菲涅尔透镜

不小心动了 第一透镜和第二透镜,现在能量回不去了,第一透镜和第二透镜调整过很多次都无法回到以前的位置,有没有人来告诉我这两个透镜到底怎么调啊.

我公司非接触、不破坏测量各种透镜材质、曲率半径，有意者联系13683619067.

离子透镜的设计是建立在光学透镜的基础之上的，二者有何相同的地方，又有何不同的地方？

还是读那本Egerton的PPEM，书中提到了静电透镜和磁透镜的特点，其中静电透镜是这样的：1. 无像转角2. 比较轻，consumes no power3. 对电压的稳定性要求不高4. 容易聚焦离子束磁透镜是：1. 低透镜像差2. 不需要高压激励3. 可以做浸入式透镜我有几个疑问：1. consumes no power指的是什么？静电透镜不需要专门的动力？2. 磁透镜的那个浸入式透镜，是不是说的是样品处于透镜内部中心轴，这样磁场比较均匀吧，而静电式透镜如果这么操作，如果放入导电样品，会引起电场的扭曲？3. （我自己加的）高加速电压时，容易击穿静电透镜。那么是不是扫描电镜比较适合采用静电透镜，而FIB更是因为聚焦离子束的原因，一般采用静电式透镜呢？

[b]问题：[/b]读那本Egerton的PPEM，书中提到了静电透镜和磁透镜的特点，其中静电透镜是这样的：1. 无像转角2. 比较轻，consumes no power3. 对电压的稳定性要求不高4. 容易聚焦离子束磁透镜是：1. 低透镜像差2. 不需要高压激励3. 可以做浸入式透镜我有几个疑问：1. consumes no power指的是什么？静电透镜不需要专门的动力？2. 磁透镜的那个浸入式透镜，是不是说的是样品处于透镜内部中心轴，这样磁场比较均匀吧，而静电式透镜如果这么操作，如果放入导电样品，会引起电场的扭曲？3. （我自己加的）高加速电压时，容易击穿静电透镜。那么是不是扫描电镜比较适合采用静电透镜，而FIB更是因为聚焦离子束的原因，一般采用静电式透镜呢？[b]回答：[/b]我的理解是静电透镜是个耐受高压电容器，只要加电压就成了。除非有空间电荷，也就是用于成像的时候会消耗能量，平时加着高压透镜是不消耗能量的。而磁透镜保持工作需要一直通电流，所以透镜要消耗能量。浸入式我觉得可能是考虑到介电材料会在静电透镜作用下产生极化的问题。静电透镜和磁透镜有适用范围，对于低压电子束用静电透镜比较好，可能考虑的是你前面所说的那些优点。而对高压电子束，静电透镜的会聚能力将大打折扣，相反磁透镜则受影响比较小，因此现在多是低压静电透镜，高压磁透镜的设计。记得Rose,Riemer,Egerton他们有专门的论述。因为离子荷质比大，磁透镜效果不好，所以FIB用静电透镜。我觉得主要是荷质比，离子比电子大多了，如用磁透镜聚焦需狂大的磁场，目前技术水平不能实现，改用静电透镜则可用几组负载电压为几~十几KV的电极来实现。

