硅损测试仪

高精度可控硅测试仪 ST-DC2000（250A）可测试 19大类27分类 大中小功率的 分立器件及模块的 静态直流参数（测试范围包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）主极输出 2000V / 50~1250A，分辨率*高至1mV / 10pA支持曲线扫描图示功能 ? 产品应用应用领域高精度可控硅测试仪适用于军工院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……主要用途? 测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试）? 失效分析（对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 ）? 选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）? 来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）? 产线自动化测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试） ? 产品简述 高精度可控硅测试仪产品的扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。 曲线追踪仪（晶体管图示仪）功能则是利用高速ATE测试步骤逐点生成曲线，可快速而准确地生成精确的数据点。数据增量是可编程的线性或对数，典型的每步测试时间为6到20ms。一个两百条数据点曲线通常只需几秒钟就能完成。使用该系列跟踪仪更容易获取诸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFETRDSvs. VGS 等曲线数据。此外， 针对多条曲线，设备可以根据每条曲线的数据运行并将所获数据自动发送到一个单独的 Excel 工作表。系统能够更快，更简洁的创建曲线（单击，双击，选择输入菜单，单击）。就是这么简单。 设备支持在单个 DUT 上运行高达 10 条不同曲线的能力，在运行过程中，每个图表都是可视的，每个数据集都被加载到一个被命名的 Excel 工作表中。系统运行速度快，可进行数据记录，提供更高级的数据工具箱，能够运行多条曲线并自动排序，自动将数据存入 Excel 表格，具有缩放功能，光标重新运行功能以及其他许多优点。 系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。? 产品特点?高精度可控硅测试仪的测试范围广（19大类，27分类）?升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A?采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定的300us?被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试, 保证被测器件不受损坏?真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导 ，其结果与器件实际值偏差很大）?系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排障?二极管极性自动判别功能，无需人工操作?IV 曲线显示 / 局部放大?程序保护*大电流/电压,以防损坏 ?品种繁多的曲线?可编程的数据点对应 ? 增加线性或对数?可编程延迟时间可减少器件发热 ?保存和重新导入入口程序?保存和导入之前捕获图象 ?曲线数据直接导入到 EXCEL?曲线程序和数据自动存入 EXCEL ? 测试能力序号测试器件测试参数01IGBTICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS02MOSFET / MOS场效应管 IDSS；IDSV；IGSSF； IGSSR；VGSF；VGSR；BVDSS；VGSTH；VDSON、VF(VSD) IDON；VGSON；RDSON；GFS03J-FET / J型场效应管IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF04晶体管（NPN/PNP）ICBO；ICEO；ICER； ICES； ICEV；IEBO；BVCEO ；BVCBO；BVEBO；HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF05DIODE / 二极管IR；BVR ；VF06ZENER / 稳压、齐纳二极管IR；BVZ；VF；ZZ07DIAC / 双向触发二极管VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,08OPTO-COUPLER / 光电耦合ICOFF、ICBO；IR；BVCEO；BVECO；BVCBO；BVEBO；CTR；HFE；VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode)09RELAY / 继电器RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME10TRIAC / 双向可控硅VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH-11SCR / 可控硅IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH12STS / 硅触发可控硅IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ；VPK-；VGSW+；VGSW-13DARLINTON / 达林顿阵列ICBO；ICEO；ICER；ICES；ICEX；IEBO；BVCEO；BVCER；BVCEE；BVCES；BVCBO；BVEBO；hFE；VCESAT；VBESAT；VBEON14REGULATOR / 三端稳压器Vout；Iin；15OPTO-SWITCH / 光电开关ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF16OPTO-LOGIC / 光电逻辑IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF17MOV / 金属氧化物压变电阻ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ；18SSOVP / 固态过压保护器ID+ ID-；VCLAMP+, VCLAMP-；VT+、VT-；IH+、IH-；；IBO+ IBO-；VBO+ VBO-；VZ+ VZ- 19VARISTOR / 压变电阻ID+； ID-；VC+ ；VC-

一、产品概述：介电常数测试仪采用数字液晶显示，是通过GB1409中的Q表法测试固体/液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的分析仪器。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低值，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。可直读介电常数及介质损耗结果，免去人工计算的繁琐。经过新升级可通过上位机软件查看测试曲线，北京航天纵横检测仪器是代替进口设备的北京航天纵横仪器产品。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。产地北京房山。二、技术特性：DDS数字合成信号：50KHz-160MHz；信号源频率覆盖比：1600:1；信号源频率精度：6位有效数3×10-5 ±1个字；Q测量范围/Q分辨率：1-1000自动/手动量程；4位有效数,分辨率0.1；Q测量工作误差：5%；电感测量范围/分辨率：1nH-140mH 4位有效数,分辨率0.1nH；电感测量误差：5%；调谐电容：主电容17-240pF；电容直接测量范围：1pF～25nF；调谐电容误差/分辨率：±1pF或1% / 0.1pF；谐振点搜索：自动扫描；Q合格预置范围：5-1000声光提示；Q量程切换：自动/手动；LCD显示参数：F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；新增功能：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；新增功能：大电容值直接测量显示功能，测量值可达25nF；消耗功率：约25W；净重：约7kg；外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。二、符合标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法； 三、产品特点：1、双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2、双测试要素输入 - 北京航天纵横检测仪器测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3、双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4、自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5、全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6、DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路 残余电感减至低值，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。8、新增功能：电感测试时，仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提高了在电感值（特别是小电感值）测量时的精度。此技术只有北京航天纵横仪器生产的Q表有。9、新增功能：大电容值直接测量显示功能，电容值直接测量值可达25nF（配100uH电感时）。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京航天纵横检测仪器生产的Q表有。四、工作环境：1、环境温度：0℃～+40℃；2、相对湿度：80％；3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。五、配置清单：主机一台电感九只夹具一套液体杯一个电源线一根数据线一根说明书一份合格证一份保修卡一张六、适用单位：可以用于科研机关，学校，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数仪对绝缘材料的介质损耗角正切tanδ及介电常数进行测试；北京航天纵横检测仪器同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。七、试验步骤：1、按照Q表的操作规程调整仪器，选定测量频率，测定C1和Q1的值。2、将试样放入测试电极中，并调节电容器C，使电路谐振，达到最大Q值记下调谐电容量C2和Q2的值。3、将试样从测试电极中取出，调节C或测试电极的距离，使电路重新谐振，记下C、或测试电极的校正电容值与Q值，北京航天纵横检测仪器并根据测试值计算出损耗角tanδ与介电常数ε。4、其他高频测试仪器按其说明书进行操作，北京航天纵横检测仪器通过测试值计算出损耗角tanδ和介电常数ε。八、试验条件：1、试样表面应清洁、平滑，无裂纹、气泡和杂质等，试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。3、当试样处理有特殊要求时，可按其产品标准规定的进行。九、测试意义：1、介电常数——北京航天纵横检测仪器绝缘材料通常以两种不同方式来使用，即（1）用于固定电学网络部件，同时让其彼此以及与地面绝缘；（2）用于起到某一电容器的电介质作用。在第一种应用中，通常要求固定的电容尽可能小，同时具有可接受且一致的机械，化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中，要求电容率具有一个高值，以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力，以将交流电晕降至最小。2、交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至最小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。3、相关性——北京航天纵横检测仪器当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。十、典型用户：沧州大化集团中国计量大学河南平煤神马聚碳材料有限责任公司温州市鹿城区科学技术局东莞初创应用材料有限公司北京航空航天大学中国科学技术大学惠州市杜科新材料有限公司宁波东烁新材料科技有限公司云南能投硅材科技发展有限公司天津科技大学十一、相关产品：ZJC-50kV电压击穿试验仪ZST-212体积表面电阻率测试仪ZJD-C介电常数介质损耗测试仪ZDH-20KV耐电弧试验仪LDQ-5漏电起痕试验仪XRW-300HB热变形维卡温度测定仪XNR-400H熔体流动速率测定仪JF-6氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机WDW-50KN材料电子拉力试验机一、介质损耗的基本概念1.介质损耗电介质在电场作用下(加电压后)，要发生极化过程和电导过程。有损极化过程有能量损耗；电导过程中，电学性泄漏电流流过绝缘电阻当然也有能量损耗。损耗程度一般用单位时间内损耗的能量，即损耗功率表示。这种电介质出现功率损耗的过程称为介质损耗。显然，介质损耗过程随极化过程和电导过程同时进行。介质损耗掉的能量(电能)变成了热能，使电介质温度升高。若介质损耗过大，则电介质温度将升得过高，这将加速电介质的热分解与老化，最终可能导致绝缘性能的完全失去，所以研究介质损耗有十分重要的意义。2.介质损耗的基本形式(1)电导损耗。电导损耗为电场作用下由泄漏电流引起的那部分损耗。泄漏电流与电场频率无关，故这部分损耗在直流交流下都存在。气体电介质以及绝缘良好的液、固体电介质，电导损耗都不大。液、固体电介质的电导损耗随温度升高而按指数规律增大。(2)极化损耗。极化损耗为偶极子与空间电荷极化引起的损耗。在直流电压作用下，由于极化过程仅在电压施加后很短时间内存在，与电导损耗相比可忽路。而在交流电压作用下，由于电介质随交流电压极性的周期性改变而作周期性的正向极化和反向极化，极化始终存在于整个加压过程之中。极化损耗在频率不太高时随频率升高而增大。但频率过高时，极化过程反而减弱，损耗减小。极化损耗与温度也有关，在某一温度下极化损耗达最大。(3)游离损耗，游离损耗主要是指气体间隙的电晕放电以及液、固体介质内部气泡中局部放电所造成的损耗。这是因为放电时，产生带电粒子需要游离能，放电时出现光、声、热、化学效应也要消耗能量。游离能随电场强度的增大而增大。二、介质损失角正切tanδ由上可见，在直流电压作用下，介质损耗主要为电导损耗，因此，电导率γ或电阻率ρ既表示介质电导的特性，同时也表征了介质损耗的特性。但在交流电压作用下，三种形式的损耗都存在，为此需引入一个新的物理量来表征介质损耗的特性，这个物理量就是tanδ。1.并联等值电路及损耗功率的计算公式电介质两端施加一交流电压时，就有电流流过介质。有三个电流分量组成式中 ——电导过程的电流，为阻性电流，与同相位；——无损极化和有损极化时的电流。对应的等值电路如图2-9(a)所示，此等值电路可进一步简化成如图2-9(b)所示的由R和Cp相并联的等值电路。此并联等值电路的相量图如图2-9(c)所示。我们定义功率因数角θ的余角为δ角。由相量图可见，介质损耗功率越大，IR越大，δ角也越大，因此δ角称为介质损失角。对此并联等值电路，可写出介质损耗功率P的计算公式当然，图2-9(b)的电路也可以简化成由r和Cs相串联的等值电路，可以证明当tanδ 很小时， Cs≈C对于串联等值电路，同样可以推出损耗功率的计算公式2.tanδ值的意义从介质损耗功率P的计算公式看，我们若用P来表征介质损耗的程度是不方便的，因为P值与试验电压U的高低、试验电压的角频率ω(ω=2Πf)、电介质等值电容量Cp (或Cs)以及tanδ值有关。而若在试验电压、频率、电介质尺寸一定的情况下，那么介质损耗功率仅取决于 tanδ，换句话说，也就是tanδ是与电压、频率、绝缘尺寸无关的量，它仪取决于电介质的损耗特性。所以 tanδ是表征介质损耗程度的物理量，与εr、γ相当。这样,我们可以通过试验测量电介质的tanδ值，并以此来判断介质损耗的程度。各种结构固体电介质的tanδ如表2-2所示。表2-2 各种结构固体电介质的tanδ值(1MHz，20℃时)电介质结构名称tanδ分子结构非极性分子石 蜡 聚苯乙烯 聚四氟乙烯小于0.0002极性分子纤维素 有机玻璃0.01~0.015离子结构晶格结构紧密岩 盐 刚 玉小于0.0002 小于0.0002晶格结构不紧密多铝红柱石0.015晶格畸变的晶体锆英石0.02无定形结构硅酸铅玻璃 硅碱玻璃0.001 0.01不均匀结构　绝缘子瓷 浸渍纸绝缘0.01 0.01三、影响 tanδ 的因素影响tanδ 值的因素主要有温度、频率和电压。1.温度对tanδ值的影响随电介质分子结构的不同有显著的差异中性或弱极性介质的损耗主要由电导引起，故温度对tanδ的影响与温度对电导的影响相似，即tanδ随温度的升高而按指数规律增大，且tanδ较小。极性介质中，极化损耗不能忽略，tanδ值与温度的关系如图2-10所示。当温度在t1时，由于温度较低，电导损耗与极化损耗都小，电导损耗随温度升高而略有增大，而极化损耗随温度升高也增大(黏滞性减小，偶极子转向容易)，所以tanδ随温度升高而增大。当温度在t1＜t＜t2时，温度已不太低，此时分子的热运动反而妨碍偶极子沿电场方向作有规则的排列，极化损耗随温度升高而降低，而且降低的程度又要超过电导损耗随温度升高的程度，因此tanδ随温度升高而减小。当温度在t＞t2时，温度已很高，电导损耗已占主导地位，tanδ又随温度升高而增大。2.频率对tanδ的影响主要体现于频率对极化损耗的影响tanδ与频率的关系如图2-11所示。在频率不太高的一定范围内，随频率的升高，偶极子往复转向频率加快，极化程度加强，介质损耗增大，tanδ值增大。当频率超过某一数值后，由于偶极子质量的惯性及相互间的摩擦作用，来不及随电压极性的改变而转向，极化作用减弱，极化损耗下降，tanδ值降低。3.电压对tanδ的影响主要表现为电场强度对tanδ值的影响在电场强度不很高的一定范围内，电场强度增大(由于电压升高)，介质损耗功率变大，但tanδ几乎不变。当电场强度达到某一较高数值时，随着介质内部不可避免存在的弱点或气泡发生局部放电，tanδ随电场强度升高而迅速增大。因此，在较高电压下测tanδ值，可以检查出介质中夹杂的气隙、分层、龟裂等缺陷来。此外，湿度对暴露于空气中电介质的tanδ影响也很大。介质受潮后，电导损耗增大，tanδ也增大，例如绝缘纸中水分含量从4%增加到10%，tanδ值可增大100倍。然而，假如tanδ值的测试是在温度低于0～5℃时进行，含水量增加tanδ反而不会增大，这是因为此时介质中的水分已凝结成冰，导电性又变差，电导损耗变小的缘故。为此，在进行绝缘试验时规定被试品温度不低于+5℃，这对tanδ的测试尤为重要，在工程实际中，通过tanδ以及tanδ=f(u)曲线的测量及判断，对监督绝缘的工作状况以及老化的进程有非常重要的意义。

