测厚规

仪器简介：硅光电探测器（Si）&mdash &mdash &mdash 室温型探测器，波长范围：200-1100nm技术参数：型号列表及主要技术指标：技术指标＼型号名称 DSi200 紫敏硅探测器 DSi300 硅探测器 进口紫外增强型 国产低暗电流型有效接收面积(mm2) 100(&Phi 11.28) 100(10× 10)波长范围(nm) 200-1100 300-1100峰值波长(nm) ------- 800± 20峰值波长响应度(A/W) 0.52 0.4254nm的响应度(A/W) 0.14(0.09) -------响应时间(&mu s) 5.9 -------工作温度范围(℃) -10～+60 -------储存温度范围(℃) -20～+70 -------分流电阻RSH(M&Omega ) 10(5) -------等效噪声功率NEP (W/&radic Hz) 4.5× 10-13 -------暗电流(25℃；-1V) ------- 1X10-8&mdash 5× 10-11 A结电容(pf) 4500 3000(-10V)信号输出模式 电流 电流输出信号极性 正（P） 正（P）主要特点：■ DSi200/DSi300硅光电探测器硅光电探测器（Si）&mdash &mdash &mdash 室温型探测器，波长范围：200-1100nm两种型号的探测器室的外观相同，其中：◆ DSi200型内装进口紫敏硅光电探测器◆ DSi300型内装国产低暗电流硅光电探测器◆ 推荐配合I-V放大器（型号：ZAMP）使用 硅光电探测器使用建议：◆ DSi200/DSi300均为电流输出模式的光电探测器，在接入示波器、锁相放大器等要求电压输入的信号处理器前，建议采用I-V跨导放大器ZAMP（Page85做为前级放大并转换为电压信号，标明可输入电流信号的信号处理器可直接接入信号，但仍建议增加前置放大器以提高探测灵敏度；◆ DSi200/DSi300配合DCS103数据采集系统（Page95）使用时，建议采用I-V跨导放大器以提高探测灵敏度；◆ DSi200/DSi300配合DCS300PA数据采集系统（Page95）使用时，由于DCS300PA双通道已集成信号放大器，故可不再需要另行选配前置放大器。

仪器简介：湿膜厚度规（梳规）产品展台为您精选湿膜厚度规（梳规）产品，欢迎您来电咨询湿膜厚度规（梳规）产品的详细信息！湿膜厚度规（梳规）是测量色漆、。各种涂料施工后，立即将湿膜厚度稳定垂直地放在平整的工件涂层表面，立即可测得涂层厚度。技术参数：湿膜厚度规 湿膜厚度规是测量色漆、。各种涂料施工后，立即将湿膜厚度稳定垂直地放在平整的工件涂层表面，立即可测得涂层厚度。 主要技术参数 SHG湿膜厚度规 型号 SHG-100 SHG-200 SHG-700 SHG-750 量程（&mu m） 10~100 20~200 250~700 50~750 外形尺寸 （长× 宽× 高） 65× 36× 1.5mm 65× 43× 1.5mm YQH湿膜厚度规 型号 YQH-200 YQH-700 量程（&mu m） 0~100 200~700 外形尺寸 （长× 宽× 高） &Phi 50× 27mm 外形尺寸：&phi 50mm× 27mm主要特点：湿膜厚度规 湿膜厚度规是测量色漆、。各种涂料施工后，立即将湿膜厚度稳定垂直地放在平整的工件涂层表面，立即可测得涂层厚度。 主要技术参数 SHG湿膜厚度规 型号 SHG-100 SHG-200 SHG-700 SHG-750 量程（&mu m） 10~100 20~200 250~700 50~750 外形尺寸 （长× 宽× 高） 65× 36× 1.5mm 65× 43× 1.5mm YQH湿膜厚度规 型号 YQH-200 YQH-700 量程（&mu m） 0~100 200~700 外形尺寸 （长× 宽× 高） &Phi 50× 27mm

滚轮式湿膜厚度规产品展台为您精选滚轮式湿膜厚度规,面向全国销售滚轮式湿膜厚度规,欢迎来电咨询滚轮式湿膜厚度规产品,YQH滚轮式湿膜厚度规 是测量色漆、清漆等各种涂料湿膜涂刷厚度的测量工具。该厚度规不仅能在平整的基板上，并能在曲面状基板上进行测量，测量精度高。 主要技术参数 型号：YQH-100、YQH-200、YQH-1000 量度（&mu m）：0～100、0～200、0～1000 重量：0.2Kg　　　　 外形尺寸：&phi 50mm× 27mm

日本三丰Mitutoyo厚度表7360厚度表547, 7系列厚度表带有一个方便的握柄、拇指触发器表和弹性心轴，可进行快速高效的检测。型号齐全，应用更广泛。日本三丰Mitutoyo厚度表7360特点1.应用范围广，具有多种测量面 (心轴和测砧上)。2.Digimatic 厚度表集三丰公司zui为用户青睐的 IDC 和 IDS 系列 Digimatic 厚度表于一体，采用液晶读数显示以及 SPC 数据输出，真正实现无误读。3.547-401 (547-400S) 系列是测量纸张、胶片、金属丝、金属薄板等类型材料的理想工具。4.指针式厚度表能快速测量薄片类产品的厚度，如纸和毛毡。5.测头和测砧均由陶瓷制成：无锈 ( 不包括547-401 ) 。6.表盘一体式设计可防止水和油从正面渗入。数显型技术参数精度:参见性能参数 (不包括量化偏差)分辨率:0.01mm 型 0.01mm0.001mm 型 0.001mm/0.001mm.0005"/0.01mm 型 .0005"/0.01mm.00005"/0.001mm 型 .0005"/.0001"/.00005"/0.01mm/0.001mm显示: 液晶显示长度基准: ABSOLUTE 静电线性编码器zui大反应速度: 无限制测力: 参见性能参数轴套外径: 8mm (ISO/JIS型) 或3/8"(ANSI/AGD型)电池: SR44 (一个)，938882电池寿命: 正常使用情况下约为7,000小时尘／水防护等级:达到 IP42或IP53防护标准 (防尘型)数显型功能原点设置／预调、调零、GO/±NG判断、计数方向转换、自动电源开／关、简单计算、函数锁定、数据输出、英制／公制转换 (英制／公制型)警告:低电压、 计算错误、溢出错误、公差极限设置错误选件905338:用于数显型的SPC电缆 (1m)905409:用于数显型的SPC电缆 (2m)02AZD790F:用于U-WAVE的SPC 电缆 (160mm)902011:心轴提升杆 (ISO/JIS型)*902794:心轴提升杆 (ANSI/AGD型)*137693:心轴提升吊钩**540774:心轴提升电缆125317:备用橡胶保护套 (用于防尘型)02ACA571: 用于25mm/1"型号的附加心轴弹簧***02ACA773: 用于50mm/2"型号的附加心轴弹簧**** 仅用于12mm/.5"型号** 可用于25mm/1"或50mm/2"型号*** 千分表反向定位时使用 性能参数:公制型/数显型货号测量范围分辨率精度测力备注547-4010-12mm0.001mm±3μm3.5N以下高精度型、硬质合金心轴／测砧547-3010-10mm0.01mm±20μm1.5N以下标准型、陶瓷心轴／测砧547-3210-10mm0.01mm±20μm1.5N以下大进深型、陶瓷心轴／测砧547-3130-10mm0.01mm±20μm1.5N以下镜片厚度547-3150-10mm0.01mm±20μm1.5N以下凹槽深度547-3600-10mm0.01mm±20μm1.5N以下管壁厚度英制/公制型-----数显型货号测量范围分辨率精度测力备注547-400S /0 - .47".00005"0.001mm±3μm3.5N以下高精度型、硬质合金心轴／测砧547-300S / 547-500*0 - .4"/ 0 - .47"*.0005"/0.01mm±20μm1.5N以下标准型、陶瓷心轴／测砧547-320S / 547-520*0 - .4"/ 0 - .47"*.0005"/0.01mm±20μm1.5N以下大进深型、陶瓷心轴／测砧547-312S / 547-512*0 - .4"/ 0 - .47"*.0005"/0.01mm±20μm1.5N以下镜片厚度547-316S / 547-516*0 - .4"/ 0 - .47"*.0005"/0.01mm±20μm1.5N以下凹槽深度547-361S / 547-561*0 - .4"/ 0 - .47"*.0005"/0.01mm±20μm1.5N以下管壁厚度*使用ID-S Digimatic千分表，可选用带有.0001"/0.001mm分辨率ID-S系列千分表的标准型 (547-526)。公制型----指针式货号测量范围表盘读数值精度测力备注73270-1mm0.001mm±5μm1.4N以下精细表盘读数、陶瓷心轴／测砧73010-10mm0.01mm±15μm1.4N以下标准型、陶瓷心轴／测砧73050-10mm0.01mm±20μm2.0N以下标准型、陶瓷心轴／测砧73210-10mm0.01mm±15μm1.4N以下大进深型、陶瓷心轴／测砧73230-10mm0.01mm±22μm2.0N以下大进深型、陶瓷心轴／测砧73130-10mm0.01mm±15μm1.4N以下镜片厚度73150-10mm0.01mm±15μm1.4N以下凹槽深度73600-10mm0.01mm±15μm1.4N以下管壁厚度

