烫金箔

烫金箔分切机是为了适应电化铝烫印工艺发展需要，开发出来的专门针对烫印铝箔分切和复卷的印后分条设备。电化铝烫印工艺时在一定压力和温度条件下，将烫金箔、银箔、电化铝箔、全息烫印箔、复合箔等材料按照烫印模板图案转印到承印物表面，在光泽度，立体感，金属感方面呈现出特殊视觉效果，广泛应用于商标、防伪，烟盒等高档产品包装领域。随着烫金机的自动化程度越来越高，智能化的电化铝烫印箔分切机逐步取代传统手动分切机将成为主流趋势。热烫印膜又称为烫印铝箔，厚度在10μm到20μm不等，一般包括基膜，隔离层，保护层，金属层以及胶粘层五种材料。除了在电化铝箔，电化铝烫印膜分切机还广泛应用于烫金箔，银箔，粉箔，复合铝箔，全息烫印箔等烫金材料的分切和复卷。功能特点:1. 提高生产效率：碳带分切机可以快速、准确地将碳带切割成所需长度，大大提高了生产效率。2. 降低人工成本：使用碳带分切机可以减少人工操作，降低人工成本。3. 提高产品质量：碳带分切机可以精确地切割碳带，避免了手工切割带来的误差，提高了产品质量。4. 增加产品种类：碳带分切机可以根据不同的需求，切割出不同长度、不同宽度的碳带，增加了产品种类。5. 降低废品率：使用碳带分切机可以减少废品率，避免了手工切割带来的浪费。多元服务：1、专业用心专业“顾问和管家”全方位服务，为客户创造价值！2、售前咨询一对一专业售前咨询服务，解读客户需求，提供各类产品的分切方案和智能工厂升级解决方案。3、量身定制以客户需求为导向，提供个性化、定制化的产品分切需求整体解决方案和智能工厂升级解决方案。4、测试出厂全流程专业严苛质量管控与精密调试，高品质的强力保障，保障机械设备的优良品质和卓越性能。5、技术支持为客户提供专业性的产品培训、操作指导等技术化服务，包括且不限于上门维护及远程服务。6、协同创新配合客户技术升级、生产效率提升需求，进行设备工艺的研发创新升级，持续为客户提供解决方案。7、售后支持7*24小时全程在线服务，及时响应客户需求。除易耗品外所有核心部件提享有一年质保政策，并对所有产品提供终身维护服务。技术支持：1.设备安装调试技术支持人员会协助客户进行设备的安装和调试，确保设备能够正常运行。2.操作培训技术支持人员会对客户进行设备操作的培训，包括设备的使用方法、注意事项等。3.故障排除如果设备出现故障，技术支持人员会及时响应客户的请求，进行故障排除和维修。4.维护保养技术支持人员会对设备进行定期的维护保养，确保设备的长期稳定运行。5.升级改造如果客户需要对设备进行升级改造，技术支持人员会提供相应的技术支持和服务。6.远程支持技术支持人员可以通过远程连接的方式，对设备进行远程监控和支持，提高设备的运行效率和稳定性。

电化铝分切机是将大卷的电化铝材料按照特定宽度和长度进行分切的设备。电化铝，也称为烫金材料，广泛应用于印刷、包装、装饰等行业。用途：主要用于将大卷的电化铝材料分切成客户所需的宽度和长度，以便于后续加工和使用。市场情况：随着印刷、包装等行业的不断发展，对电化铝分切机的需求也在不断增加。市场上存在多种型号和规格的电化铝分切机，以满足不同客户的需求。应用领域：电化铝分切机广泛应用于印刷厂、包装厂、装饰公司等需要电化铝材料的行业。通过分切机的高效分切，可以大大提高生产效率，降低生产成本。总结：该设备通常适用于铝材加工行业，可以将大型的电化铝卷材按照所需的尺寸和规格进行精确分切，以满足不同生产需求。除了在电化铝箔，电化铝烫印膜分切机还广泛应用于金箔，银箔，粉箔，复合铝箔，全息烫印箔等烫金材料的分切和复卷。

A-Z金属箔片合肥科晶公司提供各种尺寸A-Z金属箔片，常规厚度0.1毫米，纯度3N ，欢迎垂询。 Ag银箔Al铝箔Au金箔Cu铜箔Co钴箔Cr 铬箔Li锂箔In铟箔Ni镍箔Mo钼箔Pb铅箔Ti钛箔 Ta 钽箔V钒箔 W 钨箔 Zr锆箔 不锈钢箔 ……

产品名称：金箔片（Au) 产品规格：dia1" 、dia2" 、dia3" 可以按照客户要求切割加工 ， 最小可切割到1mm厚度标准包装：1000级超净室，100级超净袋包装相关产品:Al FoilCu Foil C FoilIn FoilLi FoilPb FoilMg FoilNi FoilSS FoilTi Foil Ta Foil V FoilW Fpil

乳腺机低对比度细节模体(阈低对比度细节模体)模体尺寸为180×240×0.5mm铝基板，铝纯度＞99.5％；基板上由不同厚度纯度为99.99%的金箔组成，排成16排和16行；乳腺机低对比度细节模体模体设计：金箔每排的直径是相同的，厚度以对数形式增加；金箔厚度范围为0.06～2.0μm；金箔直径范围为0.06～2.0mm；另配4个180×240×10mm PMMA板和1个180×240×5mm PMMA板；含数据分析软件

铝箔针孔度检测仪铝箔针孔度检测台是济南三泉中石实验仪器有限公司研发生产的，型号为ZK-02的铝箔针孔位置、针孔数量和针孔大小的检测仪器。铝箔生产厂家、药包材厂家可以在规定的环境及灯箱光源下，通过观测装置来观察针孔的数量，并测量针孔的尺寸大小。 济南三泉中石实验仪器有限公司的满足《YBB00152002-2015药用铝箔》、《GBT3198-2010铝及铝合金箔》、《GBT22638.2-2008铝箔试验方法第2部分针孔的检测》等国家标准规定，是一款外形美观、经久耐用、测试结果精度高、价格便宜的实验实验检测设备。 下面小编简单介绍下铝箔针孔度测试仪的功能： 1.配有100X大倍率和0.1mm的放大刻度值的观察物镜，可以清晰直观的测量针孔的大小；2.三泉中石的ZK-02配有30W光源功率，20Lux-50Lux应用环境光照度可直接定位铝箔针孔的位置。3.满足新版药包材标准要求可用于药品包装用铝箔针孔度。 铝箔本应是阻隔性的材料，但若其本身有针孔，其阻隔性就要大打折扣了，气体、光线会快速直接穿透，内容物很快要变质。一般来说，铝箔越厚，针孔数就越少，那么作为药品泡罩、硬片包装的铝箔薄片，其生产厂家想要在保证气密性的同时，zui大程度的节约生产成本，就需要用专业的实验室检测设备ZK-02来控制产品质量。 技术参数 观察尺寸 400×250mm 应用环境光照度 20Lux-50Lux 光源功率 30W 放大刻度值 0.1mm 物镜放大倍率 100X 测量最小格值 0.01mm 外型尺寸 800×600×300mm (长宽高) 重 量 20Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 最高80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GBT 3198-2010 GBT 22638.2-2008 YBB 00152002-2015 铝箔针孔度检测仪此为广告

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贵港平面丝印机厂家东莞骏欣机械丝印机厂家丝印机也就是丝网印刷机。在印刷行业采用丝印机印刷的几率比较高。它的工作原理是通过丝印网版将油墨按照丝网开孔即需印刷的形状来漏印到被平面承印物表面的一种设备。丝印机的优势是承印物可以是多种多样的，但它更适用于平面物体的印刷。 丝网印刷速度快，节省人工，价格优惠，环保防尘除静电，适合大批量生产贵港平面丝印机厂家东莞骏欣机械丝印机厂家。 贵港的郑女士从搜索看到骏欣机械生产的曲面丝网印刷机印刷视频，感觉印刷速度很快，操作特别安全，其次还能够节约人工，便联络到咱们，郑女士传来样品图，经过咱们分析后确认可印刷，随后找郑女士把产品寄到我们工厂来打版，看看我们曲面丝印机印出来的效果。 接到样品后，咱们安排专人进行打版并录好打版视频发给郑女士，郑女士对印刷结果很中意,并要求把样品寄回去看看。等到收到寄回去的产品后，随后郑女士亲自来我们厂参观，具体了解后定机。过了几天，我们通过物流直接把丝印机运到郑女士公司门前。 适用范围：1、适用于玻璃盖板、亚克力及pc平板镜片单机印刷或多色套印；2、液晶玻璃基片印刷；3、小型电子产品塑胶镜片与外壳单机印刷或多色套印；4、塑料外壳、按键印刷。 东莞骏欣机械有限公司坐落于广东省东莞长安镇莲花山脚下，南接深圳，交通便利。现公司主营机器有：丝印机、全自动丝印机、平面丝印机、曲面丝印机、大平面丝印机、吸气平面丝印机、电动丝印机、气动丝印机、伺服丝印机、跑台丝印机、玻璃丝印机、移印机、单色移印机、电动移印机、全自动移印机、双色穿梭移印机、气动移印机、伺服移印机、电脑键盘专用移印机、假指甲专用移印机、手动移印机、座台移印机、座地移印机、双色转盘移印机、三色穿梭移印机、三色转盘移印机、四色穿梭移印机、四色转盘移印机、平面烫金机、曲面烫金机、仿形烫金机、全自动烫金机、烫金机、热转印机、平面热转印机、曲面热转印机等。 以上是关于贵港平面丝印机厂家东莞骏欣机械丝印机厂家的相关内容，了解更多请搜索【东莞骏欣机械】。

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滁州平面丝印机厂家东莞骏欣机械丝印机厂家丝网印刷被称为多功能印刷，应用广泛，具有很大发展潜力与发展空间。目前网印机械的产品品种已有40多个，如气动、半自动、3/4自动、全自动、单色和多色、平面和曲面机等。从机型上看，国产网印机除蚌合式外，四柱升降、弹台式网印机的生产厂一家愈来愈多，八色全自动平面丝网印刷机的生产，填补了我国该机型的空白。网印制版设备基本配套，手动、气动、自动绷网机，各种规格型号的烘于机，各种光源和不同规格的晒版机等，基本能满足国内网印市场的需求。网印油墨、感光胶、丝网正向着多品种、高质量发展。 丝网印刷速度快，节省人工，价格优惠，环保防尘除静电，适合大批量生产滁州平面丝印机厂家东莞骏欣机械丝印机厂家。 滁州的吕先生通过搜索看到骏欣机械生产的曲面丝印机操作视频，觉得效率很高，印刷非常安全放心，除此之外还可以节省人工，便找到到我们，吕先生发来产品图片，经过咱们分析后肯定能印刷，然后找吕先生把产品寄到我们工厂来印刷，看看我们曲面丝网印刷机印出来的效果。 拿到样品后，咱们安排专人进行印刷并录好印刷视频发给吕先生，吕先生对印刷结果很中意,并要求把产品寄回去看看。等到收到寄回去的样品后，吕先生马上定机。几天过后，我们从物流直接把丝印机运到吕先生公司门前。 适用范围：1、适用于玻璃盖板、亚克力及pc平板镜片单机印刷或多色套印；2、液晶玻璃基片印刷；3、小型电子产品塑胶镜片与外壳单机印刷或多色套印；4、塑料外壳、按键印刷。 东莞骏欣机械有限公司坐落于广东省东莞长安镇莲花山脚下，南接深圳，交通便利。现公司主营机器有：丝印机、全自动丝印机、平面丝印机、曲面丝印机、大平面丝印机、吸气平面丝印机、电动丝印机、气动丝印机、伺服丝印机、跑台丝印机、玻璃丝印机、移印机、单色移印机、电动移印机、全自动移印机、双色穿梭移印机、气动移印机、伺服移印机、电脑键盘专用移印机、假指甲专用移印机、手动移印机、座台移印机、座地移印机、双色转盘移印机、三色穿梭移印机、三色转盘移印机、四色穿梭移印机、四色转盘移印机、平面烫金机、曲面烫金机、仿形烫金机、全自动烫金机、烫金机、热转印机、平面热转印机、曲面热转印机等。 以上是关于滁州平面丝印机厂家东莞骏欣机械丝印机厂家的相关内容，了解更多请搜索【东莞骏欣机械】。

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Pro-MAM Gold乳腺阈对比度检测模体技术参数:主板尺寸：240×180×20mm主板包含256个细节对比度模块(10mm深)，每个对比度模块包含2个金箔片(纯度99.99％)，共512个16行金箔片直径为：0.05, 0.1, 0.15, 0.2, 0.25,0.3, 0.4, 0.5, 0.6, 0.7, 0.8, 0.9, 1.00, 1.25, 1.50, 2.0mm16排金箔片厚度为：0.03, 0.04, 0.05, 0.06, 0.08, 0.09, 0.13, 0.15, 0.20, 0.25, 0.35, 0.50, 0.70, 1.00, 1.42, 2.00μm直径精度：0.001mm (1μm)；厚度精度：0.1nm (0.0001μm) DF-5乳腺成像准直评估测试工具产品描述：用于实时检测拍片机、乳腺机照射野和指示光野一致性。技术参数:测量范围：50mm*小分辨长度：1mm显示放射：屏幕直接显示误差读数开启方式：辐射自动触发电池寿命：4-5年

荷兰Artinis CDMAM 4.0模体特点：CDMAM 4.0根据欧洲数字乳腺X线摄影质量保证指南进行了优化CDMAM 4.0金箔被放置在心理测量曲线的最易感区域CDMAM 4.0基于高精度的生产工艺改进了规格CDMAM 4.0由客户反馈和客户要求而定制开发荷兰Artinis CDMAM 4.0模体规格：CDMAM 4.0 672枚金箔分为21个指数级，直径范围为0.08至2.0毫米CDMAM 4.0每个单一直径都有其独特的金的优化厚度范围，具有16个不同的厚度级别CDMAM 4.0 43个额外的参考光盘，用于优化计算机化评分CDMAM 4.0 0.5毫米抛光铝基（99.5％）PMMA盖（240 x 162 x 3 mm）CDMAM 4.0 包括4块PMMA板（10mm 抛光外观，厚度公差±0.1 mm）CDMAM 4.0 模体 下一代乳房X线造影术低对比度细节模体厚度从0.012μm到2.8μm，公差±3％（平均±2SD）直径：0.08mm至2.0mm，公差±0.005mm（平均±2SD）CDMAM分析软件CDMAM 4.0 Phantom专为自动图像评分而设计为了分析模体图像，我们开发了基于CDCOM 的CDMAM 4.0分析仪软件CDMAM 4.0分析仪软件根据欧洲指南第4版的补充说明来确定阈值对比厚度CDMAM分析软件特点:CDMAM 4.0快速，客观的图像评估CDMAM 4.0自动生成报表荷兰Artinis CDMAM 4.0分析仪荷兰Artinis CDMAM 4.0分析仪特点CDMAM 4.0确定心理测量学曲线CDMAM 4.0校正得出人类实际读出值CDMAM 4.0计算对比细节（CD）曲线。CDMAM 4.0检测不同直径的阈值厚度收集自动读出软件(CDcom)的结果荷兰Artinis CDMAM 4.0分析仪介绍CDMAM 4.0方法在“欧洲乳腺癌筛查和诊断质量保证指南”的补编中有所描述CDMAM 4.0每个分析步骤的结果显示在软件中您可以轻松比较多组图像，并比较其CD曲线，IQFInv评分和检测到的金箔百分比荷兰Artinis CDMAM 4.0分析仪规格及要求图像格式：DICOM标准需要自由USB端口运行平台:Windows 7,8,10与CDMAM 4.0 模体配合使用

库存现货；KYOWA共和应变片库存新日期KFGS-2-120-D16-11 LIM3SKFGS T-F7配备了端子，可一键连接和拆卸引线，操作方便。适用于使用切割法等测量残余应力，并备有带夹子的专用软线（T-C26、乙烯基线长2m）。特征材料 电阻元件铜镍合金箔物质基础聚酰亚胺与主要适用粘合剂组合后固化后使用温度范围（℃）CC-33A：-196~120℃CC-35：-30~120℃CC-36：-30~100℃EP-340：-55~150℃与主引线结合时温度（℃）带表端子的聚酯铜线：-196 至 150℃　自温度补偿范围（℃）10～100℃适用线膨胀系数×10⁻ ⁶ /℃11, 16, 23, 27室温应变极限（约%）常温疲劳寿命（次数）

库存现货；KYOWA共和应变片库存新日期KFGS-1-120-D17-11L1M3S KFGS T-F7配备了端子，可一键连接和拆卸引线，操作方便。适用于使用切割法等测量残余应力，并备有带夹子的专用软线（T-C26、乙烯基线长2m）。特征材料 电阻元件铜镍合金箔物质基础聚酰亚胺与主要适用粘合剂组合后固化后使用温度范围（℃）CC-33A：-196~120℃CC-35：-30~120℃CC-36：-30~100℃EP-340：-55~150℃与主引线结合时温度（℃）带表端子的聚酯铜线：-196 至 150℃　自温度补偿范围（℃）10～100℃适用线膨胀系数×10⁻ ⁶ /℃11, 16, 23, 27室温应变极限（约%）常温疲劳寿命（次数）

仪器组成： 多功能数字多道、放射源模拟器、卢瑟福散射平台 用户自备电脑一台(Win7以上 64位系统)卢瑟福散射实验： 演示α粒子散射； 验证卢瑟福散射理论与卢瑟福核式模型； 学习应用散射实验研究物质结构的方法。卢瑟福平台: 模拟真空环境内模拟探测器，模拟放射源，模拟金箔放射源转动结构参数： 1)数字式闭环步进驱动器 2)精密蜗轮蜗杆分度台 3)行程：0°-360° 4)重复定位精度：0.005° 5)分辨率：0.02° 6)减速比：1:90

仪器简介：Jerome 631-X是基于威氏桥平衡原理进行测量的Jerome 631-X是基于威氏桥平衡原理进行测量的。按下采样键，仪器的内置气泵把空气抽入仪器中，空气中所有的H2S都会吸附在仪器内置专利技术的黄金箔传感器上，传感器的电阻值按正比例产生改变，然后通过计算，得到样品中H2S的浓度。 仪器应用： ü 泄漏检测 ü 质量控制 ü 室内空气分析 ü 管理机制的规范 ü 有害(恶臭)气味监视 ü 应用研究项目 ü 脱气效率测试 ü H2S泄漏源检测 ü H2S精确检查 ü 腐蚀监测 ü 监视与控制系统技术参数：固定分辨率从0.001(在范围0)到0.1ppm(在范围3) 检测范围 :0.003-50ppm 精密度 :5％的相对误差 准确度 :范围0：± 0.003ppm(在0.050 ppm) 范围1：± 0.03ppm(在0.50 ppm) 范围2：± 0.3ppm(在5.0 ppm) 范围3：± 2(在25 ppm) 反响时间 : 采样模式 勘测模式 10-50ppm～13 秒 10-50ppm～3 秒 1.0-10.0ppm～16 秒 1.0-10.0ppm～6 秒 0.10-1.00ppm～25 秒 0.10-1.00ppm～15 秒 0.001-0.100ppm～30 秒 0.001-0.100ppm～20 秒 空气流速 :150mL/min或0.15L/min 电源配置 :220-240V，50-60Hz，1A 重量 :3公斤 Jerome 860 型便携式硫化氢(H2S)监测仪 分辨率 ：0.2 ppm 常规检测范围 ：0-200 ppm 突发检测范围 ：达1000ppm 精确度 ：1.0 ppm 或4% 于标准温度和压力 2.0 ppm 或8% (最高) 反应时间 ：35秒(检测到90 ％ 的采样浓度) 采样间隔 ：2秒到1 小时不等 使用环境 ：0-50℃、20-100％湿度(视使用情况而定) 接口 ：红外端口、PC/PDA 兼容 数据容量 ：100,000数据点主要特点：631-X 特点： ? 小巧和操作容易 ? 超凡稳定的金箔感应器 ? 灵敏的压力感应膜按键 ? 内置的充电电池组便于携带 ? 广泛的检测范围适合多种应用 ? 全自动的LCD 背景灯 ? 包含快速检测H2S 浓度的勘测模式 ? 内置微处理器确保传感器的响应在整个浓度范围为线性 860 特点： ? 坚固尼龙仪器箱 ? 用户可自行更换的电池组 ? 耐用的电化学传感器 ? 快速准确的H2S 分析

由于激光模切技术是由计算机直接控制的，无需更换刀模版，可实现不同版式活件之间的快速切换，节省了传统模切的刀模更换和调整时间，尤其适合短版、个性化模切加工。激光模切机具有非接触式的特点，换活快，生产周期短，生产效率高。目前，激光模切主要应用于在包装、商务不干胶、标签、贺卡、文创产品等领域。现如今卷筒标签材料五花八门，有不干胶纸，PET、PT等簿膜，金箔、银箔等。激光模切在这些材料上都可以完美展示其切割的灵活性。标签印刷量也由原来的大订单改为多批次小批量。尤其是特别促销产品，样式新颖、变化频繁，激光模切的短单优势与灵活个性化突显出来。 铜版纸不干胶全自动激光模切机适用材料广，刻字膜、不干胶、薄膜等卷材均可激光打标和模切；使用美国进口相干激光器，功率稳定可靠，性能优良；使用进口振镜系统，高速模切线条不变形，保证良好模切效果；搭载三维动态聚焦振镜系统，打标切割效果更精细；搭配自动收卷系统，可实现撕蓝膜、模切、排废、覆膜等功能；自动收卷系统由PLC控制，可实现飞行模切和扩展轴模切方式；最大宽幅300mm（可定制），最小光斑直径0.22mm，模切效果精细；最大有效加工面积30平方/小时；钣金一体化结构，设备稳固可靠，高速运转时不会出现抖动现象；整机一体化，调试操作简单易学，上手容易。

CartonTANK-430S烟包离线质量检测系统由PrintingPlus6.0检测软件、正面高精度光学成像系统、高速图像处理工作站、高速传输平台组成。逐一对产品进行不同角度拍照成像、图像分析、软件处理、信号转换等流程，最终实现缺陷品判断和剔除。能够极大降低人工成本，提高检测效率和精准度，从而保证出厂质量。低误报：屏蔽光柱镭射底纸干扰技术，轻松应对金银卡、烫金、镭射、全息等检测场景，降低误报。易操作：成像结果一屏显示，无需切屏；只需一张好品图像，3分钟实现AI建模。高稳定：6工位相机仅需匹配1台工控机，大幅减少多工控机对接引发的系统问题；搭载检测行业国内装机量NO.1的PrintingPlus6.0软件，主界面在线调参，无需停机，拒绝检测过程频繁卡顿。高精度：300米/分钟传输下实现行业标杆级0.05平方毫米检测精度；刀丝检测算法配合亚象元技术，实现0.5个象元宽度刀丝精准检测。

LabelHERO-P标签在线质量检测系统可以安装在印刷机上，在标签印刷过程中对印品进行质量监控，有效检测糊字、漏印、色差、套印偏差、脏点、墨点、毛边、模切偏位、烫金偏位等常规缺陷及其他特殊缺陷，有效杜绝连续废品。同时提供在线检测离线剔除解决方案，经过在线检测、缺陷筛选、缺陷剔除简单三步，实现有效的印刷质量管理。实时监控：缺陷类型、缺陷位置、缺陷大小等信息实时显示，便于操作者及时作出判断和处理。双屏显示，方便放大观察缺陷与缺陷位置快速定位，提升产品易用性。提高效率：生产和检测同时进行，减少额外检测花费的时间成本。配合离线剔除工艺 , 提升质检效率。易于管理：集中管理所有产品的检测模板和缺陷数据，方便易用。检测结果可追溯：可生成缺陷分类统计报表，用数据支撑质量管理者的决策。

LabelHERO-F标签离线质量检测系统对印品在分切工序进行质量检测和缺陷样张替换，可以检测糊字、漏印、脏点、墨点、毛边、套印偏差、烫金偏位、模切偏位、分条不良、色差等印刷缺陷。具有检测精度高、检测速度快以及运行稳定性高的特点，是标签产品终检的最高效方案。设备适应性强：抽拉式设计方便客户自行快速更换不同类型光源，适配不同产品和材料检测需求，提高设备适应性和利用率。软件易操作：快速建立产品质量检测标准模板，以此为参照对比标签印刷品缺陷，同批次产品质量标准模版可重复使用，缩短前期准备时间。检测功能全：除了可检测常规印刷缺陷外，还具备版周检测、色差检测、可变信息检测等功能。检测精度高：可选择4K、7K高精度相机方案，高速运行下可靠检测最小0.02平方毫米的缺陷。

