硅层分析仪

仪器简介：典型应用：电厂化水补给水、锅炉水、蒸汽和冷凝水中在线监测。检测方法：国际通用标准的杂鉬蓝分析法；与实验室方法的数据对比重现性好。技术参数：测量范围：0-5000 ppb；以SiO2 表示；检 出 限：小于0.5 ppb；精 确 度：± 0.5 ppb 或读数的± 1.0% ,取较大值。响应时间：8.8 分钟，当样品温度是30 to 50℃时，15 分钟，当样品温度是 5- 40℃,环境温度: 10 - 45℃,（一般室内安装）样品要求：5± 3 psig (34.5 ± 20.7 kPa).样品流量：100 to 300 mL/分钟模拟输出：几种模拟输出可选：0-0.01V, 0-0.1V, 0-1V or 4-20mA.，量程可设置电源要求：115/230 Vac， 50～60Hz，可选择.报警信号：2个样品浓度警报，1个分析仪系统警告和1个分析仪系统停机报警。防护等级：ABS塑料，NEMA 4X/IP65安装方式：台式安装或面板式安装主要特点：● 先进的自诊断、报警系统，当样品流突然中断时，有报警信号；● 每个样品分析都进行自动调整零点；扣除干扰。● 具有灵活、实用的抓样分析方法；● 专利的压力法试剂传输系统，试剂消耗量低；维护量小● 可编程的自动校准，有三种校准方式可供选择。● 先进的分析门开关保护系统。● 预制的、即开即用的试剂节省时间；试剂的成批制备，保证了试剂质量的均匀、和稳定。● 可配置为8通道硅分析仪

梅特勒托利多 Thornton 2800Si 硅分析仪是一种可靠的在线仪器，专门用于纯水处理与电厂循环化学。该分析仪为水的纯度提供保障，从而优化纯水生产的离子交换，最大限度减少硅在涡轮机内的沉积。在尽量减少操作人员巡检工作量的同时，及早地发现痕量级污染。应用在 ppb 级硅的超纯水监测。可在 ppb 级非常低时检测到抛光阴离子树脂的漏硅，受污染的水可在到达重点区域前引走转移。监测纯水处理中的阴离子交换过程，可以第一时间发现硅离子的泄漏，从而在污染物到达下级处理单元之前启动再生操作过程。电力蒸汽质量监测避免硅沉积在涡轮机中和引发的不平衡，以及功能和效率的损失。补给水被大量污染前，电厂凝结水精处理监测就能够在低 ppb 级检测到再生操作需求。产品特性 &mdash 优势自动化、无人值守自动校准 - 提供出色的重复性并节省操作人员时间每次测量时自动零点校正 - 确保测量稳定性便捷的样离线去样测量功能 &mdash 可以对工厂的其它区域进行额外的样品和质量控制检查同步显示硅含量和测量时间 - 提供一目了然的方便分析状态，节省操作时间提供反应室温度测量，确保可靠操作全部封闭 - 安全保护试剂容器和工厂环境中的组件，无需面板开大试剂容器可实现长时间服务间隔 &mdash 减少维护时间规格 - 2800Si硅分析仪（又名硅离子分析仪、在线硅表、全自动硅表）Range0-5000ppbDetection limit0.8ppbТочность读数的 ± 5%，± 1 ppbMeasurement parameter周期时间可调，通常为 20 分钟Pressure range (bar/psi) 7 bar (100 psig)如需了解更多信息，请访问或拨打梅特勒托利多官方客服热线

X荧光硅铝分析仪,X荧光硅铝分析仪厂家【鹤壁创新仪器】供应的X荧光硅铝分析仪可广泛用于冶金、采矿、建材等工业中。用于水泥厂中，主要测量生料、熟料中的SiO2、Al2O3的百分含量。由于它的分析速度快（1分钟），因此可实时监控生产过程中SiO2、Al2O3变化情况，便于及时调整原料的配比，为生产高合格率熟料打下坚实的基础。X荧光硅铝分析仪 性能特点：1 、微机化集成为一体，结构紧凑，外形美观。2、大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用极为方便。3、分析时间短，1分钟能测出SiO2%、Al2O3%。4、仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用。5、不用任何化学试剂、无三废排放，不含放射源、低耗电，符合环保节能要求。　　　6、数据存储量大，含量结果、仪器自检数据都可查询，避免了打印耗材。7、仪器执行GB/T19140《水泥X射线荧光分析通则》。8、可与配料系统联网，实现自动控制。 X荧光硅铝分析仪 技术指标：1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100 % 2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通过标定工作曲线选定。4、分析时间: n*60秒（n为1～5自然数）。5、使用条件: 供电AC200V～240V；环境温度0～40℃；相对湿度85%（30℃）。6、整机功耗: 30W 7、整机尺寸：468mm*368mm*136mm 8、整机重量：13.8kg尊敬的用户： 感谢您选用鹤壁市创新仪器有限公司的产品，我公司将为您提供完善、优质的技术支持与售后服务，为此，我们特做出以下承诺： 1、安装调试及现场培训： 根据用户要求的时间和地点为用户免费安装调试仪器。公司及公司授权技术人员在为用户安装调试仪器及日常维护时，对用户操作人员提供免费现场培训服务，使用户能熟练掌握仪器性能、操作使用及一般维护保养。 2、保修规定：按国家标准供货，整机保修一年（易损件除外）产品终身维护。 3、维修规定： 在正常使用情况下，仪器若出现故障，维修站保证在接到通知后24小时内响应，如需进行现场维修的，我们承诺尽快派人到达现场并在短时间内排除故障。更换配件费及维修工时费按公司规定的统一价格收取。 4、其它承诺： 我们承诺保证各型号仪器的配件供应充足，并提供产品优惠价格。鹤壁创新为您提供优质的X荧光硅铝分析仪,X荧光硅铝分析仪厂家，如果您有兴趣，请与我联系【联系人是常华,我的手机】获得更多的【仪器、仪表分析仪器】相关信息。砖厂砖坯钙含量分析仪煤矸石砖坯含钙量分析仪煤矸石土坯钙铁分析仪电厂石灰石钙铁分析仪电厂石灰石硫钙铁分析仪荧光钙铁分析仪荧光硫钙铁分析仪钙铁煤分析仪钙硫分析仪钙铁硫分析仪水泥生料硫钙铁分析仪水泥生料钙铁硫分析仪水泥硫钙铁分析仪水泥钙铁硫分析仪水泥熟料钙硫分析仪水泥熟料硫钙铁分析仪水泥氧化钙分析仪石灰石膏硫钙铁分析仪砖厂粉煤灰钙铁分析仪砖厂煤矸石钙铁分析仪

应用 TP306 硅酸根分析仪用于发电厂除盐水、蒸汽冷凝水、炉水及化工、制药、化纤、半导体行业水中可溶性二氧化硅和硅酸盐含量的分析、检测。 原理 TP306 硅酸根分析仪在pH为1.1～1.3条件下，水中的可溶硅与钼酸铵生成黄色硅钼络合物，用1-氨基-2萘酚-4-磺酸（简称1-2-4酸）还原剂把硅钼络合物还原成硅钼蓝，用硅酸根分析仪测定其硅含量。仪器利用光电比色原理进行测量。根据朗伯－比耳定律：当一束单色平行光通过有色的溶液时，一部分光能被溶液吸收，若液层厚度不变，光能被吸收的程度（吸光度A）与溶液中有色物质的浓度成正比。 功能特点 * 先进贴片工艺及一体化设计，高集成度电路设计稳定耐用。 * 先进单片机技术,高性能,低功耗。 * 光源采用进口单色冷光源，性能优良，信号稳定，功耗低，寿命长。 * 本底补偿功能,减少微量硅测量误差。 * 自动计时提醒功能，方便操作者使用，提高工作效率 。 * 空白校准，消除零点漂移和电气漂移，提高测量精确度。 * 数据循环存储功能(最大256条)，自动清除溢出数据，操作简单，查询方便。 技术指标 显 示: 5.0寸触摸彩色液晶，中文显示 测量范围: (0.0～200.0)μg/L或(0.0～2000)μg/L 精 确 度: ±2%F.S 分 辨 率: 0.1μg/L 重 复 性: ≤1% 稳 定 性: ±1% F.S/4h 环境温度: (5～45)℃ 环境湿度: ≤90%RH(无冷凝) 外形尺寸: 260mm×200mm×180mm 供电电源: AC (85～265)V 频率 (45～65)Hz 功 率: ≤30W 重 量：3.2kg 订购指南 * 硅酸根标液 * 排污管 * 电源线 * 进样杯 注意事项 1.配制溶液的Ⅱ级试剂水必须是纯度很高的高纯水，最 好 是高性能混床离子交换装置产生的去离子水。 2.所有试剂应保存在专门标识的聚乙烯塑料瓶中。所有试剂的质量等级都必须是分析纯或分析纯以上，且未过保质期。 3.每天应对仪器做一次空白校准，每隔两周应对仪器进行一次曲线校准，以消除电气漂移、光学漂移和温度漂移对仪器的影响。

