红外发射管

940nm　　现在市场上使用较多红外发射管的是850nm和940nm 因为850nm发射功率大，照射的距离较远，所以主要用于红外监控器材上；而940nm主要用于家电类的红外遥控器上。　　峰值波长：λp (单位：nm)　　发光体或物体在分光仪上所量测的能量分布，其峰值位置所对应的波长，称为峰值波长λp 辐射强度：POWER（单位：mW/sr）用以表示红外线发光二极管（IR LED）辐射红外线能量之大小。　　辐射强度（POWER）与输入电流（If）成正比，发射距离与辐射强度（POWER）成正比。 mW/sr：表示红外线辐射强度的单位，为发射管发射红外线光之单位立体角(sr)所辐射出的光功率的大小　　半功率角：2θ1/2 指发射管其上下或左右两边所辐射出的红外线强度为该组件最大辐射强度的50%时，其上下或左右两边所夹的角度称为半功率角。　　人们习惯把红外发射管和红外线接收管称为红外对管。红外对管的外形与普通圆形的发光二极管类似。初接触红外对管者，较难区分发射管和接收管。本文介绍三种简便的识别方法。http://www.dzsc.com/data/uploadfile/20121019105553605.jpg １． 根据内部结构识别　　红外对管的内部结构如左图(a),(b)所示。左图(ａ)是红外发射管，管芯中央凹陷，类似聚光罩的形状。左图（ｂ）是红外接收管，管芯中央的平台上有红外感光电极。红外对管的两引脚１长１短，长引脚是正极，和普通发光管相同。　　２．用三用表测量识别　　可用５００型或其他型号指针式三用表的１ｋΩ电阻挡，测量红外对管的极间电阻，以判别红外对管。判据一：在红外对管的端部不受光线照射的条件下调换表笔测量，发射管的正向电阻小，反向电阻大，且黑表笔接正极（长引脚）时，电阻小的（１ｋΩ～２０ｋΩ）是发射管。正反向电阻都很大的是接收管。判据二：黑表笔接负极（短引脚）时电阻大的是发射管，电阻小并且三用表指针随着光线强弱变化时，指针摆动的是接收管。　　注：１）黑表笔接正极，红表笔接负极时测量正向电阻。　　２）电阻大是指三用表指针基本不动。　　３． 通电试验方法判别 用一只发光二极管和一只电阻与被测的对管串联，如上图２所示。图中电阻起限流作用，阻值取２２０Ω～５１０Ω。ＬＥＤ发光二极管用来显示被测红外管的工作状态。用遥控器（电视机遥控器等）对着被测管按下遥控器的任意键，ＬＥＤ亮时，被测管是红外接收管。不亮则是红外发射管。

亿光发射管也可以称作亿光红外发射管或亿光红外线发射二极管，属于二极管类。它是可以将电能直接转换成近红外光（不可见光）并能辐射出去的发光器件，主要应用于各种光电开关及遥控发射电路中。亿光发射管的结构、原理与普通发光二极管相近，只是使用的半导体材料不同。亿光红外发光二极管通常使用砷化镓（GaAs）、砷铝化镓（GaAlAs）等材料，采用全透明或浅蓝色、黑色的树脂封装　　亿光发射管参数介绍　　发射距离、发射角度（15度、30度、45度、60度、90度、120度、180度）、发射的光强度、波长。是亿光发射管的物理参数，需了解其电性能参数：市场上常用的直径3mm,5mm为小功率亿光发射管，8mm,10mm 为中功率及大功率发射管。小功率发射管正向电压：1.1－1.5V，电流20ma,中功率为正向电压：1.4-1.65V 50－100ma，大功率发射管为正向电压：1.5-1.9V200－350ma。1－10W的大功率亿光发射管可应用于红外监控照明。http://www.dzsc.com/data/uploadfile/20121018152042817.jpg　　亿光发射管应用范围　　亿光发射管的应用范围主要有以下几点：　　1、适用于各类光电检测器的信号光源。　　2、适用于各类光电转换的自动控制仪器，传感器等。　　3、根据驱动方式，可获得稳定光、脉冲光、缓变光，常用于遥控、警报、无线通信等方面。　　使用注意事项　　亿光发射管应保持清洁、完好状态，尤其是其前端的球面形发射部分既不能存在脏垢之类的污染物，更不能受到摩擦损伤，否则，从管芯发出的红外光将产生反射及散射现象，直接影响到红外光的传播。　　由于红外波长的范围相当宽，因此亿光发射管必须与LED接收管配对使用，否则将影响遥控的灵敏度，甚至造成失控。因此在代换选型时，要务必关注其所辐射红外光信号的波长参数。　　亿光发射管的发光功率与光敏器件的灵敏度因封装而有角分布使用时注意安装指向调整，更换时亦应做相应调整，注意管子的极性，管子不要与电路中的发烧元器件靠近。　　亿光发射管在工作过程中其各项参数均不得超过极限值，因此在代换选型时应当注意原装管子的型号和参数，不可随意更换。另外，也不可任意变更亿光发射管的限流电阻。