简介：COFOMEGRA公司拥有30年生产、研究和研发无粉腐蚀机的经验..该腐蚀机可用于腐蚀锌板和镁板，Z大尺寸为77 x 102cm.强大的结构和耐腐蚀材料保证仪器寿命长.旋转板会避免不均匀的腐蚀.大灵敏度的温控器保证在腐蚀周期中减Z小的温度变化.仪器内配有自动加热装置，可连接冷冻机或水冷却装置.锌板或镁板应用：- 烫金印- 皮革热压花- 合成材料高频模切- 按本印刷- 标签生产参数：容积：200L自动腐蚀无操作员面板电子桨速控：至750rpmS型桨通风槽连接 φ100mm电气：220/380V单相，50或60Hz尺寸：长2120 x 宽1500 X 深1100mm.净重：650kg可选件：冷冻机：7HP空气冷却冷冻机+冷却水箱和循环泵PVC排风扇：用于排烟不锈钢泵：确保快速排水酸分配系统：降低危险性，减少时间消耗

Regula 视频光电检测鼠 小型证件检测仪 光电检测器 光谱发光放大镜 41774177视频光电检测鼠用于对各种文件的真伪验证，包括护照，身份证件，旅行证件，签证，印章，入境许可证，钞票，驾驶执照，车辆登记证，签名，手写文字，邮票，证券和其他具有安全防伪功能的文件。Regula 视频光电检测鼠小型证件检测仪放大镜 产品应用:l不同层面的真伪验证和检验。防伪特征：防伪纤维，安全线，全息图，烫金，磁极特征，光学涂层等。Regula 视频光电检测鼠小型证件检测仪放大镜 印刷方式：凹版印刷，文本框，花环和小插图，缩微印刷，潜影和云纹，盲文压印，变色油墨，OVI。凸版印刷的序列号，文本，条形码等。胶版印刷的彩虹印刷的文本，缩微印刷，波纹图案，背景和防复制图案等。丝网印刷的具有光学可变效果的安全保护功能等。物理化学防伪：反斯托克斯光，紫外光，红外光其他复杂的安全涂层：红外荧光，安全层压板的特殊聚合物涂层，金属涂层，激光雕刻Regula 视频光电检测鼠小型证件检测仪放大镜产品特点:小巧 USB 设备，塑料机身，外形和大小似电脑鼠标。产品通过配套软件在电脑上控制、显示和处理图像。Regula 视频光电检测鼠小型证件检测仪放大镜 产品优点:抗震塑料机身，小巧，多光源文件检验设备。Regula 视频光电检测鼠小型证件检测仪放大镜 参数:连接接口:USB 2.0尺寸（长×宽×高）:94×62×52mm重量: 0.2kg电源电压: 5V功耗: 2W

高精度狭缝挤出式涂布机（适配手套箱） 涂布间隙控制：高精准，动态控制涂布头高度(z轴)；模具运动控制：在涂布方向上(x轴)精确控制模具的运动轨迹(包括加速和减速参数)；模具设计：针对高一致性、化学兼容性、低充填容量和条状涂布进行模具设计制造；涂布控制：涂布速率(稳态涂布)和涂布轮廓(前后边缘)的高精度数字化控制；控制软件：所有配方参数，数据监控和反馈控制，数据采集分析。 应用领域：1. 平板显示 2. LCD/OLED3. 触摸屏4. 太阳能光伏5. CIGS,CdTe,OPV和C-Si6. 高附加值玻璃7. 可调光智能玻璃，博物馆用玻璃8. 半导体，微机电系统，无线射频识别，聚合物电池9. 各种有机及打印电子器件 设备参数：基底：玻璃，多孔质基材，金箔，硅片基底厚度： 2-10mm基材长宽：MAX120X120mm涂层用度(温厚)：2-1000um固含量：10-50%粘度：1-2000cps涂布方式：狭缝挤出式涂布涂布宽度：外宽MAX120mm（实际工作100mm）涂布平台速度：1-30mm/S平台平整度：±1.5um电源：220V X 50Hz出胶速度：1-500uL/s 狭缝式涂布技术狭缝涂布( SlotDie Coating)技术利用精密机械加工所制作的模块，由涂布模具相对于基片作精确运动，通过控制速率、精密计量和泵送工艺流体,将液体化学材料挤出涂布于移动的基板(玻璃、不锈钢和塑料等)上形成薄膜。涂膜厚度可由液体流量与基板移动速度直接计算，其优点为涂膜均匀性高、可适用的涂料黏度范围广、涂布速度快、以及可制作大面积的涂膜。

OTF-1200X-HP-30A是一款小型的高温高压管式炉，其炉管法兰上安装有高压电磁阀和压力传感器，所以当管内气压高于设定值时，电磁阀会自动打开排气，使管内气压达到设定值。其炉管采用镍基合金钢管制作,其尺寸为30mm O.D x 12 mm I.D x 580 mm L。此款可在高压氧环境或惰性气体环境下对样品进行热处理，最高温度可达1100℃。所以特别是对于超导材料及介电材料的探索研究，此款小型高温高炉是一款物美价廉的实验工具。技术参数炉体结构采用双层壳体结构采用高纯氧化铝纤维作为炉膛材料铝制散热器安装在炉体两端，便于炉管接触。散热器下端安装有冷却风扇，以确保设备工作时，法兰和气体接口的温度不高于60℃炉体设计为开启式，以方便更换炉管功率2.5KW电压AC 208 - 240V 单相, 50/60 Hz最高工作温度1100℃最大升温速率= 20°C/min工作压力和相对应的温度炉管内最大气压加热温度≤ 20 Mpa≤ 800°C≤ 12 Mpa≤ 900°C≤ 6 Mpa≤ 1000°C≤ 4 Mpa≤ 1100°C警示: 实验前必须在压力显示器上设置最高压力值高温高压管炉管材料：镍基合金钢炉管尺寸: 外径30 mm x内径12 mm x 580 mm L1/4NPS内螺纹接口安装在炉管两边法兰上注意：可在本公司选购小型刚玉舟（50*5*5mm)来盛放样品（点击图片查看详细资料）可通入气体，及所使用坩埚可通入气体：O2 和 惰性气体，如N2, Ar 和 He等注意: 实验时需用石英或氧化铝舟来盛放样品为了避免样品污染，最好是用金箔或镍箔将样品包住后放入氧化铝或石英舟中，再放入炉管中进行烧结加热长度300mm恒温区长度50mm(以+/-1°C为偏差)，70mm(以+/-2°C为偏差）温控系统 采用PID方式调节温度，可设置30段升降温程序温控仪表中带有过热和断偶保护控温: +/- 1°C热电偶型号：K型控温仪表操作视频压力检测和控制 炉管右端法兰上安装有一压力传感器，并与仪器面板上的压力显示器相连接，压力显示器上可设置炉管内的最高压力值一个高压电磁阀安装在炉管的左端法兰上，当炉管内的气压高于所设定的压力值时，电磁阀将自动打开泄气，使炉管内的气压回复到设定值注意：电磁阀所能承受的最大气压为15Mpa,若实验要求炉管内的气压大于15MPa时，不可使用电磁阀（应将电磁阀下端的针阀关闭） PC控制可选购MTS-03 控制软件，可在电脑上显示和设定压力和温度程序，以达到远程控制 密封圈采用无氧铜密封圈密封 加热元件掺钼铁铬铝合金（表面涂有氧化铝涂层，可延长使用寿命）尺寸 340mm×300mm×400mm ( W x L x H) 重量约35kg质保一年质保期，终身维护（不包含炉管密封圈和加热元件）温馨提示 本公司的高温高压炉管都是采用镍基高温合金钢制作，不仅可耐温1100℃，而且延展性非常好。当实验时误操作使得镍基合金管内的气压超过最大可承受值时（超过合金管的长期强度），合金管会发生蠕变，而不是脆性破坏，然后炉管上会慢慢出现一裂缝将气体放出。这就意味着，即使在高温环境下炉管内部压力过大，也不会产生爆炸现象，而是先鼓起一个包，再产生裂缝，将气体泻出。所以用本公司高温高压炉进行高温高压实验，是绝对安全的。下图为本公司对镍基合金管所做破坏试验后的图样：质量认证CE Certified

用于使用LED光源对文化遗产艺术品进行非侵入式分析 荧光光谱法是一种尤其适用于有机物质分析的灵敏度高的方法。常用的设备使我们能够处理小样品，粉末或沉积在石英台的样品。然而，对易碎艺术品（画布画，粉彩，中世纪手稿）的研究无法进行，而它们也无法转移到实验室进行分析，因此需要轻巧的便携式设备来对艺术品进行原位分析，而无需接触或样品准备。该系统必须灵敏，无创，省时，并且占用空间小，以便在自然保护或修复室内进行数据采集，以减少干扰。 Freiberg Instruments公司设计了一种新的使用LED光源的分光荧光计设备（LEDμSF），并对其性能进行了评估，以便对我们的文化遗产组件的艺术品进行原位表征，该设备最近已获得专利。 该系统根据所分析的材料，可更换255 -623 nm的LED光源。激发光聚焦在样品上的一个小点上，激发的荧光被光学收集并耦合到光谱仪的光纤中。测量头的这种共焦设置消除了大多数杂散光。滤光片与LED相关联，以减少其反射和二阶效应（570和750 nm）。 LED的选择基于对粘合剂和颜料分析的各种研究。 比如：285 nm用于研究蓝色或黄色颜料（青金石，石青，埃及蓝；雌黄，铅锡黄 等...）和某些有机粘合剂（蛋白质胶，阿拉伯胶）的荧光。 375 nm诱导了脂质结合剂（蛋黄，亚麻子油）和红色颜料（红铅，朱砂，胭脂红… … ）的荧光。已将获得的测量结果与目前用于中世纪绘画颜料的常规实验室设备进行了比较。分析已定义了一些红色，蓝色和黄色颜料的荧光发射的特征谱带（例如，红色铅在580 nm处具有大荧光；朱砂在610 nm处具有荧光，而棘齿在530 nm处）。特征巨大发射波长使我们能够区分大多数与不同粘合剂混合的颜料，这些颜料沉积在石英板上，羊皮纸上或复制品上。 应用方向：古代绘画（壁画、手稿、彩绘、雕刻、架上绘画）|染料|粘合剂|食品质量检查|化学/聚合物鉴定|生物分子分析等 LEDμSF的功能介绍：● 便携式轻巧的荧光分光光度计● 非接触，无创和无损测量● 模块化设计：根据所分析的材料，可更换255 -623 nm的LED光源● 照射点：约1毫米● LED功率可调● 远程触发，可以设置积分时间（3 μs… 600 s可调）● 颜料和粘合剂参考光谱数据库● 白色LED反射光谱● 摄像头和两个红色激光灯，可轻松定位和调整工作距离（约4厘米）● 可记录的光谱范围为190 -1100 nm，分辨率为1.5 nm● 可以记录背景和白色参考以校正反射率测量值 有机和无机材料的紫外荧光分析：● 天然粘合剂● 蜡● 树脂● 颜料● 纺织品● 染料● 聚合物材料● 清漆五种不同红色颜料的荧光发射胭脂树的老化对艺术品中的材料进行科学分析可以回答各种问题：● 画艺与颜料的表征● 修复支持● 保存状态的诊断壁画真假鉴定● 壁画真假鉴定参考Mounier A.，Belin C.，Daniel F.，2011年，对中古壁画烫金所用混合物的老化进行分光荧光分析，《环境科学与污染研究》（ESPR），第18卷，第5期，772-782。 Mounier A.，Dayet L.，Belin C.，Daniel F.，2011年，Etude de lafluores des liant雇用了dans les dorures sur peintures muralesmédiévales，建筑科学– Revue d' archéométrie，35，19-28。 Mounier A.，Le Bourdon G.，Aupetit C.，Belin C.，Servant L.，Lazare S.，Lefrais Y.和Daniel F.，2014年，用于非侵入性研究的高光谱成像，光谱荧光法，FORS和XRF中世纪的微型材料。TechnArt 2013，阿姆斯特丹ICOM，9月23日至27日在阿姆斯特丹国家博物馆的艺术与考古学中的分析光谱学。2013，传统科学，2:24。 Mounier A.，Lazare S.，Le Bourdon G.，Aupetit C.，Servant L.，Daniel F.，2016，LEDμSF：一种用于脆弱艺术品分析的新型便携式设备。在中世纪颜料上的应用，Technart 2015，2015年4月27-30日，Catane，MicroChemical Journal，126C，480-487。DOI 10.1016 / j.microc.2016.01.008。 Mounier A.，Le Bourdon G.，Aupetit C.，Lazare S.，Perez-Arantegui J.，Almazan D.，Aramendia J.，Prieto-Taboada N.，Fdez-Ortiz de Vallejuelo S.，Daniel F.，2018 ，18-19世纪日本木刻版画上的红色和蓝色：通过荧光光谱法和互补性非侵入式光谱法进行的原位分析，《微化学杂志》 140，第129-141页。DOI：10.1016 / j.microc.2018.04.023。 Mounier A.，Daniel F.，Lazare S.，Schueler N.，一种新版本的LEDμSF，用于绘画的原位非侵入式荧光光谱分析。 Mounier A.，Lazare S.，Daniel F.，LEDμSF：从原理上讲，爱国者培养的荧光UV