日本三丰Mitutoyo厚度表7360厚度表547, 7系列厚度表带有一个方便的握柄、拇指触发器表和弹性心轴，可进行快速高效的检测。型号齐全，应用更广泛。日本三丰Mitutoyo厚度表7360特点1.应用范围广，具有多种测量面 (心轴和测砧上)。2.Digimatic 厚度表集三丰公司zui为用户青睐的 IDC 和 IDS 系列 Digimatic 厚度表于一体，采用液晶读数显示以及 SPC 数据输出，真正实现无误读。3.547-401 (547-400S) 系列是测量纸张、胶片、金属丝、金属薄板等类型材料的理想工具。4.指针式厚度表能快速测量薄片类产品的厚度，如纸和毛毡。5.测头和测砧均由陶瓷制成：无锈 ( 不包括547-401 ) 。6.表盘一体式设计可防止水和油从正面渗入。数显型技术参数精度:参见性能参数 (不包括量化偏差)分辨率:0.01mm 型 0.01mm0.001mm 型 0.001mm/0.001mm.0005"/0.01mm 型 .0005"/0.01mm.00005"/0.001mm 型 .0005"/.0001"/.00005"/0.01mm/0.001mm显示: 液晶显示长度基准: ABSOLUTE 静电线性编码器zui大反应速度: 无限制测力: 参见性能参数轴套外径: 8mm (ISO/JIS型) 或3/8"(ANSI/AGD型)电池: SR44 (一个)，938882电池寿命: 正常使用情况下约为7,000小时尘／水防护等级:达到 IP42或IP53防护标准 (防尘型)数显型功能原点设置／预调、调零、GO/±NG判断、计数方向转换、自动电源开／关、简单计算、函数锁定、数据输出、英制／公制转换 (英制／公制型)警告:低电压、 计算错误、溢出错误、公差极限设置错误选件905338:用于数显型的SPC电缆 (1m)905409:用于数显型的SPC电缆 (2m)02AZD790F:用于U-WAVE的SPC 电缆 (160mm)902011:心轴提升杆 (ISO/JIS型)*902794:心轴提升杆 (ANSI/AGD型)*137693:心轴提升吊钩**540774:心轴提升电缆125317:备用橡胶保护套 (用于防尘型)02ACA571: 用于25mm/1"型号的附加心轴弹簧***02ACA773: 用于50mm/2"型号的附加心轴弹簧**** 仅用于12mm/.5"型号** 可用于25mm/1"或50mm/2"型号*** 千分表反向定位时使用 性能参数:公制型/数显型货号测量范围分辨率精度测力备注547-4010-12mm0.001mm±3μm3.5N以下高精度型、硬质合金心轴／测砧547-3010-10mm0.01mm±20μm1.5N以下标准型、陶瓷心轴／测砧547-3210-10mm0.01mm±20μm1.5N以下大进深型、陶瓷心轴／测砧547-3130-10mm0.01mm±20μm1.5N以下镜片厚度547-3150-10mm0.01mm±20μm1.5N以下凹槽深度547-3600-10mm0.01mm±20μm1.5N以下管壁厚度英制/公制型-----数显型货号测量范围分辨率精度测力备注547-400S /0 - .47".00005"0.001mm±3μm3.5N以下高精度型、硬质合金心轴／测砧547-300S / 547-500*0 - .4"/ 0 - .47"*.0005"/0.01mm±20μm1.5N以下标准型、陶瓷心轴／测砧547-320S / 547-520*0 - .4"/ 0 - .47"*.0005"/0.01mm±20μm1.5N以下大进深型、陶瓷心轴／测砧547-312S / 547-512*0 - .4"/ 0 - .47"*.0005"/0.01mm±20μm1.5N以下镜片厚度547-316S / 547-516*0 - .4"/ 0 - .47"*.0005"/0.01mm±20μm1.5N以下凹槽深度547-361S / 547-561*0 - .4"/ 0 - .47"*.0005"/0.01mm±20μm1.5N以下管壁厚度*使用ID-S Digimatic千分表，可选用带有.0001"/0.001mm分辨率ID-S系列千分表的标准型 (547-526)。公制型----指针式货号测量范围表盘读数值精度测力备注73270-1mm0.001mm±5μm1.4N以下精细表盘读数、陶瓷心轴／测砧73010-10mm0.01mm±15μm1.4N以下标准型、陶瓷心轴／测砧73050-10mm0.01mm±20μm2.0N以下标准型、陶瓷心轴／测砧73210-10mm0.01mm±15μm1.4N以下大进深型、陶瓷心轴／测砧73230-10mm0.01mm±22μm2.0N以下大进深型、陶瓷心轴／测砧73130-10mm0.01mm±15μm1.4N以下镜片厚度73150-10mm0.01mm±15μm1.4N以下凹槽深度73600-10mm0.01mm±15μm1.4N以下管壁厚度

CHY-G 电子壁厚底厚测试仪适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度检测。仪器在传统的厚度测量仪基础上，增加了稳固瓶子的托盘，避免因瓶子摇摆不定带来的测量误差。产品特点◎ 7寸触控彩色液晶屏，微电脑控制，自动分组统计Z大值、Z小值、平均值。◎ 旋转角度位移实时显示，保证测量准确回位。◎ 满足玻璃瓶底厚和壁厚两种测试方式。◎ 测量平台新增托瓶装置支持上下调节，让测试轻松便捷。◎ 系统自带微型打印，上位机数据无限保存。◎ 专业电脑测试软件，曲线图显示，数据保存，EXCEL统计，打印A4试验报告。◎ 软件用户分级权限管理，数据统计及审计功能满足行业要求。 测试原理CHY-G 电子壁厚底厚测试仪采用容栅传感技术，通过测量表头接触瓶子与镖头对应。两个系统中容栅传感器采集响应的数据，进而通过系统计算出对应的瓶壁或瓶底的厚度值。 应用领域适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度。可满足测试输液瓶、啤酒瓶、口服液瓶、安瓿瓶、 西林瓶等产品壁厚底厚的测试。技术参数仪器量程：0-12.7mm/0.5″分度值：0.001mm/0.00005″样品直径：5mm-300mm （其他尺寸可定制）样品高度：5mm-330mm(其他尺寸可定制)外形尺寸：400（L）X360（W）X700（H）mm通信接口：USB接口环境温度：15-50℃电源电压：AC220V 50Hz 测试标准该仪器符合多项国家和国标标准： YBB00332002 - 2015 、 YBB00332003 - 2015 、YBB00032004-2015、GB 1241590、GB 2641-90、GB 2639-90。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

二硅化钼保护管直径一般12-30mm，长度一般500-1200毫米，其中600、850、1000订做较多，壁厚一般不低于5毫米，常见8/16/，10/20，13/25,16/25,20/32等。二硅化钼保护管在烧结过程中因为目前工艺限制，有些不可抗拒的问题，如管的直度，同轴度等。在制作中，一般都要考虑在内，二硅化钼制品越长的二硅化钼需要注意的更多，成品率低，二硅化钼保护管价格相对偏高，根据长度、壁厚的差异，价格会有所区别，一般都在800元以上。 二硅化钼化钼保护管是我司的主营产品之一，产品质量稳定，底部加厚密封，耐急冷急热，导热性能好，如有相关问题或需要产品，欢迎来电。