请教专家：如何测定光源（样品）发射的红外光谱，商品红外光谱仪可以改装？谢谢！

请教各位高手：红外发射光谱和同一样品的KBr压片红外吸收光谱两者谱图主要峰形和位置是否一样？？？？？？

问高手一个问题：我想用红外仪测量固体材料的发射率，可不知如何操作，特到此向高手前辈请教！！我实验室已配备Bruker的傅里叶红外仪同时还配了一个黑体发射炉。十分感谢！

远红外发热测试，如何进行远红外发射测试，用什么仪器

我想用红外测物质的发射率，是没有相关的标准或有人做过啊、

[em09508]请问哪里可以测材料的红外发射率？在四川能做最好。

我在文献上看到 了 红外透射光谱,红外发射光谱,红外漫反射光谱,以及DRIFT和衰变光谱等.不知道这些指的是不同种类的仪器,还是不同的红外光谱分析方法.有什么区别,有什么用途?请教大家了.

请问哪里能测膜类样品的红外光谱发射率，温度需要达到800°

日前，“十三五”国家重点研发计划 “地球观测与导航”专项“红外发射谱段空间辐射基准载荷技术”项目启动会在中国科学院上海技术物理研究所（以下简称“上海技物所”）召开。　　项目负责人、上海技物所副所长丁雷研究员介绍了“红外发射谱段空间辐射基准载荷技术”项目的实施方案。该项目针对基准载荷对定量化的苛刻要求，围绕红外发射谱段空间基准载荷高精度、可溯源至国际单位制的量值需求，进行高光谱红外基准载荷技术研究、空间红外辐射基准源研制及溯源技术研究、红外高光谱基准载荷数据预处理及订正模型研究、红外基准载荷空间应用技术研究。项目的顺利开展将对促进国产红外遥感载荷高定量化的发展，满足气候变化监测的严苛要求，将起到重要的推动作用。[align=center]　　[img]http://www.nim.ac.cn/sites/www.nim.ac.cn/files/images/news/1_26.jpg[/img]　　图1：项目启动会现场[/align] 该项目于2018年5月批复立项，执行时间为4年。共分为高光谱红外基准载荷技术、空间红外辐射基准源研制及溯源技术、红外高光谱基准载荷数据预处理及订正模型和红外基准载荷空间应用技术等4个课题。项目将研制空间辐射基准载荷从机制上对遥感辐射定标进行规范，保证所有的直接获取数据或者有源产出数据都能够真实有效的溯源到国际基本单位SI 上提供核心技术，同时建立我国自主的空间绝对辐射定标基准系统，构建覆盖全国的空天一体遥感网络，对我国的气候、国土资源环境监测和预报有重大的科学及政治意义。[align=center][img]http://www.nim.ac.cn/sites/www.nim.ac.cn/files/images/news/2_14.jpg[/img]　　图2：课题组主要成员和咨询专家合影[/align]其中，中国计量科学研究院承担该项目课题二 “空间红外辐射基准源研制及溯源技术研究”。该课题负责人中国计量院热工所研究员郝小鹏介绍，此课题围绕红外发射谱段空间基准载荷高精度、可溯源至国际单位制的量值需求，研制温度范围覆盖250 K-330 K的大口径空间红外辐射基准黑体源定标系统，开展真空低背景红外高光谱亮温基准量值传递方法研究，建立可溯源至国际单位的高精度空间基准定标系统。