膜介电常数介质损耗仪下易形成一层电绝缘的氧化膜，这层氧化膜会影响测量结果，此时可使用金箔。烧嬌金属电极烧熔金属电极适用于玻璃、云母和陶瓷等材料，银是普遍使用的，但是在高温或高湿下，最好采 用金。喷镀金属电极锌或铜电极可以喷镀在试样上，它们能直接在粗糙的表面上成膜。这种电极还能喷在布上，因为它 们不穿透非常小的孔眼。阴极蒸发或高真空蒸发金属电极假如处理结果既不改变也不破坏绝缘材料的性能，而且材料承受高真空时也不过度逸出气体，则本 方法是可以采用的。这一类电极的边缘应界限分明，汞电极和其他液体金属电极把试样夹在两块互相配合好的凹模之间，凹模中充有液体金属，该液体金属必须是纯净的。汞电极 不能用于高温，即使在室温下用时，也应采取措施，这是因为它的蒸气是有毒的.伍德合金和其他低熔点合金能代替汞。但是这些合金通常含有镉，镉象汞一样，也是毒性元素.这些 合金只有在良好抽风的房间或在抽风柜中才能用于10。笆以上，且操作人员应知道可能产生的健康危害。导电漆无论是气干或低温烘干的高电导率的银漆都可用作电极材料。因为此种电极是多孔的，可透过湿 气，能使试样的条件处理在涂上电极后进行，对研究湿度的影响时特别有用。此种电极的缺点是试样涂 上银漆后不能马上进行试验，通常要求12 h以上的气干或低温烘干时间，以便去除所有的微量溶剂，否 则，溶剂可使电容率和介质损耗因数增加。同时应注意漆中的溶剂对试样应没有持久的影响.要使用刷漆法做到边缘界限分明的电极较困难，但使用压板或压敏材料遮框喷漆可克服此局限。 但在极高的频率下，因银漆电极的电导率会非常低，此时则不能使用。石墨一般不推荐使用石墨，但是有时候也可采用，特别是在较低的频率下。石墨的电阻会引起损耗的显 著增大，若采用石墨悬浮液制成电极，则石墨还会穿透试样。电极的选择板状试样考虑下面两点很重要：a） 不加电极，测量时快而方便,并可避免由于试样和电极间的不良接触而引起的误差。膜介电常数介质损耗仪管状试样对管状试样而言，最合适的电极系统将取决于它的电容率、管壁厚度、直径和所要求的测量精度。 一般情况下，电极系统应为一个内电极和一个稍为窄一些的外电极和外电极两端的保护电极组成，外电 极和保护电极之间的间隙应比管壁厚度小。对小直径和中等直径的管状试样，外表面可加三条箔带或 沉积金属带，中间一条用作为外电极（测量电极），两端各有一条用作保护电极。内电极可用汞，沉积金 属膜或配合较好的金属芯轴。高电容率的管状试样，其内电极和外电极可以伸展到管状试样的全部长度上，可以不用保护电极，大直径的管状或圆筒形试样，其电极系统可以是圆形或矩形的搭接，并且只对管的部分圆周进行试 验。这种试样可按板状试样对待，金属箔、沉积金属膜或配合较好的金属芯轴内电极与金属箔或沉积金 属膜的外电极和保护电极一起使用。如采用金属箔做内电极，为了保证电极和试样之间的良好接触，需 在管内采用一个弹性的可膨胀的夹具。对于非常准确的测量，在厚度的测量能达到足够的精度时，可采用试样上不加电极的系统。对于相 对电容率％不超过10的管状试样，最方便的电极是用金属箔、汞或沉积金属膜。相对电容率在10以 上的管状试样，应采用沉积金属膜电极；瓷管上可采用烧熔金属电极。电极可像带材一样包覆在管状试 样的全部圆周或部分圆周上。膜介电常数介质损耗仪试验报告试验报告中应给出下列相关内容：绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样日期（并注明试样厚度 和试样在与电极接触的表面进行处理的情况）；试样条件处理的方法和处理时间；电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型；测量仪器；试验时的温度和相对湿度以及试样的温度；施加的电压；施加的频率；相对电容率&（平均值）亍介质损耗因数也海（平均值试验日期；相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温 度和频率的关系°表1真空电容的计算和边缘校正(1)极间法向电容（单位：皮法和厘米）（2）边缘电容的校正（单位；皮法和厘米）（3）1.有保护环的圆盘状电极-stA 4Co = = 0* 088 54 &bull =h hA =于(廿】+ G'G = 0/ i试样2,没有保护环的圆盘状电极a）电极直径=试样直径 p /试样C—=宜69 5驾当时c碧=0. 029 — 0. 058时P = 214dlb）上下电极相等，但比试样小 扩 w% = 0. 01— 0, 058也五 + 0.010P =其中：G是试样相对电容率的近似值，并且t1 z r - 试样 」爲q对于低介质损耗因数的待测液体，电极系统最重要的特点是：容易清洗、再装配（必要时）和灌注液 体时不移动电极的相对位置。此外还应注意：液体需要量少，电极材料不影响液体，液体也不影响电极 材料，温度易于控制，端点和接线能适当地屏蔽；支撑电极的绝缘支架应不浸沉在液体中，还有，试验池 不应含有太短的爬电距离和尖锐的边缘，否则能影响测量精度。满足上述要求的试验池见图2〜 图4。电极是不锈钢的，用硼硅酸盐玻璃或石英玻璃作绝缘.图2 和图3所示的试验池也可用作电阻率的测定，IEC 60247：1978对此已详细叙述。由于有些液体如氯化物，其介质损耗因数与电极材料有明显的关系，不锈钢电极不总是最合适的。 有时，用铝和杜拉铝制成的电极能得到比较稳定的结果。膜介电常数介质损耗仪应用一种或几种合适的溶剂来清洗试验池，或用不含有不稳定化合物的溶剂多次清洗。可以通过 化学试验方法检查其纯度，或通过一个已知的低电容率和介质损耗因数的液体试样测量的结果来确定。 当试验池试验几种类型的绝缘液体时，若单独使用溶剂不能去除污物，可用一种柔和的擦净剂和水来清 洁试验池的表面。若使用一系列溶剂清洗时则最后要用最大沸点低于100笔的分析级的石油醍来再次 清洗，或者用任一种对一个已知低电容率和介质损耗因数的液体测量能给出正确值的溶剂来清洗，并且 这种溶剂在化学性质上与被试液体应是相似的，推荐使用下述方法进行清洗。试验池应全部拆开，彻底地清洗各部件，用溶剂回流的方法或放在未使用溶剂中搅动反复洗涤方法 均可去除各部件上的溶剂并放在清洁的烘箱中，在左右的温度下烘干30 mino待试验池的各部件冷却到室温，再重新装配起来。池内应注入一些待试的液体，停几分钟后，倒出 此液体再重新倒人待试液体，此时绝缘支架不应被液体弄湿。膜介电常数介质损耗仪精度要求在第5章和附录A中所规定的精度是：电容率精度为±1%,介质损耗因数的精度为士(5% 士 0.000 5)。这些精度至少取决于三个因素：即电容和介质损耗因数的实测精度；所用电极装置引起的这 些量的校正精度w极间法向真空电容的计算精度(见表1).在较低频率下，电容的测量精度能达士(0. 1%±0.02 pF),介质损耗因数的测量精度能达±(2%士 0. 000 05) o在较高频率下，其误差增大，电容的测量精度为±(0.5%±0・ 1 pF),介质损耗因数的测量 精度为士(2%±0. 000 2)o对于带有保护电极的试样，其测量精度只考虑极间法向真空电容时有计算误差。但由被保护电极 和保护电极之间的间隙太宽而引起的误差通常大到百分之零点几，而校正只能计算到其本身值的百分 乏几。如果试样厚度的测量能精确到土0.005 mm,则对平均厚度为1. 6 mm的试样，其厚度测量误差 能达到百分之零点几。圆形试样的直径能测定到士 0」％的精度，但它是以平方的形式引入误差的，综 合这些因素，极间法向真空电容的测量误差为±0. 5%。对表面加有电极的试样的电容，若采用测微计电极测量时，只要试样直径比测微计电极足够小，则 只需要进行极间法向电容的修正。采用其他的一些方法来测量两电极试样时，边缘电容和对地电容的 计算将带来一些误差，因为它们的误差都可达到试样电容的2%〜 40%。根据目前有关这些电容资料, 计算边缘电容的误差为10%,计算对地电容的误差为25%。因此带来总的误差是百分之几十到百分之 几。当电极不接地时,对地电容误差可大大减小。