介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪：GDAT-A 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 二、介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪的技术指标 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c．标称误差项 目 GDAT-A频率范围20kHz～10MHz；固有误差≤5％±满度值的2％；工作误差≤7％±满度值的2％；频率范围10MHz～60MHz；固有误差≤6％±满度值的2％；工作误差≤8％±满度值的2％。电感测量范围介电常数介质损耗试验仪电容测量14.5nH~8.14H1~ 460 项 目GDAT-A直接测量范围1～460pF主电容调节范围30～500pF，精准度150pF以上±1％ 150pF以下±1.5pF； 注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则 4．介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪信号源频率覆盖范围项 目 GDAT-A： 频率范围10kHz～50MHz频率分段(虚拟)10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。Q表正常工作条件环境温度：0℃～+40℃； 相对湿度80％电源220V±22V，50Hz±2.5Hz。消耗功率约25W；净重约7kg外型尺寸(l×b×h)mm：380×132×280 8．产品配置：a. 测试主机一台；b. 电感9只；c. 夹具一套 电感：线圈号 Q 值 测试频率 分布电容p 电感值 9100KHz 98 9.4 25mH8400KHz 13811.4 4.87mH7 400KHz 20216 0.99mH61MHz 196 13252μH52MHz 198 8.749.8μH4 4.5MHz 231 7 10μH 312MHz 1936.9 2.49μH2 12MHz 229 6.4 0.508μH1 25MHz，50MHz233，2110.9 0.125μH 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪的详细资料： 一、 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。介电常数介质损耗试验仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有专业的工程师为您解决您的疑问！！ 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪 BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪 BDJC系列电压介电强度试验仪器 BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪 BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪 EST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪 BDH 耐漏电起痕试验仪 BDH-B耐电弧试验仪 中国检测行业与验证服务的尖端者和智领者，帮助众多检测质检单位和学校教研单位提供一站式的全面质量解决方案。 注重每一个细节是北广公司对于每个客户的承诺 ， 也是北广公司一直追求的宗旨。北京北广精仪仪器设备有限公司

电感测试仪 MADMIX是一种独特的专利测量技术，用于在真实环境下测量SMPS电感。所有的关键电感参数都可以测量，包括交流损耗，而不需要额外的绕组。 MADMIX电感测试仪测试功能：1、 平均电感2、 核心损耗3、 绕组损耗4、 总交流损耗5、 BH-loop6、 饱和电流7、 电感饱和前后 MADMIX电感测试仪特点：1、 测试电感在实际工作条件：硬开关、大电流和电压。2、 可以应用和实际应用相同的波形 3、 可以测试铁芯和绕组损耗，并确定自热。4、 可以解决客户在应用中使用哪个感应器的困惑。5、 在电感器上施加方形电压，产生三角电流。6、 将大信号三角电流(0.1-120Aptp)与直流偏置电流(0-48A)相结合7、 我们可以测量不同频率(10kHz-10MHz)和脉宽(5-95%) MADMIX应用领域：1、 电感厂2、 铁氧体制造商 3、 SMPS设计4、 科研单位。 三角磁通激发相对于传统的小信号正弦波励磁，大信号三角磁通励磁揭示了被测电感器的真实性能。 不再使用假设来推断，但真正的激发使性能达到极限。 为未来做好准备大程度的自动化和灵活性由内部开发的软件。强大的ＤＳＰ计算确保稳定和准确测量。我们不断的创新是由先进的技术推动的在电力电子领域 模块化硬件构建针对电子行业的未来发展。 硬开关原理开关电源采用硬开关，使高效化。功率感应器可以“看到”一个矩形的电压产生三角形电流的波形。这种特定的电流波形与频率和占空比将导致特定的交叉在感应器里。 这些损失可能会很严重与正弦激励相比具有差异 哪些参数可以被调优ＭＡＤＭＩＸ软件可以选择和自动化扫描：开关频率占空比输入电压直流偏电流温度 技术规格及选配主要参数 输入电压: 0.2V to 70V 频率: 10kHz to 10MHz 频宽比: 10% to 90% 交流电流: 0.1Aptp to 60Aptp 直流偏置: 0A to 24A 铁芯绕组分离一个真正的１０位示波器功率损失在兆瓦范围内测量并改进高频率（ＭＨｚ范围） 低频率下的精度电感部件（１００ｎＨ以下）将交流损耗分为：铁芯损耗和绕组损耗或无附加绕组 同时启用ＢＨ回路的生成。 耦合电感器耦合功率电感器的测量， 变压器，无线供电线圈．．．．这个测量同时返回损耗和ｋ系数。 知名用户：Vishay、NXP、TDK、Sumida、Würth Elektronik、MURATA、Cochlear… …

电感测试仪 MADMIX是一种独特的专利测量技术，用于在真实环境下测量SMPS电感。所有的关键电感参数都可以测量，包括交流损耗，而不需要额外的绕组。 MADMIX电感测试仪测试功能：1、 平均电感2、 核心损耗3、 绕组损耗 4、 总交流损耗5、 BH-loop6、 饱和电流7、 电感饱和前后 MADMIX电感测试仪特点：1、 测试电感在实际工作条件：硬开关、大电流和电压。2、 可以应用和实际应用相同的波形 3、 可以测试铁芯和绕组损耗，并确定自热。4、 可以解决客户在应用中使用哪个感应器的困惑。5、 在电感器上施加方形电压，产生三角电流。6、 将大信号三角电流(0.1-120Aptp)与直流偏置电流(0-48A)相结合7、 我们可以测量不同频率(10kHz-10MHz)和脉宽(5-95%) MADMIX应用领域：1、 电感厂2、 铁氧体制造商 3、 SMPS设计4、 科研单位。 三角磁通激发相对于传统的小信号正弦波励磁，大信号三角磁通励磁揭示了被测电感器的真实性能。 不再使用假设来推断，但真正的激发使性能达到极限。 为未来做好准备大程度的自动化和灵活性由内部开发的软件。强大的ＤＳＰ计算确保稳定和准确测量。我们不断的创新是由先进的技术推动的在电力电子领域 模块化硬件构建针对电子行业的未来发展。 硬开关原理开关电源采用硬开关，使高效化。功率感应器可以“看到”一个矩形的电压产生三角形电流的波形。 这种特定的电流波形与频率和占空比将导致特定的交叉在感应器里。 这些损失可能会很严重与正弦激励相比具有差异 哪些参数可以被调优ＭＡＤＭＩＸ软件可以选择和自动化扫描：开关频率占空比输入电压直流偏电流温度 技术规格及选配主要参数 输入电压: 0.2V to 70V 频率: 10kHz to 10MHz 频宽比: 10% to 90% 交流电流: 0.1Aptp to 60Aptp 直流偏置: 0A to 24A 铁芯绕组分离一个真正的１０位示波器功率损失在兆瓦范围内测量并改进高频率（ＭＨｚ范围） 低频率下的精度电感部件（１００ｎＨ以下）将交流损耗分为：铁芯损耗和绕组损耗或无附加绕组 同时启用ＢＨ回路的生成。 耦合电感器耦合功率电感器的测量， 变压器，无线供电线圈．．．．这个测量同时返回损耗和ｋ系数。 知名用户：Vishay、NXP、TDK、Sumida、Würth Elektronik、MURATA、Cochlear… …

片型材料介电常数介质损耗测量仪（自动介损测试仪）-ZJD-C一、产品概述：片型材料介电常数介质损耗测量仪（自动介损测试仪）-ZJD-C采用数字液晶显示，是通过GB1409中的Q表法测试固体/液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的分析仪器。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低值，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。可直读介电常数及介质损耗结果，免去人工计算的繁琐。片型材料介电常数介质损耗测量仪（自动介损测试仪）-ZJD-C经过新升级可通过上位机软件查看测试曲线，北京中航时代检测仪器是代替进口设备的北京中航时代仪器产品。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。产地北京房山。二、技术特性：DDS数字合成信号：50KHz-160MHz；信号源频率覆盖比：1600:1；信号源频率精度：6位有效数3×10-5 ±1个字；Q测量范围/Q分辨率：1-1000自动/手动量程；4位有效数,分辨率0.1；Q测量工作误差：5%；电感测量范围/分辨率：1nH-140mH 4位有效数,分辨率0.1nH；电感测量误差：5%；调谐电容：主电容17-240pF；电容直接测量范围：1pF～25nF；调谐电容误差/分辨率：±1pF或1% / 0.1pF；谐振点搜索：自动扫描；Q合格预置范围：5-1000声光提示；Q量程切换：自动/手动；LCD显示参数：F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；新增功能：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；新增功能：大电容值直接测量显示功能，测量值可达25nF；消耗功率：约25W；净重：约7kg；外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。二、符合标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法； 三、产品特点：1、双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2、双测试要素输入 - 北京中航时代检测仪器测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3、双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4、自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5、全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6、DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路 残余电感减至低值，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。8、新增功能：电感测试时，仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提高了在电感值（特别是小电感值）测量时的精度。此技术只有北京中航时代仪器生产的Q表有。9、新增功能：大电容值直接测量显示功能，电容值直接测量值可达25nF（配100uH电感时）。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京中航时代检测仪器生产的Q表有。四、工作环境：1、环境温度：0℃～+40℃；2、相对湿度：80％；3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。五、配置清单：主机一台电感九只夹具一套液体杯一个电源线一根数据线一根说明书一份合格证一份保修卡一张六、适用单位：可以用于科研机关，学校，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数仪对绝缘材料的介质损耗角正切tanδ及介电常数进行测试；北京中航时代检测仪器同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。七、试验步骤：1、按照Q表的操作规程调整仪器，选定测量频率，测定C1和Q1的值。2、将试样放入测试电极中，并调节电容器C，使电路谐振，达到最大Q值记下调谐电容量C2和Q2的值。3、将试样从测试电极中取出，调节C或测试电极的距离，使电路重新谐振，记下C、或测试电极的校正电容值与Q值，北京中航时代检测仪器并根据测试值计算出损耗角tanδ与介电常数ε。4、其他高频测试仪器按其说明书进行操作，北京中航时代检测仪器通过测试值计算出损耗角tanδ和介电常数ε。八、试验条件：1、试样表面应清洁、平滑，无裂纹、气泡和杂质等，试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。3、当试样处理有特殊要求时，可按其产品标准规定的进行。九、测试意义：1、介电常数——北京中航时代检测仪器绝缘材料通常以两种不同方式来使用，即（1）用于固定电学网络部件，同时让其彼此以及与地面绝缘；（2）用于起到某一电容器的电介质作用。在第一种应用中，通常要求固定的电容尽可能小，同时具有可接受且一致的机械，化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中，要求电容率具有一个高值，以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力，以将交流电晕降至最小。2、交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至最小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。3、相关性——北京中航时代检测仪器当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。十、典型用户：沧州大化集团中国计量大学河南平煤神马聚碳材料有限责任公司温州市鹿城区科学技术局东莞初创应用材料有限公司北京航空航天大学中国科学技术大学惠州市杜科新材料有限公司宁波东烁新材料科技有限公司云南能投硅材科技发展有限公司天津科技大学十一、相关产品：ZJC-50kV电压击穿试验仪ZST-212体积表面电阻率测试仪ZJD-C介电常数介质损耗测试仪ZDH-20KV耐电弧试验仪LDQ-5漏电起痕试验仪XRW-300HB热变形维卡温度测定仪XNR-400H熔体流动速率测定仪JF-6氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机WDW-50KN材料电子拉力试验机