欢迎大家前来与ppddppdd老师一起就材料红外光谱技术知识的相关问题进行探讨！活动时间：2014年07月16日——2014年07月25日【线上讲座241期】材料红外光谱透射比、反射比、发射率的高精度测量方法 主讲人：ppddppdd--IR版面专家 活动时间：2014年07月16日——2014年07月25日 热烈欢迎ppddppdd老师光临红外光谱版面进行讲座！http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif提要一、透射比绝对测量二、反射比绝对测量三、吸收比绝对测量四、发射率绝对测量五、透射，反射，吸收，发射的相对测量方法http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif欢迎大家前来与ppddppdd老师一起就红外光谱技术相关的内容进行探讨交流！以上资料为ppddppdd老师所著,未经ppddppdd老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间：2014年07月16日--07月25日答疑时间: 2014年07月16日--07月25日特邀佳宾：IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员：仪器论坛全体注册用户活动细则：1、请大家就材料红外光谱技术知识的相关问题进行提问，直接回复本帖子即可，自即日起提问截至日期2014年07月25日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励（1-50分不等），提问的也有奖励3、提问格式：为了规范大家的提问格式，请按下面的规则来提问 ：ppddppdd老师您好！我有以下问题想请教，请问：……http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif说明：本讲座内容仅用于个人学习，请勿用于商业用途，由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结，但是也凝聚着笔者大量心血，版权归ppddppdd老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的，理解片面、错误之处肯定是有，欢迎大家指正。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif

发射光谱进样管堵塞怎么办

哪位达人有布鲁克公司的红外发射率测试仪的原理说明书和中文操作手册阿，谢谢了阿。[em58] [em58] [em58]

大家好，我有个测量问题一直有疑问，想请教大家。我需要测量镀在玻璃上的红外高反膜层，波长从2000nm - 16000nm，使用的仪器是PE的spectrum 3 + pike 积分球，积分球使用MCT检测器，用液氮冷却。我测量之前，先使用附带的金反射镜，把积分球调到sample 或者 用样片，把积分球调到reference档 进行背景扫描。1. 测量的结果很奇怪，超过50%的点的反射率大于了100%，导致算出来的发射率接近0，这肯定是不正常的。 是不是需要把金反射镜送到计量科学院进行标定？2. 对同一样片，在不同的时间，测出的结果差异很大，这个正常吗？ 比如今天测发射率7%，明天测9%，感觉稳定性一般。3. 光阑的大小对结果影响也很大，光阑一般选择多大合适呢？谢谢大家。我被这个问题整得焦头烂额，但又不知道问谁。今天终于找到组织了，希望各位老师给与指教。

老师们，标准规范区域地球化学交流电弧发射光谱法测银DZT0279.11-2016中[img=,690,96]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/03/202403211027598619_5099_4104231_3.png!w690x96.jpg[/img]在红外灯下干燥45分钟，红外灯干燥的目的是什么？可以改成烘箱75℃烘干一小时吗？

我像问下上海那有这仪器测定红外发射率，求助，谢谢。

最近试验中遇到一个棘手问题，就是透明样品的法向发射率测量问题。样品其实就是硅片。目前的实现方案： 硅片压在加热器上加热（例如300度），测量其发射光谱，利用该光谱和标准黑体比较计算发射率。问题： 从理论上讲，硅片是透红外光的，因此加热器的背景辐射也透了过来，这就导致了测量得到的发射率偏高。虽然加热器的背景辐射很容易测量出来，但无法知道样品此时的反射率和透射率（似乎目前国内有测量高温反射率的地方，但还没有测量高温透射率的机构）因此，无法进行计算。不知道大家有没有什么高招啊？

问一下上海市哪里有检测场发射性能的地方，高校或机构？我要检测电泳沉积碳纳米管薄膜的场发射性能，包括电压-电流曲线、阀值电压、发光点密度等等。检测仪器大致是一个真空二极管结构。