ICP用的第一个透镜是什么透镜？凸透镜还是凹透镜或是平面透镜？请详细解答一下，谢谢各位大哥 大姐。

3 炬、锥和透镜让我们跟着被测的元素一起，从进样系统进入ICP炬，通过锥，穿过透镜吧。ICP炬：ICP炬通过射频发生器产生。PE采用40.68MHz激发频率。其它三家都是固态数控27.12MHz的射频发生器。当然是各说各的好，从各自的资料看，我觉得，40.68MHz激发频率的ICP炬对样品的适应性能更好；而27.12MHz的ICP炬则能有更有效的离子化。但在实践上，没没有太大的差别，或者说，其它条件的变化对仪器性能影响更大。冷焰：冷焰我从来没用过，这方面我不熟。PE公司的炬设计采用了一个PlasmaLok技术，采用两路射频不需要屏蔽装置。其它公司，如Thermo使用了屏蔽装置。其它两家我不清楚，请各位补充。炬的硬件设计PE公司还是老的设计，炬管拆装都比较麻烦，其它三家的设计看上去就比较新，接头插拔方便，炬管拆装也比较容易。而且PE公司调节炬管XY轴还是旋钮手动调节，而其他三家对于炬管的位置都是自动定位的。锥样品在ICP炬中解离、原子化、成为离子后，就进入锥。现在[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url]都是双锥设计（样品锥和截取锥）。每家公司都能提供镍锥和铂锥，铂锥比镍锥更耐腐蚀，更经用，本底更小。四家公司最大的不同是锥孔大小设计。详见下表：　样品锥截取锥Varian1.0 0.5PE1.1 0.9Aglient1.0 0.4Thermo1.1 0.75（Xt）0.7(Xs)从上表可以看到，样品锥的口径是差不多的。截取锥则大不相同。最大的（PE）和最小的（Agilent）面积上要差到4倍以上。当然，还是那样，锥大说锥大的好处，锥小说锥小的好处。我的感觉是锥孔小显然容易盐分沉积，沉积后对锥孔附近的进样环境、二次电离等都有较大的影响。论坛里也有说到锥孔堵的事例（当时就猜是Agilent的仪器）。Thermo提供两种锥，Xt和Xs。据介绍Xs提供了高的离子传输效率，适合测量干扰少水平低的情况；Xt锥适合高盐分基体。同时降低了多原子干扰离子的生成和碱金属的响应，所以适合同时测量高含量的碱金属和低水平的重金属。个人认为这个设计还是不错的。离子透镜离子透镜里面名堂很多，里面的参数稍有变化，仪器的性能就会很不一样。Agilent的离子透镜分为提取透镜和OMEGA透镜。提取透镜包括两组透镜，可以分别设置电压，前面一个可正可负，后面一个肯定是负压。主要是提取锥孔的离子。前面一个设成负压更有利提取，设成正压则可以减少干扰（即所谓软提取）。提取透镜后的OMEGA透镜是离轴的，有利于中性粒子（包括光子）的排除，同时也达到了离子聚焦的目的。Thermo的离子透镜名字叫Infinity II型离子透镜。也是离轴设计。具体情况不详，从现有资料看，和Agilent设计差不多，也有负压提取，同时采取离轴设计，避免中性粒子的干扰，并达到传输离子、聚焦至四级杆的目的。据Thermo介绍，该系统是免维护的。我对这个表示怀疑，因为进入锥的离子不可能都是要检测的，剩下那么多肯定会在透镜上沉积，维护是早晚的问题。Varian的离子透镜是最不同一般的。它采用了一个90度偏转的设计（这下是彻底的离轴了），然后也是一个离轴的聚焦透镜。据称这是Varian仪器达到高灵敏度结果的最重要革新技术。PE的离子透镜设计和以往老仪器相比，并无大的不同（拆装比以前方便多了）。是唯一采用正轴（非离轴）的设计。所以为了避免中性粒子的干扰，当中有一个光子挡板。离子从两边经过。PE在锥孔并没有提取电压，反而设置了正电压防止二次电离的干扰。由于没有提取透镜，所以PE的离子透镜系统很简单，参数设置也较方便。看上去，离轴设计有利于灵敏度的提高，Varian离轴最彻底，仪器表现出来的绝对灵敏度也是最高的。PE是非离轴设计，绝对灵敏度是最低的。然而，PE并没有设置提取负压，这个有利于干扰的排除和透镜参数设置。（非经允许，不得转载）

请教各位大侠，我用的A的气质，关于它的透镜组不是很清楚，还请各位老师指教！！！①A家的拉出极是不带电的，正常拉出极的话应该是带负电，这样能够把带正电的离子碎片给拉出来，不带电只靠推出极，那拉出极起到什么作用？②关于聚焦透镜，资料上给的是带负电，如果带正电荷的离子碎片不在中心，这样的话不会被拉到聚焦电极上而造成损失吗？③对于入口透镜，资料上的给出的是能够对正离子碎片加速，请问这个加速的过程是如何？“增加入口透镜补偿可以增加灵敏度”请问这句话怎么解释问题比较多，希望老师们能不吝赐教！！！

质谱的离子源中有透镜，这个透镜和光学透镜有什么区别？

前几天洗5975C离子源，发现离子聚焦透镜和入口透镜外层的那个土黄色绝缘体（透镜绝缘体）是一个整体，不能分成2半，离子聚焦拿不出来，最后不得不洗这玩意了而视频和说明书上都是可以分成2片的，可以洗离子聚焦问了安捷伦的工程师，最后说5975C的那个土黄色绝缘体本身就是一个整体，可我总感觉不对，一个整体的话离子聚焦就洗不了了啊大家的5975C的那玩意也是一个整体吗？大家怎么洗离子聚焦？

看文献--[font=方正黑体_GBK][color=#000000]质谱仪离子导向装置的原理[/color][/font][font=DY29][color=#000000]、[/color][/font][font=方正黑体_GBK][color=#000000]应用和进展里面介绍[/color][/font][font=方正黑体_GBK][color=#000000][font=宋体]离子传输系统一般由取样孔（ｓａｍｐｌｉｎｇｃｏｎｅ）、漏勺（ｓｋｉｍｍｅｒ）、离子导向装置（ｉｏｎｇｕｉｄｅ）和离子透镜（ｉｏｎｌｅｎｓ）等组成。[/font][/color][/font][font=方正黑体_GBK][color=#000000]离子导向装置里面又包含了静电透镜。这样看的话静电透镜和离子透镜就不属于同一分类，但又不清楚他们的区别在哪。[/color][/font][font=方正黑体_GBK][color=#000000]百度之后，感觉他们都是聚焦作用，也没看出什么区别，求大佬解惑！[/color][/font]

