拉环支架(Eulerian Cradle)设计，高精度的样品定位和扫描n 300mm的晶片水平式放置，且可以完整mappingn 100o的Chi轴倾转范围、无限制范围的Phi轴旋转空间，可实现极图和残余应力测试n 智能化的光学配置切换和准直。依测量需要，自动选择光学配置并实施光学准直n 工业界先的设备控制软件和数据分析软件n 高分辨率测角仪，以保证精密且准确的测量n 高强度的光源台设计和光学元件组合，以实现快速测量n 多方面广泛的测试技术和测量参数n 由拥有超过30年的高分辨率X射线衍射经验的世jie级专家设计、制造，具有全球客户经验。 Delta-X衍射仪的特点和优势自动化控制的光学系统:Delta-X衍射仪的入射束包括多种标准的光学配置模式，以便使光学配置具有充分的灵活性，且易于操作。可以依据测量样品的材料类型，选择参考晶体。 n 标准模式：用于所有系统，平行束多层膜高反镜n 其他四种光学系统可以选择和安装：n Bragg-Brentano镜 (Johannson光学元件)n Bragg-Brentano镜 (Johannson光学元件)和一个参考晶体(二次反射)n 两个独立的参考晶体(二次反射)：参考晶体的材料类型和分辨率有多种设计供选择，以便提供与测量zui匹配的分辨率。n 两个参考晶体，以Bartels模式安装n 参考晶体和高反镜均可自动化切换n 不需要将参考晶体和高反镜手动移出衍射仪，保证光学元件不被损坏、不偏离准直状态。n 衍射仪的初始准直易于操作，安全可靠，无需在设备内开启X射线操作。 样品台可放置直径≤300mm晶片或多个小尺寸晶片、样品Delta-X衍射仪的欧拉(Eulerian )环支架设计允许放置单个或多个晶片或样品，并提供多个转动轴的大范围、高再现性的精确移动控制。 n 水平式样品放置n 可实现X和Y轴方向上，300mm内的完整mapping测量，无边缘测量失真的现象n 10mm的Z轴高度范围，即使对厚样品也可以调整晶片高度，获得zui佳测量位置n 在样品盘的不同位置，设计了均匀、无扭曲的真空轻度吸附，既适合大尺寸晶片放置，又适合独立、小尺寸晶片的多片式放置n 100°的Chi轴倾转范围，可实现完整的极图和残余应力测量n Phi轴的旋转范围无限制，可实现完整的极图和面内衍射测量

Zeta&trade -20光学轮廓仪Zeta&trade -20是一个高度集成的光学轮廓显微镜，可在紧凑、耐用的包装下提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot&trade 技术，可同时收集高分辨率3D形貌信息和样品表面真彩色图像。Zeta-20 3D显微镜支持研发和生产环境，具有多模光学器件、易于使用的软件和性价比高等优势。Zeta-20HR 提供专业的太阳能电池量测解决方案。产品说明Zeta-20台式光学轮廓仪是一款非接触式3D显微镜及表面形貌测量系统。该 3D 光学量测系统由已获得专利的 ZDot 技术及多模式光学组件提供支持，可支持各种样品测量：透明和不透明、低反射率和高反射率、光滑表面和粗糙纹理，以及从纳米到厘米范围的台阶高度。Zeta-20台式光学轮廓仪集六种不同的光学量测技术于一身，是一款可灵活配置且易于使用的系统。ZDot测量模式同时收集高分辨率的3D扫描信息和样品表面真彩色图像。其他3D测量技术包括白光干涉测量法、诺马斯基光干涉对比显微法和剪切干涉测量法，膜厚测量包含使用ZDot模式测量和光谱反射的测量方法。Zeta-20 也是一款高端显微镜，可用于抽样检查或缺陷的自动检测。Zeta-20通过提供全面的台阶高度、粗糙度及薄膜厚度测量以及缺陷检测功能来支持研发 (R&D) 和生产环境。 特征配合ZDot及多模式光学组件，光学轮廓仪可以容易地实现各种各样的应用用于抽样检查和缺陷检测的高质量显微镜ZDot: 同时收集高分辨率的3D扫描扫描信息和样品表面真彩色图像ZXI：采用z方向高分辨率的广域测量白光干涉仪 ZIC：亚纳米级粗糙度表面的定量3D数据的干涉对比ZIC：图像对比度增强，可实现亚纳米级粗糙度表面的定量分析ZSI：z方向高分辨率图像的剪切干涉测量法ZFT：通过集成式宽频反射测量法测量薄膜厚度和反射率AOI：自动光学检测，可量化样品缺陷生产能力：具有多点量测和图形识别功能的全自动测量台阶高度：从纳米级到毫米级的3D 台阶高度表面：光滑表面到粗糙表面上的粗糙度和波纹度测试翘曲：2D或3D翘曲应力：2D 或3D 薄膜应力薄膜厚度：透明薄膜厚度由 30nm 至 100µ m 不等缺陷检测：捕获大于 1µ m 的缺陷缺陷表征：KLARF文件可用于寻找缺陷，以确定划痕缺陷位置，测量缺陷3D表面形貌 行业太阳能：光伏太阳能电池半导体和化合物半导体半导体WLCSP（晶圆级芯片封装）半导体FOWLP（扇出晶圆级封装）PCB（印刷电路板）和柔性印刷电路板MEMS：微机电系统医疗器械和微流体器件数据存储大学、研究实验室和研究所主要应用台阶高度Zeta-20能够非接触式测量从纳米级到毫米级的3D台阶高度。ZDot和多模式光学组件可提供一系列方法来测量台阶高度。ZDot是主要测量的技术，可以快速测量从几十纳米到毫米级的台阶。ZXI干涉测量可用于在大范围内测量从纳米级到毫米级的台阶。ZSI剪切干涉测量可用于测量不到80nm的台阶。薄膜厚度Zeta-20能够使用ZDot或ZFT测量技术测量透明薄膜的薄膜厚度。ZDot用于测量大于10µ m的透明薄膜，例如覆盖在高折射率的衬底上的光刻胶或微流体器件层。ZFT使用集成宽频反射仪测量30nm至100µ m的薄膜。这既可以运用于单层，也可以运用于多层薄膜堆叠，用户可以输入薄膜的性质或使用模型来拟合光谱。纹理：粗糙度和波纹度Zeta-20测量3D纹理、量化样品的粗糙度和波纹度。ZDot可以测量从几十纳米到非常粗糙的表面的粗糙度。ZSI和干涉测量可以测量从埃级到微米级的光滑表面。软件中的过滤器将测量结果分为粗糙度和波纹度两部分，并计算出均方根粗糙度等参数。诺马斯基光干涉对比显微法可以通过揭示斜率的微小变化来可视化非常精细的表面细节。翘曲：翘曲形状Zeta-20可以测量表面的2D和3D形状或翘曲。这包括半导体或化合物半导体器件生产过程中层间不匹配导致的晶圆翘曲的测量。Zeta-20还可以测量结构（例如透镜）的3D高度和曲率半径。应力：薄膜应力Zeta-20能够测量具有多个工艺层的器件（例如半导体或化合物半导体器件）在生产过程中的应力。精确测量表面的翘曲度需要使用应力载台将样品支撑在中间位置。然后运用Stoney公式的原理根据工艺（诸如薄膜沉积）带来的形貌变化来计算应力。Zeta-20通过在整个样品直径上以用户定义的间隔测量样品表面的高度，然后把数据合成样品形状的轮廓来测量2D应力。自动缺陷检测Zeta-20能够通过自动光学检测(AOI)快速检测样品，区分不同的缺陷类型，并绘制整个样品的缺陷分布图。当与3D量测功能结合使用时，Zeta-20 可以提供2D检测系统无法提供的缺陷高度信息，从而更快地分析缺陷来源。缺陷表征Zeta-20缺陷表征使用检查工具KLARF文件将样品台移动到缺陷位置。用户可以使用Zeta-20检测缺陷或测量缺陷的表面形貌，例如高度、厚度或纹理。这提供了更多无法从2D缺陷检测系统获得的缺陷细节。