电子微分头

微分头西格玛光机的微分头可按照调节类型分为蜗轮式粗微调微分头、折返式微分头和差动微分头三个系列。同时，西格玛光机还提供微分头的维修零件。 l 蜗轮式粗微调微分头（WGP） 可以在全行程（13mm）范围内进行粗调和微调操作的本公司独创产品。结构紧凑，方便装置的小型化，也可节省调整时间。l 折返式微分头（MDC） 与本公司手动平台的微分头的安装部分具有互换性的独创产品。将操作部分集约在某个单一方向，常用于组装设备或空间有限制的地方。操作性能好，可提高工作效率。l 差动微分头（SHSP、SHPA、SHPB、SHPT、SHPC） 具有最大行程为19mm的粗调和可以高分辨率调整的小型化差动微分头。由2重进给轴构成的差动机构，可以平滑地进行粗调和微调。

NS系列精密手动平移台 产品特点● 精密线性滚珠导轨● 中心驱动/右侧驱动● 弹簧复位，消除轴向间隙● 兼容细牙螺杆/微分头/差动微分头多种驱动方式● 台面分布标准孔距的安装孔，便于安装和组合应用 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：+86571 8807 7926网址： /邮箱：

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HTL系列手动平移台 产品特点● 精密线性滚珠导轨● 位移调整采用微分头● 中心/左侧驱动● 弹簧复位，消除轴向间隙● 台面和底面分布标准孔距的安装孔，便于安装和组合 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：+86571 8807 7926网址： /邮箱：

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瑞士丹青S_Screw Smart数显微分头，碳化钨测砧，直进式主轴，水平/垂直两用，直径为44mm表盘可旋转270 ° ，微调附件可选。

以场发射 (FE) 电子枪为特色的JEOL电子探针显微分析仪（ EPMA），带来了表面分析世界。JXA-8530F在继承了JXA-8500F的强力硬件（包括 FE 电子枪、电子光学系统和真空系统）的同时，采用电脑操作进行数据的采集和分析，实现了微区分析。友好的PC控制操作环境，使得在极高的放大倍数下能够便利地进行快速、便捷的分析。 - PC平台操作 - 用FE电子枪进行高空间分辨率成像 - “Click Point Analysis”功能和用户菜单（User,s recipe） - 先进的操作 - WD/ED组合系统

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日本电子JEOL场发射电子探针显微分析仪 JXA-iHP200FJXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作，是更先进的一体化集成FE-EPMA。 产品规格：检测元素范围：WDS: Be＊1 / B to U, EDS: Be to U检测X-ray 范围：波长范围WDS: 0.087 to 9.3 nm能量范围EDS: 20 keV谱仪数：WDS: 最多5个可选, EDS: 1个最大样品尺寸：100 mm × 100 mm × 50 mm (H)加速电压：1 to 30 kV (0.1 kV steps)探针电流范围：1 pA to 3 μA探针电流稳定性：± 0.3％ / h, ± 1.0％ /12 h＊2二次电子像分辨率（观察模式）：2.5 nm二次电子像分辨率（分析模式下）： 20 nm（ 10 kV, 10 nA） 50 nm（ 10 kV, 100 nA）扫描放大倍率：×40 to 300,000 (W.D. 11 mm)扫描图像分辨率：Maxium 5,120 × 3,840产品特点：电子探针显微分析仪在钢铁、汽车、电子零件和电池材料等各种工业领域，作为研究开发和品质保证的分析工具被广泛使用，其用途越来越广。此外，在学术领域 ，地球空间科学、材料科学领域也在广泛使用，矿物等资源能源研究、各种新型材料研究等，期待在各种各样前沿研究中做出贡献。与此相应，在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。JXA-iHP200F能更加有效地进行观察分析操作，是更先进的一体化集成场发射EPMA。* EPMA是Electron Probe Microanalyzer简称◇ [Setting] 自动定位，准确安装样品台！迅速找到想观察的点！进样和获取样品台导航像一键完成。从导航像能够指定分析区域。◇ [Analysis] 充分的自动功能，谁都可以拍到高级的SEM像繁琐的设定也能对应，EPMA立马进行元素分析光学显微镜的自动聚焦功能与配备高精度/高速化新系统的SEM自动功能相结合，任谁都可以拍到高级的SEM像。【live Analysis】通过【live Analysis】能够在观察中进行筛选分析。初学者也能操作的【简单的EPMA】。用【EPMA-XRF integration】在XRF数据的基础上能够进行EPMA的条件设定。用【WD/ED integration】能够缩短分析时间。SEM、EDS、XRF、WDS、光学像的集成一体化提高了仪器的操作性能。 通过WD/ED integration，分析时间缩短的例子integration：用这些仪器推定的元素在一体化EPMA上可以一键设定分光晶体的组合◇ [Self Maintenance] 内置18种类校正样品，有效进行校正配置【分光器校正功能】减轻了定期进行分光器校正的作业而且也避免了校正样品设定时的人为失误；利用夜间对仪器进行校正，提高了工作效率。按照【维护通知功能】，在必要时期对仪器进行自我维护，保持设备最佳状态。 维护通知功能【客户支持工具】◇ 标配场发射电子枪能够在高倍率下获得高空间分辨率的SEM像和分析结果。在大电流下保持长时间稳定的热电子枪在短时间内分析微量元素的时候、整夜运行分析大量样品的时候显示出它的威力。