1. 在金相显微镜中，当物体位于透镜物方二倍焦距以外时，则在象方二倍焦距以内、焦点以外形成缩小的倒立实象； 　　2. 当物体位于透镜物方二倍焦距上时，则在象方二倍焦距上形成同样大小的倒立实象； 这种成像对金相显微镜的光路尤为重要。　　3. 当物体位于透镜物方二倍焦距以内，焦点以外时，则在象方二倍焦距以外形成放大的倒立实象； 　　4. 当物体位于透镜物方焦点上时，则象方不能成象；这同样是影响金相显微镜成像的重要因素。　　5.当物体位于透镜物方焦点以内时，则象方也无象的形成，而在透镜物方的同侧比物体远的位置形成放大的直立虚象。

今天做样的时候,不小心把石墨炉两侧的那个透镜给打碎一个本来是怕脏了影响检测来着,现在都不能做了各位给支个招,那个透镜是属于配件销售吗,我们是安捷伦的仪器,从哪里买到透镜的作用是什么,没有的话,影响检测吗[em09509][em09509]

请教下，EI源中产生的带正电荷的碎片，经推斥极（正电压）推出进入离子透镜，散射的离子经聚焦透镜（负电压）聚焦成束，防止了聚焦部件对离子的捕获。我想问的是，聚焦透镜形成的电场如何聚焦离子的，需要多组电压吗？同时加载负电压，是否起到加速离子的作用？后面通过的入口透镜，起到加速离子作用，是不是也加载了负电压呢？

在进行透镜清洗时，发现透镜上有一道划痕，在凹进去的那一面上，使用型号是OBLF QSN750,不知道对分析的结果会不会有影响呢～～如果有的话，不知道会影响到哪些元素～～

大家好，我想问一下大家准直透镜和一般的透镜有什么区别啊。。？就是说除了特别简单的准直以外，比如说一般的透镜你把光源放到焦点上输出的光也可以准直啊。。

为什么玻璃透镜对于波长较短的光如蓝光折射率大，而对波长较长的红光折射率相对小些，即红光焦距长于蓝光。而磁透镜聚焦电子波却相反，对波长较短能量高的电子波折射率较小呢？请高人解释一下。多谢啦。

你们是怎样清洗透镜呀?可否教教我哦!透镜清洗过后会影响曲线吗?

AAS的透镜坏掉了 刚好找到一个大小合适的报废分光光度计的透镜用上不知灵敏度有没有影响啊？

有人可以提供X射线透镜相关内容介绍的网址和有关购买信息。多谢各位了！

我单位使用的是ARL4460型光谱仪，可分析氧和氮元素，透镜为镀氟化镁的，请问各位高手如何请洁透镜才不会伤到镜片。

赛默飞世尔，Thermo 热电ARL4460 ARL8860透镜配件编号:S702822产品名称:透镜产品型号：LENS HLDR,VUV LENS,V2, 4460 S

我在清洗德国OBLF GS1000透镜时，没有进入清洗透镜程序，这样对仪器有什么影响？有什么办法可以重使仪器处于一个良好的工作状态？请高人指点。

最近一次处理透镜的时候发现透镜两边有黄色光斑，不知道那位大虾知道用什么试剂处理较好！！我用了乙醇和乙醚但收效不大！！

透镜的水冷系统的排水量一般应是多大？最近，我总感到我们透镜的排水量减小了很多，，而且，无论我怎样开大水阀，水流量似乎不会增大，我怀疑那儿堵塞了。另外，加灯丝电流时间长时，总是自己会突然关闭。这是否与水冷有关？如果堵塞了，该怎样处理？

各位老师我擦完透镜后镜子上有静电总要吸附一些类似绒毛之类的东西,怎么也清不净怎么办呢?

PE Elan 6000 离子透镜清洗实战图解我个性疏懒，对于仪器的维护也不是太关心。只要差不多好用就行了。这种态度其实应该好好批评，自我反省一下。虽然不太可能做到象青虫版主那样一周洗两次炬管，但起码的维护还是要的。前几天有一个帖子说到透镜参数调节，里面谈到了透镜清洗的问题。我当时感觉就是这件事不太重要。不过，事实马上就教育了我，这件事还是很重要的。[em0904]昨天一早，实验人员来说[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/yp][color=#3333ff]ICP-MS[/color][/url]（PE Elan 6000）灵敏度不行，一塌糊涂。我知道，灵敏度不行只是症状不是病因，引起灵敏度差这个症状的病因非常多。经过一上午的TUNING和OPTIMIZE，发现做LEN VOLTAGE（透镜电压）的时候，这个值非常高。PE做这个OPTIMIZE是用Rh，一般都在10V以下，我测试一下，LEN VOLTAGE到了17V还没有到最大值。这下总算找到病因了（至少是病因之一）。发生这个问题的原因是两个：一是平时样品比较脏；二是透镜电压优化做得少了，没有及时发现。现在没办法，只好自己拆洗透镜了。咨询一下工程师，下午就开始拆洗。

磁透镜一开始就是一组线圈，据说Ernst Ruska发现加一个铁套磁场更稳定，后来又发现铁套上开一个小孔，小孔上面加对称的两对小突起，磁场能更强更均匀，聚焦能力更好，那么为什么这些个突起能起到这个作用？是因为材料的原因么？谢谢！

谁有ARL4460透镜和激发台板想买套二手的使用 有卖的联系我