介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。 主要技术特性 :Q 值测量范围 2 ～ 1023 量程分档 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档固有误差≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）工作误差≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）电感测量范围 4.5nH ～ 140mH 电容直接测量范围1 ～ 200pF 主电容调节范围18 ～ 220pF 主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF 100pF 以上 ± 1 ％ 信号源频率覆盖范围 100kHz ～ 160MHz 频率分段 （ 虚拟 ）100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz, 10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz频率指示误差3 × 10 -5 ± 1 个字 搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用 概述BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据精确。测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。 BD916介质损耗测试装置技术特性 ：平板电容器极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选 极片间距可调范围≥15mm 夹具插头间距25mm±0.01mm 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 测微杆分辨率0.001mm 电感：线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9100KHz 98 9.4 25mH8 400KHz138 11.4 4.87mH7400KHz 202 16 0.99mH6 1MHz 196 13 252μH5 2MHz198 8.7 49.8μH4 4.5MHz 231 7 10μH 3 12MHz 1936.9 2.49μH212MHz2296.40.508μH 125MHz，50MHz233，211 0.9 0.125μH 介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪作为最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内最高的160MHz。GDAT高频 Q 表采用了多项技术：A.双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 B.双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 C.双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。 D.自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 E.全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 F.DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。 计算机自动修正技术和测试回路最优化 —使测试回路 残余电感减至最低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。 感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有专业的工程师为您解决您的疑问！ 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪BDJC系列电压介电强度试验仪器BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪BEST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪BDH 耐漏电起痕试验仪BDH-B耐电弧试验仪

产品介绍：此款仪器是针对硅电池的专业一体式测试仪器，是在多功能测试仪器的基础上，结合硅电池的特性研发而成。同点同时进行内、外量子效率测试，真正实现了一键式全自动的测量过程，避免了测试源的不一致性造成测试结果的偏差，使得测试精度大大提升。 测试对象: 单晶硅、多晶硅太阳电池 测量项目：绝对光谱响应，外量子效率，内量子效率、短路电流密度，光谱反射率，表面均匀度等 技术指标：光谱范围：360-1100nm（200-1200nm可选）扫描间隔：&ge 1nm整数（可调）扫描方式：全自动短路电流密度重复性：1%测量模式：一键式全自动测量样品尺寸：&le 156mmx156mm

介质损耗因数正切值测试仪/介电常数测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法介质损耗因数正切值测试仪/介电常数测试仪主要技术特性 Q 值测量范围 2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档 固有误差 5 ％工作误差 2％ 电感测量范围 4.5nH ～ 140mH 电容直接测量范围 1 ～ 200pF 主电容调节范围 18 ～ 220pF 主电容调节准确度 1pF 信号源频率覆盖范围 100kHz ～ 160MHz 频率分段 （ 虚拟 ） 100 kHz ～ 160MHz 频率指示误差 1 个字 介质损耗因数正切值测试仪/介电常数测试仪电感： 线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252&mu H 5 2MHz 198 8.7 49.8&mu H 4 4.5MHz 231 7 10&mu H 3 12MHz 193 6.9 2.49&mu H 2 12MHz 229 6.4 0.508&mu H 1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125&mu H 介电常数介质损耗测试仪技术特性 平板电容器： 极片尺寸： 50mm/ 38mm 可选 　　　　　 极片间距可调范围： 15mm 2. 夹具插头间距：25mm 0.01mm 3. 夹具损耗正切值 10-4 （1MHz） 4．测微杆分辨率：0.001mm 搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用介电常数介质损耗测试仪售后服务承诺： 售后服务及保修承诺：多年来，我公司一直生产研究电气试验设备，经研究、摸索、总结出一套完整的产品服务保障体系，向用户提供优质及时的售前、售中、售后服务为创造名牌，提高企业知名度，树立企业形象，我们本着“一切追求高质量，用户满意为宗旨”的精神，以“ 优惠的价格、 周到的服务、 可靠的产品质量”的原则向您郑重承诺： 一、产品质量承诺：1、我公司保证向需方提供的设备是原厂生产的，并且出厂资料配件齐全。为保持合同设备的正常运行和维护，我公司保证提供的技术资料和图纸是完整、清楚和正确的。2、产品的制造和检测均有质量记录和检测资料。3、对产品性能的检测，我们诚请用户亲临对产品进行全过程、全性能检查，待产品被确认合格后再装箱发货。 二、产品价格承诺：1、为了保证产品的高可靠性，系统的选材均选用国内或国际优质名牌产品。2、在同等竞争条件下，我公司在不以降低产品技术性能、更改产品部件为代价的基础上，真诚以 优惠的价格提供给贵方。三：安装调试及验收承诺：1、协助设备的安装，负责设备的运输、调试。2、设备按订货技术附件进行验收。终验收在买方进行，对用户提供的试样进行试验，并提供测试报告。3、安装调试同时，在仪器操作现场一次性免费培训操作人员2-3名，该操作人员应是由需方选派的长期稳定的员工，培训后能够对设备基本原理、软件使用、操作、维护事项理解和应用，使人员能够独立操作设备对样品进行检测、分析，同时能进行基本的维护。四、保修承诺：1、设备保修二年，终身服务，二年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， 迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行 免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法 。2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。　4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。 五、保修： 1、设备保修两年，终身售后服务，一年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， 迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法。 2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。 3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。　 4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。 六、售后管理： 我公司实现计算机化管理，实行客户定期电话回访制度，定期复查设备的工作情况，定期电话指导用户对设备进行保养和检测，以便设备正常运转，跟踪客户的设备使用情况，以便及时对设备进行维护感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介电常数介质损耗测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有的工程师为您解决您的疑问！！ 标签：百度 介电常数测试仪 介电常数介质损耗测试仪 介质损耗因数测试仪

一、概述： ZJD-C型介电常数测试仪/GB/T1409-2006介电常数介质损耗测试仪/相对介电常数测试仪/介质损耗测试仪/介质损耗因数测试仪/介质损耗角正切值测试仪/GB/T1693-2007硫化橡胶高频介电常数测试仪/工频介电常数测试仪/固体介电常数介质损耗测试仪/液体介电常数介质损耗测试仪/材料介质损耗和电容率测试仪/阻抗分析仪/GBT5594.4-2015陶瓷件介电常数测试仪/ASTM D150-11交流损耗特性和电容率测试仪/介电常数及介损测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz.ZJD-C介电常数测试仪采用了多项领先技术。双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至最低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。二、主要技术特性：*1.信号源: DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ*2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数3．Q值测量范围：1～10234．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；*5．电感测量范围：1nH～140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能*6．电容直接测量范围：1pF～25nF 7．主电容调节范围： 17～240pF 8．准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1% 9．信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz10．合格指示预置功能范围：5～100011．环境温度：0℃～+40℃；12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。13. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：数显式微杆，平板电容器：极片尺寸： 38mm极片间距可调范围：≥15mm夹具插头间距：25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率：0.001mm测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm *液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm14. 介电常数测试仪/GB/T1409-2006介电常数介质损耗测试仪/相对介电常数测试仪/介质损耗测试仪/介质损耗因数测试仪/介质损耗角正切值测试仪/GB/T1693-2007硫化橡胶高频介电常数测试仪/工频介电常数测试仪/固体介电常数介质损耗测试仪/液体介电常数介质损耗测试仪/材料介质损耗和电容率测试仪/阻抗分析仪/GBT5594.4-2015陶瓷件介电常数测试仪/ASTM D150-11交流损耗特性和电容率测试仪/介电常数及介损测试仪电感组LKI-1：分别有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。三、配置：主机 一台电感 九支夹具 一套液体杯 一套随机文件一套

GDAT-C介电常数测试仪A/C高频Q表能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。A/C高频Q表是北广精仪仪器设备有限公司最新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达60MHz /160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。A主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。C主电容调节用步进马达控制，电容读数更加精确,频率值和电容值均可设置。A/C电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。A/C特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。介电常数c类数显Q表工作频率范围是10kHz～60MHz,是一种多功能、多用途、多量程数字化阻抗测试仪器。它是根据串联谐振原理，以电压比值刻度Q值的。它能测量高频电感器的Q值，电感量和分布电容量；电容器的电容量和损耗角。配以专用夹具BH916介质损耗装置还能对固态绝缘材料的高频介质损耗（tan&delta ）和介电常数(&epsilon )，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等进行测试。本Q表依照国家计量检定规程：&ldquo JJF1073-2000高频Q表校准规范&rdquo 执行。 1 特点：◎ 创新的自动Q值读取技术，使测Q分辨率至0.1Q。◎ DPLL合成发生1kHz～70MHz,测试信号。◎ 低至20nH残余电感，保证高频时直读Q值的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ 数字化Q值预置，能提高批量测试的可靠性和速度。 2 主要技术指标：2.1 测试信号频率范围：1kHz～70MHz，数字合成，可数字设置或连续调节，五位有效数显。2.2 Q值测量范围：1～1000四位数显，分辨率0.1Q。分100、316、999三档，量程可自动切换。2.3 Q值固有误差：± 5%± 3% 满刻度值。2.4 有效电感测量范围：0.1µ H～1000mH。2.5 电感测量误差：&le 5%± 0.02µ H2.6 调谐电容特性：2.6.1可调电容范围：40pF～500 pF。2.6.2 精确度：± 1% 或0.5pF。2.6.3微调电容器：-3pF～0～+3pF，分辨率：0.2pF2.6.4残余电感值：约30nH。2.7 Q预置功能：Q预置范围：1～1000均可。被测件达到预置值后有&ldquo GO&rdquo 显示和蜂鸣声提示。不合格件则显示&ldquo NO GO&rdquo 。2.8 外形尺寸及重量：415× 180× 170（mm）,6.5kg。BH916 介质损耗测试装置（数显） BH916D介质损耗测试装置与C类Q表及电感器配用，能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tan&delta )和介电常数(&epsilon )的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。 本测试装置是由测微平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化和厚度的刻度读数变化通过公式计算得到。同样，由平板电容器的刻度读数变化，通过公式计算得到介电常数。1工作特性1.1 平板电容器：1.1.1 极片尺寸： c类-38：&Phi 38mm. c类-50：&Phi 50mm. 1.1.2 极片间距可调范围和分辨率： &ge 8mm， ± 0.002mm1.2 夹具插头间距： 25mm± 1mm1.3夹具损耗角正切值 &le 2.5× 10-4附表二,LKI-1电感组典型测试数据线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252&mu H 5 2MHz 198 8.7 49.8&mu H 4 4.5MHz 231 7 10&mu H 3 12MHz 193 6.9 2.49&mu H 2 12MHz 229 6.4 0.508&mu H 1 25MHz 50MHz 233211 0.9 0.125&mu H北广部分产品一览表 产品名称产品型号备注电压击穿试验仪BDJC-10-100KV计算机控制/自动体积表面电阻率测试仪BEST-121液晶显示滑动摩擦磨损试验机M-200橡胶塑料，复合材料万能拉力试验机WDW金属，非金属材料介电常数介质损耗测试仪GDAT-A固体液体材料热变形维卡温度仪BWK-300计算机/液晶塑料球压痕硬度计BQY-96液晶熔体流动速率测定仪BRT-400A计算机海绵泡沫压陷硬度测定仪HMYX-2000计算机/液晶海绵泡沫落球回弹仪HMLQ-500液晶海绵泡沫疲劳冲击测定仪HMPL-2000液晶海绵拉伸强度试验机HMLS-1000液晶海绵压缩永久变形试验机HMYS-200自动海绵泡沫切割机HMQG-100自动水平垂直燃烧试验仪BRS-A自动耐电弧试验仪BDH-20KV计算机漏电起痕试验仪BLD-A高压，低压灼热丝试验仪BZR-A自动橡胶塑料低温脆性冲击试验机BCX-A 单式样，多试样万能制样机BWN-A橡胶塑料缺口制样机BQK-A机械哑铃制样机BYL-A自动氧指数仪BYZ-3自动导热系数仪BJB计算机 北广电性能及橡胶塑料常用仪器 万能材料试验机（电子万能，金属材料，非金属材料，管材，高低温，液压伺服万能试验机）电压击穿试验仪（介电击穿强度，固体绝缘材料电气介电强度试验机）体积表面电阻率测定仪（可测试固体液体膏体粉末材料） 碳素材料电阻率测试仪 电线电缆导体半导体材料电阻率测试仪 橡胶塑料滑动摩擦试验机（国标，非国标，可定制） 介电常数介质损耗测试仪（可测试固体液体） 学校专用介电常数介质损耗测试仪 高频介电常数介质损耗测试仪 工频介电常数介质损耗测试仪 绝缘材料耐电弧性能试验仪 液显热变形维卡软化点温度测定仪 计算机控制热变形维卡温度试验机 塑料球压痕硬度计 熔体流动速率测定仪/熔融指数仪 计算机控制马丁耐热试验仪 海绵泡沫检测仪器 海绵泡沫压陷硬度测定仪 海绵泡沫落球回弹仪 海绵泡沫疲劳冲击测定仪 海绵拉伸强度试验机 海绵压缩永久变形试验机 海绵泡沫切割机 海绵密度测定仪 氧指数测定仪 海绵泡沫阻燃性能试验箱 产品保修承诺： 1、设备保修两年，终身服务，两年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， 最迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法 。 2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。 3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。　 4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。