二硅化钼保护管是郑州毅信窑炉有限公司的主营产品之一，底部加厚密封，壁厚均匀，耐急冷急热，部分现货，可定做带孔二硅化钼保护管，技术经验丰富，如有相关问题或需要订购，欢迎咨询。 二硅化钼保护管由于具有良好的物理化学稳定性能，常被用于氧化，还原，氧化-还原交替气氛，及熔融金属等中兴、某些化学腐蚀性气体介质中，能够很好地隔绝这些气氛，保护热电偶。已被广泛用于冶金、陶瓷、耐火材料等行业中。 二硅化钼保护管是陶瓷制品，在常温下硬而脆，因此安装运输中应避免碰撞，用力过猛。保护管常用的还有碳化硅保护管，刚玉保护管，选用时要选取适合自己用的。二硅化钼保护管较刚玉管耐冲击性好，机械性能好。碳化硅保护管使用温度在1400多度，但是使用寿命不理想，虽然便宜，但是更换频繁，间接增加了成本。

中图仪器SJ5100光栅测长机高性能螺纹环规测量装置在工业制造业中，可以用来测量各种物体的长度，具有高精度、高可靠性等优点。SJ5100光栅测长机高性能螺纹环规测量装置原理是利用光栅的干涉作用，通过光电检测器将光信号转化为电信号，并经过计算得出被测物体的尺寸。具有高精度、高速度、非接触式测量等优点，广泛应用于机械加工、电子制造、半导体生产等领域。其测量精度通常可达到亚微米级别，可以满足大多数工业生产对尺寸精度的要求。仪器主要功能1、标配功能：检测量块&块规：（0.1~300mm）；光滑环规：φ5~φ200mm（壁厚≤50 mm，高度≤50mm）、光滑塞规：φ1~φ220mm；螺纹环规：M5~M200（螺距0.8~4mm）螺纹塞规：M1~M220（螺距0.25~5.5mm）；光滑卡规：内卡5~200mm，外卡1~300mm千分尺校对杆：25~300mm；塞尺：0.02~1mm针规：φ0.1~φ10mm三针：0.118~6.585mm；两点内径千分尺：25~300mm；2、可选配功能：小型光滑环规：φ0.8~φ5mm；螺纹环规：规格M3~M4（螺距0.5~0.7mm）；光滑锥度环规：φ5~φ200mm（厚度≤50mm）；光滑锥度塞规：φ5~φ60mm（长度10~100mm）；φ60~φ200mm（长度≤50mm）；螺纹锥度环规：M5~M200mm（厚度≤50mm）；螺纹锥度塞规：M5~M60mm（长度10~100mm）；M60~M200mm（长度≤50mm）；锯齿螺纹、梯形螺纹：M3~M400（螺距0.5~6mm）；花键环塞规/花键及标准齿轮（跨棒距测量）：内φ10~φ200mm，外φ5~φ200mm，模数0.8~6mm；外径千分尺示值误差手动校准：25~300mm；数显及游标卡尺示值误差手动校准：75~300mm；深度千分尺示值误差手动校准：0~25、25~50、50~75mm；三爪内径千分尺手动校准：φ6~φ200mm；表类（百分表、千分表、杠杆表手动校准）；数显半径规手动校准：R5~R700mm；轴承内外圈锥度、沟槽底径内外径及沟槽宽度、精密零部件的长度尺寸，内外径尺寸测量；性能特点1. 全程直接测量：SJ5100光栅测长机高性能螺纹环规测量装置采用进口高精度长玻璃光栅尺作为长度方向定位，可进行高精度全行程直接测量。2. 高精度、高稳定性：1)高精度光栅测量系统，分辨力达到0.01μm，测量精度高；2)精密研磨导轨系统导轨直线度高，材料耐磨性好、保证系统高精度稳定可靠的工作；3)进口特殊材料制作的高刚性、无变形测杆，保证测试数据的高精度真实采集；4)采用大理石基座，通过有限元分析优化仪器基座结构保障几十年稳定不变形，高刚性大理石底座结构保证了仪器在头座及工作台在测量移动过程中几乎不产生变形，仪器受外界震动干扰小，保证仪器的长期稳定可靠性；5)采用紧凑型摩擦驱动结构，移动摩擦驱动力小，保证了头座移动过程中的稳定性。3. 双向恒测力：1) 特殊传感器双向恒测力系统，减小了测力对测量结果的影响，保证了高的系统测量精度；2) 测力较大范围的连续可调；3) 非砝码加载，测力传感器原理避免了仪器台面不水平及周围环境振动带来的测力误差。4. 智能化管理与检测软件系统：1)仪器操作界面友好，操作者很容易基本掌握仪器操作，使用十分简便；2)十多年积累的实用软件设计经验，向客户提供简洁、实用、便捷的操作体验；3)集成众多长度标准、规程，功能强大、自动处理数据、打印各种格式的检测报告，自动显示、打印、保存、查询检测记录；4)测量范围广，可满足绝大多数类型的量规、量块等长度参数测量；5)软件配备快速找拐点指示功能，方便客户快速便携地找到被测件的拐点；6)纯中文操作软件系统，更好的为国内用户服务；7)打印格式正规、美观。检定数据可存档，或集中打印，不占用检测操作时间；8)本仪器采用计算机大容量数据库储存，可自动记录保存所有检测结果。5. 方便快捷的仪器操作体验：1)测帽无需调节，高精度测帽加工保障测量精度，直接安装即可使用；2)螺纹塞规测量三针带支板，配合仪器测帽可快速的进行螺纹塞规的中径测量；3)支持客户使用模糊搜索量规标准，并支持用户特殊规格量规自动计算公差带。6. 高性能五轴工作台：1)X，Y，Z三轴采用高性能交叉滚子导轨：摩擦力小，稳定性好，承载高；2)Y轴平移、倾斜、水平旋转设计了高调节细度的结构，方便客户更好地找到三个轴的拐点；3)Z轴及Y轴可配置数显表，可将数据传输到电脑，可用于锥度量规测量及螺纹螺距观察。7. 高性能内尺寸测量装置：配置高性能环规内测装置，可测量小M3螺纹环规（根据选配测针），同时可完成小（φ0.8mm）光滑环规检测（选配测针）；测量力为电子测力0.05N、0.1N、0.3N、0.5N，由软件选择测力大小（可根据客户需求定制更小测力）。操作者装好被测件，在检测软件上选择被测件的标准和输入被测件的规格参数后，移动头座接触被测件，调整五轴工作台找到拐点，采样完成得到测量数据，系统可实时显示测量结果，自动计算被测件各项参数（如检测螺纹规，则可自动计算螺纹中径），并根据系统内置的标准数据库对被测件的各项参数进行合格判定，整个测量过程不超过3分钟，结束后自动生成结果及记录报表。主要技术指标型号SJ5100-Prec300（精密测量型）测量范围外尺寸直接测量：0~340mm内尺寸比较测量：5~200mm（配置比较测量环规）外尺寸示值误差≤±（0.2+L/1000）μm，其中：L为被测长度，单位：mm内尺寸重复性(2S或2δ)≤0.1μm内尺寸重复性(2S或2δ)≤0.2μm（使用测钩）≤0.3μm（使用内测装置）测力内测装置传感器测力0.05N、0.1N、0.3N、0.5N、主测力1~10N手动连续可调测量直径环规200mm（标配） 、塞规250mm（标配）仪器尺寸1400*400*450mm仪器重量150kg五轴工作台型号ST-30.1(标配)Z轴0~50mmY轴±25mmX轴浮动±10mmZ轴旋转±3°Y轴摆动±3°负载50kg台面尺寸350*25mm环境条件参考校准/使用环境温湿度：温度：20±2℃，波动不超过0.5℃/小时相对湿度：10~70%。振动：按照三坐标振动要求标准，振动速度均方根≤5um/s，振动频率8~100Hz；校准室内应无影响测量的灰尘、震动、噪音、气流、腐蚀性气体和较强磁场。恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

本机用于量测安全鞋冲击试验机测试后橡皮泥厚度

品牌：时代新维特点：测量结果满足并优于GB/T 12149-2017《工业循环冷却水和锅炉用水中硅的测定》标准的要求。适用：应用于发电厂、化工化肥、冶金、环保、制药、化纤、半导体等行业，适用于除盐水、蒸汽冷凝水、炉水等水中可溶性二氧化硅含量的连续分析、检测。硅酸根监测仪是在线水质监测仪，在pH为1.1～1.3条件下，水中的可溶硅与钼酸铵生成黄色硅钼络合物，用硫酸亚铁铵还原剂把硅钼络合物还原成硅钼蓝，用硅酸根分析仪测定其硅含量。根据朗伯－比耳定律：当一束单色平行光通过有色的溶液时，一部分光能被溶液吸收，若液层厚度不变，光能被吸收的程度（吸光度A）与溶液中有色物质的浓度成正比。测量原理硅钼蓝光电比色法显示7.0寸彩色液晶触摸屏，中文显示测量范围（0.0～200.0）μg/L、（0.0～2000）μg/L 可选测量精度±2% F.S重现性±1% F.S稳 定 性漂移±1% F. S/24h测量周期10分钟/通道测量模式连续测量和间隔测量可选水样流量10～40L/h水样温度（5～50）℃杂质固态物小于5微米，且无胶状物出现环境温度（5～45）℃环境湿度≤85% RH（无凝结）试剂消耗约3升/月/种 (共4种试剂)数字信号RS232或RS485模拟信号隔离的直流电流信号，0～20mA、4～20mA、0～10mA三种模式可任意设置报警信号各通道独立报警，断样报警、上下限报警电源AC 220V±10%，频率 50Hz±10%功耗≤100 W外形尺寸460mm×281mm×720mm开孔尺寸670mm×410mm重量约20kg

测厚计主要适用于测量橡胶、塑料等试样的厚度及均匀度。 测厚计技术参数：测程：0-10mm分度值：0.01mm工作台升降行程：40mm工作台外径： 70mm测头直径：6mm块规规格（厚度） 5、10、15、20mm外形尺寸（长×宽×高）： 115mm×75mm×213mm净重： 1.7kg

HYJCG-1下接触式接触轨几何尺寸检测仪 行走式接触轨检测仪 便携式接触轨多功能检测装置 非接触式第三轨参数检测仪 便携式三轨图像测量仪 接触轨测量尺 三轨尺HYJCG-1行走式接触轨检测仪自动精确、非接触动态测量接触轨与走行轨的垂直高度和水平距离，保证接触轨设备的安装精度，减少安装过程中人员劳动强度，提高劳动效率；同时也为接触轨的日常维护提供真实准确的数据参考，保证集电靴与接触轨受流稳定可靠，对地铁列车安全稳定可靠运行具有重要的意义。功能介绍1、采用非接触式测量方式，自动连续检测接触轨几何参数、端部弯头、受流面磨耗值（选配）2、对接触轨受流面及周围防护罩区域可选高清录像，能够清晰反映受流面状态3、利用定位传感器，结合线路固有信息，数据库定位技术，精确定位接触轨故障点4、设备识别和测量的时延不超过2秒，速度更快5、结构特点：设备整体采用完全一体化结构，无需拼装，减少误差，盖板展开可立即使用，设备使用前后都无需组装、拆卸任何部件；检测小车采用航空铝材，强度高，重量轻，携带方便；设备可在不调转机体的情况下转换推行方向。技术参数接触轨类型：上接触式/下接触式检测速度：0-10km/h采样最小间隔：2mm测量技术：激光图像导高测量范围：195-210mm（可调整）测量精度：士2.0m（动态）拉出值测量范围：775-790mm（可调整）测量精度：士2.0mm（动态）分辨率：±0.5mm端部弯头坡度：1:30~1:70，1%绝缘罩导高、拉出值精度：±2mm（选配）接触轨接头平整度：大于1mm报警（选配）磨耗精度：±3mm（选配）膨胀接头：自动识别3mm宽度以上的膨胀接头（可选）工作方式：连续/TTL，≤1kHz控制：11档位可实时在线调节测量稳定性：全时感知，正反向功能≤1‰，≤2%RMS光纤耦合系统，IRS微调系统，双置3XLimW及自调节适配装置，AIO、L-sen、DiPro-Eh测量系统：全自动连续扫描式动态测量（非人工识别、非手动界面操作、非遥控按键等方式）；手推式检测小车，实时自动或定点测量，实时动态测量及显示数据、波形图、图像和二维坐标、超限分级、报警；“高速细化+激光图像测量+脉冲触发数据采集”二级触发系统绝缘：设备主体采用铝合金，两端尼龙轮耐压绝缘。和钢轨接触的两端绝缘电阻不应小于1MΩ，严格杜绝使用过程中出现红光带/紫光带现象，也不能触发计轴器计数。走行方式：人工推行（电动驱行可选）控制系统：笔记本电脑（三防平板电脑可选）工作时间：≥4h工作温度：-20℃～50℃储存温度：-30℃～70℃尺寸：1620x380x200mm重量：≤13kg

HYRS-5钢轨焊缝平直度检测仪 工务电子平直度检测仪 电子平直测量仪 钢轨焊接接头平直度检测仪 电子钢轨平直尺 钢轨平直度测量仪 便携式数字激光钢轨平直度检测仪 钢轨平直度自动测量仪目前依靠人工塞尺、钢轨平直尺的检测方法来指导钢轨的焊接、维修，已不能满足列车运行对钢轨焊接接头平顺性的要求，而且检测精度差、效率低下；因此，开发高精度、高效轻便的轨面短波不平顺检测装置—钢轨平直度检测仪十分必要。HYRS-5电子钢轨焊缝平直度检测仪采用非接触式的激光传感器测量，可测量垂直和水平两个方向的平顺度情况，适用于测量钢轨焊补、接头以及绝缘轨接头的平顺度，还可以对钢轨的垂直面的磨损程度进行评估。在测量过程中还可以采用重叠法，对钢轨磨损的测量长度能够超过设备本身的长度，不仅适用于对短距离波形范围（0.03-0.3米）的钢轨磨损情况评估，也适用于对长距离波形范围（0.3-1米、1-3米、10米）的钢轨磨损情况评估。主要特点（1）采用精密导轨为测量基线，能够精确反映真实数值，消除了原来所用的钢板尺加塞尺的测量方法中存在的原理性缺陷。测量精度高。（2）设备显示所测量位置的波形图以及对其经过分析后做出的评估结果，现场直接生成图形、EXCEL等。配有处理软件，便于对测量结果进行存档、分析、打印检测报告，及时跟踪钢轨的磨损情况。技术参数测量基本长度：1m测量时间：≈10s测量精度：≤0.02mm分辨率：0.008mm控制系统：一键式多接口用，无线可选，50x10mm IRS微型及1mm探头，测量精度更高更稳定软件系统：hydcrack4.1.gp3.B系统，不需电脑，现场直接生成图形、图片、EXCEL等检测报告测量点数量：1000点/米测量范围：±10mm (自平均线计)内存量：≥10000个焊接剖面工作时间：＞1000次测量尺寸：1210x90x135(92)mm机身重量：≤6kg

