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数显微分头

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数显微分头相关的仪器

  • 瑞士丹青S_Screw Smart数显微分头,碳化钨测砧,直进式主轴,水平/垂直两用,直径为44mm表盘可旋转270 ° ,微调附件可选。
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  • 西格玛光机微分头 400-860-5168转4674
    微分头西格玛光机的微分头可按照调节类型分为蜗轮式粗微调微分头、折返式微分头和差动微分头三个系列。同时,西格玛光机还提供微分头的维修零件。 l 蜗轮式粗微调微分头(WGP) 可以在全行程(13mm)范围内进行粗调和微调操作的本公司独创产品。结构紧凑,方便装置的小型化,也可节省调整时间。l 折返式微分头(MDC) 与本公司手动平台的微分头的安装部分具有互换性的独创产品。将操作部分集约在某个单一方向,常用于组装设备或空间有限制的地方。操作性能好,可提高工作效率。l 差动微分头(SHSP、SHPA、SHPB、SHPT、SHPC) 具有最大行程为19mm的粗调和可以高分辨率调整的小型化差动微分头。由2重进给轴构成的差动机构,可以平滑地进行粗调和微调。
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  • NS系列精密手动平移台 产品特点● 精密线性滚珠导轨● 中心驱动/右侧驱动● 弹簧复位,消除轴向间隙● 兼容细牙螺杆/微分头/差动微分头多种驱动方式● 台面分布标准孔距的安装孔,便于安装和组合应用 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商,致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域,可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有:微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态(脉冲)激光波前畸变检测干涉仪(用于流场、波前等分析)、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器,量子级联激光器,微型光谱仪,光机械,Oceanoptics,Thorlabs 。。。热线电话: / 传真:+86571 8807 7926网址: /邮箱:
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  • HTL系列手动平移台 产品特点● 精密线性滚珠导轨● 位移调整采用微分头● 中心/左侧驱动● 弹簧复位,消除轴向间隙● 台面和底面分布标准孔距的安装孔,便于安装和组合 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商,致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域,可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有:微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态(脉冲)激光波前畸变检测干涉仪(用于流场、波前等分析)、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器,量子级联激光器,微型光谱仪,光机械,Oceanoptics,Thorlabs 。。。热线电话: / 传真:+86571 8807 7926网址: /邮箱:
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  • HTL系列手动平移台 产品特点● 精密线性滚珠导轨● 位移调整采用微分头● 中心/左侧驱动● 弹簧复位,消除轴向间隙● 台面和底面分布标准孔距的安装孔,便于安装和组合 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商,致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域,可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有:微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态(脉冲)激光波前畸变检测干涉仪(用于流场、波前等分析)、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器,量子级联激光器,微型光谱仪,光机械,Oceanoptics,Thorlabs 。。。热线电话: / 传真:+86571 8807 7926网址: /邮箱:
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  • OPTM显微分光膜厚仪 400-860-5168转1980
    OPTM显微分光膜厚仪R&D ! QC ! 植入设备! 都可简单实现高精度测量!测量目标膜的绝对反射率,实现高精度膜厚和光学常数测试! (分光干渉法)OPTM显微分光膜厚仪特 长 Features膜厚测量中必要的功能集中于头部通过显微分光高精度测量绝对反射率(多层膜厚、光学常数)1点只需不到1秒的高速tact实现了显微下广测量波长范围的光学系(紫外~近红外)通过区域传感器控制的安全构造搭载可私人定制测量顺序的强大功能即便是没有经验的人也可轻松解析光学常数各种私人定制对应(固定平台,有嵌入式测试头式样)测量项目 Measurement item绝对反射率测量膜厚解析光学常数解析(n:折射率、k:消光系数)构成图式 样Specifications※ 上述式样是带有自动XY平台。※ release 时期 是OP-A1在2016年6月末、OP-A2、OP-A3预定2016年9月。* 膜厚范围是SiO2换算。
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  • 是一种多功能新型光学显微镜,采用优良的无限远光学系统,可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。可拆装机械式载物台,采用同轴无齿轮、齿条传动系统,使传动更平稳与安全。旋转摆入摆出式聚光系统,配置透射式微分干涉相衬装置,以实现透射微分干涉相衬等显微观察功能,模块化设计使功能置换十分方便。本仪器适用于对透明组织的显微观察,应用于科研院所、高等院校、医疗卫生、检验检疫、农牧乳业等部门。总放大倍数50X~400X聚光镜工作距离55mm,数值孔径0.30目镜平视场大视野目镜;视场:Ф22mm;目镜接口Ф30mm载物台移动范围77mm(纵向)X134.5mm(横向),移动尺可拆卸双目镜铰链双目,观察角度为45度,瞳距为53~75毫米调焦机构粗微动同轴调节,微动手轮格植:0.002毫米物镜微分干涉相衬物镜;明视场物镜;相衬物镜培养皿托板适配圆形培养皿Ф 87.5mm;可适配圆形培养皿Ф 68.5mm;转换器五孔转换器光源5W 白光(色温5000~5500K)LED照明器,输入电压3.9~4.0V
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  • MF 系列多功能一体机是由菌落、抑菌圈成像系统、显微成像系统及图像分析软件构成的,有助于实现微生物常规实验的智能化:显微细胞观察和分析、自动菌落计数和筛选、抑菌圈测量和效价分析。新MF1是迅数科技推出的原MF系列的升级产品,适合基础教学使用。配置国产显微镜,可以满足显微观察和分析的一般使用要求。 显微图像分析 图像处理与编辑 内置27种图像处理方法,如自适应增强、彩色分量增强、图像平整、边缘锐化、滤波、边缘检测、形态学运算等,可显著提高显微观察效果,满足用户的特殊需求。文字和图形嵌入工具,为科研论文的写作提供帮助。 显微测量功能 可以精确测量颗粒的直径、角度、弧度、周长、面积,以及手动绘制的任意直线、弧线、曲线的长度等,并自动生成测量结果。 颗粒自动统计 具备大量统计功能,可对颗粒、细胞进行快速计数,如区域统计、直径分类统计、颜色识别统计、粘连分割、杂质剔除、鼠标点击统计等。 菌落计数 全封闭照明 采用全封闭、宽光带照明技术,符合人体工学的舷窗门设计,隔绝环境光的干扰,彻底消除杂散光在玻璃培养皿折射形成的光斑、光环现象,为精确活菌计数提供了必备的光影条件。 光源 采用长寿命、低功耗、环保型三色LED混合光,还原真实的菌落色泽,消除白光LED照明成像偏蓝的问题。内置254nm紫外灯,可解决菌落仪长期使用带来的污染问题,也能满足紫外诱变的需要。 一键智能模式 提供6种一键统计模块,可一键完成不同培养皿中菌落的精确分割和计数,使菌落统计简单化、便捷化。 复杂菌落计数 提供2种高级统计算法,可通过设置相关参数,实现菌落精确计数,适合复杂平皿的统计情况。 杂质剔除 微生物菌落计数过程中常存在杂质问题,如未经过滤的样本直接注入培养皿,培养基中存在不溶物、气泡、琼脂凝块等。可利用杂质与目标菌落在形状、颜色等方面的差异,实现菌落的准确统计。 数据管理 系统采用开放式的实验报告打印方式,即可将统计信息导出至EXCEL中,并根据行业需求,编辑报告格式。为保护实验数据的真实性和原始性,系统设置三种密码:程序启动密码、数据库密码和管理员密码。 抑菌圈测量 Szone 多模式测量技术 管碟扩散法要求抑菌圈圆而边缘清晰,但实验中仍会出现抑菌圈边缘不清晰、破裂等情况,迅数Szone 抑菌圈多模式测量技术,运用三种不同的高速算法,精确提取构成抑菌圈边缘的像素点,从而完成高精测量。 抗生素效价测定 符合中国药典2010版二剂量法、三剂量法及合并计算要求。高清晰成像、高精度数字测量保证了效价测定精度。重复性自检的相对误差小于0.01%;均匀性自检的相对误差小于0.05%;效价测量精度大于99.7%。 舒巴坦敏感&beta -内酰胺酶检验 抗生素残留问题成为影响乳制品安全的重要因素之一。为了测试牛奶中是否添加&beta -内酰胺酶,迅数提供了一款快速测量和智能判断软件,通过纯水验证、平行样本检测、平均值计算,智能判别&beta -内酰胺酶阳性或阴性。 主要功能与技术指标 一、菌落、抑菌圈数字成像 1、光源 1)可见光:高亮三色LED结构光 2)254nm紫外:用于腔体消毒、紫外诱变 2、光路与照明控制 1)全封闭暗箱:消除环境杂散光干扰 2)上光源:场景式360° 柔性无影光照明 3)下光源:晶锐悬浮式暗视野照明 4)上光、下光、双光,自由切换,光强可调 3、光电转换 1)标清工业定焦镜头 2)500万像素专业型CMOS相机二、菌落计数与筛选 1、基本菌落计数功能 1)平皿类型:倾注、涂布、膜滤 2)一键智能计数(6模式) 3)全皿菌落统计:菌落总数统计,并按25档尺寸分类显示 4)区域选择统计:可选择圆形、矩形、任意圈定区域进行统计 5)直径分类统计:设置直径范围,统计特定大小的菌落 6)鼠标点击统计:快速标记、添加菌落,适合培养皿边缘菌落的计数 7)菌落粘连分割:自动分割相互粘连的菌落,链状菌落由用户选择分割或不分割 2、高级菌落统计功能 1)动态调节统计 2)偏差预估统计 3)杂菌、杂质剔除 3、高级工具 1)网格清除:消除滤膜网格背景干扰 2)人工计数修正:添加或删除菌落 3)排除污染区域:鼠标勾勒任意污染区域,自动剔除污染区域的菌落数 4)人工粘连分割:手动分割多重粘连菌落 5)参数自动换算:培养皿直径、样本稀释度输入,实现自动换算 6)文字、图形标注 4、标定与测量 1)仪器标定:仪器自带标定、人工修正标定 2)一键式快速测量:一键测定大菌落,适合真菌、放线菌的单菌落分析 3)全皿自动测量:全皿菌落的等效直径、面积、长短径、周长、圆度分析 4)手动精确测量:长度、角度、弧度、面积、弧线、任意曲线三、抑菌圈测量与分析 1、Szone 抑菌圈多模式测量技术 1)自动检测:基于抑菌圈轮廓的精确边缘检测,适合边缘清晰、圆形抑菌圈 2)拟圆逼近:基于抑菌圈轮廓的圆形拟合逼近,适合边缘破裂、非标准圆形抑菌圈 3)人工检测:鼠标点击抑菌圈边缘上三点成圆,适合边缘模糊的抑菌圈 2、抗生素效价测定 1)一剂量法效价检测:适合美国药典 2)二剂量法、三剂量法及合并计算:适合中国药典2010版 3)重复性自检:相对误差&le 0.01%、重复测量精度 &le 0.002mm 4)均匀性自检:相对误差&le 0.05% 5)台间测量差异&le 0.2% 3、舒巴坦敏感&beta -内酰胺酶检验 1)纯水验证:根据(A)、(B)、(D)产生抑菌圈,D-C≧3, B-A≦3 ,判定系统成立 2)自动检测三个平行样本的(A)、(B)、(C)、(D)抑菌圈,并数据导入 3)自动计算平行试验平均值,智能判别结果的阴阳性。 4)无效报告自动预警四、数据库模块 1)数据存储、智能查询 2)数据导出:统计结果以Excel表导出 3)数据安全:操作者使用权限,数据修改权限设置五、显微细胞分析模块 1、显微成像 1)显微镜:国产显微镜 2)500万像素专业显微CMOS相机 3)分 辨 率:0.5-1.0微米 2、图像显示、转换 1)图像显示:实时动态观察,随时捕捉任意视野图像 2)图像观察:具有旋转、放大、缩小、镜像转换、局部观察功能 3)图像编辑:具有对图像任意区域剪切、复制、粘贴及文字输入等功能 3、显微图像处理 1)自适应增强:通过对原图像进行与其特征匹配的分辨增强处理,使图像更清晰,边缘更明显,以便进行图像细微结构的观察与识别。 2)图像调整:图像亮度、对比度、饱和度、RGB三色任意调节,灰度图、负相图的转换 3)图像补偿:通过线性补偿,对数补偿,贝尔补偿等多种数学方法对图像的失真部分进行补偿,使图像更加清晰。 4)图像锐化:通过增强图像的高频分量,使图像边缘变得更清晰。 5)图像平整:通过图像平整处理,使图像背景均匀。 6)图像滤波:高斯滤波、低通滤波、中值滤波等6种滤波方式有效提高图像清晰度。 7)边缘检测:两种检测方式、三种算子结合多种检测选项更精确地提取图像轮廓。 8)形态学处理:腐蚀、膨胀、开启、闭合等非线性数学形态学处理。 4、目标测量 1)标 定:具有对系统在线标定功能,实现精确测量(系统内置默认标定值) 2)测量功能:对颗粒直径、长度、弧度、角度、任意曲线、面积等的在线测量 5、颗粒统计 1)自动统计:自动颗粒计数,并显示每个颗粒的面积、周长、直径、圆度等形态参数 2)区域统计:可选择长方形、圆形、伞形等任意形状区域进行统计 3)直径分类统计:设置直径范围,统计特定大小的颗粒 4)颜色识别统计:根据色度、亮度、饱和度筛选特定颗粒 5)鼠标点击统计:鼠标点击添加或删除颗粒,方便、快捷 6)粘连分割处理:根据用户需求可自动或手动分割相互粘连的颗粒 7)多种统计算法:采用多种分割算法,适合不同背景的颗粒统计 8)多样本统计:对多张显微图像的综合统计 9)参数自动换算:根据统计区域面积、样本稀释度,实现自动换算 6、绘图与标注 1)绘图:对打开的图像可根据需要,绘制直线、矩形、圆形、以及任意曲线 2)文字编辑:对打开的图像进行文字编辑 3)标注:可方便的进行直线和角度的标注六、仪器规格与配置 1)MF1多功能一体机主机 2)显微镜电子目镜(500万像素CMOS) 3)菌落分析软件、自动抑菌圈测量软件、抗生素效价测定软件、舒巴坦敏感&beta -内酰胺酶检验软件、显微分析软件 4)联想商务液晶电脑
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  • 一、微分干涉金相显微镜仪器的主要用途和特点DMM-1200微分干涉金相显微镜(DIC)采用优质的无限远光学系统,微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置,具有图像立体感且清晰、造型美观,操作方便等特点,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器,可选用微分干涉(DIC)观测、获得高清晰的图像,使图像衬度更好,是针对半导体晶圆检测、太阳能硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的,作为高级工业金相显微镜使用 可进行明场观察、落射偏光、DIC观察,广泛用于工厂、研究机构、高等院校对太阳能电池硅片、半导体晶圆检测、电路基板、FPD、精密模具的检测分析。DMM-1200C电脑型微分干涉金相显微镜是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像,又可以在计算机上很方便地适时观察金相图像,并可随时拍摄记录金相图片,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以保存或打印出高像素金相照片。 二、大平台微分干涉金相显微镜仪器的主要技术指标金相显微镜组件及规格光学系统无穷远光学系统主机DMM-1200倒置金相显微镜主机目镜大视野WF10X(Φ22mm)WF15X(Φ16mm)WF20X(Φ12mm)平场分划10X/Φ20mm(0.10mm/格值)物镜无限远长工作距离平场消色差放大倍数/数值孔径有效工作距离PL5X/0.1226.1PLL10X/0.2520.2PLL20X/0.48.8PLL40X/0.63.98目镜筒三目镜铰链式,倾斜30度,分光比:观察80% 摄影20%;或观察100% 摄影100%滤片组全系列滤色片物镜转换器五孔物镜转换器调焦机构同轴粗微动调焦机构,带锁紧和限位装置, 调焦范围30mm 微动格值0.8μm载物台台面尺寸:280mm*270mm 移动范围:横向(X)204mm,纵向(Y)204mm照明系统落射照明12V/50W,卤素灯,中心、亮度连续可调微分干涉可使用于5X、10X、20X 三、大平台微分干涉金相显微镜系统的组成1、金相显微镜DMM-1200           2、CCD适配镜3、彩色数字摄像机(CCD)4、计算机(选购) 四、大平台微分干涉金相显微镜选购部分1.金相分析软件 五 、大平台微分干涉金相显微镜同类仪器的比较1、DMM-1200C电脑微分干涉显微镜2、DMM-1200D数码微分干涉显微镜 六、大平台微分干涉金相显微镜相关设备金相设备 金相抛光机 金相切割机 金相砂纸 金相切割片 金相镶嵌机 金相预磨机 显微硬度计 端淬试验机
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  • 扫描型近接场光学显微分光系统NFS series▼概要日本分光株式会社生产的可以分光测定的扫描型接近场光学显微镜NFS系列,世界一流。这台装置能10-100nm左右的空间分解力进行显微分光测量。能在微小的领域观测光谱强度变化以及波峰变换可更好的对物质特性描述。◆特征?世界第一台一体化扫描型近接场光学分光显微镜?数十~百nm高空间分辨率测量显微分光。?使用日本分光制的探头可准确使用特定大小的近接场光。?可同时测量样品表面微小的凹凸形状。和原子力显微镜(AFM)类似的用法。? illumination(透过)、collection、 illumination-collection测量方式。◆近接場光学显微分光装置对于微小领域的表征方法有利用电子线的电子显微镜形态观察、 X线微分析仪,扫描型探头电镜表面形状观察。这些分析方法可以得到高空间分辨率的画像、但是得不到样品表面的化学信息。另外,虽然、显微FT/IR分光、显微光激发光分光、显微拉曼光等可以得到表面化学信息,但是因为空间分辨率有限度、所得到的信息也停留在微米量级。原因是光的衍射是有限度的不能超过使用波长范围。◆新开发光纤制作技术NFS系列光纤前端约为数十~百nm开口的探头用于近接场光产生或者近接场光集光。日本分光的开口技术以神奈川科学技术科学院(KAST)的研究成果基础上开发的、特定尺寸的开口,再现性好。开口的尺寸用电子显微镜高度的控制。◆NFS series产品种类丰富主要有以下种类。重点介绍近接场显微红外分光系统。别的型号详细请咨询。?室温型/低温型 近接场光照射装置(NFS-220/320)?室温型/低温型近接场用扫描装置(NFS-210/310)?室温型/低温型 近接场蛍光/光激发光分光装置(NFS-230/330)?近接场显微镜近红外分光装置(NFS-220FT/320FT)?近接场显微红外分光装置(NFIR-200/250)?近接场纳米碳素管评价装置(NFS-230C/330C、特殊定制)?近接场时间分解分光装置(NFS-230TR/330TR、特殊定制)◆NFIR-200/250 近接场显微红外分光系统近接场显微红外分光装置红外分光法代表的振动分光法、不论有机?无机应用于各种分析领域。但是,现有的红外显微分光系统空间分辨率受光的衍射现象的影响,限度为10μm左右。近接场分光法、可以超过这个衍射限度、可见光区域应用于从亚微细米到纳米规模的光分析,红外区域由于光纤探头吸收的原因不能进行分光分析。红外领域通过采用漫反射型近接场光学系统、实现了从近红外到中红外领域的亚微细米空间分辨率的分光测量。通过照射到探头前端的红外光产生红外近接场光、检测近接场光和样品共鸣漫反射结果信号、测量红外近接场光谱。空间分辨率不受红外波长影响、由探头前端产生近接场光的实际尺寸决定、大约探头前端径大小。因此,红外分广发可用于亚微细米以下领域测量。▼特征和系统略图?漫反射型近接场光学装置可除去光纤探头吸收的影响。?环保配置。?NFIR-250的FT部装有大型测量用的样品室,可对应一般的红外测量。▼NFIR-200/250规格机种NFIR-200/250测量方式杂散光测量方式、光学调整方式、探头位置调整方式检测器设置数量:最大2种标准检测器:液体氮气冷却MCT检测器选项检测器:液体氮气冷却InSb检测器切换方式:电动样品台范围竖×横20×20μm、高16μm傅里叶变换型分光系统测量波长范围:4000~1000 cm-1 (MCT使用时) 5000~2000 cm-1 (InSb使用时)分辨率:400px-1干渉計:45°入射迈克尔逊干渉计分速器:Ge/KBr微型样品室装备(NFIR-250)控制用PCOS:Windows XP、通信:16bit AD/DA板、软件反馈信号显示器及映射测量软件 3次元表示软件、探头观察用CCD画像表示软件映射解析软件、光谱解析软件尺寸?重量W1000 x D900 x H1300 mm、280kg(NFIR-200、含防振台) W1600 x D750 x H1300 mm、300kg(NFIR-250、含防振台)电源AC100V±10% 250VA(本体)、150VA(FT)、100VA(PC)其他必要的工具防振台用空气源:氮气或空气源 0.3~0.8MPa
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  • 微分干涉金相显微镜WMJ-9760 一.产品简介高品质的部件设计,简单灵活的配置组合,强大的金相检测功能—WMJ-9760是观测大尺寸或较厚样品的推荐选择。性能特点 所有光学部件均经过特殊处理并镀有特殊膜层灵活紧凑的结构,适应各种环境下的显微观察长工作距专业金相物镜,高倍物镜采用半复消技术各种观察方法下都能得到清晰锐利与高对比度的显微图像 独立的金相检测系统 不同于传统的金相显微镜,无陌WMJ-9760选择了紧凑的结构设计,外观小巧轻便,操作更为灵活。B5大平板底座以及粗微调同轴托架,克服了常规金相显微镜无法观察较厚样品的限制。集成了明场、暗场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能,可根据实际应用进行选择。大型设备的视觉系统集成多种观察方式及专业的金相显微技术,灵活精巧的设计使WMJ-9760成为可安装于大型机械设备中的专业金相显微镜。可作为大尺寸LCD面板或PCD线路板生产设备或检测设备的视觉系统。通过摄影摄像接口,可将图像输出至监视器或计算机,方便快速检测。 不同的照明器可供选择明场反射照明器:带可变视场光阑和可变孔径光阑,中心可调,带斜照明机构。明暗场反射照明器:带可变视场光阑和可变孔径光阑,中心可调。带明暗场切换机构。光源采用外置式15V150W卤素灯箱,并用光纤连接。 宽枧场铰链式三目观察筒正像铰链三目观察筒,所成像的方位与物体实际方位一致,物体移动的方向跟像面移动的方向相同,便于观察与操作。铰链式三目观察筒,采用紧凑型倒像光路设计,结构轻巧,便于安装与减轻机体重量。 超长工作距金相物镜全新设计的超长工作距物镜,采用半复消色差技术,并使用多层宽带镀膜技术,使整个视场内的成像清晰锐利,色彩自然,明亮舒适。超长的工作距离设计,50X的有效工作距离达到7.8mm, 100X物镜也达到了2.1 mm,大幅拓展了应用领域,5X、 10X、 20X 物镜的设计,通过精选材料及优化设计,使DIC微分干涉观察的性能非常出色。同步设计了全套明暗场两用物镜,暗场照明亮度比传统暗场物镜提高2倍以上。 摄影摄像附件在三目观察筒上,可以配接摄影摄像装置,将双目观察到的图像输出至监视器或计算机,进行图像分析、处理、保存或传送。使用专用的C接口与中继镜,可以和数码相机联接,快速进行拍照,并获取图像。 偏光及DIC附件将起偏镜及检偏镜插入照明器的插槽内, 即可进行简易偏光观察。在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度。 多种干涉滤色片可选LBD日光型滤色片,能将光线过滤成自然日光的颜色,图像背景柔和亮白。根据具体工业检测的需要,可以选择其他颜色的滤光片来对光线光谱进行调节,以获得更好的图像效果。 二.参数配置型号WMJ-9760WMJ-9760BD可选观察方法明场/斜照明/偏振光/DIC明场/暗场/偏振光/DIC光学系统无限远色差校正光学系统目镜PL10X/22平场高眼点目镜物镜OLIP无限远长工作距明场金相物镜OLIPBD无限远长工作距明暗场金相物镜观察筒30°铰链式三目,分光比,双目:三目=100:0或50:50,单边视度可调±屈光度,瞳距调节范围54-75mm正像观察筒,25°铰链式三目,分光比,双目:三目=100:0或0:100,单边视度可调±5屈光度,瞳距调节范围54mm-75mm转换器5孔内倾式明场转换器,带DIC插槽5孔内倾式明暗场转换器,带DIC插槽底座B5大平板底座,底座320mmX260mmX16mm,立柱高280mm,直径32mm显微镜镜体粗微调同轴,粗调行程32mm,微调精度0.002mm,,带防止下滑的松紧调节装置反射照明器系统带可变视场光阑与孔径光阑,均可调中心;带滤色片插槽与偏光装置插槽;带斜照明切换拉杆带可变视场光阑与孔径光阑,均可调中心;带滤色片插槽与偏光装置插槽;带明暗场切换装置光源15V150W卤素灯冷光源电源箱,光强连续可调;单光纤软管(550mm/1000mm/1500mm)摄影摄像附件1/2CTV,1xCTV,均可调焦,数码相机及中继镜偏光及DIC附件起偏镜,固定式/360°旋转检偏镜,DIC插板
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  • XJL-20BDDIC型倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统,可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。模块化的功能设计,可以方便升级系统,实现偏振观察、暗视场观察、明视场微分干涉观察等功能。照明系统充分考虑散热性与安全性,可快速更换灯泡。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。可用于半导体硅晶片、LCD基板、固体粉未及其它工业试样的显微观察,是材料学、精密电子工程学等领域研究的理想仪器。
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  • XDS-200C倒置显微分析系统 一、倒置显微分析系统用途特点: 倒置显微分析系统 XDS-200C是倒置显微镜和彩色数字摄像机组成。XDS-200C倒置生物显微镜是一种载物台在物镜上面的生物显微镜,由于配有长工作距离的聚光镜,长工作距离平场消色差物镜及相衬装置,故可使用各种培养皿和培养瓶,特别适用于对活体细胞和组织,流质,沉淀物等进行显微研究,该仪器可供科研,高校,医疗,防疫,农牧等部门使用。 倒置显微分析系统 XDS-200C既可人工观察显微图像,又可以在计算机显示器上很方便地适时观察显微图像,并可随时捕捉记录观察图片,从而对观察图像进行分析,处理等,还可以保存或打印出高像素图像照片。二、仪器主要技术参数:名 称参数规格观察筒转轴式三目观察筒,30°倾斜,100%通光摄影。瞳距调节范围:55-75mm目镜大视野目镜WF10X(Ф20mm)长工作距离平场消色差物镜平场物镜PLL10X/0.25工作距离:8.8mmPLL20X/0.40工作距离:4.8mmPLL40X/0.60工作距离:3.5mm平场相衬物镜(PHP2)PLL10X/0.25 PHP2工作距离:8.8mm转换器四孔物镜转换器(滚珠内定位) 调焦系统粗微动同轴调焦机构,微动格值:0.002毫米,左调焦带锁紧装置,右调焦带限位装置.载物台双层机械载物台,尺寸:200mm x 140mm;移动范围:75mm x30mm载物板⑴Ф68mm载物板⑵尺寸:77.5X34mm载物板,可配圆形培养皿尺寸:Ф68.5mm聚光镜插板式相衬聚光镜,工作距离30mm相衬装置对中目镜10X插板式相衬环板透射照明系统6V20W 卤素灯(亮度可调)蓝色、磨砂玻璃滤色片电脑摄像系统CK-5001X标准接口,CK-500彩色摄像机: 最高分辨率:2560×1920,采用5V供电,功耗小,连接简单:USB接口, 图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定,所有摄像机均经过长时间测试 ,体积小,安装方便,采集方式:连续采集,图像大小可调,增益调节,曝光时间调整,增益调。显微软件可对图像中的点、线、圆、圆弧、角度、矩形及任何图形几何参数的测量。测量工具使用方便直观。是显微图像测量与分析的有效工具。节,亮度调节等。可在图像上添加文字、放置比例尺等。 仪器尺寸仪器尺寸:43×20×44(cm) 包装尺寸:30×38×50(cm) 重量净重:9.5kg,毛重:12kg三、仪器装箱单:序号名 称数 量单 位附 注1倒置生物显微镜主机1台XDS-200C2三目镜筒1套310X目镜1对410X长距平场消色差物镜1个520X长距平场消色差物镜1个640X长距平场消色差物镜1个7对中望远镜1个 810X相衬物镜1个PHP29相衬环板1个10聚光镜1个11载物板2块12滤色片2片13防尘罩1个14卤素灯灯泡1个6v20w15电源线1根16彩色数字摄像机CK-5001个17摄像机接口1个18USB数据线1根19测微尺1块0.01mm20保修卡1份21出厂合格证1份22使用说明书1份
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  • 品牌:卡尔蔡司型号:Axio Imager M2m制造商:德国卡尔蔡司公司经销商:北京普瑞赛司仪器有限公司产地:德国 ZEISS一百多年的骄人历史从发明世界上首台显微镜开始。一个世纪后的今天,ZEISS仍致力于为用户研发最具创造力的显微镜系列产品及其解决方案。通过我们不断改进的显微分析技术,我们正在为全世界的用户开拓一条探索微观分析世界的道路。 总体描述蔡司最新推出的裂变径迹显微分析系统,实现智能自动化操作,对两个样本对应区域进行自动镜像精准定位、对比统计;能自动完成矿物颗粒分析、径迹数目统计、测量径迹与C轴角度、测量Dpar、Dper值,依据自发径迹密度和诱发径迹密度计算裂变径迹表观年龄。系统还可为客户提供岩矿分析等其他研究工作。 产品特点 ◆最佳优化的操作理念 ◆拥有更高衬度和更高分辨率的新型光学系统◆全自动Z轴自动聚焦模块 ◆保证最大稳定性和免振动工作的创新设计 ◆统计辐照单矿物的裂变径迹数,分析计算矿物表观年龄,并模拟地质体热演化历史 技术参数硬件光学系统:ICCS光学系统1、 专业分析物镜:5X、10X、20X、50X、100X2、 自动扫描台:行程130X85mm,步距为 0.1μm,重复精度小于1.0μm3、 变倍转换器:1.25X,1.6X4、 图像采集:彩色数码冷CCD:500万像素,信实时采集,同步捕捉图像,传输速度快,同时显示。5、 分析系统:自动识别待测对象,自动定位及查找功能,自动完成颗粒数目统计、测量径迹与C轴角度、能测量Dpar、Dper值等。所有的测试及结果(图片、表格、报告)均自动保存至数据库,可随时调用并返回当时的测量参数,保证可追溯测定结果;用途矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变引起晶格的损伤产生径迹,测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度,可以确定矿物的年龄。此法用样量少,可用样品种类多,测年范围可由数年到几十亿年,特别是在5万~100MA年期间内,测年效果较其他方法为好,是第四纪地质年代测定的重要方法之一。 组成蔡司全自动科研级显微镜蔡司Axio vision强大分析软件 自动扫描平台 Relocation功能自动物镜转换器 ManualMeasure功能自动模块盒 AutoMeasure功能自动光强控制管理 应用矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变引起晶格的损伤产生径迹,测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度,可以确定矿物的年龄。此法用样量少,可用样品种类多,测年范围可由数年到几十亿年,特别是在5万~100MA年期间内,测年效果较其他方法为好,是第四纪地质年代测定的重要方法之一。其中,统计受热中子照射的磷灰石、锆石等单矿物的裂变径迹数,可计算地质体的退火年龄;测量自发裂变径迹长度,统计裂变径迹长度分布,可计算地质体热演化历史;并用于观察透明或不透明矿物、岩石、包裹体的结构等岩相学特征。 原理1.理论依据根据矿物中 U、Th放射性同位素自发裂变碎片的径迹而计时的一种方法。径迹数目与矿物年龄成正比。矿物中能产生裂变径迹的重核有 238U、235U和232Th。它们的自发裂变半衰期分别是 1.01×1016年、3.5×1017年和大于1021年。所以天然样品中238U的裂径迹约占99.97%以上,而235U和232Th的裂变径迹在年龄测定中可忽略不计。 若假定自发裂变径迹在矿物中的分布是均匀的,则单位体积内的裂变径迹数目(C)与U含量、矿物存在时间及U的自发裂变常数成如下关系裂变径迹法式中238U为每立方厘米样品中238U的原子数,λf为238U的自发裂变常数(6.85×10-17/年),λ为U的总衰变常数,t为矿物年龄。 自然状态的裂变径迹非常细小。通过选择适当的化学试剂在一定条件下对矿物磨光面进行腐蚀处理(蚀刻),蚀刻后的径迹,在显微镜下可放大到200~1000倍。若自发裂变径迹和诱发裂变径迹(即通过热中子照射产生的径迹)的蚀刻条件完全相同,则裂变径迹法计算年龄的公式为裂变径迹法式中ρs为在蚀刻表面观察到的径迹密度,ρi为蚀刻后看到的诱发裂变径迹密度,σ 为235U的热中子诱发裂变截面(582×10-24平方厘米),Φ为热中子剂量,I=238U/235U=137.88。 应用此公式计算年龄时须满足下列要求:①自发裂变的半衰期是恒定的;②238U/235U比值是一个常数 ③所有的自发裂变径迹是238U产生的,而所有的诱发裂变径迹都是235U经热中子照射诱发产生的 ④自发裂变径迹和诱发裂变径迹的蚀刻条件相同;⑤样品形成以后保持封闭体系。 裂变径迹法测定年龄的样品适应性广,只要样品中产生的自发裂变径迹密度大于1~10/平方厘米,均可选用。如磷灰石、榍石、锆石、白云母等。 2. 解决方案(1)ZEISS显微镜所配的AxioVision软件具有强大的图像拍摄和处理功能,可完成裂变径迹显微镜镜下图片拍摄。(2)AxioVision软件模块中的FissionTrack模块,专为裂变径迹应用开发,可满足裂变径迹测量的各种需求。该模块包含三大功能:针对互为镜像样品定位和查找问题,Relocation功能可以实现自动化的样品镜像定位。针对裂变径迹长度、角度等数据的测量问题,ManualMeasure功能实现简单高效的在线测量功能,并自动将测量数据按照指定格式,导出为EXCEL表格。针对裂变径迹颗粒数量、面积等数据的统计问题,AutoMeasure功能实现自动化的统计,包含数十项可选的颗粒数据描述。
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  • IMEXT FTAFission Track Analysis System裂变径迹显微分析系统IMEXT FTA产品介绍IMEXT FTA裂变径迹分析系统Fission Track Analysis System1、 裂变径迹技术原理 Fission Track Principle矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变引起晶格的损伤产生径迹,测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度,可以确定矿物的年龄。此法用样量少,可用样品种类多,测年范围可由数年到几十亿年,特别是在5万~100MA年期间内,测年效果较其他方法为好,是第四纪地质年代测定的重要方法之一。裂变径迹显微分析系统 IMEXT FTA原理示意裂变径迹显微分析系统 IMEXT FTA样品示意图2、 高整合的自动分析系统 Automatic Analysis System系统高度集成智能显微镜、摄像机、电动扫描台等硬件设备;项目化管理、流程化操作;主要用于矿物裂变径迹分析。系统所配软件包,专为裂变径迹应用开发,可完成裂变径迹显微镜镜下互为镜像样品颗粒定位和查找、图片拍摄;可满足裂变径迹测量的各种需求。设备图:控制软件主界面图:测量分析流程:1) 新建样品项目,开始裂变径迹分析;或者打开已有样品项目,继续分析;2) 样品全貌图扫描;3) 样品光薄片/云母片定位;4) 样品观察方式配置;样品拍照模式配置;5) 目标颗粒选择;6) 目标颗粒Grain/Mice自动扫描;7) 目标颗粒裂变径迹参数测量;8) 裂变径迹数据统计;9) 专用裂变径迹分析报告;3、 样品全貌图扫描 Sample MAP 系统支持低倍物镜下快速扫描样品薄片,生成样品全貌图;包含光薄片Grain、云母片Mice、中间参考片。作为后续操作粗略定位薄片的参考。4、 样品定位&切换 Relocation & SWAP 系统支持样品粗定位和精细定位两种模式;确保500X、1000X下能准确观察目标颗粒。Relocation模块满足了对互为镜像云母片上的裂变径迹观察。在利用光学显微镜对云母片损伤产生径迹进行观察时,需要对2片互为镜像的光薄片/云母片上径迹进行对照分析,需要进行来回切换观察。该模块实现了自动化的寻找镜像及定位,让研究人员只需专注于径迹的观察。针对大量裂变径迹的观察,该模块提供了记录功能,可以记录下样品所有目标颗粒在光薄片和云母片上的位置,对目标颗粒进行重定位,方便下次观察和分析。5、 智能显微镜控制 Digtal Microscope Control 系统支持智能显微镜控制,支持透射/反射、明场/偏光等观察方式,与样品位置Grain/Mice随动,支持智能光强管理,支持不同倍率物镜中心位置矫正补偿。6、 目标颗粒选择 Object Grain Select 系统支持多种方式寻找和选择目标颗粒,用于后续拍照和测量。7、 自动目标颗粒扫描Auto Scanning/Snap支持单个颗粒断层扫描、保存Z-stack图像序列,支持单颗粒超景深照片合成;支持多颗粒批量扫描,提高工作效率。扫描过程照片自动抓拍、自动保存,进度状态实时可见;照片信息存入数据库,方便查询;提供图片浏览功能,可以实现颗粒定位回溯、重新拍照等功能;8、 径迹参数测量 Track Measurement支持多种径迹参数的自动测量和人工测量,包含径迹数量、面积、最大,最小卡规直径及其比率等颗粒参数,且可解决裂变径迹坐标、空间长度、角度、径迹数量、晶粒面积及径迹密度的数据测量问题。9、 径迹统计&报告 Statistics&Report支持多种径迹参数的标准统计,包含最大值、最小值、平均值、标准差等。10、 数字薄片 Digital Slice支持按照样品项目管理,扫描、存储薄片照片和径迹测量数据。从而实现薄片&目标颗粒的数字化,方便长期保存和后期分析,以及数据追溯。11、 用心服务放心使用全面的服务在于您的需要不只是一件产品,而在于您的企业或科研发展的同时,有我们对您的要求和需要一呼即应。良好长久的合作、使您领先便是我们成功之处。系统自问世以来,深受广大学及研究所等用户的信赖和支持;一旦获取,终生免费升级。
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  • RX-MX6R各项操作根据人机工程学设计,极大限度减轻操作者的使用疲劳。其模块化的部件设计,可对系统功能进行自由组合。涵盖明场、暗场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能,可根据实际应用,进行功能选择。无限远铰链三通观察头ETTR 型正像铰链三目观察头,所成像的方位与物体实际方位一致,物体移动的方向跟像面移动的方向相同,便于使用者观察与操作。长工作距金相物镜全新设计的长工作距物镜,采用半复消色差技术,其使用的多层宽带镀膜技术,使整个视场内的成像清晰锐利,色彩自然,明亮舒适。长工作距设计,50X 物镜的有效工作距离 7.9mm,100X 物镜的有效工作距离也达到了 2.1mm,更有20X 超长工作距金相物镜,大幅拓展了 MX 机型的应用领域。同步设计了全套明暗场两用物镜,适用于 MX6R 机型,暗场照明亮度比传统暗场物镜提高 2 倍以上。高性能物镜转换器MX 机型的转换器采用精密轴承设计,转动手感轻巧舒适,重复定位精度高,物镜转换后的同心度也得到较好的控制,根据 MX 系列机型配置及功能的不同,可以选择不同型号的转换器。明暗场反射照明器带可变孔径光阑,视场光阑,中心均可调 ;带明暗场照明切换装置,适用于MX6R/MX6RT 机型。丰富的观察方式,满足您的检测需求明场观察:远心柯拉反射照明系统,配以全新设计的无限远长工作距平场消色差金相物镜,从低倍到高倍,都能得到清晰、平坦、明亮的高画质显微图像。暗场观察:将暗场照明拉杆拉到指定位置,即可使用暗场功能,可以观察物体表面的各种划痕、杂质点及其他细微缺陷。内置衰减片,减少明暗场切换时光线剧烈变换对眼睛的刺激。简易偏光观察:将起偏镜及检偏镜插板插入照明器的指定位置,即可进行简易偏光观察。检偏镜可分为固定式和 360°旋转式两种。DIC 微分干涉观察:在正交偏光的基础上 , 插入 DIC 棱镜,即可进行 DIC 微分干涉观察。使用 DIC 技术 , 可以使样品表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,极大的提高图像的对比度。可匹配带 DIC 功能的物镜,使整个视场的干涉色一致,微分干涉效果非常出色 , 高倍物镜 DIC 效果也较好。种干涉滤色片可选使用 12V100W 卤素灯时照明时,可以选择 LBD 日光型滤色片,能将光线过滤成自然日光的颜色,图像背景柔和亮白。根据具体工业检测的需要,可以选择其他颜色的滤光片来对光线光谱进行调节,以获得好的图像效果。
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  • 传统原位载台仅能够提供样品表面在拉伸或压缩情况下结构的变化,而搭载在X射线显微分析系统的原位拉伸载台则能够提供样品内部结构及物理性能变化的过程,通过结合X射线显微分析系统和具备原位加热或冷冻耦合功能的拉伸压缩系统则能够提供样品在力场及温度场条件下独特的三维原位分析能力。该系列原位载台系统专为X射线显微分析系统开发,能够提供拉伸及压缩功能,同时覆盖几N到20kN载荷范围,同时可以提供100Nm的扭转功能。低载荷载台应用领域覆盖纸张/包装材料、纤维材料、泡沫高分子材料、生物材料,高载荷载台则可满足金属材料、人工关节、汽车及引擎叶片等各类坚硬材料分析。在石油化工领域则可以用来分析岩心样品,我们的用户还进行了液体环境下岩心样品分析。该系列载台依旧可以提供3点及4点弯曲夹具,以及压缩夹具选择。通过采用基于Windows操作系统的软件进行精准控制,载台与控制电脑通过USB或RS-232接口进行连接。同时也可以提供单独加热或冷冻载台,该类载台可以用来分析冷冻样品或进行原位变温实验。l 加载范围 20kN/0.1KNml 拉伸,压缩,扭力l 加热&冷却l 液体&气体氛围腔室应用领域:低载荷载台应用领域覆盖纸张/包装材料、纤维材料、泡沫高分子材料、生物材料,高载荷载台则可满足金属材料、人工关节、汽车及引擎叶片等各类坚硬材料分析。在石油化工领域则可以用来分析岩心样品,我们的用户还进行了液体环境下岩心样品分析。CT5000原位载台系统在地质材料中的应用作为UGCT联合创始人的Veerle Cnudde教授领导的地质材料多尺度孔隙结构分析课题(PProGRess),其研究组利用该技术对地质材料中多尺度孔隙结构变化过程的研究来进行岩石在地质运动及成藏反应中显微结构的变化及演进过程分析。UGCT实验室的X射线显微分析系统搭载了Deben CT5000原位拉伸/压缩载台,得益于该载台能够让Veerle Cnudde教授的实验方案得以实施。咨询Veerle Cnudde教授为什么选择Deben的CT5000原位载台,其回答到:“CT5000系列原位X射线载台系统作为为数不多的原位载台系统,其强大的适配性能够完美满足我们不同类型的实验需求,目前该载台能够实现在高载荷条件下岩石不会炸裂开,结合提供多种定制化夹具设计能力,则能够提供满足不同尺寸及不同拉伸距离所需的样品夹具,这是也目前为什么UGCT实验室两台X射线显微分析系统均配备CT5000系列原位载台系统的原因。”CT20kN开放式拉伸载台系统在奥本大学安装测试成功美国阿拉巴马州奥本大学安装了Deben开放式原位拉伸载台,该载台可以实现拉伸、压缩和扭转测试,能够施加高达20kN的力,专为同步加速器和X射线显微成像系统设计的,该大学将开放式原位拉伸载台与其Pinnacle型号PXS-500/90 CT系统集成在一起,并已经计划在新的开放框架系统上运行一系列原位载荷测试。CT5000原位载台系统在均质材料研究中的应用Fredrik Forsberg博士是瑞典吕勒奥理工大学工程科学与数学系的副高级讲师,他在X射线显微成像实验室的研究目标是开发新的方法和新的分析工具来帮助更好地了解异质材料以及它们在不同环境和不同空间尺度下的物理行为。Forsberg博士描述了他最近使用这种实验装置的一个项目:“我们非常自豪的分享最近的一项对微尺度雪晶体的3D定量原位成像研究,以及它们对压缩载荷测试的反应。这项研究相当具有挑战性,需要大量的仔细规划,但目前实验结果非常好。如果没有Deben公司CT5000TEC原位载台系统,这些测量将很难实现,因为它们需要精确、同时控制机械负载和温度(冷冻能力)。以前,我们主要使用自己构建的测试载台,但是这些都没有温度控制,同时使用Deben原位载台系统的另一个巨大好处是非常方便使用不同载荷传感器,这些载荷传感器可以根据材料强度和应用需求进行选择。此外,该软件界面易于使用,并得到蔡司Scout and Scan软件的支持,该软件用于控制型号为Versa的X射线显微镜。”
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  • MJ33-DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置,具有图像立体感且清晰、造型美观,操作方便等特点,是生物学、金属学、矿物学、精密工 程学、电子学等研究的理想仪器。MJ33-DIC微分干涉相衬显微镜 性能特点采用优良的无限远光学系统,可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。内置式可切换偏光观察装置,起偏器可360°旋转。微分干涉相衬观察时图像清晰,干涉色均匀,具有较强的浮雕感。MJ33 DIC 微分干涉相衬显微镜 标准配置项目规格/参数产品编码数量目镜大视野 WF10X(视场数Φ22mm)140100292物镜LMPlan5X/0.12 DIC 工作距离:18.2 mm140401781LMPlan10X/0.25DIC 工作距离:20.2 mm140401791LMPlan20X/0.35DIC 工作距离:6.0mm140401801PL L40X/0.60 工作距离:3.98 mm140400671目镜筒三目镜,倾斜30度,(内置检偏振片,可进行切换)1DIC 观察系统适用于 LMPlan5X/LMPlan10X/LMPlan20X DIC物镜140900011落射照明系统12v 50w,灯泡中心可调。含黄,绿,蓝,磨砂滤光片。内置视场光阑、孔径光阑、滤色片转换装置,推拉式检偏器与起偏器1起偏器偏振方向可调。1调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置1物镜转换器五孔(内向式滚珠内定位)1载物台双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围:75mmX50mm)1玻璃板97mm X 76 mm1透射照明系统阿贝聚光镜 NA=1.25 可上下升降1磨砂玻璃1蓝滤色片1集光器,卤素灯照明适用(内置视场光栏)。12v 30w 卤素灯,亮度可调,灯泡中心可调。1电源线1CCD接口标准1xC接口130600041内六角螺丝刀备用灯泡12v 50w,14150020112v 30w141500181保险丝250v 0.5A1
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  • 美国CRAIC 20/30 PV显微分光光度计,是CRAIC公司的新型号,集成了紫外-可见-近红外光谱仪、拉曼光谱仪、成像系统于一身,根据产品不同,可以做紫外-可见-近红外(200-2500nm)的光谱分析,还可以集成显微拉曼系统,同时科研级光谱仪和高分辨彩色数字成像系统都使用了新的显微镜光路系统及科研级光学接口。结合显微学和光谱学的优势,用于微小样品或样品的微小区域的光谱和色度分析,并通过对样品的反射、透射、荧光及偏振光谱、拉曼测量,完成微量物样分析。具有科研级高分辨探测器(CCD),半导体制冷探测器,增强稳定性;科研级光学接口,高分辨彩色成像系统。新的操作系统,应用软件使用简单,操作方便。 开创性20/30 PV系列显微微分光度计为全光谱显微谱学设立了新的标准。具有前沿科技水平的20/30 PV系列可在样品采样区域进行吸收、透射、反射、荧光以及拉曼等光谱数据采集和成像。光谱范围从紫外到近红外,具有自动化控制的光谱和图像分析软件,拥有自动化、简便性和长时间稳定性的特性。20/30 PV系列可应用的领域包括材料科学、工业显微观测、法医痕迹鉴证、生物样品分析测试等。 高灵敏度固体阵列探测器使用热电冷却,具有较高的信噪比和长时间稳定性。高分辨数字成像系统通过CCD收集深紫外和近红外照射后样品的高分辨彩色图像。完善而强大的软件功能不仅控制显微镜、光度计和数字成像,还能提供先进的分析处理能力,如薄膜厚度测量等。主要参数:光谱范围200-2500nm成像深紫外到近红外荧光光谱范围300-1000nm荧光激发250-546nm采样面积1-100um光谱分辨率1-15nm可调检测器CCD、InGaAs检测器制冷热电扫描时间(全光谱)4ms测量结果:1、透射光谱/成像 2、反射光谱/成像 3、荧光光谱/成像 4、磷光光谱/成像 5、偏振光谱/成像 6、拉曼光谱 7、膜厚测量、色度测量、折射率测量Apollo II 拉曼显微光谱激发源波长(nm)405、532、638、785、830带宽0.02nm可输出功率50-100mW光谱仪光谱范围50-3000cm-1光谱分辨率10cm-1采样区域1um(10X@785nm) 石墨烯样品拉曼显微光谱 主要特点l 稳定、可靠、高性能l 紫外-可见-红外 吸收、反射、荧光光谱及成像l 可集成1-3个激发源l 可升级共聚焦显微镜l 可选高空间分辨率拉曼光谱Mappingl 可选拉曼动态显微镜l 提供NIST可追溯样品
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  • CRAIC30 PV TM: 30 PV TM,显微分光光度计结合了最新的科技,允许用户测量直径小于1微米样品区域的紫外-可见-近红外光范围内的透射比、吸光度、反射率、释放强度和荧光光谱,即使是薄膜和色彩空间都能被检测到。在获得Microspectra(显微光谱)的同时,可以观察到样品深紫色、可见光和近红外光处高分辨率的数字图像。易用的特点也附加到了20/30 PV 强大的系统中,包括了软件自动化仪器人体工程学的所有进步。20/30 PV&trade 显微分光光度计简单易用,测量方法为非破坏性并且得到的光谱数据无与伦比显微分光光度计,可以无缝从深紫光到近红外光区域获得显微样品的光谱和图像。它可以在吸光度、反射率和荧光性中获得Microspectra(显微光谱)和图像。主要特点l 光谱范围:200至2100纳米l 紫外-可见-近红外光透射比传递显微分光计l 紫外-可见-近红外光透射比成像l 紫外-可见-近红外光反射显微分光计l 紫外-可见-近红外光传递成像l 紫外-可见-近红外光荧光显微分光计l 紫外-可见-近红外光荧光显微成像l 拉曼显微分光计l 紫外光、可见光和近红外光区域的偏振显微分光计l 紫外光、可见光和近红外光区域的偏振微尺度成像l 膜厚度测量l 微观样品的色度学l 带rIQ&trade 包的折射率测量l 手动或者全自动操作l Lightblades&trade 技术的特色l 整合TE冷却系列探测器,噪音低,稳定性好l 精确的样品温控l 带刻度,有不同的测量区域,甚至有的小于1微米l 目镜和数字成像带来出众的图像l 具有LambdaFire&trade 分光计和成像控制以及分析软件的特色l LambdaFire&trade 同时包含触屏控制l 专业软件包括数据分析、光谱数据库、图像分析等软件应用半导体薄膜厚度(测量)l MEMS设备l 表面等离子体共振l 光激能带隙水晶l 杂质加工检测l 蛋白质晶体l 法庭科学l 药物化学l 可疑文件l OLEDl 平板彩色面罩l 组合化学紫外-可见-近红外光显微分光光谱仪来自领导者的前沿显微分光计 一个完全整合的显微分光计装置,描述从深紫外光到可见光到近红外光范围的光谱。同时直接可以获得样品空隙的图像,而且样品的测量更快、更精确。20/30 PV&trade 拥有Lightblades&trade 科技的特点,甚至能够让您测量次微米级样品的透射比、反射率、偏振和荧光光谱。 CRAIC科技也是NIST可追溯的显微分光计标准的唯一来源。拉曼显微分光光谱仪灵活的拉曼显微分光光谱仪 当20/30 PV&trade 装上CRAIC阿波罗&trade 拉曼分光仪模块后,它能像拉曼、共振拉曼以及其他测量显微样品的仪器一样工作。这些模块包括激光、拉曼分光计和界面光学,能让您收集到样品高质量的拉曼光谱。荧光性高灵敏度发射显微分光计和成像系统 20/30 PV&trade 可以被装配成测量显微样品荧光和冷光光谱以及图像的仪器。 20/30 PV&trade 拥有Lightblades科技的特点,能够激发从深紫外到近红外的光,能测出相同范围的放射,它对于材料科学、生物学、地质学等学科的显微荧光测定法来说是一款强大的工具。偏振紫外-可见-近红外光显微分光计和成像系统 20/30 PV&trade 甚至可以被装配成获得偏振光谱和图像的仪器。20/30 PV&trade 显微分光计拥有偏振Lightblades科技的特点和从紫外光到近红外光的光谱范围,它的性能是其他仪器无法达到的。用这个精细的系统您可以容易且迅速地获得双折射和其他有偏振特点的样品的光谱和图像。光谱表面成像 光谱表面成像整合了为自动化光谱分析设计的软硬件和带有显微空间解析度的样品3D成像技术。样品吸光度、透射比、反射率、荧光性、放射性和拉曼光谱这些数据的3D地图也许能够生成。紫外-可见-近红外光显微光度计 从紫外光到近红外光的出众图像质量 20/30 PV&trade 包含带有研究级光学器件的紫外-可见-近红外光显微镜,非常独特。20/30 PV&trade 拥有精细的成像软件,带有彩色、紫外线和近红外光区域的高分辨数码成像特点。这允许您简单迅速地通过透射比、反射率、偏振和荧光显微镜来实时获得样品的图像。北京美嘉图科技有限公司地址:北京海淀区中关村南大街12号百欣科技楼6003室