OPTM显微分光膜厚仪是FE-3000反射分光膜厚计的第二代产品。OPTM沿用分光干涉法，可测量绝对反射率、多层膜厚、折射率和消光系数，纳米级测量，精度高。OPTM可用于FPD构件（PI膜、ITO膜、CF膜）、光触媒、汽车零件DLC膜、半导体材料氧化层、光学材料薄膜等材料的无损非接触式测量，检测时间仅需1秒。产品特点：◆ 非接触、非破坏式，量测头可自由集成在客户系统内◆ 初学者也能轻松解析建模的初学者解析模式◆ 高精度、高再现性量测紫外到近红外波段内的绝对反射率，可分析多层薄膜厚度、光学常数（n：折射率、k：消光系数）◆ 单点对焦加量测在1秒内完成◆ 显微分光下广范围的光学系统（紫外 ~ 近红外）◆ 独立测试头对应各种inline定制化需求◆ 最小对应spot约3μm ◆ 独家专利可针对超薄膜解析n k产品参数：OPTM-A1OPTM-A2OPTM-A3波長範圍230 ~ 800 nm360 ~ 1100 nm900 ~ 1600 nm膜厚範圍1nm ~ 35μm7nm ~ 49μm16nm ~ 92μm測定時間1秒 / 1點光徑大小10μm (最小約5μm)感光元件CCDInGaAs光源規格氘燈+鹵素燈鹵素燈電源規格AC100V±10V 750VA（自動樣品台規格）尺寸555(W) × 537(D) × 568(H) mm (自動樣品台規格之主體部分)重量約 55kg（自動樣品台規格之主體部分）反射对物镜专利：如果是透明基板，因里面的反射光而无法正确测出膜厚。通过反射対物镜片，可物理性的消除里面反射。即使是透明基板也可测出高精度的膜厚,特别是对带有光学非均质的基板。3微米微区测量： 在软件上通过同时显示样品画面和测定光采取部位，可很好的确认到测定点。特别是对有微小点的形状的样品有效。（最小Φ3μm） 自动高精度mapping样品台： OPTM标配XY自动平台，仅需输入坐标即可自动多点检测大面积样品，实时获取厚度分布图。平台设有防误触光栏，避免检测过程误触。平台尺寸200mm×200mm，最大可以检测12寸晶圆。