Zeta-20还可以使用划线标记缺陷，从而使视场有限的工具（例如SEM）更容易找到缺陷。光伏太阳能电池Zeta-20光学轮廓仪非常适合太阳能电池应用，因为它支持测量同时具有非常低和非常高反射率材料的表面。该系统可以量化蚀刻后纹理——反射率不到1%的金字塔结构，这对太阳能电池的光捕获能力至关重要。与这些纹理相邻的是反射率大于90%的银浆接触线。具有ZDot和高动态范围测量技术的Zeta-20可以同时测量反射率非常低和非常高的区域，量化银浆线的高度、宽度和沉积银浆体积，从而确定电阻数值。此外，Zeta-20还可用于测量来料硅片的粗糙度、隔离沟道深度、样品翘曲度、应力和3D缺陷，使用ZFT还可以测量氮化物膜厚度。半导体和化合物半导体封装Zeta-20支持晶圆级芯片封装(WLCSP)和扇出晶圆级封装(FOWLP)量测要求。一个主要的赋能技术是在干光刻胶膜完好无损的情况下测量镀铜的高度。这是通过从透明光刻胶到种子层测量铜柱的高度、光刻胶的厚度以及铜和光刻胶的相对高度差来实现的。其他应用包括重布线(RDL)、凸点下金属化(UBM)高度和纹理、光刻胶开口临界尺寸(CD)、光刻胶厚度和聚酰亚胺厚度的测量。还可以测量金属凸点的共面性，以确定凸点高度是否满足最终器件封装连接性要求。印刷电路板 (PCB) 和柔性 PCBZeta-20 的高动态范围模式可实现从纳米级到毫米级的表面粗糙度和台阶高度测量，无需更改配置。它可以处理高反射率薄膜（例如铜）以及 PCB 上常见的透明薄膜。Zeta-20支持盲孔、线痕和热压焊的关键尺寸测量（高度和宽度）以及表面粗糙度。激光烧蚀Zeta-20 可以测量半导体、LED、微流体器件、PCB等的激光表面处理引起的表面形貌变化。激光已被用于半导体、LED和生物医学设备等行业的精密微观尺度加工和表面处理。对于半导体行业，晶圆ID标记的深度和宽度的测量对于确保它可以在众多加工步骤中成功读取至关重要。Zeta-20可以测量柔性电路和晶圆上创建的高深宽比孔的台阶高度。它还可以测量太阳能电池隔离沟道的深度和宽度，从而提高器件效率。微流体Zeta-20能够测量由硅、玻璃和聚合物等材料制成的微流体器件。该系统量化了通道、孔和控制结构的高度、宽度、边缘轮廓和纹理。Zeta-20 可进行折射率补偿，测量用透明顶盖板密封后的最终器件，从而监测腔道的深度。生物技术Zeta-20非常适合生物技术应用，可对具有从纳米级到毫米级特征的各种样品表面进行非接触式测量。Zeta-20可以测量高高宽比台阶，例如生物技术器件的深孔的深度。借助高数值孔径物镜和对反射能力极弱的样品的分辨能力，可以测量用于药物输送的微针阵列结构。数据存储Zeta-20 CM专门用于测量磁盘边缘几何图形和检查污染或损坏。在磁盘的边缘，顶面表面和侧面之间的转变必须具有光滑的斜切面，否则磁盘边缘的扰动可能导致读写头在磁盘上遭受毁灭性的撞击。该系统配置包括一个倾斜样品台，用于在边缘测量和检测期间旋转圆盘。

DELTA仪器公司根据FIFA和CEN的标准描述,检测人造草坪的耐磨度, 德尔塔仪器研发了草皮磨损测试仪来进行模拟机械磨损测试.这种草皮磨损测试仪能够进行两种模拟测试：随机加力磨损测试和横向运动磨损测试，这些相关标准指定的磨损测试方式可以避免产生测试实验的规律性。通过Lisport20耐磨损测试设备上的钉辊在人造草坪样品上来回碾压，模拟正常使用时，运动员穿着带钉运动鞋在草坪上运动，达到一定的时间周期后，检验、评价草坪的磨损情况。耐磨性能良好的人造草坪更耐用，使用寿命更长久。本试验机结合国外先进同类设备优点并自主创新，采用横纵两维方向上的两个独立运动系统更合理地模拟人造草坪实际使用时的磨损情况，并且结构紧凑，噪音小，操作简单，便捷美观。主要技术参数：1.控制方式：德国西门子PLC和触摸屏操作；2.显示方式：7吋真彩液晶屏显示，型号：SMART700；3.工作方式：手动、自动可选择；4.数据输出：标配RS232接口，打印输出；5.驱动装置：伺服电机驱动；主马达（1 台）： 松下；高度升降步进马达（1 台）：雷赛；横向移动马达（1 台）：变频交流电机；6.测试精度：尺寸D±0.2mm,位置P±2mm；7. 辊筒要求：2×0.3米,双辊筒；滚轮直径118±5mm,每个滚轮重（28500±500）克（含滚轮、鞋钉和轴），特别设计的自带鞋钉柱状磨损辊筒；8.试验次数：标准要求内任意可设定；9.试验速度：标准要求内任意可设定；10.设备电源：AC220V 50Hz；3KW。设备性能特点：Delta德尔塔仪器公司特别设计的机器上的抽屉装置可以方便的更换测试样品,监测测试效果和添加填充材料.特别设计的槽状装置可以收集多余的填充材料.全部监测操作流程可以在透明的外壳外进行观测。 FIFA力学磨损检测设备 测试范围较大 样品检查与更换快捷 自动调整样品厚度 更高透明度与安全性 符合FIFA09，BS & EN13672：2004，BS & EN15306标准要求1. 特别设计的自带鞋钉柱状磨损辊筒在测试过程中容易调整，调节器可控制辊筒向左或向右，以配合有关测试的人造草皮。测试完成后，可升高滚轮，方便更换样品。2. 整体采用透明的、密封外壳框架式结构，仪器造型美观大方、隔音效果强，试验过程安全性稳定性高。仪器试验过程中产生的仪器外部配有铝合金框架+有机玻璃保护罩，测试时必须关闭全部安全保护门，在测试过程中，如打开安全门，机械机构将自动全部暂停，以确保测试人员的生命安全。3. 整机采用智能化控制，在控制面可设定板是草坪测试的全部操作。只要在控制台输入所需要的参数，之后机器将自动循环测试。在测试过程中可随时暂停测试，打开安全门，观察样品的损耗度。符合标准：2.1、满足FIFA09，BS & EN13672：2004，BS & EN15306，GB/T 20394-2013等相关测试标准要求。2.2、国际足联——FIFA Quality Concept for Football Turf, 2006.8. 人造草丝产品耐久性测试要求（及设备），如下：2.3、耐久性测试——抗磨损性。 抗磨损性：草皮用人工方法磨损（模拟磨损5年的情况），并测试以下内容：震动吸收、垂直变形、球垂直反弹以及旋转阻力（如表1）。表1 抗磨损性测试内容：测试性能测试方法质量指针抗磨损性EN 13672测试磨损后样品的震动吸收、垂直变形、球垂直反弹以及旋转阻力