应用TP306 硅酸根分析仪用于发电厂除盐水、蒸汽冷凝水、炉水及化工、制药、化纤、半导体行业水中可溶性二氧化硅和硅酸盐含量的分析、检测。原理在pH为1.1～1.3条件下，水中的可溶硅与钼酸铵生成黄色硅钼络合物，用1-氨基-2萘酚-4-磺酸（简称1-2-4酸）还原剂把硅钼络合物还原成硅钼蓝，用硅酸根分析仪测定其硅含量。仪器利用光电比色原理进行测量。根据朗伯－比耳定律：当一束单色平行光通过有色的溶液时，一部分光能被溶液吸收，若液层厚度不变，光能被吸收的程度（吸光度A）与溶液中有色物质的浓度成正比。功能特点* 先进贴片工艺及一体化设计，高集成度电路设计稳定耐用。* 先进单片机技术,高性能,低功耗。* 光源采用进口单色冷光源，性能优良，信号稳定，功耗低，寿命长。* 本底补偿功能,减少微量硅测量误差。* 自动计时提醒功能，方便操作者使用，提高工作效率 。* 空白校准，消除零点漂移和电气漂移，提高测量精确度。* 数据循环存储功能(最大256条)，自动清除溢出数据，操作简单，查询方便。技术指标显 示: 5.0寸触摸彩色液晶，中文显示测量范围: (0.0～200.0)μg/L或(0.0～2000)μg/L精 确 度: ±2%F.S分 辨 率: 0.1μg/L重 复 性: ≤1%稳 定 性: ±1% F.S/4h环境温度: (5～45)℃环境湿度: ≤90%RH(无冷凝)外形尺寸: 260mm×200mm×180mm供电电源: AC (85～265)V 频率 (45～65)Hz功 率: ≤30W重 量：3.2kg订购指南* 硅酸根标液* 排污管* 电源线* 进样杯注意事项1.配制溶液的Ⅱ级试剂水必须是纯度很高的高纯水，最好是高性能混床离子交换装置产生的去离子水。2.所有试剂应保存在专门标识的聚乙烯塑料瓶中。所有试剂的质量等级都必须是分析纯或分析纯以上，且未过保质期。3.每天应对仪器做一次空白校准，每隔两周应对仪器进行一次曲线校准，以消除电气漂移、光学漂移和温度漂移对仪器的影响。

一．冠层分析仪_来因科技冠层分析仪用途植物冠层图像分析仪根据各种图像处理手段提取多个角度的冠层间隙率，采用装配鱼眼镜头的相机从树冠下向上拍摄冠层照片，利用间隙率参数来反演出各种冠层参数，导田园合理施肥、现代化农场高效管理提供可靠的科学依据，广泛应用于农业、林业、植物等科学研究和生产指导。二．冠层分析仪_来因科技冠层分析仪测试原理与方法植物冠层图象分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下，植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中最精确和最省力、省时、快捷方便的方法。三. 冠层分析仪_来因科技冠层分析仪结构组成植物冠层图像分析仪由鱼眼图像捕捉探头（由鱼眼镜头及CMOS图像传感器组成）、内置25个PAR传感器的测量杆（摇臂）、笔记本电脑、图像分析软件组成。鱼眼探头安装在一个很轻的摇臂的顶端，它可以获取180°视角的鱼眼图像。图像的显示和存贮由配置的笔记本计算机完成。四．冠层分析仪_来因科技冠层分析仪技术指标1．可测量指标：叶面积指数叶片平均倾角聚集指数1聚集指数2树冠开阔度天空散射光透过率不同太阳高度角下的植物冠层直射辐射透过率（间隙率 透光率）不同太阳高度角下冠层的消光系数叶面积密度的方位分布（不透光率）光合有效辐射（PAR）2.镜头角度：180°3．分辨率：2592 × 19444．测量范围：天顶角由0°～90°(180°鱼眼镜头)可分割成十个区域，方位角360°亦可分割成十个区域5．PAR感应范围：感应光谱400nm～700nm6．测量范围0～3000μmol/㎡?S7．分析软件：植物冠层分析系统8．重量：500g9．工作及存储环境：-10℃~55℃ ≤85%相对湿度10. 传输接口：USB五．冠层分析仪_来因科技冠层分析仪功能特点1.鱼眼镜头可自动保持水平状态：专门为植物冠层结构测量设计的小型鱼眼摄像镜头安装在手持式万向平衡接头上，可自动保持镜头处于水平状态，无需三角架；2.鱼眼镜头可以伸入至冠层中：镜头安装在摇臂一端，由于小巧和带有测量杆，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图；3.图像分析软件：图像分析软件可以任意定义图像分析区域（天顶角可分10区，方位角可分10区）；4.可屏蔽不合理冠层部分：对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠层部分（如缺株、边行问题等）；5.自动化阈值调节，避免主观设置阈值导致增大误差；6.数据浏览：可浏览历史数据；7.内置中英文双语显示，一键切换。冠层分析仪_来因科技冠层分析仪配置清单：鱼眼探头、测量杆、笔记本电脑（内置分析软件）、电脑包、加密狗、铝箱、说明书，合格证。

XRF工作原理是用X射线轰击样品，样品 受激发后产生X射线荧光。X射线通常把元素原子K层和L层的内层电子打出原子，产生的空穴被高能量的外层电子填补。补充到低能量轨道上的高能量电子把多余的能量以X射线荧光辐射出来。这些辐射出来的谱线中含有各种元素的特征。像指纹一样，并且独立于原子的化学价态。辐射的强度与样品中该元素的浓度成正比。ScopeX桌面式XRF分析仪采用了先进的工业设计及人工工程学理念，精致美观。仪器整体拥有更小的机身体积和更大的样品仓，节约空间的同时，带来了更高的样品兼容性。不论是不同形态（固、液、气、薄膜等）还是不同形状（块状、片状、线状）的样品，均可被准确分析。适用于大规模连续分析、过程控制、产品质量检验等环节，是石油、镀层、贵金属、水泥、矿物、金属材料和塑料等多种行业的理想工具。使用优势高性能配置低能X射线搭配智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点元素进行分析。多种准直器、滤光片自动切换5mm，3mm，1mm，0.5mm四种准直器，准直器和滤光片均可由软件自动切换，省时省力，通过合适的准直器和滤光片或无滤光片组合可提升检测准确度及灵敏度。无损检测在不损害或不影响被检测对象使用性能,不伤害被检测对象内部组织，整个测试过程无任何损伤。Peltier制冷先进Peltier电制冷方式，无需液氮，降低设备使用复杂度，节约人力和设备维护成本。数据传输USB、WIFI、无线蓝牙等多种方式进行数据传输。用户自定义文件可采用EXCEL，PDF等格式，用户可自定义创建测试报告：包括公司标志、光谱谱图及其他样品信息。安全性全封闭式金属机箱及防泄漏保护开关，设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全符合国标GB18871-2002、GBZ115-2002要求。规格参数元素范围Na(钠)—U(铀)样品室尺寸ScopeX 980CS/ScopeX 980CSR：304×368×78mm（L×W×H）ScopeX 980/ScopeX 980S：365×300×78mm（L×W×H） 样品重量范围0-2.5KG开盖方式自动控制主机尺寸570×400×400mm（L×W×H）主机重量ScopeX 980CS/ScopeX 980CSR：64KGScopeX 980/ScopeX 980S：47KGX射线发生器大功率侧窗X射线管，50W，管压管流可自由调节，W/Ag/Rh靶材(可选配)电压上限50kV电流上限1mA冷却方式空冷探测器大面积SDD探测器测定环境空气模式、氦气模式、真空模式进样方式手动进样、自动进样样品观察500万像素高清工业摄像头PC处理器(CPU)i3-7100同等主频或以上内存（RAM）DDR4 4G内存或以上硬盘容量(ROM)1TB HDD或256GB SSD或以上温度条件10°C~35°C相对湿度40~70%(不结露)电源220VAC额定功率ScopeX 980/ScopeX 980S：100WScopeX 980CS/ScopeX 980CSR：600W