产品名称：介电常数测试仪产品型号：LJD-B、LJD-C、QS-37符合标准：GB/T1409、GB/T5594产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、军工单位等付款方式：全款发货产品品牌：中航鼎力产品货期：1-3个工作日产品类别：电性能检测仪器GB/T1409—2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法anddielectricdissipationfatorofelectricalinsulatingmaterials（IEC60250:1969，MOD）中华人民共和国质量监督检验检疫总局GB/T1409测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法本标准规定了在15Hz?300MHz的频率范围内测量电容率、介质损耗因数的方法，并由此计算某些数值，如损耗指数。本标准中所叙述的某些方法，也能用于其他频率下测量。有时在超过1000V的电压下试验，则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应，对此不予论述。 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的zui新版本。凡是不注日期的引用文件，其zui新版本适用于本标准。3、术语和定义3.1ε r … … … … … … … … … … … （1）εr——相对电容率 Co——真空中电容器的电极电容。在一个测量系统中，绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率εr与真空电气常数εr的乘积。 … … … … … … … … … … … （2）3.2δ3.3tanδ3.4ε' ' r3.5εrεr——复相对电容率；ε' r、εr——相对电容率；注：有损耗的电容器在任何给定的频率下能用电容Cs和电阻Rs的串联电路表示，或用电容CP和电阻RP（或电导CP）并联电路表示。 Cs——串联电容；1）有些用“损耗角正切”来表示“介质损耗因数”，因为损耗的测量结果是用损耗角的正切来报告的。RP——并联电阻。串联元件与并联元件之间，成立下列关系： 式（9）、（10）、（11）中：Cs、Rs、CP、RP、tanδ同式（7）、（8）。假如测量电路依据串联元件来产生结果，且tanδ太大而在式（9）中不能被忽略，则在计算电容率前必须先计算并联电容。4、电气绝缘材料的性能和用途电介质一般被用在两个不同的方面：用作电容器介质。下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的εr和tanδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。4.2.2温度4.2.3湿度注：湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数值的大小和位置也随此而变。5、试样和电极5.1.1试样的几何形状在测定电容率需要较高精度时，的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚度应足够大，以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。对1%的精确度来讲，1.5mm的厚度就足够了，但是对于更高精确度，zui好是采用较厚的试样，例如6mm?12mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在±1%内。如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。测量10pF的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1pF，因此试样应薄些，直径为10cm或更大些。5.1.2电极系统电极可选用5.1.3中任意一种。如果不用保护环，而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出。5.1.2.2试样上不加电极平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表3给出。5.1.2.2.1空气填充测微计电极5.1.2.2.2流体排出法试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计。在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。为了避免边缘效应引起电容率的测量误差，电极系统可加上保护电极。保护电极的宽度应至少为两倍的试样厚度，保护电极和主电极之间的间隙应比试样厚度小。假如不能用保护环，通常需对边缘电容进行修正，表1给出了近似计算公式。这些公式是经验公式，只适用于规定的几种特定的试样形状。5.1.3构成电极的材料用极少量的硅脂或其他合适的低损耗粘合剂将金属箔贴在试样上。金属箔可以是纯锡或铅，也可以是这些金属的合金，其厚度为100μm，也可使用厚度小于10μm的铝箔。但是，铝箔在较高温度下易形成一层电绝缘的氧化膜，这层氧化膜会影响测量结果，此时可使用金箔。烧熔金属电极适用于玻璃、云母和陶瓷等材料，银是普遍使用的，但是在高温或高湿下，zui好采用金。锌或铜电极可以喷镀在试样上，它们能直接在粗糙的表面上成膜。这种电极还能喷在布上，因为它们不穿透非常小的孔眼。假如处理结果既不改变也不破坏绝缘材料的性能，而且材料承受高真空时也不过度逸出气体，则本方法是可以采用的。这一类电极的边缘应界限分明。把试样夹在两块互相配合好的凹模之间，凹模中充有液体金属，该液体金属必须是纯净的。汞电极不能用于高温，即使在室温下用时，也应采取措施，这是因为它的蒸气是有毒的。5.1.3.6导电漆要使用刷漆法做到边缘界限分明的电极较困难，但使用压板或压敏材料遮框喷漆可克服此局限。但在极高的频率下，因银漆电极的电导率会非常低，此时则不能使用。一般不推荐使用石墨，但是有时候也可采用，特别是在较低的频率下。石墨的电阻会引起损耗的显著增大，若采用石墨悬浮液制成电极，则石墨还会穿透试样。5.1.4.1板状试样a）不加电极，测量时快而方便，并可避免由于试样和电极间的不良接触而引起的误差。… … … … … … … … … … … （12）△εr——相对电容率的偏差；h——试样厚度； 若试样上加电极，且试样放在有固定距离Sh的两个电极之间，这时式中：εr——试样浸入所用流体的相对电容率，对于在空气中的测量则εr等于1。5.1.4.2管状试样高电容率的管状试样，其内电极和外电极可以伸展到管状试样的全部长度上，可以不用保护电极。对于非常准确的测量，在厚度的测量能达到足够的精度时，可采用试样上不加电极的系统。对于相对电容率εr不超过10的管状试样，方便的电极是用金属箔、汞或沉积金属膜。相对电容率在10以上的管状试样，应采用沉积金属膜电极；瓷管上可采用烧熔金属电极。电极可像带材一样包覆在管状试样的全部圆周或部分圆周上。5.2.1试验池的设计满足上述要求的试验池见图2?图4。电极是不锈钢的，用硼硅酸盐玻璃或石英玻璃作绝缘，图2和图3所示的试验池也可用作电阻率的测定，1EC 60247:1978对此已详细叙述。5.2.2试验池的准备试验池应全部拆开，彻底地清洗各部件，用瑢剂回流的方法或放在未使用溶剂中搅动反复洗涤方法均可去除各部件上的溶剂并放在清洁的烘箱中，在110℃左右的温度下烘干30min。在上述各步骤中，各部件可用干净的钩针或钳子巧妙地处理，以使试验池有效的内表面不与手接触。注2:采用溶剂时，有些溶剂特别是苯、四氧化碳、甲苯、二甲苯是有毒的，所以要注意防火及毒性对人体的影响，此外，氧化物溶剂受光作用会分解。当需要高精度测定液体电介质的相对电容率时，应首先用一种已知相对电容率的校正液体（如苯）来测定“电极常数' 。 … … … … … … … … … … … （14）Cc——电极常数；Cn——充有校正液体时电极装置的电容；从C。和Cc的差值可求得校正电容Cg并按照公式式中：Co——空气中电极装置的电容；Cx——电极装置充有被试液体时的电容；假如Co、Cn和Cx值是在εn是已知的某一相同温度下测定的，则可求得zui高精度的εx值。6、测置方法的选择6.1零点指示法适用于频率不超过50MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法；也就是在接入试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥（也就是互感耦合比例臂电桥）和并联T型网络。变压器电桥的优点：采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极；它没有其他网络的缺点。注：典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和测量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。 7.1试样的制备应精确地测量厚度，使偏差在±（0.2%土0.005mm）以内，测量点应均匀地分布在试样表面。必要时，应测其有效面积。条件处理应按相关规范规定进行。电气测量按本标准或所使用的仪器（电桥）制造商推荐的标准及相应的方法进行。8、结果试样加有保护电极时其相对电容率εr可按公式（1）计算，没有保护电极时试样的被测电容C' x包括了一个微小的边缘电容Ce，其相对电容率为：式中：C' x——没有保护电极时试样的电容；Co——法向极间电容；必要时应对试样的对地电容、开关触头之间的电容及等值串联和并联电容之间的差值进行校正。8.2介质损耗因数tanδ8.3精度要求在较低频率下，电容的测量精度能达±（0.1%土0.02pF），介质损耗因数的测量精度能达±（2%±0.00005）。在较高频率下，其误差增大，电容的测量精度为±（0.5%±0，1PF），介质损耗因数的测量精度为±（2%±0.0002）。对表面加有电极的试样的电容，若采用测微计电极测量时，只要试样直径比测微计电极足够小，则只需要进行极间法向电容的修正。采用其他的一些方法来测量两电极试样时，边缘电容和对地电容的计算将带来一些误差，因为它们的误差都可达到试样电容的2%?40%。根据目前有关这些电容资料，计算边缘电容的误差为10%，计算对地电容的误差为因此带来总的误差是百分之几十到百分之几。当电极不接地时，对地电容误差可大大减小。9、试验报告绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样日期（并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况）；电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型；试验时的温度和相对湿度以及试样的温度；施加的频率；介质损耗因数tanδ（平均值）；相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。（1）（单位：皮法和厘米）边缘电容的校正（3） a）电极直径=试样直径 b）上下电极相等，但比试样小 表1（续）极间法向电容（2）（单位：皮法和厘米）c）电极直径=试样直径 其中：ε1 是试样相对电容率的近似值，并且a≤h 试样的相对电容率：C' x——电极之间被测的电容；Ig——常用对数。试样电容符号定义’CP——试样的并联电容Cr——在距离为r时，测微计电极的标定电容h——试样厚度CP=△C+Cor2.取去试样后减少测微计电极间的距离来替代试样电容试样直径至少比测微计电极的直径小2r。在计算电容率时必须采用试样的真实厚度h和面积A。当试样与电极的直径同样大小时，仅存在一个微小的误差（因电极边缘电场畸变引起0.2%?0.5%的误差），因而可以避免空气电容的两次计算。试样直径等于测微计电极直径，施于试样上的电极的厚度为零。相对电容率介质损耗因数符号意义1.测微计电极（在空气中）若ho 调到一个新值h' o，而△C=0时tanδx= tanδc +Mεr△tanδ C1——装有试样时的电容Co——所考虑的区域上的真空电容，其值为εo?A/h0ε1——在试验温度下的流体相对电容率（对空气而言εr ＝1. 00)△tanδ——试样插入时，损耗因数的增加量tanδx试样的损耗因数的计算值d3——外电极的内直径 h0——平行平板间距M——h0 /h—1注；在二流体法的公式中，脚注1和2分别表示种和第二种流体。 3. 圆柱形电极——流体排出法（用于tanδ小于0.1时） 6——微调电容器；7——接检测器；8——接到电路上；9——可调电极（B）。图1 用于固体介质测量的测微计——电容器装置 1——把柄；5——棚硅酸盐或石英垫圈；6——硼硅酸盐或石英垫圈。 1——温度计插孔；3——过剩液体溢流的两个出口。 2——1mm厚的金属板；4——1mm或2mm的间隙；span "="" style="margin: 0px padding: 0px line-height: initial "5——温度计插孔