The ideal fluorescence microscope illuminator for quantitative intracellular ion research of Fura-2 [Ca++], BCECF [pH], SBFI [Na+], FRET and much moreThe patented DeltaRAM™ X microscope Illuminator is the ideal fluorescence illuminator for quantitative intracellular ion research. It utilizes a galvanometer based random access monochromator that can switch between any wavelength in 2 milliseconds. The DeltaRAM™ X is a complete, self contained, illuminator that includes a power supply, high intensity xenon light source, DeltaRAM™ X monochromator, TTL shutter and flexible liquid light guide. The wavelength position is a simple analog voltage control. All you need to add is a microscope adapter for your fluorescence microscope and a USB or PCI DAC interface depending on the software you will be using to drive the illuminator. The DeltaRAM was developed and patented by our sister company Photon Technology International (PTI) with hundreds of installed systems around the world. PTI is the pioneer in the quantitative ratio fluorescence marketplace having introduced the first patented ratio illuminator, the Deltascan™ , shortly after the first Fura-2 publication. The DeltaRAM™ X is the newest standard illuminator used with the complete line of PTI EasyRatioPro quantitative fluorescence imaging systems, as well as the PTI RatioMaster™ millisecond PMT photometry system. The DeltaRAM™ X is widely recognized as the multi-wavelength illuminator of choice with outstanding reliability and customer support. For a list of publications citing the DeltaRAM refer to our Applications Page.Compatible DeltaRAM™ X vendor and software platformsThe DeltaRAM™ X can be controlled directly with a variety of third party imaging and instrument software, and OBB provides a number of USB and PCI driver interfaces to support these packages. Photon Technology International: RatioMaster, EasyRatioProMolecular Devices: MetaMorph, MetaFluor Nikon Instruments: ElementsMicro-ManagerOpen Source Microscopy SoftwareNational Instruments: LabVIEWMeasurement Computing DAC’sBetter than a Filter Wheel:Key benefits of the DeltaRAM™ X versus traditional filter wheel illuminatorsMuch faster wavelength switching timesVibration isolationPrecise selection of any excitation wavelength and any spectral bandwidthMaximum dynamic range for ratiometric dyes (Fura-2 Rmax/Rmin = 40 with DeltaRAM™ X)Excitation wavelength scanningMuch greater value for about the same priceFeatured Technical NoteAdvantages of Using a Scanning Monochromator for Ratio Fluorometric Experiments(233 KB PDF) Key Components of the DeltaRAM™ XPowerArc™ xenon arc lamp illuminator and power supplyDeltaRAM Random Access MonochromatorLiquid light guideMicroscope adapter (optional)USB or PCI interface (optional) PowerArc™ Lamp Housing The DeltaRAM™ X is powered by a proprietary PowerArc™ lamp housing that requires no cooling or venting. It uses an on-axis ellipsoidal reflector for light collection to collect 70% of the radiant energy from the 75 watt xenon arc lamp compared to only 12%collection efficiency for traditional microscope fluorescence illuminators. The ellipse literally wraps around the arc lamp, collecting 5 to 6 times more output power than from a conventional lamp housing. This outstanding collection efficiency and brightness assures the delivery of as much light as possible through the DeltaRAM™ X random access monochromator. The PowerArc lamp housing is powered by a simple push button, ignition