DM1230X荧光铝硅分析仪与钙铁分析仪同时使用、实现生料配料的率值控制以不到一半的投资实现X荧光多元素分析仪的功能采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术本公司专有的分谱技术、次级滤光片、超薄铍窗正比计数管、特殊的光路系统符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM1230 X荧光铝硅分析仪是本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列钙铁分析仪、X荧光多元素分析仪等的基础上研制推出的分析仪器。它采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术，薄铍窗充气正比计数管、次级滤光片、特殊的光路系统、硬质样品比例法和本公司专有的分谱技术，从而使小型仪器也能准确测量相邻的轻元素(如水泥生料中的Al、Si)，其测量准确度达到进口同类仪器的水平。其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。只要压个片就能在5分钟内测出生料、熟料或水泥中Al2O3、SiO2的浓度。图0 EDXRF分析技术原理图目前国内大多数水泥企业已使用X荧光钙铁分析仪来测量生料等物料中CaO、Fe2O3的含量，但Al2O3、SiO2含量的测量却很少是用X荧光分析仪的，而Al2O3、SiO2含量的即时准确得到与CaO、Fe2O3对水泥生产的质量控制同样重要，只有同时即时准确得到这四个氧化物的含量才能真正实现生料的率值控制。当本仪器与本公司的钙铁分析仪一起使用时可用同一个样品，且由于按本仪器要求制备出的样品比按钙铁分析仪要求的好，所以还能提高CaO、Fe2O3的含量测量准确度，与DM2100型X荧光多元素分析仪相比，虽然使用麻烦了一点，但价格不到一半，且由于结构简单可靠性更高了。DM1230 X荧光铝硅分析仪的2021款除保持了原有DM1230的优点外，还进行了以下重大改进：(1) 大屏幕彩色触摸式液晶屏代替原黑白液晶屏和键盘，改善了用户的操控体验。(2) 新的大规模集成电路CPU代替原老的如80C31等CPU，没有数据总线与外部设备或外部芯片直接连接，极大地提高了系统的可靠性，基本消灭了死机现象。(3) 用贴片电路代替原立式电路，减少了电路板的面积，并能大规模机械化生产，极大地提高了硬件的可靠性，使仪器的返修率降到最底。(4) 用热敏打印机代替了原来的针打印机。(5) 用最新设计的采用CPLD，FPGA，DSP等技术的多道脉冲幅度分析器及可变增益放大器代替原单道脉冲幅度分析器及固定增益放大器，极大地提高了仪器的长期稳定性。DM1230 X荧光铝硅分析仪的2021款的推出是本公司实现自我超越的成果，必将使本公司在X荧光分析仪领域保持长久的国内领先地位。适用范围主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中Al2O3、SiO2的浓度测量。可单机使用，也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号，形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。除水泥工业外，也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等部门的固体、液体和粉末样品中Al2O3、SiO2的浓度测量。特点快速同时––所需测量元素同时快速分析，一般几分钟给出浓度结果。高准确度––采用EDXRF技术，低本底薄铍窗正比计数管，次级滤光片。极大地提高了仪器的灵敏度和峰背比，具出色的重复性和再现性，极高的准确度。向下照射––采用X射线向下照射系统，杜绝了样品粉末污染损坏探测系统的可能，特别适合水泥生熟料等粉末样品。长期稳定––采用可变增益数字多道，有增益调整、比率校正、偏差修正等功能，具极好的长期稳定性。环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。使用方便––触摸屏操作。样品粉碎压片放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。高可靠性––一体化设计，集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强，可靠性高。数据传存––可存储海量数据，支持掉电后保持数据，并可随时查看。并可将存储数据传输到PC机。高性价比––无需气体、真空、稀释，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半，适应我国国情。校准X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度，IC为处理后强度，D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）式的系数。用已知浓度的11个水泥生料标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1.水泥生料标准样品校准结果数据成分Al2O3SiO2系数D-2.89-3.46系数E57.1432.41系数F00相关系数γ0.99120.9980这些校准曲线的相关系数γ均大于0.99，表示DM1230 X荧光铝硅分析仪的线性误差极小。重复性对同一水泥生料样品，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2.生料标准样品重复性测量数据分析（%）成分Al2O3SiO2标准值1.4610.75平均示值1.1.3510.64最大示值1.4710.72最小示值1.2410.56极差0.230.16示值标准偏差0.06500.04613倍示值标准偏差0.1950.138GB/T176的重复性限0.200.20DM1240与国标的符合性优优按国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限。从表2可以看出DM1230 X荧光铝硅分析仪可以实现优异的重复性。主要技术指标X射线管电压：≤10keV，电流：≤0.5mA，功率：≤5W探测器超薄铍窗正比计数管测量范围Al2O3、SiO2分析范围均可调节，通过校准选定测量范围宽度Al2O3max—Al2O3min≤5%，SiO2 max—SiO2 min≤7%测量精度S Al2O3≤0.07%，SSiO2≤0.07%符合标准GB/T 176—2017，JC/T1085—2008，JB/T11145—2011等系统测量时间100s、200s、300s，可选，推荐值：300s使用条件环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤50W尺寸及重量470mm（W）× 365mm（D）× 130mm（H），15kg

应用TP306 硅酸根分析仪用于发电厂除盐水、蒸汽冷凝水、炉水及化工、制药、化纤、半导体行业水中可溶性二氧化硅和硅酸盐含量的分析、检测。原理在pH为1.1～1.3条件下，水中的可溶硅与钼酸铵生成黄色硅钼络合物，用1-氨基-2萘酚-4-磺酸（简称1-2-4酸）还原剂把硅钼络合物还原成硅钼蓝，用硅酸根分析仪测定其硅含量。仪器利用光电比色原理进行测量。根据朗伯－比耳定律：当一束单色平行光通过有色的溶液时，一部分光能被溶液吸收，若液层厚度不变，光能被吸收的程度（吸光度A）与溶液中有色物质的浓度成正比。功能特点* 先进贴片工艺及一体化设计，高集成度电路设计稳定耐用。* 先进单片机技术,高性能,低功耗。* 光源采用进口单色冷光源，性能优良，信号稳定，功耗低，寿命长。* 本底补偿功能,减少微量硅测量误差。* 自动计时提醒功能，方便操作者使用，提高工作效率 。* 空白校准，消除零点漂移和电气漂移，提高测量精确度。* 数据循环存储功能(最大256条)，自动清除溢出数据，操作简单，查询方便。技术指标显 示: 5.0寸触摸彩色液晶，中文显示测量范围: (0.0～200.0)μg/L或(0.0～2000)μg/L精 确 度: ±2%F.S分 辨 率: 0.1μg/L重 复 性: ≤1%稳 定 性: ±1% F.S/4h环境温度: (5～45)℃环境湿度: ≤90%RH(无冷凝)外形尺寸: 260mm×200mm×180mm供电电源: AC (85～265)V 频率 (45～65)Hz功 率: ≤30W重 量：3.2kg订购指南* 硅酸根标液* 排污管* 电源线* 进样杯注意事项1.配制溶液的Ⅱ级试剂水必须是纯度很高的高纯水，最好是高性能混床离子交换装置产生的去离子水。2.所有试剂应保存在专门标识的聚乙烯塑料瓶中。所有试剂的质量等级都必须是分析纯或分析纯以上，且未过保质期。3.每天应对仪器做一次空白校准，每隔两周应对仪器进行一次曲线校准，以消除电气漂移、光学漂移和温度漂移对仪器的影响。