介质损耗缘油电阻率测试仪本怀推等同采用IEC 602T:2004(搜体范像材料相对电容车,介质担托四数和直德电阻率的侧量》(英文版)。为便于使用,本标准做了下列编辑性修改。a)用小数点符号*.”代替小数点符号*”b)“本国际标准”一词改为“本标准” 本标准代替GB/T5654-19854液体绝缘材料工照相对介电常数.介质损耗因数和体积电阻率的测量)本标准与GB/T5654-1985相比主要变化如下。a)本标准增加了“引言"及"规范性引用文件"章节 b)在直流电阻车测量中,将“试验电压使液体承受200V~300 V/mm……”改为"试验电压应使液体承受 250V/mm……” 将电化时间“60s”改为“60 s±2 s” 将“注试样 15min后开始测量"齿为"不超过10min开始测量",c)本标准增加了图2.图3.图4.图 5。本部准的附录∧.附录B.附录C为资料性附录。本标准由中国电器工业协会提出。本标准由全国绝缘材料标准化技术委员会(SAC/TC 51)归D，木标准起草单位,桂林电器科学研究所。本标准主要起草人:王先锋。本标准历次版本发布情况为:-GB/T5654-1985。介质损耗缘油电阻率测试仪液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量1范围本标准规定了在试验温度下液体绝缘材料的介质损耗因数,相对电容率和直流电阻率的测量方法。本标准主要是对未使用过的液体做参考性试验,但也适用于在运行中的变压器、电缆和其他电工设备中的液体。然而,本标准只适用于单相液体,当做例行测量时可以采用简化方法和附录C所述的方法。对于非碳氢化合物绝缘液体,则要求采用其他请洗方法。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用面成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本，凡是不挂日期的引用文件,其最新版木适用于本标准，GB/T 1409-2006固体绝缘材料在工频,音频,高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方集(U 60B50 1969,MUD)GB/T 1410-2006固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法(IEC 60093,1980,IDT)GB/T 21216-2007绝缘液体测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法(IEC61620,1998。IDT)IEC60475液体电介质取样方法3术语和定义下列术语和定义适用于本标准。3.1(相对)电容率permittivity(relative)绝缘材料的相对电容率是一电容器的两电极周围和两电极之间均充满该绝缘材料时所具有的电容量C.与同样电极结构在真空中的电容量C.之比。用该电极在空气中的电容量C.代替C,对于测量相对电容率具有足够的精确度。3.2介质损耗因数(tan8)dielectric disipation facter (tanh)绝缘材料的介质损耗因数(tan2)是损耗角的正切。当电容器的介质仅由一种绝缘材料组成时,损耗角是指外施电压与由此引起的电流之间的相位差偏离π/2的弧度。注:实际应用中,tan8测得值低于0.005时,uJ和功率因数(PF)基本上相同。可用一个简单的换算公式将两者进料稳靠。功率因数是图耗鱼的正载,动率因救和合感相鲜因着之加的委系可害选为下式。PF--tanl√1+(ta) --------.---------------(1)介质损耗缘油电阻率测试仪GB/T5654-2007/IEC 60247:2004式中:PF-一功率因数:tan 介质损耗四数。3.3直流电阻率(体积)dc. resistivity (rolome)绝缘材料的体积电阻率是在材料内的直流电场强度与稳态电流密度的比值。排，由阻率的单位是欧的米(Ω*m).4概述电容率、tan8和电阻率,无论是单一还是全部,都是绝缘液体的固有质量和污染程度的重要指标。这些参数都可用于解释所要求的介电特性发生偏离的原因,也可解释其对于使用该液体的设备所产生的潜在影响。4.1电容率和介质损耗周数(tan)电气吧缘液体的电容率和分质报秏因数(tan8)在相当大程度上取决于试验条件,特别是温度和施加电压的频率,电容率和介质损耗因数都是介质根化和材料电导的度量。在工频和足够高的温度下,与本方法中推荐的一样,损耗可仅归因于液体的电导,即归因于液体中自由载流子的存在。因此,测量高纯净绝缘液体的介电特性,对判别电离杂质的存在很有价值。介质损耗与测量频率成反比,且随介质粘度的变化而变化。试验电压值对测量担耗因数影响不大，它道常只是受电桥的灵敏度所限制。但是,应考虑到高的电场强度会引起电极的二次效应,介质发热。放电等影响。较大的杂质所引起的电容率的变化相对较小,而其介质损耗则强烈地受极小量的可电离溶解杂质或胶体微粒的影响。某些液体有控大的极性,所以对未质的敏感性较之猫氢化音物液体要漏得多。极性还导致它有较高的溶解和电离的能力,因此在操作时要比对碳氢化合物液体更应小心。通常认为初始值能较好地代表液体的实际状态,所以更希望能在一达到温度平衡时就测量介质损耗因数.介质洪耗国数对温度的变化很敏感,通常晶随温度的增加成指数式的增大.因此需要在足够精确的温度条件下进行测量。下面所述的方法使试样温度在很短的时间内达到与试验池平衡。4.2电阻率用本标准的方法测得的电阻率通常并不是真正的电阻率。当施加直流电压后,由于电荷迁移,将使液体的起始特性发生随时间面变化。真正的电阻率只有在低电压下且在刚施加电压后才可得到。本标准使用比较高的电压且经校长时间,因此,其结果通常是与CB/T 21216--2007所得到的不同。本标准中液体的电阻率测量结果与试验条件有关,主要有。a)温度电阻率对温度的变化特别敏感,是按1/K指数变化。因此需要在足够精确的温度条件下进行测量。D)电场强度的值给定试样的电阻率可受施加电场强度的影响。为了获得可比的结果,应在近似相等的电压梯度下进行测量,并应在相同极性下进行,此时应注明其梯度值和极性。e)电化时间当施加直流电压时,由于电荷向两电板迁移,流经试样的电流将逐渐减少到一极限值。一般规定电化时间为1min,不同的电化时间可导欧试验坫果明显不同[某些高精度的液体可能需要相当长的电化时间(见 14.2)]。4.3测量次序将直流电压施加在试样上,合改变其随后到量的工频tun子的结果。介质损耗缘油电阻率测试仪GB/T5054--2007/TEC 60247:2004当在同一试样上相继测量电容率、提耗四数和电阻率时,上频下圆量应在对试样跑加直流电压以前进行，工频试验后,应将两电极短路1min后再开始测量电阻率，4.4导致错误结果的因素虽然只有严重污染才会影响电容丰。但俄量的行染却胞很烈地膨响umð 和电阻率。不可靠的结果通常是由于不适当的取样或处理试样所造成的污染,由未洗净试验池或吸收了水份，特别是存在不溶解的水份所引起。在贮藏期间长久暴露在强光线下会导致电介质劣化,采用所推荐液体样品贮存和运输以及试验池的结构和净化的标准化程序,可使由污染引起的误差减至最小。5 仪器5.1试验池同一试验池可用来测量电容率、介质损耗因数和直流电阻率。适合于这些用途的试验池应符合如下要求。5.1.1试验池应设计成能容易拆洗所有的部件,并易于重新装配而不致明显地改变空池的电容量。同时试验施还应能在所要求的恒定程度下使用,并提供以厨圃档确皮米测量和控制被体温度的力法。外加热的炉(或浴)或内部电加热的试验池都可以使用。5.1.2用来制造试验池的材料应是无气孔的,并能经受所要求的温度,电极的中心对推应不受温度变化的影响。5.1.3与被试液体接触的电极表面应抛光如镜而,以便清洗容易。液体和电极之同应没有相互的化学作用,它们也不应受清洗材料的影响。用不锈钢制造的试验池(电极)对试验所有类型的绝缘液体都是适用的,不应使用倡和铝合全做电极,因为它们合被碱性的洗净剂腐蚀。注:通常在表面上电镀不如一种金属制成的电极好。但表面镀金,镰或铑,只要值得好并保持完好无损也可满意地使用。股钢镀储电极较妤且具有较低热膨胀的优点，也可采用在黄钢上镀俊或金和在不锈钢上镀镍的电极。5.1.4用来支撑电极的固体绝缘材料应具有较低的介质损耗因数和较高的电阻率,这些固体绝缘材料不应吸收参照液体,被试液体以及清洗材料,也不应受它们的影响，拉:透常认为熔融石类是用份试渲感合适的范缘材料,自于普递金属和石美的线膨恭系数不同,它们挂合国之间俑要具有充分的经向间除，但应注意到这间胞会减小电极闰距的精度。5.1.5保护电极和测量电极之间横跨液面及固体绝缘材料的距离应足够大,以便能承受施加的试验电压，5.1.6符合5.1.1到5.1.5要求的任何试验池均可使用,用于低黏度液体和施加电压不超过2000V的试验池见图1~图5。三端试验池提供了足以屏蔽测量电极的有效保护电极系统。当进行极精密的电容率测量时应选择三端试验池，在这种测量中,如有必要,还要求加上一个可拆卸的特殊屏蔽环,并与连接测量电极和电桥的网轴电缆的外层导体(屏蔽)相逢接(见图 2)。在用两端试验池时,引线屏蔽层通常是接到保护电极的。为了防止屏蔽层同任何其他表而接触,应将它牢牢地夹在电缆的绝缘层上。当用这样的试验池测量电阻率时,空池的绝缘撑环的电阻至少是被测液体电阻的100倍。同样,在文流下测量介质损耗因数也应有相应的比值。对于较好的绝缘液体,可能由于绝缘撑环附加的投耗而改变测量值。为此,建议使用在两电极间无任何固体绝缘材料支撑的试验池,这样的空试验池的报耗因数在50Hz时应低于10°。为了使与液休接触表面的污热影响减到最小,建议采用具有电极表面面积与液休林积之比小的试验池,例如小于5/cm。介质损耗缘油电阻率测试仪GB/T5654--2097/1EC 60247:200412.2测量试验池非自动加热,当其温度达到所要求试验温度的±1℃时,应于10min内开始测量提耗因数.在测量时施加电压，完成初次测量后(如果需要,也包括测量电容率和电阻率时),倒出试验液体，再用第二份试样充满试验池,操作程序和第一次相同,但省去涮洗。重复测呈,两次测得的an值之差应不大于0.0001加两个值中较大的25%。注 只有鉴定und值较小的产品时才需要重复测量,例行试验不需要重复测量。如果不满足上述要求,剧继缝充埴试样测量,直到相邻两次tan8别量值之差不超过0.0001加两个值中较大的25%为止,此时认为测量是有效的。12.3推告报告两次有效测量值的平均值作为试样的损耗因数(tand)。报告应包括:)电场强度b)施加电压的频率 e)试验掘度。13相对电容率的测量13.1测量首先测量以干燥空气为介质的干净试验池的电容量,然后测量装有已知相对电容率为e的液体的电容量。按下式计算电极常数C和修止电容Cc,5-C.-.--- --- -=s =.=--- --- --- --- ---(3)C,-C-C.**.* ..*..* .** ..* .…* ..*…** **=( 4)式中C一电极常数:C一一充有已知相对电容率为。的校准溶液的试验池的电容量:C.一一以空气作为介质的试验池的电容量:C.一一修正电容，测量装有被试液体的试验池的电容量C,并按下式计算相对电容率e------------------(5)式中，。一被试液体的相对电容率 C.一一被试液体的电容量:C.一--以空气作为介质的试验池的电容量，C,一修正电容。重复试验，直至相邻两次测试值的差不大于较大值的5%,则认为测量是有效的。注1:如果在测定C.值时已知C、C.和c。值,则可获得最高的精度。注2,当用设计很好并预先校正过的三端试验池时或当精度要求较低时,可以忽略G项,而相对电容率可按简化公建计算CB/T5654-2007/UEC 60247.2004当需要预热试样时,在倒出足够的样品用作其他试验时,应尽可能将杀下的样品在原米的样品容器里预热,此时,应考虑液体的热膨胀而留有足够的空间,以避免容器破裂，当试样必须移到其他容器内时,这些容器应是带盖烧杯或带塞子的锥形玻璃烧瓶,并按第7章要求进行请洗。如果必须在室温下进行试验,则应将原来样品容器放在将要进行试验的室内,直至样品达到室温当需在高温下进行试验而试样又不能在试验池内加热时,试样容卷或辅助的容器委用基子基住,并保证在此容器内有合造的体积足以满足液体的热膨胀,在烘箱里把它加热到高于要求的试验温度5℃~10℃,由丁液体易氧化,因此加热时间应不超过1h。若必须在一个单独的烘箱内加热液体,为防止污染影响,最好保证一个烘箱只用于一种类型的液体。为了取到有代表性的试样,在取样之前.应将容器倾斜并缓慢地旋转液体几次,以使试样均匀，用干净的无绒布擦洗容器口,并倒出一部分液体样品擦洗容器的外表面。10条件处理及试验池充填试样10.1试验池的条件处理在选净并干燥完电极后,注意不要用裸手接触它们的表面,也应注意放置试验池部件的表面要很请洁,试验池上面不要有水蒸汽或灰尘。为了使试验池的清洗程序对随后试验的影响减到最小,很重要的一点是要对于燥清洁的试验池进行预处理,即用下次的被试渣体充瞒试验池两次。对于高粘度液体,可能需要更长时间的预处理。10.2试验池充填试样用一部分掖体试样剧冼试验池三次,然后倒出并倒掉液体。在刷洗试验池时,若需要取出内电板，应注意防止在任何表面剩留液体,并防止尘粒聚集在试验池的浸液表面。重新充满试样,注意防止夹带气泡。将装有试样的试验池加热到所需试验温度,每个试验温度所需的时间取决于加热方法,通常可能在10 min~60 min范围。在达到所需试验温度的±1℃时,10min内必须开始测试。应特别注意防止液体成试验他的各那件与任何污染煞相搂触。在一种液体内不呈活性的杂质可能在另一种液体内会因杂质的迁移面呈现活性,因此最好限制一试验池只用于一种类型的液体。应尽可能地保证周围大气中不存在影响液体质量的水蒸汽或气体。11试验温度这些试验方法适合于在一个很宽的温度范雨内试验绝缘液体,除非在特定液体的规范中另有规宗，一般试验应在90℃下进行。测量温度的分辨率应在U.25℃以内。12介质模耗固数(tau8)的测量