仪器简介：吉林市北光分析仪器厂是专业生产微分测汞仪的厂家，该产品采用了特殊的测汞 技术，使冷原子吸收法的灵敏度提高到近1000倍，可直接测量到0.005ug/L。打 破了冷原子吸收灵敏度不高的旧观念。 仪器使用范围： 该仪器主要应用在地表水、地下水、工业废水中含汞量的测量，也可用于废气 和固体中含汞量的测量。 仪器使用部门： 全国各部门环境监测系统、地质、水文、卫生防疫、自来水、环境科研单 位及各大中型企业监测室、实验室。技术参数：１、标准 符合国家标准&ldquo GB 7468-87 水质、总汞的测定 冷原子吸收分光光度法&rdquo ２、仪器的使用部门 各部门的环境监测系统，地质、水文、自来水、环境科研单位及各大中型企业监测室、实验室等。 ３、仪器应用范围 该仪器主要应用在地表水、地下水、工业废水中含汞量的测量，也可用于废气和固体中含汞量的测定。 ４、仪器的技术指标 ①检出限：微分测量：0.02 (&mu g/L) 低浓度测量：0.4 (&mu g/L) 高浓度测量：2(&mu g/L) ②变异系数：微分测量＜10% (0.32&mu g/L) 　　　　　　低浓度测量＜5% (3.2&mu g/L) 　　　　　　高浓度测量＜5% (32&mu g/L) ③最佳测量范围：微分测量：(0.04-0.64)&mu g/L 　　　　　　　　低浓度测量：(0.4-10)&mu g/L 　　　　　　　　高浓度测量：(2-100)&mu g/L ④相关系数：微分测量&gamma ＞0.995 　　　　 低浓度测量&gamma ＞0.999 　　　　 高浓度测量&gamma ＞0.999 ⑤使用电源：交流220V30W ⑥使用温度：10℃-30℃ ⑦使用湿度： ＜80%RH ⑧体积（卧式）：（420× 300× 160）mm ⑨重量：净重15㎏。 5 、仪器特点 ①仪器灵敏度高、测量范围宽、重现性好 ②具有数据储存、查询、打印功能 ③具有还原图形的原始记录功能 ④操作简便，可使用Windows 2000/XP操作系统 ※⑤采用USB接口、计算机控制、自动化程度高 　 ⑥仪器操作简单、无记忆效应、带有测量结果直读功能 ⑦所用化学试剂品种少、量少、不用高纯氮气做载气，使用成本低 6 、仪器的正常工作环境条件 ①市电要求稳定，建议配接 1-5KW 电子交流稳压电源 ②室温要求10-30℃，湿度20-80% （RH） ③室内空气清洁，无汞蒸汽污染 ④室内适当通主要特点：1、仪器灵敏度高、无基线漂移、测量范围宽、重现性好 2、具有数据储存、查询、打印功能 3、具有还原图形的原始记录功能 4、操作简便，可使用Windows 2000/XP操作系统 5、※采用USB2.0接口、计算机控制、自动化程度高 　 6、仪器操作简单、无记忆效应、带有测量结果直读功能 7、所用化学试剂品种少、量少、不用高纯氮气做载气，使用成本低

一、微分干涉金相显微镜仪器的主要用途和特点DMM-1200微分干涉金相显微镜（DIC)采用优质的无限远光学系统，微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器，可选用微分干涉（DIC）观测、获得高清晰的图像，使图像衬度更好,是针对半导体晶圆检测、太阳能硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的，作为高级工业金相显微镜使用 可进行明场观察、落射偏光、DIC观察，广泛用于工厂、研究机构、高等院校对太阳能电池硅片、半导体晶圆检测、电路基板、FPD、精密模具的检测分析。DMM-1200C电脑型微分干涉金相显微镜是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像,又可以在计算机上很方便地适时观察金相图像，并可随时拍摄记录金相图片,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以保存或打印出高像素金相照片。 二、大平台微分干涉金相显微镜仪器的主要技术指标金相显微镜组件及规格光学系统无穷远光学系统主机DMM-1200倒置金相显微镜主机目镜大视野WF10X(Φ22mm)WF15X(Φ16mm)WF20X(Φ12mm)平场分划10X/Φ20mm(0.10mm/格值)物镜无限远长工作距离平场消色差放大倍数/数值孔径有效工作距离PL5X/0.1226.1PLL10X/0.2520.2PLL20X/0.48.8PLL40X/0.63.98目镜筒三目镜铰链式，倾斜30度，分光比：观察80% 摄影20%；或观察100% 摄影100%滤片组全系列滤色片物镜转换器五孔物镜转换器调焦机构同轴粗微动调焦机构,带锁紧和限位装置, 调焦范围30mm 微动格值0.8μm载物台台面尺寸：280mm*270mm 移动范围：横向（X）204mm，纵向（Y）204mm照明系统落射照明12V/50W，卤素灯，中心、亮度连续可调微分干涉可使用于5X、10X、20X 三、大平台微分干涉金相显微镜系统的组成1、金相显微镜DMM-1200　　　　　　 　　　 2、CCD适配镜3、彩色数字摄像机(CCD)4、计算机（选购） 四、大平台微分干涉金相显微镜选购部分1.金相分析软件 五 、大平台微分干涉金相显微镜同类仪器的比较1、DMM-1200C电脑微分干涉显微镜2、DMM-1200D数码微分干涉显微镜 六、大平台微分干涉金相显微镜相关设备金相设备 金相抛光机 金相切割机 金相砂纸 金相切割片 金相镶嵌机 金相预磨机 显微硬度计 端淬试验机