GB/T1409测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法1、范围本标准规定了在15Hz?300MHz的频率范围内测量电容率、介质损耗因数的方法，并由此计算某些数值，如损耗指数。本标准中所叙述的某些方法，也能用于其他频率下测量。本标准适用于测量液体、易熔材料以及固体材料。测试结果与某些物理条件有关，例如频率、温度、湿度，在特殊情况下也与电场强度有关。有时在超过1000V的电压下试验，则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应，对此不予论述。2、规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。IEC60247:1978 液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量3、术语和定义下列术语和定义适用于本标准。3.1相对电容率relative permittivityε r电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时，其电容Cx与同样电极构形的真空电容Co之比； ……………………………（1）式中；εr——相对电容率 Cx——充有绝缘材料时电容器的电极电容；Co——真空中电容器的电极电容。在标准大气压下，不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率ε r等于1.00053，因此，用这种电极构形在空气中的电容Cx来代替Co测量相对电容率εr时，也有足够的精确度。在一个测量系统中，绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率εr与真空电气常数εr的乘积。在SI制中，电容率用法/米（F/m）表示。而且，在SI单位中，电气常数εr，为：……………………………（2）在本标准中，用皮法和厘米来计算电容，真空电气常数为:ε0=0.088 54 pF/cm3.2介质损耗角dielectric loss angleδ由绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角。3.3介质损耗因数1） dielectric dissipation factortanδ损耗角δ的正切。3.4[介质]损耗指数 [dielectric] loss indexε''r该材料的损耗因数tanδ与相对电容率εr的乘积。3.5复相对电容率 complex relative permittivityεr由相对电容率和损耗指数结合而得到的：式中：εr——复相对电容率；ε''r——损耗指数；ε'r、εr——相对电容率；tanδ——介质损耗因数。注：有损耗的电容器在任何给定的频率下能用电容Cs和电阻Rs的串联电路表示，或用电容CP和电阻RP（或电导CP）并联电路表示。并联等值电路 串联等值电路 式中：Cs——串联电容；Rs——串联电阻；1）有些国家用“损耗角正切”来表示“介质损耗因数”，因为损耗的测量结果是用损耗角的正切来报告的。CP——并联电容；RP——并联电阻。虽然以并联电路表示一个具有介质损耗的绝缘材料通常是合适的，但在单一频率下，有时也需要以电容Cs和电阻Rs的串联电路来表示。串联元件与并联元件之间，成立下列关系：式（9）、（10）、（11）中：Cs、Rs、CP、RP、tanδ同式（7）、（8）。无论串联表示法还是并联表示法，其介质损耗因数tanδ是相等的。假如测量电路依据串联元件来产生结果，且tanδ太大而在式（9）中不能被忽略，则在计算电容率前必须先计算并联电容。本标准中的计算和测量是根据电流（ω=πf）正弦波形作出的。4、电气绝缘材料的性能和用途4.1电介质的用途电介质一般被用在两个不同的方面：用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘；用作电容器介质。4.2影响介电性能的因素下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。4.2.1频率因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的εr和tanδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。4.2.2温度损耗指数在一个频率下可以出现一个zui大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数zui大值位置。4.2.3湿度极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是*的。注：湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。4.2.4电场强度存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数zui大值的大小和位置也随此而变。在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关。5、试样和电极5.1固体绝缘材料5.1.1试样的几何形状测定材料的电容率和介质损耗因数，采用板状试样，也可采用管状试样。在测定电容率需要较高精度时，zui大的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚度应足够大，以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。对1%的精确度来讲，1.5mm的厚度就足够了，但是对于更高精确度，是采用较厚的试样，例如6mm?12mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在±1%内。如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。测量10pF的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1pF，因此试样应薄些，直径为10cm或更大些。需要测低损耗因数值时，很重要的一点是导线串联电阻引人的损耗要尽可能地小，即被测电容和该电阻的乘积要尽可能小。同样，被测电容对总电容的比值要尽可能地大。*点表示导线电阻要尽可能低及试样电容要小,第二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小，且试样电容要大。因此试样电容取值为20pF，在测量回路中，与试样并联的电容不应大于约5pF，5.1.2电极系统5.1.2.1加到试样上的电极电极可选用5.1.3中任意一种。如果不用保护环，而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出。对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图1所示的电极系统也要求试样厚度均匀。.5.1.2.2试样上不加电极表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插入电极系统中测量，在这个电极系统中，试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表3给出。下面两种型式的电极装置特别合适.5.1.2.2.1空气填充测微计电极当试样插入和不插人时，电容都能调节到同一个值，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极。5.1.2.2.2流体排出法在电容率近似等于试样的电容率，而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量，这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时，试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去。试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计。在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。5.1.2.3边缘效应为了避免边缘效应引起电容率的测量误差，电极系统可加上保护电极。保护电极的宽度应至少为两倍的试样厚度，保护电极和主电极之间的间隙应比试样厚度小。假如不能用保护环，通常需对边缘电容进行修正，表1给出了近似计算公式。这些公式是经验公式，只适用于规定的几种特定的试样形状。此外，在一个合适的频率和温度下，边缘电容可采用有保护环和无保护环的（比较）测量来获得，用所得到的边缘电容修正其他频率和温度下的电容也可满足精度要求。5.1.3构成电极的材料5.1.3.1金属箔电极用极少量的硅脂或其他合适的低损耗粘合剂将金属箔贴在试样上。金属箔可以是纯锡或铅，也可以是这些金属的合金，其厚度zui大为100μm，也可使用厚度小于10μm的铝箔。但是，铝箔在较高温度下易形成一层电绝缘的氧化膜，这层氧化膜会影响测量结果，此时可使用金箔。5.1.3.2烧熔金属电极烧熔金属电极适用于玻璃、云母和陶瓷等材料，银是普遍使用的，但是在高温或高湿下，采用金。5.1.3.3喷镀金属电极锌或铜电极可以喷镀在试样上，它们能直接在粗糙的表面上成膜。这种电极还能喷在布上，因为它们不穿透非常小的孔眼。5.1.3.4阴极蒸发或高真空蒸发金属电极假如处理结果既不改变也不破坏绝缘材料的性能，而且材料承受高真空时也不过度逸出气体，则本方法是可以采用的。这一类电极的边缘应界限分明。5.1.3.5汞电极和其他液体金属电极把试样夹在两块互相配合好的凹模之间，凹模中充有液体金属，该液体金属必须是纯净的。汞电极不能用于高温，即使在室温下用时，也应采取措施，这是因为它的蒸气是有毒的。伍德合金和其他低熔点合金能代替汞。但是这些合金通常含有镉，镉象汞一样，也是毒性元素。这些合金只有在良好抽风的房间或在抽风柜中才能用于100℃以上，且操作人员应知道可能产生的健康危害。5.1.3.6导电漆无论是气干或低温烘干的高电导率的银漆都可用作电极材料。因为此种电极是多孔的，可透过湿气，能使试样的条件处理在涂上电极后进行，对研究湿度的影响时特别有用。此种电极的缺点是试样涂上银漆后不能马上进行试验，通常要求12h以上的气干或低温烘干时间，以便去除所有的微量溶剂，否则，溶剂可使电容率和介质损耗因数增加。同时应注意漆中的溶剂对试样应没有持久的影响。要使用刷漆法做到边缘界限分明的电极较困难，但使用压板或压敏材料遮框喷漆可克服此局限。但在极高的频率下，因银漆电极的电导率会非常低，此时则不能使用。5.1.3.7石墨一般不推荐使用石墨，但是有时候也可采用，特别是在较低的频率下。石墨的电阻会引起损耗的显著增大，若采用石墨悬浮液制成电极，则石墨还会穿透试样。5.1.4电极的选择5.1.4.1板状试样考虑下面两点很重要：a）不加电极，测量时快而方便，并可避免由于试样和电极间的不良接触而引起的误差。b）若试样上是加电极的，由测量试样厚度h时的相对误差△h/h所引起的相对电容率的相对误差△εr/εr可由下式得到：……………………………（12）式中：△εr——相对电容率的偏差；εr——相对电容率；h——试样厚度； Ah——试样厚度的偏差。若试样上加电极，且试样放在有固定距离Sh的两个电极之间，这时 ……………………………（13）式中：△εr、εr、h同式（12）。εr——试样浸入所用流体的相对电容率，对于在空气中的测量则εr等于1。对于相对电容率为10以上的无孔材料，可采用沉积金属电极。对于这些材料，电极应覆盖在试样的整个表面上，并且不用保护电极。对于相对电容率在3?10之间的材料，能给出zui高精度的电极是金属箔、汞或沉积金属，选择这些电极时要注意适合材料的性能。若厚度的测量能达到足够精度时，试样上不加电极的方法方便而更可取。假如有一种合适的流体，它的相对电容率已知或者能很准确地测出，则采用流体排出法是的。5.1.4.2管状试样对管状试样而言，合适的电极系统将取决于它的电容率、管壁厚度、直径和所要求的测量精度。一般情况下，电极系统应为一个内电极和一个稍为窄一些的外电极和外电极两端的保护电极组成，外电极和保护电极之间的间隙应比管壁厚度小。对小直径和中等直径的管状试样，外表面可加三条箔带或沉积金属带，中间一条用作为外电极（测量电极），两端各有一条用作保护电极。内电极可用汞，沉积金属膜或配合较好的金属芯轴。高电容率的管状试样，其内电极和外电极可以伸展到管状试样的全部长度上，可以不用保护电极。大直径的管状或圆筒形试样，其电极系统可以是圆形或矩形的搭接，并且只对管的部分圆周进行试验。这种试样可按板状试样对待，金属箔、沉积金属膜或配合较好的金属芯轴内电极与金属箔或沉积金属膜的外电极和保护电极一起使用。如采用金属箔做内电极，为了保证电极和试样之间的良好接触，需在管内采用一个弹性的可膨胀的夹具。对于非常准确的测量，在厚度的测量能达到足够的精度时，可采用试样上不加电极的系统。对于相对电容率εr不超过10的管状试样，较方便的电极是用金属箔、汞或沉积金属膜。相对电容率在10以上的管状试样，应采用沉积金属膜电极；瓷管上可采用烧熔金属电极。电极可像带材一样包覆在管状试样的全部圆周或部分圆周上。5.2液体绝缘材料5.2.1试验池的设计对于低介质损耗因数的待测液体，电极系统重要的特点是：容易清洗、再装配（必要时）和灌注液体时不移动电极的相对位置。此外还应注意：液体需要量少，电极材料不影响液体，液体也不影响电极材料，温度易于控制，端点和接线能适当地屏蔽；支撑电极的绝缘支架应不浸沉在液体中，还有，试验池不应含有太短的爬电距离和尖锐的边缘，否则能影响测量精度。满足上述要求的试验池见图2?图4。电极是不锈钢的，用硼硅酸盐玻璃或石英玻璃作绝缘，图2和图3所示的试验池也可用作电阻率的测定，1EC 60247:1978对此已详细叙述。由于有些液体如氯化物，其介质损耗因数与电极材料有明显的关系，不锈钢电极不总是合适的。有时，用铝和杜拉铝制成的电极能得到比较稳定的结果。5.2.2试验池的准备应用一种或几种合适的溶剂来清洗试验池，或用不含有不稳定化合物的溶剂多次清洗。可以通过化学试验方法检查其纯度，或通过一个已知的低电容率和介质损耗因数的液体试样测量的结果来确定。3试验池试验几种类型的绝缘液体时，若单独使用溶剂不能去除污物，可用一种柔和的擦净剂和水来清洁试验池的表面。若使用一系列溶剂清洗时则后要用zui大沸点低于100°C的分析级的石油醚来再次清洗，或者用任一种对一个已知低电容率和介质损耗因数的液体测量能给出正确值的溶剂来清洗，并且这种溶剂在化学性质上与被试液体应是相似的。推荐使用下述方法进行清洗。试验池应全部拆开，彻底地清洗各部件，用瑢剂回流的方法或放在未使用溶剂中搅动反复洗涤方法均可去除各部件上的溶剂并放在清洁的烘箱中，在110℃左右的温度下烘干30min。待试验池的各部件冷却到室温，再重新装配起来。池内应注人一些待试的液体，停几分钟后，倒出此液体再重新倒人待试液体，此时绝缘支架不应被液体弄湿。在上述各步骤中，各部件可用干净的钩针或钳子巧妙地处理，以使试验池有效的内表面不与手接触。注1:在同种质量油的常规试验中，上面所说的淸洗步骤可以代之为在每一次试验后用没有残留纸屑的干纸简单地擦擦试验池。注2:采用溶剂时，有些溶剂特别是苯、四氧化碳、甲苯、二甲苯是有毒的，所以要注意防火及毒性对人体的影响，此外，氧化物溶剂受光作用会分解。5.2.3试验池的校正当需要高精度测定液体电介质的相对电容率时，应首先用一种已知相对电容率的校正液体（如苯）来测定“电极常数'。“电极常数”C。的确定按式（14）: ……………………………（14）式中：Cc——电极常数；Co——空气中电极装置的电容；Cn——充有校正液体时电极装置的电容；εn——校正液体的相对电容率。从C。和Cc的差值可求得校正电容Cg ……………………………（15）……………………………（16）并按照公式来计算液体未知相对电容率εx。式中：Cg——校正电容；Co——空气中电极装置的电容；Cc——电极常数|Cx——电极装置充有被试液体时的电容；εx——液体的相对电容率。假如Co、Cn和Cx值是在εn是已知的某一相同温度下测定的，则可求得zui高精度的εx值。采用上述方法测定液体电介质的相对电容率时，可保证其测得结果有足够的精度，因为它消除了由于寄生电容或电极间隙数值的不准确测量所引起的误差。6、测置方法的选择测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种：零点指示法和谐振法。6.1零点指示法适用于频率不超过50MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法；也就是在接入试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥（也就是互感耦合比例臂电桥）和并联T型网络。变压器电桥的优点：采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极；它没有其他网络的缺点。6.2谐振法适用于10kHz?几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。注：典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和测量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。7、试验步骤7.1试样的制备试样应从固体材料上截取，为了满足要求，应按相关的标准方法的要求来制备。应精确地测量厚度，使偏差在±（0.2%土0.005mm）以内，测量点应均匀地分布在试样表面。必要时，应测其有效面积。7.2条件处理条件处理应按相关规范规定进行。7.3测量电气测量按本标准或所使用的仪器（电桥）制造商推荐的标准及相应的方法进行。在1MHz或更高频率下，必须减小接线的电感对测量结果的影响。此时，可采用同轴接线系统（见图1所示），当用变电抗法测量时，应提供一个固定微调电容器。8、结果8.1相对电容率εr试样加有保护电极时其相对电容率εr可按公式（1）计算，没有保护电极时试样的被测电容C'x包括了一个微小的边缘电容Ce，其相对电容率为： ……………………………（17）式中：εr——相对电容率；C'x——没有保护电极时试样的电容；Ce——边缘电容 Co——法向极间电容；Co和Ce能从表1计算得来。必要时应对试样的对地电容、开关触头之间的电容及等值串联和并联电容之间的差值进行校正。测微计电极间或不接触电极间被测试样的相对电容率可按表2、表3中相应的公式计算得来。8.2介质损耗因数tanδ介质损耗因数tanδ按照所用的测量装置给定的公式，根据测出的数值来计算。8.3精度要求在第5章和附录A中所规定的精度是：电容率精度为±1%，介质损耗因数的精度为±（5%±0.0005）。这些精度至少取决于三个因素：即电容和介质损耗因数的实测精度；所用电极装置引起的这些量的校正精度；极间法向真空电容的计算精度（见表1）。在较低频率下，电容的测量精度能达±（0.1%土0.02pF），介质损耗因数的测量精度能达±（2%±0.00005）。在较高频率下，其误差增大，电容的测量精度为±（0.5%±0，1PF），介质损耗因数的测量精度为±（2%±0.0002）。对于带有保护电极的试样，其测量精度只考虑极间法向真空电容时有计算误差。但由被保护电极和保护电极之间的间隙太宽而引起的误差通常大到百分之零点几，而校正只能计算到其本身值的百分乏几。如果试样厚度的测量能精确到±0.005mm，则对平均厚度为1.6mm的试样，其厚度测量误差能达到百分之零点几。圆形试样的直径能测定到±0.1%的精度，但它是以平方的形式引人误差的，综合这些因素，极间法向真空电容的测量误差为±0.5%。对表面加有电极的试样的电容，若采用测微计电极测量时，只要试样直径比测微计电极足够小，则只需要进行极间法向电容的修正。采用其他的一些方法来测量两电极试样时，边缘电容和对地电容的计算将带来一些误差，因为它们的误差都可达到试样电容的2%?40%。根据目前有关这些电容资料，计算边缘电容的误差为10%，计算对地电容的误差为因此带来总的误差是百分之几十到百分之几。当电极不接地时，对地电容误差可大大减小。采用测微计电极时，数量级是0.03的介质损耗因数可测到真值的±0.0003，数量级0.0002的介质损耗因数可测到真值的±0.00005介质损耗因数的范围通常是0.0001?0.1，但也可扩展到0.1以上。频率在10MHz和20MHz之间时，有可能检测出0.00002的介质损耗因数。1?5的相对电容率可测到其真值的±2%，该精度不仅受到计算极间法向真空电容测量精度的限制，也受到测微计电极系统误差的限制。9、试验报告试验报告中应给出下列相关内容：绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样日期（并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况）；试样条件处理的方法和处理时间；电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型；测量仪器；试验时的温度和相对湿度以及试样的温度；施加的电压；施加的频率；相对电容率εr（平均值）；介质损耗因数tanδ（平均值）；试验日期；相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。表1 真空电容的计算和边缘校正 试样的相对电容率：其中：C'x——电极之间被测的电容；In——自然对数；Ig——常用对数。表2 试样电容的计算——接触式测微计电极试样电容注符号定义’1.并联一个标准电容器来替代试样电容CP——试样的并联电容△C——取去试样后，为恢复平衡时的标准电容器的电容增量Cr——在距离为r时，测微计电极的标定电容Cs——取去试样后，恢复平衡，测微计电极间距为s时的标定电容Cor，Coh——测微计电极之间试样所占据的，间距分别为r或h的空气电容。可用表1中的公式1来计算r——试样与所加电极的厚度h——试样厚度相对电容率: CP=△C+Cor试样直径至少比测微计电极的直径小2r。在计算电容率时必须采用试样的真实厚度h和面积A。2.取去试样后减少测微计电极间的距离来替代试样电容CP=Cs-Cr+Cor试样直径至少比测微计电极的直径小2r。在计算电容率时必须采用试样的真实厚度h和面积A。3.并联一个标准电容器来替代试样电容当试样与电极的直径同样大小时，仅存在一个微小的误差（因电极边缘电场畸变引起0.2%?0.5%的误差），因而可以避免空气电容的两次计算。CP=△C+Coh试样直径等于测微计电极直径，施于试样上的电极的厚度为零。表3电容率和介质损耗因数的计算——不接触电极 1——测微计头；6——微调电容器；2——连接可调电极（B)的金属波纹管；7——接检测器；3——放试样的空间（试样电容器M1；8——接到电路上；4——固定电极（A）；9——可调电极（B）。5——测微计头；图1 用于固体介质测量的测微计——电容器装置单位为毫米 1——内电极；1——把柄；2——外电极；5——棚硅酸盐或石英垫圈；3——保护环；6——硼硅酸盐或石英垫圈。图2 液体测量的三电极试验池示例 注满试验池所需的液体量大约15mL1——温度计插孔；2——绝缘子；3——过剩液体溢流的两个出口。图3 测量液体的两电极试验池示例 1——温度计插孔；2——1mm厚的金属板；3——石英玻璃；4——1mm或2mm的间隙；5——温度计插孔图4 液体测量的平板两电极试验池