QL-TS-3型炉前碳硅分析仪炉前铸造分析仪是用户铸造行业中铁水在线的快速分析设备，替代常规分析仪器不能满足炉前快速分析的时间要求，对铸造生产的质量控制作用。该产品的优点是快速分析，使用简单、方便、快捷，可在炉前控制铸铁的质量，节约时间，节省人力。炉前碳硅分析仪测量范围： 碳当量CE测量范围3.2%～4.8% 精度±0.1% 碳含量C测量范围2.8%～4.2% 精度±0.05% 硅含量Si测量范围0.9%～3.0% 精度±0.08%2、主要用于生产铸铁,球铁材料中碳、硅含量的检测；3、方便、快捷，所有操作均在炉前执行，测量时间240秒；4、测量精度高，测量结果数显直读；5、满足较恶劣的工作环境需求。◇ 应用功能：对白口、灰口铸铁进行C%、Si%、CEL、SC、△T等定性或定量估测。◇ 显示数字高度：50mm◇ 温度补偿范围：0-40℃◇ 配套样杯类型：S、R、B、K型◇ 测含量范围： 碳当量CE测量范围3.2%～4.8% 精度±0.1% 碳含量C测量范围2.8%～4.2% 精度±0.05% 硅含量Si测量范围0.9%～3.0% 精度±0.08%◇ 显示温度单位：华氏温度或摄氏温度可设置◇ 测量时间：240秒（4分钟）◇ EMC标准执行EN50081-2及EN50082-2抗干扰性标准◇ 测量状态显示：仪表上“准备”绿灯、“测量”黄灯、“完成”红灯循环显示◇ 铁水在线、快速、直接读取含量

EDX9000B能量色散荧光光谱仪-硅铁粉分析专家作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。产品特点&bull 无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果&bull 强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响&bull 50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率&bull 能同时进行元素和氧化物成分分析&bull 多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全&bull 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高&bull 友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像&bull 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差&bull 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位

在pH为1.1～1.3条件下，水中的可溶硅与钼酸铵生成黄色硅钼络合物，用1-氨基-2萘酚-4-磺酸（简称1-2-4酸）还原剂把硅钼络合物还原成硅钼蓝，用硅酸根分析仪测定其硅含量。根据朗伯－比耳定律：当一束单色平行光通过有色的溶液时，一部分光能被溶液吸收，若液层厚度不变，光能被吸收的程度（吸光度A）与溶液中有色物质的浓度成正比。广泛应用于火电、化工、化肥、冶金、环保、制药、生化、食品和自来水等行业的溶液中硅酸根的连续监测。 l 1～6通道可选择，节省费用。l 采用进口高精度电磁阀，动作可靠，使用寿命长， 进样及加药准确，测量精度高。l 彩色液晶显示，不同颜色同屏显示各通道实时曲线或历史曲线。l 多路高精度可编程电流信号输出，便于后续连接自动加药或DCS系统结构精巧，开孔式安装，使用维护方便。l 保存一个月历史数据，便于事件追查。l 单色冷光源，使用寿命长，稳定性好。环境温度：（5～45） ℃环境湿度：≤ 90% RH（无凝结）试剂消耗：约3升/月/种 (共4种试剂) 输出信号：隔离的直流电流信号，0～20mA、4～20 mA、0～10 mA三种模式可任意设置报警信号：各通道独立报警，断流报警、 上下限报警电 源：AC（85～265）V 频率( 45-65)Hz功 耗：≤ 100 W外形尺寸：460mm×280mm×720mm开孔尺寸：670mm×410mm重 量：22kg测量原理：硅钼蓝光电比色法显 示：7.0寸彩色液晶触摸屏，中文显示测量范围：（0.0～200.0）μg/L、 （0.0～2000）μg/L 可选 测量精度：±2% F.S重 现 性：≤±1% F.S稳 定 性：漂移±1% F.S/24h响应时间： 10分钟测量周期：约10分钟/通道水样流量：10 ～40 L/h水样温度：（5 ～50） ℃杂 质：固态物小于5微米，且无胶状物出现 l 配件指南l 硅酸根标液 60mL/瓶（10μg/mL）l 过滤器l 二次仪表安装方式l 开孔式l 架装式l 注意事项l 1.在仪器出现明显故障时，用户不要自行打l 开修理，请及时与厂家联系。l 2.若开机无显示，请检查电源线是否接好。l 3.如使用说明书与实际操作有差异时以仪器l 为准。

梅特勒托利多 Thornton 2800Si 硅分析仪是一种可靠的在线仪器，专门用于纯水处理与电厂循环化学。该分析仪为水的纯度提供保障，从而优化纯水生产的离子交换，最大限度减少硅在涡轮机内的沉积。在尽量减少操作人员巡检工作量的同时，及早地发现痕量级污染。应用在 ppb 级硅的超纯水监测。可在 ppb 级非常低时检测到抛光阴离子树脂的漏硅，受污染的水可在到达重点区域前引走转移。监测纯水处理中的阴离子交换过程，可以第一时间发现硅离子的泄漏，从而在污染物到达下级处理单元之前启动再生操作过程。电力蒸汽质量监测避免硅沉积在涡轮机中和引发的不平衡，以及功能和效率的损失。补给水被大量污染前，电厂凝结水精处理监测就能够在低 ppb 级检测到再生操作需求。产品特性 &mdash 优势自动化、无人值守自动校准 - 提供出色的重复性并节省操作人员时间每次测量时自动零点校正 - 确保测量稳定性便捷的样离线去样测量功能 &mdash 可以对工厂的其它区域进行额外的样品和质量控制检查同步显示硅含量和测量时间 - 提供一目了然的方便分析状态，节省操作时间提供反应室温度测量，确保可靠操作全部封闭 - 安全保护试剂容器和工厂环境中的组件，无需面板开大试剂容器可实现长时间服务间隔 &mdash 减少维护时间规格 - 2800Si硅分析仪（又名硅离子分析仪、在线硅表、全自动硅表）Range0-5000ppbDetection limit0.8ppbТочность读数的 ± 5%，± 1 ppbMeasurement parameter周期时间可调，通常为 20 分钟Pressure range (bar/psi) 7 bar (100 psig)如需了解更多信息，请访问或拨打梅特勒托利多官方客服热线

EDX9000B能量色散荧光光谱仪-粘土分析专家作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。产品特点&bull 无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果&bull 强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响&bull 50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率&bull 能同时进行元素和氧化物成分分析&bull 多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全&bull 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高&bull 友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像&bull 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差&bull 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位

硅酸根分析仪硅酸根分析仪,硅表,在线硅酸根分析仪,硅酸根分析仪价格型号：TP306硅酸根分析仪TP306用于发电厂除盐水、蒸汽冷凝水、炉水及化工、制药、化纤、半导体行业水中可溶性二氧化硅和硅酸盐含量的分析、检测。生产厂家　　北京时代新维测控设备有限公司主要特点5.0寸触摸彩色液晶，中文显示，操作方便。先进贴片工艺及一体化设计，集成电路设计稳定耐用。先进单片机技术,性能好,低功耗。光源采用进口单色冷光源 ，性能优良，信号稳定，功耗低，寿命长。本底补偿功能,减少微量硅测量误差 。自动计时提醒功能，方便操作者使用，提高工作效率 。空白校准，消除零点漂移和电气漂移，提高测量精确度。数据循环存储功能(≤256条)，自动删除溢出数据，操作简单，查询方便。采用硅钼蓝标准比色测定分析方法。

硅酸根分析仪硅酸根分析仪,硅表,在线硅酸根分析仪,硅酸根分析仪价格型号：TP306硅酸根分析仪TP306用于发电厂除盐水、蒸汽冷凝水、炉水及化工、制药、化纤、半导体行业水中可溶性二氧化硅和硅酸盐含量的分析、检测。生产厂家　　北京时代新维测控设备有限公司主要特点5.0寸触摸彩色液晶，中文显示，操作方便。先进贴片工艺及一体化设计，集成电路设计稳定耐用。先进单片机技术,性能好,低功耗。光源采用进口单色冷光源 ，性能优良，信号稳定，功耗低，寿命长。本底补偿功能,减少微量硅测量误差 。自动计时提醒功能，方便操作者使用，提高工作效率 。空白校准，消除零点漂移和电气漂移，提高测量精确度。数据循环存储功能(≤256条)，自动删除溢出数据，操作简单，查询方便。采用硅钼蓝标准比色测定分析方法。