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  • 皮肤镜多少钱一台?医用皮肤镜价格?医用CBS医用皮肤镜数码显微分析仪厂拿货价多少?国内专业医疗器械供应商-金鑫谷科技,可大量提供医用皮肤镜,皮肤镜,皮肤检测仪,皮肤显微镜,cbs数码显微分析仪等,售后服务体系完善,证件齐全,可授权招标,您来电可免费获得产品彩页小册子等资料。现在很多权威的医院皮肤美容科室和美容机构,都会购置一台医用皮肤镜,这是为什么呢?首先:促进业务转化,提升业绩1、促进医生与患者的沟通和信任;2、对治疗项目的媒介和引导;3、治疗效果的验证;第二:使用专业医用皮肤镜可以减少误判、规避风险 是寻常痣、还是恶性黑色素瘤? 是红血丝局部病变还是非色素性基底细胞癌? 是血痣、蜘蛛痣还是血管瘤? 是日光性黑子还是恶性黑色素瘤? 是普通的过敏还是慢性湿疹第三:数码显微分析仪对于常见色素斑的有效评估如雀斑、黄褐斑、咖啡斑、颧部褐青色痣等的有效甄别有助于在诊治中进行有针对性的诊治(不同性质的治疗方案)第四:美容项目的评估痤疮发炎情况、红血丝分布、瘢痕面积测量,毛孔的大小、皮肤油分含量、水分、色素含量,皮肤颜色变化、胶原蛋白纤维评估第五:面部常见损容性疾病的辅助诊断雀斑、日光性黑子、黄褐斑、咖啡斑;先天性痣、太田痣、颧部褐青色痣、恶性雀斑样痣;色素痣、 脂溢性角化、基地细胞癌等;血管瘤、扁平疣、日光性角化;其他:激素依赖性皮炎、白癜风、黑皮病等;CBS-908医用皮肤检测仪产品简介CBS-908医用皮肤镜是国内最先获得注册证的数字化皮肤检测仪,鄂械注准:20152222204,CBS-908医用皮肤镜采用偏振光技术,使用高清交叉偏振光技术对病患进行观察,有效地排除了皮肤表面反射光的干扰,可以观察到表皮、表皮真pi交界处和真浅皮层内的厚度变化、颜色发展变化等等。目前临床上运用的广泛、科学、严谨,并且经过国家食药监局检测通过的设备,以50X交叉偏振光技术为主要检测手段,皮肤各类疾病,以及大部分色素恶性瘤的诊断,都为以此技术拍摄的图片为诊断依据。目前CBS皮肤毛发镜,交叉偏振光可高达220X。皮肤镜组成:1. 数码显微分析仪组件2. CBS皮肤影像管理系统V1.03. 触摸电脑工作站4. 金属转向台车5. 彩色打印机更多产品信息,欢迎您致电咨
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  • MMAS-19微分干涉相衬金相显微镜测量分析系统适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置,具有图像立体感且清晰、造型美观,操作方便等特点,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。MMAS-19系统配备了研润自主研发的MMAS测量分析系统以及MOS高端光学系统。一、技术特点:1、观察系统:大三通光学系统,30度倾斜,自由切换目视观察与电脑摄像,可100%进行透光摄影。大视野平场广角目镜,视场范围直径22mm。2、机械载物台:双层机械式载物台,尺寸210*140mm;移动范围63*50mm。3、落射照明系统:12V,50W卤素灯,亮度可调。良好的散热性设计。4、微分干涉相衬观察系统:微分干涉组件与适配的物镜校正好干涉平面高度。干涉色的变化可通过精密丝杆的旋转调节而变化。5、透射照明系统:内置12V30W卤素灯照明装置,集光镜中内置视场光栏。5、选配件:5.1分化目镜:10X(直径22mm),格值0.1mm/格;5.2无限远长距物镜:PLL50X/0.7(工作距离3.68)、PLL60X/0.7(工作距离2.08)、PLL80X/0.8(工作距离1.25)、PLL100X/0.85(干式、工作距离0.4);5.3转换器:四孔5.4适配镜:0.5X、1X、0.5带0.1mm/格分化尺;5.5数码摄像机;5.6黄、绿滤色片;二、技术参数:目镜大视野 SWF10X(Φ22mm)物镜(长距)无限远平场消色差物镜LMPlan5X/0.12DIC,工作距离:15mm无限远平场消色差物镜LMPlan10X/0.3DIC,工作距离:10.5mm无限远平场消色差物镜LMPlan20X/0.40DIC,工作距离:4.5mm无限远平场消色差物镜PL L40X/0.60,工作距离:3.98mm放大倍数50~400X目镜筒倾斜30度,三目镜,双目镜组落射照明系统12V50W卤素灯,亮度和灯泡位置可调内置视场光栏、孔径光栏、黄绿蓝滤色片和磨砂玻璃转换装置,推拉式检偏器与起偏器透射照明系统12V30W卤素灯,亮度可调,蓝滤色片和磨砂玻璃阿贝聚光镜NA1.25可上下升降,集光镜中内置视场光栏干涉观察系统适用于LMPlan5X/LMPlan10X/LMPlan20X DIC物镜调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,粗动松紧可调,带锁紧和限位装置转换器五孔(内向式滚珠内定位);载物台双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围:63mmX50mm)外形尺寸455*545*280配备系统主机+MMAS数据处理系统1套+MOS光学系统一套+电脑一套三、性能特点:1、采用优良的无限远光学系统,可提供出色的光学性能。2、紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。3、符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。4、内置式可切换偏光观察装置,起偏器可360°旋转。5、微分干涉相衬观察时图像清晰,干涉色均匀,具有较强的浮雕感。软件功能:MMAS金相显微测量分析系统的核心功能是根据金相图像进行级别评定。目前以具备400多个按国家及行业标准制作的专业功能模块。MMAS金相显微测量分析系统具备数十种图像处理功能、同时具备报告处理、几何测量、定倍打印、图像拼接等多种辅助功能。MMAS金相显微测量分析系统还可以定制图像共聚焦、三维光图等专业功能。MMAS金相显微测量分析系统是为从事金相检验的单位或个人专门开发的一套计算机软件系统,它的基本原理是:用视频采集卡或数码相机等硬件设备,采集到金相显微镜中的金相图片,再对该图片进行处理和分析,得到相关检验结果。1.自动评级:本软件以检验标准为依据,开发出了近百余个类别两百余种软件功能模块,用户可根据需要,选择检验项目,在本软件的帮助下,完成检验工作。2.新建报告:可按用户需求制作报告文档的录入界面、软件可自动生成电子报告文档,并提供报告的保存和打印功能。3.打开报告:打开并浏览已经保存的报告文件。4.几何测量:本软件提供了“直线”、“矩形”、“圆”、“多边形”、“角度”等多种测量工具及测量方法,可完成长度、面积、角度等测量工作。5.查看图库:用户可选择查看本软件收录的所有金相图谱,本软件金相图谱由用户提供原始资料,由我方录入。6.定倍打印:可一次装入多副图片,并可对其进行图像处理,设置说明文字和打印版面,进而生成一份适合各种行业特殊要求的报告文件。7.图像拼接:将采集到的不同视场图像拼接成一幅完整的图像。7.图像共聚焦:该功能模块的作用是:将拍摄对象相同、但焦距不同的几张照片,重合成一张清晰的照片。界面及重合效果.8.三维光图:
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  • 一、DMM-1100C电脑型微分干涉金相显微镜的特点和用途: DMM-1100微分干涉金相显微镜采用优质的无限远光学系统,配备长工作距离平场平场消色差物镜. DMM-11000正置金相显微镜可广泛应用于研究金属的显微组织,能在明场、偏光、微分干涉下进行观察和摄影,配备专用软件,更可同步进行测量分析。可供研究单位、冶金、机械制造工厂以及高等工业院校进行金属学与热处理、金属物理学、炼钢与铸造过程等金相试验研究之用。DMM-1100正置金相显微镜,选用优质的光学元件,配有超大视场目镜、落射照明器、平场无限远长工作距离物镜,可选用微分干涉(DIC)观测、获得高清晰的图像,使图像衬度更好,具有较强的浮雕感。是针对半导体晶圆检测、太阳能硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的,作为高级工业金相显微镜使用。可进行明场观察、落射偏光、透射观察、DIC观察,广泛用于工厂、研究机构、高等院校对太阳能电池硅片、半导体晶圆检测、电路基板、FPD、精密模具的检测分析。 二、DMM-1100C正置式电脑型微分干涉金相显微镜的技术参数规格技术参数目镜超大视野平场目镜WF10X(Φ22mm) WF15X(Φ16mm) WF20X(Φ12mm) 平场分划目镜10X/Φ20mm(0.10mm/格值)物镜无限远长距平场消色差物镜PL L 5X/0.12 WD:26mm无限远长距平场消色差物镜PL L 10X/0.25 WD:20mm无限远长距平场消色差物镜PL L 20X/0.40 WD:5mm无限远长距平场消色差物镜PL L40X/0.60 WD:3.98mm目镜筒铰链式,倾斜30度,分光比:或观察100% 摄影100%落射照明系统12V50W卤素灯,中心、亮度连续可调内置视场光栏、孔径光栏、(黄、蓝、绿、磨砂玻璃)滤色片转换装置,推拉式检偏器与起偏器透射照明系统阿贝聚光镜 NA.1.25 可上下升降 蓝滤色片和磨砂玻璃 集光器,卤素灯照明适用(内置视场光栏) 12V 30W 卤素灯,亮度可调载物台双层机械载物台,带刻度,台面尺寸:210mm*140mm移动范围:移动范围:横向(X)75mm,纵向(Y)50mm,配置玻璃载物板转换器五孔物镜转换器(内向式滚珠内定位)调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置偏光系统插入式检偏镜,起偏器可360°旋转DIC 观察系统可使用于5X、10X、20X仪器主体正置式透反射金相显微镜主机,先进无限远光路系统CK-300摄像系统1X摄影接口,标准C接口CK-300彩色数字摄像机: 最高分辨率:2048X1536,采用USB供电,功耗小,连接简单:USB2.0接口 图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定,所有摄像机均经过长时间测试 ,体积小,安装方便,采集方式:连续采集 三、系统的组成 1、正置微分干涉显微镜DMM-1100  2、电脑适配镜  3、300万像素彩色数字摄像器