背景介绍“外来物种”指的是非本地生态系统的任何物种，在美国被合法定义为“外来物种”，其引入可能对经济、环境甚至人类造成损害。非本土物种是全球生物多样性的最大威胁之一，仅次于栖息地丧失，考虑到我们已经进入了“地球上第六次大规模物种灭绝”，这是一个需要我们注意的严重问题。船舶压载水是海洋入侵物种的最大载体之一，用某区域的水来填充船舶压载舱，然后再排放至其他区域。据估计，任意一次船舶压载水中存在7000种物种，并且根据船舶贸易路线，在1m3压载水中容易携带超过1亿个浮游生物样本（Kabler，96）。因此，考虑到航运业每年转移类似压载水100亿吨，将会导致巨大的入侵风险。大多数非本土物种确实会造成有害的生态影响，仅英国就拥有超过2000种外来物种稳定存在。而据政府评估，这将使英国每年耗费17亿英镑，而美国则耗费高达1370亿美元，这对全球经济来说是一个巨大的问题！在海洋环境中，水生物种很容易生存并发展，控制和根除在技术上十分具有挑战性，所以预防就显得尤为重要。产品介绍CTG FastBallast压载水合规监测系统能够根据IMO D2和USCG排放标准（10~50μm范围）确定压载水的浮游植物细胞密度。FastBallast的尖端设计使其可以快速、详细的分析，是可以在流动模式下，提供持续、实时更新的排放合规性监测技术。因此可以大大增加分析水样，提供更具代表性的检测结果。 (图 FastBallast便携式压载水合规监测系统)长期以来，人们已经认识到压载水作为用于转移有害生物的载体。为解决物种入侵问题，国际海事组织成立了“压载水管理公约，2004”成立，并在全世界采用。公约规定压载水排放不得超过10 cells/mL，最小尺寸为10~50 μm。因为这个尺寸范围主要为浮游植物，活性叶绿素荧光测定被广泛视为最理想的监测方法。FastBallast活性叶绿素荧光计提供船上合规性测试，而其他大多数系统只能提供指示性结果。表1 FastBallast提供船上合规性测试工作原理FastBallast利用活性荧光测量方法，LED光直接照射样品腔，样品中的浮游植物会在光照射下进行光合作用，高灵敏度的探测器会检测仅发生于活体浮游植物中的光合作用信号—可变荧光，可变荧光的量即可反应样品中浮游植物的状态。光合作用的强弱反映了所有浮游植物的生存状态，能够有效地反映浮游植物是否存活。FastBallast中的荧光测量方法是专门针对压载水监测设计的，用来监测排放出的压载水是否达标。Chelsea technologies group开发的FastBallast采用多波长激发光，确保大小不同的浮游植物群体在光照下释放荧光，每个检测过程只需要几百个微秒，确保够在快速流动的通道内完成高频率监测。用高灵敏度的FastBallast快速压载水监测系统监测活体浮游植物的可变荧光，此方法能够满足IMO D2 和USCG排放标准（10~50 μm）。细胞大小影响表2 数据表明FastBallast分析与细胞大小无关表2说明了不同大小和物种的细胞如何显著影响指示性试验的结果。对于T. punctigera（大硅藻），level 1（指示性）试验产生假阳性（FAIL结果应该是PASS）。level 2（合规性）测试将样品正确评估为PASS。用盐藻（小型绿藻），level 1试验表明细胞密度低于显微镜结果的25%。level 2测试更接近，为显微镜结果的85%。图1 基于分析结果的分布图图1显示了基于表2中2级监测的分布数据（可变荧光，Fv）。尽管两个样品Fv值相差不大，但是T. punctigera物种的Fv值范围明显比D.salina高出许多倍。这种差异是由样品的泊松分布引起的，同时也为FastBallast用于与细胞大小无关的2级测试方法提供了基础。FastBallast VS 指示性监测如果使用其他基于荧光方法的系统进行指示性监测 （level 1），则必须提前假设每个细胞的荧光产量，而由于不同大小和种类的细胞发射的荧光变化非常大，结果会产生很大误差。FastBallast level 1（指示性）测试可为样品是否合规提供快速指示（2分钟内）。如果level 1测试产生的PASS/FAIL结果在IMO D2规范阈值的4%和4000%之间，则会自动触发level 2（合规性）测试。FastBallast level 2测试结果与在岸上的分析测试一样准确，且具有高置信度。图3 FastBallast的监测方法压载水排放最终分析系统FastBallast为IMO D2规范限制下的船上压载水监测提供了一个超敏感的解决方案。通过采用Single Turnover One Pulse检测方法实现高采样率，使FastBallast比常见的（Multiple Turnover）PAM方法更适合分析接近IMO D2阈值的低密度浮游植物细胞。当分析样品时，FastBallast首先启动1级指示性测试（level 1），耗时不到2分钟。如果产生明确的PASS/FAIL结果（即PASS：小于IMO D2阈值的4%；FAIL：大于IMO D2阈值的4000%），则停止测试并报告结果。若初始监测结果在阈值的4%~4000% 范围内，FastBallast会自动进行2级测试（level 2），用时不到8分钟。与其他需要大量样品的荧光方法相比，基于分布的FastBallast 2级测试不需要假设每个细胞的荧光量，在0~100 cells/mL范围内估算的细胞密度值与显微镜检测结果相比在允许误差范围内。使用FastBallast的2级测试，绝对不可能出现假阴性结果，也几乎不可能出现假阳性结果。为了允许潜在变化以符合法规，FastBallast还包含四个激发波长，为测量蓝藻提供更大的灵活性。应用范围2 压载水处理系统（BWTS）制造商2 轮船公司2 港口管理者2 压载水监测机构产品优势2 针对IMO D2标准（最小尺寸为10~50 μm）提供快速的船上合规性监测2 检测限1 cell/mL2 细胞密度测量不受大小影响2 通过使用20 mL的搅拌体积/分析足够多的水样来获得更具代表性结果，克服了接近IMO D2标准阈值水样的静态采样问题2 超低水平的假阴性和可忽略的假阳性结果2 宽动态范围提供了对背景荧光的高耐受性（来自死细胞、CDOM和其他来源）2 高水平的浊度排除2 可以与任何压载水处理系统进行集成（固定式）2 不需要消耗试剂或样品制备2 工作周期长（大于两年）监测方案操作流程（加水即成）：1. 使用附带的量杯将20 mL压载水倒入样品室2. 在触摸板显示屏上按“Run Test”3. 根据样品与IMO D2阈值的接近程度，测试需要1~8分钟4. 测试结果包括 Pass/Fail，置信水平和细胞密度（细胞/ mL）便携式压载水监测系统采用静态监测模式，用于抽样测试，适用于港口国管理以及船舶工程师确定其压载水处理系统（BWTS）是否运行正常。这提供了一个完全自动化和便携式的测试，适用于快速，船上现场检查分析，适合非技术人员使用。使用所提供的量杯将20ml样品倒入样品室中， FastBallast将在4分钟内产生准确的细胞计数。这可以在触摸板显示屏上通过FabTest应用按键“Run Test”来实现，结果会通过准确的细胞计数对比IMO D2规范显示为Pass/Fail，过程无需过滤。数据通过仪器内部存储记录，可以通过USB或以太网下载，以便在检查前将报告发送到岸上。触摸显示屏还可以提供更详细的样品评估报告，包括图形信息，细胞尺寸分布，船名，测试名称，位置，测试的压载舱，日期和时间等详细信息。技术参数用户界面ToughPad或FaBtest GUI软件样品量20 mLInterrogated volume0.5 mL激发波长四通道（450nm、470nm、532nm、624nm）检测精度 1 cell/mL检测范围0~4000 cells/mL检测时间level 1 2 minutes level 2 10 minutes 供电内部可充电电池组，提供8小时连续操作连接方式USB、蓝牙、以太网尺寸240×198×109 mm重量3kg密度0.68 kg/L （浮在水中）IP 防护等级IP68 盖子关闭IP65 盖子打开工作周期超过两年

Excel 以其易用性和灵活性在各行各业都有十分广泛的应用。在 GxP 环境中，需要采用系统的方法对 Excel 进行开发和验证确认，以保证数据的合规性。由于 Excel 并非专为合规环境而设计，通过 Excel 模板记录和计算生成的记录属于电子记录，除了进行验证和确认，Excel 在合规环境下的使用还需要符合 ER/ES（电子记录/电子签名）的相关法规（如 FDA 21 CFR Part 11）要求。而在访问控制，审计跟踪，电子签名等方面，桌面级的 Excel 都有其不足之处。1、Excel 的合规快捷解决方案 eInfotree 是业界领先的以插件技术针对 Excel 电子表格在合规领域应用问题的成功解决方案，使 Excel 充分满足 CFR Part11 要求。软件基于 CSI 验证过的 eInfortree 数字化合规平台。该平台是业界首个集电子表格、数据库、文件管理于一体的 Part11 合规解决方案。eInfotree 的用户包括世界知名的制药企业和医疗器械制造企业。2、解决方案-eInfotree (Ⅰ) 限制性访问 （a）采用用户名密码访问 （b）设定密码复杂度和密码生命周期策略 （c）根据登录用户对 Excel 的菜单进行分级使用控制 （d）异常事件监管 (Ⅱ) 审计追踪 （a）用户登录，登出，非法尝试登录，密码变更与锁定的审计跟踪记录 （b）数据变更显式标记 （c）记录单元格级别的修改，包括日期，时间，用户 ID，用户名，单元坐标，修改类型，改前值以及改后值、所有审计跟踪记录存储在 SQL Server数据库中 （d）可配置修改原因的可选项，对于有修改的单元格，系统可设置修改人、修改时间筛选选条件、对符合筛选条件的的单元格采用颜色进行标记，使得数据修改一目了然 (Ⅲ) 电子签名 （a）支持 Excel 表格的复核、审批工作流程，实现记录无纸化 （b）电子签名包括用户 ID 和签字者的打印体名字，日期，时间，签字的意图 （c）数据输入和编辑以及数据审查的电子签名授权 （d）可配置的电子签名意图 (Ⅳ) 跨表格提取数据进行统计分析 （a）自动根据筛选条件提取多个 Excel 表格中的特定单元格中的内容，并绘制趋势图 （b）将对年度质量回顾，测试数据趋势分析等带来极大的便利