产品详情JXA-iHP100 电子探针显微分析仪 可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。 产品规格：检测元素范围WDS：(Be)*1 /B～U, EDS：B～UX射线检测范围WDS检测的波长范围: 0.087～9.3nm,EDS EDS检测的能量范围: 20keV分光谱仪数量WDS: 1～5道可选、EDS: 1台最大样品尺寸100mm × 100mm × 50mm（H）加速电压0～30kV（以0.1 kV为步长）束流电流范围10-12 ～ 10-5 A束流电流稳定度5%/h, ±0.3%/12h（W）二次电子分辨率6nm（W）, 5nm（LaB6）*2（W.D. 11mm, 30kV）扫描倍率×40 ～ ×300,000（W. D. 11mm）扫描图像分辨率最大 5,120× 3,840彩色显示器EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024光学显微镜分辨率～1um焦深1um真空系统机械泵、分子泵、离子泵 *2真空度样品室: 优于8.0 x 10-4Pa,电子枪: 优于9.0 x 10-5Pa 产品特点： 可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。 日本电子新开发出的EPMA （电子探针）秉承近半个世纪的EPMA的发展历史，JXA-iHP100具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析，这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-iHP100电子探针是下一代能完全满足多种需求的强力分析工具之一。 EPMA快速启动 点击任何一点，就能开始预设的EDS定性、定量分析或WDS分析。 用户菜单（User recipes） 能保存或调用经常使用的各种不同类型的样品分析条件，菜单中包括了全部的电子光学参数、EDS和WDS参数在内。 EDS 的性能 数字化脉冲处理器 全谱面分布(WD/ED, 样品台和电子束扫描) 无风扇SDD (选配)

扫描型近接场光学显微分光系统NFS series▼概要日本分光株式会社生产的可以分光测定的扫描型接近场光学显微镜NFS系列，世界一流。这台装置能10-100nm左右的空间分解力进行显微分光测量。能在微小的领域观测光谱强度变化以及波峰变换可更好的对物质特性描述。◆特征?世界第一台一体化扫描型近接场光学分光显微镜?数十～百nm高空间分辨率测量显微分光。?使用日本分光制的探头可准确使用特定大小的近接场光。?可同时测量样品表面微小的凹凸形状。和原子力显微镜（AFM）类似的用法。? illumination（透过）、collection、 illumination－collection测量方式。◆近接場光学显微分光装置对于微小领域的表征方法有利用电子线的电子显微镜形态观察、 X线微分析仪，扫描型探头电镜表面形状观察。这些分析方法可以得到高空间分辨率的画像、但是得不到样品表面的化学信息。另外，虽然、显微FT/IR分光、显微光激发光分光、显微拉曼光等可以得到表面化学信息，但是因为空间分辨率有限度、所得到的信息也停留在微米量级。原因是光的衍射是有限度的不能超过使用波长范围。◆新开发光纤制作技术NFS系列光纤前端约为数十～百nm开口的探头用于近接场光产生或者近接场光集光。日本分光的开口技术以神奈川科学技术科学院（KAST）的研究成果基础上开发的、特定尺寸的开口，再现性好。开口的尺寸用电子显微镜高度的控制。◆NFS series产品种类丰富主要有以下种类。重点介绍近接场显微红外分光系统。别的型号详细请咨询。?室温型／低温型　近接场光照射装置（NFS-220/320）?室温型／低温型近接场用扫描装置（NFS-210/310）?室温型／低温型　近接场蛍光／光激发光分光装置（NFS-230/330）?近接场显微镜近红外分光装置（NFS-220FT/320FT）?近接场显微红外分光装置（NFIR-200/250）?近接场纳米碳素管评价装置（NFS-230C/330C、特殊定制）?近接场时间分解分光装置（NFS-230TR/330TR、特殊定制）◆NFIR-200/250　近接场显微红外分光系统近接场显微红外分光装置红外分光法代表的振动分光法、不论有机?无机应用于各种分析领域。但是，现有的红外显微分光系统空间分辨率受光的衍射现象的影响，限度为10μm左右。近接场分光法、可以超过这个衍射限度、可见光区域应用于从亚微细米到纳米规模的光分析，红外区域由于光纤探头吸收的原因不能进行分光分析。红外领域通过采用漫反射型近接场光学系统、实现了从近红外到中红外领域的亚微细米空间分辨率的分光测量。通过照射到探头前端的红外光产生红外近接场光、检测近接场光和样品共鸣漫反射结果信号、测量红外近接场光谱。空间分辨率不受红外波长影响、由探头前端产生近接场光的实际尺寸决定、大约探头前端径大小。因此，红外分广发可用于亚微细米以下领域测量。▼特征和系统略图?漫反射型近接场光学装置可除去光纤探头吸收的影响。?环保配置。?NFIR-250的FT部装有大型测量用的样品室，可对应一般的红外测量。▼NFIR-200/250规格机种NFIR-200/250测量方式杂散光测量方式、光学调整方式、探头位置调整方式检测器设置数量：最大２种标准检测器：液体氮气冷却MCT检测器选项检测器：液体氮气冷却InSb检测器切换方式：电动样品台范围竖×横20×20μm、高16μm傅里叶变换型分光系统测量波长范围：4000～1000 cm-1 (MCT使用时） 5000～2000 cm-1 (InSb使用时)分辨率：400px-1干渉計：45°入射迈克尔逊干渉计分速器：Ge/KBr微型样品室装备（NFIR-250）控制用PCOS：Windows XP、通信：16bit AD/DA板、软件反馈信号显示器及映射测量软件 3次元表示软件、探头观察用CCD画像表示软件映射解析软件、光谱解析软件尺寸?重量W1000 x D900 x H1300 mm、280kg（NFIR-200、含防振台） W1600 x D750 x H1300 mm、300kg（NFIR-250、含防振台）电源AC100V±10% 250VA（本体）、150VA（FT）、100VA（PC）其他必要的工具防振台用空气源：氮气或空气源　0.3～0.8MPa