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  • MCK-50MC科研级正置金相显微镜一、仪器的主要用途和特点: MCK-50MC全新研究级金相显微镜集蔡康多项首创于一身,从外观到性能都紧跟国际领先设计风向,致力于拓展工业领域全新格局。MCK-50MC秉承CAIKON不断探索、不断超越的品牌设计理念,为客户提供完善的工业检测解决方案。 MCK-50MC研究型科研级显微镜是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像,又可以在计算机上很方便地适时观察金相图像,并以随时捕捉下来,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以保存或打印出高像素金相照片。●多档分光比观察头设计全新MCK-50MC系列观察筒,采用宽光束成像系统设计,支持26.5mm世界领先的超宽视野观察,带给您全新的大视野体验。两档式正像铰链三目观察筒,保证样品的移动方向与您通过目镜观察到的方向一致,使操作更加得心应手。三档式铰链三目观察筒,在成像光线100%用于双目观察或三目摄影的基础上,增加一档20%用于双目观察,80%用于显微摄影,方便用户同时对镜下图像与视频图像进行对比观察●偏振系统偏振系统包括起偏器和检偏器,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更清楚。检偏器分为固定式检偏器和360度旋转式检偏器。360°旋转式检偏器可在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态。可在偏振系统的基础上加载蔡康全新研发微分干涉器,建立诺曼尔斯基微分干涉衬比系统。●诺曼尔斯基微分干涉衬比系统(选购功能)全新研发的U-DICR微分干涉组件,可以将明场观察下无法检测的细微高低差,转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕形式表现出来,如LCD导电粒子,精密磁盘表面划痕等。●中性密度滤色镜连动明暗场观察设计照明器前端的拨杆可使明暗场观察切换更加方便,并带有中性密度滤色镜(ND50)联动功能。由于暗场观察时通常需要将光源开得比明场观察更亮,此功能设计可以避免用户在由暗场切换至明场时,眼睛不会受到强光的刺激,提高使用的舒适性。●物镜转换器,多孔可选多孔物镜转换器可以对同一个标本的观测点进行连续的更加合理的低、中、高放大倍率观察。全新的物镜转换器将光轴与转动轴之间的夹角降低到15°,提高了对中精度和齐焦精度,且外观更加紧凑。●专业无限远长工作距离半复消色差金相物镜 明暗场物镜只需一个镜头就能胜任明场、暗场、偏光、微分干涉观察。暗场图像亮度得到增强,提供了样品的检出能力;系列物镜严格挑选高透过率的镜片和先进的镀膜技术,真实还原样品的自然色彩;明暗场物镜采用铝制外壳,大大减轻了重量,对防止环境污染,改善物镜转换的操控性做出了贡献;长工作距离物镜广泛适用于各种检测领域,轻松实现无损检测三、金相显微镜MCK-50MC主要技术参数:名 称参数规格光学系统无限远色差校正光学系统观察方式明场/暗场/偏光观察筒30°倾斜,正像,无限远铰链三通观察筒,瞳距调节:50mm~76mm,两档分光比双目:三目=100:0或0:100目镜高眼点大视野平场目镜PL10X25mm,视度可调高眼点大视野平场目镜PL10X25mm,带单刻度十字分划板,视度可调高眼点大视野平场目镜PL10X25mm,带单刻度十字分划板,视度可调高眼点大视野平场目镜PL10X25mm,带单刻度十字分划板,视度可调物镜转换器明暗场5孔转换器,带DIC插槽无限远长工作距离平场明暗场消色差物镜物镜倍率数值孔径工作距离(mm)盖玻片厚度(mm)5X0.1513.5010X0.309.0020X0.502.5050X0.8010照明系统12V100W超长寿命灯箱,采用PHILIPS型卤素灯,透、反射通用,预定中心。调焦机构低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程25mm,微调精度0.001mm。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。主机架透反两用机架, 低手位粗微同轴调焦机构。内置100-240V宽电压系统,双路电源输出,采用数字调光,具有光强设定与复位功能、反射/透射光切换开关,内置透射光滤色镜(LBD、ND6、ND25)聚光镜摇出式消色差聚光镜(N.A.0.9)载物台4英寸机械平台,右手位操作,行程105mmx102mm,带Y轴锁定机构,可带透射系统挡光板,带玻璃载物台板反射照明器明暗场反射照明器,带可变孔径光阑,视场光阑,中心可调;带明暗场照明切换装置;带滤色片插槽,带起偏镜/检偏镜插槽测微尺0.01mm电脑摄像系统CKC2000CKC2000高清彩色摄像机,采用索尼CMOS芯片,灵敏度可以与CCD芯片为同一量级,图像色彩还原度大大提高。最高分辨率:5496×3672, 芯片尺寸:1",USB3.0连接,图像稳定,有多种图像处理方式(详细参数见CKC2000摄像机介绍)显微软件专业图像处理及拍摄软件,实时图像拼接及实时景深熔合,可对图像中的点、线、圆、圆弧、角度、矩形及任何图形几何参数的测量。测量工具使用方便直观,可在图像上添加文字、放置比例尺,是显微图像测量与分析的有效工具。
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  • 彩色滤光片(Color filter)为液晶平面显示器(Liquid Crystal Display)彩色化之关键零组件。彩色滤光片的制造是用彩色光刻胶和黑色光刻胶在基板上的附着加工制造而成,光刻胶质量的好坏直接影响彩色滤光片的显色性能。液晶平面显示器为非主动发光之组件,其色彩之显示必需透过内部的背光模块(穿透型LCD)或外部的环境入射光(反射型或半穿透型LCD)提供光源,再搭配驱动IC与液晶控制形成灰阶显示,而后透过彩色滤光片的R,G,B彩色层提供色相形成彩色显示画面。Lambda Vision LVmicro-Z显微分光光度计主要是为了配合5倍物镜使用而设计的。本系列是以5倍物镜(15μm/30μm光斑尺寸)测量为基础。LVmicro-Z/1显微分光光度计不具备自动对焦功能(仅手动对焦)。LVmicro-Z/2基于20x/50x物镜,能够测量2μm以上的光斑尺寸。与LVmicro-Z/1相比,LVmicro-Z/2具有更高的刚性和抗震性,可实现稳定的小点测量。可选功能 /R 本装置用于测量反射率。 与透射率一样,它由直小孔光学系统组成。可选功能/OBJ 本装置用于漫反射测量。 它用于测量印刷品等小范围内的漫反射比色法。Lambda Vision LVmicro-Z显微分光光度计特点1.可以测量出最小的2μm面积。 (如果是小面积的情况下,可能需要高精度的隔振台作为测量环境)。2.只对观察区域进行光照射,不产生其他区域的数据。 其他区域不产生数据(测量直线上的小孔)。3. 自动对焦(LVmicro-Z/2)将单个误差降到很低,Z轴样品垂直移动是自动的。4.标配图像观察USB摄像头,可进行图像存储。 也用于自动对焦5. 指针光照射到观察区,所以很容易看到被测量的位置6. 除了上述指针光外,还有一个观察整个样品图像的普通照明灯(白色LED),在光谱测量时自动关闭。7.光谱光源采用高精度稳定卤素灯和稳定电源。8.可提供6英寸、8英寸和12英寸的样品台(手动),可选装自动载物台9.光谱检测部分采用了高灵敏度的CCD,即使在微小区域的微弱信号下也能实现稳定的测量10.对于目前正在使用其他厂家光谱仪器采集数据的用户,可提供数据匹配校正功能11. 通过各种控制功能,可以按色度、透光率等设定控制范围,判断产品是否合格12. 通过选择显微镜或分光镜检测器,使用XY样品台,可以测量近紫外、可见光、近红外区域的光谱光谱透射光谱(标准功能)光密度(OD值)(标准功能)光谱反射率光谱(当配备了可选的R反射率功能时)光谱漫反射光谱(可选OBJ反射单元)Lambda Vision LVmicro-Z显微分光光度计规格:波长范围: 380nm~780nm (可设定 400nm~700nm,其它波长范围可选)测量参数:透过率、反射率(可选)、色度值计算(X、Y、Z、x、y、L*、a*、b*、ΔEab、白平衡、NTSC值)分光测量方法:光栅及 Line sensor 的高速分光波长精度: ±0.5nm照明方式 :August Kohler光源照明法光源: 卤素灯,使用寿命约2,000hr测量孔径: 小至2μm Lambda Vision LVmicro-Z显微分光光度计的应用:显示面板的彩色滤光片的色度测量、膜厚, ITO 膜厚、OVER COAT保护层的膜厚等,彩色光刻胶的光学性能(色度和辉度)测试。
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