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HPLC 分离技术研讨会有感兴趣的吗东曹(上海)生物科技有限公司(TOSOH)、北京绿百草科技发展有限公司将举办关于HPLC分离分析技术及应用研讨会。会议特邀国内外专家前来介绍和讨论一些最近热门的食品安全(如奶粉、农残等)、生物医药品(重组蛋白、单抗等)方面的HPLC分析方法及应用。时间:2012年12月20日周四地点:湖北大厦三层东湖厅地址:北京市海淀区中关村南大街36号(中央民族大学对面)有感兴趣的站短联系,给你邀请函
最近收到一个热分析公司发过来的热分析技术研讨会,想咨询一下参加过类似这样会议的同仁们,参加完会的收获如何?有什么好的建议?
《FIB(聚焦离子束)分析技术》研讨会各相关单位:近年来,FIB(聚焦离子束)在集成电路中的多种独特用途使其得到广泛的重视。FIB系统可以进行芯片形貌观察、制备机械探针、制备测试通孔、失效分析的局部剖切、失效分析的局部剥层和电路修改,为芯片研发和芯片制程分析过程提供了至关重要的辅助支持, FIB设备也因此成为自20世纪90 年代以来芯片产业必备分析设备之一。作为我国最早专业的微电子失效分析机构,为更好地为集成电路设计公司和制造公司服务,在我们已有分析能力的基础上,本实验室于今年5月新引进了一套V600型FIB系统。针对广大业界客户需求,中国赛宝实验室可靠性研究分析中心与德国布鲁克公司联合组织召开本次《FIB分析技术研讨会》。通过本次研讨会,参与企业可以深入了解FIB的工作能力,以及在优化公司设计流程和成本方面的重要作用。热忱欢迎您的参加!主办单位:中国赛宝实验室可靠性研究分析中心 协办单位: 德国布鲁克公司参加人员:IC设计人员 芯片制造人员 失效分析工程师 会议时间:2007年12月15日费 用:免费 (每单位享有3个免费名额,名额有限,预报从速)地 点:深圳市新豪方酒店日程安排:时间主讲内容12:30-13:30签到13:30-15:00先进的失效分析技术15:00-15:10茶歇15:10-15:40德国布鲁克SDD能谱仪及其应用15:40-15:50茶歇15:40-17:00FIB技术研讨17:00-17:30讨论、交流讲师简介:费庆宇 中国赛宝实验室(信产部电子第五研究所)可靠性研究分析中心高级工程师。长期从事半导体器件(包括集成电路和GaAs微波器件等)的失效机理和失效分析技术研究。分别于1989年、1992-1993年、2001年赴德国、加拿大和美国作访问学者。曾在国内外刊物和学术会议上发表论文三十余篇。曾多次应邀外出讲学,曾多次主持重大课题研究,他主持的《VLSI失效分析技术》课题荣获2003年度国防科技二等奖。联系方式: 联系人:熊娥英 电话:020-87236986 传真:020-87237185网址:www.rac.ceprei.com EMAIL:xiongey@ceprei.com报名回执请填妥表格并传真或E-mail给我们,接到回执后我们会为您预留座位及准备资料单位名称专业领域参加课程联系人工作部门/职位Email联系电话传真参加人数备注说明:1、请详细填写报名表格,发传真或Email给我们。2、收到您的报名表后,本中心客户代表会致电给您进一步确认培训细则。酒店地图: