硅球间隔物
UniSil® 硅球间隔物,具有非常窄的粒径分布,能够控制盒厚,不会对基板造成损坏,清晰度更高。纳微科技的硅球品种很多,应用广泛。 产品特点微球粒径非常均一,变异系数CV小于2.5%微球单分散性好,无重叠或团聚微球纯度高,无污染微球机械强度高,K4500微球具有较好的耐热性、耐寒性以及耐化学品性UniSil® 硅球间隔物粒径非常均一 UniSil® 硅球的颗粒大小和分布是用公认的测试仪器(Beckman Coulter Counter Multisizer)和方法来确定的。为了确保结果的准确性,每次测量之前都用NIST可溯源标准颗粒来校正。UniSil硅球粒径分布图说明纳微生产的UniSil硅球无论大小都具有高度的均匀性。变异系数,Coefficient Value (CV)%=(standard deviation/average diameter)x100, 控制在2.5% 以下。UniSil® 硅球间隔物粒径分布图(微球的粒径是用NIST溯源的标准颗粒校正的Beckman Coulter Counter Multisizer 3精确测试)UniSil® 硅球纯度高,无污染 UniSil® 硅球离子含量会直接影响到液晶的质量,因此我们在制备和清洗过程中都采用去离子水,产品定期抽样检查。SubstanceControl LimitTest MethodFe≤ 2 ppmICP SpectrometerCa ≤ 2 ppmK≤ 2 ppmNa≤ 2 ppmCl≤ 1 ppmIon ChromatographyUniSil® 硅球间隔物符合RoHS指令 UniSil® 硅球间隔物在生产过程中不使用欧盟RoHS指令中所禁止的元素,不含RoHS 所禁止的有机物质及重金属,纳微每年更新一次RoHS检测报告。有需求的客户可以索要RoHS检测结果复印件。SubstanceTest Result(N.D. = Not Detectable)CdN.D.PbN.D. HgN.D.Cr6+N.D.PBBsN.D.PBDEs N.D.UniSil® 硅球间隔物产品目录 纳微科技提供两个系列UniSil硅球产品:Si和SiS。库存产品的粒径尺寸从1.5 μm到25 μm, 3 μm到9 μm每隔0.1 μm一个标尺。其中Si系列主要用于边框合厚的控制,SiS主要用于特殊要求的合内的合厚控制。UniSil® 硅球物理特性检测项目测试结果测试方法平均粒径, μm± 0.05库尔特粒度分析计数仪Coulter Counter粒径分布CV值1.0% -2.5%库尔特粒度分析计数仪Coulter Counter10% K值10% Modulus of Elasticity, kgf/mm2 4500Shimadzu MCT210比重,g/cm32.1Multi-Volume Density test热分解温度Thermal Decomposition Temp, °C in air不分解-折射率 Refractive Index1.4620 oC, λ=589 nmeriesProductCVDiameterIncrementApplicationSiNM Si≤ 2.5%1.5 – 25.0 μm0.10 μmSide SpacerSiSNM SiS≤ 2.0%1.5 – 25.0 μm0.10 μmTN, STN客户可以根据需求选择合适的UniSil硅球产品。纳微科技拥有先进的技术,完善的生产和检测仪器设备,可以严格控制产品的质量。通用准则:NM Si XXX;NM SiS XXXNM - NanoMicro(纳微)缩写Si - 二氧化硅微球中适用于边框的产品;SiS - 二氧化硅微球中适用于盒内的产品XXX - 粒径标称 如:065 – 6.5 μm, 100 - 10.0 μm备 注:1. 粒径每间隔0.1 μm 为一个产品规格,也可以根据客户需求特殊定制;2. 可根据客户需求提供小于1.5 μm及25.0 μm以上大小的特殊品种;3. 测试方法: Beckman Coulter counter Multisizer 3;4. 变异系数计算方法:变异系数 (C.V.)%=(标准偏差/平均粒径)×100%。