产品介绍：DZ5001介质损耗测试仪采用高频谐振法，提供了通用、多用途、多量程的阻抗测量。测试范围：介质损耗和介电常数是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。应用范围：DZ5001介质损耗测试仪该用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。性能特点：大电容值直接测量显示功能：测量值可达25nF介质损耗系数：精度万分之一/LCD直接显示介电常数：精度千分之一/LCD直接显示材料测试厚度：0.1mm-10mm具备的技术：仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置，直接读值。参照国标：GB/T 1693-2007技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有产品展示：

产品介绍：DZ5001是一款测量介质损耗和介电常数的测量仪器，采用高频谐振法，测量准确度高，大电容显示，具有操作简单，液晶显示，测试精度高等优势。测试范围：DZ5001是用于测量介质损耗和介电常数是各种金属氧化物、板材，瓷器（陶器）、云母、玻璃、塑料等物质的一项重要的物理性质的仪器。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。应用范围：DZ5001介质损耗测试仪主要应用在电力行业、材料科学、医疗设备、环境监测和汽车制造等行业。性能优势:1、仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。2、大电容值直接测量显示。3、数显微测量装置，直接读值。技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有

介电常数介质损耗测试仪LJD-BLJD-B介电常数测试仪是我公司新一代通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器。介电常数测试仪以单片计算机作为仪器的控制、测量核心，真正实现了介质损耗及介电常数测试仪的数字化，电容、电感、Q值、信号源频率都在一个液晶屏上展示出来。在你操作时，再也不用去注意量程和换算单位。在任何频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。介电常数测试仪采用DDS数字直接合成方式的内部信号源，具有信号失真小，频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。介电常数测试仪还采用了标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程手动或自动转换，自动稳幅等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最di，使得新表在使用时更为方便，测量值更为精确。 介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。 二、工作特性1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差频率范围20kHz～10MHz；固有误差≤5％±满度值的2％；工作误差≤7％±满度值的2％；频率范围10MHz～60MHz； 固有误差≤6％±满度值的2％；工作误差≤8％±满度值的2％。2．电感测量范围：14.5nH~8.14H3．电容测量： 1~ 460直接测量范围 1～460pF主电容调节范围 准确度 30～500pF 150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1％注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则 4．信号源频率覆盖范围频率范围10kHz～50MHz频率分段（虚拟）10～99.9999kHz 100～999.999kHz 1～9.99999MHz 10～60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字5．Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。 6．介质损耗及介电常数测试仪正常工作条件a. 环境温度： 0℃～+40℃；b．相对湿度： 80％；c．电源： 220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率： 约25W；b．净重： 约7kg；c. 外型尺寸： （l×b×h）mm：380×132×280。

美国Sincerity橡皮膜 万能磨耗机专用橡皮膜加工定制： 是 品牌： 美国Sincerity型号： HS-001 产品规格： 外径约Φ106.5mm,内径约Φ95mm,有效厚度1mm产品用途： 测试用品美国Sincerity橡皮膜为美国原装进口, 万能磨耗试验机橡皮膜,专用耗材.规格：外径约Φ106.5mm,内径约Φ95mm,有效厚度1mm简介：美国Sincerity耐磨试验机用标准橡皮膜符合标准:ASTM D3886,ADIDAS....STOLL橡皮膜尺寸:外径约Φ106.5mm,内径约Φ95mm,有效厚度1mm包装文字:美国Sincerity5.5-6.5PSILESS THAN 15MMASTM D388620110520相关仪器：通用磨损磨耗试验机万能磨耗试验机 通用磨损测试仪本试验机为多功能、精密性之磨耗试验机，可测试材料表面之耐磨耗性、弯曲及边緣之磨损。 适用于织物、皮革、橡胶、塑胶、紙......等等，亦可用于材料经溶剂处理后之试验。试料磨破时，测试自动停止。【符合标准】:AATCC-119&120 ASTM-D3886 ASTM-D3514 ASTM-D3885 DRAFT 20-0-70 【技术参数】:1、拉紧砝码：2~1/2 lb, 2~1 lb,1~2 lb2、平衡砝码： 2~1/2 lb, 2~1 lb3、压力范围： 1~9 psi4、行程：大约approx.1″5、计数器：0~99,9996、计时器：30分钟7、体积：31×65×57 cm8、重量：70kg9、电源：1∮﹐AC220V﹐6A万能磨耗试验机橡皮膜符合标准:ASTMD3886,ADIDAS.... Stoll产品介绍：橡皮膜为美国原装进口,万能磨耗试验机橡皮膜,专用耗材. 规 格：外径约Φ106.5mm,内径约Φ95mm,有效厚度1mm

真空衰减法无损密封仪_无损式包装完整性测试仪Labthink真空衰减法无损密封仪专业适用于食品、制药、医疗器械、日化、汽车、电子元器件、文具等行业的包装袋、瓶、管、罐、盒等的密封试验。亦可进行经跌落、耐压试验后的试样的密封性能测试。同样适用于泡罩包装、半硬或硬包装如玻璃药瓶的最小泄漏点和针孔的检测。技术特征：高灵敏度、高重复性、高稳定性：| 采用真空与压差双传感器法原理，进行无损检测，使其可重复并在测试结束后自动生成档案文件| 精密的压力测试系统，测试精度大幅提升| 采用世界知名国家进口的气动元件，进口压力传感器，性能稳定可靠| 提供KPa、psi、mbar、mmHg等多种试验单位| 仪器具有体积小，噪音低，无污染等独有特点| 采用内置高精度流量计，方便验证仪器线性，且无需拆机就可以进行计量与验证全新触控操作系统：| 一键式操作，直观的操作界面，可远程升级与维护| 真空、测试和渗入时间可调，存储于数据库中，保证测试条件的一致性| 试验曲线实时显示，数据智能统计，方便快速查看检测结果| 具有数据自动存储、掉电自动记忆功能| 历史数据可进行快速查看、打印| 打印机和USB通用数据接口，方便数据输出和传递（可选）| 多级用户权限管理，密码登录| 专业软件符合GMP药品生产质量管理规范测试原理：通过对测量室抽真空至目标压强，从而在包装件与测量室之间的营造压差环境。在此环境中，气体透过包装上的微小漏孔散逸并充盈在测量室中，导致测量室内压强上升，利用已知压差、时间间隔、压强的上升量可计算出漏率。测试下限：低于直径1微米的漏孔，行业内最低测试下限，可来电咨询。测试应用：适用于西林瓶、安瓿瓶、输液瓶、卡氏瓶、预充针、输液袋等合规性：符合ASTM、中国GMP、美国药典、FDA等试验流程：1、将试样放入测试腔体，根据设定的真空度对测试腔进行抽真空。在抽真空阶段，如果在指定的抽真空时间内，实际真空度无法达到参考真空度，那么包装有大漏。2、在保压阶段，如果在指定的保压时间内，实际真空度无法达到参考真空度，那么包装有中漏。3、在测试阶段，如果实际真空衰減率值大于参考真空衰減率值，那么包装有微漏。

产品介绍：此款仪器是针对硅电池的专业一体式测试仪器，是在多功能测试仪器的基础上，结合硅电池的特性研发而成。同点同时进行内、外量子效率测试，真正实现了一键式全自动的测量过程，避免了测试源的不一致性造成测试结果的偏差，使得测试精度大大提升。 测试对象: 单晶硅、多晶硅太阳电池 测量项目：绝对光谱响应，外量子效率，内量子效率、短路电流密度，光谱反射率，表面均匀度等 技术指标：光谱范围：360-1100nm（200-1200nm可选）扫描间隔：&ge 1nm整数（可调）扫描方式：全自动短路电流密度重复性：1%测量模式：一键式全自动测量样品尺寸：&le 156mmx156mm

介质损耗因数测试仪低频信号源频率覆盖范围 AC频率范围10kHz～60MHz0.1～160MHzCH110～99.9999kHz0.1～0.999999MHzCH2100～999.999kHz1～9.99999MHzCH31～9.99999MHz10～99.9999MHzCH410～60MHz100～160MHz频率指示误差3×10-5±1个字介质损耗因数测试仪低频1. Q合格指示预置功能：预置范围：5～10002. Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。介质损耗因数测试仪低频A/C 型 Q 表的工作原理框图如图二所示。它以ATM128 单片机作为控制核心，实现对各种功能的控制。DDS 数字直接合成信号源为 Q 值测量提供了一个优质的高频信号。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅放大控制单元，该单元根据 CPU 的指令对信号衰减后送往信号激励放大器，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号激励部分输出送到一个宽带分压器， 由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容 CT 两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度 Q 倍。在 CT 两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后送到控制中心 CPU 去进行数据处理。介质损耗因数测试仪低频特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大，绝缘能力越强？因为物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说，介电常数越大，绝缘性能就越好。注：这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。介质损耗因数测试仪低频电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。形式各种不同形式的损耗是综合起作用的。由于介质损耗的原因是多方面的，所以介质损耗的形式也是多种多样的。介电损耗主要有以下形式：1）漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷，或多或少存在一些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。在介质发生缓慢极化时（松弛极化、空间电荷极化等），带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。　　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。 [2]3）电离损耗　　电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。4）结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。5）宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。