safe, integrated power supply with a lamp usage meter. Patented DeltaRAM™ X Random Access Monochromator The heart of the DeltaRAM™ X illuminator is the Random Access Monochromator. The DeltaRAM™ X monochromator is a scanning monochromator that delivers light anywhere from 250 to 650 nm. The monochromator uses a grating to disperse the different wavelengths of light from the incident white light xenon lamp. The scanning element inside the monochromator is a galvanometer which can switch between wavelengths in 2 milliseconds. With a simple and direct voltage control the DeltaRAM monochromator can hop around to multiple wavelength pairs much like a filter wheel. The DeltaRAM™ X however is much faster. It can be continuously tuned to any precise wavelength from 260 to 650 nm and it has an adjustable bandwidth. It can even be scanned like a traditional monochromator to provide spectra.The DeltaRAM™ X has a continuously adjustable bandwidth because there is no best bandwidth to do any particular fluorescence experiment. Some users prefer to keep the bandwidths as narrow as possible while still getting good throughput because a narrower slit will have less photobleaching. Some experiments however require opening up the slits to maximize speed or signal to noise. With ratiometric experiments such as with Fura-2 or BCECF you want to be sure that the bandwidth is not so large that you will get cross talk between the two excitation channels. For this reason the DeltaRAM™ X lets you empirically test and precisely set the best bandwidths for you. The bandwidth is continuously adjustable from 0 to 24 nm with a manual slit adjustment.DeltaRAM™ X Wavelength ControlThe DeltaRAM™ X is operated remotely, so it requires an external interface, or DAC, that is run by software. To control the DeltaRAM™ X wavelength position you need an interface device that provides a voltage to a BNC connector labeled “position” on the unit. The wavelength position is linear with respect to applied voltage as follows.DeltaRAM Position:Applied VoltageCorresponding Wavelength4.87 volts 250 nm0 volts450 nm-4.87 volts650 nm DeltaRAM™ X Shutter ControlThere is a BNC connector labeled “shutter” to digitally open and close the shutter. This is a simple solenoid shutter that is not intended for high speed shuttering.DeltaRAM™ X DAC Interface OptionsPCI DAC:The DeltaRAM™ X can be purchased with an optional 16 bit PCI DAC board that is slotted into a computer. A PCI DAC is necessary for millisecond wavelength switching.USB DAC:OBB also offers two low cost optional USB DAC interfaces for slower wavelength switching requirements. One is based on a National Instruments driver and the other uses a Measurements Computing driver.The OBB USB DAC using the National Instruments driver converts input commands from 0 to +5 volts into +4.87 to -4.87 volts on the Analog Out 1 BNC. As such, input commands from 0 to 5 volts drive the DeltaRAM™ X from 250 to 650 nm. This interface includes BNC connectors for Shutter 1 and 2, Trigger A and B, Analog Out 1 (DeltaRAM™ X Position) and 