硅酸根监测仪,硅酸根分析仪,硅表,在线硅酸根分析仪,硅酸根分析仪价格型号：TP106TP106 硅酸根监测仪是一款高精度监测仪器.符合GB/T 12149-2017《工业循环冷却水和锅炉用水中硅的测定》，采用全新的设计理念及先进的技术，广泛应用于火电、化工、化肥、冶金、环保、制药、生化、食品和自来水等行业的溶液中硅酸根的连续监测。生产厂家北京时代新维测控设备有限公司主要特点1～6通道可选择，节省费用。采用高精度电磁阀，动作可靠，使用寿命长， 进样及加药准确，测量精度高。彩色液晶显示，同一屏幕上可以同时显示硅酸根浓度值、温度、时间和状态；多路高精度可编程隔离电流信号输出，便于后续连接自动加药或DCS系统。集定量、混合、控温、比色于一体，流程简化，缩短检测时间。仪器自动存储测量界面下的硅酸根浓度值和时间,并且可存储运行，校准记录，可存储6000条数据。仪器可自动检测各路通道是否运行；该仪器正常运行时，除添加试剂、标样外，无任何工作量；单色冷光源，使用寿命长，稳定性好。技术指标测量原理： 硅钼蓝光电比色法显 示： 7.0寸彩色液晶触摸屏，中文显示测量范围：（0.0～200.0）μg/L、（0.0～2000）μg/L 可选测量精度： ±2% F.S 重 现 性： ±1% F.S测量周期： 约12分钟/通道测量模式： 连续测量和间隔测量可选水样流量： 10～40 L/h 水样温度：（5～45） ℃杂 质： 固态物小于5微米，且无胶状物出现环境温度：（5～45） ℃环境湿度： ≤90% RH（无凝结）试剂消耗： 约2升/月/种 (共4种试剂) 数字信号: RS232或RS485模拟信号： 隔离的直流电流信号，0～20mA、4～20mA、0～10mA三种模式可任意设置报警信号： 各通道独立报警，断样报警、上下限报警电 源： AC 220V±10%，频率50Hz±10% 功 耗： ≤100 W外形尺寸： 460mm×281mm×720mm开孔尺寸： 670mm×410mm 重 量： 约20kg

植物冠层分析仪器介绍植物冠层图像分析仪用于各种高度植物冠层的研究，利用鱼眼镜头和CCD图像传感器获取植物冠层图像，通过专用分析软件，获得植物冠层的相关指标和参数。利用鱼眼镜头成像测量植物冠层数据，只操作一次即可，简化了传统测量方法要一天定点多次测量的繁复工作，而且利用图像法测量冠层可以主动避开不符合计算该冠 层结构参数的冠层空隙部分，也可以躲开不符合测量计算的障碍物。植物冠层分析仪测试原理与方法植物冠层图象分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下，植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中最精确和最省力、省时、快捷方便的方法。植物冠层分析仪结构组成植物冠层图像分析仪由鱼眼图像捕捉探头（由鱼眼镜头及CCD图像传感器组成）、内置25个PAR传感器的测量杆（摇臂）、笔记本电脑、图像采集软件及图像 分析软件组成。鱼眼探头安装在一个很轻的摇臂的顶端，它可以获取150°视角的鱼眼图像。图像的显示和存贮由配置的笔记本计算机完 成。植物冠层分析仪功能特点鱼眼镜头可自动保持水平状态：专门为植物冠层结构测量设计的小型鱼眼摄像镜头安装在手持式万向平衡接头上，可自动保持镜头处于水平状态，无需三角架；鱼眼镜头可以伸入至冠层中：镜头安装在摇臂一端，由于小巧和带有测量杆，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图；图像分析软件：图像分析软件可以任意定义图像分析区域（天顶角可分10区，方位角可分10区）。可屏蔽不合理冠层部分：对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠层部分（如缺株、边行问题等）。对不同天顶角起始角和终止角的选择，可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件，通过手动调节阈值，可以更精准的测量出叶面积指数等参数；植物冠层分析仪可测量指标：叶面积指数叶片平均倾角天空散射光透过率不同太阳高度角下的植物冠层直射辐射透过率不同太阳高度角下冠层的消光系数叶面积密度的方位分布仪器主要技术参数镜头角度：150°分辨率：768×494测量范围：天顶角由0°～75°(150°鱼眼镜头)可分割成十个区域，方位角360°亦可分割成十个区域PAR感应范围：感应光谱400nm～700nm植物冠层分析仪测量范围0～2000μmol/㎡?S分析软件：植物冠层分析系统探头尺寸：直径6cm，高10cm总 重 量：500克(不含笔记本电脑)传输接口：USB工作温度：0～55℃

一．植物冠层图像分析仪用途植物冠层图像分析仪根据各种图像处理手段提取多个角度的冠层间隙率，采用装配鱼眼镜头的相机从树冠下向上拍摄冠层照片，利用间隙率参数来反演出各种冠层参数，导田园合理施肥、现代化农场高效管理提供可靠的科学依据，广泛应用于农业、林业、植物等科学研究和生产指导。二．植物冠层图像分析仪测试原理与方法植物冠层图象分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下，植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中最精确和最省力、省时、快捷方便的方法。三. 植物冠层图像分析仪结构组成植物冠层图像分析仪由鱼眼图像捕捉探头（由鱼眼镜头及CMOS图像传感器组成）、内置25个PAR传感器的测量杆（摇臂）、笔记本电脑、图像分析软件组成。鱼眼探头安装在一个很轻的摇臂的顶端，它可以获取180°视角的鱼眼图像。图像的显示和存贮由配置的笔记本计算机完成。四．植物冠层图像分析仪技术指标1．可测量指标：叶面积指数叶片平均倾角聚集指数1聚集指数2树冠开阔度天空散射光透过率不同太阳高度角下的植物冠层直射辐射透过率（间隙率 透光率）不同太阳高度角下冠层的消光系数叶面积密度的方位分布（不透光率）光合有效辐射（PAR）2.镜头角度：180°3．分辨率：2592 × 19444．测量范围：天顶角由0°～90°(180°鱼眼镜头)可分割成十个区域，方位角360°亦可分割成十个区域5．PAR感应范围：感应光谱400nm～700nm6．测量范围0～3000μmol/㎡?S7．分析软件：植物冠层分析系统8．重量：500g9．工作及存储环境：-10℃~55℃ ≤85%相对湿度10. 传输接口：USB五．植物冠层图像分析仪功能特点1.鱼眼镜头可自动保持水平状态：专门为植物冠层结构测量设计的小型鱼眼摄像镜头安装在手持式万向平衡接头上，可自动保持镜头处于水平状态，无需三角架；2.鱼眼镜头可以伸入至冠层中：镜头安装在摇臂一端，由于小巧和带有测量杆，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图；3.图像分析软件：图像分析软件可以任意定义图像分析区域（天顶角可分10区，方位角可分10区）；4.可屏蔽不合理冠层部分：对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠层部分（如缺株、边行问题等）；5.自动化阈值调节，避免主观设置阈值导致增大误差；6.数据浏览：可浏览历史数据；7.内置中英文双语显示，一键切换。植物冠层图像分析仪配置清单：鱼眼探头、测量杆、笔记本电脑（内置分析软件）、电脑包、加密狗、铝箱、说明书，合格证。

一．植物冠层分析仪用途植物冠层图像分析仪根据各种图像处理手段提取多个角度的冠层间隙率，采用装配鱼眼镜头的相机从树冠下向上拍摄冠层照片，利用间隙率参数来反演出各种冠层参数，导田园合理施肥、现代化农场高效管理提供可靠的科学依据，广泛应用于农业、林业、植物等科学研究和生产指导。二．植物冠层分析仪测试原理与方法植物冠层图象分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下，植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中最精确和最省力、省时、快捷方便的方法。三. 植物冠层分析仪结构组成植物冠层图像分析仪由鱼眼图像捕捉探头（由鱼眼镜头及CMOS图像传感器组成）、内置25个PAR传感器的测量杆（摇臂）、笔记本电脑、图像分析软件组成。鱼眼探头安装在一个很轻的摇臂的顶端，它可以获取180°视角的鱼眼图像。图像的显示和存贮由配置的笔记本计算机完成。四．植物冠层分析仪技术指标1．可测量指标：叶面积指数叶片平均倾角聚集指数1聚集指数2树冠开阔度天空散射光透过率不同太阳高度角下的植物冠层直射辐射透过率（间隙率 透光率）不同太阳高度角下冠层的消光系数叶面积密度的方位分布（不透光率）光合有效辐射（PAR）2.镜头角度：180°3．分辨率：2592 × 19444．测量范围：天顶角由0°～90°(180°鱼眼镜头)可分割成十个区域，方位角360°亦可分割成十个区域5．PAR感应范围：感应光谱400nm～700nm6．测量范围0～3000μmol/㎡?S7．分析软件：植物冠层分析系统8．重量：500g9．工作及存储环境：-10℃~55℃ ≤85%相对湿度10. 传输接口：USB五．植物冠层分析仪功能特点1.鱼眼镜头可自动保持水平状态：专门为植物冠层结构测量设计的小型鱼眼摄像镜头安装在手持式万向平衡接头上，可自动保持镜头处于水平状态，无需三角架；2.鱼眼镜头可以伸入至冠层中：镜头安装在摇臂一端，由于小巧和带有测量杆，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图；3.图像分析软件：图像分析软件可以任意定义图像分析区域（天顶角可分10区，方位角可分10区）；4.可屏蔽不合理冠层部分：对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠层部分（如缺株、边行问题等）；5.自动化阈值调节，避免主观设置阈值导致增大误差；6.数据浏览：可浏览历史数据；7.内置中英文双语显示，一键切换。植物冠层分析仪配置清单：鱼眼探头、测量杆、笔记本电脑（内置分析软件）、电脑包、加密狗、铝箱、说明书，合格证。