[url=http://www.huaketiancheng.com/][b]原子发射光谱仪[/b][/url]是测定每种化学元素的气态原子或离子受激后所发射的特征光谱的波长及强度来确定物质中元素组成和含量。　　原子发射光谱仪是根据试样中被测元素的原子或离子，在光源中被激发而产生特征辐射，通过判断这种特征辐射波长及其强度的大小，对各元素进行定性分析和定量分析的仪器。　　原子发射光谱仪，是将成分复杂的光分解为光谱线的科学仪器。它密封在一个温度稳定的恒温机箱里，设计小巧，操作简易，设备的搬运和操作只要一个人就能完成。这一类仪器一般包括：光源、单色器、检测器和独处器件。原子发射光谱仪装备了超高灵敏度的光电倍增管，在全量程范围内使检测器的动态范围能鉴别出成分的最微小的差别。原子发射光谱仪有火花原子发射光谱仪，光电原子发射光谱仪，手持式光谱仪，便携式光谱仪，能量色散光谱仪，真空原子发射光谱仪等多种品种。原子发射光谱仪广泛应用于铸造、钢铁、金属回收和冶炼以及军工、航天航空、电力、化工、高等院校和商检、质检等部门。

各位商家： 请问你公司有没有又便宜又好用的双层雾室和石英炬管（此两种进样系统必须能配套北京海光的WLY100-1等离子体单道扫描发射光谱仪）出售，我公司需要大量的雾室和炬管。电话：13794211049