2.The OBB USB DAC using the Measurements Computing driver converts input commands from 0 to +5 volts into +4.87 to -4.87 volts on the Analog Out 1 BNC. As such, input commands from 0 to 5 volts drive the DeltaRAM™ X from 250 to 650 nm. This interface includes BNC connectors for Shutter Out, TTL In, TTL Out and Analog Out (DeltaRAM™ X Position)OBB DAC Software:ALL OBB DAC interfaces come with a LabVIEW driver and a simple USB 1.1 compatible interface with a very basic control software package that is Windows2000/XP compliant. This simple program will allow you to set and move wavelengths and manually open and close the shutter.SpecificationsExcitation Wavelength Range250–650 nm Wavelength Selection Speed 2 millisecondsBeam Uniformity 5%Stray-light rejection 10-4Wavelength Accuracy+/- 1 nmOptical Output 15 mW of optical output in 10 nm bandwidth Wavelength Bandwidth Adjustable from 0–24 nm (manual adjust)Microscope CouplingTwo meter Liquid Light guide included, and optional adaptors for user specified fluorescence microscope (either direct or epi port coupled)Wavelength Control BNC control voltage Shutter Control BNC TTL

海思科技 吴先生 探针式轮廓仪新标杆-升级到最优性能 德国布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰，更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT一定能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。薄膜测试—确保高产在半导体制造中严密监测沉积和蚀刻比率均匀性，薄膜应力，能节省大量时间和金钱。薄膜的不均匀或太大的应力会导致地产及成品性能欠佳。DektakXT能方便快捷地设置和运行自动多点测试程序来检验晶片薄膜的精确厚度，达到纳米级别。DektakXT无与伦比的重现性提供给工程师精确的薄膜厚度和应力测试，来精确调节蚀刻和沉积以提供收益表面粗糙度检测—确保性能DektakXT适合很多产业（包括汽车、航空和医疗设备）的精密机器零部件的表面粗糙度常规鉴定。例如，矫形植入物的背面的羟磷灰石涂层粗糙度会影响植入后的粘结力和功效。利用DektakXT进行表面粗糙度的快速分析能力判断晶质生产是否达到预期，植入物能否通过产品要求。使用Vision64数据库的pass/fail标准，质量管理部门能轻松判断植入物是重做或者确保其质量太阳能光栅线分析—降低制造成本在太阳能市场，Dektak是测量单晶硅和多晶硅太阳能面板上导电银栅线临界尺寸的首选。银线的高度、宽度和连续性与太阳能电池的能量引导紧密相关。生产的理想状态是恰如其分地使用银，以具有最好的导电性，而不浪费昂贵的银。Dektak XT 通过软件分析来实现，报告银栅线的临界尺寸，以确定出现导电性所需的精确分量。Vision64的数据分析方法和自动功能有助于该验证过程的自动化。微流体技术—检测设计和性能Dektak XT是唯一能在大垂直范围（高达1mm），测量感光材料达到埃级重现性的探针轮廓仪。MEMS和微流体技术行业的研究者能使用Dektak XT来进行鉴定测试，确保零件符合规格。低作用测量功能NLite+轻触感光材料来测量垂直台阶和粗糙度40多年不断创新建立在40多年的探针轮廓技术创新的知识和经验之上—第一部薄膜测试仪，在第一部基于微处理器的轮廓仪，和第一部300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的“第一”。新的DektakXT是首部single-arch设计的探针轮廓仪，首部内置真彩高清光学摄像机，及安装64-bit并行处理架构已获得最佳测量及操作效率的探针轮廓仪全球有超过一万台设备，品牌Dektak以质量、可靠性及高性价比著称。当需要台阶高度、表面粗糙度的精确、可靠测量时，人们就会借助Dektak。引进DektakXT，Bruker能让您进一步获得可靠及高效的表面测量提高数据采集和分析速度利用独特的直接驱动扫描平台，Dektak XT减少了扫描间的时间，而没有影响分辨率和北京噪声。这一改进大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描（就探针轮廓仪而言，通常是耗时的）的扫描速度。在保证行业领先的质量和重现性前提下，DektakXT可以将数据采集处理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64，它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内最有效的直观用户界面，简化了实验操作设置，自动完成多扫描模式，让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。实现测量的可重现性DektakXT的领先设计使其在测量台阶高度重现性方面具有优异的表现，台阶高度重现性可优于4埃。使用single-arch结构比原先的悬臂梁设计更加稳固，降低了对不利环境条件的敏感性，如声音和震动噪音应用行业：触摸屏、半导体、太阳能、超高亮度发光二极管（LED）、医学、材料科学、高校、研究所、微电子、金属等行业实现纳米级表面形貌测量台阶仪Dektak XT能实现：无可匹敌的性能，台阶高度重现性低于4埃Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性先进的“智能电子器件”设立了新低噪音基准新硬件配置使数据采集时间缩短40%64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了10倍频率空前，操作简易直观的Vision64用户界面，操作简易针尖自动校准系统，无与伦比的价值布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现最高的性能单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围