介电常数介质损耗测量方法1、范围本标准规定了在15Hz?300MHz的频率范围内测量电容率、介质损耗因数的方法，并由此计算某些数值，如损耗指数。本标准中所叙述的某些方法，也能用于其他频率下测量。本标准适用于测量液体、易熔材料以及固体材料。测试结果与某些物理条件有关，例如频率、温度、湿度，在特殊情况下也与电场强度有关。有时在超过1000V的电压下试验，则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应，对此不予论述。 2、规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的zui新版本。凡是不注日期的引用文件，其zui新版本适用于本标准。IEC60247:1978 液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量 3、术语和定义下列术语和定义适用于本标准。3.1相对电容率relative permittivityε r电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时，其电容Cx与同样电极构形的真空电容Co之比； ……………………………（1）式中；εr——相对电容率 Cx——充有绝缘材料时电容器的电极电容；Co——真空中电容器的电极电容。在标准大气压下，不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率ε r等于1.00053，因此，用这种电极构形在空气中的电容Cx来代替Co测量相对电容率εr时，也有足够的度。在一个测量系统中，绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率εr与真空电气常数εr的乘积。在SI制中，电容率用法/米（F/m）表示。而且，在SI单位中，电气常数εr，为： ……………………………（2）在本标准中，用皮法和厘米来计算电容，真空电气常数为:ε0=0.088 54 pF/cm3.2介质损耗角dielectric loss angleδ由绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角。3.3介质损耗因数1） dielectric dissipation factortanδ损耗角δ的正切。3.4[介质]损耗指数 [dielectric] loss indexε''r该材料的损耗因数tanδ与相对电容率εr的乘积。3.5复相对电容率 complex relative permittivityεr由相对电容率和损耗指数结合而得到的：式中：εr——复相对电容率；ε''r——损耗指数；ε'r、εr——相对电容率；tanδ——介质损耗因数。注：有损耗的电容器在任何给定的频率下能用电容Cs和电阻Rs的串联电路表示，或用电容CP和电阻RP（或电导CP）并联电路表示。 并联等值电路 串联等值电路 式中：Cs——串联电容；Rs——串联电阻； 1）有些国家用“损耗角正切”来表示“介质损耗因数”，因为损耗的测量结果是用损耗角的正切来报告的。CP——并联电容；RP——并联电阻。虽然以并联电路表示一个具有介质损耗的绝缘材料通常是合适的，但在单一频率下，有时也需要以电容Cs和电阻Rs的串联电路来表示。串联元件与并联元件之间，成立下列关系： 式（9）、（10）、（11）中：Cs、Rs、CP、RP、tanδ同式（7）、（8）。无论串联表示法还是并联表示法，其介质损耗因数tanδ是相等的。假如测量电路依据串联元件来产生结果，且tanδ太大而在式（9）中不能被忽略，则在计算电容率前必须先计算并联电容。本标准中的计算和测量是根据电流（ω=πf）正弦波形作出的。 4、电气绝缘材料的性能和用途4.1电介质的用途电介质一般被用在两个不同的方面：用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘；用作电容器介质。4.2影响介电性能的因素下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。4.2.1频率因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的εr和tanδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。4.2.2温度损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。4.2.3湿度极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的。注：湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。4.2.4电场强度存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关。 5、试样和电极5.1固体绝缘材料5.1.1试样的几何形状测定材料的电容率和介质损耗因数，zui好采用板状试样，也可采用管状试样。在测定电容率需要较高精度时，大的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚度应足够大，以满足测量所需要的度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。对1%的度来讲，1.5mm的厚度就足够了，但是对于更高度，zui好是采用较厚的试样，例如6mm?12mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在±1%内。如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。测量10pF的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1pF，因此试样应薄些，直径为10cm或更大些。需要测低损耗因数值时，很重要的一点是导线串联电阻引人的损耗要尽可能地小，即被测电容和该电阻的乘积要尽可能小。同样，被测电容对总电容的比值要尽可能地大。点表示导线电阻要尽可能低及试样电容要小,第二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小，且试样电容要大。因此试样电容zui好取值为20pF，在测量回路中，与试样并联的电容不应大于约5pF，5.1.2电极系统5.1.2.1加到试样上的电极电极可选用5.1.3中任意一种。如果不用保护环，而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出。对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图1所示的电极系统也要求试样厚度均匀。.5.1.2.2试样上不加电极表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插入电极系统中测量，在这个电极系统中，试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表3给出。下面两种型式的电极装置特别合适.5.1.2.2.1空气填充测微计电极当试样插入和不插人时，电容都能调节到同一个值，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极。5.1.2.2.2流体排出法在电容率近似等于试样的电容率，而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量，这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时，试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去。试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计。在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。5.1.2.3边缘效应为了避免边缘效应引起电容率的测量误差，电极系统可加上保护电极。保护电极的宽度应至少为两倍的试样厚度，保护电极和主电极之间的间隙应比试样厚度小。假如不能用保护环，通常需对边缘电容进行修正，表1给出了近似计算公式。这些公式是经验公式，只适用于规定的几种特定的试样形状。此外，在一个合适的频率和温度下，边缘电容可采用有保护环和无保护环的（比较）测量来获得，用所得到的边缘电容修正其他频率和温度下的电容也可满足精度要求。5.1.3构成电极的材料5.1.3.1金属箔电极用极少量的硅脂或其他合适的低损耗粘合剂将金属箔贴在试样上。金属箔可以是纯锡或铅，也可以是这些金属的合金，其厚度大为100μm，也可使用厚度小于10μm的铝箔。但是，铝箔在较高温度下易形成一层电绝缘的氧化膜，这层氧化膜会影响测量结果，此时可使用金箔。5.1.3.2烧熔金属电极烧熔金属电极适用于玻璃、云母和陶瓷等材料，银是普遍使用的，但是在高温或高湿下，zui好采用金。5.1.3.3喷镀金属电极锌或铜电极可以喷镀在试样上，它们能直接在粗糙的表面上成膜。这种电极还能喷在布上，因为它们不穿透非常小的孔眼。5.1.3.4阴极蒸发或高真空蒸发金属电极假如处理结果既不改变也不破坏绝缘材料的性能，而且材料承受高真空时也不过度逸出气体，则本方法是可以采用的。这一类电极的边缘应界限分明。5.1.3.5汞电极和其他液体金属电极把试样夹在两块互相配合好的凹模之间，凹模中充有液体金属，该液体金属必须是纯净的。汞电极不能用于高温，即使在室温下用时，也应采取措施，这是因为它的蒸气是有毒的。伍德合金和其他低熔点合金能代替汞。但是这些合金通常含有镉，镉象汞一样，也是毒性元素。这些合金只有在良好抽风的房间或在抽风柜中才能用于100℃以上，且操作人员应知道可能产生的健康危害。5.1.3.6导电漆无论是气干或低温烘干的高电导率的银漆都可用作电极材料。因为此种电极是多孔的，可透过湿气，能使试样的条件处理在涂上电极后进行，对研究湿度的影响时特别有用。此种电极的缺点是试样涂上银漆后不能马上进行试验，通常要求12h以上的气干或低温烘干时间，以便去除所有的微量溶剂，否则，溶剂可使电容率和介质损耗因数增加。同时应注意漆中的溶剂对试样应没有持久的影响。要使用刷漆法做到边缘界限分明的电极较困难，但使用压板或压敏材料遮框喷漆可克服此局限。但在极高的频率下，因银漆电极的电导率会非常低，此时则不能使用。5.1.3.7石墨一般不推荐使用石墨，但是有时候也可采用，特别是在较低的频率下。石墨的电阻会引起损耗的显著增大，若采用石墨悬浮液制成电极，则石墨还会穿透试样。5.1.4电极的选择5.1.4.1板状试样考虑下面两点很重要：a）不加电极，测量时快而方便，并可避免由于试样和电极间的不良接触而引起的误差。b）若试样上是加电极的，由测量试样厚度h时的相对误差△h/h所引起的相对电容率的相对误差△εr/εr可由下式得到：……………………………（12）式中：△εr——相对电容率的偏差；εr——相对电容率；h——试样厚度； Ah——试样厚度的偏差。若试样上加电极，且试样放在有固定距离Sh的两个电极之间，这时 ……………………………（13）式中：△εr、εr、h同式（12）。εr——试样浸入所用流体的相对电容率，对于在空气中的测量则εr等于1。对于相对电容率为10以上的无孔材料，可采用沉积金属电极。对于这些材料，电极应覆盖在试样的整个表面上，并且不用保护电极。对于相对电容率在3?10之间的材料，能给出zui高精度的电极是金属箔、汞或沉积金属，选择这些电极时要注意适合材料的性能。若厚度的测量能达到足够精度时，试样上不加电极的方法方便而更可取。假如有一种合适的流体，它的相对电容率已知或者能很准确地测出，则采用流体排出法是zui好的。5.1.4.2管状试样对管状试样而言，合适的电极系统将取决于它的电容率、管壁厚度、直径和所要求的测量精度。一般情况下，电极系统应为一个内电极和一个稍为窄一些的外电极和外电极两端的保护电极组成，外电极和保护电极之间的间隙应比管壁厚度小。对小直径和中等直径的管状试样，外表面可加三条箔带或沉积金属带，中间一条用作为外电极（测量电极），两端各有一条用作保护电极。内电极可用汞，沉积金属膜或配合较好的金属芯轴。高电容率的管状试样，其内电极和外电极可以伸展到管状试样的全部长度上，可以不用保护电极。大直径的管状或圆筒形试样，其电极系统可以是圆形或矩形的搭接，并且只对管的部分圆周进行试验。