GDAT-C介电常数测试仪简介满足标准：GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法高频介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT）、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）自动测量的最佳解决方案。 1、《BH916介质损耗装置》（测试夹具）是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司最新研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。 2、基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的最高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε），把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取最高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）测量的理想工具。 3、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT），实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。4、一个高品质因数（Q）的电感器是测量系统必不可少的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（BH916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组共由9个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表BH916测试装置 介电常数测试仪GDAT高频Q表 平板电容极片Φ50mm/Φ38mm可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz间距可调范围≥15mm频率指示误差3×10-5±1个字夹具插头间距25mm±0.01mm主电容调节范围30-500/18-220pF测微杆分辨率0.001mm主调电容误差1%或1pF夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz）Q测试范围2～1023 介电常数测试仪附表二,LKI-1电感组典型测试数据 线圈号测试频率Q值分布电容p电感值9100KHz989.425mH8400KHz13811.44.87mH7400KHz202160.99mH61MHz19613252μH52MHz1988.749.8μH44.5MHz231710μH312MHz1936.92.49μH212MHz2296.40.508μH125MHz50MHz2332110.90.125μH介电常数介质损耗（介质损耗角）测试仪 型号：GDAT-C一.介电常数测试仪主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品（ 小于 10 mil） 量测值偏低,。 二.介电常数测试仪主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。三.介电常数测试仪仪器技术指标：☆Q值测量：a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围：20kHz～10MHz； 固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％； 频率范围：10MHz～60MHz； 固有误差：≤6％±满度值的2％；工作误差：≤8％±满度值的2％。☆电感测量：a．测量范围：14.5nH~8.14H。b．分 档：分七个量程。 0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH， 0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。☆电容测量：a．测量范围：1～460pF（460pF以上的电容测量见使用规则）；b．电容量调节范围 主调电容器：30～500pF； 准 确 度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％； 注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则☆振荡频率：a．振荡频率范围：10kHz～50MHz；b．频率分段（虚拟）10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHzc．频率误差：3×10-5±1个字。☆Q合格指示预置功能，预置范围：5～1000。☆仪器正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 ☆其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。☆ Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。四、介电常数测试仪主要配置：a.测试主机一台；b.电感9只；c.夹具一 套附表 电感组典型测试数据五.介电常数测试仪仪器特点：☆接线简单（正接法两根线，反接可使用一根线），所有电缆线均有接地屏蔽，所以都能拖地使用，测量电压缓升、缓降，全自动测量，结果直读，无须换算。☆多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。☆ 抗震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。☆ 抗干扰能力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路，将矢量运算法与移相法结合，有效地消除强电场干扰对测量的影响，适用于500kV及其以下电站的现场试验。☆CVT测量 独特自激法测量CVT功能，不需外加任何设备，可完成不可拆头CVT的测量。一次接线（三根电缆，不用倒线），一个测量过程（大约1分钟），两个最终测量结果（C1和C2的介损及电容值）。测量过程中文显示，能实时监测自激电流值和试验电压（高压）值。能消除引线对测试的影响，测量结果准确可靠。☆ 安全措施（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。（5）防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。☆ VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。☆打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。☆RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。☆可选购与计算机通信应用程序。 介电常数测试仪介绍：一、 概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。二、介电常数测试仪技术指标 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c．标称误差项 目GDAT-A频率范围20kHz～10MHz固有误差≤5％±满度值的2％工作误差≤7％±满度值的2％频率范围10MHz～60MHz固有误差≤6％±满度值的2％工作误差≤8％±满度值的2％ 2．电感测量范围：14.5nH~8.14H3．电容测量：1~ 460项 目GDAT-A直接测量范围1～460pF主电容调节范围准确度30～500pF150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％ 注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则 4．信号源频率覆盖范围项 目GDAT-A频率范围10kHz～50MHz频率分段（虚拟）10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字 5．Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。 6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。8．产品配置：a.测试主机一台；b.电感9只；c.夹具一 套 附表 电感组典型测试数据线圈号测试频率Q值分布电容p电感值9100KHz989.425mH8400KHz13811.44.87mH7400KHz202160.99mH61MHz19613252μH52MHz1988.749.8μH44.5MHz231710μH312MHz1936.92.49μH212MHz2296.40.508μH125MHz50MHz2332110.90.125μH 产品名称：工频介电常数介质损耗测试仪型号：BDAT-B一、主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。二、主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗（ tg）和电容量（ Cx）以，其测量线路采用“正接法”即测量对地绝缘的试品。由于电桥内附有一个2500KV的高压电源及一台高压标准电容器，并将副桥和检流计与高压电桥有机的结合在一起，所以本电桥特别适应测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（tg）及介电常数（ε）。 桥体本身带有5Kv/100pF标准电容,测量材料介损更为方便。桥体内附电位跟踪器及指另仪，外围接线及少。 桥体采用了多样化的介损测量线路。三、技术指标测量范围及误差 在Cn＝100pF R4＝3183.2（?）（即10K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF 介质损耗tg? 0～1 ±1.5％tg?x±0.0001 在Cn＝100pF R4＝318.3（?）（即1K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF 介质损耗tg? 0～0.1 ±1.5％tg?x±0.0001Ｃｘ＝Ｒ４×Ｃｎ／Ｒ３tg?＝ω?Ｒ４?Ｃ４电容量及介损显示精度： 电容量： ±0.5%×tgδx±0.0001。 介 损： ±0.5％tg?x±1×10-4高压电源技术特性电压输出：0～5000V/50Hz高压电流输出：0～10mA内置标准电容器 电容量为100pFtg小于5X10-5 QS37 型高压电桥1.概述：QS37 型西林电桥,主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗（tg） 和电容量（ Cx）以，其测量线路采用“正接法”即测量对地绝缘的试品。电桥由桥体、指另仪、电位跟踪器组成，本电桥特别适应测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（）及介电常数（ε）。2.技术指标：2.1 测量范围及误差本电桥的环境温度为 20±5℃，相对湿度为 30％－80％条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在 Cn＝100pFR4＝3183.2（）（即 10K/π）时测量项目测量范围测量误差电容量 Cx40pF--20000pF±0.5% Cx±2pF介质损耗tg0～1±1.5％tg x士0.0001 在 Cn＝100pF R4＝318.3（）（即 1K/π）时测量项目测量范围测量误差电容量 Cx4pF--2000pF±0.5% Cx±3pF介质损耗tg0～0.1±1.5％tg x士0.0001

变压器介质损耗测试仪电桥的特点；l桥体内附电位及指零仪，接线及少。l电桥采用接触电阻小，机械寿命长的十进开关，保证测量的稳定性l仪器具有双屏蔽，能有效防止外部电磁场的干扰。l仪器内部电阻及电容元件经特殊老化处理，使仪器技术性能稳定可靠。l内附高压电源精度3%l内附标准电容损耗﹤0.00005，名义值100pF变压器介质损耗测试仪测量范围及误差本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在Cn=100 pF R4=3183.2（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF—20000pF±0.5% Cx±2pF介损损耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001在Cn=100 pF R4=318.3（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF—2000pF±0.5% Cx±3pF介损损耗tgδ0-0.1变压器介质损耗测试仪在使用中，本电桥顶A，B对V点的电压高不超过11V，R3桥臂各盘的电流不超过下列规定：10×1kΩ 1max≤15mA10×100Ω 1max≤120mA10×10Ω l max≤150mA用户在使用前应注意以上的问题。如不清楚，可根据实验电压及标准电容量，按以下公式来计算出大概的工作电流。 I=ω V C2-5辅桥的技术特性：不失真跟踪电压0～11V（有效值）2-6指零装置的技术特性：在50Hz时电压灵敏度不低于1×10-6V/格 电流灵敏度不低于2×10-9 A/格变压器介质损耗测试仪第一臂：由被测对象Cx组成Z1。第二臂：由高压标准电容器Cn组成Z2。第三臂：由十进电阻器10×（1000＋100＋10＋1＋0.1）欧姆和滑线电阻（0-0.13）欧姆组成Z3。第四臂：由十进电容臂10×（0.1＋0.01＋0.001＋0.0001）uf和可变电容器100pF组成C4再与电组R4并联组成Z4。3-2计算公式Cx=R4×Cn / R3 R4[Ω] R3[Ω] Cn[pF] Cx[pF]tgδ=ωR4C4 R4[Ω] C4[F]当R4=10K/πtgδ=C4 当R4=1K/πtgδ=0.1C4 我们采取相对固定R4电阻，分别调节R3和C4使桥跟平衡，从而测得试品的电容值Cx和介质损耗tg。本电桥为了直读出损耗值，取电阻R4的阻值为角频率（f=50Hz）若干倍。3-3 公式说明频率对介质损耗正公式：本电桥额定的工作频率f=50Hz，在实际工作频率偏离额定频率时可用修正式进行修正：tg=f’tgδ / f式中：f 为额定工作频率（f=50Hz）f’ 为实际工作频率tgδ 电桥测得损耗值tgδ 为被测试品介质损耗角正切的实际值变压器介质损耗测试仪根据计算公式，算出被测试品的容量及介损值1. 本仪器必须有专人负责保管，使用，非专职操作者应在使用前了解和熟悉本说明书，以免造成不必要的损失和事故。2. 每次使用前应仔细检查接地线是否完好，确保以后方可通电使用。3. 接通电源前应将灵敏度开关调到低位置。4. 测量试品前应先对试品进行高压试验，证明在电桥工作电压下无噪声，电离等现象出现，然后才能进行测试（若试品己做过高压试验，该项可不必每次测量都做）。5. 对试品施加高压时缓慢升高，不可以加突变电压。6. 测试时操作人员必须集中思想，工作前做好一切准备工作，测试地点周围应有明显的标记或金属屏蔽围成高压危险区，以防止非操作人员闯入。7. 在测量过程中，如有放电管发光时，则必须及时切断电源，仔细检查接线及试品都无击穿，待检查排除故障后，再进行高压测量工作。试品的测试①在不知道被测试品的大概容量及损耗时，可先施加少许的电压，找到粗平衡点后，再把工作电压升到所需的值，然后再寻找细平衡点。②在测量时，灵敏度开关是按从小到大的规律来调节的。③在测量时，R3开关时按从左至右的规律来调节的。④在测量时，C4开关时按从右至左的规律来调节的。⑤整个测量步絮：首先检查接线无误后，方可通电试验。第二升起试验电压，并调节灵敏度开关，使UA表头有明显的指示。此时表明电桥没有平衡。第三调节R3开关，顺序从左至右。这时通过观察表头来观察电桥的平衡状况。如表头已回另，可再加大灵敏度。应总保持能明显地观察到调节R3时，电桥的平衡状况。第四在某一点上用户会发现，调节R3已无法使表头再回到另位。这时可调节C4开关，顺序时从右至左，把表头指针调节到小位。第五用户在调节C4到某一点时又会发现无法将指针调回另位。这时又要去调节R3开关，调节的位数是上一次调节R3的后位，然后又会出现第四点时的问题，又必须要调节C4开关．．．就这样来回往复地调节R3和C4两组开关，直至灵敏度开关大时，并指针回另（或指另仪指示到小）。表明电桥已达到平衡。 ⑥测量完毕后或在暂停测量时，应将另仪的灵敏度开关降至“0”，再将测量电压降至另并切断电源开关，根据计算公式，算出被测试品的容量及介损值。工频介电常数测试仪简介在每个高压实验室和试验中，压缩气体标准电容器是一种必要的仪器。在这些场合中，它有许多重要的作用。在电桥电路中压缩气体电容器被用来测量电容器、电缆、套管、绝缘子、变压器绕组及绝缘材料的电容和介质损耗角正切值（tgδ）。而且，还可以用作高压测量电容分压装置的高压电容。在某些条件下，还可以在局部放电测量中作高压耦合电容器。电容极稳定。气压和温度的变化对电容的影响可以忽略。介质损耗极小。插座中心连接红色高压线芯线；金属外壳连接红色高压线屏 蔽层；正接法时芯线和屏蔽层都可以作加压线对被试品高压端加压；反接法时只能用芯线对被试品高压端加压，若试品高压端有屏蔽极（如高压端的屏蔽环），则可将屏蔽层接于屏蔽极，无屏蔽极时屏蔽层悬空。首先根据相应的接线提示接好仪器外部的连线，然后点击主界面“CVT测试”选项，进入下一级CVT测试菜单（如图5—5）。然后可以点击“参数设置”进去设置菜单（如图5—6）进行详细的测试参数设置。分别点击每个需要设置的项目，按“增加”“减小”或“选择”来修改。修改完成后点击“保存”即可保存刚才所修改的参数并返回CVT测试界面，点击“取消”则不保存本次修改并返回CVT测试界面。注 意： 所有连线虚线为电缆屏蔽层，实线为电缆芯线。 请使用出厂时配套的测试电缆。仪器测量电缆通用，但本仪器属于高精密测量仪器，测量时请尽量使用仪器出厂时附带的测试电缆，否则的话可能因电缆自身的属性差异而影响测量结果的精度。 具体每个接线插座和端子使用何种电缆连接请参考 “面板说明”。