HYPX-S钢轨纵向位移检测仪 无缝线路钢轨位移观测仪 钢轨纵向位移检测装置 无缝线路钢轨位移测量新方法 无缝线路位移观测设备 无缝线路位移观察装置　　随着高速铁路及轨道交通（地铁）的大力建设，无缝钢轨的长度越来越长，钢轨位移变化成为影响列车安全运行的重要因素，因此需要监测/检测钢轨位移的变化，为维护钢轨提供重要依据。　　HYPX-S全自动钢轨纵向位移检测仪采用高度集成一体式设计，利用远距离非接触式光电图像系统自动测量钢轨的纵向位移变化量。仪器小巧，携带便捷，安装简单，只需一次安装底座，后期主机放置在底座上即可测量。测量过程全自动化操作，同时测量多个被测点，适合多线铁路钢轨位移检测，且无需在钢轨上加装设备，不会给行车造成影响。使用本产品进行无缝线路钢轨位移的自动测量，降低了对操作者的技能要求，操作非常简单，使用方便，省时高效，仅需一人操作即可快速、精确、方便、独立的完成检测工作。性能特点1.集多套传感器系统、控制处理系统、角度调节系统、补光系统于一体，方便白天晚上测量工作。2.户外环境设计，密封良好，仪器采用铝合金，坚固耐用。3.专用底座固定安装在钢轨任意一侧的接触网支柱、隧道壁，检测时只需把主机放置在底座上，主机自动测量钢轨位移，检测完则取走主机到下一个底座安装点进行测量；不需天窗点、不需刻度尺标签、不需上道测量、不需手动测量，降低人工操作误差，提高检测精度。4.主机和底座分体式设计，一台主机可配多套专用底座，降低线路上主机的使用成本。底座为另外单独配置，可根据不同使用场景进行选择。主要参数测量方式：非接触式，非激光测量检测距离：1-10m测量范围：-20～+20mm（可设置）精度：±0.1mm@1.8m处、±1mm@13m处测量设备：主机与底座分体设计，可选同时测量一根、两根、或者四根钢轨（1个点、2个点或者4个点），特别适合多线铁路钢轨位移的同时检测，双V卡式不锈钢，7x(2-3.5)x3cm设计，±30°调节，精度0.05mm，防水防尘防锈。测量模式：自动测量读数，自动识别校正，自动定位控制器及操作软件：笔记本电脑，hydcrack-px2.0B软件系统（自动报警、纠正报警、误操作报警，图像、三类别数据、图形同时显示并实时对比，生成轨号等多类别EXCEL报表）数据传输方式：USB接口 防护等级：IP65仪器供电：可充电式大容量锂电池工作时间：≥4小时工作温度：-20℃～＋60℃工作湿度：≤90%RH主机净重：≤5kg

中图仪器WD4000无图晶圆膜厚检测设备自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。WD4000无图晶圆膜厚检测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量WD4000无图晶圆膜厚检测设备集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。WD4000无图晶圆几何量测系统可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

HYJCG-5便携式专用回流轨多功能检测装置 专用回流轨参数检测仪HYJCG-5便携式专用回流轨多功能检测装置主要适用于城市轨道交通回流轨的检修人员日常巡检的检修工器具。该装置具有携带方便、操作简单、连续不间断实时测量等特点，降低检测人员劳动强度，提升了测量精度和工作效率，解决了现有传统测量、目测不方便、效率低、劳动强度大、诊断评价粗等问题。该装置的使用有利于回流轨的及时检修、维护，达到减少回流轨故障的目的，确保回流轨系统安全服役，保证设备安全运行。功能介绍1、仪器采用非接触式测量方式，实现高清图像实时采集，能在回流轨带电状态下，自动连续检测回流轨几何参数、端部弯头、受流面磨耗值。2、设备核心采用以“图像+线性”测量、脉冲触发测量和全时感知测量控制为特征的全自动两级触发测量系统，可靠性高，数据稳定，精度高，使用寿命长。3、利用定位传感器，结合线路固有信息，数据库定位技术，精确定位回流轨故障点。4.设备识别和测量时延不超过1秒，速度更快。5.兼容电动、AI形态处理、手持式双控模式6.具备一键录入、自动识别及完成的功能。实时现场数据和图像显示，操作简便，全中文界面。可输出标准限界报告，也可根据用户自定义格式输出。7.结构特点：设备整体采用完全一体化结构，无需拼装，减少误差，盖板展开可立即使用，设备使用前后都无需组装、拆卸任何部件；检测小车采用航空铝材，强度高，重量轻，携带方便；设备可在不调转机体的情况下转换推行方向；走行轮材质具有良好的绝缘性能，防止短接轨道电路。技术参数检测速度：0-10km/h采样最小间隔：2mm回流轨中心距离线路中心水平距离范围（轨偏）：1300-1600mm（可调)测量精度：±2mm回流轨受流面与钢轨平面的垂直高度范围（轨高）：100-350mm（可调）测量精度：±2mm端部弯头坡度：1:30~1:70，1%磨耗值精度：±0.5mm轨道水平超高精度：±0.5mm里程精度：1‰测量稳定性：全时感知，正反向功能≤1‰，≤2%RMS光纤耦合系统，IRS微调系统，双置3XLimW及自调节适配装置，AIO、L-sen、DiPro-Eh测量系统：全自动连续扫描式动态测量；手推式检测小车，实时自动或定点测量，实时动态测量及显示数据、波形图、图像和二维坐标、超限分级、报警；“高速细化+激光图像测量+脉冲触发数据采集”二级触发系统绝缘：设备主体采用铝合金，两端尼龙轮耐压绝缘。和钢轨接触的两端绝缘电阻不应小于1MΩ，严格杜绝使用过程中出现红光带/紫光带现象，也不能触发计轴器计数。控制系统：三防平板电脑走行方式：人工推行或电动驱行工作时间：≥4h工作温度：-20℃～50℃储存温度：-30℃～70℃尺寸：1620x380x200mm重量：≤15kg

CP系列国产膜厚检测台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，可测量台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数。CP系列台阶仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。CP系列国产膜厚检测台阶仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。典型应用应用案例CP系列国产膜厚检测台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪，其采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。针对测量ITO导电薄膜的应用场景，CP200台阶仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；部分技术指标型号CP200测量技术探针式表面轮廓测量技术样品观察光学导航摄像头:500万像素高分辨率 彩色摄像机,FoV,2200*1700μm探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时（测量1μm台阶高度，1δ）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

产品概述全球新款模块化信息安规综合测试系统，安规功能模块化设计，可实现信息化互联，具有数据采集、存储、分析、传输等功能，是互联网工厂检测的最佳解决方案。标配10寸全彩触摸屏，自带触控键盘，实现快捷输入，自主开发测试系统软件，全方位满足智能化安规测试要求。 功能特点■ 触控键盘：10寸全彩触摸屏，自带触控键盘，实现快捷设置■ 高精度：主要安规项目精度1%，功率测试精度0.2%■ 模块化: 各功能模块板卡式设计，可多功能选择，模块化功能定制■ 故障自诊: 显示设备故障原因，配合远程升级和模块化设计，实现快速解决设备问题■ 并行测试: 耐压绝缘与接地可同时测试，大大缩短整体测试时间，提升测试效率■ 远程升级: 远程升级软件最新版本，解决软件使用中碰到的问题，升级更新定制要求■ 条码扫描: 条码启动测试，条码调测试组等功能，条码与测试数据互联，便于数据管理和分析■ 无线网络: 可连接无线网络及手机热点，实现网络信息传输，远程诊断，远程升级等联网功能■ 数据储存: 本地保存数据，联网实现数据管理、分析、上传，USB接口可实现数据导入导出，与MES等信息系统对接，可导出数据或上传数据■ 防高压：实时监控回路，自动感测被测物状态，若有人员接触高压回路，自动断开高压输出，杜绝触电伤害，保障人员安全■ 电弧侦测: 通过ARC电弧侦测可测试生产过程中因被测产品绝缘缺陷引起的闪络■ 接口丰富：仪器自带USB、LAN、RS232等接口，支持TCP/IP网络协议、PLC仿真技术、CAN通讯，内置WIFI，方便仪表的控制和扩展。