AKTAready&trade 是专为药物临床早期生产和工艺规模放大而设计的工业层析系统。该系统使用可更换的预先经消毒灭菌的流路进行操作，通过快速更换高流速或低流速管路组件，该系统可实现从50ml/min到510L/hr超宽流速范围，涵盖从70mm~450mm内径的层析柱，灵活用于不同规模的生产纯化 AKTAready&trade 系统耐受蛋白质回收工艺中的化学剂，包括吸收、洗脱和冲洗缓冲液，以及生产和清洗溶液。所有产品都具有经验证的质量，整个液路都是一次性的。所有洗涤材料都完全生物相容（USP Class VI），并且所用材料均可追溯至其生产批。 Flow 套件是在受控环境下生产，并且使用经确认的方案在洁净室（ISO 8）内包装。 专门设计用于药物开发I期到III期的流程扩展和生产，以及GLP和cGMP标准的全规模生产。系统操作的简化和产品批次之间停工期的缩短节省了启动时间以及人工及消耗品的花费，改善了成本效率和生产力。AKTAready&trade 以即用型一次性流程进行操作，排除了交叉污染的风险，以及清洁和对清洁程序进行验证的需要。 新型AKTAready&trade 包括色谱柱、UNICORN&trade 软件以及含有传感器和检测流动室的ReadyToProcess&trade Flow试剂盒。UNICORN&trade 带有安装向导，提供了色谱柱安装的操作指南和报告，确保试剂盒的正常工作。所有的AKTA&trade 系统使用了相同的软件，能够轻松实现流程的扩展和完整cGMP生产中AKTAprocess&trade 的快速转换。 AKTAready&trade 系统由大量的产品监控文档和服务提供支持，具体包括验证文档、有关使用材料信息的产品文档、美国药典第六类CFR 177和AOF证书，以及监控支持文件（RSF）。 ReadyToProcess&trade 平台由应用整个工艺的即用即取型溶液组成。完成纯化任务后，柱和液路（如AKTAready&trade Flow 套件）可弃置，也可用于同一纯化流程的其它产品批次。ReadyToProcess&trade 概述可加速工艺操作，这是因为其操作步骤更少：无需建立和确认清洗过程，也没有复杂的设置步骤。可迅速改变液路，停工时间少于 1 小时，这样就可节省时间、投资、启动成本，以及人工和耗材成本。产品特性●可轻松更换整套液路，消除了系统清洗过程，包括方法开发与确认过程●由于操作程序更简化，且产品/批次间的停工时间更短，故改进了经济性和生产率●产品/批次之间的交叉污染风险被消除●随附内容广泛的产品文件●在智能的UNICORN&trade 软件的控制下工作的，这个软件可以让您控制纯化进程的每一步都变得相当便利。 更多详情请来电咨询。点击查看更多AKTA&trade 系列产品：

一款具有智能化图像采集和分析功能的高性价比、高度集成的成像分析系统。主要特点：融合了 Molecular Devices 30多年自动成像的经验新产品，ImageXpress Pico是一款高度集成的封闭型、桌面级、多功能成像分析系统；能够方便地安装于任何实验室内，也可根据您实验的需求选择最合适的物镜、滤光片以及是否加入环境控制系统。环境控制模块：软件实时控制温度、CO?、O?和湿度，在细胞最优条件下进行活细胞实验。Z-Stack成像模式：产生具有更大景深的清晰图像。获取一系列不同焦点的图像，以获取比单个切片更多的细节。您可采用全部的片层或者选择相应片层作为最终的投影。更多LEDs和滤光片模组——Cy5、TRITC、FITC、DAPI、Texas Red、CFP、白光以及RGB，总有一个通道适合您的实验需求。软件新增加了双标记表达分析模块，可实现多波长细胞分类，满足多参数细胞分析实验。如多参数细胞毒性、细胞死活（核染色）、干细胞分化等。参数： 操作模式：白光/明场，RGB彩色成像，荧光，导航定位拍摄(玻片) 物镜：6位可更换物镜转换器。 Leica显微物镜FLUOTAR: 4x/NA 0.13, 10x/NA 0.32, 20x/NA 0.40, 40x/NA 0.60, 63x/NA 0.70 通道：Cy5，TRITC，FITC，DAPI，Texas Red，CFP白光和RGB 自动聚焦方式：硬件自动聚焦或硬件辅助的图像自动聚焦 成像方式单色、多色、时间序列、Z-stacking 支持样品：1- to 384-孔板和玻片 操作系统：Windows 10 (服务器)，Windows 10和Mac OS(客户端) 环境控制附件： 温度室温- 40°C CO2: 0.1%-20% O2: 1-19% 湿度控制，最大限度降低蒸发 尺寸(cm)：45.3 (H) x 55.1 (W) x 43.5 (D) 重量(kg)：38 kg包含附件应用领域可轻松实现孔板低密度细胞及组织的成像及生物学分析，包括：血管生成、凋亡、自噬、细胞计数、无标记细胞计数、细胞分化、细胞内吞、有丝分裂指数、溶酶体检测、线粒体检测、神经突起追踪、蛋白表达指数、病毒感染等。

探针式轮廓仪新标杆-升级到最优性能 德国布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰，更加巩固了其行业领先地位。不论应用于研发还是产品测量，通过在研究工作中的广泛使用，DektakXT一定能够做到功能更强大，操作更简易，检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪（探针式表面轮廓仪）的技术突破，使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。薄膜测试—确保高产在半导体制造中严密监测沉积和蚀刻比率均匀性，薄膜应力，能节省大量时间和金钱。薄膜的不均匀或太大的应力会导致地产及成品性能欠佳。DektakXT能方便快捷地设置和运行自动多点测试程序来检验晶片薄膜的精确厚度，达到纳米级别。DektakXT无与伦比的重现性提供给工程师精确的薄膜厚度和应力测试，来精确调节蚀刻和沉积以提供收益表面粗糙度检测—确保性能DektakXT适合很多产业（包括汽车、航空和医疗设备）的精密机器零部件的表面粗糙度常规鉴定。例如，矫形植入物的背面的羟磷灰石涂层粗糙度会影响植入后的粘结力和功效。利用DektakXT进行表面粗糙度的快速分析能力判断晶质生产是否达到预期，植入物能否通过产品要求。使用Vision64数据库的pass/fail标准，质量管理部门能轻松判断植入物是重做或者确保其质量太阳能光栅线分析—降低制造成本在太阳能市场，Dektak是测量单晶硅和多晶硅太阳能面板上导电银栅线临界尺寸的首选。银线的高度、宽度和连续性与太阳能电池的能量引导紧密相关。生产的理想状态是恰如其分地使用银，以具有最好的导电性，而不浪费昂贵的银。Dektak XT 通过软件分析来实现，报告银栅线的临界尺寸，以确定出现导电性所需的精确分量。