介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法介电常数介质损耗测试仪概述 GDAT高频 Q 表作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到的160MHz。 主要技术特性 Q 值测量范围 2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档 固有误差 &le 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， &le 6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz） 工作误差 &le 7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， &le 8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz） 电感测量范围 4.5nH ～ 140mH 电容直接测量范围 1 ～ 200pF 主电容调节范围 18 ～ 220pF 主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％ 信号源频率覆盖范围 100kHz ～ 160MHz 频率分段 （ 虚拟 ） 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz 频率指示误差 3 × 10 -5 ± 1 个字 搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用 gdat高频Q表的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了完美的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具。 介电常数介质损耗测试仪概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tan&delta 及介电常数(&epsilon )，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。 概述BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。BD916介质损耗测试装置是BD916 914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据正确。测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。 BH916测试装置 GDAT高频Q表 平板电容极片 Φ50mm/Φ38mm 可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz 间距可调范围≥15mm 频率指示误差3×10-5±1个字 夹具插头间距25mm±0.01mm 主电容调节范围30-500/18-220pF 测微杆分辨率0.001mm 主调电容误差1%或1pF 夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz) Q测试范围2～1023 电感： 线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252&mu H 5 2MHz 198 8.7 49.8&mu H 4 4.5MHz 231 7 10&mu H 3 12MHz 193 6.9 2.49&mu H 2 12MHz 229 6.4 0.508&mu H 1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125&mu H 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪 BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪 BDJC系列电压介电强度试验仪器 BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪 BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪 BEST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪 BDH 耐漏电起痕试验仪 BDH-B耐电弧试验仪 满足标准：GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法。产品保修售后服务承诺： 售后服务及保修承诺：多年来，我公司一直生产研究电气试验设备，经研究、摸索、总结出一套完整的产品服务保障体系，向用户提供优质及时的售前、售中、售后服务为创造名牌，提高企业知名度，树立企业形象，我们本着“一切追求高质量，用户满意为宗旨”的精神，以“ 优惠的价格、 周到的服务、 可靠的产品质量”的原则向您郑重承诺： 一、产品质量承诺：1、我公司保证向需方提供的设备是原厂生产的，并且出厂资料配件齐全。为保持合同设备的正常运行和维护，我公司保证提供的技术资料和图纸是完整、清楚和正确的。2、产品的制造和检测均有质量记录和检测资料。3、对产品性能的检测，我们诚请用户亲临对产品进行全过程、全性能检查，待产品被确认合格后再装箱发货。 二、产品价格承诺：1、为了保证产品的高可靠性，系统的选材均选用国内或国际优质名牌产品。2、在同等竞争条件下，我公司在不以降低产品技术性能、更改产品部件为代价的基础上，真诚以 优惠的价格提供给贵方。三：安装调试及验收承诺：1、协助设备的安装，负责设备的运输、调试。2、设备按订货技术附件进行验收。终验收在买方进行，对用户提供的试样进行试验，并提供测试报告。3、安装调试同时，在仪器操作现场一次性免费培训操作人员2-3名，该操作人员应是由需方选派的长期稳定的员工，培训后能够对设备基本原理、软件使用、操作、维护事项理解和应用，使人员能够独立操作设备对样品进行检测、分析，同时能进行基本的维护。四、保修承诺：1、设备保修二年，终身服务，二年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， 迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行 免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法 。2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。　4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。 五、保修： 1、设备保修两年，终身售后服务，一年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， 迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法。 2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。 3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。　 4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。 六、售后管理： 我公司实现计算机化管理，实行客户定期电话回访制度，定期复查设备的工作情况，定期电话指导用户对设备进行保养和检测，以便设备正常运转，跟踪客户的设备使用情况，以便及时对设备进行维护

ZJD-87高压自动抗干扰精密型介电常数介质损耗测试仪一、符合标准：GB/T1409测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 GB/T5654-2007液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量 二、产品概述： ZJD-87高压自动抗干扰精密型介电常数介损测试仪是一款专为实验室研制的高精度高压电桥，突破了传统的电桥测量方式，采用变频电源技术，利用单片机和现代化电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算；达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、全自动数字化、操作简便；电源采用大功率开关电源，输出45Hz和55Hz纯正弦波，自动加压，可提供最高10千伏的电压。所有接插件均为屏蔽接插口，有效的提高了仪器的测量精度，是专为实验室测试研制的新型介电常数介损测试仪测试仪，广泛的应用到绝缘材料的介质损耗和介电常数的测试。可以在加压，加温，真空条件下，在工频电压下对各类固体绝缘材料（如聚苯乙烯，聚丙烯，电容纸等）的试品作介质损耗因数，相对介电常数测量。在外接电流互感器（量程扩展器）1000/1=1000倍的情况下，可以测试大电流高压电器的介损值。三、技术指标准确度：Cx:±（读数×0.5%+0.5pF）；tgδ:±（读数×0.5%+0.00005）；电容量范围：内施高压：3pF～60000pF/10kV；60pF～1μF/0.5kV；外施高压：3pF～1.5μF/10kV；60pF～30μF/0.5kV；*分辨率：最高0.001pF，4位有效数字；*介电常数ε测试范围：0-200；*介电常数ε准确度：0.5%*介质损耗tgδ测试范围：不限，*介质损耗tgδ分辨率：0.000001，电容、电感、电阻三种试品自动识别。试验电流范围：5μA～5A；*内施高压：设定电压范围：0.5～10kV ；最大输出电流：200mA；*升降压方式：电压随意设置。比如5123V。试验频率： 40-70Hz单频随意设置。比如48.7Hz.频率精度：±0.01Hz外施高压：接线时最大试验电流5A，工频或变频40-70Hz测量时间：约30s，与测量方式有关；高压电极直径与表面积：￠98mm(75.43cm2)测量电极直径与表面积： ￠50 mm(19.63cm2)电极材料：不锈钢1Cr13Ni9Ti电极工作面：精面面磨电极间距：不大于5 mm电极加热功率： 2*500W电极最高温度：180°加热时间：30分钟电极压力：0~1.0Mpa连续可调最大测量电压：2000V，50Hz真空度 ：电极可抽真空至3*10-2 Mpa输入电源：180V～270VAC，50Hz±1%，市电或发电机供电*计算机接口：标准RS232接口，U盘插口(自动U盘存储数据)。打印机：微型热敏打印机 环境温度：-10℃～50℃ 相对湿度：90%主机外形尺寸：490*520*360（长宽高mm） 电极尺寸：400*300*400（长宽高mm）仪器重量：35kg四、产品优势：*抗干扰能力强、测试速度快、精度高、全自动数字化、操作简便；*在测试绝缘材料时可以直接显示相对介电常数ε和介质损耗tgδ；*50±0.1Hz到50±10Hz自动双变频随意设置；*60±0.1Hz到60±10Hz自动双变频随意设置；*外接线路时可以连接量程扩展器，电流可达几千安培；*可以在加压，加温，真空条件下测试；*计算机接口：标准RS232接口，U盘插口(自动U盘存储数据)。五、产品特点：1、仪器采用傅立叶变换数字滤波技术，测量电容、介质损耗及其它参数。测试结果精度高，便于实现自动化测量。2、仪器采用了变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。3、使用全触摸超大液晶显示器，操作简单。全触摸液晶显示屏，超大全图形操作界面，每过程都非常清晰明了，操作人员不需要额外的专业培训就能使用。轻轻触摸就能完成整个过程的测量。4、存储数据：内部配备有日历芯片和大容量存储器，能将检测结果随时保存，随时可以查看历史记录，并可以打印输出。当前时间和存储时间都能随时显示和打印。5、科学先进的数据管理：仪器数据可以通过U盘导出，可在任意一台PC机上通过专用软件，查看和管理数据。6、仪器操作简便，测量过程由微处理器控制，只要选择好合适的测量方式，数据的测量就可在微处理器控制下自动完成。7、一体化机型，内附标准电容和高压电源，便于现场测试，减少现场接线。8、仪器测量准确度高，可满足油介损测量要求，因此只需配备标准油杯，和专用测试线即可实现油介损测量。也可配备专用电极来测试固体绝缘材料的介损值和介电常数。9、能够识别外接高压电源频率40Hz~70Hz，允许用工频电源或串连谐振电源做大容量高电压介损试验。10、自带热敏打印机可打印输出，带日历时钟,方便用户出测试报告, 带有U盘输出。11、接地保护功能，当仪器不接地线或接地不良时，仪器不进入正常程序，不输出高压。过流保护功能，在试品短路或击穿时仪器不受损坏。 六、设备成套性配置：序号项目数量/单位1主机1/台2控温仪1/台3高温电极1/台4测试线1/套5电源线1/套

介电常数测试仪/介质损耗因数和电容率测试仪的详细描述：介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法一、概述A型高频Q表和C型高频Q表主要区别 AC测试频率范围25kHz～60MHz100kHz～160MHz主调电容控制传感器步进马达电容搜索无有 A/C高频Q表能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。A/C高频Q表是北广精仪仪器设备有限公司最新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达60MHz/160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。A主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。C主电容调节用步进马达控制，电容读数更加精确,频率值和电容值均可设置。A/C电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。A/C特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。二、工作特性 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差 A频率范围25kHz～10MHz固有误差≤5％±满度值的2%工作误差≤7％±满度值的2%频率范围10MHz～60MHz固有误差≤6％±满度值的2%工作误差≤8％±满度值的2% 2．电感测量范围A14.5nH～8.14H3．电容测量 A直接测量范围1～460p主电容调节范围40～500pF准确度150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。 4．信号源频率覆盖范围 A频率范围10kHz～60MHzCH110～99.9999kHzCH2100～999.999kHzCH31～9.99999MHzCH410～60MHz频率指示误差3×10-5±1个字 5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000 6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c.外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。三、使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）四、维修1．新购仪器的检查新购的仪器最好能先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-1电感组是专供测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。2．使用和保养高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。 附表二 各Q值均值回路指示值 和测试回路平均残量修正系数表线圈号测试频率C修正系数1100kHz114 2400kHz135136131MHz134128.50.9642MHz154 4.5MHz1831931.0554.5MHz170 12MHz237236.21612MHz234 25MHz3052810.92725MHz2181700.7850MHz2572520.98Qe：标准有效Q值A型Q表在测试Q值时，已对测试回路的残量作了修正，故不再需要对Q值进行均值修正。◇主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 ◇主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。五、仪器技术指标：☆Q值测量：a．Q值测量范围：5～999。 b．Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档。c．标称误差频率范围：25kHz～10MHz； 固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％；频率范围：10MHz～50MHz； 固有误差：≤7％±满度值的2％；工作误差：≤10％±满度值的2％。☆电感测量：a．测量范围：0.1μH～1H。b．分 档：分七个量程。0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH， 0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。☆电容测量：a．测量范围：1～460pF(460pF以上的电容测量见使用规则)；b．电容量调节范围主调电容器：40～500pF； 准 确 度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；微调电容量：－3pF～0～＋3pF； 准 确 度：±0.2pF。☆振荡频率：a．振荡频率范围：25kHz～50MHz；b．频率分档25～74kHz， 74～213kHz， 213-700kHz， 700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz， 5.2MHz～17MHz， 17～50MHz。c．频率误差：2×10-4±1个字。☆Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。☆仪器正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 ☆试样尺寸圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε12时），Φ25~35mm（ε=12~30时），Φ15~20mm（ε30时）☆其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。☆ Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。六、仪器特点：☆接线简单（正接法两根线，反接可使用一根线），所有电缆线均有接地屏蔽，所以都能拖地使用，测量电压缓升、缓降，全自动测量，结果直读，无须换算。☆多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。☆ 抗震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。☆ 抗干扰能力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路，将矢量运算法与移相法结合，有效地消除强电场干扰对测量的影响，适用于500kV及其以下电站的现场试验。☆CVT测量 独特自激法测量CVT功能，不需外加任何设备，可完成不可拆头CVT的测量。一次接线（三根电缆，不用倒线），一个测量过程（大约1分钟），两个最终测量结果（C1和C2的介损及电容值）。测量过程中文显示，能实时监测自激电流值和试验电压（高压）值。能消除引线对测试的影响，测量结果准确可靠。☆ 安全措施（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。（5）防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。☆ VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。☆打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。☆RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。☆可选购与计算机通信应用程序。介电常数介质损耗测试仪电感器：按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。高频介质样品（选购件）：在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。 介电常数介质损耗测试仪特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是10kHz～160MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。同样，由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化，通过公式计算得到介电常数。