HYJCG-5自走行回流轨检测小车 便携式地铁专用回流轨检测装置 便携式回流轨检测装置 非接触式回流轨测量仪 行走式回流轨检测仪HYJCG-5便携式地铁专用回流轨检测装置主要适用于城市轨道交通回流轨的检修人员日常巡检的检修工器具。该装置具有携带方便、操作简单、连续不间断实时测量等特点，降低检测人员劳动强度，提升了测量精度和工作效率，解决了现有传统测量、目测不方便、效率低、劳动强度大、诊断评价粗等问题。该装置的使用有利于回流轨的及时检修、维护，达到减少回流轨故障的目的，确保回流轨系统安全服役，保证设备安全运行。主要功能具备手动推行或电动驱行功能，速度≤10km/h；应提供不小于4小时的连续工作的不间断电池容量；电动驱行功能具有移动充电接口，充电电源AC220V，蓄电池充放电次数不少于5000次；采用非接触式测量方式，能在停电状态下，自动连续检测回流轨几何参数、端部弯头、受流面磨耗值；对回流轨受流面及周围防护罩区域可选高清录像，能够清晰反映受流面状态；利用定位传感器，结合线路固有信息，数据库定位技术，精确定位回流轨故障点；将检测的回流轨几何参数和图像保存，可生成EXCEL统计报表关联检测数据和视频图像，便于数据综合分析；支持检测数据事后回放，波形输出，提供数据对比功能，方便故障查找；设备采用完全一体化结构设计，推杆展开后便可立即使用，设备使用前后都无需组装、拆卸任何设备组件。设备可在不调转机体的情况下转换推行方向。走行轮材质具有良好的绝缘性能，防止短接轨道电路。技术参数检测速度：0-10km/h采样最小间隔：2mm回流轨中心距离线路中心水平距离测量范围：1300-1600mm（可调）测量精度：±2mm回流轨受流面与钢轨平面的垂直高度测量范围：100-300mm（可调）测量精度：±2mm分辨率：±0.5mm端部弯头坡度：1:30~1:70，1%轨面磨耗值精度：±1mm（可选）回流轨受流面高清成像：分辨率不低于500万像素定位精度：≤3m/km走行方式：人工推行（电动驱行可选）连续工作时间：可不间断工作 4 小时，期间功能正常速度：0~5km/h控制器：高性能PC控制：11档位可实时在线调节测量稳定性：全时感知，正反向功能≤1‰，≤2%RMS光纤耦合系统，IRS微调系统，双置3XLimW及自调节适配装置，AIO、L-sen、DiPro-Eh测量系统：全自动连续扫描式动态测量，（非人工识别、非手动界面操作、非遥控按键等方式）；手推式检测小车，实时自动或定点测量，实时动态测量及显示数据、波形图、图像和二维坐标、超限分级、报警；“高速细化+激光图像测量+脉冲触发数据采集”二级触发系统操作软件：hydcrack4.3B-JCG软件系统（内置标准限界数据并可编辑、修改、录入，测量数据自动和标准数据进行比较，实时显示测量数据、波形图、图像，生成EXCEL报表，数据模板可根据所需进行修改并打印）控制系统：笔记本电脑（三防平板电脑可选）工作温度：-20℃～60℃产品尺寸：≈1620x450x200mm总重量：≤13k

中图仪器CP系列纳米测厚台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。CP系列纳米测厚台阶仪测量台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数时，通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。CP系列台阶仪测量膜厚是利用光学干涉原理，通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度，具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度，包括金属、陶瓷、塑料等。如针对测量ITO导电薄膜的应用场景，CP200台阶仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求，样品适应面广，数据复现性高、测量稳定、便捷、高效，是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台CP系列纳米测厚台阶仪系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。典型应用部分技术指标型号CP200测量技术探针式表面轮廓测量技术样品观察光学导航摄像头:500万像素高分辨率 彩色摄像机,FoV,2200*1700μm探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时（测量1μm台阶高度，1δ）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

硅酸根监测仪,硅酸根分析仪,硅表,在线硅酸根分析仪,硅酸根分析仪价格型号：TP106TP106 硅酸根监测仪是一款高精度监测仪器.符合GB/T 12149-2017《工业循环冷却水和锅炉用水中硅的测定》，采用全新的设计理念及先进的技术，广泛应用于火电、化工、化肥、冶金、环保、制药、生化、食品和自来水等行业的溶液中硅酸根的连续监测。生产厂家北京时代新维测控设备有限公司主要特点1～6通道可选择，节省费用。采用高精度电磁阀，动作可靠，使用寿命长， 进样及加药准确，测量精度高。彩色液晶显示，同一屏幕上可以同时显示硅酸根浓度值、温度、时间和状态；多路高精度可编程隔离电流信号输出，便于后续连接自动加药或DCS系统。集定量、混合、控温、比色于一体，流程简化，缩短检测时间。仪器自动存储测量界面下的硅酸根浓度值和时间,并且可存储运行，校准记录，可存储6000条数据。仪器可自动检测各路通道是否运行；该仪器正常运行时，除添加试剂、标样外，无任何工作量；单色冷光源，使用寿命长，稳定性好。技术指标测量原理： 硅钼蓝光电比色法显 示： 7.0寸彩色液晶触摸屏，中文显示测量范围：（0.0～200.0）μg/L、（0.0～2000）μg/L 可选测量精度： ±2% F.S 重 现 性： ±1% F.S测量周期： 约12分钟/通道测量模式： 连续测量和间隔测量可选水样流量： 10～40 L/h 水样温度：（5～45） ℃杂 质： 固态物小于5微米，且无胶状物出现环境温度：（5～45） ℃环境湿度： ≤90% RH（无凝结）试剂消耗： 约2升/月/种 (共4种试剂) 数字信号: RS232或RS485模拟信号： 隔离的直流电流信号，0～20mA、4～20mA、0～10mA三种模式可任意设置报警信号： 各通道独立报警，断样报警、上下限报警电 源： AC 220V±10%，频率50Hz±10% 功 耗： ≤100 W外形尺寸： 460mm×281mm×720mm开孔尺寸： 670mm×410mm 重 量： 约20kg

测量平坦表面涂层厚度并不容易，对复杂几何表面结构的涂层厚度的测量更加困难。传统的单点接触测量往往无法满足客户需求，这种方法通常是相当不准确的，而且只适用于固化后的涂层厚度测量，无法支持在生产工艺过程中进行涂层厚度测量。为了实现对复杂几何表面结构的涂层厚度，涂魔师在线漆膜测厚仪基于先进的ATO光热法技术，研发了一款利用涂层与底材之间的热性能差异进行涂层厚度的非接触无损测量系统。涂魔师漆膜膜厚自动检测系统适用于粉末喷涂，能精确检测粉末涂层厚度，稳定喷涂工艺质量；适用于湿膜和干膜应用，能精确检测固化前湿膜涂层即时得到干膜厚度，节省时间和稳定质量等。通过调研，50%的人在固化或干燥工艺后手动测量涂层厚度，43%的人是在有质量保证的实验室中手动测量涂层厚度，21%的人在选择在固化干燥工艺前手动测量涂层厚度，然而，没有人使用自动化仪器进行涂层厚度测量并优化喷涂工艺。从调研结果上看，大部分的人选择在生产线后期使用接触式涂层测厚仪，手动测量固化后的涂层厚度，然而，无论是湿膜还是干膜，在生产线末端进行涂层厚度测量已经太晚了，如果此时测量效果不好，则会产生大批量的次品，需要进行返工，这将导致更多的资金、人力、物力的消耗。涂魔师非接触无损测厚系统能够在生产线早期阶段进行涂层厚度测量，为您和您的客户记录涂装工艺过程的连续数据，为优化工艺、更换耗材提供依据；能减少物料消耗；提供高精度的生产条件，及时分析膜厚数据，及时发现喷枪堵塞等失效问题，协助调整工艺参数。涂魔师在线漆膜测厚系统如何实现在固化前测量涂层厚度？涂魔师在线漆膜测厚系统使用ATO光热法原理，通过计算机控制光源以脉冲方式加热待测涂层，其中内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线。表面温度的衰减时间取决于涂层厚度及其导热性能。最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。涂魔师漆膜膜厚自动检测系统产品系列介绍涂魔师漆膜膜厚自动检测系统有FLEX手持式，Inline在线式，Atline实验室，3D整体膜厚成像系统这4种。涂魔师手持式涂层测厚仪FLEX是一款功能齐全的高精准的非接触式无损测厚系统，无需进行整合，操作方便，校准简单，无需严格控制测试距离和角度，无需等到涂层固化后才进行涂层厚度测量，能有效节省材料和避免涂层缺陷问题，十分适用于生产车间现场，且自动记录数据及生产全过程。使用手持式涂层测厚仪FLEX在产线上监控喷粉膜厚后，调节出粉量后节省30%的粉末。特别是对于小批量，产品未出炉已喷完，所以无法根据干膜调整膜厚。而涂魔师在开始喷涂的几分钟内就调整好出粉量，减少返工，降低成本。涂魔师3D整体膜厚成像系统，通过3D成像检测技术，轻松非接触精准测量形状复杂零部件的膜厚分布情况，测试点的数据与工件被测部份一一对应，实时高效监控膜厚真实情况。为什么需要测量整体的涂层厚度？通过使用涂魔师3D整体膜厚成像系统测量涂层厚度，可以使涂层分布清晰可见，连续实时检测产线的移动工件膜厚，无需严控测量条件，对于摇摆晃动、外形复杂（曲面、内壁、立体、边缘等部位）、各种颜色（不受白色等浅色限制）的工件也能精准测厚。通过SPS等接口实现涂装线的自动化控制，能将涂魔师3D整体膜厚成像系统轻松高效集成到现有涂装线上，集成成本低。涂魔师3D整体膜厚成像系统测量复杂几何表面工件涂层厚度，能够在半秒内获得复杂形状工件表面大约十万个测量点的信息，这使得复杂表面涂层厚度的测量变得简单，并通过对测量结果的记录归档及时调整工艺，实现对喷涂工艺质量的有效控制。翁开尔是涂魔师漆膜膜厚自动检测系统中国总代理，欢迎致电咨询涂魔师漆膜膜厚自动检测系统更多产品信息和技术应用案例。