XJL-20BDDIC型倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统，可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。模块化的功能设计，可以方便升级系统，实现偏振观察、暗视场观察、明视场微分干涉观察等功能。照明系统充分考虑散热性与安全性，可快速更换灯泡。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。可用于半导体硅晶片、LCD基板、固体粉未及其它工业试样的显微观察，是材料学、精密电子工程学等领域研究的理想仪器。

一、DMM-1100C电脑型微分干涉金相显微镜的特点和用途: DMM-1100微分干涉金相显微镜采用优质的无限远光学系统，配备长工作距离平场平场消色差物镜. DMM-11000正置金相显微镜可广泛应用于研究金属的显微组织，能在明场、偏光、微分干涉下进行观察和摄影，配备专用软件，更可同步进行测量分析。可供研究单位、冶金、机械制造工厂以及高等工业院校进行金属学与热处理、金属物理学、炼钢与铸造过程等金相试验研究之用。DMM-1100正置金相显微镜，选用优质的光学元件，配有超大视场目镜、落射照明器、平场无限远长工作距离物镜，可选用微分干涉（DIC）观测、获得高清晰的图像，使图像衬度更好，具有较强的浮雕感。是针对半导体晶圆检测、太阳能硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的，作为高级工业金相显微镜使用。可进行明场观察、落射偏光、透射观察、DIC观察，广泛用于工厂、研究机构、高等院校对太阳能电池硅片、半导体晶圆检测、电路基板、FPD、精密模具的检测分析。 二、DMM-1100C正置式电脑型微分干涉金相显微镜的技术参数规格技术参数目镜超大视野平场目镜WF10X(Φ22mm) WF15X(Φ16mm) WF20X(Φ12mm) 平场分划目镜10X/Φ20mm(0.10mm/格值)物镜无限远长距平场消色差物镜PL L 5X/0.12 WD:26mm无限远长距平场消色差物镜PL L 10X/0.25 WD:20mm无限远长距平场消色差物镜PL L 20X/0.40 WD:5mm无限远长距平场消色差物镜PL L40X/0.60 WD:3.98mm目镜筒铰链式，倾斜30度，分光比：或观察100% 摄影100%落射照明系统12V50W卤素灯，中心、亮度连续可调内置视场光栏、孔径光栏、(黄、蓝、绿、磨砂玻璃)滤色片转换装置，推拉式检偏器与起偏器透射照明系统阿贝聚光镜 NA.1.25 可上下升降 蓝滤色片和磨砂玻璃 集光器，卤素灯照明适用(内置视场光栏) 12V 30W 卤素灯,亮度可调载物台双层机械载物台，带刻度，台面尺寸：210mm*140mm移动范围：移动范围：横向（X）75mm，纵向（Y）50mm，配置玻璃载物板转换器五孔物镜转换器(内向式滚珠内定位)调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置偏光系统插入式检偏镜，起偏器可360°旋转DIC 观察系统可使用于5X、10X、20X仪器主体正置式透反射金相显微镜主机，先进无限远光路系统CK-300摄像系统1X摄影接口，标准C接口CK-300彩色数字摄像机: 最高分辨率：2048X1536，采用USB供电，功耗小，连接简单：USB2.0接口 图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定，所有摄像机均经过长时间测试 ,体积小，安装方便，采集方式:连续采集 三、系统的组成 1、正置微分干涉显微镜DMM-1100　　2、电脑适配镜　 3、300万像素彩色数字摄像器

OPTM显微分光膜厚仪R&D ！ QC ！ 植入设备！ 都可简单实现高精度测量！测量目标膜的绝对反射率，实现高精度膜厚和光学常数测试！ （分光干渉法）OPTM显微分光膜厚仪特 长　Features膜厚测量中必要的功能集中于头部通过显微分光高精度测量绝对反射率（多层膜厚、光学常数）1点只需不到1秒的高速tact实现了显微下广测量波长范围的光学系（紫外～近红外）通过区域传感器控制的安全构造搭载可私人定制测量顺序的强大功能即便是没有经验的人也可轻松解析光学常数各种私人定制对应（固定平台，有嵌入式测试头式样）测量项目　Measurement item绝对反射率测量膜厚解析光学常数解析（n：折射率、ｋ：消光系数）构成图式 样Specifications※ 上述式样是带有自动XY平台。※ release 时期 是OP-A1在2016年6月末、OP-A2、OP-A3预定2016年9月。＊ 膜厚范围是SiO2换算。

HTTS系列倾斜台 倾斜台用于对装载其上的光学元件实现一维或二维角度倾斜调整，我们可以提供不同尺寸和不同调节范围的产品供您选择。产品特点● 单轴/双轴倾斜调整● 精密细牙螺杆/微分头驱动● 拉簧复位，高稳定性● 台面和底面分布标准孔距的安装孔，便于安装和组合 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：+86571 8807 7926网址： /邮箱：

MJ33-DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工 程学、电子学等研究的理想仪器。MJ33-DIC微分干涉相衬显微镜 性能特点采用优良的无限远光学系统，可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。内置式可切换偏光观察装置，起偏器可360°旋转。微分干涉相衬观察时图像清晰，干涉色均匀，具有较强的浮雕感。MJ33 DIC 微分干涉相衬显微镜 标准配置项目规格/参数产品编码数量目镜大视野 WF10X(视场数Φ22mm)140100292物镜LMPlan5X/0.12 DIC 工作距离：18.2 mm140401781LMPlan10X/0.25DIC 工作距离：20.2 mm140401791LMPlan20X/0.35DIC 工作距离：6.0mm140401801PL L40X/0.60 工作距离：3.98 mm140400671目镜筒三目镜,倾斜30度,(内置检偏振片,可进行切换)1DIC 观察系统适用于 LMPlan5X/LMPlan10X/LMPlan20X DIC物镜140900011落射照明系统12v 50w,灯泡中心可调。含黄，绿，蓝，磨砂滤光片。内置视场光阑、孔径光阑、滤色片转换装置，推拉式检偏器与起偏器1起偏器偏振方向可调。1调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置1物镜转换器五孔(内向式滚珠内定位)1载物台双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围:75mmX50mm)1玻璃板97mm X 76 mm1透射照明系统阿贝聚光镜 NA=1.25 可上下升降1磨砂玻璃1蓝滤色片1集光器，卤素灯照明适用(内置视场光栏)。12v 30w 卤素灯，亮度可调，灯泡中心可调。1电源线1CCD接口标准1xC接口130600041内六角螺丝刀备用灯泡12v 50w，14150020112v 30w141500181保险丝250v 0.5A1