这种试样可按板状试样对待，金属箔、沉积金属膜或配合较好的金属芯轴内电极与金属箔或沉积金属膜的外电极和保护电极一起使用。如采用金属箔做内电极，为了保证电极和试样之间的良好接触，需在管内采用一个弹性的可膨胀的夹具。对于非常准确的测量，在厚度的测量能达到足够的精度时，可采用试样上不加电极的系统。对于相对电容率εr不超过10的管状试样，方便的电极是用金属箔、汞或沉积金属膜。相对电容率在10以上的管状试样，应采用沉积金属膜电极；瓷管上可采用烧熔金属电极。电极可像带材一样包覆在管状试样的全部圆周或部分圆周上。5.2液体绝缘材料5.2.1试验池的设计对于低介质损耗因数的待测液体，电极系统重要的特点是：容易清洗、再装配（必要时）和灌注液体时不移动电极的相对位置。此外还应注意：液体需要量少，电极材料不影响液体，液体也不影响电极材料，温度易于控制，端点和接线能适当地屏蔽；支撑电极的绝缘支架应不浸沉在液体中，还有，试验池不应含有太短的爬电距离和尖锐的边缘，否则能影响测量精度。满足上述要求的试验池见图2?图4。电极是不锈钢的，用硼硅酸盐玻璃或石英玻璃作绝缘，图2和图3所示的试验池也可用作电阻率的测定，1EC 60247:1978对此已详细叙述。由于有些液体如氯化物，其介质损耗因数与电极材料有明显的关系，不锈钢电极不总是合适的。有时，用铝和杜拉铝制成的电极能得到比较稳定的结果。5.2.2试验池的准备应用一种或几种合适的溶剂来清洗试验池，或用不含有不稳定化合物的溶剂多次清洗。可以通过化学试验方法检查其纯度，或通过一个已知的低电容率和介质损耗因数的液体试样测量的结果来确定。3试验池试验几种类型的绝缘液体时，若单独使用溶剂不能去除污物，可用一种柔和的擦净剂和水来清洁试验池的表面。若使用一系列溶剂清洗时则后要用大沸点低于100°C的分析级的石油醚来再次清洗，或者用任一种对一个已知低电容率和介质损耗因数的液体测量能给出正确值的溶剂来清洗，并且这种溶剂在化学性质上与被试液体应是相似的。推荐使用下述方法进行清洗。试验池应全部拆开，彻底地清洗各部件，用瑢剂回流的方法或放在未使用溶剂中搅动反复洗涤方法均可去除各部件上的溶剂并放在清洁的烘箱中，在110℃左右的温度下烘干30min。待试验池的各部件冷却到室温，再重新装配起来。池内应注人一些待试的液体，停几分钟后，倒出此液体再重新倒人待试液体，此时绝缘支架不应被液体弄湿。在上述各步骤中，各部件可用干净的钩针或钳子巧妙地处理，以使试验池有效的内表面不与手接触。注1:在同种质量油的常规试验中，上面所说的淸洗步骤可以代之为在每一次试验后用没有残留纸屑的干纸简单地擦擦试验池。注2:采用溶剂时，有些溶剂特别是苯、四氧化碳、甲苯、二甲苯是有毒的，所以要注意防火及毒性对人体的影响，此外，氧化物溶剂受光作用会分解。5.2.3试验池的校正当需要高精度测定液体电介质的相对电容率时，应首先用一种已知相对电容率的校正液体（如苯）来测定“电极常数'。“电极常数”C。的确定按式（14）: ……………………………（14）式中：Cc——电极常数；Co——空气中电极装置的电容；Cn——充有校正液体时电极装置的电容；εn——校正液体的相对电容率。从C。和Cc的差值可求得校正电容Cg并按照公式来计算液体未知相对电容率εx。式中：Cg——校正电容；Co——空气中电极装置的电容；Cc——电极常数|Cx——电极装置充有被试液体时的电容；εx——液体的相对电容率。假如Co、Cn和Cx值是在εn是已知的某一相同温度下测定的，则可求得zui高精度的εx值。采用上述方法测定液体电介质的相对电容率时，可保证其测得结果有足够的精度，因为它消除了由于寄生电容或电极间隙数值的不准确测量所引起的误差。 6、测置方法的选择测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种：零点指示法和谐振法。6.1零点指示法适用于频率不超过50MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法；也就是在接入试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥（也就是互感耦合比例臂电桥）和并联T型网络。变压器电桥的优点：采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极；它没有其他网络的缺点。6.2谐振法适用于10kHz?几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。注：典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和测量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。 7、试验步骤7.1试样的制备试样应从固体材料上截取，为了满足要求，应按相关的标准方法的要求来制备。应地测量厚度，使偏差在±（0.2%土0.005mm）以内，测量点应均匀地分布在试样表面。必要时，应测其有效面积。7.2条件处理条件处理应按相关规范规定进行。7.3测量电气测量按本标准或所使用的仪器（电桥）制造商推荐的标准及相应的方法进行。在1MHz或更高频率下，必须减小接线的电感对测量结果的影响。此时，可采用同轴接线系统（见图1所示），当用变电抗法测量时，应提供一个固定微调电容器。 8、结果8.1相对电容率εr试样加有保护电极时其相对电容率εr可按公式（1）计算，没有保护电极时试样的被测电容C'x包括了一个微小的边缘电容Ce，其相对电容率为： ……………………………（17）式中：εr——相对电容率；C'x——没有保护电极时试样的电容；Ce——边缘电容 Co——法向极间电容；Co和Ce能从表1计算得来。必要时应对试样的对地电容、开关触头之间的电容及等值串联和并联电容之间的差值进行校正。测微计电极间或不接触电极间被测试样的相对电容率可按表2、表3中相应的公式计算得来。8.2介质损耗因数tanδ介质损耗因数tanδ按照所用的测量装置给定的公式，根据测出的数值来计算。8.3精度要求在第5章和附录A中所规定的精度是：电容率精度为±1%，介质损耗因数的精度为±（5%±0.0005）。这些精度至少取决于三个因素：即电容和介质损耗因数的实测精度；所用电极装置引起的这些量的校正精度；极间法向真空电容的计算精度（见表1）。在较低频率下，电容的测量精度能达±（0.1%土0.02pF），介质损耗因数的测量精度能达±（2%±0.00005）。在较高频率下，其误差增大，电容的测量精度为±（0.5%±0，1PF），介质损耗因数的测量精度为±（2%±0.0002）。对于带有保护电极的试样，其测量精度只考虑极间法向真空电容时有计算误差。但由被保护电极和保护电极之间的间隙太宽而引起的误差通常大到百分之零点几，而校正只能计算到其本身值的百分乏几。如果试样厚度的测量能到±0.005mm，则对平均厚度为1.6mm的试样，其厚度测量误差能达到百分之零点几。圆形试样的直径能测定到±0.1%的精度，但它是以平方的形式引人误差的，综合这些因素，极间法向真空电容的测量误差为±0.5%。对表面加有电极的试样的电容，若采用测微计电极测量时，只要试样直径比测微计电极足够小，则只需要进行极间法向电容的修正。采用其他的一些方法来测量两电极试样时，边缘电容和对地电容的计算将带来一些误差，因为它们的误差都可达到试样电容的2%?40%。根据目前有关这些电容资料，计算边缘电容的误差为10%，计算对地电容的误差为因此带来总的误差是百分之几十到百分之几。当电极不接地时，对地电容误差可大大减小。采用测微计电极时，数量级是0.03的介质损耗因数可测到真值的±0.0003，数量级0.0002的介质损耗因数可测到真值的±0.00005介质损耗因数的范围通常是0.0001?0.1，但也可扩展到0.1以上。频率在10MHz和20MHz之间时，有可能检测出0.00002的介质损耗因数。1?5的相对电容率可测到其真值的±2%，该精度不仅受到计算极间法向真空电容测量精度的限制，也受到测微计电极系统误差的限制。 9、试验报告试验报告中应给出下列相关内容：绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样日期（并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况）；试样条件处理的方法和处理时间；电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型；测量仪器；试验时的温度和相对湿度以及试样的温度；施加的电压；施加的频率；相对电容率εr（平均值）；介质损耗因数tanδ（平均值）；试验日期；相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。表1 真空电容的计算和边缘校正（1）极间法向电容（单位：皮法和厘米）（2）边缘电容的校正（单位：皮法和厘米）（3）1.有保护环的圆盘状电极 2.没有保护环的圆盘状电极a）电极直径=试样直径 b）上下电极相等，但比试样小 其中：ε1 是试样相对电容率的近似值，并且a≤h表1（续）（1）极间法向电容（单位：皮法和厘米）（2）边缘电容的校正（单位：皮法和厘米）（3）c）电极直径=试样直径 其中：ε1 是试样相对电容率的近似值，并且a≤h3.有保护环的圆柱形电极 4.没有保护环的圆柱形电极 其中：ε1 是试样相对电容率的近似值试样的相对电容率：其中：C'x——电极之间被测的电容；In——自然对数；Ig——常用对数。表2 试样电容的计算——接触式测微计电极试样电容注符号定义’1.并联一个标准电容器来替代试样电容CP——试样的并联电容△C——取去试样后，为恢复平衡时的标准电容器的电容增量Cr——在距离为r时，测微计电极的标定电容Cs——取去试样后，恢复平衡，测微计电极间距为s时的标定电容Cor，Coh——测微计电极之间试样所占据的，间距分别为r或h的空气电容。可用表1中的公式1来计算r——试样与所加电极的厚度h——试样厚度相对电容率: CP=△C+Cor试样直径至少比测微计电极的直径小2r。在计算电容率时必须采用试样的真实厚度h和面积A。2.取去试样后减少测微计电极间的距离来替代试样电容CP=Cs-Cr+Cor试样直径至少比测微计电极的直径小2r。在计算电容率时必须采用试样的真实厚度h和面积A。3.并联一个标准电容器来替代试样电容当试样与电极的直径同样大小时，仅存在一个微小的误差（因电极边缘电场畸变引起0.2%?0.5%的误差），因而可以避免空气电容的两次计算。CP=△C+Coh试样直径等于测微计电极直径，施于试样上的电极的厚度为零。表3电容率和介质损耗因数的计算——不接触电极相对电容率（1）介质损耗因数（2）符号意义（3）1.测微计电极（在空气中） 若ho 调到一个新值h'o，而△C=0时 tanδx= tanδc +Mεr△tanδ △C——试样插人时电容的改变量（电容增加时为+号）C1——装有试样时的电容C1——仅有流体时的电容，其值为εr&bull CoCo——所考虑的区域上的真空电容，其值为εo&bull A/h0A——试样一个面的面积，用 厘米2表示（试验的面积大于等于电极面积时）ε1——在试验温度下的流体相对电容率（对空气而言εr ＝1. 00)ε0——电气常数用皮法/厘米表示△tanδ——试样插入时，损耗因数的增加量tanδc——装有试样时的损耗因数tanδx试样的损耗因数的计算值d0——内电极的外直径 d1——试样的内直径 d2试样的外直径d3——外电极的内直径 h0——平行平板间距h——试样的平均厚度M——h0 /h—1lg――常用对数注；在二流体法的公式中，脚注1和2分别表示种和第二种流体。2. 平板电极——流体排出法 tanδx= tanδc +Mεr△tanδ 当试样的损耗因数小于1时，可以用下列公式: 3. 圆柱形电极——流体排出法（用于tanδ小于0.1时） 4. 二流体法——平板电极（用于tanδx小于0. 1时） 1——测微计头；6——微调电容器；2——连接可调电极（B)的金属波纹管；7——接检测器；3——放试样的空间（试样电容器M1；8——接到电路上；4——固定电极（A）；9——可调电极（B）。5——测微计头；图1 用于固体介质测量的测微计——电容器装置单位为毫米 1——内电极；1——把柄；2——外电极；5——棚硅酸盐或石英垫圈；3——保护环；6——硼硅酸盐或石英垫圈。图2 液体测量的三电极试验池示例 注满试验池所需的液体量大约15mL1——温度计插孔；2——绝缘子；3——过剩液体溢流的两个出口。图3 测量液体的两电极试验池示例 1——温度计插孔；2——1mm厚的金属板；3——石英玻璃；4——1mm或2mm的间隙；5——温度计插孔图4 液体测量的平板两电极试验池