Vision64的数据分析方法和自动功能有助于该验证过程的自动化。微流体技术—检测设计和性能Dektak XT是唯一能在大垂直范围（高达1mm），测量感光材料达到埃级重现性的探针轮廓仪。MEMS和微流体技术行业的研究者能使用Dektak XT来进行鉴定测试，确保零件符合规格。低作用测量功能NLite+轻触感光材料来测量垂直台阶和粗糙度40多年不断创新建立在40多年的探针轮廓技术创新的知识和经验之上—第一部薄膜测试仪，在第一部基于微处理器的轮廓仪，和第一部300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的“第一”。新的DektakXT是首部single-arch设计的探针轮廓仪，首部内置真彩高清光学摄像机，及安装64-bit并行处理架构已获得最佳测量及操作效率的探针轮廓仪全球有超过一万台设备，品牌Dektak以质量、可靠性及高性价比著称。当需要台阶高度、表面粗糙度的精确、可靠测量时，人们就会借助Dektak。引进DektakXT，Bruker能让您进一步获得可靠及高效的表面测量提高数据采集和分析速度利用独特的直接驱动扫描平台，Dektak XT减少了扫描间的时间，而没有影响分辨率和北京噪声。这一改进大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描（就探针轮廓仪而言，通常是耗时的）的扫描速度。在保证行业领先的质量和重现性前提下，DektakXT可以将数据采集处理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64，它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内最有效的直观用户界面，简化了实验操作设置，自动完成多扫描模式，让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。实现测量的可重现性DektakXT的领先设计使其在测量台阶高度重现性方面具有优异的表现，台阶高度重现性可优于4埃。使用single-arch结构比原先的悬臂梁设计更加稳固，降低了对不利环境条件的敏感性，如声音和震动噪音应用行业：触摸屏、半导体、太阳能、超高亮度发光二极管（LED）、医学、材料科学、高校、研究所、微电子、金属等行业实现纳米级表面形貌测量台阶仪Dektak XT能实现：无可匹敌的性能，台阶高度重现性低于4埃Single-arch设计提供具突破性的扫描稳定性先进的“智能电子器件”设立了新低噪音基准新硬件配置使数据采集时间缩短40%64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了10倍频率空前，操作简易直观的Vision64用户界面，操作简易针尖自动校准系统，无与伦比的价值布鲁克（Bruker）以实惠的配置实现最高的性能单传感器设计，提供单一平面上低作用和宽扫描范围规格：测量技术：探针轮廓仪DEKTAK XT测量功能：二维表面轮廓测量/可选三维测量样品视景：可选放大倍率，1to4mmFOV探针传感器：低惯量传感器（LIS3）探针压力：使用LIS3传感器：1至15mg探针选项：探针曲率半径可选范围：50nm至25μm；高径比（HAR）针尖：10μm×2μm和200μm×20μm；可按客户要求定制针尖样品X/Y载物台：手动X-Y平移：100mm(4英寸）；机动X-Y平移：150mm（6英寸）样品旋转台：手动，360°旋转；机动，360°旋转计算机系统：64-bit多核并行处理器，Windows7；Optional23英寸平板显示器软件：Vision64操作及分析软件；应力测量软件；缝合软件；三维扫描成像软件减震装置：减震装置可用扫描长度范围：55mm（2英寸）每次扫描数据点：最多可达120000数据点最大样品厚度：50mm(2英寸）最大晶圆尺寸：200mm(8英寸）台阶高度重现性：＜4埃，1sigma在1μm垂直范围下）输入电压：100-240VAC，50-60Hz温度范围，运行范围：20到25℃湿度范围：≤80%，无冷凝系统尺寸及重量：455mmW×550mmD×370mmH（17.9in.W×22.6in.D×14.5in.H)；34公斤（75磅）；附件：550mmL×585mmW×445mmH（21.6in.L×23in.E×17.5in.H)；21.7公斤（48磅

Ä KTA start 层析系统Ä KTA&trade start 是一个用于实验室规模蛋白质纯化的制备型层析系统 ( 图 1 )。Ä KTA start 作为一个独立整机系统，具有直观的设计、简单的使用流程和用户友好的界面。通过 Ä KTA start 使用内置的快速启动方法或预定义模板，或者使用您自己创建的方法，可以轻松纯化多种蛋白质。Ä KTA start 可与 Frac30 组分收集器、用户友好的 UNICORN&trade start 控制软件和满足各类应用的预装柱搭配使用，形成完整的实验室级别蛋白纯化自动化解决方案 ( 图 2 )。Ä KTA start 提供以下优势：&bull 用于快速可靠的一步蛋白纯化的紧凑型解决方案&bull 具有进样和组分收集选项功能&bull 提供适用于常规蛋白纯化技术的快速启动方法和预定义方法模板&bull 具有直观的触摸屏显示和实时监测模块使用 Ä KTA start 可实现快速、可靠、简单的蛋白质纯化。该系统易于学习和使用，具有直观的设计、面向前方的工作区、可见的流路和用户友好的的界面。Ä KTA start 通过预定义的快速启动和可编辑的方法模板、实时运行的控制和监测系统，紧凑且便携的尺寸方便冷室中的一键式操作，使蛋白纯化变得更加容易。Ä KTAstart 采用成熟和可靠的技术，如基于 LED 的紫外监测以及内置的帮助和诊断功能，能够帮助您轻松实现从手动到自动蛋白质纯化的转变。系统总览Ä KTA start 可以通过触摸屏或计算机中的 UNICORN start 软件进行操作。UNICORN start 为实验的运行和分析提供了额外的选择。Ä KTA start 可以与 Frac30 组分收集器搭配，支持使用四种不同尺寸的收集管进行组分收集。

FlowMaster-Tomo层析PIV(Tomo-PIV)是一种全新的三维速度场测量技术。颗粒的速度信息是由在顺序两次曝光时刻重构出来的粒子三维图像的互相关处理得到的。通过全数字化过程，该技术可以在颗粒浓度相对很高的情况下获得高分辨率速度场，而3D粒子跟踪测速仅能适用于颗粒浓度较低的情况(从而得到的速度矢量场的空间分辨率也很低)。这种方法获得的是完全空间体积内的瞬时结果，与平面PIV扫描式工作不同，它很适合需要双曝光间隔dt很小的高速流动以及利用高帧率相机进行高时间分辨率进行测量的情况。应用领域：湍流研究三维流体结构的可视化完整的三维漩涡分析流体结构的相互作用 在测量体内的示踪颗粒由高能量的脉冲激光光源照亮，其散射光由4个不同方向拍摄的CCD相机记录下来，然后由三维空间中每一点光强的分布，利用层析重构算法(MART)对三维空间颗粒的分布进行重构。给定的三维诊断区域中颗粒的位移是通过双曝光形成的两个重构颗粒图像进行三维互相关获得的，其中利用了变形立体网格的多重网格迭代算法以及LaVision公司独创专利的空间体积自标定技术。