是一种多功能新型光学显微镜，采用优良的无限远光学系统，可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。可拆装机械式载物台，采用同轴无齿轮、齿条传动系统，使传动更平稳与安全。旋转摆入摆出式聚光系统，配置透射式微分干涉相衬装置，以实现透射微分干涉相衬等显微观察功能，模块化设计使功能置换十分方便。本仪器适用于对透明组织的显微观察，应用于科研院所、高等院校、医疗卫生、检验检疫、农牧乳业等部门。总放大倍数50X~400X聚光镜工作距离55mm，数值孔径0.30目镜平视场大视野目镜；视场：Ф22mm；目镜接口Ф30mm载物台移动范围77mm（纵向）X134.5mm（横向），移动尺可拆卸双目镜铰链双目，观察角度为45度，瞳距为53～75毫米调焦机构粗微动同轴调节，微动手轮格植：0.002毫米物镜微分干涉相衬物镜；明视场物镜；相衬物镜培养皿托板适配圆形培养皿Ф 87.5mm；可适配圆形培养皿Ф 68.5mm；转换器五孔转换器光源5W 白光（色温5000～5500K）LED照明器，输入电压3.9～4.0V

MMAS-19微分干涉相衬金相显微镜测量分析系统适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。MMAS-19系统配备了研润自主研发的MMAS测量分析系统以及MOS高端光学系统。一、技术特点：1、观察系统：大三通光学系统，30度倾斜，自由切换目视观察与电脑摄像，可100%进行透光摄影。大视野平场广角目镜，视场范围直径22mm。2、机械载物台：双层机械式载物台，尺寸210*140mm；移动范围63*50mm。3、落射照明系统：12V，50W卤素灯，亮度可调。良好的散热性设计。4、微分干涉相衬观察系统：微分干涉组件与适配的物镜校正好干涉平面高度。干涉色的变化可通过精密丝杆的旋转调节而变化。5、透射照明系统：内置12V30W卤素灯照明装置，集光镜中内置视场光栏。5、选配件：5.1分化目镜：10X（直径22mm），格值0.1mm/格；5.2无限远长距物镜：PLL50X/0.7（工作距离3.68）、PLL60X/0.7（工作距离2.08）、PLL80X/0.8（工作距离1.25）、PLL100X/0.85（干式、工作距离0.4）；5.3转换器：四孔5.4适配镜：0.5X、1X、0.5带0.1mm/格分化尺；5.5数码摄像机；5.6黄、绿滤色片；二、技术参数：目镜大视野 SWF10X(Φ22mm)物镜（长距）无限远平场消色差物镜LMPlan5X/0.12DIC，工作距离：15mm无限远平场消色差物镜LMPlan10X/0.3DIC，工作距离：10.5mm无限远平场消色差物镜LMPlan20X/0.40DIC，工作距离：4.5mm无限远平场消色差物镜PL L40X/0.60，工作距离：3.98mm放大倍数50~400X目镜筒倾斜30度,三目镜，双目镜组落射照明系统12V50W卤素灯,亮度和灯泡位置可调内置视场光栏、孔径光栏、黄绿蓝滤色片和磨砂玻璃转换装置，推拉式检偏器与起偏器透射照明系统12V30W卤素灯,亮度可调，蓝滤色片和磨砂玻璃阿贝聚光镜NA1.25可上下升降，集光镜中内置视场光栏干涉观察系统适用于LMPlan5X/LMPlan10X/LMPlan20X DIC物镜调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,粗动松紧可调，带锁紧和限位装置转换器五孔(内向式滚珠内定位)；载物台双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围:63mmX50mm)外形尺寸455*545*280配备系统主机+MMAS数据处理系统1套+MOS光学系统一套+电脑一套三、性能特点：1、采用优良的无限远光学系统，可提供出色的光学性能。2、紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。3、符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。4、内置式可切换偏光观察装置，起偏器可360°旋转。5、微分干涉相衬观察时图像清晰，干涉色均匀，具有较强的浮雕感。软件功能:MMAS金相显微测量分析系统的核心功能是根据金相图像进行级别评定。目前以具备400多个按国家及行业标准制作的专业功能模块。MMAS金相显微测量分析系统具备数十种图像处理功能、同时具备报告处理、几何测量、定倍打印、图像拼接等多种辅助功能。MMAS金相显微测量分析系统还可以定制图像共聚焦、三维光图等专业功能。MMAS金相显微测量分析系统是为从事金相检验的单位或个人专门开发的一套计算机软件系统，它的基本原理是：用视频采集卡或数码相机等硬件设备，采集到金相显微镜中的金相图片，再对该图片进行处理和分析，得到相关检验结果。1.自动评级：本软件以检验标准为依据，开发出了近百余个类别两百余种软件功能模块，用户可根据需要，选择检验项目，在本软件的帮助下，完成检验工作。2.新建报告：可按用户需求制作报告文档的录入界面、软件可自动生成电子报告文档，并提供报告的保存和打印功能。3.打开报告：打开并浏览已经保存的报告文件。4.几何测量：本软件提供了“直线”、“矩形”、“圆”、“多边形”、“角度”等多种测量工具及测量方法，可完成长度、面积、角度等测量工作。5.查看图库：用户可选择查看本软件收录的所有金相图谱，本软件金相图谱由用户提供原始资料，由我方录入。6.定倍打印：可一次装入多副图片，并可对其进行图像处理，设置说明文字和打印版面，进而生成一份适合各种行业特殊要求的报告文件。7.图像拼接：将采集到的不同视场图像拼接成一幅完整的图像。7.图像共聚焦：该功能模块的作用是：将拍摄对象相同、但焦距不同的几张照片，重合成一张清晰的照片。界面及重合效果.8.三维光图：

