新型的DECTRIS QUADRO® 探测器为材料科学研究TEM提供了理想性的性能,不断突破电子探测的极限。同时,这款直接电子探测器能够在很高计数率下实现单电子探测的能力。并且保持理想的动态范围、速度及探测灵敏度,而不必担心透射电镜高能汇聚电子束对探头的损伤。产品介绍 QUADRO采用完全由DECTRIS设计的全新EIGER2 ASIC驱动,以及我们具有专利保护的 INSTANT RETRIGGER® 技术,可在感兴趣区域(ROI)模式下提供 32 位动态范围和高达每秒18,000 帧的读数,无需图像叠加,无噱头!核心优势 — 直接电子探测— 感兴趣区域模式— 高达18,000帧每秒— 无死区时间— 无噪声电子计数— 107光子计数/秒/像素— 无需光束阻挡器— 在低能量下仍然提供理想DQE应用领域— 电子衍射— 4D-STEM— 应力分析— 洛伦兹显微镜术成像— 叠层成像术— 原位透射电镜— 动态透射电镜 TEM— LEEM/PEEM 技术规格单像素尺寸 [μm2]75 × 75像素数 (W x H)512 × 512有效面积, W × H [mm2]38.4 × 38.4能量范围 [keV]30 - 200最大帧速率 (ROI, max.) [Hz]9'000 (16-bit) 18'000 (8-bit)帧速率 (ROI,max.) [Hz]2'250 (16-bit), 4'500 (8-bit)传感器材料Silicon (Si)DQE (0) 计数率 (max.) [el/s/pixel]107量子探测效率 DQE(0)0.9 at 100 kV 0.8 at 200 kVDQE (0) 探测器安装位置Bottom-mounted, on-axis产品应用TedPella铝蒸发料校准样品的衍射花样。QUADRO的动态范围能够解析出更高角度(大约0.82&angst -1)微弱的衍射环,同时不需要遮挡透射束。支持收集样品含有的所有数据!单体单层二硫化钼的高分辨率成像和衍射,即使采用配备QUADRO 探测器的常规透视电镜也能清楚地分辨出四角晶格,其衍射图案仅需要约2*105个电子和10ms的采集时间。QUADRO的成像速度比您实验室中环境干扰还快。因其具备高速和高灵敏度等优势,即使在漂移和干扰下,仍可采集高质量数据。 请升级您的显微镜,而非实验室!
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