MIRA 乙炔分析仪—亚ppb级、中红外激光、超便携产品介绍MIRA 乙炔分析仪使用创新的多通道吸收室与固态中红外激光技术相结合，检测室无反射镜，坚固和小巧，在60ml 的小空间里取得15m 的光程，同时测量乙炔和H2O，可达到3ppb/s级别的精度，使用独特的专有微分方法，可以消除温度引起的漂移，可实现亚ppb级别灵敏度，在几秒钟内实现亚ppb 水平的无与伦比的特异性和灵敏度。使用乙炔独特的中红外“指纹”能够快速、定量地检测乙炔浓度水平，从而大大减少与其他方法相关的劳动时间和消耗品。系统拥有2路可编辑的采样路径，可设定其中一路作为周期性调零（校准），或者差分同步测量，系统内部如同常驻了零点气体校正，实现了高效消除仪器漂移的影响，使得设备的精确度从亚ppb级提升至ppt级。分析仪可选配GPS，以输出.kml 格式的位置和浓度数据文件，可以很方便地在 Google Earth 中查看。作为一种基于中红外吸收的测量方法，MIRA 乙炔分析仪在宽动态范围内实现了高精度和线性度，是一款真正意义上的便携式、高精度乙炔分析仪，可实现实验室质量的测量。低成本，超紧凑，布放方式灵活，可便携、车载、机载、机架式安装。工作原理MIRA 乙炔分析仪采用中红外波段，乙炔在中红外的吸收是近红外的数千倍，从而显著提高了系统的测量精度和灵敏度。检测室无反射镜，坚固和小巧，在极小的体积 (60cc) 内实现了 15m 的吸收路径长度，从而实现了超高灵敏度、快速响应时间和低功耗。产品选型MIRA 乙炔分析仪共有4种型号可选，但其核心测量室都是一样的。MIRA pico 乙炔分析仪MIRA pico 乙炔分析仪为基础款，可移动式、车载测量，极低的功耗（15W），电池续航5-6h，亦可12-15V DC: 2A或110-220V AC: 0.5A供电 MIRA Ultra便携式&机架式乙炔分析仪MIRA Ultra系列乙炔分析仪相比于pico系列的不同为，Ultra系列升级为带有温控的（恒温42℃）检测室，具有毫开尔文级稳定性，以实现高灵敏度和超低漂移并避免样品冷凝，在许多情况下显著降低或完全消除校准要求。 图 Ultra便携式 图 Ultra机架式MIRA Strato机载式乙炔分析仪MIRA Strato机载式乙炔分析仪，带电池重量仅为 2kg，内置GPS传感器，旨在在不牺牲性能的情况下打造更轻的气体分析仪。可搭载于无人机上用于乙炔监测，可使用电池供电（续航90min）或无人机供电。通信通常通过 RS-232 端口实现，该端口可以以高达 10Hz 的数据速率进行传输。产品特征&bull ppb级灵敏度和精确度，1s响应速率，1min预热即用&bull 同时高精度测量H2O&bull 1Hz测量频率&bull 内置自动零点校准，免维护传感器&bull 30秒生成ppb级乙炔气体浓度报告&bull 优秀的线性响应，覆盖ppb到 ppm的浓度量级&bull 媲美DNPH-HPLC精度，无需样品制备和耗材&bull 免维护传感器，耐用型滤光片&bull 数据通讯WIFI、RS-232、USB&bull 同步检测水汽背景，获取摩尔分数（干燥），无需干燥样气和数据修正。&bull 轻便小巧，野外应用可选配GPS组件，获取乙炔 “卫星图”&bull 超低功耗，内置锂电池可持续工作6小时，内置采样泵产品应用&bull 燃烧研究&bull 大气环境研究&bull 天然气泄露示踪&bull 自然调查&bull 机动车排放监测技术参数 测量方法中红外激光吸收光谱技术 灵敏度 3ppb/s漂移 (σ)Pico： 1%的读数（全温度范围）Ultra：0.1%读数（全温度范围）Strato：1-2%读数 温度/湿度10 ~ 40°C/10 to 95% RH (无冷凝) 浓度范围ppb-ppm可配置 尺寸（W*D*H）Pico： 11.5” x 8” x 3.75” Ultra便携：15” x 12” x 7”Ultra机架：17” x 11” x 5-3/8”Strato：7.5” x 7.5” x 3.5” 重量Pico： 2.75kg Ultra便携：6.5kgUltra机架：9kgStrato：2kg 功耗Pico： 15W Ultra便携：25WUltra机架：25WStrato：17W 电源 直流电：12 ~ 15V，1.5A；交流电：110 ~ 220V，0.2A 数据通讯 WiFi, USB, RS232, 模拟输出 (可选) 内存 32GB（可扩展） 数据更新速率 1 or 2 Hz，最高10Hz

仪器介绍　　植物冠层图像分析仪用于各种高度植物冠层的研究，利用鱼眼镜头和CCD图像传感器获取植物冠层图像，通过专用分析软件，获得植物冠层的相关指标和参数。利用鱼眼镜头成像测量植物冠层数据，只操作一次即可，简化了传统测量方法要一天定点多次测量的繁复工作，而且利用图像法测量冠层可以主动避开不符合计算该冠 层结构参数的冠层空隙部分，也可以躲开不符合测量计算的障碍物。　　测试原理与方法　　植物冠层图象分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下，植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中最精确和最省力、省时、快捷方便的方法。　　结构组成　　植物冠层图像分析仪由鱼眼图像捕捉探头(由鱼眼镜头及CCD图像传感器组成)、内置25个PAR传感器的测量杆(摇臂)、笔记本电脑、图像采集软件及图像 分析软件、高容量的可充电电池组组成。鱼眼探头安装在一个很轻的摇臂的顶端，它可以获取150°视角的鱼眼图像。图像的显示和存贮由配置的笔记本计算机完 成。　　功能特点　　鱼眼镜头可自动保持水平状态：专门为植物冠层结构测量设计的小型鱼眼摄像镜头安装在手持式万向平衡接头上，可自动保持镜头处于水平状态，无需三角架 　　鱼眼镜头可以伸入至冠层中：镜头安装在摇臂一端，由于小巧和带有测量杆，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图 　　图像分析软件：图像分析软件可以任意定义图像分析区域(天顶角可分10区，方位角可分10区)。　　可屏蔽不合理冠层部分：对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠层部分(如缺株、边行问题等)。对不同天顶角起始角和终止角的选择，可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件，通过手动调节阈值，可以更精准的测量出叶面积指数等参数 　　可测量指标　　叶面积指数　　叶片平均倾角　　天空散射光透过率　　不同太阳高度角下的植物冠层直射辐射透过率　　不同太阳高度角下冠层的消光系数　　叶面积密度的方位分布　　仪器主要技术参数　　镜头角度：150°　　分辨率：768×494pix　　测量范围：天顶角由0°～75°(150°鱼眼镜头)可分割成十个区域，方位角360°亦可分割成十个区域　　PAR感应范围：感应光谱400nm～700nm　　测量范围0～2000μmol/㎡&bull S　　分析软件：植物冠层分析系统　　电 　 源：8.4v可充电锂电池组　　探头尺寸：直径6cm，高10cm　　总 重 量：500克(不含笔记本电脑)　　传输接口：USB　　工作温度：0～55℃