PE7000dv更换炬管，用1ppm标准Mn校准观测位，最大发射强度降低了一半只有两百多万，这是什么原因？

本人用的岛津的ICPE-9000，最近观察上半年1PPM铅的发射强度发现一直在降低，几个月前有400多，现在才200多，什么原因？（雾化器和矩管都用一年多了）。

[url=http://www.huaketiancheng.com/][b][font=宋体]ICP光谱仪[/font][/b][/url][font=宋体]的光电转换器件是光电光谱仪接收系统的核心部分，也是[b]光谱仪检测分析[/b]的准要部件。主要是利用光电效应将不同波长的辐射能转化成光电流的信号。光电转换器件主要有两大类：一类是光电发射器件，例如光电管与光电倍增管，当辐射作用于器件中的光敏材料上，使发射的电子进入真空或气体中，并产生电流，这种效应称光电效应；另一类是半导体光电器件，包括固体成像器件，当辐射能作用于器件中光敏材料时，所产生的电子通常不脱离光敏材料，而是依靠吸收光子后所产生的电子[/font][font=&]-[/font][font=宋体]空穴对在半导体材料中自由运动的光电导（即吸收光子后半导体的电阻减小，而电导增加）产生电流的，这种效应称内光电效应。[/font][font=宋体]光电转换元件种类很多，但在光电光谱仪中的光电转换元件要求在紫外至可见光谱区域（[/font][font=&]160-800nm[/font][font=宋体]）很宽的波长范围内有很高的灵敏度和信噪比，很宽的线性响应范围，以及快的响应时间。[/font][font=宋体]目前可应用于光电光谱仪的光电转换元件有以下两类：即光电倍增管及固体成像器件。[b][font=宋体] 光电倍增管[/font][/b][font=&] [/font][font=宋体]外光电效应所释放的电子打在物体上能释放出更多的电子的现象称为二次电子倍增。光电倍增管就是根据二次电子倍增现象制造的。它由一个光阴极、多个打拿极和一个阳极所组成，见图，每一个电极保持比前一个电极高得多的电压（如[/font][font=&]100V[/font][font=宋体]）。当入射光照射到光阴极而释放出电子时，电子在高真空中被电场加速，打到第一打拿极上。一个入射电子的能量给予打拿极中的多个电子，从而每一个入射电子平均使打拿极表面发射几个电子。二次发射的电子又被加速打到第二打拿极上，电子数目再度被二次发射过程倍增，如此逐级进一步倍增，直到电子聚集到管子阳极为止。通常光电倍增管约有十二个打拿极，电子放大系数（或称增益）可达[/font][font=&]10[sup]8[/sup][/font][font=宋体]，特别适合于对微弱光强的测量，普遍为光电直读光谱仪所采用。[/font][font=&][size=14px] [/size][/font][font=宋体][size=14px]光电倍增管的窗口可分为侧窗式和端窗式两种[/size][/font][b][font=宋体] [/font][/b][font=宋体] 光电倍增管的基本特性[/font][font=&]1)[size=9px] [/size][/font][font=宋体]灵敏度和工作光谱区[/font][font=&] [/font][font=宋体]光电倍增管的灵敏度和工作光谱区主要取决于光电倍增管阴极和打拿极的光电发射材料。当入射到阴极表面的光子能量足以使电子脱离该表面时才发生电子的光电发射，即[/font][font=&]1/2mv[sup]2[/sup]=h[/font][font=Symbol]n[/font][font=&]-[/font][font=宋体]ф,([/font][font=&] h[/font][font=Symbol]n[/font][font=宋体]为光子能量，ф为电子的表面功函数，[/font][font=&]1/2mv[sup]2[/sup][/font][font=宋体]为电子动能[/font][font=&])[/font][font=宋体]。当[/font][font=&]h[/font][font=Symbol]n[/font][font=宋体][/font][font=宋体]ф时，不会有[/font][font=宋体]表面光电发射，而当[/font][font=&]h[/font][font=Symbol]n[/font][font=宋体]=[/font][font=宋体]ф时，才有可能发生光电发射，这时所对应的光的波长λ=C/[/font][font=Symbol]n[/font][font=宋体]称为这种材料表面的阈波长。随着入射光子波长的减小，产生光电子发射的效率将增大，但光电倍增管窗材料对光的吸收也随之增大。显然，光电倍增管的短波响应的极限主要取决于窗材料，而长波响应的极限主要取决于阴极和打拿极材料的性能。一般用于可见-红外光谱区的光电倍增管用玻璃窗，而用于紫外光谱区的用石英窗。光阴极一般选用表面功函数低的碱金属材料，如红外谱区选用银-氧-铯阴极，可见光谱区用锑-铯阴极或铋-银-氧-铯阴极，而紫外谱区则采用多碱光电阴极或梯-碲阴极。