电子元器件测试筛选仪器配置清单
p style="text-indent:28px"电子元器件测试筛选服务也称之为电子元器件二次筛选。电子元器件的二次筛选是指在元器件厂家筛选的基础上,由使用方或其委托的第三方对电子元器件进行的筛选。二次筛选是在电子元器件各种失效模式的基础上,进行的一系列有针对性的试验,从而达到有效剔除早期失效的目的。介于目前我国电子元器件设计、制造和工艺等方面的现状,以及进口元器件采购中的诸多不可控因素,电子元器件二次筛选已成为激发电子元器件潜在设计、生产缺陷,有效剔除早期失效产品,提高整机系统的可靠性等方面必不可少的一环。/pp style="text-indent:28px"电子元器件测试贯穿产品设计元器件选型、生产阶段元器件接收和选用、产品交付阶段的产品“二次”筛选。设法在一批元器件中剔除那些由于原材料、设备、工艺、人为等方面潜在的不良因素所造成的有缺陷的,或可能发生早期失效的器件,而挑选出具有一定特性的合格元器件或判定批次产品是否合格接收,提高产品使用可靠性,特别是针对进口元器件,通过“二次筛选”保证产品质量可控,提高装备整体可靠性。/pp style="text-indent:28px"电子元器件测试筛选一般要求:span1./span不改变元器件固有可靠性,非破坏性试验;span2./span对批次产品进行span100%/span筛选;span3./span剔除早期失效品,提高元器件使用可靠性;span4. /span筛选等级由元器件预期工作条件和使用寿命决定。/pp style="text-indent:28px"电子元器件测试筛选涉及到大量种类的仪器设备,以下为电子元器件测试筛选的相关测试项目及检测仪器设备清单:/ptable border="1" cellspacing="0" cellpadding="0" style="border-collapse:collapse border:none"tbodytr class="firstRow"td width="141" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"测试项目/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"span检测仪器设备/span/p/td/trtrtd width="141" rowspan="13" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"电测试/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"span style=" color:black"阻抗分析仪/span/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"span style=" color:black"高阻计/span/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"span style=" color:black"耐压测试仪/span/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/1746.html" target="_self"span style=" color:black"半导体参数测试系统/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"span style=" color:black"高精度图示仪/span/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/list/sort/231.shtml" target="_self"span style=" color:black"网络分析仪/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2437.html" target="_self"span style=" color:black"信号发生器/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2489.html" target="_self"span style=" color:black"频谱分析仪/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2457.html" target="_self"span style=" color:black"数字集成电路测试系统/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2458.html" target="_self"span style=" color:black"模拟集成电路测试系统/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"span style=" color:black"继电器测试系统/span/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center background:white"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/2473.html" target="_self"span style=" color:black"LCR/spanspan style=" color:black"、电阻计等/span/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"span style=" color:black"电源模块测试系统/span/p/td/trtrtd width="141" rowspan="6" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"环境、应力筛选/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"高低温试验箱:热循环试验/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"a href="https://www.instrument.com.cn/zc/386.html" target="_self"振动台:振动试验/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"恒定加速度试验台:恒定加速度试验/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"可编程电源:电压、功率老炼试验/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"电子负载:电流、功率老炼/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"颗粒碰撞噪声测试仪/p/td/trtrtd width="141" rowspan="11" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"寿命span//span老化span//span老炼试验/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p style="text-align:center"单片集成电路高温动态老炼系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"混合集成电路高温动态老炼系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"电源模块高温老炼检测系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"晶体振荡器高温老化测试系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"分立器件综合老炼检测系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p style="text-align:center"分立器件间歇寿命试验系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p电容器高温老炼检测系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p大功率晶体管老炼检测系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p继电器低电平寿命筛选系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p继电器中电平寿命筛选系统/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p继电器高电平寿命筛选系统/p/td/trtrtd width="141" rowspan="2" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p外观检查/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"pa href="https://www.instrument.com.cn/list/sort/5.shtml" target="_self"光学显微镜/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"pa href="https://www.instrument.com.cn/zc/58.html" target="_self"金相显微镜/a/p/td/trtrtd width="141" rowspan="2" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p密封检测/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"pa href="https://www.instrument.com.cn/zc/488.html" target="_self"氦质谱检漏仪/a/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p碳氟化合物粗检漏仪/p/td/trtrtd width="141" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"pspanX/span射线照相/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"pspanX-RAY/span透射系统/p/td/trtrtd width="141" rowspan="2" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " align="center"p扫描声学显微镜检查/p/tdtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"p声扫检测设备/p/td/trtrtd width="412" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px word-break: break-all " align="center"pa href="https://www.instrument.com.cn/zc/420.html" target="_self"超声扫描显微镜/a/p/td/tr/tbody/tablepbr//p