仪器介绍　　植物冠层图像分析仪用于各种高度植物冠层的研究，利用鱼眼镜头和CCD图像传感器获取植物冠层图像，通过专用分析软件，获得植物冠层的相关指标和参数。利用鱼眼镜头成像测量植物冠层数据，只操作一次即可，简化了传统测量方法要一天定点多次测量的繁复工作，而且利用图像法测量冠层可以主动避开不符合计算该冠 层结构参数的冠层空隙部分，也可以躲开不符合测量计算的障碍物。　　测试原理与方法　　植物冠层图象分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下，植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中最精确和最省力、省时、快捷方便的方法。　　结构组成　　植物冠层图像分析仪由鱼眼图像捕捉探头(由鱼眼镜头及CCD图像传感器组成)、内置25个PAR传感器的测量杆(摇臂)、笔记本电脑、图像采集软件及图像 分析软件、高容量的可充电电池组组成。鱼眼探头安装在一个很轻的摇臂的顶端，它可以获取150°视角的鱼眼图像。图像的显示和存贮由配置的笔记本计算机完 成。　　功能特点　　鱼眼镜头可自动保持水平状态：专门为植物冠层结构测量设计的小型鱼眼摄像镜头安装在手持式万向平衡接头上，可自动保持镜头处于水平状态，无需三角架 　　鱼眼镜头可以伸入至冠层中：镜头安装在摇臂一端，由于小巧和带有测量杆，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图 　　图像分析软件：图像分析软件可以任意定义图像分析区域(天顶角可分10区，方位角可分10区)。　　可屏蔽不合理冠层部分：对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠层部分(如缺株、边行问题等)。对不同天顶角起始角和终止角的选择，可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件，通过手动调节阈值，可以更精准的测量出叶面积指数等参数 　　可测量指标　　叶面积指数　　叶片平均倾角　　天空散射光透过率　　不同太阳高度角下的植物冠层直射辐射透过率　　不同太阳高度角下冠层的消光系数　　叶面积密度的方位分布　　仪器主要技术参数　　镜头角度：150°　　分辨率：768×494pix　　测量范围：天顶角由0°～75°(150°鱼眼镜头)可分割成十个区域，方位角360°亦可分割成十个区域　　PAR感应范围：感应光谱400nm～700nm　　测量范围0～2000μmol/㎡&bull S　　分析软件：植物冠层分析系统　　电 　 源：8.4v可充电锂电池组　　探头尺寸：直径6cm，高10cm　　总 重 量：500克(不含笔记本电脑)　　传输接口：USB　　工作温度：0～55℃

详细介绍:TS3型碳硅高速分析仪◆技术指标： 碳当量3.2～4.8±0.2%、碳含量2.8～4.2±0.08%、硅含量0.9～3.0±0.2% ◆主要特点：1、铸造元素分析仪适用于铸铁生产的炉前在线控制，能快速检测出铁水中C、Si两元素含量；2、操作简单，硅钼粉不需任何辅助设备及专业操作人员，炉工也可自行操作；3、对白口、灰口铸铁进行C％、Si％、CEL、SC、△T、△TM等定性或定量估测；4、仪器可便携移动，多台炉子同时使用及测量球铁球化后的铁水；4、测量最大时间：240秒。

免疫层定量分析仪、胶体金免疫层定量分析仪、荧光免疫层定量分析仪深圳市芬析仪器制造有限公司生产的免疫层定量分析仪、胶体金免疫层定量分析仪、荧光免疫层定量分析仪适用于干式法、荧光、胶体金制成不同宽度的免疫层分析条检测项目。检测项目：1、真菌毒素残留类（食用油、粮食及饲料中黄曲霉毒素B1、液态奶中黄曲霉毒素M1、食品中呕吐毒素、玉米赤霉烯酮、赭曲霉毒素A等）2、激素残留类（莱克多巴胺、克伦特罗、沙丁胺醇、己烯雌酚等）3、水产品安全类（呋喃妥因代谢、呋喃西林代谢、呋喃它酮代谢、呋喃唑酮代谢、孔雀石绿、氯霉素）4、抗生素残留类（磺胺、喹诺酮、喹乙醇等）5、干式法试纸条食品有毒有害物质、非法添加剂类、残留类6、临床疾病测试条宽度：2-6mm（支持定制）屏幕：真彩触摸屏检测结果：半定量、定量检测结果可排除无效检测结果，能对数据结果、原始扫描曲线进行保存和打印浓度结果和浓度单位检测项目参数：用户可以从仪器功能选项中读取仪器的配置参数检测结果报告：可准确报告出被测物质的浓度，可在触摸屏上显示，可通过仪器内置打印机输出连接方式：USB接口，串口，网口（支持定制）附属功能：内置WIFI模块测量原理：光电测量反射衰减信号强度（扫描）检测速度：240次/小时重复性：DR值不大于1%(标准卡)仪器批间差：3%以内(标准卡)数据传输：USB 以及网口屏幕显示：7英寸、10英寸（支持定制）LED光源波长：450nm～475nm产品特点：1、支持所有金标项目定性、定量及半定量检测；2、ID卡独立加密与授权，内置浓度曲线及批号，保护试剂厂家信息；3、CT线位置可自定义识别，支持线宽及线间距设定，支持实时显示检测曲线；4、内置大容量存储数据库，可随时分类查询已测项目；5、支持医院通用数据库接口，支持LIS系统，内置USB接口，支持可扩展外设；6、可内置条形码识别模块，可加装二维码识别模块（定制）7、自动精准识别CT线位置，纠错范围可达 ±3mm；8、12V低压电源供电，支持使用车载电源，定制机型可内置充电电池；9、整机支持按客户要求定制（ODM加工及OEM项目合作）。

一．用途 植物冠层分析仪根据各种图像处理手段提取多个角度的冠层间隙率，采用装配鱼眼镜头的相机从树冠下向上拍摄冠层照片，利用间隙率参数来反演出各种冠层参数，导田园合理施肥、现代化农场高效管理提供可靠的科学依据，广泛应用于农业、林业、植物等科学研究和生产指导。 二．测试原理与方法 植物冠层分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下，植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中最精确和最省力、省时、快捷方便的方法。 三.结构组成 植物冠层分析仪由鱼眼图像捕捉探头（由鱼眼镜头及CMOS图像传感器组成）、内置25个PAR传感器的测量杆（摇臂）、笔记本电脑、图像分析软件组成。鱼眼探头安装在一个很轻的摇臂的顶端，它可以获取180°视角的鱼眼图像。图像的显示和存贮由配置的笔记本计算机完成。 四.技术指标 1.可测量指标： 叶面积指数 叶片平均倾角 聚集指数1 聚集指数2 树冠开阔度 天空散射光透过率 不同太阳高度角下的植物冠层直射辐射透过率（间隙率透光率） 不同太阳高度角下冠层的消光系数 叶面积密度的方位分布（不透光率） 光合有效辐射（PAR） 2.镜头角度：180° 3.分辨率：2592×1944 4.测量范围：天顶角由0°～90°(180°鱼眼镜头)可分割成十个区域，方位角360°亦可分割成十个区域 5.PAR感应范围：感应光谱400nm～700nm 6.测量范围0～3000μmol/㎡&bull S 7.分析软件：植物冠层分析系统 8.重量：500g 9.工作及存储环境：-10℃~55℃≤85%相对湿度 10.传输接口：USB 五、功能特点 1.鱼眼镜头可自动保持水平状态：专门为植物冠层结构测量设计的小型鱼眼摄像镜头安装在手持式万向平衡接头上，可自动保持镜头处于水平状态，无需三角架； 2.鱼眼镜头可以伸入至冠层中：镜头安装在摇臂一端，由于小巧和带有测量杆，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图； 3.图像分析软件：图像分析软件可以任意定义图像分析区域（天顶角可分10区，方位角可分10区）。 4.可屏蔽不合理冠层部分：对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠层部分（如缺株、边行问题等）。 5.自动化阈值调节，避免主观设置阈值导致增大误差 6.数据浏览：可浏览历史数据 7.内置中英文双语显示，一键切换 8.配置清单：鱼眼探头、测量杆、笔记本电脑（内置分析软件）、电脑包、加密狗、铝箱、说明书，合格证