介电常数介质损耗（介质损耗角）测试仪 型号：GDAT-c一.介质损耗角正切测试仪主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。二.介质损耗角正切测试仪主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tan&delta 及介电常数(&epsilon )，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。 四.介质损耗角正切测试仪仪器特点：☆接线简单（正接法两根线，反接可使用一根线），所有电缆线均有接地屏蔽，所以都能拖地使用，测量电压缓升、缓降，全自动测量，结果直读，无须换算。☆多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。☆ 抗震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。☆ 抗干扰能力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路，将矢量运算法与移相法结合，有效地消除强电场干扰对测量的影响，适用于500kV及其以下电站的现场试验。☆CVT测量 独特自激法测量CVT功能，不需外加任何设备，可完成不可拆头CVT的测量。一次接线（三根电缆，不用倒线），一个测量过程（大约1分钟），两个最终测量结果（C1和C2的介损及电容值）。测量过程中文显示，能实时监测自激电流值和试验电压（高压）值。能消除引线对测试的影响，测量结果准确可靠。☆ 安全措施（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。（5）防&ldquo 容升&rdquo ：测量大容量试品时会出现电压抬高的&ldquo 容升&rdquo 效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。☆ VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。☆打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。☆RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。☆可选购与计算机通信应用程序。 三.介质损耗角正切测试仪仪器技术指标：☆Q值测量：a．Q值测量范围：5～999。 b．Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档。c．标称误差 频率范围：25kHz～10MHz； 固有误差：&le 5％± 满度值的2％；工作误差：&le 7％± 满度值的2％； 频率范围：10MHz～50MHz； 固有误差：&le 7％± 满度值的2％；工作误差：&le 10％± 满度值的2％。☆电感测量：a．测量范围：0.1&mu H～1H。b．分 档：分七个量程。 0.1～1&mu H， 1～10&mu H， 10～100&mu H， 0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。☆电容测量：a．测量范围：1～460pF(460pF以上的电容测量见使用规则)；b．电容量调节范围 主调电容器：40～500pF； 准 确 度：150pF以下± 1.5pF；150pF以上± 1％； 微调电容量：－3pF～0～＋3pF； 准 确 度：± 0.2pF。☆振荡频率：a．振荡频率范围：25kHz～50MHz；b．频率分档25～74kHz， 74～213kHz， 213-700kHz， 700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz， 5.2MHz～17MHz， 17～50MHz。c．频率误差：2× 10-4± 1个字。☆Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。☆仪器正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V± 22V，50Hz± 2.5Hz。 ☆试样尺寸圆片形：厚度2+0.5mm，直径为&Phi 30~40mm（&epsilon 12时），&Phi 25~35mm（&epsilon =12~30时），&Phi 15~20mm（&epsilon 30时）☆其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l× b× h）mm：380× 132× 280。☆ Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。 为什么选择我们的介电常数介质损耗角正切值测试仪仪器？价格、价格、还是价格！1.受产品成本限制，我们的仪器价格不一定是最低！但是绝对优惠！绝不卖低价格低质量的设备给客户！服务、服务、还是服务！1.我们的仪器备货足，客户付款后，第一时间发货，时间就是金钱；2.沟通及时，设备发送之前任何变故及时沟通，第一位保护客户利益！3.服务专业，发票、送货单、相应文件，客服会及时跟您沟通，安排到位！4.每天9小时以上在线客服，无论是技术问题还是其他，只要跟设备相关，我们都尽力为您排忧解难；我们每个工作日都为数家合作商与直接用户提供质优价廉的仪器设备！欢迎您成为北广仪器的用户！

LJD-B型介电常数及介质损耗测试仪一、概述：LJD-B型介电常数及介质损耗测试仪是我公司 研制生产的产品，自该产品实现销售后，我公司工程师就一直持续不断对产品改进升级；特别是在软件上不断地加以完善，改进了早期产品存在的不足之处，提高了测试精度，并增加新的功能。但近期我公司发现，一些没有研发能力的不良公司，盗版了我公司早期产品的软件，仿制假冒我公司的产品进行销售，给不了解情况的客户将带来损失。因为这些产品的软件存在不足之处，（如在主电容调节至80pf左右时，电容指示值会出现跳变，出现180pf左右的指示值；在介质损耗测试时，当材料的损耗较大时，介质损耗值会出现错误。）但又无法得到升级完善，产品没有新增的功能。因此请广大用户注意识别。二、技术参数：信号源频率范围： DDS数字合成 10KHz-70MHz Q测量范围： 1-1000自动/手动量程信号源频率覆盖比： 6000:1 Q分辨率： 4位有效数,分辨率0.1信号源频率精度： 3×10-5 ±1个字,6位有效数 Q测量工作误差： 5%电感测量范围： 15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH 调谐电容： 主电容30-500PF电感测量误差： 5%调谐电容误差和分辨率： ±1.5P或1%标准测量频点： 全波段任意频率下均可测试 Q合格预置范围： 5-1000声光提示谐振点搜索： 自动扫描 Q量程切换： 自动/手动谐振指针： LCD显示 LCD显示参数： F,L,C,Q,波段等三、夹具工作特性1.平板电容器：极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选极片间距可调范围：≥15mm2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm3. 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）4．测微杆分辨率：0.001mm四、配置：主机一台电感九支夹具一套随机文件一套

介质损耗因数测试仪检测试验机技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有介质损耗因数测试仪检测试验机自动扣除功能大电容值直接测量显示功能： 测量值可达25nF介质损耗系数： 精度 万分之一 / LCD直接显示介电常数： 精度 千分之一 / LCD直接显示材料测试厚度： 0.1mm-10mm独有技术：仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置，直接读值。参照国标GB/T 1693-2007介质损耗因数测试仪检测试验机产品特点：　　1、双扫描技术-测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。　　2、双测试要素输入-测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。　　3、双数码化调谐-数码化频率调谐，数码化电容调谐。　　4、自动化测量技术-对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。　　5、全参数液晶显示–数字显示主调电容、电感、Q 值、信号源频率、谐振指针。数字直接合成的信号源-确保信源的准确，频率的高精度、幅度的高稳定。　　7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路残余电感减至低值，解决了Q读数值在不同频率时要加以修正的困惑。　　8、新增功能：电感测试时，仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能，提高了在电感值测量时的精度。　　9、新增功能：大电容值直接测量显示功能。大电容值测量一个按键搞定。介质损耗因数测试仪检测试验机采用高频谐振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感降低，并保留了自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为准确。介质损耗因数测试仪检测试验机在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石、石英玻璃、氧化铝陶瓷、聚四氟乙烯、环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。

产品介绍：DZ5001介质损耗测试仪是一款测量介质损耗和介电常数的测量仪器，采用高频谐振法，测量准确度高，大电容显示，具有操作简单，液晶显示，测试精度高等优势。测试范围：DZ5001介质损耗测试仪可以测各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等绝缘材料，同时广泛用于电子、电力、材料科学等行业中，为产品设计和性能优化提供数据支持。性能优势：仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置，直接读值。技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差±1 pF或1%分辨率0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有

性能特点/FeaturesRBTX-8600S插回损测试仪是荣邦通讯集合自身多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验，并充分借鉴了国内外仪表的优点结合国内客户的需求，潜心研制开发出来的一款精密光检测仪表。它广泛应用于光纤光缆，光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试，是广大生产厂商，科研机构和运营商用于生产检测，研究开发和工程施工维护的基本和理想测试仪器。独特的插损告警值设定，不同颜色显示，大大提升测试效率。操作简单超强电路设计，对大动态范围和微弱信号精确检测分析处理功率计模块与光源模块的波长联动，明显减少操作步骤，独特的光源接头可拆卸，便捷清洁设计，并提供全面的功率计接口配置。RBTX-8600S insertion & return loss tester is a précised fiber optical tested designed by Rongbang Communication based on their own production experiences and customer requirements. It is widely used for testing of insertion and return loss of fiber optical passive components and fiber telecom industry. It is a basic and ideal tester for factories, research institutions and operating companies.It has a unique insertion loss data warning set. Different color shows. Testing efficiency is enhanced greatly. Operating is easy and electrical circuit design is superb. It saves operating steps for large active scale and micro signals detecting. Its unique designed joint can be dismounted. Power meter interface is also available.

产品名称：介电常数测试仪 产品型号：LJD-B、LJD-C、QS-37符合标准：GB/T1409、GB/T5594产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等 测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、军工单位等付款方式：全款发货产品品牌：中航鼎力产品货期：1-3个工作日 产品类别：电性能检测仪器ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法1本标准是以固定代号D150发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号；在有修订的情况下，为上一次的修订年号；圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号（ε）表示对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改。　　　　本标准经批准用于国防部所有机构。1.介电常数测试仪范围1.1 本试验方法包含当所用标准为集成阻抗时，实心电绝缘材料样本的相对电容率，耗散因子，损耗指数，功率因子，相位角和损耗角的测定。列出的频率范围从小于1Hz到几百兆赫兹。注1：在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值。1.2 这些试验方法提供了各种电极，装置和测量技术的通用信息。读者如对某一特定材料相关的议题感兴趣的话，必须查阅ASTM标准或直接适用于被测试材料的其它文件。2,31.3　　本标准并没有完全列举所有的安全声明，如果有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范的使用范围。特殊危险说明见1　本规范归属于电学和电子绝缘材料ASTM D09委员会管辖，并由电学试验D09.12附属委员分会直接管理。当前版本核准于2011年8月1日。2011年8月发行。原版本在1922年批准。前一较新版本于2004年批准，即为　D150-98R04。DOI：10.1520/D0150-11。2　R. Bartnikas, 第2章, “交流电损耗和电容率测量,” 工程电介质, Vol. IIB, 实心绝缘材料的电学性能, 测量技术,3　R. Bartnikas, 第1章, “固体电介质损耗,” 工程电介质,Vol IIA, 实心绝缘材料的电学性能: 分子结构和电学行为,2.介电常数测试仪引用文件2.1 ASTM标准：4D374 　　　　固体电绝缘材料厚度的标准试验方法D618 　　　　试验用塑料调节规程 D1082 　　　云母耗散因子和电容率（介电常数）试验方法D1531 　　　用液体位移法测定相对电容率（介电常数）与耗散因子的试验方法D1711 　　　电绝缘相关术语D5032 　　　用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程E104 　　　　用水溶液保持相对恒定湿度的标准实施规程E197 　　　　室温之上和之下试验用罩壳和服役元件规程（1981年取消）53.介电常数测试仪术语3.1 定义：3.1.1 这些试验方法所用术语定义以及电绝缘材料相关术语定义见术语标准D1711。3.2 本标准专用术语定义：3.2.1 电容，C，名词——当导体之间存在电势差时，导体和电介质系统允许储存电分离电荷的性能。3.2.1.1 讨论——电容是指电流电量 q与电位差V之间的比值。电容值总是正值。当电量采用库伦为单位，电位采用伏特为单位时，电容单位为法拉，即：C=q/V 　　　　　　　　　　（1）3.2.2 耗散因子（D），（损耗角正切），（tanδ），名词——是指损耗指数（K''）与相对电容率（K'）之间的比值，它还等于其损耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（见图1和图2）。D=K''/K' 　　　　(2)4　相关ASTM标准，可浏览ASTM网站，www.astm.org或与ASTM客服service@astm.org联系。ASTM标准手册卷次信息，可参见ASTM网站标准文件汇总。5　该历史标准的较后批准版本参考网站www.astm.org。3.2.2.1 讨论——a： D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp　　　　　　　　(3)式中：G=等效交流电导，Xp=并联电抗，Rp=等效交流并联电阻，Cp=并联电容，ω=2πf（假设为正弦波形状） 耗散因子的倒数为品质因子Q，有时成为储能因子。对于串联和并联模型，电容器耗散因子D都是相同的，按如下表示为：D=ωRsCs=1/ωRpCp　　　　　　　　(4)串联和并联部分之间的关系满足以下要求：Cp=Cs/(1 D2) 　　　　　　　　　　　　(5)Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2　　　　　　　　　　　　　(6)4、数据采集和tanδ自动测量控件（装入AS2853A)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。三、主要技术特性及配置主要配置序号构 成型 号数量制 造 厂 家1主机LJD-C1台测试装置（夹具）AS9161台标准电感HLKI-11套2三电极系统(油中、空气中) 油中带油槽 各1套3油槽1台4日常维修工具1套说明书