[/font][font=宋体]光电倍增管的灵敏度S是指在1lm的光通量照射下所输出的光电流强度，即S=i/F，单位为[/font][font=宋体]μ[/font][font=宋体]A/lm[/font][font=宋体]。显然，灵敏度随入射光的波长而变化，这种灵敏度称为光谱灵敏度，而描述光谱灵敏度随波长而变化的曲线称为光谱响应曲线(见[/font][font=宋体]右[/font][font=宋体]图)，由此可确定光电倍增管的工作光谱区和最灵敏波长。例如我们常用的R427光电倍增管，其曲线偏码为250S，光谱响应范围为160-320nm，峰值波长200nm，光阴极材料Cs-Te，窗口材料为熔炼石英，典型电流放大率3.3×10[sup]6[/sup]。[/font][font=宋体]2)[font=&] [/font][/font][font=宋体]暗电流与线性响应范围[/font][size=14px][font=宋体]光电倍增管在全暗条件下工作时，阳极所收集到的电流称为暗电流。对某种波长的入射光，光电倍增管输出的光电流为： i= KI[sub]i[/sub]+i[sub]0 [/sub]，式中，I[sub]i[/sub]对应于产生光电流i的入射光强度，k为比例系数，i[sub]0[/sub]为暗电流。由此可见，在一定的范围内，光电流与入射光强度呈线性关系，即为光电倍增管的线性响应范围。当入射光强度过大时，输出的光电流随光强的增大而趋向于饱和（见右图）。线性响应范围的大小与光阴极的材料有关。[/font][/size][font=宋体]暗电流的来源主要是由于极间的欧姆漏阻、阴极或其他部件的热电子发射以及残余气体的离子发射、场致发射和玻璃闪烁等引起。[/font][font=宋体]当光电倍增管在很低电压下工作时，玻璃芯柱和管座绝缘不良引起的欧姆漏阻是暗电流的主要成分，暗电流随工作电压的升高成正比增加；当工作电压较高时，暗电流主要来源于热电子发射，由于光电阴极和倍增极材料的电子溢出功很低，甚至在室温也可能有热电子发射，这种热电子发射随电压升高暗电流成指数倍增；当工作电压较高时，光电倍增管内的残余气体可被光电离，产生带正电荷的分子离子，当与阴极或[/font][font=宋体]打拿极碰撞时可产生二次电子，引起很大的输出噪声脉冲，[/font][font=宋体]另外高压时在强电场作用下也可产生场致发射电子引起[/font][font=宋体]噪声，[/font][font=宋体]另外当电子偏离正常轨迹打到玻壳上会出现闪烁现象引起暗电流脉冲，这一些暗电流均随工作电压升高而急剧增加，使光电倍增管工作不稳定，因此为了减少暗电流，对光电倍增管的最高工作电压均加以限制。[/font][font=宋体]3)[font=&] [/font][/font][font=宋体]噪声和信噪比[/font][size=14px][font=宋体]在入射光强度不变的情况下，暗电流和信号电流两者的统计起伏叫做噪声。这是由光子和电子的量子性质而带来的统计起伏以及负载电阻在光电流经过时其电子的热骚动引起的。输出光电流强度与噪声电流强度之比值，称为信噪比。显然，降低噪声，提高信噪比，将能检测到更微弱的入射光强度，从而大大有利于降低相应元素的检出限。[/font][/size][font=宋体]4)[font=&] [/font][/font][font=宋体]工作电压和工作温度[/font][font=宋体]光电倍增管的工作电压对光电流的强度有很大的影响，尤其是光阴极与第一打拿极间的电压差对增益（放大倍数）、噪声的影响更大。因此，要求电压的波动不得超过0.05%，应采用高性能的稳压电源供电，但工作电压不许超过最大值（一般为-900v-1000v），否则会引起自发放电而损坏管子，工作环境要求恒温和低温，以减小噪声。[/font][font=宋体]5)[font=&] [/font][/font][font=宋体]疲劳和老化[/font][font=宋体]在入射光强度过大或照射时间过长时，光电倍增管会出现光电流衰减、灵敏度骤降的疲劳现象，这是由于过大的光电流使电极升温而使光电发射材料蒸发过多所引起。在停歇一段时间后还可全部或部分得到恢复。光电倍增管由于疲劳效应而灵敏度逐步下降，称为老化，最后不能工作而损坏。过强的入射光会加速光电倍增管的老化损坏，因此，不能在工作状态下（光电倍增管加上高压时）打开光电直读光谱仪的外罩，在日光照射下，光电倍增管很快便损坏。[/font][font=宋体] 光电测量原理[/font][font=宋体]光电检测的原理一般是通过光电接受元件将待测谱线的光强转换为光电流，而光电流由积分电容累积，其电压与入射光的光强成正比，测量积分电容器上的电压，便获得相应的谱线强度的信息。不同的仪器其检测装置具有不同的类型，但其测量原理是一样的。其光电检测系统主要有以下四个部分组成：[/font][font=&]1.[/font][font=宋体]光电转换装置，[/font][font=&]2.[/font][font=宋体]积分放大电路及其开关逻辑检测，[/font][font=&]3.A/D[/font][font=宋体]转换电路，[/font][font=&]4.[/font][font=宋体]计算机系统。[/font][/font]