硅/硅微条探测器常用于带电粒子测量，当探测器在加有一定反向偏压并正常工作时，如果具有一定能量的带电粒子注入硅探测器，由于粒子对半导体材料的电离作用，会产生大量的电子空穴对。由于每产生一对电子空穴对需要的电离能是一定的（约为3 eV），因此产生的总的电子空穴对数目与粒子在探测器中损失的能量成正比。硅探测器对电离产生的电子空穴对进行收集，得到的电信号幅度就正比于粒子在探测器中的能量损失，可以准确的测量带电粒子能谱。同时，由于硅探测器对信号的时间响应较快，还可用于带电粒子的定时测量。硅微条探测器是在硅片表面通过蚀刻工艺，将硅片分割成多个独立的有效探测区域，通过不同的信号来源判断粒子位置和方向。硅/硅微条探测器广泛接受用户定制，根据用户需要提供合适的探测器。

国产膜厚仪 电镀测厚仪 1.微小样品检测：小测量面积0.03mm² （加长测量时间可小至0.01mm² ）2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm3.EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元 素，甚至有同种元素在不同层也可准测量。 4.先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。 5.高性能探测器【详细说明】国产膜厚仪 电镀测厚仪 性能优势：1.微小样品检测：小测量面积0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm3.先进的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂镀层，多层多元 素，甚至有同种元素在不同层也可准测量。 4.先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。 5.高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25mm2探测器。 6.X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置。 一六仪器研制的测厚仪独特的光路交换装置，让X射线和可见光摄像同一垂直线，达到视觉与测试定位一体，且X光扩散度小；与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能，实现高低、凹凸不平各种形状样品的测试；高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍，可以减少弧度倾斜放样带来的误差，同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层。 国产膜厚仪 电镀测厚仪 先进的EFP算法专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭发出EFP核心算法，结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。RoHS检测及标定

硅酸根监测仪,硅酸根分析仪,硅表,在线硅酸根分析仪,硅酸根分析仪价格型号：TP106TP106 硅酸根监测仪是一款在线监测仪器.符合GB/T 12149-2017《工业循环冷却水和锅炉用水中硅的测定》，采用新的设计理念及技术，广泛应用于火电、化工、化肥、冶金、环保、制药、生化、食品和自来水等行业的溶液中硅酸根的连续监测。生产厂家北京时代新维测控设备有限公司主要特点1～6通道可选择，节省费用。电磁阀动作可靠，使用寿命长， 进样及加药准确，测量精度高。彩色液晶显示，同一屏幕上可以同时显示硅酸根浓度值、温度、时间和状态；多路可编程隔离电流信号输出，便于后续连接自动加药或DCS系统。集定量、混合、控温、比色于一体，流程简化，缩短检测时间。仪器自动存储测量界面下的硅酸根浓度值和时间,并且可存储运行，校准记录，可存储6000条数据。仪器可自动检测各路通道是否运行；该仪器正常运行时，除添加试剂、标样外，无任何工作量；单色冷光源，使用寿命长，稳定性好。技术指标测量原理： 硅钼蓝光电比色法显 示： 7.0寸彩色液晶触摸屏，中文显示测量范围：（0.0～200.0）μg/L、（0.0～2000）μg/L 可选测量精度： ±2% F.S 重 现 性： ±1% F.S测量周期： 约12分钟/通道测量模式： 连续测量和间隔测量可选水样流量： 10～40 L/h 水样温度：（5～45） ℃杂 质： 固态物小于5微米，且无胶状物出现环境温度：（5～45） ℃环境湿度： ≤90% RH（无凝结）试剂消耗： 约2升/月/种 (共4种试剂) 数字信号: RS232或RS485模拟信号： 隔离的直流电流信号，0～20mA、4～20mA、0～10mA三种模式可设置报警信号： 各通道独立报警，断样报警、上下限报警

产品特点： - 兼容4,6,8,12寸样品；- 所有检测数据，一步同时完成测量；- 可在一台仪器上搭配不同技术的测量探头，用于测量晶圆的厚度、TTV、Bow、Warp、RST、wafer上薄膜厚度，3D形貌，TSV，关键尺寸，粗糙度等参数。- 符合SEMI S2和S8标准； - 最多可加载4个8寸片Load Port或者3个12寸片Load Port；- 两个可翻转的机械手臂，吞吐量最高达100 wafers /h；- 旋转台用于晶圆全尺寸快速测量；- SECS/GEM软件包，可以根据用户提供定制化需要；- 用户界面友好的WaferSpect 软件； 选配件 1、真空吸盘；2、高分辨率HD CMOS相机及图像识别的软件；3、集成OCR、条形码或QR码识别的摄像头；4、区分不同Cassette类型的阅读信息板；5、通过测试数据自动进行分拣 应用行业： - 化合物半导体：研磨芯片厚度控制GaAs，InP, SiC，GaN - 硅基器件前段：功率器件，MEMS，射频MEMS- 硅基器件后段：8”和12”的封装及bumping线，TSV(硅通孔技术)- LED：可用作检测蓝宝石或碳化硅片厚度及TTV- 光通讯：石英材料类

Microsoft Excel以其直观的界面、出色的计算功能和图表工具，是最流行的个人计算机数据处理软件。特别在生产工作中，无处不在！很多制药企业，也都在使用Excel电子表格进行数据管理。可是你是否知道，电子表格在制药企业中使用的合规性一直是FDA检查的重点之一。以下是FDA警告信中提到的相关问题汇总：Excel电子表格未经验证Excel电子表格不受限访问，修改和删除Excel电子表格发行、变更等内部控制流程缺失Excel电子表格中带公式单元格未被锁定Excel电子表格打印数量不受控Excel电子表格无审计追踪 除了以上已经在FDA警告信中出现的有关Excel可能出现的问题，它还存在一些缺失的特性。无版本控制无打印控制无用户管理，包括LDAP登陆 无电子签名，不支持时区允许“另存为”，这样能产生无版本控制的无限个副本 允许未保存直接打印，打印后再修改就无记录了没有审计追踪或修改记录无法在数以万计的文档中搜索到你想要的文件Microsoft Excel 无法做到数据完整性 药企在GxP的环境下使用Excel，需要符合21 CFR Part 11的法规要求！LabHawk可让Microsoft Excel 100%满足21 CFR part 11 法规的要求！LabHawk带给您----1. 符合法规的用户管理（LDAP登陆，角色，访问组，团队，自定义策略，用户定义功能）2.追踪所有的活动（修改记录和审计追踪）4WWho谁做的：操作者的名字被追踪When什么时候做的：审计追踪中记录更改的时间和日期 What更改了什么：更改过的单元格会变颜色，新老数据显示在审计追踪中Why为什么更改：每个更改都需至少5到200个可调节字符的注释3.版本和打印控制，“另存为”和不保存打印都是禁止的4.符合21 CFR part 11的电子签名5.方快捷便的数据库查询，可从数百万的Excel文件中找到需要的文件拥有LabHawk，让您轻松、放心的使用Excel！