GS-DELTA30型合成跑道面层抗滑值测定仪是根据 GB 36246-2018 《中小学合成材料面层运动场地》塑胶跑道新国标和GB/T14833-2011合成材料跑道面层附录C设计研发一款全新产品。塑胶跑道的合成材料面层抗滑值是指合成材料运动场地面层通过滑动摩擦阻力吸收能量的程度，也就是面层能提供的摩擦力的大小， 能衡量运动人群免于滑倒摔伤的安全保护程度。国家标准 GB/T 14833-2011 和 GB/T 22517.6-2011 要求田径场地合成材料面层在潮湿条件下抗滑值≥47，欧盟标准 EN 14877-2013《户外合成材料运动场地技术要求》要求户外合成材料运动场地面层在潮湿条件下抗滑值为 55-110，在干燥条件下抗滑值为 80-110。合成材料面层抗滑值有两种表示形式：在潮湿条件下测试的抗滑值即湿测抗滑值，在干燥条件下测试的抗滑值即干测抗滑值；本标准考虑到中小学校在雨天很少进行户外体育活动，新国标的合成材料面层抗滑值选用了干测抗滑值来表示了 。主要技术指标指标参数规格型号GS-DELTA30型摩擦系数检测范围0～150摆锤质量1500±30g摆臂长度410mm橡胶片对试样正向静压力2263g（22.2N）摩擦橡胶块尺寸76X25X6.4mm和31.8X25X6.4mm橡胶块的性能回弹性66～73%之间橡胶块的硬度IRHB 53～65之间摆从倾斜5度处自由摆动次数≥70次塑胶跑道抗滑值测定仪检测方法： 将一个标准的光滑橡胶滑动片安装在摆动臂末端的支撑块之下，并用弹簧顶住。这个滑动片将随摆动臂从90°位置向下摆向跑道表面，并沿着表面滑动一定距离，摆动臂摆动时带动一个惰性指针，使指针停留在摆动的最高位置上。将滑动阻力测试仪水平放置在跑道表面，放开撑脚，以防止当摆动臂摆过表面时，支撑脚下方合成材料的表面出现局部偏斜。当摆动臂从正常的水平位置自由下落时，指针停留的刻度应是零点，否则，应调节摩擦环（在摆动臂的定位中心处）并反复操作，指导始终得到一个零点。测试样品时，调节摆动臂的高度，使滑动片与被测表面接触，滑动片从左边缘到右边缘与被测表面接触的距离是在125MM-127MM之间，把所设置的高度固定在这个位置上并反复摆动滑动片以核定距离，然后，把摆动臂放在水平重物的位置上。在测试区洒上干净的水，放开摆动臂使其自由落下，略去第一次指针计数，然后进行5次同样的试验，记录每次摆动后指针所得的刻度读数，计算这5个读数的平均值，即为潮湿表面的抗阻值，成称为滑动阻力。如果合成材料表面显示具有方向性的图案，那么，用仪器应能测出各个方向不同的数值。方法是调节仪器，使滑动部件从开始摆动方向的90°和180°通过相同的一块表面，所测得结果可作为第一组读数的参考数。当使用便携式阻力测试仪进行测量时，合成面层在潮湿时，在任何地方的摩擦系数不得低于0.5.这个数值相当于测试仪器上的刻度读数47。从测试仪器上所得到的刻度读数为抗滑值，根据式（C,1）可以换算为摩擦系数（U）:抗滑值=330u÷（3+u）。符合标准：GB 36246-2018 《中小学合成材料面层运动场地》塑胶跑道新国标；EN 14877:2006 室外运动地板/草坪草皮测试项目及方法；BS EN 15330-1: 2013运动场地面.室外用人工草皮和和针刺表面.第1部分:人工草皮规范；EN14904:2006 室内运动地板测试规范；GB/T 14833-2011《合成材料跑道面层》；GB/T 22517.6-2011《体育场地使用要求及检验方法　第6部分：田径场地》；GB/T 19851.11-2005《中小学体育器材和场地 第11部分 合成材料面层运动场地》；GB/T 19995.2-2005《天然材料体育场地使用要求及检验方法 第2部分：综合体育场馆木地板场地》；

英国DELTA-T公司位于英国剑桥，成立于1971年，是环境科学仪器的专业生产厂家，尤其专业于耕种学、数据记录、气象学、 土壤水份、各种辐射研究及环境监控等领域。其产品远销全世界，是研发生态仪器的厂家。在生态研究领域，DELTA-T提供了多种高精度研究设备可供用户选择，特别如ML2x土壤水分仪、WET土壤三参数测量仪、SUNSCAN冠层仪、PR2土壤剖面水分探头等。英国DELTA-T土壤剖面水分探头PR2/4测量深度：10、20、30、40厘米测量单位：土壤体积含水量(m3.m-3 或%vol)量程：0～0.4 m3.m-3 保证精度，0~1 m3.m-3 全量程精度：±0.04 m3.m-3(0~+40℃)针对土壤进行特殊标定； ±0.06 m3.m-3(0~+40℃)使用通用的标定曲线盐分：50～400ms/m (孔隙水电导率)测量点上下测量范围：探点直径250px，上下高度高125px 的圆柱体样土壤决定的了测量值95％的灵敏度，所以在这个圆柱体积内不能有金属、石头和根系，以免影响测量结果工作环境0～+40℃防护等级：IP67反应时间：1秒供电：小：5.5V DC (2米缆线时)，7.5V DC (100米缆线)；大：15V DC功耗：80mA输出：SDI-12或者4个模拟电压值：0~1V 对应0~60m3.m-3缆线：标配5米、可选10米、25米，长100米材质：聚碳酸脂和不锈钢尺寸：长度750毫米×直径25.4毫米重量：0.6公斤土壤剖面水分探头中国总代理：南京铭奥仪器

HY-ALERTA&trade 2620 防爆区域氢气监测仪H2scan 的 2620 防爆区域氢气监测仪针对低至 4000 ppm 的氢气浓度提供特定于氢气的泄漏检测和测量，并且可以缩放至氢气体积百分比高达 5% 的任何浓度，范围代表氢气低可燃性的 10% 至 125%限制。显示器设计用于天花板或墙壁安装。H2scan 的氢气专用传感器技术对其他可燃气体没有交叉敏感性，从而消除了误报，确保了安全系统的可靠性。配置详情表现氢气敏感性范围：0.4% 至 5.0% 氢气（体积），10% 至 125% 氢气易燃下限响应时间：T90 防护等级：IP64 能力校准间隔：90 天产品寿命：10年准确度：±（读数的 3% + 0.2）氢气体积百分比接口选项输入电压范围：90 VAC 至 240 VAC输入功率：15W模拟输出：输出电流– 4 mA 至 20 mA– 0 mA 至 20 mA– 用户特定的 mA 范围串行通讯选项：RS232 或 RS422继电器触点：两个可编程继电器和一个带有常开 (NO) 和常闭 (NC) 触点的故障继电器：– 5A/240VAC– 5A/30 VDC方面宽度：13.8 厘米（5.4 英寸）长度：19.2 厘米（7.5 英寸）深度：13.0 厘米（5.7 英寸）运行条件工作温度范围：-20º C 至 55º C存储温度范围：-30º C 至 80º C工作湿度：0% 至 95% RH（非冷凝）校准背景气体：空气适配器配件1/4 in. 校准气体连接管下载规格表下载手册认证2620UL 508、1203USC – I 类，1 区，B、C 和 D 组危险（分类）偏僻的UL 913CAN/CSA C22.2 No. 157-92HY-ALERTA&trade 是 H2scan 的注册商标。规格如有更改，恕不另行通知。