一．用途 植物冠层图像分析仪根据各种图像处理手段提取多个角度的冠层间隙率，采用装配鱼眼镜头的相机从树冠下向上拍摄冠层照片，利用间隙率参数来反演出各种冠层参数，导田园合理施肥、现代化农场高效管理提供可靠的科学依据，广泛应用于农业、林业、植物等科学研究和生产指导。 二．测试原理与方法 植物冠层图象分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下，植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中最精确和最省力、省时、快捷方便的方法。 三.结构组成 植物冠层图像分析仪由鱼眼图像捕捉探头（由鱼眼镜头及CMOS图像传感器组成）、内置25个PAR传感器的测量杆（摇臂）、笔记本电脑、图像分析软件组成。鱼眼探头安装在一个很轻的摇臂的顶端，它可以获取180°视角的鱼眼图像。图像的显示和存贮由配置的笔记本计算机完成。 四.技术指标 1.可测量指标： 叶面积指数 叶片平均倾角 聚集指数1 聚集指数2 树冠开阔度 天空散射光透过率 不同太阳高度角下的植物冠层直射辐射透过率（间隙率透光率） 不同太阳高度角下冠层的消光系数 叶面积密度的方位分布（不透光率） 光合有效辐射（PAR） 2.镜头角度：180° 3.分辨率：2592×1944 4.测量范围：天顶角由0°～90°(180°鱼眼镜头)可分割成十个区域，方位角360°亦可分割成十个区域 5.PAR感应范围：感应光谱400nm～700nm 6.测量范围0～3000μmol/㎡&bull S 7.分析软件：植物冠层分析系统 8.重量：500g 9.工作及存储环境：-10℃~55℃≤85%相对湿度 10.传输接口：USB 五、功能特点 1.鱼眼镜头可自动保持水平状态：专门为植物冠层结构测量设计的小型鱼眼摄像镜头安装在手持式万向平衡接头上，可自动保持镜头处于水平状态，无需三角架； 2.鱼眼镜头可以伸入至冠层中：镜头安装在摇臂一端，由于小巧和带有测量杆，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图； 3.图像分析软件：图像分析软件可以任意定义图像分析区域（天顶角可分10区，方位角可分10区）。 4.可屏蔽不合理冠层部分：对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景象和不合理的冠层部分（如缺株、边行问题等）。 5.自动化阈值调节，避免主观设置阈值导致增大误差 6.数据浏览：可浏览历史数据 7.内置中英文双语显示，一键切换 8.配置清单：鱼眼探头、测量杆、笔记本电脑（内置分析软件）、电脑包、加密狗、铝箱、说明书，合格证

植物冠层数字图像分析仪CI-110 植物冠层数字图像分析仪CI-110 用于各种高度植物冠层研究。利用鱼眼镜头和CCD图像传感器来获取植物冠层图像并进行分析。通过专业软件分析，获得植物冠层的相关指标参数；鱼眼镜头成像测量冠层数据只操作一次即可，简化了传统能量法要一天定点多次测量的繁复工作；图像法测量冠层可以主动避开不符合计算该冠层结构参数的冠层空隙部分，也可以躲开不符合测量计算的障碍物。特性仪器轻便、操作简便、测量灵活，可以非破坏性的轻易获得冠层数字高精度图像CI-110适用于森林及低矮植物各种高度冠层测量现场获取植物冠层彩色图像，并直接显示和储存在计算机上强大的冠层分析软件功能，可以现场手动调节阈值、自动调节阈值（OTSU）、光斑透过率Entropy三种冠层分析方法得到冠层参数可根据获取的植物冠层图像计算出叶面积指数LAI、叶片平均倾角Angle、散射辐射透过率、不同太阳高度角下的直接辐射透过率、消光系数Extinction和叶面积密度的方位分布Distribution、任意地点和任意时期的太阳轨迹等冠层参数镜头自动水平，一次成像，测量不受天气、光线影响，无需天空空白对照测量现场屏蔽、躲开影响图像计算结果的人影、天空等无用图像技术参数工作环境：0℃～50℃,相对湿度0～100%RH（没有水汽凝结）电源：使用UMPC数据终端电源数据存贮：存贮到UMPC数据终端分析软件：含手动调节阈值、自动调节阈值（OTSU）、光斑透过率三种冠层图像分析方法软件附加功能：GPS数据显示鱼眼镜头：视角可调150° 、180° ，焦距可调彩色图像分辨率：3百万像素彩色图象格式：BMP,JPG,TIFF,EXIF,D,PNG,GIF分区：天顶角划分1～10；方位角划分1～10镜头高：72mm,Ф42mm,操作杆长400mmPAR光量子传感器：24个总重量：500g

植物冠层图像分析仪产品介绍： 植物冠层图像分析仪用于各种高度植物冠层的研究，利用鱼眼镜头和CCD图像传感器获取植物冠层图像，通过专用分析软件，获得植物冠层的相关指标和参数。利用鱼眼镜头成像测量植物冠层数据，只操作一次即可，简化了传统测量方法要一天定点多次测量的繁复工作，而且利用图像法测量冠层可以主动避开不符合计算该冠层结构参数的冠层空隙部分，也可以躲开不符合测量计算的障碍物。测量项目叶面积指数叶片平均倾角散射辐射透过率不同太阳高度角下的直射辐射透过率不同太阳高度角下的消光系数叶面积密度的方位分布用途与适用范围可测算植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光系数，叶面积指数和叶片平均倾角等，可用于农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析可用于不同植物群体结构的比较；可对农田作物群体生长过程进行动态监测，适用于生态学野外植物群体动态监测的研究与教学；也适用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、植物群体对比与发展的研究与教学。产品原理：植物冠层图像分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下， 植物冠层图像分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，省时、快捷方便的方法。结构特点：专门为植物冠层结构测量设计的小型鱼眼摄像镜头安装在万向平衡接头上，可自动保持镜头处于水平状态镜头安装在测杆一端，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到茂密的冠层中，测杆一端的通迅线可联接在计算机上，方便取图操作，由于小巧和带有测杆，可伸入冠层不同高度处，快速地进行分层测量，测出群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图，测杆上附带有线性PAR探头，同时可测量冠层内外的光量子通量密度(μmol/㎡&bull S)值，该值可以做为冠层内能量分析的参考值.功能特点与技术参数：非破坏性地测定冠层结构可以测量冠层内外的光合有效辐射(PAR)手持式万向接头自动水平调整探头，无需三角架随身携带的笔记本计算机可以帮助你正确选点取样，即时决定图像的取舍由外接锂电池组提供电源便于观测和长时间测量，尤其适合完成野外繁重的观测任务图像分析软件可以任意定义图像分析区域(天顶角可分10区，方位角可分10区)。对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠层部分(如缺株、边行问题等)。对不同天顶角起始角和终止角的选择，可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件，通过手动调节阈值，可以更精准的测量出叶面积指数等参数镜头角度：150°(或用户自选180°镜头。除用户有特殊需要，180°鱼眼镜头经常不适合孔隙测量原理与方法所假设的前提条件，用于冠层结构分析是不适宜和不经济的)分辨率：768×494pix测量范围：天顶角由0°～75°PAR感应范围：感应光谱400nm～ 700nm 测量范围0～2000µ molm -2s-1分析软件：植物冠层分析系统显示和内存：决定于笔记本电脑的选择。电 源：锂电池组传输接口：USB工作温度：0～55℃

冠层位于植物顶层，是植物体最先接受光照的部位。进入作物群体的光分为两部分：一是穿过冠层叶片间隙的直射光，呈“光斑” 另一种是透过冠层叶片以后的透射光和部分散射光，呈“阴影”。照在植物冠层的直射光、透射光、散射光，它们对光合作用的效应有所不同。利用植物冠层图像分析仪可以分析不同太阳高度角下植物冠层内外的受光状况，分析光合有效辐射、叶面积指数等冠层相关的参数。　　仪器介绍　　YT-GC10植物冠层分析仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm-700nm波段内的光合有效辐射(PAR)测量、记录,测量值的单位是平方米秒上的微摩尔(μmol㎡/秒)。　　功能特点　　植物冠层分析仪为一体化设计，包括液晶显示屏、操作按键、存储SD卡及测量探杆等。仪器菜单操作简单，体积小，携带方便。存储介质为市场上通用的SD卡，存储容量大，数据管理方便!在功耗上有合理的电源管理方案，测试过程中仪器根据实际情况自动进入待机状态，需要时按唤醒键即可唤醒屏幕，观察实际数据。测量方式分为自动和手动两种。自动测量时间间隔最小1分钟，自动测量次数最大99次，手动测量根据实际需要手动采集即可。　　技术参数　　测量范围：0-2700μmol ㎡/秒　　分辨率：1μmol ㎡/秒　　响应时间：10μs　　自动采集间隔：1-99分钟　　自动采集次数：1-99次　　数据存储容量：2GB(标配SD卡)　　仪器总长度：75 cm　　探杆长度：50 cm　　传感器数量：25个(标配)　　电源：2节5号电池　　工作环境：0°C-60°C 100%相对湿度