产品说明结构紧凑，布局合理，产品适用于手动角度调整有较高要求的领域；五轴手动角位台OMSDH05AA 超高精密位移台采用交叉滚子导轨，强度更高、负载能力更强、耐用性更好；配合我公司特有的精密磨削工艺及特殊装配工艺，能有效保证调整台的直线度、平直度等指标；具有各种行程和尺寸，产品非常丰富，采用标准安装孔位；精密微分头驱动，方便手动调节、灵敏度高； OMSDH05AA五维系列手动调整台，由直线移动台、弧摆台、垂直升降台及旋转台四种手动调整台选取五种自由组合搭建而成。是我公司开发的超高精密手动五维组合台，可提供多种规格以应对不同的使用场景及需求。五维系列手动组合调整台主体材料采用铝合金，表面阳极氧化处理 ，强度较高、耐磨性好、外形美观。ZYZ轴采用交叉滚子导轨，精密微分头驱动，负载能力强，耐用性能好。配合我公司特有的精密磨削工艺及特殊装配工艺，能有效保证调整台的直线度、平直度等指标。台面运行平稳可靠，灵敏度高，产品适用于手动角度调整有较高要求的领域，可实现五维调节。该系列调整台底面有安装孔，可直接用螺丝固定在各种光学平板、光学平台上面进行操作。

产品说明小行程三维手动平移台（XYZ方向）OMSDH03采用交叉滚柱导轨结构，负载能力强，耐磨性好，保证了产品的灵敏度等关键指标；主体材料采用铝合金，表面发黑处理，适合于光学实验等对于手动调节精度要求较高的领域使用；具有分厘卡驱动方式，每种产品分为左侧、右侧驱动，非常灵活方便,客户可根据需求选择；产品尺寸丰富，配套性好，交货期短，性价比高；顶部用于升降的是升降台OMHB系列产品，具有高精度、小型、平滑、高刚性的有限直线运动的特点； OMSDH03交叉滚柱导轨系列中带升降台三维手动平移台，主体材料采用铝合金，灵敏度高，外形尺寸小，使用交叉滚柱导轨，采用分厘卡或螺纹副驱动，该系列产品具有小于2um的灵敏度。平移台采用交叉滚柱导轨结构，承载能力更大，移动的稳定性和平稳性更好。采用微分头调节，可以直接读数，使用十分方便，是最广泛应用的平移台款式之一。底部有安装螺孔，可以直接连接其他台面，或者转接到安装底板上再固定于光学平台或平板上使用。产品顶部的升降台采用交叉滚子导轨位移结构，微分头驱动，具有高精度、小型、平滑、高刚性的有限直线运动的特点。标准产品材料是优质航空铝，如有特殊需要也可做不锈钢材质的平移台。