火焰发射光谱仪是原子发射光谱仪吗？

傅立叶变换技术在红外光谱领域一统天下，但为何傅立叶变换技术没有用到ICP发射光谱仪领域？

(1) 概述在发电厂、化学工厂和石油化工厂中，为防止重大事故的发生，要求对渗漏的发生进行早期检测。声发射检测技术对渗漏声的检测灵敏度很高，所以用声发射法检测各种各样的渗漏发生。例如，在蒙塞托化学工厂里，将进行了防水处理的前置放大器60kHz和共振型AE探头4个或8个一组，配置在工厂内的重要部位、在控制室中对渗漏情况进行实时监测。(2) 压力容器漏泄产生声发射的机理及其特点压力容器的漏泄过程可分为三个阶段：应力集中及裂口阶段；裂口扩展及渗漏阶段；高速流体喷射阶段（即漏泄阶段）。1）裂口阶段由于疲劳或腐蚀等原因，使压力容器或管壁在应力集中到一定程度时产生微小的裂纹或裂口。在开裂过程中要以弹性波的形式释放出应变能，即声发射。第一阶段的声发射信号是由金属裂纹产生的，信号为突发型信号，而且持续时间比较短，能量比较强。2）渗漏阶段裂纹形成后，在裂口处应力继续集中．当应力达到足够大时，使裂纹进一步扩展，释放出弹性波，并且压力容器或管内带压流体从裂口处渗漏，在壁内激发出应力波。前者是突发型信号，后者为连续型信号。渗漏激发的应力波并不是严格定义上的声发射（可称之为广义声发射），因为管壁只是波导，本身并不释放能量。这两种信号叠加在一起，使我们接收到的信号呈现出幅度起伏比较大的特征。这个阶段的信号能量也较小，但这个阶段持续的时间比较长。3）泄漏阶段当裂口较大时，带压流体流从裂口中喷射出来，形成高速射流激发应力波，此应力波在管壁内传播。实验结果表明，泄漏所激发的应力波的频谱具有很陡的尖峰，此尖峰的位置与泄漏量有关。泄漏率和信号幅度有如下关系：式中：y—泄漏率，升/小时x—声发射信号幅度，dBa，b——系数由射流所产生的声发射信号为连续型的，若水中含有气体，那么气体的间断喷出可造成很强的突发型声发射信号。泄漏的声发射信号具有如下特点：① 泄漏所激发的应力波的频谱具有很陡的尖峰，利用频谱分析法可以很容易把声发射信号从噪声中分离出来。 ② 泄漏产生的声发射信号比较强，且其幅度大小与泄漏速率成正比，与信号的均方根值成正比。 ③ 当泄漏速率很小时，几乎与压力无关时，依然满足泄漏速率与信号的均方根值成正比。因此，可以根据所接收到的声发射信号的频谱和均方根值判断是否发生漏泄或漏泄程度的大小，④ 由于管壁较薄，声发射波在壁的两个界面上发生多次反射，每次反射都要发生模式变换（或者由横波变为纵波，或者由纵波变为横波），这样传播的波称为循轨波。由于多次反射声发射波的叠加，使得声发射波在其中心频率附近得到增强，可以沿管壁长距离传播。(3) 应用实例——高压加热器泄漏的监测某厂200MW机组的高压加热器、蒸汽冷却器和疏水冷却器安装了泄漏监测装置。一天，测点3和4（疏水冷却器进水口和出水口处）的声发射数值开始增加，并且波动较大。该处声发射信号数值增大到30dB时，监测系统开始报警（设置的报实警限为20dB），这说明疏水冷却器已经发生泄漏。后经有关人员解体检查发现疏水冷却器内水管有裂纹，经检修堵管后系统指示值恢复正常。系统自动记录的趋势变化曲线。声发射技术在电厂设备状态监测和故障诊断中所起的作用是非常大的。特别是在高压加热器等压力容器的泄漏监测、转子及管道等的裂纹监测和汽轮机组、风机、水泵等旋转机械的动静摩擦检测上的应用，可以收到很好的效果。当把声发射技术与温度检测、振动监测等相结合后，可以全面反映设备的运行状态，为实现状态维修提供了有力的手段，其应用前景是非常广阔的。

弱弱的请问下，原子吸收分光光度计中方法选择可以选择发射法来检测钾，钠，钙，镁等离子的，请问使用原子发射来分析时，各元素的空心阴极灯是不须使用的吧，这里的原子发射原理与ICP部分的原子发射是一样的吗？而ICP-MS则是将溶液中的各种离子在8000K的温度下同时被激发成带一个正电荷的离子，原子发射法则是以什么形式被测定的，其与原子吸收法测钾等不是正好相反吗？